JP2011233578A - 反動吸収装置及び半導体組立装置 - Google Patents

反動吸収装置及び半導体組立装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2011233578A
JP2011233578A JP2010100049A JP2010100049A JP2011233578A JP 2011233578 A JP2011233578 A JP 2011233578A JP 2010100049 A JP2010100049 A JP 2010100049A JP 2010100049 A JP2010100049 A JP 2010100049A JP 2011233578 A JP2011233578 A JP 2011233578A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ball screw
reaction
unit
load
base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010100049A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Mochizuki
政幸 望月
Yasushi Ishii
康 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
Original Assignee
Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Tech Instruments Co Ltd filed Critical Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
Priority to JP2010100049A priority Critical patent/JP2011233578A/ja
Priority to KR1020100086229A priority patent/KR101224264B1/ko
Priority to CN201010279447.9A priority patent/CN102235459B/zh
Priority to TW099130661A priority patent/TWI418718B/zh
Priority to US12/880,399 priority patent/US9177937B2/en
Publication of JP2011233578A publication Critical patent/JP2011233578A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16FSPRINGS; SHOCK-ABSORBERS; MEANS FOR DAMPING VIBRATION
    • F16F15/00Suppression of vibrations in systems; Means or arrangements for avoiding or reducing out-of-balance forces, e.g. due to motion
    • F16F15/28Counterweights, i.e. additional weights counterbalancing inertia forces induced by the reciprocating movement of masses in the system, e.g. of pistons attached to an engine crankshaft; Attaching or mounting same
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01045Rhodium [Rh]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/53Means to assemble or disassemble
    • Y10T29/5313Means to assemble electrical device

Abstract

【課題】本発明は、軽量化を図った反動吸収装置を提供すること、あるいは軽量化を図った反動吸収装置を用い、更に処理時間を短い生産性或いは品質の高い半導体組立装置を提供することである。
【解決手段】本発明は、第1のボールネジによって所定方向に移動される負荷ユニットと、前記所定方向と逆の方向に反力を発生させる第2のボールネジと、前記第1のボールネジと前記第2のボールネジを駆動する駆動モータを有する駆動ユニットとを具備するカウンタ機構部を有する反動吸収装置において、一端側は前記第2のボールネジと結合するナットを具備し、他端側は前記カウンタ機構部と相対的に移動可能な装置ベースに固定されている反動吸収ユニットを有することを特徴とする。
【選択図】図2

Description

本発明は、半導体組立装置及び反動吸収装置、特に軽量化を図った反動吸収装置を提供でき、生産性の稼働率の高い半導体組立装置に関する。
半導体製造装置の一つに半導体チップ(ダイ)をリードフレームなどの基板にボンディングするダイボンダがある。ダイボンダでは、ボンディングヘッドでダイを真空吸着し、高速で上昇し、水平移動し、下降して基板に実装する。
一般的に装置を高速化すると、高速移動物体による振動が大きくなり、この振動によって装置が目的とする精度を得るのが困難になる。この振動を低減する反動吸収装置の従来例としては特許文献1に記載するものがある。特許文献1では、図7に示すように、カウンタウエイトcwを追加し、モータmでリードの異なる2種類のボーリねじn1,n2を駆動し、処理ヘッド(例えば、ボンディングヘッド部)の負荷fとカウンタウエイトcwとを矢印で示すように逆方向に移動させ、振動の発生を防止する方法をとっている。
特開2004−263825号公報
一般的にカウンタウエイトの質量と駆動力の間には逆比例の関係があり、上記従来技術は制振の効果を得るためには、その駆動と逆の運動量が必要である。たとえば、負荷とカウンタウエイトが同質量のとき、カウンタウエイトの駆動エネルギは負荷駆動と同じだけ必要で、駆動モータの出力は2倍必要となる。カウンタウエイトの駆動エネルギを減ずるにはカウンタ質量を重くすれば良いが(カウンタ質量2倍で駆動エネルギ1/2)、反動吸収装置の重量増を招く。また、この駆動エネルギを供給する駆動系とカウンタ部とを併せた全体重量も増加する。
本発明は、上記の課題を鑑みてなされたもので、本発明の第1の目的は、軽量化を図った反動吸収装置を提供することである。
また、本発明の第2の目的は、軽量化を図った反動吸収装置を用い、更に処理時間の短い生産性或いは品質の高い半導体組立装置を提供することである。
本発明の第1の目的を達成するために、ベースと、前記ベースに固定された支持体と、動力源と、前記動力源により移動する負荷ユニットと、前記動力源と前記負荷ユニットを含み、前記動力源により前記負荷ユニットに対して相対的に移動するカウンタ機構と、前記支持体に設け、前記カウンタ機構を移動可能に支持する指示部材と、を有することを第1の特徴とする。
前記負荷ユニットは、前記動力源の動作を第1のボールネジを介して移動し、前記カウンタ機構は、第2のボールネジを介して前記支持体に移動可能に支持されることを第2の特徴とする。
ベースと、ベースに固定された支持体と、第1のボールネジと、前記第1のボールネジによって所定方向に移動される負荷ユニットと、前記所定方向と逆の方向に反力を発生させる第2のボールネジと、前記第1のボールネジと前記第2のボールネジを駆動する動力源を有する駆動ユニットと、を具備するカウンタ機構部と、支持体を前記支持体に、前記カウンタ機構を前記第2のボールネジにより移動可能に支持する支持部材と、前記第1のボールネジを一端と前記第2のボールネジの一端を回転可能に支持し、前記カウンタ機構部と相対的に移動可能な装置ベースに固定されている反動吸収ユニットと、を有することを第3の特徴とする。
上記の目的達成するために、前記第1のボールネジと前記第2のボールネジは一直線状に配置され、同一方向のリードネジを有する。
また、前記装置ベースが移動しないように固定され、前記カウンタ機構部が前記装置ベースに沿って移動する。
前記動力源は、前記第1のボールネジ若しくは前記第2のボールネジのとちらか一方のボールネジの一端、又は前記第1のボールネジ若しくは前記第2のボールネジの双方のボールネジのそれぞれの一端を直接的若しくは間接的に駆動する。ここで、間接的とは、ボールネジが、歯車機構やベルト機構などを介して、動力源と結合するこという。また、直接的とは、ボールネジが、歯車機構やベルト機構などを介さずに、直接動力源と結合することをいう。
前記第1のボールネジと前記第2のボールネジは互いに平行に配置する。
前記第1のボールネジのリードは前記第2のボールネジのリードより大きい。
また、本発明の第2の目的を達成するために、上記特徴に加え、前記半導体組立装置はダイボンダであって、前記ダイボンダの有するボンディングヘッド、プリフォームヘッド、ウェハリングホルダのうち少なくとも一つの直動装置に前記反動吸収装置を適用したことを特徴とする。
本発明によれば、軽量化を図った反動吸収装置を提供できる。
また、本発明によれば、軽量化を図った反動吸収装置を用い、更に処理時間の短い生産性或いは品質の高い半導体組立装置を提供できる。
本発明の第1の実施形態であるX反動吸収装置の基本構成を示す図である。 図1に示すX反動吸収装置の動作例を示す図である。 本発明の一実施形態であるダイボンダを上から見た概念図と、ボンディングヘッド部を示す図である。 本発明の第2の実施形態であるZ反動吸収装置の基本構成を示す図である。 本発明の第3の実施形態である反動吸収装置の基本構成を示す図である。 本発明の第4の実施形態である反動吸収装置の基本構成を示す図である。 反動吸収装置の従来例を示す図である。
以下、図面に基づき、半導体組立装置としてダイボンダを例に本発明の実施形態を説明する。
図3は本発明の一実施形態であるダイボンダ10を上から見た概念図と、ボンディングヘッド部32を示す図である。ダイボンダは大別してウェハ供給部1と、ワーク供給・搬送部2と、ダイボンディング部3とを有する。
ウェハ供給部1はウェハカセットリフタ11とウェハリングホルダ12を有する。ウェハカセットリフタ11はウェハリングが充填されたウェハカセット(図示せず)を有し,ウェハリングホルダ12にウェハリングを供給する。ウェハリングホルダ12は、後述するボンディング処理時に、ウェハリングを保持しているウェハテープを下に引き伸ばしダイの間隔を広げ、突き上げ部によりダイ下方よりダイを突き上げ、ダイのピックアップ性を向上させている。また、ウェハリングホルダ12はXY直動テーブル上に配置され、ピックアップ後は次のダイ位置まで直動移動し、次のピックアップに備える。
ワーク供給・搬送部2はスタックローダ21と、フレームフィーダ22と、アンローダ23とを有する。スタックローダ21によりフレームフィーダ22に供給されたワーク(リードフレーム)は、フレームフィーダ22上の2箇所の処理位置を介してアンローダ23に搬送される。
ダイボンディング部3はプリフォーム部31とボンディングヘッド部32とを有する。プリフォーム部31はフレームフィーダ22により搬送されてきたワークにダイ接着剤を塗布する。ボンディングヘッド部32は、ウェハリングホルダ12からダイをピックアップして上昇し、ダイを平行移動してフレームフィーダ22上のボンディングポイントまで移動させる。そして、ボンディングヘッド部32はダイを下降させダイ接着剤が塗布されたワーク上にボンディングする。
ボンディングヘッド部32は、ボンディングヘッド(図4の32a参照)をウェハリングホルダ12内のピックアップ位置とボンディングポイントとの間、即ちX方向を移動させるX反動吸収装置6と、X反動吸収装置6に固定(負荷となる)され、ボンディングヘッド32aを上下(Z方向)に移動させるZ反動吸収装置7を有している。
以下、図を用いて発明の特徴である反動吸収装置の実施形態を説明する。図1は第1の実施形態であるX反動吸収装置6の基本構成を示す図である。図2はZ反動吸収装置7を固定する負荷ユニット62を右方向に移動させる状態を示す図である。
X反動吸収装置6は、大別して移動対象であり破線枠内に示す負荷ユニット62と、前記負荷ユニットを図1に示す矢印のように左右方向に移動させる駆動ユニット61と、負荷ユニットによる振動を低減するカウンタの役目を果たす反動吸収ユニット63と、これらを支持又は固定する装置ベース64を有する。
駆動ユニット61は、負荷ユニット62を移動させる負荷側ボールネジ61aと、負荷側ボールネジ61aに連結部61fで連結され、反動吸収ユニット63を移動させようとする反動吸収側ボールネジ61bと、両ボールネジを回転させる駆動モータ61cと、駆動モータと両ボールネジを支持するコの字型の駆動固定板61dと、前記駆動固定板が装置ベース64上を移動可能にするベースガイド61eとを有する。
負荷ユニット62は、先端にボンディングヘッド32a(図3参照)を有する負荷である反動吸収装置7を固定または支持する負荷固定ベース62aと、前記負荷固定ベースに固定され負荷側ボールネジ上を移動する負荷ナット62bと、前記負荷ナットによる負荷ユニット62の駆動固定板61d上の移動をスムーズに行なわせる負荷ガイド62cとを有する。この構成によって、負荷ユニット62は負荷側ボールネジ61aの回転によって、図1の矢印に示すように左右方向に移動する。
上述した前記反動吸収側ボールネジ61bと前記負荷側ボールネジ61aとはネジ山の方向は共に順(同一)方向に切ってある。さらに、前記反動吸収側ボールネジ61bのリードRhと前記負荷側ボールネジ61aのリードRdとのリード比Mは、式(1)の関係を有する。
R = Rd/Rh :R>1 (1)
反動吸収ユニット63は、一端側を反動吸収側ボールネジ61b上を移動する反動吸収ナット63aに、他端側を装置ベース64に固定された反動吸収体63bを有する。
前記装置ベース64は、ボンディングヘッド部32に固定されており、前述のように反動吸収ユニット63を固定する。また、前記装置ベースは、太線枠内で示す駆動ユニット61と負荷ユニット62とを有するカウンタ機構部8をベースガイド61eによって矢印に示す方向に移動可能に支持している。
図2は、このような構成を有する反動吸収装置6の動作例を示す図である。図2は負荷ユニット62を前記負荷側ボールネジ61aと前記反動吸収側ボールネジ61bとを順回転(同一方向に)させて矢印Aに示す右方向に移動させる例を示す。左方向に移動させる場合は、括弧内に示すように反対の動作となる。
図2の場合は、前記負荷側ボールネジ61aと前記反動吸収側ボールネジ61bの回転により、負荷ユニット62は右(左)方向に移動し、反動吸収ユニット63も右(左)方向に移動しようとする。しかしながら、反動吸収ユニット63は装置ベース64で固定されているので、逆に反動吸収側ボールネジ61bが反力を受け、装置ベース64に対し矢印Cに示す左方向に移動する。その結果、太線枠内で示カウンタ機構部8はベースガイド61eによって装置ベース64上を矢印Bに示す左(右)方向に移動する。
この場合、負荷ユニット62も駆動ユット61の移動に伴い左(右)方向に移動しようとするが、式(1)の関係より、前記負荷側ボールネジ61aの方がリード(移動量)が大きいので、負荷ユニット62は矢印Aに示す右(左)方向に移動する。式(1)に示すリード比Rを適切な値にすることにより十分な作動範囲を得ることができる。
本実施形態では、上述のように、図2に示す太黒枠で示す駆動ユニット61、負荷ユニット62を有するカウンタ機構部8が、負荷ユニット62と逆方に移動するカウンタ負荷の役目を果たしている。即ち、反動吸収装置のほぼ全体を占めるカウンタ機構部8の質量Kmが振動を吸収するカウンタ負荷となる。このことが第1の実施形態の特徴である。前記質量Kmと破線で示す負荷ユニット62の質量Fmとの比をM(=Km/Fm)すれば、Mと式(1)に示すリード比Rとの比M:Rが1に近づけば近づくほど振動は相殺されることになる。特に、相殺度合いを高くするときには、前記M:R比が0.95〜1.05の範囲が望ましい。なお、第1の実施形態の説明において、前記負荷側ボールネジ61aと反動吸収側ボールネジ61bと回転を同一方向としたが、逆方向にすることも可能である。
上記の本発明の第1の実施形態によれば、負荷ユニットによって発生する振動の反対の振動が反動吸収ユニットによって発生し、動作時の振動を低減あるいは相殺することができる。
上記の本発明の第1の実施形態によれば、カウンタとしての質量を追加する必要がなく、反動吸収装置を軽量小型にできる。その結果、反動吸収装置の駆動をより高速にできる。
また、反動吸収装置を軽量小型にできるので、振動の低減あるいは相殺するまでの時間を短くでき、タクトタイムを早めることができる。振動の低減あるいは相殺するまで時間が短いので、タクトタイム犠牲にすることなく振動がなくなってからボンディングヘッドが次の工程を実行できるので、品質を高めることができる。
図4は本発明の第2の実施形態であるZ反動吸収装置7の基本構成を示す図である。Z反動吸収装置7はボンディングヘッド32aによってダイを吸着し、ボンディングするために、ダイを上下させる機能を有する。Z反動吸収装置7の基本構成は、基本的には図1に示す第1の実施形態と同じであるが、幾つかの相違点を有する。以下相違点を中心に説明する。図4において第1の実施形態と同じ機能を有するものは同一符号を付す。
第1に、第1の実施形態での負荷は4図に示すボンディングヘッド32aを上下させるZ反動吸収装置7であるが、第2の実施形態での負荷はZ反動吸収装置の先端を上下するボンディングヘッドである。
従って、第2に、Z反動吸収装置7では、ボンディングヘッド32aが上下し、ダイを吸着、ボンディングし易いように、ボンディングヘッドを有する負荷ユニット62を先端側に、反動吸収ユニット63を根元の駆動モータ61cの近くに設けている。
第3に、Z反動吸収装置7の装置ベース65はX反動吸収装置6の負荷固定ベース62aであるか、或いは負荷固定ベース62aに固定されている。
その他の構成及び動作は第1の実施形態と同様である。なお、図4において、図2に同様に、太黒枠はカウンタ負荷の役目を果たす駆動ユニット61、負荷ユニット62を有するカウンタ機構部8を示す、破線枠は負荷ユニット62を示す。
上記の本発明の第2の実施形態においても、負荷ユニットによって発生する振動の反対の振動が反動吸収ユニットによって発生し、動作時の振動を低減あるいは相殺することができる。
第2の実施形態ではカウンタ負荷の役目を果たすカウンタ機構部8も上下するので一見駆動モータの負荷容量が大きくなるように見える。しかし、従来例においても同じ質量を有するカウンタを上下させる必要があるのでモータの負荷容量は変わらない。
また、上記の本発明の第2の実施形態においても、カウンタとしての質量を追加する必要がなく、反動吸収装置を軽量小型にできる。その結果、反動吸収装置の駆動の高速化を図ることができる。
さらに、Z反動吸収装置が軽量小型できるので、第1の実施形態で示したX反動吸収装置6はさらに軽量小型ができ、ボンディングヘッド部32全体を軽量小型化できる。
また、図3に示すダイボンダ10に、本発明の実施形態で示したX、Zの2自由度の直動動作を有するボンディングヘッド部を適用することによって、ダイボンディング時の待ち時間や低速駆動時間が低減できるため、スループットが向上する。また、ダイボンディング時の振動が低減できる為、製品の品質、特にダイボンド精度が向上する。
一般的に、ダイボンダにおいては、上記ボンディングヘッド部の他、プリフォームヘッド部はX、Z方向2自由度の、ウェハリングホルダはX、Y方向の2自由度の直動動作を有する。なお、X、Y、Zは説明を解り易くする為に付した符号であり、符号自体に意味がない。
従って、上記に説明した本発明の反動吸収装置をプリフォームヘッド、ウェハリングホルダにも適用すれば、さらに、ダイボンディング時の待ち時間や低速駆動時間が低減できるため、スループットが向上する。また、ダイボンディング時の振動が低減できる為、製品の品質、特にダイボンド精度がさらに向上する。
図5は、X反動吸収装置6やZ反動吸収装置7に適用できる第3の実施形態である反動吸収装置9を示す。第3の実施形態においても、第1及び第2の実施形態と基本的な動作、構成は同じである。
以下、相違点を重点に説明する。
第3の本実施形態では負荷側ボールネジ61aと反動吸収側ボールネジ61bと一直線上に配置せず、平行に配置している。平行に駆動するために、駆動モータ61cの駆動力を歯車61f1及び61f2を介して反動吸収側ボールネジ61bに伝達している。駆動力の伝達を歯車で行っているので、負荷側ボールネジ61aと反動吸収側ボールネジ61bとのネジ山の方向は逆に設ける。この結果、反動吸収ユニット63は負荷ユニット62と同一方向に移動しようとする。しかしながら、反動吸収ユニット63は装置ベース64に固定されているので、装置ベース64に対し負荷ユニット62とは逆方向に移動する。その結果、太線枠内で示すカウンタ機構部8もベースガイド61eによって装置ベース64上に対し負荷ユニット62とは反対方向に移動する。
なお、図5では、駆動力の伝達を歯車で行ったが、タイミングベルトで行う場合はネジ山の方向は同じとすることで、図5と同様な動作をさせることができる。
従って、第3の実施形態においても、カウンタ機構8をカウンタ負荷とすることで、負荷ユニット62よって発生する振動の反対の振動が反動吸収ユニット63によって発生し、動作時の振動を低減あるいは相殺することができる。
また、第3の実施形態においても、新たにカウンタを設ける必要がないので、反動吸収装置を軽量小型にできる。その結果、反動吸収装置の駆動の高速化を図ることができる。
さらに、第3の実施形態によれば、負荷ユニット62と反動吸収ユニット63を装置ベース64に対して図面上で上下に配置している。この結果、反動吸収装置を移動方向の長さを短くできる。なお、配置は図5に示すものに限らず、例えば、負荷ユニット62と反動吸収ユニット63を装置ベース64上で図面奥行き方向に前後に配置してもよい。
以上の説明おいて、半導体組立装置としてダイボンダを例に説明したが、処理ヘッドが高速に動作するような他の半導体組立装置にも適用できる。
第4の本実施形態ある反動吸収装置5を図6に示す。第4の本実施形態では、駆動モータ61cの左側に反動吸収側ボールネジ61bを配置し、駆動モータ61cの右側に負荷側ボールネジ61aを配置する。このとき、モータ61c、負荷側ボールネジ61a、反動吸収側ボールネジ61bの各々の回転中心が一致するように、駆動モータ61c、負荷側ボールネジ61a、反動吸収側ボールネジ61bを一直線状に配置する。負荷側ボールネジ61aと反動吸収側ボールネジ61bは、それぞれの一端が駆動固定版61dに回転可能に支持される。
第4の実施形態においても、第1及び第2の実施形態と基本的な動作は同じである。
以上のように本発明の実施形態について説明したが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包含するものである。
1:ウェハ供給部 2:ワーク供給・搬送部
3:ダイボンディング部 5、9:反動吸収装置
6:X反動吸収装置 7:Z反動吸収装置
8:カウンタ機構部 10:ダイボンダ
12:ウェハリングホルダ 32:ボンディングヘッド部
32a:ボンディングヘッド 61:駆動ユニット
61a:負荷側ボールネジ 61b:反動吸収側ボールネジ
61c:駆動モータ 61d:駆動固定板
61e:ベースガイド 61f1、61f2:歯車
62:負荷ユニット 62a:負荷固定ベース
62b:負荷ナット 62c:負荷ガイド
63:反動吸収ユニット 63a:反動吸収ナット
63b:反動吸収体 64、65:装置ベース
Fm:負荷ユニット62の質量 Km:カウンタ機構部の質量
R:負荷側ボールネジと反動吸収側ボールネジとのリード比。

Claims (11)

  1. ベースと、
    前記ベースに固定された支持体と、
    動力源と、
    前記動力源により移動する負荷ユニットと、
    前記動力源と前記負荷ユニットを含み、前記動力源により前記負荷ユニットに対して相対的に移動するカウンタ機構と、
    前記支持体に設け、前記カウンタ機構を移動可能に支持する指示部材と、
    を有する反動吸収装置。
  2. 前記負荷ユニットは、前記動力源の動作を第1のボールネジを介して移動し、
    前記カウンタ機構は、第2のボールネジを介して前記支持体に移動可能に支持される
    る請求項1記載の反動吸収装置。
  3. 装置ベースと、
    装置ベースに固定された支持体と、
    第1のボールネジと、前記第1のボールネジによって所定方向に移動される負荷ユニットと、前記所定方向と逆の方向に反力を発生させる第2のボールネジと、前記第1のボールネジと前記第2のボールネジを駆動する動力源を有する駆動ユニットと、を具備するカウンタ機構部と、
    前記支持体に、前記カウンタ機構部を前記第2のボールネジにより移動可能に支持する支持部材と、
    前記第1のボールネジの一端と前記第2のボールネジの一端を回転可能に支持し、前記カウンタ機構部と相対的に移動可能な装置ベースに固定されている反動吸収ユニットと、
    を有する反動吸収装置。
  4. 前記第1のボールネジと前記第2のボールネジは一直線状に配置され、同一方向のリードネジを有する請求項2又は3に記載の反動吸収装置。
  5. 前記装置ベースが移動しないように固定され、前記カウンタ機構部が前記装置ベースに沿って移動する請求項3に記載の反動吸収装置。
  6. 前記動力源は、前記第1のボールネジ若しくは前記第2のボールネジのとちらか一方のボールネジの一端、又は前記第1のボールネジ若しくは前記第2のボールネジの双方のボールネジのそれぞれの一端を直接的若しくは間接的に駆動する請求項4に記載の反動吸収装置。
  7. 前記第1のボールネジと前記第2のボールネジは互いに平行に配置したことを特徴とする請求項3に記載の反動吸収装置。
  8. 前記第1のボールネジのリードは前記第2のボールネジのリードより大きい請求項3に記載の反動吸収装置。
  9. 請求項1乃至8のいずれかに記載の反動吸収装置の負荷ユニットに半導体を組み立てる処理ヘッドを設け、前記処理ヘッドにより半導体を組み立てることを特徴とする半導体組立装置。
  10. 前記半導体組立装置はダイボンダであって、前記ダイボンダの有するボンディングヘッド、プリフォームヘッド、ウェハリングホルダのうち少なくとも一つの直動装置に前記反動吸収装置を適用したことを特徴とする請求項9に記載の半導体組立装置。
  11. 前記直動装置は互いに直交する2自由度を有することを特徴とする請求項10に記載の半導体組立装置。
JP2010100049A 2010-04-23 2010-04-23 反動吸収装置及び半導体組立装置 Pending JP2011233578A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010100049A JP2011233578A (ja) 2010-04-23 2010-04-23 反動吸収装置及び半導体組立装置
KR1020100086229A KR101224264B1 (ko) 2010-04-23 2010-09-03 반동 흡수 장치 및 반도체 조립 장치
CN201010279447.9A CN102235459B (zh) 2010-04-23 2010-09-10 反动吸收装置和半导体装配装置
TW099130661A TWI418718B (zh) 2010-04-23 2010-09-10 A reaction absorbing device and a semiconductor assembling device
US12/880,399 US9177937B2 (en) 2010-04-23 2010-09-13 Reaction absorber and semiconductor assembling system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010100049A JP2011233578A (ja) 2010-04-23 2010-04-23 反動吸収装置及び半導体組立装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013026590A Division JP5410625B2 (ja) 2013-02-14 2013-02-14 反動吸収装置及び半導体組立装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011233578A true JP2011233578A (ja) 2011-11-17

Family

ID=44814779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010100049A Pending JP2011233578A (ja) 2010-04-23 2010-04-23 反動吸収装置及び半導体組立装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9177937B2 (ja)
JP (1) JP2011233578A (ja)
KR (1) KR101224264B1 (ja)
CN (1) CN102235459B (ja)
TW (1) TWI418718B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110259525A1 (en) * 2010-04-23 2011-10-27 Masayuki Mochizuki Reaction absorber and semiconductor assembling system
JP2013179206A (ja) * 2012-02-29 2013-09-09 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd 2軸駆動機構及びダイボンダ
JP2015060926A (ja) * 2013-09-18 2015-03-30 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ ダイボンダ
KR20170038654A (ko) 2015-09-30 2017-04-07 파스포드 테크놀로지 주식회사 다이본더 및 반도체 장치의 제조 방법

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014056979A (ja) * 2012-09-13 2014-03-27 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd 水平軸駆動機構、2軸駆動機構及びダイボンダ
KR101438639B1 (ko) * 2013-07-09 2014-09-05 현대자동차 주식회사 차량용 도어 장착기의 도어 정위치 장치
TWI580526B (zh) * 2015-11-12 2017-05-01 財團法人工業技術研究院 減震裝置及其所使用之硏磨減震模組與滾刀減震模組
CN106624950A (zh) * 2016-12-07 2017-05-10 东莞市埃弗米数控设备科技有限公司 一种车刀架微动进给装置
US10381321B2 (en) * 2017-02-18 2019-08-13 Kulicke And Soffa Industries, Inc Ultrasonic transducer systems including tuned resonators, equipment including such systems, and methods of providing the same
TWI784622B (zh) * 2020-08-12 2022-11-21 日商捷進科技有限公司 黏晶裝置及半導體裝置的製造方法
CN112018003B (zh) * 2020-09-02 2021-05-04 深圳新益昌科技股份有限公司 自动共晶机及共晶方法
US20230287952A1 (en) * 2022-03-10 2023-09-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Systems and methods for reducing vibration of apparatuses

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01193134A (ja) * 1988-01-27 1989-08-03 Komatsu Ltd スライドテーブルを有する構造物のカウンターバランス移動装置
JPH0321894A (ja) * 1989-06-20 1991-01-30 Nikon Corp ステージ駆動方法
JP2002198282A (ja) * 2000-12-25 2002-07-12 Nikon Corp ステージ装置及びそれを有する露光装置
JP2004263825A (ja) * 2003-03-04 2004-09-24 Nec Machinery Corp 反力減衰駆動装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000150581A (ja) * 1998-11-10 2000-05-30 Hitachi Ltd 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるボンディング装置
JP2000340606A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法およびそれを用いた半導体製造装置
JP2000353720A (ja) * 1999-06-09 2000-12-19 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法およびそれに使用されるワイヤボンディング装置
JP2002118142A (ja) * 2000-10-05 2002-04-19 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法および半導体製造装置
JP2003332359A (ja) * 2002-05-15 2003-11-21 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法および半導体製造装置
KR101287526B1 (ko) * 2005-03-15 2013-07-19 삼성전자주식회사 다이 본더와 이를 이용한 다이 본딩 방법
ES2317178T3 (es) * 2005-05-18 2009-04-16 Franco Sartorio Dispositivo de equilibrado para una maquina herramienta.
JP5054933B2 (ja) * 2006-05-23 2012-10-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
JP5054949B2 (ja) * 2006-09-06 2012-10-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
JP5196293B2 (ja) * 2007-10-11 2013-05-15 ワイアイケー株式会社 半導体試験装置
JP2010073113A (ja) * 2008-09-22 2010-04-02 Yokogawa Electric Corp データ転送装置及び半導体試験装置
JP2011233578A (ja) * 2010-04-23 2011-11-17 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd 反動吸収装置及び半導体組立装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01193134A (ja) * 1988-01-27 1989-08-03 Komatsu Ltd スライドテーブルを有する構造物のカウンターバランス移動装置
JPH0321894A (ja) * 1989-06-20 1991-01-30 Nikon Corp ステージ駆動方法
JP2002198282A (ja) * 2000-12-25 2002-07-12 Nikon Corp ステージ装置及びそれを有する露光装置
JP2004263825A (ja) * 2003-03-04 2004-09-24 Nec Machinery Corp 反力減衰駆動装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110259525A1 (en) * 2010-04-23 2011-10-27 Masayuki Mochizuki Reaction absorber and semiconductor assembling system
US9177937B2 (en) * 2010-04-23 2015-11-03 Fasford Technology Co., Ltd. Reaction absorber and semiconductor assembling system
JP2013179206A (ja) * 2012-02-29 2013-09-09 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd 2軸駆動機構及びダイボンダ
JP2015060926A (ja) * 2013-09-18 2015-03-30 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ ダイボンダ
KR20170038654A (ko) 2015-09-30 2017-04-07 파스포드 테크놀로지 주식회사 다이본더 및 반도체 장치의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR101224264B1 (ko) 2013-01-18
TW201137262A (en) 2011-11-01
CN102235459A (zh) 2011-11-09
US20110259525A1 (en) 2011-10-27
TWI418718B (zh) 2013-12-11
CN102235459B (zh) 2015-06-03
US9177937B2 (en) 2015-11-03
KR20110118549A (ko) 2011-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011233578A (ja) 反動吸収装置及び半導体組立装置
CN207494569U (zh) 一种桁架式车床上下料机械手
JPH11260841A (ja) 前後進するチップグリッパーを備えた半導体取付装置
TWI591746B (zh) Die bonder
CN208575848U (zh) 用于上下料的单臂式机械手
CN103295932B (zh) 双轴驱动机构及芯片接合机
US20130014904A1 (en) Biaxial Drive Mechanism and Die Bonder
JP4309680B2 (ja) 反力減衰駆動装置
JP5410625B2 (ja) 反動吸収装置及び半導体組立装置
US8256658B2 (en) Wire bonding apparatus comprising rotary positioning stage
JP2011014866A (ja) 駆動装置およびダイボンダ
KR101451279B1 (ko) 수직형 마찰교반접합 장치
CN109461688A (zh) 晶圆传输装置及其工作方法
CN210805707U (zh) 一种多工位多芯片的半导体封装设备
CN208866636U (zh) 高精度自动焊接机械手
CN105261581B (zh) 适用于12寸晶圆的芯片封装设备
JP4897033B2 (ja) 半導体製造装置
JP2014056979A (ja) 水平軸駆動機構、2軸駆動機構及びダイボンダ
CN218193121U (zh) 激光设备
JP3900069B2 (ja) 3軸移動テーブル
JP2011222719A (ja) 切削加工装置
JP3142882U (ja) 保持部材、可動機構、揺動機構及びマルチ式ワイヤソー
JP2013180313A (ja) 摩擦攪拌接合装置及び摩擦攪拌接合方法
JP2000094229A (ja) スライドユニット
JP2007165783A (ja) 電子部品の実装装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120313

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20120313

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20120328

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120622

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120731

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120928

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121127