JP2009018109A - X線診断装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】二次元撮像装置を小型化しつつ、増幅回路や電源回路の温度変化若しくは環境温度の変化が半導体層に与える悪影響を抑制する。
【解決手段】ベース基板5の内部に流路51を設け、表面にアクティブマトリクス基板3を配置する。ベース基板5の裏面に肉薄部53を設け、そこに増幅回路4を素子が外側を向くように配置するとともに、グラファイトシートなどの熱伝導手段6によって、増幅回路4と肉薄部以外の部分52とを熱的に接続する。また、電源回路基板11を、肉薄部以外の部分52に配置する。流路51を通る温度制御用の熱媒体によって、増幅回路4及び電源回路基板11で生じた熱を排熱するとともに、半導体層2の温度変化を抑制する。
【選択図】図4

Description

本発明は、X線等の放射線、可視光線、赤外線などを受けて画像を検出する撮像装置に関し、特に内部の温度制御に関する。
従来技術の撮像装置を図6に示す。
入射した放射線を電荷情報に変換するための半導体層102が、当該電荷情報を読み出すためのアクティブマトリクス基板103上に蒸着されている。また、半導体層102上に、バイアス電極119が形成されている。更に、アクティブマトリクス基板103は、ベース基板105上に緩衝層118を介して配置されている。
半導体層102で生じた電荷情報は、アクティブマトリクス基板103によって読み出され、アクティブマトリクス基板103に接続されたTABフィルム108上に搭載された増幅回路104によって電圧に変換される。変換された電圧は、画像信号処理回路基板115によってデジタル信号に変換される。
一方、ベース基板105の裏面には、電源回路基板111が配置されており、DC−DCコンバータ112によって生成した種々のDC電圧を、アクティブマトリクス基板103及びその周辺回路に対して供給している。
ここで、増幅回路104及び、電源回路基板101に搭載されているDC−DCコンバータ112は、動作時に相当の熱を発生する。発生した熱を排熱して温度を略一定に保つべく、増幅回路104及び電源回路基板101を構成するDC−DCコンバータ112の表面に、ヒートパイプ151が接続されている。(例えば特許文献1参照)。
特開平11−345956号公報
従来の構成によれば、撮像装置の横幅が広くなり、小型化を阻害する要因になっていた。
また、増幅回路104及び、電源回路基板101を構成する半導体素子を恒温化するために、複数の場所にヒートパイプ151を配置する必要があり、部品点数の増大に繋がっていた。
更に、半導体層102と増幅回路104とが近接しているため、半導体層102の温度が上昇する恐れがあった。アモルファスセレンを主成分とする材料は、40℃以上になると再結晶化することが知られており、当該材料を半導体層102として採用した場合にはその温度上昇が問題となっていた。
本発明は、少ない部品点数で、必要な部品の恒温化を図ることを目的とするものである。
上述の課題を解決するために、本発明の撮像装置は、光または放射線情報を電荷情報に変換するための半導体層と、電荷情報を読み出すためのアクティブマトリクス基板と、読み出された電荷情報を増幅して電圧に変換する増幅回路と、表面にアクティブマトリクス基板を、裏面に増幅回路を配置するとともに、内部に流路が設けられたベース基板とを有することを特徴とする。
本発明においては、ベース基板の裏面に肉薄部が形成され、当該肉薄部に増幅回路が配置されるとともに、当該肉薄部以外の部分に流路が形成されていることが望ましい。また、肉薄部に増幅回路を配置した場合には、増幅回路と肉薄部以外の部分との間に熱伝導手段を設けることが望ましい。また、増幅回路と肉薄部以外の部分との間に熱伝導手段を設けた場合には、増幅回路と、肉薄部との間に、断熱手段を設けることが望ましい。
また、増幅回路は、アクティブマトリクス基板に接続されたTABフィルムに対して、ベース基板の肉薄部と反対側に位置するように搭載されていることが望ましい。その場合には、断熱手段が弾性体であることが望ましい。
更に、本発明においては、肉薄部以外の部分に電源回路基板を配置することとしてもよい。
本発明の撮像装置は、増幅回路と半導体層との間に、内部に流路を有するベース基板が介在している。増幅回路は、ベース基板を介して、流路を流れる媒体をとの間で熱交換される。換言すれば、増幅回路で発生した熱が、半導体層へ伝達しにくい。よって、増幅回路で発生した熱に起因する半導体層の温度上昇を抑制することができる。同様に、半導体層と流路を流れる媒体との間でも熱交換が行われる。従って、環境温度など他の要因による半導体層の温度変化を抑制することができる。また、ベース基板の周辺に恒温化手段を設ける必要が無く、省スペース化を図ることができる。
ここで、アクティブマトリクス基板から増幅回路へは、微弱な電荷情報が伝達される。この線路長が長くなると、外部ノイズが電荷情報に重畳しやすくなる。
この点、ベース基板の裏面形成された肉薄部に増幅回路が配置されていれば、肉薄にした分だけアクティブマトリクス基板と増幅回路との線路長を短縮することができる。従って、外部ノイズの影響を低減することができる。
また、肉薄部に増幅回路を配置し、かつ肉薄部以外の部分に流路を配置すると、増幅回路と半導体層との距離が近づくことに加え、増幅回路と半導体層との間に流路が存在しなくなる。その結果、増幅回路と流路を流れる媒体との間における熱交換量が低下し、増幅回路と半導体層との間における熱交換量が増大する。
この点、増幅回路と肉薄部以外の部分との間に熱伝導手段を設けることとすれば、熱伝達手段を介して、流路近傍へ熱を伝達することが可能となる。従って、相対的に半導体層へ伝達される熱量を低減させることが可能となる。
また、増幅回路と肉薄部との間に断熱手段を設けることとすれば、半導体層へ伝達される熱量を更に低減させることができる。
TABフィルム上に半導体素子を搭載した場合には、搭載面の裏面がモールドされる。そのモールドは半導体素子に比べて強度が低い。従って、アクティブマトリクス基板に接続されたTABフィルムを有し、TABフィルムに対して前記肉薄部と反対側に位置するように増幅回路をTABフィルムに搭載すれば、増幅回路をベース基板の裏面に配置したときに、より強度の強い半導体素子が外面を向くことになり、外部からの圧力・衝撃等によりモールド部が破損するのを防止することができる。
また、増幅回路と肉薄部との間に設けた断熱手段を弾性体により構成すれば、肉薄部又は断熱手段との衝突によるモールド部の破損を防止することができる。
また、撮像装置は、増幅回路以外に電源回路に代表される他の発熱源を内蔵することがあり、これらの発熱源と、半導体層との熱交換を抑制することが望ましい。この点、電源回路基板を、ベース基板における肉薄部以外の部分に配置することとすれば、電源回路基板と半導体層との間に流路が介在することになる。その結果、電源回路基板と半導体層との熱交換量を抑制することができる。
なお、増幅回路の場合と異なり、電源回路基板とアクティブマトリクス基板を結ぶ線路長が多少長くなったとしても、外部ノイズの影響をそれ程考慮しなくて良い。
以下本発明に係る撮像装置の実施例について説明する。
(実施例1)
図1(a)は、本発明の第1の実施例に係る撮像装置1を、放射線の入射面を正面としたときの背面から見た図である。また、図2(b)は、図1(a)におけるA−A’断面図である。
図1(b)に示すように、内部に流路としての銅管51を有するベース基板5上に緩衝層18を介してアクティブマトリクス基板3が配置されている。
ベース基板5は、熱伝導率が高く、かつ内部に必要な銅管51を配置できる最小限の厚みであっても、アクティブマトリクス基板3より高い剛性を実現できる材質で形成されている。具体的には、アルミニウム若しくはアルミニウムを主成分とする合金が好ましい。熱伝導率が高い材質とは、少なくとも、空気よりも熱伝導率が高い材質を言う。
また、緩衝層18は、シリコン系樹脂組成物等の樹脂を主材としたゲル状物質が例示され、その他、エポキシやアクリルに代表される樹脂板材料や、スポンジ等の緩衝材料を使用しても良い。
なお、緩衝層18を省略して、ベース基板5にアクティブマトリクス基板3を直接接触させることとしても良い。ただし、緩衝層18を設けることにより、ベース基板5とアクティブマトリクス基板3との熱膨張率が異なる場合における温度変化若しくは振動等の要因によって、アクティブマトリクス基板3に生じる応力を吸収することが可能となる点で好ましい。更に、ベース基板5とアクティブマトリクス基板3との間の熱抵抗を低減するような緩衝層18を介在させることで、安定温度に達するまでの時間を短縮することができる。
当該ベース基板5の内部には、公知の摩擦拡散接合技術により、銅管51が埋め込まれている。このように流路をより導電性の高い銅管51により形成し、銅管51とベース基板5とを摩擦拡散接合により密に接触させることにより、流路内部を流れる温度制御用の熱媒体とベース基板5との間で効率よく熱交換を行わせることが可能となる。
なお、流路を他の方法で形成してもよく、単にベース基板5の内部に空洞を設けることとしても、流路として機能する。
また、銅管51の両端は、それぞれ、流路入口54及び流路出口55としてベース基板の裏面に突出しており、温度制御用の熱媒体を供給するためのチューブ(図示省略)が接続される。チューブには、液体循環装置(図示省略)が接続される。当該液体循環装置は、恒温化された熱媒体を循環させる。
ここで、恒温化とは、液体循環装置を含む循環流路のいずれかの場所において、熱媒体の温度が略一定になるようにすることをいう。
本実施例では、温度制御用の熱媒体として恒温化されたものを例示したが、撮像装置1内のいずれかの場所に温度センサを設け、当該温度センサで計測された温度が略一定になるように、熱媒体液体の温度を制御することとしても良い。このような構成は、既知のフィードバック制御により実現することができる。
更に、アクティブマトリクス基板3の上には、入射した放射線を電荷に変換する半導体層2が積層されている。半導体層2は、アモルファスセレンを主成分とする半導体厚膜を、アクティブマトリクス基板3の上に蒸着することにより形成している。
ただし、半導体層2の材質及び形成方法は、種々選択可能である。例えば、半導体層2として、CsI、CdZnTe、CdTe等を選択可能であり、更に放射線を一端光に変換した後、フォトダイオードで電荷情報に変換する方式(間接変換型)の撮像装置であっても良い。その他、使用環境若しくは撮像装置に内蔵される各種熱源の温度変化によって、性能に影響が及ぶ恐れのある全ての半導体層について、本発明を適用可能である。
また、半導体層2の上には、バイアス電圧を供給するためのバイアス電極19が形成されている。
なお、アクティブマトリクス基板3、半導体層2、バイアス電極19のそれぞれの間に、他の層が介在していてもよい。例えば、半導体層2の両面又は片面に、暗電流低減のためのブロッキング層を設ける構成についても、本発明を適用することができる。
次に、アクティブマトリクス基板3、及びアクティブマトリクス基板3に接続される各種回路について説明する。
図2に示すように、アクティブマトリクス基板3は、複数の画素電極Pとスイッチング素子SWがマトリクス状に配置されている。画素電極Pは、スイッチング素子SWのソース端子Sに接続されるとともに、グランド電極GNDとの間に設けられた誘電体層との関係により、容量Cpを形成する。当該容量Cpは、画素電極Pから収集した電荷を蓄積する。
また、アクティブマトリクス基板3は、同一行に属するスイッチング素子SWのゲート端子Gに接続されたゲート線LGを行の数だけ有している。更に、同一列に属するスイッチング素子SWのドレイン端子Dに接続されたデータ線LDを列の数だけ有している。
当該複数のデータ線LDが、図1におけるTABフィルム8aを介して増幅回路4に接続されている。更に、増幅回路4は、TABフィルム8aを介して画像信号処理回路基板15と接続されている。同様に、当該複数のゲート線LGが、TABフィルム8bを介してゲート駆動回路9に接続されている。更に、当該ゲート駆動回路9は、ゲート制御回路10に接続されている。
本実施例1では、アクティブマトリクス基板3と、増幅回路4とをTABフィルム8aで接続することとしたが、電荷信号を伝達することができるものであればよい。例えば単にフラットケーブルを用いて、アクティブマトリクス基板3と増幅回路4を配した基板とを接続することとしても良い。
ゲート駆動回路9は、ゲート制御回路10によって選択されたゲート線LGをアクティブにする。これにより、当該ゲート線に接続された複数のスイッチング素子SWがオンになる。その結果、容量Cpに蓄積された電荷が、スイッチング素子SWを通じて、データ線LDに流入する。
増幅回路4は、データ線LDに流入した電荷を増幅して電圧に変換する。当該変換された電圧は、画像信号処理回路基板15により逐次読み込まれ、デジタル値に変換される。
これら一連の動作を、駆動するゲート線LGを順次走査しながら実行することにより、全ての画素について電荷情報に対応したデジタル値を収集することができる。収集したデジタル値に基づいて、X線撮影画像を得ることができる。
ここで、増幅回路4及び画像信号処理回路基板15は、ベース基板5の裏面に配置されている。このとき、発熱の大きい増幅回路4は、ベース基板5に密着配置されている。従って、増幅回路4をベース基板5の側面に配置した場合に比べ、半導体層2と増幅回路4との距離を大きくとることができる。その結果、増幅回路4により生じた熱により、半導体層2が劣化することを防止することができる。更に、側面に増幅回路4を配置しないので、撮像装置1の外形を小さくすることができる。
更に、ベース基板5を介して、増幅回路4と銅管51内を通る温度制御用の熱媒体との間で熱交換が行われるため、増幅回路4の表面温度を銅管51内の流体の温度に略維持することができ、増幅回路4の温度変化による特性の変化を抑制することができる。
なお、画像信号処理回路基板15にも発熱の大きい素子や、温度変化の影響を受けやすい素子が搭載されている場合には、それらの素子と、ベース基板5とを、熱的に接続することが望ましい。
本実施例1においては、増幅回路4と同様に、ゲート駆動回路9をベース基板5に接触させている。ゲート駆動回路9は、スイッチング素子に供給するゲート電圧をオンオフする機能しか有さないため、温度上昇によるゲート駆動回路9の特性への影響は小さい。ただし、ゲート駆動回路9をベース基板5の側面に配置した場合に比べ、半導体層2とゲート駆動回路9との距離を大きくとることができるため、ゲート駆動回路9により生じた熱により、半導体層2が劣化することを防止することができる。更に、側面にゲート駆動回路9を配置しないので、撮像装置1の外形を小さくすることができる。
ただし、当該ゲート駆動回路9の配置構成は、本発明の必須の構成ではない。
なお、図1において、TABフィルム8a、増幅回路4、画像信号処理回路基板15は、それぞれ同じものを左右に配置しているため、左側の符合を省略している。同様に増幅回路4はTABフィルム8a上に複数搭載された増幅回路4は、最上部のものにのみ符号を付し、その他の符号を省略している。ゲート駆動回路9についても、最右のものにのみ符号を付し、他を省略している。
また、TABフィルム8a、増幅回路4、画像信号処理回路基板15を、それぞれ同じものを左右に配置しているのは、検出エリアを左右に分割して並列で電荷情報を読み出すためである。従って、片方に全ての増幅回路を4と画像信号処理回路基板15を配置してもよい。ただし、左右に分割して配置することとすれば、発熱体の配置を分散させることができるため、局所的な温度上昇による半導体層2への悪影響が低減される。
更に、図1に示すように、ベース基板5の裏面には、電源回路基板11が配置されている。当該電源回路基板11上には、DC−DCコンバータ12が搭載されている。DC−DCコンバータ12は、ベース基板5に接触されていることにより、動作時に生じた熱を排熱しやすくしている。
なお、DC−DCコンバータ12は、必ずしもベース基板5に接触されている必要はなく。他の熱伝導性の高い部材を介して、ベース基板5に接続してもよい。また、電源回路基板11に搭載する素子として、DC−DCコンバータ12を例示したが、その他の素子についても、同様の構成を採用することができる。更に、本発明において、電源回路基板11をベース基板5の裏面に配置する構成は必須ではない。
(実施例2)
図3(a)は、本発明の第2の実施例に係る撮像装置1を、放射線の入射面を正面としたときの背面から見た図である。また、図3(b)は、図3(a)におけるA−A’断面図である。
実施例2に係る撮像装置1は、ベース基板5の裏面に肉薄部53が形成されている点、及び、当該肉薄部53に増幅回路4等を配置することにより、TABフィルム8a、8bが短くなっている点においてのみ、実施例1の構成と相違する。従って、その他の構成の説明を省略する。
図3に示すように、ベース基板5の裏面には、肉薄部53が形成されている。実施例2における肉薄部53は、左右及び下部に形成されている。左右に形成された肉薄部53には、増幅回路4及び画像信号処理回路基板15が配置されている。また、下部に形成された肉薄部53には、ゲート駆動回路9及びゲート制御回路10が配置されている。
従って、肉薄部53を形成した分だけ、TABフィルム8a、8bを短くすることができる。
なお、流路としての銅管51は、ベース基板5における肉薄部以外の部分52に配置されている。肉薄部53に流路を形成することとすると、肉薄部53も銅管51を超える厚みを要することになり、ベース基板5を薄くすることができないためである。
上述の通り、アクティブマトリクス基板3から増幅回路4へ、TABフィルム8aを介して電荷が伝達される。伝達される電荷は非常に微弱な信号であり、環境雑音の影響を受けやすい。本実施例2の構成によれば、実施例1の構成に比べ、電荷の伝達距離を短縮できるため、環境雑音の影響を低減することが可能となる。
なお、ゲート駆動回路9及びゲート制御回路10については、アクティブマトリクス基板3へ伝達する信号強度が大きいため、環境雑音の影響を受けにくい。従って、下部に肉薄部53を設け、当該部分にゲート駆動回路9及びゲート制御回路10を配置する構成は、必須ではない。ただし、本実施例2の構成によれば、TABフィルム8a、8bの長さを統一することができるため、部品の共通化による製造コストの低減が期待できる。
(実施例3)
図4(a)は、本発明の第3の実施例に係る撮像装置1の断面図である。以下、実施例2との相違点についてのみ以下説明する。
図4(a)に示すように、TABフィルム8a上における増幅回路4の搭載面が、実施例1、2とは逆になっている。すなわち、図4(b)に示すように、TABフィルム8a上に増幅回路4を搭載した後に、TABフィルム8aを伸ばした状態で、増幅回路4が図の上側を向くようにアクティブマトリクス基板3の端に接続し、ベース基板5の裏面へ折り曲げられている。
これにより、増幅回路4は、TABフィルム8aに対して、ベース基板5の裏面(肉薄部53)と反対側に位置するようにTABフィルム8aに搭載されている状態となる。
増幅回路4の搭載部分について、図5を参照して更に詳細に説明する。
図5(a)は、TABフィルム8aの平面図である。TABフィルム8aには、素子搭載用の孔81が設けられている。また、TABフィルム8aの内部には電極85が複数設けられており、TABフィルム8aの両端と、孔81の両端部分のみ外部に露出している。
まず、図5(a)のA−A’断面図である図5(b)に示すように、搭載すべき増幅回路4を孔81の上に置き、増幅回路4の脚と電極85の露出部分と加熱圧着する。次に、図5(c)のように、搭載面の裏面から、孔81を塞ぐように、モールド82を充填する。
ここで、現状におけるモールド82は、加圧や衝撃が加わると比較的容易に壊れてしまう。従って、モールド82を形成した面が、外方向へ向くように実装することは好ましくない。そこで、本実施例3では、モールド82を形成した面が内側を向くように配置することにより、外部からの衝撃などにより、モールド82が破損するのを防止することができる。
しかし、そのように配置しただけでは、増幅回路4をベース基板5に接触させることができない。そこで、増幅回路4と、ベース基板5における肉薄部以外の部分52との間を熱的にバイパスする熱伝導手段6を設けている。
熱伝導手段6は、熱伝導性の高いグラファイトシートや、銅製のプレートにより形成することが好ましい。ただし、ベース基板5と同等以上の熱伝導率を有している限りにおいて、その材質、及び形状を種々選択可能である。
このように構成することにより、熱伝導手段6及びベース基板5を介して増幅回路4と銅管51内を通る温度制御用の熱媒体との間で、熱交換をすることができる。更に、肉薄部以外の部分52には、流路としての銅管51が設けられており、かつ、熱伝導手段6によって、増幅回路4と肉薄部以外の部分52とを熱的に接続しているので、実施例2に比べて、増幅回路4と、流路を通る熱媒体との間の熱交換を効率的に行うことができる。また、実施例2の構成では、流路が形成されていない肉薄部53を介して、増幅回路4と半導体層2との間で多少の熱交換が生じていたが、本実施例3の構成によれば、当該影響を排除することができる。更に、増幅回路4(のモールド82)と、肉薄部53との間に、断熱手段としてのスポンジ7を配置することにより、当該影響を確実に排除することができる。
また、断熱手段としてのスポンジ7は弾性を有しており、モールド82を衝撃から保護する役目も果たしている。
本実施例3では、増幅回路4(のモールド82)と、肉薄部53との間に、断熱手段としてのスポンジ7を配置することとした。ただし、当該構成は必須ではなく、また弾性を有するものに限られるものではない。なお、断熱手段とは、少なくとも空気と同等以下の熱伝導性を有する材料を言うものとする。また、弾性を有するとは、二次元撮像装置に、製品仕様で定める最大許容衝撃が加わった時に、モールド82が破損しない程度にその衝撃を吸収することができることを言う。
本発明の実施例1を説明する図である。 アクティブマトリクス基板の内部構造を説明する図である。 本発明の実施例2を説明する図である。 本発明の実施例3を説明する図である TABフィルムへの素子の実装を説明する図である。 従来技術に係る二次元撮像装置を説明する図である。
符号の説明
1 撮像装置
2 半導体層
3 アクティブマトリクス基板
4 増幅回路
5 ベース基板
6 熱伝導手段
7 断熱手段
8 TABフィルム
9 ゲート駆動回路
10 ゲート制御回路
11 電源回路基板
12 DC−DCコンバータ
15 画像信号処理回路基板
16 A/D変換回路
18 緩衝層
19 バイアス電極

21 電荷阻止層
22 正孔阻止層

31 スイッチング素子
32 蓄積容量
33 データライン
34 ゲートライン

41 チャージアンプ
42 電圧増幅器
43 マルチプレクサ
44 電圧出力端子

51 流路
52 肉薄部以外の部分
53 肉薄部
54 流路入口
55 流路出口

81 孔
82 モールド

Claims (7)

  1. 光または放射線情報を電荷情報に変換するための半導体層と、
    前記電荷情報を読み出すためのアクティブマトリクス基板と、
    前記アクティブマトリクス基板に接続され、前記読み出された電荷情報を増幅して電圧に変換する増幅回路と、
    表面に前記アクティブマトリクス基板を、裏面に前記増幅回路を配置するとともに、内部に温度制御用の熱媒体が通る流路が設けられたベース基板とを有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記ベース基板の裏面に肉薄部が形成され、当該肉薄部に前記増幅回路が配置されているとともに、当該肉薄部以外の部分に前記流路が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記増幅回路と前記肉薄部以外の部分との間に熱伝導手段を設けたことを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
  4. 前記増幅回路と、前記肉薄部との間に、断熱手段を設けたことを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
  5. 前記増幅回路は、前記アクティブマトリクス基板に接続されたTABフィルムに対して前記肉薄部と反対側に位置するように搭載されていることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
  6. 前記断熱手段が弾性体であることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置。
  7. 前記肉薄部以外の部分に配置された電源回路基板を更に有することを特徴とする請求項2から6のいずれかに記載の撮像装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011018816A1 (ja) * 2009-08-10 2011-02-17 株式会社島津製作所 光または放射線撮像装置
JP2013120851A (ja) * 2011-12-07 2013-06-17 Hamamatsu Photonics Kk センサユニット及び固体撮像装置
CN103576179A (zh) * 2012-07-31 2014-02-12 西门子公司 用于温度稳定化的方法、x射线辐射探测器和ct系统
JP2016200543A (ja) * 2015-04-13 2016-12-01 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および撮像システム
CN112198543A (zh) * 2019-07-08 2021-01-08 西门子医疗有限公司 X射线探测器和具有x射线探测器的x射线设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09152486A (ja) * 1995-09-28 1997-06-10 Canon Inc 撮像装置
JPH09288184A (ja) * 1996-02-22 1997-11-04 Canon Inc 光電変換装置
JPH11345956A (ja) * 1998-03-16 1999-12-14 Canon Inc 撮像装置
JP2001099942A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Toshiba Corp X線平面検出装置
JP2002267758A (ja) * 2000-11-30 2002-09-18 Canon Inc X線撮像装置
JP2003014860A (ja) * 2001-06-29 2003-01-15 Toshiba Corp 放射線検出器および放射線検査装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09152486A (ja) * 1995-09-28 1997-06-10 Canon Inc 撮像装置
JPH09288184A (ja) * 1996-02-22 1997-11-04 Canon Inc 光電変換装置
JPH11345956A (ja) * 1998-03-16 1999-12-14 Canon Inc 撮像装置
JP2001099942A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Toshiba Corp X線平面検出装置
JP2002267758A (ja) * 2000-11-30 2002-09-18 Canon Inc X線撮像装置
JP2003014860A (ja) * 2001-06-29 2003-01-15 Toshiba Corp 放射線検出器および放射線検査装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011018816A1 (ja) * 2009-08-10 2011-02-17 株式会社島津製作所 光または放射線撮像装置
JP2013120851A (ja) * 2011-12-07 2013-06-17 Hamamatsu Photonics Kk センサユニット及び固体撮像装置
US9478683B2 (en) 2011-12-07 2016-10-25 Hamamatsu Photonics K.K. Sensor unit and solid-state imaging device
CN103576179A (zh) * 2012-07-31 2014-02-12 西门子公司 用于温度稳定化的方法、x射线辐射探测器和ct系统
CN103576179B (zh) * 2012-07-31 2016-05-04 西门子公司 用于温度稳定化的方法、x射线辐射探测器和ct系统
JP2016200543A (ja) * 2015-04-13 2016-12-01 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および撮像システム
CN112198543A (zh) * 2019-07-08 2021-01-08 西门子医疗有限公司 X射线探测器和具有x射线探测器的x射线设备
EP3764127A1 (de) * 2019-07-08 2021-01-13 Siemens Healthcare GmbH Röntgendetektor und röntgengerät mit röntgendetektor
US11226422B2 (en) 2019-07-08 2022-01-18 Siemens Healthcare Gmbh X-ray detector and x-ray device with x-ray detector

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