JP2014067911A - Semiconductor mounting device and bare chip transfer unit - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a bare chip transfer unit and a semiconductor mounting device, which pick a bare chip on a lateral face and which have high yield and high versatility.SOLUTION: A semiconductor mounting device comprises: a chucking part (chuck pins 11) which contacts a lateral face of a bare chip 3 for mechanically chucking the bare chip 3; and a rotary member which rotates simultaneously with the chucking part (chuck pins 11). The semiconductor mounting device further comprises a bare chip chucking unit (collet 1) in which rotation of the rotation member is inhibited by contact of the chucking part (chuck pins 11) with the lateral face of the bare chip 3, and the bare chip 3 is held by a force of the rotation member trying to rotate.

Description

本発明は、半導体製品の実装工程に用いられる半導体実装装置、およびベアチップ搬送ユニットに関する。   The present invention relates to a semiconductor mounting apparatus and a bare chip transfer unit used in a semiconductor product mounting process.

電子機器の性能の飛躍的進歩に伴い、半導体製品による制御が不可欠となった。半導体製品は、従来、半導体チップをパッケージ化した後に実装していた。しかしながら、近年の電子機器の軽薄短小化に対応して、パッケージ化せずにベアチップを実装基板上に導電性接着材(蝋材)を介して直接実装する技術が盛んに研究・開発されている。これに付随して、このような組立工程を効率的に実現する実装装置が提案されている(特許文献1〜5)。   With the dramatic progress of electronic device performance, control by semiconductor products has become indispensable. Conventionally, semiconductor products have been mounted after packaging a semiconductor chip. However, in response to recent downsizing of electronic devices, technology for mounting bare chips directly on a mounting substrate via a conductive adhesive (wax material) without packaging has been actively researched and developed. . Along with this, mounting apparatuses that efficiently realize such an assembly process have been proposed (Patent Documents 1 to 5).

関連する半導体実装装置の要部の説明図を図1および図2に示す。これらの半導体実装装置においてベアチップ103は、真空差圧によりコレット101に吸着保持される。そして、蝋材104を塗布済みの実装基板102をセラミックヒータ106上に載置し、実装基板102上にベアチップ103を下降させて押圧する。図1のコレット101は、ベアチップ103の側面および上面端部を挟持して、真空にすることによりベアチップ103を保持する。図2のコレット101aは、ベアチップ103の上面エッジ部を挟持して、真空にすることによりベアチップ103を保持する。   FIGS. 1 and 2 are explanatory views of a main part of a related semiconductor mounting apparatus. In these semiconductor mounting apparatuses, the bare chip 103 is sucked and held on the collet 101 by a vacuum differential pressure. Then, the mounting substrate 102 to which the wax material 104 has been applied is placed on the ceramic heater 106, and the bare chip 103 is lowered and pressed onto the mounting substrate 102. The collet 101 in FIG. 1 holds the bare chip 103 by sandwiching the side surface and the upper end of the bare chip 103 and applying a vacuum. The collet 101a in FIG. 2 holds the bare chip 103 by sandwiching the upper surface edge portion of the bare chip 103 and applying a vacuum.

特許文献1には、半導体チップを回路基板にダイボンドする際、ダイコレットの中空部に加圧気体を導入し、この圧力により半導体チップを回路基板に押し付け、ダイコレットが半導体チップの上面エッジに接触することなく側面を挟持する装置が開示されている。また、特許文献2においては、ピンセット機構のチップ・コレットを用いてスクライブ・ボンディングを行う方法が開示されている。さらに、特許文献5には、バイメタルを用いてベアチップにダメージを与えないようにワークを微小な力で挟持する挟持装置が提案されている。   In Patent Document 1, when a semiconductor chip is die-bonded to a circuit board, a pressurized gas is introduced into the hollow portion of the die collet, and the semiconductor chip is pressed against the circuit board by this pressure, and the die collet contacts the upper edge of the semiconductor chip. An apparatus for sandwiching the side surface without doing so is disclosed. Patent Document 2 discloses a method of performing scribe bonding using a chip collet of a tweezer mechanism. Furthermore, Patent Document 5 proposes a clamping device that clamps a workpiece with a minute force so as not to damage the bare chip using a bimetal.

図3Aに、特許文献5に開示された挟持装置の概略図を、図3Bに図3AのIIIB−IIIB切断部断面図を示す。挟持装置201は、エアスライダ202、ベアチップ203、ベースプレート211、受け板212、バイメタル213、エアシリンダ214、軸支部材215、セラミックヒータ216、断熱ブロック217等を有する。ベアチップ203の挟持は、セラミックヒータ216の加熱によりバイメタル213の温度を上昇させ、バイメタル213が挟持方向に撓むように変形させることにより行う。より詳細には、平行リンク機構により当接部材214を挟持方向に移動させ、当接部材214の挟持方向の端面の押圧力により、ベアチップ203の側面を挟持することにより行う。ベアチップ203の押圧解除は、セラミックヒータ216への通電を停止し、バイメタル213を元の直線状態に戻すことにより行う。   FIG. 3A is a schematic view of the clamping device disclosed in Patent Document 5, and FIG. 3B is a sectional view taken along the line IIIB-IIIB in FIG. 3A. The clamping device 201 includes an air slider 202, a bare chip 203, a base plate 211, a receiving plate 212, a bimetal 213, an air cylinder 214, a shaft support member 215, a ceramic heater 216, a heat insulating block 217, and the like. The sandwiching of the bare chip 203 is performed by raising the temperature of the bimetal 213 by heating the ceramic heater 216 and deforming the bimetal 213 so as to bend in the clamping direction. More specifically, the contact member 214 is moved in the clamping direction by the parallel link mechanism, and the side surface of the bare chip 203 is clamped by the pressing force of the end surface of the contact member 214 in the clamping direction. The pressing of the bare chip 203 is released by stopping energization of the ceramic heater 216 and returning the bimetal 213 to the original linear state.

特開昭58−68942号公報JP 58-68942 A 特公昭63−06141号公報Japanese Patent Publication No. 63-06141 特開平11−297764号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-297664 特開平11−251404号公報JP 11-251404 A 特開2009−83012号公報JP 2009-83012 A

近年のベアチップ市場を視察すると、ベアチップ表面回路パターンの高集積化が進み、表面接触が可能な部分が極端に少なくなっている。このため、ベアチップ上面に接触しないコレットが求められている。また、近年のベアチップは、軽薄化してきており、それに伴って脆弱化している。このため、コレットによりベアチップを保持する際に割れたり、欠けたりしやすくなってきている。特に、図2のような角錐型コレットは応力が集中しやいので、図4に示すような欠けや割れが生じやすいという問題があった。さらに、昨今の半導体装置の少量多品種化のニーズに対応して、サイズや形状等が異なるベアチップに対して共用化できる半導体実装装置が求められていた。また、ベアチップを図1や図2に示すように真空差圧により吸着させると、図5に示すように、ベアチップが反り返ってベアチップ上面の表面回路の変形・破損・キズ等により不良が発生するおそれがあった。   Inspecting the recent bare chip market, the integration of bare chip surface circuit patterns has progressed, and the number of parts that can be brought into surface contact is extremely small. For this reason, a collet that does not contact the top surface of the bare chip is required. In addition, recent bare chips are becoming lighter and more vulnerable. For this reason, when holding a bare chip with a collet, it becomes easy to crack or chip. In particular, the pyramid collet as shown in FIG. 2 has a problem that chipping and cracking as shown in FIG. Further, in response to the recent demand for a small variety of semiconductor devices, there has been a demand for a semiconductor mounting device that can be shared by bare chips having different sizes and shapes. Further, if the bare chip is adsorbed by a vacuum differential pressure as shown in FIGS. 1 and 2, the bare chip may be warped and a defect may occur due to deformation, breakage, scratches, etc. of the surface circuit on the top surface of the bare chip as shown in FIG. was there.

本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、ベアチップの側面を挟持し、歩留まりが高く、かつ汎用性の高いベアチップ搬送ユニットおよび半導体実装装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a bare chip transfer unit and a semiconductor mounting apparatus that sandwich a side surface of a bare chip, have a high yield, and have high versatility.

本発明に係る半導体実装装置は、ベアチップの側面と接触して機械的に挟持する複数の挟持部と、前記挟持部と連動して回動する回動部材とを具備し、前記挟持部が前記ベアチップの側面に当接することにより、前記回動部材の回動が阻止され、当該回動部材の回動しようとする力によって前記ベアチップが保持される機構を有するベアチップ挟持ユニットを具備するものである。   A semiconductor mounting apparatus according to the present invention comprises a plurality of clamping portions that are mechanically clamped in contact with a side surface of a bare chip, and a rotating member that rotates in conjunction with the clamping portion, wherein the clamping portion is By contacting the side surface of the bare chip, the rotation of the rotating member is prevented, and a bare chip holding unit having a mechanism for holding the bare chip by the force of the rotating member to rotate is provided. .

本発明に係るベアチップ挟持ユニットは、ベアチップの側面と接触して機械的に挟持する挟持部と、前記挟持部と連動して回動する回動部材とを具備し、前記挟持部が前記ベアチップの側面に当接することにより、前記回動部材の回動が阻止され、当該回動しようとする力によって前記ベアチップが保持される機構を備えるものである。   A bare chip clamping unit according to the present invention includes a clamping part that mechanically clamps in contact with a side surface of a bare chip, and a rotating member that rotates in conjunction with the clamping part, and the clamping part is a part of the bare chip. By contacting the side surface, the rotation member is prevented from rotating, and the bare chip is held by the force to rotate.

本発明によれば、ベアチップの側面を挟持し、歩留まりが高く、かつ汎用性の高いベアチップ搬送ユニットおよび半導体実装装置を提供することができるという優れた効果を奏する。   According to the present invention, it is possible to provide a bare chip transfer unit and a semiconductor mounting apparatus that sandwich a side surface of a bare chip, have a high yield, and have high versatility.

関連する半導体実装装置の要部を示す模式的説明図。Schematic explanatory drawing which shows the principal part of a related semiconductor mounting apparatus. 関連する半導体実装装置の要部を示す模式的説明図。Schematic explanatory drawing which shows the principal part of a related semiconductor mounting apparatus. 特許文献5に記載の挟持装置の要部を示す模式的説明図。FIG. 6 is a schematic explanatory view showing a main part of a clamping device described in Patent Document 5. 図3AのIIIB−IIIB切断部断面図。3B is a cross-sectional view taken along the line IIIB-IIIB in FIG. 3A. 図2の部分拡大説明図。FIG. 3 is a partially enlarged explanatory view of FIG. 2. 図2の不具合例を示す模式的説明図。FIG. 3 is a schematic explanatory diagram showing an example of the problem in FIG. 2. 第1実施形態に係る半導体実装装置の模式的斜視図。1 is a schematic perspective view of a semiconductor mounting apparatus according to a first embodiment. 第1実施形態に係る半導体実装装置の装置構成の一例を示す説明図。Explanatory drawing which shows an example of the apparatus structure of the semiconductor mounting apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る半導体実装装置のコレットの半導体チップを保持していない状態の一例を示す模式的側面図。The typical side view showing an example in the state where the semiconductor chip of the collet of the semiconductor mounting device concerning a 1st embodiment is not held. 図8Aのコレットの模式的平面図。FIG. 8B is a schematic plan view of the collet of FIG. 8A. 第1実施形態に係る半導体実装装置のコレットの半導体チップを保持した状態の一例を示す模式的側面図。The typical side view showing an example in the state where the semiconductor chip of the collet of the semiconductor mounting device concerning a 1st embodiment was held. 図9Aのコレットの模式的平面図。FIG. 9B is a schematic plan view of the collet of FIG. 9A. 第2実施形態に係る半導体実装装置のコレットの模式的断面図。The typical sectional view of the collet of the semiconductor mounting device concerning a 2nd embodiment. 第2実施形態に係る半導体実装装置のコレットの下面側の一例を示す模式的平面図。The typical top view which shows an example of the lower surface side of the collet of the semiconductor mounting apparatus which concerns on 2nd Embodiment. 変形例に係るコレットの回転体の一例を示す模式的平面図。The typical top view which shows an example of the rotary body of the collet which concerns on a modification.

以下、本発明を適用した実施形態の一例について説明する。なお、以降の図における各部材のサイズや比率は、説明の便宜上のものであり、実際のものとは必ずしも一致しない。また、以降の実施形態において、同一の要素部材には同一符号を付し、適宜その説明を省略する。   Hereinafter, an example of an embodiment to which the present invention is applied will be described. In addition, the size and ratio of each member in the following drawings are for convenience of explanation, and do not necessarily match the actual ones. Moreover, in subsequent embodiment, the same code | symbol is attached | subjected to the same element member, and the description is abbreviate | omitted suitably.

本発明に係るベアチップ搬送ユニットは、機械的な回転開閉式のチャック機構を有する。具体的には、ベアチップの側面と接触して機械的に挟持する挟持部と、挟持部が固設された回動部材とを具備する回転開閉式のチャック機構を有する。挟持部は、回動部材の回転と連動して回動し、ベアチップの側面に前記挟持部が当接することにより、回動部材の回動が阻止され、当該回動しようとする力によって挟持部でベアチップの側面を保持する。   The bare chip transfer unit according to the present invention has a mechanical rotary opening / closing chuck mechanism. Specifically, it has a rotary opening / closing chuck mechanism including a clamping part that mechanically clamps in contact with the side surface of the bare chip, and a rotating member on which the clamping part is fixed. The clamping part rotates in conjunction with the rotation of the rotating member. When the clamping part comes into contact with the side surface of the bare chip, the rotation of the rotating member is prevented, and the clamping part is caused by the force to rotate. Hold the side of the bare chip with.

[第1実施形態]
図6に、第1実施形態に係る半導体実装装置の一例を示す説明図を、図7に、第1実施形態に係る半導体実装装置の概略図を示す。半導体実装装置50は、ベアチップ搬送ユニットであるコレット1、加重制御可能な圧力制御ユニット5、載置台であるセラミックヒータ6、供給ステージ9を有する。また、位置調節機構である上下駆動機構7、位置検出ユニット8(図7参照)、位置調節機構ユニット10を有する。さらに、圧力検出ユニット14、コレット1を着脱自在に取り付け可能な回転伝達機構12等を有する。このような半導体実装装置50において、実装基板2はセラミックヒータ6上に、ベアチップ3は供給ステージ9上に載置され、ベアチップ3が蝋材4を介して実装基板2上に実装される。
[First Embodiment]
FIG. 6 is an explanatory view showing an example of the semiconductor mounting apparatus according to the first embodiment, and FIG. 7 is a schematic view of the semiconductor mounting apparatus according to the first embodiment. The semiconductor mounting apparatus 50 includes a collet 1 that is a bare chip transfer unit, a pressure control unit 5 that is capable of weight control, a ceramic heater 6 that is a mounting table, and a supply stage 9. Further, it has a vertical drive mechanism 7 as a position adjustment mechanism, a position detection unit 8 (see FIG. 7), and a position adjustment mechanism unit 10. Furthermore, it has the rotation transmission mechanism 12 etc. which can attach the pressure detection unit 14 and the collet 1 detachably. In such a semiconductor mounting apparatus 50, the mounting substrate 2 is mounted on the ceramic heater 6, the bare chip 3 is mounted on the supply stage 9, and the bare chip 3 is mounted on the mounting substrate 2 via the brazing material 4.

コレット1は、ベアチップ3を保持して実装基板2上にベアチップ3を搬送・実装するためのユニットであり、位置調節機構ユニット10の下部に設置された回転伝達機構12に吸着固定されている。コレット1は、回転伝達機構12に対して着脱自在になっている。コレット1のベアチップ3の保持機構については後述する。これらの位置調節機構により、コレット1は、半導体実装装置50に対して所望の位置に配置できる。   The collet 1 is a unit for holding the bare chip 3 and transporting / mounting the bare chip 3 on the mounting substrate 2, and is attracted and fixed to a rotation transmission mechanism 12 installed below the position adjustment mechanism unit 10. The collet 1 is detachable from the rotation transmission mechanism 12. The holding mechanism for the bare chip 3 of the collet 1 will be described later. With these position adjusting mechanisms, the collet 1 can be arranged at a desired position with respect to the semiconductor mounting apparatus 50.

圧力検出ユニット14は、上下駆動位置を検出するためのものであり、例えば、接触圧を検出することにより圧力を検出する。圧力検出ユニット14の検出結果に基づいて圧力制御ユニット5により圧力が制御される。   The pressure detection unit 14 is for detecting the vertical drive position, and detects the pressure by detecting the contact pressure, for example. The pressure is controlled by the pressure control unit 5 based on the detection result of the pressure detection unit 14.

圧力制御ユニット5は、ベアチップ3を実装基板2に搭載する際に所望の圧力を加えるために加圧するユニットである。圧力制御ユニット5は、圧力検出ユニット14の値に基づいてベアチップ3を実装基板2に搭載する際に適切な圧力に制御できるようになっている。   The pressure control unit 5 is a unit that applies pressure to apply a desired pressure when the bare chip 3 is mounted on the mounting substrate 2. The pressure control unit 5 can control the pressure to an appropriate pressure when the bare chip 3 is mounted on the mounting substrate 2 based on the value of the pressure detection unit 14.

セラミックヒータ6は、実装基板2を載置して加熱するためのユニットである。セラミックヒータ6により実装基板2上に塗布された蝋材4を加熱して溶融させ、溶融した蝋材4上にベアチップ3を載置して所望の圧力を加えることにより実装基板2上にベアチップ3を搭載する。   The ceramic heater 6 is a unit for mounting and heating the mounting substrate 2. The brazing material 4 applied on the mounting substrate 2 is heated and melted by the ceramic heater 6, the bare chip 3 is placed on the molten brazing material 4 and a desired pressure is applied to the bare chip 3 on the mounting substrate 2. Is installed.

実装基板2は、ベアチップ3を実装する基板であり、実装基板2の形状やサイズは、特に限定されない。いわゆるフレーム等も含むものとする。実装基板2の載置台としてセラミックヒータ6の例を示しているが、これに限定されるものではない。ベアチップ3は、パッケージされていないチップであり、サイズや形状は任意であり特に限定されない。第1実施形態の半導体実装装置50によれば、軽薄なベアチップ3に対しても有効である。蝋材4は、いわゆる導電性接着材であり、蝋材4を介してベアチップ3と実装基板2を接合する。第1実施形態においては、蝋材4を介してベアチップ3と実装基板2を接合する例を開示するが、接合方法は任意であり種々の変更が可能である。   The mounting substrate 2 is a substrate on which the bare chip 3 is mounted, and the shape and size of the mounting substrate 2 are not particularly limited. It also includes so-called frames. Although the example of the ceramic heater 6 is shown as a mounting table of the mounting substrate 2, it is not limited to this. The bare chip 3 is an unpackaged chip, and its size and shape are arbitrary and not particularly limited. According to the semiconductor mounting apparatus 50 of the first embodiment, it is effective even for a light and thin bare chip 3. The brazing material 4 is a so-called conductive adhesive, and joins the bare chip 3 and the mounting substrate 2 via the brazing material 4. In 1st Embodiment, although the example which joins the bare chip 3 and the mounting substrate 2 via the brazing | wax material 4 is disclosed, the joining method is arbitrary and various changes are possible.

図8Aに、ベアチップ搬送ユニットであるコレット1の一例を示す模式的側面図を、図8Bにベアチップ3を挟持する面の同平面図を示す。説明の便宜上、ベアチップ3を点線により図示する。図8A,図8Bにおいてベアチップ3は、コレット1に保持される前の状態を示している。   FIG. 8A is a schematic side view showing an example of the collet 1 which is a bare chip transport unit, and FIG. 8B is a plan view of a surface sandwiching the bare chip 3. For convenience of explanation, the bare chip 3 is illustrated by a dotted line. 8A and 8B, the bare chip 3 shows a state before being held by the collet 1.

コレット1は、ベアチップ3の側面を挟持して保持する挟持部たるチャックピン11、筐体20、チャックピン11が固設され、チャックピン11と連動して回動する回動部材21、回転伝達機構12と連動して回転する第1回転伝達体22、第2回転伝達体23等を有する。なお、チャックピン11の個数等は、説明の便宜上のものであり、少なくとも2個以上であればよく、ベアチップ3のサイズや形状、ニーズに応じて適宜設計し得る。ベアチップ3をより安定して保持する観点から、ベアチップ3の各辺に少なくとも1つのチェックピン11を設けることが好ましい。   The collet 1 has a chuck pin 11 that is a clamping part that holds and holds the side surface of the bare chip 3, a housing 20, a chuck pin 11, and a rotation member 21 that rotates in conjunction with the chuck pin 11. The first rotation transmission body 22 and the second rotation transmission body 23 that rotate in conjunction with the mechanism 12 are included. It should be noted that the number of chuck pins 11 is for convenience of description and may be at least two or more and can be appropriately designed according to the size and shape of the bare chip 3 and needs. From the viewpoint of more stably holding the bare chip 3, it is preferable to provide at least one check pin 11 on each side of the bare chip 3.

チャックピン11は、図8Aの例においてはコレット1の下面側に6個、筐体20から突出するように配設されている。チャックピン11の素材は、特に限定されず、金属や樹脂等を用いることができる。回動部材21は、チャックピン11と対応して6個設けられており、回動部材21が回動自在なように筐体20の下面に開口部が設けられている。チャックピン11は、開状態のときは所定の基準位置に配置されるようになっている。基準位置は、第1実施形態においては、ベアチップ3の当接位置までのチャックピン11の移動距離が全て同じになる位置としている。   In the example of FIG. 8A, six chuck pins 11 are arranged on the lower surface side of the collet 1 so as to protrude from the housing 20. The material of the chuck pin 11 is not particularly limited, and metal, resin, or the like can be used. Six rotation members 21 are provided corresponding to the chuck pins 11, and an opening is provided on the lower surface of the housing 20 so that the rotation member 21 is rotatable. The chuck pin 11 is arranged at a predetermined reference position in the open state. In the first embodiment, the reference position is a position where the movement distances of the chuck pins 11 to the contact position of the bare chip 3 are all the same.

第1回転伝達体22は、筐体20内に2個設けられており、回動部材21に回転動力を伝達する役割を担う。第2回転伝達体23は、筐体20内に1個設けられており、前述したように回転伝達機構と連動して回転し、第1回転伝達体22に回転動力を伝達する役割を担う。回転体21、第1回転伝達体22および第2回転伝達体23は、歯車機構により動力が伝達されるようになっている。回転伝達機構12は、チャックピン11を開閉するために回転運動を与える役割を担う。なお、挟持部の例として図8A、図8Bに示すチャックピン11は、一例であり、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変形が可能である。   Two first rotation transmitting bodies 22 are provided in the housing 20 and play a role of transmitting rotational power to the rotating member 21. One second rotation transmission body 23 is provided in the housing 20 and rotates in conjunction with the rotation transmission mechanism as described above, and plays a role of transmitting rotational power to the first rotation transmission body 22. The rotating body 21, the first rotation transmitting body 22 and the second rotation transmitting body 23 are configured such that power is transmitted by a gear mechanism. The rotation transmission mechanism 12 plays a role of giving a rotational motion in order to open and close the chuck pin 11. Note that the chuck pin 11 shown in FIGS. 8A and 8B as an example of the sandwiching portion is an example, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

位置決めユニット10内にはコレット1のチャックピン11を回転動作させるための回転伝達軸が設置されている。そして、その軸の回転運動をコレット1上部に設置された回転伝達機構12に伝達し、回転運動をチャックピン11まで伝達させる。そして、回転伝達機構12が第1回転伝達体22、第2回転伝達体23を介して回動部材21に伝達し、回動部材21の回動に伴ってチャックピン11が回転する。このチャックピン11を利用してコレット1のチャック開閉動作を行う。   A rotation transmission shaft for rotating the chuck pin 11 of the collet 1 is installed in the positioning unit 10. Then, the rotational motion of the shaft is transmitted to the rotational transmission mechanism 12 installed on the upper part of the collet 1, and the rotational motion is transmitted to the chuck pin 11. The rotation transmission mechanism 12 transmits the rotation member 21 via the first rotation transmission body 22 and the second rotation transmission body 23, and the chuck pin 11 rotates as the rotation member 21 rotates. The chuck pin 11 is used to perform the chuck opening / closing operation of the collet 1.

図9Aにベアチップ3を固定したコレット1の模式的側面図の一例を、図9Bに同平面図の一例を示す。説明の便宜上、ベアチップ3を点線により図示する。ベアチップ3の側面が、6個のチャックピン11によって挟持され保持されている。チャックピン11は、回動部材21の回動と連動して回動し、ベアチップ3の側面にチャックピン11が当接することにより、回動部材21の回動が阻止され、回動しようとする力によってベアチップ3が保持される。ベアチップ3の上面はコレット1に接触せずに、ベアチップ3の側面を挟持して保持する。   FIG. 9A shows an example of a schematic side view of the collet 1 to which the bare chip 3 is fixed, and FIG. 9B shows an example of the plan view. For convenience of explanation, the bare chip 3 is illustrated by a dotted line. The side surface of the bare chip 3 is sandwiched and held by six chuck pins 11. The chuck pin 11 rotates in conjunction with the rotation of the rotation member 21, and the rotation of the rotation member 21 is prevented by the chuck pin 11 coming into contact with the side surface of the bare chip 3. The bare chip 3 is held by the force. The upper surface of the bare chip 3 does not contact the collet 1 and holds the side surface of the bare chip 3 while sandwiching it.

第1実施形態においては、回動部材21に回転を伝達する手段として、第1回転伝達体22、第2回転伝達体23をコレット1内に設けた例を開示したが、回動部材21を回動可能な機構であれば第1回転伝達体22、第2回転伝達体23は必須ではなく、任意の構造とすることができる。また、装置の小型化の観点からは、全ての回動部材21が連動する構成が好ましいが、其々別々に回転する機構としたり、いくつかのグループに分けて回転させる機構としてもよい。これにより、ベアチップの形状の自由度が高まる。即ち、特殊な形状の矩形形状や、非矩形形状のベアチップに対しても本発明を適用できる。また、装置の小型化や簡便性からコレット1が水平方向・垂直方向に移動自在に位置を制御する機構が好ましいが、供給ステージ9や、ホットプレート6側の位置を制御することにより、ベアチップ3と実装基板2の実装工程を行ってもよい。   In 1st Embodiment, although the example which provided the 1st rotation transmission body 22 and the 2nd rotation transmission body 23 in the collet 1 as a means to transmit rotation to the rotation member 21 was disclosed, the rotation member 21 is disclosed. If it is a mechanism which can rotate, the 1st rotation transmission body 22 and the 2nd rotation transmission body 23 are not essential, and can be made into arbitrary structures. Further, from the viewpoint of downsizing the apparatus, a configuration in which all the rotating members 21 are interlocked is preferable, but a mechanism that rotates separately or a mechanism that rotates in several groups may be used. Thereby, the freedom degree of the shape of a bare chip increases. That is, the present invention can be applied to a special rectangular shape or a non-rectangular bare chip. Further, a mechanism for controlling the position of the collet 1 so as to be movable in the horizontal direction and the vertical direction is preferable from the viewpoint of miniaturization and simplicity of the apparatus. However, by controlling the position on the supply stage 9 or the hot plate 6 side, the bare chip 3 And the mounting process of the mounting substrate 2 may be performed.

上記のように構成された半導体実装装置50は、以下の工程を経てベアチップ3が実装基板2上に実装される。まず、コレット1のチャック機構を開状態にする。チャックピン11が外側の所望の位置に配置される。次に、位置検出ユニット8と位置調節機構ユニット10を利用してコレット1を供給ステージ9のベアチップ3上方に移動する。   In the semiconductor mounting apparatus 50 configured as described above, the bare chip 3 is mounted on the mounting substrate 2 through the following steps. First, the collet 1 chuck mechanism is opened. The chuck pin 11 is disposed at a desired position outside. Next, the collet 1 is moved above the bare chip 3 of the supply stage 9 by using the position detection unit 8 and the position adjustment mechanism unit 10.

次いで、コレット1がベアチップ3を挟持するために、上下駆動機構7を用いてコレット1を所定の位置まで移動させる。この際、コレット1の下降動作状態を上下動作機構7に設置された圧力検出ユニット14によりモニタリングする。そして、圧力検出ユニット14は、コレット1のチャックピン11の先端が供給ステージ9に接触した位置を検知し、下降動作停止操作を行う。なお、位置検出ユニット等により、ベアチップ3と供給ステージ9との高さ位置を検出して、適切な位置で上下駆動機構7の下降動作停止操作を行うようにしてもよい。   Next, in order for the collet 1 to sandwich the bare chip 3, the collet 1 is moved to a predetermined position using the vertical drive mechanism 7. At this time, the lowering operation state of the collet 1 is monitored by the pressure detection unit 14 installed in the vertical movement mechanism 7. The pressure detection unit 14 detects the position where the tip of the chuck pin 11 of the collet 1 is in contact with the supply stage 9 and performs a descent operation stop operation. The height position between the bare chip 3 and the supply stage 9 may be detected by a position detection unit or the like, and the descending operation stop operation of the vertical drive mechanism 7 may be performed at an appropriate position.

次に、チャックピン11とベアチップ3の供給ステージ9がチャック機構閉動作時に干渉しないよう上下駆動機構7を利用して一定量だけコレット1を上昇させる。この上昇量は、ベアチップ厚み以下とする。ベアチップ3の素材、用途等に応じて、ベアチップ3を保持するために必要な高さを適宜調整する。なお、ベアチップ3の種類に応じて、保持に必要な高さが異なる可能性あるため、必要に応じて製品毎に設定を行う。   Next, the collet 1 is raised by a certain amount by using the vertical drive mechanism 7 so that the chuck pin 11 and the supply stage 9 of the bare chip 3 do not interfere when the chuck mechanism is closed. This amount of increase is set to be equal to or less than the bare chip thickness. The height necessary for holding the bare chip 3 is appropriately adjusted according to the material, use, etc. of the bare chip 3. Note that the height required for holding may vary depending on the type of the bare chip 3, and therefore settings are made for each product as necessary.

その後、上下駆動機構7に設置された回転伝達機構12の回転軸からコレット1の第2回動伝達体23、第1回動伝達体22、回動部材21に動力を伝達し、コレット1のチャック機構を閉じる。具体的には、回転軸を回転させるアクチュエータ(モータ)の動作電力によりベアチップ3の保持を行う。即ち、アクチュエータに負荷が発生することによりアクチュエータ動作電流が増加すると、この出力を回転伝達機構12にフィードバックする。これによりベアチップ3の側面とチャックピン11が接触する力をコントロールする。換言すると、チャックピン11回転時の負荷状態をモニタリングし、回転制御アクチュエータを制御することにより、ベアチップ3の保持力をコントロールする。   Thereafter, power is transmitted from the rotation shaft of the rotation transmission mechanism 12 installed in the vertical drive mechanism 7 to the second rotation transmission body 23, the first rotation transmission body 22, and the rotation member 21 of the collet 1. Close the chuck mechanism. Specifically, the bare chip 3 is held by operating power of an actuator (motor) that rotates the rotating shaft. That is, when the actuator operating current increases due to the load generated on the actuator, this output is fed back to the rotation transmission mechanism 12. This controls the force with which the side surface of the bare chip 3 and the chuck pin 11 come into contact. In other words, the holding force of the bare chip 3 is controlled by monitoring the load state during rotation of the chuck pin 11 and controlling the rotation control actuator.

コレット1は、チャックピン11の回転機構を有しているので、チャック開閉範囲内であればベアチップ3の外形幅や外形形状や厚みが異なっていても、コレット1を交換することなくベアチップ3の保持および搬送が可能である。その結果、チャック開閉範囲内のベアチップ3に対し、コレット1の交換作業が不要となる。従って、汎用性の高い半導体実装装置を提供することができる。   Since the collet 1 has a rotation mechanism for the chuck pin 11, even if the outer width, outer shape, and thickness of the bare chip 3 are different within the chuck opening / closing range, the collet 1 can be replaced without replacing the collet 1. It can be held and transported. As a result, it is not necessary to replace the collet 1 with respect to the bare chip 3 within the chuck opening / closing range. Therefore, a highly versatile semiconductor mounting apparatus can be provided.

実装基板2においては、ベアチップ3の実装予定位置に蝋材4を予め塗布する。そして、蝋材4を塗布した実装基板2をセラミックヒータ6上に搭載し、セラミックヒータ6を加熱し基板2上の蝋材4を熱で溶融させる。なお、実装基板2をセラミックヒータ6上に載置した後に蝋材4を塗布してもよい。   In the mounting substrate 2, the brazing material 4 is applied in advance to the mounting position of the bare chip 3. Then, the mounting substrate 2 coated with the brazing material 4 is mounted on the ceramic heater 6, and the ceramic heater 6 is heated to melt the brazing material 4 on the substrate 2 with heat. The brazing material 4 may be applied after the mounting substrate 2 is placed on the ceramic heater 6.

続いて、位置検出ユニット8にて実装基板2の位置を検出し、そのデータを基に位置決めユニット10にてベアチップ3を保持したコレット1を実装基板2上の搭載位置上まで移動させる。その後、ベアチップ3の搬送形態と同様に上下駆動機構7にてコレット1を溶融した蝋材4上に圧力検出ユニットにて搭載高さを監視しながら下降動作させる。その際、ベアチップ3の搬送形態と同様にベアチップ3の下面が溶融した蝋材4に接触したときの圧力を圧力検出ユニット5にて検出し、コレット1の上下動作機構7により蝋材4への融着圧力を設定する。   Subsequently, the position detection unit 8 detects the position of the mounting substrate 2, and the collet 1 holding the bare chip 3 is moved to the mounting position on the mounting substrate 2 by the positioning unit 10 based on the data. Thereafter, as with the conveying mode of the bare chip 3, the vertical drive mechanism 7 moves the collet 1 down on the wax material 4 while monitoring the mounting height with the pressure detection unit. At that time, the pressure when the lower surface of the bare chip 3 comes into contact with the melted wax material 4 is detected by the pressure detection unit 5 in the same manner as the bare chip 3 conveyance mode, and the collet 1 is moved to the wax material 4 by the vertical movement mechanism 7. Set the fusing pressure.

ところで、加熱により液状化した蝋材4上には周辺酸素と結びつくことにより酸化膜が形成されてしまう。これは、ベアチップ3との融着力低下に結びつく。これを防止するために、ベアチップ3を保持したまま位置調節機構ユニット10にて水平移動を繰り返す動作(以下、スクライブ動作と称す)により蝋材4の酸化膜とベアチップ3の裏面を擦り、酸化膜を除去する。そして、酸化していない蝋材4にて堅固な融着を生み出す工程が有用である。しかしながら、蝋材4が溶融することでベアチップ3との間に表面張力が発生し、溶融した蝋材4に表面張力が発生し、ベアチップ3を固着する力が作用する。ここで、コレット1へのベアチップ3への吸着力より密着した蝋材の表面張力が勝ると、ベアチップ3がコレット1の動きに追従することなく溶融した蝋材4に固着する。その結果、ベアチップ3の位置ずれや、表面パターン破損、ベアチップのエッジ部の欠けや割れが生じる場合があった。   By the way, an oxide film is formed on the wax material 4 liquefied by heating by being combined with peripheral oxygen. This leads to a decrease in the adhesive force with the bare chip 3. In order to prevent this, the oxide film of the wax material 4 and the back surface of the bare chip 3 are rubbed by an operation of repeating horizontal movement (hereinafter referred to as a scribe operation) with the position adjusting mechanism unit 10 while holding the bare chip 3, Remove. And the process which produces firm fusion | bonding with the wax material 4 which is not oxidized is useful. However, when the wax material 4 is melted, surface tension is generated between it and the bare chip 3, and surface tension is generated in the melted wax material 4, and a force for fixing the bare chip 3 acts. Here, when the surface tension of the wax material that is in close contact with the collet 1 due to the adsorption force to the bare chip 3 is won, the bare chip 3 adheres to the molten wax material 4 without following the movement of the collet 1. As a result, the bare chip 3 may be misaligned, the surface pattern may be damaged, and the bare chip may be chipped or cracked.

一方、本発明によれば、図8A、図8Bに示すようなコレット1を使用することにより、蝋材4の濡れ性向上を目的としたスクライブ動作で水平方向に発生する力を、垂直方向に存在するチャックピン11にて打ち消すことが可能となる。その結果、ベアチップ3に対して確実な保持力を実現し、ベアチップ3のスライド不良を防止できる。さらに、ベアチップ3の側面を機械的に保持することによりコレット1の保持力を蝋材4の表面張力より勝る保持力とし、水平方向動作のみならず垂直方向動作を加えることが可能となる。その結果、三次元的なスクライブ動作を実現し、より強固なベアチップ実装を行うことができる。   On the other hand, according to the present invention, by using the collet 1 as shown in FIGS. 8A and 8B, the force generated in the horizontal direction in the scribing operation for the purpose of improving the wettability of the wax material 4 is applied in the vertical direction. It is possible to cancel with the existing chuck pin 11. As a result, it is possible to achieve a reliable holding force for the bare chip 3 and prevent the slide failure of the bare chip 3. Furthermore, by holding the side surface of the bare chip 3 mechanically, the holding force of the collet 1 is set to be higher than the surface tension of the brazing material 4, and it is possible to apply not only a horizontal operation but also a vertical operation. As a result, a three-dimensional scribe operation can be realized, and a more robust bare chip mounting can be performed.

第1実施形態においては、溶融している蝋材4とベアチップ3の接触を圧力制御ユニット5が検出した後、コレット1を水平移動および上下駆動機構7を利用してベアチップ3にスクライブ動作をさせる。この動作により蝋材4とベアチップ3の接合面に、酸化膜や蝋材ムラにより接合不良を発生することなく強固な結合を促すことが可能となる。一定のスクライブ動作終了後、回転伝達機構12にてコレット1のチャック位置を保持する方向とは逆の方向に回転させベアチップ3をコレット1よりリリースする。その後、上下駆動機構7を利用し、コレット1を始点へ移動しセラミックヒータ6を冷却し溶融していた蝋材4を常温にすることにより凝結させる。これらの工程を経て、ベアチップ3が実装基板2上に実装される。   In the first embodiment, after the pressure control unit 5 detects the contact between the molten wax material 4 and the bare chip 3, the collet 1 is moved horizontally and the bare chip 3 is scribed using the vertical drive mechanism 7. . By this operation, it is possible to promote strong bonding on the bonding surface of the wax material 4 and the bare chip 3 without causing a bonding failure due to an oxide film or wax material unevenness. After the end of a certain scribing operation, the rotation transmitting mechanism 12 rotates the collet 1 in the direction opposite to the direction in which the chuck position is held to release the bare chip 3 from the collet 1. Thereafter, the vertical drive mechanism 7 is used to move the collet 1 to the starting point, cool the ceramic heater 6 and condense the molten wax material 4 to room temperature. Through these steps, the bare chip 3 is mounted on the mounting substrate 2.

図1、図2等で示した従来の吸着型コレットではコレットの保持力のコントロールが困難なため、主として水平方向のみのスクライブ動作により蝋材4の被膜を解消していた。一方、第1実施形態のコレット1によれば、ベアチップ3の側面をチャックピン11の回転運動によりの機械的に保持してコントロールできる。このため、実現が困難であった垂直方向のスクライブ動作も実現可能となる。第1実施形態の半導体実装装置50によれば、3次元的なスクライブ動作により、溶融した蝋材4を様々な方向からコントロールすることができるため、ムラのない高品質な実装を生み出すことができる。   In the conventional adsorption type collet shown in FIG. 1 and FIG. 2 and the like, it is difficult to control the holding force of the collet, and therefore, the coating of the wax material 4 has been eliminated mainly by the scribing operation only in the horizontal direction. On the other hand, according to the collet 1 of the first embodiment, the side surface of the bare chip 3 can be mechanically held and controlled by the rotational movement of the chuck pin 11. For this reason, the scribing operation in the vertical direction, which has been difficult to realize, can also be realized. According to the semiconductor mounting apparatus 50 of the first embodiment, the melted wax material 4 can be controlled from various directions by a three-dimensional scribe operation, so that high-quality mounting without unevenness can be produced. .

また、半導体実装装置50によれば、ベアチップの上面と接触せずに側面のみを機械的に挟持して保持するので、ベアチップの上面の構造が制約されないという優れたメリットがある。また、応力が集中しやすいエッジ部を挟持する方法に比してベアチップの欠けや割れを改善できる。換言すると、第1実施形態においては、線接触ではなくベアチップ側面を面によって接触させているので、応力を分散させることができる。その結果、搬送または加圧搭載時のベアチップ破損・カケを防止できる。   Further, according to the semiconductor mounting apparatus 50, since only the side surface is mechanically sandwiched and held without contacting the top surface of the bare chip, there is an excellent merit that the structure of the top surface of the bare chip is not restricted. Further, chipping and cracking of the bare chip can be improved as compared with a method of sandwiching an edge portion where stress tends to concentrate. In other words, in the first embodiment, since the side surfaces of the bare chip are brought into contact with each other instead of the line contact, the stress can be dispersed. As a result, it is possible to prevent bare chip breakage and chipping during transportation or pressure mounting.

さらに、真空吸着を用いずに挟持可能なので、ベアチップの反りの発生を防止できる。その結果、半導体製品の歩留まりを高めることができる。また、ベアチップ3の搬送・搭載時のベアチップ3の表面回路へのキズ(打痕)やエッジ部破損などの発生の防止するために有効である。即ち、表面を接触せず脆弱なベアチップ製品を安全かつ効率的に搬送し、指定された実装基板に安定した加圧搭載することができる。   Furthermore, since it can hold | grip without using vacuum suction, generation | occurrence | production of the curvature of a bare chip can be prevented. As a result, the yield of semiconductor products can be increased. Further, it is effective for preventing the occurrence of scratches (dents) on the surface circuit of the bare chip 3 or breakage of the edge portion when the bare chip 3 is transported / mounted. That is, a fragile bare chip product can be transported safely and efficiently without contacting the surface, and can be stably mounted on a specified mounting board.

また、第1実施形態に係る半導体実装装置によれば、チャックピンにより挟持位置(開閉位置)を調節可能な機構としているので、チャックピンを機械可動させて挟持位置をコントロールできる機構となっているので、調整範囲内であればベアチップのサイズや形状が異なっていても同一のコレットを用いることができる。このため、コレットの付け替え回数を減らし工程の簡便化を図ることができる。   In addition, according to the semiconductor mounting apparatus according to the first embodiment, since the holding position (opening / closing position) can be adjusted by the chuck pin, the holding position can be controlled by moving the chuck pin mechanically. Therefore, the same collet can be used even if the size and shape of the bare chip are different within the adjustment range. For this reason, the number of times of changing the collet can be reduced and the process can be simplified.

さらに、第1実施形態に係る半導体実装装置によれば、熱せられることにより溶融した蝋材を用いて融着させる工程において、融着不良の要因となる蝋材の表面上の酸化被膜を上下方向、水平移動方向のスクライブ動作により除去、または溶融した蝋材をベアチップ3の接合面にムラ無く行き渡らせることができる。しかも、ベアチップ表面への擦れやエッジ部のスライドによる割れ・欠けをなくすことを防止できる。また、スクライブ動作によりベアチップ前面に均一にムラなく蝋材を行き渡らせることができるので、接着力の品質向上を実現できる。これらの結果、歩留まりの高い半導体実装装置を提供できる。
[第2実施形態]
Furthermore, according to the semiconductor mounting apparatus according to the first embodiment, in the step of fusing using the wax material melted by being heated, the oxide film on the surface of the wax material that causes a fusing defect is vertically directed. The wax material removed or melted by the scribing operation in the horizontal movement direction can be spread evenly on the joint surface of the bare chip 3. Moreover, it is possible to prevent the bare chip surface from being rubbed and the cracks / chips caused by sliding of the edge portion from being eliminated. Further, since the wax material can be evenly distributed evenly on the front surface of the bare chip by the scribe operation, the quality of the adhesive force can be improved. As a result, a semiconductor mounting apparatus with a high yield can be provided.
[Second Embodiment]

次に、第1実施形態とは異なる半導体実装装置の一例を説明する。図10に、第2実施形態2に係るベアチップの模式的断面図を示す。また、図11に、第2実施形態のコレット1のチャックピン側の模式的平面図を示す。   Next, an example of a semiconductor mounting apparatus different from the first embodiment will be described. FIG. 10 is a schematic cross-sectional view of a bare chip according to the second embodiment. FIG. 11 is a schematic plan view on the chuck pin side of the collet 1 of the second embodiment.

図10に示すように、コレット1の筐体20内に、圧縮エアーの連通路31が設けられている。そして、図11に示すように、筐体20の下面側には、圧縮エアーのブロー溝32が設けられている。圧縮エアーの連通路31は、第2回転伝達体23の中央部の開口部、および第2回転伝達体23、第1の回転伝達体22の下方に設けられた空隙によって構成されている。連通路31は、ブロー溝32につながっており、ここから圧力制御した空気が噴出される。   As shown in FIG. 10, a compressed air communication path 31 is provided in the housing 20 of the collet 1. And as shown in FIG. 11, the blow groove 32 of compressed air is provided in the lower surface side of the housing | casing 20. As shown in FIG. The communication path 31 for compressed air is configured by an opening at the center of the second rotation transmission body 23 and a gap provided below the second rotation transmission body 23 and the first rotation transmission body 22. The communication path 31 is connected to the blow groove 32, from which pressure-controlled air is ejected.

第2実施形態に係る半導体実装装置によれば、ベアチップ3を実装基板2に搭載する際に、圧力制御した空気を噴出させているので、溶融した蝋材4がベアチップ3の表面に付着して、ベアチップ3の表面回路に異常が発生することを防止できる。即ち、第2実施形態に係る半導体実装装置によれば、コレット1の筐体20下面部分にブロー溝32を設置することにより、圧力制御した空気を噴出させ、ベアチップ3の表面を陽圧化する。これにより、蝋材4がベアチップ3表面に回り込むのを効果的に防止することができる。   According to the semiconductor mounting apparatus according to the second embodiment, when the bare chip 3 is mounted on the mounting substrate 2, since the pressure-controlled air is ejected, the molten wax material 4 adheres to the surface of the bare chip 3. It is possible to prevent the occurrence of abnormality in the surface circuit of the bare chip 3. That is, according to the semiconductor mounting apparatus according to the second embodiment, by installing the blow groove 32 on the lower surface portion of the casing 20 of the collet 1, the pressure-controlled air is ejected and the surface of the bare chip 3 is positively pressurized. . Thereby, it can prevent effectively that the wax material 4 wraps around the bare chip 3 surface.

なお、陽圧化によりチャックピン11を開き、この圧力制御した空気の圧力でベアチップ3表面に間接的に加圧することで微加圧による接着加圧を行うこともできる。また、ブロー溝32から噴出する空気を不活性ガスとし、蝋材4の周辺酸素濃度を低減させるようにしてもよい。このようにすることにより、蝋材4を溶融時の酸化膜生成を抑制することができる。   It is also possible to perform adhesion pressurization by fine pressurization by opening the chuck pin 11 by positive pressure and indirectly pressurizing the surface of the bare chip 3 with the pressure of the pressure controlled air. Alternatively, the air ejected from the blow groove 32 may be an inert gas to reduce the ambient oxygen concentration of the wax material 4. By doing in this way, the oxide film production | generation at the time of fuse | melting the wax material 4 can be suppressed.

第2実施形態に係る半導体実装装置によれば、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、エアー噴出機構を設けているので、蝋材4がベアチップ3表面に回り込むのを効果的に防止することができる。   According to the semiconductor mounting apparatus according to the second embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained. Furthermore, since the air ejection mechanism is provided, it is possible to effectively prevent the wax material 4 from entering the bare chip 3 surface.

なお、本発明の趣旨に合致する限り、他の実施形態も本発明の範疇に含まれることは言うまでもない。また、上記実施形態は、互いに好適に組み合わせられる。また、図6の半導体実装装置は、一例であり種々の変形が可能である。さらに、上記実施形態においては、チャックピン11が回転体21に固設されている例を説明したが、図12に示すように、チャックピン11の嵌合部18を設け、チャックピン11を回転体21に対して着脱自在に構成してもよい。これにより、より広範なサイズのベアチップにおいて挟持が可能となる。   Needless to say, other embodiments are also included in the scope of the present invention as long as they meet the spirit of the present invention. Moreover, the said embodiment is mutually combined suitably. Moreover, the semiconductor mounting apparatus of FIG. 6 is an example, and various modifications are possible. Furthermore, in the above embodiment, an example in which the chuck pin 11 is fixed to the rotating body 21 has been described. However, as shown in FIG. 12, a fitting portion 18 of the chuck pin 11 is provided to rotate the chuck pin 11. You may comprise so that attachment or detachment with respect to the body 21 is possible. As a result, clamping can be performed in a wider range of bare chips.

1 コレット
2 基板
3 ベアチップ
4 蝋材
5 圧力制御ユニット
6 セラミックヒータ
7 上下駆動機構
8 位置検出ユニット
9 供給ステージ
10 位置調節機構ユニット
11 チャックピン
12 回転伝達機構
13 ブロー溝
14 圧力検出ユニット
18 嵌合部
20 筐体
21 回転体
22 第1回転伝達体
23 第2回転伝達体
31 連通路
32 ブロー溝
50 半導体実装装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Collet 2 Board | substrate 3 Bare chip 4 Brazing material 5 Pressure control unit 6 Ceramic heater 7 Vertical drive mechanism 8 Position detection unit 9 Supply stage 10 Position adjustment mechanism unit 11 Chuck pin 12 Rotation transmission mechanism 13 Blow groove 14 Pressure detection unit 18 Fitting part DESCRIPTION OF SYMBOLS 20 Case 21 Rotating body 22 1st rotation transmission body 23 2nd rotation transmission body 31 Communication path 32 Blow groove 50 Semiconductor mounting apparatus

Claims (9)

ベアチップの側面と接触して機械的に挟持する複数の挟持部と、
前記挟持部と連動して回動する回動部材とを具備し、
前記挟持部が前記ベアチップの側面に当接することにより、前記回動部材の回動が阻止され、当該回動部材の回動しようとする力によって前記ベアチップが保持される機構を有するベアチップ挟持ユニットを具備する半導体実装装置。
A plurality of clamping portions that mechanically clamp in contact with the side surface of the bare chip;
A rotating member that rotates in conjunction with the clamping part,
A bare chip clamping unit having a mechanism in which rotation of the rotating member is prevented when the clamping part abuts on a side surface of the bare chip and the bare chip is held by a force of the rotating member to rotate. Semiconductor mounting apparatus provided.
さらに、前記回動部材に動力を伝達する回転伝達機構を具備し、
前記複数の挟持部は、前記回転伝達機構から動力が伝達されている請求項1に記載の半導体実装装置。
And a rotation transmission mechanism for transmitting power to the rotation member,
The semiconductor mounting apparatus according to claim 1, wherein power is transmitted from the rotation transmission mechanism to the plurality of clamping units.
前記挟持部は、開状態のときは、所定の基準位置に配置されるように構成されている請求項1又は2に記載の半導体実装装置。   The semiconductor mounting apparatus according to claim 1, wherein the holding portion is configured to be disposed at a predetermined reference position when the holding portion is in an open state. 前記挟持部は、チャックピンであることを特徴とする請求項1〜3に記載の半導体実装装置。   The semiconductor mounting apparatus according to claim 1, wherein the clamping portion is a chuck pin. 前記ベアチップ挟持ユニットは、前記回動部材に回転する動力を伝達する回転伝達機構に着脱自在に接続されている請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体実装装置。   5. The semiconductor mounting apparatus according to claim 1, wherein the bare chip clamping unit is detachably connected to a rotation transmission mechanism that transmits rotating power to the rotating member. 6. さらに、前記ベアチップを実装基板に実装する際に加える圧力を調整する圧力調節機構を備える請求項1〜5のいずれか1項に記載の半導体実装装置。   Furthermore, the semiconductor mounting apparatus of any one of Claims 1-5 provided with the pressure adjustment mechanism which adjusts the pressure applied when mounting the said bare chip on a mounting board | substrate. 前記ベアチップと、これを実装する実装基板とが、蝋材により接合され、当該蝋材の酸化膜を除去するように、前記ベアチップ挟持ユニットが、水平方向動作と垂直方向動作にスクライブ動作可能なように構成されている請求項1〜6のいずれか1項に記載の半導体実装装置。   The bare chip clamping unit can be scribed in a horizontal direction operation and a vertical direction operation so that the bare chip and a mounting substrate on which the bare chip is mounted are bonded by a wax material and an oxide film of the wax material is removed. The semiconductor mounting apparatus of any one of Claims 1-6 comprised by these. ベアチップの側面と接触して機械的に挟持する挟持部と、
前記挟持部と連動して回動する回動部材とを具備し、
前記挟持部が前記ベアチップの側面に当接することにより、前記回動部材の回動が阻止され、当該回動しようとする力によって前記ベアチップが保持される機構を備えるベアチップ挟持ユニット。
A clamping part that mechanically clamps in contact with the side surface of the bare chip;
A rotating member that rotates in conjunction with the clamping part,
A bare chip clamping unit comprising a mechanism in which the rotation of the rotating member is prevented when the clamping part comes into contact with a side surface of the bare chip, and the bare chip is held by the force to rotate.
前記挟持部は、チャックピンであることを特徴とする請求項8に記載のベアチップ挟持ユニット。   9. The bare chip clamping unit according to claim 8, wherein the clamping part is a chuck pin.
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