JP2015159079A - 接続器具および端子接続方法 - Google Patents

Abstract

【課題】テストプラグのテスト用端子間に形成された電気的接続を遮断することなくリード線をテスト用端子に容易に接続することを可能にし、かつ、リード線とテスト用端子との間の接触抵抗を小さくする。【解決手段】テストプラグのテスト用端子とリード線とを接続する接続器具１１は、その一端側に、テスト用端子に直接接続するための直接接続部１３を有し、他端側に、リード線を接続するためのねじ止め接続部１４を有する。また、ねじ止め接続部１４の周囲は絶縁カバー２０により覆われている。接続器具１１をテスト用端子に取り付け、その後、テストプラグをテストターミナルに装着し、その後、ねじ止め接続部１４にリード線のリード線端子を接続する。リード線端子を接触面１５に広範囲に亘って接触させると共に、締着部材１７を締め付けてリード線端子を接触面１５に強く押し付けることで接触抵抗を小さくできる。【選択図】図１

Description

本発明は、テストプラグとリード線とを接続する接続器具、および当該接続器具を用いたテストプラグとリード線との端子接続方法に関する。

例えば、電気所において、計器用変圧器における二次回路および三次回路からそれぞれ出力される電圧およびそれらの位相を測定し、それらの測定値を用い、可搬形ωＣ測定装置で、配電系統の対地静電容量等を演算し、地絡過電圧継電器を整定する作業が行われている。

図７は、地絡過電圧継電器の整定作業において、計器用変圧器における二次回路および三次回路から出力される電圧および位相を測定する際に形成される回路を示している。

図７に示す回路５１において、計器用変圧器５３は、６．６ｋＶ母線５２に接続された一次回路５４とこれに対応する二次回路５５および三次回路５６を備えている。二次回路５５の端子ｕ、ｖ、ｗおよびｏは、配電盤類５７側に設けられた保護継電器等５８に接続されている。また、三次回路５６の端子ａおよびｆは、配電盤類５７側に設けられた地絡過電圧継電器等５９に接続されている。

また、配電盤類５７には複数のテストターミナル６１が設けられている（図７では２つのテストターミナル６１を図示）。これらテストターミナル６１のうちの１つは、二次回路５５と保護継電器等５８との間を接続する４本の線路の途中に接続され、もう１つのテストターミナル６１は、三次回路５６と地絡過電圧継電器等５９との間を接続する２本の線路の途中に接続されている（図７では、以上述べた６本の線路以外の線路につき図示を省略している）。

二次回路５５と保護継電器等５８との間に接続されたテストターミナル６１には、後述する短絡金具８１が取り付けられたテストプラグ７１が装着されている。そして、二次回路５５の端子ｕおよび端子ｖに対応する短絡金具８１にはそれぞれリード線８４の一方の端部が接続され、これらリード線８４の他方の端部は可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ａ、９１Ｂに接続されている。

また、三次回路５６と地絡過電圧継電器等５９との間に接続されたテストターミナル６１にも、短絡金具８１が取り付けられたテストプラグ７１が装着されており、三次回路５６の端子ａおよび端子ｆに対応する短絡金具８１にはそれぞれリード線８４の一方の端部が接続され、これらリード線８４の他方の端部は可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｃ、端子９１Ｄに接続されている。

これにより、二次回路５５の電圧（ｕ端子とｖ端子との間の電圧）、および三次回路５６の電圧（ａ端子とｆ端子との間の電圧）を取り出し、可搬形ωＣ測定装置９１において測定することができる。

また、可搬形ωＣ測定装置９１において、端子９１Ａ、９１Ｂ、９１Ｃ、９１Ｄは、可搬形ωＣ測定装置９１に内蔵された測定部９２に接続されている。また、端子９１Ｃと端子９１Ｄとの間には、スイッチ９３および抵抗器９４が直列に接続されている。また、可搬形ωＣ測定装置９１にはパーソナルコンピュータ９５が接続されている。

作業者は、このような回路５１において、まず、スイッチ９３が切れており、端子９１Ｃと端子９１Ｄとの間に抵抗器９４が接続されていない状態で、二次回路５５から取り出された電圧と、三次回路５６から取り出された電圧と、二次回路５５から取り出された電圧を基準に、三次回路５６から取り出された電圧の位相を測定する。続いて、作業者は、スイッチ９３を入れ、端子９１Ｃと端子９１Ｄとの間に抵抗器９４が接続された状態で、上記と同様に電圧と位相を測定する。そして、作業者は、抵抗器９４を接続する前後の電圧の変化量および位相の変化量を求め、これらを用い、可搬形ωＣ測定装置９１の測定部９２またはパーソナルコンピュータ９５で配電系統の対地静電容量等を演算し、地絡過電圧継電器の整定を行う。

ところで、上記回路５１では、テストプラグ７１をテストターミナル６１に装着することで、二次回路５５および三次回路５６から電圧を取り出している。図８はテストプラグ７１の具体的な構成を示している。図８に示すように、テストプラグ７１は、本体絶縁部７２を備え、本体絶縁部７２の背面側には、プラグ上側背面端子７３およびプラグ下側背面端子７４が設けられている。また、本体絶縁部７２の前面側には、テスト用端子７５および７６が設けられ、テスト用端子７５は手前側に配置され、テスト用端子７６は奥側に配置されている。また、本体絶縁部７２の前面側には、手前側のテスト用端子７５に他の端子を取り付けて固定するための締付部材７７と、奥側のテスト用端子７６に他の端子を取り付けて固定するための締付部材７８とが設けられている。

また、本体絶縁部７２の内部において、プラグ上側背面端子７３と手前側のテスト用端子７５とが互いに電気的に接続され、プラグ下側背面端子７４と奥側のテスト用端子７６とが互いに電気的に接続されている。また、プラグ上側背面端子７３とプラグ下側背面端子７４とは互いに電気的に遮断されており、また、手前側のテスト用端子７５と奥側のテスト用端子７６とは互いに電気的に遮断されている。

また、テストプラグ７１は、プラグ上側背面端子７３、プラグ下側背面端子７４、テスト用端子７５、７６、および締付部材７７、７８からなるユニットを例えば４つ備えている。

一方、図９はテストターミナル６１の具体的な構成を示している。図９（１）に示すように、テストターミナル６１は、プラグ装着部６３を有するターミナル本体６２を備え、プラグ装着部６３内には、上側接触子６４および下側接触子６５が設けられている。また、ターミナル本体６２の背面側の部分には、ターミナル上側端子６６およびターミナル下側端子６７が設けられ、ターミナル上側端子６６には上側接触子６４が電気的に接続され、ターミナル下側端子６７には下側接触子６５が電気的に接続されている。

また、テストターミナル６１は、上側接触子６４、下側接触子６５、ターミナル上側端子６６およびターミナル下側端子６７からなるユニットを例えば４つ備えている。

配電盤類５７に設けられた複数のテストターミナル６１のうちの１つのテストターミナル６１において、上記４つのユニットにおけるターミナル上側端子６６は、二次回路５５のｕ端子、ｖ端子、ｗ端子およびｏ端子にそれぞれ接続され、ターミナル下側端子６７は保護継電器等５８にそれぞれ接続されている。

また、配電盤類５７に設けられた複数のテストターミナル６１のうちの他の１つのテストターミナル６１において、上記４つのユニットのうちの２つのユニットにおけるターミナル上側端子６６は、三次回路５６のａ端子およびｆ端子にそれぞれ接続され、ターミナル下側端子６７は地絡過電圧継電器等５９にそれぞれ接続されている。

各テストターミナル６１において、テストプラグ７１をプラグ装着部６３に装着していないときは、図９（１）に示すように、上側接触子６４と下側接触子６５とが互いに接触した状態となり、その結果、ターミナル上側端子６６とターミナル下側端子６７とが互いに電気的に接続された状態となる。これにより、二次回路５５から出力される電圧が保護継電器等５８に供給され、三次回路５６から出力される電圧が地絡過電圧継電器等５９に供給される。

また、図９（２）に示すように、各テストターミナル６１において、テストプラグ７１をプラグ装着部６３に装着すると、上側接触子６４と下側接触子６５とが切り離され、プラグ上側背面端子７３と上側接触子６４とが互いに接触し、プラグ下側背面端子７４と下側接触子６５とが互いに接触する。その結果、プラグ上側背面端子７３とターミナル上側端子６６とが互いに電気的に接続され、プラグ下側背面端子７４とターミナル下側端子６７とが互いに電気的に接続される。これにより、二次回路５５から出力される電圧と、三次回路５６から出力される電圧を、テストプラグ７１を介して取り出すことが可能になる。

他方、図１０は、テストプラグ７１のテスト用端子７５とテスト用端子７６との間に取り付けられた短絡金具８１にワニ口クリップ８６を介してリード線８４が接続されている状態を示している。

上記電圧および位相の測定を行う際には、図１０に示すように、テストプラグ７１の各ユニットにおいて、テスト用端子７５および７６に短絡金具８１を取り付け、テスト用端子７５とテスト用端子７６との間を短絡させる。このように短絡金具８１を取り付ける理由は次の通りである。

すなわち、上記測定は計器用変圧器５３を充電し、二次回路５５および三次回路５６から保護継電器等５８および地絡過電圧継電器等５９へ電圧をそれぞれ印加した状態で行う必要がある。ところが、短絡金具８１を取り付けずにテストプラグ７１をテストターミナル６１に装着すると、テストターミナル６１の各ユニットにおいてターミナル上側端子６６とターミナル下側端子６７とが遮断された状態となるので、二次回路５５および三次回路５６から保護継電器等５８および地絡過電圧継電器等５９へ電圧を印加することができなくなる。そこで、テストプラグ７１の各ユニットにおけるテスト用端子７５および７６に短絡金具８１を取り付けて両端子間を短絡させることで、テストプラグ７１をテストターミナル６１に装着した後も、二次回路５５および三次回路５６から保護継電器等５８および地絡過電圧継電器等５９への電圧の印加を継続できるようにしている。なお、短絡金具８１については下記の特許文献１に詳細な記載がある。

また、上記電圧および位相の測定は、従来、図１０に示すように、短絡金具８１にリード線８４を、クリップ式の接続手段、例えばワニ口クリップ８６を用いて接続することにより行われる。このように、リード線８４を短絡金具８１に接続するのにクリップ式の接続手段が用いられるのは次のような理由による。

すなわち、上記測定中も、二次回路５５および三次回路５６から保護継電器等５８および地絡過電圧継電器等５９への電圧の印加を継続しているため、測定中に、二次回路５５と保護継電器等５８との間の電圧印加経路、および三次回路５６と地絡過電圧継電器等５９との間の電圧印加経路を遮断することは許されない。このため、短絡金具８１が取り付けられたテストプラグ７１をテストターミナル６１に装着した後は、短絡金具８１をテスト用端子７５および７６から取り外すことはできない。すなわち、テストプラグ７１を装着した後は、リード線８４を取り付けるために短絡金具８１をテスト用端子７５および７６に付け直すことはもちろん、締付部材７７または７８を緩め、テスト用端子７５または７６と短絡金具８１との間に、リード線８４の端部を差し込むための隙間を作ることも許されない。したがって、リード線８４の短絡金具８１への接続は、短絡金具８１が接続されたテストプラグ７１をテストターミナルに装着した後に、テスト用端子７５および７６間に形成された電気的接続を一切遮断することなく行わなければならず、それゆえ、リード線８４を短絡金具８１に接続する手段として、従来、ワニ口クリップやミノムシクリップ等のクリップ式の接続手段が採用されている。

なお、二次回路５５および三次回路５６から電圧を取り出して可搬形ωＣ測定装置９１へ供給するための接続を行う方法として、テスト用端子７５および７６に短絡金具８１を接続し、短絡金具８１にリード線８４の一方の端部を接続し、リード線８４の他方の端部を可搬形ωＣ測定装置９１に接続した後に、テストプラグ７１をテストターミナル６１に接続する方法が考えられる。この方法によれば、二次回路５５と保護継電器等５８との間の電圧印加経路、および三次回路５６と地絡過電圧継電器等５９との間の電圧印加経路を遮断することなく、二次回路５５および三次回路５６からそれぞれ出力される電圧をリード線８４を介して取り出す回路を形成することができる共に、短絡金具８１とリード線８４との接続手段として、クリップ式の接続手段以外の、より強固な接続を可能にする手段を採用することができる。

しかしながら、この方法では、テストプラグ７１をテストターミナル６１へ装着したとき、可搬形ωＣ測定装置９１等の接続する測定装置の内部抵抗等が影響し、可搬形ωＣ測定装置９１等を介してリード線８４間が短絡状態になり、計器用変圧器５３を焼損するおそれがある。したがって、この方法は採用し難い。

また、テスト用端子７５および７６に短絡金具８１を接続し、クリップ式の接続手段以外の手段で短絡金具８１にリード線８４の一方の端部を接続した後、リード線８４の他方の端部を可搬形ωＣ測定装置９１に接続する前に、テストプラグ７１をテストターミナル６１に接続する方法も考えられるが、この方法では、リード線８４の他方の端部を絶縁材料で養生する必要があり、絶縁材料による養生が不十分な場合には、リード線８４同士が接触することで計器用変圧器５３を焼損するおそれがある。したがって、この方法も採用し難い。

特開２００７−２８８８３３号公報

ところで、ワニ口クリップ８６のようなクリップ式の接続手段によりリード線８４を短絡金具８１に接続する方法には、次のような問題がある。

すなわち、上述したように、地絡過電圧継電器の整定のために、可搬形ωＣ測定装置９１で配電系統の対地静電容量等を演算する際には、計器用変圧器５３における二次回路５５および三次回路５６からそれぞれ出力される電圧およびそれらの位相を測定する。これら電圧および位相はいずれも微小であるため、高精度な測定が要求される。例えば、二次回路５５および三次回路５６からそれぞれ出力される電圧の位相の測定においては、１度未満の位相の変化量を正確に測定しなければならない。

このような測定を行おうとする場合、テストプラグ７１と可搬形ωＣ測定装置９１との間の接続箇所における接触抵抗が例えばおよそ０．２ないし０．３Ω以上あると、もはや接触抵抗が測定結果に与える影響を無視することができなくなる。

この点、ワニ口クリップ８６のようなクリップ式の接続手段は、クリップの接触面に凹凸があるため、クリップと接続相手との接触面積が小さく、両者の接触がほぼ点接触となる。また、クリップ式の接続手段の場合、クリップに設けられたばねの力が弱いためにクリップを接続相手に強く押し当てることができない場合がある。このため、クリップ式の接続手段による接続では、その接続箇所における接触抵抗が０．２ないし０．３Ω以上となることがある。

したがって、クリップ式の接続手段によりリード線８４を短絡金具８１に接続する方法では、上記位相の変化量を正確に測定するは困難である。

本発明は例えば上述したような問題に鑑みなされたものであり、本発明の課題は、テストプラグのテスト用端子間に形成された電気的接続を遮断することなくリード線をテスト用端子に容易に接続することができ、かつ、リード線とテスト用端子との間の接触抵抗を小さくすることができる接続器具および端子接続方法を提供することにある。

上記課題を解決するために、本発明の第１の接続器具は、テストプラグに設けられたテスト用端子と、リード線に設けられたリード線端子とを接続する接続器具であって、導電性を有する材料により形成された導電部材と、前記導電部材に形成され、前記テスト用端子に直接取り付けることにより前記導電部材と前記テスト用端子とを電気的に接続可能な直接接続部と、前記導電部材に形成され、前記リード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えていることを特徴とする。

また、本発明の第２の接続器具は、上述した本発明の第１の接続器具において、絶縁性を有する材料により形成され、前記導電部材において前記直接接続部が形成された部分および前記ねじ止め接続部が形成された部分の双方を除く部分を覆うカバーを備えていることを特徴とする。

また、本発明の第３の接続器具は、テストプラグに設けられた２つのテスト用端子間を接続すると共に、リード線に設けられたリード線端子と前記２つのテスト用端子とを接続する接続器具であって、導電性を有する材料により形成された導電部材と、前記導電部材にそれぞれ形成され、前記２つのテスト用端子にそれぞれ直接取り付けることにより前記導電部材と前記２つのテスト用端子とを電気的に接続可能な２つの直接接続部と、前記導電部材に形成され、前記リード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えていることを特徴とする。

また、本発明の第４の接続器具は、上述した本発明の第３の接続器具において、絶縁性を有する材料により形成され、前記導電部材において前記各直接接続部が形成された部分、および前記ねじ止め接続部が形成された部分のいずれをも除く部分を覆うカバーを備えていることを特徴とする。

また、本発明の第５の接続器具は、上述した第３または第４の接続器具において、前記導電部材はコ字状に形成されていることを特徴とする。

また、本発明の第６の接続器具は、上述した本発明の第１ないし第５のいずれかの接続器具において、前記ねじ止め接続部は、前記導電部材の表面に形成された接触面と、前記接触面に突設され、周面にねじが形成された雄ねじ部と、前記接触面との間に前記リード線端子を挟みつつ前記雄ねじ部に締着することにより、前記接触面に前記リード線端子を押し付けて接触させる締着部材とを備えていることを特徴とする。

上記課題を解決するために、本発明の第１の端子接続方法は、導電性を有する材料により形成された導電部材と、前記導電部材に形成され、テストプラグに設けられたテスト用端子に直接取り付けることにより前記導電部材と前記テスト用端子とを電気的に接続可能な直接接続部と、前記導電部材に形成され、リード線に設けられたリード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えた接続器具を用いることにより、前記テスト用端子と前記リード線端子とを電気的に接続する端子接続方法であって、前記テスト用端子に前記接続器具の直接接続部を取り付けることにより前記接続器具を前記テストプラグに取り付けるステップと、前記接続器具が取り付けられたテストプラグをテストターミナルに装着するステップと、前記テストターミナルに装着されたテストプラグに取り付けられた接続器具のねじ止め接続部に前記リード線端子をねじ止めするステップとを備えていることを特徴とする。

また、本発明の第２の端子接続方法は、導電性を有する材料により形成された導電部材と、前記導電部材にそれぞれ形成され、テストプラグに設けられた２つのテスト用端子にそれぞれ直接取り付けることにより前記導電部材と前記２つのテスト用端子とを電気的に接続可能な２つの直接接続部と、前記導電部材に形成され、リード線に設けられたリード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えた接続器具を用いることにより、前記２つのテスト用端子間を電気的に接続すると共に、前記２つのテスト用端子と前記リード線端子とを電気的に接続する端子接続方法であって、前記２つのテスト用端子に前記接続器具の２つの直接接続部をそれぞれ取り付けることにより前記接続器具を前記テストプラグに取り付けるステップと、前記接続器具が取り付けられたテストプラグをテストターミナルに装着するステップと、前記テストターミナルに装着されたテストプラグに取り付けられた接続器具のねじ止め接続部に前記リード線端子をねじ止めするステップとを備えていることを特徴とする。

本発明によれば、テストプラグのテスト用端子間に形成された電気的接続を遮断することなくリード線をテスト用端子に容易に接続することができ、かつ、リード線とテスト用端子との間の接触抵抗を小さくすることができる。したがって、テストプラグを用いた測定の精度を高めることができる。

本発明の第１の実施形態による接続器具を示す斜視図である。 本発明の第１の実施形態による接続器具を、テスト用端子、短絡金具およびリード線等と共に示す斜視図である。 本発明の第１の実施形態による接続器具、短絡金具、テスト用端子およびリード線が接続された状態を示す斜視図である。 本発明の第２の実施形態による接続器具を示す斜視図である。 本発明の第２の実施形態による接続器具を、テスト用端子およびリード線等と共に示す斜視図である。 本発明の第２の実施形態による接続器具、テスト用端子およびリード線が接続された状態を示す斜視図である。 地絡過電圧継電器の整定を行う際に形成する回路を示す回路図ある。 テストプラグを示す斜視図である。 テストターミナルを示す説明図である。 短絡金具およびワニ口クリップが接続されたテスト用端子等を示す斜視図である。

以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。

（第１の実施形態）
図１は本発明の第１の実施形態による接続器具を示している。図１において、本発明の第１の実施形態による接続器具１１は、テストプラグ７１（図８参照）に設けられたテスト用端子７５または７６と、リード線８４に設けられたリード線端子８５（図２参照）とを接続するための器具である。接続器具１１は、導電部材１２と、導電部材１２に形成された直接接続部１３と、導電部材１２に形成されたねじ止め接続部１４と、導電部材１２の一部を覆う絶縁カバー２０とから大略構成されている。

導電部材１２は、金属等の導電性を有する材料により形成されている。また、導電部材１２は、例えば長さ４０ｍｍ、幅２０ｍｍ、厚さ２ｍｍ程度の長方形の平板状に形成されている。なお、導電部材１２の各寸法は、接続器具１１の使用目的や使用態様等に応じて適宜設定することができる。

直接接続部１３は、導電部材１２の長さ方向一端側に形成されている。直接接続部１３はＵ字状の凹部を有している。直接接続部１３は、当該凹部を、テスト用端子７５または７６の軸部の外周側に係合することにより、テスト用端子７５または７６に直接取り付けることができ、これにより導電部材１２とテスト用端子７５または７６とを電気的に接続することができる。

ねじ止め接続部１４は、導電部材１２の長さ方向他端側に形成されている。ねじ止め接続部１４は、導電部材１２の表面に形成された接触面１５と、接触面１５に突設された雄ねじ部１６と、締着部材１７とを備えている。

接触面１５は、導電部材１２の表面の一部である。接触面１５は、導電部材１２の表面と同一の平面としてもよいが、導電部材１２の表面よりも高いに位置に配置された平面としてもよい。後者の場合には、導電部材１２の表面の一部をわずかに盛り上げ、その盛り上げた部分の上面を接触面１５とする。

雄ねじ部１６は、接触面１５の中央部に配置されており、接触面１５に対して垂直な方向に伸長している。雄ねじ部１６は金属等の導電性を有する材料により形成され、その周面にはねじが形成されている。

締着部材１７は、金属等の導電性を有する材料により外形円柱状に形成され、中央部に雌ねじを有する穴が形成された雌ねじ部１８と、樹脂等の絶縁性を有する材料により形成されたつまみ部１９とを備えている。締着部材１７を雄ねじ部１６に締着するとき、または締着部材１７を雄ねじ部１６から取り外すとき、作業者はつまみ部１９をつまんで締着部材１７を回転させる。

ねじ止め接続部１４は、リード線８４に設けられたリード線端子８５を接触面１５にねじ止めすることができる。具体的には、リード線８４に設けられたリード線端子８５を、接触面１５と締着部材１７の雌ねじ部１８との間に挟みつつ、雌ねじ部１８を雄ねじ部１６に締着することにより、接触面１５にリード線端子８５を押し付けて接触させ、その状態でリード線端子８５を固定することができる。これにより、導電部材１２とリード線端子８５とを電気的に接続することができる（図３参照）。

絶縁カバー２０は、樹脂等の絶縁性を有する材料により形成され、導電部材１２において、直接接続部１３が形成された部分およびねじ止め接続部１４が形成された部分の双方を除く部分を覆っている。具体的には、導電部材１２の長さ方向他端側であって、接触面１５を除く部分を覆っている。

作業者は、このような構成を有する接続器具１１を用いてテストプラグ７１のテスト用端子７５または７６とリード線８４のリード線端子８５とを接続し、地絡過電圧継電器の整定作業を行うための図７に示す回路５１を形成することができる。

図２は回路５１を形成する際に、テスト用端子７５、７６、接続器具１１、短絡金具８１およびリード線８４の接続手順を示している。図３は、これらが接続された状態を示している。以下、図２、図３および図７を参照しながら、接続器具１１を用いて、テスト用端子７５または７６とリード線端子８５とを接続する方法について説明する。

すなわち、図７に示す回路５１を形成するには、少なくとも、２つのテストプラグ７１、６つの短絡金具８１、４つの接続器具１１、および４本のリード線８４が必要である。そこで、作業者は、まず、このような個数のテストプラグ７１、短絡金具８１、接続器具１１およびリード線８４を用意する。

続いて、図２に示すように、作業者は、用意した２つのテストプラグ７１のうちの１つを選び、当該選んだテストプラグ７１において、二次回路５５のｕ端子に対応するユニットのテスト用端子７５および７６に短絡金具８１を取り付けると共に、テスト用端子７６に接続器具１１を取り付ける作業を行う。

この作業において、作業者は、まず、当該ユニットにおける手前側の締付部材７７および奥側の締付部材７８をそれぞれ緩める。次に、テスト用端子７５と締付部材７７との間に短絡金具８１の一方の接続部８２を差し込むと共に、テスト用端子７６と締付部材７８との間に短絡金具８１の他方の接続部８３を差し込む。次に、手前側の締付部材７７を締め付ける。次に、奥側のテスト用端子７６と締付部材７８との間に、先に差し込まれた短絡金具８１の他方の接続部８３と並ぶように、接続器具１１の直接接続部１３を差し込む。次に、奥側の締付部材７８を締め付ける。これにより、テスト用端子７５および７６間に短絡金具８１が固定されると共に、テスト用端子７６に接続器具１１が固定される。そして、テスト用端子７５、７６、短絡金具８１および接続器具１１が電気的に接続される。

続いて、作業者は、このように短絡金具８１および接続器具１１を取り付ける作業を、当該テストプラグ７１において、二次回路５５のｖ端子に対応するユニットについても行う。さらに、作業者は、当該テストプラグ７１において、二次回路５５のｗ端子およびｏ端子にそれぞれ対応する２つのユニットに短絡金具８１のみを取り付ける。さらに、作業者は、もう１つのテストプラグ７１における三次回路５６のａ端子およびｆ端子にそれぞれ対応する２つのユニットについて、上述したように短絡金具８１および接続器具１１を取り付ける作業を行う。

次に、作業者は、短絡金具８１および接続器具１１が取り付けられた２つのテストプラグ７１のうち、二次回路５５のｕ端子およびｖ端子にそれぞれ対応するユニットを有するテストプラグ７１を、二次回路５５と保護継電器等５８との間に設けられたテストターミナル６１に装着する。

二次回路５５のｕ端子およびｖ端子にそれぞれ対応するユニットを有するテストプラグ７１を、二次回路５５と保護継電器等５８との間に設けられたテストターミナル６１に装着した後、作業者は、当該テストプラグ７１において、二次回路５５のｕ端子に対応するユニットに取り付けられた接続器具１１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ａとの間をリード線８４で接続する。具体的には、まず、当該接続器具１１のねじ止め接続部１４にリード線８４の一方の端部に設けられたリード線端子８５をねじ止めする。すなわち、締着部材１７を取り外し、リード線端子８５を雄ねじ部１６に装着し、締着部材１７を雄ねじ部１６に取り付ける。そして、締着部材１７を締め付ける。これにより、図３に示すように、リード線端子８５が接触面１５に強く押し付けられ、リード線端子８５が接触面１５に強固に面接触する。この結果、接触面１５とリード線端子８５とが電気的に強固に接続される。続いて、作業者は、当該リード線８４の他方の端部を可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ａに取り付ける。

続いて、作業者は、同様の手順で、当該テストプラグ７１において、二次回路５５のｖ端子に対応するユニットに取り付けられた接続機器１１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｂとの間をリード線８４で接続する。

次に、作業者は、短絡金具８１および接続器具１１が取り付けられた２つのテストプラグ７１のうち、三次回路５６のａ端子およびｆ端子にそれぞれ対応するユニットを有するテストプラグ７１を、三次回路５６と地絡過電圧継電器等５９との間に設けられたテストターミナル６１に装着する。

続いて、作業者は、接続器具１１と端子９１Ａとをリード線８４で接続する手順と同様の手順で、当該テストプラグ７１において、三次回路５６のａ端子に対応するユニットに取り付けられた接続器具１１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｃとの間をリード線８４で接続する。

続いて、作業者は、同様の手順で、当該テストプラグ７１において、三次回路５６のｆ端子に対応するユニットに取り付けられた接続器具１１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｄとの間をリード線８４で接続する。これにより、図７に示す回路５１が形成される。

以上説明した通り、本発明の第１の実施形態による接続器具１１は、テスト用端子７６に取り付けることができる直接接続部１３を有しており、かつリード線端子８５をねじ止めすることができるねじ止め接続部１４を有しているので、テストプラグ７１をテストターミナルに装着した後、テストプラグ７１のテスト用端子７５および７６間に形成された電気的接続を遮断することなく、リード線８４をテスト用端子７６に電気的に容易に接続することができる。すなわち、作業者は、テストプラグ７１をテストターミナルに装着した後、リード線８４を接続するために、短絡金具８１をテスト用端子７５または７６から外す必要がなく、また、締付部材７８を緩め、テスト用端子７６と締付部材７８との間にリード線端子８５を差し込む隙間を形成する必要もない。また、作業者は、締着部材１７を外し、リード線端子８５を取り付け、締着部材１７を締着するだけで、リード線８４を接続器具１１に容易に接続することができる。

また、接続器具１１は、接触面１５、雄ねじ部１６および締着部材１７を有しているので、リード線端子８５を接触面１５に面接触させることができ、かつ、締着部材１７によりリード線端子８５を接触面１５に押し付け、リード線端子８５を接触面１５に強固に接触させることができ、しかも、強固に接触した状態でリード線端子８５を接触面１５上に固定することができる。このように、接続器具１１によれば、接触面１５とリード線端子８５との接触面積が大きく、接触が強固でかつ安定しているので、リード線端子８５と接触面１５との間の接触抵抗を小さくすることができ、例えば当該接触抵抗を０．２Ω未満にすることができる。それゆえ、接触抵抗によって生じる測定値の変動を無視できる程度に抑えることができ、測定の精度を高めることができる。上記測定回路５１を用いた測定において、可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｃ、９１Ｄ間に抵抗器９４を接続する前後の電圧の差の変化量および位相差の変化量はいずれも極めて微小な値であるが、ワニ口クリップ８６に代え、接続器具１１を用いることにより、この微小な値を正確に測定することが可能になる。これにより、地絡過電圧継電器の整定を的確に行うことができる。

また、接続器具１１において、直接接続部１３が形成された部分およびねじ止め接続部１４が形成された部分の双方を除く部分は絶縁カバー２０により覆われているので、テスト用端子７５または７６に取り付けられた接続器具１１に、工具や導線等が接触して短絡事故が発生するのを防止することができ、また、作業者の手が触れて作業者が感電するのを防止することができる。

（第２の実施形態）
図４は本発明の第２の実施形態による接続器具３１を示している。本発明の第２の実施形態による接続器具３１は、テストプラグ７１のテスト用端子７５または７６とリード線８４のリード線端子８５とを接続する機能と、テスト用端子７５および７６間を短絡する機能とを併せ持っている。

図４において、本発明の第２の実施形態による接続器具３１は、導電部材３２と、導電部材３２に形成された一対の直接接続部３５、３６と、導電部材３２に形成されたねじ止め接続部３７と、導電部材３２の一部を覆う絶縁カバー４３とから大略構成されている。

導電部材３２は、金属等の導電性を有する長方形の平板状の材料を折り曲げることにより、コ字状に形成されている。具体的には、導電部材３２は、互いに平行に配置された一対の脚部３３と、脚部３３間を繋ぐ架橋部３４とから構成されている。

一方の直接接続部３５は導電部材３２の一端側に形成され、他方の直接接続部３６は導電部材３２の他端側に形成されている。具体的には、直接接続部３５は一方の脚部３３の先端部に形成され、直接接続部３６は他方の脚部３３の先端部に形成されている。

ねじ止め接続部３７は、直接接続部３５および３６の間、具体的には、架橋部３４の中間部に形成されている。ねじ止め接続部３７は、接触面３８、雄ねじ部３９および締着部材４０を備え、締着部材４０は雌ねじ部４１およびつまみ部４２を備えている。ねじ止め接続部３７のこれらの構造は、上述した第１の実施形態による接続器具１１のねじ止め接続部１４と同じである。

絶縁カバー４３は、樹脂等の絶縁性を有する材料により形成され、導電部材３２において、直接接続部３５が形成された部分、直接接続部３６が形成された部分およびねじ止め接続部３７が形成された部分のいずれをも除く部分を覆っている。具体的には、絶縁カバー４３は、導電部材３２の各脚部３３の基端側、および導電部材３２の架橋部３４において接触面３８を除く部分を覆っている。

作業者は、このような構成を有する接続器具３１を用いてテストプラグ７１のテスト用端子７５および７６とリード線８４のリード線端子８５とを接続し、地絡過電圧継電器の整定作業を行うための図７に示す回路５１を形成することができる。

図５はテスト用端子７５、７６、接続器具３１およびリード線８４の接続手順を示している。図６は、これらが接続された状態を示している。以下、図５、図６および図７を参照しながら、接続器具３１を用いて、テスト用端子７５または７６とリード線端子８５とを接続する方法について説明する。

作業者は、まず、少なくとも、２つのテストプラグ７１、６つの接続器具３１、および４本のリード線８４を用意する。続いて、作業者は、用意した２つのテストプラグ７１のうちの１つを選び、当該選んだテストプラグ７１において、二次回路５５のｕ端子に対応するユニットのテスト用端子７５および７６に接続器具３１を取り付ける作業を行う。

この作業において、作業者は、まず、当該ユニットにおける手前側の締付部材７７および奥側の締付部材７８をそれぞれ緩める。次に、テスト用端子７５と締付部材７７との間に、接続器具３１の一方の直接接続部３５を差し込むと共に、テスト用端子７６と締付部材７８との間に接続器具３１の他方の直接接続部３６を差し込む。次に、締付部材７７および７８を締め付ける。これにより、テスト用端子７５および７６間に接続器具３１が固定される。そして、テスト用端子７５、７６および接続器具３１が電気的に接続される。

続いて、作業者は、このように接続器具３１を取り付ける作業を、当該テストプラグ７１における残りの３つのユニットについても行う。さらに、作業者は、もう１つのテストプラグ７１における三次回路５６のａ端子およびｆ端子にそれぞれ対応する２つのユニットについても、上述したような接続器具３１を取り付ける作業を行う。

次に、作業者は、接続器具３１がそれぞれ取り付けられた２つのテストプラグ７１のうち、二次回路５５のｕ端子およびｖ端子にそれぞれ対応するユニットを有するテストプラグ７１を、二次回路５５と保護継電器等５８との間に設けられたテストターミナル６１に装着する。

その後、作業者は、当該テストプラグ７１において、二次回路５５のｕ端子に対応するユニットに取り付けられた接続器具３１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ａとの間をリード線８４で接続する。具体的には、まず、当該接続器具３１のねじ止め接続部３７にリード線８４の一方の端部に設けられたリード線端子８５をねじ止めする。すなわち、締着部材４０を取り外し、リード線端子８５を雄ねじ部３９に装着し、締着部材４０を雄ねじ部３９に取り付ける。そして、締着部材４０を締め付ける。これにより、図６に示すように、リード線端子８５が接触面３８に強く押し付けられ、リード線端子８５が接触面３８に強固に面接触する。この結果、接触面３８とリード線端子８５とが電気的に強固に接続される。続いて、作業者は、当該リード線８４の他方の端部を可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ａに取り付ける。

続いて、作業者は、同様の手順で、当該テストプラグ７１において、二次回路５５のｖ端子に対応するユニットに取り付けられた接続器具３１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｂとの間をリード線８４で接続する。

次に、作業者は、接続器具３１がそれぞれ取り付けられた２つのテストプラグ７１のうち、三次回路５６のａ端子およびｆ端子にそれぞれ対応するユニットを有するテストプラグ７１を、三次回路５６と地絡過電圧継電器等５９との間に設けられたテストターミナル６１に装着する。

続いて、作業者は、接続器具３１と端子９１Ａとをリード線８４で接続した手順と同様の手順で、当該テストプラグ７１において、三次回路５６のａ端子に対応するユニットに取り付けられた接続器具３１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｃとの間をリード線８４で接続する。

続いて、作業者は、同様の手順で、当該テストプラグ７１において、三次回路５６のｆ端子に対応するユニットに取り付けられた接続器具３１と可搬形ωＣ測定装置９１の端子９１Ｄとの間をリード線８４で接続する。これにより、図７に示す回路５１が形成される。

このような本発明の第２の実施形態による接続器具３１によっても、上述した本発明の第１の実施形態による接続器具３１と同様の作用効果を得ることができる。

これに加え、本発明の第２の実施形態による接続器具３１によれば、導電部材３２をコ字状に形成すると共に、その両端部に一対の直接接続部３５、３６をそれぞれ形成する構成としたから、接続器具３１に短絡金具４１の機能を持たせることができる。したがって、測定回路を形成する際に、短絡金具４１が不要になるので、測定回路を形成する作業工数を減らして作業を簡易化することができる。また、接続器具３１は、いわば第１の実施形態による接続器具３１と短絡金具４１とが一体化した構成を有しているので、テスト用端子７５および７６間の接続と、リード線８４のテスト用端子７５および７６への接続とを確実に行うことができ、測定精度をより一層高めることができる。

なお、上述した第１の実施形態では、接続器具１１に絶縁カバー２０を設ける場合を例にあげたが、本発明はこれに限らず、接続器具１１に絶縁カバー２０を設けなくてもよい。これにより、接続器具１１の構造を簡単化することができ、接続器具１１の製造コストを下げることができる。同様に、上述した第２の実施形態による接続器具３１においても絶縁カバー４３を設けなくてもよく、これにより、接続器具３１の製造コストを下げることができる。

また、上述した各実施形態による接続器具１１および３１はそれぞれ、地絡継電器の整定のために行う計器用変圧器５３における二次回路５５および三次回路５６の電圧および位相の測定以外にも用いることができる。特に、接続器具１１および３１は、測定値の微小な変化を取り扱う必要があり、テスト用端子とリード線との間の接触抵抗の影響を抑制する必要がある測定において優れた効果を発揮する。

また、本発明は、請求の範囲および明細書全体から読み取ることのできる発明の要旨または思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う接続器具および端子接続方法もまた本発明の技術思想に含まれる。

１１、３１ 接続器具
１２、３２ 導電部材
１３、３５、３６ 直接接続部
１４、３７ ねじ止め接続部
１５、３８ 接触面
１６、３９ 雄ねじ部
１７、４０ 締着部材
１８、４１ 雌ねじ部
１９、４２ つまみ部
２０、４３ 絶縁カバー（カバー）
３３ 脚部
３４ 架橋部
５１ 回路
５２ 母線
５３ 計器用変圧器
５４ 一次回路
５５ 二次回路
５６ 三次回路
５７ 配電盤類
５８ 保護継電器等
５９ 地絡過電圧継電器等
６１ テストターミナル
６２ ターミナル本体
６３ プラグ装着部
６４ 上側接触子
６５ 下側接触子
６６ ターミナル上側端子
６７ ターミナル下側端子
７１ テストプラグ
７２ 本体絶縁部
７３ プラグ上側背面端子
７４ プラグ下側背面端子
７５、７６ テスト用端子
７７、７８ 締付部材
８１ 短絡金具
８２、８３ 接続部
８４ リード線
８５ リード線端子
８６ ワニ口クリップ
９１ 可搬形ωＣ測定装置
９１Ａ、９１Ｂ、９１Ｃ、９１Ｄ 端子
９２ 測定部
９３ スイッチ
９４ 抵抗器
９５ パーソナルコンピュータ

Claims (8)

1. テストプラグに設けられたテスト用端子と、リード線に設けられたリード線端子とを接続する接続器具であって、
   導電性を有する材料により形成された導電部材と、
   前記導電部材に形成され、前記テスト用端子に直接取り付けることにより前記導電部材と前記テスト用端子とを電気的に接続可能な直接接続部と、
   前記導電部材に形成され、前記リード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えていることを特徴とする接続器具。
2. 絶縁性を有する材料により形成され、前記導電部材において前記直接接続部が形成された部分および前記ねじ止め接続部が形成された部分の双方を除く部分を覆うカバーを備えていることを特徴とする請求項１に記載の接続器具。
3. テストプラグに設けられた２つのテスト用端子間を接続すると共に、リード線に設けられたリード線端子と前記２つのテスト用端子とを接続する接続器具であって、
   導電性を有する材料により形成された導電部材と、
   前記導電部材にそれぞれ形成され、前記２つのテスト用端子にそれぞれ直接取り付けることにより前記導電部材と前記２つのテスト用端子とを電気的に接続可能な２つの直接接続部と、
   前記導電部材に形成され、前記リード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えていることを特徴とする接続器具。
4. 絶縁性を有する材料により形成され、前記導電部材において前記各直接接続部が形成された部分、および前記ねじ止め接続部が形成された部分のいずれをも除く部分を覆うカバーを備えていることを特徴とする請求項３に記載の接続器具。
5. 前記導電部材はコ字状に形成されていることを特徴とする請求項３または４に記載の接続器具。
6. 前記ねじ止め接続部は、
   前記導電部材の表面に形成された接触面と、
   前記接触面に突設され、周面にねじが形成された雄ねじ部と、
   前記接触面との間に前記リード線端子を挟みつつ前記雄ねじ部に締着することにより、前記接触面に前記リード線端子を押し付けて接触させる締着部材とを備えていることを特徴とする請求項１ないし５のいずれかに記載の接続器具。
7. 導電性を有する材料により形成された導電部材と、前記導電部材に形成され、テストプラグに設けられたテスト用端子に直接取り付けることにより前記導電部材と前記テスト用端子とを電気的に接続可能な直接接続部と、前記導電部材に形成され、リード線に設けられたリード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えた接続器具を用いることにより、前記テスト用端子と前記リード線端子とを電気的に接続する端子接続方法であって、
   前記テスト用端子に前記接続器具の直接接続部を取り付けることにより前記接続器具を前記テストプラグに取り付けるステップと、
   前記接続器具が取り付けられたテストプラグをテストターミナルに装着するステップと、
   前記テストターミナルに装着されたテストプラグに取り付けられた接続器具のねじ止め接続部に前記リード線端子をねじ止めするステップとを備えていることを特徴とする端子接続方法。
8. 導電性を有する材料により形成された導電部材と、前記導電部材にそれぞれ形成され、テストプラグに設けられた２つのテスト用端子にそれぞれ直接取り付けることにより前記導電部材と前記２つのテスト用端子とを電気的に接続可能な２つの直接接続部と、前記導電部材に形成され、リード線に設けられたリード線端子をねじ止めすることにより前記導電部材と前記リード線端子とを電気的に接続可能なねじ止め接続部とを備えた接続器具を用いることにより、前記２つのテスト用端子間を電気的に接続すると共に、前記２つのテスト用端子と前記リード線端子とを電気的に接続する端子接続方法であって、
   前記２つのテスト用端子に前記接続器具の２つの直接接続部をそれぞれ取り付けることにより前記接続器具を前記テストプラグに取り付けるステップと、
   前記接続器具が取り付けられたテストプラグをテストターミナルに装着するステップと、
   前記テストターミナルに装着されたテストプラグに取り付けられた接続器具のねじ止め接続部に前記リード線端子をねじ止めするステップとを備えていることを特徴とする端子接続方法。

Images