JP2010060990A - 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板1を保持するチャック10をXステージ5により移動しながら、チャック10の位置を検出し、チャック10の位置の検出結果に基づき、Xステージ5の走行誤差を検出する。そして、Xステージ5の走行誤差の検出結果に基づき、光ビーム照射装置20のDMD駆動回路27へ供給する描画データの座標を補正し、補正した座標の描画データを、光ビーム照射装置20のDMD駆動回路27へ供給する。Xステージ5に横揺れやヨーイング等の走行誤差が発生しても、パターンの描画が精度良く行われる。
【選択図】図1
Description
3 ベース
4 Xガイド
5 Xステージ
6 Yガイド
7 Yステージ
8 θステージ
10 チャック
11 ゲート
20 光ビーム照射装置
20a ヘッド部
21 レーザー光源ユニット
22 光ファイバー
23 レンズ
24 ミラー
25 DMD(Digital Micromirror Device)
26 投影レンズ
27 DMD駆動回路
31,33 リニアスケール
32,34 エンコーダ
40 レーザー測長系制御装置
41 レーザー光源
42,44 レーザー干渉計
43,45 バーミラー
46 走行誤差検出回路
60 ステージ駆動回路
70 主制御装置
71 描画制御部
72 メモリ
73 バンド幅設定部
74 中心点座標決定部
75 座標決定部
Claims (8)
- フォトレジストが塗布された基板を保持するチャックと、
前記チャックを移動するステージと、
光ビームを変調する空間的光変調器、描画データに基づいて空間的光変調器を駆動する駆動回路、及び空間的光変調器により変調された光ビームを照射する照射光学系を有する光ビーム照射装置とを備え、
前記ステージにより前記チャックを移動し、前記光ビーム照射装置からの光ビームにより基板を走査して、基板にパターンを描画する露光装置であって、
前記ステージにより移動される前記チャックの位置を検出する位置検出手段と、
前記位置検出手段の検出結果に基づき、前記ステージの走行誤差を検出する走行誤差検出手段と、
前記走行誤差検出手段の検出結果に基づき、前記光ビーム照射装置の駆動回路へ供給する描画データの座標を補正し、補正した座標の描画データを、前記光ビーム照射装置の駆動回路へ供給する手段とを備えたことを特徴とする露光装置。 - 前記位置検出手段は、レーザー光を発生する光源と、前記チャックに取り付けられた反射手段と、光源からのレーザー光と反射手段により反射されたレーザー光との干渉を測定する干渉計とを含むレーザー測長系を有することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記光ビーム照射装置を複数備え、複数の光ビーム照射装置からの複数の光ビームにより基板の走査を並行して行うことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の露光装置。
- フォトレジストが塗布された基板をチャックで保持し、
チャックをステージにより移動し、
光ビームを変調する空間的光変調器、描画データに基づいて空間的光変調器を駆動する駆動回路、及び空間的光変調器により変調された光ビームを照射する照射光学系を有する光ビーム照射装置からの光ビームにより基板を走査して、基板にパターンを描画する露光方法であって、
チャックをステージにより移動しながら、チャックの位置を検出し、
チャックの位置の検出結果に基づき、ステージの走行誤差を検出し、
ステージの走行誤差の検出結果に基づき、光ビーム照射装置の駆動回路へ供給する描画データの座標を補正し、
補正した座標の描画データを、光ビーム照射装置の駆動回路へ供給することを特徴とする露光方法。 - レーザー光を発生する光源と、チャックに取り付けられた反射手段と、光源からのレーザー光と反射手段により反射されたレーザー光との干渉を測定する干渉計とを含むレーザー測長系を用いて、チャックの位置を検出することを特徴とする請求項4に記載の露光方法。
- 複数の光ビーム照射装置を設け、
複数の光ビーム照射装置からの複数の光ビームにより基板の走査を並行して行うことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の露光方法。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の露光装置を用いて基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
- 請求項4乃至請求項6のいずれか一項に記載の露光方法を用いて基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
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