JP2010049061A5 - - Google Patents

Claims (7)

1. 光源手段と、前記光源手段から出射された光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された光束を被走査面に結像させる結像光学系と、を有する光走査装置であって、
   前記結像光学系は、前記偏向手段から順に光路中に結像光学素子、第１の反射ミラー、第２の反射ミラーを有しており、
   副走査断面内において、前記第２の反射ミラーが前記結像光学系の光軸方向について前記偏向手段と前記結像光学素子の間に設けられ、
   かつ、副走査断面内において、前記第２の反射ミラーの副走査方向の位置と前記結像光学素子の副走査方向の位置がオーバーラップしており、
   前記結像光学系の光軸に対して斜め方向から前記偏向手段の偏向面に入射してくる光束の主光線と前記結像光学系の光軸との成す副走査方向の角度をα、前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された走査光束Ｒａｙ１が軸上像高に向かうときの偏向走査点から前記結像光学素子の被走査面側の光学面までの前記結像光学系の光軸方向の距離をＬ１(mm)、前記偏向走査点から前記第１の反射ミラーでの反射点までの前記結像光学系の光軸方向の距離をＬ２(mm)、前記結像光学素子の副走査方向の長さをｈ(mm)、前記偏向走査点と前記結像光学素子の外形中心との副走査方向の間隔をσ(mm)、前記第１の反射ミラーの反射面で反射された走査光束Ｒａｙ１の主光線と前記偏向手段の回転軸と垂直な平面との副走査方向になす角度をθ(deg)と定義したとき、
   前記角度θの値が以下の条件式（１）を満たすことを特徴とする光走査装置。
   
2. 前記偏向手段の同一の偏向面には複数の光束が入射しており、前記複数の光束は各々異なる複数の被走査面に入射しており、前記複数の異なる被走査面に向かう複数の光束は、副走査断面内において、前記結像光学素子のそれぞれ異なる領域を通過しており、前記複数の光束のうちの一つが前記走査光束Ｒａｙ１であり、前記走査光束Ｒａｙ１は、前記結像光学素子の副走査方向の外形中心からずれた位置を通過しており、
   副走査断面内において、前記結像光学素子の両端面のうち、前記走査光束Ｒａｙ１の通過位置が近い側の端面を第１の端面、遠い側の端面を第２の端面と定義したとき、
   前記第１の反射ミラーは、副走査断面内において前記結像光学素子を通過した走査光束Ｒａｙ１を反射して前記第１の端面側に光路を折り曲げていることを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
3. 副走査断面内において、前記複数の被走査面のうち、物理的に前記偏向手段に最も近い側の被走査面に導光される光束が前記走査光束Ｒａｙ１であることを特徴とする請求項２に記載の光走査装置。
4. 副走査断面内において、前記第１の反射ミラーの副走査方向の位置と前記第２の反射ミラーの副走査方向の位置がオーバーラップしていることを特徴とする請求項１乃至３の何れか一項に記載の光走査装置。
5. 副走査断面内において、前記偏向手段の同一の偏向面にて偏向走査された複数の光束は、前記結像光学素子を通過した後に互いに交差しないことを特徴とする請求項２乃至４の何れか一項に記載の光走査装置。
6. 前記結像光学素子および前記第１の反射ミラー及び前記第２の反射ミラーは、それらを主走査断面内に投射したとき、互いにオーバーラップしていないことを特徴とする請求項１乃至５の何れか一項に記載の光走査装置。
7. 請求項１乃至６の何れか一項に記載の光走査装置と、前記被走査面に配置された感光ドラムと、前記光走査装置で走査された光束によって前記感光ドラムの上に形成された静電潜像をトナー像として現像する現像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転写器と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着器とを有することを特徴とする画像形成装置。