JP2008211367A - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

【課題】電子ビューファインダが使用可能でありながら、撮像素子の温度上昇に伴う画質の劣化を防止することが可能な撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】被写体像を撮像して画像データとして取得する撮像手段を具備し、前記被写体像を光学的に観察する第１の観察形態と、前記被写体像を前記撮像手段により取得され表示手段に表示された画像によって電子的に観察する第２の観察形態とのいずれか一方を選択して前記被写体を観察することが可能な撮像装置において、前記撮像手段の温度を測定する温度検出手段と、前記第１の観察形態と前記第２の観察形態とを切換える観察形態切換手段と、前記温度が所定の第１の判定値を超えている場合には、前記観察切換手段による前記第１の観察形態から前記第２の観察形態への切換を禁止する制御手段と、を具備する構成とした。
【選択図】図１

Description

本発明は、記被写体像を光学的に観察する第１の観察形態と、前記被写体像を撮像手段により取得され表示手段に表示された画像によって電子的に観察する第２の観察形態とのいずれか一方を選択して前記被写体を観察することが可能な撮像装置に関する。

いわゆるデジタルカメラである撮像装置（電子カメラ）において、ペンタプリズムやポロプリズム等の光学部材を用いて構成された光学式ファインダを介して被写体像を観察する形態と、液晶表示装置等の画像表示手段にＣＣＤ等の撮像素子で取得された画像データをライブビュー表示（スルー表示）することにより、該ライブビュー表示を介して電子的に被写体像を観察する形態との、２つの観察形態を具備するものが知られている。後者の観察形態は、電子ビューファインダ（ＥＶＦ）と称されるものである。

このような、２つの観察形態を具備する電子カメラは、例えば特開２０００−３３３０６４号公報に開示されている。
特開２０００−３３３０６４号公報

ところで、光学式ファインダと電子ビューファインダとを具備した撮像装置では、電子ビューファインダの使用時に、撮像素子を連続的に駆動するためＣＣＤ等の撮像素子の温度が上昇してしまう。撮像素子の温度上昇はダークノイズあるいは固定パターンノイズと呼ばれるノイズの増加を招くため、電子ビューファインダの使用時には、得られる画像データの画質が劣化してしまうという問題がある。

本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、電子ビューファインダが使用可能でありながら、撮像素子の温度上昇に伴う画質の劣化を防止することが可能な撮像装置を提供することを目的とする。

本発明に係る撮像装置は、被写体像を撮像して画像データとして取得する撮像手段を具備し、前記被写体像を光学的に観察する第１の観察形態と、前記被写体像を前記撮像手段により取得され表示手段に表示された画像によって電子的に観察する第２の観察形態とのいずれか一方を選択して前記被写体を観察することが可能な撮像装置であって、前記撮像手段の温度を測定する温度検出手段と、前記第１の観察形態と前記第２の観察形態とを切換える観察形態切換手段と、前記温度が所定の第１の判定値を超えている場合には、前記観察切換手段による前記第１の観察形態から前記第２の観察形態への切換を禁止する制御手段と、を具備することを特徴とする。

本発明のこのような構成によれば、撮像装置の温度が所定の第１の判定値を超えている場合に、電子ビューファインダが使用されることを禁止することが可能となる。よって、撮像素子の温度上昇に伴う画質の劣化を防止することができる。

（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態について図１から図１１を参照して説明する。以下に述べる本実施形態は、撮像装置の一般として、レンズ交換が可能な一眼レフレックス方式のオートフォーカス型電子スチルカメラ（以下、一眼レフカメラと称する）に本発明を適用したものである。なお、電子スチルカメラは、一般に、電子カメラ、デジタルカメラ、デジタルスチルカメラ等と称されるものである。

図１は、一眼レフカメラの主要な構成を示すブロック図である。図２から図５は、一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。図６及び図７は、タイマー割込みルーチンのフローチャートである。

まず、本実施形態の一眼レフカメラの構成を説明する。
本実施形態の撮像装置である一眼レフカメラ１は、カメラボディ部２と、該カメラボディに着脱可能なレンズユニット部３とを具備して構成される。なお、本実施形態に係る一眼レフカメラ１は、いわゆるレンズ交換式の一眼レフカメラであるが、本発明はこの形態に限られるものではなく、カメラボディ部とレンズユニット部とが一体に構成された一眼レフカメラであってもよい。

本実施形態の一眼レフカメラ１は、被写体像を結像するためのフォーカスレンズ２００と、該フォーカスレンズ２００の焦点面に配設され、結像された被写体像を光電変換して電気的な画像信号として出力する撮像素子１３０と、画像信号を変換して得られる被写体の画像データを表示する表示装置である液晶表示装置１０とを具備している。撮像素子１３０は、例えばＣＣＤ（電荷結合素子）、ＣＭＯＳ（相補型金属酸化膜半導体）あるいはその他の各種のタイプの撮像素子が適用され得る。

また、一眼レフカメラ１は、フォーカスレンズ２００の光軸上に進退可能に配設された光路切換手段であるクイックリターンミラー１７０と、該クイックリターンミラー１７０が光軸上に進出した場合に、撮像素子１３０と光学的に等価となる位置に配設されたフォーカシングスクリーン１６１と、該フォーカシングスクリーン１６１に結像された被写体像を観察するための観察光学系であるペンタプリズム１６２及び接眼レンズ１６３とを具備して構成されている。

上述のような主要構成を有する本実施形態の一眼レフカメラ１は、観察光学系により光学的に被写体像を観察する第１の観察形態である光学ファインダモード（以下、ＯＰＴモードと称する）と、撮像素子１３０からの画像データを液晶表示装置１０にライブビュー表示することで電子的に被写体像を観察する第２の観察形態である電子ビューファインダモード（以下、ＥＶＦモード）とを備えるものである。

一眼レフカメラ１による撮影時には、上述したＯＰＴモード及びＥＶＦモードのいずれか一方が選択される。なお、ＥＶＦモード時に被写体像をライブビュー表示する液晶表示装置１０は、一眼レフカメラ１のカメラボディ部２の背面に配設される形態であってもよいし、接眼レンズ１６３からフォーカシングスクリーン１６１と光学的に等価な距離に配設される形態であってもよい。

一眼レフカメラ１のカメラボディ部２の構成について以下に説明する。
カメラボディ部２は、レンズユニット部３が装着されるマウント部の後方に配設された、上述したクイックリターンミラー１７０と、該クイックリターンミラー１７０の後方に配設されたシャッタ１５０と、撮像素子１３０と、観察光学系と、制御手段であるシステムコントローラ１００と、液晶表示装置１０とを主に具備して構成されている。

一眼レフカメラ１の動作を制御する制御手段であるシステムコントローラ１００は、ＣＰＵ１０１と複数のブロック回路により構成されている。該複数のブロック回路は、画像処理回路１０３、圧縮伸長回路１０４、外部メモリＩＦ回路１０５、汎用Ｉ／Ｏ回路１０６、割込み制御回路１０７、タイマーカウンタ１０８、Ａ／Ｄコンバータ１０９及び動きベクトル検出回路１１０等の機能ごとにブロック化された回路である。

ＣＰＵ１０１と上記各ブロック回路とは、制御ラインやバスラインで電気的に接続されている。ＣＰＵ１０１は、フラッシュＲＯＭ１２０に格納されたプログラムコードに従って上記各ブロック回路を制御する。電力制御回路１０２は、システムコントローラ１００の各回路ブロックへの電力供給を、ＣＰＵ１０１からの指令に基づき制御する。

撮像素子１３０は、詳しくは後述するレンズユニット部３のフォーカスレンズ２００により結像された被写体像をアナログ電気信号に光電変換し出力する。撮像素子インターフェイス回路（以下、撮像素子ＩＦ回路と称する）１３１は、撮像素子１３０を駆動し、撮像素子１３１から出力されたアナログ電気信号を所定の画像データに変換し出力する。

画像処理回路１０３は、撮像素子１３１から出力された画像データに対して、γ補正、色変換、画素変換等の所定の処理を施して出力する。
圧縮伸長回路１０４は、画像処理回路１０３により処理が施された画像データの圧縮動作、及び外部メモリインターフェイス回路（以下、外部メモリＩＦ回路と称する）１０５から入力された圧縮された画像データの伸長動作を行う。
動きベクトル検出回路１１０は、一眼レフカメラ１のＥＶＦモード時に電子的ぶれ補正動作を行う際に利用される回路である。ＥＶＦモード時には、所定のフレームレートで画像データが撮像素子１３０から取得される。ここで、動きベクトル検出回路１１０は、時間軸上で隣接した２つの画像データを比較することで、画像内の動きベクトル、すなわち一眼レフカメラ１のぶれ（振動）の方向と速度を検出し、出力する。この動きベクトル検出回路１１０による動きベクトルの検出動作は、画像データが取得される毎に実行されるものである。

ＣＰＵ１０１は、この動きベクトル検出回路１１０により検出された動きベクトルに応じて、撮像素子１３０により取得された画像データ上の読出し位置を変更し、液晶表示装置１０にライブビュー表示するための画像データを生成する。したがって、ＥＶＦモード時において液晶表示装置１０に表示される被写体像は、一眼レフカメラ１のぶれが補正された状態で表示される。以後、この画像データ上の読み出し位置を補正することにより一眼レフカメラ１のぶれを補正する動作のことを、電子的ぶれ補正動作（第２のぶれ補正動作）と称することとする。なお、動きベクトル検出回路１１０の代わりに、一眼レフカメラ１の振動を検出するセンサを別途設けても良く、この振動検出センサとしては振動ジヤイロスコープ等を用いることが出来る。

外部メモリＩＦ回路１０５は、メモリカード１３２、ＤＲＡＭ１３３及びフラッシュＲＯＭ１２０とシステムコントローラ１００のデータバスとのブリッジ機能を有する。
汎用Ｉ／Ｏ回路１０６は、システムコントローラ１００に電気的に接続された操作スイッチ（以下、操作ＳＷと称する）１３４の読み込み端子や周辺回路を制御する制御信号の出力端子として使用される。

割込み制御回路１０７は、操作ＳＷ１３４により割込み信号、及びタイマーカウンタ１０８による割込み信号等を生成する。タイマーカウンタ１０８は、図示しないクロック供給回路からのクロックをカウントしてシステム制御に必要なタイミング信号を生成する。クロック供給回路は、発振子の出力から、システムコントローラ１００の動作に必要なクロックを生成し、各回路ブロックに供給する回路である。

Ａ／Ｄコンバータ１０９は、一眼レフカメラ１に配設され、システムコントローラ１００に電気的に接続された温度センサ１４０や測光センサ等のセンサからの入力信号をＡ／Ｄ変換する回路である。

電力回路１３６は、充電式電池であるバッテリー１３７の電圧をシステムコントローラ１００とその周辺回路に必要な駆動電圧に変換して出力する回路である。システムコントローラ１００からの指令に基づき、電力回路１３６による電力の分配が制御される。

フラッシュＲＯＭ１２０には、一眼レフカメラ１の全体の動作を制御するための制御プログラムが記述されたプログラムコード、制御パラメータ、温度センサ１４０により測定された温度Ｔの値を記録したログデータ等が記録されている。

ＳＤＲＡＭ１３３は、撮像素子ＩＦ回路１３１から出力された画像データの一時的な格納及びシステムコントローラ１００のワークエリア等として使用される。

上述のように構成されたシステムコントローラ１００は、フラッシュＲＯＭ１２０に記録されている制御プログラムを読み出し、実行することにより、一眼レフカメラ１の全体の動作を制御するのである。

表示手段である液晶表示装置１０は、液晶パネル１１、バックライト１３、液晶パネル駆動回路１２及びバックライト駆動回路１４を具備して構成されている。液晶パネル駆動回路１２は、液晶パネル１１を駆動する回路であり、液晶パネル１１は、液晶パネル駆動回路１２からの駆動信号に応じて、画像や文字、アイコン等の各種表示を行う。また、バックライト駆動回路１４は、液晶パネル１１を照明する照明素子であるバックライト１３のＬＥＤを駆動する回路である。

メモリカード１３２は、半導体の不揮発メモリや、小型のハードディスクドライブ等を具備し、一眼レフカメラ１に着脱自在に構成された記録媒体である。

時計回路（リアルタイムクロック）１３８は、年月日時分秒の時間データを生成し、システムコントローラ１００へ出力する回路である。

ＵＳＢコントローラ１３９は、一眼レフカメラ１と、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）端子を介して電気的に接続されるパーソナルコンピュータや外部記録装置等の外部装置との間におけるデータの送受信の制御を行う回路である。

操作ＳＷ１３４は、本実施形態では、２段階式のレリーズＳＷ、モード設定ＳＷ、ファインダモード選択ＳＷ、電源ＳＷ等により構成される、一眼レフカメラ１を操作するために利用されるスイッチ類により構成される。レリーズＳＷは、１ｓｔレリーズＳＷと２ｎｄレリーズＳＷの２段階式のスイッチであり、レリーズＳＷをいわゆる半押しした状態で１ｓｔレリーズスイッチがＯＮ状態となり、レリーズＳＷをいわゆる全押しした状態で２ｎｄレリーズＳＷがＯＮ状態となるものである。

撮像素子１３０は、フォーカスレンズ２００により結像された被写体像をアナログ電気信号に光電変換し出力する。撮像素子インターフェイス回路（以下、撮像素子ＩＦ回路と称する）１３１は、撮像素子１３０を駆動し、撮像素子１３１から出力されたアナログ電気信号を所定の画像データに変換し出力する。

温度センサ１４０及び温度測定回路１４１は、撮像素子１３０の温度Ｔを検出するために設けられている。温度センサ１４０は、例えば、温度に応じて抵抗値が変化する素子や半導体温度センサが利用可能である。また、撮像素子１３０の温度をより正確に測定するために、撮像素子１３０を構成する回路内部に、半導体温度センサが形成されるものであってもよい。

撮像素子１３０を遮光・露光制御するために、撮像素子１３０の露光画側にはシャッタ１５０が配置されている。シャッタ駆動機構１５１は、シャッタ１５０の開閉を行う機構である。シャッタ駆動機構１５１中に設けられたアクチェータを駆動する電力は、シャッタ＆ミラー駆動回路１５３から供給される。

クイックリターンミラー１７０は、フォーカスレンズ２００の光路中でありフォーカスレンズ２００が形成する像をフォーカシングスクリーン１６１ヘ導く位置であるＤＯＷＮ位置と、フォーカスレンズ２００の光路外へ退避しフォーカスレンズ２００が形成する像を撮像素子へ導く位置であるＵＰ位置とのいずれかに設定可能に配設された光路切換手段である。

クイックリターンミラー１７０は、ミラー駆動機構１５２によって駆動される。そしてミラー駆動機構１５２中に設けられたアクチェータを駆動する電力は、シャッタ＆ミラー駆動回路１５３から供給される。

測光回路１３８は、光学ファインダを介して被写体像の明るさを測定するフォトダイオードを具備して構成される。測光回路１３８は、該フォトダイオードの出力を増幅して、輝度に応じた電気信号として、システムコントローラ１００ヘ出力する。

クイックリターンミラー１７０の中央部には、光を所定の割合で透過する半透過領域が形成されている。クイックリターンミラー１７０がＤＯＷＮ位置にある場合、この半透過領域を透過したフォーカスレンズ２００の光束の一部は、サブミラー１７１により反射されてＡＦ（Ａｕｔｏ Ｆｏｃｕｓ）センサ１６５ヘと導かれる。このＡＦセンサ１６５は公知の位相差方式のＡＦセンサである。ＡＦセンサ１６５は、焦点検出回路１６６によって制御される。

ＣＰＵ１０１は、焦点検出回路１６６の出力に基づいて、フォーカスレンズ２００が形成する像の位置と撮像素子１３０の受光面とのズレ量であるデフォーカス量を算出する。このデフォーカス量は、レンズユニット部３に設けられたレンズ制御マイクロコンピュータ２０８ヘ送信される。

次に、一眼レフカメラ１のレンズユニット部３の構成について、以下に説明する。本実施形態の一眼レフカメラ１のレンズユニット部３は、光学的なぶれ補正動作が可能なものである。

レンズユニット部３は、フォーカスレンズ２００と、被写体光束の通過範囲を規定することにより光量を調節するための絞り２０２と、ぶれの補正を行うための補正レンズ２０４と、振動検出センサ２０７と、レンズ制御マイクロコンピュータ２０８とを具備して構成されている。

レンズユニット部３は、レンズ制御マイクロコンピュータ２０８によって制御される。レンズユニット部３が、カメラボディ部２に装着されることにより、レンズマイクロコンピュータ２０８とシステムコントローラ１００は通信ライン１８０によって電気的に接続される。そしてシステムコントローラ１００からの指令に応じてレンズ制御マイクロコンピュータ２０８は所定の動作を行う。また、レンズユニット部３には、図示しない電力線によって電力回路１３６から電力が供給される。

フォーカスレンズ２００は、フォーカスレンズ駆動機構２０１により駆動される。フォーカスレンズ駆動機構２００は、フォーカスレンズ２００の全部又は一部を変位させるアクチュエータを具備して構成される。

フォーカスレンズ２００の光束を制限する絞り２０２は、絞り２０２駆動するアクチュエータを具備した絞り駆動機構２０３によって駆動される。

フォーカスレンズ駆動機構２０１及び絞り駆動機構２０３のそれぞれのアクチュエータは、アクチェータ駆動回路２０６からの電力によって駆動される。レンズ制御マイクロコンピュータ２０８は、アクチェータ駆動回路２０６を介して、フォーカスレンズ２００の位置及び絞りを所定値に設定することが可能である。

また、振動検出センサ２０７は、レンズユニット部３、すなわち一眼レフカメラ１のぶれ（振動）を検出し、ぶれの程度に応じた電気信号をレンズ制御マイクロコンピュータ２０８ヘ出力する。振動検出センサ２０７は、公知の小型のジャイロスコープが用いられている。

レンズユニット部３の光学系内には、該光学系の一部を構成する補正レンズ２０４が配設されている。補正レンズ２０４は、光軸に直交する平面上において変位可能に配設されており、補正レンズ２０４を変位させるアクチュエータを具備した補正レンズ駆動機構２０５により駆動される。補正レンズ駆動機構２０５のアクチュエータは、アクチェータ駆動回路２０６からの電力によって駆動される。レンズ制御マイクロコンピュータ２０８は、アクチェータ駆動回路２０６を介して、補正レンズ２０４の位置を所定値に設定することが可能である。

レンズ制御マイクロコンピュータ２０８は、補正レンズ２０４を振動検出センサ２０７の出力に応じて変位させる。この動作によって、レンズユニット部３すなわち一眼レフカメラ１にぶれが生じた場合においても、フォーカスレンズ２００が形成する像を、フォーカシングスクリーン１６１上もしくは撮像素子１３０の受光面上において静止させることが可能となる。以後、この光学系の一部又は全部を変位させることにより焦点面上における被写体像のぶれを抑制し、一眼レフカメラ１のぶれを補正する動作のことを、光学的ぶれ補正動作（第１のぶれ補正動作）と称することとする。なお、振動検出センサ２０７はカメラボディ部２に配設されるものであってもよいし、光学的ぶれ補正動作を実現する機構もまた、カメラボディ部２に配設されるものであってもよい。

上述した構成を有する一眼レフカメラ１の、ＯＰＴモード時及びＥＶＦモード時における基本的な動作について以下に説明する。
ＯＰＴモード時においては、クイックリターンミラー１７０がＤＯＷＮ位置に設定され、フォーカシングスクリーン１６１上の像が、ペンタプリズム１６２と接眼レンズ１６３により構成される観察光学系である光学ファインダにより観察可能となる。また、ＯＰＴモード時においては、この測光回路１３８の出力に基づいて被写体の輝度が算出され、撮影条件が決定される。

また、ＯＰＴモード時においては、ＣＰＵ１０１は、焦点検出回路１６６の出力に基づいて、フォーカスレンズ２００が形成する像の位置と撮像素子１３０の受光面とのズレ量であるデフォーカス量を算出する。このデフォーカス量は、レンズユニット部３に設けられたレンズ制御マイクロコンピュータ２０８ヘ送信される。デフオーカス量に応じてフオーカスレンズ２００の位置が制御されることにより、一眼レフカメラ１における焦点調節がなされる。すなわち、本実施形態の一眼レフカメラ１のＯＰＴモード時においては、位相差ＡＦ方式が使用される。

また、ＯＰＴモード時においては、レンズユニット部３の補正レンズ２０４を振動検出センサ２０７の出力に応じて変位させることにより、一眼レフカメラ１のぶれを補正する光学的ぶれ補正動作が使用される。

一方、ＥＶＦモード時においては、クイックリターンミラー１７０がＵＰ位置に設定され、かつシャッタ１５０が開放状態とされ、撮像素子１３０に結像された像が、液晶表示装置１０にライブビュー表示されて観察可能となる。ここで、ＥＶＦモード時においては、クイックリターンミラー１７０がＵＰ位置にあるため、測光回路１３８による被写体像の明るさの測定が不可能である。このため、ＥＶＦモード時においては、ＣＰＵ１０１は、撮像素子１３０の出力から被写体の輝度が算出され、撮影条件が決定される。

ＥＶＦモード時には、ＡＦセンサ１６５及び焦点検出回路１６６による位相差ＡＦが不可能である。このため、ＥＶＦモード時には、撮像素子１３０から得られる画像データの所定の領域の鮮鋭度（コントラスト）を画像処理回路１０３によって検出し、この鮮鋭度が最大となるようにフォーカスレンズ２００を駆動する、いわゆるコントラスト検出ＡＦ方式が使用される。

また、ＥＶＦモード時においては、画像データ上の読み出し位置を補正することにより一眼レフカメラ１のぶれを補正する、電子的ぶれ補正動作が使用される。ここで、本実施形態の構成によれば、ＥＶＦモード時においても光学的ぶれ補正動作が可能なものである。しかしながら、光学的ぶれ補正動作は機構的な動作を必要とするものであり、消費電力等の観点から長時間にわたり光学的ぶれ補正動作を行うことは好ましくないため、本実施形態の一眼レフカメラ１においては、ＥＶＦモード時に電子的ぶれ補正動作が使用されるのである。

以上に説明したように、本実施形態の一眼レフカメラ１は、ＯＰＴモード及びＥＶＦモードからなる切換可能な観察手段（ファインダモード）と、位相差ＡＦとコントラスト検出ＡＦからなる切換可能な焦点調節手段と、測光回路１６４及び撮像素子１３０からなる切換可能な輝度測定手段と、光学的ぶれ補正動作と電子的ぶれ補正動作とからなる切換可能なぶれ補正手段と、を具備するものである。

ところで、一般に、撮像素子１３０は、温度の上昇に伴って発生するノイズが増加するため、撮像素子１３０の温度Ｔが上昇するほど、一眼レフカメラ１で得られる画像の画質が劣化してしまう。

そこで、本実施形態の一眼レフカメラ１では、撮像素子１３０の温度上昇に伴う画質の劣化を防止するために、撮像素子１３０の温度上昇の要因の一つである連続撮像動作、すなわちＥＶＦモードを、撮像素子１３０の温度Ｔが所定の判定値である温度判定パラメータＴｔｈ２未満の領域においてのみ許可している。

図８に、温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２の値を定めたテーブルの一例を示す。また、図９に撮像素子１３０の温度に基づいたファインダモードの制御の概要を示す。

温度判定パラメータＴｔｈ２（第２の判定値）は、図８のテーブルに示すように撮影モードに応じて変化する値であって、選択されている撮影モードにおいて、撮像素子１３０のノイズが取得画像に与える影響が許容できる範囲となる撮像素子１３０の温度Ｔの上限を規定する値である。すなわち、本実施形態の一眼レフカメラ１では、撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ２未満であれば、取得される画像への撮像素子１３０の発生するノイズの影響は実質的に排除できるものとしている。

図９に示すように、本実施形態の一眼レフカメラ１は、撮像素子１３０の動作可能温度の上限温度ＴＨと下限温度ＴＬとに挟まれた領域で撮影動作が可能である。なお、撮像素子１３０の温度Ｔと、一眼レフカメラ１の動作保障温度、すなわち一眼レフカメラ１が使用される環境の温度とは異なるものである。通常、撮像素子１３０の温度Ｔは、環境温度よりも高い値となり、例えばＥＶＦモードのように連続撮像動作を行えば上昇するものである。

ＥＶＦモードは、撮像素子１３０の温度Ｔが、動作可能温度の下限温度ＴＬから温度判定パラメータＴｔｈ２の範囲（図９中Ｒ１）で利用可能であり、ＯＰＴモードは、撮像素子１３０の温度Ｔが動作可能温度の下限温度ＴＬから上限温度ＴＨの範囲（図９中Ｒ２）で利用可能である。

また、ＥＶＦモードの状態において、撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ２以上となった場合（図９中Ｒ４）には、ファインダモードを自動的にＯＰＴモードへ変更する異常処理が実行される。

この異常処理は、後述する割込み処理により実行されるものであって、具体的にはクイックリターンミラー１７０をＤＯＷＮ位置へ移動させ、シャッタ１５０を遮蔽状態に設定し、そして撮像素子１３０による画像データの取得を停止する処理である。

このように、本実施形態の一眼レフカメラ１では、ＥＶＦモードの使用を、温度判定パラメータＴｔｈ２以上において禁止することにより、撮影時における撮像素子１３０の温度Ｔを、温度判定パラメータＴｔｈ２未満に保つことが可能となる。したがって、本実施形態によれば、撮像素子１３０の温度上昇に伴う画質の劣化を防止することが可能となるのである。

また、本実施形態の一眼レフカメラ１の使用者によるファインダモードの変更操作は、温度判定パラメータＴｔｈ２及びＴｔｈ１により規定される範囲において許可される。温度判定パラメータＴｔｈ１（第１の判定値）は、図８のテーブルに示すように撮影モードに応じて変化する値であって、Ｔｔｈ２よりも所定の値ΔＴだけ低い値である。

具体的には、図９に示すように、一眼レフカメラ１では、使用者によるＥＶＦモードからＯＰＴモードへのファインダモードの変更操作は、撮像素子１３０の温度Ｔが、動作可能温度の下限温度ＴＬから温度判定パラメータＴｔｈ２の範囲（図９中Ｒ３）で許可される。撮像素子１３０の温度Ｔが、温度判定パラメータＴｔｈ２から上限温度ＴＨの範囲（図９中、Ｒ４）においては、上述のように、自動的に異常処理によりＥＶＦモードはＯＰＴモードへ変更される。

一方、使用者によるＯＰＴモードからＥＶＦモードへのファインダモードの変更操作は、撮像素子１３０の温度Ｔが、動作可能温度の下限温度ＴＬから温度判定パラメータＴｔｈ１の範囲（図９中Ｒ５）で許可される。

ここで、温度判定パラメータＴｔｈ２とＴｔｈ１との差ΔＴは、撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ２付近である場合において、異常処理による自動的なＥＶＦもーどからＯＰＴモードへ変更動作と、操作者によるＯＰＴモードからＥＶＦモードへの手動の変更動作とが短期間中に頻繁に実行される防止するために設定されているものである。これにより、ファインダモードを短期間に高頻度に変更することでシステムが不安定になることを防止することが可能となる。

温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２の値について説明する。本実施形態においては、温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２は、図８に示すようなフラッシュＲＯＭ１２０に記憶されたテーブルに基づいて設定される。

図８に示すように、常にＴｔｈ２よりもＴｔｈ１の値が所定の値だけ小さく、また記録する画像の画質が高いほど温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２の値は共に小さく設定される。また、温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２の値は、撮影モードが静止画撮影であるか動画撮影であるかによっても異なり、静止画撮影においても、夜景シーンであるか昼光下におけるシーンであるかによっても異なる。

これは、実際の一眼レフカメラ１の運用においては、最終的に記録される画像データの画素数や圧縮率等に応じて、ノイズによる影響の許容されるレベルが異なることによるものである。

例えば記録する画素数が多い又は圧縮率が低いほど、ノイズの影響は大きくなる。また、露光時間が長い夜景シーンを撮影する場合においては、露光時間の短い昼光において撮影する場合に比して、撮像素子１３０の暗電流によるノイズの影響が大きい。また、動画に比して、静止画へのノイズの影響は大きい傾向にある。

このため、ノイズの影響が大きい撮影モードであるほど、撮像素子１３０の温度Ｔをより低く保つ必要がある。したがって、温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２の値は、ノイズの影響が大きい撮影モードであるほど、小さい値とされているのである。

なお、撮影モードと温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２との対応テーブルは、一眼レフカメラ１の製造工程おいてフラッシュＲＯＭ１２０に制御パラメータの一つとして記録されるものであるが、これらパラメータは使用者の好みによって設定可能とされてもよく、この場合、テーブルは所定の操作ＳＷを操作することでユーザによって入力される。

以下に、上述の構成を有する本実施形態の一眼レフカメラ１において、システムコントローラ１００のＣＰＵ１０１により実行される、メインルーチンについて図２から図５を参照して説明する。

起動プロセスには、電源オフ時にパワーＳＷが操作されることで一眼レフカメラ１のシステムが完全に停止した状態から起動するプロセスと、一眼レフカメラ１のシステムがスタンバイモードである状態から起動するプロセスとがある。

電源オフ時にパワーＳＷが操作者によりオン状態とされると、システムコントローラ１００は動作を開始し、ステップＳ１００において、メモリ初期化、ＩＯ初期化及び回路ブロック初期化等のシステムの初期設定動作を行う。

一方、スタンバイモード時に操作者により操作ＳＷ１３４に入力があると、システムコントローラ１００は、ステップＳ１０１において、スタンバイモードから起動した際の初期設定動作が行われる。なお、本実施形態の一眼レフカメラ１のスタンバイモードについての詳細は後述するものである。

次に、ステップＳ１０２において、タイマーカウンタ１０８の設定を行う。タイマーカウンタ１０８から出力されるタイミング信号は、所定の時間ごと、例えば１秒ごとに生成される。このタイミング信号を契機として、詳しくは後述する図６及び図７に示すタイマー割込み処理が実行される。また、タイミング信号は、一眼レフカメラ１の撮影動作にも用いられるものである。

次に、ステップＳ１１０において、操作ＳＷ１３４のうちのモード設定ＳＷの操作がなされたか否かを判定する。ここで、モード設定ＳＷとは、一眼レフカメラ１の撮影モードを設定するためのスイッチである。また、撮影モードの設定とは、撮影される画質の設定、撮影されるシーンの設定、動画撮影及び静止画撮影の切換、連続撮影とシングル撮影の切換等の設定を使用者が選択する動作のことである。モード設定ＳＷの操作がなされていればステップＳ１１１へ移行し、モード設定ＳＷの操作がなされていなければ、ステップＳ１１３へ移行する。

ステップＳ１１０の判定において、モード設定ＳＷの操作がなされたと判定した場合、ステップＳ１１１において、使用者により設定された撮影モードに対応した、画質、露出プログラム、撮影感度等の撮影条件が設定される。

次に、ステップＳ１１２において、設定された撮影モードに対応した、２つの温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２がフラッシュＲＯＭ１２０から読み出し、設定する。判定値Ｔｔｈ１及びＴｔｈ２を設定して記憶した後に、メインルーチンの動作ループの先頭（ステップＳ１１０）へ移行する。

一方、ステップＳ１１０の判定において、モード設定ＳＷの操作がなされていないと判定した場合、ステップＳ１１３において、操作ＳＷ１３４のうちのファインダモード選択ＳＷの操作がなされたか否かを判定する。ここで、ファインダモード選択ＳＷとは、一眼レフカメラ１における、使用者が被写体を観察する形態（ファインダモード）を選択するためのスイッチである。上述のように、本実施形態においては、ファインダモードは、光学ファインダを用いて被写体を観察するＯＰＴモード、及び撮像素子で取得した被写体の画像データを液晶表示装置１０を用いて観察するＥＶＦモードのいずれかが選択される。ファインダモード選択ＳＷの操作がなされていればステップＳ１１４へ移行し、ファインダモード選択ＳＷの操作がなされていなければ、ステップＳ１３０へ移行する。

ステップＳ１１３の判定において、ファインダモード選択ＳＷの操作がなされたと判定した場合、ステップＳ１１４において、現在のファインダモードが、第１観察形態であるＯＰＴモードであるか、第２観察形態であるＥＶＦモードであるかを判定する。ステップＳ１１４における判定がＯＰＴモードの場合はステップＳ１１５へ移行し、ＥＶＦモードのときはステップＳ１２１へ移行する。

ステップＳ１１４における判定がＯＰＴモードの場合、次にステップＳ１１５において、ＥＶＦ禁止フラグの状態を判定する。ここで、ＥＶＦ禁止フラグとは、制御パラメータの一つであり、この値が１の時は、ファインダモードの変更（ＯＰＴモードからＥＶＦモードへの変更）が禁止されるものである。このＥＶＦ禁止フラグの設定は、後述するタイマー割込み処理において行われる。

ステップＳ１１５における判定において、ＥＶＦ禁止フラグが１であった場合には、ステップＳ１３０へ移行する。一方、ステップＳ１１６における判定において、ＥＶＦ禁止フラグが０であった場合には、ステップＳ１１６ヘ移行する。

ステップＳ１１６において、ファインダモードをＥＶＦモードに設定し、ＯＰＴモードを終了する。次に、ステップＳ１１７において、撮像素子１３０へフォーカスレンズ２００の形成した像を導くためにクイックリターンミラーをＤＯＷＮ位置からＵＰ位置へ移動し、さらにシャッタ１５０を開放状態に設定する。

次に、ステップ１１８において、撮像素子１３０から画像データを取込み、液晶表示装置１０ヘ表示するために、撮像素子ＩＦ回路１３１、画像処理回路１０３、液晶パネル駆動回路１２及びバックライト駆動回路１４等の設定を行う。これによって被写体像が液晶表示装置１０で観察可能な状態、すなわちＥＶＦモードとなる。

次に、ステップＳ１１９において、ぶれ補正動作の方式の変更が行われる。具体的には、ＯＰＴモードからＥＶＦモードへのファインダモードの変更に伴い、光学的ぶれ補正動作から、電子的ぶれ補正動作へぶれ補正動作の方式が変更される。上述の通り、電子的ぶれ補正動作は、機構的な動作を伴わないため、光学的ぶれ補正動作に比して低消費電力でぶれ補正動作を長時間継続することが可能である。

次に、ステップＳ１２０において、撮影アルゴリズムの継承動作を実施する。本実施形態の一眼レフカメラ１においては、被写体の輝度や被写体の色等を検出し、その検出結果に基づいて被写体像を最適の条件で取得するための撮影条件を算出している。撮影得条件とは、シャッタ速度、絞り値、γ補正、色変換条件等のことを指す。より具体的には、撮影領域（視野）内の所定の複数の位置における輝度情報や色情報を取得し、ＣＰＵ１０１によりこれらの複数の情報に基づいて所定のＡＥ（Ａｕｔｏ Ｅｘｐｏｓｕｒｅ）アルゴリズムが実行されることで、撮影条件は決定される。

ここで、本実施形態の一眼レフカメラ１は、上述したようにＯＰＴモードとＥＶＦモードとで、被写体の輝度等を測定する測光手段や被写体に焦点を合わせる焦点調節手段が異なるものである。このため、ＯＰＴモードとＥＶＦモードとではそれぞれ異なるＡＥアルゴリズム及びＡＦアルゴリズムが用いられて撮影条件が決定される。

そこで、ＯＰＴモードとＥＶＦモードとを切換えた場合に、同じ被写体でありながら双方のＡＥアルゴリズムで得られた撮影条件が異なってしまうということがないように、双方のアルゴリズム間でパラメータの受け渡しが行われる。

また、同様にＡＦ動作においてもこの条件は守られるべきであり、ＯＰＴモードとＥＶＦモードとを切換えた場合に、同じ被写体でありながら双方の合焦位置が異なってしまうということがないように、双方のアルゴリズム間でパラメータの受け渡しが行われる。以上が、ステップＳ１２０における撮影アルゴリズムの継承動作である。アルゴリズムの継承動作が終了したらＳ１１０へ移行する。

一方、ステップＳ１１４における判定がＥＶＦモードの場合、次にステップＳ１２１において、ファインダモードをＯＰＴモードに設定し、ＥＶＦモードを終了する。次に、ステップＳ１２２において、光学ファインダヘフォーカスレンズ２００が結像する被写体像を導くためにクイックリターンミラー１７０をＵＰ位置からＤＯＷＮ位置へ移動し、さらにシャッタ１５０を遮蔽状態に設定する。

次に、ステップＳ１２３において、撮像素子１３０からの画像データを液晶表示装置１０で表示するライブビュー動作を停止する。次に、ステップＳ１２４において、ぶれ補正動作を、電子的ぶれ補正動作から光学的ぶれ補正動作へ変更する。そして、ステップＳ１２５において、ＥＶＦモードにおけるＡＥアルゴリズム及びＡＦアルゴリズムによる結果が、ＯＰＴモードにおけるＡＥアルゴリズム及びＡＦアルゴリズムの結果と一致するようにパラメータの受け渡しを行う、上述した撮影アルゴリズムの継承動作を行う。そしてＳ１１０へ移行する。

ステップＳ１１３の判定において、ファインダモード選択ＳＷの操作がなされていないと判定した場合、もしくは、ステップＳ１１５の判定においてＥＶＦ禁止フラグが０であった場合には、次にステップＳ１３０において、１ｓｔレリーズＳＷがＯＮであるか否かを判定する。すなわち、レリーズＳＷが半押しされたか否かを判定する。１ｓｔレリーズＳＷがＯＮ状態である場合にはステップＳ１３１へ移行し、ＯＮ状態でない場合にはステップＳ１７０へ移行する。

なお、以下に述べるステップＳ１３１からステップＳ１４３における動作は、レリーズＳＷが半押しの状態、すなわち１ｓｔレリーズＳＷがＯＮ状態である場合の動作に関わるものである。

ステップＳ１３０の判定において、１ｓｔレリーズＳＷがＯＮ状態であると判定された場合には、次にステップＳ１３１において、現在のファインダモードが、ＯＰＴモードであるか、ＥＶＦモードであるかを判定する。ステップＳ１３１における判定がＥＶＦモードの場合はステップＳ１３２へ移行し、ＯＰＴモードのときはステップＳ１３８へ移行する。

ステップＳ１３１における判定がＥＶＦモードの場合、次にステップＳ１３２において、制御パラメータの一つである異常処理許可フラグをクリアし、その値を０とする。

異常処理許可フラグとは、撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ２以上となった場合に、ＥＶＦモードをＯＰＴモードへ自動的に変更する異常処理の実行を、許可するか否かを設定するフラグであり、０又は１の値が入力される。異常処理許可フラグが０に設定されている場合には、異常処理の実行が禁止され、異常処理許可フラグが１に設定されている場合には、異常処理の実行が許可される。

ここで、ステップＳ１３１において異常処理許可フラグを０とする、すなわち異常処理の実行を禁止するのは、ＥＶＦモード時において１ｓｔレリーズＳＷがＯＮ状態とされた場合に実行される撮像素子１３０の出力を用いたコントラスト検出方式のＡＦと撮影条件の決定（ＡＥ）の動作を完了させるためである。

次に、Ｓ１３３からＳ１３５において、コントラスト検出方式のＡＦ動作を実行する。具体的には、ステップＳ１３３において、撮像素子１３０から出力される画像データから複数の測定ポイントにおけるコントラスト情報を取得する。この複数の測定ポイントの中からＡＦアルゴリズムに基づいて一点を選択する。ＡＦアルゴリズムは例えば人の顔の特徴を画像データから検出して測定ポイントを探し出す。

次にステップＳ１３４及びＳ１３５において、選択した測定ポイントにおけるコントラストが最大になるように撮影レンズの位置を変位させる。コントラストが最大となり焦点が合った状態と判定されるとステップＳ１３６へ移行する。

次に、ステップＳ１３６において、撮像素子１３０から出力される画像データから複数の測定ポイントにおける輝度情報を取得する。そしてＡＥアルゴリズムに基づいて撮影条件を決定する。次に、ステップＳ１３７において、異常処理許可フラグの値を１とし、ステップＳ１４４へ移行する。

以上に述べたステップＳ１３３からＳ１３６の処理によって、被写体に焦点が合い、撮影条件が決定される。すなわち、２ｎｄレリーズＳＷがＯＮ状態とされれば撮影動作が実行可能な状態となる。

一方、ステップＳ１３１における判定がＯＰＴモードの場合、次にステップＳ１３８からＳ１４２において、位相差方式によるＡＦ動作を実行する。ここでは、ＡＦセンサ１６５に蓄積動作を実行させ、ＡＦセンサ１６５のデータを読み出すことでデフォーカス量を求める。このデフォーカス量が所定の値以下、すなわち合焦状態になるとＡＦ動作を終了しステップＳ１４３へ移行する。デフォーカス量が所定値より大きい時は、デフォーカス量をレンズ制御マイクロコンピュータ２０８ヘ送信する。そして、デフォーカス量に応じて、フォーカスレンズ２００を駆動する。

次に、Ｓ１４３において、測光回路１６４から輝度データを取得する。そしてＡＥアルゴリズムに基づいて撮影条件を決定し、ステップＳ１４４へ移行する。

以上に述べたステップＳ１３８からＳ１４３の処理によって、被写体に焦点が合い、撮影条件が決定される。すなわち、２ｎｄレリーズＳＷがＯＮ状態とされれば撮影動作が実行可能な状態となる。

上述した、ステップＳ１３１からＳ１４１における、レリーズＳＷ半押し時の動作が終了した後に、ステップＳ１４４において、２ｎｄレリーズＳＷがＯＮ状態であるか否かを判定する。すなわち、レリーズＳＷが全押しされたか否かを判定する。２ｎｄレリーズＳＷがＯＮ状態である場合にはステップＳ１５０へ移行し、ＯＮ状態でない場合にはステップＳ１４５へ移行する。

ステップＳ１４４における判定において、２ｎｄレリーズＳＷはＯＮ状態ではないと判定された場合には、次にステップＳ１４５において、１ｓｔレリーズＳＷの状態を判定する。ここで、１ｓｔレリーズＳＷがＯＮ状態であれば、レリーズＳＷは半押し状態のまま保持されているため、ステップＳ１４４へ戻る。一方、１ｓｔレリーズＳＷがＯＦＦ状態であれば、使用者がレリーズＳＷの操作を中止したと判断してステップＳ１１０へ移行する。

ステップＳ１４４における判定において、２ｎｄレリーズＳＷはＯＮ状態であると判定された場合には、次にステップＳ１５０において、異常処理許可フラグの値を０とする。これは、以降の処理中において、異常処理が実行されることを禁止するためである。次に、ステップＳ１５１へ移行する。すなわち、以下に述べるステップＳ１５１からＳ１６５における動作は、レリーズＳＷが全押しされた状態、２ｎｄレリーズＳＷがＯＮ状態である場合の動作に関わるものである。

次に、ステップＳ１５１において、現在のファインダモードが、ＯＰＴモードであるか、ＥＶＦモードであるかを判定する。ステップＳ１５１における判定がＥＶＦモードの場合はステップＳ１５２へ移行し、ＯＰＴモードのときはステップＳ１５４へ移行する。

ステップＳ１５１における判定がＥＶＦモードの場合、次にステップＳ１５２において、液晶表示装置１０のライブビュー動作を停止するための処理を実行する。すなわち、撮像装置１３０からの画像データを液晶表示装置１０に表示するために必要な回路の動作を停止し、そしてシャッタ１５０を遮蔽状態に設定する。次に、ステップＳ１５３において、電子ぶれ補正動作に関連する回路の動作を停止する。次にステップＳ１５６へ移行する。

一方、ステップＳ１５１における判定がＯＰＴモードの場合、次にステップＳ１５４において、クイックリターンミラー１７０をＤＯＷＮ位置からＵＰ位置へ移動する。次に、ステップＳ１５５において、光学ぶれ補正動作を停止し、補正レンズ２０４のセンタリング動作を行うようにレンズ制御マイクロコンピュータ２０８ヘ指令する。レンズ制御マイクロコンピュータ２０８は、センタリング動作の指令を受けると補正レンズ２０４を移動範囲の中心へ移動する。次にステップＳ１５６へ移行する。

ステップＳ１５６において、撮像素子１３０の露光中に光学ぶれ補正動作を実行するために、ぶれ補正動作の開始をレンズ制御マイクロコンピュータ２０８ヘ指令する。次に、ステップＳ１５７において、既に決定されている撮影条件の絞り値及びシャッタスピードに応じて、絞り２０２及びシャッタ１５０を制御することにより、撮像素子１３０を露光する。これにより、撮影用の画像データが取得される。
次に、ステップＳ１５８において、光学ぶれ補正動作を停止し、補正レンズ２０４のセンタリング動作を行うようにレンズ制御マイクロコアピュータ２０８ヘ指令する。

ステップＳ１５９において、撮像素子１３０から出力された画像データに対し、決定された条件でγ補正及び色変換処理等の画像処理を行う。さらに動作モードに応じて画素数を変更後、圧縮された画像ファイルを作成する。画像ファイルはメモリカード１３２ヘ格納される。

次に、ステップＳ１６０において、現在のファインダモードが、ＯＰＴモードであるか、ＥＶＦモードであるかを判定する。ステップＳ１６０における判定がＥＶＦモードの場合はステップＳ１６１へ移行し、ＯＰＴモードのときはステップＳ１６３へ移行する。

ステップＳ１６０における判定がＥＶＦモードの場合、次にステップＳ１６１において、ＥＶＦモードを開始する、すなわち液晶表示装置１０のライブビュー動作を開始するための処理を実行する。シャッタ１５０を開放状態に設定し、撮像装置１３０からの画像データを液晶表示装置１０に表示するために必要な回路の動作を開始する。

次にステップＳ１６２において、電子ぶれ補正動作に関連する回路の動作を開始することで電子ぶれ補正動作を開始し、ステップＳ１６５へ移行する。

一方、ステップＳ１６０における判定がＯＰＴモードの場合、次にステップＳ１６３において、クイックリターンミラーをＤＯＷＮ位置へ移動し、ＯＰＴモードを開始する。次にステップＳ１６４において、光学的ぶれ補正動作の開始をレンズ制御マイクロコンピュータ２０８へ指令することで光学的ぶれ補正動作を開始し、ステップＳ１６５へ移行する。

ステップＳ１６５において、異常処理許可フラグの値を１とし、ステップＳ１１０へ移行する。以上が、一眼レフカメラ１においてレリーズＳＷが全押しされた場合に実行される撮影処理である。

一方、ステップＳ１３０の判定において、１ｓｔレリーズＳＷがＯＮ状態ではないと判定された場合には、次にステップＳ１７０において、操作ＳＷ１３４が最後に操作されてから所定の時間以上経過したか否かを判定する。ステップＳ１７０の判定において、操作ＳＷ１３４が最後に操作されてから所定の時間が経過したと判定された場合には、ステップＳ１７１へ移行し、続くスタンバイモードへの移行処理を行う。スタンバイモードとは、一眼レフカメラの消費電力を抑制するために、必要最低限の機能以外の回路ブロックの動作を停止した状態のことである。

次に、ステップＳ１７１において、スタンバイモード中に操作ＳＷ１３４が操作されると割込み信号が発生してＣＰＵ１０１が起動するように設定する。これは、操作ＳＷ１３４が操作された場合に、スタンバイモードを解除してメインルーチンを開始するためである。

次に、ステップＳ１７２において、現在の撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ１よりも小さいか否かを判定する。温度ＴのデータはログデータとしてフラッシュＲＯＭ１２０に格納されている。現在の撮像素子１３０の温度Ｔが、温度判定パラメータＴｔｈ１より小さい場合は、ステップＳ１７４に移行し、スタンバイモードへの移行処理が実行される。

一方、現在の撮像素子１３０の温度Ｔが、温度判定パラメータＴｔｈ１以上である場合には、ステップＳ１７３へ移行し、スタンバイモード中であっても撮像素子１３０の温度Ｔを測定するように設定する。Ｓ１６３においては、スタンバイモード中のタイマー割込みを許可し、スタンバイモードヘ移行する。スタンバイモード中は撮像素子１３０は駆動されないため、温度Ｔは下がる。

ここで、スタンバイモード時においても撮像素子１３０の温度Ｔの測定を続けるのは、スタンバイモード解除後に、ＥＶＦモードが選択可能かどうかの判定を直ちに行うことができるようにするためである。なお、スタンバイモード中のタイマー割込みの発生する周期は、通常の動作中の周期に比べて長くても良い。なぜならば、スタンバイモード中に駆動されない撮像素子１３０の温度Ｔが上昇することがないためである。

一方、ステップＳ１７０の判定において、操作ＳＷ１３４が最後に操作されてから所定の時間が経過していないと判定された場合には、ステップＳ１８０へ移行する。ステップＳ１８０において、操作ＳＷの一つであるパワーＳＷがＯＦＦ状態であるか否かを判定する。ここで、パワーＳＷがＯＦＦ状態ではない、すなわちＯＮ状態であれば、ステップＳ１１０に移行し、メインルーチンの処理を続行する。

ステップＳ１８０において、操作ＳＷの一つであるパワーＳＷがＯＦＦ状態であると判定された場合、ステップＳ１８１において、現在の現在のファインダモードが、ＯＰＴモードであるか、ＥＶＦモードであるかを判定する。

ステップＳ１８１における判定がＥＶＦモードの場合はステップＳ１８２へ移行し、クイックリターンミラー１７０をＵＰ位置からＤＯＷＮ位置へ移動する。そしてシャッタ１５０を遮蔽状態に設定する。そしてステップＳ１８３へ移行し一眼レフカメラ１の全ての回路を停止し、システムを終了する。

ステップＳ１８１における判定がＯＰＴモードの場合には、ステップＳ１８２の処理が不要であるため、そのままステップＳ１８３へ移行し一眼レフカメラ１の全ての回路を停止し、システムを終了する。

以上が、本実施形態の一眼レフカメラ１において実行されるメインルーチンの処理内容である。

次に、タイマー割込みに応じてシステムコントローラ１００が実行するタイマー割込み処理を、図６及び７を参照して説明する。タイマー割込み処理は、上述したように、タイマーカウンタ１０８から所定の周期で出力されるタイミング信号を契機として、実行される処理である。

まず、ステップＳ２００において、温度測定回路１４１の出力をＡＤ変換し、撮像素子１３０の温度Ｔを測定する。次に、ステップＳ２０１において、温度Ｔの測定結果を、測定動作がなされた時間と共にフラッシュＲＯＭ１２０に格納された温度ログデータに書き込み、温度ログデータを更新する。測定動作を行った時間は時計回路１３８から取得されるものである。

次に、ステップＳ２０２において、現在一眼レフカメラ１がスタンバイモード中であるか否かを判定する。スタンバイモード中ならば、ステップＳ２０３へ移行し、通常動作中であるならばステップＳ２０５へ移行する。

ステップＳ２０２の判定において、一眼レフカメラ１がスタンバイモード中であると判定された場合、ステップＳ２０３において、現在の撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ１よりも小さいか否かを判定する。現在の撮像素子１３０の温度Ｔが、温度判定パラメータＴｔｈ１よりも小さければ、ステップＳ２０４に移行し、スタンバイモード中のタイマー割込み処理の実行を禁止する。そしてスタンバイモードヘ移行する。ここで、スタンバイモード中におけるタイマー割込み処理を禁止する理由は、撮像素子１３０の温度Ｔが十分に下がっているため、温度Ｔを測定する理由が無くなったからである。

一方、ステップＳ２０３において、現在の撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ１以上であれば、引き続き温度Ｔの測定が必要であるので、割込みを禁止することなくスタンバイモードヘ移行する。

一方、ステップＳ２０２の判定において、現在一眼レフカメラ１が通常動作中であると判定された場合には、次にステップＳ２０５において、異常処理許可フラグの状態を判定する。ここで、異常処理許可フラグの値が０ならば、割込みルーチンからメインルーチンヘ復帰する。すなわち、この場合においては、タイマー割込み処理は、温度Ｔの測定のみを行う。これは、タイマー割込み処理が、一眼レフカメラ１の撮影準備動作や撮影動作に影響を及ぼさないようにするためである。

例えば、ＥＶＦモード中の撮影準備動作としては、焦点調節動作（ＡＦ動作）や測光動作（ＡＥ動作）等が存在する。これらの撮影準備動作中にファインダモードをＥＶＦモードからＯＰＴモードへ切換えてしまうと、撮影準備動作が途中であっても終了してしまう。このため、ファインダモードがＯＰＴモードに移行し終わってから、再度撮影準備動作をしなければならない。このような、撮影準備動作中にファインダモードの変更処理が実行されてしまうと、レリーズタイムラグが増大してしまい、結果、使用者は意図した撮影タイミングを逸してしまう恐れがある。そこで、撮影準備動作中においては、異常処理許可フラグは０に設定されるのである。

ステップＳ２０５の判定において、異常処理許可フラグの値が１であったならば、ステップＳ２０６へ移行する。

ステップＳ２０６及びステップＳ２０７においては、測定された撮像素子１３０の温度Ｔと、所定の判定値である温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２との比較を行う。ここで、撮像素子１３０の温度Ｔが、Ｔｔｈ２≧Ｔ≧Ｔｔｈ１の条件を満たすならばステップＳ２３０へ移行する。また、撮像素子１３０の温度Ｔが、Ｔｔｈ１＞Ｔの条件を満たすならばステップＳ２２０へ移行する。また、撮像素子１３０の温度Ｔが、Ｔ＞Ｔｔｈ２の条件を満たすならばステップＳ２１０へ移行する。

ステップＳ２１０では、ＥＶＦ禁止フラグの値を１とする。これにより、ＯＰＴモードからＥＶＦモードへのファインダモードの変更が禁止される。この禁止状態は撮像素子１３０の温度が温度判定パラメータＴｔｈ１未満になるまで維持される。

次にステップＳ２１１において、液晶表示装置１０に、図１０に示すような警告表示と温度データの表示を行う。この表示は、撮像素子１３０の温度Ｔが高くＥＶＦモードが使用できないことを使用者へ告知するためのものである。

ここで、液晶表示装置１０には、警告表示３００とともに、温度Ｔの測定結果の時間推移が横軸を時間としたグラフ３０１として表示される。この表示はＥＶＦモードが選択可能な状態となるまで維持され、グラフ３０１は、温度Ｔの測定が行われるごとに更新される。また、グラフ３０１には、温度判定パラメータＴｔｈ１及びＴｔｈ２を示す線３０２及び３０３も表示される。

使用者は、液晶表示装置１０に表示され、随時更新されるグラフ３０１を観察することで、ＥＶＦモードが利用できるまでの経過時間の予測が可能となる。

次に、ステップＳ２１２において、現在のファインダモードが、ＯＰＴモードであるか、ＥＶＦモードであるかを判定する。ステップＳ１６０における判定がＯＰＴモードの場合はメインルーチンヘ復帰する。

一方、ステップＳ１６０における判定がＥＶＦモードの場合は、ステップＳ２１３へ移行し、ファインダモードをＯＰＴモードに設定し、ＥＶＦモードを終了する。次に、ステップＳ２１４において、クイックリターンミラーをＵＰ位置からＤＯＷＮ位置へ移動し、さらにシャッタ１５０を遮蔽状態に設定する。

次に、ステップＳ２１５において、撮像素子１３０からの画像データを液晶表示装置１０で表示するライブビュー動作を停止する。次に、ステップＳ２１６において、ぶれ補正動作を、電子的ぶれ補正動作から光学的ぶれ補正動作へ変更する。そして、ステップＳ２１７において、ＥＶＦモードにおけるＡＥアルゴリズム及びＡＦアルゴリズムによる結果が、ＯＰＴモードにおけるＡＥアルゴリズム及びＡＦアルゴリズムの結果と一致するようにパラメータの受け渡しを行う、撮影アルゴリズムの継承動作を行う。そしてメインルーチンへ復帰する。

ステップＳ２２０では、ＥＶＦ禁止フラグの値を０とする。ＥＶＦ禁止フラグがクリアされることにより、ＯＰＴモードからＥＶＦモードへのファインダモードの変更処理が許可される。

次に、ステップＳ２２０において、液晶表示装置１０における、図１０に示した警告表示３００及びグラフ３０１の表示を消去する。そしてメインルーチンへ復帰する。使用者は、液晶表示装置１０の警告表示３００及びグラフ３０１が消えたことで、ファインダモードの変更が可能な状態になったことを知ることができる。

ステップＳ２３０では、液晶表示装置１０におけるグラフ３００の表示を、新たな測定データを追記することで更新し、メインルーチンへ復帰する。

以上が、本実施形態の一眼レフカメラ１において実行されるタイマー割込み処理の処理内容である。

なお、本実施形態では、撮像素子１３０の温度Ｔが高くＥＶＦモードが使用できない旨を警告する表示中にのみ温度データの表示を行う構成としたが、ユーザの便宜を図るため温度データを常に表示する構成にしてもよい。この場合、ＥＶＦモード中には被写体像と温度データとが液晶表示装置１０上で重畳されて表示されると、被写体像の観察がし辛くなるため、警告の表示が行われている場合以外に温度データの表示を行う動作は、使用者が選択できる構成にすることも可能である。

また、本実施形態では、撮像素子１３０の温度Ｔの測定結果のみを考慮してＥＶＦモードとＯＰＴモードとの切換を制御しているが、例えば、一眼レフカメラ１に配設された他の温度が高くなる半導体素子の温度も考慮するようにしてもよい。

また、撮像素子１３０の温度分布は必ずしも均一なものでないため、撮像素子１３０の温度Ｔを測定する温度センサ１４０を複数配設し、そこから得られる複数の温度データを考慮してＥＶＦモードとＯＰＴモードとの切換を制御してもよい。

また、撮像装置としての一眼レフカメラ１が使用される状況によっては、取得する画像へのノイズの影響が大きくとも、ＥＶＦモードを使用して撮影できることが優先される場合も考えられる。また、自動的にファインダモードが変更されることが、使用者の撮影動作を妨げてしまう場合も考えられる。

このため、上述した実施形態では、画質を優先するために撮像素子１３０の温度Ｔが温度判定パラメータＴｔｈ２以上である場合において、ＥＶＦモードの使用を禁止する構成のみを示しているが、撮影動作の即時性を優先するために、これらの制御を停止することが可能な動作モードも一眼レフカメラ１に具備されていることは言うまでもない。

また、本実施形態では、撮像素子１３０の温度Ｔの高温側の動作についてのみに着目しているものであるが、撮像素子が低温側においても出力する画像信号の劣化が生じる特性を有している場合、低温側にも本実施形態と同様に判定値を設けて制御を行うようにしてもよい。

（第２の実施形態）
以下、本発明の第２の実施形態を図１１から図１８を参照して説明する。本実施形態の一眼レフカメラは、第１の実施形態に比べ、撮像素子のノイズレベルを測定する手段が異なるが異なる。よって、この相違点のみを説明し、第１の実施形態と同様の構成には同じ符号を付し、その説明は省略する。

上述した第１の実施形態においては、撮像素子１３０の温度Ｔを測定することで、予め求められた温度Ｔとノイズレベルとの関係から、撮像素子１３０に生じるノイズの大きさの度合い（ノイズレベル）を間接的に算出している。そして、この算出されたノイズレベルによって、ＯＰＴモードとＥＶＦモードの切換を制御している。

これに対し、本実施形態においては、撮像素子１３０に、画像データを取得するための画素とは別に設けられ、遮光されたオプティカルブラック画素（以下、ＯＢ画素と称する）が形成されており、このＯＢ画素の出力である暗電流に基づいて、撮像素子１３０のノイズレベルを求めるものである。すなわち本実施形態においては、ＯＢ画素のダークノイズ、あるいは固定パターンノイズ（Ｆｉｘｅｄ Ｐａｔｔｅｒｎ Ｎｏｉｓｅ；以下、ＦＰＮと称する）を、撮像素子１３０の各画素のノイズレベルを代表する値として測定する。そして、この求められたノイズレベルを基にＯＰＴモードとＥＶＦモードの切換を制御する。

本実施形態に係る撮像装置であるデジタル一眼レフカメラ１ａは、図１１に示すように、第１の実施形態に比して、撮像素子１３０の温度を測定するための構成である温度センサ及び温度測定回路が省かれた構成を有するものである。

以下に、本実施形態の本実施形態の一眼レフカメラ１ａにおいて、システムコントローラ１００のＣＰＵ１０１により実行される、メインルーチンについて図１２から図１５を参照して説明する。なお、図１２から図１４における処理、すなわちステップＳ１００からステップＳ１６５までの処理については、ステップＳ１１２における処理のみが異なる。

ステップＳ１１２は、第１の実施形態においては温度判定パラメータの設定を行っているが、本実施形態においては、ノイズ判定パラメータの設定を行う。すなわち、撮影モードに応じた、ノイズ判定パラメータをフラッシュＲＯＭ１２０から読み出して設定する。この他のステップＳ１００からステップＳ１６５までの処理については、第１の実施形態と同一であるのでその説明を省略する。

図１３のステップＳ１３０の判定において、１ｓｔレリーズＳＷがＯＮ状態ではないと判定された場合には、次に図１５のステップＳ３００において、操作ＳＷ１３４が最後に操作されてから所定の時間以上経過したか否かを判定する。ステップＳ３００の判定において、操作ＳＷ１３４が最後に操作されてから所定の時間が経過したと判定された場合には、ステップＳ３０１へ移行し、続くスタンバイモードへの移行処理を行う。

ステップＳ３０１において、スタンバイモード中に操作ＳＷ１３４が操作されると割込み信号が発生してＣＰＵ１０１が起動するように設定する。これは、操作ＳＷ１３４が操作された場合に、スタンバイモードを解除してメインルーチンを開始するためである。そしてステップＳ３０２において、スタンバイモードへの移行処理を実行する。

一方、ステップＳ３００の判定において、操作ＳＷ１３４が最後に操作されてから所定の時間が経過していないと判定された場合には、ステップＳ３１０へ移行する。ステップＳ３１０において、操作ＳＷの一つであるパワーＳＷがＯＦＦ状態であるか否かを判定する。ここで、パワーＳＷがＯＦＦ状態ではない、すなわちＯＮ状態であれば、ステップＳ１１０に移行し、メインルーチンの処理を続行する。

ステップＳ３１０において、操作ＳＷの一つであるパワーＳＷがＯＦＦ状態であると判定された場合、ステップＳ３１１において、現在の現在のファインダモードが、ＯＰＴモードであるか、ＥＶＦモードであるかを判定する。

ステップＳ３１１における判定がＥＶＦモードの場合はステップＳ３１２へ移行し、クイックリターンミラー１７０をＵＰ位置からＤＯＷＮ位置へ移動する。そしてシャッタを遮蔽状態に設定する。そしてステップＳ３１３へ移行し一眼レフカメラ１ａの全ての回路を停止し、システムを終了する。

ステップＳ３１１における判定がＯＰＴモードの場合には、ステップＳ３１２の処理が不要であるため、そのままステップＳ３１３へ移行し一眼レフカメラ１ａの全ての回路を停止し、システムを終了する。

以上が、本実施形態の一眼レフカメラ１ａにおいて実行されるメインルーチンの処理内容である。

次に、タイマー割込みに応じてシステムコントローラ１００が実行するタイマー割込み処理を、図１６及び１７を参照して説明する。タイマー割込み処理は、タイマーカウンタ１０８から所定の周期で出力されるタイミング信号を契機として、実行される処理である。

まず、ステップＳ４００において、現在のファインダモードが、ＯＰＴモードであるか、ＥＶＦモードであるかを判定する。ステップＳ４００における判定がＥＶＦモードの場合はステップＳ４０１へ移行し、ＯＰＴモードの場合は、ステップＳ４２０へ移行する。この判定が設けられている理由は、ＥＶＦモードであるならば、撮像素子１３０のＯＢ画素からの出力を得るために必要な回路が動作しているので、ＯＢ画素の出力からノイズレベルを算出することが可能であるが、ＯＰＴモードの場合は撮像素子１３０が駆動されていないため、このような方法でのノイズレベルの算出が不可能となるからである。

ステップＳ４００の判定がＥＶＦモードであった場合は、次にステップＳ４０１において、撮像素子ＩＦ回路１３１を制御して、撮像素子１３０のＯＢ画素の出力を読み出す。このＯＢ画素の出力は、すなわち、撮像素子１３０の各画素のダークノイズのレベルに相当するものである。

次に、ステップＳ４０２において、測定されたＯＢ画素の出力値を、測定動作がなされた時間と共にフラッシュＲＯＭ１２０に格納された温度ログデータに書き込み、温度ログデータを更新する。

次に、ステップＳ４０３において、異常処理許可フラグの状態を判定する。ここで、異常処理許可フラグの値が０ならば、割込みルーチンからメインルーチンヘ復帰する。すなわち、この場合においては、タイマー割込み処理は、ＯＢ画素の出力の測定のみを行う。これは、タイマー割込み処理が、一眼レフカメラ１ａの撮影準備動作や撮影動作に影響を及ぼさないようにするためである。

ステップＳ４０３の判定において、異常処理許可フラグの値が１であったならば、ステップＳ４０４へ移行する。

ステップＳ４０４においては、測定されたＯＢ画素の出力（ダークノイズ）と、所定の判定値との比較を行う。ここで、ＯＢ画素の出力が判定値より大きければステップＳ４０５へ移行し、ＯＢ画素の出力が判定値未満であればメインルーチンへ復帰する。

なお、この判定値は一眼レフカメラ１ａの撮影モードや撮影条件によって変更される値である。この判定値は、第１の実施形態で説明したように、フラッシュＲＯＭ１２０に記憶された撮影モードや撮影条件等に応じて設定された判定値のテーブルを参照して設定されるものである。

具体的には、判定値は、撮像素子１３０のノイズが取得画像に与える影響が許容できる範囲となるノイズレベルの上限を規定する値である。すなわち、本実施形態の一眼レフカメラ１ａでは、撮像素子１３０のＯＢ画素の出力が判定値未満であれば、取得される画像への撮像素子１３０の発生するノイズの影響は実質的に排除できるものとしている。また、判定値は、ノイズの影響が大きい撮影モードであるほど、小さい値とされる。

次に、ステップＳ４０５において、ＥＶＦ禁止フラグの値を１とする。これにより、ＯＰＴモードからＥＶＦモードへのファインダモードの変更が禁止される。次にステップ４０６において、液晶表示装置１０に、図１８に示すような警告表示３００と残り冷却時間３０４を表示する。この表示は、撮像素子１３０の温度が高くＥＶＦモードが使用できないことを使用者へ告知するためのものである。

次に、ステップＳ４０７へ移行し、ファインダモードをＯＰＴモードに設定し、ＥＶＦモードを終了する。次に、ステップＳ４０８において、クイックリターンミラーをＵＰ位置からＤＯＷＮ位置へ移動し、さらにシャッタ１５０を遮蔽状態に設定する。

次に、ステップＳ４０９において、撮像素子１３０からの画像データを液晶表示装置１０で表示するライブビュー動作を停止する。次に、ステップＳ４１０において、ぶれ補正動作を、電子的ぶれ補正動作から光学的ぶれ補正動作へ変更する。そして、ステップＳ４１１において、ＥＶＦモードにおけるＡＥアルゴリズム及びＡＦアルゴリズムによる結果が、ＯＰＴモードにおけるＡＥアルゴリズム及びＡＦアルゴリズムの結果と一致するようにパラメータの受け渡しを行う、撮影アルゴリズムの継承動作を行う。

次に、ステップＳ４１２において、冷却時間の測定を開始する。本実施形態では、ＥＶＦモードの動作を禁止してから所定の時間の間は、撮像素子１３０を冷却するために撮像素子の動作を禁止する。そこで、撮像素子１３０の動作の停止後、タイマーカウンタ１０８からの信号出力のカウントを開始することで、冷却時間の測定を開始する。冷却時間の測定を開始後、メインルーチンヘ復帰する。

一方、ステップＳ４００の判定がＯＰＴモードであった場合は、次にステップＳ４２０において、冷却時間の測定中であるか否かを判定する。冷却時間の測定中であるならばステップＳ４２１へ移行し、測定中でないならばメインルーチンヘ復帰する。

ステップＳ４２１において、冷却時間が所定の時間以上であるか判定する。冷却時間が所定時間以上ならばステップＳ４２２へ移行し、冷却時間が所定時間未満ならばステップＳ４２５へ移行する。この判定用の所定時間は、フラッシュＲＯＭに記憶されているものである。

ステップＳ４２１の判定で、冷却時間が所定時間以上であったならば、次に、ステップＳ４２２において、ＥＶＦ禁止フラグの値を０とする。すなわち、撮像素子１３０の動作を所定時間以上停止したため、撮像素子１３０の温度の低下によりノイズレベルがＥＶＦの選択が可能な状態にまで低下しているとみなすのである。これにより、使用者は、ＯＰＴモードから、ＥＶＦモードへのファインダモードの変更を行うことが可能となる。

次に、ステップＳ４２３において、液晶表示装置１０に表示していた警告表示を消去する。そしてステップＳ４２４において冷却時間の計測動作を停止し、メインルーチンヘ復帰する。

ステップＳ４２１の判定で、冷却時間が所定時間未満であったならば、ステップＳ４２５において、液晶表示装置１０に表示している残り冷却時間３０４を更新する。ここで、晶表示装置１０に表示している残り冷却時間３０４は、所定時間から、冷却時間を減算した値である。この表示により、使用者は、ＥＶＦモードが使用できるまでの時間を認識することができる。残り冷却時間３０４の更新後、メインルーチンヘ復帰する。

なお、本実施形態では、ＯＰＴモードが選択されている場合のタイマー割込み処理においては、ＯＢ画素の出力の測定を行わない構成とし、消費電力を抑える構成としているが、ＯＰＴモード時であっても、撮像素子１３０を駆動してＯＢ画素の出力を定期的に測定する構成であってもよい。この場合、バッテリー１３７の残り充電電力量を考慮し、充電電力量が十分なときにのみＯＢ画素の出力を測定するようにしてもよいし、また、外部電源から電力が供給されている場合にのみＯＢ画素の出力を測定するようにしてもよい。

また、一眼レフカメラ１ａは、第１の実施形態で示したような、撮像素子１３０の温度を測定する温度センサを具備し、ＯＰＴモード時には、該温度センサによって撮像素子１３０の温度を測定し、この測定結果から、撮像素子１３０のノイズレベルを算出するようにしてもよい。

上述した実施形態に基づいて、以下の構成を提案することができる。すなわち、
（付記１）
像を形成する撮影レンズと
上記像を光学的に観察するためのファインダと、
上記像を画像データとして取得する撮像素子と、
上記画像データを表示する表示モニタと、
上記撮像素子の温度を測定し温度データを出力する温度検出手段と、
選択スイッチと、
上記選択スイッチの操作に応じて、上記ファインダを用いて上記像を観察する第１観察形態と上記表示モニタを用いて上記像を観察する第２観察形態との何れかを設定する設定手段と、を有し、
上記第２観察形態が設定されている際に上記温度データが所定の判定値（判定値２）を超えると、第２観察形態から第１観察形態へ観察形態が変更されることを特徴とする撮像装置。

（付記２）
像を形成する撮影レンズと
上記像を光学的に観察するためのファインダと、
上記像を画像データとして取得する撮像素子と、
上記画像データを表示する表示モニタと、
上記撮像素子の温度を測定し温度データを出力する温度検出手段と、
選択スイッチと、
上記選択スイッチの操作に応じて、上記ファインダを用いて上記像を観察する第１観察形態と上記表示モニタを用いて上記像を観察する第２観察形態との何れかを設定する設定手段と、を有し、
上記温度データが所定の判定値（判定値１）を超えている際には、上記設定手段による第１観察形態から第２観察形態への変更が禁止されることを特徴とする撮像装置。

（付記３）
像を形成する撮影レンズと
上記像を光学的に観察するためのファインダと、
上記像を画像データとして取得する撮像素子と、
上記画像データを表示する表示モニタと、
上記撮像素子の温度を測定し温度データを出力する温度検出手段と、
選択スイッチと、
上記選択スイッチの操作に応じて、上記ファインダを用いて上記像を観察する第１観察形態と上記表示モニタを用いて上記像を観察する第２観察形態との何れかを設定する設定手段と、
上記温度データが第１判定値を超えている際には、上記設定手段による第１観察形態から第２観察形態への変更を禁止し、上記第２観察形態が設定されている際に上記温度データが第２判定値を超えると、第２観察形態から第１観察形態へ設定する制御手段と、を有し、
上記第１、第２判定値は、第１判定値＜第２判定値の関係に設定されていることを特徴とする撮像装置。

（付記４）
上記電子撮像装置は更に、位相差方式の焦点検出センサを有し、上記第１観察形態が設定されると、上記焦点検出センサを用いて焦点検出動作を行い、上記第２観察形態が設定されると、撮像素子からの画像データに基づき焦点調節動作を行うことを特徴とする付記１乃至３に記載の撮像装置。

（付記５）
上記電子撮像装置は更に、ファインダを通過した光束から被写体の明るさを測定する測光回路を有し、上記第１観察形態が設定されると、上記測光回路を用いて被写体の輝度を測定し、上記第２観察形態が設定されると、撮像素子からの画像データに基づき被写体の明るさを測定することを特徴とする付記１乃至３に記載の撮像装置。

（付記６）
上記電子撮像素子は更に、光学的にぶれ補正を行う第１ぶれ補正手段と電子的にぶれ補正を行う第２ぶれ補正手段とを有し、上記第１観察形態が設定されると、上記第１ぶれ補正手段の動作を行い、上記第２観察形態が設定されると、上記第２ぶれ補正手段の動作を行うことを特徴とする付記１乃至３に記載の撮像装置。

（付記７）
上記判定値は撮影モードに応じて設定されることを特徴とする付記１乃至３に記載の撮像装置。

（付記１０）
像を形成する撮影レンズと上記像を光学的に観察するためのファインダと、上記像を画像データとして取得する撮像素子と、上記画像データを表示する表示モニタと、上記撮像素子のダークノイズ（ＦＰＮ）を測定するノイズ検出手段と、選択スイッチと、上記選択スイッチの操作に応じて、上記ファインダを用いて上記像を観察する第１観察形態と上記表示モニタを用いて上記像を観察する第２観察形態との何れかを設定する設定手段と、を有し、上記第２観察形態が設定されている際に上記ダークノイズの値が所定の判定値を超えると、第２観察形態から第１観察形態へ観察形態が変更されることを特徴とする撮像装置。

（付記１１）
像を形成する撮影レンズと上記像を光学的に観察するためのファインダと、上記像を画像データとして取得する撮像素子と、上記画像データを表示する表示モニタと、上記撮像素子のダークノイズ（ＦＰＮ）を測定するノイズ検出手段と、選択スイッチと、上記選択スイッチの操作に応じて、上記ファインダを用いて上記像を観察する第１観察形態と上記表示モニタを用いて上記像を観察する第２観察形態との何れかを設定する設定手段と、を有し、上記ダークノイズの値が所定の判定値を超えている際には、上記設定手段による第１観察形態から第２観察形態への変更が禁止されることを特徴とする撮像装置。

（付記１３）
上記電子撮像装置は更に、位相差方式の焦点検出センサを有し、上記第１観察形態が設定されると、上記焦点検出センサを用いて焦点検出動作を行い、上記第２観察形態が設定されると、撮像素子からの画像データに基づき焦点調節動作を行うことを特徴とする付記１０又は１１に記載の撮像装置。

（付記１４）
上記電子撮像装置は更に、ファインダを通過した光束から被写体の明るさを測定する測光回路を有し、上記第１観察形態が設定されると、上記測光回路を用いて被写体の輝度を測定し、上記第２観察形態が設定されると、撮像素子からの画像データに基づき被写体の明るさを測定することを特徴とする付記１０又は１１に記載の撮像装置。

（付記１５）
上記電子撮像素子は更に、光学的にぶれ補正を行う第１ぶれ補正手段と電子的にぶれ補正を行う第２ぶれ補正手段とを有し、上記第１観察形態が設定されると、上記第１ぶれ補正手段の動作を行い、上記第２観察形態が設定されると、上記第２ぶれ補正手段の動作を行うことを特徴とする付記１０又は１１に記載の撮像装置。

（付記１６）
上記判定値は撮影モードに応じてて設定されることを特徴とする付記１０又は１１に記載の撮像装置。

（付記２０）
像を形成する撮影レンズと、上記像を画像データとして取得する撮像素子と、上記撮影レンズの光束より位相差方式でデフォーカス量を求め、このデフォーカス量に応じて撮影レンズ撮影の位置を制御する第１焦点調整手段と、上記撮像素子の取得した画像データのコントラストが最大になるように撮影レンズの位置を制御する第２焦点調整手段と、上記撮像素子の温度を測定し温度データを出力する温度検出手段と、選択スイッチと、上記選択スイッチの操作に応じて、上記第１焦点調整手段と第２焦点調整手段との何れかを設定する設定手段と、を有し、上記第２焦点調整手段の設定されている際に上記温度データが所定の判定値を超えると、第２焦点調整手段から第１焦点調整手段へ焦点調整手段を変更することを特徴とする撮像装置。

（付記２１）
像を形成する撮影レンズと、上記像を光学的に観察するためのファインダと、上記像を画像データとして取得する撮像素子と、上記像の輝度をファインダの光束から測定する第１輝度測定手段と、上記像の輝度を撮像素子の出力から測定する第２輝度測定手段と、上記撮像素子の温度を測定し温度データを出力する温度検出手段と、選択スイッチと、上記選択スイッチの操作に応じて、第１輝度測定手段と第２輝度測定手段との何れかを選択する選択手段と、上記選択手段の選択した測定手段の測定結果に基づき撮影動作を行う制御手段と、を有し、上記第２輝度測定手段が設定されている際に上記温度データが所定の判定値を超えると、第２輝度測定手段から第１輝度測定手段へ輝度測定手段が変更されることを特徴とする撮像装置。

（付記２２）
像を形成する撮影レンズと、上記像を画像データとして取得する撮像素子と、上記撮影レンズの一部を変位させて光学的にぶれ補正動作を行う第１ぶれ補正手段と、上記撮像素子からの画像データの取込み位置を変位させて電子的にぶれ補正動作を行う第２ぶれ補正手段と、上記撮像素子の温度を測定し温度データを出力する温度検出手段と、選択スイッチと、上記選択スイッチの操作に応じて、上記第１ぶれ補正手段と上記第２ぶれ補正手段との何れかを設定する設定手段と、を有し、上記第２ぶれ補正手段が設定されている際に上記温度データが所定の判定値を超えると、第２ぶれ補正手段から第１ぶれ補正手段へ補正手段が変更されることを特徴とする撮像装置。

なお、本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う撮像装置もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。

一眼レフカメラの主要な構成を示すブロック図である。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 タイマー割込みルーチンのフローチャートである。 タイマー割込みルーチンのフローチャートである。 撮影モードと温度判定パラメータとの関係を定めたテーブルの一例である。 撮像素子の温度に基づいたファインダモードの制御の概要を説明する図である。 ＥＶＦモード禁止時の警告の表示例である。 一眼レフカメラの主要な構成を示すブロック図である。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 一眼レフカメラにおいて実行されるメインルーチンのフローチャートである。 タイマー割込みルーチンのフローチャートである。 タイマー割込みルーチンのフローチャートである。 ＥＶＦモード禁止時の警告の表示例である。

符号の説明

１ 一眼レフカメラ、 ２ カメラボディ部、 ３ レンズユニット部、 １０ 液晶表示装置、 １００ システムコントローラ、 １２０ フラッシュＲＯＭ、 １３０ 撮像素子、 １３４ 操作ＳＷ、 １４０ 温度センサ、 １６２ ペンタプリズム、 １６３ 接眼レンズ、 １７０ クイックリターンミラー

Claims (14)

1. 被写体像を撮像して画像データとして取得する撮像手段を具備し、前記被写体像を光学的に観察する第１の観察形態と、前記被写体像を前記撮像手段により取得され表示手段に表示された画像によって電子的に観察する第２の観察形態とのいずれか一方を選択して前記被写体を観察することが可能な撮像装置であって、
   前記撮像手段の温度を測定する温度検出手段と、
   前記第１の観察形態と前記第２の観察形態とを切換える観察形態切換手段と、
   前記温度が所定の第１の判定値を超えている場合には、前記観察切換手段による前記第１の観察形態から前記第２の観察形態への切換を禁止する制御手段と、を具備することを特徴とする撮像装置。
2. 前記制御手段は、前記第２の観察形態が選択された状態において前記温度が所定の第２の判定値を超えた場合に、前記観察形態切換手段に対して、前記第２の観察形態から前記第１の観察形態へ切換える指示を出力することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記第１の判定値は、前記第２の判定値よりも低い値であることを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
4. 位相差方式の焦点検出センサを具備し、
   前記第１の観察形態が選択されている場合には、前記焦点検出センサを用いて焦点検出動作を行い、前記第２の観察形態が設定される場合には、前記画像データに基づきコントラスト検出方式の焦点調節動作を行うことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の撮像装置。
5. 前記被写体からの光束の明るさを測定する測光回路を具備し、
   前記第１の観察形態が選択されている場合には、前記測光回路を用いて前記被写体の輝度を測定し、前記第２の観察形態が選択されている場合には、前記画像データに基づいて前記被写体の輝度を測定することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の撮像装置。
6. 前記撮像装置のぶれを光学的に補正する光学的ぶれ補正手段と、
   前記撮像装置のぶれを電子的に補正する電子的ぶれ補正手段と、を具備し、
   前記第１の観察形態が選択されている場合には、前記光学的ぶれ補正手段を使用し、前記第２の観察形態が選択されている場合には、前記電子的ぶれ補正手段を使用することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の撮像装置。
7. 前記第１の判定値及び前記第２の判定値は、撮影モードに応じて設定されることを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の撮像装置。
8. 被写体像を撮像して画像データとして取得する撮像手段を具備し、前記被写体像を光学的に観察する第１の観察形態と、前記被写体像を前記撮像手段により取得され表示手段に表示された画像によって電子的に観察する第２の観察形態とのいずれか一方を選択して前記被写体を観察することが可能な撮像装置であって、
   前記画像データに含まれるノイズレベルを検出するノイズレベル検出手段と、
   前記第１の観察形態と前記第２の観察形態とを切換える観察形態切換手段と、
   前記ノイズレベルが所定の判定値を超えている場合には、前記観察切換手段による前記第１の観察形態から前記第２の観察形態への切換を禁止する制御手段と、を具備することを特徴とする撮像装置。
9. 前記撮像手段は、一部に遮光されたオプティカルブラック画素を具備し、
   前記ノイズレベル検出手段は、前記オプティカルブラック画素からの出力信号に基づいて前記ノイズレベルを検出することを特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
10. 前記制御手段は、前記第２の観察形態が選択された状態において前記ノイズレベルが前記判定値を超えた場合に、前記観察形態切換手段に対して、前記第２の観察形態から前記第１の観察形態へ切換える指示を出力することを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
11. 位相差方式の焦点検出センサを具備し、
    前記第１の観察形態が選択されている場合には、前記焦点検出センサを用いて焦点検出動作を行い、前記第２の観察形態が設定される場合には、前記画像データに基づきコントラスト検出方式の焦点調節動作を行うことを特徴とする請求項８又は９に記載の撮像装置。
12. 前記被写体からの光束の明るさを測定する測光回路を具備し、
    前記第１の観察形態が選択されている場合には、前記測光回路を用いて前記被写体の輝度を測定し、前記第２の観察形態が選択されている場合には、前記画像データに基づいて前記被写体の輝度を測定することを特徴とする請求項８又は９に記載の撮像装置。
13. 前記撮像装置のぶれを光学的に補正する光学的ぶれ補正手段と、
    前記撮像装置のぶれを電子的に補正する電子的ぶれ補正手段と、を具備し、
    前記第１の観察形態が選択されている場合には、前記光学的ぶれ補正手段を使用し、前記第２の観察形態が選択されている場合には、前記電子的ぶれ補正手段を使用することを特徴とする請求項８又は９に記載の撮像装置。
14. 前記第１の判定値及び前記第２の判定値は、撮影モードに応じて設定されることを特徴とする請求項８又は９に記載の撮像装置。

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