JP2008060306A - 面発光レーザ - Google Patents

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Abstract

【課題】 偏波モードの安定した、大面積領域で基本横モードで発振可能な面発光レーザを提供する。
【解決手段】 基板と、前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、前記所定の領域を挟んで対向する一対の空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なることを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は,面発光半導体レーザに関し、更に詳しくは,安定した偏波モードで発振可能な面発光半導体レーザに関する。
垂直共振器型面発光レーザ(VCSEL:Vertical Cavity Surface Emitting Laser、以下、単に面発光レーザと称する)は、その名が示す通り,光の共振する方向が基板面に対して垂直であり、光インターコネクションをはじめ、通信用光源として、また、センサー用途などの様々なアプリケーション用デバイスとして注目されている。
上記のように注目される理由として、面発光レーザは、従来から用いられている端面発光型レーザと比較して、素子の2次元配列が容易に形成できること、共振器のミラーを設けるために劈開する必要がないのでウェハレベルでテストが可能なこと、活性層の体積が格段に小さいので極めて低いしきい値で発振でき、消費電力が小さいことなどの利点が挙げられる。
一般に、半導体レーザにおけるレーザ発振には、縦モード、横モード、偏波モードの3つのモードがある。
まず、縦モードについていえば、面発光レーザでは共振器長が極めて短いため、容易に基本縦モード発振が得られる。
また、横モードについていえば、面発光レーザは一般には横モードの制御機構を有していないため,複数の高次モードで発振しやすい。複数の高次横モードによって発振したレーザ光を光伝送に用いると,特に高速変調時に伝送距離に比例した著しい劣化を引き起こす原因となる。面発光レーザにおいて、基本横モード発振を得るための最も単純な方法は、発光領域の面積を、基本横モードのみが発振しうる程度に小さくすることである。しかしながら、狭い発光面積を再現性よく作ることは困難であることに加え、発光面積が小さいことにより、出力が小さく、また素子抵抗が大きく印加電圧が大きくならざるを得ない。
そこで、面発光レーザにおいて大面積において基本横モード発振を得るための手段として、例えば,文献「IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, Vol.9, No.5, pp.1439-1445, September/October 2003」(非特許文献1)に示されるような構造が提案されている。図15は、非特許文献1に開示された面発光レーザの一部破断斜視図、図16はその上面図である。この面発光レーザでは,基板1上に積層された半導体分布反射多層膜からなる下部反射鏡2、発光層3、該発光層3上に積層した半導体分布反射多層膜からなる上部反射鏡4とからなる積層部11の、積層面内において2次元周期的に配列された複数の円孔8が形成されている。積層面内における2次元の円孔配列は、中央部に円孔のない点欠陥部9を有し、円孔8は、上部反射鏡4の上面側から積層方向の途中の深さまで設けられている。
円孔配列の外側周辺部には上部電極5が,基板1の裏面には下部電極6がそれぞれ形成されている。さらに、下部反射鏡2の最上層付近,すなわち発光層3に近い場所に位置する層は例えばp型のAlAs層7で形成され、その外側の周縁部のみを選択的に酸化することによってAlからなる絶縁領域7aが形成され,これが発光層3に対する電流狭窄構造として働く。
この面発光レーザ10では、上記複数の円孔8の配列により,円孔8が配列された領域において光が感じる屈折率は円孔8のない点欠陥部(中央部)9に比べて僅かに低くなっている。この結果、円孔が配列された部分は、円孔がない中央部の点欠陥部9に対してクラッドとして働く。この面発光レーザに上部電極5、下部電極6を介して電流注入を行なうと、発光層3においてレーザ発振が起こる。この場合、2次元円孔配列中央部の点欠陥部9と、周囲の円孔が配列された部分とのわずかな屈折率差に基づいて,点欠陥部9を含む大面積の領域で基本横モードによるレーザ発振が起こる。(なお、このように、円孔配列を用いて屈折率差を形成し、横モード制御を行っている面発光レーザは,「フォトニック結晶面発光レーザ」とも呼ばれている。)この面発光レーザでは、大面積において基本横モード発振ができ、高出力化、低抵抗化による低動作電圧化も可能となる。
しかしながら、上記面発光レーザの偏波モードについては一般に直線偏波が得られるものの、問題がある。すなわち、面発光レーザのデバイス構造自体は、図16に符号I〜VIで示すように、点欠陥部9の中心軸Cの周りで6回の回転対称性(中心軸Cを含む半平面内の電磁界分布が、60度回転したときにほぼ同等である。)を有しており、この円孔配列パターンの回転対称性によって決まる存在可能な各偏波モード間の利得及び損失がほぼ同等であることから、これら各偏波モード間で競合が起こる。その結果、環境温度や駆動電流などの外部的条件の微妙な変化によって,頻繁に偏波モードのスイッチングが起こってしまうなど、その偏波方向は安定しないのである。かかる偏波モードの不安定は、過剰雑音の原因となり、また、伝送媒体の偏波モード分散などを通じて伝送帯域が制限されることの原因ともなる。
この点、フォトニック結晶面発光レーザではない、通常の面発光レーザにおける偏波モードの安定化の手法として、傾斜基板上に面発光レーザを作製する方法が知られている。この方法は,利得が結晶方位に依存することを利用するものであり、ある特定の方位の偏波モードに対して利得を大きくするために、たとえば(311)A面や(311)B面などの高指数方位の結晶面上に発光層を形成するものである。
しかしながら通常の(100)面上に発光層を積層する場合に比べ,良質の結晶成長は難しく、高出力が得られにくいという問題点がある。また、図15のもののように電流狭窄構造として選択酸化層を設けてなる面発光レーザを傾斜基板上に積層した場合には、結晶方位による酸化レートの違い(異方性酸化)により,酸化部分の形状、ひいては発光領域の形状に歪みが生じ,ビーム形状の制御が困難であるという問題もある。
上記方法のほかにも,デバイスのメサ形状に非対称性を導入した構造や,金属誘電体回折格子を半導体分布反射多層膜からなる反射鏡に組み込んだ構造などが知られている(特許文献1)が、いずれの構造も、デバイス加工が複雑なうえに、偏波制御性が十分とはいえない。
IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, Vol.9, No.5, pp.1439-1445, September/October 2003 特開平11−54838号公報
本発明は、面発光レーザが有していた上記課題を解決するものであり、大面積での基本横モード発振が可能で、かつ、偏波モードが安定化された、しかも作製が容易な面発光レーザを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明に係る面発光レーザの第1の態様は、基板と、前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、前記所定の領域を挟んで対向する一対の空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なることを特徴とする。
ここにおいて、上記所定の領域は、周期的に二次元配列された空孔が存在しない、点欠陥部である。
また、本発明に係る面発光レーザの第2の態様は、基板と、前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、前記所定の領域の中心を通り前記積層面内に伸びる一の直線上に中心が位置する空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なっていることを特徴とする。
また、本発明に係る面発光レーザの第3の態様は、基板と、前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、前記所定の領域の中心を一端として前記積層面内に伸びる一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が所定範囲内にある空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なることを特徴とする。
第3の態様において、前記複数の空孔が前記積層面内において三角格子状に配列されている場合には、前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が60度以上120度以下の範囲内にある空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なるようにするのが好ましい。
また、第3の態様において、前記複数の空孔が前記積層面内において正方格子状に配列されている場合には、前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が45度以上135度以下の範囲内にある空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なるようにするのが好ましい。
また、本発明に係る面発光レーザの第4の態様は、基板と、前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、前記所定の領域を挟んで対向する一対の空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする。
また、本発明に係る面発光レーザの第5の態様は、基板と、前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、前記所定の領域の中心を通り前記積層面内に伸びる一の直線上に中心が位置する空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする。
また、本発明に係る面発光レーザの第6の態様は、基板と、前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、前記所定の領域の中心を一端として前記積層面内に伸びる一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が所定範囲内にある空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする。
第6の態様において、前記複数の空孔が前記積層面内において三角格子状に配列されている場合には、前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が60度以上120度以下の範囲内にある空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることが好ましい。
また、第6の態様において、前記複数の空孔が前記積層面内において正方格子状に配列されている場合には、前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が45度以上135度以下の範囲内にある空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることが好ましい。
上記第4乃至第6の態様において、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体としては、ポリイミドを用いることが好ましい。
なお、前記第1乃至第6の態様において、前記複数の空孔は円孔であることが好ましい。また、前記複数の空孔を正方形の空孔とする場合には、一つの正方形の対向する2辺が他の空孔の対応する対向する2辺と平行となるように、すなわち、すべての正方形の方位が揃うように配列されることが好ましい。
上記第1乃至第6の各態様の本発明においては、前記所定の領域、すなわち複数の空孔が周期的に二次元的に配置されてなる空孔配列の点欠陥部の中心を通り、前記積層部の積層方向に伸びる軸を中心軸とする空孔配列パターンの回転対称性によって決まる存在可能な複数の偏波モードのうち、一つの偏波モードの損失が他の偏波モードの損失よりも小さくなる。このため、当該一つの偏波モードのみが選択的に発振し、偏波モード間の競合が防止され、発振する偏波モードが安定化する。したがって、偏波モード間のスイッチングによる雑音の発生が防止され、伝送媒体の偏波モード分散により、伝送帯域が制限されることが防止される。
(第1の実施形態例)
以下、図面に基づいて本発明の第1の実施形態例について説明する。図1は、本発明の第1の実施形態例による面発光レーザの上面図、図2は断面斜視図である。
本発明の第1の実施形態例に係る面発光レーザ100は、発振波長850nmで使用されるフォトニック結晶面発光レーザであり、p型GaAs基板101の(100)面上に下部反射鏡102、Al0.3Ga0.7Asからなる下部クラッド層、4ペアのGaAs/Al0.2Ga0.8Asからなる多重量子井戸、Al0.3Ga0.7Asからなる上部クラッド層からなる発光層103、上部反射鏡104を順次積層し、この上部反射鏡104の最上層の表面に、n型のGaAs層コンタクト層が形成され,全体の積層部を構成している。なお、上記積層部には、電流狭窄構造を形成するため、たとえばp型のAlAs層107が介挿されている。
下部反射鏡102は、それぞれ厚みλ/4n(nは屈折率、λは動作波長)のp型AlAsとp型GaAsを交互に積層してなる20ペアの半導体多層膜と、その上にそれぞれ厚みλ/4n(nは屈折率、λは動作波長)のp型Al0.9Ga0.1Asとp型Al0.2Ga0.8Asを交互に積層してなる15ペアの半導体多層膜とからなる。また、上部反射鏡104は、それぞれ厚みλ/4nのn型Al0.9Ga0.1Asとn型Al0.2Ga0.8Asとを交互に積層してなる25ペアの半導体多層膜からなっている。
上記積層部の上部から下部反射鏡102のうちの少なくとも上面に至るまでの部分は、周辺部がエッチング除去されて,柱状層構造120が形成されている。かかる柱状層構造120のうち、発光層103に近い場所に積層されたp型のAlAs層107は、柱状層構造120の側面に露出する部分から内部に向かって一部が酸化され、Alからなる絶縁領域107aを形成している。この絶縁領域107aが、発光層103に注入される電流に対して電流狭窄構造として働く。
図1に示すように、柱状層構造120には,電子ビーム露光あるいはフォトリソグラフィ、およびドライエッチングにより、複数の円孔108が積層面内において正三角形の三角格子状に二次元的に配列形成されている。この円孔配列は、その中央に円孔がない点欠陥部109を有している。これらの複数の円孔108の配列周期は5μm(中心間の距離)であり、柱状層構造120の上面から上部反射鏡104の17ペア分に相当する深さにまで設けられている。このような円孔配列により、円孔108が形成された部分の平均屈折率は、円孔がない点欠陥部109の平均屈折率よりも小さくなるので、円孔108が形成された部分は、点欠陥部109を伝搬する光に対してクラッドとして働く。円孔108の配列周期、孔径、深さなどは、円孔108が形成された部分の平均屈折率と円孔がない点欠陥部109の平均屈折率との差により、積層面方向において基本横モード発振が得られるよう、適宜調整される。
柱状の層構造120における円孔が配列された部分の周辺部には、例えばAuGeNi/Auからなる上部電極105が形成されている。また、p型GaAs基板101の裏面にはTi/Pt/Auからなる下部電極106がそれぞれ形成されている。
本第1の実施形態例では、図1に示すように、中央の点欠陥部109を挟んで対向する中央部近傍の一対の円孔の径dは、それ以外の円孔の径dよりも大きくなっている。本実施形態例では、円孔径dは例えば2μm、dは3μmである。このように、異なった径の円孔を配置することによって、円孔の配列パターンは図1に符号I、IIで示したように、点欠陥部109の中心を通り積層面に垂直な中心軸Cの周りに、2回の回転対称性を有するものとなっている。すなわち、中心軸を含む半平面内における面発光レーザの光電磁界分布は、該中心軸を中心として180度回転したときと同等である。
かかる円孔配列パターンの対称性に対応し、この面発光レーザ100の偏波モードとしては、2つの偏波モードが存在しうるところ、各偏波モードが受ける損失は異なるものとなる。本実施形態例では、図1中に示したx方向(孔径の大きな円孔の中心を結んだ方向と平行な方向)に平行な電界成分を有する偏波モードに対する損失がy方向(積層面内でx方向に垂直な方向)に平行な偏波モードに対する損失より大きくなるので、y方向の偏波モードでの発振が支配的となる。
したがって、電極105、106を介して電流を注入した場合、これら2つの偏波モードのうち、損失の小さいy方向の偏波モードのみにおいて選択的にレーザ発振が起こることになる。このため、環境温度や駆動電流などの変動などによって偏波モードのスイッチングが起こらない、安定した発振が起こる。
本第1の実施形態例に関し、上記パラメータを用いて計算を行ったところ、y方向の偏波モードでの発振が支配的に起こることが確認され、x方向及びy方向の各偏波モード間の発振強度の比(直交偏波抑圧比)は30dB以上であった。なお、横モードについては、基本横モード発振が確認されている。
なお、本第1の実施形態例では、図1に示すように、中央の点欠陥部109を挟んで対向している円孔のうち、最も近接している一対の円孔の径dを、それ以外の円孔の径dよりも大きくした。この例では、点欠陥部109に最も近い一対の円孔のみの径が他の円孔の径と異なっているため、点欠陥部109に存在する発振レーザ光の電界に対してより効果的に空孔の径を変化させたことの効果を及ぼすことができる点で有利である。しかも、点欠陥部109の近傍を除く周辺部では、同一径の円孔が均一に二次元的に分布しており、積層面内における屈折率の分布に与える擾乱も少なくて済む。すなわち、発振レーザ光の形状に対する影響も少なくて済む。
もっとも、各偏波モードの損失を相違させるためには、上記のように点欠陥部109に最も近接する一対の空孔の径を変化させるのではなく、適宜、中央の点欠陥部に最近接しない一対の円孔の径を変更させても構わない。
さらに、図3のように、点欠陥部109の中心を通る積層面に平行な一の直線上に中心を有する円孔の径を、他の円孔の径と異ならしめてもよい。図3に示した変形例では、点欠陥部109の中心を通過するx軸に平行な直線L1上に中心が存在する円孔の径dを、直線L1上に中心がない他の円孔の径dよりも小さくしているので、図3のx軸方向の偏波モードに対する損失がy軸方向の偏波モードに対する損失よりも小さい。このため、x軸方向の偏波モードにおいて選択的に発振が起こり、偏波モード間のスイッチングが防止される。このように、点欠陥部109の中心を通る積層面に平行な一の直線L1上に中心を有するすべての円孔の径を、この一の直線L1上にない他の円孔の径と異ならしめることによって、中心軸Cの周りの回転非対称性の程度をさらに強めることができるので、発振する偏波モードの安定性がさらに高まる。
上記では、複数の空孔(円孔)のうち、特定の位置にあるものの径を他の円孔の径と異ならせることとしたが、当該特定の位置の空孔の形状を他の空孔の形状と異なるもの、たとえば、正方形の孔など円孔以外の形状としてもよい。
(第2の実施形態例)
図4は、本発明の第2の実施形態例による面発光レーザの上面図、図5は断面斜視図である。
本発明の第2の実施形態例に係る面発光レーザ200は、発振波長1300nmで使用されるフォトニック結晶面発光レーザであり、n型GaAs基板201の(100)面上に下部反射鏡202をMOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法により積層し、しかる後にMBE(Molecular Beam Epitaxy)法によって、GaAsからなる下部クラッド層、4ペアのGaInNAsSb/GaNAsからなる多重量子井戸層、GaAsからなる上部クラッド層からなる発光層203を順次積層し、さらにその後再度MOCVD法によって、上部反射鏡204を順次積層し、全体の積層部を構成している。
下部反射鏡202は、それぞれ厚みλ/4n(nは屈折率、λは動作波長)のn型AlAsとn型GaAsを交互に積層してなる35ペアの半導体多層膜からなる。また、上部反射鏡204は、それぞれ厚みλ/4nのp型Al0.9Ga0.1Asとp型GaAsとを交互に積層してなる22ペアの半導体多層膜からなっている。
上記積層部の上部から下部反射鏡202のうちの少なくとも上面に至るまでの部分は、周辺部がエッチング除去されて,柱状の層構造220が形成されている。かかる柱状層構造220の上面には、例えばAu/AuZnからなるリング状の上部電極205が形成され、また、n型GaAs基板201の裏面にはTi/Pt/Auからなる下部電極206が形成される。
本第2の実施形態の面発光レーザにおける電流狭窄構造は、フォトリソグラフィー法を用いてフォトレジストマスク(不図示)を形成し、上部反射鏡204の最下部付近が平均飛程となるような加速電圧で水素イオンを適切な量だけ注入し、高抵抗領域207aに変質させることによって形成される。
電流狭窄構造の形成後、図4に示すように、柱状層構造220には,電子ビーム露光あるいはフォトリソグラフィ,およびドライエッチングにより,複数の円孔208が積層面内において三角格子状に二次元的に配列形成される。この円孔配列は、その中央に円孔がない点欠陥部209を有している。これらの複数の円孔208の配列周期は5μm(中心間の距離)であり、柱状層構造220の上面から上部反射鏡204の15ペア分に相当する深さにまで設けられている。このような円孔配列により、円孔208が形成された部分の平均屈折率は、円孔がない点欠陥部209の平均屈折率よりも小さくなるので、円孔208が形成された部分は、点欠陥部209を伝搬する光に対してクラッドとして働く。円孔208の配列周期、孔径、深さなどは、円孔208が形成された部分の平均屈折率と円孔がない点欠陥部209の平均屈折率との差により、積層面方向において基本横モード発振が得られるよう、適宜調整される。
本第2の実施形態例では、点欠陥部の中心を一端として積層面内に伸びる一の半直線との間で、中心と点欠陥部の中心とを結ぶ線分のなす角度が所定範囲内である円孔の径を、他の円孔の径と異ならせている。すなわち、図4において、中心と点欠陥部209の中心を結ぶ線分liと、点欠陥部209の中心を一端として積層面内に伸びるx軸に平行な一の半直線L0とのなす角度が60°以上120°以下である円孔208iは、なす角度が60°未満又は120°より大きい円孔よりも、径が大きい。図4に示した例では、半直線L0との間で60°の角度をなす半直線L60と120°の角度をなす半直線L120との間に中心が存在する円孔(各半直線上に中心が存在する円孔を含む)の径dを、2.5μmとし、他の円孔の径dを1.5μmとしている。
本第2の実施形態例では、このように異なった孔径の円孔を配置することによって、円孔の配列パターンは図4に符号I、IIで示したように、点欠陥部209の中心を通り積層面に垂直な中心軸Cの周りに、2回の回転対称性を有するものとなっている。すなわち、中心軸を含む半平面内における面発光レーザの光電磁界分布は、該中心軸を中心として180度回転したときと同等である。
かかる円孔配列パターンの対称性に対応し、この面発光レーザ200の偏波モードとしては、2つの偏波モードが存在しうるところ、各偏波モードが受ける損失は異なるものとなる。本第2の実施形態例では、図4中に示したx方向に平行な電界成分を有する偏波モードに対する損失がy方向に平行な偏波モードに対する損失より小さくなるので、x方向の偏波モードでの発振が支配的となる。
したがって、電極205、206を介して電流を注入した場合、これら2つの偏波モードのうち、損失の小さいx方向の偏波モードのみにおいて選択的にレーザ発振が起こることになる。このため、環境温度や駆動電流などの変動などによって偏波モードのスイッチングが起こらない、安定した発振が起こる。
本第2の実施形態例に関し、上記パラメータを用いて計算を行ったところ、x方向の偏波モードでの発振が支配的に起こることが確認され、x方向及びy方向の各偏波モード間の発振強度の比(直交偏波抑圧比)は、30dB以上の値が得られた。横モードについては、基本横モード発振が確認されている。
なお、本第2の実施形態例では、点欠陥部209の中心を一端として積層面内に伸びるx軸に平行な一の半直線L0と60°の角度をなす半直線L60と、120°の角度をなす半直線L120との間に中心が存在する円孔(各半直線上に中心が存在する円孔を含む)の径を、他の円孔の径よりも大きくしたが、半直線L0と任意の範囲内の角度をなす半直線上に中心が存在する円孔の径を、他の円孔の径と異ならせても、各偏波モード間で損失を異ならせることが可能である。
換言すれば、本第2の実施形態例では、点欠陥部209の中心を通る一の半直線L0と、中心と点欠陥部の中心を結ぶ線分とのなす角度が所定範囲内にある複数の円孔の径を他の円孔の径と異ならしめている。このため、中心軸Cの周りの回転非対称性の程度をさらに強めることができるので、発振する偏波モードの安定性がさらに高まる。
上記では、複数の空孔(円孔)のうち、特定の位置にあるものの径を他の円孔の径と異ならせることとしたが、当該特定の位置の空孔の形状を他の空孔の形状と異なるもの、たとえば、正方形の孔など円孔以外の形状としてもよい。
(第3の実施形態例)
図6は、本発明の第3の実施形態例による面発光レーザの上面図、図7は断面斜視図である。本第3の実施形態例は、第1の実施形態例と同様、発振波長850nmで使用されるフォトニック結晶面発光レーザであり、円孔の配列が異なる点を除き、構成及び製造方法は同じである。
本第3の実施形態例では、複数の円孔は、中央部の点欠陥部309を除いて、周期5μmの正方格子状に配列されている。点欠陥部309近傍の一対の円孔の径dは、それ以外の円孔の径dよりも大きくなっている。ここにおいてdは、3μm、dは2μmである。円孔の深さは、積層部上面から上部反射鏡304の17ペア分に相当する程度である。なお、円孔の周期、径、深さは、点欠陥部309の光が基本横モードで存在するものであれば、上記のものに限られない。
本第3の実施形態例でも、異なった径の円孔を配置することによって、円孔の配列パターンは図6に符号I、IIで示したように、点欠陥部309の中心を通り積層面に垂直な中心軸Cの周りに、2回の回転対称性を有するものとなっている。すなわち、中心軸を含む半平面内における面発光レーザの光電磁界分布は、該中心軸を中心として180度回転したときと同等である。
かかる円孔配列パターンの回転対称性に対応し、この面発光レーザ300の偏波モードとしては、2つの偏波モードが存在しうるところ、各偏波モードが受ける損失は異なるものとなる。本第3の実施形態例では、図6中に示したx方向(孔径の大きな円孔の中心を結んだ方向と平行な方向)に平行な電界成分を有する偏波モードに対する損失がy方向(積層面内でx方向に垂直な方向)に平行な偏波モードに対する損失より大きくなるので、y方向の偏波モードでの発振が支配的となる。
したがって、電極305、306を介して電流を注入した場合、これら2つの偏波モードのうち、損失の小さいy方向の偏波モードのみにおいて選択的にレーザ発振が起こることになる。このため、環境温度や駆動電流などの変動などによって偏波モードのスイッチングが起こらない、安定した発振が起こる。
本第3の実施形態例に関しても、上記パラメータを用いて計算を行ったところ、y方向の偏波モードでの発振が支配的に起こることが確認され、x方向及びy方向の各偏波モード間の発振強度の比(直交偏波抑圧比)は30dB以上であった。なお、横モードについては、基本横モード発振が確認されている。
なお、本第3の実施形態例では、図6に示すように、中央の点欠陥部309を挟んで対向している円孔のうち、最も近接している一対の円孔の径dを、それ以外の円孔の径dよりも大きくした。この例では、点欠陥部309に最も近い一対の円孔のみの径が他の円孔の径と異なっているため、点欠陥部309に存在する発振レーザ光の電界に対してより効果的に円孔の径を変化させたことの効果を及ぼすことができる点で有利である。しかも、点欠陥部309の近傍を除く周辺部には、同一径の円孔が均一に二次元的に分布しており、積層面内における屈折率の分布に与える擾乱も少なくて済む。すなわち、発振レーザ光の形状に対する影響も少なくて済む。
もっとも、各偏波モードの損失を相違させるためには、上記のように点欠陥部309に最も近接する一対の空孔の径を変化させるのではなく、点欠陥部309に最近接しない一対の円孔の径を変更させても構わない。
さらに、図8のように、点欠陥部309の中心を通る積層面に平行な一の直線上に中心を有するすべての円孔の径を、他の円孔の径と異ならしめてもよい。図8に示した変形例では、点欠陥部309の中心を通過するx軸に平行な直線L1上に中心が存在する円孔の径dを、直線L1上に中心がない他の円孔の径dよりも小さくしているので、図8のx軸方向の偏波モードに対する損失がy軸方向の偏波モードに対する損失よりも小さい。このため、x軸方向の偏波モードにおいて選択的に発振が起こり、偏波モード間のスイッチングが防止される。このように、点欠陥部の中心を通る積層面に平行な一の直線上に中心を有するすべての円孔の径を、この一の直線上にない他の円孔の径と異ならしめることによって、中心軸Cの周りの回転非対称性の程度をさらに強めることができるので、発振する偏波モードの安定性がさらに高まる。
上記では、複数の空孔(円孔)のうち、特定の位置にあるものの径を他の円孔の径と異ならせることとしたが、当該特定の位置の空孔の形状を他の空孔の形状と異なるもの、たとえば、正方形の孔など円孔以外の形状としてもよい。
(第4の実施形態例)
図9は、本発明の第4の実施形態例による面発光レーザの上面図、図10は断面斜視図である。本第4の実施形態例は、第2の実施形態例と同様、発振波長1300nmで使用されるフォトニック結晶面発光レーザであり、円孔の配列が異なる点を除き、構成及び製造方法は同じである。
本第4の実施形態例では、図9に示すように、点欠陥部409の中心を通り積層面内に伸びた一の半直線との間で、中心と点欠陥部の中心とを結ぶ線分のなす角度が所定範囲内である円孔の径を、他の円孔の径と異ならせている。すなわち、図9において、中心と点欠陥部409の中心を結ぶ線分liと、点欠陥部409の中心を一端として積層面内に伸びるx軸に平行な一の半直線L0とのなす角度が45°以上135°以下である円孔408iは、なす角度が45°未満又は135°より大きい円孔よりも、径が大きい。図9に示した例では、半直線L0と45°の角度をなす半直線L45と、135°の角度をなす半直線L135との間に中心が存在する円孔(各半直線上に中心が存在する円孔を含む)の径dを2.5μm、他の円孔の径dを1.5μmとしている。
本第4の実施形態例では、このように異なった径の円孔を配置することによって、円孔の配列パターンは図9に符号I、IIで示したように、点欠陥部409の中心を通り積層面に垂直な中心軸Cの周りに、2回の回転対称性を有するものとなっている。すなわち、中心軸を含む半平面内における面発光レーザの光電磁界分布は、該中心軸を中心として180度回転したときと同等である。
かかる円孔配列パターンの回転対称性に対応し、この面発光レーザ400の偏波モードとしては、2つの偏波モードが存在しうるところ、各偏波モードが受ける損失は異なるものとなる。本実施形態例では、図9中に示したx方向に平行な電界成分を有する偏波モードに対する損失がy方向に平行な偏波モードに対する損失より小さくなるので、x方向の偏波モードでの発振が支配的となる。
したがって、電極405、406を介して電流を注入した場合、これら2つの偏波モードのうち、損失の小さいx方向の偏波モードのみにおいて選択的にレーザ発振が起こることになる。このため、環境温度や駆動電流などの変動などによって偏波モードのスイッチングが起こらない、安定した発振が起こる。
本第4の実施形態例に関し、上記パラメータを用いて計算を行ったところ、x方向の偏波モードでの発振が支配的に起こることが確認され、x方向及びy方向の各偏波モード間の発振強度の比(直交偏波抑圧比)は、30dB以上の値が得られた。横モードについては、基本横モード発振が確認されている。
なお、本第4の実施形態例では、点欠陥部の中心を一端として積層面内に伸びるx軸に平行な一の直線L0と45°の角度をなす半直線L45と、135°の角度をなす半直線L135との間に中心が存在する円孔(各半直線上に中心が存在する円孔を含む)の径を、他の円孔の径よりも大きくしたが、半直線L0と任意の範囲内の角度をなす半直線上に中心が存在する円孔の径を、他の円孔の径と異ならせても、各偏波モード間で損失を異ならせることが可能である。
換言すれば、図9に示した本第4の実施形態例では、点欠陥部409の中心を一端とする一の半直線L0と、中心と点欠陥部の中心を結ぶ線分とのなす角度が所定範囲内にある複数の円孔の径を他の円孔の径と異ならしめている。このため、中心軸Cの周りの回転非対称性の程度をさらに強めることができるので、発振する偏波モードの安定性がさらに高まる。
上記では、複数の空孔(円孔)のうち、特定の位置にあるものの径を他の円孔の径と異ならせることとしたが、当該特定の位置の空孔の形状を他の空孔の形状と異なるもの、たとえば、正方形の孔など円孔以外の形状としてもよい。
(第5の実施形態例)
上記第1乃至第4の実施形態例においては、2次元的に周期配列された複数の円孔のうち、特定の位置にある円孔の径を他の円孔の径と異ならしめることによって、存在可能な偏波モードを2つとし、かつ、この2つのうちの一方の偏波モードの受ける損失が他の偏波モードのうける損失よりも小さくなるようにした。
これに対し、本第5の実施形態例では、上記第1乃至第4の実施形態例における場合と同様にして特定される円孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されている。本第5の実施形態例では、二次元的に配列した複数の円孔のうち、所定の位置のものの径が他の円孔の径と異なっていることは、必ずしも要するものではない。
図11は、本第5の実施形態例に係る面発光レーザの上面図、図12は、断面斜視図を示したものである。本第5の実施形態例では、点欠陥部509以外の部分に二次元的に周期的に配列された円孔の径dは、すべて2μmであり、点欠陥部を挟んで対向する一対の円孔の内部にのみ、発振レーザ光に対する損失媒体として、ポリイミド511が充填されている。これにより、図11のx方向の偏波モードが受ける損失がy方向の偏波モードが受ける損失よりも大きくなるので、電極506、507を介して電流を注入した場合、比較的損失の小さいy方向の偏波モードのみにおいて選択的にレーザ発振が起こることになる。このため、環境温度や駆動電流などの変動などによって偏波モードのスイッチングが起こらない、安定した発振が起こる。
上記第5の実施形態例においては、点欠陥部を挟んで対向する一対の円孔内に損失媒体を充填する場合を挙げたが、これに限られるものではない。本第5の実施形態例の変形例としては、点欠陥部の中心を通り積層面内に伸びる一の直線上に中心が位置する円孔内に損失媒体を充填するものであってもよい。
また、他の変形例としては、点欠陥部の中心を一端として積層面内に伸びる一の半直線と、中心と点欠陥部の中心を結ぶ線分とのなす角度が所定範囲内にある円孔内に損失媒体を充填してもよい。たとえば、複数の円孔が三角格子状に配列された場合において、点欠陥部の中心を一端として積層面内に伸びる一の半直線と、中心と点欠陥部の中心を結ぶ線分とのなす角度が60度以上120度以下の範囲内にある円孔内に損失媒体を充填してもよいし、複数の円孔が正方格子状に配列された場合において、点欠陥部の中心を一端として積層面内に伸びる一の半直線と、中心と点欠陥部の中心を結ぶ線分とのなす角度が45度以上135度以下の範囲内にある円孔内に、損失媒体を充填してもよい。
上記いずれの場合においても、円孔配列の、点欠陥部の中心を通り積層面に垂直な方向に伸びる軸Cを中心軸とする円孔配列パターンの回転対称性によって決まる存在可能な複数の偏波モードのうち、一つの偏波モードにおいて選択的にレーザ発振が起こることになる。このため、環境温度や駆動電流などの変動などによって偏波モードのスイッチングが起こらない、安定したレーザ発振が実現できる。
また、本第5の実施形態例において所定の位置にある円孔に損失媒体を充填させることに加え、第1乃至第4の実施形態例に述べたように所定の位置にある円孔の径を他の円孔の径と異ならせることを併用してもよいことは、いうまでもない。
(第6の実施形態例)
図13は、本第5の実施形態例に係る面発光レーザの上面図である。上記第1乃至第5の実施形態例では、複数の空孔は、円孔であった。これに対し、本第6の実施形態例では、図13に示すように、正方形の複数の空孔が、x軸及びy軸の方向に正方格子配列されている。そして、本実施形態例では、正方形の空孔の各辺が、x軸又はy軸と平行である。任意の一の空孔608iの対向する2辺(a,c)及び(b,d)が他の空孔608jの対応する対向する2辺(a,c)及び(b,d)と平行となるように配列されている。そして、点欠陥部609を挟んで対向する一対の空孔の大きさが、他の空孔の大きさよりも大きくなっている。
本第6の実施形態例では、図13に示すように、中央の点欠陥部609を挟んで対向する中央部近傍の一対の空孔の大きさd(正方形の一辺の長さ)は、それ以外の空孔の大きさdよりも大きくなっている。本実施形態例では、空孔の大きさdは例えば2μm、dは3μmである。このように、異なった大きさの正方形の孔を配置することによって、空孔の配列パターンは図13に符号I、IIで示したように、点欠陥部609の中心を通り積層面に垂直な中心軸Cの周りに、2回の回転対称性を有するものとなっている。(すなわち、中心軸を含む半平面内における面発光レーザの光電磁界分布は、該中心軸を中心として180度回転したときと同等である。)
かかる空孔配列パターンの対称性に対応し、この面発光レーザ600の偏波モードとしては、2つの偏波モードが存在しうるところ、各偏波モードが受ける損失は異なるものとなる。本実施形態例では、図13中に示したx方向に平行な電界成分を有する偏波モードに対する損失がy方向に平行な偏波モードに対する損失より大きくなるので、y方向の偏波モードでの発振が支配的となる。
したがって、上部電極605、下部電極(不図示)を介して電流を注入した場合、これら2つの偏波モードのうち、損失の小さいy方向の偏波モードのみにおいて選択的にレーザ発振が起こることになる。このため、環境温度や駆動電流などの変動などによって偏波モードのスイッチングが起こらない、安定した発振が起こる。
なお、本第6の実施形態例では、第1の実施形態例に倣い、点欠陥部609を挟んで対向する一対の空孔の大きさを、他の空孔の大きさよりも大きくしたが、第2乃至第4の実施形態例の各々にならい、所定の位置にある空孔の大きさを他の空孔の大きさと異ならせることができることはいうまでもない。
また、所定の位置のある空孔の大きさを変えることに代えて、空孔の形状を変えてもよいし、またはこれと併用して、第5の実施形態例のように、所定の位置にある空孔に、発振するレーザ光に対して損失を与える、ポリイミドなどの損失媒体を充填してもよい。
また、本第6の実施形態例では、正方形の空孔はx軸及びy軸の方向に正方格子配列されていたが、図14のように、x軸及びy軸の方向に正三角形状に三角格子配列され、正方形の空孔の各辺が、x軸又はy軸と平行であってもよい。
本発明の第1の実施形態例に係る面発光レーザを示す上面図。 本発明の第1の実施形態例に係る面発光レーザを示す断面斜視図。 本発明の第1の実施形態例に係る面発光レーザの変形例を示す上面図。 本発明の第2の実施形態例に係る面発光レーザを示す上面図。 本発明の第2の実施形態例に係る面発光レーザを示す断面斜視図。 本発明の第3の実施形態例に係る面発光レーザを示す上面図。 本発明の第3の実施形態例に係る面発光レーザを示す断面斜視図。 本発明の第3の実施形態例に係る面発光レーザの変形例を示す上面図。 本発明の第4の実施形態例に係る面発光レーザを示す上面図。 本発明の第4の実施形態例に係る面発光レーザを示す断面斜視図。 本発明の第5の実施形態例に係る面発光レーザを示す上面図。 本発明の第5の実施形態例に係る面発光レーザを示す断面斜視図。 本発明の第6の実施形態例に係る面発光レーザを示す上面図。 本発明の第6の実施形態例に係る面発光レーザの変形例を示す上面図。 従来の面発光レーザを示す一部破断斜視図。 従来の面発光レーザを示す上面図。
符号の説明
1 基板
2 下部反射鏡
3 発光層
4 上部反射鏡
5 上部電極
6 下部電極
7 AlAs層
7a 絶縁領域
8 円孔
9 点欠陥部
10 面発光レーザ
11 積層部
100 面発光レーザ
101 GaAs基板
102 下部反射鏡
103 発光層
104 上部反射鏡
105 上部電極
106 下部電極
107 AlAs層
107a 絶縁領域
108 円孔
109 点欠陥部
120 柱状層構造
200 面発光レーザ
201 GaAs基板
202 下部反射鏡
203 発光層
204 上部反射鏡
205 上部電極
206 下部電極
207a 高抵抗領域
208 円孔
209 点欠陥部
220 柱状層構造
300 面発光レーザ
301 GaAs基板
302 下部反射鏡
303 発光層
304 上部反射鏡
305 上部電極
306 下部電極
307 AlAs層
307a 絶縁領域
308 円孔
309 点欠陥部
320 柱状層構造
400 面発光レーザ
401 GaAs基板
402 下部反射鏡
403 発光層
404 上部反射鏡
405 上部電極
406 下部電極
407a 高抵抗領域
408 円孔
409 点欠陥部
420 柱状層構造
500 面発光レーザ
501 GaAs基板
502 下部反射鏡
503 発光層
504 上部反射鏡
505 上部電極
506 下部電極
507 AlAs層
507a 絶縁領域
508 円孔
509 点欠陥部
511 損失媒体(ポリイミド)
520 柱状層構造
600 面発光レーザ
605 上部電極
608 空孔(正方形の孔)
609 点欠陥部
620 柱状層構造
C 中心軸
L1 点欠陥部の中心を通る直線
L0,L45,L60,L120,L135 点欠陥部の中心を通る半直線




























Claims (14)

  1. 基板と、
    前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、
    前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、
    前記所定の領域を挟んで対向する一対の空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なることを特徴とする面発光レーザ。
  2. 基板と、
    前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、
    前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、
    前記所定の領域の中心を通り前記積層面内に伸びる一の直線上に中心が位置する空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なっていることを特徴とする面発光レーザ。
  3. 基板と、
    前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、
    前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、
    前記所定の領域の中心を一端として前記積層面内に伸びる一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が所定範囲内にある空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なることを特徴とする面発光レーザ。
  4. 前記複数の空孔は、前記積層面内において三角格子状に配列されており、
    前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が60度以上120度以下の範囲内にある空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なることを特徴とする請求項3に記載の面発光レーザ。
  5. 前記複数の空孔は、前記積層面内において正方格子状に配列されており、
    前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が45度以上135度以下の範囲内にある空孔の大きさ又は形状が、他の空孔の大きさ又は形状と異なることを特徴とする請求項3に記載の面発光レーザ。
  6. 基板と、
    前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、
    前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、
    前記所定の領域を挟んで対向する一対の空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする面発光レーザ。
  7. 基板と、
    前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、
    前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、
    前記所定の領域の中心を通り前記積層面内に伸びる一の直線上に中心が位置する空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする面発光レーザ。
  8. 基板と、
    前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、
    前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、
    前記所定の領域の中心を一端として前記積層面内に伸びる一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が所定範囲内にある空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする面発光レーザ。
  9. 前記複数の空孔は、前記積層面内において三角格子状に配列されており、
    前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が60度以上120度以下の範囲内にある空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする請求項8に記載の面発光レーザ。
  10. 前記複数の空孔は、前記積層面内において正方格子状に配列されており、
    前記一の半直線と、中心と前記所定の領域の中心を結ぶ線分のなす角度が45度以上135度以下の範囲内にある空孔内に、発振するレーザ光に対して損失を与える損失媒体が充填されていることを特徴とする請求項8に記載の面発光レーザ。
  11. 前記損失媒体はポリイミドであることを特徴とする請求項6乃至10のいずれか1つに記載の面発光レーザ。
  12. 前記複数の空孔は、円孔であることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1つに記載の面発光レーザ。
  13. 前記複数の空孔は、対向する2辺が他の空孔の対応する対向する2辺と平行となるように配列された正方形の孔であることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1つに記載の面発光レーザ。
  14. 基板と、
    前記基板上に積層された第1の反射鏡、該第1の反射鏡上に積層された発光層、該発光層上に積層された第2の反射鏡とを含んでなる積層部と、
    前記積層部の積層面内における所定の領域を除く領域に、前記積層面内において周期的に二次元配列され、積層方向に設けられた複数の空孔とを有し、
    前記所定の領域の中心を通り前記積層部の積層方向に伸びる軸を中心軸とする空孔配列パターンの回転対称性によって決まる存在可能な複数の偏波モードのうち、一つの偏波モードの損失が他の偏波モードの損失よりも小さいことを特徴とする面発光レーザ。









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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246194A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Furukawa Electric Co Ltd:The 面発光半導体レーザ素子
JP2013518429A (ja) * 2010-01-29 2013-05-20 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. マルチモード垂直共振器面発光レーザアレイ
WO2014136943A1 (ja) * 2013-03-08 2014-09-12 国立大学法人京都大学 レーザ装置
KR20240024607A (ko) * 2022-08-17 2024-02-26 주식회사 옵토웰 방열홀을 포함하는 반도체 레이저 및 그 제조 방법

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009170508A (ja) * 2008-01-11 2009-07-30 Furukawa Electric Co Ltd:The 面発光半導体レーザ及びその製造方法
JP5047258B2 (ja) * 2009-12-09 2012-10-10 キヤノン株式会社 二次元フォトニック結晶面発光レーザ
JP2017168577A (ja) * 2016-03-15 2017-09-21 住友電気工業株式会社 面発光半導体レーザを作製する方法
CN109167255A (zh) * 2018-11-12 2019-01-08 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种面发射激光器、面发射激光器阵列及光学扫描装置
GB2603802A (en) * 2021-02-15 2022-08-17 Ams Sensors Asia Pte Ltd Meta-optics integrated on VCSELs

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003023193A (ja) * 2001-07-05 2003-01-24 Japan Science & Technology Corp 二次元フォトニック結晶面発光レーザ
JP2005268809A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Lumileds Lighting Us Llc 面内発光層を含む半導体発光素子
JP2005353623A (ja) * 2004-06-08 2005-12-22 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ及び光伝送システム

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001281480A (ja) * 2000-03-29 2001-10-10 Nec Corp フォトニック結晶光導波路と方向性結合器
US20030185500A1 (en) * 2002-03-28 2003-10-02 Fells Julian A. Optical transmission systems
JP2004030964A (ja) * 2002-06-21 2004-01-29 Seiko Epson Corp 発光装置、光通信用装置及び光通信システム
US7085301B2 (en) * 2002-07-12 2006-08-01 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Photonic crystal single transverse mode defect structure for vertical cavity surface emitting laser
US6754913B2 (en) * 2002-11-13 2004-06-29 Wilhelm Andreas Haberkorn Sanitary cleansing apparatus and process
US7280730B2 (en) * 2004-01-16 2007-10-09 Imra America, Inc. Large core holey fibers
US20070030873A1 (en) * 2005-08-03 2007-02-08 Finisar Corporation Polarization control in VCSELs using photonics crystals

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003023193A (ja) * 2001-07-05 2003-01-24 Japan Science & Technology Corp 二次元フォトニック結晶面発光レーザ
JP2005268809A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Lumileds Lighting Us Llc 面内発光層を含む半導体発光素子
JP2005353623A (ja) * 2004-06-08 2005-12-22 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ及び光伝送システム

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246194A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Furukawa Electric Co Ltd:The 面発光半導体レーザ素子
JP2013518429A (ja) * 2010-01-29 2013-05-20 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. マルチモード垂直共振器面発光レーザアレイ
WO2014136943A1 (ja) * 2013-03-08 2014-09-12 国立大学法人京都大学 レーザ装置
JP2014175488A (ja) * 2013-03-08 2014-09-22 Kyoto Univ レーザ装置
US9698562B2 (en) 2013-03-08 2017-07-04 Kyoto University Laser device
KR20240024607A (ko) * 2022-08-17 2024-02-26 주식회사 옵토웰 방열홀을 포함하는 반도체 레이저 및 그 제조 방법
KR102680827B1 (ko) * 2022-08-17 2024-07-04 주식회사 옵토웰 방열홀을 포함하는 반도체 레이저 및 그 제조 방법

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