JP2010186972A - ウエーハの加工方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】薄く研削されたウエーハのハンドリング性を阻害することなく確実に個別デバイスに分割可能なウエーハの加工方法を提供する。
【解決手段】分割予定ラインによって区画されたデバイス領域と、それを囲む外周余剰領域19を表面に有するウエーハを個別デバイスに分割するウエーハの加工方法であって、デバイス領域裏面を所定の厚みに研削すると共に外周余剰領域裏面にリング状の補強部を形成する工程と、ウエーハ裏面にダイシングテープ34を貼着すると共にダイシングフレーム36にウエーハを貼着支持する工程と、デバイス領域保持部とリング状補強部支持部とを有するチャックテーブルにウエーハを保持し、切削ブレードで分割予定ラインを切削してウエーハを個別デバイスに分割する工程と、ダイシングテープのデバイス領域に対応する領域の粘着力を低下させる工程と、ダイシングテープから個々のデバイスをピックアップする工程とからなる。
【選択図】図11

Description

本発明は、薄く研削されたウエーハを取り扱い性を損なうことなく個々のデバイスに分割可能なウエーハの加工方法に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円盤形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートとよばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切削装置で切削することにより、半導体ウエーハが個々の半導体チップ(デバイス)に分割される。
分割されるウエーハは、ストリートに沿って切削する前に裏面を研削して所定の厚みに形成される。近年、電気機器の軽量化、小型化を達成するために、ウエーハの厚さをより薄く、例えば50μm程度にすることが要求されている。
このように薄く形成されたウエーハは紙のように腰がなくなり取り扱いが困難になり、搬送等において破損する恐れがある。そこで、ウエーハのデバイス領域に対応する裏面のみを研削し、デバイス領域を囲繞する外周余剰領域に対応するウエーハの裏面にリング状の補強部を形成する研削方法が、例えば特開2007−173487号公報で提案されている。
このように裏面の外周にリング状の補強部が形成されたウエーハをストリート(分割予定ライン)に沿って分割する方法として、リング状の補強部を除去した後、ウエーハの表面側から切削ブレードで切削する方法が提案されている(特開2007−19379号公報参照)。
特開2007−173487号公報 特開2007−19379号公報
しかし、リング状の補強部が除去されたウエーハでは切削時のハンドリングで破損し易いという問題が生じる。従って、裏面の外周にリング状の補強部が形成されたウエーハを個々のデバイスに分割する際に、リング状の補強部をどのタイミングで取り除くべきかが問題となる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、外周にリング状の補強部を残して中央部分が薄く研削されたウエーハを、切削時のハンドリング性を損なうことなく個々のデバイスに分割可能なウエーハの加工方法を提供することである。
本発明によると、複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されたデバイス領域と、該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域を表面に有するウエーハを個々のデバイスに分割するウエーハの加工方法であって、ウエーハのデバイス領域に対応する裏面を研削して所定の厚みに研削すると共に外周余剰領域に対応する裏面にリング状の補強部を形成するウエーハの研削工程と、ウエーハの裏面にダイシングテープを貼着すると共にウエーハを囲繞する開口部を有するダイシングフレームにダイシングテープの外周部を貼着して、ウエーハをダイシングフレームで支持するウエーハ支持工程と、ウエーハのデバイス領域に対応する領域を吸引保持するデバイス領域保持部と、リング状の補強部を支持するリング状補強部支持部とを有するチャックテーブルにダイシングフレームで支持されたウエーハを保持し、切削ブレードを分割予定ラインに位置づけて分割予定ラインを切削してウエーハを個々のデバイスに分割するウエーハの分割工程と、ダイシングテープに外的刺激を付与して少なくともデバイス領域に対応する領域の粘着力を低下させる粘着力低下工程と、ダイシングテープから個々のデバイスをピックアップするピックアップ工程と、を具備したことを特徴とするウエーハの加工方法が提供される。
好ましくは、ウエーハの加工方法は、ピックアップ工程の後に、ダイシングテープに残されたリング状の補強部をダイシングテープと共に廃棄する廃棄工程を更に具備している。
本発明によると、リング状の補強部によってウエーハが補強された状態でウエーハを個々のデバイスに分割し、その後ダイシングテープから個々のデバイスをピックアップするので、切削時の取り扱い性を損なうことなく且つデバイスに欠けを生じさせることなく、薄く形成されたウエーハを確実に個々のデバイスに分割できる。
また、ウエーハを個々のデバイスに分割した後においてもリング状の補強部によってダイシングテープが太鼓のように張った状態が維持されているので、隣接するデバイス同士が接触することなくデバイスをピックアップすることができる。
ウエーハの表面側斜視図である。 保護テープを表面に貼着した状態のウエーハの裏面側斜視図である。 研削装置の要部を示す斜視図である。 研削装置によって実施される円形凹部研削工程の説明図である。 円形凹部研削工程が実施された半導体ウエーハの断面図である。 ウエーハをダイシングフレームで支持するウエーハ支持工程の説明図である。 ダイシングテープを介してダイシングフレームに装着した状態のウエーハの断面図である。 チャックテーブルに支持された状態のウエーハの断面図である。 ウエーハ分割工程の説明図である。 ピックアップ工程の説明図である。 デバイスが全てピックアップされた後のダイシングテープに貼着されたリング状補強部を含む端材を示す図である。
以下、本発明実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は所定の厚さに加工される前の半導体ウエーハの斜視図である。図1に示す半導体ウエーハ11は、例えば厚さが700μmのシリコンウエーハから成っており、表面11aに複数のストリート13が格子状に形成されているとともに、該複数のストリート13によって区画された複数の領域にIC、LSI等のデバイス15が形成されている。
このように構成された半導体ウエーハ11は、デバイス15が形成されているデバイス領域17と、デバイス領域17を囲繞する外周余剰領域19を備えている。また、半導体ウエーハ11の外周には、シリコンウエーハの結晶方位を示すマークとしてのノッチ21が形成されている。
半導体ウエーハ11の表面11aには、保護テープ貼着工程により保護テープ23が貼着される。従って、半導体ウエーハ11の表面11aは保護テープ23によって保護され、図2に示すように裏面11bが露出する形態となる。
このような半導体ウエーハ11のデバイス領域17に対応する裏面に円形凹部を形成し、該円形凹部の外周側に外周余剰領域19を含むリング状補強部を形成する研削方法について図3乃至図5を参照して説明する。まず、図3を参照すると、研削装置2の要部斜視図が示されている。
研削装置2は、ウエーハを保持して回転可能なチャックテーブル4と、ウエーハに対して研削加工を施す研削ユニット6を備えている。研削ユニット6は、回転可能且つ昇降可能なスピンドル8と、スピンドル8の先端に装着された研削ホイール10と、研削ホイール10の下面に固着された研削砥石12から構成される。
ウエーハ11は保護テープ23側がチャックテーブ4により吸引保持され、ウエーハ11の裏面11bが研削砥石12に対向してセットされる。ここで、チャックテーブル4に保持されたウエーハ11と研削ホイール10に装着された研削砥石12との関係について図4を参照して説明する。
チャックテーブル4の回転中心P1と研削砥石12の回転中心P2は偏心しており、研削砥石12の外径はウエーハ11のデバイス領域17と外周余剰領域19との境界線28の直径より小さく境界線28の半径より大きい寸法に設定され、環状の研削砥石12がチャックテーブル4の回転中心P1を通過するようになっている。
チャックテーブル4を矢印30で示す方向に例えば300rpmで回転しつつ、研削砥石12を矢印32で示す方向に例えば6000rpmで回転させるとともに、図示しない研削送り機構を作動して研削ホイール10の研削砥石12をウエーハ11の裏面に接触させる。そして、切削ホイール10を所定の研削送り速度で下方に所定量研削送りする。
その結果、半導体ウエーハ11の裏面には、図5に示すように、デバイス領域17に対応する領域が研削除去されて所定厚さ(例えば50μm)の凹部24が形成されるとともに、外周余剰領域19に対応する領域は残存されて外周余剰領域19を含むリング状補強部26が形成される。
このように研削加工された半導体ウエーハ11は、次いで図6に示すように外周部が環状のダイシングフレーム36に貼着された粘着テープであるダイシングテープ34上にその裏面11bが貼着される。
ダイシングテープ34は、図7に示すようにリング状補強部26のみでなく円形凹部24にも回り込むように貼着される。そして、図6に示すように保護テープ23がウエーハ11表面から剥離される。
次いで、ダイシング装置(切削装置)のチャックテーブルにダイシングフレーム36で支持されたウエーハ11を保持し、切削ブレードで分割予定ライン13を切削してウエーハ11を個々のデバイス15に分割するウエーハ分割工程を実施する。
この場合、例えば図8に誇張して示すようなチャックテーブル40を使用するのが好ましい。チャックテーブル40は、真空吸引路44が形成された回転軸42と、回転軸42上に搭載固定された基台46を含んでいる。
基台46はSUS等の金属から形成され、装着用円形凹部48と、回転軸42の真空吸引路44に連通された真空吸引路50を有している。真空吸引路50は凹部48に開口している。回転軸42の真空吸引路44は図示しない真空吸引源に接続されている。
基台46の円形凹部48中にはポーラスなセラミック等から形成された円盤形状のポーラス吸着部52が配設されている。ポーラス吸着部52の吸着表面は基台46の上面よりも所定高さ高くなるように形成されており、基台46でウエーハ11のリング状補強部26を支持し、ポーラス吸着部52でダイシングテープ34を介して円形凹部24を吸引保持できるようになっている。
このようにチャックテーブル40でウエーハ11を吸引保持した状態で、図9に示すような切削手段54を使用してウエーハ11をストリート13に沿って切削する。図9において、切削手段54のスピンドルユニット60のスピンドルハウジング62中には、図示しないサーボモータにより回転駆動されるスピンドル56が回転可能に収容されており、スピンドル56の先端に切削ブレード58が装着されている。
図9に示すように、チャックテーブル40に保持されたウエーハ11をX軸方向に移動させると共に、切削ブレード58を高速回転させながら分割予定ライン13に位置づけて切削を行うと、位置合わせされたストリート13が切削される。
メモリに記憶されたストリートピッチずつ切削ブレード58をY軸方向にインデックス送りしながら切削を行うことにより、同方向のストリート13が全て切削される。更に、チャックテーブル40を90度回転させてから、上記と同様の切削を行うと、他方向のストリート13も全て切削され、ウエーハ11が個々のデバイス(チップ)15に分割される。
この分割工程が終了すると、ダイシングテープ34に外的刺激を付与してダイシングテープ34の粘着力を低下させる粘着力低下工程を実施する。この外的刺激の付与は、ダイシングテープ34の種類に応じて、例えば紫外線照射又は加熱により実施する。
ダイシングテープ34が、例えば古河電工株式会社製の商品名「UCシリーズ」のような紫外線硬化型テープの場合には、紫外線照射によって粘着力を低下させ、日東電工株式会社製の商品名「リバアルファ」のような加熱によって粘着力が低下するテープの場合には、加熱によって粘着力を低下させる。この粘着力低下工程は、少なくともデバイス領域17に対応する領域のダイシングテープ34の粘着力を低下させれば十分である。
この粘着力低下工程は、図9に示したウエーハの分割工程の直後に実施してもよいし、或いは図10に示すようなテープ拡張装置70に、ダイシングフレーム36に支持されたウエーハ11を装着してから実施するようにしてもよい。図10に示すテープ拡張装置70は、固定円筒72と、固定円筒72の外側に配置された駆動手段により上下方向に移動される移動円筒74とを含んでいる。
図10に示すように、ウエーハの分割工程が終了したウエーハ11を支持したダイシングフレーム36を移動円筒74上に搭載し、クランプ76で固定する。この時、固定円筒72の上面と移動円筒74の上面とは概略同一平面上に維持されている。
本実施形態では、リング状補強部26が完全切断されずにダイシングテープ34に貼着されたまま残っているため、移動円筒74を下方に移動させずに、このままの状態でピックアップ装置78によるデバイス10のピックアップ作業を実施する。
即ち、ウエーハ11を個々のデバイス15に分割した後においても、リング状の補強部26によってダイシングテープ34が太鼓のように張った状態が維持されているので、隣接するデバイス同士が接触することなくデバイス15をピックアップ装置78で容易にピックアップすることができる。
本実施形態では、リング状の補強部26をダイシングテープ34から除去せずにウエーハのピックアップ工程を実施するので、固定円筒72及び移動円筒74からなるテープ拡張装置70を必ずしも使用する必要はなく、ダイシングフレーム36をクランプで固定できるような保持テーブルを使用するようにしてもよい。
このピックアップ工程が終了すると、図11に示すようにダイシングテープ34に貼着されたリング状補強部26を含む外周余剰領域19が端材として残存する。従って、ダイシングテープ34をダイシングフレーム36から引き離して、外周余剰領域19をダイシングテープ34と共に廃棄する。
以上説明した実施形態によると、ウエーハ11を個々のデバイス15に分割してから、ダイシングテープ34の粘着力低下工程を実施し、個々のデバイス15をピックアップするように構成したので、ウエーハ切削の際のハンドリング性を阻害することなく、且つデバイス15に欠けを生じさせることなく、ウエーハ11を確実に個々のデバイスに分割し、分割したデバイスをピックアップすることができる。
2 研削装置
4 チャックテーブル
11 半導体ウエーハ
12 研削砥石
15 デバイス
17 デバイス領域
19 外周余剰領域
23 保護テープ
24 円形凹部
26 リング状補強部
34 ダイシングテープ
36 ダイシングフレーム
40 チャックテーブル
52 ポーラス吸着部
58 切削ブレード
70 テープ拡張装置

Claims (2)

  1. 複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されたデバイス領域と、該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域を表面に有するウエーハを個々のデバイスに分割するウエーハの加工方法であって、
    ウエーハのデバイス領域に対応する裏面を研削して所定の厚みに研削すると共に外周余剰領域に対応する裏面にリング状の補強部を形成するウエーハの研削工程と、
    ウエーハの裏面にダイシングテープを貼着すると共にウエーハを囲繞する開口部を有するダイシングフレームにダイシングテープの外周部を貼着して、ウエーハをダイシングフレームで支持するウエーハ支持工程と、
    ウエーハのデバイス領域に対応する領域を吸引保持するデバイス領域保持部と、リング状の補強部を支持するリング状補強部支持部とを有するチャックテーブルにダイシングフレームで支持されたウエーハを保持し、切削ブレードを分割予定ラインに位置づけて分割予定ラインを切削してウエーハを個々のデバイスに分割するウエーハの分割工程と、
    ダイシングテープに外的刺激を付与して少なくともデバイス領域に対応する領域の粘着力を低下させる粘着力低下工程と、
    ダイシングテープから個々のデバイスをピックアップするピックアップ工程と、
    を具備したことを特徴とするウエーハの加工方法。
  2. 該ピックアップ工程の後、ダイシングテープに残されたリング状の補強部をダイシングテープと共に廃棄する廃棄工程を更に具備した請求項1記載のウエーハの加工方法。
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