JP2010010826A - 汚れ判定装置、画像読取装置、及び汚れ判定プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】読み取った原稿を示す画像に対して、不良を発生させるおそれがある汚れが生じている部材を特定することができる汚れ判定装置、画像読取装置、及び汚れ判定プログラムを提供する。
【解決手段】所定方向に沿って配列された複数のＬＥＤ５６を備え、透明部材５０を介して原稿１８及び基準板５２に対して照明光を照射する光源５４を備えた画像読取装置において、複数のＬＥＤ５６の照射状態が変化するように光源５４が制御された状態で、基準板５２からの反射光を読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化した場合には透明部材５０に汚れが生じていると判定し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化していない場合には基準板５２に汚れが生じていると判定する。
【選択図】図２

Description

本発明は、汚れ判定装置、画像読取装置、及び汚れ判定プログラムに関する。

特許文献１には、原稿上の画像を密着センサで読み取る画像読取装置において、密着センサの外周部に近づくほど密着センサからの出力が減少するため、これを補正するシェーディングデータを読み取り、読み取ったシェーディングデータが正常か否かを判定し、シェーディングデータが正常でないと判定されたときにその旨を表示部に通知する技術が開示されている。

また、特許文献２には、画像読取装置において、シェーディングデータを読み取り、読み取ったシェーディングデータが正常か否かを判定し、異常検出回数が設定異常検出回数に達していないと通常の原稿の読取り処理を行い、設定異常検出回数に達していると操作部のランプを点灯させたり、表示部にその旨を表示させる技術が開示されている。

さらに、特許文献３には、所定間隔を開けて複数のイメージセンサが直列に配置された画像読取手段、及び画像読取手段で読み取られた画像データから上記所定間隔に相当するダミー画素データを補間する補間手段を有する画像読取装置において、上記画像データに生じた異常データを補正する際に、参照する画像データが上記ダミー画素データであった場合に、当該ダミー画素データの前後のいずれかの画素データを参照して上記異常データの補正を行う技術が開示されている。
特開２０００−２１６９６３号公報 特開２００１−２０３８４５号公報 特開２００４−１９３７４２号公報

本発明は、読み取った原稿を示す画像に対して、不良を発生させるおそれがある汚れが生じている部材を特定することができる汚れ判定装置、画像読取装置、及び汚れ判定プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備え、透明部材を介して原稿及び基準板に対して照明光を照射する光源、及び前記光源から照明光が照射されている状態で、前記原稿及び前記基準板からの反射光を複数の画素を備えた光検出部に結像して前記原稿及び前記基準板を読み取る読取装置を備えた画像読取装置の汚れ判定装置であって、前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御する制御手段と、前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御した状態で、前記基準板からの反射光を前記読取装置で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化した場合には前記透明部材に汚れが生じていると判定し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化していない場合には前記基準板に汚れが生じていると判定する判定手段と、を備えている。

また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記制御手段は、前記照射状態を、隣接する複数の前記発光素子から照明光を照射する照射状態と、消灯させた発光素子を所定個間に挟んだ前記発光素子の各々から照明光を照射する照射状態とで変化するように前記光源を制御するものである。

また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の発明において、前記判定手段によって前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じていると判定された場合に、隣接する複数の前記発光素子から照明光を照射する照射状態で前記基準板を読み取った読取結果を、前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じていない状態となるように補正し、前記原稿を読み取った読取結果を補正後の前記基準板を読み取った読取結果に基づいて補正する補正手段を更に備えたものである。

また、請求項４に記載の発明は、請求項３記載の発明において、前記補正手段が、前記判定手段によって前記透明部材に汚れが生じていると判定された場合に、前記原稿を読み取った読取結果を、前記透明部材に汚れが生じていない状態となるように補正するものである。

また、請求項５に記載の発明は、請求項３記載の発明において、前記判定手段によって前記透明部材に汚れが生じていると判定された場合に、前記原稿を読み取った読取結果から前記透明部材に生じた汚れに起因する異常画素を検出する検出手段を更に備え、前記補正手段が、前記検出手段によって前記原稿を読み取った読取結果に前記透明部材に生じた汚れに起因する異常画素が検出された場合に、前記原稿を読み取った読取結果を、前記透明部材に汚れが生じていない状態となるように補正するものである。

また、請求項６に記載の発明は、請求項１〜請求項５の何れか１項記載の発明において、前記判定手段によって前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じていると判定された場合に、前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じている旨を報知する報知手段を更に備えたものである。

また、請求項７に記載の発明は、請求項１〜請求項６の何れか１項記載の汚れ判定装置を備えた画像読取装置である。

一方、上記目的を達成するために、請求項８に記載の発明は、所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備え、透明部材を介して原稿及び基準板に対して照明光を照射する光源、及び前記光源から照明光が照射されている状態で、前記原稿及び前記基準板からの反射光を複数の画素を備えた光検出部に結像して前記原稿及び前記基準板を読み取る読取装置を備えた画像読取装置の汚れ判定プログラムであって、前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御する制御手段と、前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御した状態で、前記基準板からの反射光を前記読取装置で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化した場合には前記透明部材に汚れが生じていると判定し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化していない場合には前記基準板に汚れが生じていると判定する判定手段と、を機能させるためのものである。

また、請求項９に記載の発明は、コンピュータを、請求項１〜請求項６の何れか１項に記載の汚れ判定装置を構成する各手段として機能させるための汚れ判定プログラムである。

請求項１、請求項８、及び請求項９に記載の発明によれば、読み取った原稿を示す画像に対して、不良を発生させるおそれがある汚れが生じている部材を特定することができる、という優れた効果を有する。

また、請求項２に記載の発明によれば、本発明を適用しない場合に比較して、汚れが生じている部材を特定する精度を向上させることができる、という優れた効果を有する。

また、請求項３に記載の発明によれば、基準板を読み取った読取結果を用いて原稿を読み取った読取結果を補正する場合に、透明部材又は基準板に生じた汚れの影響を除去することができる、という優れた効果を有する。

また、請求項４に記載の発明によれば、原稿を読み取った読取結果から透明部材に生じた汚れの影響を除去することができる、という優れた効果を有する。

また、請求項５に記載の発明によれば、本発明を適用しない場合に比較して、より確実に、原稿を読み取った読取結果から透明部材に生じた汚れの影響を除去することができる、という優れた効果を有する。

また、請求項６に記載の発明によれば、ユーザが透明部材又は基準板に汚れが生じていることを認識することができる、という優れた効果を有する。

また、請求項７に記載の発明によれば、本発明の汚れ判定装置を備えているので、読み取った原稿を示す画像に対して、不良を発生させるおそれがある汚れが生じている部材を特定することができる、という優れた効果を有する。

［第１の実施の形態］
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本実施の形態では、本発明に係る汚れ判定装置を、画像読取装置に適用した場合について説明する。

まず、図１を参照して、本実施の形態に係る画像読取装置１０の全体構成を説明する。

同図に示すように、画像読取装置１０は、原稿搬送部１２と画像読取部１４とを備えている。なお、原稿搬送部１２と画像読取部１４とは連結部１６によって連結されており、連結部１６を中心にして原稿搬送部１２が画像読取部１４の上方へ開閉可能とされている。

原稿搬送部１２は、画像が記録された原稿１８が置かれる原稿台２０を備えており、原稿台２０に置かれた原稿１８は、一枚ずつ取り出しロール２２で取り出され、搬送路２４へ送られる。

搬送路２４に送られた原稿１８は、搬送ロール対２６によって画像読取部１４による表面読取位置まで搬送され、表面を画像読取部１４で読み取られた後、表面読取位置よりも搬送方向下流側に設置されている裏面画像読取部２８に搬送され、裏面を裏面画像読取部２８で読み取られた後、排紙部３０に排紙される。

一方、画像読取部１４は、上面に原稿１８を置くことが可能とされている透明なプラテンガラス３２を備えており、上記表面読取位置はプラテンガラス３２の上面に位置している。

表面読取位置におけるプラテンガラス３２の下側には、原稿１８の表面に向けて照明光を照射する光源３４と、原稿１８の表面で反射した反射光を受ける第１反射ミラー３６、第１反射ミラー３６で受けた反射光の進行方向を９０°曲げるための第２反射ミラー３８、第２反射ミラー３８で受けた反射光の進行方向をさらに９０°曲げるための第３反射ミラー４０とが備えられている。

また、画像読取部１４は、レンズ４２と、複数の画素を備えた光検出部４４とを備えており、画像読取部１４は、第３反射ミラー４０で反射された反射光を、レンズ４２によって光検出部４４に結像させることで、原稿１８の表面を読み取る。

なお、本実施の形態に係る画像読取装置１０は、光源３４として蛍光ランプを適用するが、これに限らず、原稿１８の搬送方向と交差する方向に沿って配列された複数のＬＥＤ（Light Emitting Diode）等、他の光源を適用しても良い。

また、本実施の形態に係る画像読取装置１０では、光検出部４４として複数のＣＣＤ（Charge Coupled Device）で構成されるＣＣＤラインセンサを適用するが、これに限らず、ＣＭＯＳ（Complementary Metal-Oxide Semiconductor）イメージセンサ等の固体撮像素子を適用しても良い。

なお、本実施の形態に係る画像読取装置１０は、光源３４、第１反射ミラー３６、第２反射ミラー３８、及び第３反射ミラー４０が図１の矢印Ａ方向に移動可能とされている。これにより、原稿搬送部１２が画像読取部１４の上方へ開けられ、プラテンガラス３２の上面に原稿１８が置かれた場合に、光源３４から照明光を原稿１８に向けて照射しつつ、矢印Ａ方向へ光源３４、第１反射ミラー３６、第２反射ミラー３８、及び第３反射ミラー４０を移動させることで、上記原稿１８に記録された画像を読み取ることが可能とされている。

図２に、本実施の形態に係る裏面画像読取部２８の構成を示す。

裏面画像読取部２８は、図２（Ａ）に示すように透明部材５０を介して原稿１８及び基準板５２に対して照明光を照射する光源５４を備えている。なお、原稿１８は透明部材５０と基準板５２との間を搬送ロール対２６によって搬送される。

また、裏面画像読取部２８は、光源５４から照明光が照射されている状態で、原稿１８及び基準板５２からの反射光を複数の画素を備えた光検出部５８に、レンズ６０で結像して原稿１８及び基準板５２を読み取る読取部６２を備えており、読取部６２によって搬送されてくる原稿１８の裏面に記録された画像を読み取る。

なお、本実施の形態に係る裏面画像読取部２８は、図２（Ｂ）に示すように、光源５４として原稿１８の搬送方向と交差する方向に配列された複数のＬＥＤ５６を適用する。

また、本実施の形態に係る裏面画像読取部２８は、光検出部５８に備えられた画素として、ＣＣＤ素子を適用し、光検出部５８をＣＣＤラインセンサとするが、これに限らず、ＣＭＯＳ（Complementary Metal-Oxide Semiconductor）イメージセンサ等の固体撮像素子を適用しても良い。

図３には、本実施の形態に係る画像読取装置１０の電気系の要部構成が示されている。

画像読取装置１０は、画像読取装置１０全体の動作を司るＣＰＵ（Central Processing Unit）７０、各種プログラムや各種パラメータ、各種テーブル情報等が予め記憶されたＲＯＭ（Read Only Memory）７２、ＣＰＵ７０による各種プログラムの実行時のワークエリア等として用いられるＲＡＭ（Random Access Memory）７４、読み取った画像を示す画像情報や、各種情報を記憶するＨＤＤ（Hard Disk Drive）７６、各種の操作指示が入力される操作ボタンやテンキー、各種のメッセージ等を表示するための表示部が設けられた操作パネル７８を備えている。

さらに、画像読取装置１０は、原稿１８に記録された画像を読み取る処理（以下、「画像読取処理」という。）を実行するための画像読取部１４や裏面画像読取部２８における制御対象と接続され、各制御対象の駆動を制御する画像読取制御部８０、プリンタやパーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）等の外部装置と接続され、当該外部装置への上記画像情報の送信、及び当該外部装置との各種情報の送受信を行う外部インタフェース８２を備えている。

これらＣＰＵ７０、ＲＯＭ７２、ＲＡＭ７４、ＨＤＤ７６、操作パネル７８、画像読取制御部８０、外部インタフェース８２は、システムバス８４を介して相互に電気的に接続されている。従って、ＣＰＵ７０は、ＲＯＭ７２、ＲＡＭ７４及びＨＤＤ７６へのアクセス、操作パネル７８に対する操作状態の把握や各種のメッセージ等の表示、画像読取制御部８０の動作の制御、及び外部インタフェース８２を介した上記外部装置との各種情報の送受信等を各々行なうことができる。

なお、本実施の形態に係るＣＰＵ７０は、画像読取制御部８０に対して画像読取処理を実行させる場合には、当該実行を指示する画像読取実行信号を画像読取制御部８０へ送信し、画像読取制御部８０は、ＣＰＵ７０から送信された上記画像読取実行信号を受信すると、接続されている各制御対象の制御を開始する。

また、本実施の形態に係る画像読取装置１０は、複数のＬＥＤ５６の照射状態が変化するように光源５４を制御した状態で、基準板５２からの反射光を読取部６２で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化した場合には透明部材５０の汚れが生じていると判定し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化していない場合には基準板５２に汚れが生じていると判定する汚れ判定処理を、裏面画像読取部２８で原稿１８に記録されている画像を読み取る前に実行する。

なお、ここでいう汚れとは、透明部材５０又は基準板５２に、例えば、髪、糸等が付着している場合も含む。

上記汚れ判定処理では、図４に示すように、複数のＬＥＤ５６の照射状態を変化させ、原稿１８が搬送されていない状態で複数のＬＥＤ５６から照明光を照射し、基準板５２に反射した照明光を光検出部５８で検出する。なお、図４に示すＬＥＤ５６において、白塗りとされているＬＥＤ５６は、照明光を照射している状態を示し、黒塗りとされているＬＥＤ５６は、照明光を照射していない状態を示す。

図４（Ａ）に示す照射状態は、複数のＬＥＤ５６のうち、隣接する複数のＬＥＤ５６から照明光を照射する照射状態、例えば、全ＬＥＤ５６から照明光を照射する照射状態（以下、「第１の照射状態」という。）であり、図４（Ｂ）に示す照射状態は、消灯させたＬＥＤ５６を所定個間に挟んだＬＥＤ５６の各々から照明光を照射する照射状態（以下、「第２の照射状態」という。）である。

なお、本実施の形態に係る汚れ判定処理では、上記所定個として、一例として１個を適用するが、これに限らないことはいうまでもない。

また、図４（Ｃ）に示す照射状態は、上記第２の照射状態において照明光を消灯したＬＥＤ５６から照明光を照射させ、上記第２の照射状態において照明光を照射したＬＥＤ５６を消灯させる照射状態（以下、「第３の照射状態」という。）である。

図５に、第１〜第３の照射状態において、基準板５２に汚れが生じている場合に、基準板５２からの反射光を読取部６２で読み取った読取結果を示す。

なお、図５に示す各グラフは、読取部６２で読み取った読取結果の一部の範囲を示しており、当該範囲は各グラフの上方に示されるＬＥＤ５６の位置に対応している。また、図５に示す各グラフでは、縦軸が読取部６２に設けられた光検出部５８で検出された反射光の強度を示し、横軸が光検出部５８に備えられたＣＣＤ画素の位置を示す。

さらに、図５に示す各グラフおける実線は、基準板５２に汚れが生じていない場合に光検出部５８で検出された反射光の強度を示しており、破線は、基準板５２に汚れが生じている場合に光検出部５８で検出された反射光の強度を示している。

図５（Ａ）に示すグラフは、第１の照射状態において光検出部５８により検出された反射光の強度分布である。同図に示すように、基準板５２に汚れが生じていない場合は、反射光の強度分布に極端な強度の変化はない。一方、基準板５２に汚れが生じている場合は、照明光が汚れに反射したことによる反射光の強度の減少が現れている。

なお、本実施の形態に係る汚れ判定処理では、読取結果から汚れが生じているか否かを判定するために、読取結果に基づいて強度が極端に変化している画素である異常画素を検出する処理（以下、「異常画素検出処理」という。）を実行し、異常画素が検出された場合に汚れが生じていると判定する。

なお、本実施の形態に係る異常画素検出処理として、連続した所定数の画素毎に反射光の強度の移動平均を求め、各画素位置における反射光の強度と上記移動平均により求められた値との差の絶対値が所定値以上となった画素を異常画素として検出する処理を適用する。

また、異常画素検出処理として、上記処理に限らず、汚れが生じていない場合の読取結果は予測できるため、汚れが生じていない場合の反射光の強度分布を示す近似線を予め求めておき、当該近似線により示される反射光の強度と光検出部５８で検出された反射光の強度との差を各画素毎に求め、当該差が所定値以上となった画素を異常画素とする処理等、他の処理を適用しても良い。

図５（Ｂ）に示すグラフは、第２の照射状態において光検出部５８により検出された反射光の強度分布であり、図５（Ｃ）に示すグラフは、第２の照射状態において光検出部５８により検出された反射光の強度分布である。図５（Ｂ），（Ｃ）に示すように、基準板５２に汚れが生じていない場合は、照明光を照射しているＬＥＤ５６から照明光を照射していないＬＥＤ５６の方向へ反射光の強度が減少する。

一方、基準板５２に汚れが生じている場合は、強度が極端に減少する異常画素が検出される。また、当該異常画素の位置は、第１の照射状態において検出された異常画素の位置から変化していない。

なお、本実施の形態に係る画像読取装置１０において、第１の照射状態における異常画素の位置と、他の照射状態における異常画素の位置とが変化しているか否かを判定する処理（以下、「位置変化判定処理」という。）として、第１の照射状態における異常画素の強度を示す波形の半値幅で示される画素位置の範囲（図５に示すグラフの一転鎖線の間。）に、他の照射状態における最も強度が低い異常画素が含まれている場合に異常画素の位置が変化していると判定し、上記範囲に他の照射状態における最も強度が低い異常画素が含まれていない場合に異常画素の位置が変化していないと判定する処理を適用する。

また、位置変化判定処理として、上記処理に限らず、汚れの原因となるものとして髪や糸を想定し、髪や糸の大きさを示す値を予めＲＯＭ７２に記憶しておき、第１の照射状態における異常画素の強度のうち最も低い異常画素の位置を中心とした上記値の範囲内に、他の照射状態における最も強度が低い異常画素が含まれているか否かを判定することで、異常画素の位置に変化が生じているか否かを判定する処理等、他の処理を適用してもよい。

次に、図６に、第１〜第３の照射状態において、透明部材５０に汚れが生じている場合に、基準板５２からの反射光を読取部６２で読み取った読取結果を示す。

図６（Ａ）に示すグラフは、第１の照射状態において光検出部５８により検出された反射光の強度分布であり、図６（Ｂ）に示すグラフは、第２の照射状態において光検出部５８により検出された反射光の強度分布であり、図６（Ｃ）に示すグラフは、第３の照射状態において光検出部５８により検出された反射光の強度分布である。

透明部材５０に汚れが生じている場合は、基準板５２に汚れが生じている場合の様に、強度が極端に減少する異常画素が検出される。

しかし、第１の照射状態における異常画素の位置に対して、第２の照射状態及び第３の照射状態における異常画素の位置が変化している。この原因は、透明部材５０と光源５４との距離が近いため、光源５４に透明部材５０に汚れが生じている場合は、当該汚れによる影のでき方が基準板５２に汚れが生じた場合に比較して大きく異なるためである。

次に、図７を参照して、本実施の形態に係る画像読取装置１０の作用を説明する。なお、図７は、原稿１８の裏面を裏面画像読取部２８で読み取る前に、ＣＰＵ７０によって実行される汚れ判定プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムはＲＯＭ７２の所定領域に予め記憶されている。

まず、ステップ１００では、画像読取制御部８０に、第１の照射状態で照明光を照射するように光源５４を制御させる。

次のステップ１０２では、画像読取制御部８０に、基準板５２を読み取るように光検出部５８を制御させ、第１の照射状態で基準板５２を読み取った読取結果をＲＡＭ７４に記憶させる。

次のステップ１０４では、画像読取制御部８０に、第２照射状態で照明光を照射するように光源５４を制御させる。

次のステップ１０６では、画像読取制御部８０に、基準板５２を読み取るように光検出部５８を制御させ、第２の照射状態で基準板５２を読み取った読取結果をＲＡＭ７４に記憶させる。

次のステップ１０８では、上述した異常画素検出処理を実行することによって、第１の照射状態における読取結果、及び第２の照射状態における読取結果に基づいて異常画素を検出する。

次のステップ１１０では、ステップ１０８で実行した異常画素検出処理によって、第１の照射状態における読取結果、及び第２の照射状態における読取結果から異常画素が検出されたか否かを判定する。肯定判定となった場合はステップ１１２へ移行する一方、否定判定となった場合は、本プログラムを終了する。

次のステップ１１２では、上述した位置変化判定処理を実行することによって、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化しているか否かを判定する。肯定判定となった場合はステップ１１４へ移行し、操作パネル７８の表示面に透明部材５０に汚れが生じている旨を表示させることによって、透明部材５０に汚れが生じていることを報知し、ステップ１１８へ移行する。

一方、ステップ１１２で否定判定となった場合はステップ１１６へ移行し、操作パネル７８の表示面に基準板５２に汚れが生じている旨を表示させることによって、基準板５２に汚れが生じていることを報知し、ステップ１１８へ移行する。

ステップ１１８では、シェーディングデータの補正を行うシェーディングデータ補正処理を実行する。

なお、シェーディングとは、光検出部５８を構成するＣＣＤラインセンサでは、受光面の外周部に近づくほど、レンズ収差により受光光量が減少することに起因して、反射光の強度が図８（Ａ）に示すように端部で減少する現象であり、これにより、画像読取処理で得られた画像の周辺部が暗くなってしまう。

そのため、第１の照射状態で光源５４から照明光を照射し、基準板５２からの反射光を読み取った図８（Ａ）に示す読取結果をシェーディングデータとし、原稿１８からの反射光を読み取った読取結果を当該シェーディングデータで除算する補正（シェーディング補正）を行うことで、上記画像に対するシェーディングの影響を除去する。

しかし、透明部材５０又は基準板５２に汚れが生じていると、シェーディングデータは、図８（Ｂ）の領域Ａに示すように汚れを起因とする強度の減少が現れる。図８（Ｂ）に示す様なシェーディングデータを用いてシェーディング補正を行うと、上記画像に対して不良を発生させるおそれがあるため、シェーディングデータの補正処理を実行することで、汚れを起因とする強度の減少が現れているシェーディングデータを、図８（Ａ）に示す汚れが生じていない状態となるように補正する。

本実施の形態に係るシェーディングデータ補正処理として、異常画素検出処理で検出された異常画素の値を、移動平均の値で置換する処理を適用するが、これに限らず、異常画素の値を、異常画素でない隣接する画素の値に置換する処理等、他の処理を適用してもよい。

なお、本実施の形態に係る画像読取装置１０では、汚れ判定処理によって透明部材５０に汚れが生じていると判定された場合は、裏面画像読取部２８によって原稿１８を読み取った読取結果にも汚れに起因する強度の減少が現れていると想定されることから、原稿１８を読み取った読取結果から汚れに起因する強度の減少を補正し、当該補正した原稿１８を読み取った読取結果を上記補正したシェーディングデータを用いて更に補正する画像補正処理を行う。

次に、図９を参照して、上記画像補正処理について説明する。なお、図９は、汚れ判定処理によって、透明部材５０に汚れが生じていると判定された後に、裏面画像読取部２８によって原稿１８を読み取る場合に、ＣＰＵ７０によって実行される画像補正プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムはＲＯＭ７２の所定領域に予め記憶されている。

まず、ステップ２００で、画像読取制御部８０に、裏面画像読取部２８に搬送された原稿１８に対して搬送方向に対して１ライン分（ＣＣＤラインセンサによる１回分の読み取り）読み取るように読取部６２の光検出部５８を制御させる。

次のステップ２０２で、ステップ２００で読み取った読取結果に対して、汚れに起因する強度の減少を補正する補正処理を行う。

なお、本実施の形態に係る画像読取装置１０では、ステップ２０２における補正処理として、原稿１８を読み取った読取結果に対して、第１の照射状態における異常画素が検出された位置と同じ位置を含む所定の範囲内における画素の値を、隣接する画素の値に置換する処理を適用するが、上記所定の範囲内における画素の値を移動平均により求められた値で置換する処理等、他の処理を適用してもよい。

次のステップ２０４では、ステップ２０２による処理で補正した原稿１８の読取結果に対して、シェーディングデータ補正処理で補正したシェーディングデータでシェーディング補正を行う。

次のステップ２０６では、原稿１８の読み取りが終了したか否かを判定し、肯定判定となった場合は本プログラムを終了する一方、否定判定となった場合はステップ２００へ戻り、原稿１８の読み取りが終了するまで上記処理を繰り返す。
［第２の実施の形態］
本第２の実施の形態では、汚れ判定処理によって、透明部材５０に汚れが生じていると判定され、且つ原稿１８からの反射光を読み取った読取結果に透明部材５０に生じた汚れに起因する異常画素が検出された場合に、原稿１８からの反射光を読み取った読取結果を、透明部材５０に汚れが生じていない状態となるように補正する形態例について説明する。

なお、本第２の実施の形態に係る画像読取装置１０の構成は、第１の実施の形態に係るもの（図１〜３参照。）と同様であるので説明を省略する。

次に、図１０を参照して、本第２の実施の形態に係る画像補正処理について説明する。なお、図１０は、透明部材５０に汚れが生じていると判定された後に、裏面画像読取部２８によって原稿１８を読み取る場合に、ＣＰＵ７０によって実行される画像補正プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムはＲＯＭ７２の所定領域に予め記憶されている。また、第１の実施の形態に係る図９のフローチャートと同一の処理を行なうステップについては図９と同一の符号を付して説明をその省略する。

ステップ３００では、原稿１８を読み取った読取結果に対して、透明部材５０に生じた汚れに起因する異常画素を検出する処理を実行する。

なお、ステップ３００における処理として、原稿１８を読み取った読取結果に対して、第１の照射状態における異常画素が検出された位置と同じ位置を含む所定の範囲内に強度の減少が現れている場合に、当該強度の減少を透明部材５０に生じた汚れに起因しているとし、当該強度の減少が現れた画素を異常画素として検出する処理を適用する。

次のステップ３０２では、異常画素が検出されたか否かを判定し、肯定判定となった場合はステップ２０２へ移行する一方、否定判定となった場合はステップ２０４へ移行する。

以上、本発明を上記各実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記各実施の形態に記載の範囲には限定されない。発明の要旨を逸脱しない範囲で上記各実施の形態に多様な変更または改良を加えることができ、当該変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれる。

また、上記各実施の形態は、クレーム（請求項）にかかる発明を限定するものではなく、また実施の形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。前述した実施の形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における組み合わせにより種々の発明を抽出できる。上記各実施の形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、効果が得られる限りにおいて、この幾つかの構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。

例えば、上記各実施の形態では、汚れ判定装置を画像読取装置１０に適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、汚れ判定装置を外部インタフェース８２に接続されたＰＣに適用する形態としてもよい。この形態とする場合、画像読取装置１０の光源３４の照射状態をＰＣからの指示によって変化させることが可能なように画像読取装置１０を構成し、汚れ判定プログラム及び画像補正プログラムをＰＣに備えられているＣＰＵで実行し、透明部材５０又は基準板５２に汚れが生じている旨の報知をＰＣに備えられているモニタ又はスピーカーを介して行う。

また、上記各実施の形態では、第１の照射状態及び第２の照射状態で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、第１の照射状態、第２の照射状態及び第３の照射状態で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出する形態としてもよい。

また、第２の照射状態及び第３の照射状態で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出する形態としてもよい。この形態とする場合、汚れ判定処理において、第２の照射状態及び第３の照射状態における異常画素のうち、最も強度が低い異常画素の位置が予め定められた範囲以上離れている場合に、透明部材５０に汚れが生じていると判定し、第２の照射状態及び第３の照射状態における異常画素のうち、最も強度が低い異常画素の位置が上記範囲以内の場合に基準板５２に汚れが生じていると判定する。

また、上記各実施の形態では、汚れ判定処理の対象を裏面画像読取部２８とした場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、汚れ判定処理の対象を画像読取部１４とする形態としてもよい。この形態とする場合、画像読取部１４の光源３４として、原稿１８の搬送方向と交差する方向に沿って配列された複数のＬＥＤを適用する。

また、上記各実施の形態では、汚れ判定処理によって透明部材５０又は基準板５２に汚れが生じていると判定した場合に、操作パネル７８を介して汚れが生じていることを報知した後、シェーディングデータの補正を行う場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、汚れが生じていることを報知した後、シェーディングデータの補正を行うことなく、本プログラムを終了し、以降の画像読取処理を実行しない形態としてもよい。この形態とする場合、汚れ判定処理によって透明部材５０又は基準板５２に汚れが生じていると判定した場合に、操作パネル７８を介して汚れが生じていることを報知すると共に、ユーザに対して汚れを除去するよう促す報知を行う。その後、ユーザが汚れを除去し、画像読取処理を伴わずに汚れ判定処理を実行し、当該汚れ判定処理によって透明部材５０又は基準板５２に汚れが生じていないと判定した場合に、画像読取処理の実行を再び可能とする。

また、上記各実施の形態では、画像読取処理の対象となる原稿毎に汚れ判定処理を実行する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、予め定められた枚数の原稿毎に汚れ判定処理を実行する形態としてもよい。

更に、上記各実施の形態では、汚れ判定処理で、透明部材５０又は基準板５２に汚れが生じていると判定される毎に、汚れが生じていることを報知する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、予め定められた回数以上、透明部材５０又は基準板５２に汚れが生じていると判定された場合に、汚れが生じていることを報知する形態としてもよい。

その他、上記各実施の形態で説明した画像読取装置１０の構成（図１〜図３参照。）は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において不要な部分を削除したり、新たな部分を追加したりすることができることは言うまでもない。

また、上記各実施の形態で説明した汚れ判定プログラムの処理の流れ（図７参照。）及び画像補正プログラム（図９及び図１０参照）も一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において不要なステップを削除したり、新たなステップを追加したり、処理順序を入れ替えたりすることができることは言うまでもない。

第１の実施の形態に係る画像読取装置の構成を示す破断側面図である。 第１の実施の形態に係る裏面画像読取部の構成を示す側面図である。 第１の実施の形態に係る画像読取装置の電気系の要部構成を示すブロック図である。 第１の実施の形態に係る裏面画像読取部に備えられている光源の照射状態の説明に供する模式図である。 第１の実施の形態に係る読取部で読み取った、基準板に汚れが生じている場合の読取結果を示す図である。 第１の実施の形態に係る読取部で読み取った、透明部材に汚れが生じている場合の読取結果を示す図である。 第１の実施の形態に係る汚れ判定プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。 第１の実施の形態に係るシェーディングデータ補正処理の説明に供するグラフである。 第１の実施の形態に係る画像補正プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。 第２の実施の形態に係る画像補正プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。

符号の説明

１０ 画像読取装置
１８ 原稿
５０ 透明部材
５２ 基準板
５４ 光源
５６ ＬＥＤ（発光素子）
５８ 光検出部
６２ 読取部（読取装置）
８０ 画像読取制御部（制御手段）
７０ ＣＰＵ（判定手段、補正手段、検出手段）

Claims (9)

1. 所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備え、透明部材を介して原稿及び基準板に対して照明光を照射する光源、及び前記光源から照明光が照射されている状態で、前記原稿及び前記基準板からの反射光を複数の画素を備えた光検出部に結像して前記原稿及び前記基準板を読み取る読取装置を備えた画像読取装置の汚れ判定装置であって、
   前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御する制御手段と、
   前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御した状態で、前記基準板からの反射光を前記読取装置で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化した場合には前記透明部材に汚れが生じていると判定し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化していない場合には前記基準板に汚れが生じていると判定する判定手段と、
   を備えた汚れ判定装置。
2. 前記制御手段は、前記照射状態を、隣接する複数の前記発光素子から照明光を照射する照射状態と、消灯させた発光素子を所定個間に挟んだ前記発光素子の各々から照明光を照射する照射状態とで変化するように前記光源を制御する請求項１記載の汚れ判定装置。
3. 前記判定手段によって前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じていると判定された場合に、隣接する複数の前記発光素子から照明光を照射する照射状態で前記基準板を読み取った読取結果を、前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じていない状態となるように補正し、前記原稿を読み取った読取結果を補正後の前記基準板を読み取った読取結果に基づいて補正する補正手段を更に備えた請求項１又は請求項２記載の汚れ判定装置。
4. 前記補正手段は、前記判定手段によって前記透明部材に汚れが生じていると判定された場合に、前記原稿を読み取った読取結果を、前記透明部材に汚れが生じていない状態となるように補正する請求項３記載の汚れ判定装置。
5. 前記判定手段によって前記透明部材に汚れが生じていると判定された場合に、前記原稿を読み取った読取結果から前記透明部材に生じた汚れに起因する異常画素を検出する検出手段を更に備え、
   前記補正手段は、前記検出手段によって前記原稿を読み取った読取結果に前記透明部材に生じた汚れに起因する異常画素が検出された場合に、前記原稿を読み取った読取結果を、前記透明部材に汚れが生じていない状態となるように補正する請求項３記載の汚れ判定装置。
6. 前記判定手段によって前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じていると判定された場合に、前記透明部材又は前記基準板に汚れが生じている旨を報知する報知手段を更に備えた請求項１〜請求項５の何れか１項記載の汚れ判定装置。
7. 請求項１〜請求項６の何れか１項記載の汚れ判定装置を備えた画像読取装置。
8. 所定方向に沿って配列された複数の発光素子を備え、透明部材を介して原稿及び基準板に対して照明光を照射する光源、及び前記光源から照明光が照射されている状態で、前記原稿及び前記基準板からの反射光を複数の画素を備えた光検出部に結像して前記原稿及び前記基準板を読み取る読取装置を備えた画像読取装置の汚れ判定プログラムであって、
   前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御する制御手段と、
   前記複数の発光素子の照射状態が変化するように前記光源を制御した状態で、前記基準板からの反射光を前記読取装置で読み取った読取結果に基づいて異常画素を検出し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化した場合には前記透明部材に汚れが生じていると判定し、照射状態を変化させた前後で異常画素の位置が変化していない場合には前記基準板に汚れが生じていると判定する判定手段と、
   を機能させるための汚れ判定プログラム。
9. コンピュータを、請求項１〜請求項６の何れか１項に記載の汚れ判定装置を構成する各手段として機能させるための汚れ判定プログラム。

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