JP2014089087A - オフセットキャンセル回路 - Google Patents
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 51
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 2
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 2
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
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Abstract
【課題】ブリッジ回路を構成する各抵抗素子の温度特性の影響を受けることなく、各抵抗素子のバラツキによって発生するオフセット電圧を適切にキャンセルできるようにする。
【解決手段】オフセットキャンセル回路9は、負帰還路に第1の抵抗13が介挿され、ブリッジ抵抗型センサー3からの第1の出力信号Saを増幅して出力するオペアンプ11と、負帰還路に第2の抵抗14が介挿され、ブリッジ抵抗型センサー3からの第2の出力信号Sbを増幅して出力するオペアンプ12と、オペアンプ11,12のそれぞれの反転入力端子の間に接続される第3の抵抗15と、第3の抵抗15に定電流を流す電流源6とを備える。電流源6は、ブリッジ抵抗型センサー3の第1及び第2の出力信号Sa,Sbに含まれるオフセット電圧Voffに応じた定電流Iを第3の抵抗15に流すことにより、オペアンプ11,12の出力信号からオフセット電圧Voffをキャンセルする。
【選択図】図1
【解決手段】オフセットキャンセル回路9は、負帰還路に第1の抵抗13が介挿され、ブリッジ抵抗型センサー3からの第1の出力信号Saを増幅して出力するオペアンプ11と、負帰還路に第2の抵抗14が介挿され、ブリッジ抵抗型センサー3からの第2の出力信号Sbを増幅して出力するオペアンプ12と、オペアンプ11,12のそれぞれの反転入力端子の間に接続される第3の抵抗15と、第3の抵抗15に定電流を流す電流源6とを備える。電流源6は、ブリッジ抵抗型センサー3の第1及び第2の出力信号Sa,Sbに含まれるオフセット電圧Voffに応じた定電流Iを第3の抵抗15に流すことにより、オペアンプ11,12の出力信号からオフセット電圧Voffをキャンセルする。
【選択図】図1
Description
本発明は、複数の抵抗素子がブリッジ接続されて構成されるブリッジ抵抗型センサーの出力信号に含まれるオフセット電圧をキャンセルするオフセットキャンセル回路に関する。
従来、複数のGMR素子(巨大磁気抵抗効果素子)がブリッジ接続された磁気センサーが知られている(例えば特許文献1)。GMR素子は、ピンド層の固定された磁化方向に対し、外部磁場に応じてフリー層の磁化方向が相対的に回転することによって電気抵抗が変化する。そのため、この電気的特性に着目すると、GMR素子は抵抗素子の一種であり、複数のGMR素子でブリッジ回路を構成すれば、そのブリッジ回路の2つの中点ノードの電位バランスの変化で外部磁場を検知することができる。
ところが、GMR素子の抵抗値にはバラツキがあるため、外部磁場が作用していない状態であっても、ブリッジ回路における2つの中点ノードの電位差がゼロにはならず、オフセット電圧が発生する。そのため、磁気センサーの出力で外部磁場を測定する際には、そのオフセット電圧をキャンセルする必要がある。
図3は、従来のオフセットキャンセル回路95の一例を示す図である。この従来のオフセットキャンセル回路95は、4つのGMR素子91,92,93,94がブリッジ接続されて構成される磁気センサー90の2つの中点ノードa,bのそれぞれに接続された電流源96,97を備えている。これら電流源96,97は、ブリッジ回路における2つの中点ノードa,bのそれぞれに対して予め設定された定電流I1,I2を流すことにより、出力端子A,B間に現れるオフセット電圧Voffをキャンセルする。すなわち、各GMR素子91,92,93,94の抵抗値のバラツキは予め測定しておくことが可能であるため、オフセットキャンセル回路95は、その予め測定したバラツキに基づいて各電流源96,97で発生させる電流I1,I2を調整することにより、それらのバラツキに応じた電圧降下をブリッジ回路内で発生させてオフセット電圧Voffをキャンセルする。
しかしながら、従来のオフセットキャンセル回路95は、磁気センサー90に電流を流すための電流源96,97をCMOSプロセスによって半導体チップ上に形成しているため、各電流源96,97において定電流を発生させるための内部抵抗と、その定電流を流す各GMR素子91,92,93,94とが異なる材質になる。その結果、GMR素子91,92,93,94の抵抗値の温度特性と、各電流源96,97における内部抵抗の温度特性とが互いに異なる温度特性を示すため、温度が変わると、各電流源96,97で発生する電流I1,I2が各GMR素子91,92,93,94の抵抗値のバラツキを解消するために適切な電流値から外れた値になってしまう。それ故、従来のオフセットキャンセル回路95では、任意の温度域で抵抗値のバラツキに応じた電圧降下をブリッジ回路内で適切に発生させることが困難であり、ある特定の温度でしかオフセット電圧Voffをキャンセルすることができないという問題がある。
このような問題は、複数のGMR素子91,92,93,94をブリッジ接続した構成の磁気センサー90に限られるものではなく、複数の抵抗素子がブリッジ接続されたブリッジ抵抗型センサーに共通する問題となっている。
本発明は、上記従来の問題点を解決することを目的としてなされたものであり、ブリッジ回路を構成する各抵抗素子の温度特性の影響を受けることなく、各抵抗素子のバラツキによって発生するオフセット電圧を適切にキャンセルできるオフセットキャンセル回路を提供することを目的としている。
上記目的を達成するため、本発明は、複数の抵抗素子がブリッジ接続されて構成されるブリッジ抵抗型センサーの出力信号に含まれるオフセット電圧をキャンセルするオフセットキャンセル回路であって、負帰還路に第1の抵抗が介挿され、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される第1の出力信号を非反転入力端子に入力して増幅する第1の増幅手段と、負帰還路に第2の抵抗が介挿され、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される第2の出力信号を非反転入力端子に入力して増幅する第2の増幅手段と、前記第1の増幅手段の反転入力端子と前記第2の増幅手段の反転入力端子との間に接続される第3の抵抗と、前記第3の抵抗に定電流を流す電流源と、を備え、前記電流源が、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される前記第1及び第2の出力信号に含まれるオフセット電圧に応じた定電流を前記第3の抵抗に流すことにより、前記第1及び第2の増幅手段の出力信号から前記オフセット電圧をキャンセルする構成を解決手段として採用するものである。
また上記構成においては、前記電流源が定電流を発生させる内部抵抗を備えており、該内部抵抗は、前記第1乃至第3の抵抗のそれぞれと同一材料で形成される構成とすることが好ましい。
また上記構成においては、前記電流源は、前記第1乃至第3の抵抗のそれぞれと同一の半導体チップ上に形成される構成とすることが好ましい。
さらに上記構成においては、前記電流源を制御する制御手段をさらに備え、前記制御手段が、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される前記第1及び第2の出力信号のオフセット電圧を予め測定した測定値に基づいて前記電流源を制御することにより、前記第3の抵抗に流す定電流を調整することを特徴とする構成を採用しても良い。
本発明によれば、ブリッジ回路を構成する各抵抗素子に電流を流さないため、それら各抵抗素子の温度特性の影響を受けることがなく、しかも各抵抗素子のバラツキによって発生するオフセット電圧を適切にキャンセルすることができるようになる。
以下、本発明に関する好ましい実施形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。尚、以下に説明する実施形態において互いに共通する部材には同一符号を付しており、それらについての重複する説明は省略する。
図1は、本発明に関するオフセットキャンセル回路9を含むセンサー回路1の一構成例を示す回路図である。このセンサー回路1は、センサー部2と、オフセットキャンセル回路9と、AD変換器5とを備えて構成される。
センサー部2は、互いに直交する3軸方向の外部磁場を検知するために3つの磁気センサー3a,3b,3cを備えており、各磁気センサー3a,3b,3cがそれぞれ異なる方向の外部磁場を検知するように構成される。このセンサー部2は、3つの磁気センサー3a,3b,3cを時分割で1つずつ順に測定モードへと移行させ、測定モードにある各磁気センサー3a,3b,3cからの出力信号を一対の出力端子A,Bから出力する。
磁気センサー3aは、GMR素子から成る4つの抵抗素子8a,8b,8c,8dがブリッジ接続されたブリッジ抵抗型センサー3を構成している。すなわち、抵抗素子8aと8bとの接続点が基準電圧Vrefに接続され、抵抗素子8cと抵抗素子8dとの接続点が接地される。そして抵抗素子8bと8dとの接続点がブリッジ回路の1つの中点ノードaとなり、抵抗素子8aと8cとの接続点がブリッジ回路のもう1つの中点ノードbとなる。また磁気センサー3aは、ブリッジ回路における2つの中点ノードa,bを一対の出力端子A,Bに接続するためのスイッチS1,S1を備えている。
同様に、磁気センサー3bは、GMR素子から成る4つの抵抗素子8e,8f,8g,8hがブリッジ接続されたブリッジ抵抗型センサー3を構成しており、ブリッジ回路における2つの中点ノードa,bを出力端子A,Bに接続するためのスイッチS2,S2を備えている。さらに、磁気センサー3cについても、GMR素子から成る4つの抵抗素子8i,8j,8k,8mがブリッジ接続されたブリッジ抵抗型センサー3を構成しており、ブリッジ回路における2つの中点ノードa,bを出力端子A,Bに接続するためのスイッチS3,S3を備えている。
センサー部2は、これらの磁気センサー3a,3b,3cに設けられた各スイッチS1,S2,S3を択一的に閉状態とすることにより、各磁気センサー3a,3b,3cを順に測定モードへと移行させる。各磁気センサー3a,3b,3cは、測定モードになると、基準電圧Vrefを各抵抗素子で分圧した中点ノードa,bの電位を出力端子A,Bへ出力する。このとき、各磁気センサー3a,3b,3cに外部磁場が作用していれば、その外部磁場に応じてブリッジ回路を構成するGMR素子の抵抗値が変化するため、2つの出力端子A,B間に外部磁場に応じた電位差が発生する。ただし、センサー部2の出力端子A,Bから出力される出力信号には、外部磁場に応じた電位差だけでなく、ブリッジ回路を構成する各GMR素子の抵抗値のバラツキによるオフセット電圧Voffが含まれる。
オフセットキャンセル回路9は、センサー部2の一対の出力端子A,Bから出力される出力信号を入力し、その出力信号に含まれるオフセット電圧Voffをキャンセルし、外部磁場に応じた信号成分だけを増幅して出力する回路である。このオフセットキャンセル回路9は、センサー部2から出力される出力信号を増幅するアンプ部4と、定電流を発生する電流源6と、電流源6を制御する制御回路7とを備えて構成される。これら各部のうち、少なくともアンプ部4と電流源6とはCMOSプロセスによって同一の半導体チップ上に形成される。
アンプ部4は、センサー部2から出力端子Aに出力される出力信号を増幅する第1の増幅手段となるオペアンプ11と、センサー部2から出力端子Bに出力される出力信号を増幅する第2の増幅手段となるオペアンプ12とを備え、これらオペアンプ11,12によりインスツルメンテーションアンプを構成する。すなわち、オペアンプ11は、その出力端子と反転入力端子とを接続する負帰還路に第1の抵抗13が介挿されており、センサー部2から出力端子Aに出力される第1の出力信号Saを非反転入力端子に入力し、出力信号Vo1を出力する。また、オペアンプ12は、その出力端子と反転入力端子とを接続する負帰還路に第2の抵抗14が介挿されており、センサー部2から出力端子Bに出力される第2の出力信号Sbを非反転入力端子に入力し、出力信号Vo2を出力する。第1及び第2の抵抗13,14は抵抗値が等しく、それぞれ抵抗値Rである。またアンプ部4は、第3の抵抗15を備えており、この第3の抵抗15を介してオペアンプ11の反転入力端子とオペアンプ12の反転入力端子とが互いに接続されている。この第3の抵抗15は抵抗値rである。
電流源6は、アンプ部4の第3の抵抗15に対して定電流を流す電流源である。本実施形態では、電流源6として、同じ電流を発生する2つの電流源6a,6bが設けられている。一方の電流源6aは、基準電圧Vrefと第3の抵抗15の一端との間に設けられ、センサー部2の出力端子A,Bから出力される出力信号に含まれるオフセット電圧Voffをキャンセルするための定電流を発生して第3の抵抗15の一端に出力する。他方の電流源6bは、第3の抵抗15の他端と接地端子との間に設けられ、センサー部2の出力端子A,Bから出力される出力信号に含まれるオフセット電圧Voffをキャンセルするための定電流を発生して接地端子へ出力する。したがって、一方の電流源6aによって第3の抵抗15の一端に供給される電流が他方の電流源6bによって第3の抵抗15の他端から吸収されるため、これら電流源6a,6bによって生成される定電流はアンプ部4の第3の抵抗15だけを流れるようになる。これら電流源6a,6bで発生する定電流の電流値は、調整可能なものとなっている。
制御回路7は、上記2つの電流源6a,6bで発生させる定電流を所定の電流値に制御するものである。この制御回路7は、上述した3つの磁気センサー3a,3b,3cのそれぞれにおける各抵抗素子8a〜8mの抵抗値のバラツキによるオフセット電圧Voffを予め測定した測定値を保持しており、各磁気センサー3a,3b,3cが測定モードにあるとき、その測定値に基づいて2つの電流源6a,6bで発生させる定電流が所定の電流値となるように制御する。
AD変換器5は、オフセットキャンセル回路9のアンプ部4から出力される出力信号Vo1,Vo2のそれぞれを所定ビットのディジタル信号DS1,DS2に変換して出力する。
次にオフセットキャンセル回路9の動作について説明する。図2は、オフセットキャンセル回路9の要部を拡大して示す図である。図2に示すように、センサー部2の出力端子A,B間にオフセット電圧Voffがあり、センサー部2の出力端子Aに出力される出力信号が(V1+Voff)であり、出力端子Bに出力される出力信号がV2であるとする。このとき、制御回路7は、電流源6a,6bを制御することにより、オフセット電圧Voffをキャンセルするために第3の抵抗15に対して定電流Iを流す。またこのとき、オペアンプ11,12が作動し、第1の抵抗13、第2の抵抗14及び第3の抵抗15のそれぞれに電流iを流す。
オペアンプ11は反転入力端子と非反転入力端子とが同電位となるように動作するため、第1の抵抗13と第3の抵抗15との接続点の電位が(V1+Voff)となる。またオペアンプ12も同様に、反転入力端子と非反転入力端子とが同電位となるように動作するため、第3の抵抗15と第2の抵抗14との接続点の電位がV2となる。したがって、第1、第2及び第3の抵抗13,14,15のそれぞれに流れる電流と電位差との関係から次の3式が成立する。
上記3式から各オペアンプ11,12の差動出力(Vo1−Vo2)を求めると、次の式4となる。
上記式4において右辺第2項と第3項とを合わせてゼロにすれば、差動出力(Vo1−Vo2)からオフセット電圧Voffの影響をキャンセルすることができる。したがって、電流源6a,6bで発生させる定電流の電流値Iは、次の式5となる。
制御回路7は、上記式5に基づいて各電流源6a,6bで発生させる定電流Iの電流値を調整することにより、オフセットキャンセル回路9から出力される出力信号Vo1,Vo2からオフセット電圧Voffをキャンセルすることができる。この場合、各オペアンプ11,12からの差動出力(Vo1−Vo2)は、次の式6のように表される。
つまり、各電流源6a,6bが制御回路7の電流調整によって式5で表される電流Iを第3の抵抗15に流すことにより、アンプ部4は、外部磁場の影響による中点ノードa,bの電位差(V1−V2)だけを増幅した差動出力(Vo1−Vo2)を行うことができるようになる。
また制御回路7は、各磁気センサー3a,3b,3cが順に測定モードへ移行していくタイミングで、各磁気センサー3a,3b,3cのオフセット電圧Voffに応じて電流源6a,6bで発生させる電流Iの電流値を切り替えていくことにより、3つの磁気センサー3a,3b,3cのいずれが測定モードにあるときでも各磁気センサー3a,3b,3cで発生するオフセット電圧Voffをキャンセルすることができる。その結果、センサー回路1のAD変換器5から出力される一対のディジタル信号DS1,DS2は、各磁気センサー3a,3b,3cにおいてブリッジ回路を構成する抵抗素子8a〜8mの抵抗値のバラツキによるオフセット電圧Voffがキャンセルされた信号となる。
また、上述したようにオフセットキャンセル回路9では、少なくともアンプ部4と電流源6とはCMOSプロセスによって同一の半導体チップ上に形成される。そのため、一対の電流源6a,6bにおいて定電流Iを発生させるために内部抵抗を備える場合であっても、その内部抵抗はアンプ部4に設けられた第1、第2及び第3の抵抗13,14,15のそれぞれと同一材料(例えばポリシリコン)で形成されることとなり、各電流源6a,6bに設けられる内部抵抗の温度特性と、第1、第2及び第3の抵抗13,14,15の温度特性とが互いに一致した特性となる。それ故、温度が変化して第1、第2及び第3の抵抗13,14,15の抵抗値が変動する場合であっても、電流源6a,6bの内部抵抗の値も同様に変動するので、定電流Iの電流値を、第1、第2及び第3の抵抗13,14,15の抵抗値の変動に追従させることができ、常にオフセット電圧Voffをキャンセルする電流値に維持することができるようになる。
またオフセットキャンセル回路9は、各磁気センサー3a,3b,3cにおけるオフセット電圧Voffをキャンセルする際、従来のように、各磁気センサー3a,3b,3cに設けられた温度特性の異なる抵抗素子8a〜8mに対して電流を流さないので、GMR素子から成る抵抗素子8a〜8mの温度特性による影響を受けることもない。
一方、各磁気センサー3a,3b,3cに設けられるGMR素子は、一般に、第1の強磁性体層と、非磁性体層と、第2の強磁性体層と、反強磁性体層とが積層された構造を有しており、そのようなGMR素子から成る抵抗素子8a〜8mは、その材質に応じた温度特性を有している。そのため、温度が変化すると、各抵抗素子8a〜8mの抵抗値が変化する。しかし、そのような温度変化による各抵抗素子8a〜8mの抵抗値変化は、ブリッジ回路における中点ノードa,bの電位を出力端子A,Bに取り出すことによってキャンセルすることが可能である。したがって、本実施形態のオフセットキャンセル回路9は、温度特性による影響を何ら受けることなく、各磁気センサー3a,3b,3cにおいて生じるオフセット電圧Voffを常に良好にキャンセルすることが可能な回路となっている。
以上のように、本実施形態のオフセットキャンセル回路9は、複数の抵抗素子8a〜8mがブリッジ接続されて構成される各磁気センサー3a,3b,3cの出力信号に含まれるオフセット電圧Voffをキャンセルするため、アンプ部4の第3の抵抗15に定電流Iを流す電流源6a,6bを備えている。そして、この電流源6a,6bは、各磁気センサー3a,3b,3cから出力される第1及び第2の出力信号Sa,Sbに含まれるオフセット電圧Voffに応じた定電流Iを第3の抵抗15に流すことにより、アンプ部4の出力信号からオフセット電圧Voffをキャンセルする構成である。このような構成によれば、各磁気センサー3a,3b,3cを構成する抵抗素子8a〜8mに対して電流を流さないため、それら抵抗素子8a〜8mの温度特性の影響を受けることなく、それら抵抗素子8a〜8mの抵抗値のバラツキによるオフセット電圧Voffを常に適切にキャンセルすることができるようになる。
また本実施形態のオフセットキャンセル回路9では、上述したように、電流源6a,6bにおいて定電流Iを発生させる内部抵抗が第1乃至第3の抵抗13,14,15のそれぞれと同一材料で形成される。そのため、電流源6a,6bの内部抵抗と、第1乃至第3の抵抗13,14,15のそれぞれとが同じ温度特性を示すようになるため、電流源6a,6bは、任意の温度域でオフセット電圧Voffを適切にキャンセルするための定電流Iを発生させて第3の抵抗15に流すことができるようになる。
また本実施形態のオフセットキャンセル回路9では、上述した電流源6a,6bが、第1乃至第3の抵抗13,14,15のそれぞれと同一の半導体チップ上に形成された構成である。このような構成によれば、半導体チップの温度が変化したときでも、電流源6a,6bの内部抵抗と、第1乃至第3の抵抗13,14,15のそれぞれを同じ温度に維持することができる。それ故、電流源6a,6bで発生する定電流Iを適切な電流値に維持することができるようになる。
さらに本実施形態のオフセットキャンセル回路9は、電流源6a,6bを制御する制御回路7を備えており、その制御回路7が、各磁気センサー3a,3b,3cから出力される第1及び第2の出力信号Sa,Sbのオフセット電圧Voffを予め測定した測定値に基づいて電流源6a,6bを制御することにより、第3の抵抗15に流す電流を調整する構成である。そのため、各磁気センサー3a,3b,3cからの出力信号に含まれるオフセット電圧Voffがどのような電圧であっても適切にそのオフセット電圧Voffをキャンセルすることができるものとなっている。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上述した内容に限定されるものではない。
例えば、上記実施形態においては、ブリッジ抵抗型センサー3の一例として、磁気センサー3a,3b,3cを例示した。しかし、上述したオフセットキャンセル回路9の適用範囲は、必ずしも磁気センサーに限られない。例えばブリッジ抵抗型センサー3は、圧力センサーであっても構わない。すなわち、上述したオフセットキャンセル回路9は、複数の抵抗素子がブリッジ接続されて構成される任意のブリッジ抵抗型センサー3の出力信号に含まれるオフセット電圧Voffをキャンセルすることが可能である。
またブリッジ抵抗型センサー3を、仮に上記実施形態のように磁気センサーで構成するとしても、必ずしも上述したようにGMR素子から成る抵抗素子8a〜8mで磁気センサー3a,3b,3cを構成する必要はない。すなわち、複数の抵抗素子をブリッジ接続して構成される磁気センサーには、ホール素子やTMR素子(磁気トンネル効果素子)などを抵抗素子に用いたものも存在する。そのため、磁気センサー3a,3b,3cはGMR素子以外の抵抗素子を用いて構成されるものであっても構わない。
また上記実施形態では、制御回路7が、オフセット電圧Voffを予め測定した測定値に基づいて電流源6a,6bで発生させる定電流Iを調整する例を説明した。しかし、そのような測定値は、オフセット電圧Voffに限られず、ブリッジ回路を構成する各抵抗素子の抵抗値のバラツキであっても構わない。すなわち、ブリッジ回路を構成する各抵抗素子の抵抗値のバラツキとオフセット電圧Voffには相関があるため、オフセット電圧Voffを予め測定することと、抵抗値のバラツキを予め測定することとは、技術上の意義が同義である。
1…センサー回路、3…ブリッジ抵抗型センサー、3a,3b,3c…磁気センサー、4…アンプ部、6(6a,6b)…電流源、7…制御回路(制御手段)、8a〜8m…抵抗素子、9…オフセットキャンセル回路、11…オペアンプ(第1の増幅手段)、12…オペアンプ(第2の増幅手段)、13…第1の抵抗、14…第2の抵抗、15…第3の抵抗。
Claims (4)
- 複数の抵抗素子がブリッジ接続されて構成されるブリッジ抵抗型センサーの出力信号に含まれるオフセット電圧をキャンセルするオフセットキャンセル回路であって、
負帰還路に第1の抵抗が介挿され、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される第1の出力信号を非反転入力端子に入力して増幅する第1の増幅手段と、
負帰還路に第2の抵抗が介挿され、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される第2の出力信号を非反転入力端子に入力して増幅する第2の増幅手段と、
前記第1の増幅手段の反転入力端子と前記第2の増幅手段の反転入力端子との間に接続される第3の抵抗と、
前記第3の抵抗に定電流を流す電流源と、
を備え、
前記電流源は、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される前記第1及び第2の出力信号に含まれるオフセット電圧に応じた定電流を前記第3の抵抗に流すことにより、前記第1及び第2の増幅手段の出力信号から前記オフセット電圧をキャンセルすることを特徴とするオフセットキャンセル回路。 - 前記電流源は定電流を発生させる内部抵抗を備えており、該内部抵抗は、前記第1乃至第3の抵抗のそれぞれと同一材料で形成されることを特徴とする請求項1に記載のオフセットキャンセル回路。
- 前記電流源は、前記第1乃至第3の抵抗のそれぞれと同一の半導体チップ上に形成されることを特徴とする請求項1又は2に記載のオフセットキャンセル回路。
- 前記電流源を制御する制御手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記ブリッジ抵抗型センサーから出力される前記第1及び第2の出力信号のオフセット電圧を予め測定した測定値に基づいて前記電流源を制御することにより、前記第3の抵抗に流す定電流を調整することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のオフセットキャンセル回路。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012238456A JP2014089087A (ja) | 2012-10-30 | 2012-10-30 | オフセットキャンセル回路 |
US14/065,960 US9000824B2 (en) | 2012-10-30 | 2013-10-29 | Offset cancel circuit |
CN201310525982.1A CN103792981B (zh) | 2012-10-30 | 2013-10-30 | 偏移消除电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012238456A JP2014089087A (ja) | 2012-10-30 | 2012-10-30 | オフセットキャンセル回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014089087A true JP2014089087A (ja) | 2014-05-15 |
Family
ID=50546503
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012238456A Pending JP2014089087A (ja) | 2012-10-30 | 2012-10-30 | オフセットキャンセル回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9000824B2 (ja) |
JP (1) | JP2014089087A (ja) |
CN (1) | CN103792981B (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105320918B (zh) * | 2014-07-04 | 2019-01-22 | 映智科技股份有限公司 | 指纹传感器 |
EP2955492B1 (en) * | 2014-06-13 | 2017-05-10 | Nxp B.V. | Sensor system with a full bridge configuration of four resistive sensing elements |
US9859878B2 (en) * | 2014-10-17 | 2018-01-02 | Analog Devices Global | Control circuit for use with a sensor, and measurement system including such a control circuit |
US10809097B2 (en) | 2017-09-29 | 2020-10-20 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Detector apparatus and detector system |
US12044529B2 (en) * | 2019-03-14 | 2024-07-23 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Magnetic sensor including a magnetoresistance element and sensor system |
JP2020188575A (ja) * | 2019-05-14 | 2020-11-19 | 日本電産株式会社 | モータ |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4345477A (en) * | 1980-12-03 | 1982-08-24 | Honeywell Inc. | Semiconduction stress sensing apparatus |
JPH0713358Y2 (ja) * | 1988-09-07 | 1995-03-29 | パイオニア株式会社 | 和差信号処理回路 |
GB2234069B (en) * | 1988-10-28 | 1992-08-12 | Motorola Inc | Sensor arrangement |
US6577187B1 (en) * | 2000-06-15 | 2003-06-10 | Upstate Audio | Powered transducer preamplifier with DC level shifting circuit |
DE10032530C2 (de) * | 2000-07-05 | 2002-10-24 | Infineon Technologies Ag | Verstärkerschaltung mit Offsetkompensation |
FR2830699B1 (fr) * | 2001-10-05 | 2004-12-24 | St Microelectronics Sa | Circuit amplificateur audio |
DE10223767B4 (de) * | 2002-05-28 | 2004-10-21 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum Verarbeiten eines Signals eines Sensors |
US6924696B2 (en) * | 2002-07-25 | 2005-08-02 | Honeywell International Inc. | Method and apparatus for common-mode level shifting |
US7190217B2 (en) * | 2004-11-15 | 2007-03-13 | Verigy Pte. Ltd. | System, method and apparatus for providing ground separation between different environments |
DE102005010643B4 (de) * | 2005-03-08 | 2009-05-07 | Infineon Technologies Ag | Stromsparende differenzielle Breitbandtreiberschaltung |
CA2601130A1 (en) | 2005-03-17 | 2006-09-21 | Yamaha Corporation | Three-axis magnetic sensor and method for manufacturing the same |
JP4735305B2 (ja) | 2006-02-09 | 2011-07-27 | ヤマハ株式会社 | 三軸磁気センサおよびその製造方法 |
JP4738090B2 (ja) * | 2005-08-05 | 2011-08-03 | 株式会社東芝 | Btl方式の増幅回路 |
US8138830B2 (en) * | 2009-04-03 | 2012-03-20 | Qualcomm, Incorporated | Variable gain instrumentation amplifier |
CN101806602B (zh) * | 2009-12-23 | 2011-08-10 | 哈尔滨工业大学 | 自动校正零偏的压阻式传感器电路 |
-
2012
- 2012-10-30 JP JP2012238456A patent/JP2014089087A/ja active Pending
-
2013
- 2013-10-29 US US14/065,960 patent/US9000824B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-10-30 CN CN201310525982.1A patent/CN103792981B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103792981B (zh) | 2016-03-23 |
US9000824B2 (en) | 2015-04-07 |
US20140118048A1 (en) | 2014-05-01 |
CN103792981A (zh) | 2014-05-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140919 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150427 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150512 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150915 |