JP2008107529A - Photosensitive siloxane composition, cured film formed from the same and element with cured film - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive siloxane composition which can be developed with a dilute alkali developer and can obtain a cured film having high transparency after heat curing. <P>SOLUTION: The photosensitive siloxane composition comprises: (a) a polysiloxane which is a copolymer obtained by hydrolyzing and condensing a compound represented by the formula (1): R<SP>1</SP><SB>x</SB>Si(OR<SP>2</SP>)<SB>4-x</SB>; (b) a quinonediazide compound; and (c) a solvent, wherein at least one of R<SP>1</SP>represents an alkyl group or oxyalkyl group substituted by an oxetanyl group or succinic acid anhydride group, the remaining R<SP>1</SP>is represented by hydrogen, a 1-10C alkyl group, 2-10C alkenyl group or a 6-15C aryl group, a plurality of symbols R<SP>1</SP>may be the same or different; R<SP>2</SP>represents hydrogen, a 1-6C alkyl group, a 1-6C acyl group or a 6-15C aryl group, a plurality of symbols R<SP>2</SP>may be the same or different; and x represents an integer of 1-3. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、液晶表示素子や有機EL表示素子などの薄膜トランジスタ(TFT)基板用平坦化膜、半導体素子の層間絶縁膜、あるいは光導波路のコアやクラッド材を形成するためのポジ型感光性シロキサン組成物、それから形成された硬化膜、およびその硬化膜を有する素子に関する。   The present invention relates to a positive photosensitive siloxane composition for forming a planarization film for a thin film transistor (TFT) substrate such as a liquid crystal display element or an organic EL display element, an interlayer insulating film of a semiconductor element, or a core or cladding material of an optical waveguide. Product, a cured film formed therefrom, and an element having the cured film.

近年、液晶ディスプレイや有機ELディスプレイなどにおいて、さらなる高精細、高解像度を実現する方法として、表示装置の開口率を上げる方法が知られている(特許文献1参照)。これは基板上に作製されたTFT素子の上に平坦化材料を塗布、熱硬化させることによってTFT素子上に透明な耐熱性平坦化膜を作製し、光をより効率的に透過させる方法である。   In recent years, a method for increasing the aperture ratio of a display device is known as a method for realizing higher definition and higher resolution in a liquid crystal display, an organic EL display, and the like (see Patent Document 1). In this method, a planarizing material is applied on a TFT element formed on a substrate and thermally cured to produce a transparent heat-resistant planarizing film on the TFT element, thereby transmitting light more efficiently. .

このようなTFT基板用平坦化膜の材料としては、高耐熱性、高透明性の材料が必要であり、これらの特性を併せ持つものとしてポリシロキサンが知られている(特許文献2参照)。また電極部にホールパターンを解像させ、様々な形状にパターニングするために平坦化膜を形成する材料自身に感光性を付与し、フォトリソグラフィ法で露光、現像することが求められており、さらにその感光性はポジ型であることが好ましいとされている(特許文献3参照)。   As a material for such a planarizing film for a TFT substrate, a material having high heat resistance and high transparency is required, and polysiloxane is known as having both of these characteristics (see Patent Document 2). In addition, it is required to resolve the hole pattern in the electrode part, impart photosensitivity to the material itself for forming the planarization film in order to pattern it into various shapes, and to expose and develop by photolithography. The photosensitivity is preferably a positive type (see Patent Document 3).

他方、平坦化膜を形成する材料には、コストと環境面から希薄アルカリ現像液で精度よく現像できることが求められている。しかしながらポリシロキサンは元来撥水性が大きく水にほぼ不溶であるため、希薄アルカリ現像液での現像が困難であった(特許文献4参照)。
特許第2933879号明細書(請求項1) 特開2006−152083号公報(請求項1) 特開2006−18249号公報(請求項1) 特開昭58−42682号公報(請求項1)
On the other hand, the material for forming the flattened film is required to be developed with a dilute alkaline developer from the viewpoint of cost and environment. However, since polysiloxane is inherently water repellent and almost insoluble in water, development with a dilute alkaline developer is difficult (see Patent Document 4).
Japanese Patent No. 2933879 (Claim 1) JP 2006-152083 A (Claim 1) JP 2006-18249 A (Claim 1) JP 58-42682 A (Claim 1)

本発明は上記のような事情に基づいてなされたものであり、希薄アルカリ現像液で現像可能であり、熱硬化後に高透明性を有する硬化膜を得ることができる感光性シロキサン組成物を提供することにある。また、上記特性を有する耐熱性絶縁膜、TFT基板用平坦化膜、層間絶縁膜、あるいはコアやクラッド材などの素子材料を提供することにある。   The present invention has been made based on the above circumstances, and provides a photosensitive siloxane composition that can be developed with a dilute alkaline developer and can obtain a cured film having high transparency after heat curing. There is. Another object of the present invention is to provide a heat-resistant insulating film, a TFT substrate planarizing film, an interlayer insulating film, or an element material such as a core or a clad material having the above characteristics.

すなわち本発明は、(a)下記一般式(1)で表される化合物を加水分解、縮合させることによって得られる共重合体であるポリシロキサン、(b)キノンジアジド化合物、(c)溶剤を含有する感光性シロキサン組成物である。   That is, this invention contains (a) polysiloxane which is a copolymer obtained by hydrolyzing and condensing the compound represented by the following general formula (1), (b) a quinonediazide compound, and (c) a solvent. It is a photosensitive siloxane composition.

Figure 2008107529
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(Rの少なくとも一つはオキセタニル基またはコハク酸無水物基が置換したアルキル基またはオキシアルキル基を表し、その他のRは水素、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかで表され、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。Rは水素、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。xは1〜3の整数を表す。) (At least one of R 1 represents an alkyl group or an oxyalkyl group oxetanyl group or succinic anhydride groups substituted, other R 1 represents hydrogen, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, from 2 to 10 carbon atoms alkenyl group, represented by any of the aryl group having 6 to 15 carbon atoms, more R 1 s may be the same or different from each .R 2 is hydrogen, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, 1 to carbon atoms 6 represents an acyl group of 6 or an aryl group of 6 to 15 carbon atoms, and a plurality of R 2 may be the same or different, and x represents an integer of 1 to 3).

本発明の組成物によれば、パターンを形成する際に希薄アルカリ現像液で現像することが可能であり、熱硬化後に高透明性を有する硬化膜を得ることができる。   According to the composition of the present invention, it is possible to develop with a dilute alkaline developer when forming a pattern, and a cured film having high transparency after heat curing can be obtained.

本発明は、(a)下記一般式(1)で表される化合物を加水分解、縮合させることによって得られる共重合体であるポリシロキサン、(b)キノンジアジド化合物、(c)溶剤を含有する感光性シロキサン組成物である。   The present invention relates to (a) a photosensitivity containing a polysiloxane which is a copolymer obtained by hydrolysis and condensation of a compound represented by the following general formula (1), (b) a quinonediazide compound, and (c) a solvent. Siloxane composition.

Figure 2008107529
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はオキセタニル基またはコハク酸無水物基が置換したアルキル基またはオキシアルキル基を表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。Rは水素、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。xは1〜3の整数を表す。 R 1 represents an alkyl group or an oxyalkyl group substituted by an oxetanyl group or a succinic anhydride group, and the plurality of R 1 may be the same or different. R 2 represents any one of hydrogen, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 1 to 6 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and a plurality of R 2 may be the same or different. . x represents an integer of 1 to 3.

本発明で用いる(a)ポリシロキサンは、上記一般式(1)で表される化合物を加水分解、縮合させることによって得られる共重合体である。   The (a) polysiloxane used in the present invention is a copolymer obtained by hydrolyzing and condensing the compound represented by the general formula (1).

一般式(1)のRの少なくとも一つはオキセタニル基またはコハク酸無水物基が置換したアルキル基またはオキシアルキル基を表す。またオキセタニル基またはコハク酸無水物基が置換したアルキル基またはオキシアルキル基以外のRは、水素、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表す。複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。一般式(1)のRの具体例としてはオキセタニル基またはコハク酸無水物が置換した、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基、n−ヘキシル基、n−デシル基、n−ブトキシ−n−プロピル基、イソプロポキシメチル基、エトキシエチル基などが挙げられる。またオキセタニル基またはコハク酸無水物基が置換したアルキル基またはオキシアルキル基以外のRで挙げられたアルキル基、アルケニル基、アリール基はいずれも置換基を有していてもよく、また置換基を有していない無置換体であってもよく、組成物の特性に応じて選択できる。アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基、n−ヘキシル基、n−デシル基、トリフルオロメチル基、2,2,2−トリフルオロエチル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、3−アミノプロピル基、3−メルカプトプロピル基、3−イソシアネートプロピル基が挙げられる。アルケニル基の具体例としては、ビニル基、3−アクリロキシプロピル基、3−メタクリロキシプロピル基が挙げられる。アリール基の具体例としては、フェニル基、トリル基、p−ヒドロキシフェニル基、1−(p−ヒドロキシフェニル)エチル基、2−(p−ヒドロキシフェニル)エチル基、4−ヒドロキシ−5−(p−ヒドロキシフェニルカルボニルオキシ)ペンチル基、ナフチル基が挙げられる。 At least one of R 1 in the general formula (1) represents an alkyl group or an oxyalkyl group substituted by an oxetanyl group or a succinic anhydride group. R 1 other than an alkyl group or an oxyalkyl group substituted by an oxetanyl group or a succinic anhydride group is hydrogen, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms, or an alkyl group having 6 to 15 carbon atoms. Represents any of aryl groups. The plurality of R 1 may be the same or different. Specific examples of R 1 in the general formula (1) include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a t-butyl group, an n-type substituted with an oxetanyl group or succinic anhydride. Examples include hexyl group, n-decyl group, n-butoxy-n-propyl group, isopropoxymethyl group, ethoxyethyl group and the like. In addition, the alkyl group, alkenyl group, and aryl group mentioned in R 1 other than the alkyl group or oxyalkyl group substituted by the oxetanyl group or succinic anhydride group may have a substituent. The non-substituted product may not be selected and can be selected according to the characteristics of the composition. Specific examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, t-butyl group, n-hexyl group, n-decyl group, trifluoromethyl group, 2,2 , 2-trifluoroethyl group, 3,3,3-trifluoropropyl group, 3-aminopropyl group, 3-mercaptopropyl group, 3-isocyanatopropyl group. Specific examples of the alkenyl group include a vinyl group, a 3-acryloxypropyl group, and a 3-methacryloxypropyl group. Specific examples of the aryl group include phenyl group, tolyl group, p-hydroxyphenyl group, 1- (p-hydroxyphenyl) ethyl group, 2- (p-hydroxyphenyl) ethyl group, 4-hydroxy-5- (p -Hydroxyphenylcarbonyloxy) pentyl group, naphthyl group.

一般式(1)のRは水素、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。Rで挙げられたアルキル基、アシル基、アリール基はいずれも置換基を有していてもよく、また置換基を有していない無置換体であってもよく、組成物の特性に応じて選択できる。アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基が挙げられる。アシル基の具体例としては、アセチル基が挙げられる。アリール基の具体例としては、フェニル基が挙げられる。 R 2 in the general formula (1) represents any one of hydrogen, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 1 to 6 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and a plurality of R 2 are the same. But it can be different. Any of the alkyl group, acyl group, and aryl group mentioned in R 2 may have a substituent, or may be an unsubstituted form having no substituent, depending on the characteristics of the composition. Can be selected. Specific examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, and an n-butyl group. Specific examples of the acyl group include an acetyl group. Specific examples of the aryl group include a phenyl group.

一般式(1)のxは1〜3の整数を表す。x=1の場合は3官能性シラン、x=2の場合は2官能性シラン、x=3の場合は1官能性シランである。   X of General formula (1) represents the integer of 1-3. When x = 1, it is a trifunctional silane, when x = 2, it is a bifunctional silane, and when x = 3, it is a monofunctional silane.

一般式(1)で表される化合物の具体例としては、3−エチル−3−(3−トリエトキシシリルプロポキシメチル)オキセタン、3−エチル−3−(3−トリメトキシシリルプロポキシメチル)オキセタン、3−エチル−3−(3−トリフェノキシシリルプロポキシメチル)オキセタン、3−トリメトキシシリルプロピルコハク酸無水物、3−トリエトキシシシリルプロピルコハク酸無水物、3−トリフェノキシシリルプロピルコハク酸無水物などの3官能性シラン、ジイソプロポキシジ(2−オキセタニルブトキシプロピル)シラン、ジメチルジ(3−オキセタニルペンチル)シラン、ジ−n−ブトキシジプロピルコハク酸無水物シラン、ジメトキシジエチルコハク酸無水物シランなどの2官能性シラン、エトキシジ(2−オキセタニルブトキシペンチル)2−オキセタニルペンチルシラン、メトキシトリ(2−オキセタニルペンチル)シラン、フェノキシトリプロピルコハク酸無水物シラン、メトキシジエチルコハク酸無水物メチルシランなどの1官能性シランなどが挙げられる。なお、これらの化合物は単独で使用しても、2種類以上組み合わせて使用してもよい。   Specific examples of the compound represented by the general formula (1) include 3-ethyl-3- (3-triethoxysilylpropoxymethyl) oxetane, 3-ethyl-3- (3-trimethoxysilylpropoxymethyl) oxetane, 3-ethyl-3- (3-triphenoxysilylpropoxymethyl) oxetane, 3-trimethoxysilylpropyl succinic anhydride, 3-triethoxysilylsilylpropyl succinic anhydride, 3-triphenoxysilylpropyl succinic anhydride Trifunctional silane such as diisopropoxydi (2-oxetanylbutoxypropyl) silane, dimethyldi (3-oxetanylpentyl) silane, di-n-butoxydipropyl succinic anhydride silane, dimethoxydiethyl succinic anhydride silane, etc. Bifunctional silane, ethoxydi (2-oxetanylbu Kishipenchiru) 2-oxetanyl pentyl silane, Metokishitori (2-oxetanylmethoxy pentyl) silane, phenoxy tripropyl succinic anhydride silanes, such as one functional silanes such as methoxy diethyl succinate anhydride methylsilane and the like. In addition, these compounds may be used individually or may be used in combination of 2 or more types.

一般式(1)で表される化合物を共重合する際、オキセタニル基またはコハク酸無水物基を開環させ、ジオール基、コハク酸基とする必要がある。オキセタニル基を開環させることにより親水性の高いジオール基、またコハク酸無水物基を開環させることにより親水性の高いコハク酸基が発生して、得られたポリシロキサンは希薄アルカリ現像液への溶解性が向上する。オキセタニル基、コハク酸無水物基を十分に開環させるため、重合温度は100℃以上で30分以上反応させることが望ましい。   When copolymerizing the compound represented by the general formula (1), it is necessary to open the oxetanyl group or the succinic anhydride group to form a diol group or a succinic acid group. Ring opening of the oxetanyl group generates a highly hydrophilic diol group, and ring opening of the succinic anhydride group generates a highly hydrophilic succinic acid group. The resulting polysiloxane is converted into a dilute alkaline developer. The solubility of is improved. In order to sufficiently open the oxetanyl group and succinic anhydride group, the polymerization temperature is preferably 100 ° C. or higher and the reaction is preferably performed for 30 minutes or longer.

本発明で用いる(a)ポリシロキサンは一般式(1)で表される化合物を加水分解、縮合させることによって得られる共重合体であればよいが、その他のシラン化合物と共重合してもよい。一般式(1)で表される化合物と共重合する好ましいシラン化合物としては一般式(2)で表される化合物が挙げられる。また本発明で用いる(a)ポリシロキサンは一般式(1)で表される化合物を加水分解、縮合したポリシロキサンと一般式(2)で表される化合物を加水分解、縮合したポリシロキサンを混合して使用してもよい。   The (a) polysiloxane used in the present invention may be a copolymer obtained by hydrolysis and condensation of the compound represented by the general formula (1), but may be copolymerized with other silane compounds. . A preferable silane compound copolymerized with the compound represented by the general formula (1) includes a compound represented by the general formula (2). The polysiloxane (a) used in the present invention is a mixture of a polysiloxane obtained by hydrolyzing and condensing the compound represented by the general formula (1) and a polysiloxane obtained by hydrolyzing and condensing the compound represented by the general formula (2). May be used.

Figure 2008107529
Figure 2008107529

は水素、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。Rは水素、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。yは0〜3の整数を表す。 R 3 represents any one of hydrogen, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and a plurality of R 3 may be the same or different. . R 4 represents any one of hydrogen, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 1 to 6 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and the plurality of R 4 may be the same or different. . y represents an integer of 0 to 3.

一般式(2)のRで挙げられたアルキル基、アルケニル基、アリール基はいずれも置換基を有していてもよく、また置換基を有していない無置換体であってもよく、組成物の特性に応じて選択できる。アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基、n−ヘキシル基、n−デシル基、トリフルオロメチル基、2,2,2−トリフルオロエチル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、3−アミノプロピル基、3−メルカプトプロピル基、3−イソシアネートプロピル基が挙げられる。アルケニル基の具体例としては、ビニル基、3−アクリロキシプロピル基、3−メタクリロキシプロピル基が挙げられる。アリール基の具体例としては、フェニル基、トリル基、p−ヒドロキシフェニル基、1−(p−ヒドロキシフェニル)エチル基、2−(p−ヒドロキシフェニル)エチル基、4−ヒドロキシ−5−(p−ヒドロキシフェニルカルボニルオキシ)ペンチル基、ナフチル基が挙げられる。 Any of the alkyl group, alkenyl group, and aryl group listed as R 3 in the general formula (2) may have a substituent, or may be an unsubstituted form having no substituent. It can be selected according to the characteristics of the composition. Specific examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, t-butyl group, n-hexyl group, n-decyl group, trifluoromethyl group, 2,2 , 2-trifluoroethyl group, 3,3,3-trifluoropropyl group, 3-aminopropyl group, 3-mercaptopropyl group, 3-isocyanatopropyl group. Specific examples of the alkenyl group include a vinyl group, a 3-acryloxypropyl group, and a 3-methacryloxypropyl group. Specific examples of the aryl group include phenyl group, tolyl group, p-hydroxyphenyl group, 1- (p-hydroxyphenyl) ethyl group, 2- (p-hydroxyphenyl) ethyl group, 4-hydroxy-5- (p -Hydroxyphenylcarbonyloxy) pentyl group, naphthyl group.

一般式(2)のRで挙げられたアルキル基、アシル基、アリール基はいずれも置換基を有していてもよく、また置換基を有していない無置換体であってもよく、組成物の特性に応じて選択できる。アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基が挙げられる。アシル基の具体例としては、アセチル基が挙げられる。アリール基の具体例としては、フェニル基が挙げられる。 Any of the alkyl group, acyl group, and aryl group listed as R 4 in the general formula (2) may have a substituent, or may be an unsubstituted form having no substituent. It can be selected according to the characteristics of the composition. Specific examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, and an n-butyl group. Specific examples of the acyl group include an acetyl group. Specific examples of the aryl group include a phenyl group.

一般式(2)のyは0〜3の整数を表す。y=0の場合は4官能性シラン、y=1の場合は3官能性シラン、y=2の場合は2官能性シラン、y=3の場合は1官能性シランである。   Y in the general formula (2) represents an integer of 0 to 3. A tetrafunctional silane when y = 0, a trifunctional silane when y = 1, a bifunctional silane when y = 2, and a monofunctional silane when y = 3.

一般式(2)で表される化合物の具体例としては、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラアセトキシシラン、テトラフェノキシシランなどの4官能性シラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリイソプロポキシシラン、メチルトリn−ブトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、エチルトリイソプロポキシシラン、エチルトリn−ブトキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、n−ブチルトリメトキシシラン、n−ブチルトリエトキシシラン、n−ヘキシルトリメトキシシラン、n−ヘキシルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、p−ヒドロキシフェニルトリメトキシシラン、1−(p−ヒドロキシフェニル)エチルトリメトキシシラン、2−(p−ヒドロキシフェニル)エチルトリメトキシシラン、4−ヒドロキシ−5−(p−ヒドロキシフェニルカルボニルオキシ)ペンチルトリメトキシシラン、トリフルオロメチルトリメトキシシラン、トリフルオロメチルトリエトキシシラン、3,3,3−トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシランなどの3官能性シラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチルジアセトキシシラン、ジn−ブチルジメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシランなどの2官能性シラン、トリメチルメトキシシラン、トリn−ブチルエトキシシランなどの1官能性シランが挙げられる。   Specific examples of the compound represented by the general formula (2) include tetrafunctional silanes such as tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetraacetoxysilane, and tetraphenoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, and methyltrimethylsilane. Isopropoxysilane, methyltri-n-butoxysilane, ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, ethyltriisopropoxysilane, ethyltrin-butoxysilane, n-propyltrimethoxysilane, n-propyltriethoxysilane, n-butyltri Methoxysilane, n-butyltriethoxysilane, n-hexyltrimethoxysilane, n-hexyltriethoxysilane, decyltrimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 3-methacrylo Cypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, p-hydroxyphenyltrimethoxysilane, 1- (p-hydroxyphenyl) Ethyltrimethoxysilane, 2- (p-hydroxyphenyl) ethyltrimethoxysilane, 4-hydroxy-5- (p-hydroxyphenylcarbonyloxy) pentyltrimethoxysilane, trifluoromethyltrimethoxysilane, trifluoromethyltriethoxysilane 3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane Trifunctional silanes such as 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, dimethyldiacetoxysilane, di-n-butyldimethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, and other bifunctional silanes, trimethylmethoxysilane, And monofunctional silanes such as tri-n-butylethoxysilane.

これらの化合物のうち、硬化膜の耐クラック性と硬度の点から3官能性シランが好ましく用いられる。また、これらの化合物は単独で使用しても、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Of these compounds, trifunctional silanes are preferably used from the viewpoint of crack resistance and hardness of the cured film. These compounds may be used alone or in combination of two or more.

また、ポリシロキサン中において、オキセタニル基が開環したジオール基、コハク酸無水物基が開環したコハク酸基の含有量は特に限定されないが、ポリシロキサン中に含まれるSi原子のモル数に対して、ジオール基の場合は30モル%以上、コハク酸基の場合は10モル%以上が好ましい。ジオール基が30モル%よりも少ない場合、あるいはコハク酸基が10モル%よりも少ない場合は、ポリシロキサンの親水性が十分でない。このため希薄アルカリ現像液でパターニングを行った際に現像液への溶解性が低くなり、低感度となってしまう。なお、ジオール基、コハク酸基の含有量は以下のように求める。   In addition, in the polysiloxane, the content of the diol group in which the oxetanyl group is opened and the succinic group in which the succinic anhydride group is opened is not particularly limited, but the number of moles of Si atoms contained in the polysiloxane is not limited. In the case of a diol group, 30 mol% or more is preferable, and in the case of a succinic acid group, 10 mol% or more is preferable. When the diol group is less than 30 mol%, or when the succinic acid group is less than 10 mol%, the hydrophilicity of the polysiloxane is not sufficient. For this reason, when patterning is performed with a dilute alkaline developer, the solubility in the developer is lowered, resulting in low sensitivity. In addition, content of a diol group and a succinic acid group is calculated | required as follows.

まず、ポリシロキサンに標準物質として1重量%のベンゼンを混合したサンプルを作成して、元素分析、H−NMRを測定する。元素分析値からSiのモル数に対するベンゼンのモル数を求める。H−NMR測定(H−NMRで使用した溶媒:CDCl
からジオール基由来のピーク面積(2.5ppm付近)、コハク酸由来のピーク面積(12.2ppm付近)、ベンゼン由来のピーク面積(7.34ppm)からベンゼンに対するジオール、コハク酸のモル数を求める。これらの値からベンゼンのモル数を介してポリシロキサン中に含まれるSi原子モル数に対するジオール基、コハク酸基の含有量が求められる。
First, a sample in which 1% by weight of benzene is mixed as a standard substance with polysiloxane is prepared, and elemental analysis and 1 H-NMR are measured. The number of moles of benzene relative to the number of moles of Si is determined from the elemental analysis value. 1 H-NMR measurement (solvent used in 1 H-NMR: CDCl 3 )
From the diol group-derived peak area (around 2.5 ppm), the succinic acid-derived peak area (around 12.2 ppm), and the benzene-derived peak area (7.34 ppm), the number of moles of diol and succinic acid relative to benzene is determined. From these values, the contents of diol groups and succinic acid groups with respect to the number of moles of Si atoms contained in the polysiloxane are determined through the number of moles of benzene.

本発明の(a)ポリシロキサンは、シリカ粒子が共重合されたポリシロキサンを用いてもよい。シリカ粒子の共重合方法としては、前述の一般式(1)で表される化合物から合成されたポリシロキサンとシリカ粒子を反応させる方法、もしくは前述の一般式(1)で表される化合物とシリカ粒子を反応させてポリシロキサンを得る方法が挙げられる。なお、一般式(1)で表される化合物と一般式(2)で表される化合物を組み合わせる場合も同じように行う。ポリシロキサン中にシリカ粒子が組み込まれ、ポリシロキサンの少なくとも一部に化学的に結合(シリカ粒子と共有結合)していることにより、ポリシロキサンの流動性を低下させ、熱硬化時のパターンだれが抑えられ、熱硬化後のパターン解像度が向上する。   As the (a) polysiloxane of the present invention, a polysiloxane obtained by copolymerizing silica particles may be used. As a method of copolymerizing silica particles, a method of reacting a polysiloxane synthesized from a compound represented by the above general formula (1) and silica particles, or a compound represented by the above general formula (1) and silica. A method of obtaining polysiloxane by reacting particles can be mentioned. In addition, it carries out similarly when combining the compound represented by General formula (1), and the compound represented by General formula (2). Silica particles are incorporated into polysiloxane and chemically bonded to at least a part of polysiloxane (covalently bonded to silica particles), thereby reducing the fluidity of polysiloxane and causing pattern distortion during thermosetting. It is suppressed and the pattern resolution after thermosetting is improved.

ポリシロキサンとシリカ粒子を反応させる方法においては、シリカ粒子は組成物中独立した成分として含まれているが、プリベークや硬化時加熱によって、ポリシロキサン中に組み込まれていく。   In the method of reacting polysiloxane and silica particles, silica particles are contained as an independent component in the composition, but are incorporated into the polysiloxane by pre-baking or heating during curing.

用いられるシリカ粒子の数平均粒子径は、好ましくは2nm〜200nmであり、さらに好ましくは5nm〜70nmである。2nmより小さいとパターン解像度の向上が十分ではなく、200nmより大きいと硬化膜が光散乱し透明性が低下する。ここで、シリカ粒子の数平均粒子径は、比表面積法換算値を用いる場合には、シリカ粒子を乾燥後、焼成し、得られた粒子の比表面積を測定した後に、粒子を球と仮定して比表面積から粒子径を求め、数平均として平均粒子径を求める。用いる機器は特に限定されないが、アサップ2020(Micromeritics社製)などを用いることができる。   The number average particle diameter of the silica particles used is preferably 2 nm to 200 nm, more preferably 5 nm to 70 nm. If the thickness is smaller than 2 nm, the pattern resolution is not sufficiently improved. If the thickness is larger than 200 nm, the cured film is scattered and the transparency is lowered. Here, the number average particle diameter of the silica particles is assumed to be a sphere after the silica particles are dried and calcined and the specific surface area of the obtained particles is measured when using the specific surface area conversion value. The particle diameter is obtained from the specific surface area, and the average particle diameter is obtained as a number average. Although the apparatus to be used is not specifically limited, Asap 2020 (made by Micromeritics) etc. can be used.

シリカ粒子はアルコキシシランの1種または2種以上を水、有機溶媒および塩基(好ましくは、アンモニア)の存在下で加水分解、重縮合させる方法などにより得られる。有機溶媒に分散したシリカ粒子は水性シリカ粒子分散媒である水を有機溶媒で置換することで得られる。分散媒の置換は水性シリカ粒子に有機溶媒を添加し、蒸留などの手段で水を留去させる方法等が挙げられる。溶媒の種類によっては低級アルコールを添加し、シリカ粒子の表面が一部エステル化される場合もある。ポリシロキサンやキノンジアジド化合物との相溶性の点から、有機溶媒に分散したシリカ粒子が好ましい。   Silica particles can be obtained by a method in which one or more of alkoxysilanes are hydrolyzed and polycondensed in the presence of water, an organic solvent and a base (preferably ammonia). Silica particles dispersed in an organic solvent can be obtained by replacing water, which is an aqueous silica particle dispersion medium, with an organic solvent. For example, the dispersion medium may be replaced by adding an organic solvent to the aqueous silica particles and distilling off the water by means of distillation or the like. Depending on the type of solvent, a lower alcohol may be added and the surface of the silica particles may be partially esterified. From the viewpoint of compatibility with polysiloxane and quinonediazide compound, silica particles dispersed in an organic solvent are preferred.

シリカ粒子の具体例としては、イソプロパノールを分散媒とした粒子径12nmのIPA−ST、メチルイソブチルケトンを分散媒とした粒子径12nmのMIBK−ST、イソプロパノールを分散媒とした粒子径45nmのIPA−ST−L、イソプロパノールを分散媒とした粒子径100nmのIPA−ST−ZL、プロピレングリコールモノメチルエーテルを分散媒とした粒子径15nmのPGM−ST(以上商品名、日産化学工業(株)製)、γ−ブチロラクトンを分散媒とした粒子径12nmのオスカル101、γ−ブチロラクトンを分散媒とした粒子径60nmのオスカル105、ジアセトンアルコールを分散媒とした粒子径120nmのオスカル106、分散溶液が水である粒子径5〜80nmのカタロイド−S(以上商品名、触媒化成工業(株)製)、プロピレングリコールモノメチルエーテルを分散媒とした粒子径16nmのクォートロンPL−2L−PGME、γ−ブチロラクトンを分散媒とした粒子径17nmのクォートロンPL−2L−BL、ジアセトンアルコールを分散媒とした粒子径17nmのクォートロンPL−2L−DAA、分散溶液が水である粒子径18〜20nmのクォートロンPL−2L、GP−2L(以上商品名、扶桑化学工業(株)製)、粒子径が100nmであるシリカ(SiO)SG−SO100(商品名、共立マテリアル(株)製)、粒子径が5〜50nmであるレオロシール(商品名、(株)トクヤマ製)などが挙げられる。また、これらのシリカ粒子は単独で使用しても、2種以上を組み合わせて使用してもよい。 Specific examples of the silica particles include IPA-ST having a particle diameter of 12 nm using isopropanol as a dispersion medium, MIBK-ST having a particle diameter of 12 nm using methyl isobutyl ketone as a dispersion medium, and IPA-ST having a particle diameter of 45 nm using isopropanol as a dispersion medium. ST-L, IPA-ST-ZL having a particle diameter of 100 nm using isopropanol as a dispersion medium, PGM-ST having a particle diameter of 15 nm using propylene glycol monomethyl ether as a dispersion medium (trade name, manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), Oscar 101 having a particle diameter of 12 nm using γ-butyrolactone as a dispersion medium, Oscar 105 having a particle diameter of 60 nm using γ-butyrolactone as a dispersion medium, Oscar 106 having a particle diameter of 120 nm using diacetone alcohol as a dispersion medium, and the dispersion solution being water. Cataloid-S having a particle diameter of 5 to 80 nm (Manufactured by Catalyst Kasei Kogyo Co., Ltd.), Quatron PL-2L-PGME having a particle diameter of 16 nm using propylene glycol monomethyl ether as a dispersion medium, Quatron PL-2L-BL having a particle diameter of 17 nm using γ-butyrolactone as a dispersion medium, diacetone Quartron PL-2L-DAA having a particle diameter of 17 nm using alcohol as a dispersion medium, Quatron PL-2L having a particle diameter of 18 to 20 nm in which the dispersion solution is water, GP-2L (above, trade name, manufactured by Fuso Chemical Industry Co., Ltd.) , Silica (SiO 2 ) SG-SO100 (trade name, manufactured by Kyoritsu Material Co., Ltd.) having a particle diameter of 100 nm, reolosil (trade name, manufactured by Tokuyama Co., Ltd.) having a particle diameter of 5 to 50 nm, and the like. . These silica particles may be used alone or in combination of two or more.

また、用いるシリカ粒子の表面が反応性基を有していると、ポリシロキサンとシリカ粒子の結合を容易にし、膜の強度が高まる点から好ましい。反応性基として、シラノール、アルコール、フェノールなどの水酸基、ビニル基、アクリル基、エチニル基、エポキシ基、アミノ基等が挙げられる。シリカ粒子と反応性基を有するアルコキシシランと反応させることで、表面に反応性基を有するシリカ粒子が得ることができる。もちろん本発明の効果を損なわない限り、メチル基、フェニル基などの反応性基を持たない置換基を有するシリカ粒子を用いてもよい。   Moreover, it is preferable that the surface of the silica particles to be used has a reactive group from the viewpoint of facilitating the bonding between the polysiloxane and the silica particles and increasing the strength of the film. Examples of reactive groups include hydroxyl groups such as silanol, alcohol and phenol, vinyl groups, acrylic groups, ethynyl groups, epoxy groups and amino groups. By reacting silica particles with an alkoxysilane having a reactive group, silica particles having a reactive group on the surface can be obtained. Of course, as long as the effects of the present invention are not impaired, silica particles having a substituent not having a reactive group such as a methyl group or a phenyl group may be used.

シリカ粒子を用いる場合の混合比率は特に制限されないが、ポリシロキサンに含まれるSi原子モル数に対してシリカ粒子のSi原子モル数が1〜50%であることが好ましい。シリカ粒子のSi原子モル数が50%より多いと、ポリシロキサンとキノンジアジド化合物との相溶性が悪くなり、硬化膜の透明性が低下する。   The mixing ratio in the case of using silica particles is not particularly limited, but the number of Si atoms in the silica particles is preferably 1 to 50% with respect to the number of Si atoms in the polysiloxane. When the number of moles of Si atoms in the silica particles is more than 50%, the compatibility between the polysiloxane and the quinonediazide compound is deteriorated, and the transparency of the cured film is lowered.

なお、ポリシロキサンに含まれる全Si原子モル数に対するシリカ粒子のSi原子モル比はIRにおいてSi−C結合由来のピークとSi−O結合由来のピークの積分比から求めることができる。ピークの重なりが多く求められない場合は、H−NMR、13C−NMR、IR、TOF−MSなどにより粒子以外のモノマーの構造を決定し、さらに元素分析法において発生する気体と残存する灰(すべてSiOと仮定する)の割合から求めることができる。 Note that the Si atom molar ratio of the silica particles to the total number of Si atom moles contained in the polysiloxane can be determined from the integral ratio of the peak derived from the Si—C bond and the peak derived from the Si—O bond in IR. When a large amount of peak overlap is not required, the structure of the monomer other than particles is determined by 1 H-NMR, 13 C-NMR, IR, TOF-MS, etc., and further, the gas generated in the elemental analysis method and the remaining ash It can be determined from the ratio (assuming all SiO 2 ).

また、ポリシロキサン中において、膜の耐クラック性と硬度を両立させる点から、ポリシロキサン中にあるフェニル基の含有率はSi原子に対して20〜70モル%が好ましく、さらに好ましくは35〜55モル%である。フェニル基の含有率が70モル%より多いと硬度が低下し、フェニル基含有率が20モル%より少ないと耐クラック性が低下する。フェニル基の含有率は、例えば、ポリシロキサンの29Si−核磁気共鳴スペクトルを測定し、そのフェニル基が結合したSiのピーク面積とフェニル基が結合していないSiのピーク面積の比から求めることができる。 Further, in the polysiloxane, the content of the phenyl group in the polysiloxane is preferably 20 to 70 mol%, more preferably 35 to 55, in terms of achieving both crack resistance and hardness of the film. Mol%. When the phenyl group content is higher than 70 mol%, the hardness decreases, and when the phenyl group content is lower than 20 mol%, crack resistance decreases. The phenyl group content is determined, for example, by measuring the 29 Si-nuclear magnetic resonance spectrum of polysiloxane and determining the ratio of the peak area of Si bonded to the phenyl group and the peak area of Si bonded to no phenyl group. Can do.

また、本発明で用いるポリシロキサンの重量平均分子量(Mw)は特に制限されないが、好ましくはGPC(ゲルパーミネーションクロマトグラフィー)で測定されるポリスチレン換算で1000〜100000、さらに好ましくは2000〜50000である。Mwが1000より小さいと塗膜性が悪くなり、100000より大きいとパターン形成時の現像液への溶解性が悪くなる。アルカリ水溶液に可溶のポリシロキサンは好ましくは2000〜50000、ポリシロキサンの重量平均分子量は好ましくは5000〜100000が好ましい。Mwが5000よりも小さいと熱によるパターンだれが発生する温度が低くなってしまう場合がある。   The weight average molecular weight (Mw) of the polysiloxane used in the present invention is not particularly limited, but is preferably 1000 to 100,000, more preferably 2000 to 50,000 in terms of polystyrene measured by GPC (gel permeation chromatography). . When Mw is less than 1000, the coating properties are deteriorated, and when it is more than 100,000, the solubility in a developing solution during pattern formation is deteriorated. The polysiloxane soluble in the alkaline aqueous solution is preferably 2000 to 50000, and the weight average molecular weight of the polysiloxane is preferably 5000 to 100,000. If Mw is less than 5000, the temperature at which pattern sagging occurs due to heat may be lowered.

また、シリカ粒子を用いた場合、シリカ粒子がポリシロキサンと均質化していることが好ましい。シリカ粒子が均質化していると硬化膜の硬度が向上し、現像時にプリベーク膜からシリカ粒子の析出を防ぐ。ここでいう「均質化している」とはシリカ粒子のシリカ成分とマトリックスのポリシロキサンが反応し、ポリシロキサン中にシリカ粒子が密度一定で組み込まれていることを指す。その状態は、透過型電子顕微鏡(以下、TEMと記述)でシリカ粒子とポリシロキサンの境界部分を観察することによって確認することができる。均質化している場合、TEM観察にてシリカ粒子とポリシロキサンとの境界線が観察されない。また、均質化した系は、同量のシリカ粒子をポリシロキサンに添加した系より高解像となる点からも均質化することが好ましい。   When silica particles are used, it is preferable that the silica particles are homogenized with polysiloxane. When the silica particles are homogenized, the hardness of the cured film is improved, and precipitation of silica particles from the pre-baked film is prevented during development. Here, “homogenized” means that the silica component of the silica particles reacts with the polysiloxane of the matrix, and the silica particles are incorporated at a constant density in the polysiloxane. The state can be confirmed by observing the boundary between the silica particles and the polysiloxane with a transmission electron microscope (hereinafter referred to as TEM). In the case of homogenization, the boundary line between silica particles and polysiloxane is not observed by TEM observation. The homogenized system is preferably homogenized from the viewpoint of higher resolution than a system in which the same amount of silica particles is added to polysiloxane.

本発明におけるポリシロキサンは、上述の一般式(1)で表される化合物などを加水分解および部分縮合させることにより得られる。加水分解および部分縮合には一般的な方法を用いることができる。例えば、混合物に溶媒、水、必要に応じて触媒を添加し、加熱攪拌する。攪拌中、必要に応じて蒸留によって加水分解副生物(メタノールなどのアルコール)や縮合副生成物(水)を留去してもよい。   The polysiloxane in the present invention is obtained by hydrolyzing and partially condensing the compound represented by the above general formula (1). A general method can be used for hydrolysis and partial condensation. For example, a solvent, water and, if necessary, a catalyst are added to the mixture, and the mixture is heated and stirred. During stirring, hydrolysis by-products (alcohols such as methanol) and condensation by-products (water) may be distilled off by distillation as necessary.

ポリシロキサン合成時の反応溶媒としては特に制限は無いが、通常は後述する(c)溶剤と同様のものが用いられる。溶媒の添加量はオルガノシランもしくはオルガノシランとシリカ粒子の合計量100重量%に対して10〜1000重量%が好ましい。また加水分解反応に用いる水の添加量は、加水分解性基1モルに対して0.5〜2モルが好ましい。   Although there is no restriction | limiting in particular as a reaction solvent at the time of polysiloxane synthesis | combination, Usually, the thing similar to the (c) solvent mentioned later is used. The amount of the solvent added is preferably 10 to 1000% by weight based on 100% by weight of the total amount of organosilane or organosilane and silica particles. The amount of water used for the hydrolysis reaction is preferably 0.5 to 2 mol with respect to 1 mol of the hydrolyzable group.

必要に応じて添加される触媒に特に制限はないが、酸触媒、塩基触媒が好ましく用いられる。酸触媒の具体例としては塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸、酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、多価カルボン酸あるいはその無水物、イオン交換樹脂が挙げられる。塩基触媒の具体例としては、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリペンチルアミン、トリヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチルアミン、ジエチルアミン、トリエタノールアミン、ジエタノールアミン、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アミノ基を有するアルコキシシラン、イオン交換樹脂が挙げられる。触媒の添加量はオルガノシラン100重量%に対して0.01〜10重量%が好ましい。   Although there is no restriction | limiting in particular in the catalyst added as needed, An acid catalyst and a base catalyst are used preferably. Specific examples of the acid catalyst include hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, hydrofluoric acid, phosphoric acid, acetic acid, trifluoroacetic acid, formic acid, polyvalent carboxylic acid or anhydride thereof, and ion exchange resin. Specific examples of the base catalyst include triethylamine, tripropylamine, tributylamine, tripentylamine, trihexylamine, triheptylamine, trioctylamine, diethylamine, triethanolamine, diethanolamine, sodium hydroxide, potassium hydroxide, amino Examples include alkoxysilanes having groups and ion exchange resins. The addition amount of the catalyst is preferably 0.01 to 10% by weight with respect to 100% by weight of the organosilane.

また、塗膜性、貯蔵安定性の点から、加水分解、部分縮合後のポリシロキサン溶液には副生成物のアルコールや水、触媒が含まれないことが好ましい。必要に応じてこれらの除去を行ってもよい。除去方法は特に制限されない。好ましくはアルコールや水の除去方法としては、ポリシロキサン溶液を適当な疎水性溶剤で希釈した後、水で数回洗浄して得られた有機層をエバポレーターで濃縮する方法を用いることができる。また、触媒の除去方法としては、上記の水洗浄に加えてあるいは単独でイオン交換樹脂で処理する方法を用いることができる。   Further, from the viewpoint of coating properties and storage stability, it is preferable that the polysiloxane solution after hydrolysis and partial condensation does not contain alcohol, water, and catalyst as by-products. These removals may be performed as necessary. The removal method is not particularly limited. Preferably, as a method for removing alcohol or water, a method of diluting a polysiloxane solution with an appropriate hydrophobic solvent and then washing it several times with water can be concentrated using an evaporator. As a method for removing the catalyst, a method of treating with an ion exchange resin alone or in addition to the above water washing can be used.

本発明の感光性シロキサン組成物は、(b)キノンジアジド化合物を含有する。キノンジアジド化合物を含有する感光性シロキサン組成物は、露光部が現像液で除去されるポジ型を形成する。用いるキノンジアジド化合物の添加量は特に制限されないが、好ましくは(a)ポリシロキサンに対して3〜15重量%である。キノンジアジド化合物の添加量が3重量%より少ない場合、露光部と未露光部との溶解コントラストが低すぎて、現実的な感光性を有さない。また、さらに良好な溶解コントラストを得るためには4重量%以上が好ましい。一方、キノンジアジド化合物の添加量が15重量%より多い場合、ポリシロキサンとキノンジアジド化合物との相溶性が悪くなることによる塗布膜の白化が発生したり、熱硬化時に起こるキノンジアジド化合物の分解による着色が顕著になるために、硬化膜の無色透明性が低下する。   The photosensitive siloxane composition of the present invention contains (b) a quinonediazide compound. The photosensitive siloxane composition containing a quinonediazide compound forms a positive type in which the exposed portion is removed with a developer. The addition amount of the quinonediazide compound to be used is not particularly limited, but is preferably 3 to 15% by weight based on (a) polysiloxane. When the addition amount of the quinonediazide compound is less than 3% by weight, the dissolution contrast between the exposed part and the unexposed part is too low, and there is no realistic photosensitivity. Further, in order to obtain a better dissolution contrast, 4% by weight or more is preferable. On the other hand, when the addition amount of the quinonediazide compound is more than 15% by weight, whitening of the coating film due to poor compatibility between the polysiloxane and the quinonediazide compound occurs, or coloring due to decomposition of the quinonediazide compound that occurs during thermal curing is remarkable. Therefore, the colorless transparency of the cured film is lowered.

用いるキノンジアジド化合物は特に制限されないが、好ましくはフェノール性水酸基を有する化合物にナフトキノンジアジドスルホン酸がエステル結合した化合物であり、当該化合物のフェノール性水酸基のオルト位、およびパラ位がそれぞれ独立して水素、もしくは一般式(3)で表される置換基のいずれかである化合物が用いられる。   The quinonediazide compound to be used is not particularly limited, but is preferably a compound in which naphthoquinonediazidesulfonic acid is ester-bonded to a compound having a phenolic hydroxyl group, and the ortho position and the para position of the phenolic hydroxyl group of the compound are independently hydrogen, Alternatively, a compound that is any of the substituents represented by the general formula (3) is used.

Figure 2008107529
Figure 2008107529

〜Rはそれぞれ独立して炭素数1〜10のアルキル基、カルボキシル基、フェニル基、置換フェニル基のいずれかを表す。また、RとR、RとR、RとRで環を形成してもよい。 R 7 to R 9 each independently represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a carboxyl group, a phenyl group, or a substituted phenyl group. R 7 and R 8 , R 7 and R 9 , R 8 and R 9 may form a ring.

一般式(3)で表される置換基において、R〜Rはそれぞれ独立して炭素数1〜10のアルキル基、カルボキシル基、フェニル基、置換フェニル基のいずれかを表す。アルキル基は置換基を有していてもよく、また置換基を有していない無置換体であってもよく、組成物の特性に応じて選択できる。アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、t−ブチル基、n−ヘキシル基、シクロヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、トリフルオロメチル基、2−カルボキシエチル基が挙げられる。また、フェニル基に置換する置換基としては、水酸基が挙げられる。また、RとR、RとR、RとRで環を形成してもよく、具体例としては、シクロペンタン環、シクロヘキサン環、アダマンタン環、フルオレン環が挙げられる。 In the substituent represented by the general formula (3), R 7 to R 9 each independently represents any of an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a carboxyl group, a phenyl group, and a substituted phenyl group. The alkyl group may have a substituent or may be an unsubstituted product having no substituent, and can be selected according to the characteristics of the composition. Specific examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, t-butyl group, n-hexyl group, cyclohexyl group, n-heptyl group, n- Examples include an octyl group, a trifluoromethyl group, and a 2-carboxyethyl group. Moreover, a hydroxyl group is mentioned as a substituent substituted by a phenyl group. In addition, R 7 and R 8 , R 7 and R 9 , R 8 and R 9 may form a ring, and specific examples include a cyclopentane ring, a cyclohexane ring, an adamantane ring, and a fluorene ring.

フェノール性水酸基のオルト位、およびパラ位が上記以外、例えばメチル基の場合、熱硬化によって酸化分解が起こり、キノイド構造に代表される共役系化合物が形成され、硬化膜が着色して無色透明性が低下する。なお、これらのキノンジアジド化合物は、フェノール性水酸基を有する化合物と、ナフトキノンジアジドスルホン酸クロリドとの公知のエステル化反応により合成することができる。   When the ortho-position and para-position of the phenolic hydroxyl group are other than the above, for example, a methyl group, oxidative decomposition occurs due to thermal curing, a conjugated compound represented by a quinoid structure is formed, and the cured film is colored to be colorless and transparent Decreases. These quinonediazide compounds can be synthesized by a known esterification reaction between a compound having a phenolic hydroxyl group and naphthoquinonediazidesulfonic acid chloride.

フェノール性水酸基を有する化合物の具体例としては、以下の化合物が挙げられる(商品名、本州化学工業(株)製)。   Specific examples of the compound having a phenolic hydroxyl group include the following compounds (trade name, manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd.).

Figure 2008107529
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Figure 2008107529
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ナフトキノンジアジドスルホン酸としては、4−ナフトキノンジアジドスルホン酸あるいは5−ナフトキノンジアジドスルホン酸を用いることができる。4−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル化合物はi線(波長365nm)領域に吸収を持つため、i線露光に適している。また、5−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル化合物は広範囲の波長領域に吸収が存在するため、広範囲の波長での露光に適している。露光する波長によって4−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル化合物、5−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル化合物を選択することが好ましい。4−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル化合物と5−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル化合物を混合して用いることもできる。   As naphthoquinone diazide sulfonic acid, 4-naphthoquinone diazide sulfonic acid or 5-naphthoquinone diazide sulfonic acid can be used. Since 4-naphthoquinonediazide sulfonic acid ester compound has absorption in the i-line (wavelength 365 nm) region, it is suitable for i-line exposure. Moreover, since 5-naphthoquinone diazide sulfonic acid ester compound has absorption in a wide range of wavelengths, it is suitable for exposure in a wide range of wavelengths. It is preferable to select a 4-naphthoquinone diazide sulfonic acid ester compound or a 5-naphthoquinone diazide sulfonic acid ester compound depending on the wavelength to be exposed. A 4-naphthoquinone diazide sulfonic acid ester compound and a 5-naphthoquinone diazide sulfonic acid ester compound may be mixed and used.

ナフトキノンジアジド化合物の分子量は、好ましくは300〜1500、さらに好ましくは350〜1200である。ナフトキノンジアジド化合物の分子量が1500より多いと、4〜10重量%の添加量ではパターン形成ができなくなる可能性がある。一方、ナフトキノンジアジド化合物の分子量が300より小さいと、無色透明性が低下する可能性がある。   The molecular weight of the naphthoquinonediazide compound is preferably 300 to 1500, and more preferably 350 to 1200. If the molecular weight of the naphthoquinone diazide compound is more than 1500, pattern formation may not be possible with an addition amount of 4 to 10% by weight. On the other hand, when the molecular weight of the naphthoquinone diazide compound is less than 300, the colorless transparency may be lowered.

本発明の感光性シロキサン組成物は(c)溶剤を含有する。溶剤は特に制限されないが、好ましくはアルコール性水酸基を有する化合物および/またはカルボニル基を有する環状化合物が用いられる。これらの溶剤を用いると、ポリシロキサンとキノンジアジド化合物とが均一に溶解し、組成物を塗布製膜しても膜は白化することなく、高透明性が達成できる。   The photosensitive siloxane composition of the present invention contains (c) a solvent. The solvent is not particularly limited, but a compound having an alcoholic hydroxyl group and / or a cyclic compound having a carbonyl group is preferably used. When these solvents are used, the polysiloxane and the quinonediazide compound are uniformly dissolved, and even if the composition is coated and formed, high transparency can be achieved without whitening the film.

アルコール性水酸基を有する化合物は特に制限されないが、好ましくは大気圧下の沸点が110〜250℃である化合物である。沸点が250℃より高いと膜中の残存溶剤量が多くなり熱硬化時の膜収縮が大きくなり、良好な平坦性が得られなくなる。一方、沸点が110℃より低いと、塗膜時の乾燥が速すぎて膜表面が荒れるなど塗膜性が悪くなる。   The compound having an alcoholic hydroxyl group is not particularly limited, but is preferably a compound having a boiling point of 110 to 250 ° C. under atmospheric pressure. When the boiling point is higher than 250 ° C., the amount of residual solvent in the film increases, and the film shrinkage at the time of thermosetting increases, and good flatness cannot be obtained. On the other hand, if the boiling point is lower than 110 ° C., the coating properties deteriorate, such as drying at the time of coating is too fast and the film surface becomes rough.

アルコール性水酸基を有する化合物の具体例としては、アセトール、3−ヒドロキシ−3−メチル−2−ブタノン、4−ヒドロキシ−3−メチル−2−ブタノン、5−ヒドロキシ−2−ペンタノン、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン(ジアセトンアルコール)、乳酸エチル、乳酸ブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノn−プロピルエーテル、プロピレングリコールモノn−ブチルエーテル、プロピレングリコールモノt−ブチルエーテル、3−メトキシ−1−ブタノール、3−メチル−3−メトキシ−1−ブタノールが挙げられる。これらの中でも、さらにカルボニル基を有する化合物が好ましく、特にジアセトンアルコールが好ましく用いられる。これらのアルコール性水酸基を有する化合物は、単独、あるいは2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Specific examples of the compound having an alcoholic hydroxyl group include acetol, 3-hydroxy-3-methyl-2-butanone, 4-hydroxy-3-methyl-2-butanone, 5-hydroxy-2-pentanone, 4-hydroxy- 4-methyl-2-pentanone (diacetone alcohol), ethyl lactate, butyl lactate, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, propylene glycol mono n-propyl ether, propylene glycol mono n-butyl ether, propylene glycol mono t- Examples include butyl ether, 3-methoxy-1-butanol, and 3-methyl-3-methoxy-1-butanol. Among these, a compound further having a carbonyl group is preferable, and diacetone alcohol is particularly preferably used. These compounds having an alcoholic hydroxyl group may be used alone or in combination of two or more.

カルボニル基を有する環状化合物は特に制限されないが、好ましくは大気圧下の沸点が150〜250℃である化合物である。沸点が250℃より高いと膜中の残存溶剤量が多くなり熱硬化時の膜収縮が大きくなり、良好な平坦性が得られなくなる。一方、沸点が150℃より低いと、塗膜時の乾燥が速すぎて膜表面が荒れるなど塗膜性が悪くなる。   The cyclic compound having a carbonyl group is not particularly limited, but is preferably a compound having a boiling point of 150 to 250 ° C. under atmospheric pressure. When the boiling point is higher than 250 ° C., the amount of residual solvent in the film increases, and the film shrinkage at the time of thermosetting increases, and good flatness cannot be obtained. On the other hand, if the boiling point is lower than 150 ° C., the coating properties deteriorate, for example, drying at the time of coating is too fast and the film surface becomes rough.

カルボニル基を有する環状化合物の具体例としては、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、δ−バレロラクトン、炭酸プロピレン、N−メチルピロリドン、シクロヘキサノン、シクロヘプタノンが挙げられる。これらの中でも、特にγ−ブチロラクトンが好ましく用いられる。これらのカルボニル基を有する環状化合物は、単独、あるいは2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Specific examples of the cyclic compound having a carbonyl group include γ-butyrolactone, γ-valerolactone, δ-valerolactone, propylene carbonate, N-methylpyrrolidone, cyclohexanone, and cycloheptanone. Among these, γ-butyrolactone is particularly preferably used. These cyclic compounds having a carbonyl group may be used alone or in combination of two or more.

上述のアルコール性水酸基を有する化合物とカルボニル基を有する環状化合物は、単独でも、あるいは各々混合して用いても良い。混合して用いる場合、その重量比率は特に制限されないが、好ましくはアルコール性水酸基を有する化合物/カルボニル基を有する環状化合物=(99〜50)/(1〜50)、さらに好ましくは(97〜60)/(3〜40)である。アルコール性水酸基を有する化合物が99重量%より多い(カルボニル基を有する環状化合物が1重量%より少ない)と、ポリシロキサンとキノンジアジド化合物との相溶性が悪く、硬化膜が白化して透明性が低下する。また、アルコール性水酸基を有する化合物が50重量%より少ない(カルボニル基を有する環状化合物が50重量%より多い)と、ポリシロキサン中の未反応シラノール基の縮合反応が起こり易くなり、貯蔵安定性が悪くなる。   The compound having an alcoholic hydroxyl group and the cyclic compound having a carbonyl group may be used singly or in combination. When mixed and used, the weight ratio is not particularly limited, but is preferably a compound having an alcoholic hydroxyl group / a cyclic compound having a carbonyl group = (99-50) / (1-50), more preferably (97-60). ) / (3-40). If the compound having an alcoholic hydroxyl group is more than 99% by weight (the cyclic compound having a carbonyl group is less than 1% by weight), the compatibility between the polysiloxane and the quinonediazide compound is poor, the cured film is whitened, and the transparency is lowered. To do. On the other hand, if the compound having an alcoholic hydroxyl group is less than 50% by weight (the cyclic compound having a carbonyl group is more than 50% by weight), the condensation reaction of unreacted silanol groups in the polysiloxane is likely to occur, and the storage stability is improved. Deteriorate.

また、本発明の感光性シロキサン組成物は、本発明の効果を損なわない限り、その他の溶剤を含有してもよい。その他の溶剤としては、酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸イソプロピル、酢酸n−ブチル、酢酸イソブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、3−メトキシ−1−ブチルアセテート、3−メチル−3−メトキシ−1−ブチルアセテートなどのエステル類、メチルイソブチルケトン、ジイソプロピルケトン、ジイソブチルケトンなどのケトン類、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、ジn−ブチルエーテル、ジフェニルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、ジプロピレングリコールジメチルエーテルなどのエーテル類が挙げられる。   Moreover, unless the effect of this invention is impaired, the photosensitive siloxane composition of this invention may contain another solvent. Other solvents include ethyl acetate, n-propyl acetate, isopropyl acetate, n-butyl acetate, isobutyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, 3-methoxy-1-butyl acetate, 3-methyl-3-methoxy-1- Examples include esters such as butyl acetate, ketones such as methyl isobutyl ketone, diisopropyl ketone, and diisobutyl ketone, and ethers such as diethyl ether, diisopropyl ether, di-n-butyl ether, diphenyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, and dipropylene glycol dimethyl ether. .

溶剤の添加量は、ポリシロキサンに対して、好ましくは100〜1000重量%の範囲である。   The amount of the solvent added is preferably in the range of 100 to 1000% by weight with respect to the polysiloxane.

さらに、本発明の感光性シロキサン組成物は、本発明の効果を損なわない範囲で、架橋促進剤を用いても良い。好ましく用いられる架橋促進剤の具体例としては、SI−60、SI−80、SI−100、SI−110、SI−145、SI−150、SI−60L、SI−80L、SI−100L、SI−110L、SI−145L、SI−150L、SI−160L、SI−180L(いずれも、三新化学工業(株)製)、4−ヒドロキシフェニルジメチルスルホニウム、ベンジル−4−ヒドロキシフェニルメチルスルホニウム、2−メチルベンジル−4−ヒドロキシフェニルメチルスルホニウム、2−メチルベンジル−4−アセチルフェニルメチルスルホニウム、2−メチルベンジル−4−ベンゾイルオキシフェニルメチルスルホニウム、これらのメタンスルホン酸塩、トリフルオロメタンスルホン酸塩、カンファースルホン酸塩、p−トルエンスルホン酸塩が挙げられる。より好ましくは4−ヒドロキシフェニルジメチルスルホニウム、ベンジル−4−ヒドロキシフェニルメチルスルホニウム、2−メチルベンジル−4−ヒドロキシフェニルメチルスルホニウム、2−メチルベンジル−4−アセチルフェニルメチルスルホニウム、2−メチルベンジル−4−ベンゾイルオキシフェニルメチルスルホニウム、これらのメタンスルホン酸塩、トリフルオロメタンスルホン酸塩、カンファースルホン酸塩、p−トルエンスルホン酸塩である。なお、これらの化合物は単独で使用しても、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Furthermore, the photosensitive siloxane composition of the present invention may use a crosslinking accelerator as long as the effects of the present invention are not impaired. Specific examples of the crosslinking accelerator preferably used include SI-60, SI-80, SI-100, SI-110, SI-145, SI-150, SI-60L, SI-80L, SI-100L, SI- 110L, SI-145L, SI-150L, SI-160L, SI-180L (all from Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.), 4-hydroxyphenyldimethylsulfonium, benzyl-4-hydroxyphenylmethylsulfonium, 2-methyl Benzyl-4-hydroxyphenylmethylsulfonium, 2-methylbenzyl-4-acetylphenylmethylsulfonium, 2-methylbenzyl-4-benzoyloxyphenylmethylsulfonium, methanesulfonate, trifluoromethanesulfonate, camphorsulfonic acid Salt, p-toluene Sulfonic acid salts. More preferably 4-hydroxyphenyldimethylsulfonium, benzyl-4-hydroxyphenylmethylsulfonium, 2-methylbenzyl-4-hydroxyphenylmethylsulfonium, 2-methylbenzyl-4-acetylphenylmethylsulfonium, 2-methylbenzyl-4- Benzoyloxyphenylmethylsulfonium, these methanesulfonates, trifluoromethanesulfonate, camphorsulfonate, p-toluenesulfonate. These compounds may be used alone or in combination of two or more.

架橋促進剤の好ましい添加量はシロキサンポリマー100重量部に対して0.01〜10重量部であり、さらに好ましくは0.01〜0.5重量部である。0.01重量部より少ないとシロキサンポリマーの架橋促進剤としての機能が十分に発揮されず低硬度の膜となり、10重量部より多いと、感度の低下やクラックの発生、透明性の低下を引き起こす。   A preferable addition amount of the crosslinking accelerator is 0.01 to 10 parts by weight, and more preferably 0.01 to 0.5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the siloxane polymer. If the amount is less than 0.01 part by weight, the function as a crosslinking accelerator of the siloxane polymer is not sufficiently exhibited, resulting in a low-hardness film. If the amount is more than 10 parts by weight, the sensitivity is lowered, cracks are generated, and transparency is lowered. .

さらに、本発明の感光性シロキサン組成物は、本発明の効果を損なわない範囲で、増感剤を含有してもよい。このときの増感剤は熱処理により気化する、および/または膜に残存した場合においても、光照射によって退色する増感剤が好ましい。   Furthermore, the photosensitive siloxane composition of the present invention may contain a sensitizer as long as the effects of the present invention are not impaired. The sensitizer at this time is preferably a sensitizer that is vaporized by heat treatment and / or discolors when irradiated with light even when it remains in the film.

上記の熱処理により気化する、および/または光照射によって退色する増感剤の具体例としては、3,3’−カルボニルビス(ジエチルアミノクマリン)などのクマリン、9,10−アントラキノンなどのアントラキノン、ベンゾフェノン、4,4’−ジメトキシベンゾフェノン、アセトフェノン、4−メトキシアセトフェノン、ベンズアルデヒドなどの芳香族ケトン、ビフェニル、1,4−ジメチルナフタレン、9−フルオレノン、フルオレン、フェナントレン、トリフェニレン、ピレン、アントラセン、9−フェニルアントラセン、9−メトキシアントラセン、9,10−ジフェニルアントラセン、9,10−ビス(4−メトキシフェニル)アントラセン、9,10−ビス(トリフェニルシリル)アントラセン、9,10−ジメトキシアントラセン、9,10−ジエトキシアントラセン、9,10−ジプロポキシアントラセン(DPA、川崎化成(株)製)、9,10−ジブトキシアントラセン(DBA、川崎化成(株)製)、9,10−ジペンタオキシアントラセン、2−t−ブチル−9,10−ジブトキシアントラセン、9,10−ビス(トリメチルシリルエチニル)アントラセンなどの縮合芳香族などが挙げられる。   Specific examples of the sensitizer that is vaporized by the heat treatment and / or faded by light irradiation include coumarins such as 3,3′-carbonylbis (diethylaminocoumarin), anthraquinones such as 9,10-anthraquinone, benzophenone, Aromatic ketones such as 4,4′-dimethoxybenzophenone, acetophenone, 4-methoxyacetophenone, benzaldehyde, biphenyl, 1,4-dimethylnaphthalene, 9-fluorenone, fluorene, phenanthrene, triphenylene, pyrene, anthracene, 9-phenylanthracene, 9-methoxyanthracene, 9,10-diphenylanthracene, 9,10-bis (4-methoxyphenyl) anthracene, 9,10-bis (triphenylsilyl) anthracene, 9,10-dimethoxya Tracene, 9,10-diethoxyanthracene, 9,10-dipropoxyanthracene (DPA, manufactured by Kawasaki Kasei Co., Ltd.), 9,10-dibutoxyanthracene (DBA, manufactured by Kawasaki Kasei Co., Ltd.), 9,10- Examples thereof include condensed aromatics such as dipentaoxyanthracene, 2-t-butyl-9,10-dibutoxyanthracene, and 9,10-bis (trimethylsilylethynyl) anthracene.

これらの増感剤の中で、熱処理により気化する増感剤は、好ましくは熱処理により昇華、蒸発、熱分解による熱分解物が昇華または蒸発する増感剤である。また、増感剤の気化温度としては、好ましくは130℃〜400℃、さらに好ましくは150℃〜250℃である。増感剤の気化温度が130℃より低いと、増感剤がプリベーク中に気化して露光プロセス中に存在しなくなり高感度化が達成されない。また、プリベーク中の気化を極力抑えるためには、増感剤の気化温度は150℃以上が好ましい。一方、増感剤の気化温度が400℃より高いと、増感剤が熱硬化時に気化せず硬化膜中に残存して、無色透明性が低下する。また、熱硬化時に完全に気化させるためには、増感剤の気化温度は250℃以下が好ましい。   Among these sensitizers, the sensitizer that is vaporized by heat treatment is preferably a sensitizer that sublimates or evaporates a thermal decomposition product by sublimation, evaporation, and thermal decomposition. Moreover, as vaporization temperature of a sensitizer, Preferably it is 130 to 400 degreeC, More preferably, it is 150 to 250 degreeC. When the vaporization temperature of the sensitizer is lower than 130 ° C., the sensitizer is vaporized during the pre-bake and does not exist during the exposure process, so that high sensitivity cannot be achieved. In order to suppress vaporization during prebaking as much as possible, the vaporization temperature of the sensitizer is preferably 150 ° C. or higher. On the other hand, if the vaporization temperature of the sensitizer is higher than 400 ° C., the sensitizer does not vaporize during thermal curing and remains in the cured film, resulting in a decrease in colorless transparency. Moreover, in order to vaporize completely at the time of thermosetting, the vaporization temperature of a sensitizer is preferably 250 ° C. or less.

一方、光照射によって退色する増感剤は、透明性の点から可視光領域における吸収が光照射によって退色する増感剤が好ましい。また、さらに好ましい光照射によって退色する化合物は、光照射によって二量化する化合物である。光照射によって二量化することによって、分子量が増大して不溶化するので、耐薬品性向上、耐熱性向上、透明硬化膜からの抽出物の低減という効果が得られる。   On the other hand, the sensitizer that fades when irradiated with light is preferably a sensitizer whose absorption in the visible light region fades when irradiated with light from the viewpoint of transparency. Further, a compound that fades upon irradiation with light is a compound that dimerizes upon irradiation with light. By dimerization by light irradiation, the molecular weight increases and insolubilization results in the effect of improving chemical resistance, improving heat resistance, and reducing the extract from the transparent cured film.

また、増感剤は高感度を達成できるという点、光照射によって二量化して退色するという点からアントラセン系化合物が好ましく、さらに、9,10位が水素であるアントラセン系化合物は熱に不安定であるので、9,10−二置換アントラセン系化合物であることが好ましい。さらに、増感剤の溶解性の向上と光二量化反応の反応性の点から一般式(4)で表される9,10−ジアルコキシアントラセン系化合物であることが好ましい。   The sensitizer is preferably an anthracene compound in that it can achieve high sensitivity and dimerizes and fades when irradiated with light, and the anthracene compound in which the 9th and 10th positions are hydrogen is unstable to heat. Therefore, a 9,10-disubstituted anthracene compound is preferable. Furthermore, the 9,10-dialkoxyanthracene compound represented by the general formula (4) is preferable from the viewpoint of improving the solubility of the sensitizer and the reactivity of the photodimerization reaction.

Figure 2008107529
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一般式(4)のR10〜R17は、それぞれ独立して水素、炭素数1〜20のアルキル基、アルコキシ基、アルケニル基、アリール基、アシル基、およびこれら列挙した有機基がその他の有機基で置換された有機基を表す。アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基が挙げられる。アルコキシ基の具体例としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基が挙げられる。アルケニル基の具体例としては、ビニル基、アクリロキシプロピル基、メタクリロキシプロピル基が挙げられる。アリール基の具体例としては、フェニル基、トリル基、ナフチル基が挙げられる。アシル基の具体例としては、アセチル基が挙げられる。化合物の気化性、光二量化の反応性の点から、R10〜R17は水素、または炭素数は1〜6までの有機基であることが好ましい。さらに好ましくは、R10、R13、R14、R17は水素であることが好ましい。 R 10 to R 17 in the general formula (4) are each independently hydrogen, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkoxy group, an alkenyl group, an aryl group, an acyl group, and the organic groups listed above are other organic groups. An organic group substituted with a group is represented. Specific examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, and an n-propyl group. Specific examples of the alkoxy group include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group, and a pentyloxy group. Specific examples of the alkenyl group include a vinyl group, an acryloxypropyl group, and a methacryloxypropyl group. Specific examples of the aryl group include a phenyl group, a tolyl group, and a naphthyl group. Specific examples of the acyl group include an acetyl group. From the point of vaporization of the compound and reactivity of photodimerization, R 10 to R 17 are preferably hydrogen or an organic group having 1 to 6 carbon atoms. More preferably, R 10 , R 13 , R 14 and R 17 are preferably hydrogen.

一般式(4)のR18、R19は炭素数1〜20のアルコキシ基がその他の有機基で置換された有機基を表す。アルコキシ基の具体例としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基が挙げられるが、化合物の溶解性と光二量化による退色反応の点から、プロポキシ基、ブトキシ基が好ましい。 R < 18 >, R < 19 > of General formula (4) represents the organic group by which the C1-C20 alkoxy group was substituted by the other organic group. Specific examples of the alkoxy group include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group, and a pentyloxy group, and a propoxy group and a butoxy group are preferable from the viewpoint of the solubility of the compound and a fading reaction due to photodimerization.

増感剤を用いる場合、ポリシロキサンに対して0.001〜5重量%、さらに好ましくは0.005〜1重量%の範囲で添加するのが好ましい。この範囲を外れると、透明性が低下したり、感度が低下したりするので注意を要する。   When using a sensitizer, it is preferable to add in 0.001 to 5 weight% with respect to polysiloxane, More preferably, it is 0.005 to 1 weight%. If it is out of this range, the transparency is lowered and the sensitivity is lowered.

さらに、本発明の感光性シロキサン組成物は熱架橋性化合物を含有してもよい。熱架橋性化合物は熱硬化時にポリシロキサンを架橋する化合物であり、架橋によりポリシロキサン骨格中に取り込まれる化合物である。熱架橋性化合物を含有することによって硬化膜の架橋度が高くなる。これによって硬化膜の耐溶剤性が向上する。   Furthermore, the photosensitive siloxane composition of the present invention may contain a thermally crosslinkable compound. The thermally crosslinkable compound is a compound that crosslinks the polysiloxane at the time of thermosetting, and is a compound that is incorporated into the polysiloxane skeleton by crosslinking. By containing a thermally crosslinkable compound, the crosslinking degree of a cured film becomes high. This improves the solvent resistance of the cured film.

熱架橋性化合物は熱硬化時にポリシロキサンを架橋し、ポリシロキサン骨格中に取り込まれる化合物であれば特に制限されないが、好ましくは一般式(5)で表される基、エポキシ構造、オキセタン構造の群から選択される構造を2個以上有する化合物が挙げられる。上記構造の組み合わせは特に限定されないが、選択される構造は同じものであることが好ましい。   The heat crosslinkable compound is not particularly limited as long as it is a compound that crosslinks polysiloxane at the time of thermosetting and is incorporated into the polysiloxane skeleton, but preferably a group represented by the general formula (5), an epoxy structure, a group of oxetane structures And compounds having two or more structures selected from: The combination of the above structures is not particularly limited, but the selected structures are preferably the same.

Figure 2008107529
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20は水素、炭素数1〜10のアルキル基のいずれかを表す。なお、化合物中の複数のR20はそれぞれ同じでも異なっていてもよい。 R 20 represents any one of hydrogen and an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. A plurality of R 20 in the compound may be the same or different.

一般式(5)で表される基を2個以上有する化合物において、R20は水素、炭素数1〜10のアルキル基のいずれかを表す。なお、化合物中の複数のR20はそれぞれ同じでも異なっていてもよい。アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基、n−ヘキシル基、n−デシル基が挙げられる。 In the compound having two or more groups represented by the general formula (5), R 20 represents either hydrogen or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. A plurality of R 20 in the compound may be the same or different. Specific examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, t-butyl group, n-hexyl group, and n-decyl group.

一般式(5)で表される基を2個以上有する化合物の具体例としては、以下のようなメラミン誘導体や尿素誘導体(商品名、三和ケミカル(株)製)、およびフェノール性化合物(商品名、本州化学工業(株)製)が挙げられる。   Specific examples of the compound having two or more groups represented by the general formula (5) include the following melamine derivatives and urea derivatives (trade names, manufactured by Sanwa Chemical Co., Ltd.), and phenolic compounds (commodities). Name, manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd.).

Figure 2008107529
Figure 2008107529

エポキシ構造を2個以上有する化合物の具体例としては、“エポライト”40E、“エポライト”100E、“エポライト”200E、“エポライト”400E、“エポライト”70P、“エポライト”200P、“エポライト”400P、“エポライト”1500NP、“エポライト”80MF、“エポライト”4000、“エポライト”3002(以上商品名、共栄社化学工業(株)製)、“デナコール”EX−212L、“デナコール”EX−214L、“デナコール”EX−216L、“デナコール”EX−850L、“デナコール”EX−321L(以上商品名、ナガセケムテックス(株)製)、GAN、GOT、EPPN502H、NC3000、NC6000(以上商品名、日本化薬(株)製)、“エピコート”828、“エピコート”1002、“エピコート”1750、“エピコート”1007、YX8100−BH30、E1256、E4250、E4275(以上商品名、ジャパンエポキシレジン(株)製)、“エピクロン”EXA−9583、HP4032、“エピクロン”N695、HP7200(以上商品名、大日本インキ化学工業(株)製)、“テピック”S、“テピック”G、“テピック”P(以上商品名、日産化学工業(株)製)、“エポトート”YH−434L(商品名、東都化成(株)製)などが挙げられる。   Specific examples of compounds having two or more epoxy structures include “Epolite” 40E, “Epolite” 100E, “Epolite” 200E, “Epolite” 400E, “Epolite” 70P, “Epolite” 200P, “Epolite” 400P, “ "Epolite" 1500NP, "Epolite" 80MF, "Epolite" 4000, "Epolite" 3002 (above trade name, manufactured by Kyoeisha Chemical Industry Co., Ltd.), "Denacol" EX-212L, "Denacol" EX-214L, "Denacol" EX -216L, "Denacol" EX-850L, "Denacol" EX-321L (above trade name, manufactured by Nagase ChemteX Corporation), GAN, GOT, EPPN502H, NC3000, NC6000 (above trade name, Nippon Kayaku Co., Ltd.) ), "Epicoat" 828, "D "Coat" 1002, "Epicoat" 1750, "Epicoat" 1007, YX8100-BH30, E1256, E4250, E4275 (above trade name, manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd.), "Epicron" EXA-9583, HP4032, "Epicron" N695 , HP7200 (trade name, manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.), “Tepic” S, “Tepic” G, “Tepic” P (trade name, manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), “Epototo” YH -434L (trade name, manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd.).

オキセタン構造を2個以上有する化合物の具体例としては、OXT−121、OXT−221、OX−SQ−H、OXT−191、PNOX−1009、RSOX(以上商品名、東亜合成(株)製)、“エタナコール”OXBP、“エタナコール”OXTP(以上商品名、宇部興産(株)製)などが挙げられる。   Specific examples of the compound having two or more oxetane structures include OXT-121, OXT-221, OX-SQ-H, OXT-191, PNOX-1009, RSOX (above, trade name, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), “Ethanacol” OXBP, “Etanacol” OXTP (trade name, manufactured by Ube Industries, Ltd.)

なお、上記の熱架橋性化合物は、単独で使用しても、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   In addition, said heat crosslinkable compound may be used individually or may be used in combination of 2 or more type.

熱架橋性化合物の添加量は特に制限されないが、好ましくはポリシロキサンに対して0.1〜10重量%の範囲である。熱架橋性化合物の添加量が0.1重量%より少ない場合、ポリシロキサンの架橋が不十分で効果が少ない。一方、熱架橋性化合物の添加量が10重量%より多い場合、硬化膜の無色透明性が低下したり、組成物の貯蔵安定性が低下する。   The amount of the thermally crosslinkable compound added is not particularly limited, but is preferably in the range of 0.1 to 10% by weight with respect to the polysiloxane. When the addition amount of the thermally crosslinkable compound is less than 0.1% by weight, the effect of the crosslinking is insufficient due to insufficient crosslinking of the polysiloxane. On the other hand, when the addition amount of the heat crosslinkable compound is more than 10% by weight, the colorless transparency of the cured film is lowered or the storage stability of the composition is lowered.

本発明の感光性シロキサン組成物は必要に応じて、溶解抑止剤、界面活性剤、安定剤、消泡剤などの添加剤を含有することもできる。   The photosensitive siloxane composition of this invention can also contain additives, such as a dissolution inhibitor, surfactant, a stabilizer, and an antifoamer, as needed.

本発明の感光性シロキサン組成物を用いた硬化膜の形成方法について説明する。本発明の感光性シロキサン組成物をスピンナー、ディッピング、スリットなどの公知の方法によって下地基板上に塗布し、ホットプレート、オーブンなどの加熱装置でプリベークする。プリベークは、50〜150℃の範囲で30秒〜30分間行い、プリベーク後の膜厚は、0.1〜15μmとするのが好ましい。   A method for forming a cured film using the photosensitive siloxane composition of the present invention will be described. The photosensitive siloxane composition of the present invention is applied onto a base substrate by a known method such as spinner, dipping, or slit, and prebaked with a heating device such as a hot plate or oven. Pre-baking is performed in the range of 50 to 150 ° C. for 30 seconds to 30 minutes, and the film thickness after pre-baking is preferably 0.1 to 15 μm.

プリベーク後、ステッパー、ミラープロジェクションマスクアライナー(MPA)、パラレルライトマスクアライナー(PLA)などの紫外可視露光機を用い、10〜4000J/m程度(波長365nm露光量換算)を所望のマスクを介してパターニング露光する。また、本発明の感光性シロキサン組成物は、PLAによる露光での感度が100〜4000J/mであることが好ましい。感度が4000J/mより低いと、パターン形成時の放射線露光時間が長くなるために生産性が低下したり、放射線露光量が多くなるために下地基板からの反射量が多くなりパターン形状が悪化する。 After pre-baking, using a UV-visible exposure machine such as a stepper, mirror projection mask aligner (MPA), parallel light mask aligner (PLA), etc., about 10 to 4000 J / m 2 (wavelength 365 nm exposure conversion) through the desired mask Pattern exposure is performed. The photosensitive siloxane composition of the present invention preferably has a sensitivity of 100 to 4000 J / m 2 when exposed to PLA. If the sensitivity is lower than 4000 J / m 2 , the radiation exposure time at the time of pattern formation becomes longer, resulting in a decrease in productivity, and the amount of radiation exposure increases, resulting in an increase in the amount of reflection from the base substrate and a deterioration in the pattern shape. To do.

前記のPLAによるパターニング露光での感度は、例えば以下の方法により求められる。組成物をシリコンウェハにスピンコーターを用いて任意の回転数でスピンコートし、ホットプレートを用いて115℃で2分間プリベークし、膜厚4μmの膜を作製する。作製した膜をPLA(キヤノン(株)製PLA−501F)を用いて、超高圧水銀灯を感度測定用のグレースケールマスクを介して露光した後、自動現像装置(滝沢産業(株)製AD−2000)を用いて2.38重量%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液、0.4%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液、0.4%水酸化カリウム水溶液、0.04%水酸化カリウム水溶液などを用いて任意の時間パドル現像し、次いで水で30秒間リンスする。形成されたパターンにおいて、10μmのラインアンドスペースパターンを1対1の幅で解像する露光量を感度として求める。   The sensitivity in the patterning exposure by the PLA is determined by the following method, for example. The composition is spin-coated on a silicon wafer at an arbitrary number of revolutions using a spin coater, and prebaked at 115 ° C. for 2 minutes using a hot plate to produce a film having a thickness of 4 μm. The prepared film was exposed to an ultra-high pressure mercury lamp through a gray scale mask for sensitivity measurement using PLA (PLA-501F manufactured by Canon Inc.), and then an automatic developing device (AD-2000 manufactured by Takizawa Sangyo Co., Ltd.). ) Using 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution, 0.4% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution, 0.4% potassium hydroxide aqueous solution, 0.04% potassium hydroxide aqueous solution, etc. Develop with paddle for an hour and then rinse with water for 30 seconds. In the formed pattern, an exposure amount for resolving a 10 μm line and space pattern with a one-to-one width is obtained as sensitivity.

パターニング露光後、現像により露光部が溶解し、ポジ型のパターンを得ることができる。現像方法としては、シャワー、ディッピング、パドルなどの方法で現像液に5秒〜10分間浸漬することが好ましい。現像液としては、公知のアルカリ現像液を用いることができる。具体的例としてはアルカリ金属の水酸化物、炭酸塩、リン酸塩、ケイ酸塩、ホウ酸塩などの無機アルカリ、2−ジエチルアミノエタノール、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン等のアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキサイド、コリン等の4級アンモニウム塩を1種あるいは2種以上含む水溶液等が挙げられる。   After patterning exposure, the exposed portion is dissolved by development, and a positive pattern can be obtained. As a developing method, it is preferable to immerse in a developer for 5 seconds to 10 minutes by a method such as showering, dipping or paddle. As the developer, a known alkali developer can be used. Specific examples include inorganic alkalis such as alkali metal hydroxides, carbonates, phosphates, silicates and borates, amines such as 2-diethylaminoethanol, monoethanolamine and diethanolamine, tetramethylammonium hydroxide. Examples thereof include an aqueous solution containing one or more quaternary ammonium salts such as side and choline.

現像後、水でリンスすることが好ましく、つづいて50〜150℃の範囲で乾燥ベークを行うこともできる。   After development, it is preferable to rinse with water, followed by drying and baking in the range of 50 to 150 ° C.

その後、ブリーチング露光を行うことが好ましい。ブリーチング露光を行うことによって、膜中に残存する未反応のキノンジアジド化合物が光分解して、膜の光透明性がさらに向上する。ブリーチング露光の方法としては、PLAなどの紫外可視露光機を用い、100〜4000J/m程度(波長365nm露光量換算)を全面に露光する。 Thereafter, it is preferable to perform bleaching exposure. By performing bleaching exposure, the unreacted quinonediazide compound remaining in the film is photodegraded, and the light transparency of the film is further improved. As a bleaching exposure method, an entire surface is exposed to about 100 to 4000 J / m 2 (converted to a wavelength of 365 nm exposure amount) using an ultraviolet-visible exposure machine such as PLA.

その後、この膜をホットプレート、オーブンなどの加熱装置で150〜450℃の範囲で1時間程度熱硬化する。解像度は、好ましくは10μm以下である。   Thereafter, this film is thermally cured at 150 to 450 ° C. for about 1 hour using a heating device such as a hot plate or oven. The resolution is preferably 10 μm or less.

本発明の感光性シロキサン組成物は、波長400nmでの膜厚3μmあたりの透過率が95%以上である硬化膜が形成可能であり、さらに好ましくは98%以上を有する。光透過率が95%より低いと、液晶表示素子のTFT基板用平坦化膜として用いた場合、バックライトが通過する際に色変化が起こり、白色表示が黄色味を帯びる。   The photosensitive siloxane composition of the present invention can form a cured film having a transmittance of 95% or more per 3 μm thickness at a wavelength of 400 nm, more preferably 98% or more. When the light transmittance is lower than 95%, when used as a flattening film for a TFT substrate of a liquid crystal display element, a color change occurs when the backlight passes, and a white display becomes yellowish.

前記の波長400nmにおける膜厚3μmあたりの透過率は、以下の方法により求められる。組成物をテンパックスガラス板にスピンコーターを用いて任意の回転数でスピンコートし、ホットプレートを用いて115℃で2分間プリベークする。その後、ブリーチング露光として、PLAを用いて、膜全面に超高圧水銀灯を6000J/m(波長365nm露光量換算)露光し、オーブンを用いて空気中250℃で1時間熱硬化して硬化膜を作製する。得られた硬化膜の紫外可視吸収スペクトルを(株)島津製作所製MultiSpec−1500を用いて測定し、膜厚3μmあたりの波長400nmにおける透過率を求める。 The transmittance per film thickness of 3 μm at the wavelength of 400 nm is determined by the following method. The composition is spin-coated on a Tempax glass plate at an arbitrary rotation number using a spin coater, and prebaked at 115 ° C. for 2 minutes using a hot plate. Then, as bleaching exposure, PLA is used to expose the entire surface of the film with an ultra-high pressure mercury lamp at 6000 J / m 2 (converted to a wavelength of 365 nm exposure amount), and is cured by heating at 250 ° C. in air for 1 hour using an oven. Is made. The ultraviolet-visible absorption spectrum of the obtained cured film is measured using MultiSpec-1500 manufactured by Shimadzu Corporation, and the transmittance at a wavelength of 400 nm per 3 μm thickness is obtained.

この硬化膜は表示素子におけるTFT用平坦化膜、半導体素子における層間絶縁膜、あるいは光導波路におけるコアやクラッド材等に好適に使用される。   This cured film is suitably used for a TFT planarizing film in a display element, an interlayer insulating film in a semiconductor element, or a core or cladding material in an optical waveguide.

本発明の素子は、表示素子、半導体素子、あるいは光導波路材が挙げられる。また、本発明の素子は、上述の本発明の高解像度、高硬度、高透明性、高耐熱性の硬化膜を有するので、特に、TFT用平坦化膜として用いた液晶ディスプレイや有機EL表示素子は画面の明るさと信頼性に優れている。   Examples of the element of the present invention include a display element, a semiconductor element, and an optical waveguide material. In addition, since the element of the present invention has the above-described cured film of high resolution, high hardness, high transparency, and high heat resistance of the present invention, in particular, a liquid crystal display or an organic EL display element used as a planarizing film for TFT. Is excellent in screen brightness and reliability.

以下に本発明をその実施例を用いて説明するが、本発明の様態はこれらの実施例に限定されるものではない。また実施例等で用いた化合物のうち、略語を使用しているものについて、以下に示す。   The present invention will be described below with reference to examples thereof, but the embodiment of the present invention is not limited to these examples. Of the compounds used in the examples and the like, those using abbreviations are shown below.

DAA:ジアセトンアルコール
EDM:ジエチレングリコールエチルメチルエーテル
HPE:2−ヒドロキシプロピオン酸エチル
GBL:γ−ブチロラクトン
MB:3−メトキシブタノール
DBA:9,10−ジブトキシアントラセン
合成例1 ポリシロキサン溶液(a)の合成
500mLの三口フラスコに3−エチル−3−(3−トリメトキシシリルプロポキシメチル)オキセタン(東亞合成(株)製、製品名:TMSOX−D)を279g(1.2mol)、ジアセトンアルコールを192.44g室温で攪拌しながら水86.4gにリン酸0.25gを溶かしたリン酸水溶液を10分かけて添加した。その後、フラスコを70℃のオイルバスに浸けて1時間攪拌した後、オイルバスを30分かけて115℃まで昇温した。昇温開始1時間後に溶液の内温が100℃に到達し、そこから30分加熱攪拌した(内温は100〜110℃)。反応中に副生成物であるメタノール、水が合計197g留出した。得られたポリシロキサンのDAA溶液に、ポリマー濃度が43重量%となるようにDAAを加えてポリシロキサン溶液(a)を得た。得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は5500、ジオール基の含有量はポリシロキサンのSi原子に対して100mom%であった。ポリマーの重量平均分子量はGPC(ゲルパーミネーションクロマトグラフィー)(展開溶剤:テトラヒドロフラン、展開速度:0.4ml/分)を用いてポリスチレン換算で測定した。ジオール基の含有量はポリシロキサン溶液(a)に標準物質として1重量%のベンゼンを混合したサンプルを作製して、元素分析、H−NMRを測定して求めた。(H−NMRで使用した溶媒:CDCl
DAA: diacetone alcohol EDM: diethylene glycol ethyl methyl ether HPE: ethyl 2-hydroxypropionate GBL: γ-butyrolactone MB: 3-methoxybutanol DBA: 9,10-dibutoxyanthracene Synthesis example 1 Synthesis of polysiloxane solution (a) In a 500 mL three-necked flask, 279 g (1.2 mol) of 3-ethyl-3- (3-trimethoxysilylpropoxymethyl) oxetane (manufactured by Toagosei Co., Ltd., product name: TMSOX-D) and 192. 44 g While stirring at room temperature, an aqueous phosphoric acid solution in which 0.25 g of phosphoric acid was dissolved in 86.4 g of water was added over 10 minutes. Thereafter, the flask was immersed in an oil bath at 70 ° C. and stirred for 1 hour, and then the temperature of the oil bath was raised to 115 ° C. over 30 minutes. One hour after the start of temperature increase, the internal temperature of the solution reached 100 ° C., and was then heated and stirred for 30 minutes (the internal temperature was 100 to 110 ° C.). During the reaction, a total of 197 g of methanol and water as by-products were distilled. To the obtained DAA solution of polysiloxane, DAA was added so that the polymer concentration was 43% by weight to obtain a polysiloxane solution (a). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 5500, and the content of diol groups was 100 mom% relative to the Si atom of the polysiloxane. The weight average molecular weight of the polymer was measured in terms of polystyrene using GPC (gel permeation chromatography) (developing solvent: tetrahydrofuran, developing speed: 0.4 ml / min). The content of the diol group was determined by preparing a sample in which 1% by weight of benzene was mixed as a standard substance with the polysiloxane solution (a), and measuring elemental analysis and 1 H-NMR. (Solvent used in 1 H-NMR: CDCl 3 )

Figure 2008107529
Figure 2008107529

合成例2 ポリシロキサン溶液(b)の合成
フェニルトリメトキシシランを101.13g(0.55mol)、3−エチル−3−(3−トリエトキシシリルプロポキシメチル)オキセタン(東亞合成(株)製、製品名:TESOX−D)115.38g(0.38mol)、シリカ粒子DAA溶剤分散液クォートロンPL−2L−DAA(扶桑化学工業(株)製:シリカ粒子27.5%DAA溶液)を77.45g(シラン原子モル数で0.35mol)、DAA124.5gを500mLの三口フラスコに仕込み、室温で攪拌しながら水53.46gにリン酸0.177gを溶かしたリン酸水溶液を30分かけて添加した。その後、フラスコを40℃のオイルバスに浸けて30分攪拌した後、オイルバスを30分かけて115℃まで昇温した。昇温開始1時間後に溶液の内温が100℃に到達し、そこから60分加熱攪拌した(内温は100〜110℃)。反応中に副生成物であるメタノール、水が合計89g留出した。得られたポリシロキサンのDAA溶液が、ポリマー濃度が43重量%となるようにDAAを加えてポリシロキサン溶液(b)を得た。得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は5650であった。なお、ジオール基の含有量はポリシロキサンのSi原子に対して30モル%、フェニル基の含有量はSi原子に対して42.5モル%、シリカ粒子の含有量はSi原子量で27.5mol%であった。フェニル基の含有率はポリシロキサンの29Si−核磁気共鳴スペクトルを測定し、そのフェニル基が結合したSiのピーク面積とフェニル基が結合していないSiのピーク面積の比から測定した。
Synthesis Example 2 Synthesis of Polysiloxane Solution (b) 101.13 g (0.55 mol) of phenyltrimethoxysilane, 3-ethyl-3- (3-triethoxysilylpropoxymethyl) oxetane (manufactured by Toagosei Co., Ltd., product) Name: TESOX-D) 115.38 g (0.38 mol), silica particle DAA solvent dispersion Quartron PL-2L-DAA (manufactured by Fuso Chemical Industries, Ltd .: silica particle 27.5% DAA solution) 77.45 g ( A silane atom of 0.35 mol) and DA4.5 (124.5 g) were charged into a 500 mL three-necked flask, and an aqueous phosphoric acid solution prepared by dissolving 0.177 g of phosphoric acid in 53.46 g of water was added over 30 minutes while stirring at room temperature. Thereafter, the flask was immersed in a 40 ° C. oil bath and stirred for 30 minutes, and then the oil bath was heated to 115 ° C. over 30 minutes. One hour after the start of temperature increase, the internal temperature of the solution reached 100 ° C., and was then heated and stirred for 60 minutes (the internal temperature was 100 to 110 ° C.). During the reaction, 89 g of methanol and water as by-products were distilled out. DAA was added so that the obtained polysiloxane DAA solution had a polymer concentration of 43% by weight to obtain a polysiloxane solution (b). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 5650. The diol group content is 30 mol% with respect to the Si atom of the polysiloxane, the phenyl group content is 42.5 mol% with respect to the Si atom, and the silica particle content is 27.5 mol% in terms of Si atom weight. Met. The content of the phenyl group was measured by measuring the 29 Si-nuclear magnetic resonance spectrum of polysiloxane, and the ratio of the peak area of Si bonded to the phenyl group to the peak area of Si not bonded to the phenyl group.

Figure 2008107529
Figure 2008107529

合成例3 ポリシロキサン溶液(c)の合成
メチルトリメトキシシランを13.99g(0.1mol)、フェニルトリメトキシシランを149.62g(0.76mol)、3−トリメトキシシリルプロピルコハク酸無水物35.94g(0.13mol)、シリカ粒子DAA溶剤分散液クォートロンPL−2L−DAA(扶桑化学工業(株)製:シリカ粒子27.5%DAA溶液)を77.45g(シラン原子モル数で0.35mol)を102.65g、DAA124.5gを500mLの三口フラスコに仕込み、室温で攪拌しながら水40.05gにリン酸0.181gを溶かしたリン酸水溶液を30分かけて添加した。その後、フラスコを40℃のオイルバスに浸けて30分攪拌した後、オイルバスを30分かけて115℃まで昇温した。昇温開始1時間後に溶液の内温が100℃に到達し、そこから120分加熱攪拌した(内温は100〜110℃)。反応中に副生成物であるメタノール、水が合計89g留出した。得られたポリシロキサンのDAA溶液が、ポリマー濃度が43重量%となるようにDAAを加えてポリシロキサン溶液(iii)を得た。得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は6200であった。なお、コハク酸基の含有量はSi原子に対して10モル%、フェニル基の含有量はSi原子に対して55モル%、シリカ粒子の含有量はSi原子量で27.5mol%であった。コハク酸無水物基の含有量はポリシロキサン溶液(c)に標準物質として1重量%のベンゼンを混合したサンプルを作製して、元素分析、H−NMRを測定して求めた。(H−NMRで使用した溶媒:CDCl
Synthesis Example 3 Synthesis of Polysiloxane Solution (c) 13.99 g (0.1 mol) of methyltrimethoxysilane, 149.62 g (0.76 mol) of phenyltrimethoxysilane, and 3-trimethoxysilylpropyl succinic anhydride 35 .94 g (0.13 mol), 77.45 g of silica particle DAA solvent dispersion Quartron PL-2L-DAA (manufactured by Fuso Chemical Industry Co., Ltd .: 27.5% DAA solution of silica particles) 35 mol) was charged into a 500 mL three-necked flask, and an aqueous phosphoric acid solution prepared by dissolving 0.181 g of phosphoric acid in 40.05 g of water was added over 30 minutes while stirring at room temperature. Thereafter, the flask was immersed in a 40 ° C. oil bath and stirred for 30 minutes, and then the oil bath was heated to 115 ° C. over 30 minutes. One hour after the start of temperature increase, the internal temperature of the solution reached 100 ° C., and was then heated and stirred for 120 minutes (the internal temperature was 100 to 110 ° C.). During the reaction, 89 g of methanol and water as by-products were distilled out. DAA was added so that the obtained polysiloxane DAA solution had a polymer concentration of 43% by weight to obtain a polysiloxane solution (iii). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 6200. The succinic acid group content was 10 mol% with respect to Si atoms, the phenyl group content was 55 mol% with respect to Si atoms, and the silica particle content was 27.5 mol% in terms of Si atoms. The content of the succinic anhydride group was determined by preparing a sample in which 1% by weight of benzene as a standard substance was mixed with the polysiloxane solution (c), and measuring elemental analysis and 1 H-NMR. (Solvent used in 1 H-NMR: CDCl 3 )

Figure 2008107529
Figure 2008107529

合成例4 ポリシロキサン溶液(d)の合成
メチルトリメトキシシラン88.53g(0.65モル)、フェニルトリメトキシシラン69.41g(0.35モル)、ジアセトンアルコール(DAA)138.87gを500mLの三口フラスコに仕込み、室温で攪拌しながら水54gにリン酸0.158g(仕込みシラン化合物に対して0.1重量%)を溶かしたリン酸水溶液を30分かけて添加した。その後、フラスコを40℃のオイルバスに浸けて30分攪拌した後、オイルバスを30分かけて115℃まで昇温した。昇温開始1時間後に溶液の内温が100℃に到達し、そこから25分加熱攪拌した(内温は100〜110℃)。反応中に副生成物であるメタノール96g、水24g、DAAが留出した。得られたポリシロキサンのDAA溶液に、ポリマー濃度が40重量%となるようにDAAを加えてポリシロキサン溶液(d)を得た。Si原子に対するフェニル基含有率は35モル%であった。得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は4000であった。
Synthesis Example 4 Synthesis of Polysiloxane Solution (d) 500 mL of 88.53 g (0.65 mol) of methyltrimethoxysilane, 69.41 g (0.35 mol) of phenyltrimethoxysilane, and 138.87 g of diacetone alcohol (DAA) A phosphoric acid aqueous solution in which 0.158 g of phosphoric acid (0.1 wt% with respect to the charged silane compound) was dissolved in 54 g of water was added over 30 minutes while stirring at room temperature. Thereafter, the flask was immersed in a 40 ° C. oil bath and stirred for 30 minutes, and then the oil bath was heated to 115 ° C. over 30 minutes. One hour after the start of temperature increase, the internal temperature of the solution reached 100 ° C., and was then heated and stirred for 25 minutes (the internal temperature was 100 to 110 ° C.). During the reaction, 96 g of methanol as a by-product, 24 g of water, and DAA were distilled out. DAA was added to the obtained DAA solution of polysiloxane so that the polymer concentration was 40% by weight to obtain a polysiloxane solution (d). The phenyl group content relative to Si atoms was 35 mol%. The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 4000.

合成例5 ポリシロキサン溶液(e)の合成
メチルトリメトキシシラン74.23g(0.55モル)、フェニルトリメトキシシラン69.41g(0.35モル)、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン21.82g(0.1mol)、DAA132.4gを500mLの三口フラスコに仕込み、室温で攪拌しながら水52.02gにリン酸0.319gを溶かしたリン酸水溶液を30分かけて添加した。その後、フラスコを40℃のオイルバスに浸けて30分攪拌した後、オイルバスを30分かけて115℃まで昇温した。昇温開始1時間後に溶液の内温が100℃に到達し、そこから35分加熱攪拌した(内温は100〜110℃)。反応中に副生成物であるメタノール71g、水18g、DAAが留出した。得られたポリシロキサンのDAA溶液に、ポリマー濃度が40重量%となるようにDAAを加えてポリシロキサン溶液(e)を得た。Si原子に対するフェニル基含有率は35モル%であった。得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は4300であった。
Synthesis Example 5 Synthesis of polysiloxane solution (e) 74.23 g (0.55 mol) of methyltrimethoxysilane, 69.41 g (0.35 mol) of phenyltrimethoxysilane, 21.82 g (0 of trifluoropropyltrimethoxysilane) 0.1 mol) and 132.4 g of DAA were charged into a 500 mL three-necked flask, and an aqueous phosphoric acid solution in which 0.319 g of phosphoric acid was dissolved in 52.02 g of water was added over 30 minutes while stirring at room temperature. Thereafter, the flask was immersed in a 40 ° C. oil bath and stirred for 30 minutes, and then the oil bath was heated to 115 ° C. over 30 minutes. One hour after the start of temperature increase, the internal temperature of the solution reached 100 ° C., and was then heated and stirred for 35 minutes (the internal temperature was 100 to 110 ° C.). During the reaction, 71 g of methanol as a by-product, 18 g of water, and DAA were distilled out. DAA was added to the obtained DAA solution of polysiloxane so that the polymer concentration was 40% by weight to obtain a polysiloxane solution (e). The phenyl group content relative to Si atoms was 35 mol%. The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 4300.

合成例6 ポリシロキサン溶液(f)の合成
メチルトリメトキシシラン23.84g(0.175モル)、フェニルトリメトキシシラン109.10g(0.55モル)、シリカ粒子分散液クォートロンPL−2L−DAA(扶桑化学工業(株)製:シリカ粒子26.4%DAA溶液)62.58g(シラン原子数で0.28モル)、DAA209.47gを500mLの三口フラスコに仕込み、室温で攪拌しながら水40.05gにリン酸0.181gを溶かしたリン酸水溶液を30分かけて添加した。その後、フラスコを40℃のオイルバスに浸けて30分攪拌した後、オイルバスを30分かけて115℃まで昇温した。昇温開始1時間後に溶液の内温が100℃に到達し、そこから15分加熱攪拌した(内温は100〜110℃)。反応中に副生成物であるメタノール71g、水18g、DAAが留出した。得られたポリシロキサンのDAA溶液が、ポリマー濃度が40重量%となるようにDAAを加えてポリシロキサン溶液(f)を得た。Si原子に対するフェニル基含有率は55モル%であった。得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は3500であった。
Synthesis Example 6 Synthesis of Polysiloxane Solution (f) Methyltrimethoxysilane 23.84 g (0.175 mol), phenyltrimethoxysilane 109.10 g (0.55 mol), silica particle dispersion Quatron PL-2L-DAA ( Fuso Chemical Co., Ltd .: Silica particles 26.4% DAA solution) 62.58 g (0.28 mol in terms of silane atoms) and DAA 209.47 g were charged into a 500 mL three-necked flask and stirred at room temperature with 40. A phosphoric acid aqueous solution in which 0.181 g of phosphoric acid was dissolved in 05 g was added over 30 minutes. Thereafter, the flask was immersed in a 40 ° C. oil bath and stirred for 30 minutes, and then the oil bath was heated to 115 ° C. over 30 minutes. One hour after the start of temperature increase, the internal temperature of the solution reached 100 ° C., and was then heated and stirred for 15 minutes (the internal temperature was 100 to 110 ° C.). During the reaction, 71 g of methanol as a by-product, 18 g of water, and DAA were distilled out. DAA was added so that the obtained polysiloxane DAA solution had a polymer concentration of 40% by weight to obtain a polysiloxane solution (f). The phenyl group content with respect to Si atoms was 55 mol%. The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 3500.

合成例7 キノンジアジド化合物(a)の合成
乾燥窒素気流下、TrisP−PA(商品名、本州化学工業(株)製)21.23g(0.05mol)と5−ナフトキノンジアジドスルホニル酸クロリド37.62g(0.14mol)を1,4−ジオキサン450gに溶解させ、室温にした。ここに、1,4−ジオキサン50gと混合させたトリエチルアミン15.58g(0.154mol)を系内が35℃以上にならないように滴下した。滴下後30℃で2時間攪拌した。トリエチルアミン塩を濾過し、濾液を水に投入させた。その後、析出した沈殿を濾過で集めた。この沈殿を真空乾燥機で乾燥させ、エステル化率93%の下記構造のキノンジアジド化合物(a)を得た。
Synthesis Example 7 Synthesis of quinonediazide compound (a) Under a nitrogen stream, 21.23 g (0.05 mol) of TrisP-PA (trade name, manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd.) and 37.62 g of 5-naphthoquinonediazidesulfonyl acid chloride 0.14 mol) was dissolved in 450 g of 1,4-dioxane and brought to room temperature. Here, 15.58 g (0.154 mol) of triethylamine mixed with 50 g of 1,4-dioxane was added dropwise so that the temperature inside the system would not be 35 ° C. or higher. It stirred at 30 degreeC after dripping for 2 hours. The triethylamine salt was filtered and the filtrate was poured into water. Thereafter, the deposited precipitate was collected by filtration. This precipitate was dried with a vacuum dryer to obtain a quinonediazide compound (a) having an esterification rate of 93% and having the following structure.

Figure 2008107529
Figure 2008107529

合成例8 キノンジアジド化合物(b)の合成
乾燥窒素気流下、TrisP−HPA(商品名、本州化学工業(株)製)15.32g(0.05mol)と5−ナフトキノンジアジドスルホニル酸クロリド30.9g(0.115mol)を1,4−ジオキサン450gに溶解させ、室温にした。ここに、1,4−ジオキサン50gと混合させたトリエチルアミン13.03g(0.127mol)を系内が35℃以上にならないように滴下した。滴下後30℃で2時間攪拌した。トリエチルアミン塩を濾過し、濾液を水に投入させた。その後、析出した沈殿を濾過で集めた。この沈殿を真空乾燥機で乾燥させ、エステル化率93%の下記構造のキノンジアジド化合物(b)を得た。
Synthesis Example 8 Synthesis of quinonediazide compound (b) Under a dry nitrogen stream, TrisP-HPA (trade name, manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd.) 15.32 g (0.05 mol) and 5-naphthoquinonediazidesulfonyl acid chloride 30.9 g ( 0.115 mol) was dissolved in 450 g of 1,4-dioxane and brought to room temperature. Here, 13.03 g (0.127 mol) of triethylamine mixed with 50 g of 1,4-dioxane was added dropwise so that the temperature in the system would not be 35 ° C. or higher. It stirred at 30 degreeC after dripping for 2 hours. The triethylamine salt was filtered and the filtrate was poured into water. Thereafter, the deposited precipitate was collected by filtration. This precipitate was dried with a vacuum dryer to obtain a quinonediazide compound (b) having the following structure having an esterification rate of 93%.

Figure 2008107529
Figure 2008107529

合成例9 アクリル樹脂溶液(a)の合成
2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)5g、ジエチレングリコールエチルメチルエーテル(EDM)200gを500mLの三口フラスコに仕込んだ。引き続きスチレン25g、メタクリル酸20g、メタクリル酸グリシジル45g、トリシクロ[5.2.1.02,6]デカン−8−イルメタクリレート10gを仕込み、室温でしばらく攪拌した後、フラスコ内を窒素置換した。その後、フラスコを70℃のオイルバスに浸けて、5時間加熱攪拌した。得られたアクリル樹脂のEDM溶液に、ポリマー濃度が43重量%となるようにさらにEDMを加えて、アクリル樹脂溶液(a)を得た。なお、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は15000であった。
Synthesis Example 9 Synthesis of acrylic resin solution (a) 5 g of 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) and 200 g of diethylene glycol ethyl methyl ether (EDM) were charged into a 500 mL three-necked flask. Subsequently, 25 g of styrene, 20 g of methacrylic acid, 45 g of glycidyl methacrylate and 10 g of tricyclo [5.2.1.0 2,6 ] decan-8-yl methacrylate were charged and stirred for a while at room temperature, and then the atmosphere in the flask was replaced with nitrogen. Thereafter, the flask was immersed in an oil bath at 70 ° C. and stirred with heating for 5 hours. To the obtained EDM solution of acrylic resin, EDM was further added so that the polymer concentration was 43% by weight to obtain an acrylic resin solution (a). In addition, the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 15000.

合成例10 ノボラック樹脂溶液(a)の合成
冷却管と撹拌装置を装着した2Lのセパラブルフラスコに、m−クレゾール172.8g(1.6mol)、2.3−ジメチルフェノール36.6g(0.3モル)、3.4−ジメチルフェノール12.2g(0.1mol)、37重量%ホルムアルデヒド水溶液12.6g(ホルムアルデヒド:1.5mol)、シュウ酸2水和物12.6g(0.1mol)及びメチルイソブチルケトン554gを加え、30分撹拌した後、1時間静置した。2層に分離した上層をデカンテーションによって除去し、2−ヒドロキシプロピオン酸エチル(HPE)を加え、残存メチルイソブチルケトン、水を減圧濃縮によって除去し、ノボラック樹脂のHPE溶液を得た。得られたノボラック樹脂のHPE溶液に、ポリマー濃度が43重量%となるようにHPEを加えて、ノボラック樹脂のHPE溶液(a)を得た。なお、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)は23000であった。
また実施例等で用いる化合物の構造を以下に示す。
Synthesis Example 10 Synthesis of Novolak Resin Solution (a) In a 2 L separable flask equipped with a condenser and a stirrer, 172.8 g (1.6 mol) of m-cresol, 36.6 g of 2.3-dimethylphenol (0. 3 mol), 3.4-dimethylphenol 12.2 g (0.1 mol), 37 wt% aqueous formaldehyde solution 12.6 g (formaldehyde: 1.5 mol), oxalic acid dihydrate 12.6 g (0.1 mol) and After adding 554 g of methyl isobutyl ketone and stirring for 30 minutes, the mixture was allowed to stand for 1 hour. The upper layer separated into two layers was removed by decantation, ethyl 2-hydroxypropionate (HPE) was added, and residual methyl isobutyl ketone and water were removed by concentration under reduced pressure to obtain an HPE solution of novolak resin. HPE was added to the obtained HPE solution of novolak resin so that the polymer concentration was 43% by weight to obtain an HPE solution (a) of novolak resin. In addition, the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polymer was 23000.
Moreover, the structure of the compound used in an Example etc. is shown below.

Figure 2008107529
Figure 2008107529

実施例1
黄色灯下にてキノンジアジド化合物(a)0.3317g(9重量部)、SP−077(商品名、(株)ADEKA製)0.074g(2重量部)、“ニカラック”MX−270(商品名、三和ケミカル(株)製)0.074g(2重量部)、9,10−ジブトキシアントラセン(DBA、川崎化成(株)製)0.0111g(0.3重量部)、組成物全体のDAA/γ−ブチロラクトン(GBL)/3−メトキシブタノールの重量比が70/20/10になるように、DAAを5.5735g、GBLを3.172g、MBを1.586gの混合溶液に溶解させた。次に樹脂固形分が100重量部に相当するポリシロキサン溶液(a)9.2g、シリコーン系界面活性剤であるBYK−333(ビックケミージャパン(株)製)を0.001g(組成物全量に対して濃度50ppmに相当)加え撹拌した。次いで孔径0.45μmのフィルターでろ過を行い、感光性シロキサン組成物を得た。得られた組成物を組成物1とする。
Example 1
Under a yellow light, quinonediazide compound (a) 0.3317 g (9 parts by weight), SP-077 (trade name, manufactured by ADEKA Corporation) 0.074 g (2 parts by weight), “Nicarak” MX-270 (trade name) , Sanwa Chemical Co., Ltd.) 0.074 g (2 parts by weight), 9,10-dibutoxyanthracene (DBA, Kawasaki Kasei Co., Ltd.) 0.0111 g (0.3 parts by weight), DAA / γ-butyrolactone (GBL) / 3-methoxybutanol was dissolved in a mixed solution of 5.5735 g of DAA, 3.172 g of GBL and 1.586 g of MB so that the weight ratio was 70/20/10. It was. Next, 9.2 g of the polysiloxane solution (a) corresponding to 100 parts by weight of the resin solid content, 0.001 g of BYK-333 (produced by Big Chemie Japan Co., Ltd.), which is a silicone surfactant, (Corresponding to a concentration of 50 ppm) and stirred. Subsequently, it filtered with the filter of the hole diameter of 0.45 micrometer, and obtained the photosensitive siloxane composition. The resulting composition is referred to as Composition 1.

作製した組成物1をテンパックスガラス板(旭テクノガラス板(株)製)、およびシリコンウェハにスピンコーター(ミカサ(株)製1H−360S)を用いて任意の回転数でスピンコートした後、ホットプレート(大日本スクリーン製造(株)製SCW−636)を用いて115℃で2分間プリベークし、膜厚4μmのプリベーク膜を作製した。作製したプリベーク膜をパラレルライトマスクアライナー(以下PLAという)(キヤノン(株)製PLA−501F)を用いてg線+h線+i線(約350nm〜450nmの波長を持つ光)をグレースケールマスクを用いて最大i線露光量で20から2000J/m照射した。なおグレースケールマスクとはマスク上から2000J/m露光することにより、マスク下に1%(20J/m)から100%(2000J/m)までを段階的に一括で露光することができるマスクのことである。その後、自動現像装置(AD−2000、滝沢産業(株)製)を用いて2.38%水酸化テトラメチルアンモニウムヒドロキサイド水溶液であるELM−D(三菱ガス化学(株)製)を純水にて希釈した0.4%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液、0.04%水酸化カリウム水溶液の2種類の溶液を各々用いて80秒間シャワー現像し、次いで水で30秒間リンスした。その後、ブリーチング露光として、PLA−501F(キヤノン(株)製)を用いて、膜全面に超高圧水銀灯を6000J/m(波長365nm露光量換算)露光した。その後、ホットプレート(大日本スクリーン製造(株)製SCW−636)を用いて90℃で2分間ソフトベークし、次いでオーブン(エスペック(株)製IHPS−222)を用いて空気中220℃で1時間キュアして硬化膜を作製した。得られた硬化膜をパターン付きキュア膜とする。 After spin-coating the prepared composition 1 on a Tempax glass plate (Asahi Techno Glass plate Co., Ltd.) and a silicon wafer using a spin coater (Mikasa Co., Ltd. 1H-360S) at an arbitrary rotational speed, Prebaking was performed at 115 ° C. for 2 minutes using a hot plate (SCW-636 manufactured by Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd.) to prepare a prebaked film having a thickness of 4 μm. Using the gray scale mask for the pre-baked film, using a parallel light mask aligner (hereinafter referred to as PLA) (PLA-501F manufactured by Canon Inc.) and using g-ray + h-line + i-line (light having a wavelength of about 350 nm to 450 nm). The maximum i-line exposure was 20 to 2000 J / m 2 . Note that a gray scale mask can be exposed in a batch from 1% (20 J / m 2 ) to 100% (2000 J / m 2 ) under the mask by exposing 2000 J / m 2 from above the mask. It is a mask. Thereafter, ELM-D (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.), which is a 2.38% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution, is converted into pure water using an automatic developing device (AD-2000, manufactured by Takizawa Sangyo Co., Ltd.). Each of the two types of diluted 0.4% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution and 0.04% potassium hydroxide aqueous solution was used for shower development for 80 seconds and then rinsed with water for 30 seconds. Thereafter, as bleaching exposure, PLA-501F (manufactured by Canon Inc.) was used to expose the entire surface of the film with an ultrahigh pressure mercury lamp at 6000 J / m 2 (wavelength 365 nm exposure conversion). Then, soft-baking is performed for 2 minutes at 90 ° C. using a hot plate (Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. SCW-636), and then using an oven (Espec Co., Ltd. IHPS-222) at 1 ° C. in air at 220 ° C. Curing was performed for a time to produce a cured film. Let the obtained cured film be a cured film with a pattern.

0.4%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液で現像した結果を表2に示し、0.04%水酸化カリウム水溶液で現像した結果を表3に示した。なお、表中の評価は以下の方法で行った。なお、下記の(1)、(2)、(3)、(4)の評価は、基板はシリコンウェハを用い、(5)の評価はテンパックスガラス板を用いて行った。   The results of development with a 0.4% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution are shown in Table 2, and the results of development with a 0.04% potassium hydroxide aqueous solution are shown in Table 3. The evaluation in the table was performed by the following method. The following evaluations (1), (2), (3), and (4) were performed using a silicon wafer as the substrate, and (5) was performed using a Tempax glass plate.

(1)膜厚測定
大日本スクリーン製造(株)製ラムダエースSTM−602を用いて、屈折率1.50でプリベーク膜及び、硬化膜の厚さを測定した。
(1) Film thickness measurement Using Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Lambda Ace STM-602, the thickness of the prebaked film and the cured film was measured at a refractive index of 1.50.

(2)残膜率
残膜率は組成物をシリコンウェハ上に塗布し、100℃120秒のホットプレート上でプリベークした後に現像を行い、プリベーク後の膜厚を(I)、現像後の未露光部膜厚を(II)とすると、
残膜率(%)=(II)×100/(I)で算出される。
(2) Residual film ratio The residual film ratio is determined by applying the composition onto a silicon wafer, pre-baking on a hot plate at 100 ° C. for 120 seconds, and developing the film after pre-baking. If the exposed part film thickness is (II),
The remaining film ratio (%) = (II) × 100 / (I).

(3)感度
露光、現像後、10μmのラインアンドスペースパターンを1対1の幅に形成する露光量(以下、これを最適露光量という)を感度とした。
(3) Sensitivity The exposure amount that forms a 10 μm line-and-space pattern in a one-to-one width after exposure and development (hereinafter referred to as the optimum exposure amount) was defined as sensitivity.

(4)解像度
最適露光量における現像後に得られた最小パターン寸法を現像後解像度とし、キュア後の最小パターン寸法をキュア後解像度とした。
(4) Resolution The minimum pattern size obtained after development at the optimum exposure amount was defined as post-development resolution, and the minimum pattern size after curing was defined as post-cure resolution.

(5)光透過率の測定
MultiSpec−1500((株)島津製作所製)を用いて、まずテンパックスガラス板のみを測定し、その紫外可視吸収スペクトルをリファレンスとした。次に上記のようにテンパックスガラス上に形成された各プリベーク膜を、0.4%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液で23℃60秒間シャワー現像し、PLA(PLA−501F、キヤノン(株)製)を用いてi線換算で6000J/m照射した。ホットプレート上で90℃2分間ソフトベークを行い、さらにオーブンにて220℃1時間キュアして、ガラス上に硬化膜を形成した。これをサンプルとし、サンプルを用いてシングルビームで測定し、3μmあたりの波長400nmでの光透過率を求め、リファレンスに基づいて硬化膜の透過率を算出した。
(5) Measurement of light transmittance First, only the Tempax glass plate was measured using MultiSpec-1500 (manufactured by Shimadzu Corporation), and the UV-visible absorption spectrum was used as a reference. Next, each prebaked film formed on the Tempax glass as described above was shower-developed with a 0.4% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution at 23 ° C. for 60 seconds to obtain PLA (PLA-501F, manufactured by Canon Inc.). Was irradiated with 6000 J / m 2 in terms of i-line. Soft baking was performed on a hot plate at 90 ° C. for 2 minutes, followed by curing in an oven at 220 ° C. for 1 hour to form a cured film on the glass. Using this as a sample, measurement was performed with a single beam using the sample, the light transmittance at a wavelength of 400 nm per 3 μm was obtained, and the transmittance of the cured film was calculated based on the reference.

実施例2
ポリシロキサン溶液(a)をポリシロキサン溶液(b)に換え、キノンジアジド化合物(a)を10重量部用い、SP−077、“ニカラック”MX−270、DBAを用いなかった他は、実施例1と同様に行い、組成物2を得た。各評価結果については表2、3に示した。
Example 2
Except that the polysiloxane solution (a) was replaced with the polysiloxane solution (b), 10 parts by weight of the quinonediazide compound (a) was used, and SP-077, “Nicarac” MX-270, and DBA were not used, Example 1 In the same manner, composition 2 was obtained. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

実施例3
ポリシロキサン溶液(a)をポリシロキサン溶液(c)に換え、キノンジアジド化合物(a)を15重量部用い、SP−077、“ニカラック”MX−270、DBAを用いなかった他は、実施例1と同様に行い、組成物3を得た。各評価結果については表2、3に示した。
Example 3
Example 1 except that the polysiloxane solution (a) was replaced with the polysiloxane solution (c), 15 parts by weight of the quinonediazide compound (a) was used, and SP-077, “Nicalac” MX-270, and DBA were not used. It carried out similarly and obtained the composition 3. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

実施例4
ポリシロキサン溶液(a)9.2gを、樹脂固形分が50重量部に相当するポリシロキサン溶液(b)4.6gと樹脂固形分が50重量部に相当するポリシロキサン溶液(c)4.6gの混合したポリシロキサン溶液に換え、キノンジアジド化合物(a)を10重量部用い、SP−077をベンジル−4−ヒドロキシフェニルメチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホナート2重量部に変更し、“ニカラック”MX−270、DBAを用いなかった他は、実施例1と同様に行い、組成物4を得た。各評価結果については表2、3に示した。
Example 4
9.2 g of the polysiloxane solution (a), 4.6 g of the polysiloxane solution (b) corresponding to 50 parts by weight of the resin solid content and 4.6 g of the polysiloxane solution (c) corresponding to 50 parts by weight of the resin solid content 10 parts by weight of the quinonediazide compound (a) was used, and SP-077 was changed to 2 parts by weight of benzyl-4-hydroxyphenylmethylsulfonium trifluoromethanesulfonate, and “Nicarac” MX-270, A composition 4 was obtained in the same manner as in Example 1 except that DBA was not used. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

実施例5
ポリシロキサン溶液(a)9.2gを、樹脂固形分が80重量部に相当するポリシロキサン溶液(a)7.36gと樹脂固形分が20重量部に相当するポリシロキサン溶液(d)1.84gの混合したポリシロキサン溶液に換え、キノンジアジド化合物を15重量部に換え、SP−077をTPS−PFBS(東洋合成(株)製)に換えた他は実施例1と同様に行い、組成物5を得た。各評価結果については表2、3に示した。
Example 5
9.2 g of the polysiloxane solution (a) is added to 7.36 g of the polysiloxane solution (a) corresponding to 80 parts by weight of the resin solid content and 1.84 g of the polysiloxane solution (d) corresponding to 20 parts by weight of the resin solid content. In the same manner as in Example 1 except that the quinonediazide compound was changed to 15 parts by weight, and SP-077 was changed to TPS-PFBS (manufactured by Toyo Gosei Co., Ltd.). Obtained. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

比較例1
ポリシロキサン溶液(a)をポリシロキサン溶液(d)に換え、キノンジアジド化合物を15重量部に換えた他は、実施例1と同様に行い、組成物6を得た。各評価結果については表2、3に示した。
Comparative Example 1
A composition 6 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the polysiloxane solution (a) was changed to the polysiloxane solution (d) and the quinonediazide compound was changed to 15 parts by weight. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

比較例2
ポリシロキサン溶液(a)をポリシロキサン溶液(e)に変え、キノンジアジド化合物(a)の量を15重量部に換え、SP−077、“ニカラック”MX−270、DBAを用いなかった他は、実施例1と同様に行い、組成物7を得た。各評価結果については表2、3に示した。
Comparative Example 2
Except that the polysiloxane solution (a) was changed to the polysiloxane solution (e), the amount of the quinonediazide compound (a) was changed to 15 parts by weight, and SP-077, “Nicarac” MX-270, and DBA were not used. In the same manner as in Example 1, a composition 7 was obtained. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

比較例3
ポリシロキサン溶液(a)をポリシロキサン溶液(f)に変え、キノンジアジド化合物(a)の量を15重量部に換えた他は、実施例1と同様に行い、組成物8を得た。各評価結果については表2、3に示した。
Comparative Example 3
A composition 8 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the polysiloxane solution (a) was changed to the polysiloxane solution (f) and the amount of the quinonediazide compound (a) was changed to 15 parts by weight. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

比較例4
黄色灯下にてキノンジアジド化合物(a)2.64g(30重量部)、エピコート828(ジャパンエポキシレジン(株)製)0.88g(10重量部)をEDM5.94gに溶解させた。アクリル樹脂溶液(a)20.52g(樹脂固形分が100重量部に相当する)、BYK−333(ビックケミージャパン(株)製)0.0015g(組成物全量に対して濃度50ppmに相当)を加え撹拌した。次いで0.45μmのフィルターでろ過を行い、得られた組成物を組成物9とした。各評価結果については表2、3に示した。
Comparative Example 4
Under a yellow light, 2.64 g (30 parts by weight) of the quinonediazide compound (a) and 0.88 g (10 parts by weight) of Epicoat 828 (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) were dissolved in 5.94 g of EDM. Acrylic resin solution (a) 20.52 g (resin solid content corresponds to 100 parts by weight), BYK-333 (manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.) 0.0015 g (corresponding to a concentration of 50 ppm relative to the total amount of the composition) Added and stirred. Subsequently, it filtered with a 0.45 micrometer filter and the obtained composition was set as the composition 9. FIG. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

比較例5
黄色灯下にてキノンジアジド化合物(b)0.965g(10重量部)、HPE6.58gに溶解させた。ノボラック樹脂溶液(a)22.44g(樹脂固形分が100重量部に相当)、BYK−333(ビックケミージャパン(株)製)0.0015g(組成物全量に対して濃度50ppmに相当)を加え撹拌した。次いで0.45μmのフィルターでろ過を行い、得られた組成物を組成物10とした。各評価結果については表2、3に示した。
Comparative Example 5
Under a yellow light, it was dissolved in 0.965 g (10 parts by weight) of quinonediazide compound (b) and 6.58 g of HPE. Add 22.44 g of novolak resin solution (a) (resin solid content corresponds to 100 parts by weight), 0.0015 g of BYK-333 (produced by Big Chemie Japan Co., Ltd.) (corresponds to a concentration of 50 ppm relative to the total amount of the composition) Stir. Next, filtration was performed with a 0.45 μm filter, and the resulting composition was designated as Composition 10. The evaluation results are shown in Tables 2 and 3.

Figure 2008107529
Figure 2008107529

Figure 2008107529
Figure 2008107529

Figure 2008107529
Figure 2008107529

Claims (5)

(a)下記一般式(1)で表される化合物を加水分解、縮合させることによって得られる共重合体であるポリシロキサン、(b)キノンジアジド化合物、(c)溶剤を含有する感光性シロキサン組成物。
Figure 2008107529
(Rの少なくとも一つはオキセタニル基またはコハク酸無水物基が置換したアルキル基またはオキシアルキル基を表し、その他のRは水素、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかで表され、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。Rは水素、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。xは1〜3の整数を表す。)
(A) Photosensitive siloxane composition containing polysiloxane which is a copolymer obtained by hydrolysis and condensation of a compound represented by the following general formula (1), (b) a quinonediazide compound, and (c) a solvent. .
Figure 2008107529
(At least one of R 1 represents an alkyl group or an oxyalkyl group oxetanyl group or succinic anhydride groups substituted, other R 1 represents hydrogen, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, from 2 to 10 carbon atoms alkenyl group, represented by any of the aryl group having 6 to 15 carbon atoms, more R 1 s may be the same or different from each .R 2 is hydrogen, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, 1 to carbon atoms 6 represents an acyl group of 6 or an aryl group of 6 to 15 carbon atoms, and a plurality of R 2 may be the same or different, and x represents an integer of 1 to 3).
(a)のポリシロキサンが一般式(1)で表される化合物および下記一般式(2)で表される化合物を加水分解、縮合させることによって得られる共重合体である請求項1記載の感光性シロキサン組成物。
Figure 2008107529
(Rは水素、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。Rは水素、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアシル基、炭素数6〜15のアリール基のいずれかを表し、複数のRはそれぞれ同じでも異なっていてもよい。yは0〜3の整数を表す。)
The photosensitive resin according to claim 1, wherein the polysiloxane (a) is a copolymer obtained by hydrolysis and condensation of the compound represented by the general formula (1) and the compound represented by the following general formula (2). Siloxane composition.
Figure 2008107529
(R 3 represents any one of hydrogen, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and a plurality of R 3 may be the same or different. R 4 represents any one of hydrogen, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 1 to 6 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and a plurality of R 4 may be the same or different. Y represents an integer of 0 to 3.)
(a)ポリシロキサンが共重合体であり、該ポリシロキサンの少なくとも一部に化学的に結合したシリカ粒子を含んでいる請求項1または2記載の感光性シロキサン組成物。 The photosensitive siloxane composition according to claim 1 or 2, wherein (a) the polysiloxane is a copolymer and contains silica particles chemically bonded to at least a part of the polysiloxane. 請求項1〜3のいずれか記載の感光性シロキサン組成物から形成された硬化膜。 The cured film formed from the photosensitive siloxane composition in any one of Claims 1-3. 請求項4記載の硬化膜を具備する素子。 An element comprising the cured film according to claim 4.
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