JP2008083227A - アライメントマーク位置測定装置及び方法、及び描画装置 - Google Patents

アライメントマーク位置測定装置及び方法、及び描画装置 Download PDF

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Abstract

【課題】搬送されるステージ上に載置されたワークに設けられたアライメントマークの位置の測定誤差を抑制する。
【解決手段】CCDカメラ34A、34B、34Cによってワーク12に設けられたアライメントマーク18A、18B、18C、18D、18E、18Fを撮像する時点での、ステージ14の正規位置に対する位置の誤差を測定し、この測定結果に応じて、CCDカメラ34A、34B、34Cの撮影画像から算出される撮像時点でのアライメントマーク18A、18B、18C、18D、18E、18Fの位置の算出結果を補正する。
【選択図】図4

Description

本発明は、ステージ上に載置されたワークに設けられたアライメントマークの位置を測定するアライメントマーク位置測定装置及び方法、及びアライメントマーク位置測定装置を備える描画装置に関する。
ガラス基板等のワークにパターンを形成するレーザ露光装置等に用いられるアライメントマーク位置測定装置として、ワークが載置されたステージを搬送しながら、ワークに設けられたアライメントマークをCCDカメラによって撮像し、CCDカメラの撮影画像からアライメントマークの位置を算出する装置が知られている。また、このようなアライメントマーク位置測定装置において、ステージの搬送方向の位置を測定するリニアエンコーダの出力パルスに基づいて、CCDカメラの撮像タイミングを決定する方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、この方法では、アライメントマークとリニアエンコーダとの搬送方向と直交する方向の位置が異なる場合に、ステージのヨーイング、蛇行等による位置の誤差によって、アライメントマークの位置に誤差が生じてしまうという問題がある。
特開2005−132095号公報
本発明は、上記事情に鑑み、アライメントマークの位置の測定誤差を抑制することを目的とする。
請求項1に記載のアライメントマーク位置測定装置は、搬送されるステージ上を撮像可能とされた撮像手段と、前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークが撮像されるように前記撮像手段を制御する撮像制御手段と、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの前記撮像手段に対する相対位置を測定するステージ位置測定手段と、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を、前記撮像手段の撮影画像と、前記ステージ位置測定手段の測定結果とに応じて算出するマーク位置演算手段と、を有することを特徴とする。
請求項1に記載のアライメントマーク位置測定装置では、撮像手段が、搬送されるステージ上を撮像可能とされており、撮像制御手段によって制御されて、ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークを撮像する。この際、撮像手段がアライメントマークを撮像する時点でのステージの撮像手段に対する相対位置が、ステージ位置測定手段によって測定される。
そして、マーク位置演算手段が、撮像手段がアライメントマークを撮像した時点でのアライメントマークの位置を、撮像手段の撮影画像と、ステージ位置測定手段の測定結果とに応じて算出する。
これによって、ステージの撮像手段に対する相対位置の差異によって生じるアライメントマークの位置の測定誤差を抑制することが可能となる。
請求項2に記載のアライメントマーク位置測定装置は、搬送されるステージ上を撮像可能とされた撮像手段と、前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークが撮像されるように、前記撮像手段を制御する撮像制御手段と、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの正規位置に対する位置の誤差を測定するステージ位置誤差測定手段と、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を前記撮像手段の撮影画像から算出し、算出結果を前記ステージ位置誤差測定手段の測定結果に応じて補正するマーク位置演算手段と、を有することを特徴とする。
請求項2に記載のアライメントマーク位置測定装置では、撮像手段が、搬送されるステージ上を撮像可能とされており、撮像制御手段によって制御されて、ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークを撮像する。この際、撮像手段がアライメントマークを撮像する時点でのステージの正規位置に対する位置の誤差が、ステージ位置誤差測定手段によって測定される。
そして、マーク位置演算手段が、撮像手段がアライメントマークを撮像した時点でのアライメントマークの位置を撮像手段の撮影画像から算出し、算出結果をステージ位置誤差測定手段の測定結果に応じて補正する。
これによって、ステージの正規位置に対する位置の誤差によって生じるアライメントマークの位置の測定誤差を抑制することが可能となる。
請求項3に記載のアライメントマーク位置測定装置は、請求項2に記載のアライメントマーク位置測定装置であって、前記ステージ位置誤差測定手段は、前記ステージ上の所定位置の搬送方向の位置を測定する複数のステージ搬送方向位置測定手段と、複数の前記ステージ搬送方向位置測定手段の測定結果に基づいて前記ステージの搬送方向の正規位置に対する位置の誤差を算出する誤差演算手段と、を有しており、前記撮像制御手段は、複数の前記ステージ搬送方向位置測定手段の何れか1つの測定結果に基づいて前記撮像手段の撮像タイミングを決定することを特徴とする。
請求項3に記載のアライメントマーク位置測定装置では、ステージ上の複数の所定位置の搬送方向の位置が、複数のステージ搬送方向位置測定手段によって測定され、誤差演算手段が、複数のステージ搬送方向位置測定手段の測定結果に基づいて、ステージの搬送方向の正規位置に対する位置の誤差を算出する。
また、撮像制御手段は、複数のステージ搬送方向位置測定手段の何れか1つの測定結果に基づいて、撮像手段の撮像タイミングを決定する。
即ち、ステージの搬送方向の位置の誤差を測定するための情報を出力する手段が、撮像手段の撮像タイミングを決定するための情報を出力する手段を兼ねており、撮像手段の撮像タイミングを決定するための情報を出力する専用の手段が不要となるので、コストを低減できる。
請求項4に記載のアライメントマーク位置測定装置は、請求項2に記載のアライメントマーク位置測定装置であって、前記ステージの搬送方向の位置を測定するリニアエンコーダを有しており、前記撮像制御手段は、前記リニアエンコーダの測定結果に基づいて前記撮像手段の撮像タイミングを決定することを特徴とする。
請求項4に記載のアライメントマーク位置測定装置では、撮像制御手段が、ステージの搬送方向の位置を測定するリニアエンコーダの測定結果に基づいて、撮像手段の撮像タイミングを決定する。
ここで、リニアエンコーダは、レーザ干渉計等と比較して、ノイズの影響を受け難い安定した出力を行うことが出来るので、ノイズの影響を減少させるための制御が不要又は容易になる。従って、レーザ干渉計等を撮像手段の撮像タイミングを決定するための情報を出力する手段として使用する場合と比較して、制御を容易化できる。
請求項5に記載のアライメントマーク位置測定装置は、請求項1乃至請求項4の何れか1項に記載のアライメント位置測定装置であって、前記ステージ上に載置された前記ワークの位置を測定するワーク位置測定手段を有し、前記撮像制御手段は、前記ワーク位置測定手段の測定結果に応じて前記撮像手段の撮像タイミングを調整することを特徴とする。
請求項5に記載のアライメントマーク位置測定装置では、ステージ上に載置されたワークの位置が、ワーク位置測定手段によって測定され、撮像制御手段が、ワーク位置測定手段の測定結果に応じて、撮像手段の撮像タイミングを調整する。これによって、撮像手段の撮像時にアライメントマークが撮像手段の撮像可能範囲から外れることの防止が可能となる。
請求項6に記載のアライメントマーク位置測定装置は、請求項1乃至請求項5の何れか1項に記載のアライメントマーク位置測定装置であって、前記ステージ上に載置された前記ワークの位置を測定するワーク位置測定手段と、前記撮像手段の撮像位置を調整する撮像位置調整手段と、前記ワーク位置測定手段の測定結果に応じて前記撮像位置調整手段を制御する撮像位置制御手段と、を有することを特徴とする。
請求項6に記載のアライメントマーク位置測定装置では、ステージ上に載置されたワークの位置が、ワーク位置測定手段によって測定され、撮像位置制御手段が、ワーク位置測定手段の測定結果に応じて、撮像位置調整手段を制御し、撮像手段の撮像位置を調整する。これによって、撮像手段の撮像時にアライメントマークが撮像手段の撮像可能範囲から外れることの防止が可能となる。
請求項7に記載のアライメントマーク位置測定装置は、請求項1乃至請求項6の何れか1項に記載のアライメントマーク位置測定装置であって、前記撮像制御手段は、1個の前記アライメントマークが複数回撮像されるように、前記撮像手段を制御し、前記マーク位置演算手段は、前記撮像手段が1個の前記アライメントマークを複数回撮像した際の各回の撮像時点での前記アライメントマークの位置を、前記撮像手段の各回の撮影画像から算出し、各算出結果を、前記ステージ位置誤差測定手段の各回の測定結果に応じて補正し、複数の補正結果を平均化することを特徴とする。
請求項7に記載のアライメントマーク位置測定装置では、撮像手段が、撮像制御手段によって制御されて、1個のアライメントマークを複数回撮像する。また、マーク位置演算手段は、撮像手段が1個のアライメントマークを複数回撮像した際の各回の撮像時点でのアライメントマークの位置を、撮像手段の各回の撮影画像から算出し、各算出結果を、ステージ位置誤差測定手段の各回の測定結果に応じて補正する。そして、マーク位置演算手段は、複数の補正結果を平均化する。これによって、アライメントマークの測定をより高精度に行うことが可能となる。
請求項8に記載のアライメントマーク位置測定方法は、搬送されるステージ上を撮像可能とされた撮像手段によって、前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークを撮像すると共に、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの前記撮像手段に対する相対位置を測定し、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を、前記撮像手段の撮影画像と、前記相対位置の測定結果とに応じて算出することを特徴とする。
請求項8に記載のアライメントマーク位置測定方法によると、ステージの撮像手段に対する相対位置の差異によって生じるアライメントマークの位置の測定誤差を抑制することが可能となる。
請求項9に記載のアライメントマーク位置測定方法は、搬送されるステージ上を撮像可能に設置された撮像手段によって、前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークを撮像すると共に、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの正規位置に対する位置の誤差を測定し、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を前記撮像手段の撮影画像から算出し、算出結果を前記誤差の測定結果に応じて補正することを特徴とする。
請求項9に記載のアライメントマーク位置測定方法によると、ステージの正規位置に対する位置の誤差によって生じるアライメントマークの位置の測定誤差を抑制することが可能となる。
請求項10に記載の描画装置は、前記ワークが載置されるステージと、請求項1乃至請求項7の何れか1項に記載のアライメントマーク位置測定装置と、前記アライメントマーク位置測定装置によって測定された、前記ステージに載置されたワーク上のアライメントマーク位置を基準として前記ステージに載置されたワークに描画する描画手段と、を有することを特徴とする描画装置。
請求項10に記載の描画装置では、描画手段が、ステージに載置されたワークへの描画を行う。この際、描画手段によるワークへの描画は、アライメントマーク位置測定装置によって測定された、ステージに載置されたワーク上のアライメントマーク位置を基準として行われる。
ここで、上述したように、アライメントマーク位置測定装置によるアライメントマークの位置の測定誤差を抑制することが可能となっているので、描画手段によるワークへの描画の精度を向上できる。
以上のように、本発明によれば、アライメントマークの位置の測定誤差を抑制することが可能となる。
以下、本発明の一実施形態について、図1〜12を参照して説明する。なお、図中矢印+Yはワークの往動方向、図中矢印−Yは、復動方向を、図中矢印Xは、ワークの往復移動方向(搬送方向)と直交する方向(X方向という場合も有る)を示している。
図1に示すように、本発明の第1実施形態のアライメントマーク位置測定装置10を備えるレーザ露光装置100は、複数本の脚部20に支持された矩形厚板状の設置台22と、露光対象である矩形平板状のワーク12を表面に吸着して保持する矩形平板状のステージ14と、ワーク12を図中矢印+Y方向及び−Y方向に搬送する搬送機構16とを備えている。
搬送機構16は、設置台22の上面に長手方向に沿って配設された2本のガイド24と、2本のガイド24によってガイド24に沿って往復移動可能に支持された支持台26と、支持台26を往復移動させる駆動部28とを備えている。支持台26は、ステージ14を長手方向が移動方向を向くように支持しており、駆動部28が駆動されると、ステージ14がガイド24に沿って移動する。
なお、搬送機構16は、従来から知られているスライド機構と駆動力伝達機構とを組み合わせて構成すれば良い。スライド機構としては、例えば、レール上で移動台を移動させるボール・レールシステム、又は、エアスライドシステム等を採用でき、駆動力伝達機構としては、例えば、カム機構、リンク機構、ラック・ピニオン機構、ボールネジ・ブッシュ機構、エアスライド機構、ピストン・シリンダ機構、又は、リニアモータ等を採用できる。
また、ワーク12には、その被露光面上の描画領域における露光位置の基準を示す6個の十字状のアライメントマーク18A、18B、18C、18D、18E、18F(まとめてアライメントマーク18ということもある)が設けられている。アライメントマーク18A、18B、18Cは、ワーク12の長手方向一端(往動方向下流側)に幅方向(X方向)に並べて配設され、アライメントマーク18D、18E、18Fは、ワーク12の長手方向他端(往動方向上流側)に幅方向に並べて配設されている。なお、ワーク12としては、プリント配線基板、ディスプレイ用やカラーフィルタ用のガラス基板等を作成するための基材上に感光材料を塗布したもの等を用いることができる。
また、設置台22の長手方向中央部には、ステージ14の移動経路を跨ぐようにコ字状のゲート30が設けられている。ゲート30は、両端部がそれぞれ設置台22に固定されており、ゲート30の往動方向下流側にはワーク12を露光する露光ユニット32が設けられている。
図2に示すように、露光ユニット32の内部には、m行n列(例えば2行4列)の略マトリックス状に配列された複数(例えば8個)の露光ヘッド38A、38B、…が設置されている。そして、露光ヘッド38A、38B、…による露光エリア40は、例えば、ワーク12の移動方向を長辺とする矩形状に構成されている。従って、ワーク12には、その移動動作に伴って、露光ヘッド38A、38B、…毎に帯状の露光済み領域42A、42B、…(以下、これらをまとめて露光済み領域42ともいう)が移動方向の逆方向に相当する走査方向に形成される。
また、帯状の露光済み領域42が移動方向(走査方向)と直交する幅方向に隙間無く並ぶように、ライン状に配列された各行の露光ヘッド38A、38B、…の各々は、配列方向に所定間隔(露光エリア40の長辺の自然数倍)ずらして配置されている。このため、例えば、露光ヘッド38Aによる露光エリア40と露光ヘッド38Bによる露光エリア40との間の露光できない部分は、露光ヘッド38Fによる露光エリア40とすることができる。
図3に示すように、各露光ヘッド38A、38B、…は、入射されたレーザビームを画像データに応じて各画素毎に変調する空間光変調素子としてのデジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)48を備えている。このDMD48は、画像データ処理部11とミラー駆動制御部13とを備えたコントローラ36に接続されている。
コントローラ36の画像データ処理部11では、入力された画像データに基づいて、各露光ヘッド38A、38B、…毎にDMD48の制御すべき領域内の各マイクロミラーを駆動制御する制御信号を生成する。また、ミラー駆動制御部13では、画像データ処理部11で生成した制御信号に基づいて、各露光ヘッド38A、38B、…毎にDMD48における各マイクロミラーの反射面の角度を制御する。
また、各露光ヘッド38A、38B、…におけるDMD48の光入射側には、図1に示すように、マルチビームをレーザ光として出射する照明装置44から引き出されたバンドル状の光ファイバー46が接続されている。照明装置44は、その内部に複数の半導体レーザチップから出射されたレーザ光を合波して光ファイバー46に入力する合波モジュールが複数個設置されている。各合波モジュールから延びる光ファイバー46は、合波したレーザ光を伝搬する合波光ファイバーであって、複数の光ファイバーが1つに束ねられてバンドル状の光ファイバーとして形成されている。
また、図3に示すように、DMD48の光入射側には、光ファイバー46から射出された光LをDMD48に向けて反射するミラー50が配設され、また、DMD48の光射出側には、結像光学系52が配設されている。
この結像光学系52は、DMD48の側からワーク12の側へ向う光路に沿って順に配置されたレンズ系54、56、マイクロレンズアレイ58、対物レンズ系60、62により構成されており、照明装置44から射出された光Lをワーク12上に結像させる。
また、図4に示すように、アライメントマーク位置測定装置10は、ゲート30の露光ユニット32の反対側(往動方向上流側)に設けられた3台の撮像手段としてのCCDカメラ34A、34B、34C(以下、まとめてCCDカメラ34ということもある)と、コントローラ36に設けられた撮像制御手段としての撮像制御部64と、ステージ位置測定手段、ステージ位置誤差測定手段としてのステージ位置測定部66と、コントローラ36に設けられたマーク位置演算手段としてのマーク位置演算部68とを備えている。
3台のCCDカメラ34A、34B、34Cは、ステージ14の移動経路の上方に、X方向に並べて配設されている。CCDカメラ34A、34B、34Cはそれぞれ、ワーク12のX方向の一端部、中央部、他端部に向けられており、ワーク12のX方向の一端部に設けられたアライメントマーク18A、18DがCCDカメラ34Aの撮像エリアを通過し、ワーク12のX方向の中央部に設けられたアライメントマーク18B、18EがCCDカメラ34B撮像エリアを通過し、ワーク12のX方向の他端部に設けられたアライメントマーク18C、18FがCCDカメラ34Cの撮像エリアを通過するようになっている。
また、ステージ位置測定部66は、ステージ搬送位置測定手段としてのレーザ干渉計70と、レーザ干渉計72と、レーザ変位計74と、コントローラ36に設けられた誤差演算手段としての誤差演算部76とを備えている。
ここで、ステージ14の往動方向上流端の幅方向両端部には、光を反射する光反射部材であるコーナキューブ78A、78Bが設けられている。レーザ干渉計70、72は、それぞれコーナキューブ78A、78Bと、ステージ14の移動方向に対向して配設されており、コーナキューブ78A、78Bの往復移動方向に対応する極性のパルス信号を移動量に比例するパルス数だけコントローラ36へ出力する。
また、ステージ14のX方向一端部(コーナキューブ78A側端部)には、光を反射する反射部材であるバーミラー(被測定部材)80が設けられている。レーザ変位計74は、バーミラー80とX方向に対向して配設されており、バーミラー80のX方向の位置に対応するパルス信号をコントローラ36へ出力する。
コントローラ36には、パルスカウンタ37が設けられており、レーザ干渉計70、72のパルス出力数がカウントされる。また、誤差演算部76には、バーミラー80の撮像時点でのX方向の目標位置X1と、コーナキューブ78A、78Bの撮像時点での+Y方向の目標位置Y1とが記憶されている。さらに、マーク位置演算部68には、アライメントマーク18の撮像時点でのX方向、Y方向の理想位置が記憶されている。
なお、アライメントマーク18のX方向、+Y方向の理想位置とは、ワーク12のステージ14上における位置の正規位置(目標位置)に対する誤差が0であり、ステージ14の正規位置(目標位置)に対する位置の誤差が0である場合のアライメントマーク18のX方向、+Y方向の位置を指している。
ここで、アライメントマーク位置測定装置10において、アライメントマーク18の位置が測定される流れについて図5のフローチャートを参照して説明する。
まず、ステージ14の初期位置から+Y方向への移動が開始されると処理ルーチンが開始されてステップ1へ移行する。ステップ1では、撮像制御部64において、パルスカウンタ37によってカウントされたレーザ干渉計70のパルス出力数が所定数N1又はN2(>N1)になったか否かが判定され、判定が肯定されるとステップ2へ移行する。ステップ2では、撮像制御部64が、CCDカメラ34A、34B、34Cに撮像を実施させる。
ここで、上記所定数N1は、CCDカメラ34A、34B、34Cによりそれぞれアライメントマーク18A、18B、18Cが撮像されるように、また、上記所定数N2は、CCDカメラ34A、34B、34Cによりそれぞれアライメントマーク18D、18E、18Fが撮像されるように、ステージ14の移動速度等に応じて決められている。
また、誤差演算部76は、パルスカウンタ37によってカウントされたレーザ干渉計70のパルス出力数が所定数N1又はN2になった時点で、ステージ14のX方向の位置(バーミラー80の反射面のX方向の位置)x1をレーザ変位計74が出力したパルス信号から算出して記憶し、ステージ14のX方向の反バーミラー80側のY方向の位置(コーナキューブ78BのY方向の位置)y2をレーザ干渉計72のパルス出力数から算出して記憶する。
次に、ステップ3では、誤差演算部76が、バーミラー80のX方向の測定位置x1と目標位置X1との差である誤差ΔX1と、コーナキューブ78BのY方向の測定位置y2と目標位置Y1との差である誤差ΔY2とを算出する(図6(A)の表参照)。
なお、コーナキューブ78Aを基準として、CCDカメラ34の撮像タイミングを決定しているので、コーナキューブ78AのY方向の測定位置y1と目標位置Y1とは一致する。
次に、ステップ4では、誤差演算部76が、ステージ14のアライメントマーク18が設けられた各位置におけるX方向、Y方向の位置の正規位置に対する誤差を算出する(図6(B)の表参照)。なお、図4に示すように、バーミラー80の測定位置とコーナキューブ78Aの測定位置とのX方向の間隔がL0、コーナキューブ78Aの測定位置とアライメントマーク18A(18D)とのX方向の間隔がL1、アライメントマーク18A(18D)とアライメントマーク18B(18E)とのX方向の間隔がL2、アライメントマーク18B(18E)とアライメントマーク18C(18F)とのX方向の間隔がL3、アライメントマーク18C(18F)とコーナキューブ78Bの測定位置とのX方向の間隔がL4となっている。
次に、ステップ5では、マーク位置演算部68が、CCDカメラ34の撮影画像内でのアライメントマーク18のX方向、Y方向の位置(撮影画像の中心からのX方向距離、Y方向距離)xpA、ypA、xpB、ypB、xpC、ypCを算出する(図6(B)の表、図7参照)。
次に、ステップ6では、マーク位置演算部68が、CCDカメラ34が撮像した時点でのアライメントマーク18のX方向、Y方向の位置を算出する演算((撮影画像内でのアライメントマーク18の位置)+(アライメントマークの理想位置))を行う(図6(B)の表参照)。
次に、ステップ7では、ステップ6において算出されたアライメントマーク18のX方向、Y方向の位置からステージ14の誤差分を除去する演算((CCDカメラ34の撮像時点でのアライメントマーク18の位置)−(CCDカメラ34の撮像時点でのステージ14の位置の誤差))を行う(図6(B)の表参照)。そして、処理ルーチンを終了する。
以上、本実施形態のアライメントマーク位置測定装置10では、CCDカメラ34によりアライメントマーク18を撮像する時点でのステージ14の正規位置に対する位置の誤差を測定し、CCDカメラ34の撮影画像から算出されたアライメントマーク18の位置に対して、撮像した時点でのステージ14の位置の誤差分を除去する補正を行っている。
これによって、ステージ14のヨーイング、蛇行、ピッチング等によって生じるステージ14の位置の誤差に起因するアライメントマーク18の位置の測定誤差を抑制でき、ステージ14上の任意の位置において正確にアライメントマーク18の測定を実施できる。
また、レーザ干渉計70から出力されるパルス信号が、ステージ14の位置の誤差を測定するための基準信号と、CCDカメラ34A、34B、34Cのアライメントマークの撮像タイミングを決定するための基準信号とを兼ねており、CCDカメラ34A、34B、34Cのアライメントマークの撮像タイミングを決定するための基準信号を出力する専用の手段が不要となるので、コストを低減できる。
また、本実施形態のように、ステージ14のX方向の位置の測定にレーザ変位計74を用いた場合、測定精度を高めるためには、多くの回数の測定を行って、平均化する必要する必要があるが、本実施形態では、ステージ14の位置の誤差の補正を、撮影画像からアライメントマーク18の位置を測定した後に行うことができるので、CCDカメラ14の撮像時の前後にステージ14のX方向の位置の複数回測定した結果を用いて、ステージ14の位置の誤差の補正を行うことができる。従って、レーザ干渉計よりも安価なレーザ変位計を用いて、ステージ14のX方向の位置の測定、アライメントマークのX方向の位置の補正を、高精度に行うことが可能である。
次に、以上のような構成のレーザ露光装置100の作用について説明する。
まず、ワーク搬送装置(図示省略)によって、ワーク12がステージ14の上面に位置決め載置されると、そのワーク12は、ステージ14の上面に吸着・保持される。
次に、ステージ14が往動を開始し、ワーク12がCCDカメラ34によるアライメント検出工程へと搬送される。
まず、コントローラ36により搬送機構16の駆動部28が制御され、ワーク12を上面に吸着・保持したステージ14が、ガイド24に沿って往動方向に一定速度で移動を開始する。そして、上述したように、CCDカメラ34がコントローラ36により所定タイミングで作動され、各アライメントマーク18がそれぞれ、各CCDカメラ34におけるレンズの光軸上(各CCDカメラ34の真下)に達すると、各CCDカメラ34は、それぞれ所定のタイミングでストロボ光源を発光し、各アライメントマーク18を撮影する。そして、撮影された画像データは、マーク位置演算部68へ出力され、上述したように、マーク位置演算部68において、各アライメントマーク18の位置が算出される。
画像データ処理部11は、マーク位置演算部68において算出された各アライメントマーク18の位置と、そのアライメントマーク18を撮影したときのステージ14の位置及び各CCDカメラ34の位置から、演算処理によって、ステージ14上におけるワーク12の位置ずれ、移動方向に対する傾き、寸法精度誤差等を把握し、ワーク12の被露光面に対する適正な露光位置を算出する。
ここで、露光パターンに応じた画像データは、コントローラ36内のメモリに一旦記憶されている。したがって、露光ユニット32による画像露光時に、そのメモリに記憶されている露光パターンの画像データに基づいて生成する制御信号を、上記した適正な露光位置に合わせ込んで画像露光する補正制御(アライメント)を実行する。なお、この画像データは、画像を構成する各画素の濃度を2値(ドットの記録の有無)で表したデータである。
こうして、各CCDカメラ34による各アライメントマーク18の測定(撮影)が完了すると、ステージ14は搬送機構16により、ガイド24に沿って一旦露光位置を通過した後、復動方向へ移動し、露光位置を通過する。そして、ワーク12はステージ14の移動に伴い、各露光ヘッド38の下方を復動方向へ移動し、被露光面の描画領域が露光開始位置に達すると、各露光ヘッド38はレーザビームを照射してワーク12の被露光面(描画領域)に対する画像露光を開始する。
すなわち、コントローラ36のメモリに記憶された画像データが複数ライン分ずつ順次読み出され、画像データ処理部11で読み出された画像データに基づいて各露光ヘッド38毎に制御信号が生成される。この制御信号には、補正制御(アライメント)により、アライメント測定したワーク12に対する露光位置ずれの補正が加えられている。そして、ミラー駆動制御部13は、生成及び補正された制御信号に基づいて各露光ヘッド38毎にDMDのマイクロミラーの各々をオン・オフ制御する。
照明装置44の光ファイバー46から出射されたレーザ光がDMDに照射されると、DMDのマイクロミラーがオン状態のときに反射されたレーザ光が、レンズ系によりワーク12の被露光面上に結像される。つまり、照明装置44から出射されたレーザ光が画素毎にオン・オフされて、ワーク12がDMDの使用画素数と略同数の画素単位で露光される。
そして、ワーク12がステージ14と共に一定速度で移動されることにより、ワーク12が各露光ヘッド38によってステージ14の復動方向と反対の方向、即ち走査方向に露光され、各露光ヘッド38毎に帯状の露光済み領域42が形成される(図2参照)。各露光ヘッド38によるワーク12への画像露光が完了すると、ステージ14は搬送機構16により、ワーク12が載置された初期位置に復帰される。
ステージ14が初期位置へ復帰移動すると、エアーの吸引による吸着が解除され、ワーク搬送装置(図示省略)によってステージ14の上面からワーク12が取り除かれる。そして、ステージ14の上面から取り除かれたワーク12は、機外の搬送コンベア(図示省略)へ搬送され、次工程へ搬送される。
以上、本実施形態では、ステージ14上の任意の位置において、アライメントマークの測定誤差を抑制できるので、露光ユニット32によるワーク12に対する露光位置ずれの補正の精度を向上できる。
次に、本発明の第2実施形態のアライメントマーク位置測定装置200について説明する。なお、第1実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、説明は省略する。
図8に示すように、アライメントマーク位置測定装置200には、リニアエンコーダ82と、撮像制御手段としての撮像制御部84とが備えられている。このリニアエンコーダ82は、ステージ14のX方向中央部の下方でガイド24に沿って延在しており、ステージ14の往復移動方向に対応する極性のパルス信号を移動量に比例するパルス数だけコントローラ36のパルスカウンタ37へ出力する。
撮像制御部84は、パルスカウンタ37によってカウントされたリニアエンコーダ82のパルス出力数が所定数になった時点で、CCDカメラ34A、34B、34Cに撮像を実施させる。
ここで、リニアエンコーダは、レーザ干渉計等と比較して、ノイズの影響を受け難い安定したパルス信号の生成を行うことが出来るので、ノイズの影響を減少させるための特別な制御が不要となる。従って、レーザ干渉計等をCCDカメラ34のアライメントマークの撮像タイミングを決定するための基準信号を出力する手段にする場合と比較して、制御を容易化できる。
次に、本発明の第3実施形態のアライメントマーク位置測定装置300について説明する。なお、第1、第2実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、説明は省略する。
図9に示すように、アライメントマーク位置測定装置300は、CCDカメラ34A、34B、34Cによってアライメントマークが撮像される前のワーク12の姿勢を検出するワーク位置検出手段としてのワーク位置測定部86と、撮像制御手段としての撮像制御部88とを備えている。
ワーク位置測定部86は、CCDカメラ90A、90Bと、CCDカメラ90A、90Bを制御する撮像制御部92と、CCDカメラ90A、90Bの撮影画像からワーク12の位置の誤差を算出するワーク位置演算部94とを備えている。
CCDカメラ90A、90Bは、CCDカメラ34A、34B、34Cより往動方向上流側において、X方向に並べて配設されており、それぞれ、ワーク12のX方向の一端側のエッジ部12A、他端側のエッジ部12Bを撮像可能とされている。
撮像制御部92は、レーザ干渉計70からのパルス出力数が所定数N0(<N1)になった時点で、CCDカメラ90A、90Bに撮像を実施させる。ここで、所定数N0は、ワーク12のエッジ部12A、12Bがそれぞれ、CCDカメラ90A、90Bによって撮像されるように、ステージ14の移動速度に応じて設定されている。
また、ワーク位置演算部94は、ワーク12のエッジ部12A、12BのY方向の位置の差ΔYを、CCDカメラ90A、90Bの撮影画像から算出し、算出したデータを撮像制御部88へ出力する。
撮像制御部88は、ワーク12のエッジ部12A、12BのY方向の位置の差ΔYが所定値|E|未満であれば、レーザ干渉計70のパルス出力数が上記所定数N1、N2になった時点で、CCDカメラ34A、34B、34Cに同時に撮影を実施させる。また、ワーク12のエッジ部12A、12BのY方向の位置の差ΔYが所定値|E|以上であれば、レーザ干渉計70のパルス出力数が上記所定数N1、N2になった時点で、CCDカメラ34A及びCCDカメラ34Cの何れか一方にのみ撮影を実施させ、遅れてCCDカメラ34Bに撮影を実施させ、さらに遅れてCCDカメラ34C及びCCDカメラ34Aの何れか他方に撮影を実施させる。
ここで、ワーク12のエッジ部12A、12BのY方向の位置の差ΔYが所定値|E|になると、アライメントマーク18A、18CがCCDカメラ34A、34Cの撮像エリアを通過するタイミングに大きなズレが生じ、CCDカメラ34A、34Cに同時に撮像を実施させた場合には、アライメントマーク18A、18Cの何れか一方が、撮像されないようになっている。
即ち、本実施形態では、ワーク12の傾きによりアライメントマーク18A、18B、18CのY方向の位置ズレ量が大きく、X方向に対して平行に配列されたCCDカメラ34A、34B、34Cに同時に撮像を実施させたのでは、アライメントマーク18A、18B、18Cの少なくとも1つを撮像できないような場合には、アライメントマーク18A、18B、18Cが全て撮像されるように、CCDカメラ34A、34B、34Cの撮像タイミングを調整している。
次に、本発明の第4実施形態のアライメントマーク位置測定装置400について説明する。なお、第1乃至第3実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、説明は省略する。
図10に示すように、アライメントマーク位置測定装置400は、上記ワーク位置測定部86と、撮像位置調整手段としての撮像位置調整部96と、撮像位置制御手段としての撮像位置制御部98とを備えている。
撮像位置調整部96は、CCDカメラ34A、34B、34Cの上面に取付けられた矩形状の支持板102と、支持板102の長手方向一端部を高さ方向の軸回りに回動可能に支持するピン104と、ピン104を回転させるモータ106とを備えている。
また、撮像位置制御部98は、ワーク位置演算部94から出力される、ワーク12のエッジ部12A、12BのY方向の位置の差ΔYに応じてモータ106を制御し、CCDカメラ34A、34B、34Cのピン104回りの位置を変化させる。
撮像制御部98は、ワーク12のエッジ部12A、12BのY方向の位置の差ΔYが所定値|E|未満であれば、CCDカメラ34A、34B、34Cの列がX方向に対して平行である通常状態に維持され、また、ワーク12のエッジ部12A、12BのY方向の位置の差ΔYが所定値|E|以上であれば、CCDカメラ34A、34B、34Cの列がX方向に対して傾斜するように、モータ106を制御する。
即ち、本実施形態では、ワーク12の傾きによりアライメントマーク18A、18B、18CのY方向の位置ズレ量が大きく、X方向に対して平行に配列されたCCDカメラ34A、34B、34Cに同時に撮像を実施させたのでは、アライメントマーク18A、18B、18Cの少なくとも1つを撮像できないような場合には、アライメントマーク18A、18B、18Cが全て撮像されるように、CCDカメラ34A、34B、34Cの列の傾きを調整している。
次に、本発明の第5実施形態のアライメントマーク位置測定装置500について説明する。なお、第1乃至第4実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、説明は省略する。
図11に示すように、アライメントマーク位置測定装置500は、コントローラ36に設けられた撮像制御手段としての撮像制御部108と、ステージ位置測定手段、ステージ位置誤差測定手段としてのステージ位置測定部66と、コントローラ36に設けられたマーク位置演算手段としてのマーク位置演算部110とを備えている。
撮像制御部108は、レーザ干渉計70のパルス出力数が上記所定数N1、N2になると、CCDカメラ34A、34B、34Cに複数回(例えば、図12に示すように、3回)アライメントマークの撮像を実施させる。
そして、ステージ位置測定部66は、上述の方法により、各撮影時のステージ14の位置の誤差を測定する。
また、マーク位置演算部110は、上述の方法により、各撮影画像から各撮影時のアライメントマークの位置を算出し、各撮影時のアライメントマーク18の位置から各撮影時のステージ14の位置の誤差分を除去する補正を行う。そして、マーク位置演算部110は、複数の補正結果を平均化する。
これによって、アライメントマークの位置の測定をより高精度に行うことができる。
以上、本発明を特定の実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内にて他の種々の実施形態が可能であることは問う業者にとって明らかである。例えば、本実施形態では、本発明のアライメントマーク位置測定装置を、レーザ露光装置に適用したが、検査装置等の他の装置にも適用可能である。
また、本実施形態では、ステージ14を搬送しながら、CCDカメラ34A、34B、34Cによりアライメントマークを撮像したが、CCDカメラ34A、34B、34Cによるアライメントマークの撮像は、アライメントマークがCCDカメラ34A、34B、34Cの撮像エリアに入った時点で、ステージ14の搬送を停止させて行っても良い。
また、本実施形態では、ステージ14のY方向の位置をレーザ干渉計やリニアエンコーダにより測定し、ステージ14のX方向の位置をレーザ変位計により測定したが、CCDカメラ等の他の測定手段を用いて測定しても良い。
レーザ露光装置を示す概略斜視図である。 露光ユニットとワークとステージとを示す概略斜視図である。 露光ヘッドを示す概略側面図である。 第1実施形態のアライメントマーク位置測定装置を示す概略平面図である。 アライメントマーク位置測定装置においてアライメントマークの位置が測定される流れを説明するためのフローチャートである。 (A)は、ステージの位置についてまとめた表であり、(B)は、アライメントマークの位置についてまとめた表である。 CCDカメラの撮影画像を示す概略平面図である。 第2実施形態のアライメントマーク位置測定装置を示す概略平面図である。 第3実施形態のアライメントマーク位置測定装置を示す概略平面図である。 第4実施形態のアライメントマーク位置測定装置を示す概略平面図である。 第5実施形態のアライメントマーク位置測定装置を示す概略平面図である。 CCDカメラの撮影画像を示す概略平面図である。
符号の説明
10 アライメントマーク位置測定装置
34 CCDカメラ(撮像手段)
64 撮像制御部(撮像制御手段)
66 ステージ位置測定部(ステージ位置測定手段、ステージ位置誤差測定手段)
68 マーク位置演算部(マーク位置演算手段)
70 レーザ干渉計(ステージ搬送方向位置測定手段)
76 誤差演算部(誤差演算手段)
82 リニアエンコーダ
86 ワーク位置測定部(ワーク位置測定手段)
88 撮像制御部(撮像制御手段)
96 撮像位置調整部(撮像位置調整手段)
98 撮像位置制御部(撮像位置制御手段)
108 撮像制御部(撮像制御手段)
110 マーク位置演算部(マーク位置演算手段)

Claims (10)

  1. 搬送されるステージ上を撮像可能とされた撮像手段と、
    前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークが撮像されるように前記撮像手段を制御する撮像制御手段と、
    前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの前記撮像手段に対する相対位置を測定するステージ位置測定手段と、
    前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を、前記撮像手段の撮影画像と、前記ステージ位置測定手段の測定結果とに応じて算出するマーク位置演算手段と、
    を有することを特徴とするアライメントマーク位置測定装置。
  2. 搬送されるステージ上を撮像可能とされた撮像手段と、
    前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークが撮像されるように、前記撮像手段を制御する撮像制御手段と、
    前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの正規位置に対する位置の誤差を測定するステージ位置誤差測定手段と、
    前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を前記撮像手段の撮影画像から算出し、算出結果を前記ステージ位置誤差測定手段の測定結果に応じて補正するマーク位置演算手段と、
    を有することを特徴とするアライメントマーク位置測定装置。
  3. 前記ステージ位置誤差測定手段は、
    前記ステージ上の所定位置の搬送方向の位置を測定する複数のステージ搬送方向位置測定手段と、
    複数の前記ステージ搬送方向位置測定手段の測定結果に基づいて前記ステージの搬送方向の正規位置に対する位置の誤差を算出する誤差演算手段と、を有しており、
    前記撮像制御手段は、複数の前記ステージ搬送方向位置測定手段の何れか1つの測定結果に基づいて前記撮像手段の撮像タイミングを決定することを特徴とする請求項2に記載のアライメントマーク位置測定装置。
  4. 前記ステージの搬送方向の位置を測定するリニアエンコーダを有しており、
    前記撮像制御手段は、前記リニアエンコーダの測定結果に基づいて前記撮像手段の撮像タイミングを決定することを特徴とする請求項2に記載のアライメントマーク位置測定装置。
  5. 前記ステージ上に載置された前記ワークの位置を測定するワーク位置測定手段を有し、
    前記撮像制御手段は、前記ワーク位置測定手段の測定結果に応じて前記撮像手段の撮像タイミングを調整することを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れか1項に記載のアライメントマーク位置測定装置。
  6. 前記ステージ上に載置された前記ワークの位置を測定するワーク位置測定手段と、
    前記撮像手段の撮像位置を調整する撮像位置調整手段と、
    前記ワーク位置測定手段の測定結果に応じて前記撮像位置調整手段を制御する撮像位置制御手段と、
    を有することを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れか1項に記載のアライメントマーク位置測定装置。
  7. 前記撮像制御手段は、1個の前記アライメントマークが複数回撮像されるように、前記撮像手段を制御し、
    前記マーク位置演算手段は、前記撮像手段が1個の前記アライメントマークを複数回撮像した際の各回の撮像時点での前記アライメントマークの位置を、前記撮像手段の各回の撮影画像から算出し、各算出結果を、前記ステージ位置誤差測定手段の各回の測定結果に応じて補正し、複数の補正結果を平均化することを特徴とする請求項1乃至請求項6の何れか1項に記載のアライメントマーク位置測定装置。
  8. 搬送されるステージ上を撮像可能とされた撮像手段によって、前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークを撮像すると共に、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの前記撮像手段に対する相対位置を測定し、
    前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を、前記撮像手段の撮影画像と、前記相対位置の測定結果とに応じて算出することを特徴とするアライメントマーク位置測定方法。
  9. 搬送されるステージ上を撮像可能に設置された撮像手段によって、前記ステージに載置されたワークに設けられたアライメントマークを撮像すると共に、前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像する時点での前記ステージの正規位置に対する位置の誤差を測定し、
    前記撮像手段が前記アライメントマークを撮像した時点での前記アライメントマークの位置を前記撮像手段の撮影画像から算出し、算出結果を前記誤差の測定結果に応じて補正することを特徴とするアライメントマーク位置測定方法。
  10. 前記ワークが載置されるステージと、
    請求項1乃至請求項7の何れか1項に記載のアライメントマーク位置測定装置と、
    前記アライメントマーク位置測定装置によって測定された、前記ステージに載置されたワーク上のアライメントマーク位置を基準として前記ステージに載置されたワークに描画する描画手段と、
    を有することを特徴とする描画装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009150901A1 (ja) * 2008-06-09 2009-12-17 シャープ株式会社 露光装置および露光方法
WO2010128759A2 (ko) * 2009-05-07 2010-11-11 에스엔유 프리시젼 주식회사 비전 검사시스템 및 이를 이용한 좌표변환방법
JP2013520699A (ja) * 2010-02-26 2013-06-06 マイクロニック マイデータ エービー パターンを整列させる方法及び装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009150901A1 (ja) * 2008-06-09 2009-12-17 シャープ株式会社 露光装置および露光方法
JP5404619B2 (ja) * 2008-06-09 2014-02-05 シャープ株式会社 露光装置
WO2010128759A2 (ko) * 2009-05-07 2010-11-11 에스엔유 프리시젼 주식회사 비전 검사시스템 및 이를 이용한 좌표변환방법
WO2010128759A3 (ko) * 2009-05-07 2011-01-20 에스엔유 프리시젼 주식회사 비전 검사시스템 및 이를 이용한 좌표변환방법
KR101128913B1 (ko) 2009-05-07 2012-03-27 에스엔유 프리시젼 주식회사 비전 검사시스템 및 이를 이용한 좌표변환방법
JP2012526278A (ja) * 2009-05-07 2012-10-25 エスエヌユー プレシジョン カンパニー,リミテッド ビジョン検査システム及びこれを用いた座標変換方法
TWI457534B (zh) * 2009-05-07 2014-10-21 Snu Precision Co Ltd 視覺檢測系統及利用該系統的座標變換方法
JP2013520699A (ja) * 2010-02-26 2013-06-06 マイクロニック マイデータ エービー パターンを整列させる方法及び装置

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