JP2009267593A - Imaging device, defective pixel detecting method, and defective pixel detection program - Google Patents

Imaging device, defective pixel detecting method, and defective pixel detection program Download PDF

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Shinsaku Okada
晋作 岡田
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Sony Corp
ソニー株式会社
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique of an imaging device which accurately detects a subsequent defective pixel regarding all pixels of an imaging element. <P>SOLUTION: The imaging device detects a defective pixel per pixel group belonging to each of a plurality of divided areas obtained by dividing an imaging surface of an imaging element into areas. When the imaging device is started up, an elapse period from a completion of an immediate detection regarding a defective pixel detection per divided area to a present time is firstly calculated (step S1). Then, while in the presence of a divided area where a fixed period (for example one week) has elapsed, the divided area is set in a detection object area, in the absence of the divided area where the fixed period has elapsed, a divided area where a detection completion date and time is the oldest is set in the detection object area (steps S2 to S4). The defective pixel detection is performed to the detection object area (step S7). Thus, a detection of a subsequent defective pixel regarding all pixels of the imaging element is accurately performed by the operation of the imaging device. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、撮像素子を備えた撮像装置の技術に関する。   The present invention relates to a technique of an imaging device provided with an imaging element.
デジタルカメラなどの撮像装置に設けられる撮像素子は、近年、高画素化が進んでいる。ここで、高画素な撮像素子ほど各画素の特性を完全に均一化して欠陥のないものを製造するのは、一般に困難である。そして、欠陥画素が存在する撮像素子で取得した画像には、本来のレベルより大きい画素信号が記録された部分(白欠陥)や、本来のレベルより小さい画素信号が記録された部分(黒欠陥)が生じることとなる。   In recent years, the number of pixels of an image sensor provided in an image pickup apparatus such as a digital camera has been increasing. Here, it is generally difficult to manufacture an image sensor having a higher pixel with a defect that is completely uniform in characteristics of each pixel. Then, in an image acquired by an image sensor having a defective pixel, a portion where a pixel signal larger than the original level is recorded (white defect), or a portion where a pixel signal smaller than the original level is recorded (black defect). Will occur.
以上のような欠陥画素の対策としては、撮像素子の全画素を対象に行う製品出荷前の検査で予め取得された欠陥画素のデータ(欠陥画素の位置データなど)に基づき、例えば欠陥画素周辺の画素信号による画素補間を行って、欠陥画素で生じた異常な画素信号を排除する技術がある。   As countermeasures for defective pixels as described above, based on defective pixel data (defective pixel position data, etc.) acquired in advance in an inspection before product shipment for all pixels of the image sensor, for example, around the defective pixels There is a technique for performing pixel interpolation using pixel signals to eliminate abnormal pixel signals generated in defective pixels.
一方、製品出荷後において撮像装置がユーザの手許にわたってからも、撮像装置の使用される環境などにより撮像素子が劣化または損傷を受けて欠陥画素が新たに発生する場合があるが、このように後発的に生じた欠陥画素(以下では「後発的欠陥画素」ともいう)は、上述した製品出荷前の検査では把握できない。なお、製品出荷前の検査と同様の検査を製品出荷後に実施すれば後発的欠陥画素の検出が可能となるが、撮像素子の全画素を検査したのでは、その処理時間が長くかかりユーザがシャッターチャンスを逃す恐れがある。   On the other hand, even after the product is shipped, the image pickup device may be deteriorated or damaged due to the environment in which the image pickup device is used even if the image pickup device is at the user's control. Defective pixels that are generated automatically (hereinafter also referred to as “subsequent defective pixels”) cannot be grasped by the above-described inspection before product shipment. If inspection similar to that before product shipment is performed after product shipment, subsequent defective pixels can be detected. However, if all pixels of the image sensor are inspected, the processing time is long and the user needs to There is a risk of missing a chance.
このような後発的欠陥画素の検出処理を改善する技術として、特許文献1に開示されるものがある。この技術によれば、撮像素子の撮像面を領域分割し、ランダムに選択した分割領域に対して欠陥画素検出を行うことにより、後発的欠陥画素の迅速な検出が図られている。   As a technique for improving the detection process of such a subsequent defective pixel, there is one disclosed in Patent Document 1. According to this technique, the imaging surface of the imaging device is divided into regions, and defective pixels are detected in the randomly selected divided regions, so that subsequent defective pixels can be detected quickly.
特開2003−8998号公報JP 2003-8998 A
しかしながら、上記の特許文献1の技術では、撮像面に規定された各分割領域をランダムに選択して後発的欠陥画素を検出するため、撮像素子の全画素についての確実な欠陥画素検出が保証されておらず、長期間にわたって未検出の後発的欠陥画素が存在する可能性がある。   However, in the technique of Patent Document 1 described above, each defective area defined on the imaging surface is randomly selected to detect a defective pixel later, so that reliable defective pixel detection is guaranteed for all the pixels of the imaging device. There may be late defective pixels that are not detected over a long period of time.
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える撮像装置の技術を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a technique of an imaging apparatus that can accurately detect subsequent defective pixels regarding all the pixels of the imaging element.
本発明の1つの側面は、撮像装置であって、撮像面で受光した光像に基づき画像信号を生成する撮像素子と、前記撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能な欠陥画素検出手段と、前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御手段と、撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御手段とを備え、前記検出制御手段は、前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第1選択制御手段と、前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第2選択制御手段とを有する。   One aspect of the present invention is an imaging apparatus, an imaging element that generates an image signal based on an optical image received on an imaging surface, and pixels that belong to each of a plurality of regions obtained by dividing the imaging surface into regions. A defective pixel detection means capable of detecting a defective pixel for each group; a recording control means for recording information on the latest execution time when the defective pixel was most recently detected for each of the plurality of regions in a predetermined recording means; A detection control unit configured to detect the defective pixel with respect to a selected region selected from the plurality of regions when the imaging device is started up, and the detection control unit includes the detection control unit in the plurality of regions. A first selection control unit configured to select a part of the plurality of regions as the selection region when there is no region in which a predetermined period has elapsed from the execution time; If there is a region in which the predetermined period of time has elapsed since the last execution time, a second selection control means for selecting a region in which the predetermined period of time as the selected area.
本発明によれば、撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の領域において、欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、複数の領域のうち一部の領域を選択領域として選択し、この選択領域に対して欠陥画素の検出を実行する。また、複数の領域において直近実行時点から所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を選択領域として選択し、この選択領域に対して欠陥画素の検出を実行する。その結果、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える。   According to the present invention, in a plurality of regions obtained by dividing the imaging surface of the image sensor, when there is no region in which a predetermined period has elapsed since the most recent execution time when the defective pixel was detected most recently, A part of the plurality of regions is selected as a selected region, and defective pixels are detected in the selected region. In addition, when there is an area in which a predetermined period has elapsed since the most recent execution time in a plurality of areas, an area in which the predetermined period has elapsed is selected as a selection area, and defective pixels are detected in this selection area To do. As a result, subsequent defective pixels can be accurately detected for all the pixels of the image sensor.
<撮像装置の外観構成>
図1および図2は、本発明の実施形態に係る撮像装置1の外観構成を示す図である。ここで、図1および図2は、それぞれ正面図および背面図を示している。
<Appearance configuration of imaging device>
1 and 2 are diagrams showing an external configuration of an imaging apparatus 1 according to the embodiment of the present invention. Here, FIGS. 1 and 2 show a front view and a rear view, respectively.
撮像装置1は、例えば一眼レフレックスタイプのデジタルスチルカメラとして構成されており、カメラボディ10と、カメラボディ10に着脱自在な撮影レンズとしての交換レンズ2とを備えている。   The imaging device 1 is configured as, for example, a single-lens reflex digital still camera, and includes a camera body 10 and an interchangeable lens 2 as a photographic lens that can be attached to and detached from the camera body 10.
図1において、カメラボディ10の正面側には、正面略中央に交換レンズ2が装着されるマウント部301と、マウント部301の右横に配置されたレンズ交換ボタン302と、把持可能とするためのグリップ部303とが設けられている。また、カメラボディ10には、その正面左上部に配置されたモード設定ダイアル305と、正面右上部に配置された制御値設定ダイアル306と、グリップ部303の上面に配置されたシャッターボタン307とが設けられている。   In FIG. 1, on the front side of the camera body 10, a mount portion 301 to which the interchangeable lens 2 is mounted at the center of the front surface, a lens exchange button 302 disposed on the right side of the mount portion 301, and a gripper. The grip part 303 is provided. In addition, the camera body 10 includes a mode setting dial 305 disposed at the upper left portion of the front surface, a control value setting dial 306 disposed at the upper right portion of the front surface, and a shutter button 307 disposed on the upper surface of the grip portion 303. Is provided.
また、図2において、カメラボディ10の背面側には、LCD(Liquid Crystal Display)311と、LCD311の左方に配置された設定ボタン群312と、LCD311の右方に配置された十字キー314と、十字キー314の中央に配置されたプッシュボタン315とが備えられている。また、カメラボディ10の背面側には、LCD311の上方に配設された光学ファインダ316と、光学ファインダ316の周囲を囲むアイカップ321と、光学ファインダ316の左方に配設されたメインスイッチ317とが備えられている。さらに、カメラボディ10の背面側には、光学ファインダ316の右方に配設された露出補正ボタン323およびAEロックボタン324と、光学ファインダ316の上方に配設されたフラッシュ部318および接続端子部319とが備えられている。   In FIG. 2, on the rear side of the camera body 10, there are an LCD (Liquid Crystal Display) 311, a setting button group 312 arranged on the left side of the LCD 311, and a cross key 314 arranged on the right side of the LCD 311. And a push button 315 disposed in the center of the cross key 314. On the back side of the camera body 10, an optical finder 316 disposed above the LCD 311, an eye cup 321 surrounding the optical finder 316, and a main switch 317 disposed on the left side of the optical finder 316. And are provided. Further, on the back side of the camera body 10, an exposure correction button 323 and an AE lock button 324 disposed on the right side of the optical finder 316, a flash unit 318 disposed above the optical finder 316, and a connection terminal unit. 319.
マウント部301には、装着された交換レンズ2との電気的接続を行うためコネクタ(不図示)や、機械的接続を行うためのカプラ(不図示)が設けられている。   The mount 301 is provided with a connector (not shown) for electrical connection with the mounted interchangeable lens 2 and a coupler (not shown) for mechanical connection.
レンズ交換ボタン302は、マウント部301に装着された交換レンズ2を取り外す際に押下されるボタンである。   The lens exchange button 302 is a button that is pressed when the interchangeable lens 2 attached to the mount unit 301 is removed.
グリップ部303は、ユーザが撮影時に撮像装置1を把持する部分であり、フィッティング性を高めるために指形状に合わせた表面凹凸が設けられている。なお、グリップ部303の内部には電池収納室およびカード収納室(不図示)が設けられている。電池収納室にはカメラの電源として電池が収納されており、カード収納室には撮影画像の画像データを記録するためのメモリカード90(図5参照)が着脱可能に収納されるようになっている。なお、グリップ部303には、当該グリップ部303をユーザが把持したか否かを検出するためのグリップセンサを設けるようにしても良い。   The grip part 303 is a part where the user grips the imaging device 1 at the time of photographing, and is provided with surface irregularities that match the finger shape in order to improve fitting properties. Note that a battery storage chamber and a card storage chamber (not shown) are provided inside the grip portion 303. A battery is housed in the battery compartment as a power source for the camera, and a memory card 90 (see FIG. 5) for recording image data of a photographed image is detachably housed in the card compartment. Yes. The grip unit 303 may be provided with a grip sensor for detecting whether or not the user has gripped the grip unit 303.
モード設定ダイアル305及び制御値設定ダイアル306は、カメラボディ10の上面と略平行な面内で回転可能な略円盤状の部材からなる。モード設定ダイアル305は、自動露出(AE)制御モードや自動焦点(AF;オートフォーカス)制御モード、或いは1枚の静止画を撮影する静止画撮影モードや連続撮影を行う連続撮影モード等の各種撮影モード、記録済みの画像を再生する再生モード等、撮像装置1に搭載されたモードや機能を択一的に選択するためのものである。一方、制御値設定ダイアル306は、撮像装置1に搭載された各種の機能に対する制御値を設定するためのものである。   The mode setting dial 305 and the control value setting dial 306 are made of a substantially disk-shaped member that can rotate in a plane substantially parallel to the upper surface of the camera body 10. The mode setting dial 305 is used for various shootings such as an automatic exposure (AE) control mode, an autofocus (AF) control mode, a still image shooting mode for shooting a single still image, and a continuous shooting mode for continuous shooting. This mode is used to selectively select a mode and a function installed in the imaging apparatus 1, such as a mode and a reproduction mode for reproducing a recorded image. On the other hand, the control value setting dial 306 is for setting control values for various functions installed in the imaging apparatus 1.
シャッターボタン307は、途中まで押し込んだ「半押し状態」の操作と、さらに押し込んだ「全押し状態」の操作とが可能とされた押下スイッチである。静止画撮影モードにおいてシャッターボタン307が半押しされると、被写体の静止画を撮影するための準備動作(露出制御値の設定や焦点検出等の準備動作)が実行され、シャッターボタン307が全押しされると、撮影動作(撮像素子101(図3参照)を露光する。そして、その露光によって得られた画像信号に所定の画像処理を施してメモリカード等に記録する一連の動作)が実行される。   The shutter button 307 is a push switch that can be operated in a “half-pressed state” that is pressed halfway and further operated in a “full-pressed state”. When the shutter button 307 is half-pressed in the still image shooting mode, a preparatory operation (preparation operation for setting an exposure control value, focus detection, etc.) for capturing a still image of the subject is executed, and the shutter button 307 is fully pressed. Then, a photographing operation (exposure of the image sensor 101 (see FIG. 3) is performed, and a series of operations for performing predetermined image processing on the image signal obtained by the exposure and recording the image signal on a memory card or the like) is executed. The
LCD311は、画像表示が可能なカラー液晶パネルを備えており、撮像素子101(図3参照)により撮像された画像の表示や記録済みの画像の再生表示等を行うとともに、撮像装置1に搭載される機能やモードの設定画面を表示するものである。なお、LCD311に代えて、有機ELやプラズマ表示装置を用いるようにしても良い。   The LCD 311 includes a color liquid crystal panel capable of displaying an image. The LCD 311 displays an image picked up by the image pickup device 101 (see FIG. 3), reproduces and displays a recorded image, and is mounted on the image pickup apparatus 1. Function and mode setting screen. Note that an organic EL or a plasma display device may be used instead of the LCD 311.
設定ボタン群312は、撮像装置1に搭載された各種の機能に対する操作を行うボタンである。この設定ボタン群312には、例えばLCD311に表示されるメニュー画面で選択された内容を確定するための選択確定スイッチ、選択取り消しスイッチ、メニュー画面の内容を切り替えるメニュー表示スイッチ、表示オン/オフスイッチ、表示拡大スイッチなどが含まれる。   The setting button group 312 is a button for performing operations on various functions installed in the imaging apparatus 1. The setting button group 312 includes, for example, a selection confirmation switch for confirming the content selected on the menu screen displayed on the LCD 311, a selection cancel switch, a menu display switch for switching the content of the menu screen, a display on / off switch, A display enlargement switch is included.
十字キー314は、円周方向に一定間隔で配置された複数の押圧部(図中の三角印の部分)を備える環状の部材を有し、各押圧部に対応して備えられた図示省略の接点(スイッチ)により押圧部の押圧操作が検出されるように構成されている。また、プッシュボタン315は、十字キー314の中央に配置されている。十字キー314及びプッシュボタン315は、撮影倍率の変更(交換レンズ2内のズームレンズのワイド方向やテレ方向への移動)、LCD311等に再生する記録画像のコマ送り、及び撮影条件(絞り値、シャッタスピード、フラッシュ発光の有無等)の設定等の指示を入力するためのものである。   The cross key 314 has an annular member having a plurality of pressing portions (triangle marks in the figure) arranged at regular intervals in the circumferential direction, and is not shown and provided corresponding to each pressing portion. The pressing operation of the pressing portion is detected by the contact (switch). The push button 315 is arranged at the center of the cross key 314. The cross key 314 and the push button 315 are used to change the shooting magnification (movement of the zoom lens in the interchangeable lens 2 in the wide direction or the tele direction), frame advance of the recorded image to be reproduced on the LCD 311 and the like, and shooting conditions (aperture value, For inputting settings such as shutter speed and flash emission.
光学ファインダ316は、被写体が撮影される範囲を光学的に表示するものである。すなわち、光学ファインダ316には、交換レンズ2からの被写体像が導かれており、ユーザは、この光学ファインダ316を覗くことにより、実際に撮像素子101にて撮影される被写体を視認することができる。   The optical viewfinder 316 optically displays a range where a subject is photographed. In other words, the subject image from the interchangeable lens 2 is guided to the optical finder 316, and the user can visually recognize the subject actually captured by the image sensor 101 by looking into the optical finder 316. .
メインスイッチ317は、左右にスライドする2接点のスライドスイッチからなり、左にセットすると撮像装置1の電源がオンされ、右にセットすると電源がオフされる。   The main switch 317 is a two-contact slide switch that slides to the left and right. When the switch is set to the left, the power of the imaging apparatus 1 is turned on, and when the switch is set to the right, the power is turned off.
フラッシュ部318は、ポップアップ式の内蔵フラッシュとして構成されている。一方、外部フラッシュ等をカメラボディ10に取り付ける場合には、接続端子部319を使用して接続する。   The flash unit 318 is configured as a pop-up built-in flash. On the other hand, when attaching an external flash or the like to the camera body 10, the connection is made using the connection terminal portion 319.
アイカップ321は、遮光性を有して光学ファインダ316への外光の侵入を抑制する「コ」字状の遮光部材である。   The eye cup 321 is a “U” -shaped light shielding member that has light shielding properties and suppresses intrusion of external light into the optical viewfinder 316.
露出補正ボタン323は、露出値(絞り値やシャッタースピード)を手動で調整するためのボタンであり、AEロックボタン324は、露出を固定するためのボタンである。   The exposure correction button 323 is a button for manually adjusting an exposure value (aperture value or shutter speed), and the AE lock button 324 is a button for fixing exposure.
交換レンズ2は、被写体からの光(光像)を取り込むレンズ窓として機能するとともに、当該被写体光をカメラボディ10の内部に配置されている撮像素子101に導くための撮影光学系として機能するものである。この交換レンズ2は、上述のレンズ交換ボタン302を押下操作することで、カメラボディ10から取り外すことが可能となっている。   The interchangeable lens 2 functions as a lens window that captures light (light image) from a subject, and also functions as a photographing optical system that guides the subject light to the image sensor 101 disposed inside the camera body 10. It is. The interchangeable lens 2 can be detached from the camera body 10 by depressing the lens interchange button 302 described above.
交換レンズ2は、光軸LT(図3参照)に沿って直列的に配置された複数のレンズからなるレンズ群を備えている。このレンズ群には、焦点の調節を行うためのフォーカスレンズと、変倍を行うためのズームレンズとが含まれており、それぞれ光軸LT(図3参照)方向に駆動されることで、変倍や焦点調節が行われる。また、交換レンズ2には、その鏡胴の外周適所に該鏡胴の外周面に沿って回転可能な操作環が備えられ、上記のズームレンズは、マニュアル操作或いはオート操作により、上記操作環の回転方向及び回転量に応じて光軸方向に移動し、その移動先の位置に応じたズーム倍率(撮影倍率)に設定される。   The interchangeable lens 2 includes a lens group including a plurality of lenses arranged in series along the optical axis LT (see FIG. 3). This lens group includes a focus lens for adjusting the focus and a zoom lens for zooming, and each lens group is driven in the direction of the optical axis LT (see FIG. 3) to change the focus. Double and focus adjustment is performed. The interchangeable lens 2 is provided with an operation ring that can rotate along the outer peripheral surface of the lens barrel at an appropriate position on the outer periphery of the lens barrel. The zoom lens can be operated by manual operation or automatic operation. It moves in the optical axis direction according to the rotation direction and rotation amount, and is set to a zoom magnification (imaging magnification) according to the position of the movement destination.
<撮像装置1の内部構成>
次に、撮像装置1の内部構成について説明する。図3は、撮像装置1の縦断面図である。図3に示すように、カメラボディ10の内部には、撮像素子101、ファインダ部102(ファインダ光学系)、ミラー部103、位相差AFモジュール107などが備えられている。
<Internal Configuration of Imaging Device 1>
Next, the internal configuration of the imaging apparatus 1 will be described. FIG. 3 is a longitudinal sectional view of the imaging apparatus 1. As shown in FIG. 3, the camera body 10 includes an image sensor 101, a finder unit 102 (finder optical system), a mirror unit 103, a phase difference AF module 107, and the like.
撮像素子101は、カメラボディ10に交換レンズ2が装着された場合の当該交換レンズ2が備えているレンズ群の光軸LT上において、光軸LTに対して垂直となる方向に配置されている。撮像素子101としては、例えばフォトダイオードを有して構成される複数の画素がマトリクス状に2次元配置された撮像面101f(図4参照)を備えたCMOSカラーエリアセンサ(CMOS型の撮像素子)が用いられる。撮像素子101は、R(赤)、G(緑)、B(青)に関する3原色フィルタがベイヤー配列で設けられており、交換レンズ2を通って受光された被写体光束に関するRGB各色成分のアナログの電気信号(画像信号)を生成し、RGB各色の画像信号として出力する。   The imaging element 101 is arranged in a direction perpendicular to the optical axis LT on the optical axis LT of the lens group included in the interchangeable lens 2 when the interchangeable lens 2 is attached to the camera body 10. . As the imaging device 101, for example, a CMOS color area sensor (CMOS type imaging device) including an imaging surface 101f (see FIG. 4) in which a plurality of pixels configured with photodiodes are two-dimensionally arranged in a matrix. Is used. The image sensor 101 is provided with three primary color filters for R (red), G (green), and B (blue) in a Bayer arrangement, and analog RGB components of RGB color components related to the subject luminous flux received through the interchangeable lens 2. Electric signals (image signals) are generated and output as RGB color image signals.
上記の光軸LT上において、被写体光をファインダ部102へ向けて反射される位置には、ミラー部103が配置されている。交換レンズ2を通過した被写体光は、ミラー部103(後述の主ミラー1031)によって上方へ反射される。交換レンズ2を通過した被写体光の一部はこのミラー部103を透過する。   On the optical axis LT, a mirror unit 103 is disposed at a position where subject light is reflected toward the viewfinder unit 102. The subject light that has passed through the interchangeable lens 2 is reflected upward by a mirror unit 103 (a main mirror 1031 described later). Part of the subject light that has passed through the interchangeable lens 2 passes through the mirror unit 103.
ファインダ部102は、ペンタプリズム105、接眼レンズ106及び光学ファインダ316を備えている。ペンタプリズム105は、断面5角形を呈し、その下面から入射された被写体光像を内部での反射によって当該光像の天地左右を入れ替えて正立像にするためのプリズムである。接眼レンズ106は、ペンタプリズム105により正立像にされた被写体像を光学ファインダ316の外側に導く。このような構成により、ファインダ部102は、本撮影前の撮影待機時において被写界を確認するためのファインダとして機能する。   The viewfinder unit 102 includes a pentaprism 105, an eyepiece lens 106, and an optical viewfinder 316. The pentaprism 105 has a pentagonal cross section, and is a prism for converting an object light image incident from the lower surface thereof into an upright image by changing the top and bottom of the light image by internal reflection. The eyepiece 106 guides the subject image that has been made upright by the pentaprism 105 to the outside of the optical viewfinder 316. With such a configuration, the finder unit 102 functions as a finder for confirming the object scene at the time of shooting standby before actual shooting.
ミラー部103は、主ミラー1031及びサブミラー1032から構成されており、主ミラー1031の背面側において、サブミラー1032が主ミラー1031の背面に向けて倒れるように回動可能に設けられている。主ミラー1031を透過した被写体光の一部はサブミラー1032によって反射され、この反射された被写体光は位相差AFモジュール107に入射される。   The mirror unit 103 includes a main mirror 1031 and a sub mirror 1032, and is provided on the back side of the main mirror 1031 so that the sub mirror 1032 is tilted toward the back of the main mirror 1031. Part of the subject light transmitted through the main mirror 1031 is reflected by the sub mirror 1032, and the reflected subject light enters the phase difference AF module 107.
上記のミラー部103は、所謂クイックリターンミラーとして構成されており、露光時(本撮影時)には図4に示すように回転軸1033を回動支点として上方に向けて跳ね上がる。この際、サブミラー1032は、上記のミラー部103がペンタプリズム105の下方位置で停止したときには、主ミラー1031と略平行となるように折り畳まれた状態となる。これにより、交換レンズ2からの被写体光がミラー部103によって遮られることなく撮像素子101上に届き、該撮影素子101が露光される。撮像素子101での撮像動作が終了すると、ミラー部103は元の位置(図3に示す位置)に復帰する。   The mirror unit 103 is configured as a so-called quick return mirror, and during exposure (main photographing), as shown in FIG. 4, the mirror unit 103 jumps upward with a rotating shaft 1033 as a rotation fulcrum. At this time, the sub mirror 1032 is folded so as to be substantially parallel to the main mirror 1031 when the mirror unit 103 stops at a position below the pentaprism 105. As a result, the subject light from the interchangeable lens 2 reaches the image sensor 101 without being blocked by the mirror 103, and the image sensor 101 is exposed. When the imaging operation with the imaging element 101 is completed, the mirror unit 103 returns to the original position (position shown in FIG. 3).
また、ミラー部103を本撮影(画像記録用の撮影)の前に図4に示すミラーアップの状態にすることにより撮像装置1は、撮像素子101で順次に生成される画像信号に基づき動画的態様で被写体をLCD311に表示するライブビュー(プレビュー)表示が可能である。すなわち、本撮影前の撮像装置1では、上記のライブビュー表示が行われる電子ファインダ(ライブビューモード)、または光学ファインダを選択して被写体の構図決めが可能となっている。なお、電子ファインダと光学ファインダとの切替えは、図2に示す切替スイッチ85を操作することにより行われる。   In addition, by setting the mirror unit 103 in the mirror-up state shown in FIG. 4 before the main shooting (shooting for image recording), the imaging device 1 can perform moving image processing based on image signals sequentially generated by the imaging device 101. Live view (preview) display in which the subject is displayed on the LCD 311 in a manner is possible. That is, in the imaging apparatus 1 before the actual photographing, the composition of the subject can be determined by selecting the electronic viewfinder (live view mode) in which the live view display is performed or the optical viewfinder. Note that switching between the electronic viewfinder and the optical viewfinder is performed by operating the changeover switch 85 shown in FIG.
位相差AFモジュール107は、被写体のピント情報を検出する測距素子等からなる所謂AFセンサとして構成されている。この位相差AFモジュール107は、ミラー部103の底部に配設されており、位相差検出方式の焦点検出(以下では「位相差AF」ともいう)により合焦位置を検出する。すなわち、撮影待機時においてユーザが光学ファインダ316で被写体を確認する場合には、図3に示すように主ミラー1031およびサブミラー1032がダウンされた状態で位相差AFモジュール107に被写体からの光が導かれる。そして、この位相差AFモジュール107からの出力に基づき交換レンズ2内のフォーカスレンズが駆動されてピント合わせが行われる。   The phase difference AF module 107 is configured as a so-called AF sensor including a distance measuring element that detects focus information of a subject. The phase difference AF module 107 is disposed at the bottom of the mirror unit 103 and detects a focus position by phase difference detection type focus detection (hereinafter also referred to as “phase difference AF”). That is, when the user checks the subject with the optical viewfinder 316 during shooting standby, the light from the subject is guided to the phase difference AF module 107 with the main mirror 1031 and the sub mirror 1032 down as shown in FIG. It is burned. Based on the output from the phase difference AF module 107, the focus lens in the interchangeable lens 2 is driven to perform focusing.
撮像素子101の光軸方向前方には、シャッタユニット40が配置されている。このシャッタユニット40は、上下方向に移動する幕体を備え、その開動作および閉動作により光軸LTに沿って撮像素子101に導かれる被写体光の光路開口動作および光路遮断動作を行うメカニカルフォーカルプレーンシャッタとして構成されている。なお、シャッタユニット40は、撮像素子101が完全電子シャッター可能な撮像素子である場合には省略可能である。   A shutter unit 40 is disposed in front of the image sensor 101 in the optical axis direction. The shutter unit 40 includes a curtain body that moves in the vertical direction, and a mechanical focal plane that performs an optical path opening operation and an optical path blocking operation of subject light guided to the image sensor 101 along the optical axis LT by the opening operation and the closing operation. It is configured as a shutter. The shutter unit 40 can be omitted when the image sensor 101 is an image sensor capable of complete electronic shutter.
<撮像装置1の機能構成>
図5は、撮像装置1の機能構成を示すブロック図である。
<Functional Configuration of Imaging Device 1>
FIG. 5 is a block diagram illustrating a functional configuration of the imaging apparatus 1.
図5に示すように、撮像装置1は、上述した交換レンズ2およびLCD311を備えるとともに、交換レンズ2を通った被写体光像が結像される撮像素子101を有している。   As shown in FIG. 5, the imaging apparatus 1 includes the above-described interchangeable lens 2 and the LCD 311, and includes an image sensor 101 on which a subject light image that has passed through the interchangeable lens 2 is formed.
撮像素子101は、上述のように撮像面101fで受光した被写体の光像に基づき光電変換作用によって本撮影画像に係る画像信号(記録用の画像信号)を生成する。そして、撮像素子101で生成された画像信号は、A/D変換回路等を備えたアナログフロントエンド(AFE)51に出力される。   The imaging element 101 generates an image signal (recording image signal) related to the actual captured image by photoelectric conversion based on the optical image of the subject received by the imaging surface 101f as described above. The image signal generated by the image sensor 101 is output to an analog front end (AFE) 51 including an A / D conversion circuit.
撮像素子101の各画素に蓄積された電荷信号(画素信号)は、インタレース方式による信号読出しが可能である。具体的には、図6に示すように撮像面101fにおいて奇数行の電荷信号を読出す第1フィールドFa(平行斜線部)の読出しを行った後に、第1フィールドFaの読出しが完了した後に、偶数行の電荷信号を読出す第2フィールドFbの読出しが行われる。   The charge signal (pixel signal) accumulated in each pixel of the image sensor 101 can be read out by an interlace method. Specifically, as shown in FIG. 6, after reading out the first field Fa (parallel hatched portion) for reading out the charge signal of the odd-numbered rows on the imaging surface 101 f, after reading out the first field Fa is completed, Reading of the second field Fb for reading the charge signal of the even-numbered row is performed.
また、撮像素子101については、4つの出力チャンネルから電荷信号を読出すことが可能である。具体的には、図7に示すように撮像面101fにおいて水平方向に分割された第1チャンネルHa、第2チャンネルHb、第3チャンネルHcおよび第4チャンネルHdごとに電荷信号の読出しを行えるようになっている。   For the image sensor 101, charge signals can be read from four output channels. Specifically, as shown in FIG. 7, the charge signal can be read for each of the first channel Ha, the second channel Hb, the third channel Hc, and the fourth channel Hd divided in the horizontal direction on the imaging surface 101f. It has become.
撮像素子101からアナログ電気信号として出力された画像信号は、AFE51によってデジタル画像データ(画像データ)に変換される。この画像データは、例えばCPUを備えて構成される信号処理部6に入力される。   An image signal output as an analog electrical signal from the image sensor 101 is converted into digital image data (image data) by the AFE 51. The image data is input to a signal processing unit 6 configured with a CPU, for example.
信号処理部6は、AFE51から出力された画像データに対してデジタル信号処理を行い、撮像画像に係る画像データを生成する。この信号処理部6では、画素補間処理や、画像データを構成する各画素データの黒レベルを基準の黒レベルに補正したり、画像のホワイトバランスを調整するなどの各種の画像処理が行われる。そして、各画像処理で生成される画像データを一時的に記憶するためのRAM52が信号処理部6とデータ伝送可能に設けられている。   The signal processing unit 6 performs digital signal processing on the image data output from the AFE 51 to generate image data related to the captured image. The signal processing unit 6 performs various kinds of image processing such as pixel interpolation processing, correcting the black level of each pixel data constituting the image data to a reference black level, and adjusting the white balance of the image. A RAM 52 for temporarily storing image data generated by each image processing is provided so as to be able to transmit data with the signal processing unit 6.
信号処理部6でデジタル信号処理が施された画像データは、LCD311に画像表示させることが可能である。この画像表示によって、撮影画像を確認するための確認表示(アフタービュー)、および撮影済みの画像を再生する再生表示等が実現される。また、信号処理部6においてデジタル信号処理が施されRAM52に一時記憶される画像データは、信号処理部6にてJPEG形式のデータ圧縮処理等が施された後、記録媒体としてのメモリカード90に記憶させることも可能である。また、信号処理部6は、計時機能を有しており、現在の日時を取得することが可能である。   The image data that has been subjected to the digital signal processing by the signal processing unit 6 can be displayed on the LCD 311. By this image display, confirmation display (after view) for confirming the captured image, reproduction display for reproducing the captured image, and the like are realized. Further, the image data temporarily subjected to digital signal processing in the signal processing unit 6 and temporarily stored in the RAM 52 is subjected to JPEG data compression processing or the like in the signal processing unit 6 and then stored in a memory card 90 as a recording medium. It is also possible to memorize. Further, the signal processing unit 6 has a timekeeping function, and can acquire the current date and time.
信号処理部6には、データ伝送可能にフラッシュROM53が接続している。そして、フラッシュROM53には、信号処理部6のCPUで実行されることにより後述の欠陥検出制御部61として機能する欠陥検出プログラムPGが格納されている。なお、メモリカード90に記録されている欠陥検出プログラムPGなどのプログラムデータを、フラッシュROM53にインストールすることで、そのプログラムを撮像装置1の動作に反映できる。   A flash ROM 53 is connected to the signal processing unit 6 so that data can be transmitted. The flash ROM 53 stores a defect detection program PG that functions as a defect detection control unit 61 described later by being executed by the CPU of the signal processing unit 6. In addition, by installing program data such as the defect detection program PG recorded in the memory card 90 in the flash ROM 53, the program can be reflected in the operation of the imaging apparatus 1.
信号処理部6は、撮像素子101で後発的に(例えば工場出荷後にユーザが撮像装置を購入してから)生じた異常な欠陥画素(後発的欠陥画素)の検出処理を実行・制御する欠陥検出制御部60と、撮像素子101で取得した画像信号に対して欠陥画素の補正を行う欠陥画素補正部65とを備えている。この欠陥画素補正部65では、後述するフラッシュROM53内の欠陥データ格納領域530に記憶された欠陥画素の位置データに基づき、例えば欠陥画素の周辺画素から出力された画素信号で画素補間する欠陥画素の補正処理が行われる。なお、欠陥検出制御部60および欠陥画素補正部65は、上述したCPUによって機能的に実現されている。   The signal processing unit 6 executes and controls detection of abnormal defective pixels (later defective pixels) that occur later on the image sensor 101 (for example, after the user purchases the imaging device after shipment from the factory). A control unit 60 and a defective pixel correction unit 65 that corrects a defective pixel with respect to an image signal acquired by the image sensor 101 are provided. In this defective pixel correction unit 65, based on the position data of the defective pixel stored in the defective data storage area 530 in the flash ROM 53, which will be described later, for example, the defective pixel to be interpolated with the pixel signal output from the peripheral pixel of the defective pixel. Correction processing is performed. The defect detection control unit 60 and the defective pixel correction unit 65 are functionally realized by the above-described CPU.
欠陥検出制御部60は、欠陥画素の検出処理を管理する検出処理管理部61と、欠陥画素の検出処理で必要な画素信号を撮像素子101から読み出す画素信号読出し部62と、欠陥画素の検出処理を実行する欠陥画素検出部63と、検出された欠陥画素の位置データ等を欠陥データ格納領域530に記録するデータ記録制御部64とを備えている。この画素信号読出し部62によって撮像素子101から読出された画素信号は、RAM52内の画素信号格納領域520に記憶されるとともに、この記憶された画素信号に対して欠陥画素検出部63による欠陥画素検出が行われる。なお、欠陥画素検出部63では、例えばシャッターユニット40を閉止状態にして撮像素子101で生成された各画素信号の平均レベルに対して、一定以上高いレベルの画素が欠陥画素(白欠陥の画素)として検出されることとなる。そして、欠陥画素検出部63においては、撮像面101fを領域分割して得られた8つの分割領域Eaa〜Ebd(図8参照)それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能である(後で詳述)。   The defect detection control unit 60 includes a detection processing management unit 61 that manages detection processing of defective pixels, a pixel signal reading unit 62 that reads out pixel signals necessary for detection processing of defective pixels from the image sensor 101, and detection processing of defective pixels. And a data recording control unit 64 for recording the detected defective pixel position data and the like in the defect data storage area 530. The pixel signal read from the image sensor 101 by the pixel signal reading unit 62 is stored in the pixel signal storage area 520 in the RAM 52, and defective pixel detection is performed by the defective pixel detection unit 63 on the stored pixel signal. Is done. In the defective pixel detection unit 63, for example, pixels with a level higher than a certain level with respect to the average level of each pixel signal generated by the image sensor 101 with the shutter unit 40 closed are defective pixels (white defect pixels). Will be detected. The defective pixel detection unit 63 can detect a defective pixel for each pixel group belonging to each of the eight divided regions Eaa to Ebd (see FIG. 8) obtained by dividing the imaging surface 101f. Details).
以上のような構成の欠陥検出制御部6による欠陥画素の検出処理を、以下で詳しく説明する。   A defective pixel detection process performed by the defect detection control unit 6 having the above-described configuration will be described in detail below.
<欠陥画素の検出処理について>
撮像装置1では、既述のように欠陥検出制御部6を用いて後発的欠陥画素の検出が可能である。そして、この欠陥画素の検出処理においては、撮像素子101の撮像面101fを分割し、分割された領域(以下では「分割領域」ともいう)ごとに実施することにより、各分割領域での欠陥画素検出時を分散させ、その処理負担を軽減しつつ、撮像装置1を使用する際には撮像素子101の全画素についての欠陥画素の検査を適切に完了している状態とする。
<Defect pixel detection processing>
In the imaging apparatus 1, it is possible to detect a defective pixel later using the defect detection control unit 6 as described above. In this defective pixel detection process, the imaging surface 101f of the image sensor 101 is divided and performed for each divided area (hereinafter also referred to as “divided area”), so that defective pixels in each divided area are obtained. While using the image pickup apparatus 1 while distributing the detection time and reducing the processing load, it is assumed that the inspection of defective pixels for all the pixels of the image pickup device 101 is properly completed.
具体的には、撮像素子101の撮像面101fを、上述した第1・第2フィールドFa、Fb毎に分割するとともに、第1〜第4チャンネルHa〜Hd毎にも分割して、図8に示す8つの分割領域Eaa、Eab、Eac、Ead、Eba、Ebb、Ebc、Ebdに区分けする。このように撮像素子101のインターレース読出しに関する各フィールドに基づいた領域分割および撮像素子101の各チャンネルに基づいた領域分割により撮像面101fを分割して8つの分割領域Eaa〜Ebdを得るようにすれば、各分割領域Eaa〜Ebdからの画素信号読出しを簡易に実現できることとなる。そして、欠陥画素検出を行ってから新たな欠陥画素が撮像素子101で発生する可能性が低い期間(例えば1週間)が経過するまでは、撮像装置1が起動される度に、その時点で欠陥画素検出の完了時点が最も古い1つの分割領域に対して欠陥画素検出を行う。このように分割領域毎に欠陥画素検出を行うことにより、撮像素子101の全画素に対しての一括した欠陥画素検出に比べて、画素信号格納領域520として使用するRAM52のメモリ領域を1/8程度に削減できるとともに、欠陥画素検出で必要な画素信号の読出し時間を約1/8に短縮できる。なお、各分割領域Eaa〜Ebdで欠陥画素検出の検査が完了すると、その分割領域で検出された欠陥画素の位置データ(以下では「欠陥画素データ」とも略称する)と検査完了日時とがデータ記録制御部64によりフラッシュROM53内の欠陥データ格納領域530に記憶される。すなわち、8つの分割領域Eaa〜Ebdそれぞれについて欠陥画素検出を直近に実行した時点(直近実行時点)に関する日時情報が欠陥データ格納領域530に記録されることとなる。   Specifically, the imaging surface 101f of the imaging device 101 is divided for each of the first and second fields Fa and Fb described above, and is also divided for each of the first to fourth channels Ha to Hd, as shown in FIG. The area is divided into eight divided areas Eaa, Eab, Eac, Ead, Eba, Ebb, Ebc, and Ebd. In this way, if the imaging surface 101f is divided by area division based on each field related to interlace reading of the image pickup element 101 and area division based on each channel of the image pickup element 101, eight divided areas Eaa to Ebd are obtained. Thus, pixel signal readout from each of the divided areas Eaa to Ebd can be easily realized. Then, every time the image pickup apparatus 1 is started up until a period (for example, one week) when it is less likely that a new defective pixel is generated in the image pickup device 101 after the defective pixel detection is performed, the defect is detected at that time. Defective pixel detection is performed on one divided region with the oldest pixel detection completion time. By performing defective pixel detection for each divided region in this way, the memory region of the RAM 52 used as the pixel signal storage region 520 is reduced to 1/8 compared to the collective defective pixel detection for all the pixels of the image sensor 101. It is possible to reduce the pixel signal readout time required for detecting defective pixels to about 1/8. When the inspection of defective pixel detection is completed in each of the divided areas Eaa to Ebd, the position data of the defective pixels detected in the divided areas (hereinafter also abbreviated as “defective pixel data”) and the inspection completion date and time are recorded. The data is stored in the defect data storage area 530 in the flash ROM 53 by the control unit 64. That is, the date / time information related to the time point when the defective pixel detection is most recently executed for each of the eight divided regions Eaa to Ebd (most recent execution time point) is recorded in the defect data storage region 530.
以上のような欠陥画素の検出処理を行う撮像装置1の具体的な動作を、次で説明する。   A specific operation of the imaging apparatus 1 that performs the defective pixel detection process as described above will be described below.
<撮像装置1の動作>
図9は、撮像装置1の基本的な動作を示すフローチャートである。この動作については、特に撮像装置1が起動した直後に行う欠陥画素の検出処理を示しており、欠陥検出プログラムPGが信号処理部60のCPUで実行されることによって実施される。
<Operation of Imaging Device 1>
FIG. 9 is a flowchart showing the basic operation of the imaging apparatus 1. This operation particularly shows a defective pixel detection process performed immediately after the imaging apparatus 1 is activated, and is executed by the defect detection program PG being executed by the CPU of the signal processing unit 60.
まず、メインスイッチ317に対するユ−ザ操作により電源がオンにされ撮像装置1が起動されると、各分割領域Eaa〜Ebd(図8)に関する欠陥画素検出の検査完了日時をフラッシュROM53内の欠陥データ格納領域530から検出処理管理部61に読出す。そして、検出処理管理部61は、信号処理部60の計時機能を用いて現在の日時を取得し、各分割領域Eaa〜Ebd毎に検査完了日時から現在までの経過時間を算出する(ステップS1)。   First, when the power is turned on by a user operation on the main switch 317 and the imaging apparatus 1 is activated, the inspection completion date and time of defective pixel detection relating to each of the divided areas Eaa to Ebd (FIG. 8) is displayed as defective data in the flash ROM 53. The data is read from the storage area 530 to the detection process management unit 61. And the detection process management part 61 acquires the present date and time using the time measuring function of the signal processing part 60, and calculates the elapsed time from the examination completion date and time to each divided area Eaa to Ebd (step S1). .
ステップS2では、欠陥画素検出の検査完了時点から一定期間(例えば1週間)が経過した分割領域があるかを検出処理管理部61で判定する。ここで、一定期間が経過した分割領域がある場合には、ステップS3に進み、そのような分割領域がない場合には、ステップS4に進む。   In step S <b> 2, the detection processing management unit 61 determines whether or not there is a divided region in which a certain period (for example, one week) has passed since the completion of the defective pixel detection inspection. Here, if there is a divided area for which a certain period has elapsed, the process proceeds to step S3, and if there is no such divided area, the process proceeds to step S4.
ステップS3では、欠陥画素検出の検査完了時点から一定期間が経過した分割領域全てを、検査対象領域として検出処理管理部61で設定する。すなわち、8つの分割領域Eaa〜Ebdにおいて直近に欠陥画素検出を実行した時点(直近実行時点)から一定期間が経過した分割領域がある場合には、該当する分割領域全てが検査対象領域(選択領域)として選択される。これにより、一定期間が経過し新たな欠陥画素が発生している可能性がある分割領域全てについての欠陥画素検出を撮像装置1の起動時に行える。その結果、起動された撮像装置1を実際に使用する時には撮像素子101の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行った状態で、欠陥画素補正を実施できることとなる。   In step S3, the detection processing management unit 61 sets all the divided areas for which a certain period has elapsed from the time when the defective pixel detection inspection is completed as the inspection target areas. That is, when there is a divided area in which a certain period has elapsed from the time when the defective pixel detection was most recently executed (the latest execution time) in the eight divided areas Eaa to Ebd, all the corresponding divided areas are the inspection target areas (selected areas). ) Is selected. As a result, defective pixel detection can be performed for all the divided regions where a certain period of time has elapsed and a new defective pixel may be generated when the imaging apparatus 1 is activated. As a result, when the activated imaging device 1 is actually used, defective pixel correction can be performed in a state where subsequent defective pixels are accurately detected for all the pixels of the image sensor 101.
ステップS4では、8つの分割領域Eaa〜Ebdのうち欠陥画素検出の検査完了日時、つまり欠陥画素検出を直近に実行した時点(直近実行時点)が最も古い分割領域を、検査対象領域として検出処理管理部61で設定する。すなわち、8つの分割領域Eaa〜Ebdにおいて欠陥画素検出の直近実行時点から一定期間が経過した分割領域がない場合には、8つの分割領域Eaa〜Ebdのうち一部の分割領域が検査対象領域(選択領域)として選択される。これにより、撮像装置1が起動される度に、撮像素子101に対する欠陥画素検出を徐々に進めることが可能となるため、一定期間が経過した分割領域の発生を抑制して、ステップS3で検査対象領域に設定される分割領域の数を低減できる。また、1つの分割領域だけが検査対象領域に設定されるため、検査時間が短くて済み、これにより撮像装置1の起動完了が遅延するのを最小限に抑えることができる。その結果、ユーザがシャッターチャンスを逃す確率を小さくできることとなる。   In step S4, a detection process management is performed by setting the inspection completion date and time of defective pixel detection among the eight divided areas Eaa to Ebd, that is, the divided area having the oldest time when the defective pixel detection was most recently executed (most recent execution time) as the inspection target area. Set in section 61. That is, in the eight divided areas Eaa to Ebd, when there is no divided area for which a certain period has elapsed since the most recent execution time of defective pixel detection, some of the eight divided areas Eaa to Ebd are inspected areas ( Selected area). Thereby, since it becomes possible to gradually advance the defective pixel detection for the image sensor 101 each time the image pickup apparatus 1 is activated, the generation of the divided regions after a certain period of time is suppressed, and the inspection target is detected in step S3. The number of divided areas set in the area can be reduced. In addition, since only one divided region is set as the inspection target region, the inspection time can be shortened, and thereby the delay in the completion of the startup of the imaging apparatus 1 can be minimized. As a result, the probability that the user misses a photo opportunity can be reduced.
ステップS5では、ステップS3またはステップS4で設定された検査対象領域に属する画素群で生成される画素信号を撮像素子101から読出すために、その検査対象領域に関する撮像素子101の駆動モードと読出しモードとを設定する。例えば、図8に示す分割領域Eabが検査対象領域に設定されている場合には、第1フィールドFa(図6)のうちの第2チャンネルHb(図7)が読出されるように撮像素子101についての設定が行われる。   In step S5, in order to read out from the image sensor 101 the pixel signals generated in the pixel group belonging to the inspection target area set in step S3 or step S4, the drive mode and readout mode of the image sensor 101 related to the inspection target area. And set. For example, when the divided area Eab shown in FIG. 8 is set as the inspection target area, the image sensor 101 is read so that the second channel Hb (FIG. 7) of the first field Fa (FIG. 6) is read. Settings for are made.
ステップS6では、ステップST5で設定された駆動モードおよび読出しモードに従って、例えばシャッターユニット40を閉じた状態で生成された検査対象領域の画素信号を撮像素子101から画素信号読出し部62に読出す。ここで、画素信号読出し部62に読み出された画素信号は、RAM52内の画素信号格納領域520に記憶される。   In step S6, in accordance with the drive mode and read mode set in step ST5, for example, the pixel signal of the inspection target area generated with the shutter unit 40 closed is read from the image sensor 101 to the pixel signal read unit 62. Here, the pixel signal read by the pixel signal reading unit 62 is stored in the pixel signal storage area 520 in the RAM 52.
ステップS7では、画素信号格納領域520に格納されている画素信号に基づき、検査対象領域に対する欠陥画素検出を欠陥画素検出部63で行い、欠陥データ格納領域530の欠陥画素データを更新する。すなわち、撮像装置1が起動される際には、8つの分割領域Eaa〜Ebdから選択された検査対象領域(選択領域)に対しての欠陥画素検出が欠陥画素検出部63で実行され、その検出結果が、データ記録制御部64により欠陥データ格納領域530に記録される。   In step S7, based on the pixel signal stored in the pixel signal storage area 520, the defective pixel detection unit 63 performs defective pixel detection for the inspection target area, and updates the defective pixel data in the defect data storage area 530. That is, when the imaging device 1 is activated, the defective pixel detection unit 63 performs defective pixel detection on the inspection target region (selected region) selected from the eight divided regions Eaa to Ebd, and the detection is performed. The result is recorded in the defect data storage area 530 by the data recording control unit 64.
ステップS8では、検査対象領域に設定され欠陥画素検出が行われた分割領域の検査完了日時を現在の日時に更新する。具体的には、フラッシュROM53内の欠陥データ格納領域530に格納されている分割領域毎の検査完了日時を書き換える。   In step S8, the inspection completion date and time of the divided region that is set as the inspection target region and in which defective pixel detection is performed is updated to the current date and time. Specifically, the inspection completion date and time for each divided area stored in the defect data storage area 530 in the flash ROM 53 is rewritten.
以上のような撮像装置1の動作により、撮像装置1の起動時に欠陥画素検出の検査完了時点から一定期間が経過した分割領域全てを検査対象領域に設定して欠陥画素検出を行うため、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える。これにより、ユーザが撮像装置1を使用する際には、撮像素子101の後発的欠陥画素で生成される画素信号に対して適切な欠陥画素補正を行えることとなる。   By performing the operation of the imaging apparatus 1 as described above, the defective pixel detection is performed by setting all the divided areas in which a certain period has elapsed from the completion of the inspection of the defective pixel detection when the imaging apparatus 1 is started as the inspection target area. The subsequent defective pixels can be accurately detected for all the pixels. As a result, when the user uses the imaging apparatus 1, appropriate defective pixel correction can be performed on a pixel signal generated by a subsequent defective pixel of the imaging element 101.
<変形例>
・上記の実施形態におけるステップS4(図9)の動作については、検査完了日時が最も古い分割領域を検査対象領域として設定するのは必須でなく、任意に選択された1つの分割領域を検査対象領域として設定するようにしても良い。また、分割領域に係る分割数より少ない2以上の分割領域を検査対象領域として設定しても良い。
<Modification>
In the operation of step S4 (FIG. 9) in the above embodiment, it is not essential to set the divided area with the oldest inspection completion date as the inspection target area, and one arbitrarily selected divided area is to be inspected. You may make it set as an area | region. Further, two or more divided areas smaller than the number of divisions related to the divided areas may be set as inspection target areas.
・上記の実施形態においては、撮像面101fを8つの分割領域Eaa〜Ebdに分割するのは必須でなく、インターレース読出しに関する各フィールドに基づいた領域分割により撮像面101fを2つに分割しても、撮像素子101の各チャンネルに基づいた領域分割により撮像面101fを4つに分割するようにしても良い。また、フィールドやチャンネルに基づく領域分割に拘泥されず、撮像面101fを2以上の領域に分割しても良い。   In the above embodiment, it is not essential to divide the imaging surface 101f into the eight divided areas Eaa to Ebd, and even if the imaging surface 101f is divided into two by area division based on each field related to interlace reading. The image pickup surface 101f may be divided into four by area division based on each channel of the image pickup element 101. Further, the imaging surface 101f may be divided into two or more areas without being limited to the area division based on the field or channel.
本発明の実施形態に係る撮像装置1の外観構成を示す図である。1 is a diagram illustrating an external configuration of an imaging apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. 撮像装置1の外観構成を示す図である。1 is a diagram illustrating an external configuration of an imaging apparatus 1. FIG. 撮像装置1の縦断面図である。1 is a longitudinal sectional view of an imaging apparatus 1. FIG. ミラー部103におけるミラーアップの状態を示す図である。It is a figure which shows the state of the mirror up in the mirror part. 撮像装置1の機能構成を示すブロック図である。3 is a block diagram illustrating a functional configuration of the imaging apparatus 1. FIG. 撮像面101fに規定される第1フィールドFaおよび第2フィールドFbを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 1st field Fa and the 2nd field Fb prescribed | regulated on the imaging surface 101f. 撮像面101fに規定される各チャンネルHa〜Hdを説明するための図である。It is a figure for demonstrating each channel Ha-Hd prescribed | regulated on the imaging surface 101f. 撮像面101fに規定される8つの分割領域Eaa〜Ebdを説明するための図である。It is a figure for demonstrating eight division area Eaa-Ebd prescribed | regulated on the imaging surface 101f. 撮像装置1の基本的な動作を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing a basic operation of the imaging apparatus 1.
符号の説明Explanation of symbols
1 撮像装置
2 交換レンズ
6 信号処理部
10 カメラボディ
52 RAM
53 フラッシュROM
60 欠陥検出制御部
61 検出処理管理部
62 画素信号読出し部
63 欠陥画素検出部
64 データ記録制御部
65 欠陥画素補正部
90 メモリカード
101 撮像素子
101f 撮像面
520 画素信号格納領域
530 欠陥データ格納領域
Eaa〜Ebd 分割領域
Fa 第1フィールド
Fb 第2フィールド
Ha 第1チャンネル
Hb 第2チャンネル
Hc 第3チャンネル
Hd 第4チャンネル
PG 欠陥検出プログラム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Imaging device 2 Interchangeable lens 6 Signal processing part 10 Camera body 52 RAM
53 Flash ROM
60 Defect Detection Control Unit 61 Detection Process Management Unit 62 Pixel Signal Reading Unit 63 Defective Pixel Detection Unit 64 Data Recording Control Unit 65 Defective Pixel Correction Unit 90 Memory Card 101 Imaging Element 101f Imaging Surface 520 Pixel Signal Storage Area 530 Defect Data Storage Area Eaa ~ Ebd Divided area Fa First field Fb Second field Ha First channel Hb Second channel Hc Third channel Hd Fourth channel PG Defect detection program

Claims (5)

  1. 撮像面で受光した光像に基づき画像信号を生成する撮像素子と、
    前記撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能な欠陥画素検出手段と、
    前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御手段と、
    撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御手段と、
    を備え、
    前記検出制御手段は、
    前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第1選択制御手段と、
    前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第2選択制御手段と、
    を有する撮像装置。
    An image sensor that generates an image signal based on an optical image received on the imaging surface;
    A defective pixel detection means capable of detecting a defective pixel for each pixel group belonging to each of a plurality of regions obtained by dividing the imaging surface into regions;
    Recording control means for causing a predetermined recording means to record information related to the most recent execution time at which the defective pixel was most recently detected for each of the plurality of areas;
    Detection control means for executing detection of the defective pixel with respect to a selected region selected from the plurality of regions when the imaging device is activated;
    With
    The detection control means includes
    A first selection control unit that selects a part of the plurality of regions as the selection region when there is no region in which the predetermined period has elapsed since the most recent execution time point in the plurality of regions;
    A second selection control means for selecting, as the selection area, an area in which the predetermined period has elapsed when there is an area in which the predetermined period has elapsed since the most recent execution time in the plurality of areas;
    An imaging apparatus having
  2. 前記複数の領域は、前記撮像素子のインターレース読出しに関する各フィールドに基づいた領域分割および/または前記撮像素子の各チャンネルに基づいた領域分割により、前記撮像面を分割して得られる請求項1の撮像装置。   2. The imaging according to claim 1, wherein the plurality of areas are obtained by dividing the imaging surface by area division based on each field related to interlace reading of the image sensor and / or area division based on each channel of the image sensor. apparatus.
  3. 前記第1選択制御手段は、
    前記複数の領域のうち前記直近実行時点が最も古い領域を前記一部の領域として設定する手段、
    を有する請求項1の撮像装置。
    The first selection control means includes
    Means for setting, as the partial area, an area having the oldest execution time point among the plurality of areas;
    The imaging apparatus according to claim 1, comprising:
  4. 撮像装置に設けられる撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出を行う欠陥画素検出工程と、
    前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御工程と、
    前記撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御工程と、
    を備え、
    前記検出制御工程は、
    前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第1選択制御工程と、
    前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第2選択制御工程と、
    を有する欠陥画素検出方法。
    A defective pixel detection step of detecting a defective pixel for each pixel group belonging to each of a plurality of regions obtained by dividing an imaging surface of an imaging element provided in an imaging device;
    A recording control step of causing a predetermined recording unit to record information on the latest execution time at which the detection of the defective pixel was executed most recently for each of the plurality of regions;
    A detection control step of detecting the defective pixel with respect to a selected region selected from the plurality of regions when the imaging device is activated;
    With
    The detection control step includes
    A first selection control step of selecting a part of the plurality of regions as the selection region when there is no region in which the predetermined period has elapsed since the most recent execution time in the plurality of regions;
    A second selection control step of selecting, as the selection area, an area in which the predetermined period has elapsed when there is an area in which the predetermined period has elapsed since the most recent execution time in the plurality of areas;
    A defective pixel detection method comprising:
  5. 撮像装置に内蔵されたコンピュータに、
    前記撮像装置に設けられる撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出を行う欠陥画素検出工程と、
    前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御工程と、
    前記撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御工程と、
    を実行させ、
    前記検出制御工程は、
    前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第1選択制御工程と、
    前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第2選択制御工程と、
    を有する欠陥画素検出プログラム。
    In the computer built into the imaging device,
    A defective pixel detection step of detecting a defective pixel for each pixel group belonging to each of a plurality of regions obtained by dividing an imaging surface of an imaging element provided in the imaging device;
    A recording control step of causing a predetermined recording unit to record information on the latest execution time at which the detection of the defective pixel was executed most recently for each of the plurality of regions;
    A detection control step of detecting the defective pixel with respect to a selected region selected from the plurality of regions when the imaging device is activated;
    And execute
    The detection control step includes
    A first selection control step of selecting a part of the plurality of regions as the selection region when there is no region in which the predetermined period has elapsed since the most recent execution time in the plurality of regions;
    A second selection control step of selecting, as the selection area, an area in which the predetermined period has elapsed when there is an area in which the predetermined period has elapsed since the most recent execution time in the plurality of areas;
    A defective pixel detection program.
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JP2013075083A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Fujifilm Corp Radiography apparatus
JP2014160943A (en) * 2013-02-20 2014-09-04 Xacti Corp Electronic camera
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US9918028B2 (en) 2015-09-10 2018-03-13 Canon Kabushiki Kaisha Image capturing apparatus comprising a plurality of processing circuits for correcting defective pixel by using information of defective pixel detected in different frames and control method for the same

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