JP2011185833A - Ｐｃｔ導通チェッカー及び導通チェック方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 迅速にかつ円滑に配線の試験を実施する。
【解決手段】 ＰＣＴ導通チェッカー１は、４極のプラグ挿入口に挿入される４極用プラグ部９と、２極のプラグ挿入口に挿入される２極用プラグ部１１と、電源部１２と、試験対象の端子に接触させる試験用接触電極１３とを備えている。また、導通時に点灯可能な発光ダイオードＤ１１，Ｄ１２，…が、４極用プラグ部９（２極用プラグ部１１）の各極に、かつ、接触部及び端子部の１次側及び２次側に接続されている。
【選択図】 図１

Description

この発明は、例えば、変電所等の電気所に設置される遠隔監視制御装置等の電気盤における盤内配線を試験するためのＰＣＴ導通チェッカー及び導通チェック方法に関する。

従来より、変電所等の電気所には、制御所の中央制御装置からの制御指令により、断路器や遮断器等の機器を操作制御するとともに、機器の表示情報や計測情報を含む状態情報を中央制御装置へ伝送するための遠隔監視制御装置が配置されている。こうした遠隔監視制御装置を構成する計測架は、ＰＴやＣＴ等の計器用変成器からの電流信号又は電圧信号が入力される計測用端子台と、テストターミナル（試験端子）が設けられた試験用端子盤と、トランスデューサ（入力変換器）とを備えている。

テストターミナルは、変圧器回路及び変流器回路に組み込まれ、プラグ挿入口が形成された計器用変圧器テストターミナル（ＰＴＴターミナル）及び計器用変流器テストターミナル（ＣＴＴターミナル）を含んでいる（例えば、特許文献１参照。）。

遠隔監視制御装置の製造時には、テストターミナルのプラグ挿入口にテストプラグ（ＰＴＴプラグやＣＴＴプラグ）を挿入した状態で、図１２乃至図１５に示すように、ＰＣＴ導通チェッカー（ブザーチェッカ）１０１を用いて、試験用端子盤１０３と計測用端子台１０２との間（１次側）の配線、及び試験用端子盤１０３とトランスデューサ１０４との間（２次側）の配線の導通チェックを実施する。

ＰＣＴ導通チェッカー１０１は、図１２乃至図１５に示すように、一方の端子（計測用端子台１０２又はトランスデューサ１０４の端子）に接触させる試験用接触電極１０５ａと、他方の端子（試験用端子盤１０３の端子）接触させる試験用接触電極１０５ｂと、試験用接触電極１０５ａ，１０５ｂが、それぞれ、その正極及び負極に接続される電源部１０６と、導通時に電源部１０６によって駆動されるブザー（不図示）とを有している。

次に、導通チェック方法について説明する。まず、４極のＣＴＴプラグ及び２極のＣＴＴプラグを、試験用端子盤１０３のＣＴ用の４極のテストターミナル１０３ａのプラグ挿入口、ＣＴ用の２極のテストターミナル１０３ｂのプラグ挿入口にそれぞれ挿入して、計測用端子台１０２と試験用端子盤１０３との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。

この場合は、図１２に示すように、テストターミナル１０３ａの端子１０７ａ（１０７ｂ，１０７ｃ，１０７ｄ）は、計測用端子台１０２の端子１１１ａ（１１１ｂ，１１１ｃ，１１１ｄ）と、配線１１３ａ（１１３ｂ，１１３ｃ，１１３ｄ）を介して接続されている。また、テストターミナル１０３ａの端子１０８ａ（１０８ｂ，１０８ｃ，１０８ｄ）は、トランスデューサ１０４の端子１１２ａ（１１２ｂ，１１２ｃ，１１２ｄ）と、配線１１４ａ（１１４ｂ，１１４ｃ，１１４ｄ）を介して接続されている。なお、トランスデューサ１０４内で、端子１１２ａと端子１１２ｂ、端子１１２ｃと端子１１２ｄは、それぞれ接続されている。

また、テストターミナル１０３ｂの端子１０９ａ（１０９ｂ）は、計測用端子台１０２の端子１１１ｅ（１１１ｆ）と、配線１１３ｅ（１１３ｆ）を介して接続されている。また、テストターミナル１０３ｂの端子１１０ａ（１１０ｂ）は、トランスデューサ１０４の端子１１２ｅ（１１２ｆ）と、配線１１４ｅ（１１４ｆ）を介して接続されている。なお、トランスデューサ１０４内で、端子１１２ｅと端子１１２ｆは接続されている。

この状態で、４極のＣＴＴプラグを、テストターミナル１０３ａの４極のプラグ挿入口に挿入して回路を切る。また、２極用のＣＴＴプラグを、テストターミナル１０３ｂの２極のプラグ挿入口に挿入して回路を切る。

次に、試験用接触電極１０５ａを、計測用端子台１０２の端子１１１ａに接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１０７ａに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル１０３ａの端子１０７ｂ，１０７ｃ，１０７ｄ，１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃ，１０８ｄ、テストターミナル１０３ｂの端子１０９ａ，１０９ｂ，１１０ａ，１１０ｂに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。

次に、試験用接触電極１０５ａを、計測用端子台１０２の端子１１１ｂ（１１１ｃ，１１１ｄ，１１１ｅ，１１１ｆ）に接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１０７ｂ（１０７ｃ，１０７ｄ，１０９ａ，１０９ｂ）に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、６×１２＝７２（回）となる。

次に、試験用端子盤１０３とトランスデューサ１０４との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図１３に示すように、４極のＣＴＴプラグ及び２極のＣＴＴプラグを、試験用端子盤１０３の４極のテストターミナル１０３ａ、２極のテストターミナル１０３ｂのそれぞれのプラグ挿入口に挿入して、回路を切る。また、トランスデューサ１０４において、非接続箇所Ｍ１（Ｍ２，Ｍ３）を形成して、端子１１２ａと端子１１２ｂ（端子１１２ｃと端子１１２ｄ、端子１１２ｅと端子１１２ｆ）は、それぞれ非接続としておく。

次に、試験用接触電極１０５ａを、トランスデューサ１０４の端子１１２ａに接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１０８ａに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル１０３ａの端子１０８ｂ，１０８ｃ，１０８ｄ，１０７ａ，１０７ｂ，１０７ｃ，１０７ｄ、テストターミナル１０３ｂの端子１０９ａ，１０９ｂ，１１０ａ，１１０ｂに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。

次に、試験用接触電極１０５ａを、トランスデューサ１０４の端子１１２ｂ（１１２ｃ，１１２ｄ，１１２ｅ，１１２ｆ）に接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１０８ｂ（１０８ｃ，１０８ｄ，１１０ａ，１１０ｂ）に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、６×１２＝７２（回）となる。

次に、４極のＰＴＴプラグを、試験用端子盤１０３のＰＴ用の４極のテストターミナル１０３ａのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台１０２と試験用端子盤１０３との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図１４に示すように、テストターミナル１０３ａの端子１１６ａ（１１６ｂ，１１６ｃ，１１６ｄ）は、計測用端子台１０２の端子１１８ａ（１１８ｂ，１１８ｃ，１１８ｄ）と、配線１２０ａ（１２０ｂ，１２０ｃ，１２０ｄ）を介して接続されている。

また、テストターミナル１０３ａの端子１１７ａ（１１７ｂ，１１７ｃ，１１７ｄ）は、トランスデューサ１０４の端子１１９ａ（１１９ｂ，１１９ｃ，１１９ｄ）と、配線１２１ａ（１２１ｂ，１２１ｃ，１２１ｄ）を介して接続されている。

この状態で、４極のＰＴＴプラグ部を、試験用端子盤１０３のテストターミナル１０３ａのプラグ挿入口に挿入して回路を切る。次に、試験用接触電極１０５ａを、計測用端子台１０２の端子１１８ａに接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１１６ａに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル１０３ａの端子１１６ｂ，１１６ｃ，１１６ｄ，１１７ａ，１１７ｂ，１１７ｃ，１１７ｄに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。

次に、試験用接触電極１０５ａを、計測用端子台１０２の端子１１８ｂ（１１８ｃ，１１８ｄ）に接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１１６ｂ（１１６ｃ，１１６ｄ）に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、４×８＝３２（回）となる。

次に、試験用端子盤１０３とトランスデューサ１０４との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図１５に示すように、４極のＰＴＴプラグを、試験用端子盤１０３の４極のテストターミナル１０３ａのプラグ挿入口に挿入して、回路を切る。次に、試験用接触電極１０５ａを、トランスデューサ１０４の端子１１９ａに接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１１７ａに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル１０３ａの端子１１７ｂ，１１７ｃ，１１７ｄ，１１６ａ，１１６ｂ，１１６ｃ，１１６ｄに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。

次に、試験用接触電極１０５ａを、トランスデューサ１０４の端子１１９ｂ（１１９ｃ，１１９ｄ）に接触させた状態で、試験用接触電極１０５ｂを、テストターミナル１０３ａの端子１１７ｂ（１１７ｃ，１１７ｄ）に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、４×１８＝３２（回）となる。

上述したように、試験回数は膨大となるが、ＣＴ回路及びＰＴ回路は、盤内配線を誤ると、電圧印加時に高電圧や大電流が発生して、機器の損傷や人身に対する障害を及ぼす可能性があるために、それらの配線は全て厳重に試験する必要があり、試験漏れがないようにしなければならない。

このため、配線部の導通有りの確認はもちろん、テストターミナルの極間や、１次・２次間に導通が無いことを全ての極について確認する必要がある。したがって、４極のテストターミナルの場合は、６４箇所の導通確認が必要となる。そして、この作業を、盤に実装された全てのテストターミナルについて実施する必要がある。

特開平１０―１９９６１号公報

しかしながら、上記従来技術では、膨大な配線確認箇所について、１箇所ずつ試験しなければならないので、導通チェックの実施に長時間を要し、手間がかかるという問題がある。

この発明は、前記の課題を解決し、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができるＰＣＴ導通チェッカー及び導通チェック方法を提供することを目的としている。

前記の課題を解決するために、請求項１の発明は、所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するためのＰＣＴ導通チェッカーであって、前記テストターミナルの１次側端子と、第１の端子とが第１の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの２次側端子と、第２の端子とが第２の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために用いられ、前記第１の端子又は前記第２の端子を選択するための端子選択手段と、前記端子選択手段によって、所定の前記第１の端子が選択された場合に、前記第１の配線を介した前記所定の第１の端子と対応する前記１次側端子との電気的な接続状態を確認するための第１の表示手段と、前記端子選択手段によって、所定の前記第２の端子が選択された場合に、前記第２の配線を介した前記所定の第２の端子と対応する前記２次側端子との電気的な接続状態を確認するための第２の表示手段とを備えたことを特徴としている。

請求項１の発明では、端子選択手段によって、所定の第１の端子が選択された場合に、第１の配線を介した所定の第１の端子と対応する１次側端子との電気的な接続状態が、第１の表示手段により確認され、端子選択手段によって、所定の第２の端子が選択された場合に、第２の配線を介した所定の第２の端子と対応する２次側端子との電気的な接続状態が、第２の表示手段により確認される。

請求項２の発明は、請求項１に記載のＰＣＴ導通チェッカーであって、前記テストターミナルは、複数の前記１次側端子及び複数の前記２次側端子を有し、各前記１次側端子及び各前記２次側端子は、それぞれ対応する前記第１の端子及び前記第２の端子に接続され、当該ＰＣＴ導通チェッカーは、前記１次側端子及び前記２次側端子に対応した複数の前記第１の表示手段及び複数の前記第２の表示手段を備えたことを特徴としている。

請求項３の発明は、請求項１又は２に記載のＰＣＴ導通チェッカーであって、前記第１の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第１の端子と前記１次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、前記第２の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第２の端子と前記２次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴としている。

請求項４の発明は、請求項１、２又は３に記載のＰＣＴ導通チェッカーであって、前記端子選択手段は、前記第１の端子又は前記第２の端子に接触されて、前記第１の配線又は前記第２の配線と、前記第１の表示手段又は前記第２の表示手段とを含む閉回路を形成するための端子接触部を有することを特徴としている。

請求項５の発明は、請求項１乃至４のいずれか１に記載のＰＣＴ導通チェッカーであって、前記テストターミナルに嵌入され、前記１次側端子及び前記２次側端子に電気的に接続されるテスト端子を有するテストプラグを備え、前記テスト端子は、前記１次側端子及び対応する前記第１の表示手段に接続される１次側導体部と、前記２次側端子及び対応する前記第２の表示手段に接続される２次側導体部とを有することを特徴としている。

請求項６の発明は、請求項１乃至５のいずれか１に記載のＰＣＴ導通チェッカーであって、前記第１の表示手段及び前記第２の表示手段は、発光ダイオードを含む発光素子を有することを特徴としている。

請求項７の発明は、請求項１乃至６のいずれか１に記載のＰＣＴ導通チェッカーであって、前記電気盤は、断路器及び遮断器を含む機器を操作制御するとともに、前記機器の表示情報及び計測情報を含む状態情報を中央制御装置へ伝送するための遠隔監視制御機能を有することを特徴している。

請求項８の発明は、所定の機能を有し、所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するための導通チェック方法であって、前記テストターミナルの１次側端子と、第１の端子とが第１の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの２次側端子と、第２の端子とが第２の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために実施され、前記１次側端子に第１の表示手段を接続し、前記第１の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第１の端子を選択し、前記第１の配線を介した前記所定の第１の端子と対応する前記１次側端子との電気的な接続状態を、前記第１の表示手段により確認し、前記２次側端子に第２の表示手段を接続し、前記第２の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第２の端子を選択し、前記第２の配線を介した前記所定の第２の端子と対応する前記２次側端子との電気的な接続状態を、前記第２の表示手段により確認することを特徴としている。

請求項９の発明は、請求項８に記載の導通チェック方法であって、前記テストターミナルは、複数の前記１次側端子及び複数の前記２次側端子を有し、各前記１次側端子及び各前記２次側端子は、それぞれ対応する前記第１の端子及び前記第２の端子に接続され、前記１次側端子及び前記２次側端子には、それぞれ、対応した前記第１の表示手段及び前記第２の表示手段を接続することを特徴としている。

請求項１０の発明は、請求項８又は９に記載の導通チェック方法であって、前記第１の表示手段は、前記１次側端子と前記第１の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、前記第２の表示手段は、前記２次側端子と前記第２の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴としている。

請求項１の発明によれば、端子選択手段によって、所定の第１の端子が選択された場合に、第１の配線を介した所定の第１の端子と対応する１次側端子との電気的な接続状態を、第１の表示手段により確認し、端子選択手段によって、所定の第２の端子が選択された場合に、第２の配線を介した所定の第２の端子と対応する２次側端子との電気的な接続状態を、第２の表示手段により確認することができるので、特に、第１の端子及び第２の端子、並びにテストターミナルが多数の場合に、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができる。

請求項２の発明によれば、複数の１次側端子及び２次側端子に対応して複数の第１の表示手段及び複数の第２の表示手段が設けられているので、同時に複数箇所の導通チェックを実施することができるため、迅速に導通チェックを実施することができる。

請求項３の発明によれば、第１の表示手段の発光素子は、第１の端子と１次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となり、第２の表示手段の発光素子は、第２の端子と２次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となるので、特に非発光状態を確認することよって、導通してはならない箇所の非接続状態を確認し、確実に導通チェックを実施することができる。

請求項４の発明によれば、端子接触部を第１の端子又は第２の端子に接触させて、第１の配線又は第２の配線と、第１の表示手段又は第２の表示手段とを含む閉回路を形成するので、円滑に導通チェックを実施することができる。

請求項５の発明によれば、テストターミナルにテストプラグを嵌入することによって、１次側端子及び２次側端子に、第１の表示手段及び第２の表示手段を容易に接続できるので、円滑に導通チェックを実施することができる。

請求項６の発明によれば、第１の表示手段及び第２の表示手段として、発光ダイオードを含む発光素子を用いることによって、低コストで導通チェックを実施することができる。

請求項７の発明によれば、遠隔監視制御機能を有する電気盤の配線を試験するために用いることによって、テストターミナルが多数であっても、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができる。

請求項８の発明によれば、端子選択手段によって、所定の第１の端子が選択された場合に、第１の配線を介した所定の第１の端子と対応する１次側端子との電気的な接続状態を、第１の表示手段により確認し、端子選択手段によって、所定の第２の端子が選択された場合に、第２の配線を介した所定の第２の端子と対応する２次側端子との電気的な接続状態が、第２の表示手段により確認することができるので、特に、第１の端子及び第２の端子、並びにテストターミナルが多数の場合に、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができる。

請求項９の発明によれば、複数の１次側端子及び２次側端子に対応して複数の第１の表示手段及び複数の第２の表示手段が設けられているので、同時に複数箇所の試験を実施することができるため、迅速に導通チェックを実施することができる。

請求項１０の発明によれば、第１の表示手段の発光素子は、前記第１の端子と１次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となり、第２の表示手段の発光素子は、第２の端子と２次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となるので、特に非発光状態を確認することよって、導通してはならない箇所の非接続状態を確認し、確実に導通チェックを実施することができる。

この発明の実施の形態１によるＰＣＴ導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーが適用される遠隔監視制御装置の構成を説明するための説明図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの構成を示す回路図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの４極用プラグ部の構成を示す平面図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの２極用プラグ部の構成を示す平面図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの４極用プラグ部の構成を示す正面図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの２極用プラグ部の構成を示す正面図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 同ＰＣＴ導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 この発明の実施の形態２によるＰＣＴ導通チェッカーの構成を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。

次に、この発明の実施の形態について、図面を用いて詳しく説明する。

（実施の形態１）
図１は、この発明の実施の形態１によるＰＣＴ導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図、図２は、同ＰＣＴ導通チェッカーが適用される遠隔監視制御装置の構成を説明するための説明図、図３は、同ＰＣＴ導通チェッカーの構成を示す回路図、図４は、同ＰＣＴ導通チェッカーの４極用プラグ部の構成を示す平面図、図５は、同ＰＣＴ導通チェッカーの２極用プラグ部の構成を示す平面図、図６は、同ＰＣＴ導通チェッカーの４極用プラグ部の構成を示す正面図、図７は、同ＰＣＴ導通チェッカーの２極用プラグ部の構成を示す正面図、図８乃至図１０は、同ＰＣＴ導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。

図１に示すようなこの実施の形態のＰＣＴ導通チェッカー１は、図２に示すように、電気所としての変電所に配置された遠隔監視制御装置を構成する計測架３において、ＰＴやＣＴ等の計器用変成器４からの電流信号又は電圧信号が入力される計測用端子台５と試験用端子盤６との間の配線、及び試験用端子盤６とトランスデューサ（入力変換器）７との間の配線の導通チェックを実施するために用いられる。

遠隔監視制御装置は、伝送路を介して制御所に配置された中央制御装置に接続される。試験用端子盤６は、変圧器回路及び変流器回路に組み込まれ、プラグ挿入口が形成された計器用変圧器テストターミナル（ＰＴＴターミナル）及び計器用変流器テストターミナル（ＣＴＴターミナル）を含むテストターミナルを有している。

ＰＣＴ導通チェッカー１は、図１と、図３乃至図７とに示すように、４極のプラグ挿入口に挿入される４極用プラグ部９と、２極のプラグ挿入口に挿入される２極用プラグ部１１と、乾電池を含む電源部１２と、試験対象の端子に接触させる針状の試験用接触電極１３とを備えている。

４極用プラグ部９は、図３、図４、及び図６に示すように、接触部１７ａ（１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ）及び端子部１９ａ（１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ）の１次側（１次側導体部）に抵抗Ｒ１１（Ｒ１２，Ｒ１３，Ｒ１４）を介してアノード端子が接続され、電源部１２の負極にカソード端子が接続される赤色の発光ダイオード（ＬＥＤ）Ｄ１１（Ｄ１２，Ｄ１３，Ｄ１４）と、接触部１７ａ（１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ）及び端子部１９ａ（１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ）の２次側（２次側導体部）に抵抗Ｒ２１（Ｒ２２，Ｒ２３，Ｒ２４）を介してアノード端子が接続され、電源部１２の負極にカソード端子が接続される緑色の発光ダイオードＤ２１（Ｄ２２，Ｄ２３，Ｄ２４）とを有している。

４極用プラグ部９が、図1に示すように、対応するプラグ挿入口（ＰＴＴターミナル又はＣＴＴターミナル）に挿入された状態で、試験用接触電極１３が、１次側の計測用端子台５の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードＤ１１（Ｄ１２，Ｄ１３，Ｄ１４）のみに電源部１２の電圧が印加され発光する。同様に、４極用プラグ部９が、対応するプラグ挿入口に挿入された状態で、試験用接触電極１３が、２次側のトランスデューサ７の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードＤ２１（Ｄ２２，Ｄ２３，Ｄ２４）のみに電源部１２の電圧が印加され発光する。

２極用プラグ部１１は、図３、図５、及び図７に示すように、接触部２４ａ（２４ｂ）及び端子部２６ａ（２６ｂ）の１次側に抵抗Ｒ１５（Ｒ１６）を介してアノード端子が接続され、電源部１２の負極にカソード端子が接続される赤色の発光ダイオードＤ１５（Ｄ１６）と、接触部２４ａ（２４ｂ）及び端子部２６ａ（２６ｂ）の２次側に抵抗Ｒ２５（Ｒ２６）を介してアノード端子が接続され、電源部１２の負極にカソード端子が接続される緑色の発光ダイオードＤ２５（Ｄ２６）とを有している。

２極用プラグ部９が、図１に示すように、対応するプラグ挿入口（ＰＴＴターミナル又はＣＴＴターミナル）に挿入された状態で、試験用接触電極１３が、１次側の計測用端子台５の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードＤ１５（Ｄ１６）のみに電源部１２の電圧が印加され発光する。同様に、２極用プラグ部１１が、対応するプラグ挿入口に挿入された状態で、試験用接触電極１３が、２次側のトランスデューサ７の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードＤ２５（Ｄ２６）のみに電源部１２の電圧が印加され発光する。

４極用プラグ部９は、図４及び図６に示すように、上下（２次側及び１次側）に互いに絶縁された一対の接触子からなる接触部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄが、絶縁板１８ａ，１８ｂ，１８ｃを介して基体に設けられ、これらの一対の接触部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄの反対側には、同軸上に配設された一対の端子からなる端子部１９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１９ｄが配置され、基体の端子部側には、棒状の支持部材１５を介して、発光ダイオードＤ１１，…，Ｄ１４、Ｄ２１，…，Ｄ２４等が搭載された回路基板１６が配置されて概略構成されている。

回路基板１６には、発光ダイオードＤ１１（Ｄ１２，Ｄ１３，Ｄ１４，Ｄ２１，Ｄ２２，Ｄ２３，Ｄ２４）と、対応する抵抗Ｒ１１（Ｒ１２，Ｒ１３，Ｒ１４，Ｒ２１，Ｒ２２，Ｒ２３，Ｒ２４）とが搭載され、かつ、電源部１２と接続するための接続ジャック２１が設けられている。

２極用プラグ部１１は、図５及び図７に示すように、上下に互いに絶縁された一対の接触子からなる接触部２４ａ，２４ｂが、絶縁板２５を介して基体に設けられ、これらの一対の接触部２４ａ，２４ｂの反対側には、同軸上に配設された一対の端子からなる端子部２６ａ，２６ｂが配置され、基体の端子部側には、棒状の支持部材２２を介して、発光ダイオードＤ１５，Ｄ１６，Ｄ２５，Ｄ２６等が搭載された回路基板２３が配置されて概略構成されている。回路基板２３には、発光ダイオードＤ１５（Ｄ１６，Ｄ２５，Ｄ２６）と、対応する抵抗Ｒ１５（Ｒ１６，Ｒ２５，Ｒ２６）とが搭載され、かつ、電源部１２と接続するための接続ジャック２７が設けられている。なお、この実施の形態の４極用プラグ部９及び２極用プラグ部１１では、ＰＴＴとＣＴＴとで共通に使用できるように、通常のテストプラグで採用される誤挿入防止構造は除かれている。

次に、図１と、図８乃至図１０とを参照して、ＰＣＴ導通チェッカー１の動作について説明する。まず、４極用プラグ部９及び２極用プラグ部１１を、試験用端子盤６のＣＴ用の４極のテストターミナル６ａのプラグ挿入口、ＣＴ用の２極のテストターミナル６ｂのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台５と試験用端子盤６との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。

この場合は、図１に示すように、テストターミナル６ａの端子２９ａ（２９ｂ，２９ｃ，２９ｄ）は、計測用端子台５の端子３５ａ（３５ｂ，３５ｃ，３５ｄ）と、配線３７ａ（３７ｂ，３７ｃ，３７ｄ）を介して接続されている。また、テストターミナル６ａの端子３１ａ（３１ｂ，３１ｃ，３１ｄ）は、トランスデューサ７の端子３６ａ（３６ｂ，３６ｃ，３６ｄ）と、配線３８ａ（３８ｂ，３８ｃ，３８ｄ）を介して接続されている。なお、トランスデューサ７内で、端子３６ａと端子３６ｂ、端子３６ｃと端子３６ｄは、それぞれ接続されている。

また、テストターミナル６ｂの端子３２ａ（３２ｂ）は、計測用端子台５の端子３５ｅ（３５ｆ）と、配線３７ｅ（３７ｆ）を介して接続されている。また、テストターミナル６ｂの端子３３ａ（３３ｂ）は、トランスデューサ７の端子３６ｅ（３６ｆ）と、配線３８ｅ（３８ｆ）を介して接続されている。なお、トランスデューサ７内で、端子３６ｅと端子３６ｆは接続されている。

この状態で、ＰＣＴ導通チェッカー１の４極用プラグ部９を、テストターミナル６ａの４極のプラグ挿入口に挿入する。これによって、テストターミナル６ａの端子２９ａ（２９ｂ，２９ｃ，２９ｄ）と、４極用プラグ部９の対応する接触部１７ａ（１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ）及び端子部１９ａ（１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ）の１次側とは、電気的に接続される。かつ、端子３１ａ（３１ｂ，３１ｃ，３１ｄ）と、４極用プラグ部９の対応する接触部１７ａ（１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ）及び端子部１９ａ（１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ）の２次側とは、電気的に接続される。

また、２極用プラグ部１１を、テストターミナル６ｂの２極のプラグ挿入口に挿入する。これによって、テストターミナル６ｂの端子３２ａ（３２ｂ）と、２極用プラグ部１１の対応する接触部２４ａ（２４ｂ）及び端子部２６ａ（２６ｂ）の１次側とは、電気的に接続される。かつ、端子３３ａ（３３ｂ）と、２極用プラグ部１１の対応する接触部２４ａ（２４ｂ）及び端子部２６ａ（２６ｂ）の２次側とは、電気的に接続される。

次に、試験用接触電極１３を、計測用端子台５の端子３５ａ（３５ｂ，３５ｃ，３５ｄ，３５ｅ，３５ｆ）に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードＤ１１（Ｄ１２，Ｄ１３，Ｄ１４，Ｄ１５，Ｄ１６）のみ発光することを確認する。ここでは、６回の導通確認試験で足りる。

次に、４極用プラグ部９及び２極用プラグ部１１を、試験用端子盤６の４極のテストターミナル６ａ、２極のテストターミナル６ｂのそれぞれのプラグ挿入口に挿入して、試験用端子盤６とトランスデューサ７との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図８に示すように、トランスデューサ７において、非接続箇所Ｋ１（Ｋ２，Ｋ３）を形成して、端子３６ａと端子３６ｂ（端子３６ｃと端子３６ｄ、端子３６ｅと端子３６ｆ）は、それぞれ非接続としておく。

次に、試験用接触電極１３を、トランスデューサ７の端子３６ａ（３６ｂ，３６ｃ，３６ｄ，３６ｅ，３６ｆ）に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードＤ２１（Ｄ２２，Ｄ２３，Ｄ２４，Ｄ２５，Ｄ２６）のみ発光することを確認する。ここでも、６回の導通確認試験で足りる。

次に、４極用プラグ部９を、試験用端子盤６のＰＴ用の４極のテストターミナル６ａのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台５と試験用端子盤６との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図９に示すように、４極用プラグ部９を、試験用端子盤６のテストターミナル６ａのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台５と試験用端子盤６との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。

この場合は、図９に示すように、テストターミナル６ａの端子４１ａ（４２ｂ，４２ｃ，４２ｄ）は、計測用端子台５の端子４３ａ（４３ｂ，４３ｃ，４３ｄ）と、配線４５ａ（４５ｂ，４５ｃ，４５ｄ）を介して接続されている。また、テストターミナル６ａの端子４２ａ（４２ｂ，４２ｃ，４２ｄ）は、トランスデューサ７の端子４４ａ（４４ｂ，４４ｃ，４４ｄ）と、配線４６ａ（４６ｂ，４６ｃ，４６ｄ）を介して接続されている。

この状態で、ＰＣＴ導通チェッカー１の４極用プラグ部９を、４極のテストターミナル６ａのプラグ挿入口に挿入する。これによって、テストターミナル６ａの端子４１ａ（４１ｂ，４１，４１ｄ）と、４極用プラグ部９の対応する接触部１７ａ（１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ）及び端子部１９ａ（１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ）の１次側とは、電気的に接続される。かつ、端子４２ａ（４２ｂ，４２ｃ，４２ｄ）と、４極用プラグ部９の対応する接触部１７ａ（１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ）及び端子部１９ａ（１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ）の２次側とは、電気的に接続される。

次に、試験用接触電極１３を、計測用端子台５の端子４３ａ（４３ｂ，４３ｃ，４３ｄ）に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードＤ１１（Ｄ１２，Ｄ１３，Ｄ１４）のみ発光することを確認する。ここでは、４回の導通確認試験で足りる。

次に、４極用プラグ部９を、試験用端子盤６のＰＴ用の４極のテストターミナル６ａのプラグ挿入口に挿入して、試験用端子盤６とトランスデューサ７との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図１０に示すように、試験用接触電極１３を、トランスデューサ７の端子４４ａ（４４ｂ，４４ｃ，４４ｄ）に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードＤ２１（Ｄ２２，Ｄ２３，Ｄ２４）のみ発光することを確認する。ここでも、４回の導通確認試験で足りる。

こうして、この実施の形態の構成によれば、例えば、導通時に点灯可能な発光ダイオードＤ１１，Ｄ１２，…を各極に、かつ、接触部１７ａ，１７ｂ，…及び端子部１９ａ，１９ｂ，…の１次側及び２次側に接続したので、迅速にかつ円滑に、導通チェックを実施することができる。特に発光ダイオードＤ１１，Ｄ１２，…の非発光状態を確認することよって、導通してはならない箇所の非接続状態を同時に確認し、確実に導通チェックを実施することができる。

従来技術では、例えば、４極のテストターミナルで、６４回（箇所）の導通確認を要していたのに対して、８回で足りることになる。例えば、１時間以上要していた導通チェックを、略１０分程度に短縮して実施することができる。したがって、多数のテストターミナルを有する遠隔監視制御装置の盤内配線の導通チェックに適用して好適である。また、導通チェック箇所の大幅な削減により、チェック漏れを防止することができる。

また、試験用接触電極１３を端子に接触させて、導通チェック対象を選択することによって、円滑に導通チェックを実施することができる。また、プラグ挿入口に４極用プラグ部９や２極用プラグ部１１を嵌入することによって、発光ダイオードＤ１１，Ｄ１２，…を容易に接続できるので、円滑に導通チェックを実施することができる。また、発光素子として発光ダイオードを用いることによって、低コストで導通チェックを実施することができる。

（実施の形態２）
図１１は、この発明の実施の形態２によるＰＣＴ導通チェッカーの構成を説明するための説明図である。

図１１に示すように、この実施の形態のＰＣＴ導通チェッカー１Ａは、４極のプラグ挿入口に挿入される４極用プラグ部４８と、２極のプラグ挿入口に挿入される２極用プラグ部４９と、乾電池を含む電源部５１と、試験対象の端子５４ａに接触させる試験用接触電極５２と、試験用接触電極５２近傍に配置され、発光ダイオードＤ３と抵抗Ｒ３とが直列に接続された導通表示部５３とを備えている。ここで、４極用プラグ部４８と、２極用プラグ部４９とは、実施の形態１と略同一の構成を有している。

この実施の形態では、導通チェック対象の端子５４ａに試験用接触電極５２を接触させて、発光ダイオードＤ３の発光を確認することで、まず、端子５４ａと、試験用端子盤６との接続が確認され、次に、４極用プラグ部４８と２極用プラグ部４９とにおいて、所定の発光ダイオードＤ１１（Ｄ１２，Ｄ１３，…）のみが発光していることを確認すれば良い。

この実施の形態の構成によれば、上述した実施の形態１と略同様の効果を得ることができる。加えて、試験用接触電極５２近傍にも導通表示部５３を設けたので、一段と円滑に導通チェックを実施することができる。

以上、この発明の実施の形態を図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。例えば、上述した実施の形態では、発光素子として、発光ダイオードを用いる場合について述べたが、これに限らず、例えば、白熱電球等を用いても良い。

また、４極用プラグ部（２極用プラグ部）の回路基板は、基体に対して着脱自在としても良い。また、各端子に発光ダイオードの表示色を対応付けても良い。また、電源部は、基体と一化させても良い。また、試験用接触電極としては、プローブを用いても良い。また、実施の形態２で、発光ダイオードＤ３に代えて、少なくとも１組の赤色、緑色、青色の発光ダイオードを設けて、配線（赤相、青相、白相）に対応させて、赤色、青色、白色の表示色とさせるようにしても良い。

電気盤として、遠隔監視制御装置のほか、自動復旧装置等のテストターミナルが設けられた他の電気盤に対して適用できる。また、製造時のほか、一部取替時や改修時の試験にも適用できる。また、電気所として、変電所のほか、発電所等に設置された電気盤について適用できる。

１ ＰＣＴ導通チェッカー
３ 計測架（電気盤）
４ 計器用変成器
５ 計測用端子台
６ 試験用端子盤
６ａ テストターミナル
６ｂ テストターミナル
７ トランスデューサ
９，４８ ４極用プラグ部（テストプラグ）
１１，４９ ２極用プラグ部（テストプラグ）
１３，５２ 試験用接触電極（端子選択手段、端子接触部）
１７ａ，１７ｂ，… 接触部（テスト端子）
１９ａ，１９ｂ，… 端子部（テスト端子）
２４ａ，２４ｂ 接触部（テスト端子）
２６ａ，２６ｂ 端子部（テスト端子）
２９ａ，２９ｂ，… 端子（１次側端子）
３１ａ，３１ｂ，… 端子（２次側端子）
３２ａ，３３ｂ，… 端子（１次側端子）
３３ａ，３３ｂ，… 端子（２次側端子）
３５ａ，３５ｂ，… 端子（第１の端子）
３６ａ，３６ｂ，… 端子（第２の端子）
３７ａ，３７ｂ，… 配線（第１の配線）
３８ａ，３８ｂ，… 配線（第２の配線）
４１ａ，４１ｂ，… 端子（１次側端子）
４２ａ，４２ｂ，… 端子（２次側端子）
４３ａ，４３ｂ，… 端子（第１の端子）
４４ａ，４４ｂ，… 端子（第２の端子）
４５ａ，４５ｂ，… 配線（第１の配線）
４６ａ，４６ｂ，… 配線（第２の配線）
Ｄ１１，Ｄ１２，… 発光ダイオード（第１の表示手段、発光素子）
Ｄ２１，Ｄ２２，… 発光ダイオード（第２の表示手段、発光素子）

Claims (10)

1. 所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するためのＰＣＴ導通チェッカーであって、
   前記テストターミナルの１次側端子と、第１の端子とが第１の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの２次側端子と、第２の端子とが第２の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために用いられ、
   前記第１の端子又は前記第２の端子を選択するための端子選択手段と、
   前記端子選択手段によって、所定の前記第１の端子が選択された場合に、前記第１の配線を介した前記所定の第１の端子と対応する前記１次側端子との電気的な接続状態を確認するための第１の表示手段と、
   前記端子選択手段によって、所定の前記第２の端子が選択された場合に、前記第２の配線を介した前記所定の第２の端子と対応する前記２次側端子との電気的な接続状態を確認するための第２の表示手段とを備えた
   ことを特徴とするＰＣＴ導通チェッカー。
2. 前記テストターミナルは、複数の前記１次側端子及び複数の前記２次側端子を有し、各前記１次側端子及び各前記２次側端子は、それぞれ対応する前記第１の端子及び前記第２の端子に接続され、当該ＰＣＴ導通チェッカーは、前記１次側端子及び前記２次側端子に対応した複数の前記第１の表示手段及び複数の前記第２の表示手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載のＰＣＴ導通チェッカー。
3. 前記第１の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第１の端子と前記１次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、
   前記第２の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第２の端子と前記２次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載のＰＣＴ導通チェッカー。
4. 前記端子選択手段は、前記第１の端子又は前記第２の端子に接触されて、前記第１の配線又は前記第２の配線と、前記第１の表示手段又は前記第２の表示手段とを含む閉回路を形成するための端子接触部を有することを特徴とする請求項１、２又は３に記載のＰＣＴ導通チェッカー。
5. 前記テストターミナルに嵌入され、前記１次側端子及び前記２次側端子に電気的に接続されるテスト端子を有するテストプラグを備え、前記テスト端子は、前記１次側端子及び対応する前記第１の表示手段に接続される１次側導体部と、前記２次側端子及び対応する前記第２の表示手段に接続される２次側導体部とを有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１に記載のＰＣＴ導通チェッカー。
6. 前記第１の表示手段及び前記第２の表示手段は、発光ダイオードを含む発光素子を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１に記載のＰＣＴ導通チェッカー。
7. 前記電気盤は、断路器及び遮断器を含む機器を操作制御するとともに、前記機器の表示情報及び計測情報を含む状態情報を中央制御装置へ伝送するための遠隔監視制御機能を有することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１に記載のＰＣＴ導通チェッカー。
8. 所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するための導通チェック方法であって、
   前記テストターミナルの１次側端子と、第１の端子とが第１の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの２次側端子と、第２の端子とが第２の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために実施され、
   前記１次側端子に第１の表示手段を接続し、前記第１の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第１の端子を選択し、前記第１の配線を介した前記所定の第１の端子と対応する前記１次側端子との電気的な接続状態を、前記第１の表示手段により確認し、
   前記２次側端子に第２の表示手段を接続し、前記第２の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第２の端子を選択し、前記第２の配線を介した前記所定の第２の端子と対応する前記２次側端子との電気的な接続状態を、前記第２の表示手段により確認する
   ことを特徴とする導通チェック方法。
9. 前記テストターミナルは、複数の前記１次側端子及び複数の前記２次側端子を有し、各前記１次側端子及び各前記２次側端子は、それぞれ対応する前記第１の端子及び前記第２の端子に接続され、前記１次側端子及び前記２次側端子には、それぞれ、対応した前記第１の表示手段及び前記第２の表示手段を接続することを特徴とする請求項８に記載の導通チェック方法。
10. 前記第１の表示手段は、前記１次側端子と前記第１の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、
    前記第２の表示手段は、前記２次側端子と前記第２の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴とする請求項８又は９に記載の導通チェック方法。

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