JP2014503130A - Solar cell and manufacturing method thereof - Google Patents

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Abstract

【解決手段】本発明による太陽電池は、基板と、前記基板上の裏面電極層と、前記裏面電極層上の光吸収層と、 前記光吸収層上のにバッファ層と、前記バッファ層上のウィンドウ層とを含み、前記裏面電極層は、第1の貫通溝を含み、前記第1の貫通溝の側面は、前記基板の上面と傾斜して形成される。
【選択図】図2
A solar cell according to the present invention includes a substrate, a back electrode layer on the substrate, a light absorption layer on the back electrode layer, a buffer layer on the light absorption layer, and on the buffer layer. The back electrode layer includes a first through groove, and a side surface of the first through groove is formed to be inclined with respect to the upper surface of the substrate.
[Selection] Figure 2

Description

開示の実施形態は、太陽電池及びその製造方法に関する。   The disclosed embodiments relate to a solar cell and a method for manufacturing the solar cell.

最近、エネルギーの需要が増加するにつれて、太陽光エネルギーを電気エネルギーに変換させる太陽電池に関する開発が進められている。   Recently, as the demand for energy increases, the development of solar cells that convert solar energy into electrical energy has been promoted.

特に、ガラス支持基板、金属後面電極層、p型CIGS系光吸収部、バッファ層、n型透明電極層などを含む支持基板構造のpnヘテロ接合装置であるCIGS系太陽電池が広く使われている。   In particular, CIGS solar cells, which are pn heterojunction devices having a support substrate structure including a glass support substrate, a metal back electrode layer, a p-type CIGS light absorbing portion, a buffer layer, an n-type transparent electrode layer, etc., are widely used. .

また、このような太陽電池の効率を増加させるため、様々な研究が進行されつつある。   In addition, various studies are being carried out to increase the efficiency of such solar cells.

開示の実施形態は、信頼性の向上した太陽電池及びその製造方法を提供することである。   An embodiment of the disclosure is to provide a solar cell with improved reliability and a method for manufacturing the same.

本発明の実施形態による太陽電池は、基板と、前記基板上の裏面電極層と、前記裏面電極層上の光吸収層と、前記光吸収層上のバッファ層と、前記バッファ層上のウィンドウ層とを含み、前記裏面電極層は、第1の貫通溝を含み、前記第1の貫通溝の側面は、前記基板の上面と傾斜して形成される。   A solar cell according to an embodiment of the present invention includes a substrate, a back electrode layer on the substrate, a light absorption layer on the back electrode layer, a buffer layer on the light absorption layer, and a window layer on the buffer layer. The back electrode layer includes a first through groove, and a side surface of the first through groove is formed to be inclined with respect to the upper surface of the substrate.

本発明の実施形態による太陽電池の製造方法は、基板上に裏面電極層を形成するステップと、前記基板の上面を露出するように前記裏面電極層の一部をエッチングするステップと、前記裏面電極層の上に、光吸収層と、バッファ層と、ウィンドウ層とを形成するステップとを含み、前記裏面電極層の一部をエッチングするステップは、レーザが前記基板の上面に対して傾斜する方向に照射される。   A method of manufacturing a solar cell according to an embodiment of the present invention includes a step of forming a back electrode layer on a substrate, a step of etching a part of the back electrode layer so as to expose an upper surface of the substrate, and the back electrode Forming a light absorption layer, a buffer layer, and a window layer on the layer, and etching the part of the back electrode layer in a direction in which the laser is inclined with respect to the upper surface of the substrate Is irradiated.

本発明によると、第1の貫通溝により複数個に分離される裏面電極層の側面が、基板と傾きを有するように形成される。これにより、第1の貫通溝の形成に際して、レーザによる熱衝撃でバリ(burr)が生じる現象を防止することができるようになる。   According to the present invention, the side surface of the back electrode layer separated into a plurality by the first through groove is formed to have an inclination with respect to the substrate. As a result, when the first through groove is formed, it is possible to prevent a phenomenon in which a burr is caused by a thermal shock caused by a laser.

また、基板と斜面を有するように形成される第1の貫通溝により、カバレージ(coverage)不良が生じることを防止することができるので、信頼性の向上した太陽電池を提供することができる。   In addition, since the first through groove formed to have a substrate and an inclined surface can prevent a coverage defect from occurring, a solar cell with improved reliability can be provided.

本発明の実施形態による太陽光発電装置を示す平面図である。It is a top view which shows the solar power generation device by embodiment of this invention. 図1におけるА- А′に沿って切断した断面を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the cross section cut | disconnected along А-А 'in FIG. 図2のBを拡大した断面図である。It is sectional drawing to which B of FIG. 2 was expanded. 本発明の実施形態による太陽電池の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the solar cell by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による太陽電池の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the solar cell by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による太陽電池の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the solar cell by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による太陽電池の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the solar cell by embodiment of this invention.

本発明を説明するに当たって、各支持基板、層、膜、または電極などが、各支持基板、層、膜、電極などの“上(on)”に、または“下(under)”に形成されることと記載される場合において、“上(on)”と“下(under)”は、“直接(directly)”または“他の構成要素を介して(indirectly)”形成されることを全て含む。   In describing the present invention, each support substrate, layer, membrane, or electrode is formed “on” or “under” each support substrate, layer, membrane, electrode, or the like. Where “on” and “under” include all being “directly” or “indirectly” formed.

また、各構成要素の上または下に対する基準は、図面を基準として説明する。   Further, the reference to the top or bottom of each component will be described with reference to the drawings.

図面において、各構成要素のサイズは説明のために誇張することがあり、実際に適用されるサイズを意味するものではない。   In the drawings, the size of each component may be exaggerated for the purpose of explanation, and does not mean a size that is actually applied.

図1は、本発明の実施形態による太陽光発電装置を示す平面図であり、図2は、図1におけるА- А′線に沿って切断した断面を示す断面図である。   FIG. 1 is a plan view showing a photovoltaic power generation apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view showing a cross section taken along the line А-А 'in FIG.

図2を参照すると、本発明の実施形態による太陽電池は、支持基板100と、前記支持基板100上の裏面電極層200と、前記裏面電極層200上の光吸収層300と、前記光吸収層300上のバッファ層400と、高抵抗バッファ層500と、前記高抵抗バッファ層500上のウィンドウ層600とを含む。   Referring to FIG. 2, a solar cell according to an embodiment of the present invention includes a support substrate 100, a back electrode layer 200 on the support substrate 100, a light absorption layer 300 on the back electrode layer 200, and the light absorption layer. 300 includes a buffer layer 400 on 300, a high-resistance buffer layer 500, and a window layer 600 on the high-resistance buffer layer 500.

前記支持基板100は、プレート状を有し、前記裏面電極層200と、光吸収層300と、バッファ層400と、高抵抗バッファ層500と、ウィンドウ層600とを支持する。前記支持基板100は、絶縁体であるか、前記支持基板100は、ガラス基板、プラスチック基板、または、金属基板であるか、より詳しくは、前記支持基板100は、ソーダライムガラス(soda lime glass)基板であり得る。   The support substrate 100 has a plate shape, and supports the back electrode layer 200, the light absorption layer 300, the buffer layer 400, the high resistance buffer layer 500, and the window layer 600. The support substrate 100 is an insulator, the support substrate 100 is a glass substrate, a plastic substrate, or a metal substrate. More specifically, the support substrate 100 is a soda lime glass. It can be a substrate.

前記支持基板100がソーダライムガラスの場合、ソーダライムガラスに含有したナトリウム(Na)が、太陽電池の製造工程中に、CIGSで形成された光吸収層300に拡散することがあるが、これにより、光吸収層300の電荷濃度が増加することになる。これは、太陽電池の光電変換効率を増加させる要因となり得る。   When the support substrate 100 is soda lime glass, sodium (Na) contained in the soda lime glass may diffuse into the light absorption layer 300 formed of CIGS during the manufacturing process of the solar cell. As a result, the charge concentration of the light absorption layer 300 increases. This can be a factor that increases the photoelectric conversion efficiency of the solar cell.

その他に、支持基板100の材質として、アルミナのようなセラミック基板、ステンレススチール、柔軟性のある高分子などが使用される。前記支持基板100は、透明であるか、リジッドであるか、フレキシブルである。   In addition, as the material of the support substrate 100, a ceramic substrate such as alumina, stainless steel, a flexible polymer, or the like is used. The support substrate 100 is transparent, rigid, or flexible.

前記裏面電極層200は、前記支持基板100の上に配置される。前記裏面電極層200は、導電層である。前記裏面電極層200は、太陽電池のうち、前記光吸収層300で生成された電荷が移動するようにして、太陽電池の外部に電流を流すようにすることができる。   The back electrode layer 200 is disposed on the support substrate 100. The back electrode layer 200 is a conductive layer. The back electrode layer 200 may allow an electric current to flow outside the solar cell such that the charge generated in the light absorption layer 300 of the solar cell moves.

前記裏面電極層200は、このような機能を果たすため、電気伝導度が高く、比抵抗が小さくなければならない。   The back electrode layer 200 must have high electrical conductivity and low specific resistance in order to perform such a function.

また、前記裏面電極層200は、光吸収層300を形成するCIGS化合物と接触されるので、 光吸収層300と裏面電極層200は、接触抵抗値の小さい抵抗性接触(ohmic contact)とならなければならない。   In addition, since the back electrode layer 200 is in contact with the CIGS compound forming the light absorption layer 300, the light absorption layer 300 and the back electrode layer 200 must be a resistive contact having a small contact resistance value. I must.

更に、前記裏面電極層200は、CIGS化合物の形成に際して伴う硫黄(S)、または、セレニウム(Se)の雰囲気下での熱処理時、高温安全性が維持されなければならない。また、前記裏面電極層200は、熱膨脹係数の差で、前記支持基板100と剥離現象が生じないように、前記支持基板100と接着性が優れていなければならない。   Further, the back electrode layer 200 must maintain high-temperature safety during heat treatment in an atmosphere of sulfur (S) or selenium (Se) associated with formation of a CIGS compound. In addition, the back electrode layer 200 must have excellent adhesion to the support substrate 100 so that a peeling phenomenon does not occur from the support substrate 100 due to a difference in thermal expansion coefficient.

このような裏面電極層200は、モリブデン(Mo)、金(Au)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、タングステン(W),及び銅(Cu)のいずれかで形成される。これらのうち、特に、モリブデン(Mo)は、他の元素に比べて、前記支持基板100と熱膨脹係数の差が小さいため接着性が優れていて、剥離現象が生じることを防止することができ、上述した裏面電極層200に要求される特性を全般的に満たすことができる。   Such a back electrode layer 200 is formed of any one of molybdenum (Mo), gold (Au), aluminum (Al), chromium (Cr), tungsten (W), and copper (Cu). Among these, in particular, molybdenum (Mo) is excellent in adhesion because the difference between the thermal expansion coefficient and the support substrate 100 is small compared to other elements, and can prevent the peeling phenomenon from occurring. The characteristics required for the back electrode layer 200 described above can be generally satisfied.

前記裏面電極層200は、2以上の層を含むことができる。この時、それぞれの層は、同一の金属で形成されるか、互いに異なる金属で形成される。   The back electrode layer 200 may include two or more layers. At this time, each layer is formed of the same metal or different metals.

前記裏面電極層200には、第1の貫通溝(TH1)が形成される。前記第1の貫通溝(TH1)は、前記支持基板100の上面の一部を露出するオープン領域である。前記第1の貫通溝(TH1)は、平面視において、一方向に延在する形状を有する。   The back electrode layer 200 is formed with a first through groove (TH1). The first through groove (TH1) is an open region that exposes a part of the upper surface of the support substrate 100. The first through groove (TH1) has a shape extending in one direction in a plan view.

前記第1の貫通溝(TH1)により露出した支持基板100の幅は、約20um乃至150umである。
前記第1の貫通溝(TH1)により、前記裏面電極層200は、多数の裏面電極に区分される。即ち、前記第1の貫通溝(TH1)により、裏面電極が定義される。
The width of the support substrate 100 exposed by the first through groove TH1 is about 20 μm to 150 μm.
The back electrode layer 200 is divided into a large number of back electrodes by the first through grooves TH1. That is, the back electrode is defined by the first through groove (TH1).

前記裏面電極は、ストライプ状に配置される。これとは異なり、前記裏面電極は、マトリックス状に配置されることができる。この時、前記第1の貫通溝(TH1)は、平面視において、格子状に形成されることができる。   The back electrodes are arranged in a stripe shape. In contrast, the back electrodes may be arranged in a matrix. At this time, the first through groove TH1 may be formed in a lattice shape in plan view.

前記第1の貫通溝(TH1)は、レーザによりパターニングされる。第1の貫通溝(TH1)を形成するため、基板と垂直方向に入射される既存のレーザパターニングの場合、レーザの照射部位での空気膨脹、及び熱衝撃(thermal shock)により、裏面電極層200にバリ(burr)が生じることがある。
前記バリとは、裏面電極層200にパターニングを形成することに際して、第1の貫通溝(TH1)の縁部に発生する、端が薄く巻かれた加工跡を意味する。
The first through groove (TH1) is patterned by a laser. In the case of the existing laser patterning incident on the substrate in a direction perpendicular to the substrate in order to form the first through groove TH1, the back electrode layer 200 is formed by air expansion at the laser irradiation site and thermal shock. Burr may occur in the surface.
The burr means a processing trace having a thin end wound around the edge of the first through groove (TH1) when patterning is performed on the back electrode layer 200.

大面積の太陽電池の場合、支持基板上に成長される裏面電極層は、密度を異ならせて複数の層に形成され得るが、この場合、支持基板と接する下部の裏面電極層は、前記支持基板との接着性を向上するため、低密度で形成することができ、光吸収層と接する上部の裏面電極層は、電気伝導度を考えて、相対的に高密度で形成することができる。   In the case of a large-area solar cell, the back electrode layer grown on the support substrate may be formed into a plurality of layers with different densities. In this case, the lower back electrode layer in contact with the support substrate In order to improve adhesion to the substrate, it can be formed at a low density, and the upper back electrode layer in contact with the light absorption layer can be formed at a relatively high density in consideration of electrical conductivity.

前記のように、密度が相違する複数の層が成長される場合、第1の貫通溝(TH1)を形成するためのパターニング工程の際、レーザによる熱衝撃により、相対的に密度の低い下部の裏面電極層の熱膨脹係数が、相対的に大きい値を有することがある。   As described above, when a plurality of layers having different densities are grown, during the patterning process for forming the first through-groove (TH1), the lower density of the lower portion is caused by the thermal shock caused by the laser. The thermal expansion coefficient of the back electrode layer may have a relatively large value.

これにより、下部の裏面電極層が上部の裏面電極層に比べて相対的にさらに膨脹するので、第1の貫通溝(TH1)が形成された裏面電極層の縁付近が、上部に向けて撓まれた形状に形成されることがある。   As a result, the lower back electrode layer expands further relative to the upper back electrode layer, so that the vicinity of the edge of the back electrode layer in which the first through groove (TH1) is formed bends upward. It may be formed in a rare shape.

また、レーザを垂直に入射して裏面電極層に第1の貫通溝(TH1)を形成する場合、以後に成長される光吸収層が均一に成長されず、グレーン(grain)が合わせられた形状に形成されて、カバレージ(coverage)不良が発生することがある。   Further, when the first through-groove (TH1) is formed in the back electrode layer by vertically entering the laser, the light absorption layer grown thereafter is not uniformly grown, and the shape is adjusted to the grain. In some cases, a coverage failure may occur.

これにより、前記グレーンの界面で電流の損失が発生することになる。また、前記グレーンが基板と離隔して形成されることもあるので、素子の信頼性は、改善の余地がある。   As a result, a current loss occurs at the grain interface. Further, since the grain may be formed apart from the substrate, there is room for improvement in the reliability of the element.

図3は、図2のBを拡大した断面図である。本発明の実施形態によると、前記第1の貫通溝(TH1)の側面210、220は、基板の垂直線と傾斜した角度(θ)を持つように形成され得る。   FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of B of FIG. According to an embodiment of the present invention, the side surfaces 210 and 220 of the first through groove TH1 may be formed to have an angle (θ) inclined with respect to the vertical line of the substrate.

前記θが80゜を超える場合、隣接した裏面電極間の距離が増加するようになるので、相対的に光発電領域は減少し、30゜未満の場合、隣接する裏面電極間の距離が狭くなるようになって、隣接する太陽電池セルの間にショートが発生することがあるので、前記θは、10゜<θ≦80゜の範囲で形成されるか、望ましくは、 30゜≦θ≦60゜の範囲で形成される。   When the angle θ exceeds 80 °, the distance between the adjacent backside electrodes increases, so the photovoltaic region decreases relatively. When the angle is less than 30 °, the distance between the adjacent backside electrodes becomes narrower. Thus, a short circuit may occur between adjacent solar cells, so that the θ is formed in the range of 10 ° <θ ≦ 80 °, or preferably 30 ° ≦ θ ≦ 60. It is formed in the range of °.

前記第1の貫通溝(TH1)の側面210、220は、それぞれ同一の角度で形成されるか、前記範囲内で異なる値を有するように形成される。   The side surfaces 210 and 220 of the first through groove (TH1) are formed at the same angle or have different values within the range.

前記角度(θ)により、前記裏面電極層200は、上部と下部のエッチング面積が相違する台形の形状に形成されることができる。即ち、前記第1の貫通溝(TH1)を形成するために、レーザを複数の方向から前記基板の垂直面と傾斜して入射して、上部に行くほど、エッチング面積が広くなるように形成される。   Depending on the angle (θ), the back electrode layer 200 may be formed in a trapezoidal shape with different etching areas at the top and bottom. That is, in order to form the first through-groove (TH1), the laser beam is incident on the vertical surface of the substrate in a plurality of directions so as to be inclined, and the etching area is increased toward the top. The

前記のように、複数のレーザが相互に傾斜して入射されて第1の貫通溝(TH1)が形成されるので、裏面電極層200の側面が、支持基板100と斜面を持つように形成される。   As described above, since the plurality of lasers are incident on each other at an angle to form the first through groove (TH1), the side surface of the back electrode layer 200 is formed to have a slope with the support substrate 100. The

即ち、支持基板100から上部に行くほど、エッチング面積が増加して、上部に行くほど、第1の貫通溝(TH1)の幅が増加する。これにより、上部と下部の裏面電極層の熱膨脹係数の差によるバリの発生する確率が減少するので、素子の信頼性が向上される。   That is, the etching area increases from the support substrate 100 to the top, and the width of the first through groove (TH1) increases from the top. As a result, the probability of occurrence of burrs due to the difference in thermal expansion coefficient between the upper and lower back electrode layers is reduced, so that the reliability of the element is improved.

前記裏面電極層200の上には、光吸収層300が形成される。前記光吸収層300は、p型半導体化合物を含む。さらに詳しくは、前記光吸収層300は、I−III−VI族係化合物を含む。例えば、前記光吸収層300は、銅−インジウム−ガリウム−セレナイド系(Cu(In,Ga)Se;CIGS系)結晶構造、銅−インジウム−セレナイド系、または銅−ガリウム−セレナイド系、銅−亜鉛−錫−セレナイド系結晶構造を有する。 A light absorption layer 300 is formed on the back electrode layer 200. The light absorption layer 300 includes a p-type semiconductor compound. More specifically, the light absorption layer 300 includes a group I-III-VI related compound. For example, the light absorption layer 300 includes a copper-indium-gallium-selenide-based (Cu (In, Ga) Se 2 ; CIGS-based) crystal structure, a copper-indium-selenide-based, or a copper-gallium-selenide-based, copper- It has a zinc-tin-selenide crystal structure.

前記光吸収層300の上には、バッファ層400と、高抵抗バッファ層500とが形成される。CIGS化合物を光吸収層300として有する太陽電池は、p型半導体であるCIGS化合物薄膜と、n型半導体であるウィンドウ層600薄膜との間に、pn接合を形成する。   A buffer layer 400 and a high resistance buffer layer 500 are formed on the light absorption layer 300. In a solar cell having a CIGS compound as the light absorption layer 300, a pn junction is formed between a CIGS compound thin film that is a p-type semiconductor and a window layer 600 thin film that is an n-type semiconductor.

しかし、2つの物質は、格子定数とバンドギャップエネルギーの差が大きいので、良好な接合を形成するためには、バンドギャップが2つの物質の中間に位置するバッファ層が必要である。   However, since the two materials have a large difference between the lattice constant and the band gap energy, a buffer layer in which the band gap is located between the two materials is necessary to form a good junction.

前記バッファ層400を形成する物質としては、CdS、 ZnSなどのII−VI族があり、太陽電池の発電効率の面で、CdSが相対的に優れている。   Examples of the material forming the buffer layer 400 include II-VI groups such as CdS and ZnS, and CdS is relatively excellent in terms of power generation efficiency of the solar cell.

前記高抵抗バッファ層500は、不純物がドーピングされないジンクオキサイド(i−ZnO)を含む。前記高抵抗バッファ層500のエネルギーバンドギャップは、約3.1eV乃至3.3eVである。   The high resistance buffer layer 500 includes zinc oxide (i-ZnO) that is not doped with impurities. The energy band gap of the high-resistance buffer layer 500 is about 3.1 eV to 3.3 eV.

前記高抵抗バッファ層500の上に、ウィンドウ層600が形成される。前記ウィンドウ層600は透明であり、導電層である。また、前記ウィンドウ層600の抵抗は、前記裏面電極層200の抵抗よりも高い。   A window layer 600 is formed on the high resistance buffer layer 500. The window layer 600 is transparent and is a conductive layer. Further, the resistance of the window layer 600 is higher than the resistance of the back electrode layer 200.

前記ウィンドウ層600は酸化物を含む。例えば、前記ウィンドウ層600は、ジンクオキサイド(zinc oxide)、インジウムチンオキサイド(indium tin oxide;ITO)、または、インジウムジンクオキサイド(indium zinc oxide;IZO)などを含む。   The window layer 600 includes an oxide. For example, the window layer 600 includes zinc oxide, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or the like.

また、前記酸化物は、アルミニウム(Al)、アルミナ(Al)、マグネシウム(Mg)、または、ガリウム(Ga)などの導電性不純物を含む。さらに詳しくは、前記ウィンドウ層600は、アルミニウムがドーピングされたジンクオキサイド(Al doped zinc oxide;AZO)、または、ガリウムがドーピングされたジンクオキサイド(Ga doped zinc oxide;GZO)などを含む。 The oxide includes a conductive impurity such as aluminum (Al), alumina (Al 2 O 3 ), magnesium (Mg), or gallium (Ga). More specifically, the window layer 600 includes aluminum doped zinc oxide (AZO) or gallium doped zinc oxide (GZO).

以上で検討したように、第1の貫通溝(TH1)が、支持基板100の垂直線と傾斜した面を有するように形成されるので、第1の貫通溝(TH1)の形成に際して、レーザによる熱衝撃によりバリ(burr)が生じる現象を防止することができるようになる。   As discussed above, the first through groove (TH1) is formed so as to have a surface inclined with respect to the vertical line of the support substrate 100. Therefore, when forming the first through groove (TH1), a laser is used. It is possible to prevent the occurrence of burr due to thermal shock.

また、基板と斜面を有するように形成される第1の貫通溝(TH1)により、カバレージ不良が生じることを防止できるので、信頼性の向上した太陽電池を提供することができる。   In addition, since the first through groove (TH1) formed so as to have the substrate and the slope can prevent the occurrence of a coverage defect, a solar cell with improved reliability can be provided.

図4乃至図7は、本発明の実施形態による太陽光発電装置の製造方法を示す断面図である。本発明の製造方法に関する説明は、前述した太陽光発電装置に関する説明を参考する。   4 to 7 are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing a photovoltaic power generator according to an embodiment of the present invention. The description regarding the manufacturing method of the present invention refers to the above-described description regarding the photovoltaic power generation apparatus.

図4を参考すると、支持基板100の上に裏面電極層200が形成され、前記裏面電極層200はパターニングされて、第1の貫通溝(TH1)が形成される。これにより、前記支持基板100の上に多数の裏面電極が形成される。前記裏面電極層200は、レーザによりパターニングされる。   Referring to FIG. 4, a back electrode layer 200 is formed on the support substrate 100, and the back electrode layer 200 is patterned to form a first through groove (TH1). As a result, a number of back electrodes are formed on the support substrate 100. The back electrode layer 200 is patterned by a laser.

前記第1の貫通溝(TH1)は、前記支持基板100の上面を露出し、約80um乃至200umの幅を有する。   The first through groove TH1 exposes the upper surface of the support substrate 100 and has a width of about 80 μm to 200 μm.

また、前記支持基板100と前記裏面電極層200との間に、拡散防止膜のような追加的な層が介在されることができ、この時、前記第1の貫通溝(TH1)は、前記追加的な層の上面を露出するようになる。   In addition, an additional layer such as a diffusion barrier layer may be interposed between the support substrate 100 and the back electrode layer 200. At this time, the first through groove (TH1) The upper surface of the additional layer is exposed.

前記第1の貫通溝(TH1)は、側面が傾きを有するように形成され得る。このため、複数のレーザが、支持基板100の垂直線に対して傾斜した角度(θ)を有するように形成される。   The first through groove TH1 may be formed such that a side surface has an inclination. Therefore, the plurality of lasers are formed to have an angle (θ) inclined with respect to the vertical line of the support substrate 100.

前記角度(θ)により、前記裏面電極層200は、上部と下部のエッチング面積が相違する台形の形状に形成される。即ち、前記第1の貫通溝(TH1)を形成するために、レーザを複数の方向から前記基板の垂直面と傾斜して入射して、上部に行くほど、エッチング面積が広くなるように形成することができる。   Depending on the angle (θ), the back electrode layer 200 is formed in a trapezoidal shape with different etching areas at the top and bottom. That is, in order to form the first through-groove (TH1), a laser is incident on the vertical surface of the substrate in a plurality of directions with an inclination, and the etching area is increased as it goes upward. be able to.

前記複数のレーザの焦点(focus)は、互いに5%以上60%以下で重なり合うようにして、第1の貫通溝を形成するのが望ましい。   It is preferable that the first through grooves are formed so that the focus of the plurality of lasers overlap each other by 5% or more and 60% or less.

前記第1の貫通溝(TH1)は、例えば、約500乃至1200nmの波長を有するレーザによって形成される。   The first through groove TH1 is formed by a laser having a wavelength of about 500 to 1200 nm, for example.

図5を参考すると、前記裏面電極層200の上に、光吸収層300、バッファ層400、及び高抵抗バッファ層500が形成される。   Referring to FIG. 5, a light absorption layer 300, a buffer layer 400, and a high resistance buffer layer 500 are formed on the back electrode layer 200.

前記光吸収層300は、スパッタリング工程、または、蒸発法などにより形成されることができる。例えば、前記光吸収層300を形成するために、銅、インジウム、ガリウム、セレニウムを同時または区分して蒸発させながら、銅−インジウム−ガリウム−セレナイド系(Cu(In,Ga)Se;CIGS系)の光吸収層300を形成する方法と、金属プリカーサ膜を形成させた後、セレン化(selenization)工程により形成させる方法が幅広く使われている。 The light absorption layer 300 may be formed by a sputtering process or an evaporation method. For example, in order to form the light absorption layer 300, copper, indium, gallium, and selenium are vaporized simultaneously or separately, and copper-indium-gallium-selenide system (Cu (In, Ga) Se 2 ; CIGS system). ) And a method of forming a metal precursor film and then forming it by a selenization process are widely used.

金属プリカーサ膜を形成させた後、セレン化することを細分化すれば、銅ターゲット、インジウムターゲット、ガリウムターゲットを使用するスパッタリング工程により、上記裏面電極層200の上に金属プリカーサ膜が形成される。   After forming the metal precursor film and subdividing the selenization, the metal precursor film is formed on the back electrode layer 200 by a sputtering process using a copper target, an indium target, and a gallium target.

以後、前記金属プリカーサ膜は、セレン化(selenization)工程により、銅−インジウム−ガリウム−セレナイド系(Cu(In,Ga)Se;CIGS系)の光吸収層300が形成される。 Thereafter, a light absorption layer 300 of a copper-indium-gallium-selenide system (Cu (In, Ga) Se 2 ; CIGS system) is formed on the metal precursor film by a selenization process.

これとは異なり、前記銅ターゲット、インジウムターゲット、ガリウムターゲットを使用するスパッタリング工程、及び前記セレン化工程は、同時に進行され得る。   In contrast, the sputtering process using the copper target, the indium target, and the gallium target, and the selenization process may be performed simultaneously.

また、銅ターゲット及びインジウムターゲットだけを使用するか、銅ターゲット及びガリウムターゲットを使用するスパッタリング工程、及びセレン化工程により、CIS系、又は、CIG系光吸収層300が形成される。   Further, the CIS-based or CIG-based light absorption layer 300 is formed by using only a copper target and an indium target or by a sputtering process and a selenization process using a copper target and a gallium target.

以後、硫化カドミウムが、スパッタリング工程、または、溶液成長法(chemical bath deposition; CBD)などにより蒸着され、前記バッファ層400が形成される。   Thereafter, cadmium sulfide is deposited by sputtering or chemical bath deposition (CBD) to form the buffer layer 400.

以後、前記光吸収層300、バッファ層400、及び高抵抗バッファ層500の一部が除去されて、第2の貫通溝(TH2)が形成される。   Thereafter, the light absorption layer 300, the buffer layer 400, and the high resistance buffer layer 500 are partially removed to form a second through groove (TH2).

前記第2の貫通溝(TH2)は、チップなどの機械的な装置、または、レーザ装置などによって形成されることができる。   The second through groove (TH2) may be formed by a mechanical device such as a chip or a laser device.

例えば、約40um乃至180umの幅を有するチップにより、前記光吸収層300及び前記バッファ層400がパターニングされる。また、前記第2の貫通溝(TH2)は、約200乃至600nmの波長を有するレーザにより形成される。   For example, the light absorption layer 300 and the buffer layer 400 are patterned using a chip having a width of about 40 μm to 180 μm. Further, the second through groove (TH2) is formed by a laser having a wavelength of about 200 to 600 nm.

この時、前記第2の貫通溝(TH2)の幅は、約30um乃至100umであり得る。   At this time, the width of the second through groove TH2 may be about 30 um to 100 um.

また、前記第2の貫通溝(TH2)は、前記裏面電極層200の上面の一部を露出するように形成される。   Further, the second through groove (TH2) is formed so as to expose a part of the upper surface of the back electrode layer 200.

図6を参考すると、前記光吸収層300の上、及び前記第2の貫通溝(TH2)の内側に、ウィンドウ層600が形成される。即ち、前記ウィンドウ層は、前記バッファ層400の上、及び前記第2の貫通溝(TH2)の内側に、透明な導電物質が蒸着されて、形成される。   Referring to FIG. 6, a window layer 600 is formed on the light absorption layer 300 and inside the second through groove TH2. That is, the window layer is formed by depositing a transparent conductive material on the buffer layer 400 and inside the second through groove TH2.

このとき、前記第2の貫通溝(TH2)の内側に前記透明な導電物質が満たされ、前記ウィンドウ層600は、前記裏面電極層200に直接接触するようになる。   At this time, the transparent conductive material is filled inside the second through-groove (TH2), and the window layer 600 comes into direct contact with the back electrode layer 200.

ここで、前記ウィンドウ層600は、無酸素雰囲気で、前記透明な導電物質が蒸着されて形成され得る。更に詳しくは、前記ウィンドウ層600は、酸素を含まない不活性気体雰囲気で、アルミニウムがドーピングされたジンクオキサイドが蒸着されて形成され得る。   Here, the window layer 600 may be formed by depositing the transparent conductive material in an oxygen-free atmosphere. More specifically, the window layer 600 may be formed by depositing zinc oxide doped with aluminum in an inert gas atmosphere not containing oxygen.

次に、前記バッファ層400、高抵抗バッファ層500、及び前記ウィンドウ層600の一部が除去されて、第3の貫通溝(TH3)が形成される。これにより、前記ウィンドウ層600がパターニングされて、多数のウィンドウ、及び多数のセル(C1、C2...)が定義される。前記第3の貫通溝(TH3)の幅は、約30um乃至200umである。   Next, the buffer layer 400, the high-resistance buffer layer 500, and the window layer 600 are partially removed to form a third through groove TH3. Accordingly, the window layer 600 is patterned to define a large number of windows and a large number of cells (C1, C2,...). The width of the third through groove (TH3) is about 30 μm to 200 μm.

前記接続部700は、前記第2の貫通溝(TH2)の内側に配置される。前記接続部700は、前記ウィンドウ層600から下方に延在し、前記裏面電極層200に接続される。例えば、前記接続部700は、前記第1のセルのウィンドウから延在して、前記第2のセルの裏面電極に接続される。   The connecting portion 700 is disposed inside the second through groove (TH2). The connection part 700 extends downward from the window layer 600 and is connected to the back electrode layer 200. For example, the connection part 700 extends from the window of the first cell and is connected to the back electrode of the second cell.

したがって、前記接続部700は、互いに隣接するセルを連結する。さらに詳しくは、前記接続部700は、互いに隣接するセル(C1、C2...)にそれぞれ含まれたウィンドウと裏面電極とを連結する。   Accordingly, the connection unit 700 connects adjacent cells. More specifically, the connection unit 700 connects windows and back electrodes included in cells (C1, C2,...) Adjacent to each other.

前記接続部700は、前記ウィンドウ層600と一体に形成される。すなわち、前記接続部700で用いられる物質は、前記ウィンドウ層600で用いられる物質と同一である。   The connection part 700 is formed integrally with the window layer 600. That is, the material used in the connection part 700 is the same as the material used in the window layer 600.

図7を参照すると、前記バッファ層400、前記高抵抗バッファ層500、及び前記ウィンドウ層600の一部が除去されて、第3の貫通溝(TH3)が形成される。これにより、前記ウィンドウ層600はパターニングされて、多数のウィンドウ、及び多数のセル(C1、C2...)が定義される。   Referring to FIG. 7, a part of the buffer layer 400, the high resistance buffer layer 500, and the window layer 600 is removed to form a third through groove TH3. Accordingly, the window layer 600 is patterned to define a number of windows and a number of cells (C1, C2,...).

このように、本発明の実施形態によると、第1の貫通溝の形成の際、レーザによる熱衝撃によりバリ(burr)が発生する現象を防止することができ、信頼性の向上した太陽電池を提供することができる。   As described above, according to the embodiment of the present invention, when the first through groove is formed, a phenomenon that a burr is generated due to a thermal shock by a laser can be prevented, and a solar cell with improved reliability can be obtained. Can be provided.

また、以上で実施形態に説明された特徴、構造、効果などは、本発明の少なくとも1つの実施形態に含まれ、必ず1つの実施形態のみに限定されるものではない。延いては、各実施形態で例示された特徴、構造、効果などは、実施形態が属する分野の通常の知識を有する者により他の実施形態に対しても組合または変形されて実施可能である。したがって、このような組合と変形に関連した内容は本発明の範囲に含まれることと解釈されるべきである。   In addition, the features, structures, effects, and the like described in the above embodiments are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. As a result, the features, structures, effects, and the like exemplified in each embodiment can be combined or modified with respect to other embodiments by a person having ordinary knowledge in the field to which the embodiment belongs. Therefore, contents related to such combinations and modifications should be construed as being included in the scope of the present invention.

以上、本発明を好ましい実施形態をもとに説明したが、これは単なる例示であり、本発明を限定するものではなく、本発明が属する分野の通常の知識を有する者であれば、本発明の本質的な特性を逸脱しない範囲内で、以上に例示されない多様な変形及び応用が可能であることが分かるであろう。   The present invention has been described based on the preferred embodiments. However, this is merely an example, and is not intended to limit the present invention. Any person having ordinary knowledge in the field to which the present invention belongs can be used. It will be understood that various modifications and applications not described above are possible without departing from the essential characteristics of the present invention.

例えば、実施形態に具体的に表れた各構成要素は変形して実施することができる。そして、このような変形及び応用にかかわる差異点は、添付の特許請求の範囲で規定する本発明の範囲に含まれるものと解釈されるべきである。   For example, each component specifically shown in the embodiment can be implemented by being modified. Such differences in modification and application should be construed as being included in the scope of the present invention as defined in the appended claims.

Claims (11)

基板と、
前記基板上の裏面電極層と、
前記裏面電極層上の光吸収層と、
前記光吸収層上のバッファ層と、
前記バッファ層上のウィンドウ層とを含み、
前記裏面電極層は、第1の貫通溝を含み、前記裏面電極層は、上部と下部の面積が相違する台形の形状に形成されることを特徴とする、太陽電池。
A substrate,
A back electrode layer on the substrate;
A light absorbing layer on the back electrode layer;
A buffer layer on the light absorbing layer;
A window layer on the buffer layer,
The solar cell according to claim 1, wherein the back electrode layer includes a first through groove, and the back electrode layer is formed in a trapezoidal shape having different upper and lower areas.
前記第1の貫通溝が形成された裏面電極層の側面は、基板の垂直線と30゜乃至60゜の傾きを有するように形成されることを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池。   2. The solar cell according to claim 1, wherein a side surface of the back electrode layer in which the first through groove is formed has an inclination of 30 ° to 60 ° with respect to a vertical line of the substrate. . 前記裏面電極層は、複数の層で形成されることを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 1, wherein the back electrode layer is formed of a plurality of layers. 前記複数の裏面電極層は、上部の裏面電極層が、下部の裏面電極層に比べて粒子密度が高い値を有するに形成されることを特徴とする、請求項3に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 3, wherein the plurality of back electrode layers are formed such that the upper back electrode layer has a higher particle density than the lower back electrode layer. 前記第1の貫通溝は、20um乃至150umの幅で形成されることを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池。   The solar cell of claim 1, wherein the first through groove has a width of 20 μm to 150 μm. 更に、前記基板と裏面電極層との間にナトリウムがドーピングされた中問層を含むことを特徴とする、請求項1に記載の太陽電池。   The solar cell according to claim 1, further comprising a medium layer doped with sodium between the substrate and the back electrode layer. 基板上に裏面電極層を形成するステップと、
前記基板の上面を露出するように、前記裏面電極層の一部をエッチングするステップと、
前記裏面電極層の上に、光吸収層、バッファ層、及びウィンドウ層を形成するステップとを含み、
前記裏面電極層の一部をエッチングするステップは、レーザが前記基板の上面に対して傾斜する方向に照射されることを特徴とする、太陽電池の製造方法。
Forming a back electrode layer on the substrate;
Etching a portion of the back electrode layer to expose the top surface of the substrate;
Forming a light absorption layer, a buffer layer, and a window layer on the back electrode layer;
The step of etching a part of the back electrode layer is performed by irradiating a laser in a direction inclined with respect to the upper surface of the substrate.
前記レーザは、複数回照射され、前記基板の垂直線を基準に対称され、前記基板の垂直線に対して、それぞれ30゜乃至60゜の傾きを有するように入射することを特徴とする、請求項7に記載の太陽電池の製造方法。   The laser is irradiated a plurality of times, is symmetric with respect to a vertical line of the substrate, and is incident on the vertical line of the substrate so as to have an inclination of 30 ° to 60 °, respectively. Item 8. A method for producing a solar cell according to Item 7. 前記第1の貫通溝は、500nm乃至1200nm波長のレーザを入射して形成されることを特徴とする、請求項7に記載の太陽電池の製造方法。   The method of manufacturing a solar cell according to claim 7, wherein the first through groove is formed by incidence of a laser having a wavelength of 500 nm to 1200 nm. 前記裏面電極層を形成するステップは、
前記基板に隣接する下部の裏面電極層を形成するステップと、
前記下部の裏面電極層上に形成され、前記下部の裏面電極層に比べて相対的に粒子密度の高い上部の裏面電極層を形成するステップとを含むことを特徴とする、請求項7に記載の太陽電池の製造方法。
The step of forming the back electrode layer includes:
Forming a lower back electrode layer adjacent to the substrate;
The method includes: forming an upper back electrode layer formed on the lower back electrode layer and having a particle density relatively higher than that of the lower back electrode layer. Solar cell manufacturing method.
前記複数のレーザの焦点(focus)は、互いに5%以上60%以下で重なり合うようにして、第1の貫通溝を形成することを特徴とする、請求項8に記載の太陽電池の製造方法。   9. The method of manufacturing a solar cell according to claim 8, wherein the first through-groove is formed such that the plurality of laser beams overlap with each other at 5% to 60%.
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