JP2012033593A - 電子回路部品の真贋判定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電子回路部品の製造時に所定条件で当該電子回路部品を動作させ、その動作時の消費電力または電磁波の波形を測定し、第1の波形データとして保存しておき、真贋判定する対象の電子回路部品を、前記所定条件と同じ条件で動作させて、その消費電力または電磁波の波形を測定して、第2の波形データとして一時保存し、前記保存しておいた第1の波形データと前記第2の波形データとを比較して、一致すれば本物と判定し、異なれば偽物と判定する。
【選択図】図1
Description
(1)非破壊で正規品と偽造品を識別できること、
(2)コスト上昇につながる特殊な製造工程を用いないこと、
(3)バーコードのように部品やLSI表面からはがしたりコピーできたりしないこと、を実現して、手軽に、しかも確実に電子回路部品が正規ルートで流通しているものか否かの真贋を識別できる仕組みを提案する。
(1)非破壊で正規品と偽造品を識別できる。また、
(2)コスト上昇につながる特殊な製造工程を用いないで、電子回路部品の真贋判定方法のための回路を組み込むことができ、手軽に確実に正規品であるか否かが判別できる。
(3)ここで用いられる識別データとしての波形データは、バーコードのように部品やLSI表面からはがしたりコピーできたりはしないので、安全性、盗難に対するセキュリティが高いものとなっている。
まず、LSI製品の製造時に、LSI製品の動作時の消費電力または電磁波の波形を測定し、波形データとして保存する。このとき
(1)LSI製品には、真贋判定のための識別データとする波形を生成する機能回路を構成するため、一つまたは複数の専用回路を実装する。または、LSI製品の本来機能の全てを利用する以外に、その一部の回路のみが動作するように配線しておくことにしてもよい。
(2)波形データを計測して保存しておくLSI製品としては、一つまたは同種類のLSI製品を複数用いる。
(3)LSI製品の動作時の消費電力または電磁波の波形を所定条件で測定する際には、電源電圧や動作温度あるいは測定装置といった測定環境は、単一条件、または複数条件とする。
(4)各条件での測定は、それぞれ一回、または複数回行う。
(5)測定した波形データはそのままのデータとして、または特徴抽出を行った後に、測定条件などのデータと共に保存する。この保存されたデータは、後日、市場に流通しているLSI製品に対して真贋判定を行うための識別データとして利用される。
(6)測定した波形データからは処理時間を抽出することができるので、処理時間を計測するための信号をLSIに出力させてもよい。この処理時間を、LSI製品に対して真贋判定を行うための識別データとして利用してもよい。
(a)LSI製品の本来機能の回路、またはそこに実装した真贋判定の波形を生成するための一つまたは複数の専用回路を、指定条件で動作させて消費電力または電磁波の波形の測定を行う。
(b)測定した波形データを保存してある一つまたは複数の波形データと比較する。
(c)電源電圧や動作温度あるいは測定装置といった測定環境を単一条件、または複数条件とする。
(d)各条件での測定は一回、または複数回行う。
(e)測定した波形データはそのまま、または特徴抽出を行った後に比較を行う。
(f)処理時間は波形データから抽出して比較するようにしてもよく、また、処理時間の計測のため、LSI製品が出力する信号を元に計測して比較してもよい。
(1)LSI製品の不良品検査、
(2)様々なLSI製品の模造品対策、
(3)LSI製品自体の価値の保護の他、ICカード等に書き込まれる電子マネー等やIDなどの価値のあるデータが盗用され模造品に書き込まれて使用されることの防止、
(4)PUFへの応用、
などの技術分野に利用できる。
このPUFの応用例については、以下に詳細に説明する。
12 測定装置
13 記憶装置
14 比較器
Claims (10)
- 電子回路部品の製造時に所定条件で当該電子回路部品を動作させ、その動作時の消費電力または電磁波の波形を測定し、第1の波形データとして保存しておき、
真贋判定する対象の電子回路部品を、前記所定条件と同じ条件で動作させて、その消費電力または電磁波の波形を測定して、第2の波形データとして一時保存し、
前記保存しておいた第1の波形データと前記第2の波形データとを比較して、一致すれば本物と判定し、異なれば偽物と判定する
ことを特徴とする電子回路部品の真贋判定方法。 - 請求項1に記載の電子回路部品の真贋判定方法において、
前記電子回路部品は、所定条件で動作して所定の波形を発生する回路を本来機能の回路とは別に備えている
ことを特徴とする電子回路部品の真贋判定方法。 - 請求項1に記載の電子回路部品の真贋判定方法において、
前記電子回路部品は、本来機能の全部または一部の回路を動作させて、その動作時の消費電力または電磁波の波形を測定し、第1の波形データとして保存する
ことを特徴とする電子回路部品の真贋判定方法。 - 請求項3に記載の電子回路部品の真贋判定方法において、
真贋判定する対象の電子回路部品に対して、本来機能の全部または一部の回路を前記所定条件と同じ条件で動作させて、その消費電力または電磁波の波形を測定して、第2の波形データとして一時保存し、
前記保存しておいた第1の波形データと前記第2の波形データとを比較する
ことを特徴とする電子回路部品の真贋判定方法。 - 請求項1に記載の電子回路部品の真贋判定方法において、
第1の波形データと第2の波形データとの比較は、波形データから所定の特徴抽出を行った後に、抽出した特徴データにより比較を行う
ことを特徴とする電子回路部品の真贋判定方法。 - 請求項1に記載の電子回路部品の真贋判定方法において、
前記所定条件での波形の測定は、複数の所定条件で複数回行い、複数の波形データを第1の波形データとして保存する
ことを特徴とする電子回路部品の真贋判定方法。 - 請求項6に記載の電子回路部品の真贋判定方法において、
真贋判定する対象の電子回路部品に対して、前記所定条件での波形の測定は、複数の所定条件で複数回行い、第2の波形データとして、保存してある複数の第1の波形データとの比較を行う
ことを特徴とする電子回路部品の真贋判定方法。 - 請求項1に記載の電子回路部品の真贋判定方法が用いられる電子回路部品であって、
電子回路部品の真贋判定のための回路として、所定条件で動作して所定の波形を発生する回路を、本来機能の回路とは別に備えている
ことを特徴とする電子回路部品。 - 請求項8に記載の電子回路部品の真贋判定方法が用いられる電子回路部品であって、
電子回路部品の真贋判定のための回路として、本来機能の回路とは別に備える回路は、リングオシレータである。
ことを特徴とする電子回路部品。 - 請求項8に記載の電子回路部品の真贋判定方法が用いられる電子回路部品であって、
電子回路部品の真贋判定のための回路として、本来機能の回路とは別に備える回路は、線形帰還シフトレジスタである。
ことを特徴とする電子回路部品。
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