JP2011185833A - Pct導通チェッカー及び導通チェック方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 迅速にかつ円滑に配線の試験を実施する。
【解決手段】 PCT導通チェッカー1は、4極のプラグ挿入口に挿入される4極用プラグ部9と、2極のプラグ挿入口に挿入される2極用プラグ部11と、電源部12と、試験対象の端子に接触させる試験用接触電極13とを備えている。また、導通時に点灯可能な発光ダイオードD11,D12,…が、4極用プラグ部9(2極用プラグ部11)の各極に、かつ、接触部及び端子部の1次側及び2次側に接続されている。
【選択図】 図1

Description

この発明は、例えば、変電所等の電気所に設置される遠隔監視制御装置等の電気盤における盤内配線を試験するためのPCT導通チェッカー及び導通チェック方法に関する。
従来より、変電所等の電気所には、制御所の中央制御装置からの制御指令により、断路器や遮断器等の機器を操作制御するとともに、機器の表示情報や計測情報を含む状態情報を中央制御装置へ伝送するための遠隔監視制御装置が配置されている。こうした遠隔監視制御装置を構成する計測架は、PTやCT等の計器用変成器からの電流信号又は電圧信号が入力される計測用端子台と、テストターミナル(試験端子)が設けられた試験用端子盤と、トランスデューサ(入力変換器)とを備えている。
テストターミナルは、変圧器回路及び変流器回路に組み込まれ、プラグ挿入口が形成された計器用変圧器テストターミナル(PTTターミナル)及び計器用変流器テストターミナル(CTTターミナル)を含んでいる(例えば、特許文献1参照。)。
遠隔監視制御装置の製造時には、テストターミナルのプラグ挿入口にテストプラグ(PTTプラグやCTTプラグ)を挿入した状態で、図12乃至図15に示すように、PCT導通チェッカー(ブザーチェッカ)101を用いて、試験用端子盤103と計測用端子台102との間(1次側)の配線、及び試験用端子盤103とトランスデューサ104との間(2次側)の配線の導通チェックを実施する。
PCT導通チェッカー101は、図12乃至図15に示すように、一方の端子(計測用端子台102又はトランスデューサ104の端子)に接触させる試験用接触電極105aと、他方の端子(試験用端子盤103の端子)接触させる試験用接触電極105bと、試験用接触電極105a,105bが、それぞれ、その正極及び負極に接続される電源部106と、導通時に電源部106によって駆動されるブザー(不図示)とを有している。
次に、導通チェック方法について説明する。まず、4極のCTTプラグ及び2極のCTTプラグを、試験用端子盤103のCT用の4極のテストターミナル103aのプラグ挿入口、CT用の2極のテストターミナル103bのプラグ挿入口にそれぞれ挿入して、計測用端子台102と試験用端子盤103との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。
この場合は、図12に示すように、テストターミナル103aの端子107a(107b,107c,107d)は、計測用端子台102の端子111a(111b,111c,111d)と、配線113a(113b,113c,113d)を介して接続されている。また、テストターミナル103aの端子108a(108b,108c,108d)は、トランスデューサ104の端子112a(112b,112c,112d)と、配線114a(114b,114c,114d)を介して接続されている。なお、トランスデューサ104内で、端子112aと端子112b、端子112cと端子112dは、それぞれ接続されている。
また、テストターミナル103bの端子109a(109b)は、計測用端子台102の端子111e(111f)と、配線113e(113f)を介して接続されている。また、テストターミナル103bの端子110a(110b)は、トランスデューサ104の端子112e(112f)と、配線114e(114f)を介して接続されている。なお、トランスデューサ104内で、端子112eと端子112fは接続されている。
この状態で、4極のCTTプラグを、テストターミナル103aの4極のプラグ挿入口に挿入して回路を切る。また、2極用のCTTプラグを、テストターミナル103bの2極のプラグ挿入口に挿入して回路を切る。
次に、試験用接触電極105aを、計測用端子台102の端子111aに接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子107aに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル103aの端子107b,107c,107d,108a,108b,108c,108d、テストターミナル103bの端子109a,109b,110a,110bに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。
次に、試験用接触電極105aを、計測用端子台102の端子111b(111c,111d,111e,111f)に接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子107b(107c,107d,109a,109b)に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、6×12=72(回)となる。
次に、試験用端子盤103とトランスデューサ104との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図13に示すように、4極のCTTプラグ及び2極のCTTプラグを、試験用端子盤103の4極のテストターミナル103a、2極のテストターミナル103bのそれぞれのプラグ挿入口に挿入して、回路を切る。また、トランスデューサ104において、非接続箇所M1(M2,M3)を形成して、端子112aと端子112b(端子112cと端子112d、端子112eと端子112f)は、それぞれ非接続としておく。
次に、試験用接触電極105aを、トランスデューサ104の端子112aに接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子108aに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル103aの端子108b,108c,108d,107a,107b,107c,107d、テストターミナル103bの端子109a,109b,110a,110bに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。
次に、試験用接触電極105aを、トランスデューサ104の端子112b(112c,112d,112e,112f)に接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子108b(108c,108d,110a,110b)に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、6×12=72(回)となる。
次に、4極のPTTプラグを、試験用端子盤103のPT用の4極のテストターミナル103aのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台102と試験用端子盤103との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図14に示すように、テストターミナル103aの端子116a(116b,116c,116d)は、計測用端子台102の端子118a(118b,118c,118d)と、配線120a(120b,120c,120d)を介して接続されている。
また、テストターミナル103aの端子117a(117b,117c,117d)は、トランスデューサ104の端子119a(119b,119c,119d)と、配線121a(121b,121c,121d)を介して接続されている。
この状態で、4極のPTTプラグ部を、試験用端子盤103のテストターミナル103aのプラグ挿入口に挿入して回路を切る。次に、試験用接触電極105aを、計測用端子台102の端子118aに接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子116aに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル103aの端子116b,116c,116d,117a,117b,117c,117dに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。
次に、試験用接触電極105aを、計測用端子台102の端子118b(118c,118d)に接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子116b(116c,116d)に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、4×8=32(回)となる。
次に、試験用端子盤103とトランスデューサ104との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図15に示すように、4極のPTTプラグを、試験用端子盤103の4極のテストターミナル103aのプラグ挿入口に挿入して、回路を切る。次に、試験用接触電極105aを、トランスデューサ104の端子119aに接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子117aに接触させ、ブザーが鳴動することを確認する。次に、テストターミナル103aの端子117b,117c,117d,116a,116b,116c,116dに、順に接触させ、ブザーが鳴動しないことを確認する。
次に、試験用接触電極105aを、トランスデューサ104の端子119b(119c,119d)に接触させた状態で、試験用接触電極105bを、テストターミナル103aの端子117b(117c,117d)に接触させた場合のみに、ブザーが鳴動することを確認する。こうして、試験回数は、4×18=32(回)となる。
上述したように、試験回数は膨大となるが、CT回路及びPT回路は、盤内配線を誤ると、電圧印加時に高電圧や大電流が発生して、機器の損傷や人身に対する障害を及ぼす可能性があるために、それらの配線は全て厳重に試験する必要があり、試験漏れがないようにしなければならない。
このため、配線部の導通有りの確認はもちろん、テストターミナルの極間や、1次・2次間に導通が無いことを全ての極について確認する必要がある。したがって、4極のテストターミナルの場合は、64箇所の導通確認が必要となる。そして、この作業を、盤に実装された全てのテストターミナルについて実施する必要がある。
特開平10―19961号公報
しかしながら、上記従来技術では、膨大な配線確認箇所について、1箇所ずつ試験しなければならないので、導通チェックの実施に長時間を要し、手間がかかるという問題がある。
この発明は、前記の課題を解決し、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができるPCT導通チェッカー及び導通チェック方法を提供することを目的としている。
前記の課題を解決するために、請求項1の発明は、所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するためのPCT導通チェッカーであって、前記テストターミナルの1次側端子と、第1の端子とが第1の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの2次側端子と、第2の端子とが第2の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために用いられ、前記第1の端子又は前記第2の端子を選択するための端子選択手段と、前記端子選択手段によって、所定の前記第1の端子が選択された場合に、前記第1の配線を介した前記所定の第1の端子と対応する前記1次側端子との電気的な接続状態を確認するための第1の表示手段と、前記端子選択手段によって、所定の前記第2の端子が選択された場合に、前記第2の配線を介した前記所定の第2の端子と対応する前記2次側端子との電気的な接続状態を確認するための第2の表示手段とを備えたことを特徴としている。
請求項1の発明では、端子選択手段によって、所定の第1の端子が選択された場合に、第1の配線を介した所定の第1の端子と対応する1次側端子との電気的な接続状態が、第1の表示手段により確認され、端子選択手段によって、所定の第2の端子が選択された場合に、第2の配線を介した所定の第2の端子と対応する2次側端子との電気的な接続状態が、第2の表示手段により確認される。
請求項2の発明は、請求項1に記載のPCT導通チェッカーであって、前記テストターミナルは、複数の前記1次側端子及び複数の前記2次側端子を有し、各前記1次側端子及び各前記2次側端子は、それぞれ対応する前記第1の端子及び前記第2の端子に接続され、当該PCT導通チェッカーは、前記1次側端子及び前記2次側端子に対応した複数の前記第1の表示手段及び複数の前記第2の表示手段を備えたことを特徴としている。
請求項3の発明は、請求項1又は2に記載のPCT導通チェッカーであって、前記第1の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第1の端子と前記1次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、前記第2の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第2の端子と前記2次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴としている。
請求項4の発明は、請求項1、2又は3に記載のPCT導通チェッカーであって、前記端子選択手段は、前記第1の端子又は前記第2の端子に接触されて、前記第1の配線又は前記第2の配線と、前記第1の表示手段又は前記第2の表示手段とを含む閉回路を形成するための端子接触部を有することを特徴としている。
請求項5の発明は、請求項1乃至4のいずれか1に記載のPCT導通チェッカーであって、前記テストターミナルに嵌入され、前記1次側端子及び前記2次側端子に電気的に接続されるテスト端子を有するテストプラグを備え、前記テスト端子は、前記1次側端子及び対応する前記第1の表示手段に接続される1次側導体部と、前記2次側端子及び対応する前記第2の表示手段に接続される2次側導体部とを有することを特徴としている。
請求項6の発明は、請求項1乃至5のいずれか1に記載のPCT導通チェッカーであって、前記第1の表示手段及び前記第2の表示手段は、発光ダイオードを含む発光素子を有することを特徴としている。
請求項7の発明は、請求項1乃至6のいずれか1に記載のPCT導通チェッカーであって、前記電気盤は、断路器及び遮断器を含む機器を操作制御するとともに、前記機器の表示情報及び計測情報を含む状態情報を中央制御装置へ伝送するための遠隔監視制御機能を有することを特徴している。
請求項8の発明は、所定の機能を有し、所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するための導通チェック方法であって、前記テストターミナルの1次側端子と、第1の端子とが第1の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの2次側端子と、第2の端子とが第2の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために実施され、前記1次側端子に第1の表示手段を接続し、前記第1の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第1の端子を選択し、前記第1の配線を介した前記所定の第1の端子と対応する前記1次側端子との電気的な接続状態を、前記第1の表示手段により確認し、前記2次側端子に第2の表示手段を接続し、前記第2の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第2の端子を選択し、前記第2の配線を介した前記所定の第2の端子と対応する前記2次側端子との電気的な接続状態を、前記第2の表示手段により確認することを特徴としている。
請求項9の発明は、請求項8に記載の導通チェック方法であって、前記テストターミナルは、複数の前記1次側端子及び複数の前記2次側端子を有し、各前記1次側端子及び各前記2次側端子は、それぞれ対応する前記第1の端子及び前記第2の端子に接続され、前記1次側端子及び前記2次側端子には、それぞれ、対応した前記第1の表示手段及び前記第2の表示手段を接続することを特徴としている。
請求項10の発明は、請求項8又は9に記載の導通チェック方法であって、前記第1の表示手段は、前記1次側端子と前記第1の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、前記第2の表示手段は、前記2次側端子と前記第2の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴としている。
請求項1の発明によれば、端子選択手段によって、所定の第1の端子が選択された場合に、第1の配線を介した所定の第1の端子と対応する1次側端子との電気的な接続状態を、第1の表示手段により確認し、端子選択手段によって、所定の第2の端子が選択された場合に、第2の配線を介した所定の第2の端子と対応する2次側端子との電気的な接続状態を、第2の表示手段により確認することができるので、特に、第1の端子及び第2の端子、並びにテストターミナルが多数の場合に、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができる。
請求項2の発明によれば、複数の1次側端子及び2次側端子に対応して複数の第1の表示手段及び複数の第2の表示手段が設けられているので、同時に複数箇所の導通チェックを実施することができるため、迅速に導通チェックを実施することができる。
請求項3の発明によれば、第1の表示手段の発光素子は、第1の端子と1次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となり、第2の表示手段の発光素子は、第2の端子と2次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となるので、特に非発光状態を確認することよって、導通してはならない箇所の非接続状態を確認し、確実に導通チェックを実施することができる。
請求項4の発明によれば、端子接触部を第1の端子又は第2の端子に接触させて、第1の配線又は第2の配線と、第1の表示手段又は第2の表示手段とを含む閉回路を形成するので、円滑に導通チェックを実施することができる。
請求項5の発明によれば、テストターミナルにテストプラグを嵌入することによって、1次側端子及び2次側端子に、第1の表示手段及び第2の表示手段を容易に接続できるので、円滑に導通チェックを実施することができる。
請求項6の発明によれば、第1の表示手段及び第2の表示手段として、発光ダイオードを含む発光素子を用いることによって、低コストで導通チェックを実施することができる。
請求項7の発明によれば、遠隔監視制御機能を有する電気盤の配線を試験するために用いることによって、テストターミナルが多数であっても、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができる。
請求項8の発明によれば、端子選択手段によって、所定の第1の端子が選択された場合に、第1の配線を介した所定の第1の端子と対応する1次側端子との電気的な接続状態を、第1の表示手段により確認し、端子選択手段によって、所定の第2の端子が選択された場合に、第2の配線を介した所定の第2の端子と対応する2次側端子との電気的な接続状態が、第2の表示手段により確認することができるので、特に、第1の端子及び第2の端子、並びにテストターミナルが多数の場合に、迅速に、かつ円滑に導通チェックを実施することができる。
請求項9の発明によれば、複数の1次側端子及び2次側端子に対応して複数の第1の表示手段及び複数の第2の表示手段が設けられているので、同時に複数箇所の試験を実施することができるため、迅速に導通チェックを実施することができる。
請求項10の発明によれば、第1の表示手段の発光素子は、前記第1の端子と1次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となり、第2の表示手段の発光素子は、第2の端子と2次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となるので、特に非発光状態を確認することよって、導通してはならない箇所の非接続状態を確認し、確実に導通チェックを実施することができる。
この発明の実施の形態1によるPCT導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 同PCT導通チェッカーが適用される遠隔監視制御装置の構成を説明するための説明図である。 同PCT導通チェッカーの構成を示す回路図である。 同PCT導通チェッカーの4極用プラグ部の構成を示す平面図である。 同PCT導通チェッカーの2極用プラグ部の構成を示す平面図である。 同PCT導通チェッカーの4極用プラグ部の構成を示す正面図である。 同PCT導通チェッカーの2極用プラグ部の構成を示す正面図である。 同PCT導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 同PCT導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 同PCT導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。 この発明の実施の形態2によるPCT導通チェッカーの構成を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。 従来技術を説明するための説明図である。
次に、この発明の実施の形態について、図面を用いて詳しく説明する。
(実施の形態1)
図1は、この発明の実施の形態1によるPCT導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図、図2は、同PCT導通チェッカーが適用される遠隔監視制御装置の構成を説明するための説明図、図3は、同PCT導通チェッカーの構成を示す回路図、図4は、同PCT導通チェッカーの4極用プラグ部の構成を示す平面図、図5は、同PCT導通チェッカーの2極用プラグ部の構成を示す平面図、図6は、同PCT導通チェッカーの4極用プラグ部の構成を示す正面図、図7は、同PCT導通チェッカーの2極用プラグ部の構成を示す正面図、図8乃至図10は、同PCT導通チェッカーの構成及び機能を説明するための説明図である。
図1に示すようなこの実施の形態のPCT導通チェッカー1は、図2に示すように、電気所としての変電所に配置された遠隔監視制御装置を構成する計測架3において、PTやCT等の計器用変成器4からの電流信号又は電圧信号が入力される計測用端子台5と試験用端子盤6との間の配線、及び試験用端子盤6とトランスデューサ(入力変換器)7との間の配線の導通チェックを実施するために用いられる。
遠隔監視制御装置は、伝送路を介して制御所に配置された中央制御装置に接続される。試験用端子盤6は、変圧器回路及び変流器回路に組み込まれ、プラグ挿入口が形成された計器用変圧器テストターミナル(PTTターミナル)及び計器用変流器テストターミナル(CTTターミナル)を含むテストターミナルを有している。
PCT導通チェッカー1は、図1と、図3乃至図7とに示すように、4極のプラグ挿入口に挿入される4極用プラグ部9と、2極のプラグ挿入口に挿入される2極用プラグ部11と、乾電池を含む電源部12と、試験対象の端子に接触させる針状の試験用接触電極13とを備えている。
4極用プラグ部9は、図3、図4、及び図6に示すように、接触部17a(17b,17c,17d)及び端子部19a(19b,19c,19d)の1次側(1次側導体部)に抵抗R11(R12,R13,R14)を介してアノード端子が接続され、電源部12の負極にカソード端子が接続される赤色の発光ダイオード(LED)D11(D12,D13,D14)と、接触部17a(17b,17c,17d)及び端子部19a(19b,19c,19d)の2次側(2次側導体部)に抵抗R21(R22,R23,R24)を介してアノード端子が接続され、電源部12の負極にカソード端子が接続される緑色の発光ダイオードD21(D22,D23,D24)とを有している。
4極用プラグ部9が、図1に示すように、対応するプラグ挿入口(PTTターミナル又はCTTターミナル)に挿入された状態で、試験用接触電極13が、1次側の計測用端子台5の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードD11(D12,D13,D14)のみに電源部12の電圧が印加され発光する。同様に、4極用プラグ部9が、対応するプラグ挿入口に挿入された状態で、試験用接触電極13が、2次側のトランスデューサ7の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードD21(D22,D23,D24)のみに電源部12の電圧が印加され発光する。
2極用プラグ部11は、図3、図5、及び図7に示すように、接触部24a(24b)及び端子部26a(26b)の1次側に抵抗R15(R16)を介してアノード端子が接続され、電源部12の負極にカソード端子が接続される赤色の発光ダイオードD15(D16)と、接触部24a(24b)及び端子部26a(26b)の2次側に抵抗R25(R26)を介してアノード端子が接続され、電源部12の負極にカソード端子が接続される緑色の発光ダイオードD25(D26)とを有している。
2極用プラグ部9が、図1に示すように、対応するプラグ挿入口(PTTターミナル又はCTTターミナル)に挿入された状態で、試験用接触電極13が、1次側の計測用端子台5の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードD15(D16)のみに電源部12の電圧が印加され発光する。同様に、2極用プラグ部11が、対応するプラグ挿入口に挿入された状態で、試験用接触電極13が、2次側のトランスデューサ7の所定の端子に接触されると、正常時には、対応する単一の発光ダイオードD25(D26)のみに電源部12の電圧が印加され発光する。
4極用プラグ部9は、図4及び図6に示すように、上下(2次側及び1次側)に互いに絶縁された一対の接触子からなる接触部17a,17b,17c,17dが、絶縁板18a,18b,18cを介して基体に設けられ、これらの一対の接触部17a,17b,17c,17dの反対側には、同軸上に配設された一対の端子からなる端子部19a,19b,19c,19dが配置され、基体の端子部側には、棒状の支持部材15を介して、発光ダイオードD11,…,D14、D21,…,D24等が搭載された回路基板16が配置されて概略構成されている。
回路基板16には、発光ダイオードD11(D12,D13,D14,D21,D22,D23,D24)と、対応する抵抗R11(R12,R13,R14,R21,R22,R23,R24)とが搭載され、かつ、電源部12と接続するための接続ジャック21が設けられている。
2極用プラグ部11は、図5及び図7に示すように、上下に互いに絶縁された一対の接触子からなる接触部24a,24bが、絶縁板25を介して基体に設けられ、これらの一対の接触部24a,24bの反対側には、同軸上に配設された一対の端子からなる端子部26a,26bが配置され、基体の端子部側には、棒状の支持部材22を介して、発光ダイオードD15,D16,D25,D26等が搭載された回路基板23が配置されて概略構成されている。回路基板23には、発光ダイオードD15(D16,D25,D26)と、対応する抵抗R15(R16,R25,R26)とが搭載され、かつ、電源部12と接続するための接続ジャック27が設けられている。なお、この実施の形態の4極用プラグ部9及び2極用プラグ部11では、PTTとCTTとで共通に使用できるように、通常のテストプラグで採用される誤挿入防止構造は除かれている。
次に、図1と、図8乃至図10とを参照して、PCT導通チェッカー1の動作について説明する。まず、4極用プラグ部9及び2極用プラグ部11を、試験用端子盤6のCT用の4極のテストターミナル6aのプラグ挿入口、CT用の2極のテストターミナル6bのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台5と試験用端子盤6との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。
この場合は、図1に示すように、テストターミナル6aの端子29a(29b,29c,29d)は、計測用端子台5の端子35a(35b,35c,35d)と、配線37a(37b,37c,37d)を介して接続されている。また、テストターミナル6aの端子31a(31b,31c,31d)は、トランスデューサ7の端子36a(36b,36c,36d)と、配線38a(38b,38c,38d)を介して接続されている。なお、トランスデューサ7内で、端子36aと端子36b、端子36cと端子36dは、それぞれ接続されている。
また、テストターミナル6bの端子32a(32b)は、計測用端子台5の端子35e(35f)と、配線37e(37f)を介して接続されている。また、テストターミナル6bの端子33a(33b)は、トランスデューサ7の端子36e(36f)と、配線38e(38f)を介して接続されている。なお、トランスデューサ7内で、端子36eと端子36fは接続されている。
この状態で、PCT導通チェッカー1の4極用プラグ部9を、テストターミナル6aの4極のプラグ挿入口に挿入する。これによって、テストターミナル6aの端子29a(29b,29c,29d)と、4極用プラグ部9の対応する接触部17a(17b,17c,17d)及び端子部19a(19b,19c,19d)の1次側とは、電気的に接続される。かつ、端子31a(31b,31c,31d)と、4極用プラグ部9の対応する接触部17a(17b,17c,17d)及び端子部19a(19b,19c,19d)の2次側とは、電気的に接続される。
また、2極用プラグ部11を、テストターミナル6bの2極のプラグ挿入口に挿入する。これによって、テストターミナル6bの端子32a(32b)と、2極用プラグ部11の対応する接触部24a(24b)及び端子部26a(26b)の1次側とは、電気的に接続される。かつ、端子33a(33b)と、2極用プラグ部11の対応する接触部24a(24b)及び端子部26a(26b)の2次側とは、電気的に接続される。
次に、試験用接触電極13を、計測用端子台5の端子35a(35b,35c,35d,35e,35f)に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードD11(D12,D13,D14,D15,D16)のみ発光することを確認する。ここでは、6回の導通確認試験で足りる。
次に、4極用プラグ部9及び2極用プラグ部11を、試験用端子盤6の4極のテストターミナル6a、2極のテストターミナル6bのそれぞれのプラグ挿入口に挿入して、試験用端子盤6とトランスデューサ7との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図8に示すように、トランスデューサ7において、非接続箇所K1(K2,K3)を形成して、端子36aと端子36b(端子36cと端子36d、端子36eと端子36f)は、それぞれ非接続としておく。
次に、試験用接触電極13を、トランスデューサ7の端子36a(36b,36c,36d,36e,36f)に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードD21(D22,D23,D24,D25,D26)のみ発光することを確認する。ここでも、6回の導通確認試験で足りる。
次に、4極用プラグ部9を、試験用端子盤6のPT用の4極のテストターミナル6aのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台5と試験用端子盤6との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図9に示すように、4極用プラグ部9を、試験用端子盤6のテストターミナル6aのプラグ挿入口に挿入して、計測用端子台5と試験用端子盤6との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。
この場合は、図9に示すように、テストターミナル6aの端子41a(42b,42c,42d)は、計測用端子台5の端子43a(43b,43c,43d)と、配線45a(45b,45c,45d)を介して接続されている。また、テストターミナル6aの端子42a(42b,42c,42d)は、トランスデューサ7の端子44a(44b,44c,44d)と、配線46a(46b,46c,46d)を介して接続されている。
この状態で、PCT導通チェッカー1の4極用プラグ部9を、4極のテストターミナル6aのプラグ挿入口に挿入する。これによって、テストターミナル6aの端子41a(41b,41,41d)と、4極用プラグ部9の対応する接触部17a(17b,17c,17d)及び端子部19a(19b,19c,19d)の1次側とは、電気的に接続される。かつ、端子42a(42b,42c,42d)と、4極用プラグ部9の対応する接触部17a(17b,17c,17d)及び端子部19a(19b,19c,19d)の2次側とは、電気的に接続される。
次に、試験用接触電極13を、計測用端子台5の端子43a(43b,43c,43d)に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードD11(D12,D13,D14)のみ発光することを確認する。ここでは、4回の導通確認試験で足りる。
次に、4極用プラグ部9を、試験用端子盤6のPT用の4極のテストターミナル6aのプラグ挿入口に挿入して、試験用端子盤6とトランスデューサ7との間の配線の導通チェックを実施する場合について述べる。この場合は、図10に示すように、試験用接触電極13を、トランスデューサ7の端子44a(44b,44c,44d)に接触させる。このとき、対応する単一の発光ダイオードD21(D22,D23,D24)のみ発光することを確認する。ここでも、4回の導通確認試験で足りる。
こうして、この実施の形態の構成によれば、例えば、導通時に点灯可能な発光ダイオードD11,D12,…を各極に、かつ、接触部17a,17b,…及び端子部19a,19b,…の1次側及び2次側に接続したので、迅速にかつ円滑に、導通チェックを実施することができる。特に発光ダイオードD11,D12,…の非発光状態を確認することよって、導通してはならない箇所の非接続状態を同時に確認し、確実に導通チェックを実施することができる。
従来技術では、例えば、4極のテストターミナルで、64回(箇所)の導通確認を要していたのに対して、8回で足りることになる。例えば、1時間以上要していた導通チェックを、略10分程度に短縮して実施することができる。したがって、多数のテストターミナルを有する遠隔監視制御装置の盤内配線の導通チェックに適用して好適である。また、導通チェック箇所の大幅な削減により、チェック漏れを防止することができる。
また、試験用接触電極13を端子に接触させて、導通チェック対象を選択することによって、円滑に導通チェックを実施することができる。また、プラグ挿入口に4極用プラグ部9や2極用プラグ部11を嵌入することによって、発光ダイオードD11,D12,…を容易に接続できるので、円滑に導通チェックを実施することができる。また、発光素子として発光ダイオードを用いることによって、低コストで導通チェックを実施することができる。
(実施の形態2)
図11は、この発明の実施の形態2によるPCT導通チェッカーの構成を説明するための説明図である。
図11に示すように、この実施の形態のPCT導通チェッカー1Aは、4極のプラグ挿入口に挿入される4極用プラグ部48と、2極のプラグ挿入口に挿入される2極用プラグ部49と、乾電池を含む電源部51と、試験対象の端子54aに接触させる試験用接触電極52と、試験用接触電極52近傍に配置され、発光ダイオードD3と抵抗R3とが直列に接続された導通表示部53とを備えている。ここで、4極用プラグ部48と、2極用プラグ部49とは、実施の形態1と略同一の構成を有している。
この実施の形態では、導通チェック対象の端子54aに試験用接触電極52を接触させて、発光ダイオードD3の発光を確認することで、まず、端子54aと、試験用端子盤6との接続が確認され、次に、4極用プラグ部48と2極用プラグ部49とにおいて、所定の発光ダイオードD11(D12,D13,…)のみが発光していることを確認すれば良い。
この実施の形態の構成によれば、上述した実施の形態1と略同様の効果を得ることができる。加えて、試験用接触電極52近傍にも導通表示部53を設けたので、一段と円滑に導通チェックを実施することができる。
以上、この発明の実施の形態を図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。例えば、上述した実施の形態では、発光素子として、発光ダイオードを用いる場合について述べたが、これに限らず、例えば、白熱電球等を用いても良い。
また、4極用プラグ部(2極用プラグ部)の回路基板は、基体に対して着脱自在としても良い。また、各端子に発光ダイオードの表示色を対応付けても良い。また、電源部は、基体と一化させても良い。また、試験用接触電極としては、プローブを用いても良い。また、実施の形態2で、発光ダイオードD3に代えて、少なくとも1組の赤色、緑色、青色の発光ダイオードを設けて、配線(赤相、青相、白相)に対応させて、赤色、青色、白色の表示色とさせるようにしても良い。
電気盤として、遠隔監視制御装置のほか、自動復旧装置等のテストターミナルが設けられた他の電気盤に対して適用できる。また、製造時のほか、一部取替時や改修時の試験にも適用できる。また、電気所として、変電所のほか、発電所等に設置された電気盤について適用できる。
1 PCT導通チェッカー
3 計測架(電気盤)
4 計器用変成器
5 計測用端子台
6 試験用端子盤
6a テストターミナル
6b テストターミナル
7 トランスデューサ
9,48 4極用プラグ部(テストプラグ)
11,49 2極用プラグ部(テストプラグ)
13,52 試験用接触電極(端子選択手段、端子接触部)
17a,17b,… 接触部(テスト端子)
19a,19b,… 端子部(テスト端子)
24a,24b 接触部(テスト端子)
26a,26b 端子部(テスト端子)
29a,29b,… 端子(1次側端子)
31a,31b,… 端子(2次側端子)
32a,33b,… 端子(1次側端子)
33a,33b,… 端子(2次側端子)
35a,35b,… 端子(第1の端子)
36a,36b,… 端子(第2の端子)
37a,37b,… 配線(第1の配線)
38a,38b,… 配線(第2の配線)
41a,41b,… 端子(1次側端子)
42a,42b,… 端子(2次側端子)
43a,43b,… 端子(第1の端子)
44a,44b,… 端子(第2の端子)
45a,45b,… 配線(第1の配線)
46a,46b,… 配線(第2の配線)
D11,D12,… 発光ダイオード(第1の表示手段、発光素子)
D21,D22,… 発光ダイオード(第2の表示手段、発光素子)

Claims (10)

  1. 所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するためのPCT導通チェッカーであって、
    前記テストターミナルの1次側端子と、第1の端子とが第1の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの2次側端子と、第2の端子とが第2の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために用いられ、
    前記第1の端子又は前記第2の端子を選択するための端子選択手段と、
    前記端子選択手段によって、所定の前記第1の端子が選択された場合に、前記第1の配線を介した前記所定の第1の端子と対応する前記1次側端子との電気的な接続状態を確認するための第1の表示手段と、
    前記端子選択手段によって、所定の前記第2の端子が選択された場合に、前記第2の配線を介した前記所定の第2の端子と対応する前記2次側端子との電気的な接続状態を確認するための第2の表示手段とを備えた
    ことを特徴とするPCT導通チェッカー。
  2. 前記テストターミナルは、複数の前記1次側端子及び複数の前記2次側端子を有し、各前記1次側端子及び各前記2次側端子は、それぞれ対応する前記第1の端子及び前記第2の端子に接続され、当該PCT導通チェッカーは、前記1次側端子及び前記2次側端子に対応した複数の前記第1の表示手段及び複数の前記第2の表示手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載のPCT導通チェッカー。
  3. 前記第1の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第1の端子と前記1次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、
    前記第2の表示手段は、前記端子選択手段によって選択された前記第2の端子と前記2次側端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載のPCT導通チェッカー。
  4. 前記端子選択手段は、前記第1の端子又は前記第2の端子に接触されて、前記第1の配線又は前記第2の配線と、前記第1の表示手段又は前記第2の表示手段とを含む閉回路を形成するための端子接触部を有することを特徴とする請求項1、2又は3に記載のPCT導通チェッカー。
  5. 前記テストターミナルに嵌入され、前記1次側端子及び前記2次側端子に電気的に接続されるテスト端子を有するテストプラグを備え、前記テスト端子は、前記1次側端子及び対応する前記第1の表示手段に接続される1次側導体部と、前記2次側端子及び対応する前記第2の表示手段に接続される2次側導体部とを有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1に記載のPCT導通チェッカー。
  6. 前記第1の表示手段及び前記第2の表示手段は、発光ダイオードを含む発光素子を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1に記載のPCT導通チェッカー。
  7. 前記電気盤は、断路器及び遮断器を含む機器を操作制御するとともに、前記機器の表示情報及び計測情報を含む状態情報を中央制御装置へ伝送するための遠隔監視制御機能を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1に記載のPCT導通チェッカー。
  8. 所定の機能を有し、テストターミナルが設けられた電気盤の配線を試験するための導通チェック方法であって、
    前記テストターミナルの1次側端子と、第1の端子とが第1の配線によって接続され、かつ、前記テストターミナルの2次側端子と、第2の端子とが第2の配線によって接続されている前記電気盤の配線の試験のために実施され、
    前記1次側端子に第1の表示手段を接続し、前記第1の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第1の端子を選択し、前記第1の配線を介した前記所定の第1の端子と対応する前記1次側端子との電気的な接続状態を、前記第1の表示手段により確認し、
    前記2次側端子に第2の表示手段を接続し、前記第2の表示手段に接続された端子選択手段によって、所定の前記第2の端子を選択し、前記第2の配線を介した前記所定の第2の端子と対応する前記2次側端子との電気的な接続状態を、前記第2の表示手段により確認する
    ことを特徴とする導通チェック方法。
  9. 前記テストターミナルは、複数の前記1次側端子及び複数の前記2次側端子を有し、各前記1次側端子及び各前記2次側端子は、それぞれ対応する前記第1の端子及び前記第2の端子に接続され、前記1次側端子及び前記2次側端子には、それぞれ、対応した前記第1の表示手段及び前記第2の表示手段を接続することを特徴とする請求項8に記載の導通チェック方法。
  10. 前記第1の表示手段は、前記1次側端子と前記第1の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含み、
    前記第2の表示手段は、前記2次側端子と前記第2の端子とが電気的に接続状態のときに発光状態となり、非接続状態のときに非発光状態となる発光素子を含むことを特徴とする請求項8又は9に記載の導通チェック方法。
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