JP2008207972A - 誘電体磁器組成物および電子部品 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明に係る誘電体磁器組成物は、
主成分が組成式:(Ba1−xCax)a(Ti1−yZry)O2+a(ただし、0<x≦0.06、0.02≦y≦0.08、0.998≦a≦1.005)で表され、主成分100モルに対し、副成分として、
MgO:0.50モル以下、
MnO:0.05〜1.0モル
Re2O3(ただし、Reは希土類元素):0.25〜1.5モル
V、Ta、Mo、Wからなる群から選ばれる元素の酸化物:0.01〜0.1モルおよび
(Ba1−zCaz)SiO3(zは0.05〜1.0):0.5〜3.0モル
を含むことを特徴としている。
【選択図】 なし
Description
(1)主成分が組成式:(Ba1−xCax)a(Ti1−yZry)O2+a(ただし、0<x≦0.06、0.02≦y≦0.08、0.998≦a≦1.005)で表され、主成分100モルに対し、副成分として、
MgO:0.50モル以下、
MnO:0.05〜1.0モル
Re2O3(ただし、Reは希土類元素):0.25〜1.5モル
V、Ta、Mo、Wからなる群から選ばれる元素の酸化物:0.01〜0.1モルおよび
(Ba1−zCaz)SiO3(zは0.05〜1.0):0.5〜3.0モル
を含む誘電体磁器組成物。
(2)前記誘電体磁器組成物中に含まれる(Ba1−zCaz)SiO3のz値が0.3〜0.7である(1)に記載の誘電体磁器組成物。
(3)上記(1)または(2)に記載の誘電体磁器組成物で構成してある誘電体層と、内部電極層とを有する積層セラミックコンデンサ。
図1は本発明の一実施形態に係る積層セラミックコンデンサの断面図、
図2は本発明の一実施形態に係る積層セラミックコンデンサの製造工程を示すフローチャートである。
本発明の誘電体磁器組成物は、(Ba1−xCax)a(Ti1−yZry)O2+aで表される組成の誘電体酸化物を含む主成分と、副成分として、MgO、MnO、希土類酸化物(Re2O3)、V、Ta、Mo、Wからなる群から選ばれる元素の酸化物および(Ba1−zCaz)SiO3を含有している。この際、酸素(O)量は、上記式の化学量論組成から若干偏倚してもよい。
図2に示すように、主成分の原料と副成分の原料とを、ボールミル等により混合し、誘電体磁器組成物粉末を得る。
(実施例)
なお、以下の実施例および比較例において、各種物性評価は、以下のように行った。
コンデンサの試料に対し、基準温度20℃において、デジタルLCRメータ(横河電機(株)製 YHP4274A)にて、周波数120Hz,入力信号レベル(測定電圧)0.5Vrms/μmの条件下で、静電容量Cを測定した。そして、得られた静電容量、積層セラミックコンデンサの誘電体厚みおよび内部電極同士の重なり面積から、比誘電率(単位なし)を算出した。比誘電率は、高いほど好ましい。
コンデンサ試料に対し、絶縁抵抗計(アドバンテスト社製R8340A)を用いて、20℃において5V/μmの直流電圧を、コンデンサ試料に1分間印加した後の絶縁抵抗IRを測定した。CR積は、上記にて測定した静電容量C(単位はμF)と、絶縁抵抗IR(単位はMΩ)との積を求めることにより測定した。
コンデンサ試料に対し、電圧を印可して電流が10mA以上流れた電圧を耐圧とした。測定数は各組成50個であり、中心値を代表値とした。
容量の温度特性は、EIA規格のX5Rを満足するか否かを調べた。具体的には、LCRメータにより、X5Rは−55〜85℃について測定電圧0.5Vrmsで容量を測定し、容量変化率が±15%以内(基準温度25℃)を満足するか否かを調べた。満足する場合を「A」、満足しない場合を「C」とした。
まず、120Hz、0.5VrmsのAC電圧を印可した時の静電容量を測定した後、DC2.0V(2V/μm)と120Hz、0.5VrmsのAC電圧を同時に印可した時の静電容量を測定した。得られた測定値により、静電容量の低下率を算出した。
加速寿命試験として、温度180℃にて直流電圧を16V(16V/μm)印可して、その絶縁抵抗の経時変化を測定した。なお、加速寿命試験では、各試料の絶縁抵抗値が105以下になったときの時間をIR寿命時間とし、複数の試料についての平均寿命時間を求めた。
10… コンデンサ素子本体
2… 誘電体層
3… 内部電極層
4… 外部電極
Claims (3)
- 主成分が組成式:(Ba1−xCax)a(Ti1−yZry)O2+a(ただし、0<x≦0.06、0.02≦y≦0.08、0.998≦a≦1.005)で表され、主成分100モルに対し、副成分として、
MgO:0.50モル以下、
MnO:0.05〜1.0モル
Re2O3(ただし、Reは希土類元素):0.25〜1.5モル
V、Ta、Mo、Wからなる群から選ばれる元素の酸化物:0.01〜0.1モルおよび
(Ba1−zCaz)SiO3(zは0.05〜1.0):0.5〜3.0モル
を含む誘電体磁器組成物。 - 前記誘電体磁器組成物中に含まれる(Ba1−zCaz)SiO3のz値が0.3〜0.7である請求項1に記載の誘電体磁器組成物。
- 請求項1または2に記載の誘電体磁器組成物で構成してある誘電体層と、内部電極層を有する電子部品。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102115329A (zh) * | 2009-12-31 | 2011-07-06 | 三星电机株式会社 | 介电陶瓷组合物及具有该组合物的多层陶瓷电容器 |
JP2011173747A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体セラミックおよび積層セラミックコンデンサ |
JP2011199252A (ja) * | 2010-03-23 | 2011-10-06 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
JP2012214334A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物および電子部品 |
JP2013211398A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Tdk Corp | 積層セラミックコンデンサ |
JP2014210693A (ja) * | 2013-04-17 | 2014-11-13 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド.Samsung Electro−Mechanics Co.,Ltd. | 誘電体磁気組成物、これを用いる積層セラミックキャパシター及び積層セラミックキャパシターの製造方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003176172A (ja) * | 2001-12-06 | 2003-06-24 | Nippon Chemicon Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
JP2003176173A (ja) * | 2001-12-06 | 2003-06-24 | Nippon Chemicon Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
JP2006027939A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-02-02 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物の製造方法、電子部品及び積層セラミックコンデンサ |
WO2006018928A1 (ja) * | 2004-08-19 | 2006-02-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd | 誘電体セラミック、及び積層セラミックコンデンサ |
JP2006062939A (ja) * | 2004-08-30 | 2006-03-09 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
JP2006111468A (ja) * | 2004-10-12 | 2006-04-27 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物の製造方法、電子部品及び積層セラミックコンデンサ |
JP2006160531A (ja) * | 2004-12-02 | 2006-06-22 | Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd | 誘電体磁器組成物及び磁器コンデンサとそれらの製造方法 |
JP2006282483A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Tdk Corp | 電子部品、誘電体磁器組成物およびその製造方法 |
JP2006342025A (ja) * | 2005-06-09 | 2006-12-21 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
-
2007
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003176172A (ja) * | 2001-12-06 | 2003-06-24 | Nippon Chemicon Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
JP2003176173A (ja) * | 2001-12-06 | 2003-06-24 | Nippon Chemicon Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
JP2006027939A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-02-02 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物の製造方法、電子部品及び積層セラミックコンデンサ |
WO2006018928A1 (ja) * | 2004-08-19 | 2006-02-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd | 誘電体セラミック、及び積層セラミックコンデンサ |
JP2006062939A (ja) * | 2004-08-30 | 2006-03-09 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
JP2006111468A (ja) * | 2004-10-12 | 2006-04-27 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物の製造方法、電子部品及び積層セラミックコンデンサ |
JP2006160531A (ja) * | 2004-12-02 | 2006-06-22 | Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd | 誘電体磁器組成物及び磁器コンデンサとそれらの製造方法 |
JP2006282483A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Tdk Corp | 電子部品、誘電体磁器組成物およびその製造方法 |
JP2006342025A (ja) * | 2005-06-09 | 2006-12-21 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物及び電子部品 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102115329A (zh) * | 2009-12-31 | 2011-07-06 | 三星电机株式会社 | 介电陶瓷组合物及具有该组合物的多层陶瓷电容器 |
JP2011136896A (ja) * | 2009-12-31 | 2011-07-14 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 誘電体磁器組成物及びそれを含む積層セラミックキャパシタ |
CN105152648A (zh) * | 2009-12-31 | 2015-12-16 | 三星电机株式会社 | 介电陶瓷组合物及具有该组合物的多层陶瓷电容器 |
JP2011173747A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体セラミックおよび積層セラミックコンデンサ |
US9406440B2 (en) | 2010-02-24 | 2016-08-02 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic and laminated ceramic capacitor |
JP2011199252A (ja) * | 2010-03-23 | 2011-10-06 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
JP2012214334A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Tdk Corp | 誘電体磁器組成物および電子部品 |
JP2013211398A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Tdk Corp | 積層セラミックコンデンサ |
JP2014210693A (ja) * | 2013-04-17 | 2014-11-13 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド.Samsung Electro−Mechanics Co.,Ltd. | 誘電体磁気組成物、これを用いる積層セラミックキャパシター及び積層セラミックキャパシターの製造方法 |
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