JP2015026270A - 検出回路、温度センサおよび検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 検出回路に入力される基準電圧が変動する場合においても、基準電圧の変動による影響を低減して安定的に温度の計測値を出力することができる。
【解決手段】 本発明の検出回路１０は、印加された計測電圧に応じて電流値を出力する電流回路２０、計測電圧から温度依存性が補償された基準電圧を分圧して第１基準電圧および第２基準電圧を出力する分圧回路３０、所定の温度の時に検出電圧が第２基準電圧と等しくなるように電流値を補正する電流補正回路４０、補正した電流に第２基準電圧を付加して検出電圧を出力する検出値出力回路５０および検出電圧と第１基準電圧とに基づいて出力コードを生成するコード出力回路６０を備える。
【選択図】 図１

Description

本発明は、温度依存性がある検出値を検出する検出回路、温度センサおよび検出方法に関し、特にLSI化に適した回路構成を有する検出回路および温度センサに関する。

絶対温度に比例するPTAT（Proportional To Absolute Temperature）電流を生成する回路が幅広く使用されている。PTAT電流を生成する回路は、例えば、特許文献１に開示されている。この種のPTAT電流を生成するADC（Analog-to-digital converter）回路を適用したデジタル温度センサにおいては、ADC回路からは、例えば、（１）式を用いて算出されたデジタル出力コードが出力される。

出力コード＝［(αT・M)/基準電圧］ （１）式
ここで、α：温度係数、T：絶対温度、M：回路係数、“［ ］”：Quantize operatorである。

例えば、α＝3.72E-3、T＝398K(Tj＝125℃）、M：1023(10bit）、基準電圧＝1.9Vとすると、温度が125℃の場合、ADC回路からは（１）式より下記のデジタル出力コードが出力される。なお、簡略化のためQuantize operatorは省略する。

出力コード＝ (3.72E-3・398・1023)/1.9＝797

特開２００８−５１３８７４号公報

しかし、（１）式から分かるように、ADC回路に入力される基準電圧が変動することにより、ADC回路から出力されるデジタル出力コードが変動する。基準電圧が変動値：±X変動する場合のADC回路のデジタル出力コード算出式は（２）式となる。

出力コード＝［(αT・M)/ 基準電圧±X］ （２）式
例えば、α＝3.72E-3、T＝398K(Tj＝125℃）、M：1023(10bit）、基準電圧＝1.9Ｖ、X＝0.01Ｖ（すなわち、基準電圧の変動が±10mV）の時、温度が125℃の場合、ADC回路からは（２）式より下記のデジタル出力コードが出力される。

出力コード＝ (3.72E-3・398・1023)/(1.9±0.01)＝797±4.218
すなわち、デジタル温度センサのADC回路に入力される基準電圧が±10mV変動することにより、実際の温度は一定の場合においても、デジタル出力コードは約±4.2コード変動する。

本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、検出回路に入力される基準電圧が変動する場合においても、基準電圧の変動による影響を低減して安定的に温度に関する出力コードを出力することができる検出回路、温度センサおよび検出方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために本発明に係る検出回路は、温度依存性がある計測電圧が印加されることにより、印加された計測電圧に応じた電流値を出力する電流回路と、計測電圧から温度依存性が補償された基準電圧を取得し、取得した基準電圧を分圧して第１基準電圧および第２基準電圧を出力する分圧回路と、所定の温度の時に検出電圧が第２基準電圧と等しくなるように電流値を補正して補正電流を出力する電流補正回路と、補正電流に第２基準電圧を付加して検出電圧を出力する検出値出力回路と、検出電圧と第１基準電圧とに基づいて出力コードを出力するコード出力回路と、を備える。

上記目的を達成するために本発明に係る温度センサは、上記の検出回路と、検出回路から出力された出力コードに基づいて計測温度を演算して出力する演算回路と、を備える。

上記目的を達成するために本発明に係る検出方法は、温度依存性がある計測電圧が印加されることにより、印加された計測電圧に応じた電流値を出力し、前記計測電圧から温度依存性が補償された基準電圧を取得し、取得した基準電圧を分圧して第１基準電圧および第２基準電圧を出力し、所定の温度の時に検出電圧が前記第２基準電圧と等しくなるように前記電流値を補正して補正電流を出力し、前記補正電流に前記第２基準電圧を付加して検出電圧を出力し、前記検出電圧と前記第１基準電圧とに基づいて出力コードを出力する。

上述した本発明の態様の検出回路、温度センサおよび検出方法によれば、検出回路に入力される基準電圧が変動する場合においても、基準電圧の変動による影響を低減して安定的に温度に関する出力コードを出力することができる。

第１の実施形態に係る検出回路１０のブロック構成図である。 第１の実施形態に係る温度センサ７０のブロック構成図である。 第２の実施形態に係る温度センサ回路１００のブロック構成図である。 第３の実施形態に係る温度センサ回路１００Ｂの回路図である。

（第１の実施形態）
第１の実施形態に係る検出回路について説明する。本実施形態に係る検出回路のブロック構成図を図１に示す。図１において、本実施形態に係る検出回路１０は、電流回路２０、分圧回路３０、電流補正回路４０、検出値出力回路５０およびコード出力回路６０を備える。

電流回路２０は、温度依存性がある計測電圧が印加されることにより、印加された計測電圧に応じた電流値を生成して電流補正回路４０へ出力する。本実施形態において、電流回路２０は、印加された計測電圧に応じて、負の温度依存性を有するPTAT（Proportional To Absolute Temperature）電流を出力する。また、電流回路２０は、計測電圧から温度依存性が補償された基準電圧を生成し、分圧回路３０へ出力する。

分圧回路３０は、電流回路２０から入力された基準電圧を分圧し、第１基準電圧をコード出力回路６０へ、第２基準電圧を検出値出力回路５０へ出力する。

電流補正回路４０は、所定の温度の時に検出電圧が第２基準電圧と等しくなるように、電流回路２０から入力された電流値を補正して、補正電流として検出値出力回路５０へ出力する。本実施形態に係る電流補正回路４０は、定電流ダイオード等を用いることにより、所定の温度の時に補正電流がゼロになるように、電流回路２０から入力された電流値を補正する。ここで、定電流ダイオードは、請求項の定電流回路の機能を有する。

検出値出力回路５０は、電流補正回路４０から入力された補正電流に、分圧回路３０から入力された第２基準電圧を付加し、検出電圧としてコード出力回路６０へ出力する。

コード出力回路６０は、検出値出力回路５０から入力された検出電圧と分圧回路３０から入力された第１基準電圧とから、出力コードを演算して出力する。本実施形態に係るコード出力回路６０は、下記の（３）式を用いて出力コードを演算する。すなわち、
出力コード＝［((検出電圧±Y)・M)/(基準電圧±X)］ （３）式
ここで、Mは回路係数、±Xは基準電圧の変動値、±Yは基準電圧の変動に起因する検出電圧の変動値、［ ］はQuantize operatorである。

次に、本実施形態に係る検出回路１０の動作について説明する。電流回路２０から出力される電流値は温度依存性があることから、電流補正回路４０から出力される補正電流は、(補正電流・Ｒ)＝α・T（Ｒは抵抗値、αは温度係数、Ｔは絶対温度）と記載することができる。さらに、所定の温度T_ｒｅｆの時に補正電流がゼロになる場合、(補正電流・Ｒ)＝α・(T-T_ｒｅｆ)と記載することができる。

一方、分圧回路３０が、基準電圧をＶ_ｒｅｆの時に基準電圧Ｖ_ｒｅｆをZ(0<Z<1)倍して第２基準電圧を生成する場合、第２基準電圧＝Z・Ｖ_ｒｅｆと記載することができる。従って、検出値出力回路５０から出力される検出電圧は（４）式で記載される。

検出電圧±Y＝(補正電流・Ｒ)＋第２基準電圧＝α・(T-T_ｒｅｆ)＋Z・(Ｖ_ｒｅｆ±X) （４）式
すなわち、本実施形態に係る検出回路１０において、検出値出力回路５０は基準電圧Ｖ_ｒｅｆに追従する検出電圧を出力する。そして（４）式を（３）式に当てはめることにより、検出回路１０のコード出力回路６０から出力される出力コードは（５）式のように表される。

出力コード＝［((α(T-T_ｒｅｆ)＋Z・(Ｖ_ｒｅｆ±X))・M)/(Ｖ_ｒｅｆ±X)］ （５）式
背景技術で説明した（２）式と比較すると、（５）式の分子にはZ・(Ｖ_ｒｅｆ±X))・M)、すなわち、基準電圧の変動による影響が加味されている。従って、本実施形態に係る検出回路１０は、（５）式を用いることにより基準電圧Ｖ_ｒｅｆの変動分Xによる影響を低減でき、入力される基準電圧Ｖ_ｒｅｆが変動する場合においても安定的に温度依存性のある出力コードを出力することができる。

ここで、本実施形態に係る検出回路１０は、温度補償回路や温度センサ等に配置されることができる。本実施形態に係る検出回路１０を備えた温度センサのブロック構成図を図２に示す。図２の温度センサ７０は、検出回路１０から出力された出力コードに基づいて、演算回路８０が計測温度を演算して出力する。

（第２の実施形態）
第２の実施形態について説明する。本実施形態に係る温度センサ回路のブロック構成図を図３に示す。図３において、本実施形態に係る温度センサ回路１００は、PTAT電流回路２００、基準電圧増幅回路３００、電流補正回路４００、温度センサ出力回路５００およびADC回路６００を備える。本実施形態に係る温度センサ回路１００は、温度TがT_Vrefの時に、基準電圧の変動による影響が最も低減される。以下、T_Vrefを補正時温度と記載する。

PTAT電流回路２００は、印加された基準電圧および温度に比例するPTAT電流を生成し、生成したPTAT電流を電流補正回路４００へ出力する。

基準電圧増幅回路３００は、PTAT電流回路２００に印加されている基準電圧を取得して増幅し、VREFOUTとしてADC回路６００へ出力する。また、基準電圧増幅回路３００は、増幅したVREFOUTを分圧してVREFOUT_Zとして温度センサ出力回路５００へ出力する。

電流補正回路４００は、PTAT電流回路２００から入力されたPTAT電流を調整して、ITEMPとして温度センサ出力回路５００へ出力する。本実施形態に係る電流補正回路４００は、温度Tが補正時温度T_Vrefと一致する時に、温度センサ出力回路５００から出力されるTEMPOUTと基準電圧増幅回路３００から出力されるVREFOUT_Zとが等しくなるように、PTAT電流を調整する。

温度センサ出力回路５００は、電流補正回路４００から入力されたITEMPに、基準電圧増幅回路３００において分圧されたVREFOUT_Zを加算し、TEMPOUTとしてADC回路６００へ出力する。

ADC回路６００は、基準電圧増幅回路３００から入力されたVREFOUTおよび温度センサ出力回路５００から入力されたTEMPOUTを用いてデジタル出力コードを演算して出力する。

次に、本実施形態に係る温度センサ回路１００の動作について説明する。先ず、温度依存性があるPTAT電流の調整値であるITEMPは、補正時温度T_Vrefを用いてITEMP・Ｒ＝α(T-T_Vref)と記載することができる。ここで、Ｒは抵抗値、αは温度係数、Ｔは絶対温度である。一方、温度センサ出力回路５００は、電流補正回路４００から出力されたITEMP・Ｒに基準電圧増幅回路３００において分圧されたVREFOUT_Zを加算して出力することから、（６）式のTEMPOUTを出力する。

TEMPOUT＝ITEMP・Ｒ＋VREFOUT_Z＝α(T−T_Vref)＋VREFOUT_Z （６）式
ここで、VREFOUT_ZはVREFOUTの分圧なので、分圧比：Z(0<Z<1)とすると、VREFOUT_Z＝Z・VREFOUTと記載される。従って、温度センサ出力回路５００から出力される、基準電圧の変動が加味されたTEMPOUT±Yは（７）式で表される。

TEMPOUT±Y＝α(T- T_Vref)＋Z・(VREFOUT±X) （７）式
ここで、温度Tが補正時温度T_Vrefに一致している場合、T＝T_Vrefを（７）式に当てはめることにより、TEMPOUT±Y＝Z・(VREFOUT±X)となる。すなわち、温度Tが補正時温度T_Vrefに一致している場合、温度センサ出力回路５００から出力されるTEMPOUTは、基準電圧に追従する。

さらに、温度センサ回路１００のADC回路６００から出力されるデジタル出力コードは、背景技術で説明した（２）式を適用することができる。（７）式を（２）式に当てはめることにより、本実施形態に係る温度センサ回路１００からは（８）式のデジタル出力コードが出力される。

出力コード＝［((α(T- T_Vref)＋Z・(VREFOUT±X))・M)/(VREFOUT±X)］ （８）式
例えば、補正時温度T_Vref が80℃である場合に、125℃、80℃、25℃の時の温度センサ回路１００から出力されるデジタル出力コードを（８）式より演算すると、下記のようになる。ここで、α＝3.72E-3、T＝398K(Tj＝125℃）又は353K(Tj＝80℃）又は298K(Tj＝25℃）、TVref＝353K(Tj＝80℃）、M：1023(10bit）、VREFOUT±X＝1.9±0.01Ｖ、Z＝0.5である。また、簡略化のためQuantize operatorは省略する。

Tj＝125℃：デジタル出力コード(8)＝602±0.477
Tj＝80℃：デジタル出力コード(8)＝512±0
Tj＝25℃：デジタル出力コード(8)＝401±0.583
上記のように、（８）式を適用することにより、基準電圧の変動に起因するデジタル出力コードの出力バラツキを１コード以下に抑制することができる。一方、125℃、80℃、25℃の時に温度センサ回路１００から出力されるデジタル出力コードを背景技術で説明した（２）式より演算すると、下記のようになる。

Tj＝125℃：デジタル出力コード(2)＝797±4.218
Tj＝80℃：デジタル出力コード(2)＝707±3.741
Tj＝25℃：デジタル出力コード(2)＝567±3.158
以上のように、本実施形態に係る温度センサ回路１００において、電流補正回路４００は、補正時温度T_Vrefの時に温度センサ出力回路５００から出力されるTEMPOUTと基準電圧増幅回路３００から出力されたVREFOUT_Zとが等しくなるように、PTAT電流を調整する。これにより、温度センサ出力回路５００から基準電圧に追従するTEMPOUTが出力されるため、ADC回路６００において基準電圧の変動に影響が低減され、温度センサ回路１００から安定的なデジタル出力コードが出力される。

（第３の実施形態）
第３の実施形態について説明する。本実施形態に係る温度センサ回路の回路図を図４に示す。図４に示すように、本実施形態に係る温度センサ回路１００Ｂは、PTAT電流回路２００Ｂ、基準電圧増幅回路３００Ｂ、電流補正回路４００Ｂ、温度センサ出力回路５００ＢおよびADC回路６００Ｂを備える。

PTAT電流回路２００Ｂは、主に、第１の抵抗素子(R1)、第２の抵抗素子(R2)、第１のバイポーラトランジスタ（BIP１）、第２のバイポーラトランジスタ（BIP２）、第３のバイポーラトランジスタ(BIP3)、カレントミラー回路および第１のオペアンプ回路（AMP１）を備える。

第１の抵抗素子(R１)および第１のバイポーラトランジスタ(BIP１)は、第１のノード(N１)と基準電圧のラインとの間に直列に配置される。第１のバイポーラトランジスタ(BIP1)は、第２のバイポーラトランジスタ(BIP2) のｋ(ｋは整数)倍のエミッタ面積を持つ。第２のバイポーラトランジスタ(BIP2)は、第２のノード(N2)と基準電圧のラインとの間に配置される。

カレントミラー回路は、第１の抵抗素子(R1)に流れる電流を供給する。第１のオペアンプ回路(AMP1)は、第１のノード(N1)の電圧と第２のノード(N2)の電圧とが一致するように、カレントミラー回路を制御する。

第２の抵抗素子(R2)および第３のバイポーラトランジスタ(BIP3)は、第３のノード(N3)と基準電圧のラインとの間に直列に配置され、負の温度依存性を有するPTAT電流回路２００Ｂの温度依存性を相殺し、第３のノード(N3)を基準電圧に維持する。

基準電圧増幅回路３００Ｂは、第２のオペアンプ回路(AMP2)を備え、第２のオペアンプ回路(AMP2)を用いて第３のノード(N3)の電圧を“１＋R３/（R４＋R５）”だけ増幅してVREFOUTを出力する。また、基準電圧増幅回路３００Ｂは、VREFOUTを分圧して温度センサ出力回路５００Ｂへ出力する。本実施形態に係る基準電圧増幅回路３００Ｂは、図４から、Z=“R５/(R３＋R４＋R５)”倍のVREFOUTを、温度センサ出力回路５００Ｂの第３のオペアンプ回路（AMP３）へ出力する。

電流補正回路４００Ｂは、ターゲットとする温度の時に、温度センサ出力回路５００Ｂから出力されるTEMPOUTが第５のノード(N5)の電圧と等しくなるように、PTAT電流回路２００Ｂから出力されたPTAT電流を調整し、ITEMPを温度センサ出力回路５００Ｂの第３のオペアンプ回路（AMP３）へ出力する。

温度センサ出力回路５００Ｂは、第６の抵抗素子(R6)および第３のオペアンプ回路(AMP3)を備える。温度センサ出力回路５００Ｂは、第６の抵抗素子(R6)によって電流補正回路４００Ｂから入力されたITEMPに基準電圧増幅回路３００Ｂにおいて分圧されたVREFOUT_Zを加算し、ADC回路６００ＢへTEMPOUTを出力する。

ADC回路６００Ｂは、基準電圧増幅回路３００Ｂから入力された温度に比例しないVREFOUTを基準として、温度センサ出力回路５００Ｂから入力されたTEMPOUTに対応するデジタル出力コードを演算して出力する。

次に、本実施形態に係る温度センサ回路１００Ｂの動作について説明する。本実施形態に係る温度センサ回路１００Ｂにおいて、電流補正回路４００Ｂは、温度がT_Vref（絶対温度）の時に、温度センサ出力回路５００Ｂから出力されるTEMPOUTが第５のノード(N5)の電圧と等しくなるように、PTAT電流回路２００Ｂから出力されたPTAT電流を調整する。

すなわち、温度センサ出力回路５００Ｂから出力されるTEMPOUTは（９）式で記載される。

TEMPOUT＝(ITEMP・R６)＋N５＝-α(T−TVref)＋N５ （９）式
一方、N５の電圧は、図４を参照することにより、（10）式で記載される。

N５＝(R５/(R３＋R４＋R５))・VREFOUT （10）式
（10）式を（９）式に代入し、基準電圧の変動を加味することにより、温度センサ出力回路５００Ｂから出力されるTEMPOUT±Yは（11）式で記載される。

TEMPOUT±Y＝-α(T−TVref)＋(R５/(R３＋R４＋R５))・(VREFOUT±X) （11）式
ここで、T＝TVrefの場合、TEMPOUT±Y＝(R５/(R３＋R４＋R５))・(VREFOUT±X)となり、温度センサ出力回路５００Ｂから出力されるTEMPOUTは、基準電圧VREFOUTに追従する。

さらに、温度センサ回路１００ＢのADC回路６００Ｂから出力されるデジタル出力コードは、背景技術で説明した（２）式を適用することができる。（11）式を（２）式に当てはめることにより、本実施形態に係る温度センサ回路１００Ｂから出力されるデジタル出力コードは（１２）式で記載される。

出力コード＝［(-α(T-TVref)＋(R５/(R３＋R４＋R５))・(VREFOUT±X))・M/(VREFOUT±X)］ （12）式
例えば、ターゲットとする温度TVrefがTVref＝353K(Tj＝80℃）の場合に、125℃、80℃、25℃の時の温度センサ回路１００Ｂから出力されるデジタル出力コードを（12）式より演算すると、下記のようになる。なお、α＝3.72E-3、T＝398K(Tj＝125℃）又は353K(Tj＝80℃）又は298K(Tj＝25℃）、TVref＝353K(Tj＝80℃）、M：1023(10bit）、VREFOUT±X＝1.9±0.01Ｖ、R３＝R４＝R５＝10kΩとする。また、簡略化のためQuantize operatorは省略する。

Tj＝125℃：デジタル出力コード(12)＝251±0.477
Tj＝80℃：デジタル出力コード(12)＝341±0
Tj＝25℃：デジタル出力コード(12)＝452±0.577
上記のように、（12）式を適用することにより、基準電圧の変動に起因するデジタル出力コードの出力バラツキを１コード以下に抑制することができる。

以上のように、本実施形態に係る温度センサ回路１００Ｂは、電流補正回路４００Ｂにおいて、電流補正回路４００Ｂは、ターゲットとする温度TVrefの時に、温度センサ出力回路５００Ｂから出力されるTEMPOUTと第５のノード(N5)の電圧とが等しくなるように、PTAT電流回路２００Ｂから出力されたPTAT電流を調整する。これによって、温度センサ出力回路５００Ｂから基準電圧に追従するTEMPOUTが出力されるため、ADC回路６００Ｂにおいて基準電圧の変動に起因するデジタル出力コードの変動が低減される。

従って、本実施形態に係る温度センサ回路１００Ｂは、基準電圧の変動による影響が低減された安定的なデジタル出力コードを出力することができる。また、ターゲットとする温度TVrefに合わせて各種変数を適切に設計することにより、ターゲットとする温度TVrefの時に基準電圧の変動に起因するデジタル出力コードの変動を最小にすることができる。

本願発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。

１０ 検出回路
２０ 電流回路
３０ 分圧回路
４０ 電流補正回路
５０ 検出値出力回路
６０ コード出力回路
７０ 温度センサ
８０ 演算回路
１００、１００Ｂ 温度センサ回路
２００、２００Ｂ PTAT電流回路
３００、３００Ｂ 基準電圧増幅回路
４００、４００Ｂ 電流補正回路
５００、５００Ｂ 温度センサ出力回路
６００、６００Ｂ ADC回路

Claims (7)

1. 温度依存性がある計測電圧が印加されることにより、印加された計測電圧に応じた電流値を出力する電流回路と、
   前記計測電圧から温度依存性が補償された基準電圧を取得し、取得した基準電圧を分圧して第１基準電圧および第２基準電圧を出力する分圧回路と、
   所定の温度の時に検出電圧が前記第２基準電圧と等しくなるように前記電流値を補正して補正電流を出力する電流補正回路と、
   前記補正電流に前記第２基準電圧を付加して検出電圧を出力する検出値出力回路と、
   前記検出電圧と前記第１基準電圧とに基づいて出力コードを出力するコード出力回路と、
   を備える検出回路。
2. 前記電流補正回路は定電流回路を含み、
   前記定電流回路は、所定の温度の時に前記補正電流がゼロになるように設定される、
   請求項１記載の検出回路。
3. 前記分圧回路は、直列に配置された第３抵抗、第４抵抗および第５抵抗と、プラス側入力端子に前記基準電圧が印加され、マイナス側入力端子に前記第３抵抗の他端が接続され、出力端子に第３抵抗の一端が接続された第２アンプと、を含むと共に、前記第４抵抗および第５抵抗の中間位置の電位を前記第２基準電圧として出力し、
   前記検出値出力回路は、第６抵抗と、プラス側入力端子に前記第２基準電圧が印加され、マイナス側入力端子に前記第６抵抗の他端が接続され、出力端子に第６抵抗の一端が接続された第３アンプと、を含む、
   請求項１または２記載の検出回路。
4. 前記電流回路は、
   カレントミラー回路と、
   １対ｋ（ｋは２以上の整数）のエミッタ面積を有する第１バイポーラトランジスタおよび第２バイポーラトランジスタと、
   前記第１バイポーラトランジスタのドレインと第１アンプの間に配置された第１抵抗と、
   プラス側入力端子が前記第１抵抗が接続され、マイナス側入力端子に前記第２バイポーラトランジスタのドレインが接続され、出力端子が前記カレントミラー回路に接続され、プラス側入力端子位置およびマイナス側入力端子位置の電位が一致するように前記カレントミラー回路を制御する第１アンプと、
   を含み、前記電流値として、PTAT（Proportional To Absolute Temperature）電流を出力する、
   請求項１乃至３のいずれか１項記載の検出回路。
5. 前記電流回路は、前記計測電圧から温度依存性を補償するための第２抵抗および第３バイポーラトランジスタを含み、第２抵抗および第３バイポーラトランジスタによって温度依存性を補償した計測電圧を前記基準電圧として前記分圧回路に出力する、請求項１乃至４のいずれか１項記載の検出回路。
6. 請求項１乃至５のいずれか１項記載の検出回路と、
   前記検出回路から出力された出力コードに基づいて計測温度を演算して出力する演算回路と、
   を備える温度センサ。
7. 温度依存性がある計測電圧が印加されることにより、印加された計測電圧に応じた電流値を出力し、
   前記計測電圧から温度依存性が補償された基準電圧を取得し、取得した基準電圧を分圧して第１基準電圧および第２基準電圧を出力し、
   所定の温度の時に検出電圧が前記第２基準電圧と等しくなるように前記電流値を補正して補正電流を出力し、
   前記補正電流に前記第２基準電圧を付加して検出電圧を出力し、
   前記検出電圧と前記第１基準電圧とに基づいて出力コードを出力する、
   検出方法。

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