JP2014004812A - カッティングツール及びこれを用いたスクライブ方法並びにスクライブ装置 - Google Patents

カッティングツール及びこれを用いたスクライブ方法並びにスクライブ装置 Download PDF

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智貴 中垣
Yoshiyuki Asai
義之 浅井
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Abstract

【課題】硬度が高い脆性材料基板にスクライブラインを形成するためのカッティングツール及びこれを用いたスクライブ方法並びにスクライブ装置を提供する。
【解決手段】本発明のカッティングツール10Aは、柱状の支持部11aと、その一方側の先端に設けられたカッティングポイント12aとを有し、このカッティングポイント12aは、円錐形状であって、先端が柱状の支持部11aの中心軸と一致するように柱状の支持部11aの一方側の端部に形成されている。このカッティングツール10Aは、その中心軸と脆性材料基板17との間のなす角を鋭角の第1の所定角度θに保ってスクライブラインの形成を行い、予め定めた長さのスクライブラインの形成後又は予め定めた回数のスクライブラインの形成後に、カッティングツール10Aをカッティングツールの中心軸の回りに予め定めた第2の所定角度回動させてスクライブを行う。
【選択図】図2

Description

本発明は、ガラス基板だけでなく、シリコン基板、化合物半導体基板、サファイア基板、石英基板、セラミック基板等の硬度が高い脆性材料基板にスクライブラインを形成するための長寿命のカッティングツール及びこれを用いたスクライブ方法並びにスクライブ装置に関する。
従来、液晶表示パネルや有機エレクトロルミネッセンス(EL)パネル等のフラットディスプレイパネル、太陽電池等の製造工程では、ガラス基板等の脆性材料基板のスクライブ工程が設けられている。また、半導体素子の製造工程では、シリコン基板や化合物半導体基板上に個々の素子や半導体回路のパターンを形成後、個別の素子や半導体回路に分断するためのスクライブ工程が設けられている。さらに、SOI(Silicon on Insulator)基板においては、石英基板やサファイヤ基板等の表面に各種半導体回路を形成した後、個別の単位基板に分断するためのスクライブ工程が設けられている。これらのスクライブ工程では、通常、大きいサイズのマザー基板の表面にスクライブラインを形成し、次いで形成されたスクライブラインに沿って基板をブレイクすることにより、所定の寸法に分断することが行われている。
これらのスクライブ工程で使用されるカッティングツールとしては、スクライビングホイールやスクライビングカッターが知られている。スクライビングホイールとしては、例えば図5及び図6に示したようなノーマルホイール(下記特許文献1参照)ないし高浸透ホイール(下記特許文献2参照)が多く用いられている。なお、図5Aはノーマルホイール及び高浸透ホイールに共通するその回転軸に直交する方向から見た正面図であり、図5Bはその側面図である。また、図6Aはノーマルホイールの図5BのVI部分の拡大図であり、図6Bは高浸透ホイールの図5BのVI部分の拡大図である。
図5及び図6に示すように、ノーマルホイール50A及び高浸透ホイール50Bは、共に回転軸51を共有する二つの円錐台52の底部が交わって円周稜線53が形成された外周縁部54を有している。円周稜線53は、軸心から半径方向外方に向かって研削加工が施されることによって形成され、研削加工が施された外周縁部54の表面には研削条痕が残っている。外周縁部54は、収束角度(α)を有するように形成されている。ノーマルホイール50A及び高浸透ホイール50Bは、ディスク状のホイールであって、ディスクの中心に軸支するための図示しないピンが貫通される軸孔57が形成されている。
一方、高浸透ホイール50Bには、図6Bに示したように、円周稜線53に沿って円周方向に形成された複数の切り欠き55及び突起56を有している。それに対し、ノーマルホイール50Aは、図6Aに示したように、目視できるような切り欠きや突起は形成されていない。また、ノーマルホイール50A及び高浸透ホイール50Bの材質としては、焼結ダイヤモンド製、超硬合金製、セラミックス製あるいはサーメット製のものが用いられている。
これらのスクライビングホイールは、脆性材料基板の材質や厚み等の諸条件に見合った荷重を負荷しながら、脆性材料基板の表面上を転動させてスクライブラインを形成し、脆性材料基板に所定の力を負荷することによって脆性材料基板をスクライブラインに沿ってブレイクすることにより、個々のパネル、半導体素子ないし半導体基板を製造するものである。
また、従来のスクライビングカッターとしては、先端にダイヤモンドや超硬合金製のチップを埋め込んだガラス切断用の手動スクライブ工具の例だけでなく、例えば下記特許文献3ないし4に開示されているように、円柱状ないし角柱状の支持部の先端にダイヤモンドを加工することにより所定のスクライブポイントが形成されるようにしたスクライビングカッターが知られている。
下記特許文献3に開示されているスクライビングカッターは、図7に示したように、ダイヤモンド製スクライビングカッター60の先端の角錐の稜線61を、ダイヤモンド結晶の111面で構成し、この稜線61上にスクライブポイント62を形成したものである。なお、図7A〜図7Cは、下記特許文献3に開示されているスクライビングカッターによるスクライブ中のスクライブポイント周辺の拡大模式図である。また、図7A〜図7Cにおいては、β1>β2>β3となっている。
そして、このスクライビングカッター60では、図7Aに示した被スクライブ部材63の表面とこの稜線61とのなす角β1を、スクライブポイント62が摩耗するのに応じて、図7B及び図7Cに示したように、β2、β3と順次小さくなるように変化させることにより、その都度、稜線61上に新しいスクライブポイント62が発生するようにしている。これにより、スクライブポイントが摩耗しても新しいスクライブポイントが形成されるので、寿命が長くなるという利点を有している。
また、下記特許文献4に開示されているスクライビングカッター70は、図8に示したように、多角形状の支持部(シャンク部)71の先端に設けられたポイント部72を加工し、支持部71の隣り合う面73の交線に対応する複数の稜線74と支持部71の軸Cと垂直な平面である先端のポイント形成面75との交点にそれぞれカッティングポイント76を複数(ここでは3個)形成したものである。なお、図8Aは下記特許文献4に開示されているスクライビングカッターの先端を支持部の軸方向から見た平面図であり、図8Bは部分側面図である。
このスクライビングカッター70によれば、支持部71の隣り合う面73の位置に基いてスクライビングカッター70の位置合わせをすることにより、一つのカッティングポイント76が摩耗しても、容易に他の所定のカッティングポイント76に対応する稜線74の延在方向を被スクライブ方向とを正確にかつ容易に合わせることができ、長寿命のスクライビングカッター70が得られるという利点を有している。
特開平06−056541号公報 特許第3074143号公報 特開2003−183040号公報 特開2005−079526号公報
上記特許文献1及び2に開示されているスクライビングホイールによれば、ガラス基板等の脆性材料基板に対して良好にスクライブラインを形成することができ、特に上記特許文献2に開示されている高浸透ホイールによれば、垂直クラックの浸透効果が大きいため、ガラス基板の厚さが薄い場合にはブレイク工程を省略することができるという優れた効果を奏する。しかしながら、上記特許文献1及び2に開示されているスクライビングホイールは、シリコン基板、化合物半導体基板、サファイア基板、石英基板、セラミック基板等のガラス基板よりも硬度が高い脆性材料基板に対して適用すると、稜線部の摩耗が激しく、寿命が短いという課題が存在していた。特に上記特許文献2に開示されている高浸透ホイールによれば、切り欠きと突起との境界部の摩耗が大きいので、急速に初期のスクライブ性能が低下してしまう。
また、上記特許文献3及び4に開示されているスクライビングカッターにおいては、所定のカッティングポイントが摩耗しても、スクライビングカッターと被スクライブ基板の表面との間の角度を変えることにより(上記特許文献3参照)、あるいは、スクライビングカッターを予め定めた所定角度回転させる(上記特許文献4参照)ことにより、新しいカッティングポイントを用いることができるという優れた効果を奏する。しかしながら、上記特許文献3及び4に開示されているスクライビングカッターによればカッティングポイントの形状が複雑であるため、カッティングポイントの形成が容易ではなく、しかも、高価となるという課題が存在していた。また、特定の辺又は角をスクライブポイントとして用いるため、スクライビングカッターの固定及び調整が容易ではなかった。加えて、これらのスクライビングカッターをシリコン基板、化合物半導体基板、サファイア基板、石英基板、セラミック基板等のガラス基板よりも硬度が高い脆性材料基板に対して用いると、それぞれのスクライビングカッターの寿命も余り長くはないという課題が存在していた。
本発明はこのような従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、簡単な構成であるために安価に製造でき、しかも、シリコン基板、化合物半導体基板、サファイア基板、石英基板、セラミック基板等の硬度が高い脆性材料基板に対して用いても長寿命を達成できるカッティングツール及びこれを用いたスクライブ方法並びにスクライブ装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明のカッティングツールは、
柱状の支持部と、前記柱状の支持部の一方側の先端に設けられたカッティングポイントとを有するカッティングツールにおいて、
前記カッティングポイントは、円錐形状であって、前記柱状の支持部の一方側の端部に形成されていることを特徴とする。
本発明のカッティングツールは、カッティングポイントの形状が円錐形状であるので、360°いずれの面をスクライブに用いても良く、また製造が容易である。加えて、カッティングポイントの先端が摩耗した際には、カッティングツールを柱状の支持部の中心軸を中心として所定角度回転させることによって、残留している円錐状の先端を新たにカッティング用として利用することができるので、これを繰り返すことによって長寿命のカッティングツールとなる。なお、本発明のカッティングツールにおける柱状の支持部は、円柱状であっても角柱状であってもよい。
また、係る態様のカッティングツールにおいては、前記カッティングポイントは、単結晶ダイヤモンド又は多結晶ダイヤモンドで形成されており、円錐の底部を前記柱状の支持部の一方側の先端にロウ付け、焼結または接着によって固定されているものとしてもよい。
単結晶ダイヤモンド及び多結晶ダイヤモンドは共に高価である。係る態様のカッティングツールによれば、円錐状の先端部のみを単結晶ダイヤモンド又は多結晶ダイヤモンドとしているので、安価なカッティングツールが得られる。なお、単結晶ダイヤモンド又は多結晶ダイヤモンドを柱状の支持部の一方側の先端に固定するためにはロウ付け、焼結、接着等公知の方法を使用することができる。接着するための接着剤としては、例えばダイヤモンド砥粒用の接着剤として周知のレジンボンド材ないしメタルボンド材を使用することができるが、カッティングツールの使用時に摩擦によって発熱するので、耐熱性及び付着強度の点からメタルボンド材を使用することが好ましい。
また、係る態様のカッティングツールにおいては、前記柱状の支持部の一方側の先端は円錐台状に加工されており、前記カッティングポイントの底面の径と前記円錐台状の前記支持部の頂面の径とが同一とされ、先端が前記柱状の支持部の中心軸と一致するようにされていてもよい。
係る態様のカッティングツールによれば、円錐台状の柱状の支持部と円錐形状のカッティングポイントとの両者によって、柱状の支持部の一方側の先端部に円錐状の部分が形成されることになるので、カッティングポイントをカッティングツールの先端部のみに形成することができ、より安価なカッティングツールが得られる。
また、係る態様のカッティングツールにおいては、前記カッティングポイント及び前記柱状の支持部は、前記カッティングポイントの先端が前記柱状の支持部の中心軸と一致するようにされるとともに焼結ダイヤモンドで一体に形成されているものとしてもよい。
係る態様のカッティングツールによれば、柱状の支持部の先端を円錐状に加工すればよいので製造が容易となり、また、カッティングポイントと柱状の支持部とが一体化されているため、使用時にカッティングポイントが柱状の支持部から分離することがなく、より長寿命のカッティングツールが得られる。加えて、カッティングポイントの円錐状の先端の摩耗が激しくても、カッティングツールを回転させながら使用することによって柱状の支持部部分も円錐状に摩耗していくから、柱状の支持部の長さの実質的に全て(保持に必要な領域は除く)が摩耗するまで使用することができ、非常に長寿命となる。
また、上記目的を達成するため、本発明のスクライブ方法は、上記のいずれかに記載のカッティングツールを用いて脆性材料基板にスクライブラインを形成するスクライブ方法において、
前記カッティングツールの中心軸と脆性材料基板との間のなす角を第1の所定角度に保ってスクライブラインの形成を行うことを特徴とする。
また、係る態様のスクライブ方法においては、前記脆性材料基板に対して予め定めた長さのスクライブラインの形成後又は予め定めた回数のスクライブラインの形成後に、前記カッティングツールを前記カッティングツールの中心軸の回りに予め定めた第2の所定角度回動させてスクライブを行うこととしてもよい。
本発明のスクライブ方法によれば、カッティングポイントの円錐状の先端が摩耗しても、カッティングツールを柱状の支持部の中心軸を中心として所定角度回転させることによって、残留している円錐状の先端部分によってスクライブラインを形成することができるので、実質的に新しいカッティングツールを使用したのと同等のスクライブ特性を達成することができ、しかも、カッティングツールの寿命を長くすることができるようになる。
係る態様のスクライブ方法においては、前記予め定めた長さ又は前記予め定めた回数は一枚の前記脆性材料基板全体に対するスクライブに必要な長さ又は回数とすることができ、また、前記予め定めた回数は1回としてもよい。
このような方法を採用すれば、一枚の脆性材料基板全体にスクライブラインの形成を終える度ないし1本のスクライブラインの形成を終える度に、実質的に新しいカッティングツールを使用したのと同等のスクライブ特性を達成することができるようになるので、それぞれの脆性材料基板毎に均一な特性のスクライブラインを形成することができるようになる。
また、係る態様のスクライブ方法においては、前記脆性材料基板はセラミック基板としてもよい。
アルミナ基板などのセラミック基板は、硬度が高く、かつカッティングツールを用いても分断するために十分な垂直クラックを形成することができるため、本態様のスクライブ方法に好適である。
さらに、上記目的を達成するため、本発明のスクライブ装置は、上記いずれかの記載のカッティングツールと、
前記カッティングツールの前記柱状の支持部の固定部材と、
被切断対象である脆性材料基板の載置部材と、
制御装置とを備え、
前記制御装置によって前記カッティングツール及び前記脆性材料基板の載置部材を相対的に移動させ、前記載置部材上に配置された前記脆性材料基板の表面に所定のスクライブラインを形成するためのスクライブ装置において、
前記柱状の支持部の固定部材は、前記カッティングツールの前記柱状の支持部を、前記脆性材料基板の表面に対して第1の所定角度傾けて保持する保持手段とを備えることを特徴とする。
また、係る態様のスクライブ装置においては、前記固定部材は前記カッティングツールの前記柱状の支持部を前記柱状の支持部の中心軸に対して回動させる回動手段をさらに備え、前記制御装置によって、前記脆性材料基板に対して予め定めた長さのスクライブラインの形成後又は予め定めた回数のスクライブラインの形成後に、前記回動手段を駆動して予め定めた第2の所定角度ずつ前記カッティングツールを回転させるものとしてもよい。
また、係る態様のスクライブ装置においては、前記制御装置は、前記予め定めた長さ又は前記予め定めた回数が、一枚の前記脆性材料基板全体に対するスクライブに必要な長さ又は回数に達した際に前記回動手段を駆動するものとしてもよく、さらには、1本のスクライブラインの形成を行う度に前記回動手段を駆動するものとしてもよい。
本発明のスクライブ装置によれば、自動的に上記スクライブ方法の発明の効果を奏することができるスクライブ装置が得られる。
図1A〜図1Cはそれぞれ実施形態1〜3のカッティングツールの斜視図である。 本発明のカッティングツールを柱状の支持部の固定部材に取り付けた状態の概略側面図である。 本発明のスクライブ装置の正面図である。 図4Aは摩耗したカッティングツールの拡大側面図であり、図4Bは図4Aのカッティングツールを90°回転させた状態の拡大側面図である。 図5Aはノーマルホイール及び高浸透ホイールに共通するその回転軸に直交する方向から見た正面図であり、図5Bはその側面図である。 図6Aはノーマルホイールの場合の図5BのVI部分の拡大図であり、図6Bは高浸透ホイールの場合の図5BのVI部分の拡大図である。 従来例のスクライビングカッターによるスクライブ中のスクライブポイント周辺の拡大模式図である。 図8Aは別の従来例のスクライビングカッターの先端を支持部の軸方向から見た平面図であり、図8Bは部分側面図である。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。ただし、以下に示す実施形態は、本発明の技術思想を具体化するためのカッティングツール及びこれを用いたスクライブ方法並びにスクライブ装置の例を示すものであって、本発明をここに記載のカッティングツール及びこれを用いたスクライブ方法並びにスクライブ装置に特定することを意図するものではなく、本発明は特許請求の範囲に含まれるその他の実施形態のものにも均しく適応し得るものである。なお、この明細書における説明のために用いられた各図面においては、各部分を図面上で認識可能な程度の大きさとするため適宜縮尺を異ならせて表示しており、必ずしも実際の寸法に比例して表示されているものではない。
また、本発明における加工の対象となる脆性材料基板としては、シリコン基板、化合物半導体基板、サファイア基板、石英基板、セラミック基板等のガラス基板よりも硬度が高い脆性材料基板を指向するものであるが、ガラス基板を排除するものではない。また、これらの脆性材料基板の表面又は内部に薄膜あるいは半導体材料を付着させたり、含ませたりされたものであってもよい。なお、脆性材料基板は、その表面に脆性材料に該当しない薄膜等が付着されていても本発明の対象となるものである。
先ず、図1を用いて、本発明の実施形態1〜3にかかるカッティングツールの形状を説明する。なお、図1A〜図1Cはそれぞれ実施形態1〜3のカッティングツールの斜視図である。これら実施形態1〜3のカッティングツール10A〜10Cは、脆性材料基板に所定角度で圧接させた状態で一方向へ摺動させ、この脆性材料基板にスクライブラインを形成するための脆性材料用カッティングツールである。
[実施形態1]
実施形態1のカッティングツール10Aは、図1Aに示したように、焼結ダイヤモンド製の円柱状の支持部11aの一方側の端部を円錐状に加工してカッティングポイント12aとしたものである。この実施形態1のカッティングツール10Aは、柱状の支持部11aの先端を円錐状に加工すればよいので製造が容易であり、また、カッティングポイント12aと柱状の支持部11aとが一体化されているため、使用時にカッティングポイント12aが柱状の支持部11aと分離するおそれがない。しかも、実施形態1のカッティングツール10Aによれば、カッティングポイント12aの円錐状の先端の摩耗が激しくても、カッティングツール10Aを回転させながら使用することによって柱状の支持部11a部分も円錐状に摩耗していくので、柱状の支持部11aの長さの実質的に全て(保持に必要な領域は除く)が摩耗するまで使用することができるようになるので、長寿命となる。
なお、実施形態1のカッティングツール10Aにおける支持部11aのサイズとしては、径は数mm程度、長さは数mm〜2cm程度のものが好ましい。また、実施形態1のカッティングツール10Aの使用方法等の詳細は、他の実施形態のものとともに後述する。
[実施形態2]
また、実施形態2のカッティングツール10Bは、図1Bに示したように、円柱状の支持部11bの一方側の端部に円錐状に加工した焼結ダイヤモンド製のカッティングポイント12bを、ロウ付け、焼結または周知のレジンボンド材ないしメタルボンド材等の接着剤で取り付けたものである。このカッティングポイント12bの形状は、カッティングポイント12bの底面の径と円柱状の支持部11bの一方側の端部の径とが同一となるようにされている。ただし、接着後のカッティングポイント12bの底面と支持部11bの一方側の端部との間に隙間や段差が生じなければ、両者間の接着強度を高くするため、カッティングポイント12bの底面や支持部11bの一方側の端部に凹凸が形成されていてもよい。
また、この実施形態2のカッティングツール10Bのカッティングポイント12bにおいては、高価とならないようにするため、焼結ダイヤモンド製のものが使用される。なお、実施形態2のカッティングツール10Bにおける支持部11bの材質及びサイズとしては、焼結ダイヤモンドとの接着性が良好で、高強度のものであれば任意の材質のものを使用し得るが、ステンレススチール製のものが好ましく、その径は2〜5mm程度、長さは5mm〜20mm程度のものが好ましい。
[実施形態3]
実施形態3のカッティングツール10Cは、図1Cに示したように、円柱状の支持部11cの一方側の端部を円錐台状に加工し、その先端部分に円錐状に加工した単結晶ダイヤモンド製又は多結晶ダイヤモンド製のカッティングポイント12cを、ロウ付け、焼結または周知のレジンボンド材ないしメタルボンド材等の接着剤で取り付けたものである。このカッティングポイント12cの形状は、カッティングポイント12cの底面の径と円錐台状の支持部11cの頂面の径とが同一となるようにされているが、支持部の頂面の径が大きくても構わない。また、カッティングポイント12cの円錐の頂角は100〜140°であり、その先端は12〜15μm程度のrの曲面とされている。なお、取付け方法としてはロウ付け、焼結が好ましく、接着剤としては、カッティングツール10Cが使用時に摩擦によって発熱するので、耐熱性及び付着強度の点からメタルボンド材を使用することが好ましい。ただし、接着後のカッティングポイント12cの底面と円錐台状の支持部11cの頂面との間に隙間や段差が生じなければ、両者間の接着強度を高くするため、カッティングポイント12cの底面や円錐台状の支持部11cの頂面に凹凸が形成されていてもよい。
このような構成を備える実施形態3のカッティングツール10Cによれば、カッティングポイント12cとしては小さなもので済むため、多結晶ダイヤモンド製及び単結晶ダイヤモンド製のものを使用しても安価に製造できる。なお、カッティングポイント12cとして多結晶ダイヤモンドを使用する場合には、その結晶軸の方向等について考慮しなくてもよい。さらに、カッティングポイント12cの長さは長くてもよいが、単結晶ダイヤモンド及び多結晶ダイヤモンドの場合には高価であるので長さ1〜2mm程度のものでもよい。また、支持部11cの材質及びサイズとしては、実施形態2のカッティングツール10Bと同様、径は2〜5mm程度、長さは5mm〜20mm程度のものとなし得る。
なお、上記実施形態1〜3のカッティングツール10A〜10Cの支持部11a〜11cとしては、円柱状のものを用いた例を示したが、これに限らず角柱状のものであってもよく、正多角形状のものも使用し得る。
[スクライブ方法及び装置]
次に、実施形態1〜3のカッティングツール10A〜10Cを用いた脆性材料基板のスクライブ方法を図2及び図3を用いて説明する。なお、図2は、本発明のカッティングツールを柱状の支持部の固定部材に取り付けた状態の概略側面図である。また、図3は、本発明のスクライブ装置の正面図である。なお、実施形態1〜3のカッティングツール10A〜10Cは、それぞれ主としてカッティングポイント12a〜12cの形状及び大きさが相違しているのみであるので、使用時には何れの場合においても同様の形態となる。そのため、以下においては、実施形態1のカッティングツール10Aを用いた場合に代表させて説明する。なお、以下においては、図2の左右方向をX方向、紙面に直交する方向をY方向として説明する。
カッティングツール10Aの支持部11aは、図2に示したように、スクライブヘッド25に取り付けられている固定部材15に取り付けられ、後述するスクライブ装置に組み込まれて使用される。固定部材15はスクライブヘッド25に取り付けられた回動軸16aに回動可能に取り付けられている。また、固定部材15は回転軸16bを有し、この回転軸16bには保持手段18が取り付けられている。そして、保持手段18には、カッティングツール10Aの支持部11aが固定されている。これにより、保持手段18は、スクライビングヘッド25の回動軸16aによってX方向に回動可能となされているとともに、回転軸16bによって回転可能に取り付けられている。そのため、カッティングツール10Aのカッティングポイント10aも、スクライビングヘッド25の回動軸16aによってX軸方向に回動可能となされているとともに、回転軸16bによって回転可能に取り付けられている。
スクライブヘッド25に取り付けられた回動軸16aは、カッティングポイント10Aを水平面から予め定めた所定角度θ傾けるためのものである。また、回転軸16bは、カッティングツール10Aのカッティングポイント10aの先端が摩耗した場合に、柱状の支持部11aの中心軸を中心として予め定めた所定角度α(図示省略)だけ回転させ、円錐状の先端を新たなカッティングポイントとして使用できるようにするためのものである。この所定角度αは、任意であるが、整数倍しても360°とならない角度とすると、カッティングツール10A多数回回動させないと一度摩耗した箇所と重なることがなくなるので、カッティングツール10Aの寿命を長くすることができる。なお、この所定角度αが本発明における第2の所定角度に対応する。
また、この回動手段16は、カッティングツール10Aの柱状の支持部11aを脆性材料基板17の表面に対して鋭角である所定角度θとなるように傾けて保持する固定部材15を有する保持手段18に固定されている。なお、この所定角度θが本発明における第1の所定角度に対応する。この所定角度θは、円錐状のカッティングポイント12aの先端の立体角、脆性材料基板17に対する荷重W及びスクライブ速度等を考慮の上で、当業者によって固定部材15の回動手段16を回動させることによって、1〜90°の範囲で適宜設定可能とされている。なお、スクライブ方向は図2における矢印Xの方向である。また、カッティングツール10Aでスクライブラインを形成し得る脆性材料基板17としては、ガラス基板だけでなく、シリコン基板、化合物半導体基板、サファイア基板、石英基板、セラミック基板が挙げられ、また、セラミック基板としては、ジルコニア基板、アルミナ基板、炭化ケイ素基板等が挙げられる。
ここで、本発明のスクライブ装置及びこのスクライブ装置を用いたスクライブ方法を図3及び図4を用いて説明する。なお、図3は本発明のスクライブ装置の正面図である。また、図4Aは摩耗したカッティングツールの拡大側面図であり、図4Bは図4Aのカッティングツールを90°回転させた状態の拡大側面図である。
最初に、図3を用いて本発明のスクライブ装置20及びこのスクライブ装置20を用いた脆性材料基板17のスクライブ方法を説明する。なお、以下においては、図3の左右方向をX方向、紙面に直交する方向をY方向として説明する。
このスクライブ装置20は、載置された脆性材料基板17を真空吸着手段によって固定する水平回転可能なテーブル21と、テーブル21をY方向に移動可能に支持する互いに平行な一対の案内レール22と、案内レール22に沿ってテーブル21を移動させるボールネジ23と、X方向に沿ってテーブル21の上方に架設されたガイドバー24と、ガイドバー24にX方向に摺動可能に設けられ、カッティングツール10Aに切断圧力を付与するスクライブヘッド25と、スクライブヘッド25をガイドバー24に沿って摺動させるモータ26と、スクライブヘッド25の下端に設けられ、スクライブヘッド25によって昇降させられる保持手段18と、個保持手段18に取り付けられ、回動手段16に装着されたカッティングツール10Aを所定角度θ傾けて固定する固定部材15と、ガイドバー24の上方に設置されテーブル21上の脆性材料基板17に形成されたアライメントマークを認識する一対のCCDカメラ27と、これらの各部材の動作を制御するための制御装置28と、を備えている。
このスクライブ装置20を用いた脆性材料基板17のスクライブは以下のようにして行われる。最初に、カッティングツール10Aを固定部材15の回動手段16に取り付け、保持手段18をスクライブヘッド25の下端に取り付ける。次いで、一対のCCDカメラ27によって脆性材料基板17の位置決めが行われる。次いで、スクライブヘッド25を所定の位置に移動させ、図2に示したように、カッティングツール10Aの支持部11aと脆性材料基板との間の角度がθとなるようにする。この状態で、スクライブヘッド25によって固定部材15を経てカッティングツール10Aに対して所定の荷重Wを印加しつつ、カッティングツール10AをX軸方向に摺動させることにより、脆性材料基板17の表面に所定のスクライブライン(図示省略)を形成する。
さらに、必要に応じてテーブル21を回動ないしY軸方向に移動し、上記の場合と同様にしてスクライブラインを形成する。この操作を脆性材料基板17の全体に所望のスクライブラインが形成されるまで行う。なお、かかる構成のスクライブ装置20によれば、スクライブラインの形成方向は一方向であるが、スクライブ時間を短縮するために往復方向でもスクライブラインを形成することができるようにするためには、固定部材15をスクライブヘッド25に対して180°回動可能とすることにより、あるいは、テーブル21を180°回動さ可能とさせることによって、行うことができる。これらの操作は、全て制御装置28からの制御信号によって行われる。
そして、このスクライブ装置20においては、制御装置28により、形成されたスクライブラインの長さが予め定めた長さを超えた場合、あるいは、スクライブ回数が予め定めた回数を超えた場合、カッティングツール10Aのカッティングポイント12aが摩耗したものと見なし、回動手段16を駆動することによってカッティングツール10Aのカッティングポイント12aを所定角度α回動させる。この状態を図4を用いて説明する。なお、図4におけるカッティングポイント12aの摩耗面12a1は、理解を容易にするために誇張して描かれており、実際には目視では確認できない程度の大きさである。
カッティングポイント12aが摩耗すると、その側面図は図4Aに示したとおりとなる。この状態からカッティングツール10Aを所定角度α=90°回転させると図4Bに示したとおりとなる。この状態では、残留しているカッティングポイント12aの円錐状の先端部分12a2は、細くなっているから、スクライブラインの形成用として使用し得る。そこで、この状態で再度スクライブを開始し、再度摩耗したら所定角度α=90°回転させるという操作を繰り返すことにより、上述した従来例のカッティングツールよりも長寿命のカッティングツールとなる。しかも、実施形態1のカッティングツール10Aを使用した場合には、カッティングポイント12aの円錐状の先端の摩耗が激しくても、カッティングツール10Aを回転させながら使用することによって柱状の支持部11a部分も円錐状に摩耗していくので、柱状の支持部11aの長さの実質的に全て(保持に必要な領域は除く)が摩耗するまで使用することができるようになる。
なお、ここでは、カッティングツール10Aのカッティングポイント12aが摩耗したものと見なす条件として形成されたスクライブラインの長さが予め定めた長さを超えた場合、あるいは、スクライブ回数が予め定めた回数を超えた場合とした例を示したが、この条件は当業者が適宜に設定し得る。例えば、一枚の脆性材料基板全体に対するスクライブに必要な長さ又は回数とすることができ、あるいは、一本のスクライブラインの形成毎としてもよい。
このような方法を採用すれば、一枚の脆性材料基板全体にスクライブラインの形成を終える度ないし一本のスクライブラインの形成毎に、実質的に新しいカッティングツールを使用したのと同等のスクライブ特性を達成することができるようになるので、それぞれの脆性材料基板毎に均一な特性のスクライブラインを形成することができるようになる。
また、カッティングツール10Aのカッティングポイント12aを回動させる所定角度αとしては、α=90°とした例を示したが、この角度αも任意に設定できる。ただし、カッティングツール10Aが1回転した後にカッティングポイント12aの最初の摩耗面12a1が脆性材料基板の表面と平行になると、スクライブ特性が劣化する。そのため、この所定角度αが大きい場合、例えばα>30°である場合には、少ない回数の回動で最初の摩耗面12a1が脆性材料基板の表面と平行にならないようにするため、360の約数でない角度とすることが望ましい。
10A〜10C…カッティングツール
11a〜11c…支持部
12a〜12c…カッティングポイント
12a1…摩耗面
12a2…先端部分
15…固定部材
16a…回動軸
16b…回転軸
17…脆性材料基板
18…保持手段
20…スクライブ装置
21…テーブル
22…案内レール
23…ボールネジ
24…ガイドバー
25…スクライブヘッド
26…モータ
27…カメラ
28…制御装置

Claims (13)

  1. 柱状の支持部と、前記柱状の支持部の一方側の先端に設けられたカッティングポイントとを有するカッティングツールにおいて、
    前記カッティングポイントは、円錐形状であって、前記柱状の支持部の一方側の端部に形成されていることを特徴とするカッティングツール。
  2. 前記カッティングポイントは、単結晶ダイヤモンド又は多結晶ダイヤモンドで形成されており、円錐の底部を前記柱状の支持部の一方側の先端にロウ付け、焼結または接着によって固定されていることを特徴とする請求項1に記載のカッティングツール。
  3. 前記柱状の支持部の一方側の先端は円錐台状に加工されており、前記カッティングポイントの底面の径と前記円錐台状の前記支持部の頂面の径とが同一とされ、先端が前記柱状の支持部の中心軸と一致するようにされていることを特徴とする請求項2に記載のカッティングツール。
  4. 前記カッティングポイント及び前記柱状の支持部は、前記カッティングポイントの先端が前記柱状の支持部の中心軸と一致するようにされるとともに焼結ダイヤモンドで一体に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のカッティングツール。
  5. 請求項1〜4のいずれかに記載のカッティングツールを用いて脆性材料基板にスクライブラインを形成するスクライブ方法において、
    前記カッティングツールの中心軸と脆性材料基板との間のなす角を第1の所定角度に保ってスクライブラインの形成を行うことを特徴とするスクライブ方法。
  6. 前記脆性材料基板に対して予め定めた長さのスクライブラインの形成後又は予め定めた回数のスクライブラインの形成後に、前記カッティングツールを前記カッティングツールの中心軸の回りに予め定めた第2の所定角度回動させてスクライブを行うことを特徴とする請求項5に記載のスクライブ方法。
  7. 前記予め定めた長さ又は前記予め定めた回数は、一枚の前記脆性材料基板全体に対するスクライブに必要な長さ又は回数であることを特徴とする請求項6に記載のスクライブ方法。
  8. 前記予め定めた回数は、1回であることを特徴とする請求項6に記載のスクライブ方法。
  9. 前記脆性材料基板はセラミック基板であることを特徴とする請求項5に記載のスクライブ方法。
  10. 請求項1〜4のいずれかに記載のカッティングツールと、
    前記カッティングツールの前記柱状の支持部の固定部材と、
    被切断対象である脆性材料基板の載置部材と、
    制御装置とを備え、
    前記制御装置によって前記カッティングツール及び前記脆性材料基板の載置部材を相対的に移動させ、前記載置部材上に配置された前記脆性材料基板の表面に所定のスクライブラインを形成するためのスクライブ装置において、
    前記柱状の支持部の固定部材は、前記カッティングツールの前記柱状の支持部を、前記脆性材料基板の表面に対して第1の所定角度傾けて保持する保持手段とを備えることを特徴とするスクライブ装置。
  11. 前記固定部材は前記カッティングツールの前記柱状の支持部を前記柱状の支持部の中心軸に対して回動させる回動手段をさらに備え、前記制御装置によって、前記脆性材料基板に対して予め定めた長さのスクライブラインの形成後又は予め定めた回数のスクライブラインの形成後に、前記回動手段を駆動して予め定めた第2の所定角度ずつ前記カッティングツールを回転させることを特徴とするスクライブ装置。
  12. 前記制御装置は、前記予め定めた長さ又は前記予め定めた回数が、一枚の前記脆性材料基板全体に対するスクライブに必要な長さ又は回数に達した際に前記回動手段を駆動することを特徴とする請求項11に記載のスクライブ装置。
  13. 前記制御装置は、1本のスクライブラインの形成を行う度に前記回動手段を駆動することを特徴とする請求項11に記載のスクライブ装置。
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