JP2008535101A - タッチセンサ及びランダムパルス間隔を有する制御 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】デバイスを制御するためのタッチセンサ制御システムは、タッチセンサインタフェースを有する。制御システムはまた、タッチセンサインタフェースと通信するよう構成されると共に一連の非周期的テストパルス及び監視された応答でユーザのタッチセンサインタフェースの操作を検出するよう構成されたコントローラを具備し、これにより、制御システムの周囲環境内の同期ノイズに起因する不正確なタッチ検出を回避する。
Description
本発明は、タッチセンサ制御インタフェースに関し、特にインタフェース及び関連するデバイスの一方又は両方の作動に悪影響を与えるおそれがある周囲環境におけるノイズ及び干渉の補償を含むタッチセンサ制御インタフェースに関する。
タッチセンサ制御インタフェースは、その便利さ及び信頼性のため、種々の製品及びデバイス用に機械的スイッチに代わるものとしての使用が拡大しつつある。タッチセンサ制御インタフェースは、機器(例えば、ストーブ及び料理鍋)、機械制御等の工業デバイス、金銭出納機、チェックアウトデバイス、自動販売機、おもちゃ等の幅広い典型的な用途で使用されている。関連するデバイスは、インタフェースの所定領域を押圧することにより操作される指であってもよく、デバイスは、タッチ制御インタフェースを通って入力されるユーザコマンドに応答してデバイスの機械的及び電気的に要素を作動させるために、インタフェースに結合されたコントローラを有するのが代表的である。
種々のタイプのタッチ技術は、タッチ制御インタフェースで使用するのに利用可能である。タッチ制御インタフェースは、容量性センサ、膜スイッチ及び赤外線検出器等のタッチセンサ式の要素を含むがこれらに限定されない。米国特許第5760715号明細書は、例えば、タッチセンサ制御インタフェースに使用可能な容量性タッチセンサについて記載する。作動の際、容量性センサは、ユーザの指がセンサに近接すると、回路を接地させる。インタフェース及び被制御デバイスの不用意な駆動を防止するため、米国特許第5760715号明細書は、インタフェースへの実際のタッチを有効にしようとする確認サイクルについて記載し、このため、システムは、有効に又は確認できない或る制御入力を無視する。
米国特許第5760715号明細書に記載されているように、コントローラは、タッチセンサセンサに周期的に接地への一連のテストパルスを与えさせる。このように、コントローラは、入力としてタッチセンサにパルスを発生し、その戻りを監視する。所定数のテストパルスが戻りを生成すると、タッチが検出され、コントローラは被制御デバイスを作動させるよう適切に応答する。換言すると、コントローラが入力に作用する前に、所定の時間だけ戻りが発生しなければならない。このため、例えば、複数のセンサの一つが不用意に駆動されると、例えば、制御インタフェースの清算中に、別の例としてユーザ又は通りがかりの人が意図せず制御インタフェースを磨き又は制御インタフェースに接触すると、検出されたタッチは所定数のパルスの間、持続されないので、確認仕組みに合致せず、戻りは無視される。制御インタフェースとの偶然の接触による偶然すなわち不用意な制御入力のため、このような確認仕組みはデバイスの駆動を首尾よく防止するのに対し、それでもこのようなシステムは、デバイスの偽制御入力及び不用意な駆動を受けやすい。
特に、公知のタッチセンサ要素及びシステムは、システムの周囲環境における電磁干渉(EMI)を含むノイズ及び干渉に起因する不用意な駆動に対して脆弱であるという不利な立場にある。このようなノイズ及び干渉は、ユーザが制御インタフェースに接触することなく、偽制御入力及び被制御デバイスの不用意な駆動を招くおそれがある。例えば、同期するノイズ及びEMIは、周期周波数で、又はテストパルスと同時に起こり得る周期周波数の高調波を伴って生ずるおそれがあり、このような状況では、同期するノイズ及びEMIは、制御パネルの作動と干渉し、偽タッチを検出させるおそれがある。他方、同期しないノイズ及びEMIの場合、タッチへのシステムの応答に一時的に影響を与え得るが、時折、システムは普段よりも敏感になり得る。この結果、関連するデバイスは、人による行為又は介在無く、周囲ノイズにより影響を受け、作動し、又は調整されるおそれがある。このように、実際の作動条件、例えば、タッチセンサの周囲環境におけるEMI及びノイズは、タッチセンサの正確性、感度及び信頼性に影響を与えるおそれがあるので、被制御デバイスの不用意な意図しない作動を生ずる。
例示として、一機器(例えば、料理用ミキサ又は電子レンジ)の作動に起因するEMI又はノイズは、直近のコーヒーメーカ等の上述した確認仕組みを使用する別の機器の制御設定に影響を与え、駆動し、又は制御設定を変更するおそれがある。別の例として、携帯電話の駆動は、このような確認仕組みを有する制御インタフェースを有するオーブンの加熱体の作動設定にエネルギー又は変更を与えるおそれがあり、このような状況では、危険な条件が現れるおそれがある。さらに別の例において、携帯電話又は携帯電子デバイスが、タッチ制御インタフェース及び確認仕組みを有する直近の自動販売機を駆動するおそれがあり、このような場合は、経済的損失となるおそれがある。
さらに、コントローラによるタッチセンサのパルスは、他のデバイスと干渉し得る過度の導電及び放射の放出を発生するおそれがあり、この結果、タッチセンサは、このようなデバイス用の連邦通信委員会(FCC)規格に抵触するおそれがある。
本発明の典型的な一実施形態において、デバイスを制御するためのタッチセンサ制御システムが提供される。この制御システムは、タッチセンサインタフェースを具備する。制御システムはまた、タッチセンサインタフェースと通信するよう構成されると共に一連の非周期的テストパルス及び監視された応答でユーザのタッチセンサインタフェースの操作を検出するよう構成されたコントローラを具備し、これにより、制御システムの周囲環境内の同期ノイズに起因する不正確なタッチ検出を回避する。
別の典型的な実施形態において、デバイスを制御するための制御システムが提供される。この制御システムは、タッチセンサインタフェースを具備する。制御システムはまた、ランダムなパルス間隔でタッチセンサインタフェースにパルスを送るよう構成されると共にパルスに応答するタッチ検出手順を実行するよう構成されたコントローラを具備し、これにより、制御システムの周囲環境内の同期ノイズに起因する不正確なタッチ検出を回避する。
さらに別の典型的な実施形態において、デバイスを制御するための制御システムが提供される。この制御システムは、ユーザによりタッチされる際に回路を接地させるよう構成された少なくとも1個の容量性タッチセンサを有するタッチセンサインタフェースを具備する。制御システムはまた、ランダムなパルス間隔でタッチセンサインタフェースにパルスを送るよう構成されると共にパルスに応答するタッチ検出手順を実行するよう構成されたコントローラを具備する。パルスはランダムに発生され、制御システムの周囲環境内の同期ノイズに起因する不正確なタッチ検出を回避する。コントローラはさらに、テスト前パルス基準信号レベルを各タッチ検出手順におけるテスト後パルス信号レベルと比較し、テスト前後のパルス信号レベル及び現在の検出閾値間の差に基づいて検出されたタッチを有効化又は無効化するよう構成される。
図1は、本発明の典型的な一実施形態に従った典型的なタッチセンサ制御システム100を示す概略ブロック図である。この制御システム100は、デバイス102、デバイス102に作動結合されたコントローラ104、及びコントローラ104を介してデバイス102を作動させるために制御入力を受信するタッチ制御インタフェース106を有する。後述するように、コントローラ104は、被制御デバイス102の制御設定を不要に影響を与え、駆動し、又は変更するおそれがある周囲環境のEMI及びノイズを補償するよう構成されている。従った、デバイス102は、制御インタフェース106を通って入力された実際のユーザコマンドでのみ作動可能であることが保証される。
一実施形態において、デバイス102は、その作動のためのタッチ制御インタフェース106を有する公知の自動販売機である。別の実施形態では、デバイス102は、機器、産業機械、おもちゃ、或いはタッチセンサ制御インタフェース106が望ましい別のデバイスであってもよく、そのためデバイス102の不用意な駆動が関心事になっている。
典型的な一実施形態において、コントローラ104は、マイクロコンピュータすなわちマイクロプロセッサ105、及びコントローラメモリ110を有してもよい。コントローラ104は公知の態様でユーザ制御インタフェース106に結合されており、制御インタフェース106は、例えばタッチセンサ107,109等の1個以上のタッチセンサ要素すなわちタッチセンサを有する。アナログ信号は、A/Dコンバータ111によりコントローラ104で受信され変換されることができる。操作者は、制御パラメータ、命令、コマンドを入力し、制御インタフェース106を介してデバイス102の所望の作動アルゴリズム及び特徴を選択することができる。
一実施形態において、ディスプレイ108はコントローラ104に結合され、デバイス102の操作者に適当なメッセージ及び表示の一方又は両方を表示し、ユーザにデバイス102の入力及び作動を確認させる。コントローラメモリ110は、命令、校正定数、及び選択されたユーザの命令すなわち入力を十分に完了するために要求される他の情報を保存する。メモリ110は、例えばランダムアクセスメモリ(RAM)であってもよい。別の実施形態において、フラッシュメモリ(FLASH)、プログラマブル読取専用メモリ(PROM)、電気的消去可能型読取専用メモリ(EEPROM)を含むがこれらに限定されない他の形態のメモリを、RAMと併用することも可能である。
システム100を制御する電力は、電源線Lに結合されるよう構成された電源112により、コントローラ104に供給される。アナログ・デジタル及びデジタル・アナログコンバータがコントローラ104に結合され、コントローラ入力及び実行可能な命令を実行し、公知の方法に従ってデバイス102の作動部品114,116,118,120に対してコントローラ出力を発生する。図1には4個の部品114,116,118,120が図示されているが、別の実施形態ではより多い又は少ない数の部品を使用してもよい。
制御インタフェース106のユーザによる操作に応答して、コントローラ104は、1個以上のトランスデューサすなわち監視センサ122を用いてデバイス102の種々の作動ファクタを監視し、公知の方法に従って操作者が選択した機能及び特徴を実行する。
図2は、図1の制御システム100用の典型的な制御インタフェース106の一部を示す。インタフェース106は、デバイス102(図1参照)用の制御コマンド及び命令を入力するユーザによる操作のためのインタフェース領域204を区画するパネル202を有する。一実施形態において、パネル202は、自動販売機の分配部品やオーブンの加熱要素等の、デバイス102の作動部品114〜120近傍に実装されてもよい。別の実施形態において、パネル202は、(産業機械の移動部品等の)部品114〜120から離れた位置に配置してもよい。
インタフェース領域204は、タッチセンサ領域206,208を有する。図2には(図1のタッチセンサ107,109に対応する)2個のタッチセンサ領域206,208が図示されているが、別の実施形態では、より多い又は少ない数のタッチセンサ領域206,208をインタフェース領域204に有してもよい。各タッチセンサ領域206,208に関連するのは、回路すなわちタッチセンサ要素210,212である。これらの要素210,212及びコントローラ104は、周囲環境でEMI及びノイズの問題に起因し得る偽駆動入力を回避しながら、関連するタッチセンサ領域206,208においてタッチ検出又はタッチ結果とも称される実際のタッチを検出するよう構成される。
典型的な一実施形態において、タッチセンサ要素210,212は、米国特許第5760715号明細書に記載されたような容量性タッチセンサである。別の実施形態において、タッチセンサ要素210,212は、公知の膜スイッチ組立体、赤外線検出器、或いは当業界ではよく知られている他の公知の節度感すなわちタッチスイッチである。タッチセンサ領域206,208は、パネル202の範囲内で互いに対して任意の所望の方向で配置してもよく、実施形態に依存してより多い又は少ないタッチセンサ領域をパネル202内に使用してもよい。別の実施形態において、制御システム100は2個以上の制御パネル202を有してもよく、各制御パネル202は、タッチセンサ要素に対応する1個以上のタッチセンサ領域を有する1個以上のインタフェース領域204を有してもよい。
作動の際、ユーザが指等でタッチセンサ領域206,208をタッチ、押圧、すなわち接触して、ユーザコマンド、命令又は入力をコントローラ104(図1参照)に入力する。コントローラ104は次に、ユーザ入力に従ってデバイス102の適用される部品114〜120を作動させる。タッチセンサ107,109として米国特許第5760715号明細書のタッチセンサシステムが使用されると、各タッチセンサ領域206,208に関連したタッチセンサ要素210,212が接地に対してテストパルスを発し、ユーザ及びタッチセンサ領域206を通ってテストパルスの戻りを検出すると、タッチが検出される。
一般的に、コントローラ104は、タッチセンサ要素210,212用の制御インタフェース106から、(現在のテスト前パルス基準信号レベル、基準信号レベル読み込み、現在の基準信号レベル読み込み、基準読み込み、及び現在の基準読み込みと称されることもある)テスト前パルス基準信号レベルを得る。テスト前パルス基準信号レベルは、要素210がテストパルス又はパルスを接地に送信する前に、タッチセンサ要素210,212から得られる。コントローラ104は、要素210がパルスを接地に送信した後に要素210からのテスト後パルス信号レベルを得ることにより、パルス(パルス信号)への応答を監視する。テスト後パルス信号レベル及びテスト前パルス基準信号レベル間の差が現在の検出閾値を超えると、コントローラ104は、タッチセンサ領域206でタッチを検出し、これに従い、真正制御入力及び偽制御入力を識別するコントローラによる確認を受けた関連するデバイスを作動させる。
コントローラ104は、米国特許第5760715号明細書に記載されたような別のタイプのタッチ確認に加えて、以下に説明する態様で各テストパルス用にタッチ検出手順を実施し、EMI、ノイズ、周囲環境での干渉問題を軽減し、広い範囲の作動条件にわたるシステムの正確且つ信頼性の高い作動を確保することができる。
図3は、図1のタッチセンサ制御システム100により固定すなわち周期的に間隔でテストパルスが発生する際の放出電力対周波数を示し、このようなシステムの少なくとも1個の不利な点を示す典型的なグラフ300である。グラフ300が示すように、放出される電力は、例えば、ピーク302,304,306,308等の所定周波数で集中すなわちピークになる傾向がある。所定周波数で放出されるエネルギーすなわち電力がピークになることは、制御システムが、このようなデバイス用の導電及び放射される放出に関連する、例えばFCCパートB証明規則等の適用される政府の規制を超えるおそれがある。すなわち、タッチセンサ制御システムから放出される電力は、適用される規則を超え、付近の電子デバイスと干渉するおそれがある。
図4は、本発明の典型的な一実施形態に従った放出電力対周波数を示す典型的なグラフ400である。ここで、テストパルスは、図1のタッチセンサ制御システム100のコントローラ104により非周期的な間隔で発生する。一例として、一連の非周期的テストパルスは、擬似ランダム又はランダムでパルス間の間隔を変化させることにより発生することができる。図4に示されるように、電力の周波数分布は広がりすなわち平坦化401されるので、電力は、周期的テストパルスが使用される際に生じ得る図3に示された大きなピーク302,304,306,308を伴うことなく、周波数スペクトルにわたってより均等に分布する傾向がある。図3の電力ピーク302,304,306,308を図4の対応する平坦化された電力ピーク402,404,406,408まで実質的に下げることにより、非周期的テストパルスに関連して放出される電力は著しく減少する。この結果、周期的テストパルスとは対極の非周期的テストパルスを使用することにより、制御システムは、適用される規則を満たし、制御システムの近傍の他の電子デバイスに対して制御システム100からの潜在的な干渉を減少させることができる。
図5に示されるように、周期的テストパルスの使用は、電力放出問題を超えた別の側面で不利である。特に、周期的テストパルスが使用されると、タッチセンサシステム100は、他の電子デバイスからEMIを受けやすくなるおそれがある。より具体的には、図5に見られるように、周期的周波数において他の電子デバイス(例えば、携帯電話、付近の機器又は他の電力放出デバイス)が生成する電力、又はテストパルスと周期性が一致する同じ周期的周波数の高調波は、偽タッチを検出する結果となるおそれがある。
図5は、典型的な矩形パルス502,504,506,508等の一定パルス間隔でのテストパルスの発生を実証するサンプリンググラフ500であり、システムが受けやすい不正確なタッチ検出の可能性を示す。例えば、基準サンプリング読み込みは、テストパルスが発生する前のタッチキー206で、すなわちパルス502の立上りエッジで行われる。パルス後サンプリング514は、パルス502が発生した後のキー206で、すなわちパルス502の立下りエッジで行われる。上述の一般的な制御仕組みに従うと、サンプリング差510(例えば、パルス後サンプリング514から基準サンプリング512を引いたもの)が現在の積極検出閾値を超えると、タッチはタッチキー206において検出される。
しかし、図5は、制御システム100の周囲環境における同期ノイズ522がシステム100に予想外の影響を与えるおそれがあることを示している。図5に示されるように、ノイズ522は、発生したテストパルス502〜508の周期性と一致する周期性を有する。各パルス502,504,506,508において、基準サンプリングは低く、例えばサンプリング512については0の値で始まり、パルス後サンプリングは高く、例えば、サンプリング514については0.5の値で終わる。従って、テストパルス502のサンプリング差510は0.5の値を有する。例えば、システム用に現在の検出閾値が0.5以下(例えば、0.3)の値に設定されると、0.5というサンプリング差510は現在の検出閾値より大きいので、パルス502に対してキー206でタッチが検出される。
同様に、EMI522の共通の周期性のため、対応するパルス504,506,508についてのサンプリング差516,518,520も0.5の値を有し、タッチが検出される。このため、同期ノイズの周期性が同時に起こるので、所定持続時間の間、タッチがコントローラにより検出され続ける。すなわち、検出されたタッチは、明らかに偽であっても、米国特許第5760715号明細書に記載された等の従来からの時間ベースの確認の方法を使用するシステムにより最終的に確認される。
図6は、典型的な矩形パルス602,604,606,608等の本発明に従った非周期的パルス間隔でコントローラが発生するテストパルスを実証するサンプリンググラフ600である。擬似ランダム又はランダムのジッタが、図6のパルス602〜608間の擬似ランダム又はランダムの間隔を得るために図5のパルス502〜508に付加することができる。基準サンプリング612は、テストパルスがパルス602の立上りエッジで発生する前に、キー206等のタッチキーで行われる。その後、パルス後サンプリング614は、テストパルスがパルス602の立下りエッジで発生した後に、キー206で行われる。周期的ノイズ622は存在するものの、図5に示された周期的テストパルスを有するシステムとは異なり、ノイズ622は1個以上のテストパルス用にタッチ検出することになるが、非周期的テストパルス間隔のため、検出されたタッチは同様に確認されず、この結果、検出されたタッチは無視される。
図6に示されるように、非周期的テストパルス間隔のため、連続するテストパルスのサンプリング差は、ノイズ622の周期性にもかかわらず、変化する傾向があるので、テストパルスは、米国特許第5760715号明細書に記載されたような時間ベースの確認手順を通過しそうにない。
例えば、図6に示されるように、第1テストパルス602についてのサンプリング差610は、小さな正の値である。次の第2テストパルス604についてのサンプリング差616は大きな正の値であり、タッチがキー206で検出されるには十分である。しかし、第3テストパルス606についてのサンプリング差618は小さな正の値である。第4テストパルス608についてのサンプリング差620は大きな正の値である。このように、パルス604のサンプリング差616について検出すなわちタッチが登録されるが、連続するパルス606,608で検出すなわちタッチは確認されない。非周期的パルス間のパルス間隔を変更することにより、周期的ノイズ622又は他の周期的干渉のため、特に確認手順における連続パルスの数が増加するにつれて、全体的に無くならないとしても、タッチキー206での偽タッチを確認する機会は大きく減少する。
非周期的テストパルス間隔は同期ノイズ及び干渉に起因する偽タッチ検出を実質的に回避するのに対し、制御システムは、他のタイプのノイズ及び干渉(例えば、非同期股波ランダムノイズ)を受け易い。コントローラ104は、後述するようにこれらの問題にも対処するよう構成されている。
図7は、タッチセンサ制御システム(図1参照)に不要な影響を与える非同期ノイズ及び干渉を補償するために、それぞれを詳細に後述する空白処理(processing blanking)技法及び偽警告割合一定(false alarm rate constant:VCFAR)技法を使用した典型的な制御アルゴリズム700を表わすフローチャートである。上述した非周期的すなわちランダム化テストパルス間隔に加えて空白処理技法及びVCFAR技法を使用すると、付近のデバイスの動作からのノイズ及び干渉による、タッチ制御システム100での偽の検出/タッチをさらに回避する。アルゴリズム700は、制御インタフェース106からの、より具体的にはタッチセンサ領域/キー206,208(図2参照)からの真正入力及び偽入力を識別するために、例えば、図1のコントローラ104により実行することができる。真正及び偽制御入力を識別することにより、デバイス102の部品114〜120(図1参照)の不注意な駆動は阻止され、適切に入力された制御入力命令のみがデバイス102を作動させるものと認識される。
図7において、制御システム100(図1参照)は、702において電源がオンにされ、ハードウエア及びソフトウエアが704において初期化される。コントローラは主処理ループに入り(706)、708においてシステム100の電源が落とされるまで主処理ループ内に維持される。
706において実行される主処理ループは図8に示される。710において、コントローラは、主処理ループサブルーチンに入り、711において、コントローラは主処理ループに入る。712において、ウォッチドッグタイマがリセットされる。ウォッチドッグタイマが712においてリセットされる前にタイムアウトになると、ウォッチドッグタイマ割り込みが起こり、処理は図7の704に向かい、システム100のハードウエア及びソフトウエアが再度初期化される。714において、タッチセンサ107,109(図1参照)用の所定の検出閾値情報が、A/Dコンバータ(ADC)111からコントローラ104に読み込まれる。或いは、所定の検出閾値は、保存されコントローラメモリ110から得られる。716において、サブルーチンは、タッチパネル202(図2参照)の全タッチセンサキー206,208のスキャンを実行するよう呼び出される。各キーでのタッチを検出するために、スキャンは、各キー206,208でパルスを発生させる。
コントローラ用のタッチキーのスキャンサブルーチンは、図9に図示されている。736において、コントローラは、タッチキー206,208でのタッチを決定すなわち検出するために、タッチキーのスキャンサブルーチンに入る。738において、キー指標は、処理される第1タッチキー(例えば、キー206)への点にリセットされる。739において、タッチキーすなわち現在指標付きタッチキー206を処理するようループに入る。740において、現在のタッチキー206用に以前に(例えば、図1のメモリ110内に)保存されたデータが読み出される。データメモリは、704(図7参照)での初期化中に各キーについて初期化される。現在のタッチキー206についての読み出されたデータは、パラメータ値を有してもよい。
典型的な一実施形態において、読み出されたパラメータ値の一つは、本明細書では基準信号の移動平均又は基準信号レベル読み込みの移動平均とも称するテスト前パルス基準信号レベルの移動平均である。読み出される他のパラメータ値は、所定の空白閾値、本明細書ではVCFARとも称する所定の基準参照値、VCFAR定数及び所定の検出閾値を有する。パラメータ値は、例えばキー206等の所与のキーについて得られ、後述される。
742において、所定の検出閾値が現在のキー206用に設定され、パルスハードウエアが744でセットされてキー206用にテストパルスを発生する。746において、テスト前パルス基準が読み込まれ、テストパルスが発生し、テスト後パルス信号が読み込まれる。748において、キー206用の処理を続けるためにサブルーチンが呼び出される。
継続処理タッチキーサブルーチンは、図10に示される。758において、コントローラは、キー206にタッチが存在したかどうかを決定する準備をするために、継続処理タッチキーサブルーチンに入る。テスト後パルス信号レベル及びテスト前パルス基準信号レベル間の差を保持するためのテスト前後のパルス差変数は、760で0に初期化される。762において、タッチが既に検出されたかどうかチェックされる。継続処理タッチキーサブルーチンが748でサブルーチン処理からの代わりに確認サブルーチンから呼び出されると、タッチは既に検出されているかもしれない。第1タッチ検出がキー206用に係属していない場合、758において入ったサブルーチンは、第1タッチを検出するために第1タッチを確認しないよう呼び出され、764において、サブルーチンは移動平均及びVCFAR値を決定するために呼び出され又は実行される。
Vblank及びVCFAR計算サブルーチンは、図11に示される。780において、サブルーチンに入る。782において、基準信号レベルの移動平均は、746(図9参照)において以前に得られた現在のテスト前基準信号レベルの平均をとることにより計算される。新たな移動平均が可変Vblankに保存される。784において、処理は、新たな移動平均が最小値より小さいかどうかを決定し、小さいのであれば、786における処理は、新たな移動平均Vblankを許容される最小値に設定する。788において、コントローラは、新たな移動平均が最大値より大きいかどうかを決定し、大きいのであれば、790における処理は、新たな移動平均Vblankを許容される最大値に設定する。新たな移動平均Vblankは、現在のキー206でのタッチの空白処理が以下に説明するように起こるかどうかを決定するためにアルゴリズム700において使用される。792において、現在のVCFAR値が1ずつ減少し、794において、結果として得られるVCFAR値が現在のテスト前パルス基準信号レベルより小さい場合、VCFAR値は796で現在のテスト前パルス基準信号レベルに設定される。798における処理がVblank及びVCFAR計算サブルーチンから図10、特に766に戻る。766において、TMP変数(現在のパルスに関連する一時的値)が、空白処理技法の応用の指示に使用するために計算される。
タッチキー206用のVCFAR値は、長時間にわたりタッチキー206用にノイズ閾値又はノイズレベルを追跡し、テストパルスが発生する際に存在する周囲ノイズの現在のレベルを反映する。現在のテスト前パルス基準信号レベルが現在のVCFAR値より大きい場合、ノイズが存在し、796においてVCFARを現在のテスト前パルス基準信号レベルに設定することにより、ノイズレベルは上昇する。このように、制御インタフェースの感度は、ノイズレベルが増大すると自己調節し、タッチ検出の閾値はノイズが発生するに従って上昇する。このような調節が無いと、ノイズがテスト前パルス基準信号レベルを増大させる傾向があるので、システムの偽検出しタッチを確認する傾向は、ノイズレベルが増大すると増大するであろう。VCFAR値はまた、テスト前基準信号レベルを上昇することによりシステムの偽検出しタッチを確認する傾向が増大するおそれがある敏感な電気部品への作動バイアス及び温度効果を補償する。
一パルスから次のパルスまで、VCFAR値は減少する。説明した実施形態において、792におけるVCFAR値は、VCFAR値から1を減ずることにより直線的に減少する。別の実施形態において、減少は直線的でなくてもよく、例えば、減少は指数的又は対数的であってもよい。VCFAR値を減少させることにより、制御インタフェースの感度は、ノイズレベルが減少するにつれて自己調節し、システムのタッチ検出閾値は、ノイズが無い場合の所定の閾値に最終的に戻る。このため、ノイズが治まると、VCFARが調節し、システムの振舞いは、ノイズが再度発生するまで標準設定状態に戻る。
ノイズ閾値又はノイズレベルを追う又は乗るようにVCFAR値を継続的に調節することにより、キー206用のVCFAR値を、キー206でのタッチを処理するための感度を調節するのに使用してもよい。例えば、任意の所与の時間において、コントローラにより読み出された現在の検出閾値は、所定の検出閾値に設定してもよい。しかし、ノイズ条件を補償するために、現在の検出閾値は、コントローラによって閾値より高い一時的な値に一時的に設定(現在のタッチキー206に関連するパルスチュのタッチを処理するため)してもよい。より具体的には、典型的な一実施形態において、一時的な値は、VCFAR定数とVCFAR及び現在のテスト前パルス基準信号レベル間の差の絶対値との合計に等しく設定してもよい。
現在の計算された一時的な値がタッチキー206用の所定検出閾値より大きい場合、一時的な値は、所定検出閾値の変わりに現在の検出閾値用に使用される。テスト前後のパルス差が現在の検出閾値より大きい場合、キー206においてタッチが検知される。検出閾値用に一時的に一時的な値を使用する際に、テスト前後のパルス差は、制御の正確性に影響を与えるキー206に存在する周囲ノイズの現在のレベルからなる。VCFAR定数の値を戦略的に選択することにより、偽警告又は偽検出の可能性を制御することが可能である。典型的な一実施形態において、VCFAR定数は4に設定され、偽警告(偽検出)割合は0に近い。
766において、TMP変数は、現在のVblank値(現在の移動平均)及びテスト前パルス基準信号レベル間の差の絶対値に設定される。TMP値は、基準信号の移動平均からの現在のテスト前基準信号レベルの変化を示す。768においてTMP値が所定空白閾値よりも大きいことが判明すると、処理は、776で検出処理サブルーチンを実行するよう向かう。768において、TMP値、すなわち基準信号の移動平均からの現在のテスト前基準信号レベルの変化は、所定空白閾値より大きい場合、前後の差は、0の初期化された値のままであり、効果的に読み込みを無視する。前後の差に対しての0の値は、77の検出処理に対して現在のタッチキー206に登録された検出すなわちタッチはないことを示す。0に等しい前後の際は正の検出閾値より大きくなることはないので、776における処理により、現在のタッチキー206に登録された検出はなく、空白処理は確立される。
空白処理は、基準信号の移動平均からの現在のテスト前パルス基準信号レベルの変化が大きすぎる、すなわち所定空白閾値よりも大きい場合、キータッチの検出という結果となる任意の計算を無視する。このため、空白処理は、コントローラが、システムの通常の作動範囲外の極端又は異常な事象に反応又は応答することを防止し、コントローラは空白処理のために、このような事象が治まるまで応答しない。別の実施形態において、空白処理が生ずる(TMPは768において所定の空白閾値より小さい)と、空白処理の発生及び関連するデータは、診断目的でメモリ110(図1参照)に保存することができる。このようなデータは、診断及び問題解決目的で、例えば干渉ノイズの原因を発見するため、このようなノイズの発生をどのように防止するか等に使用することができる。
TMP値が768において所定空白閾値より大きくない場合、770において、本明細書では前後の差とも称される前後テストパルスの差は、テスト後パルス信号レベルからテスト前パルス基準信号レベルを引いたものに設定される。772において、前後の際に健全さチェックがされる。前後の差が0より小さい場合、774において、前後の差を0に等しくする。
776において、キー206でのタッチを検出ための検出処理サブルーチンが呼び出されすなわち実行される。検出処理サブルーチンは、図12に示される。800において、コントローラは、キー206にタッチが存在するかどうかを決定する準備をするため、検出処理サブルーチンに入る。コントローラが、802〜814で、現在のパルス用の所定の閾値を調節する。816において、TMP変数は、VCFAR定数(図示の実施形態では、定数として4が選択される)と、VCFAR及び現在のテスト前パルス基準信号レベルの差の絶対値との合計に等しくなるよう設定される。818において、電流検出閾値は、TMP値及び調節された所定閾値の最大値に設定される。
820において、タッチが感知されたかどうかについて決定される。820において、前後の差が現在の検出閾値より大きい場合、タッチが感知され、824において検出フラグがセットされる。820において、前後の差が現在の検出閾値より大きくない場合、タッチは感知されない。822において、検出フラグがリセットされる。826において、前後の差が0にセットされる。828において、処理は、検出処理サブルーチンから図10の778に戻る。
778において、コントローラは、継続処理タッチキーサブルーチンから図9の750に戻る。750において、現在のタッチキー206用に計算された現在のデータは、例えば、メモリ110(図1参照)に保存され、基準信号の移動平均用の現在のパラメータ値及びVCFAR値を含む。752において、キー指標は、次のタッチキーへの点、例えばタッチキー208への点に更新される。754において、増加したキー指標が範囲内(例えば、有効な次のタッチキーへの点)である場合、処理は739に戻り、739におけるループは、次のタッチキー、例えばタッチキー208を処理するよう再度実行される。全てのタッチキーが739でのループにより処理されると、754において、キー指標が範囲外であることが判明し、処理は、タッチキーのスキャンサブルーチンから図8の718に戻る。
718において、キー指標は、第1タッチキー、例えばタッチキー206への点に設定され、719におけるループに入るための準備がなされる。720において、現在の指標のタッチキー206用のスキャンデータが得られる。722において、現在の指標のタッチキー206用に検出フラグが設定されると、処理は、現在の指標のタッチキー206用に検出されたキーを確認する、732における実行確認サブルーチンを呼び出すことに向かう。検出フラグが722で設定されていない場合、724における処理は、次のタッチキー、例えばタッチキー208への点までキー指標を増加させる。726において、キー指標が範囲内、例えば、有効タッチキーへの点である場合、処理は、719でのループに戻り、現在の指標のタッチキー、例えばタッチキー208を処理する。726において、キー指標が範囲内にない、すなわち全てのタッチキーが処理されたことを示す場合、処理は728に向かう。728における処理は、タッチキー用に全ての検出されたタッチをクリアすることである。730において、処理は、ユーザのディスプレイ108(図1参照)にエラーが無いこと(キー=0)に関連したメッセージ又は表示を出力する。次に、処理は、711における主処理の頂上に戻る。722において、検出フラグが現在の指標のタッチキー用にセットされると、実行確認サブルーチンが732で呼び出され、処理は、図13における830の入口点に入り、検出されたキータッチを確認する。
実行確認サブルーチンは、図13に示される。830において、処理は実行確認サブルーチンに入る。832においてタッチ検出が無い場合、834において検出確認フラグが偽に設定され、キーフラグは0(出力メッセージにエラーが無いことを示す)にセットされる。840における処理は、実行確認サブルーチンから図8の734に戻る。832において、タッチ検出が存在する場合、次に、複数のタッチキーが検出を伴うかが836でチェックされる。2個以上のタッチキーが検出フラグを有する場合、次に、838において、検出確認フラグが偽にセットされ、キーフラグが無効にセットされて、ユーザによる無効な入力(すなわち、同時に複数のタッチキーがタッチされたこと)があったことを示す。838からは、840におけるコントローラが実行確認サブルーチンから図8の734に戻る。タッチキーが832でのタッチ/検出用にフラグが上がり、836で1個のタッチキーのみの検出/タッチのフラグが見つかった場合、842における処理は、現在の指標のタッチキー206用の保存されたキーデータを読み出す。
844において、現在の指標のタッチキー206用にテストパルスを発生させるためのハードウエアが設定される。845においてループが入り、846において所定の検出閾値が得られる。848において、テスト前パルス基準が読み込まれ、テストパルスが発生し、テスト後パルス信号が読み込まれる。850において、継続処理タッチキーサブルーチンが、778(図10参照)におけるサブルーチン戻りからの結果を伴って呼び出され、検出フラグをセット又はリセットする。762(図10参照)において、第1タッチは既に検出されているので、既に検出されたテストは真であることに留意されたい。852(図13参照)において、検出フラグは、継続処理タッチキーサブルーチンからセットされ、処理は854に向かう。
854において、現在の指標のタッチキー206用に累積される8個の連続する検出(845における8回のループ繰返し)というテストが実行される。別の実施形態において、累積した連続検出に、8個より大きい又は小さい数を使用してもよい。854において、8個の連続する検出が累積(845における8回のループ繰返し)すると、処理は856に向かい、845におけるループに戻る。856において、確認検出フラグが真とセットされ、キーフラグは、ユーザのディスプレイ108での表示に出力するのに使用するための指標キーにセットされる。次に、処理は860に向かう。8個の連続タッチが見つからない場合、858において確認検出フラグが偽にセットされ、キーフラグは0にセットされる。次に、処理は860に向かう。
860において、キーの現在データは保存され、確認検出フラグ値は862においてチェックされる。確認検出フラグが真にセットされる場合、処理は、866において、実行確認サブルーチンから図8の734に戻る。確認検出フラグが偽にセットされる場合、処理は、864においてキーフラグを0にセットし、866において図8の734に戻る。図8の734において、キーフラグ値に関連する表示又はメッセージは、ユーザのディスプレイ108に出力され、コントローラは711において主処理ループの始まりに戻る。
要約すると、711における主処理ループの処理は、任意のタッチキーでの検出すなわちタッチについて全タッチキーのスキャンを716で実行する。722で検出が見つかると、例えば、検出フラグが現在の指標のタッチキーについてセットされると、732において確認が実行され、現在の指標のタッチキーでの連続する検出すなわちタッチの数(例えば、実施形態では8個)を確認する。連続する検出の必要な数が確認されると、タッチキーは感知されたタッチ用に確認される。コントローラ104(図1参照)は、確認されたタッチ検出用に関連する必要な処理(アルゴリズム700には図示せず)を実行する。
アルゴリズム700の上述した実施形態は、デバイス102(図1参照)のデバイス部品の不用意な駆動又は作動に対する適当な防護を提供するために、当業者には種々のデバイスに使用するために適当に変形して採用することが容易である。上述の制御システムの方法論は、さらに説明を要することなく、コントローラのプログラミングに実施可能と考えられる。
従って、偽タッチ検出を招くであろう種々のタイプのノイズを補償するようプラグラムされたコントローラを有するタッチセンサ制御システムが提供される。上述した制御アルゴリズムの別の側面と組み合わせて、非周期的なテストパルス間隔、ノイズレベルを変更することに敏感なシステムを調節するVCFAR技法、及び上述の空白処理技法を使用することにより、従来技術のタッチ制御システムが受け易いノイズ及び干渉に実質的に影響を受けない非常に正確で信頼性の高い制御システムが達成される。
種々の具体的な実施形態の観点で本発明を説明したが、当業者であれば特許請求の範囲の真髄の範囲内で変形して実施できることを認識されたい。
100 制御システム
102 デバイス
104 コントローラ
106 タッチセンサインタフェース
102 デバイス
104 コントローラ
106 タッチセンサインタフェース
Claims (9)
- デバイス(102)を制御するための制御システム(100)であって、
タッチセンサインタフェース(106)と、
該タッチセンサインタフェースと通信するよう構成されると共に一連の非周期的テストパルス及び監視された応答でユーザの前記タッチセンサインタフェースの操作を検出するよう構成されたコントローラ(104)とを具備し、これにより、制御システムの周囲環境内の同期ノイズに起因する不正確なタッチ検出を回避することを特徴とする制御システム。 - 前記コントローラは、各テストパルスについて、
前記タッチセンサインタフェースからテスト前パルス基準信号レベルを得るよう構成され、
前記タッチセンサインタフェースからテスト後パルス信号レベルを得るよう構成され、
前記テスト後パルス信号レベルを前記テスト前パルス基準信号レベルと比較するよう構成され、且つ
前記テスト後パルス信号レベル及び前記テスト前パルス基準信号レベルの差が現在の検出閾値を超えると、前記タッチセンサインタフェースに応答すると共に前記デバイスを作動させるよう構成されたことを特徴とする請求項1記載の制御システム。 - 前記コントローラは、前記テスト後パルス信号レベル及び前記現在のテスト前パルス基準信号レベルの差が現在の検出閾値よりも小さい場合、前記タッチセンサインタフェースを無視すると共に前記デバイスを作動させないよう構成されていることを特徴とする請求項2記載の制御システム。
- 前記コントローラは、長期にわたってテスト前パルス基準信号レベルの移動平均を決定するよう構成され、
各テストパルスについて、前記コントローラは、現在のテスト前パルス基準信号レベルを前記基準信号の移動平均と比較するよう構成され、且つ、前記現在のテスト前パルス基準信号レベル及び前記基準信号の移動平均の差が所定の空白閾値を超えると、前記現在のテストパルスへの監視された応答を無視するよう構成されていることを特徴とする請求項1記載の制御システム。 - 前記コントローラは、各テストパルスについて、現在のテスト前パルス基準信号レベルを所定の基準参照値と比較し、前記現在のテスト前パルス基準信号レベルが前記所定の基準参照値を超えると、前記所定の基準参照値を少なくとも前記現在のテスト前パルス基準信号レベルに等しく設定するよう構成されていることを特徴とする請求項2記載の制御システム。
- 前記コントローラは、前記現在のテスト前パルス基準信号レベルの前記所定の基準参照値との比較の前に、前記所定の基準参照値を減少するよう構成されていることを特徴とする請求項5記載の制御システム。
- 前記コントローラは、前記現在の検出閾値について、一時的な値が前記所定の検出閾値より大きい場合に該所定の検出閾値に代わりに前記一時的な値を使用するよう構成され、
前記一時的な値は、前記所定の基準参照値及び前記現在のテスト前パルス基準信号レベルの差の絶対値に定数を加算したものに等しいことを特徴とする請求項6記載の制御システム。 - 前記一連の非周期的テストパルスは、周期的パルスに対する擬似ランダム又はランダムのジッタで前記コントローラにより生成されることを特徴とする請求項1記載の制御システム。
- 前記タッチセンサインタフェースは容量性タッチセンサからなることを特徴とする請求項1記載の制御システム。
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