JP2011032511A - 薄膜形成方法および薄膜形成装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】薄膜への不純物の混入をできるだけ防止し得る薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】真空容器1内に設けられて薄膜を形成するための基板Kを水平面内で回転させる回転ステージ2と、真空容器1内の基板に2種類の原料ガスの超音速分子線Mを略90度の交差角でもって供給する第1及び第2分子線発生装置4A,4Bと、超音速分子線Mにそれぞれ励起用のレーザ光R1を照射する第1及び第2レーザ照射装置5A,5Bと、回転ステージ2の基板K表面の前方位置に配置されて各超音速分子線Mの交差領域に生成した反応生成物を選択し通過させるためのピンホール3aが形成された生成物選択部材3とから構成すると共に、予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して反応生成物が生成物選択部材3のピンホール3aを通過するように回転ステージ2の回転位置を制御するようにしたもの。
【選択図】図1
【解決手段】真空容器1内に設けられて薄膜を形成するための基板Kを水平面内で回転させる回転ステージ2と、真空容器1内の基板に2種類の原料ガスの超音速分子線Mを略90度の交差角でもって供給する第1及び第2分子線発生装置4A,4Bと、超音速分子線Mにそれぞれ励起用のレーザ光R1を照射する第1及び第2レーザ照射装置5A,5Bと、回転ステージ2の基板K表面の前方位置に配置されて各超音速分子線Mの交差領域に生成した反応生成物を選択し通過させるためのピンホール3aが形成された生成物選択部材3とから構成すると共に、予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して反応生成物が生成物選択部材3のピンホール3aを通過するように回転ステージ2の回転位置を制御するようにしたもの。
【選択図】図1
Description
本発明は、交差分子線を用いた薄膜形成方法および薄膜形成装置に関するものである。
レーザ光により得られる反応生成物(反応化合物ともいう)を基板表面に堆積させて所望の薄膜を得る際に、薄膜の堆積に必要な反応生成物を効率良く利用し得るとともに薄膜中の不純物を減少させる方法として、交差分子線を用いたものがある(例えば、特許文献1参照)。
この方法に用いられる装置には、図3に示すように、中央に薄膜を堆積させる基板Kが配置される真空容器である反応セル51と、この反応セル51内に分子線Mを供給する2台の分子線発生装置52,53と、反応セル51に設けられた窓部54からレーザ光Rを分子線Mに照射して励起させるレーザ照射装置55,56とが具備されている。
上記構成において、2種類の原料ガスG1,G2を別々に各分子線発生装置52,53の前室52a,53aに供給し、そして各前室52a,53aに形成されたピンホール52b,53bから2種類の分子線Mを反応セル51内に導入するとともにこれら各分子線Mにそれぞれ励起用のレーザ光Rを照射し、この励起された両分子線Mを交差させるとともにその交差領域に配置された基板Kの表面に反応生成物を堆積させることにより、薄膜を形成していた。なお、図3中、57は排気口、58は基板Kを加熱するためのヒータである。
ところで、上述した分子線Mを用いたものによると、交差領域に基板Kを設置しているため、交差の際の衝突に基づく振動励起によって不測の反応生成物が生じ、薄膜中に不純物として混入する可能性が高いという問題があった。
そこで、本発明は、薄膜への不純物の混入をできるだけ防止し得る薄膜形成方法および薄膜形成装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の薄膜形成方法は、真空容器内に配置された基板の表面に2種類の原料ガスの超音速分子線を所定の交差角でもって供給するとともに、これら各超音速分子線に励起用のレーザ光を照射し、上記超音速分子線の交差領域に配置された基板表面に薄膜を形成する方法であって、
上記超音速分子線の交差領域に生成される成膜用の反応生成物を、生成物選択部材に設けられたピンホールを介して基板表面に供給する際に、
予め検出されている反応生成物の散乱角方向に上記ピンホールが位置するように生成物選択部材の方向を制御する方法であり、
また上記薄膜形成方法において、反応促進用のレーザ光をミラーを介して基板表面に照射する際に、ミラーの反射方向が成膜用の反応生成物の散乱角方向に一致するように制御して、当該ミラーにより反射されたレーザ光が生成物選択部材のピンホールを通過するようにしたものである。
上記超音速分子線の交差領域に生成される成膜用の反応生成物を、生成物選択部材に設けられたピンホールを介して基板表面に供給する際に、
予め検出されている反応生成物の散乱角方向に上記ピンホールが位置するように生成物選択部材の方向を制御する方法であり、
また上記薄膜形成方法において、反応促進用のレーザ光をミラーを介して基板表面に照射する際に、ミラーの反射方向が成膜用の反応生成物の散乱角方向に一致するように制御して、当該ミラーにより反射されたレーザ光が生成物選択部材のピンホールを通過するようにしたものである。
さらに、本発明の薄膜形成装置は、真空容器と、この真空容器内に設けられて薄膜を形成するための基板を載置して水平面内で回転させる回転ステージと、上記真空容器内の基板に2種類の原料ガスの超音速分子線を所定の交差角でもって供給する第1および第2分子線発生装置と、上記真空容器内の超音速分子線にそれぞれ励起用のレーザ光を照射する第1および第2レーザ照射装置と、上記回転ステージの基板表面の前方に配置されて各超音速分子線の交差領域に生成した反応生成物を選択し通過させるためのピンホールが形成された生成物選択部材とを具備し、
且つ上記回転ステージを、支持体に所定軸心回りで回転自在に支持されたステージ本体と、このステージ本体を鉛直軸心回りで回転させるステージ用回転駆動装置とから構成するとともに、このステージ用回転駆動装置の回転制御部に予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して、上記生成物選択部材のピンホールが上記散乱角方向に一致するようにしたものであり、
また、上記薄膜形成装置において、基板表面にレーザ光を照射して交差領域での反応を促進させるレーザ光を照射する第3レーザ照射装置と、この第3レーザ照射装置から照射された反応促進用のレーザ光を基板上に導くためのミラー装置とを具備し、
且つ上記ミラー装置を、支持体に所定軸心回りで回転自在に支持されたミラーと、このミラーを所定軸心回りで回転させるミラー用回転駆動装置とから構成するとともに、このミラー用回転駆動装置の回転制御部に予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して、反応促進用のレーザ光が生成物選択部材のピンホールを通過するようにミラーの回転姿勢を制御するようにしたものである。
且つ上記回転ステージを、支持体に所定軸心回りで回転自在に支持されたステージ本体と、このステージ本体を鉛直軸心回りで回転させるステージ用回転駆動装置とから構成するとともに、このステージ用回転駆動装置の回転制御部に予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して、上記生成物選択部材のピンホールが上記散乱角方向に一致するようにしたものであり、
また、上記薄膜形成装置において、基板表面にレーザ光を照射して交差領域での反応を促進させるレーザ光を照射する第3レーザ照射装置と、この第3レーザ照射装置から照射された反応促進用のレーザ光を基板上に導くためのミラー装置とを具備し、
且つ上記ミラー装置を、支持体に所定軸心回りで回転自在に支持されたミラーと、このミラーを所定軸心回りで回転させるミラー用回転駆動装置とから構成するとともに、このミラー用回転駆動装置の回転制御部に予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して、反応促進用のレーザ光が生成物選択部材のピンホールを通過するようにミラーの回転姿勢を制御するようにしたものである。
上記の構成によると、複数の超音速分子線を所定角度でもって交差させて反応生成物を生成するとともにこの反応生成物を基板表面に堆積させる際に、超音速分子線同士の交差領域に且つ回転テーブル上に、基板とピンホールを有する生成物選択部材とを配置し、さらに予め検出されている反応生成物の散乱角に応じて回転テーブルを回転させるようにしたので、堆積すべき反応生成物だけを生成物選択部材のピンホールにて通過させて選択することができ、したがって基板表面に形成される薄膜中に不純物が混入するのを防止することができる。
以下、本発明の実施の形態に係る薄膜形成方法および薄膜形成装置を、具体的に示した実施例に基づき説明する。
まず、薄膜形成装置について説明する。
まず、薄膜形成装置について説明する。
この薄膜形成装置は、2種類の原料ガスの超音速分子線を交差させて基板表面に薄膜を堆積(形成)させる際に、当該超音速分子線にレーザ光を照射させて励起させるとともに、超音速分子線の交差領域で起こる化学反応により生成した化合物つまり反応生成物のうち、堆積すべき材料に係る反応生成物、言い換えれば特定(所定ともいえる)の散乱角を有する反応生成物だけを堆積させるようにしたものである。
この薄膜形成装置を、図1に基づき概略的に説明する。
すなわち、この薄膜形成装置は、真空ポンプ(図示せず)に接続されるとともに横断面形状が円形にされた円筒状の真空容器1と、この真空容器1の中心部に配置されて薄膜を形成するための基板Kを鉛直軸心回りでつまり水平面内で回転させる回転ステージ2と、上記基板Kの表面から少し離れた前方位置で上記回転ステージ2に載置されて反応生成物を選択するための小径穴部であるピンホール3aが形成された板状の生成物選択部材(生成物選択板とも言える)3と、真空容器1内に2種類の原料ガスG1,G2の超音速分子線Mを供給する2台の第1および第2分子線発生装置4(4A,4B)と、真空容器1内に窓部8を介して励起用のレーザ光R1を照射する2台の第1および第2レーザ照射装置5(5A,5B)と、さらに真空容器1内の基板Kの表面に窓部9を介してレーザ光R2を照射して基板K上にて(つまり、交差領域にて)化学反応を促進させるための第3レーザ照射装置6と、この第3レーザ照射装置6から照射された反応促進用のレーザ光R2を基板K上に導くためのミラー装置7とが具備されている。
すなわち、この薄膜形成装置は、真空ポンプ(図示せず)に接続されるとともに横断面形状が円形にされた円筒状の真空容器1と、この真空容器1の中心部に配置されて薄膜を形成するための基板Kを鉛直軸心回りでつまり水平面内で回転させる回転ステージ2と、上記基板Kの表面から少し離れた前方位置で上記回転ステージ2に載置されて反応生成物を選択するための小径穴部であるピンホール3aが形成された板状の生成物選択部材(生成物選択板とも言える)3と、真空容器1内に2種類の原料ガスG1,G2の超音速分子線Mを供給する2台の第1および第2分子線発生装置4(4A,4B)と、真空容器1内に窓部8を介して励起用のレーザ光R1を照射する2台の第1および第2レーザ照射装置5(5A,5B)と、さらに真空容器1内の基板Kの表面に窓部9を介してレーザ光R2を照射して基板K上にて(つまり、交差領域にて)化学反応を促進させるための第3レーザ照射装置6と、この第3レーザ照射装置6から照射された反応促進用のレーザ光R2を基板K上に導くためのミラー装置7とが具備されている。
上記分子線発生装置4は、分子線発生部4aと、原料ガス供給管部4bとから構成されており、分子線発生部4aは真空容器1側に設けられた分子線導入ノズル部1aに接続されている。なお、分子線発生部4aのノズル部(図示せず)の断面形状はスロートノズル形状(親指と人差し指とでものを挟むような状態をいう)にされている。
ここで、上記分子線発生装置4およびレーザ発射装置5,6の配置について説明しておく。
2台の分子線発生装置4A,4Bは、当該装置から供給(導出または噴出とも言える)される超音速分子線Mが真空容器1の中心点(以下、容器中心点という)Oを通過するように且つ2つの超音速分子線Mが所定角度、例えば90度(90度に限定されるものでもない)でもって交差するように配置されている。
2台の分子線発生装置4A,4Bは、当該装置から供給(導出または噴出とも言える)される超音速分子線Mが真空容器1の中心点(以下、容器中心点という)Oを通過するように且つ2つの超音速分子線Mが所定角度、例えば90度(90度に限定されるものでもない)でもって交差するように配置されている。
また、励起用の2台の第1および第2レーザ発射装置5A,5Bは、各分子線発生装置4A,4Bから供給された超音速分子線Mが基板Kに到達する前にレーザ光R1を照射して当該超音速分子線Mを励起させるためのものであり、したがって励起用の各レーザ発射装置5A,5Bは、発射された各レーザ光R1が容器中心点Oから少し離れた位置で且つ超音速分子線Mに対して直交するように配置される。言い換えれば、2つの超音速分子線Mが交差する手前側の90度の角度範囲θ内にて2つの励起用のレーザ光R1が交差するように、各レーザ発射装置5A,5Bが配置されることになる。
また、第3レーザ発射装置6は、両超音速分子線Mの交差位置(交差領域でもある)に反応促進用のレーザ光R2を発射し得るように、すなわち90度の角度でもって配置された両分子線発生装置4A,4B同士の間に発射し得るように設けられている。
さらに、上記ミラー装置7は2つの分子線発生装置4A,4B同士の間に配置されて、真空容器1の外方に設けられた第3レーザ発射装置6からのレーザ光R2を反射させて、生成物選択部材3のピンホール3aに、つまり基板Kの表面に導くためのものである。
すなわち、このミラー装置7は、図2に示すように、支持台11と、この支持台11に鉛直軸心(所定軸心)回りで回転自在に支持されたミラー(ミラー本体ともいえる)12と、このミラー12を回転させるミラー用回転駆動装置13とから構成されている。
このミラー用回転駆動装置13は、例えばミラー12を回転させる電動機14と、この電動機14を制御してミラー12の回転姿勢(回転位置でもある)を制御する回転制御部15とから構成されている。
そして、この回転制御部15においては、予め検出されている反応生成物の散乱角が入力されており、この散乱角の方向でもって、言い換えれば反応促進用のレーザ光R2がピンホール3aを通過し得るように、ミラー12の回転姿勢を制御する。
すなわち、反応生成物の散乱角に応じて生成物選択部材3の回転位置、つまりピンホール3aの位置を変える必要があるが、ミラー装置7におけるミラー12の回転姿勢が入力された散乱角に基づき制御されて、必ず、反応促進用のレーザ光R2がピンホール3aを通過して基板Kの表面に到達するようにされる。
ところで、上記基板Kは、回転ステージ2上に立設された、言い換えれば鉛直面内に配置されたXーYステージ(平面移動ステージともいえる)21に保持されて、生成物選択部材3と平行に移動し得るようにされている。つまり、ピンホール3aを通過した反応生成物を、基板Kの表面全体に亘って照射させることができる。
なお、反応生成物の散乱角は、予め、散乱角検出装置を用いて検出されている。この散乱角検出装置は、例えば所定角度範囲内(全周でもよいが、少なくとも、2つの分子線発生装置が設置されている角度範囲内であればよい)において、各角度位置ごとに飛来する分子線の質量を検出し得る質量検出器(基板の替わりに設置する)と、この質量検出器にて検出された角度位置と質量とから、最大質量となる角度位置つまり反応生成物の散乱角を演算する散乱角演算部と、この散乱角演算部にて求められた散乱角を出力する散乱角出力部とから構成されている。例えば、電子衝撃イオン化質量分析法[通常時間法(TOF)の併用]が用いられる。
次に、薄膜形成方法について説明する。
まず、真空容器1内が所定の真空度にされるとともに、回転ステージ2の上面に立設されたXーYステージ21に基板Kが保持され、またこの基板Kの表面から前方に所定距離だけ離れた回転ステージ2上に生成物選択部材3が固定されている状態において、各分子線発生装置4A,4Bに原料ガスG1,G2が供給されると、これら各分子線発生装置4A,4Bから、原料ガスG1,G2の超音速分子線Mが基板K側に、すなわち生成物選択部材3に向かって導出(噴出)される。なお、真空容器1は、超音速分子線の導出時には低圧に維持されており、超音速分子線の噴出ノズル内は原料ガス供給管からのガス供給により高圧になるため、これら両圧力差が駆動力となって超音速分子線が形成されることになる。
まず、真空容器1内が所定の真空度にされるとともに、回転ステージ2の上面に立設されたXーYステージ21に基板Kが保持され、またこの基板Kの表面から前方に所定距離だけ離れた回転ステージ2上に生成物選択部材3が固定されている状態において、各分子線発生装置4A,4Bに原料ガスG1,G2が供給されると、これら各分子線発生装置4A,4Bから、原料ガスG1,G2の超音速分子線Mが基板K側に、すなわち生成物選択部材3に向かって導出(噴出)される。なお、真空容器1は、超音速分子線の導出時には低圧に維持されており、超音速分子線の噴出ノズル内は原料ガス供給管からのガス供給により高圧になるため、これら両圧力差が駆動力となって超音速分子線が形成されることになる。
そして、上記各分子線発生装置4A,4Bから導出された超音速分子線Mに、それぞれに対応して配置されたレーザ発射装置5A,5Bからレーザ光R1が照射されて励起が行われる。
この励起状態にされた2つの超音速分子線Mが容器中心点O近傍で交差(衝突)することにより、化学反応が発生し多くの(多種類の)反応生成物が得られることになるが、成膜すべき反応生成物の散乱角が予め検出されているため、この散乱角に一致するように、回転ステージ2が回転されることになる。
すなわち、生成物選択部材3のピンホール3aが散乱角方向に向けられるため、成膜すべき反応生成物だけがピンホール3aを通過することになり、一方、散乱角が異なる不純物の反応生成物については、ピンホール3aを通過することができない。したがって、多種類の反応生成物が発生するが、不純物の反応生成物が基板表面に堆積するのを防止することができる。
なお、反応促進用のレーザ光R2を導くミラー装置7においても、成膜すべき反応生成物の散乱角が入力されて当該反応促進用のレーザ光R2がピンホール3aを通過し得る(ピンホールに追従し得る)ように、ミラー12の回転姿勢が制御されており、したがって反応生成物の基板Kへの密着が確実に行われる。
ここで、具体例について説明しておく。
例えば、基板Kに二酸化ケイ素(SiO2)を堆積させる場合において、シラン(SiH4)ガスと亜酸化窒素(N2O)ガスとが、各原料ガス供給管部4bから分子線発生部4aに供給されると、分子線発生部4aから超音速分子線が分子線導入ノズル部1aを介して真空容器1内に導入される。なお、真空容器1内は100Paの圧力に保たれている。
例えば、基板Kに二酸化ケイ素(SiO2)を堆積させる場合において、シラン(SiH4)ガスと亜酸化窒素(N2O)ガスとが、各原料ガス供給管部4bから分子線発生部4aに供給されると、分子線発生部4aから超音速分子線が分子線導入ノズル部1aを介して真空容器1内に導入される。なお、真空容器1内は100Paの圧力に保たれている。
そして、シラン(SiH4)と亜酸化窒素(N2O)の分子線は、フッ化アルゴン(ArF)レーザの照射を受けて、シラン(SiH4)はケイ素(Si)と水素(H)とに解離するとともに、亜酸化窒素(N2O)は窒素分子(N2)と励起状態の酸素原子(O)とに解離して、分子線の交差領域でケイ素(Si)と酸素(O)とが反応して二酸化ケイ素(SiO2)が生成され、予め二酸化ケイ素(SiO2)の散乱角に対応して設置されている生成物選択部材3のピンホール3aを通過し、基板K上に生成物が堆積される。
このように、2つの超音速分子線Mを所定角度でもって交差させて反応生成物を生成するとともにこの反応生成物を基板K表面に堆積させる際に、超音速分子線M同士の交差領域に且つ回転テーブル2上に、基板Kとピンホール3aを有する生成物選択部材3とを配置するとともに、予め検出された反応生成物の散乱角に応じて回転テーブル2を回転させるようにしたので、堆積すべき反応生成物だけを生成物選択部材3のピンホール3aにて通過させて選択することができ、したがって基板K表面に形成される薄膜中に不純物が混入するのを防止することができる。
K 基板
M 超音速分子線
R1 レーザ光
R2 レーザ光
1 真空容器
2 回転ステージ
3 生成物選択部材
3a ピンホール
4 分子線発生装置
4A 第1分子線発生装置
4B 第2分子線発生装置
5 レーザ照射装置
5A 第1レーザ照射装置
5B 第2レーザ照射装置
6 第3レーザ照射装置
7 ミラー装置
11 支持台
12 ミラー
13 ミラー用回転駆動装置
14 電動機
15 回転制御部
21 X−Yステージ
M 超音速分子線
R1 レーザ光
R2 レーザ光
1 真空容器
2 回転ステージ
3 生成物選択部材
3a ピンホール
4 分子線発生装置
4A 第1分子線発生装置
4B 第2分子線発生装置
5 レーザ照射装置
5A 第1レーザ照射装置
5B 第2レーザ照射装置
6 第3レーザ照射装置
7 ミラー装置
11 支持台
12 ミラー
13 ミラー用回転駆動装置
14 電動機
15 回転制御部
21 X−Yステージ
Claims (4)
- 真空容器内に配置された基板の表面に2種類の原料ガスの超音速分子線を所定の交差角でもって供給するとともに、これら各超音速分子線に励起用のレーザ光を照射し、上記超音速分子線の交差領域に配置された基板表面に薄膜を形成する方法であって、
上記超音速分子線の交差領域に生成される成膜用の反応生成物を、生成物選択部材に設けられたピンホールを介して基板表面に供給する際に、
予め検出されている反応生成物の散乱角方向に上記ピンホールが位置するように生成物選択部材の方向を制御することを特徴とする薄膜形成方法。 - 反応促進用のレーザ光をミラーを介して基板表面に照射する際に、ミラーの反射方向が成膜用の反応生成物の散乱角方向に一致するように制御して、当該ミラーにより反射されたレーザ光が生成物選択部材のピンホールを通過するようにしたことを特徴とする請求項1に記載の薄膜形成方法。
- 真空容器と、この真空容器内に設けられて薄膜を形成するための基板を載置して水平面内で回転させる回転ステージと、上記真空容器内の基板に2種類の原料ガスの超音速分子線を所定の交差角でもって供給する第1および第2分子線発生装置と、上記真空容器内の超音速分子線にそれぞれ励起用のレーザ光を照射する第1および第2レーザ照射装置と、上記回転ステージの基板表面の前方に配置されて各超音速分子線の交差領域に生成した反応生成物を選択し通過させるためのピンホールが形成された生成物選択部材とを具備し、
且つ上記回転ステージを、支持体に所定軸心回りで回転自在に支持されたステージ本体と、このステージ本体を鉛直軸心回りで回転させるステージ用回転駆動装置とから構成するとともに、このステージ用回転駆動装置の回転制御部に予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して、上記生成物選択部材のピンホールが上記散乱角方向に一致するようにしたことを特徴とする薄膜形成装置。 - 基板表面にレーザ光を照射して交差領域での反応を促進させるレーザ光を照射する第3レーザ照射装置と、この第3レーザ照射装置から照射された反応促進用のレーザ光を基板上に導くためのミラー装置とを具備し、
且つ上記ミラー装置を、支持体に所定軸心回りで回転自在に支持されたミラーと、このミラーを所定軸心回りで回転させるミラー用回転駆動装置とから構成するとともに、このミラー用回転駆動装置の回転制御部に予め検出されている反応生成物の散乱角を入力して、反応促進用のレーザ光が生成物選択部材のピンホールを通過するようにミラーの回転姿勢を制御するようにしたことを特徴とする請求項3に記載の薄膜形成装置。
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JP5312252B2 (ja) | 2013-10-09 |
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