JP2010136958A

JP2010136958A - Ｃｔ装置、ｃｔ装置における画像再構成方法、及び電子回路部品

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Publication number: JP2010136958A
Application number: JP2008317758A
Authority: JP
Inventors: Tetsuya Yoshinaga; 哲哉吉永; Kenichi Fujimoto; 憲市藤本
Original assignee: University of Tokushima NUC
Current assignee: University of Tokushima NUC
Priority date: 2008-12-13
Filing date: 2008-12-13
Publication date: 2010-06-24
Anticipated expiration: 2028-12-13
Also published as: JP5493072B2

Abstract

【課題】より高速、高画質を実現することができるＣＴ装置、ＣＴ装置における画像再構成方法、及び電子回路部品を提供する。
【解決手段】対象物断層の画像を得るＣＴ装置において、投影データを取得する投影データ取得部と、前記投影データ取得部が取得した投影データに基づいて、前記対象物断層の画像における画素ごとの画素値を得る画像再構成部とを備え、前記画像再構成部は、下記に示される微分方程式の解として画素ごとの画素値ｘを算出する。

【選択図】図３

Description

本発明は、対象物断層の画像を得るＣＴ装置、ＣＴ装置における画像再構成方法、及び画像再構成に用いる電子回路部品に関する。

人体などの対象物に複数の角度から放射線（例えばＸ線）を照射し、対象物内で減衰した放射線を検出し、対象物断層の画像を得る透過型ＣＴ（コンピューテド・トモグラフィ）装置、や、体内等に放射性同位元素を投与し、放出された放射線（例えばγ線）の強度データを測定して、同様に対象物断層の画像を得る放射型ＣＴ装置（例えばＳＰＥＣＴ、ＰＥＴ）は、既に広く実用に供されている。

上記のようなＣＴ装置においては、検出された放射線のデータ（投影データ）から対象物断層の画像を得るために画像再構成処理を行う。従来の画像再構成処理として、いわゆる解析的手法と逐次的手法とがある。

解析的手法とは、投影データの１次元フーリエ変換が、対象物の２次元フーリエ変換における原点を通る同じ角度の１次元データと一致する、いわゆる投影切断面定理を利用したものであり、例えばフィルタ補正逆投影法（ＦＢＰ法）、重畳積分法などが既に実用化されている。これらの方法では、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を用いるため、専用のハードウェアも開発されており、非常に迅速な処理を行うことができる。

しかしながら、解析的手法では、対象物内に金属など、放射線吸収率の高い物質が存在すると、放射状のアーチファクトが生じることが知られている。このようなアーチファクトが生じない画像再構成法が逐次的方法である。逐次的方法とは、初めに任意の画像（例えば画素値が均一な画像）を仮定し、仮定された画像からつくられる投影データを計算し、これを実測投影データと比較する。比較して差があれば、この差を小さくするように画像を逐次に修正していく方法である。逐次的方法の例として、ＭＬ−ＥＭ法やＯＳ−ＥＭ法などが既に詳細に研究されている。

尾川浩一、「ＥＣＴにおける反復的画像再構成」、日本放射線技術学会雑誌、社団法人日本放射線技術学会、２０００年７月、第５６巻、第７号、ｐ．８９０―８９４

田中栄一、「ＰＥＴ画像の再構成法の現状と展望」、日本放射線技術学会雑誌、社団法人日本放射線技術学会、２００６年６月、第６２巻、第６号、ｐ．７７１−７７７

上記したように、解析的手法では処理は迅速であるが、金属などによる放射状アーチファクトが発生するという問題点がある。逐次的手法では、そのような問題がなく、高画質が得られるという利点があるが、上記ＭＬ−ＥＭ法、その改良であるＯＳ−ＥＭ法を用いても、非常に長い処理時間を要し、特に画素数の多い透過型ＣＴ装置においては、事実上実用化は困難であるという問題点があった。

本発明は上記の点に鑑みてなされたものであって、より高速、高画質を実現することができるＣＴ装置、ＣＴ装置における画像再構成方法、及び電子回路部品を提供することを目的とする。

上記の問題点を解決するために、本発明に係るＣＴ装置は、対象物断層の画像を得るＣＴ装置において、投影データを取得する投影データ取得部と、前記投影データ取得部が取得した投影データに基づいて、前記対象物断層の画像における画素ごとの画素値を得る画像再構成部とを備え、前記画像再構成部は、下記（数１）に示される微分方程式の解として画素ごとの画素値ｘを算出することを特徴としている。

本発明の構成では、上記（数１）の微分方程式の解として各画素値ｘを得る。このように微分方程式の解として画素値を得る手法の極めて有効な点は、微分方程式の解はアナログ電子回路を用いて求めることが可能なところにある。従って、従来のＥＭ法等の逐次的手法、即ちデジタルコンピュータ上でソフトウェアを動作させる方法と比べれば、同等の画質を保持しながら、格段に高速に画素値の算出を行うことが可能となる。

なお、前記（数１）において、投影作用素Ａは、投影データｙの各々の要素（各行の値）に対応する画素それぞれに応じた値が付与され、投影データｙの要素に対応しない画素については値を０とした行列である。

投影データｙをｙ_１、ｙ_２、・・ｙ_ＭのＭ個（Ｍは、２以上、投影データｙの要素数までの整数）に分割するとともに、投影作用素Ａも、分割された投影データに対応させて分割し、下記（数２）の微分方程式の解として画素値を算出することもできる。

上記（数２）において、Ｍ＝１の場合は、上記（数１）と同様となる。前記画像再構成部は、Ｍが２以上の場合、取得した投影データに基づき、上記（数２）のｍの値を切り替える切替部を備えることができる。

前記（数１）若しくは前記（数２）の微分方程式の解の算出に用いるアナログ回路の一例として、各画素に対応した乗算器、及び前記乗算器の出力が入力される積分器を含み、前記積分器の出力の収束値として各画素の画素値を算出する構成とすることができる。なお、上記ｍの値を切り替える切替部については、デジタル回路を使用する構成とすることもできる。

前記ＣＴ装置は、前記（数１）若しくは前記（数２）の微分方程式の解として得られた画素値を、ＣＴ値に変換する変換部を有する構成も可能である。

本発明に係る画像再構成方法は、対象物断層の画像を得るＣＴ装置における画像再構成方法であって、投影データを取得する投影データ取得ステップと、取得された投影データに基づいて、前記対象物断層の画像における画素ごとの画素値を得る画像再構成ステップとを含み、前記画像再構成ステップにおいて、上記（数１）に示される微分方程式の解として画素ごとの画素値ｘを算出することを特徴とする。

また、本発明に係る電子回路部品は、対象物断層の画像を得るＣＴ装置に用いられる電子回路部品であって、投影データが入力される投影データ入力端子と、入力された投影データに基づいて、前記対象物断層の画像における画素ごとの画素値を得る画像再構成部とを備え、前記画像再構成部は、上記（数１）に示される微分方程式の解として画素ごとの画素値ｘを算出することを特徴とする。投影データは、従来のデータ取得システム（ＤＡＳ）を経由したデータを用いても良いし、Ｘ線検出器で取得されたアナログデータを利用するような形態も可能である。

本発明に係るＣＴ装置等によると、例えば画素数の多い透過型ＣＴ装置においても、極めて高速、高画質の実現を図ることが可能になるという効果を奏する。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態１）
（１）ＣＴ装置の全体概略構成
図１は、本発明の一つの実施の形態におけるＣＴ装置の全体概略構成について説明するための図である。本実施の形態のＣＴ装置は、Ｘ線発生管１０１とＸ線検出器１０２とを備えており、Ｘ線発生管１０１により発生したＸ線ビームＸＢをＸ線検出器１０２で検出して対象物の投影データを取得する。同図の例はＸ線ビームをコーンビームとする場合の例であるが、ファンビームやペンシルビームでも本願発明が適用可能であることは明らかである。

Ｘ線発生管１０１のＸ線焦点ＦＰから放射されたＸ線ビームＸＢは、ビーム形成Ｘ線フィルタ１０３によって、例えば再構成領域Ｐの中心では、より多くのＸ線が照射されるように、再構成領域Ｐの周辺部では、より少ないＸ線が照射されるように、Ｘ線線量が制御される。再構成領域Ｐ内に存在する対象物にＸ線が吸収され、対象物を透過したＸ線が、Ｘ線検出器１０２で検出される。なお、Ｘ線発生管１０１のＸ線焦点ＦＰから放射されたＸ線ビームＸＢは、Ｘ線コリメータ１０４により、断層像のスライス厚方向に制御される。即ち、回転中心軸ＩＣにおけるＸ線ビーム幅が制御されるように構成されている。

なお、図１に示した例は、透過型ＣＴ装置の一例としての、いわゆるマルチスライス・ヘリカルスキャンの例であるが、下記に詳細に説明する本願発明の課題解決原理（投影データからの微分方程式の解として画素値を得る）に鑑みれば、適用され得るスキャンの方法は、全く限定されることなく、ステップスキャンや、シングルスライス・ヘリカルスキャンなどの場合においても、何ら問題なく適用することができる。ヘリカルスキャンの場合における補間方法は、１８０度補間、３６０度補間、高次補間などのいずれでも良い。また、マルチスライスの場合、ヘリカルピッチ、ビームピッチは何ら限定されず、１８０度補間、フィルタ補間など、補間方法にも何ら限定はされない。投影データが取得できれば画素値の算出は可能だからである。

（２）画像再構成の手法
次に、本実施の形態における画像再構成の手法について詳細に説明する。図２は、本実施の形態の画像再構成について説明するための図である。

周知の如く、画像再構成処理とは、Ｘ線検出器１０２で取得した投影データから、対象物断面の各画素値を得る処理である。図２の例では、画素数４、投影方向は６方向（Ｐ１からＰ６）であり、画素２０１の画素値が５、画素２０２の画素値が７、画素２０３の画素値が６、画素２０４の画素値が２とする。

図２において、方向Ｐ１からのＸ線より、投影データｙ_１が得られる。同様に６方向からのＸ線より、合計６個の投影データｙ_１〜ｙ_６が得られる。画像再構成は、投影データの値及び投影作用素から得られる連立方程式の解を求めることに帰着する。もっとも、通常は画素数が膨大であり、連立方程式の解を求めることは現実的ではない。

本願発明者らは、投影データから画像再構成を行う際に、各画素の画素値を微分方程式の解として求めることができることを発案した。具体的には、下記（数３）の微分方程式の解として、各画素の画素値を得ることができることを見出した。

本実施の形態における投影作用素（投影オペレータ）Ａとは、どの投影データがどの画素に対応するかを示す行列である。求めるべき画素数がJ、投影データがI個の場合、I行J列の行列とすることができる。下記（数４）は、上記した図２の場合の投影作用素Ａの内容の一例である。

上記図２の例は極めて単純な例であるが、結局必要な投影データを取得することができれば、画素数の多い場合や、ファンビーム、コーンビームを用いた場合でも、画像の再構成は可能である。上記の例では、説明の便宜のため、投影作用素の要素値を０又は１としているが、正の要素値は１に限られないことは勿論である。投影作用素の要素値は、非負の実数値であれば良く、ビームの形態、角度、その他の条件等により、適宜設定すれば良い。なお、投影作用素Ａの「転置行列」は、図２示す例では、下記（数５）のような４行６列の行列となる。

なお、投影データｙ（投影方向数I）及び画素値ｘ（画素数J）は、それぞれ、例えば下記（数６）に示すような列ベクトルとして定義することができる。

本実施の形態の画像再構成手法において、極めて特徴的な点は、微分方程式（数１）の解はアナログ電子回路で得ることができる点である。上記したように、従来の逐次的画像再構成手法では、デジタルコンピュータ等の情報処理装置においてソフトウェアを動作させて処理を行うため、特に画素数の多い透過型ＣＴ装置においては、実用に耐える処理時間内に画像再構成を行うことは事実上不可能であった。

図３は、本実施の形態の画像再構成部３００の構成の一例を示すブロック図である。同図に示されるように、画像再構成部３００は、行列演算部３０１を備える。行列演算部３０１には、投影データｙ（ｙ_１〜ｙ_I）が入力され、上記（数１）の中の下記（数７）の部分の行列演算（加減算及び乗算、ただし減算は符号反転器を用いれば加算に変換できる）を実行する。本実施の形態では、行列演算を実行する部分をアナログ回路で構成する。

行列演算部３０１の出力は、乗算器３０２１〜３０２Jに入力される。前記したように、Jは画素値算出の対象となる画素数である。画素数は、Ｘ線ＣＴ装置などの透過型ＣＴ装置では一般的に１０万画素以上といった非常に大きな値となり、従来の逐次的方法は、事実上実用は困難であった。なお、以下、各乗算器を区別する必要の無い場合は、単に乗算器３０２ともいう。

図３に示されるように、画像再構成部３００は、積分器３０３１〜３０３Jを備えている。以下、各積分器を区別する必要の無い場合は、単に積分器３０３ともいう。乗算器３０２は、行列演算部３０１からの画素ごとの出力と、積分器３０３の出力とを乗算して、積分器３０３に対して出力する。積分器３０３の出力は、時間の経過後に画素値ｘ（ｘ_１〜ｘ_J）に収束する。

積分器３０３は、例えばＯＰアンプなどの能動素子や、キャパシタ等の受動素子を用いて構成することができる。積分器３０３の出力値が収束するまでの時間は、積分器３０３の時定数を調整することで制御することが可能であるが、従来の逐次的方法と比較して極めて迅速である。なお、乗算器３０２も、ＯＰアンプなどの能動素子を用いて構成することができる。乗算器３０２、積分器３０３とも、具体的な回路構成は公知であるから、詳細な説明は省略する。

上記のような構成であるため、画像再構成部３００は、電子回路部品として作製することが可能であり、投影データの入力を受けて画像再構成を行った結果（画素値）を出力する電子回路部品（例えば画像再構成用ＩＣ）も提供され得る。入力される投影データは、従来のデータ取得システム（ＤＡＳ）を経過した投影データのみならず、Ｘ線検出器１０２の出力（アナログ投影データ）であっても良い。画像再構成部３００を構成する電子回路部品は、アナログ投影データの前処理（Ｘ線出力変動に対する補正、検出器系誤差の補正）などを行う部分を含んでいても良い。

なお、画像再構成部３００は、図４に示すようなＣＴ値変換部４０１を含むようにしても良い。ＣＴ値変換部４０１は、上記電子回路部品に含めても良いし、例えばＣＴ画像を表示する部分に設けることもできる。上記（数１）の微分方程式の解は、任意の正の値を初期値として、最終的に正の値に収束するものであるところ、従来の、いわゆるＣＴ値は、空気が−１０００ＨＵ（ハンスフィールド値）、骨が＋１０００ＨＵ、水が０ＨＵとされており、上記（数１）の微分方程式の解として得られた画素値を上記ＣＴ値に変換するＣＴ値変換部４０１を備えることで、従来と同様の画像表示装置を利用することも可能となる。

本実施の形態においては、例えば金属などのＸ線吸収率の高い物体が存在する場合にも高画質を実現するものであるが、例えば、上記（数１）微分方程式の解と、従来のＣＴ値との対応関係を実験的に求めておき、当該対応関係に従ってＣＴ値変換部４０１にて数値変換を行うことにより、任意のウィンドウ幅、ウィンドウレベルを実現することもできる。本実施の形態の手法では、金属などが存在する場合、その部分の画素値は０に収束することとなり、この場合には、例えば、収束した画素値が０であることが識別可能であるようなＣＴ値に変換することが考えられる。

（３）数値実験の結果
本願発明者らは、上記図３に示した電子回路について、デジタルコンピュータを用いてシミュレーションを行ったので、以下、その結果について説明する。

図５は、図２に例示した画素数４、投影方向数６の場合について、シミュレーションを行った結果を示すグラフである。同図の例では、各画素の値として最初の値を「１０」に設定した。この初期値は、正の値であれば何でも良い。時間の経過とともに、電子回路シミュレータの出力が各画素の値に収束し、画像の再構成が実現されることが明らかとなった。

図６は、投影数４５６２、画素数８７×８７のＳＰＥＣＴ・サイノグラムデータ（投影データ）を用いて、従来の逐次的方法と本願発明の方法との比較を示した再構成画像データである。同図の例は、本願発明の手法により、従来の逐次的方法と同等の画質が得られていることが示されている。なお、本願手法のｔの値は、時間の経過とともに収束していることを表しており、従来の逐次法に示されているｎの値は繰り返し回数である。実際に図３の電子回路を適用した場合、極めて短い時間で、従来の逐次法と同程度の高画質が実現できる。

図７は、図６と同様の投影データを加工して欠損部分を生じさせたデータを用いて、従来の逆投影法、及び本願方法とを比較した再構成画像データである。従来の逆投影法では、欠損部分があると放射状のアーチファクトが生じるが、本願発明の方法では、そのようなアーチファクトが生じないことが示されている。

（実施の形態２）
投影データｙを分割し、それに併せて投影作用素も分割して画素値を算出するような実施の形態も可能である。図８は、本実施の形態の画像再構成部３００の構成の一例を示すブロック図である。

本実施の形態では、投影データｙを複数のブロックに分割する。分割数をＭとする。Ｍ＝２とすると、投影データｙは、下記（数８）に示すような二つの列ベクトルに分割される。

分割数は２に限定されず、もっとも極端な例では、投影数ごとに分割するような形態も可能である。Ｍ＝１の場合には、第１の実施の形態と同様となる。（数８）に示されるように投影データが分割されると、投影作用素も、それに対応して分割されることとなり、行列演算部３０１で実行される行列演算は、下記（数９）に示す如くとなる。

本実施の形態では、微分方程式が複数となるため、どの微分方程式を用いるか（ｍの値）に応じて、行列演算内容を切り替える切替部３０１１を設けている（図８参照）。切替部３０１１はデジタル回路で構成することもできる。この切替は、行列演算に必要な投影データが取得できた場合に切り替えるようにしても良いし、全ての投影データが取得できた後に、適宜切り替えて行列演算を実行するようにしてもよい。ＣＴ値変換部４０１を設けても良い点は、第１の実施の形態と同様である。

（変形例）
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明の内容が上記実施の形態において説明された具体例に限定されないことは勿論であり、例えば、以下のような変形例を実施することができる。

即ち、上記実施の形態では、図１にて、透過型ＣＴ装置であるＸ線ＣＴ装置を示したが、上記本願発明の画像再構成原理の適用範囲は透過型ＣＴ装置に限定されず、ＳＰＥＣＴ、ＰＥＴといった放射型ＣＴ装置に適用することも可能である。放射型ＣＴ装置は、透過型ＣＴ装置に比べて画素数が少なく、従って、画像再構成部３００における乗算器３０２や積分器３０３の数も少なくて良いため、より低コストで電子回路部品を実現することができる。

本発明は、例えば、ＣＴ装置などに適用することができる。

本発明の一つの実施の形態におけるＣＴ装置の全体概略構成について説明するための図である。画像再構成について説明するための図である。本発明の第１の実施の形態における、画像再構成部３００の構成の一例を示すブロック図である。ＣＴ値変換部４０１について説明するためのブロック図である。図２に例示した画素数４、投影方向数６の場合について、シミュレーションを行った結果を示すグラフである。投影数４５６２、画素数８７×８７のＳＰＥＣＴ・サイノグラムデータ（投影データ）を用いて、従来の逐次的方法と本願発明の方法との比較を示した再構成画像データである。図６と同様の投影データを加工して欠損部分を生じさせたデータを用いて、従来の逆投影法、及び本願方法とを比較した再構成画像データである。本発明の第２の実施の形態における、画像再構成部３００の構成の一例を示すブロック図である。

符号の説明

１０１Ｘ線発生管
１０２Ｘ線検出器
１０３Ｘ線フィルタ
１０４Ｘ線コリメータ
３００画像再構成部
３０１行列演算部
３０１１切替部
３０２乗算器
３０３積分器
４０１ＣＴ値変換部
ＸＢＸ線ビーム
ＦＰＸ線焦点
ＩＣ回転中心軸

Claims

対象物断層の画像を得るＣＴ装置において、
投影データを取得する投影データ取得部と、
前記投影データ取得部が取得した投影データに基づいて、前記対象物断層の画像における画素ごとの画素値を得る画像再構成部とを備え、
前記画像再構成部は、
下記（数１）に示される微分方程式の解として画素ごとの画素値ｘを算出する
ことを特徴とするＣＴ装置。
前記（数１）において、投影作用素Ａは、投影データｙの各々の要素（各行の値）に対応する画素それぞれに応じた値が付与され、投影データｙの要素に対応しない画素については値を０とした行列である
ことを特徴とする請求項１に記載のＣＴ装置。
投影データｙをｙ_１、ｙ_２、・・ｙ_ＭのＭ個（Ｍは、２以上、投影データｙの要素数までの整数）に分割するとともに、投影作用素Ａも、分割された投影データに対応させて分割し、下記（数２）の微分方程式の解として画素値を算出する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載のＣＴ装置。
前記画像再構成部は、
上記（数２）のｍの値を切り替える切替部を備えることを特徴とする請求項３に記載のＣＴ装置。
前記（数１）若しくは前記（数２）の微分方程式の解を、アナログ回路により算出する
ことを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載のＣＴ装置。
前記アナログ回路は、
各画素に対応した乗算器、及び前記乗算器の出力が入力される積分器を含み、前記積分器の出力の収束値として各画素の画素値を算出する
ことを特徴とする請求項５に記載のＣＴ装置。
前記ＣＴ装置は、
前記（数１）若しくは前記（数２）の微分方程式の解として得られた画素値を、ＣＴ値に変換する変換部を有する
ことを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載のＣＴ装置。
対象物断層の画像を得るＣＴ装置における画像再構成方法であって、
投影データを取得する投影データ取得ステップと、
取得された投影データに基づいて、前記対象物断層の画像における画素ごとの画素値を得る画像再構成ステップとを含み、
前記画像再構成ステップにおいて、下記（数３）に示される微分方程式の解として画素ごとの画素値ｘを算出する
ことを特徴とする画像再構成方法。
前記（数３）において、投影作用素Ａは、投影データｙの各々の要素（各行の値）に対応する画素それぞれに応じた値が付与され、投影データｙの要素に対応しない画素については値を０とした行列である
ことを特徴とする請求項８に記載の画像再構成方法。
投影データｙをｙ_１、ｙ_２、・・ｙ_ＭのＭ個（Ｍは、２以上、投影データｙの要素数までの整数）に分割するとともに、投影作用素Ａも、分割された投影データに対応させて分割し、下記（数４）の微分方程式の解として画素値を算出する
ことを特徴とする請求項８又は９のいずれかに記載の画像再構成方法。
前記画像再構成ステップにおいて、
上記（数４）のｍの値を切り替えることを特徴とする請求項１０に記載の画像再構成方法。
前記（数３）若しくは前記（数４）の微分方程式の解を、アナログ回路により算出する
ことを特徴とする請求項８から１１のいずれかに記載の画像再構成方法。
対象物断層の画像を得るＣＴ装置に用いられる電子回路部品であって、
投影データが入力される投影データ入力端子と、
入力された投影データに基づいて、前記対象物断層の画像における画素ごとの画素値を得る画像再構成部とを備え、
前記画像再構成部は、
下記（数５）に示される微分方程式の解として画素ごとの画素値ｘを算出する
ことを特徴とする電子回路部品。
前記（数５）において、投影作用素Ａは、投影データｙの各々の要素（各行の値）に対応する画素それぞれに応じた値が付与され、投影データｙの要素に対応しない画素については値を０とした行列である
ことを特徴とする請求項１３に記載の電子回路部品。
投影データｙをｙ_１、ｙ_２、・・ｙ_ＭのＭ個（Ｍは、２以上、投影データｙの要素数までの整数）に分割するとともに、投影作用素Ａも、分割された投影データに対応させて分割し、下記（数６）の微分方程式の解として画素値を算出する
ことを特徴とする請求項１３又は１４に記載の電子回路部品。
前記画像再構成部は、
上記（数６）のｍの値を切り替える切替部を備えることを特徴とする請求項１５に記載の電子回路部品。
前記（数５）若しくは前記（数６）の微分方程式の解を、アナログ回路により算出する
ことを特徴とする請求項１３から１６のいずれかに記載の電子回路部品。
前記アナログ回路は、
各画素に対応した乗算器、及び前記乗算器の出力が入力される積分器を含み、前記積分器の出力の収束値として各画素の画素値を算出する
ことを特徴とする請求項１７に記載の電子回路部品。
前記電子回路部品は、
前記（数５）若しくは前記（数６）の微分方程式の解として得られた画素値を、ＣＴ値に変換する変換部を有する
ことを特徴とする請求項１３から１８のいずれかに記載の電子回路部品。