JP2008305540A - 情報処理装置、アクセス装置、記録媒体、情報処理方法および情報処理プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】情報処理装置225は、記録媒体100に記録された所定情報を処理する装置であって、特性判別手段204と処理手段226とを有する。特性判別手段204は、記録媒体100の反射特性を判別する。処理手段226は、判別された反射特性に応じて、記録媒体100に記録された所定情報を処理する。反射特性は、記録媒体100の記録済領域で反射する光の反射率(以下、第1反射率という)が記録媒体100の未記録領域で反射する光の反射率(以下、第2反射率という)よりも大きい第1特性、および前記第1反射率が前記第2反射率よりも小さい第2特性のうちの一方である。
【選択図】図2
Description
光ディスクでは、情報を示す凹凸パターン(例えば、ピット、グルーブ)が形成された透明基板に金属薄膜(例えば、アルミニウム)からなる反射膜が形成され、光の反射レベルを検出することによって、情報の再生が行われる。
記録型光ディスクには、記録膜の相変化によって反射率の異なる特性パターンが形成される。光ディスク装置は、非晶質−結晶質の反射率の変化を読み取るだけでよいため、光ディスク装置の光学系の構造を簡単にし得る。
図7は、光ディスクに形成された複数の記録マークと光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。図7Aは、HtoL特性を有する光ディスクに形成された複数の記録マークとHtoL特性を有する光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。図7Bは、LtoH特性を有する光ディスクに形成された複数の記録マークとLtoH特性を有する光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。
HtoL型光ディスクでは、未記録部の反射率が大きいため、フォーカシングやトラッキングが容易であるが、光の平均反射率が大きいため、LtoH型光ディスクに比べて、ノイズが大きくなる。
特許文献1には、HtoL型光ディスクおよびLtoH型光ディスクに関する記載がある。
(1)HtoL型光ディスクとLtoH型光ディスクとは、記録マークで反射した反射光の極性およびスペースで反射した反射光の極性が反対であるため、HtoL型光ディスクとLtoH型光ディスクとでは、エッジ検出、アシンメトリ検出またはβ値検出における検出値の極性(正負)が反対になる。
(2)光ディスクの欠陥部分(例えば、光ディスクに付着したゴミ、汚れなどに起因して光が殆んど反射しない部分)を適切に検出できない。
(3)HtoL型光ディスク対応の変調度測定方法では、LtoH型光ディスクを対象として、変調度を適切に測定できない。
(4)HtoL型光ディスクに対応した装置にLtoH型光ディスクが挿入された場合に、装置のLSIのダイナミックレンジの上限を超える場合がある。これは、LtoH型光ディスクでの光の反射レベルはHtoL型光ディスクでの光の反射レベルよりも大きいからである。
情報処理装置は、記録媒体の反射特性を判別し、その反射特性に応じて記録媒体に記録された所定情報を処理する。このため、記録媒体の反射特性に関わらず、記録媒体に記録された情報を適切に処理することが可能となる。
なお、上記および後述する所定情報とは、例えば、音声や映像、その他のデータなどのユーザ情報や、特定の情報を一時的に記録し記録学習を行うためのためし書き情報を含む。
また、記録媒体は、複数の記録層を有しており、複数の記録層のそれぞれの反射特性に対応する特性情報を記録していてもよい。
或いは、特性判別手段は、記録媒体で反射する光の反射レベルに基づき、反射特性を判別してもよい。
処理手段は、判別された反射特性に応じて、所定情報の極性を反転する極性反転手段を含んでもよい。
処理手段は、判別された反射特性に応じて、所定情報の変調度を計算する変調度演算手段を含んでもよい。
さらに情報処理装置は、反射レベル検出手段と欠陥部分検出手段とを備えていてもよい。反射レベル検出手段は、反射レベルを検出する。欠陥部分検出手段は、しきい値変更手段により変更されたしきい値と、反射レベル検出手段により検出された反射レベルとに基づき、記録媒体の欠陥部分を検出する。
処理手段は、判別された反射特性に応じて、照射された光の反射レベルを調整する反射レベル調整手段を含んでいてもよい。
本発明のアクセス装置は、記録媒体に記録された所定情報を読み取る読み取り手段と、読み取られた所定情報を処理する上記情報処理装置とを備える。これにより、上記目的が達成される。
記録媒体は、特性情報を記録するための領域を有している。このため、例えば、記録媒体に記録された情報を処理するための装置に対して、特性情報を提供し、特性情報に応じた処理を行わせることが可能となる。すなわち、記録媒体の特性情報が示す反射特性に関わらず、記録媒体に記録された情報を適切に処理させることが可能となる。
記録媒体は、複数の記録層を備え、記録領域は、複数の記録層のそれぞれに対応する特性情報を記録していてもよい。
本発明の情報処理プログラムは、記録媒体に記録された所定情報を処理する情報処理装置に情報処理を実行させるための情報処理プログラムであって、特性判別ステップと処理ステップとを備える。特性判別ステップは、記録媒体の反射特性を判別する。処理ステップは、判別された反射特性に応じて、所定情報を処理する。ここで、反射特性とは、記録媒体の記録済領域で反射する光の反射率(第1反射率)が記録媒体の未記録領域で反射する光の反射率(第2反射率)よりも大きい第1特性、および第1反射率が第2反射率よりも小さい第2特性のうちの一方である。これにより、上記目的が達成される。
同様に、本発明のアクセス装置、情報処理方法、情報処理プログラムによれば、本発明の記録媒体の反射特性を判別して、その反射特性に応じて所定情報を処理することができるため、記録媒体に記録されている情報を適切に処理することができる。
また、本発明の記録媒体によれば、第1特性および第2特性のうちの少なくとも一方を示す特性情報が記録されており、第1特性は、前記記録媒体の記録済領域で反射する光の反射率(第1反射率)が前記記録媒体の未記録領域で反射する光の反射率(第2反射率)よりも大きい特性であり、第2特性は、第1反射率が第2反射率よりも小さい特性である。従って、記録媒体に記録された特性情報によって、記録媒体の特性が第1特性を有するか第2特性を有するかを判別できる。その結果、記録媒体の特性に応じて、記録媒体に記録されている情報を処理することができる。
はじめに、本発明の記録媒体を説明し(「1.記録媒体」参照)、次に、記録媒体にアクセスするアクセス装置を説明する(「2.アクセス装置」参照)。最後に、アクセス装置によって実行されるアクセス処理手順を説明する(「3.アクセス方法」参照)。
1.記録媒体
図1は、本発明の実施の形態の記録媒体100の構造を示す。記録媒体100は、記録層を含む。記録層に記録マークを形成することによって、記録媒体100に情報が記録される。
記録媒体100は、Lead−in領域101と、データ領域102と、Lead−out領域103とを含む。
Lead−in領域101およびLead−out領域103には、記録媒体100の管理情報や欠陥管理のためのデータが記録される。
Lead−in領域101は、PIC(Permanent Information and Control data)領域104とOPC(Optimum Power Calibration)領域105とDrive領域106とDMA領域107とを含む。
PIC領域104には、例えば、データ領域102の最大アドレスおよび記録パルス制御パラメータが記録されている。記録パルス制御パラメータは、例えば、記録媒体100に複数の記録マークを形成/消去するためのレーザパワーに関するパラメータ、および複数の記録マークを記録するための記録パルス幅に関するパラメータである。
HtoL特性は、複数の記録部(例えば、複数の記録マーク)で反射する光の反射率が複数の未記録部(例えば、複数のスペース)で反射する光の反射率よりも小さい反射特性である。LtoH特性は、複数の記録部(例えば、複数の記録マーク)で反射する光の反射率が複数の未記録部(例えば、複数のスペース)で反射する光の反射率よりも大きい反射特性である。記録媒体100がHtoL特性を有する場合には、特性情報として、値‘0’が記録される。記録媒体100がLtoH特性を有する場合には、特性情報として、値‘1’が記録媒体100に記録される。
なお、記録媒体100がLtoH特性を有することを示す情報が、値‘1’によって示され、記録媒体100がHtoL特性を有することを示す情報が、値‘0’によって示されることに限定されない。所定の装置が記録媒体100の反射特性(LtoH特性を有するかHtoL特性を有するか)を判別し得る限りは、示される値は任意である。
なお、特性情報が少なくとも1つの記録マークおよび少なくとも1つのスペースのうちの少なくとも1つによって示される形態に限定されない。特性情報に基づいて、所定の装置が記録媒体100の反射特性(LtoH特性を有するかHtoL特性を有するか)を判別し得る限りは、トラックのうねり(ウォブル)によって特性情報が記録されてもよい。
さらに、記録媒体100には、トラックが同心円状に形成されているが、記録媒体100に特性情報を記録し得る限りは、トラックの形成された形状はスパイラル状でもよい。
さらに、記録媒体100は、書き換え型または追記型に限らない。特性情報を記録し得る限りは、再生専用記録媒体でもよい。記録媒体100は、例えば、CD、BD−RE(Blu−ray Disc Rewritable Format)、DVD−RAM(Digital Versatile Disc Random Access Memory)またはDVD−RW(Digital Versatile Disc Rewritable)である。
すなわち、複数層を有する記録媒体100では、複数層のそれぞれに対応する反射特性を示す情報がいずれかの層に記録されていればよい。
さらに、特性情報が記録される領域は、PIC領域104に限定されない。特性情報が記録可能であり、所定の装置が特性情報を読み取ることができる限りは、記録される記録媒体の位置は限定されない。例えば、特性情報は、Lead−out領域103に記録され得る。或いは、特性情報は、データ領域102に記録されてもよい。
なお、記録媒体100への特性情報の記録は、記録媒体100の製造時に限定されない。例えば、記録媒体100にユーザ情報を記録する際に、またはユーザ情報を再生する際に、特性情報がユーザによって記録されることがあり得る。所定の装置は、記録媒体100にアクセスする際(例えば、記録媒体100にユーザ情報を記録する際に、またはユーザ情報を再生する際)に、特性情報を読み取る。
図2は、本発明の実施の形態のアクセス装置(光ディスク装置)200の構成を示す。
アクセス装置200は、記録媒体100が挿入され得るように構成されている。記録媒体100は、特性情報が記録される特性情報領域を含み、特性情報領域には、特性情報が記録されている。
アクセス装置200は、記録媒体100に記録された所定情報を読み取る光ヘッド部202と、読み取られた所定情報を処理する情報処理装置225とから主に構成される。情報処理装置225は、記録媒体100の反射特性を判別する特性判別手段204と、判別された反射特性に応じて、所定情報を処理する処理手段226とを備える。処理手段226は、信号極性反転手段206と、信号処理手段208と、変調度演算手段216と、しきい値変更手段217と、欠陥部分検出手段218と、光ディスクコントローラ219と、反射レベル調整手段220とを備える。
特性判別手段204は、光ヘッド部202が読み取った信号から特性情報を検出し、検出された特性情報に基づいて、記録媒体100の特性(記録媒体100がHtoL型光ディスクであるかLtoH型光ディスクであるか)を判別する。
信号極性反転手段206は、光ヘッド部202によって読み取られた特性情報に基づいて、ユーザ情報を示す信号の極性を反転する。
例えば、記録媒体100がHtoL型である場合には、記録マークに対応する信号の極性を負から正に反転し、スペースに対応する信号の極性を正から負に反転する。一方、記録媒体100がLtoH型光ディスクである場合には、記録マークに対応する信号の極性を正に維持し、スペースに対応する信号の極性を負に維持する。
信号極性反転手段206が、ユーザ情報を示す信号のうち記録マークに対応する信号の極性が正になるように、ユーザ情報を示す信号のうちスペースに対応する信号の極性が負になるように、信号の極性を制御する。極性が制御された信号は、信号処理手段208に入力される。従って、信号処理手段208は、アクセス装置200に装着された記録媒体100がHtoL型光ディスクであるかLtoH型光ディスクであるかに関らず、記録マークに対応する信号の極性が正でありスペースに対応する信号の極性が負であることを前提として、入力された信号を処理し得る。その結果、システムコントローラの開発負担が削減され、デバッグ効率を向上することができる。
欠陥部分検出手段218は、光ヘッド部202によって検出された反射光の反射レベルと所定のしきい値とに基づいて、少なくとも1つの欠陥部分を検出する。例えば、記録媒体100の記録領域には、異物(ゴミ、指紋など)が付着していることがある。異物が付着した領域に光が照射された場合には、異物の付着に起因して、反射光が散乱する。従って、異物が付着した領域からは反射光の反射レベルを殆んど検出することができない。欠陥部分検出手段218は、反射光を殆んど検出することができない領域を欠陥部分として検出する。
しきい値変更手段217は、特性情報に応じて、検出された反射レベルと所定のしきい値との差分を調整するために、所定のしきい値を変更する。例えば、しきい値変更手段217は、検出された反射レベルと所定のしきい値との差分を調整することによって検出された反射レベルの異常を検出し得るように、特性情報に応じて所定のしきい値を変更する。
光ディスクコントローラ219は、信号処理手段208、変調度演算手段216および欠陥部分検出手段218のうちの少なくとも1つの手段から出力された信号に基づいて、記録媒体100に情報を記録するための光の照射レベルを調整する。例えば、調整される光の照射レベルは、書き込みパワー、消去パワー、ボトムパワーのうちの少なくとも1つを示す。
反射レベル調整手段220は、特性情報および光ディスクコントローラ219で生成された信号に基づいて、記録媒体100から情報を再生するための光の反射レベルを調整する。反射レベル調整手段220は、光ヘッド部202が記録媒体100に照射する光の照射レベルを調整することによって、光の反射レベルを調整する。例えば、特性情報が、記録媒体100がLtoH型であることを示す場合には、反射レベル調整手段220は、光ヘッド部202が照射する光の強度を弱めることによって、光の反射レベルを低下させる。従って、LtoH型光ディスクで反射する光の強度を弱めることができる。その結果、LSIのダイナミックレンジを効率よく使用できる。
変調度演算手段216は、光ヘッド部202によって検出された光の反射レベルと特性情報とに基づいて、所定情報の変調度を計算する。具体的には、変調度演算手段216は、光ヘッド部202によって検出された光の反射レベルから未記録領域(スペース)で反射した光の反射レベルと記録部(記録マーク)で反射した光の反射レベルとを検出し、検出された2つのレベルに基づいて、所定情報の変調度を計算する。ここで、光ヘッド部202によって検出された光の反射レベルは、所定情報を示す。
図3Aおよび図3Bは、光ディスクに照射した光の照射レベルと光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。図3AはHtoL型光ディスクに照射した光の照射レベルとHtoL型光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。横軸はHtoL型光ディスクに照射した光の照射レベルを示す。縦軸はHtoL型光ディスクで反射した光の反射レベルを示す。
(式1)
Mod=(A−B)/A
ここで、‘A’は、未記録領域(スペース)で反射した光の反射レベルを示し、‘B’は、記録部(記録マーク)で反射した光の反射レベルを示す。
図3Bは、LtoH型光ディスクに照射した光の照射レベルとLtoH型光ディスクで反射した光の反射レベルとの関係を示す。横軸はLtoH型光ディスクに照射した光の照射レベルを示す。縦軸はLtoH型光ディスクで反射した光の反射レベルを示す。
特性情報によって示された特性がLtoH特性である場合には、変調度Modは(式2)によって定義される。
Mod=(B−A)/B
変調度演算手段216は、(式1)を演算するための第1演算器と(式2)を演算するための第2演算器とを含む。変調度演算手段216は、特性情報に応じて、これらの2つの演算器を切り替えることによって、所定情報の変調度を計算し得る。
従来では、異なる反射特性を有する光ディスクであっても、同一の式により変調度を計算していたため、例えばLtoH型光ディスクに対して上記(式1)で変調度を測定すると、変調の感度が悪くなるという不具合があった。しかし、本実施の形態のごとく、光ディスクの反射特性に応じて、(式1)を演算するための第1演算器と(式2)を演算するための第2演算器を切り替えて変調度を求めることにより、変調の感度を同等にできる。
図4Aは、記録部の再生振幅が減少するHtoL型ディスクに関し、8Tスペース(8Ts)、8Tマーク(8Tm)の単一パターンの繰り返し記録部および未記録部を再生した図である。縦軸は、記録部、未記録部を再生したときの再生振幅レベルを示し、横軸は、トラック方向(時間軸方向)を示す。Atopは、図4Aで示すように再生信号の反射レベルの最大値を示し、Abtmは、再生信号の反射レベルの最小値を示す。AtopおよびAbtmは、ある基準レベルからの振幅レベルである。ここで、基準レベルは、例えば再生のためのレーザパワーを切った時(レーザ消灯時)に検出されるレベルとしてもよい。また、基準レベルは、再生振幅を検出する回路における所定のレベルでもよい。本実施の形態では、変調度を求めるために8Tの繰り返し信号を用いているが、本発明はこれに限定されない。
以下、しきい値変更手段217と欠陥部分検出手段218との機能の詳細を説明する。
図5は、検出された光の反射レベルとしきい値とグランドレベルと検出信号とを示す。
欠陥部分は、光の反射レベルとしきい値とに基づいて検出される。LtoH型光ディスクのスペース(未記録部)で反射した光の反射レベルBとグランドレベルとの差分は、HtoL型光ディスクのスペース(未記録部)で反射した光の反射レベルAとグランドレベルとの差分よりも小さい。従って、LtoH型光ディスクの場合、欠陥部分の検出のためのしきい値Bを反射レベルBとグランドレベルとの間に正確に設定する必要がある。例えば、LtoH型光ディスクに対してしきい値Aが設定された場合には、しきい値Aのレベルと反射レベルBとが近いため、未記録部(スペース)が欠陥部分であると誤検出され得る。
欠陥部分検出手段218は、信号によって示されたしきい値Bと反射レベルとを比較して、欠陥部分を示す検出信号Bを生成する。
このように、検出された反射レベルの異常を検出し得るようにしきい値を変更することによって、光の反射レベルBとしきい値Bとに基づいて、正確に欠陥部分を検出できる。アクセス装置200は、欠陥部分検出期間は、制御動作をホールドする。欠陥部分を正確に検出することによって、アクセス装置200は、制御動作をホールドする必要のある期間を正確に認識できる。この場合、アクセス装置200は、検出された欠陥部分の領域を記録しておき、制御時にその記録された領域については制御動作を行わないようにしてもよい。
例えば、図2を参照して説明した例では、光ヘッド部202が「記録媒体に記録された所定情報を読み取る読み取り手段」として機能し、特性判別手段204と、信号極性反転手段206と、信号処理手段208と、変調度演算手段216と、しきい値変更手段217と、欠陥部分検出手段218と、光ディスクコントローラ219と、反射レベル調整手段220とが「読み取られた前記所定情報を処理する請求項1に記載の情報処理装置」として機能する。しかし、本発明のアクセス装置200は、図2に示されるものに限定されるわけではない。上述した各手段の機能が達成される限りは、任意の構成を有する装置が本発明の範囲内に含まれ得る。
例えば、信号極性反転手段206は、記録媒体100がHtoL型である場合には、記録マークに対応する信号の極性を負に維持し、スペースに対応する信号の極性を正に維持することができ、さらに、信号極性反転手段206は、記録媒体100がLtoH型光ディスクである場合には、記録マークに対応する信号の極性を正から負に反転し、スペースに対応する信号の極性を負から正に反転させることができる。従って、信号処理手段208は、アクセス装置200に装着された記録媒体100がHtoL型光ディスクであるかLtoH型光ディスクであるかに関らず、記録マークに対応する信号の極性が負でありスペースに対応する信号の極性が正であることを前提として、入力された信号を処理し得る。その結果、システムコントローラの開発負担が削減され、デバッグ効率を向上することができる。
なお、特性判別手段204は、光ディスクに特性情報が記録されていない場合でも、光ディスクの特性を判別し得る。例えば、光ヘッド部202は、特性情報が記録されていない光ディスクの未記録領域に光を照射する。光ヘッド部202は、未記録領域で反射した光の反射レベルを検出し、未記録領域で反射した光の反射レベルを示す信号を特性判別手段204に送る。特性判別手段204は、この信号によって示された光の反射レベルが所定の値より大きいか否かに基づいて、この光ディスクがHtoL型であるか、LtoH型であるかを判別し得る。
3.アクセス方法
図6は、本発明の実施の形態のアクセス処理手順を示す。
以下、図1、図2および図6を参照して、本発明の実施の形態のアクセス処理手順をステップごとに説明する。アクセス処理手順はアクセス装置200によって実行される。アクセス装置200には、記録媒体100が挿入されている。
ステップ304:アクセス装置200の起動に伴って、光ヘッド部202が記録媒体100のPIC領域104にアクセスし、光ヘッド部202がPIC領域104から特性情報を読み取る。
ステップ306:特性判別手段204は、読み取られた特性情報に基づいて、記録媒体100がHtoL型光ディスクであるかLtoH型光ディスクであるかを判別する。
ステップ308:記録媒体100がHtoL型光ディスクであると判別された場合には、特性判別手段204は、信号極性反転手段206、しきい値変更手段217、変調度演算手段216および反射レベル調整手段220に対して、HtoL型光ディスクから読み取られた情報を処理するための設定を行う。
光ディスクから読み取られた情報を処理するための設定が完了した後、処理はステップ310に進む。
ステップ310:光ヘッド部202が記録媒体100のデータ領域102にアクセスし、光ヘッド部202がデータ領域102からユーザ情報を読み取る。
ステップ312:アクセス装置200は、読み取られたユーザ情報を処理する。
以上、図1、図2および図5を参照して、本発明の実施の形態のアクセス処理手順を説明した。
以上、図1〜図6を参照して、本発明の実施の形態を説明した。
例えば、図2に示される実施の形態で説明した各手段は、ハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとによって実現されてもよい。ハードウェアによって実現される場合でも、ソフトウェアによって実現される場合でも、ハードウェアとソフトウェアとによって実現される場合でも、本発明のアクセス処理手順が実行され得る限り、任意の手順を有し得る。
例えば、本発明のアクセス装置には、アクセス処理を実行させるためのアクセス処理プログラムが格納されている。
また、アクセス装置200では、特性情報が記録された記録媒体100から特性情報を読み取る例について説明したが、特性情報の取得経路はこれに限らない。例えば、アクセス装置200が図示しない記憶部などに予め特性情報を複数格納しており、アクセス装置200に搭載された光ディスクに応じた特性情報を記憶部から読み出して用いるものであってもよい。また、アクセス装置200は、特性情報を外部、例えば、インターネット上の特定のウェブサイトから取得してもよい。
101 Lead−in領域
102 データ領域
103 Lead−out領域
104 PIC領域
105 OPC領域
106 Drive領域
107 DMA領域
200 アクセス装置
202 光ヘッド部
204 特性判別手段
206 信号極性反転手段
208 信号処理手段
210 エッジシフト検出手段
212 アシンメトリ検出手段
214 β値検出手段
216 変調度演算手段
217 しきい値変更手段
218 欠陥部分検出手段
219 光ディスクコントローラ
220 反射レベル調整手段
Claims (1)
- 所定の特性を有する記録媒体、又は前記記録媒体を製造するための方法、又は前記方法を実行するためのプログラム、又は前記製造を実現するための設備であって、
前記記録媒体は、
第1の記録状態の時には透過率が1%前後で、第2の記録状態の時には透過率が15〜25%であるか、又は、
第1の記録状態の時には屈折率が20〜30%前後で、第2の記録状態の時には屈折率が3〜10%である、
ことを特徴とする、記録媒体、又は前記記録媒体を製造するための方法、又は前記方法を実行するためのプログラム、又は前記製造を実現するための設備。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008184118A JP4588085B2 (ja) | 2004-11-02 | 2008-07-15 | 情報処理装置、アクセス装置、記録媒体、情報処理方法および情報処理プログラム |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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