JP2010153451A - 半導体レーザ,およびこれを備えたラマン増幅器 - Google Patents

半導体レーザ,およびこれを備えたラマン増幅器 Download PDF

Info

Publication number
JP2010153451A
JP2010153451A JP2008327493A JP2008327493A JP2010153451A JP 2010153451 A JP2010153451 A JP 2010153451A JP 2008327493 A JP2008327493 A JP 2008327493A JP 2008327493 A JP2008327493 A JP 2008327493A JP 2010153451 A JP2010153451 A JP 2010153451A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
active layer
semiconductor laser
layer
light
quantum dot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008327493A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Mori
浩 森
Takashi Nakayama
貴司 中山
Masayuki Sawada
昌幸 澤田
Kosuke Watanabe
宏祐 渡邉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP2008327493A priority Critical patent/JP2010153451A/ja
Publication of JP2010153451A publication Critical patent/JP2010153451A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

【目的】量子ドット構造によって得られる良好な特性を有しつつ,高出力のレーザ光を得る。
【構成】半導体レーザ1は,半導体基板11の上方に,量子ドット層14を含む発振器部1Aおよび量子井戸層15を含む増幅器部1Bが,光軸方向に連なって反射端面から出射端面にかけて形成されている。発振器部1Aにおいて生成されたレーザ光が増幅器部1Bにおいて増幅された後,出射される。
【選択図】図1

Description

この発明は,半導体レーザ,特に量子ドット構造の活性層を有する半導体レーザ,およびこの半導体レーザを備えたラマン増幅器に関する。
活性層に量子ドット構造を用いた半導体レーザが知られている(たとえば,特許文献1)。量子ドットには3次元的に電子が閉じ込められ,離散的なエネルギー準位が形成される。量子ドット構造を半導体レーザに用いることによって,発振しきい値の低減,温度安定性,高速かつ波長ぶれの小さい変調といった,従来の半導体レーザよりも優れた特性が得られることが期待されている。
特開2005−294510号公報
量子ドット構造によって半導体レーザの特性改善が期待されるが,他方,量子ドット構造を用いると高出力のレーザ光を得るのが難しいという欠点も指摘されている。
この発明は,量子ドット構造によって得られる良好な特性を有しつつ,高出力のレーザ光を得ることを目的とする。
この発明による半導体レーザは,半導体基板の上方に,第1の活性層を含む発振器部と,前記第1の活性層と連続して形成された第2の活性層を含む増幅器部とが光軸方向に並んで形成され,前記第1の活性層が量子ドット構造を有しており,前記発振器部において生成されたレーザ光を前記増幅器部において増幅させ,増幅されたレーザ光を出射端面から出射させることを特徴とする。
第1の活性層を含む発振器部においてレーザ光が生成される。第1の活性層は量子ドット構造を有しているので,低い発振しきい値によってレーザ発振が生じ,温度安定性が高く,高速かつ波長ぶれの小さい変調が可能である。
増幅器部の第2の活性層は,発振器部の第1の活性層とは異なり,レーザ発振を生じさせるのではなく,発振器部において発生したレーザ光の増幅に用いられる。前記第2の活性層は,量子井戸構造であっても,量子ドット構造であってもよい。第2の活性層は第1の活性層と連続して形成されているので,発振器部(第1の活性層)において発生したレーザ光は,増幅器部(第2の活性層)を通過してその後半導体レーザの出射端面から出射される。増幅器部(第2の活性層)の通過中にレーザ光が増幅される。
この発明によると,上述のように,量子ドット構造を有する発振器部において得られるレーザ光が,増幅器部において増幅された後に出射される。量子ドット構造を採用したことによる良好な特性(低い発振しきい値,温度安定性等)を有しつつ,高出力のレーザ光を得ることができる。
一実施態様では,前記第1の活性層および前記第2の活性層の境界位置に,反射端面との間で光反射を繰返すための反射用溝が,前記第1の活性層および前記第2の活性層の近傍に至る深さを持って形成される。第1の活性層において発生した光は,半導体レーザの反射端面と反射用溝との間で反射が繰返され,これによりレーザ発振が生じる。もちろん,半導体レーザの反射端面には高光反射率の光反射膜を形成しておいてもよい。発振器部(第1の活性層)において発生したレーザ光のほとんどを,半導体レーザの反射端面から出射させることなく,増幅器部(第2の活性層)へ向かわせることができる。
前記第1の活性層の上方または下方に回折格子を形成してもよい。回折格子によって規定される特定波長のレーザ光を,前記発振器部において生成することができる。
好ましくは,前記第1の活性層および前記第2の活性層のそれぞれに独立に電流を注入するための電極が備えられる。第1の活性層および第2の活性層のそれぞれに注入する電流量を,独立に制御することができる。
一実施態様では,前記第2の活性層の幅が,前記出射端面に向かうにしたがって広がっている。より高出力のレーザ光を半導体レーザから出射させることができる。
前記第2の活性層を導波する光の光軸線と前記出射端面とを直角でない角度で交差させてもよい。第2の活性層をカーブさせる,または出射端面を斜めに形成することによって,前記第2の活性層を導波する光の光軸線と前記出射端面とを直角でない角度で交差させることができる。出射端面から出射するレーザ光は空気層に斜めに入射することなるので,出射端面と空気層との間(境界)におけるレーザ光の反射率を低くすることができる。
この発明は,前記半導体レーザ,および前記半導体レーザからのレーザ光が励起光として入射し,誘導ラマン増幅を生じさせる光ファイバを備えたラマン増幅器も提供している。
[第1実施形態]
図1は第1実施形態の半導体レーザをその出射端面側から見た斜視図により示している。図2は図1のII−II線に沿う断面図を示している。図2において,分かりやすくするために,ハッチングの図示が省略されている。また,図1および図2において,図示の便宜上,各半導体層の厚さが強調して描かれている。
半導体レーザ1は端面出射型の半導体レーザである。半導体レーザ1の両端面(出射端面および反射端面)は互いに平行に劈開されている。半導体レーザ1の反射端面には高光反射率(たとえば,90%以上)の反射膜25が形成されている。他方,半導体レーザ1の出射端面には反射防止膜24が形成されている。
また,半導体レーザ1は,発振器部1Aおよび増幅器部1Bが一体に(モノリシックに)形成された,いわゆるMOPA(Master Oscillator and Power Amplifier )型の半導体レーザでもある。詳細は後述するが,発振器部1Aには量子ドット構造を有するストライプ状活性層14が,増幅器部1Bには量子井戸構造を有するストライプ状かつフレア状の活性層15が形成されており,これらの2つの活性層14,15は光共振軸方向(半導体レーザ1の長手方向)に連なっている。発振器部1Aと増幅器部1Bの境界に反射用溝30が形成されており,発振器部1Aの活性層14において発生した光は,後方端面(反射膜25)と反射用溝30との間で反射され,これにより光が共振してレーザ光となる。レーザ光は増幅器部1Bの活性層15に入射し,ここで光増幅される。活性層15における光増幅の後,レーザ光は出射端面(反射防止膜24)から出射される。
以下,半導体レーザ1の構造を詳細に説明する。
下面に下面電極23が形成されたn型InP(インジウム−リン)基板11の上に,InPからなるn型クラッド層12,およびInGaAsP(インジウム−ガリウム−ヒ素−リン)からなる下側SCH層(Separated Confinement Heterostructure )(導波路層)(光ガイド層)13が積層されている。
下側SCH層13の上層に,InGaAsPからなるストライプ状の活性層14,15が積層されている。ストライプ状の活性層14,15は,上述した発振器部1Aおよび増幅器部1Bで異なる構造を持つ。
発振器部1Aの活性層14は,量子ドット(quantum dot )構造を有しているものである(以下,量子ドット層14と呼ぶ)。量子ドット層14は,たとえばS−K成長モード(Stranski-Krastanov Growth Mode)を用いて作成される。
増幅器部1Bの活性層15は,量子井戸(quantum well)構造を有しているものである(以下,量子井戸層15と呼ぶ)。量子井戸層15はMBE(分子線エピタキシー法)(Molecular Beam Epitaxy)やMOCVD(有機金属気相成長法)(Metal Organic Chemical Vapor Deposition )などの結晶成長によって作成することができる。量子井戸層15は,半導体レーザ1の出射端面に向かうにしたがって広がりを持って形成されている(フレア状)。
量子ドット層14および量子井戸層15の上層に,InGaAsPからなる上側SCH層16およびp型クラッド層17が積層されている。量子ドット層14および量子井戸層15,その上下のSCH層13,16ならびにn型クラッド層12およびp型クラッド層17の一部は,p型InP電流阻止層18およびn型InP電流阻止層19によって,その両側(左右)から挟まれている。
p側クラッド層17の上面に2つの上面電極21,22が形成されている。上面電極21は発振器部1Aに形成されており,その形状は下層に存在する量子ドット層14に対応するストライプ状の形状を持つ。上面電極22は増幅器部1Bに形成されており,その形状は下層に存在する量子井戸層15に対応する,ストライプ状かつフレア状の形状を持つ。
発振器部1Aと増幅器部1Bの境界に,反射用溝30が形成されている。反射用溝30によって上面電極21と上面電極22とが分断され,これにより上面電極21と上面電極22は電気的に絶縁されている。反射用溝30は,ストライプ状の量子ドット層14と同じ程度の幅を持ち,量子ドット層14および量子井戸層15の近傍(わずかに上層)に達する程度の深さを持つ。すなわち,反射用溝30は量子ドット層14および量子井戸層15にまでは達していず,したがって,量子ドット層14および量子井戸層15は光共振軸方向(半導体レーザ1の長手方向)に連続している。反射用溝30はエッチングによって形成され,エッチング時間を制御することによって反射用溝30の深さは制御される。反射用溝30は,次に説明するように,量子ドット層14において発生した光の反射器として機能する。なお,反射用溝30はポリイミド等の光学材料によって埋め込まれてもよい。
発振器部1Aに形成されている上面電極21と,n型InP基板11の下面に形成されている下面電極23との間に電流を通電すると,発振器部1Aに形成されている量子ドット層14において光が発生する。発生した光は量子ドット層14およびその上下のSCH層13,16に沿って(さらに電流阻止層18,19によって左右から挟まれて)進行し,半導体レーザ1の後方端面(反射膜25)と反射用溝30との間で反射が繰り返され,これにより光が共振してレーザ光となる。レーザ光は反射用溝30を超えて増幅器部1Bに達する。増幅器部1Bにおいて,レーザ光は量子井戸層15およびその上下のSCH層13,16に沿って進行し,半導体レーザ1の出射端面(反射防止膜24)から外部に出射される。
増幅器部1Bに形成されている上面電極22と,n型InP基板11の下面に形成されている下面電極23との間に電流を通電すると,増幅器部1Bに形成されている量子井戸層15において利得が生じる。発振器部1A(量子ドット層14)において発生したレーザ光は,半導体レーザ1の出射端面から出射されるまでの間に,量子井戸層15において光増幅を受けることになる。光増幅されたレーザ光が半導体レーザ1の出射端面(反射防止膜24)から出射される。
発振器部1Aの量子ドット層14において生じる光によってレーザ光が得られるので,発振しきい値が低く,温度安定性も高い。高速かつ波長ぶれの小さい変調も可能である。さらに,量子ドット層14を用いて得られるレーザ光は出力が比較的小さいが,増幅器部1Bにおいて増幅された後にレーザ光は出射されるので,量子ドット層14をレーザ発振に用いたデメリットも解消される。発振しきい値,温度安定性および変調に優れ,かつ比較的高出力のレーザ光を得ることができる。
[第2実施形態]
図3は第2実施形態の半導体レーザ2を,図2に相当する断面図によって示している。次に説明するように,第1実施形態の半導体レーザ1(図1,図2)とは発振器部2Aの構成が異なっている。半導体レーザ1と同じ構成部分には同一符号を付し,重複説明を避ける。
発振器部2Aの量子ドット層14の上方のp型クラッド層17内に,InGaAsPからなる回折格子35が形成されている。回折格子35は量子ドット層14の上方において周期的な凹凸を形成しており,分布帰還型(DFB:Distributed FeedBack)構造を構成している。なお,第1実施形態の半導体レーザ1とは異なり,発振器部2Aと増幅器部2Bの境界に反射用溝30は存在しない。
発振器部2Aに形成されている上面電極21と,n型InP基板11の下面に形成されている下面電極23との間に電流を通電すると,量子ドット層14において光が発生する。発生した光は,回折格子35と反射端面(光反射膜25)との間で反射が繰り返される。回折格子35において周期的に反射される光の位相が合ったところの波長でレーザ発振が生じる。
発振器部2Aにおいて発生したレーザ光が,増幅器部2Bに形成されている量子井戸層15において光増幅を受けた後,半導体レーザ2の出射端面(反射防止膜24)から出射されるのは,上述した第1実施態様の半導体レーザ1と同様である。
半導体レーザ2においても,半導体レーザ1と同様に,発振しきい値,温度安定性および変調に優れ,かつ比較的高出力のレーザ光を得ることができる。さらに,半導体レーザ2はいわゆるDFBレーザでもあるので,シングルモードのコヒーレンシーのよいレーザ光を,出射させることができる。
もちろん,回折格子35のピッチをチャープさせる,回折格子と隙間との間(凹凸)の体積比を変動させる,回折格子と隙間の相対屈折率を調節する,回折格子35の伝播方向の長さを調節する等によって,多モードのレーザ光を出射させるようにすることもできる。
半導体レーザ2において回折格子35は量子ドット層14の上方のp型クラッド層17に形成されているが,これに代えて下方のn型クラッド層12に形成するようにしてもよい。
上述した第1実施形態および第2実施形態の半導体レーザ1,2では,増幅器部1B,2Bに量子井戸層15が形成されているが,増幅器部1B,2Bにも量子ドット層を形成するようにしてもよい。
さらに,上述した第1実施形態および第2実施形態の半導体レーザ1,2では,増幅器部1B,2Bの量子井戸層15は,量子井戸層15を導波する光の光軸線が半導体レーザ1,2の出射端面に対して直交になるように形成されているが(図1参照),図4(上面電極21,22の図示が省略されている)に示すように,量子井戸層15が出射端面に対して斜めに接するように,量子井戸層15をカーブさせて形成してもよい。量子井戸層15を導波する光の光軸線と出射端面とが直角でない角度で交差する。直角に交差する場合と比べて,出射端面と空気層との間(境界)におけるレーザ光の反射率を低めることができ,出射端面から量子井戸層15への戻り光を低減することができる。この場合,出射端面には必ずしも反射防止膜24を形成しなくてもよい。
[第3実施形態]
図5は,上述した半導体レーザ1または2を励起光用光源として用いたラマン増幅器のブロック図を示している。
ラマン増幅器40では,半導体レーザ1,2から出射されたレーザ光は,励起光としてカプラ41を通じて増幅用光ファイバ42に入力する。増幅用光ファイバ42において誘導ラマン散乱が生じ,レーザ光の波長(励起光波長)から約100nm程度長波長側に利得が生じる。増幅用光ファイバ42に信号光が入射すると,増幅用光ファイバ42中に生じた利得によって信号光が増幅される(ラマン増幅)。半導体レーザ1,2は,比較的パワーの高いレーザ光を出射することができるので,信号光を長距離にわたって伝送することができる。
第1実施形態の半導体レーザの斜視図である。 図1のII−II線に沿う半導体レーザの断面図である。 第2実施形態の半導体レーザの断面図である。 変形例の半導体レーザの平面図である。 第3実施形態のラマン増幅器のブロック図である。
符号の説明
1,2 半導体レーザ
1A,2A 発振器部
1B,2B 増幅器部
14 量子ドット層
15 量子井戸層
21,22 上面電極
23 下面電極
30 反射用溝
35 回折格子
40 ラマン増幅器
42 増幅用光ファイバ

Claims (8)

  1. 半導体基板の上方に,第1の活性層を含む発振器部と,前記第1の活性層と連続して形成された第2の活性層を含む増幅器部とが光軸方向に並んで形成され,
    前記第1の活性層が量子ドット構造を有しており,
    前記発振器部において生成されたレーザ光を前記増幅器部において増幅させ,増幅されたレーザ光を出射端面から出射させる,
    半導体レーザ。
  2. 前記第1の活性層と前記第2の活性層の境界位置に,反射端面との間で光反射を繰返すための反射用溝が,前記第1の活性層および前記第2の活性層の近傍に至る深さを持って形成されている,
    請求項1に記載の半導体レーザ。
  3. 前記発振器部は,前記第1の活性層の上方または下方に形成された回折格子を有している,
    請求項1に記載の半導体レーザ。
  4. 前記第2の活性層が量子井戸構造または量子ドット構造を有している,
    請求項1から3のいずれか一項に記載の半導体レーザ。
  5. 前記第1の活性層および前記第2の活性層のそれぞれに独立に電流を注入するための電極を備えている,請求項1から4のいずれか一項に記載の半導体レーザ。
  6. 前記第2の活性層の幅が,前記出射端面に向かうにしたがって広がっている,
    請求項1から5のいずれか一項に記載の半導体レーザ。
  7. 前記第2の活性層を導波する光の光軸線と前記出射端面とが,直角でない角度で交差している,請求項1から6のいずれか一項に記載の半導体レーザ。
  8. 請求項1から7のいずれか一項に記載の半導体レーザ,および
    前記半導体レーザからのレーザ光が励起光として入射し,誘導ラマン増幅を生じさせる光ファイバ,
    を備えたラマン増幅器。
JP2008327493A 2008-12-24 2008-12-24 半導体レーザ,およびこれを備えたラマン増幅器 Pending JP2010153451A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008327493A JP2010153451A (ja) 2008-12-24 2008-12-24 半導体レーザ,およびこれを備えたラマン増幅器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008327493A JP2010153451A (ja) 2008-12-24 2008-12-24 半導体レーザ,およびこれを備えたラマン増幅器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010153451A true JP2010153451A (ja) 2010-07-08

Family

ID=42572256

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008327493A Pending JP2010153451A (ja) 2008-12-24 2008-12-24 半導体レーザ,およびこれを備えたラマン増幅器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010153451A (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002158399A (ja) * 2000-11-22 2002-05-31 Fujitsu Ltd レーザダイオード
JP2004221321A (ja) * 2003-01-15 2004-08-05 Mitsubishi Electric Corp 波長可変半導体光装置
JP2005019533A (ja) * 2003-06-24 2005-01-20 Oki Electric Ind Co Ltd 光半導体素子,及び光半導体素子の製造方法
JP2005276904A (ja) * 2004-03-23 2005-10-06 Anritsu Corp 半導体発光素子
JP2007525012A (ja) * 2003-06-27 2007-08-30 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 低ジッタのパルス型量子ドットレーザシステム
JP2010073997A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Qd Laser Inc レーザシステム

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002158399A (ja) * 2000-11-22 2002-05-31 Fujitsu Ltd レーザダイオード
JP2004221321A (ja) * 2003-01-15 2004-08-05 Mitsubishi Electric Corp 波長可変半導体光装置
JP2005019533A (ja) * 2003-06-24 2005-01-20 Oki Electric Ind Co Ltd 光半導体素子,及び光半導体素子の製造方法
JP2007525012A (ja) * 2003-06-27 2007-08-30 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 低ジッタのパルス型量子ドットレーザシステム
JP2005276904A (ja) * 2004-03-23 2005-10-06 Anritsu Corp 半導体発光素子
JP2010073997A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Qd Laser Inc レーザシステム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10014664B2 (en) Flared laser oscillator waveguide
US4783788A (en) High power semiconductor lasers
WO2009116140A1 (ja) 光半導体素子及びその製造方法
AU770757B2 (en) Semiconductor laser element having a diverging region
JP2009295680A (ja) 半導体レーザ装置
WO2018168430A1 (ja) 半導体レーザ装置、半導体レーザモジュール及び溶接用レーザ光源システム
US6826220B2 (en) Semiconductor laser element having a diverging region
JP3153727B2 (ja) スーパールミネッセントダイオード
US10186836B2 (en) Multiple flared laser oscillator waveguide
JP2002299759A (ja) 半導体レーザ装置
US9203216B2 (en) Semiconductor laser device
JP6943570B2 (ja) 半導体レーザ素子およびレーザ光照射装置
JP5310533B2 (ja) 光半導体装置
JP2005268298A (ja) 半導体レーザ
US8401046B2 (en) Multibeam coherent laser diode source (embodiments)
WO2018197015A1 (en) Curved waveguide laser
JP3718212B2 (ja) 半導体発光素子
JP2000036638A (ja) 半導体発光装置
JP2004266095A (ja) 半導体光増幅器
US20240097404A1 (en) High-power, single-spatial-mode quantum cascade lasers
JP4309636B2 (ja) 半導体レーザおよび光通信用素子
JP2010153451A (ja) 半導体レーザ,およびこれを備えたラマン増幅器
US10063033B2 (en) Edge-emitting semiconductor laser
JP7295739B2 (ja) 半導体レーザ素子およびチップオンサブマウント
JP2009272470A (ja) 半導体レーザ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20110218

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120313

A977 Report on retrieval

Effective date: 20120314

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120509

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120815

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121211