JP2014057896A - X-ray ct apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray CT apparatus which detects failure of an A/D conversion substrate without exposing a subject to radiation.SOLUTION: An X-ray CT apparatus has an image generating mode and a failure detection mode. In the failure detection mode, an A/D conversion control unit 104 sets a setting condition included in a control signal for an A/D conversion element 201 by sending a control signal to an A/D conversion substrate 102, and a failure determination unit 105 receives a setting condition, which has been set for the A/D conversion element 201, and prestored testing data from the A/D conversion substrate 102 and determines whether there is a failure in the A/D conversion substrate 102 by comparing the setting condition included in the control signal and the prestored test data with the setting condition and test data received from the A/D conversion substrate 102.

Description

本発明は、X線を被検体に照射し、被検体を透過したX線を検出して画像再構成を行うことにより被検体の画像を生成するX線CT(Computed Tomography)装置及びその制御方法に関する。さらに詳しくは、A/D変換基板の故障を検知するX線CT装置に関する。   The present invention relates to an X-ray CT (Computed Tomography) apparatus that generates an image of a subject by irradiating the subject with X-rays, detecting X-rays transmitted through the subject, and performing image reconstruction, and a control method thereof About. More specifically, the present invention relates to an X-ray CT apparatus that detects a failure of an A / D conversion board.

X線CT装置は、X線を曝射して被検体を透過したX線を検出し、検出したX線の強度を示す投影データから被検体内の画像を再構成する画像診断装置である。疾病の診断、治療や手術計画等を初めとする多くの医療行為において重要な役割を果たしている。   The X-ray CT apparatus is an image diagnostic apparatus that detects X-rays that have been exposed to X-rays and transmitted through the subject, and reconstructs an image in the subject from projection data that indicates the detected X-ray intensity. It plays an important role in many medical practices such as disease diagnosis, treatment and surgical planning.

そして、X線CT装置は、X線を検出する検出器で測定したX線量をアナログデータからデジタルデータに変換する基板(以下、A/D変換基板という。)を有する。また、X線CT装置は制御部からの命令を制御信号としてA/D変換基板に送信し、該A/D変換基板を制御するための基板(以下、制御基板という。)を有する。具体的には、制御基板は、A/D変換基板に対しゲイン(Gain)、積分時間、及び分解能(使用ビット)といった条件設定を行う。数制御基板によって制御されたA/D変換基板を介して、X線量のデータは検出器から画像を再構成するシステムへと送信される。通常、X線CT装置は、複数のA/D変換基板と1つの制御基板を有している。   The X-ray CT apparatus has a substrate (hereinafter referred to as an A / D conversion substrate) that converts the X-ray dose measured by a detector that detects X-rays from analog data to digital data. Further, the X-ray CT apparatus has a board (hereinafter referred to as a control board) for transmitting a command from the control unit as a control signal to the A / D conversion board and controlling the A / D conversion board. Specifically, the control board sets conditions such as gain (Gain), integration time, and resolution (used bits) for the A / D conversion board. The X-ray dose data is transmitted from the detector to a system for reconstructing the image through an A / D conversion board controlled by a number control board. Usually, the X-ray CT apparatus has a plurality of A / D conversion substrates and one control substrate.

従来、故障した検出器列を明示する技術(例えば、特許文献1参照。)などが提供されている。しかし、X線CT装置において、A/D変換基板に故障が発生した場合に、直接その故障の発生を検知することは困難であった。そのため、A/D変換基板に故障が発生したとしても、被検体を撮影し、その画像データを参照することで、始めて異常が検知されていた。例えば、特許文献1の技術においても、一度画像を生成したうえでその検出器の故障の位置の判断が行われている。さらに、故障への対応をおこなうためには、画像データから異常が検知されたうえで、故障したA/D変換基板を交換するという作業が必要であった。   Conventionally, a technique (for example, refer to Patent Document 1) that clearly indicates a failed detector array has been provided. However, in the X-ray CT apparatus, when a failure occurs in the A / D conversion board, it is difficult to directly detect the occurrence of the failure. Therefore, even if a failure occurs in the A / D conversion board, an abnormality is detected for the first time by imaging the subject and referring to the image data. For example, also in the technique of Patent Document 1, after the image is generated once, the position of the failure of the detector is determined. Further, in order to cope with the failure, it is necessary to replace the failed A / D conversion board after an abnormality is detected from the image data.

特開2005−095308号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2005-095308

このように、従来のA/D変換基板の故障の検知方法では、生成されたX線CT画像からA/D変換基板の故障を判断するため、A/D変換基板の故障を検知するには少なくとも1回は故障したA/D変換基板を用いて被検体の撮像を行う必要があり、この撮像では正常なX線CT画像を得ることができないため、被検体への不要な被曝となってしまうという問題があった。   As described above, in the conventional method for detecting a failure of the A / D conversion board, in order to determine the failure of the A / D conversion board from the generated X-ray CT image, in order to detect the failure of the A / D conversion board. The subject needs to be imaged at least once using a faulty A / D conversion board, and a normal X-ray CT image cannot be obtained with this imaging, resulting in unnecessary exposure to the subject. There was a problem that.

この発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、被検体に対して放射線を照射することなくA/D変換基板の故障を検知するX線CT装置を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide an X-ray CT apparatus that detects a failure of an A / D conversion board without irradiating a subject with radiation.

上記目的を達成するために、請求項1に記載のX線CT装置は、X線を照射するX線照射手段と、X線を検知して電荷に変換するX線検出手段と、設定された設定条件を用いてアナログデータからデジタルデータに変換するA/D変換手段を有するA/D変換基板と、前記A/D変換手段に前記設定条件を設定するための制御信号を送信するA/D変換制御手段と、前記A/D変換手段から出力されたデータに基づいて故障判定を行う故障判定手段と、前記デジタルデータに変換されたデータを基にX線CT画像を生成する画像生成手段と、を備えるX線CT装置であって、画像生成モードと故障検知モードの2つの動作モードを有し、前記故障検知モードでは、前記A/D変換制御手段は、前記A/D変換手段に前記設定条件を設定し、かつ前記故障判定手段に当該設定条件を入力し、前記A/D変換手段は、予めテストデータを記憶しており、前記A/D変換制御手段により設定された前記設定条件と前記予め記憶しているテストデータとが読み出されて、前記故障判定手段に入力され、前記故障判定手段は、前記A/D変換制御手段から入力された設定条件及び予め記憶していた判定用のテストデータと、前記A/D変換手段から入力された設定条件及びテストデータと、を比較して前記A/D変換基板の故障を判定する、ことを特徴とするものである。   In order to achieve the above object, an X-ray CT apparatus according to claim 1 is set with an X-ray irradiation means for irradiating X-rays, and an X-ray detection means for detecting X-rays and converting them into electric charges. An A / D conversion board having A / D conversion means for converting analog data to digital data using setting conditions, and an A / D for transmitting a control signal for setting the setting conditions to the A / D conversion means A conversion control unit; a failure determination unit that determines a failure based on data output from the A / D conversion unit; and an image generation unit that generates an X-ray CT image based on the data converted into the digital data. , And has two operation modes of an image generation mode and a failure detection mode. In the failure detection mode, the A / D conversion control means sends the A / D conversion means to the A / D conversion means. Set the setting conditions The setting condition is input to the failure determination unit, and the A / D conversion unit stores test data in advance, and stores the setting condition set by the A / D conversion control unit in advance. Test data is read out and input to the failure determination means. The failure determination means includes setting conditions input from the A / D conversion control means and test data for determination stored in advance, and A failure of the A / D conversion board is determined by comparing setting conditions and test data input from the A / D conversion means.

請求項1に記載のX線CT装置によると、基板制御部から入力された制御信号に対するA/D変換基板からのリードバック信号(A/D変換基板から出力される設定条件及びテストデータ)を解析することでA/D変換基板の故障を検知することができる。これにより、実際の撮像を行わなくともA/D変換基板の故障を検知することができ、A/D変換基板の故障箇所を迅速かつ容易に検知することが可能となり、さらに被検体に対する不要な被曝を削減することが可能となる。   According to the X-ray CT apparatus of the first aspect, the readback signal (setting condition and test data output from the A / D conversion board) from the A / D conversion board with respect to the control signal input from the board control unit is provided. By analyzing, a failure of the A / D conversion board can be detected. As a result, it is possible to detect a failure of the A / D conversion board without performing actual imaging, it is possible to quickly and easily detect a failure location of the A / D conversion board, and further, unnecessary for the subject. It is possible to reduce exposure.

本発明に係るX線CT装置のブロック図。1 is a block diagram of an X-ray CT apparatus according to the present invention. 検出器ユニットの模式図。The schematic diagram of a detector unit. 第1の実施形態に係るX線CT装置における故障検知及び画像形成のフローチャートの図。FIG. 3 is a flowchart of failure detection and image formation in the X-ray CT apparatus according to the first embodiment.

〔第1の実施形態〕
以下、この発明の第1の実施形態に係るX線CT装置について説明する。図1は本発明に係るX線CT装置の機能を表すブロック図である。
[First Embodiment]
The X-ray CT apparatus according to the first embodiment of the present invention will be described below. FIG. 1 is a block diagram showing functions of an X-ray CT apparatus according to the present invention.

本実施形態に係るX線CT装置は、図1に示すように、X線照射部001、検出器ユニット100、画像生成部002、表示制御部003、ユーザインタフェース004、モード切替部007、及び統括制御部008を備えている。さらに、本実施形態に係るX線CT装置は画像生成モード及び故障検知モードという2つの動作モードを有している。この動作モードは後述するモード切替部007により切り替えられる。ユーザインタフェース004は、表示部005及び入力部006を備える。   As shown in FIG. 1, the X-ray CT apparatus according to the present embodiment includes an X-ray irradiation unit 001, a detector unit 100, an image generation unit 002, a display control unit 003, a user interface 004, a mode switching unit 007, and an overall control. A control unit 008 is provided. Furthermore, the X-ray CT apparatus according to the present embodiment has two operation modes: an image generation mode and a failure detection mode. This operation mode is switched by a mode switching unit 007 described later. The user interface 004 includes a display unit 005 and an input unit 006.

検出器ユニット100は、X線検出部101、A/D変換基板102、制御基板103を有している。この検出器ユニット100は、DAS(Digital Aquistion System)ユニットとも呼ばれる。A/D変換基板102は、A/Dコンバータ200を複数搭載しており、このA/Dコンバータ200は、A/D変換素子201及びリードバック部202で構成されている。このA/Dコンバータ200が本発明における「A/D変換手段」にあたる。制御基板103は、A/D変換制御部104及び故障判定部105で構成されている。検出器ユニット100は、具体的には図2のように1つの制御基板103と複数のA/D変換基板102で構成されている。図2は本発明に係るX線CT装置における検出器ユニット100の構成を表す模式図である。そして、制御基板103は、検出器ユニット100に搭載されているすべてのA/D変換基板102の動作を制御するとともに、各A/D変換基板102の故障の検出を行う。検出器ユニット100はモード毎に動作が異なるため、以下では、モード毎に検出器ユニット100について説明する。   The detector unit 100 includes an X-ray detection unit 101, an A / D conversion board 102, and a control board 103. The detector unit 100 is also referred to as a DAS (Digital Acquisition System) unit. The A / D conversion board 102 includes a plurality of A / D converters 200, and the A / D converter 200 includes an A / D conversion element 201 and a readback unit 202. The A / D converter 200 corresponds to “A / D conversion means” in the present invention. The control board 103 includes an A / D conversion control unit 104 and a failure determination unit 105. Specifically, the detector unit 100 includes one control board 103 and a plurality of A / D conversion boards 102 as shown in FIG. FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of the detector unit 100 in the X-ray CT apparatus according to the present invention. The control board 103 controls the operation of all the A / D conversion boards 102 mounted on the detector unit 100 and detects a failure of each A / D conversion board 102. Since the operation of the detector unit 100 is different for each mode, the detector unit 100 will be described below for each mode.

(故障検知モードの場合)
A/D変換制御部104は、操作者によるユーザインタフェース004からのA/D変換基板102に搭載された各A/D変換素子201を動作させるためのゲイン(Gain)、積分時間、及び分解能という条件の入力を受ける。以下では、この条件をまとめて「設定条件」ということがある。この設定条件の入力は、本実施形態では実際には、操作者は対象部位、撮像時間、線量等を入力し、その入力に基づいて、A/D変換制御部104がゲイン、積分時間、及び分解能を算出することで行われている。そして、A/D変換制御部104は、A/D変換基板102に設定条件を設定するための制御信号を送信する。この制御基板103に含まれるA/D変換制御部104からの制御信号の送信が図2における矢印203で表わされる信号である。すなわち、1つの制御基板103からの制御命令は矢印203のように複数のA/D変換基板102に向けて順次送信される。このA/D変換制御部104によるA/D変換基板102上の各A/D変換素子201への設定条件の設定はイニシャライズと呼ばれる。イニシャライズとは、指定された設定条件で動作するようにA/D変換素子201を動作させるための制御である。さらに、A/D変換制御部104は、A/D変換基板102へ送信した制御命令と同じ設定条件を含む制御信号を故障判定部105へ出力する。このA/D変換制御部104が本発明における「A/D変換制御手段」にあたる。
(In failure detection mode)
The A / D conversion control unit 104 refers to gain (Gain), integration time, and resolution for operating each A / D conversion element 201 mounted on the A / D conversion board 102 from the user interface 004 by the operator. Receives input of conditions. Hereinafter, these conditions may be collectively referred to as “setting conditions”. In the present embodiment, the input of the setting condition is that the operator actually inputs the target part, imaging time, dose, etc., and based on the input, the A / D conversion control unit 104 determines the gain, integration time, and This is done by calculating the resolution. Then, the A / D conversion control unit 104 transmits a control signal for setting setting conditions to the A / D conversion board 102. Transmission of a control signal from the A / D conversion control unit 104 included in the control board 103 is a signal represented by an arrow 203 in FIG. That is, a control command from one control board 103 is sequentially transmitted to a plurality of A / D conversion boards 102 as indicated by an arrow 203. The setting of setting conditions for each A / D conversion element 201 on the A / D conversion board 102 by the A / D conversion control unit 104 is called initialization. Initialization is control for operating the A / D conversion element 201 to operate under specified setting conditions. Furthermore, the A / D conversion control unit 104 outputs a control signal including the same setting condition as the control command transmitted to the A / D conversion board 102 to the failure determination unit 105. The A / D conversion control unit 104 corresponds to “A / D conversion control means” in the present invention.

A/D変換基板102は、図2に示すように複数のA/Dコンバータ200で構成されている。そして、各A/Dコンバータ200は、A/D変換素子201及びリードバック部202で構成されている。さらに、A/Dコンバータ200は、メモリなどの記憶領域を有している。そして、A/Dコンバータ200は、故障検知モードにおいて出力するテストデータを予め記憶している。テストデータとしては、例えば「1,2,3,4,5」という連続した数字のデータ等の単純なデータである。また、1つのA/D変換基板102上に搭載されたA/Dコンバータ200は、図2に示すように全てがディジーチェーンで連結されている。すなわち、ディジーチェーンの最初のA/Dコンバータ200がA/D変換制御部104からの制御信号の入力を受けて、ディジーチェーンの次のA/Dコンバータ200に制御命令を出力することを順々に行っていき、ディジーチェーンの最後のA/Dコンバータ200が故障判定部105に制御命令を出力するように構成されている。   The A / D conversion board 102 includes a plurality of A / D converters 200 as shown in FIG. Each A / D converter 200 includes an A / D conversion element 201 and a readback unit 202. Furthermore, the A / D converter 200 has a storage area such as a memory. The A / D converter 200 stores test data output in the failure detection mode in advance. The test data is simple data such as continuous numeric data such as “1, 2, 3, 4, 5”. Further, the A / D converters 200 mounted on one A / D conversion board 102 are all connected by a daisy chain as shown in FIG. That is, the first A / D converter 200 in the daisy chain receives the control signal from the A / D conversion control unit 104 and sequentially outputs a control command to the next A / D converter 200 in the daisy chain. The A / D converter 200 at the end of the daisy chain is configured to output a control command to the failure determination unit 105.

前述のように、A/Dコンバータ200はA/D変換素子201及びリードバック部202で構成されている。A/D変換素子201は、A/D変換制御部104から設定条件を含む制御信号の入力を受ける。A/D変換素子201は、A/D変換制御部104から入力された設定条件に基づく、ゲイン、積分時間、及び分解能で動作する。この、A/D変換素子201が本発明における「A/D変換素子」にあたる。そして、リードバック部202は、A/D変換素子201が動作する条件である、ゲイン、積分時間、及び分解能を読み出す。そして、リードバック部202は、読みだした設定条件に自己が搭載されているA/Dコンバータ200に記憶されているテストデータを加えて、ディジーチェーンの次のA/Dコンバータ200へ出力する。そして、この出力をディジーチェーン上で順次繰り返した後、ディジーチェーンの最後のA/Dコンバータ200のリードバック部202が故障判定部105へ制御信号にテストデータを加えたデータを出力する。このリードバック部202が本発明における「リードバック部」にあたる。このA/D変換基板102に含まれるディジーチェーンの最後のA/Dコンバータ200からの出力が図2における矢印204で表わされる信号である。すなわち、検出器ユニット100上に複数あるA/D変換基板102の各A/D変換基板102から順番に1つの制御基板103に向けて矢印204のように信号が出力される。   As described above, the A / D converter 200 includes the A / D conversion element 201 and the read back unit 202. The A / D conversion element 201 receives a control signal including setting conditions from the A / D conversion control unit 104. The A / D conversion element 201 operates with gain, integration time, and resolution based on the setting conditions input from the A / D conversion control unit 104. The A / D conversion element 201 corresponds to the “A / D conversion element” in the present invention. Then, the read back unit 202 reads the gain, the integration time, and the resolution, which are conditions under which the A / D conversion element 201 operates. Then, the readback unit 202 adds the test data stored in the A / D converter 200 on which it is mounted to the read setting condition, and outputs the test data to the next A / D converter 200 in the daisy chain. Then, after sequentially repeating this output on the daisy chain, the read back unit 202 of the last A / D converter 200 in the daisy chain outputs data obtained by adding test data to the control signal to the failure determination unit 105. The read back portion 202 corresponds to the “read back portion” in the present invention. An output from the last A / D converter 200 of the daisy chain included in the A / D conversion board 102 is a signal represented by an arrow 204 in FIG. That is, a signal is output as indicated by an arrow 204 from each A / D conversion board 102 of the plurality of A / D conversion boards 102 on the detector unit 100 toward one control board 103 in order.

ここで、A/Dコンバータ200が正常の場合と故障している場合の出力について説明する。A/Dコンバータ200が正常に動作している場合には、制御信号に含まれる設定条件がそのまま設定されるため、入力された設定条件と同一の設定条件が出力されることになる。これに対し、A/Dコンバータ200が故障している場合には、制御信号に含まれる設定条件と異なる設定条件がA/D変換素子201に設定されてしまう場合がある、その場合は、入力された設定条件とは異なる設定条件が出力されることになる。また、テストデータとして前述の「1,2,3,4,5」というデータを使用する場合、A/Dコンバータ200が正常に動作していれば、リードバック部202からは「1,2,3,4,5」というデータが出力される。これに対し、A/Dコンバータ200が故障している場合には、本来のテストデータとは異なるデータが出力される。この異なるデータとは、例えば「1,2,3,5」というように途中のデータが欠落したようなデータなどを指す。さらに、A/Dコンバータ200が故障していて出力が行えない場合もある。この場合には設定条件及びテストデータが出力されないことが入力された設定条件及びテストデータとは異なるデータが出力されたことにあたる。   Here, the output when the A / D converter 200 is normal and when it fails is described. When the A / D converter 200 is operating normally, the setting condition included in the control signal is set as it is, so that the same setting condition as the input setting condition is output. On the other hand, when the A / D converter 200 is out of order, a setting condition different from the setting condition included in the control signal may be set in the A / D conversion element 201. A setting condition different from the set condition is output. Further, when the above-described data “1, 2, 3, 4, 5” is used as the test data, if the A / D converter 200 is operating normally, the read back unit 202 receives “1, 2, 2, Data of “3, 4, 5” is output. On the other hand, when the A / D converter 200 is out of order, data different from the original test data is output. The different data refers to data such as “1, 2, 3, 5” in which intermediate data is missing. Further, the A / D converter 200 may be out of order and cannot output. In this case, the fact that the setting conditions and test data are not output corresponds to the output of data different from the input setting conditions and test data.

故障判定部105は、メモリなどの記憶領域を有している。そして、故障判定部105は、自己の記憶領域にA/Dコンバータ200が予め記憶しているテストデータと同一のテストデータを予め記憶している。   The failure determination unit 105 has a storage area such as a memory. The failure determination unit 105 stores in advance the same test data as the test data stored in advance in the A / D converter 200 in its own storage area.

故障判定部105は、A/D変換基板102上のディジーチェーンの最後のA/Dコンバータ200から、該A/Dコンバータ200が設定したゲイン、積分時間、及び分解能、並びにテストデータの入力を受ける。さらに、故障判定部105は、A/D変換基板102に送信された設定条件を設定するための制御信号の入力をA/D変換制御部104から受信する。そして、故障判定部105は、A/Dコンバータ200から入力されたゲイン、積分時間、及び分解能と、A/D変換制御部104から入力された制御信号に含まれる設定条件のゲイン、積分時間、及び分解能とを比較する。A/Dコンバータ200から入力されたゲイン、積分時間、及び分解能と、A/D変換制御部104から入力された設定条件のゲイン、積分時間、及び分解能とが異なる場合には、故障判定部105は、その該A/Dコンバータ200が故障していると判断する。これは、A/Dコンバータ200が、受けた設定条件と異なる条件を自己に設定している場合には、該A/Dコンバータ200が故障していると判断できるからである。また、故障判定部105は、A/Dコンバータ200から入力されたテストデータと自己が記憶しているテストデータとを比較する。そして、A/Dコンバータ200から入力されたテストデータと自己が記憶しているテストデータとが異なる場合、故障判定部105は、該A/Dコンバータ200が故障していると判断する。例えば、テストデータを「1,2,3,4,5」という連続した数字とし、A/Dコンバータ200が故障している場合で、該A/Dコンバータ200から入力されたデータが「1,2,3,5」というように、データの欠落が発生している場合には、本来のテストデータと入力されたデータとが異なることになり、該A/Dコンバータ200が故障していると判定できる。この故障判定部105が本発明における「故障判定手段」にあたる。   The failure determination unit 105 receives input of gain, integration time, resolution, and test data set by the A / D converter 200 from the last A / D converter 200 in the daisy chain on the A / D conversion board 102. . Furthermore, the failure determination unit 105 receives an input of a control signal for setting the setting condition transmitted to the A / D conversion board 102 from the A / D conversion control unit 104. Then, the failure determination unit 105 includes a gain, an integration time, and a resolution input from the A / D converter 200, and a gain, an integration time, and a setting condition included in the control signal input from the A / D conversion control unit 104. And compare the resolution. When the gain, integration time, and resolution input from the A / D converter 200 are different from the gain, integration time, and resolution of the setting conditions input from the A / D conversion control unit 104, the failure determination unit 105 Determines that the A / D converter 200 has failed. This is because it can be determined that the A / D converter 200 has failed when the A / D converter 200 has set a condition different from the received setting condition. The failure determination unit 105 compares the test data input from the A / D converter 200 with the test data stored by itself. When the test data input from the A / D converter 200 is different from the test data stored by itself, the failure determination unit 105 determines that the A / D converter 200 has failed. For example, when the test data is a continuous number “1, 2, 3, 4, 5” and the A / D converter 200 is faulty, the data input from the A / D converter 200 is “1, When data is missing, such as “2, 3, 5”, the original test data is different from the input data, and the A / D converter 200 is faulty. Can be judged. This failure determination unit 105 corresponds to “failure determination means” in the present invention.

A/D変換制御部104及び故障判定部105は、上述の故障判定を検出器ユニット100に搭載されている全てのA/D変換基板102(例えば、12個のA/D変換基板102が搭載されている場合には、その12個のA/D変換基板102全て)に対し行う。   The A / D conversion control unit 104 and the failure determination unit 105 are equipped with all the A / D conversion boards 102 (for example, 12 A / D conversion boards 102 mounted on the detector unit 100). If so, all the 12 A / D conversion boards 102) are performed.

故障判定部105は、A/Dコンバータ200の故障を検知した場合、故障しているA/Dコンバータ200を備えているA/D変換基板102が故障しているという情報を後述する表示制御部003に送信する。ここで、本実施形態では、搭載されているA/Dコンバータ200が故障している場合にはA/D変換基板102を交換する必要があるため、故障しているA/D変換基板102の情報を出力している。ただし、故障判定部105は、いずれのA/Dコンバータ200が異なるテストデータを出力したかを判断可能であるので、どのA/Dコンバータ200が故障しているかの検知が可能である。したがって、故障判定部105が、故障しているA/Dコンバータ200の情報を出力する構成にしてもよい。   When the failure determination unit 105 detects a failure of the A / D converter 200, the failure control unit 105 displays information that the A / D conversion board 102 including the failed A / D converter 200 is broken, which will be described later. Send to 003. Here, in the present embodiment, since the A / D conversion board 102 needs to be replaced when the mounted A / D converter 200 is faulty, the faulty A / D conversion board 102 has to be replaced. Information is being output. However, since the failure determination unit 105 can determine which A / D converter 200 has output different test data, it can detect which A / D converter 200 has failed. Therefore, the failure determination unit 105 may be configured to output information on the failed A / D converter 200.

また、以上の説明では、故障判定部105は、表示部005に表示させるため表示制御部003に対し故障しているA/D変換基板102の情報を出力しているが、これは故障が発生していることを認識できるようにする通知であれば他への通知でもよい。たとえば、無線通信などを利用して遠隔地にあるサービスセンタ等への故障したA/D変換基板102の情報の出力を行ってもよい。これにより、サービスセンタにいるX線CT装置の修理を行う技術者に故障情報が直接伝えられるため、より迅速にA/D変換基板102の故障に対応することが可能となる。   In the above description, the failure determination unit 105 outputs information on the failed A / D conversion board 102 to the display control unit 003 for display on the display unit 005. Any other notification may be used as long as the notification can be recognized. For example, information on the failed A / D conversion board 102 may be output to a service center or the like at a remote location using wireless communication or the like. As a result, the failure information is directly transmitted to a technician who repairs the X-ray CT apparatus in the service center, so that it is possible to deal with the failure of the A / D conversion board 102 more quickly.

(画像生成モードの場合)
X線検出部101は、シンチレータ及びフォトダイオードで構成されている。シンチレータは、被検体を通過したX線を吸収して蛍光を発生する。フォトダイオードは、シンチレータで発生した蛍光を受信して電荷に変換する。X線検出部101は生成した電荷をA/D変換基板102へ出力する。
(In image generation mode)
The X-ray detection unit 101 includes a scintillator and a photodiode. The scintillator absorbs X-rays that have passed through the subject and generates fluorescence. The photodiode receives the fluorescence generated by the scintillator and converts it into electric charge. The X-ray detection unit 101 outputs the generated charge to the A / D conversion substrate 102.

A/D変換制御部104は、操作者により入力部006から入力された、ゲイン、積分時間、及び分解能を含む設定条件をA/D変換基板102へ出力する。   The A / D conversion control unit 104 outputs the setting conditions including the gain, integration time, and resolution input from the input unit 006 by the operator to the A / D conversion board 102.

A/D変換基板102に搭載されたA/Dコンバータ200に含まれるA/D変換素子201は、A/D変換制御部104から入力された制御信号を受けて、該制御信号に含まれる設定条件によって動作する。A/D変換基板102は、X線検出部101から電荷の入力を受ける。A/D変換素子201は、入力されたアナログデータである電荷に対し、設定されたゲイン、積分時間、及び分解能を基に処理を行い、デジタルデータに変換する。A/D変換素子201は、生成したデジタルデータを画像生成部002へ出力する。   The A / D conversion element 201 included in the A / D converter 200 mounted on the A / D conversion board 102 receives the control signal input from the A / D conversion control unit 104, and is included in the control signal. Operates according to conditions. The A / D conversion board 102 receives charge input from the X-ray detection unit 101. The A / D conversion element 201 performs processing on the input electric charge, which is analog data, based on the set gain, integration time, and resolution, and converts it into digital data. The A / D conversion element 201 outputs the generated digital data to the image generation unit 002.

次に、検出器ユニット100以外の機能部について説明する。   Next, functional units other than the detector unit 100 will be described.

X線照射部001は、インバータ、ターゲット、高圧トランス、及びフィラメントなどを有する。X線照射部001は、フィラメントとターゲットとの間にインバータ及び高圧トランスで発生させた高電圧をかけ、フィラメントから飛び出した電子をターゲットに衝突させることでX線を発生させる。そして、X線照射部001は、発生させたX線を被検体に向けて照射する。このX線照射部001が本発明における「X線照射手段」にあたる。   The X-ray irradiation unit 001 includes an inverter, a target, a high voltage transformer, a filament, and the like. The X-ray irradiation unit 001 generates X-rays by applying a high voltage generated by an inverter and a high-voltage transformer between the filament and the target, and causing electrons jumping out of the filament to collide with the target. Then, the X-ray irradiation unit 001 irradiates the subject with the generated X-rays. This X-ray irradiation unit 001 corresponds to the “X-ray irradiation means” in the present invention.

画像生成部002は、A/D変換基板102から入力されたデータに対して、感度補正やX線強度補正などを施す。そして、画像生成部002は、前述の処理を施したデータを再構成し画像データを生成する。さらに、画像生成部002は、入力部006にて入力された操作者の指示に従って、画像データに対して様々な画像処理を施す。たとえば、画像生成部002は、ボリュームレンダリング処理やMPR処理などを施して3次元画像データやMPR画像データ(任意断面の画像データ)を生成して表示制御部003へ出力する。この画像生成部002が本発明における「画像生成手段」にあたる。   The image generation unit 002 performs sensitivity correction, X-ray intensity correction, and the like on the data input from the A / D conversion board 102. Then, the image generation unit 002 reconstructs the data that has been subjected to the above-described processing, and generates image data. Further, the image generation unit 002 performs various image processing on the image data in accordance with the operator's instruction input from the input unit 006. For example, the image generation unit 002 performs volume rendering processing, MPR processing, or the like to generate three-dimensional image data or MPR image data (arbitrary slice image data) and outputs the generated data to the display control unit 003. This image generation unit 002 corresponds to the “image generation means” in the present invention.

故障検知モードでは、表示制御部003は、A/D変換基板102に故障が発生している場合には、故障判定部105から故障が発生しているA/D変換基板102の情報の入力を受ける。そして、表示制御部003は、入力された故障が発生しているA/D変換基板102の情報を表示部005に表示させる。   In the failure detection mode, when a failure has occurred in the A / D conversion board 102, the display control unit 003 inputs information on the A / D conversion board 102 in which the failure has occurred from the failure determination unit 105. receive. Then, the display control unit 003 causes the display unit 005 to display the information of the input A / D conversion board 102 in which the failure has occurred.

画像生成モードでは、表示制御部003は、画像生成部002から画像データの入力を受ける。そして、表示制御部003は、入力された画像データを基に表示部005にX線CT画像を表示させる。   In the image generation mode, the display control unit 003 receives image data input from the image generation unit 002. Then, the display control unit 003 displays an X-ray CT image on the display unit 005 based on the input image data.

モード切替部007は、X線診断装置に電源が入れられると、まず故障検知モードに切り替える。そして、故障判定部105により故障が検出されない場合、モード切替部007は、画像生成モードに切り替える。さらに、画像生成モードでの動作中にA/Dコンバータ200の設定条件を変更する場合(例えば、治療計画において所定の範囲を撮影後、A/Dコンバータ200の設定条件を変更してさらに他の範囲の撮影を続行するとされている場合など。)、統括制御部008から設定条件変更の命令を受けて、モード切替部007は、故障検知モードに切り替える。そして、故障判定部105において全てのA/Dコンバータ200で故障が検出されない場合に、画像生成モードに切り替える。   When the X-ray diagnostic apparatus is turned on, the mode switching unit 007 first switches to the failure detection mode. When no failure is detected by the failure determination unit 105, the mode switching unit 007 switches to the image generation mode. Further, when the setting condition of the A / D converter 200 is changed during the operation in the image generation mode (for example, after photographing a predetermined range in the treatment plan, the setting condition of the A / D converter 200 is changed to further change the setting condition) The mode switching unit 007 switches to the failure detection mode in response to an instruction to change the setting condition from the overall control unit 008. Then, when no failure is detected in all the A / D converters 200 in the failure determination unit 105, the mode is switched to the image generation mode.

統括制御部008は、各機能部の動作のタイミングの制御や、各機能部間の情報の受け渡しなどを行っている。   The overall control unit 008 controls the operation timing of each functional unit and exchanges information between the functional units.

さらに、統括制御部008は、メモリやハードディスクなどの記憶領域を有している。そして、統括制御部008は、操作者により入力部006から入力された治療計画を予め記憶している。また、統括制御部008は、被検体に向けたX線の照射の位置情報を取得している。そして、統括制御部008は、記憶している治療計画を参照し、設定条件を変更する位置にX線の照射位置が達すると、モード切替部007に設定条件変更の命令を送信する。   Furthermore, the overall control unit 008 has a storage area such as a memory or a hard disk. The overall control unit 008 stores in advance the treatment plan input from the input unit 006 by the operator. Further, the overall control unit 008 acquires position information of X-ray irradiation toward the subject. The overall control unit 008 refers to the stored treatment plan, and transmits an instruction to change the setting condition to the mode switching unit 007 when the X-ray irradiation position reaches the position where the setting condition is changed.

また、故障が検知された場合には、統括制御部008は、すべてのA/Dコンバータ200の故障判定が終了した後に、X線CT装置の動作を停止させる。   When a failure is detected, the overall control unit 008 stops the operation of the X-ray CT apparatus after the failure determination of all the A / D converters 200 is completed.

次に、図3を参照して、本実施形態に係るX線CT装置における故障検知及び画像形成の動作の流れを説明する。ここで、図3は本実施形態に係るX線CT装置における故障検知及び画像形成のフローチャートの図である。   Next, with reference to FIG. 3, the flow of operation of failure detection and image formation in the X-ray CT apparatus according to the present embodiment will be described. Here, FIG. 3 is a flowchart of failure detection and image formation in the X-ray CT apparatus according to the present embodiment.

ステップS001:操作者は、X線CT装置の電源を投入する。   Step S001: The operator turns on the X-ray CT apparatus.

ステップS002:モード切替部007は、X線CT装置を故障検知モードに切り替える。   Step S002: The mode switching unit 007 switches the X-ray CT apparatus to the failure detection mode.

ステップS003:A/D変換制御部104は、入力されたゲイン、積分時間、及び分解能を含む設定条件をA/D変換基板102へ出力し、A/Dコンバータ200のA/D変換素子201を該設定条件で動作させる。このとき、A/D変換制御部104は、故障判定部105へも入力された設定条件を出力する。   Step S003: The A / D conversion control unit 104 outputs the set conditions including the input gain, integration time, and resolution to the A / D conversion board 102, and the A / D conversion element 201 of the A / D converter 200 is output. Operate under the set conditions. At this time, the A / D conversion control unit 104 outputs the setting condition input also to the failure determination unit 105.

ステップS004:A/Dコンバータ200のリードバック部202は、A/D変換素子201が動作する条件であるゲイン、積分時間、及び分解能を含む設定条件と共に、テストデータを、ディジーチェーンの次のA/Dコンバータ200に出力し、ディジーチェーンの最後のA/Dコンバータ200は故障判定部105へ出力する。   Step S004: The read-back unit 202 of the A / D converter 200 sends test data to the next A in the daisy chain together with setting conditions including gain, integration time, and resolution, which are conditions under which the A / D conversion element 201 operates. Output to the / D converter 200, and the last A / D converter 200 in the daisy chain outputs to the failure determination unit 105.

ステップS005:故障判定部105は、A/D変換制御部104から入力された設定条件とA/Dコンバータ200から入力された設定条件とを比較し、且つ予め記憶しているテストデータとA/Dコンバータ200から入力されたテストデータとを比較する。   Step S005: The failure determination unit 105 compares the setting condition input from the A / D conversion control unit 104 with the setting condition input from the A / D converter 200, and compares the test data stored in advance with the A / D The test data input from the D converter 200 is compared.

ステップS006:故障判定部105は、A/D変換制御部104から入力された設定条件とA/Dコンバータ200から入力された設定条件とが一致し、且つ予め記憶しているテストデータとA/Dコンバータ200から入力されたテストデータとが一致したか否かを判断する。何れか一方のデータもしくは両方のデータが一致していない場合には、該A/Dコンバータ200が搭載されているA/D変換基板102が故障していると判断し、ステップS007に進む。両方のデータとも一致している場合には、A/D変換基板102の故障がないと判断し、ステップS008に進む。   Step S006: The failure determination unit 105 matches the setting condition input from the A / D conversion control unit 104 with the setting condition input from the A / D converter 200, and the test data stored in advance and the A / D It is determined whether the test data input from D converter 200 matches. If one or both of the data do not match, it is determined that the A / D conversion board 102 on which the A / D converter 200 is mounted has failed, and the process proceeds to step S007. If both data match, it is determined that there is no failure in the A / D conversion board 102, and the process proceeds to step S008.

ステップS007:故障判定部105は、故障しているA/D変換基板102の情報を表示制御部003へ出力し、表示制御部003は、故障しているA/D変換基板102の情報を表示部005に表示させる。   Step S007: The failure determination unit 105 outputs information on the failed A / D conversion board 102 to the display control unit 003, and the display control unit 003 displays information on the failed A / D conversion board 102. Displayed on the part 005.

ステップS008:制御基板103は、全てのA/D変換基板102のチェックを終えたか否かを判断する。終わっていない場合には、ステップS003に戻る。終わっている場合には、ステップS009に進む。   Step S008: The control board 103 determines whether or not all the A / D conversion boards 102 have been checked. If not, the process returns to step S003. If completed, the process proceeds to step S009.

ステップS009:統括制御部008は、いずれかのA/D変換基板102に故障が発生しているか否かを判断する。故障が発生している場合には画像生成を終了する。故障が発生していない場合には、ステップS010に進む。   Step S009: The overall control unit 008 determines whether a failure has occurred in any of the A / D conversion boards 102. If a failure has occurred, the image generation is terminated. If no failure has occurred, the process proceeds to step S010.

ステップS010:モード切替部007は、X線CT装置のモードを画像生成モードに切り替える。   Step S010: The mode switching unit 007 switches the mode of the X-ray CT apparatus to the image generation mode.

ステップS011:X線照射部001は、被検体に向けてX線を照射する。   Step S011: The X-ray irradiation unit 001 emits X-rays toward the subject.

ステップS012:検出器ユニット100は、被検体を透過したX線を検出し、ゲイン、積分時間、及び分解能といった設定条件に基づいてデジタルデータに変換し、画像生成部002へ出力する。   Step S012: The detector unit 100 detects X-rays transmitted through the subject, converts them into digital data based on setting conditions such as gain, integration time, and resolution, and outputs them to the image generation unit 002.

ステップS013:画像生成部002は、検出器ユニット100からデジタルデータを取得しX線CT画像のデータを生成し、表示制御部003へ生成したX線CT画像のデータを出力する。   Step S013: The image generation unit 002 acquires digital data from the detector unit 100, generates X-ray CT image data, and outputs the generated X-ray CT image data to the display control unit 003.

ステップS014:表示制御部003は、表示部005にX線CT画像を表示させる。   Step S014: The display control unit 003 displays an X-ray CT image on the display unit 005.

ステップS015:統括制御部008は、予め操作者から入力され記憶している治療計画に基づき、撮像が終了したか否かを判断する。撮像が終了した場合には、画像生成を終了する。撮像が終了していない場合には、ステップS016へ進む、   Step S015: The overall control unit 008 determines whether or not imaging has been completed based on a treatment plan previously input from the operator and stored. When the imaging is finished, the image generation is finished. If imaging has not ended, the process proceeds to step S016.

ステップS016:統括制御部008は、予め操作者から入力され記憶している治療計画に基づき、A/Dコンバータ200の設定条件の変更を行うか否かを判断する。A/Dコンバータ200の設定条件の変更を行う場合には、ステップS002へ戻る。A/Dコンバータ200の設定条件の変更を行わない場合には、ステップS011へ戻る。   Step S016: The overall control unit 008 determines whether or not to change the setting condition of the A / D converter 200 based on the treatment plan previously input and stored by the operator. When changing the setting conditions of the A / D converter 200, the process returns to step S002. If the setting conditions of the A / D converter 200 are not changed, the process returns to step S011.

以上で説明したように、本実施形態に係るX線CT装置は、A/Dコンバータに対し設定条件を設定したときに、A/Dコンバータから設定した設定条件及びテストデータの出力を受け、この設定条件及びテストデータと、A/D変換制御部が送信した設定条件及び予め記憶しているテストデータとを比較して、故障を判定する構成である。これにより、実際に撮像を行わなくてもA/Dコンバータの故障を検知することができるので、迅速かつ容易にA/Dコンバータの故障を検知することが可能となる。また、被検体に対する不要被曝を削減することが可能となる。   As described above, the X-ray CT apparatus according to the present embodiment receives the setting conditions and test data output from the A / D converter when the setting conditions are set for the A / D converter. In this configuration, the failure is determined by comparing the setting condition and test data with the setting condition and test data stored in advance transmitted by the A / D conversion control unit. As a result, it is possible to detect a failure of the A / D converter without actually performing imaging, so it is possible to detect a failure of the A / D converter quickly and easily. In addition, unnecessary exposure to the subject can be reduced.

〔第2の実施形態〕
以下、この発明の第2の実施形態に係るX線CT装置について説明する。本実施形態に係るX線CT装置は常にA/Dコンバータの故障を監視する構成であることが第1の実施形態と異なるものである。本実施形態に係るX線CT装置の機能構成も図1のブロックで表わされる。以下の説明では、第1の実施形態と同一の符号を付された機能部は特に説明のない限り同じ機能を有するものとする。
[Second Embodiment]
The X-ray CT apparatus according to the second embodiment of the present invention will be described below. The X-ray CT apparatus according to the present embodiment is different from the first embodiment in that the X-ray CT apparatus is configured to constantly monitor the failure of the A / D converter. The functional configuration of the X-ray CT apparatus according to the present embodiment is also represented by the block in FIG. In the following description, functional units having the same reference numerals as those in the first embodiment are assumed to have the same functions unless otherwise specified.

本実施形態に係る、X線CT装置は常に電源が投入されているものとする。   It is assumed that the X-ray CT apparatus according to this embodiment is always turned on.

A/D変換制御部104は、内部にタイマーを有している。さらに、A/D変換制御部104は、予めA/Dコンバータ200の故障をチェックするための時間間隔を記憶している。電源が入っている状態で、操作者による入力部006からのゲイン、積分時間、及び分解能を含む設定条件の入力がされていない時には、A/D変換制御部104は、記憶している時間感覚毎に、A/D変換基板102に対し、設定条件が入力されていないという制御命令、言い換えれば設定条件の設定を行わないという制御命令を送信する。具体的には、設定条件の設定を行わないという命令は、すべての設定をキャンセルする設定条件を設定すればよい。   The A / D conversion control unit 104 has a timer inside. Furthermore, the A / D conversion control unit 104 stores a time interval for checking a failure of the A / D converter 200 in advance. When the operator does not input setting conditions including gain, integration time, and resolution from the input unit 006 with the power on, the A / D conversion control unit 104 stores the sense of time stored therein. Every time, a control command indicating that the setting condition is not input, that is, a control command not setting the setting condition is transmitted to the A / D conversion board 102. Specifically, an instruction not to set a setting condition may set a setting condition for canceling all the settings.

A/D変換基板102に搭載されたA/Dコンバータ200は、設定条件が入力されていないという制御命令を受信する。そして、受信した制御命令により、A/Dコンバータ200のA/D変換素子201に対し、設定条件の設定を行わないという設定、すなわち全ての設定条件をキャンセルする設定条件の設定が行われる。A/Dコンバータ200のリードバック部202は、A/D変換素子201に設定された設定条件(ここでは、すべての設定をキャンセルするという設定条件)を読み出し、該読みだした設定条件及びテストデータを順次ディジーチェーンの次のA/Dコンバータ200に出力し、さらに、ディジーチェーンの最後のA/Dコンバータ200は故障判定部105へ出力する。このとき、正しくA/Dコンバータ200が動作していれば、すべての設定条件をキャンセルするという設定条件が出力されることになる。   The A / D converter 200 mounted on the A / D conversion board 102 receives a control command that the setting condition is not input. Then, in accordance with the received control command, setting that the setting condition is not set for the A / D conversion element 201 of the A / D converter 200, that is, setting of the setting condition that cancels all the setting conditions is performed. The read back unit 202 of the A / D converter 200 reads out the setting conditions set in the A / D conversion element 201 (here, the setting conditions for canceling all settings), and the read setting conditions and test data. Are sequentially output to the next A / D converter 200 in the daisy chain, and the last A / D converter 200 in the daisy chain is further output to the failure determination unit 105. At this time, if the A / D converter 200 is operating correctly, a setting condition for canceling all the setting conditions is output.

故障判定部105は、A/D変換制御部104からすべての設定をキャンセルする設定条件の入力を受ける。さらに、故障判定部105は、設定した設定条件及びテストデータの入力をA/Dコンバータ200から受ける。故障判定部105は、すべての設定をキャンセルする設定条件とA/Dコンバータ200から入力された設定した設定条件と全ての設定をキャンセルするという設定条件を比較する。A/Dコンバータ200から入力された設定した設定条件と全ての設定をキャンセルするという設定条件が不一致の場合には、そのA/Dコンバータ200が故障していると判断する。また、故障判定部105は、A/Dコンバータ200から入力されたテストデータと予め記憶しているテストデータとを比較する。故障判定部105は、A/Dコンバータ200から入力されたテストデータと予め記憶しているテストデータとが不一致の場合は、そのA/Dコンバータ200が故障していると判断する。   The failure determination unit 105 receives an input of setting conditions for canceling all settings from the A / D conversion control unit 104. Further, the failure determination unit 105 receives the set setting conditions and test data input from the A / D converter 200. The failure determination unit 105 compares the setting condition for canceling all the settings with the setting condition set by the A / D converter 200 and the setting condition for canceling all the settings. If the set setting condition input from the A / D converter 200 and the setting condition for canceling all the settings do not match, it is determined that the A / D converter 200 has failed. Further, failure determination unit 105 compares test data input from A / D converter 200 with test data stored in advance. The failure determination unit 105 determines that the A / D converter 200 has failed when the test data input from the A / D converter 200 and the test data stored in advance do not match.

ここで、以上の説明では、設定条件が入力されていない状態でのA/D変換基板102、A/D変換制御部104、及び故障判定部105の動作を説明したが、それら各機能部は、操作者による入力部006からの設定条件の入力が行われた場合は、第1の実施形態と同様の動作を行う。   Here, in the above description, the operations of the A / D conversion board 102, the A / D conversion control unit 104, and the failure determination unit 105 in a state where the setting condition is not input have been described. When the operator inputs the setting condition from the input unit 006, the same operation as that of the first embodiment is performed.

以上で説明したように、本実施形態に係るX線CT装置は、操作者からの設定条件の入力が行われない状態でも、A/D変換基板の故障の検知を行う構成である。これにより、実際に撮像を行う時点にならなくてもA/D変換基板の故障の検知を行うことができ、より迅速にA/D変換基板の故障に対処することが可能となるとともに、画像診断の効率をより向上させることが可能となる。   As described above, the X-ray CT apparatus according to the present embodiment is configured to detect a failure of the A / D conversion board even in a state where the setting condition is not input from the operator. As a result, it is possible to detect the failure of the A / D conversion board even when it is not actually time to take an image, and it is possible to deal with the failure of the A / D conversion board more quickly, and to It is possible to further improve the efficiency of diagnosis.

001 X線照射部
002 画像生成部
003 表示制御部
004 ユーザインタフェース
005 表示部
006 入力部
007 モード切替部
008 統括制御部
100 検出器ユニット
101 X線検出部
102 A/D変換基板
103 制御基板
104 A/D変換制御部
105 故障判定部
200 A/Dコンバータ
201 A/D変換素子
202 リードバック部
001 X-ray irradiation unit 002 Image generation unit 003 Display control unit 004 User interface 005 Display unit 006 Input unit 007 Mode switching unit 008 Overall control unit 100 Detector unit 101 X-ray detection unit 102 A / D conversion board 103 Control board 104 A / D conversion control unit 105 Failure determination unit 200 A / D converter 201 A / D conversion element 202 Readback unit

Claims (4)

X線を照射するX線照射手段と、
X線を検知して電荷に変換するX線検出手段と、
設定された設定条件を用いてアナログデータからデジタルデータに変換するA/D変換手段を有するA/D変換基板と、
前記A/D変換手段に前記設定条件を設定するための制御信号を送信するA/D変換制御手段と、
前記A/D変換手段から出力されたデータに基づいて故障判定を行う故障判定手段と、
前記デジタルデータに変換されたデータを基にX線CT画像を生成する画像生成手段と、を備えるX線CT装置であって、
画像生成モードと故障検知モードの2つの動作モードを有し、
前記故障検知モードでは、
前記A/D変換制御手段は、前記A/D変換手段に前記設定条件を設定し、かつ前記故障判定手段に当該設定条件を入力し、
前記A/D変換手段は、予めテストデータを記憶しており、前記A/D変換制御手段により設定された前記設定条件と前記予め記憶しているテストデータとが読み出されて、前記故障判定手段に入力され、
前記故障判定手段は、前記A/D変換制御手段から入力された設定条件及び予め記憶していた判定用のテストデータと、前記A/D変換手段から入力された設定条件及びテストデータと、を比較して前記A/D変換基板の故障を判定する、ことを特徴とするX線CT装置。
X-ray irradiation means for irradiating X-rays;
X-ray detection means for detecting X-rays and converting them into electric charges;
An A / D conversion board having A / D conversion means for converting analog data to digital data using the set conditions;
A / D conversion control means for transmitting a control signal for setting the setting condition to the A / D conversion means;
Failure determination means for performing failure determination based on data output from the A / D conversion means;
An X-ray CT apparatus comprising image generation means for generating an X-ray CT image based on the data converted into the digital data,
It has two operation modes, image generation mode and failure detection mode,
In the failure detection mode,
The A / D conversion control means sets the setting condition to the A / D conversion means, and inputs the setting condition to the failure determination means,
The A / D conversion means stores test data in advance, the setting condition set by the A / D conversion control means and the test data stored in advance are read out, and the failure determination Entered into the means,
The failure determination means includes setting conditions input from the A / D conversion control means and test data for determination stored in advance, and setting conditions and test data input from the A / D conversion means. An X-ray CT apparatus characterized in that a failure of the A / D conversion board is determined by comparison.
前記A/D変換手段は、A/D変換基板上に複数配置され、
前記制御信号を受けて該制御信号に含まれる設定条件に従って動作するA/D変換素子と、
該A/D変換素子に設定されている設定条件を読み出し、該読みだした設定条件とともに予め記憶しているテストデータを出力するリードバック部とを備え、
さらに、前記A/D変換基板上で前記A/D変換素子はディジーチェーンで連結され、前記リードバック部は読みだした設定条件及び前記テストデータを前記ディジーチェーンにおける次の前記A/D変換手段へ出力し、前記ディジーチェーンの最後の前記A/D変換手段は、前記故障判定手段へ読みだした設定条件及び前記テストデータを出力する、
ことを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
A plurality of the A / D conversion means are arranged on an A / D conversion board,
An A / D conversion element that receives the control signal and operates according to a setting condition included in the control signal;
A read-back unit that reads the setting conditions set in the A / D conversion element and outputs test data stored in advance together with the read setting conditions;
Further, the A / D conversion elements are connected in a daisy chain on the A / D conversion board, and the read back unit reads the set conditions and the test data that are read out next in the daisy chain. The A / D conversion means at the end of the daisy chain outputs the read setting condition and the test data to the failure determination means,
The X-ray CT apparatus according to claim 1.
前記A/D変換基板は複数配置され、
前記故障検知モードでは、
前記A/D変換制御手段は、各前記A/D変換基板に対し順次制御信号を送信し、
前記故障判定手段は、各前記A/D変換基板から順次データを受けて、各A/D変換基板の故障を順次判定していく、
ことを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。
A plurality of the A / D conversion substrates are arranged,
In the failure detection mode,
The A / D conversion control means sequentially transmits a control signal to each of the A / D conversion boards,
The failure determination means sequentially receives data from each of the A / D conversion boards and sequentially determines a failure of each A / D conversion board.
The X-ray CT apparatus according to claim 2.
前記A/D変換手段はシリアル信号で制御可能であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一つに記載のX線CT装置。   4. The X-ray CT apparatus according to claim 1, wherein the A / D conversion means can be controlled by a serial signal.
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