JP2015038985A - リソグラフィ装置、リソグラフィ方法、および物品の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
まず、本発明の第1実施形態に係るリソグラフィ装置(リソグラフィ方法)について説明する。以下、本実施形態に係るリソグラフィ装置は、一例として露光装置であるものとして説明する。図1は、本実施形態に係る露光装置1の構成を示す概略図である。露光装置1は、一例として、半導体デバイスの製造工程に使用され、ステップ・アンド・リピート方式にてレチクルRに形成されているパターンをウエハW上(基板上)に露光(転写)する投影型露光装置とする。露光装置1は、照明系2と、レチクルRを保持するレチクルステージ3と、投影光学系4と、ウエハWを保持するウエハステージ5と、アライメント検出系6と、制御部7とを備える。なお、図1では、投影光学系4の光軸(本実施形態では鉛直方向)に平行にZ軸を取り、Z軸に垂直な平面内で露光時のウエハWの走査方向にX軸を取り、X軸に直交する非走査方向にY軸を取っている。
(1)ウエハWの中心位置のシフト誤差(平行移動量):(Swx,Swy)
(2)ウエハW(ショット配列)のローテーション誤差(回転量):(θwx,θwy)
(3)ウエハW(ショット配列)の倍率誤差(線形伸縮量):(βwx,βwy)
なお、ウエハWのローテーション誤差のX−Y成分の差分(θwx−θwy)は、ウエハWの直交度を表す。また、ショット補正パラメータとしては、例えば、以下の量が挙げられる。
(1)ショット領域のローテーション誤差(回転量):(θsx,θsy)
(2)ショット領域の倍率誤差(線形伸縮量):(βsx,βsy)
次に、本発明の第2実施形態に係るリソグラフィ装置について説明する。第1実施形態では、リソグラフィ装置としての露光装置1は、マークの位置ずれ量を計測するときに、マークが形成されているウエハWを静止させた状態とする、いわゆるステップ計測を実施している。これに対して、本実施形態に係るリソグラフィ装置の特徴は、ウエハWをアライメント検出系6に対して相対的に移動(スキャン)させつつマークの位置ずれ量を計測する、いわゆるスキャン計測を実施する点にある。以下、本実施形態においても、リソグラフィ装置は、一例として露光装置であるものとし、露光装置の構成自体も、第1実施形態に係る露光装置1と同様であるものとして説明する。
一実施形態に係る物品の製造方法は、例えば、半導体デバイスなどのマイクロデバイスや微細構造を有する素子などの物品を製造するのに好適である。当該製造方法は、物体(例えば、感光剤を表面に有する基板)上に上記のリソグラフィ装置を用いてパターン(例えば潜像パターン)を形成する工程と、該工程でパターンを形成された物体を処理する工程(例えば、現像工程)とを含み得る。さらに、該製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージングなど)を含み得る。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
6 アライメント検出系
7 制御部
MX X軸方向用マーク
MY Y軸方向用マーク
SH ショット領域
W ウエハ
Claims (10)
- パターンを基板に形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板上に形成されたマークを検出する検出部と、
前記検出部の出力に基づいて、前記マークの位置のその基準位置からのずれ量を求める制御部と、
を有し、
前記制御部は、前記基板上の各サンプルショット領域の複数のマークそれぞれに関して、複数の前記サンプルショット領域に関して前記検出部の出力に基づきそれぞれ得られた複数の前記ずれ量を平均化し、前記複数のマークに関して前記平均化によりそれぞれ得られた複数の前記ずれ量に基づいて、前記基板上のショット領域の形状に関する情報を得る、
ことを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記制御部は、前記複数のサンプルショット領域に関して前記検出部の出力に基づきそれぞれ得られた複数の前記ずれ量に基づいて、前記基板上のショット領域の位置に関する情報を得る、ことを特徴とする請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記制御部は、前記複数のサンプルショット領域において、前記複数のマークそれぞれの数が互いに等しくなるように、前記検出部による検出の対象となるマークを選択する、ことを特徴とする請求項1ないし3のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。
- 前記制御部は、前記検出部と前記基板とが相対的に移動している状態において前記検出部にマークを検出させる、ことを特徴とする請求項1ないし4のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。
- 前記制御部は、前記検出部による検出の対象となるマークを、該マークが前記移動の方向に沿って整列するように選択する、ことを特徴とする請求項4に記載のリソグラフィ装置。
- 基板上に形成されたマークを検出して該マークの位置のその基準位置からのずれ量を求め、該ずれ量に基づいてパターンを前記基板に形成するリソグラフィ方法であって、
前記基板上の各サンプルショット領域の複数のマークそれぞれに関して、複数の前記サンプルショット領域に関してそれぞれ得られた複数の前記ずれ量を平均化し、
前記複数のマークに関して前記平均化によりそれぞれ得られた複数の前記ずれ量に基づいて、前記基板上のショット領域の形状に関する情報を得る、
ことを特徴とするリソグラフィ方法。 - パターンを基板に形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板上に形成されたマークを検出する検出部と、
前記検出部の出力に基づいて、前記マークの位置のその基準位置からのずれ量を求める制御部と、
を有し、
前記制御部は、前記基板上の各サンプルショット領域の複数のマークそれぞれに関して、複数の前記サンプルショット領域に関して前記検出部の出力に基づきそれぞれ得られた複数の前記ずれ量の代表値を得、前記複数のマークに関してそれぞれ得られた複数の前記代表値に基づいて、前記基板上のショット領域の形状に関する情報を得る、
ことを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記制御部は、前記代表値として、平均値、中央値または最頻値を得る、ことを特徴とする請求項8に記載のリソグラフィ装置。
- 基板上に形成されたマークを検出して該マークの位置のその基準位置からのずれ量を求め、該ずれ量に基づいてパターンを前記基板に形成するリソグラフィ方法であって、
前記基板上の各サンプルショット領域の複数のマークそれぞれに関して、複数の前記サンプルショット領域に関してそれぞれ得られた複数の前記ずれ量の代表値を得、
前記複数のマークに関してそれぞれ得られた複数の前記代表値に基づいて、前記基板上のショット領域の形状に関する情報を得る、
ことを特徴とするリソグラフィ方法。 - 請求項1ないし5、7および8のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置または請求項6もしくは9に記載のリソグラフィ方法を用いてパターンを基板に形成する工程と、
前記工程で前記パターンを形成された前記基板を処理する工程と、
を含むことを特徴とする物品の製造方法。
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