JP2008161849A - 塗布針と、それを用いた塗布ユニットおよび欠陥修正装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】先端部が修正液によって腐食されるのを防止することが可能な塗布針を提供する。
【解決手段】基板5上に形成された電極6のオープン欠陥部6aに修正液4を塗布するための塗布針1の少なくとも先端部に、修正液4によって塗布針1が腐食されるのを防止するための被膜層2を形成する。したがって、塗布針1の先端部が修正液4によって腐食されて塗布性能が低下することを防止できる。
【選択図】図1
【解決手段】基板5上に形成された電極6のオープン欠陥部6aに修正液4を塗布するための塗布針1の少なくとも先端部に、修正液4によって塗布針1が腐食されるのを防止するための被膜層2を形成する。したがって、塗布針1の先端部が修正液4によって腐食されて塗布性能が低下することを防止できる。
【選択図】図1
Description
この発明は塗布針と、それを用いた塗布ユニットおよび欠陥修正装置に関し、特に、基板上に形成された微細パターンの欠陥部に修正液を塗布する塗布針に関する。より特定的には、フラットパネルディスプレイの製造工程において発生する電極のオープン欠陥、プラズマディスプレイのリブ(隔壁)欠損、あるいは液晶カラーフィルタの白抜け欠陥、マスクの欠陥修正等、微細な欠陥部位を修正する欠陥修正装置に搭載する塗布針に関する。
近年、プラズマディスプレイ、液晶ディスプレイ、ELディスプレイなどのフラットパネルディスプレイの大型化、高精細化に伴い、ガラス基板上に形成された電極や液晶カラーフィルタなどに欠陥が存在する確率が高くなっており、歩留まりの向上を図るため欠陥を修正する方法が提案されている。
たとえば、液晶ディスプレイのガラス基板の表面には電極が形成されている。この電極が断線している場合、塗布針先端に付着させた導電性の修正ペースト(修正液)を断線部に塗布し、電極の長さ方向に塗布位置をずらしながら複数回塗布して電極を修正する(たとえば、特許文献1参照)。
また、塗布針を用いて欠陥部に修正液を塗布する方法として、待機時には塗布針先端を修正液の中に浸漬させ、塗布時には塗布針先端を容器の底の孔から突出させ、塗布針先端に修正液を付着させて欠陥部に塗布する方法がある(たとえば、特許文献2参照)。
また、塗布針の汚れを防止する方法として、塗布針の先端を除く部分に撥水性の高いニッケルメッキを施す方法がある(たとえば、特許文献3参照)。
特開平8−292442号公報
特開2006−310266号公報
特開2004−205912号公報
しかし、従来の塗布針では、塗布針先端に修正液が付着している時間が長くなると、使用する修正液の仕様(たとえば酸性溶液)によっては、塗布針先端が腐食して、先端に形成された直径30〜100μmの平坦面、およびテーパ面、あるいは、それに続く塗布針側面など、修正液が接触する部位が荒れるという問題があった。特に、塗布針先端の平坦面は、修正時に欠陥部に接触する場所である。平坦面が荒れて凹凸状になっても塗布性能に与える影響は少ないが、塗布時の面圧が局所的に高くなって、基板を傷つける、あるいは、塗布形状が乱れる場合がある。
それゆえに、この発明の主たる目的は、先端部が修正液によって腐食されるのを防止することが可能な塗布針と、それを用いた塗布ユニットおよび欠陥修正装置を提供することである。
この発明に係る塗布針は、基板上に形成された微細パターンの欠陥部に修正液を塗布する塗布針において、修正液によって塗布針が腐食されるのを防止するための被膜層が少なくとも塗布針の先端部に形成されていることを特徴とする。
好ましくは、被膜層はフッ素樹脂からなる。
また、この発明に係る塗布ユニットは、上記塗布針と、その底に塗布針と略同径の孔が開口され、修正液が注入された容器とを備え、待機時は塗布針の先端部を容器内の修正液に浸漬し、塗布時は修正液が付着した塗布針の先端部を孔から突出させることを特徴とする。
また、この発明に係る塗布ユニットは、上記塗布針と、その底に塗布針と略同径の孔が開口され、修正液が注入された容器とを備え、待機時は塗布針の先端部を容器内の修正液に浸漬し、塗布時は修正液が付着した塗布針の先端部を孔から突出させることを特徴とする。
また、この発明に係る欠陥修正装置は、フィルムに形成された欠陥部に応じた形状の孔の開口部を欠陥部に隙間を開けて対峙させ、修正液が付着した上記塗布針の先端の平坦面で孔を含む所定の範囲のフィルムを欠陥部に押圧するとともに孔を介して欠陥部に修正液を塗布し、フィルムの復元力でフィルムを基板から剥離させることを特徴とする。
この発明に係る塗布針では、修正液によって塗布針が腐食されるのを防止するための被膜層が少なくとも塗布針の先端部に形成されているので、修正液によって先端部が腐食されるのを防止することができる。
[実施の形態1]
図1(a)(b)は、この発明の実施の形態1による塗布針1の構成を示す断面図である。図1(a)(b)において、欠陥修正に使用する塗布針1の先端部は尖っているが、その先端は平坦に加工されている。平坦面1aの直径は、たとえば、30〜100μmであり、修正に必要な大きさに合わせて適宜選択されて使用される。
図1(a)(b)は、この発明の実施の形態1による塗布針1の構成を示す断面図である。図1(a)(b)において、欠陥修正に使用する塗布針1の先端部は尖っているが、その先端は平坦に加工されている。平坦面1aの直径は、たとえば、30〜100μmであり、修正に必要な大きさに合わせて適宜選択されて使用される。
塗布針1の先端は細く、耐久性や剛性を考慮して、たとえば鉄系(工具鋼など)の材料で形成されている。電極やカラーフィルタの修正に使用する修正液(修正ペースト、修正インク)の種類によっては、酸性を示すものがあり、このような修正液中に塗布針1の先端部を浸けて長期間使用すると、先端部の腐食が進み、平坦面1aを含む先端部表面が凹凸状に荒れる。そこで、本願発明では、塗布針1が修正液によって腐食されるのを防止するための被膜層2を少なくとも塗布針1の先端部に形成する。
図1(a)では、塗布針1の平坦面1aを含む先端部に被膜層2が形成されている。また、図1(b)では、塗布針1の全面に被膜層2が形成されている。被膜層2は、塗布針1のうちの修正液が付着する範囲に形成されていればよいが、少なくとも塗布針1の平坦面1aには被膜層2が必要となる。被膜層2により平坦面1aが直接修正液に触れることが防止され、平坦面1aの腐食が防止され、塗布性能を長期に渡って安定化することができる。
塗布針1の先端とは反対側の端部は塗布針1を固定する図示しない塗布針固定板に固定されるので、固定部を除く範囲に被膜層2を形成してもよい。この場合、平坦面1aと、平坦面1aに続くテーパ面1bと、テーパ面1bに続く円柱部1cの一部に被膜層2が形成される。
塗布針1に被膜層2を形成する場合、撥水、撥油を与える表面処理剤として市販されている、たとえば、フッ素系表面処理剤を用いる。フッ素系表面処理剤の液中に塗布針1を浸漬するか、あるいは、フッ素系表面処理剤の液を塗布針1にはけ塗りした後、放置して乾燥させるだけで被膜層2を形成することができる。被膜層2の性能を高めるため、低温(60〜180℃)で約30分から1時間加熱する場合もある。このような方法で得られる被膜層2の膜厚は数10nm〜100nm(ナノメートル)であるが、腐食防止効果は十分得られる。なお、被膜層2の撥水作用で修正液との接触角が多少増加するが、塗布針2の先端は微小であるので、塗布性能に与える影響は小さい。
また、被膜層2を形成することで、塗布針1の表面が汚れることを防止することも可能となり、洗浄時には、付着した修正液を簡単に除去することができる。経年変化あるいは、使用方法によっては、被膜層2の撥水効果が弱まる場合も想定されるが、その場合には、定期的に被膜層2を再形成すればよい。この他、被膜層2としては、樹脂系やガラス系のものを使用してもよい。
また、被膜層2は、たとえば、塗布針1の先端をペーパ上でラップして平坦面1aを形成した後に、少なくとも平坦面1aを含む先端部に形成される。このとき、平坦面1aに形成された被膜層2に瘤などの凸部が発生した場合には、塗布針1の先端をペーパ上で再度ラップして、被膜層2が剥離しない程度に先端を平らに処理する方が好ましい。
次に、この塗布針1の使用方法について説明する。まず図2に示すように、容器3内の修正液4中に塗布針1の先端部を浸漬する。このとき、塗布針1が修正液4で腐食されないように、塗布針1のうちの被膜層2で覆われた部分の先端部のみを修正液4に浸漬する。
塗布針1を容器3の上方に引き上げると、図3(a)に示すように、塗布針1の先端部に修正液4が付着している。修正液4が付着した塗布針1の先端部を、基板5の表面に形成された微細パターンである電極6のオープン欠陥部(断線部)6aの上方に位置させる。
次に、図3(b)に示すように、塗布針1を下降させて塗布針1の先端を欠陥部6aに接触させ、欠陥部6aに修正液4を塗布する。次いで図3(c)に示すように、塗布針1を上方に引き上げると、修正液4の塗布が終了する。塗布した修正液1を硬化させれば、電極6の欠陥部6aの修正が終了する。
なお、上述のように電極6のオープン欠陥部6aを修正する場合は、修正液1として導電性のペーストが使用される。また、カラーフィルタの白欠陥部(色抜け欠陥部)を修正する場合は、白欠陥部の周囲の色のインクを修正液4として使用する。また、プラズマディスプレイのリブ(隔壁)の一部が欠けたリブ欠け欠陥部を修正する場合は、低融点ガラス粉末を主成分とするリブペーストが修正液4として使用される。
[実施の形態2]
図4(a)(b)は、この発明の実施の形態2による塗布ユニット10の要部を示す断面図である。図4(a)において、この塗布ユニット10は、その底に第1の孔11aが開口され、修正液4が注入された容器11と、第2の孔12aが開口され、容器11を密封する蓋12と、第1および第2の孔11a、12aと略同じ径を有する塗布針1とを含む。塗布針1の表面全体に被膜層2が形成されている。
図4(a)(b)は、この発明の実施の形態2による塗布ユニット10の要部を示す断面図である。図4(a)において、この塗布ユニット10は、その底に第1の孔11aが開口され、修正液4が注入された容器11と、第2の孔12aが開口され、容器11を密封する蓋12と、第1および第2の孔11a、12aと略同じ径を有する塗布針1とを含む。塗布針1の表面全体に被膜層2が形成されている。
待機時は、塗布針1の平坦面1aを含む先端部は、第2の孔12aを貫通して修正液4に浸漬される。第1および第2の孔11a,12aの径は、それらに貫通する塗布針1の径よりも少し大きいが微小であるので、修正液4の表面張力や容器11の撥水・撥油性により、第1の孔11aからの修正液4の漏れはほとんど無い。
欠陥部6aに修正液4を塗布する場合は、図4(b)に示すように、塗布針1の先端部を容器11の底面に設けた第1の孔11aから下方に突出させる。第1の孔11aから突出した塗布針1の先端部には修正液4が付着している。この後、塗布針1と容器11を下降させて塗布針1先端の修正液4を欠陥部6aに塗布する。あるいは、第1の孔11aから突出した塗布針1の先端部が欠陥部6aに接触するようにして、修正液4を欠陥部6aに塗布してもよい。
この塗布ユニット10では、塗布針1の平坦面1aを含む先端部は塗布時を除いて修正液1中に浸漬した状態にある。したがって、塗布針1が被膜層2で覆われていなければ、修正液4が酸性を示す溶液である場合は、鉄系の部材からなる塗布針1の浸漬部は腐食が進み、その表面は荒らされる。しかし、この実施の形態2では、塗布針1の平坦面1aを含む範囲には被膜層2が施されているので、修正液4に浸漬している時間が長い場合であっても、腐食を防止することができる。
[実施の形態3]
図5(a)〜(c)は、この発明の実施の形態3による欠陥修正装置の要部を示す断面図である。図5(a)〜(c)において、この欠陥修正装置では、基板5上の電極6に発生したオープン欠陥部6aを、塗布針1とフィルム13を用いて修正する。塗布針1の平坦面1aの直径は、たとえば、30〜100μmであり、通常は、平坦面1aに付着した修正液4を欠陥部6aに転写して修正を行なうが、平坦面1aの大きさよりも細い細線、たとえば、10μm以下の幅で修正が必要な場合には、フィルム13を用いる。
図5(a)〜(c)は、この発明の実施の形態3による欠陥修正装置の要部を示す断面図である。図5(a)〜(c)において、この欠陥修正装置では、基板5上の電極6に発生したオープン欠陥部6aを、塗布針1とフィルム13を用いて修正する。塗布針1の平坦面1aの直径は、たとえば、30〜100μmであり、通常は、平坦面1aに付着した修正液4を欠陥部6aに転写して修正を行なうが、平坦面1aの大きさよりも細い細線、たとえば、10μm以下の幅で修正が必要な場合には、フィルム13を用いる。
フィルム13には欠陥部6aの形状に応じた形状の貫通孔13aがたとえばレーザ照射によって開けられ、図5(a)に示すように、貫通孔13aの開口部と電極6の欠陥部6aとは一定の隙間Gを保って対峙した状態にされる。フィルム13は、たとえば薄膜のポリイミドフィルムであり、マスクとして使用するのに十分な幅があればよく、たとえば、5mm〜15mm程度にスリットしたロール状フィルムである。フィルム13の厚さは、その下が透けて見える程度のものが好ましく、たとえば、10〜25μmである。
隙間Gは、たとえば、10〜1000μm程度に設定される。塗布針1の平坦面1aの周りに修正液4が付着した状態で、孔13aの略中央に塗布針1を上方から下降させると、図4(b)に示すように、フィルム13は変形して孔13aの周りの微小範囲のフィルム13が欠陥部6aの周囲に付着し、欠陥部6aに修正液4が充填される。その後、塗布針1は上方に退避する。
孔13aを含む微小範囲のフィルム13が欠陥部6aの周囲に接触する時間は、塗布針1がフィルム13を押している間であり、修正液4がフィルム13と基板5との隙間に毛細管現象で吸い込まれる前に、塗布針1を上方に退避させる。
塗布針1がフィルム13から離れれば、フィルム13の弾性で元の状態に戻り、孔13aを含む微小範囲のフィルム13は欠陥部5aから離れる。そのため、フィルム13が基板8に接触する時間は極わずかである。たとえば、接触時間は1秒以下である。
図5(c)は、塗布針1が上方に退避にした状態を示し、フィルム13は基板5から離れた状態に復帰しており、欠陥部6aには、孔13aの形状と略同形状の修正層4Aが残る。また、余分に塗布された修正液4はフィルム13の表面に残る。このように、フィルム13をマスクとして修正を行なうので、塗布針1による塗布形状よりも微細な修正層4Aを得ることが可能となる。
図5(b)に示すように、フィルム13を介して基板5に塗布針1の平坦面1aを押し当てる場合、腐食により平坦面1a表面が凹凸に荒れていても、フィルム13を介在させるので、基板5との間に微小な隙間を生じる可能性は低い。しかし、フィルム13を基板5に押す面圧は部分的に異なり、面圧が弱い部分や隙間が開いた個所から修正液4が漏れることも想定される。特に修正液4がナノ粒子を主原料とする銀ナノペーストで粘度が低い場合には、微小な隙間に入り込み易い。
それに対して、この実施の形態3では、塗布針1の表面に被膜層2を形成して耐薬品性を高めているため、酸性傾向にある修正液4を用いても、腐食による荒れを防止することができ、フィルム13を均一に押すことができる。
次に、この欠陥修正装置の使用方法の具体例について説明する。まず、液晶ディスプレイのTFT基板の電極のオープン欠陥部を修正する場合について説明する。図6(a)は、修正対象であるTFT基板21の要部を示す平面図であり、図6(b)は図6(a)のVIB−VIB線断面図である。図6(a)(b)において、TFT基板21はガラス基板22を備える。ガラス基板22の表面に、図中の左右方向に延在するゲート線23が形成されるとともに、ゲート線23の所定位置に図中の下方向に突出するゲート電極23aが形成される。ゲート線23およびゲート電極23aの表面はゲート絶縁膜24で被覆され、ゲート絶縁膜24およびガラス基板22の表面はゲート絶縁膜25で被覆される。
ゲート絶縁膜25の表面に、複数の画素電極26が行列状に形成される。図中の上下方向に隣接する2つの画素電極26の間の領域にゲート線23が配置されている。ゲート電極23aの上方にゲート絶縁膜24,25を介して半導体膜27が形成される。図中の左右方向に隣接する2つの画素電極26の間の領域に図中の上下方向に延在するドレイン線28が形成されるとともに、ドレイン線28の所定位置に図中の左方向に突出するドレイン電極28aが形成される。このドレイン電極28aの端部は、半導体膜27の一方端部の表面まで延びている。また、半導体膜27の他方端部の表面から画素電極26の一端部の表面にかけてソース電極29が形成される。
このようにして、ゲート電極23aとドレイン電極28aとソース電極29と半導体膜27とを含むTFT30が形成される。全体が保護膜31および配向膜(図示せず)で被覆されて、TFT基板21が完成する。TFT基板21と液晶とカラーフィルタ基板とで液晶パネルが構成される。
ここで図6(a)に示すように、ドレイン線28にオープン欠陥部28bが存在するものとする。保護膜31まで形成した後に欠陥部28bを修正する場合、保護膜31の一部をレーザ加工により除去して欠陥部28bを露出させ、修正液4を塗布し、硬化成膜処理を行なってドレイン線28の導通を確保した後で、修正個所の上に保護膜31を再形成する必要がある。そのため、修正の手間を簡略化できるように、保護膜31を形成する前の工程で欠陥部28bの修正を行なう方が好ましい。たとえば、ドレイン線28の形成が終了した時点では保護膜31は無く、この時点で修正を行なう。
図7に示すように、欠陥部28bの上方に孔13aを位置合わせした状態で、フィルム13をTFT基板21の上面に一定の隙間Gを開けて配置する。孔13aの開口部は、たとえば短軸長がSwで長軸長がSlの角形状であり、欠陥部28bの両端に位置する正常なドレイン線28にも修正液4を塗布できるように、孔13aの長軸長Slは欠陥部28bよりも長く設定される。このように、正常なドレイン線28と重なるように孔13aを形成すれば、修正層4Aと正常なドレイン線28とが重なる領域を確保できるので、修正部の抵抗値の低減化、密着性の向上などの効果が期待できる。
フィルム13は一定の張力によって張られた状態にある。隙間Gは、フィルム12を支持する支点の間隔やフィルム13の厚さによって異なるが、たとえば10〜1000μm程度に設定される。TFT基板21の表面には複数のパターンが積層されているため、凹凸形状になっているが、孔13aを含む微小範囲のフィルム13がTFT基板21と接触しない程度の隙間Gを保っていればよい。たとえば、隙間Gは200μm程度に設定される。修正液4の塗布は、図5(a)〜(c)で示したように、塗布針1を用いて行なわれる。修正液4としては、金属ナノ粒子を用いた銀ペーストなどの金属ナノペーストや金属錯体溶液(たとえばパラジウム錯体溶液)、金属コロイドを用いることができる。
図8は、欠陥部28bの修正が完了したTFT基板21の要部を示す平面図である。図8において、ドレイン線28のオープン欠陥部28b上に形成された修正層4Aは、正常なドレイン線28との重なり部を両端に持つ。
次に、液晶ディスプレイのカラーフィルタ基板の白欠陥部を修正する場合について説明する。図9(a)はカラーフィルタ基板41の構成を示す平面図であり、図9(b)は図9(a)のIXB−IXB線断面図である。図9(a)(b)において、カラーフィルタ基板41は、ガラス基板42と、その表面に格子状に形成されたブラックマトリックス43と、ブラックマトリックス43で囲まれる領域に形成された複数組のR(赤色)画素44、G(緑色)画素45およびB(青色)画素46とを備える。ブラックマトリックス43には、その一部の色が抜けた白欠陥部43aが発生しているものとする。
修正対象は白欠陥部43aが発生したカラーフィルタ基板41であり、白欠陥部43aと同じ形状の孔13aの開いたフィルム13をマスクとして使用する。図10に示すように、白欠陥部43aの上方に孔13aを位置合わせした状態で、フィルム13をカラーフィルタ基板41の上面に一定の隙間Gを開けて配置する。孔13aの開口部は、たとえば短軸長がSwで長軸長がSlの角形状である。隙間Gは、フィルム13を支持する支点の間隔やフィルム13の厚さ、フィルム13に与える張力によって異なるが、たとえば10〜1000μm程度に設定される。少なくとも孔13aを含む微小範囲のフィルム13が、カラーフィルタ基板41とは接触しない程度の隙間Gがあればよい。たとえば、隙間Gは200μm程度に設定される。
修正液4の塗布は、図5(a)〜(c)で示したように、塗布針1を用いて行なわれる。修正液4としては、ブラックマトリックス43の色すなわち黒色のインクが使用される。修正層4Aには、修正液4の仕様に合わせて紫外線硬化処理あるいは加熱硬化処理が施される。
図11は、白欠陥部43aの修正が完了した時点のカラーフィルタ基板41を上面から見た図である。白欠陥部43a上に形成された修正層4Aは、正常なブラックマトリックス43の幅と略同じ幅を有する。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 塗布針、1a 平坦面、1b テーパ面、1c 円柱部、2 被膜層、3 容器、4 修正液、4A 修正層、5 基板、6 電極、6a オープン欠陥部、10 塗布ユニット、11 容器、11a 孔、12 蓋、12a 孔、13 フィルム、13a 孔、21 TFT基板、22 ガラス基板、23 ゲート線、23a ゲート電極、24,25 ゲート絶縁膜、26 画素電極、27 半導体膜、28 ドレイン線、28a ドレイン電極、28b オープン欠陥部、29 ソース電極、30 TFT、31 保護膜、41 カラーフィルタ基板、42 ガラス基板、43 ブラックマトリックス、43a 白欠陥部、44 R画素、45 G画素、46 B画素。
Claims (4)
- 基板上に形成された微細パターンの欠陥部に修正液を塗布する塗布針において、
前記修正液によって前記塗布針が腐食されるのを防止するための被膜層が少なくとも前記塗布針の先端部に形成されていることを特徴とする、塗布針。 - 前記被膜層はフッ素樹脂からなることを特徴とする、請求項1に記載の塗布針。
- 請求項1または請求項2の塗布針と、
その底に前記塗布針と略同径の孔が開口され、前記修正液が注入された容器とを備え、
待機時は前記塗布針の先端部を前記容器内の前記修正液に浸漬し、塗布時は前記修正液が付着した前記塗布針の先端部を前記孔から突出させることを特徴とする、塗布ユニット。 - フィルムに形成された前記欠陥部に応じた形状の孔の開口部を前記欠陥部に隙間を開けて対峙させ、前記修正液が付着した請求項1または請求項2の塗布針の先端の平坦面で前記孔を含む所定の範囲のフィルムを前記欠陥部に押圧するとともに前記孔を介して前記欠陥部に前記修正液を塗布し、前記フィルムの復元力で前記フィルムを前記基板から剥離させることを特徴とする、欠陥修正装置。
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WO2016204152A1 (ja) * | 2015-06-19 | 2016-12-22 | Ntn株式会社 | 塗布装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016204152A1 (ja) * | 2015-06-19 | 2016-12-22 | Ntn株式会社 | 塗布装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20100406 |