JP2013181132A - Epoxy resin material and multilayer board - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an epoxy resin material low in thermal linear expansion coefficient of cured matter and capable of enhancing adhesion between the cured matter and a metal layer.SOLUTION: An epoxy resin material includes an epoxy resin, a curing agent and an inorganic filler. After thermally curing the epoxy resin material, the storage elastic modulus E' of the cured matter, measured at 250°C using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus, is 2.0×10Pa or lower. After thermally curing the epoxy resin material, the linear expansion coefficient of the cured matter at 25-150°C is 30 ppm/°C or lower.

Description

本発明は、例えば、多層基板において絶縁層を形成するために好適に用いることができるエポキシ樹脂材料に関する。また、本発明は、該エポキシ樹脂材料を用いた多層基板に関する。   The present invention relates to an epoxy resin material that can be suitably used, for example, for forming an insulating layer in a multilayer substrate. The present invention also relates to a multilayer substrate using the epoxy resin material.

従来、積層板及びプリント配線板等の電子部品を得るために、様々な樹脂材料が用いられている。例えば、多層プリント配線板では、内部の層間を絶縁するための絶縁層を形成したり、表層部分に位置する絶縁層を形成したりするために、樹脂組成物が用いられている。   Conventionally, various resin materials have been used in order to obtain electronic components such as laminated boards and printed wiring boards. For example, in a multilayer printed wiring board, a resin composition is used in order to form an insulating layer for insulating inner layers or to form an insulating layer located in a surface layer portion.

上記樹脂組成物には、熱膨張率を低くすることなどを目的として、無機充填剤が配合されることが多い。近年、電子機器の小型化及び高性能化に伴って、上記電子部品においても、配線の微細化や絶縁層における熱膨張率の更なる低下などが求められている。このような要求に対応するために、絶縁層を形成するための上記樹脂組成物に、無機充填剤が高濃度で配合されることがある。   The resin composition is often blended with an inorganic filler for the purpose of lowering the coefficient of thermal expansion. In recent years, along with miniaturization and high performance of electronic devices, the electronic components are also required to have finer wiring and further reduced thermal expansion coefficient in the insulating layer. In order to meet such a demand, an inorganic filler may be blended at a high concentration in the resin composition for forming the insulating layer.

上記樹脂組成物の一例として、下記の特許文献1には、シアネート樹脂と、フェノール樹脂と、無機充填剤とを含む樹脂組成物が開示されている。ここでは、樹脂組成物の難燃性及び耐熱性が高く、線膨張係数が低いことが記載されている。さらに、特許文献1には、シアネート樹脂の反応性を向上させるために、エポキシ樹脂を用いることが好ましいことが記載されている。   As an example of the resin composition, Patent Document 1 below discloses a resin composition containing a cyanate resin, a phenol resin, and an inorganic filler. Here, it is described that the resin composition has high flame retardancy and heat resistance and a low coefficient of linear expansion. Furthermore, Patent Document 1 describes that it is preferable to use an epoxy resin in order to improve the reactivity of the cyanate resin.

下記の特許文献2には、複素環基を有する化合物と、エポキシ樹脂と、シアネート化合物とを含む樹脂組成物が開示されている。この樹脂組成物には、フィラーを添加できる。ここでは、吸水率が低く、誘電特性に優れており、かつ耐熱性及び寸法安定性が高い硬化物が得られることが記載されている。   Patent Document 2 below discloses a resin composition containing a compound having a heterocyclic group, an epoxy resin, and a cyanate compound. A filler can be added to this resin composition. Here, it is described that a cured product having low water absorption, excellent dielectric properties, and high heat resistance and dimensional stability can be obtained.

特開2003−096296号公報JP 2003-096296 A 特開2006−028498号公報JP 2006-028498 A

上記電子部品の小型化及び高性能化の要求が高まっており、電子部品の薄型化、高密度集積化及び高密度実装化が進んでいる。このため、多層プリント配線板の薄型化や導体配線の微細化が進んでいる。   There is an increasing demand for miniaturization and high performance of the electronic components, and the electronic components are becoming thinner, densely integrated and densely packaged. For this reason, thinning of multilayer printed wiring boards and miniaturization of conductor wiring are progressing.

絶縁層上に配線を形成する方法として、絶縁層の表面を粗化処理した後に、無電解めっきと電解めっきとにより配線を形成するセミアディティブ法などが知られている。このような方法では、アルカリ性の過マンガン酸溶液などの粗化液を用いて粗化処理を行い、絶縁層の表面に微細な孔を形成する。絶縁層の表面に微細な孔を形成することによって、絶縁層と配線との間で物理的なアンカー効果が得られる。アンカー効果により、絶縁層と配線との密着性が高くなる。絶縁層の表面の微細な孔は、一般に樹脂成分の粗化液への溶解や、樹脂組成物中に含まれるフィラーの脱離によって形成される。   As a method for forming a wiring on an insulating layer, a semi-additive method is known in which a wiring is formed by electroless plating and electrolytic plating after the surface of the insulating layer is roughened. In such a method, a roughening treatment is performed using a roughening solution such as an alkaline permanganate solution to form fine holes on the surface of the insulating layer. By forming fine holes in the surface of the insulating layer, a physical anchor effect can be obtained between the insulating layer and the wiring. The adhesion between the insulating layer and the wiring is enhanced by the anchor effect. The fine pores on the surface of the insulating layer are generally formed by dissolving the resin component in the roughening solution or by detaching the filler contained in the resin composition.

近年、多層プリント配線板の導体配線の微細化の要求が高まっている。導体配線が微細でも、絶縁層と配線との密着性が高いことが求められる。また、高密度な配線が形成された多層プリント配線板では、配線と絶縁層との熱線膨張係数の差からクラックが発生したりして、不具合が生じやすいという問題がある。このため、絶縁層の熱線膨張係数は低いことが望ましい。   In recent years, there has been an increasing demand for miniaturization of conductor wiring of multilayer printed wiring boards. Even if the conductor wiring is fine, high adhesion between the insulating layer and the wiring is required. In addition, in a multilayer printed wiring board on which high-density wiring is formed, there is a problem that a defect is likely to occur due to a crack generated due to a difference in the thermal linear expansion coefficient between the wiring and the insulating layer. For this reason, it is desirable that the thermal expansion coefficient of the insulating layer is low.

特許文献1,2に記載のような従来の樹脂組成物を用いて絶縁層を形成した場合には、絶縁層の熱線膨張係数が充分に低くならなかったり、絶縁層と金属層との密着性が充分に高くならなかったりするという問題がある。また、従来の樹脂組成物を用いて絶縁層を形成した場合には、絶縁層の熱膨張係数を低くすることと、絶縁層と金属層との密着性を高くすることとの双方を両立することは困難である。   When an insulating layer is formed using a conventional resin composition as described in Patent Documents 1 and 2, the thermal expansion coefficient of the insulating layer does not become sufficiently low, or the adhesion between the insulating layer and the metal layer There is a problem that is not high enough. Moreover, when an insulating layer is formed using a conventional resin composition, both lowering the thermal expansion coefficient of the insulating layer and increasing the adhesion between the insulating layer and the metal layer are compatible. It is difficult.

本発明の目的は、硬化物の熱線膨張係数が低く、更に硬化物と金属層との密着性を高めることができるエポキシ樹脂材料、並びに該エポキシ樹脂材料を用いた多層基板を提供することである。   An object of the present invention is to provide an epoxy resin material having a low thermal linear expansion coefficient of a cured product and capable of further improving the adhesion between the cured product and a metal layer, and a multilayer substrate using the epoxy resin material. .

本発明の広い局面によれば、エポキシ樹脂と、硬化剤と、無機充填剤とを含み、熱硬化後の硬化物の動的粘弾性測定装置を用いて測定した250℃での貯蔵弾性率E’が2.0×10Pa以下であり、熱硬化後の硬化物の25〜150℃での熱線膨張係数が30ppm/℃以下である、エポキシ樹脂材料が提供される。 According to a wide aspect of the present invention, the storage elastic modulus E at 250 ° C. measured using a dynamic viscoelasticity measuring device for a cured product after heat curing, including an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler. An epoxy resin material is provided in which 'is 2.0 × 10 8 Pa or less and the thermal linear expansion coefficient at 25 to 150 ° C. of the cured product after thermosetting is 30 ppm / ° C. or less.

本発明に係るエポキシ樹脂材料のある特定の局面では、該エポキシ樹脂材料は、熱可塑性樹脂をさらに含む。   In a specific aspect of the epoxy resin material according to the present invention, the epoxy resin material further includes a thermoplastic resin.

本発明に係るエポキシ樹脂材料の他の特定の局面では、該エポキシ樹脂材料は、フィルム状に成形されたBステージフィルムである。   In another specific aspect of the epoxy resin material according to the present invention, the epoxy resin material is a B-stage film formed into a film shape.

本発明の広い局面によれば、回路基板と、前記回路基板の表面上に配置された硬化物層とを備え、前記硬化物層が、上述したエポキシ樹脂材料を硬化させることにより形成されている、多層基板が提供される。   According to a wide aspect of the present invention, it includes a circuit board and a cured product layer disposed on the surface of the circuit board, and the cured product layer is formed by curing the above-described epoxy resin material. A multilayer substrate is provided.

本発明に係るエポキシ樹脂材料は、エポキシ樹脂と、硬化剤と、無機充填剤とを含み、熱硬化後の硬化物の動的粘弾性測定装置を用いて測定した250℃での貯蔵弾性率E’が2.0×10Pa以下であり、熱硬化後の硬化物の25〜150℃での熱線膨張係数が30ppm/℃以下であるので、硬化物の熱線膨張係数が低く、更に硬化物と金属層との密着性を高めることができる。 The epoxy resin material according to the present invention includes an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler, and a storage elastic modulus E at 250 ° C. measured using a dynamic viscoelasticity measuring device for a cured product after heat curing. 'Is 2.0 × 10 8 Pa or less, and the thermal linear expansion coefficient at 25 to 150 ° C. of the cured product after thermosetting is 30 ppm / ° C. or less. The adhesion between the metal layer and the metal layer can be improved.

図1は、本発明の一実施形態に係るエポキシ樹脂材料を用いた多層基板を模式的に示す部分切欠正面断面図である。FIG. 1 is a partially cutaway front sectional view schematically showing a multilayer substrate using an epoxy resin material according to an embodiment of the present invention.

以下、本発明の詳細を説明する。   Details of the present invention will be described below.

(エポキシ樹脂材料)
本発明に係るエポキシ樹脂材料は、エポキシ樹脂と、硬化剤と、無機充填剤とを含む。本発明に係るエポキシ樹脂材料を熱硬化した後に、硬化物の動的粘弾性測定装置(DMA)を用いて測定した250℃での貯蔵弾性率E’が2.0×10Pa以下である。本発明に係るエポキシ樹脂材料を熱硬化した後に、硬化物の25〜150℃での熱線膨張係数が30ppm/℃以下である。
(Epoxy resin material)
The epoxy resin material according to the present invention includes an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler. After thermally curing the epoxy resin material according to the present invention, the storage elastic modulus E ′ at 250 ° C. measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA) of the cured product is 2.0 × 10 8 Pa or less. . After thermally curing the epoxy resin material according to the present invention, the thermal expansion coefficient of the cured product at 25 to 150 ° C. is 30 ppm / ° C. or less.

本発明に係るエポキシ樹脂材料における上述した構成の採用によって、硬化物と金属層との密着性を高めることができる。特に上記貯蔵弾性率E’が上記上限以下であると、絶縁層と金属層との界面に応力が加わったときに、絶縁層における樹脂成分の伸び特性が良好であって、応力を緩和する樹脂成分の面積が大きくなることから、絶縁層と金属層との界面剥離を効果的に抑制できる。   Adoption of the above-described configuration in the epoxy resin material according to the present invention can improve the adhesion between the cured product and the metal layer. In particular, when the storage elastic modulus E ′ is less than or equal to the above upper limit, when stress is applied to the interface between the insulating layer and the metal layer, the resin component has good elongation characteristics in the insulating layer, and the stress is relieved. Since the area of a component becomes large, the interface peeling between the insulating layer and the metal layer can be effectively suppressed.

上記貯蔵弾性率E’を上記値以下にする方法としては、エポキシ当量が大きいエポキシ樹脂を用いる方法、当量が大きい硬化剤を用いる方法及び熱可塑性樹脂などの高分子成分を用いる方法等が挙げられる。   Examples of the method for setting the storage elastic modulus E ′ to the above value or less include a method using an epoxy resin having a large epoxy equivalent, a method using a curing agent having a large equivalent, and a method using a polymer component such as a thermoplastic resin. .

上記熱線膨張係数を上記値以下にする方法としては、無機充填剤の配合量を増やす方法、樹脂の架橋密度を高くする方法及び分子間力により構成分子をスタッキングさせる方法等が挙げられる。   Examples of the method for setting the thermal linear expansion coefficient to the above value or less include a method for increasing the blending amount of the inorganic filler, a method for increasing the crosslinking density of the resin, and a method for stacking constituent molecules by intermolecular force.

上記貯蔵弾性率E’及び熱線膨張係数を測定するための硬化物は、エポキシ樹脂材料を190℃で2時間熱硬化した硬化物を用いて測定されることが好ましい。   The cured product for measuring the storage elastic modulus E ′ and the thermal expansion coefficient is preferably measured using a cured product obtained by thermally curing an epoxy resin material at 190 ° C. for 2 hours.

上記動的粘弾性測定装置による250℃での貯蔵弾性率E’は、昇温速度5℃/分、30〜300℃の温度範囲の条件で測定される。上記動的粘弾性測定装置としては、粘弾性スペクトロメータ(エスアイアイ・ナノテクノロジー社製「EXSTAR DMS6100」)等が挙げられる。   The storage elastic modulus E ′ at 250 ° C. measured by the dynamic viscoelasticity measuring apparatus is measured under conditions of a temperature rising rate of 5 ° C./min and a temperature range of 30 to 300 ° C. Examples of the dynamic viscoelasticity measuring apparatus include a viscoelasticity spectrometer (“EXSTAR DMS6100” manufactured by SII Nano Technology).

上記熱線膨張係数は、引っ張り荷重2.94×10−2N、昇温速度5℃/分及び25〜150℃の温度範囲で測定される。上記熱線膨張係数の測定装置は、熱・応力・歪測定装置(エスアイアイ・ナノテクノロジー社製「EXSTAR TMA/SS6100」)等が挙げられる。 The thermal expansion coefficient is measured in a tensile load of 2.94 × 10 −2 N, a temperature increase rate of 5 ° C./min, and a temperature range of 25 to 150 ° C. Examples of the measurement device for the thermal linear expansion coefficient include a heat / stress / strain measurement device (“EXSTAR TMA / SS6100” manufactured by SII Nanotechnology).

従来、硬化物の熱線膨張係数を低くする方法として、無機充填剤の配合量を増やす方法が一般的に採用されている。しかし、無機充填剤の配合量を増やすと、硬化物(絶縁層)と金属層(導体配線)との密着性が低下する。   Conventionally, as a method for lowering the thermal linear expansion coefficient of a cured product, a method of increasing the blending amount of an inorganic filler is generally employed. However, when the blending amount of the inorganic filler is increased, the adhesion between the cured product (insulating layer) and the metal layer (conductor wiring) decreases.

これに対して、本発明では、無機充填剤の配合量が多くても、少なくても、硬化物と金属層との密着性を十分に高めることができる。本発明では、無機充填剤の配合量は多くても、少なくてもよい。硬化物の熱線膨張係数を低くする観点からは、無機充填剤の配合量は多いことが好ましい。本発明に係るエポキシ樹脂材料は、無機充填剤を含むことが好ましい。この場合には、粗化処理された硬化物の表面の表面粗さを小さくすることができる。この結果、例えば、エポキシ樹脂材料の硬化を進行させた予備硬化物の表面を粗化処理した後に、粗化処理された表面に金属層を形成した場合に、硬化物と金属層との密着性をより一層高めることができる。   On the other hand, in this invention, even if there are many compounding quantities of an inorganic filler, even if there are few, the adhesiveness of hardened | cured material and a metal layer can fully be improved. In the present invention, the amount of the inorganic filler may be large or small. From the viewpoint of lowering the thermal linear expansion coefficient of the cured product, it is preferable that the amount of the inorganic filler is large. The epoxy resin material according to the present invention preferably contains an inorganic filler. In this case, the surface roughness of the roughened cured product can be reduced. As a result, for example, when a metal layer is formed on the roughened surface after roughening the surface of the precured product that has been cured of the epoxy resin material, the adhesion between the cured product and the metal layer Can be further increased.

本発明に係るエポキシ樹脂材料は、ペースト状であってもよく、フィルム状であってもよい。本発明に係るエポキシ樹脂材料は、樹脂組成物であってもよく、該樹脂組成物がフィルム状に成形されたBステージフィルムであってもよい。本発明に係るエポキシ樹脂材料は、フィルム状に成形されたBステージフィルムであることが好ましい。   The epoxy resin material according to the present invention may be a paste or a film. The epoxy resin material according to the present invention may be a resin composition or a B-stage film in which the resin composition is formed into a film. The epoxy resin material according to the present invention is preferably a B-stage film formed into a film.

また、本発明に係るエポキシ樹脂材料は、粗化処理される硬化物を得るために用いられるエポキシ樹脂材料であることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the epoxy resin material which concerns on this invention is an epoxy resin material used in order to obtain the hardened | cured material roughened.

以下、本発明に係るエポキシ樹脂材料に含まれている各成分、並びに含まれることが好ましい各成分の詳細を説明する。   Hereinafter, each component contained in the epoxy resin material according to the present invention and details of each component preferably contained will be described.

[エポキシ樹脂材料]
上記エポキシ樹脂材料に含まれているエポキシ樹脂は特に限定されない。該エポキシ樹脂として、従来公知のエポキシ樹脂を使用可能である。上記エポキシ樹脂は、少なくとも1個のエポキシ基を有する有機化合物をいう。上記エポキシ樹脂は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Epoxy resin materials]
The epoxy resin contained in the epoxy resin material is not particularly limited. A conventionally well-known epoxy resin can be used as this epoxy resin. The epoxy resin refers to an organic compound having at least one epoxy group. As for the said epoxy resin, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、アダマンタン骨格を有するエポキシ樹脂、トリシクロデカン骨格を有するエポキシ樹脂、及びトリアジン核を骨格に有するエポキシ樹脂等が挙げられる。   Examples of the epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, biphenyl novolac type epoxy resin, biphenol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, and fluorene type epoxy resin. , Phenol aralkyl type epoxy resin, naphthol aralkyl type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, epoxy resin having adamantane skeleton, epoxy resin having tricyclodecane skeleton, and epoxy resin having triazine nucleus in skeleton Etc.

上記エポキシ樹脂は、常温(23℃)で液状であってもよく、固形であってもよい。上記エポキシ樹脂材料は、常温(23℃)で液状であるエポキシ樹脂を含むことが好ましい。上記エポキシ樹脂材料に含まれている無機充填剤を除く全固形分(以下、全固形分Bともいう)100重量%中、常温で液状であるエポキシ樹脂の含有量は好ましくは10重量%以上、より好ましくは25重量%以上、好ましくは80重量%以下である。常温で液状であるエポキシ樹脂の含有量が上記下限以上であると、エポキシ樹脂材料における無機充填剤の含有量を多くすることが容易である。「全固形分B」とは、上記エポキシ樹脂と上記硬化剤と必要に応じて配合される固形分との総和をいう。「全固形分B」には、無機充填剤は含まれない。「全固形分B」には、後述する硬化促進剤及び熱可塑性樹脂が含まれる。「固形分」とは、不揮発成分であり、成形又は加熱時に揮発しない成分をいう。   The epoxy resin may be liquid at normal temperature (23 ° C.) or may be solid. The epoxy resin material preferably contains an epoxy resin that is liquid at normal temperature (23 ° C.). In 100% by weight of the total solid content excluding the inorganic filler contained in the epoxy resin material (hereinafter also referred to as total solid content B), the content of the epoxy resin that is liquid at room temperature is preferably 10% by weight or more, More preferably, it is 25% by weight or more, and preferably 80% by weight or less. It is easy to increase content of the inorganic filler in an epoxy resin material as content of the epoxy resin which is liquid at normal temperature is more than the said minimum. “Total solid content B” refers to the sum of the epoxy resin, the curing agent, and the solid content blended as necessary. “Total solid content B” does not include an inorganic filler. “Total solid content B” includes a curing accelerator and a thermoplastic resin described later. “Solid content” refers to a non-volatile component that does not volatilize during molding or heating.

粗化処理された硬化物の表面の表面粗さをより一層小さくする観点からは、上記エポキシ樹脂のエポキシ当量は好ましくは90以上、より好ましくは100以上、好ましくは1000以下、より好ましくは800以下である。   From the viewpoint of further reducing the surface roughness of the roughened cured product, the epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 90 or more, more preferably 100 or more, preferably 1000 or less, more preferably 800 or less. It is.

上記エポキシ樹脂の重量平均分子量は1000以下であることが好ましい。この場合には、エポキシ樹脂材料における無機充填剤の含有量を多くすることが容易である。さらに、無機充填剤の含有量が多くても、流動性が高いエポキシ樹脂材料である樹脂組成物が得られる。一方で、重量平均分子量が1000以下であるエポキシ樹脂と熱可塑性樹脂との併用により、エポキシ樹脂材料であるBステージフィルムの溶融粘度の低下を抑制できる。このため、Bステージフィルムを基板上にラミネートした場合に、無機充填剤が均一に存在しやすくなる。   The epoxy resin preferably has a weight average molecular weight of 1000 or less. In this case, it is easy to increase the content of the inorganic filler in the epoxy resin material. Furthermore, even if there is much content of an inorganic filler, the resin composition which is an epoxy resin material with high fluidity | liquidity is obtained. On the other hand, by the combined use of an epoxy resin having a weight average molecular weight of 1000 or less and a thermoplastic resin, it is possible to suppress a decrease in the melt viscosity of the B stage film that is an epoxy resin material. For this reason, when a B stage film is laminated on a board | substrate, an inorganic filler becomes easy to exist uniformly.

[硬化剤]
上記エポキシ樹脂材料に含まれている硬化剤は特に限定されない。上記硬化剤として従来公知の硬化剤を使用可能である。上記硬化剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Curing agent]
The curing agent contained in the epoxy resin material is not particularly limited. A conventionally known curing agent can be used as the curing agent. As for the said hardening | curing agent, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記硬化剤としては、シアネートエステル化合物(シアネートエステル硬化剤)、フェノール化合物(フェノール硬化剤)、アミン化合物(アミン硬化剤)、チオール化合物(チオール硬化剤)、イミダゾール化合物、ホスフィン化合物、酸無水物、活性エステル化合物及びジシアンジアミド等が挙げられる。なかでも、熱による寸法変化がより一層小さい硬化物を得る観点からは、上記硬化剤は、シアネートエステル化合物又はフェノール化合物であることが好ましい。上記硬化剤は、シアネートエステル化合物であることが好ましく、フェノール化合物であることも好ましい。上記硬化剤は、上記エポキシ樹脂のエポキシ基と反応可能な官能基を有することが好ましい。   As the curing agent, cyanate ester compound (cyanate ester curing agent), phenol compound (phenol curing agent), amine compound (amine curing agent), thiol compound (thiol curing agent), imidazole compound, phosphine compound, acid anhydride, Examples include active ester compounds and dicyandiamide. Especially, from a viewpoint of obtaining the hardened | cured material in which the dimensional change by a heat | fever is still smaller, it is preferable that the said hardening | curing agent is a cyanate ester compound or a phenol compound. The curing agent is preferably a cyanate ester compound, and is preferably a phenol compound. The curing agent preferably has a functional group capable of reacting with the epoxy group of the epoxy resin.

絶縁層の表面の表面粗さをより一層小さくし、かつ絶縁層と金属層との密着性をより一層高くする観点からは、上記硬化剤は、シアネートエステル化合物、フェノール化合物又は活性エステル化合物であることが好ましい。さらに、硬化剤により一層良好な絶縁信頼性を付与する観点からは、上記硬化剤は、シアネートエステル化合物であることがより好ましい。   From the viewpoint of further reducing the surface roughness of the surface of the insulating layer and further increasing the adhesion between the insulating layer and the metal layer, the curing agent is a cyanate ester compound, a phenol compound or an active ester compound. It is preferable. Furthermore, from the viewpoint of imparting better insulation reliability with a curing agent, the curing agent is more preferably a cyanate ester compound.

上記シアネートエステル化合物の使用により、粗化処理により形成される孔の大きさが微細になり、孔の数が多くなり、かつ孔の深さが深くなる。この結果、硬化物と絶縁層との密着性がより一層高くなる。また、シアネートエステル化合物の使用により、熱による寸法変化がより一層小さい硬化物が得られる。また、シアネートエステル化合物の使用により、絶縁層に良好な絶縁信頼性を付与できる。さらに、上記シアネートエステル化合物の使用により、無機充填剤の含有量が多い絶縁層のガラス転移温度がより一層高くなる。   By using the cyanate ester compound, the size of the pores formed by the roughening treatment becomes fine, the number of pores increases, and the depth of the pores increases. As a result, the adhesion between the cured product and the insulating layer is further enhanced. Further, by using a cyanate ester compound, a cured product having a smaller dimensional change due to heat can be obtained. Moreover, favorable insulation reliability can be provided to the insulating layer by using a cyanate ester compound. Furthermore, the use of the cyanate ester compound further increases the glass transition temperature of the insulating layer having a high inorganic filler content.

上記シアネートエステル化合物は特に限定されない。上記シアネートエステル化合物として、従来公知のシアネートエステル化合物を使用可能である。上記シアネートエステル化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The cyanate ester compound is not particularly limited. As the cyanate ester compound, a conventionally known cyanate ester compound can be used. As for the said cyanate ester compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記シアネートエステル化合物としては、ノボラック型シアネートエステル樹脂、ビスフェノール型シアネートエステル樹脂、並びにこれらが一部三量化されたプレポリマー等が挙げられる。上記ノボラック型シアネートエステル樹脂としては、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂及びアルキルフェノール型シアネートエステル樹脂等が挙げられる。上記ビスフェノール型シアネートエステル樹脂としては、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂及びテトラメチルビスフェノールF型シアネートエステル樹脂等が挙げられる。   Examples of the cyanate ester compound include novolac-type cyanate ester resins, bisphenol-type cyanate ester resins, and prepolymers in which these are partially trimerized. As said novolak-type cyanate ester resin, a phenol novolak-type cyanate ester resin, an alkylphenol-type cyanate ester resin, etc. are mentioned. Examples of the bisphenol type cyanate ester resin include bisphenol A type cyanate ester resin, bisphenol E type cyanate ester resin, and tetramethylbisphenol F type cyanate ester resin.

硬化物の熱線膨張係数をより一層低くし、硬化物と金属層との密着性をより一層高める観点からは、上記硬化剤であるシアネートエステル化合物は、ビスフェノール型シアネートエステル化合物であることが好ましい。   From the viewpoint of further reducing the thermal linear expansion coefficient of the cured product and further improving the adhesion between the cured product and the metal layer, the cyanate ester compound as the curing agent is preferably a bisphenol type cyanate ester compound.

上記シアネートエステル化合物の市販品としては、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン社製「PT−30」及び「PT−60」)、及びビスフェノール型シアネートエステル樹脂が三量化されたプレポリマー(ロンザジャパン社製「BA−230S」、「BA−3000S」、「BTP−1000S」及び「BTP−6020S」)等が挙げられる。   Commercially available products of the above-mentioned cyanate ester compounds include phenol novolac type cyanate ester resins (Lonza Japan "PT-30" and "PT-60"), and prepolymers (Lonza Japan) in which bisphenol type cyanate ester resins are trimerized. "BA-230S", "BA-3000S", "BTP-1000S", and "BTP-6020S") manufactured by the company.

上記シアネートエステル化合物の重量平均分子量は、3000以下であることが好ましい。この場合には、樹脂組成物における無機充填剤の含有量を多くすることができ、無機充填剤の含有量が多くても、流動性が高い樹脂組成物が得られる。   The cyanate ester compound preferably has a weight average molecular weight of 3000 or less. In this case, the content of the inorganic filler in the resin composition can be increased, and a resin composition having high fluidity can be obtained even if the content of the inorganic filler is large.

上記「重量平均分子量」とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での重量平均分子量を示す。   The “weight average molecular weight” indicates a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC).

上記フェノール化合物の使用により、絶縁層のガラス転移温度がより一層高くなる。また、上記フェノール化合物の使用により、絶縁層の強度や耐熱性が高くなり、絶縁層と金属層との密着性がより一層高くなる。さらに、上記フェノール化合物の使用により、絶縁層の表面の平滑性も高くなる。上記フェノール化合物は特に限定されない。該フェノール化合物として、従来公知のフェノール化合物を使用可能である。上記フェノール化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   By using the phenol compound, the glass transition temperature of the insulating layer is further increased. In addition, the use of the phenol compound increases the strength and heat resistance of the insulating layer and further increases the adhesion between the insulating layer and the metal layer. Further, the use of the phenol compound increases the smoothness of the surface of the insulating layer. The phenol compound is not particularly limited. A conventionally well-known phenol compound can be used as this phenol compound. As for the said phenol compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記フェノール化合物としては、ビフェニル型フェノール硬化剤及びナフトール型フェノール硬化剤等が挙げられる。   Examples of the phenol compound include biphenyl type phenol curing agents and naphthol type phenol curing agents.

上記フェノール化合物の市販品としては、ビフェニル型フェノール硬化剤(日本化薬社製「KAYAHARDGPH−103」及び明和化成社製「MEH7851」)、並びにナフトール型硬化剤(東都化成社製「SN485」、日本化薬社製「KAYAHARDNHN」)等が挙げられる。   Commercially available products of the above-mentioned phenol compounds include biphenyl type phenol curing agents (“KAYAHARDGPH-103” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. and “MEH7851” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.), and naphthol type curing agents (“SN485” manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., Japan) “KAYAHARDNHN”) manufactured by Kayaku Co., Ltd.

絶縁層の表面の表面粗さをより一層小さくする観点からは、上記フェノール化合物はフェノール性水酸基を2個以上有することが好ましい。   From the viewpoint of further reducing the surface roughness of the insulating layer, the phenol compound preferably has two or more phenolic hydroxyl groups.

絶縁層の表面の表面粗さをより一層小さくし、かつ絶縁層の表面により一層微細な配線を形成し、かつ硬化剤により良好な絶縁信頼性を付与する観点からは、上記硬化剤は、当量が250以下である硬化剤を含むことが好ましい。上記硬化剤がシアネートエステル化合物である場合には、上記硬化剤における当量はシアネートエステル基当量を示す。上記硬化剤がフェノール化合物である場合には、上記硬化剤における当量はフェノール性水酸基当量を示す。   From the viewpoint of further reducing the surface roughness of the surface of the insulating layer, forming finer wiring on the surface of the insulating layer, and providing good insulation reliability with the curing agent, the curing agent is equivalent to It is preferable to contain the hardening | curing agent whose is 250 or less. When the said hardening | curing agent is a cyanate ester compound, the equivalent in the said hardening | curing agent shows cyanate ester group equivalent. When the said hardening | curing agent is a phenol compound, the equivalent in the said hardening | curing agent shows a phenolic hydroxyl group equivalent.

上記硬化剤の全体100重量%中、当量が250以下である硬化剤の含有量は、好ましくは30重量%以上、より好ましくは50重量%以上である。上記硬化剤の全量が、当量が250以下である硬化剤であってもよい。当量が250以下である硬化剤の含有量が上記下限以上であると、絶縁層の表面の表面粗さがより一層小さくなり、かつ絶縁層の表面により一層微細な配線を形成できる。さらに、当量が250以下である硬化剤の含有量が上記下限以上であると、絶縁層のガラス転移温度がより一層高くなる。   The content of the curing agent having an equivalent weight of 250 or less in 100% by weight of the entire curing agent is preferably 30% by weight or more, more preferably 50% by weight or more. The total amount of the curing agent may be a curing agent having an equivalent weight of 250 or less. When the content of the curing agent having an equivalent weight of 250 or less is not less than the above lower limit, the surface roughness of the surface of the insulating layer is further reduced, and finer wiring can be formed on the surface of the insulating layer. Furthermore, the glass transition temperature of an insulating layer becomes still higher that content of the hardening | curing agent whose equivalent is 250 or less is more than the said minimum.

上記フェノール化合物の重量平均分子量は、好ましくは100以上、より好ましくは500以上、好ましくは50000以下、より好ましくは20000以下である。上記硬化剤の重量平均分子量が上記下限以上であると、Bステージフィルムを容易に得ることができ、Bステージフィルムが脆くなりにくい。上記フェノール化合物の重量平均分子量が上記上限以下であると、硬化物のガラス転移温度がより一層高くなり、硬化物の耐熱性がより一層高くなる。   The weight average molecular weight of the phenol compound is preferably 100 or more, more preferably 500 or more, preferably 50000 or less, more preferably 20000 or less. A B stage film can be easily obtained as the weight average molecular weight of the said hardening | curing agent is more than the said minimum, and a B stage film does not become weak easily. When the weight average molecular weight of the phenol compound is not more than the above upper limit, the glass transition temperature of the cured product is further increased, and the heat resistance of the cured product is further increased.

上記「重量平均分子量」とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での重量平均分子量を示す。   The “weight average molecular weight” indicates a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC).

上記エポキシ樹脂と上記硬化剤との配合比は特に限定されない。エポキシ樹脂と硬化剤との配合比は、エポキシ樹脂と硬化剤との種類により適宜決定される。上記エポキシ樹脂と上記硬化剤との当量比(エポキシ当量:硬化剤の当量)は、1:0.25〜1:2であることが好ましく、1:0.3〜1:1.5であることがより好ましい。当量比が上記範囲を満足すると、絶縁層と金属層との密着性がより一層高くなる。   The compounding ratio of the epoxy resin and the curing agent is not particularly limited. The compounding ratio of the epoxy resin and the curing agent is appropriately determined depending on the types of the epoxy resin and the curing agent. The equivalent ratio of the epoxy resin and the curing agent (epoxy equivalent: equivalent of the curing agent) is preferably 1: 0.25 to 1: 2, and preferably 1: 0.3 to 1: 1.5. It is more preferable. When the equivalent ratio satisfies the above range, the adhesion between the insulating layer and the metal layer is further enhanced.

[無機充填剤]
上記エポキシ樹脂材料に含まれている無機充填剤は特に限定されない。該無機充填剤はとして、従来公知の無機充填剤を使用可能である。上記無機充填剤はそれぞれ、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Inorganic filler]
The inorganic filler contained in the epoxy resin material is not particularly limited. As the inorganic filler, conventionally known inorganic fillers can be used. As for the said inorganic filler, only 1 type may be used respectively and 2 or more types may be used together.

上記無機充填剤としては、シリカ、タルク、クレイ、マイカ、ハイドロタルサイト、アルミナ、酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、窒化アルミニウム及び窒化ホウ素等が挙げられる。   Examples of the inorganic filler include silica, talc, clay, mica, hydrotalcite, alumina, magnesium oxide, aluminum hydroxide, aluminum nitride, and boron nitride.

粗化処理された硬化物の表面の表面粗さをより一層小さくし、かつ硬化物の表面により一層微細な配線を形成し、かつ硬化物により良好な絶縁信頼性を付与する観点からは、上記無機充填剤は、シリカ又はアルミナであることが好ましく、シリカであることがより好ましく、溶融シリカであることが更に好ましい。シリカの使用により、硬化物の熱線膨張係数がより一層低くなり、かつ粗化処理された硬化物の表面の表面粗さが効果的に小さくなる。シリカの形状は略球状であることが好ましい。   From the viewpoint of further reducing the surface roughness of the roughened cured product surface, forming finer wiring on the cured product surface, and imparting good insulation reliability to the cured product, The inorganic filler is preferably silica or alumina, more preferably silica, and still more preferably fused silica. By using silica, the coefficient of thermal expansion of the cured product is further reduced, and the surface roughness of the surface of the cured product that has been roughened is effectively reduced. The shape of silica is preferably substantially spherical.

上記無機充填剤の平均粒径は好ましくは1nm以上、より好ましくは10nm以上、更に好ましくは50nm以上、特に好ましくは150nm以上、好ましくは20μm以下、より好ましくは10μm以下、更に好ましくは5μm以下、特に好ましくは1μm以下である。上記無機充填剤の平均粒径が上記下限以上及び上記上限以下であると、粗化処理により形成される孔の大きさが微細になり、孔の数が多くなり、かつ孔の深さが深くなる。この結果、硬化物と金属層との密着性がより一層高くなる。   The average particle size of the inorganic filler is preferably 1 nm or more, more preferably 10 nm or more, further preferably 50 nm or more, particularly preferably 150 nm or more, preferably 20 μm or less, more preferably 10 μm or less, still more preferably 5 μm or less, particularly Preferably it is 1 micrometer or less. When the average particle size of the inorganic filler is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the size of the holes formed by the roughening treatment becomes fine, the number of holes increases, and the depth of the holes is deep. Become. As a result, the adhesion between the cured product and the metal layer is further enhanced.

上記無機充填剤の平均粒径として、50%となるメディアン径(d50)の値が採用される。上記平均粒径は、レーザー回折散乱方式の粒度分布測定装置を用いて測定可能である。   A median diameter (d50) value of 50% is employed as the average particle diameter of the inorganic filler. The average particle size can be measured using a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus.

上記無機充填剤は、球状であることが好ましく、球状シリカであることがより好ましい。この場合には、絶縁層の表面の表面粗さが効果的に小さくなり、更に硬化物と金属層との密着性が効果的に高くなる。上記無機充填剤は、表面処理されていることが好ましく、カップリング剤により表面処理されていることがより好ましい。これにより、粗化処理された絶縁層の表面の表面粗さがより一層小さくなり、かつ絶縁層の表面により一層微細な配線を形成でき、かつ絶縁層により良好な配線間絶縁信頼性及び層間絶縁信頼性を付与することができる。   The inorganic filler is preferably spherical and more preferably spherical silica. In this case, the surface roughness of the surface of the insulating layer is effectively reduced, and the adhesion between the cured product and the metal layer is effectively increased. The inorganic filler is preferably surface-treated, and more preferably surface-treated with a coupling agent. As a result, the surface roughness of the roughened insulating layer is further reduced, finer wiring can be formed on the surface of the insulating layer, and the insulating layer has better inter-wiring insulation reliability and interlayer insulation. Reliability can be imparted.

上記無機充填剤が球状である場合には、上記無機充填剤のアスペクト比は好ましくは2以下、より好ましくは1.5以下である。   When the inorganic filler is spherical, the aspect ratio of the inorganic filler is preferably 2 or less, more preferably 1.5 or less.

上記無機充填剤の含有量は特に限定されない。上記エポキシ樹脂材料に含まれている全固形分(以下、全固形分Aと略記することがある)100重量%中、上記無機充填剤の含有量は好ましくは25重量%以上、より好ましくは30重量%以上、更に好ましくは40重量%以上、特に好ましくは50重量%以上、好ましくは85重量%以下、より好ましくは80重量%以下、更に好ましくは75重量%以下である。上記無機充填剤の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、粗化処理された硬化物の表面の表面粗さがより一層小さくなり、硬化物の表面により一層微細な配線を形成することができ、硬化物と金属層との密着性がより一層高くなる。さらに、上記無機充填剤の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化物の熱線膨張係数がより一層低くなる。「全固形分A」とは、上記エポキシ樹脂と上記硬化剤と上記無機充填剤と必要に応じて配合される固形分との総和をいう。「全固形分A」には、後述する硬化促進剤及び熱可塑性樹脂が含まれる。「固形分」とは、不揮発成分であり、成形又は加熱時に揮発しない成分をいう。   The content of the inorganic filler is not particularly limited. The content of the inorganic filler is preferably 25% by weight or more, more preferably 30% in 100% by weight of the total solid content (hereinafter sometimes abbreviated as total solid content A) contained in the epoxy resin material. % By weight or more, more preferably 40% by weight or more, particularly preferably 50% by weight or more, preferably 85% by weight or less, more preferably 80% by weight or less, still more preferably 75% by weight or less. When the content of the inorganic filler is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the surface roughness of the roughened cured product is further reduced, and finer wiring is formed on the surface of the cured product. And the adhesion between the cured product and the metal layer is further enhanced. Furthermore, the thermal linear expansion coefficient of hardened | cured material becomes still lower that content of the said inorganic filler is more than the said minimum and below the said upper limit. “Total solid content A” refers to the sum of the epoxy resin, the curing agent, the inorganic filler, and the solid content blended as necessary. “Total solid content A” includes a curing accelerator and a thermoplastic resin described later. “Solid content” refers to a non-volatile component that does not volatilize during molding or heating.

[熱可塑性樹脂]
本発明に係るエポキシ樹脂材料は、熱可塑性樹脂を含むことが好ましい。該熱可塑性樹脂は特に限定されない。該熱可塑性樹脂として、従来公知の熱可塑性樹脂を使用可能である。上記熱可塑性樹脂は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Thermoplastic resin]
The epoxy resin material according to the present invention preferably contains a thermoplastic resin. The thermoplastic resin is not particularly limited. A conventionally known thermoplastic resin can be used as the thermoplastic resin. As for the said thermoplastic resin, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記熱可塑性樹脂としては、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、変性ポリフェニレンエーテル樹脂、ゴム成分及び有機フィラー等が挙げられる。上記熱可塑性樹脂は、フェノキシ樹脂であることが特に好ましい。該フェノキシ樹脂の使用により、溶融粘度を調整することができるために無機充填剤の分散性が良好になり、かつ硬化過程で、意図しない領域にBステージフィルムが濡れ拡がり難くなる。またフェノキシ樹脂の配合量を所定の範囲内にすることで、樹脂組成物又はBステージフィルムの回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性の悪化や無機フィラーの不均一化を抑制できる。   Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resins, polyvinyl acetal resins, modified polyphenylene ether resins, rubber components, and organic fillers. The thermoplastic resin is particularly preferably a phenoxy resin. By using the phenoxy resin, the melt viscosity can be adjusted, so that the dispersibility of the inorganic filler is improved, and the B stage film is difficult to wet and spread in an unintended region during the curing process. Moreover, the deterioration of the embedding property with respect to the hole or the unevenness | corrugation of the circuit board of a resin composition or a B stage film and the nonuniformity of an inorganic filler can be suppressed by making the compounding quantity of a phenoxy resin into a predetermined range.

上記フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型の骨格、ビスフェノールF型の骨格、ビスフェノールS型の骨格、ビフェニル骨格、ノボラック骨格、ナフタレン骨格及びイミド骨格などの骨格を有するフェノキシ樹脂等が挙げられる。   Examples of the phenoxy resin include phenoxy resins having a skeleton such as a bisphenol A skeleton, a bisphenol F skeleton, a bisphenol S skeleton, a biphenyl skeleton, a novolac skeleton, a naphthalene skeleton, and an imide skeleton.

硬化物の熱線膨張係数をより一層低くし、硬化物と金属層との密着性をより一層高める観点からは、上記熱可塑性樹脂は、変性ポリフェニレンエーテル樹脂であることが好ましい。上記変性ポリフェニレンエーテル樹脂は、骨格中に反応性基がないか又は少ないので、硬化物において架橋点間分子量を大きくすることができ、架橋密度が下がることで、硬化物と金属層との密着性が高くなる。   From the viewpoint of further reducing the thermal linear expansion coefficient of the cured product and further improving the adhesion between the cured product and the metal layer, the thermoplastic resin is preferably a modified polyphenylene ether resin. Since the modified polyphenylene ether resin has no or few reactive groups in the skeleton, the molecular weight between crosslinking points can be increased in the cured product, and the adhesion between the cured product and the metal layer can be reduced by reducing the crosslinking density. Becomes higher.

上記熱可塑性樹脂の重量平均分子量は、好ましくは3000以上、好ましくは100000以下である。上記重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での重量平均分子量を示す。   The thermoplastic resin preferably has a weight average molecular weight of 3000 or more, preferably 100,000 or less. The weight average molecular weight indicates a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC).

上記フェノキシ樹脂の市販品としては、例えば、東都化成社製の「YP50」、「YP55」及び「YP70」、並びに三菱化学社製の「1256B40」、「4250」、「4256H40」、「4275」、「YX6954BH30」及び「YX8100BH30」などが挙げられる。   Examples of commercially available phenoxy resins include “YP50”, “YP55” and “YP70” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., and “1256B40”, “4250”, “4256H40”, “4275” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, Examples thereof include “YX6954BH30” and “YX8100BH30”.

上記熱可塑性樹脂の含有量は特に限定されない。上記全固形分B100重量%中、上記熱可塑性樹脂の含有量(熱可塑性樹脂がフェノキシ樹脂である場合にはフェノキシ樹脂の含有量)は、好ましくは1重量%以上、より好ましくは5重量%以上、好ましくは30重量%以下、より好ましくは20重量%以下、更により好ましくは15重量%以下である。上記熱可塑性樹脂の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化物の熱線膨張係数がより一層低くなる。また、エポキシ樹脂材料の回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性が良好になる。上記熱可塑性樹脂の含有量が上記下限以上であると、フィルム成膜性が高くなり、より一層良好なBステージフィルムが得られる。上記熱可塑性樹脂の含有量が上記上限以下であると、粗化処理された硬化物の表面の表面粗さがより一層小さくなり、硬化物と金属層との密着性がより一層高くなる。   The content of the thermoplastic resin is not particularly limited. Of the total solid content B of 100% by weight, the content of the thermoplastic resin (when the thermoplastic resin is a phenoxy resin, the content of the phenoxy resin) is preferably 1% by weight or more, more preferably 5% by weight or more. , Preferably 30% by weight or less, more preferably 20% by weight or less, and even more preferably 15% by weight or less. When the content of the thermoplastic resin is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the thermal linear expansion coefficient of the cured product is further lowered. Moreover, the embedding property with respect to the hole or unevenness | corrugation of the circuit board of an epoxy resin material becomes favorable. When the content of the thermoplastic resin is not less than the above lower limit, the film-forming property is enhanced, and an even better B-stage film is obtained. When the content of the thermoplastic resin is not more than the above upper limit, the surface roughness of the roughened cured product is further reduced, and the adhesion between the cured product and the metal layer is further enhanced.

[硬化促進剤]
上記エポキシ樹脂材料は硬化促進剤を含むことが好ましい。該硬化促進剤の使用により、硬化速度がより一層速くなる。エポキシ樹脂材料を速やかに硬化させることで、硬化物の架橋構造を均一にすることができると共に、未反応の官能基数が減り、結果的に架橋密度が高くなる。上記硬化促進剤は特に限定されない。上記硬化促進剤として、従来公知の硬化促進剤を使用可能である。上記硬化促進剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Curing accelerator]
The epoxy resin material preferably contains a curing accelerator. By using the curing accelerator, the curing rate is further increased. By rapidly curing the epoxy resin material, the cross-linked structure of the cured product can be made uniform, the number of unreacted functional groups is reduced, and as a result, the cross-linking density is increased. The said hardening accelerator is not specifically limited. Conventionally known curing accelerators can be used as the curing accelerator. As for the said hardening accelerator, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記硬化促進剤としては、例えば、イミダゾール化合物、リン化合物、アミン化合物及び有機金属化合物等が挙げられる。   Examples of the curing accelerator include imidazole compounds, phosphorus compounds, amine compounds, and organometallic compounds.

上記イミダゾール化合物としては、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール及び2−フェニル−4−メチル−5−ジヒドロキシメチルイミダゾール等が挙げられる。   Examples of the imidazole compound include 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl- 2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-un Decylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2 ′ -Methyl Midazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6 [2′-Ethyl-4′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine Isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-methylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole and 2-phenyl-4-methyl-5-dihydroxymethylimidazole Can be mentioned.

上記リン化合物としては、トリフェニルホスフィン等が挙げられる。   Examples of the phosphorus compound include triphenylphosphine.

上記アミン化合物としては、ジエチルアミン、トリエチルアミン、ジエチレンテトラミン、トリエチレンテトラミン及び4,4−ジメチルアミノピリジン等が挙げられる。   Examples of the amine compound include diethylamine, triethylamine, diethylenetetramine, triethylenetetramine and 4,4-dimethylaminopyridine.

上記有機金属化合物としては、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸スズ、オクチル酸コバルト、ビスアセチルアセトナートコバルト(II)及びトリスアセチルアセトナートコバルト(III)等が挙げられる。   Examples of the organometallic compound include zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin octylate, cobalt octylate, bisacetylacetonate cobalt (II), and trisacetylacetonate cobalt (III).

硬化物の絶縁信頼性を高める観点からは、上記硬化促進剤は、イミダゾール化合物であることが特に好ましい。イミダゾール化合物の使用により、示差走査熱量計で測定した硬化発熱ピークトップが130℃以上、180℃以下の温度領域内にあり、かつ発熱ピークの半値幅が20℃以下であるエポキシ樹脂材料を得ることが容易になる。   From the viewpoint of increasing the insulation reliability of the cured product, the curing accelerator is particularly preferably an imidazole compound. By using an imidazole compound, an epoxy resin material having a curing exothermic peak top measured by a differential scanning calorimeter within a temperature range of 130 ° C. or higher and 180 ° C. or lower and a half-value width of the exothermic peak of 20 ° C. or lower is obtained. Becomes easier.

上記硬化促進剤の含有量は特に限定されない。エポキシ樹脂材料を効率的に硬化させる観点からは、上記全固形分B100重量%中、上記硬化促進剤の含有量は好ましくは0.01重量%以上、好ましくは3重量%以下である。   The content of the curing accelerator is not particularly limited. From the viewpoint of efficiently curing the epoxy resin material, the content of the curing accelerator in the total solid content B of 100% by weight is preferably 0.01% by weight or more, and preferably 3% by weight or less.

[他の成分]
耐衝撃性、耐熱性、樹脂の相溶性及び作業性等の改善を目的として、エポキシ樹脂材料には、カップリング剤、着色剤、酸化防止剤、紫外線劣化防止剤、消泡剤、増粘剤、揺変性付与剤及び上述した樹脂以外の他の樹脂等を添加してもよい。
[Other ingredients]
For the purpose of improving impact resistance, heat resistance, resin compatibility and workability, epoxy resin materials include coupling agents, colorants, antioxidants, UV degradation inhibitors, antifoaming agents, and thickeners. A thixotropic agent and other resins other than those mentioned above may be added.

上記カップリング剤としては、シランカップリング剤、チタンカップリング剤及びアルミニウムカップリング剤等が挙げられる。上記シランカップリング剤としては、ビニルシラン、アミノシラン、イミダゾールシラン及びエポキシシラン等が挙げられる。   Examples of the coupling agent include silane coupling agents, titanium coupling agents, and aluminum coupling agents. Examples of the silane coupling agent include vinyl silane, amino silane, imidazole silane, and epoxy silane.

上記カップリング剤の含有量は特に限定されない。上記全固形分B100重量%中、上記カップリング剤の含有量は0.01重量%以上、5重量%以下であることが好ましい。   The content of the coupling agent is not particularly limited. In the total solid content B of 100% by weight, the content of the coupling agent is preferably 0.01% by weight or more and 5% by weight or less.

上記他の樹脂としては、ポリフェニレンエーテル樹脂、ジビニルベンジルエーテル樹脂、ポリアリレート樹脂、ジアリルフタレート樹脂、ポリイミド樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、ベンゾオキサゾール樹脂、ビスマレイミド樹脂及びアクリレート樹脂等が挙げられる。   Examples of the other resin include polyphenylene ether resin, divinyl benzyl ether resin, polyarylate resin, diallyl phthalate resin, polyimide resin, benzoxazine resin, benzoxazole resin, bismaleimide resin, and acrylate resin.

(Bステージフィルムであるエポキシ樹脂材料)
上記樹脂組成物をフィルム状に成形する方法としては、例えば、押出機を用いて、樹脂組成物を溶融混練し、押出した後、Tダイ又はサーキュラーダイ等により、フィルム状に成形する押出成形法、樹脂組成物を有機溶剤等の溶剤に溶解又は分散させた後、キャスティングしてフィルム状に成形するキャスティング成形法、並びに従来公知のその他のフィルム成形法等が挙げられる。なかでも、薄型化を進めることができるので、押出成形法又はキャスティング成形法が好ましい。フィルムにはシートが含まれる。
(B-stage film epoxy resin material)
As a method for forming the resin composition into a film, for example, an extrusion molding method is used in which the resin composition is melt-kneaded using an extruder, extruded, and then formed into a film using a T-die or a circular die. Examples thereof include a casting molding method in which the resin composition is dissolved or dispersed in a solvent such as an organic solvent and then cast into a film, and other conventionally known film molding methods. Of these, the extrusion molding method or the casting molding method is preferable because the thickness can be reduced. The film includes a sheet.

上記樹脂組成物をフィルム状に成形し、熱による硬化が進行し過ぎない程度に、例えば90〜200℃で10〜180秒間加熱乾燥させることにより、Bステージフィルムを得ることができる。   A B-stage film can be obtained by forming the resin composition into a film and drying it by heating at 90 to 200 ° C. for 10 to 180 seconds to such an extent that curing by heat does not proceed excessively.

上述のような乾燥工程により得ることができるフィルム状の樹脂組成物をBステージフィルムと称する。   The film-like resin composition that can be obtained by the drying process as described above is referred to as a B-stage film.

上記Bステージフィルムは、半硬化状態にある半硬化物である。半硬化物は、完全に硬化しておらず、硬化がさらに進行され得る。   The B-stage film is a semi-cured product in a semi-cured state. The semi-cured product is not completely cured and curing can proceed further.

上記樹脂組成物は、基材と、該基材の一方の表面に積層されたBステージフィルムとを備える積層フィルムを形成するために好適に用いることができる。積層フィルムのBステージフィルムが、上記樹脂組成物により形成される。   The said resin composition can be used suitably in order to form a laminated film provided with a base material and the B stage film laminated | stacked on one surface of this base material. A B-stage film of a laminated film is formed from the resin composition.

上記積層フィルムの上記基材としては、ポリエチレンテレフタレートフィルム及びポリブチレンテレフタレートフィルムなどのポリエステル樹脂フィルム、ポリエチレンフィルム及びポリプロピレンフィルムなどのオレフィン樹脂フィルム、ポリイミド樹脂フィルム、銅箔及びアルミニウム箔などの金属箔等が挙げられる。上記基材の表面は、必要に応じて、離型処理されていてもよい。   Examples of the base material of the laminated film include polyester resin films such as polyethylene terephthalate film and polybutylene terephthalate film, olefin resin films such as polyethylene film and polypropylene film, polyimide resin film, metal foil such as copper foil and aluminum foil, and the like. Can be mentioned. The surface of the base material may be subjected to a release treatment as necessary.

上記エポキシ樹脂材料を回路の絶縁層として用いる場合、エポキシ樹脂材料により形成された層の厚さは、回路を形成する導体層の厚さ以上であることが好ましい。上記エポキシ樹脂材料により形成された層の厚さは、好ましくは5μm以上、好ましくは200μm以下である。   When the epoxy resin material is used as an insulating layer of a circuit, the thickness of the layer formed of the epoxy resin material is preferably equal to or greater than the thickness of the conductor layer that forms the circuit. The thickness of the layer formed of the epoxy resin material is preferably 5 μm or more, and preferably 200 μm or less.

(プリント配線板)
上記エポキシ樹脂材料は、プリント配線板において絶縁層を形成するために好適に用いられる。
(Printed wiring board)
The said epoxy resin material is used suitably in order to form an insulating layer in a printed wiring board.

上記プリント配線板は、例えば、上記樹脂組成物により形成されたBステージフィルムを用いて、該Bステージフィルムを回路基板等に対して加熱加圧成形することにより得られる。   The printed wiring board can be obtained, for example, by using a B stage film formed of the resin composition and heat-pressing the B stage film on a circuit board or the like.

上記Bステージフィルムに対して、片面又は両面に金属箔を積層できる。上記Bステージフィルムと金属箔とを積層する方法は特に限定されず、公知の方法を使用可能である。例えば、平行平板プレス機又はロールラミネーター等の装置を用いて、加熱しながら又は加熱せずに加圧しながら、上記Bステージフィルムを金属箔に積層できる。   A metal foil can be laminated on one side or both sides of the B-stage film. The method for laminating the B-stage film and the metal foil is not particularly limited, and a known method can be used. For example, the B-stage film can be laminated on the metal foil using an apparatus such as a parallel plate press or a roll laminator while applying pressure while heating or without heating.

(銅張り積層板及び多層基板)
上記エポキシ樹脂材料は、銅張り積層板を得るために好適に用いられる。上記銅張り積層板の一例として、銅箔と、該銅箔の一方の表面に積層されたBステージフィルムとを備える銅張り積層板が挙げられる。この銅張り積層板のBステージフィルムが、本発明に係るエポキシ樹脂材料により形成される。
(Copper-clad laminate and multilayer board)
The said epoxy resin material is used suitably in order to obtain a copper clad laminated board. An example of the copper-clad laminate is a copper-clad laminate comprising a copper foil and a B stage film laminated on one surface of the copper foil. The copper-clad laminate B-stage film is formed of the epoxy resin material according to the present invention.

上記銅張り積層板の上記銅箔の厚さは特に限定されない。上記銅箔の厚さは、1〜50μmの範囲内であることが好ましい。また、エポキシ樹脂材料を硬化させた硬化物層と銅箔との接着強度を高めるために、上記銅箔は微細な凹凸を表面に有することが好ましい。凹凸の形成方法は特に限定されない。上記凹凸の形成方法としては、公知の薬液を用いた処理による形成方法等が挙げられる。   The thickness of the copper foil of the copper-clad laminate is not particularly limited. The thickness of the copper foil is preferably in the range of 1 to 50 μm. Moreover, in order to raise the adhesive strength of the hardened | cured material layer which hardened the epoxy resin material, and copper foil, it is preferable that the said copper foil has a fine unevenness | corrugation on the surface. The method for forming the unevenness is not particularly limited. Examples of the method for forming the unevenness include a formation method by treatment using a known chemical solution.

また、本発明に係るエポキシ樹脂材料は、多層基板を得るために好適に用いられる。上記多層基板の一例として、回路基板と、該回路基板の表面上に積層された硬化物層とを備える多層基板が挙げられる。この多層基板の硬化物層が、上記エポキシ樹脂材料を硬化させることにより形成される。上記硬化物層は、回路基板の回路が設けられた表面上に積層されていることが好ましい。上記硬化物層の一部は、上記回路間に埋め込まれていることが好ましい。   Moreover, the epoxy resin material according to the present invention is suitably used for obtaining a multilayer substrate. As an example of the multilayer substrate, there is a multilayer substrate including a circuit board and a cured product layer laminated on the surface of the circuit board. The cured product layer of the multilayer substrate is formed by curing the epoxy resin material. It is preferable that the said hardened | cured material layer is laminated | stacked on the surface in which the circuit of the circuit board was provided. Part of the cured product layer is preferably embedded between the circuits.

上記多層基板では、上記硬化物層の上記回路基板が積層された表面とは反対側の表面が粗化処理されていることがより好ましい。粗化処理方法は、従来公知の粗化処理方法を用いることができ特に限定されない。上記硬化物層の表面は、粗化処理の前に膨潤処理されていてもよい。   In the multilayer substrate, it is more preferable that the surface of the cured product layer opposite to the surface on which the circuit substrate is laminated is roughened. The roughening method can be any conventionally known roughening method and is not particularly limited. The surface of the cured product layer may be swelled before the roughening treatment.

また、上記多層基板は、上記硬化物層の粗化処理された表面に積層された金属層をさらに備えることが好ましい。金属層は銅層であることが好ましく、銅めっき層であることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the said multilayer substrate is further equipped with the metal layer laminated | stacked on the surface by which the roughening process of the said hardened | cured material layer was carried out. The metal layer is preferably a copper layer, and is preferably a copper plating layer.

また、上記多層基板の他の例として、回路基板と、該回路基板の表面上に積層された硬化物層と、該硬化物層の上記回路基板が積層された表面とは反対側の表面に積層された銅箔とを備える多層基板が挙げられる。上記硬化物層及び上記銅箔が、銅箔と該銅箔の一方の表面に積層されたBステージフィルムとを備える銅張り積層板を用いて、上記Bステージフィルムを硬化させることにより形成されていることが好ましい。さらに、上記銅箔はエッチング処理されており、銅回路であることが好ましい。   Further, as another example of the multilayer board, a circuit board, a cured product layer laminated on the surface of the circuit board, and a surface of the cured product layer opposite to the surface on which the circuit board is laminated are provided. A multilayer board | substrate provided with the laminated copper foil is mentioned. The cured product layer and the copper foil are formed by curing the B-stage film using a copper-clad laminate comprising a copper foil and a B-stage film laminated on one surface of the copper foil. Preferably it is. Furthermore, it is preferable that the copper foil is etched and is a copper circuit.

上記多層基板の他の例として、回路基板と、該回路基板の表面上に積層された複数の硬化物層とを備える多層基板が挙げられる。上記複数層の硬化物層の内の少なくとも1層がが、上記エポキシ樹脂材料を硬化させることにより形成される。上記多層基板は、上記エポキシ樹脂材料を硬化させることにより形成されている上記硬化物層の少なくとも一方の表面に積層されている回路をさらに備えることが好ましい。   Another example of the multilayer substrate is a multilayer substrate including a circuit board and a plurality of cured product layers stacked on the surface of the circuit board. At least one of the plurality of cured product layers is formed by curing the epoxy resin material. It is preferable that the multilayer substrate further includes a circuit laminated on at least one surface of the cured product layer formed by curing the epoxy resin material.

図1に本発明の一実施形態に係るエポキシ樹脂材料を用いた多層基板を模式的に部分切欠正面断面図で示す。   FIG. 1 is a partially cutaway front sectional view schematically showing a multilayer substrate using an epoxy resin material according to an embodiment of the present invention.

図1に示す多層基板11では、回路基板12の上面12aに、複数層の硬化物層13〜16が積層されている。硬化物層13〜16は、絶縁層である。回路基板12の上面12aの一部の領域には、金属層17が形成されている。複数層の硬化物層13〜16のうち、回路基板12側とは反対の外側の表面に位置する硬化物層16以外の硬化物層13〜15には、上面の一部の領域に金属層17が形成されている。金属層17は回路である。回路基板12と硬化物層13の間、及び積層された硬化物層13〜16の各層間に、金属層17がそれぞれ配置されている。下方の金属層17と上方の金属層17とは、図示しないビアホール接続及びスルーホール接続の内の少なくとも一方により互いに接続されている。   In the multilayer substrate 11 shown in FIG. 1, a plurality of cured product layers 13 to 16 are laminated on the upper surface 12 a of the circuit substrate 12. The cured product layers 13 to 16 are insulating layers. A metal layer 17 is formed in a partial region of the upper surface 12 a of the circuit board 12. Among the plurality of cured product layers 13 to 16, the cured product layers 13 to 15 other than the cured product layer 16 located on the outer surface opposite to the circuit board 12 side include a metal layer in a partial region of the upper surface. 17 is formed. The metal layer 17 is a circuit. Metal layers 17 are respectively arranged between the circuit board 12 and the cured product layer 13 and between the laminated cured product layers 13 to 16. The lower metal layer 17 and the upper metal layer 17 are connected to each other by at least one of via hole connection and through hole connection (not shown).

多層基板11では、硬化物層13〜16が、本発明に係るエポキシ樹脂材料を硬化させることにより形成されている。本実施形態では、硬化物層13〜16の表面が粗化処理されているので、硬化物層13〜16の表面に図示しない微細な孔が形成されている。また、微細な孔の内部に金属層17が至っている。また、多層基板11では、金属層17の幅方向寸法(L)と、金属層17が形成されていない部分の幅方向寸法(S)とを小さくすることができる。また、多層基板11では、図示しないビアホール接続及びスルーホール接続で接続されていない上方の金属層と下方の金属層との間に、良好な絶縁信頼性が付与されている。   In the multilayer substrate 11, the cured product layers 13 to 16 are formed by curing the epoxy resin material according to the present invention. In the present embodiment, since the surfaces of the cured product layers 13 to 16 are roughened, fine holes (not shown) are formed on the surfaces of the cured product layers 13 to 16. Further, the metal layer 17 reaches the inside of the fine hole. Moreover, in the multilayer substrate 11, the width direction dimension (L) of the metal layer 17 and the width direction dimension (S) of the part in which the metal layer 17 is not formed can be made small. In the multilayer substrate 11, good insulation reliability is imparted between an upper metal layer and a lower metal layer that are not connected by via-hole connection and through-hole connection (not shown).

(粗化処理及び膨潤処理)
本発明に係るエポキシ樹脂材料は、粗化処理される硬化物を得るために用いられることが好ましい。上記硬化物には、更に硬化が可能な予備硬化物も含まれる。
(Roughening treatment and swelling treatment)
The epoxy resin material according to the present invention is preferably used for obtaining a cured product to be roughened. The cured product includes a precured product that can be further cured.

本発明に係るエポキシ樹脂材料を予備硬化させることにより得られた予備硬化物の表面に微細な凹凸を形成するために、予備硬化物は粗化処理されることが好ましい。粗化処理の前に、予備硬化物は膨潤処理されることが好ましい。硬化物は、予備硬化の後、かつ粗化処理される前に、膨潤処理されており、さらに粗化処理の後に硬化されていることが好ましい。ただし、予備硬化物は、必ずしも膨潤処理されなくてもよい。   In order to form fine irregularities on the surface of the precured material obtained by precuring the epoxy resin material according to the present invention, the precured material is preferably subjected to a roughening treatment. Prior to the roughening treatment, the precured product is preferably subjected to a swelling treatment. The cured product is preferably subjected to a swelling treatment after preliminary curing and before the roughening treatment, and is further cured after the roughening treatment. However, the pre-cured product may not necessarily be subjected to the swelling treatment.

上記膨潤処理の方法としては、例えば、エチレングリコールなどを主成分とする化合物の水溶液又は有機溶媒分散溶液などにより、予備硬化物を処理する方法が用いられる。膨潤処理に用いる膨潤液は、一般にpH調整剤などとして、アルカリを含む。膨潤液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。具体的には、例えば、上記膨潤処理は、40重量%エチレングリコール水溶液等を用いて、処理温度30〜85℃で1〜30分間、予備硬化物を処理することにより行なわれる。上記膨潤処理の温度は50〜85℃の範囲内であることが好ましい。上記膨潤処理の温度が低すぎると、膨潤処理に長時間を要し、更に硬化物と金属層との粗化接着強度が低くなる傾向がある。   As a method for the swelling treatment, for example, a method of treating a precured product with an aqueous solution or an organic solvent dispersion solution of a compound mainly composed of ethylene glycol or the like is used. The swelling liquid used for the swelling treatment generally contains an alkali as a pH adjuster or the like. The swelling liquid preferably contains sodium hydroxide. Specifically, for example, the swelling treatment is performed by treating a precured product with a 40 wt% ethylene glycol aqueous solution at a treatment temperature of 30 to 85 ° C. for 1 to 30 minutes. The swelling treatment temperature is preferably in the range of 50 to 85 ° C. When the temperature of the swelling treatment is too low, it takes a long time for the swelling treatment, and the roughened adhesive strength between the cured product and the metal layer tends to be low.

上記粗化処理には、例えば、マンガン化合物、クロム化合物又は過硫酸化合物などの化学酸化剤等が用いられる。これらの化学酸化剤は、水又は有機溶剤が添加された後、水溶液又は有機溶媒分散溶液として用いられる。粗化処理に用いられる粗化液は、一般にpH調整剤などとしてアルカリを含む。粗化液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。   For the roughening treatment, for example, a chemical oxidizing agent such as a manganese compound, a chromium compound, or a persulfuric acid compound is used. These chemical oxidizers are used as an aqueous solution or an organic solvent dispersion after water or an organic solvent is added. The roughening liquid used for the roughening treatment generally contains an alkali as a pH adjuster or the like. The roughening solution preferably contains sodium hydroxide.

上記マンガン化合物としては、過マンガン酸カリウム及び過マンガン酸ナトリウム等が挙げられる。上記クロム化合物としては、重クロム酸カリウム及び無水クロム酸カリウム等が挙げられる。上記過硫酸化合物としては、過硫酸ナトリウム、過硫酸カリウム及び過硫酸アンモニウム等が挙げられる。   Examples of the manganese compound include potassium permanganate and sodium permanganate. Examples of the chromium compound include potassium dichromate and anhydrous potassium chromate. Examples of the persulfate compound include sodium persulfate, potassium persulfate, and ammonium persulfate.

上記粗化処理の方法は特に限定されない。上記粗化処理の方法として、例えば、30〜90g/L過マンガン酸又は過マンガン酸塩溶液及び30〜90g/L水酸化ナトリウム溶液を用いて、処理温度30〜85℃及び1〜30分間の条件で、1回又は2回、予備硬化物を処理する方法が好適である。上記粗化処理の温度は50〜85℃の範囲内であることが好ましい。   The method for the roughening treatment is not particularly limited. As a method of the said roughening process, 30-90 g / L permanganic acid or a permanganate solution and 30-90 g / L sodium hydroxide solution are used, for example, process temperature 30-85 degreeC and 1-30 minutes. A method of treating a precured product once or twice under conditions is preferable. It is preferable that the temperature of the said roughening process exists in the range of 50-85 degreeC.

粗化処理された硬化物の表面の算術平均粗さRaは、好ましくは50nm以上、好ましくは350nm以下である。この場合には、硬化物と金属層との密着性がより一層高くなり、更に硬化物層の表面により一層微細な配線を形成することができる。   The arithmetic average roughness Ra of the surface of the roughened cured product is preferably 50 nm or more, and preferably 350 nm or less. In this case, the adhesion between the cured product and the metal layer is further enhanced, and further finer wiring can be formed on the surface of the cured product layer.

また、本発明に係るエポキシ樹脂材料を予備硬化させることにより得られた予備硬化物又は硬化物に、貫通孔が形成されることがある。上記多層基板などでは、貫通孔として、ビア又はスルーホール等が形成される。例えば、ビアは、COレーザー等のレーザーの照射により形成できる。ビアの直径は特に限定されないが、60〜80μm程度である。上記貫通孔の形成により、ビア内の底部には、硬化物層に含まれている樹脂成分に由来する樹脂の残渣であるスミアが形成されることが多い。 Moreover, a through-hole may be formed in the precured material or hardened | cured material obtained by precuring the epoxy resin material which concerns on this invention. In the multilayer substrate or the like, a via or a through hole is formed as a through hole. For example, the via can be formed by irradiation with a laser such as a CO 2 laser. The diameter of the via is not particularly limited, but is about 60 to 80 μm. Due to the formation of the through hole, a smear that is a resin residue derived from the resin component contained in the cured product layer is often formed at the bottom of the via.

上記スミアを除去するために、硬化物層の表面は、デスミア処理されることが好ましい。デスミア処理により硬化物の表面が粗化処理される。本発明に係るエポキシ樹脂材料の使用により、デスミア処理された硬化物の表面の表面粗さが小さくなる。デスミア処理は上記粗化処理を兼ねていてもよい。   In order to remove the smear, the surface of the cured product layer is preferably desmeared. The surface of the cured product is roughened by desmear treatment. By using the epoxy resin material according to the present invention, the surface roughness of the surface of the cured product subjected to the desmear treatment is reduced. The desmear process may also serve as the roughening process.

上記デスミア処理には、上述した粗化処理と同様に、例えば、マンガン化合物、クロム化合物又は過硫酸化合物などの化学酸化剤等が用いられる。これらの化学酸化剤は、水又は有機溶剤が添加された後、水溶液又は有機溶媒分散溶液として用いられる。デスミア処理に用いられるデスミア処理液は、一般にアルカリを含む。デスミア処理液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。   For the desmear treatment, for example, a chemical oxidant such as a manganese compound, a chromium compound, or a persulfate compound is used in the same manner as the roughening treatment described above. These chemical oxidizers are used as an aqueous solution or an organic solvent dispersion after water or an organic solvent is added. The desmear treatment liquid used for the desmear treatment generally contains an alkali. The desmear treatment liquid preferably contains sodium hydroxide.

上記デスミア処理の方法は特に限定されない。上記デスミア処理の方法として、例えば、30〜90g/L過マンガン酸又は過マンガン酸塩溶液及び30〜90g/L水酸化ナトリウム溶液を用いて、処理温度30〜85℃及び1〜30分間の条件で、1回又は2回、予備硬化物又は硬化物を処理する方法が好適である。上記デスミア処理の温度は50〜85℃の範囲内であることが好ましい。   The method for the desmear treatment is not particularly limited. As a method for the desmear treatment, for example, using a 30 to 90 g / L permanganate or permanganate solution and a 30 to 90 g / L sodium hydroxide solution, a treatment temperature of 30 to 85 ° C. and a condition of 1 to 30 minutes A method of treating a precured product or a cured product once or twice is preferable. It is preferable that the temperature of the said desmear process exists in the range of 50-85 degreeC.

以下、実施例及び比較例を挙げることにより、本発明を具体的に説明する。本発明は、以下の実施例に限定されない。   Hereinafter, the present invention will be specifically described by giving examples and comparative examples. The present invention is not limited to the following examples.

(エポキシ樹脂)
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製「828EL」)
ビフェニル骨格含有エポキシ樹脂(日本化薬社製「NC−3000H」)
ジシクロペンタジエン骨格含有エポキシ樹脂(日本化薬社製「XD−1000」)
(Epoxy resin)
Bisphenol A type epoxy resin (“828EL” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
Biphenyl skeleton-containing epoxy resin (“NC-3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Epoxy resin containing dicyclopentadiene skeleton (“XD-1000” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)

(シアネートエステル樹脂)
シアネートエステル樹脂溶液1(ビスフェノールA型ジシアネートのプレポリマー溶液、ロンザジャパン社製「BA−230S」、シアネートエステル樹脂(固形分)75重量%、溶媒(メチルエチルケトン)25重量%)
シアネートエステル樹脂溶液2(ビスフェノールA型ジシアネートのプレポリマー溶液、ロンザジャパン社製「BTP−6020S」、シアネートエステル樹脂(固形分)65重量%、溶媒(メチルエチルケトン30重量%、ジメチルホルムアミド5重量%)35重量%)
(Cyanate ester resin)
Cyanate ester resin solution 1 (Prepolymer solution of bisphenol A type dicyanate, “BA-230S” manufactured by Lonza Japan, cyanate ester resin (solid content) 75 wt%, solvent (methyl ethyl ketone) 25 wt%)
Cyanate ester resin solution 2 (Prepolymer solution of bisphenol A type dicyanate, “BTP-6020S” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., cyanate ester resin (solid content) 65 wt%, solvent (methyl ethyl ketone 30 wt%, dimethylformamide 5 wt%) 35 weight%)

(フェノール樹脂)
ビフェニル骨格含有フェノール樹脂(明和化成社製「MEH7851−H」)
(Phenolic resin)
Biphenyl skeleton-containing phenol resin (“MEH7851-H” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.)

(活性エステル硬化剤)
活性エステル硬化剤(DIC社製「HPC−8000」)
(Active ester curing agent)
Active ester curing agent (“HPC-8000” manufactured by DIC)

(熱可塑性樹脂)
ビフェニル骨格含有フェノキシ樹脂溶液(三菱化学社製「YX6954BH30」、ビフェニル骨格含有フェノキシ樹脂(固形分)30重量%、溶媒(メチルエチルケトンとシクロヘキサノンとの混合溶媒)70重量%)
変性ポリフェニレンエーテル樹脂溶液(旭化成社製「Xylon S202A」をトルエンで5重量%に溶解させた溶液)
(Thermoplastic resin)
Biphenyl skeleton-containing phenoxy resin solution (Mitsubishi Chemical "YX6954BH30", biphenyl skeleton-containing phenoxy resin (solid content) 30 wt%, solvent (mixed solvent of methyl ethyl ketone and cyclohexanone) 70 wt%)
Modified polyphenylene ether resin solution (solution of “Xylon S202A” manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd. dissolved in toluene to 5% by weight)

(硬化促進剤)
イミダゾール化合物A(2−フェニル−4−メチルイミダゾール、四国化成工業社製「2P4MZ」)
イミダゾール化合物B(2−エチル−4メチルイミダゾール、四国化成工業社製「2E4MZ」)
(Curing accelerator)
Imidazole Compound A (2-Phenyl-4-methylimidazole, “2P4MZ” manufactured by Shikoku Chemicals)
Imidazole compound B (2-ethyl-4methylimidazole, “2E4MZ” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.)

(無機充填剤)
無機充填剤A(シリカ(アドマテックス社製「SO−C1」、平均粒径0.25μm)が、エポキシシラン(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM−403」)により表面処理されている)
無機充填剤B(シリカ(アドマテックス社製「SO−C2」、平均粒径0.50μm)が、エポキシシラン(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業社製「KBM−403」)により表面処理されている)
(Inorganic filler)
Inorganic filler A (silica (“SO-C1” manufactured by Admatechs, average particle size of 0.25 μm) is epoxy silane (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane), “KBM-403” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Surface treatment)
Inorganic filler B (silica (“SO-C2” manufactured by Admatechs, average particle size 0.50 μm) is epoxysilane (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, “KBM-403” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)) Surface treatment)

(溶剤)
メチルエチルケトン
(solvent)
Methyl ethyl ketone

(実施例1)
メチルエチルケトン100重量部に、無機充填剤A(シリカ(アドマテックス社製「SO−C1」)100重量部と、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製「828EL」)25重量部と、ビフェニル骨格含有エポキシ樹脂(日本化薬社製「NC−3000H」)5重量部と、シアネートエステル樹脂溶液1(ロンザジャパン社製「BA−230S」)15重量部(固形分で11.25重量部)と、ビフェニル骨格含有フェノキシ樹脂溶液(三菱化学社製「YX6954BH30」)25重量部(固形分で7.5重量部)と、イミダゾール化合物A(2−フェニル−4−メチルイミダゾール、四国化成工業社製「2P4MZ」)0.6重量部と添加し、常温で攪拌して、樹脂組成物ワニスを得た。
Example 1
100 parts by weight of methyl ethyl ketone, 100 parts by weight of inorganic filler A (silica (“Ad-Tex” “SO-C1”)), 25 parts by weight of bisphenol A type epoxy resin (“828EL” manufactured by Mitsubishi Chemical), and biphenyl skeleton 5 parts by weight of an epoxy resin (“NC-3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 15 parts by weight (11.25 parts by weight in solid content) of cyanate ester resin solution 1 (“BA-230S” manufactured by Lonza Japan), 25 parts by weight (7.5 parts by weight of solid content) of biphenyl skeleton-containing phenoxy resin solution (“YX6954BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) and imidazole compound A (2-phenyl-4-methylimidazole, “2P4MZ manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) ]) 0.6 part by weight was added and stirred at room temperature to obtain a resin composition varnish.

離型処理された透明なポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(リンテック社製「PET5011 550」、厚み50μm)を用意した。このPETフィルムの離型処理された表面上にアプリケーターを用いて、乾燥後の厚みが40μmとなるように、得られた樹脂組成物ワニスを塗工した。次に、100℃のギアオーブン内で2分間乾燥して、縦200mm×横200mm×厚み40μmの樹脂シートの未硬化物(Bステージフィルム)とPETフィルムとの積層フィルムを作製した。   A release-treated transparent polyethylene terephthalate (PET) film (“PET5011 550” manufactured by Lintec Corporation, thickness 50 μm) was prepared. The obtained resin composition varnish was applied onto the surface of the PET film subjected to the mold release treatment using an applicator so that the thickness after drying was 40 μm. Next, it was dried in a gear oven at 100 ° C. for 2 minutes to prepare a laminated film of an uncured resin sheet (B stage film) of 200 mm long × 200 mm wide × 40 μm thick and a PET film.

(実施例2〜7及び比較例1,2)
配合成分の種類及び配合量を下記の表1に示すように変更したこと以外は実施例1と同様にして、積層フィルムを作製した。
(Examples 2 to 7 and Comparative Examples 1 and 2)
A laminated film was produced in the same manner as in Example 1 except that the types and blending amounts of the blending components were changed as shown in Table 1 below.

(評価)
(1)ピール強度測定
以下のようにして、ピール強度の測定用サンプルを作製した。
(Evaluation)
(1) Measurement of peel strength A sample for measuring peel strength was prepared as follows.

積層板の下地処理:
エッチングにより内層回路を形成したガラスエポキシ基板(利昌工業社製「CS−3665」)の両面を銅表面粗化剤(メック社製「メックエッチボンド CZ−8100」)に浸漬して、銅表面を粗化処理した。
Laminate surface treatment:
Both surfaces of a glass epoxy substrate (“CS-3665” manufactured by Risho Kogyo Co., Ltd.) on which an inner layer circuit has been formed by etching are immersed in a copper surface roughening agent (“MEC Etch Bond CZ-8100” manufactured by MEC) to immerse the copper surface. Roughening treatment was performed.

積層フィルムのラミネート:
得られた積層フィルムを、樹脂シートの未硬化物側から上記ガラスエポキシ基板の両面にセットして、ダイアフラム式真空ラミネーター(名機製作所社製「MVLP−500」)を用いて、上記ガラスエポキシ基板の両面にラミネートした。ラミネートは、20秒減圧して気圧を13hPa以下とし、その後20秒間を100℃、圧力0.8MPaでプレスすることにより行った。
Lamination of laminated film:
The obtained laminated film is set on both surfaces of the glass epoxy substrate from the uncured side of the resin sheet, and the glass epoxy substrate is used with a diaphragm vacuum laminator (“MVLP-500” manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd.). Laminated on both sides. Lamination was performed by reducing the pressure for 20 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressing for 20 seconds at 100 ° C. and a pressure of 0.8 MPa.

樹脂シートの硬化:
ラミネートされた積層フィルムからPETフィルムを剥離し、その後170℃及び60分の硬化条件で樹脂シートを硬化させ、積層サンプルを得た。
Curing of resin sheet:
The PET film was peeled from the laminated film laminated, and then the resin sheet was cured under the curing conditions of 170 ° C. and 60 minutes to obtain a laminated sample.

膨潤処理:
60℃の膨潤液(アトテックジャパン社製「スウェリングディップセキュリガントP」と和光純薬社製「水酸化ナトリウム」とからなる水溶液)に、上記積層サンプルを入れて、膨潤温度60℃で10分間揺動させた。その後、純水で洗浄した。
Swelling treatment:
The above laminated sample is put in a swelling solution at 60 ° C. (an aqueous solution composed of “Swelling Dip Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) and “sodium hydroxide” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., and the swelling temperature is 60 ° C. for 10 minutes. Rocked. Thereafter, it was washed with pure water.

粗化処理(過マンガン酸塩処理):
80℃の過マンガン酸ナトリウム粗化水溶液(アトテックジャパン社製「コンセントレートコンパクトCP」、和光純薬社製「水酸化ナトリウム」)に、膨潤処理された上記積層サンプルを入れて、粗化温度80℃で20分間揺動させた。その後、40℃の洗浄液(アトテックジャパン社製「リダクションセキュリガントP」、和光純薬社製「硫酸」)により10分間洗浄した後、純水でさらに洗浄した。このようにして、エッチングにより内層回路を形成したガラスエポキシ基板上に、粗化処理された硬化物を形成した。
Roughening treatment (permanganate treatment):
The above-mentioned layered sample that has been swollen is placed in a 80 ° C. sodium permanganate roughening aqueous solution (“Concentrate Compact CP” manufactured by Atotech Japan, “Sodium hydroxide” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.). Rock at 20 ° C. for 20 minutes. Then, after washing | cleaning for 10 minutes with a 40 degreeC washing | cleaning liquid ("Reduction securigant P" by the Atotech Japan company, "Sulfuric acid" by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.), it wash | cleaned further with the pure water. In this way, a roughened cured product was formed on the glass epoxy substrate on which the inner layer circuit was formed by etching.

無電解めっき処理:
上記粗化処理された硬化物の表面を、60℃のアルカリクリーナ(アトテックジャパン社製「クリーナーセキュリガント902」)で5分間処理し、脱脂洗浄した。洗浄後、上記硬化物を25℃のプリディップ液(アトテックジャパン社製「プリディップネオガントB」)で2分間処理した。その後、上記硬化物を40℃のアクチベーター液(アトテックジャパン社製「アクチベーターネオガント834」)で5分間処理し、パラジウム触媒を付けた。次に、30℃の還元液(アトテックジャパン社製「リデューサーネオガントWA」)により、硬化物を5分間処理した。
Electroless plating treatment:
The surface of the roughened cured product was treated with a 60 ° C. alkali cleaner (“Cleaner Securigant 902” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes and degreased and washed. After washing, the cured product was treated with a 25 ° C. pre-dip solution (“Pre-Dip Neogant B” manufactured by Atotech Japan) for 2 minutes. Thereafter, the cured product was treated with an activator solution at 40 ° C. (“Activator Neo Gantt 834” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes to attach a palladium catalyst. Next, the cured product was treated with a reducing solution at 30 ° C. (“Reducer Neogant WA” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes.

次に、上記硬化物を化学銅液(全てアトテックジャパン社製「ベーシックプリントガントMSK−DK」、「カッパープリントガントMSK」、「スタビライザープリントガントMSK」、「リデューサーCu」)に入れ、無電解めっきをめっき厚さが0.5μm程度になるまで実施した。無電解めっき後に、残留している水素ガスを除去するため、120℃の温度で30分間アニールをかけた。無電解めっきの工程までのすべての工程は、ビーカースケールで処理液を2Lとし、硬化物を揺動させながら実施した。   Next, the cured product is put into a chemical copper solution (all manufactured by Atotech Japan “Basic Print Gantt MSK-DK”, “Copper Print Gantt MSK”, “Stabilizer Print Gantt MSK”, “Reducer Cu”). Was carried out until the plating thickness reached about 0.5 μm. After the electroless plating, annealing was performed at a temperature of 120 ° C. for 30 minutes in order to remove the remaining hydrogen gas. All the steps up to the electroless plating step were performed with a treatment liquid of 2 L on a beaker scale and while the cured product was swung.

次に、無電解めっき処理された硬化物に、電解めっきをめっき厚さが25μmとなるまで実施した。電解銅めっきとして硫酸銅溶液(和光純薬社製「硫酸銅五水和物」、和光純薬社製「硫酸」、アトテックジャパン社製「ベーシックレベラーカパラシド HL」、アトテックジャパン社製「補正剤カパラシド GS」)を用いて、0.6A/cmの電流を流しめっき厚さが25μm程度となるまで電解めっきを実施した。銅めっき処理後、硬化物を190℃で2時間加熱し、硬化物をさらに硬化させた。このようにして、銅めっき層が上面に積層された硬化物を得た。 Next, electrolytic plating was performed on the cured product that had been subjected to electroless plating until the plating thickness reached 25 μm. As an electrolytic copper plating, a copper sulfate solution (“copper sulfate pentahydrate” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., “sulfuric acid” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., “basic leveler kaparaside HL” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. Capalaside GS ") was used to conduct electroplating until a current of 0.6 A / cm 2 was passed and the plating thickness was about 25 µm. After the copper plating treatment, the cured product was heated at 190 ° C. for 2 hours to further cure the cured product. Thus, the hardened | cured material with which the copper plating layer was laminated | stacked on the upper surface was obtained.

得られた銅めっき層が積層された硬化物において、銅めっき層の表面に、10mm幅に切り欠きを入れた。その後、引張試験機(島津製作所社製「AG−5000B」)を用いて、クロスヘッド速度5mm/分の条件で、硬化物と銅めっき層とのピール強度を測定した。   In the cured product obtained by laminating the obtained copper plating layer, a 10 mm wide cutout was made on the surface of the copper plating layer. Thereafter, the peel strength between the cured product and the copper plating layer was measured using a tensile tester (“AG-5000B” manufactured by Shimadzu Corporation) under the condition of a crosshead speed of 5 mm / min.

(2)熱線膨張係数(CTE)の評価
得られた積層フィルムからPETフィルムを剥がし、樹脂シートの未硬化物を190℃のギアオーブン内で2時間加熱して、樹脂シートの硬化物を得た。
(2) Evaluation of coefficient of thermal expansion (CTE) The PET film was peeled from the obtained laminated film, and the uncured resin sheet was heated in a gear oven at 190 ° C. for 2 hours to obtain a cured resin sheet. .

得られた硬化物を3mm×25mmの大きさに裁断した。熱・応力・歪測定装置(エスアイアイ・ナノテクノロジー社製「EXSTAR TMA/SS6100」)を用いて、引っ張り荷重2.94×10−2N、昇温速度5℃/分の条件で、裁断された硬化物の25〜150℃までの平均線膨張率を測定し、熱線膨張係数を評価した。 The obtained cured product was cut into a size of 3 mm × 25 mm. Using a heat / stress / strain measuring device ("EXSTAR TMA / SS6100" manufactured by SII Nano Technology), it was cut under the conditions of a tensile load of 2.94 × 10 -2 N and a heating rate of 5 ° C / min. The average linear expansion coefficient up to 25 to 150 ° C. of the cured product was measured, and the thermal linear expansion coefficient was evaluated.

(3)動的粘弾性測定装置(DMA)による貯蔵弾性率E’の評価
得られた積層フィルムからPETフィルムを剥がし、樹脂シートの未硬化物を190℃のギアオーブン内で2時間加熱して、樹脂シートの硬化物を得た。
(3) Evaluation of storage elastic modulus E ′ by dynamic viscoelasticity measuring device (DMA) The PET film is peeled off from the obtained laminated film, and the uncured resin sheet is heated in a gear oven at 190 ° C. for 2 hours. A cured resin sheet was obtained.

得られた硬化物を3mm×25mmの大きさに裁断した。粘弾性スペクトロメータ(エスアイアイ・ナノテクノロジー社製「EXSTAR DMS6100」)を用いて、昇温速度5℃/分の条件で、30〜300℃の温度範囲で裁断された硬化物の測定を実施し、250℃における貯蔵弾性率E’の値を評価した。   The obtained cured product was cut into a size of 3 mm × 25 mm. Using a viscoelasticity spectrometer ("EXSTAR DMS6100" manufactured by SII Nanotechnology Inc.), measurement of the cured product cut in a temperature range of 30 to 300 ° C was performed at a temperature rising rate of 5 ° C / min. The value of the storage elastic modulus E ′ at 250 ° C. was evaluated.

結果を下記の表1に示す。   The results are shown in Table 1 below.

Figure 2013181132
Figure 2013181132

11…多層基板
12…回路基板
12a…上面
13〜16…硬化物層
17…金属層(配線)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Multilayer substrate 12 ... Circuit board 12a ... Upper surface 13-16 ... Hardened | cured material layer 17 ... Metal layer (wiring)

Claims (4)

エポキシ樹脂と、硬化剤と、無機充填剤とを含み、
熱硬化後の硬化物の動的粘弾性測定装置を用いて測定した250℃での貯蔵弾性率E’が2.0×10Pa以下であり、
熱硬化後の硬化物の25〜150℃での熱線膨張係数が30ppm/℃以下である、エポキシ樹脂材料。
Including an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler,
The storage elastic modulus E ′ at 250 ° C. measured using a dynamic viscoelasticity measuring device of the cured product after thermosetting is 2.0 × 10 8 Pa or less,
The epoxy resin material whose thermal linear expansion coefficient in 25-150 degreeC of the hardened | cured material after thermosetting is 30 ppm / degrees C or less.
熱可塑性樹脂をさらに含む、請求項1に記載のエポキシ樹脂材料。   The epoxy resin material according to claim 1, further comprising a thermoplastic resin. フィルム状に成形されたBステージフィルムである、請求項1又は2に記載のエポキシ樹脂材料。   The epoxy resin material according to claim 1 or 2, which is a B-stage film formed into a film shape. 回路基板と、
前記回路基板の表面上に配置された硬化物層とを備え、
前記硬化物層が、請求項1〜3のいずれか1項に記載のエポキシ樹脂材料を硬化させることにより形成されている、多層基板。
A circuit board;
A cured product layer disposed on the surface of the circuit board,
The multilayer substrate in which the said hardened | cured material layer is formed by hardening the epoxy resin material of any one of Claims 1-3.
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