JP2008186564A - 磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法及び同方法を適用する磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法及び同方法を適用する磁気ディスク装置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】HDDの主コントローラは、磁気ディスクからのデータの読み込みを行ってBER(ビットエラー率)を測定する動作(S6)を、当該測定されたBERが基準のBERを超えるまで(S7)、磁気ヘッドの発熱体に供給される電力の量を最低レベルから(S1)段階的に増やしながら(S5)、繰り返し実行する。主コントローラは、測定されたBERが基準のBERを超えたことをもって(S7)、磁気ヘッドが磁気ディスクのディスク面に接触したことを検出する(S8)。
【選択図】 図4
Description
図1は本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置(以下、HDDと称する)の構成を示すブロック図である。図1において、ディスク(磁気ディスク)11は上側と下側の2つのディスク面を有している。ディスク11の2つのディスク面の少なくとも一方のディスク面は、データが磁気記録される記録面をなしている。
BER=log(エラービット数/転送ビット数)
のように、対数表現で示されるものとする。
次にCPU21は、ライトバッファ201にセクタ単位に格納されているテストデータ(書き込み用のテストデータ)と、リードバッファ202にセクタ単位に格納されているテストデータ(読み出されたテストデータ)とを比較することで、BERを計算する(ステップS3c)。
次に、エラー訂正回路192のエラー訂正能力を、ヘッド12がディスク11にタッチダウンしたことを検出する処理に最適な値に設定するようにした上記実施形態の変形例について説明する。
Claims (8)
- 磁気ヘッドに設けられた発熱体に供給される電力の量を制御することにより当該ヘッドと磁気ディスクのディスク面との距離を調整する磁気ディスク装置に適用される、磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法であって、
前記磁気ディスクからのデータの読み込みを行ってエラー率を測定する動作を、当該エラー率が基準のエラー率を超えるまで、前記電力の量を最低レベルから段階的に増やしながら繰り返すステップと、
前記エラー率が前記基準のエラー率を超えたことをもって、前記磁気ヘッドが前記磁気ディスクのディスク面に接触したことを検出するステップと
を具備することを特徴とする磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法。 - 前記エラー率が、エラーしたバイト毎にエラーとして検出されるシンボルエラー検出方式に基づいて測定されることを特徴とする請求項1記載の磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法。
- 前記磁気ディスク装置に設けられた、前記磁気ヘッドにより読み出された信号を2値化して復号するリードチャネル内の、当該2値化のためのサンプリングタイミングを調整するタイミングリカバリ回路のフィードバックゲインを、前記磁気ディスク装置が通常に使用される際に設定される最適フィードバックゲインよりも低い特定フィードバックゲインに設定するステップを更に具備し、
前記繰り返すステップが、前記タイミングリカバリ回路のフィードバックゲインが前記特定フィードバックゲインに設定されている状態で実行される
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法。 - 前記特定フィードバックゲインが、前記最適フィードバックゲインに一致する上限フィードバックゲインよりも低く、且つ前記電力の量が前記最低レベルの場合のエラー率が予め定められたエラー率より悪化し始める際のフィードバックゲインに一致する下限フィードバックゲインよりも高く設定されることを特徴とする請求項3記載の磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法。
- 前記電力の量が前記最低レベルに設定され且つ前記タイミングリカバリ回路のフィードバックゲインが前記特定ゲインに設定されている特定状態で前記磁気ディスクからのデータの読み込みを行ってエラー率を測定するステップと、
前記特定状態で測定されたエラー率に一定のマージンを加えた値を前記基準のエラー率として設定するステップと
を更に具備することを特徴とする請求項4記載の磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法。 - 前記電力の量が前記最低レベルに設定され且つ前記タイミングリカバリ回路のフィードバックゲインが前記最適フィードバックゲインに設定されている特定状態で、前記磁気ディスクからのデータの読み込みを行ってエラー率を測定する動作を、当該測定されたエラー率が目標エラー率の範囲に入るまで、前記磁気ディスク装置に設けられた、前記リードチャネルによって復号されたデータの誤りを当該データに付加されている誤り訂正符号に基づいて訂正するエラー訂正回路のエラー訂正能力を、最低レベルから段階的に上げながら繰り返すステップと、
前記特定状態で測定されたエラー率が前記目標エラー率の範囲に入った際の当該エラー率に一定のマージンを加えた値を前記基準のエラー率として設定するステップと
を更に具備することを特徴とする請求項4記載の磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法。 - 前記電力の量が前記最低レベルに設定され且つ前記エラー訂正回路のエラー訂正能力が前記基準のエラー率の設定時のレベルに設定されている、前記特定状態とは別の特定状態で、前記磁気ディスクからのデータの読み込みを行ってエラー率を測定する動作を、当該別の特定状態で測定されたエラー率が前記基準のエラー率を超えるまで、前記タイミングリカバリ回路のフィードバックゲインを前記最適レベルから段階的に下げながら繰り返すステップと、
前記別の特定状態で測定されたエラー率が前記基準のエラー率を超えた場合、現在のフィードバックゲインに下げられる直前のフィードバックゲインを前記特定フィードバックゲインとして設定するステップとを更に具備し、
前記判定するステップで用いられる前記エラー率を測定する動作の期間、前記エラー訂正回路のエラー訂正能力が前記基準のエラー率の設定時のレベルに設定されている
ことを特徴とする請求項6記載の磁気ヘッドと磁気ディスクとの接触を検出する方法。 - 磁気ヘッドに設けられた発熱体に供給される電力の量を制御することにより当該ヘッドと磁気ディスクのディスク面との距離を調整する磁気ディスク装置において、
前記磁気ヘッドにより読み出された信号を増幅するリードアンプと、
前記リードアンプによって増幅された信号を2値化して復号するリードチャネルと、
前記リードチャネルによって復号されたデータの誤りを当該データに付加されている誤り訂正符号に基づいて訂正するエラー訂正回路と、
前記発熱体に供給される電力の量を制御する発熱体制御回路と、
前記磁気ディスクからのデータの読み込みを行ってエラー率を測定する動作を、当該エラー率が基準のエラー率を超えるまで、前記発熱体制御回路によって前記発熱体に供給される電力の量を最低レベルから段階的に増やしながら繰り返し、前記エラー率が前記基準のエラー率を超えたことをもって、前記磁気ヘッドが前記磁気ディスクのディスク面に接触したことを検出する主コントローラと
を具備することを特徴とする磁気ディスク装置。
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