JP2008041277A - Display panel using light-emitting element, and its manufacturing method - Google Patents

Display panel using light-emitting element, and its manufacturing method Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To enable to form a display panel using a light-emitting element in a superior yield in which even if a pin hole is opened in a transparent anode electrode at a contact part between a wiring layer made of aluminum based metal and the transparent anode electrode at a wiring terminal part. <P>SOLUTION: In the wiring terminal part of a top emission type organic EL display panel in which an organic EL element is used as the light-emitting element, a reflecting layer 50 is formed on a drain wiring layer 42 in a shape of completely covering a region in which this drain wiring layer 42 is exposed, and furthermore, by forming the transparent anode electrode 20a in a shape of completely covering the reflecting layer 50, even if the pin hole is opened in the transparent anode electrode 20a, since combination of the transparent anode electrode 20a and the reflecting layer 50 enables to form a wiring terminal part in the superior yield since a battery reaction in a resist stripping liquid does not proceed. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、発光素子を用いたディスプレイパネル及びその製造方法に関し、特に、発光素子として有機エレクトロルミネッセンス素子を用いたディスプレイパネル、及び、そのようなディスプレイパネルの製造方法に関する。   The present invention relates to a display panel using a light emitting element and a manufacturing method thereof, and more particularly to a display panel using an organic electroluminescence element as a light emitting element and a manufacturing method of such a display panel.

従来、有機エレクトロルミネッセンス素子(以下、「有機EL素子」と略記する)や発光ダイオード(LED)等のように、供給される電流の電流値に応じた輝度で発光動作する電流制御型の発光素子を備えた表示画素を、2次元配列した表示パネルを備える自己発光型のディスプレイ(表示装置)が知られている。 Conventionally, a current-controlled light-emitting element that emits light at a luminance corresponding to the current value of a supplied current, such as an organic electroluminescence element (hereinafter abbreviated as “organic EL element”) or a light-emitting diode (LED). 2. Description of the Related Art A self-luminous display (display device) including a display panel in which display pixels including two-dimensionally are arranged is known.

発光素子である有機EL素子は、基板上にアノード、EL層、カソードの順に積層した積層構造となっており、アノードとカソードとの間に電圧が印加されるとEL層に正孔及び電子が注入され、EL層で電界発光する。EL層の発光が有機EL素子の設けられている基板を光透過して表示するように設計したEL素子をボトムエミッション型といい、一方、有機EL素子が設けられている基板と反対側から外部に出射するように設計したEL素子をトップエミッション型という。 An organic EL element that is a light emitting element has a laminated structure in which an anode, an EL layer, and a cathode are laminated in this order on a substrate. When a voltage is applied between the anode and the cathode, holes and electrons are generated in the EL layer. Implanted and electroluminescent in the EL layer. An EL element designed so that light emitted from the EL layer is transmitted through a substrate on which an organic EL element is provided is referred to as a bottom emission type. An EL element designed to emit light is called a top emission type.

有機EL素子を用いた有機ELディスプレイパネルは、大きく分けて、パッシブ駆動方式のものと、アクティブマトリクス駆動方式のものに分類することができる。アクティブマトリクス駆動方式の有機ELディスプレイパネルの方が、高コントラスト、高精細といった点で、パッシブ駆動方式のものよりも優れている。   Organic EL display panels using organic EL elements can be broadly classified into a passive drive type and an active matrix drive type. The active matrix driving type organic EL display panel is superior to the passive driving type in terms of high contrast and high definition.

アクティブマトリクス駆動方式の有機ELディスプレイパネルでは、一画素につき一又は複数の薄膜トランジスタが設けられており、薄膜トランジスタによって有機EL素子を発光させる。例えば特許文献1に記載されたディスプレイパネルにおいては、画像データに応じた電圧信号がゲートに印加されて有機EL素子に電流を流す駆動トランジスタと、この駆動トランジスタのゲートに画像データに応じた電圧信号を供給するためのスイッチングを行うスイッチ用トランジスタとの、2つの薄膜トランジスタが画素ごとに設けられている。アクティブマトリクス駆動方式のディスプレイを製造するに際しては、薄膜トランジスタを画素ごとにパターニングしたトランジスタアレイ基板を作製した後にそのトランジスタアレイ基板の表面に有機EL素子を画素ごとにパターニングする。薄膜トランジスタの後に有機EL素子をパターニングするのは、薄膜トランジスタをパターニングする際の温度が有機EL素子の耐熱温度を越えてしまうためである。   In an active matrix driving type organic EL display panel, one or a plurality of thin film transistors are provided for each pixel, and the organic EL elements are caused to emit light by the thin film transistors. For example, in the display panel described in Patent Document 1, a voltage signal corresponding to image data is applied to the gate to cause a current to flow through the organic EL element, and a voltage signal corresponding to the image data is applied to the gate of the drive transistor. Two thin film transistors are provided for each pixel, including a switching transistor that performs switching to supply the voltage. In manufacturing an active matrix drive type display, a transistor array substrate in which thin film transistors are patterned for each pixel is manufactured, and then an organic EL element is patterned on the surface of the transistor array substrate for each pixel. The reason why the organic EL element is patterned after the thin film transistor is that the temperature at which the thin film transistor is patterned exceeds the heat resistance temperature of the organic EL element.

画素ごとに薄膜トランジスタがパターニングされているから、複数の有機EL素子をマトリクス状にパターニングするに際して薄膜トランジスタに接続する下層側のアノード電極(画素電極)を画素ごとに独立するようパターニングする。一方、カソード電極(対向電極)は全ての有機EL素子に共通電極としてべた一面に成膜する。   Since the thin film transistor is patterned for each pixel, when a plurality of organic EL elements are patterned in a matrix, the lower layer side anode electrode (pixel electrode) connected to the thin film transistor is patterned for each pixel independently. On the other hand, the cathode electrode (counter electrode) is formed on the entire surface as a common electrode for all organic EL elements.

複数の有機EL素子をマトリクス状にパターニングする方法としては、低分子型EL層を、所望のパターンを有するマスクを介して蒸着法で形成する方法や、高分子型有機EL層を、有機溶媒等に溶解させ、インクジェットプリンタやノズルコータで塗布する方法がある。
特開平8−330600号公報
As a method of patterning a plurality of organic EL elements in a matrix, a low molecular EL layer is formed by vapor deposition through a mask having a desired pattern, or a polymer organic EL layer is formed by using an organic solvent or the like. There is a method in which it is dissolved in and coated with an ink jet printer or a nozzle coater.
JP-A-8-330600

トップエミッション構造の有機ELディスプレイパネルにおいて、ドレイン電極(配線)材料にアルミニウム系金属を用い、透明アノード電極材料に錫ドープ酸化インジウム(以下、ITOと略記する。)を用いる場合、ドレイン電極(配線)を形成後、ITO電極を形成する工程がある。   In an organic EL display panel having a top emission structure, when an aluminum-based metal is used as a drain electrode (wiring) material and tin-doped indium oxide (hereinafter abbreviated as ITO) is used as a transparent anode electrode material, the drain electrode (wiring) After forming, there is a step of forming an ITO electrode.

この場合、ITO電極は500Å以下の非常に薄い膜厚となっているため、ピンホールが生じ易い。アルミニウム系金属を用いた電極上のITO電極に、そのようなピンホールが開いていると、ITO電極のパターニング時のエッチング工程で、以下に示す電池反応が起こる。ここで、電池反応とは、一般に、異種金属が接触していて、かつ、各々の金属が同じ電解液に接触している場合、片側の金属が陽極となり、他方が陰極となって化学反応が起こる現象のことである。即ち、陽極では還元反応、陰極では酸化反応が起こる。   In this case, since the ITO electrode has a very thin film thickness of 500 mm or less, pinholes are likely to occur. When such a pinhole is opened in the ITO electrode on the electrode using an aluminum-based metal, the battery reaction shown below occurs in the etching process when patterning the ITO electrode. Here, the battery reaction generally means that when different metals are in contact with each other and each metal is in contact with the same electrolyte solution, the metal reaction on one side becomes the anode, and the other becomes the cathode and the chemical reaction occurs. It is a phenomenon that occurs. That is, a reduction reaction occurs at the anode and an oxidation reaction occurs at the cathode.

図43は、絶縁下地層1上に形成されたアルミニウム系電極2にITO電極3が積層されていて、ITO電極3にピンホール4が開いている状態で、レジスト剥離液5に接触している場合を示している。なお、参照番号6は、絶縁膜である。   In FIG. 43, an ITO electrode 3 is laminated on an aluminum-based electrode 2 formed on an insulating base layer 1, and the ITO electrode 3 is in contact with the resist stripping solution 5 with a pinhole 4 open. Shows the case. Reference numeral 6 is an insulating film.

このような場合においては、図44(A)に示すように、そのピンホール4の箇所では、レジスト剥離液5が電解液として作用し、ITO電極3は還元され、アルミニウム系電極2は酸化されるため、アルミニウム系電極2のエッチングが進み、図44(B)に示すように、断線に至ることがある。   In such a case, as shown in FIG. 44A, the resist stripping solution 5 acts as an electrolytic solution at the pinhole 4 portion, the ITO electrode 3 is reduced, and the aluminum-based electrode 2 is oxidized. Therefore, the etching of the aluminum-based electrode 2 proceeds, and disconnection may occur as shown in FIG.

有機ELディスプレイパネルにおいては、このようなドレイン電極と透明アノード電極との接触構造がゲートやドレインの配線層とCOF(Chip on Film)やCOG(Chip on Grass)との接続を行うゲート配線端子部やドレイン配線端子部に存在する。即ち、それら端子部では、アルミニウム系合金性の配線層の露出部が存在し、ITO電極のエッチング時に激しく電池反応を起こすため、それらゲート配線端子部、ドレイン配線端子部における配線層の露出部をITO電極で完全に被覆する必要があるが、ITO電極にピンホールが開いていると、上記のような電池反応が起こり、歩留まりが著しく低下する問題があった。   In the organic EL display panel, such a contact structure between the drain electrode and the transparent anode electrode is used to connect a gate or drain wiring layer to a COF (Chip on Film) or COG (Chip on Grass). Or in the drain wiring terminal portion. That is, in these terminal portions, there are exposed portions of the aluminum-based alloy wiring layer, and a severe battery reaction occurs during etching of the ITO electrode. Therefore, the exposed portions of the wiring layers in the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion are Although it is necessary to completely cover with the ITO electrode, if the ITO electrode has a pinhole, the battery reaction as described above occurs and the yield is remarkably lowered.

本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、配線端子部におけるアルミニウム系金属製の配線層と透明アノード電極との接触部において、透明アノード電極にピンホールが開いていても歩留まり良く形成することの可能な、発光素子を用いたディスプレイパネル及びその製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and at the contact portion between the aluminum-based metal wiring layer and the transparent anode electrode in the wiring terminal portion, it is formed with high yield even if pinholes are opened in the transparent anode electrode. An object of the present invention is to provide a display panel using a light emitting element and a method for manufacturing the same.

本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの一態様は、透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルであって、基板と、前記基板上において、前記発光素子毎に設けられた、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタと、前記基板上において、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層と、前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆するように形成された絶縁膜と、前記発光素子の配列に対応して前記絶縁膜上に形成され、その上に前記発光素子の画素電極が形成される導電性の反射層と、前記配線層を外部と接続するための、前記配線層に達するまで前記絶縁膜に開口部が形成された配線端子部と、を具備し、前記配線端子部では、前記画素電極及び前記反射層の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部の内部にまで延在形成されて、前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされることを特徴とする。   One aspect of a display panel using the light-emitting element of the present invention is a display panel in which light-emitting elements having a laminated structure of transparent pixel electrodes, a light-emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix, and a substrate, A plurality of transistors for driving the light emitting elements provided for each of the light emitting elements on the substrate; a wiring layer for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors on the substrate; An insulating film formed so as to cover the plurality of transistors and the wiring layer, and a pixel electrode of the light emitting element is formed on the insulating film corresponding to the arrangement of the light emitting elements. An electrically conductive reflective layer; and a wiring terminal portion in which an opening is formed in the insulating film until reaching the wiring layer for connecting the wiring layer to the outside. In the child portion, the laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer extends to the inside of the opening formed in the insulating film, and is connected to the outside through the laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer. It is characterized in that conduction is made.

また、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの別の態様は、透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルであって、基板と、前記基板上において、前記発光素子毎に設けられた、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタと、前記基板上において、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層と、前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆するように形成された絶縁膜と、前記発光素子の配列に対応して前記絶縁膜上に形成され、その上に前記発光素子の画素電極が形成される導電性の反射層と、前記配線層を外部と接続するための、前記配線層に達するまで前記絶縁膜に開口部が形成された配線端子部と、前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部の内部で露出している前記配線層の全面を覆って形成された導電性の補助層と、を具備し、前記配線端子部では、前記画素電極及び前記反射層の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部内の前記補助層上まで延在形成されて、前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされることを特徴とする。   Another embodiment of the display panel using the light emitting device of the present invention is a display panel in which light emitting devices having a laminated structure of transparent pixel electrodes, a light emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix, A substrate, a plurality of transistors for driving the light emitting elements provided on the substrate, and a wiring for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors on the substrate; A layer, an insulating film formed so as to cover the plurality of transistors and the wiring layer, and a pixel electrode of the light emitting element formed on the insulating film corresponding to the arrangement of the light emitting elements. A conductive reflection layer to be formed; a wiring terminal portion in which an opening is formed in the insulating film until reaching the wiring layer for connecting the wiring layer to the outside; and the wiring end A conductive auxiliary layer formed so as to cover the entire surface of the wiring layer exposed in the opening formed in the insulating film of the portion, and in the wiring terminal portion, the pixel electrode And a laminated structure of the reflective layer is formed to extend over the auxiliary layer in the opening formed in the insulating film, and is electrically connected to the outside through the laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer. It is characterized by.

本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの製造方法の一態様は、透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルの製造方法であって、基板上に、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタを形成する工程と、前記基板上に、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層を形成する工程と、前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆する絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜に、前記配線層を外部と接続するための配線端子部において、前記配線層に達するまでの開口部を形成する工程と、前記発光素子の配列に対応して、前記絶縁膜上に、導電性の反射層を形成する工程と、前記反射膜上に、前記発光素子の画素電極を形成する工程と、前記発光素子の画素電極上に、前記発光素子の発光層を形成する工程と、前記発光素子の発光層上に、前記発光素子の対向電極を形成する工程と、を具備し、前記反射層を形成する工程及び前記画素電極を形成する工程は、前記配線端子部において、前記反射層と前記画素電極の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部の内部にまで延在して前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされるように、前記反射層及び前記画素電極を形成することを特徴とする。   One embodiment of a method for producing a display panel using the light emitting device of the present invention is a method for producing a display panel in which light emitting devices having a laminated structure of a transparent pixel electrode, a light emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix. A step of forming a plurality of transistors for driving the light emitting element on the substrate, and a step of forming a wiring layer for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors on the substrate; A step of forming an insulating film covering the plurality of transistors and the wiring layer, and a wiring terminal portion for connecting the wiring layer to the outside in the insulating film, wherein an opening to reach the wiring layer is formed Forming a conductive reflective layer on the insulating film corresponding to the arrangement of the light emitting elements, and forming a pixel electrode of the light emitting element on the reflective film. A step of forming a light emitting layer of the light emitting element on the pixel electrode of the light emitting element, and a step of forming a counter electrode of the light emitting element on the light emitting layer of the light emitting element, In the wiring terminal portion, the step of forming the reflective layer and the step of forming the pixel electrode are such that the laminated structure of the reflective layer and the pixel electrode extends into the opening formed in the insulating film. The reflective layer and the pixel electrode are formed so as to be electrically connected to the outside through a laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer.

また、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの製造方法の別の態様は、透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルの製造方法であって、基板上に、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタを形成する工程と、前記基板上に、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層を形成する工程と、前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆する絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜に、前記配線層を外部と接続するための配線端子部において、前記配線層に達するまでの開口部を形成する工程と、前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部の内部で露出している前記配線層の全面を覆うように導電性の補助層を形成する工程と、前記発光素子の配列に対応して、前記絶縁膜上に、導電性の反射層を形成する工程と、前記反射膜上に、前記発光素子の画素電極を形成する工程と、前記発光素子の画素電極上に、前記発光素子の発光層を形成する工程と、前記発光素子の発光層上に、前記発光素子の対向電極を形成する工程と、を具備し、前記反射層を形成する工程及び前記画素電極を形成する工程は、前記配線端子部において、前記反射層と前記画素電極の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部内の前記補助層上まで延在して前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされるように、前記反射層及び前記画素電極を形成することを特徴とする。   Another aspect of the method for manufacturing a display panel using the light emitting element of the present invention is a display panel in which light emitting elements having a laminated structure of a transparent pixel electrode, a light emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix. In the manufacturing method, a step of forming a plurality of transistors for driving the light emitting element on a substrate, and a wiring layer for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors on the substrate are formed. And a step of forming an insulating film covering the plurality of transistors and the wiring layer, and a wiring terminal portion for connecting the wiring layer to the outside on the insulating film until reaching the wiring layer Forming an opening, and forming a conductive auxiliary layer so as to cover the entire surface of the wiring layer exposed inside the opening formed in the insulating film of the wiring terminal portion. Corresponding to the arrangement of the light emitting elements, forming a conductive reflective layer on the insulating film, forming a pixel electrode of the light emitting element on the reflective film, Forming the light emitting layer of the light emitting element on the pixel electrode of the light emitting element, and forming the counter electrode of the light emitting element on the light emitting layer of the light emitting element, and forming the reflective layer And the step of forming the pixel electrode includes a step in which the laminated structure of the reflective layer and the pixel electrode extends to the auxiliary layer in the opening formed in the insulating film in the wiring terminal portion. The reflective layer and the pixel electrode are formed so as to be electrically connected to the outside through a laminated structure of the electrode and the reflective layer.

本発明によれば、配線端子部におけるアルミニウム系金属製の配線層と画素電極である透明アノード電極とを直接接触させるのではなく、それらの間にトップエミッション用の導電性の反射層を設けたので、透明アノード電極にピンホールが開いていても、電池反応は起こらず、歩留まり良く形成することが可能となる、発光素子を用いたディスプレイパネル及びその製造方法を提供することができる。   According to the present invention, a conductive reflective layer for top emission is provided between the wiring layer made of an aluminum-based metal in the wiring terminal portion and the transparent anode electrode as the pixel electrode instead of directly contacting them. Therefore, even if a pinhole is opened in the transparent anode electrode, a battery reaction does not occur, and a display panel using a light emitting element that can be formed with a high yield and a manufacturing method thereof can be provided.

また、本発明によれば、配線端子部におけるアルミニウム系金属製の配線層上に成膜された導電性の補助層であるアノード補助層と画素電極である透明アノード電極とを直接接触させるのではなく、それらアノード補助層と透明アノード電極との間にトップエミッション用の導電性の反射層を設けたので、透明アノード電極にピンホールが開いていても、電池反応は起こらず、歩留まり良く形成することが可能となる、発光素子を用いたディスプレイパネル及びその製造方法を提供することができる。   According to the present invention, the anode auxiliary layer, which is a conductive auxiliary layer formed on the wiring layer made of an aluminum-based metal in the wiring terminal portion, and the transparent anode electrode, which is a pixel electrode, are not in direct contact with each other. In addition, a conductive reflective layer for top emission is provided between the anode auxiliary layer and the transparent anode electrode, so that even if pinholes are opened in the transparent anode electrode, a cell reaction does not occur and it is formed with high yield. It is possible to provide a display panel using a light emitting element and a manufacturing method thereof.

以下に、本発明を実施するための最良の形態について図面を用いて説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい種々の限定が付されているが、発明の範囲を以下の実施形態及び図示例に限定するものではない。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings. However, although various technically preferable limitations for implementing the present invention are given to the embodiments described below, the scope of the invention is not limited to the following embodiments and illustrated examples.

[第1実施形態]
図1は、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの第1実施形態に係るアクティブマトリクス駆動方式の有機ELディスプレイパネル10の概略図であり、図2は、該有機ELディスプレイパネル10の平面図である。本実施形態は、発光素子として有機EL素子を使用したトップエミッション型のディスプレイパネルである。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a schematic view of an active matrix driving type organic EL display panel 10 according to a first embodiment of a display panel using a light emitting element of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of the organic EL display panel 10. It is. The present embodiment is a top emission type display panel using an organic EL element as a light emitting element.

図1及び図2に示すように、この有機ELディスプレイパネル10は、シート状又は板状の絶縁基板12と、互いに平行となるよう絶縁基板12上に配列されたn本(複数本)の信号線Y〜Yと、絶縁基板12を平面視して信号線Y〜Yに対して直交するよう絶縁基板12上に配列されたm本(複数本)の走査線X〜Xと、走査線X〜Xのそれぞれの間において走査線X〜Xと平行且つ互い違いとなるよう絶縁基板12上に配列されたm本(複数本)の給電配線14と、信号線Y〜Y及び走査線X〜Xに沿ってマトリクス状となるよう絶縁基板12上に配列された(m×n)群の画素回路P1,1〜Pm,nと、平面視して信号線Y〜Yに対して平行方向に設けられた共通配線16と、を備える。 As shown in FIGS. 1 and 2, the organic EL display panel 10 includes a sheet-like or plate-like insulating substrate 12 and n (plural) signals arranged on the insulating substrate 12 so as to be parallel to each other. and line Y 1 to Y n, the scanning lines X 1 to X of the m arranged on the insulating substrate 12 so as to orthogonal to the signal lines Y 1 to Y n in a plan view of the insulating substrate 12 (plural) and m, and the feed interconnection 14 of the scanning lines X 1 to X scanning line X between the respective m 1 to X m parallel and staggered with so as m lines arranged on an insulating substrate 12 (plural) signal (M × n) group of pixel circuits P 1,1 to P m, n arranged on the insulating substrate 12 so as to form a matrix along the lines Y 1 to Y n and the scanning lines X 1 to X m ; the common wiring 16 provided in a direction parallel to and in plan view the signal lines Y 1 to Y n, Provided.

以下では、信号線Y〜Yの延在した方向を垂直方向(列方向)といい、走査線X〜Xの延在した方向を水平方向(行方向)という。また、m,nは2以上の自然数であり、走査線Xに下付けした数字は図1及び図2において上からの配列順を表し、信号線Yに下付けした数字は図1及び図2において左からの配列順を表し、画素回路Pに下付けした数字の前側が上からの配列順を表し、後ろ側が左からの配列順を表す。即ち、1〜mのうちの任意の自然数をiとし、1からnのうちの任意の自然数をjとした場合に、走査線Xは上からi行目であり、信号線Yは左からj列目であり、画素回路Pi,jは上からi行目、左からj列目であり、画素回路Pi,jは走査線X、給電配線14及び信号線Yに接続されている。 Hereinafter, the extending direction of the signal lines Y 1 to Y n is referred to as a vertical direction (column direction), and the extending direction of the scanning lines X 1 to X m is referred to as a horizontal direction (row direction). Further, m and n are natural numbers of 2 or more, the numbers subscripted to the scanning line X represent the arrangement order from the top in FIGS. 1 and 2, and the numbers subscripted to the signal line Y are FIGS. Represents the arrangement order from the left, the front side of the numbers attached to the pixel circuit P represents the arrangement order from the top, and the rear side represents the arrangement order from the left. That is, when an arbitrary natural number of 1 to m is i and an arbitrary natural number of 1 to n is j, the scanning line X i is the i-th row from the top, and the signal line Y j is the left The pixel circuit P i, j is the i-th row from the top and the j-th column from the left, and the pixel circuit P i, j is connected to the scanning line X i , the power supply wiring 14 and the signal line Y j . Has been.

給電配線14は、例えば絶縁基板12の左側の端子18Lから給電電圧が印加され、走査線X〜Xは、例えば絶縁基板12の右側の端子18Rから走査電圧が印加される。また、信号線Y〜Yは、例えば絶縁基板12の上側の端子18Uから信号電圧が印加される。 Feed line 14, for example, power supply voltage is applied from the left terminal 18L of the insulating substrate 12, the scanning lines X 1 to X m, for example scanning voltage from right terminal 18R of the insulating substrate 12 is applied. Further, a signal voltage is applied to the signal lines Y 1 to Y n from, for example, the terminal 18U on the upper side of the insulating substrate 12.

共通配線16の総数は、n+1本であり、行方向に隣接する共通配線16はそれらの間に介在する発光素子である有機EL素子20の有機EL層を成膜時に仕切る隔壁としても機能している。共通配線16は、一端部側で、引き回し配線22Fと接続され、他端部側で、引き回し配線22Bと接続されている。それら引き回し配線22F,22Bは、共通配線16と同じ膜厚であり、前後方向に有機EL層を成膜時に仕切る隔壁としても機能している。共通配線16は、配線端子24によって外部と接続され、コモン電位Vcomが印加されている。   The total number of common wirings 16 is n + 1, and the common wirings 16 adjacent to each other in the row direction also function as partition walls for partitioning the organic EL layer of the organic EL element 20 which is a light emitting element interposed therebetween. Yes. The common wiring 16 is connected to the routing wiring 22F on one end side and is connected to the routing wiring 22B on the other end side. These lead-out wirings 22F and 22B have the same film thickness as the common wiring 16, and also function as partition walls that partition the organic EL layer in the front-rear direction. The common wiring 16 is connected to the outside by a wiring terminal 24 and is applied with a common potential Vcom.

このELディスプレイパネル10においては、走査線X〜Xと信号線Y〜Yとでマトリクス状に区画されたそれぞれの領域が表示画素を構成し、画素回路P1,1〜Pm,nが各領域に設けられている。 In this EL display panel 10, each region partitioned in a matrix by scanning lines X 1 to X m and signal lines Y 1 to Y n constitutes a display pixel, and pixel circuits P 1,1 to P m. , N are provided in each region.

何れの画素回路P1,1〜Pm,nも同一に構成されているので、画素回路P1,1〜画素回路Pm,nのうち任意の画素回路Pi,jについて説明する。図3は、画素回路Pi,jの等価回路図であり、図4及び図5は主に画素回路Pi,jの電極を示した平面図である。なお、図面を見やすくするために、図4においては画素回路Pi,jの透明アノード電極20aの図示を省略し、図5においては画素回路Pi,jの下層側の電極の図示を省略する。 Since any one of the pixel circuits P 1,1 to P m, n is configured in the same manner , an arbitrary pixel circuit P i, j among the pixel circuits P 1,1 to P m, n will be described. FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the pixel circuit P i, j , and FIGS. 4 and 5 are plan views mainly showing electrodes of the pixel circuit P i, j . In order to make the drawing easy to see , the transparent anode electrode 20a of the pixel circuit P i, j is not shown in FIG. 4, and the lower layer side electrode of the pixel circuit P i, j is not shown in FIG. .

画素回路Pi,jは、発光素子としての有機EL素子20と、有機EL素子20の周囲に配置された三つのNチャネル型のアモルファスシリコン薄膜トランジスタ(以下単にトランジスタと記述する。)26,28,30と、キャパシタ32と、を備える。以下では、トランジスタ26をスイッチトランジスタ26と、トランジスタ28を保持トランジスタ28と、トランジスタ30を駆動トランジスタ30と称する。なお、キャパシタ32として個別のキャパシタ素子を有するものであってもよく、また、駆動トランジスタ30のゲート・ソース電極間の寄生容量をキャパシタ32とするものであってもよい。 The pixel circuit P i, j includes an organic EL element 20 as a light emitting element, and three N-channel amorphous silicon thin film transistors (hereinafter simply referred to as transistors) 26 and 28 disposed around the organic EL element 20. 30 and a capacitor 32. Hereinafter, the transistor 26 is referred to as a switch transistor 26, the transistor 28 is referred to as a holding transistor 28, and the transistor 30 is referred to as a drive transistor 30. The capacitor 32 may have an individual capacitor element, or the parasitic capacitance between the gate and source electrodes of the driving transistor 30 may be the capacitor 32.

図3に示すように、画素回路Pi,jでは、スイッチトランジスタ26においては、そのソース電極26sが信号線Yに接続され、ドレイン電極26dが有機EL素子20の透明アノード電極20a、駆動トランジスタ30のソース電極30s及びキャパシタ32の電極32Bに接続され、ゲート電極26gが保持トランジスタ28のゲート電極28g及び走査線Xに接続されている。 As shown in FIG. 3, in the pixel circuit P i, j , in the switch transistor 26, the source electrode 26 s is connected to the signal line Y j , the drain electrode 26 d is the transparent anode electrode 20 a of the organic EL element 20, and the driving transistor. is connected to the electrode 32B of the source electrode 30s and the capacitor 32 of 30, the gate electrode 26g is connected to the gate electrode 28g and the scanning line X i of the holding transistor 28.

保持トランジスタ28においては、そのソース電極28sが駆動トランジスタ30のゲート電極30g及びキャパシタ32の電極32Aに接続され、ドレイン電極28dが駆動トランジスタ30のドレイン電極30d及び給電配線14に接続され、ゲート電極28gがスイッチトランジスタ26のゲート電極26g及び走査線Xに接続されている。 In the holding transistor 28, the source electrode 28s is connected to the gate electrode 30g of the driving transistor 30 and the electrode 32A of the capacitor 32, the drain electrode 28d is connected to the drain electrode 30d of the driving transistor 30 and the power supply wiring 14, and the gate electrode 28g. It is connected to a gate electrode 26g and the scanning line X i of the switch transistor 26.

駆動トランジスタ30においては、そのソース電極30sが有機EL素子20の透明アノード電極20a、スイッチトランジスタ26のドレイン電極26d及びキャパシタ32の電極32Bに接続され、ドレイン電極30dが保持トランジスタ28のドレイン電極28d及び給電配線14に接続され、ゲート電極30gが保持トランジスタ28のソース電極28s及びキャパシタ32の電極32Aに接続されている。   In the drive transistor 30, the source electrode 30 s is connected to the transparent anode electrode 20 a of the organic EL element 20, the drain electrode 26 d of the switch transistor 26 and the electrode 32 B of the capacitor 32, and the drain electrode 30 d is connected to the drain electrode 28 d of the holding transistor 28 and Connected to the power supply wiring 14, the gate electrode 30 g is connected to the source electrode 28 s of the holding transistor 28 and the electrode 32 A of the capacitor 32.

有機EL素子20においては、その透明アノード電極20aがスイッチトランジスタ26のドレイン26d、駆動トランジスタ30のソース30s及びキャパシタ32の電極32Bに接続され、透明カソード電極20cが共通配線16に接続されている。   In the organic EL element 20, the transparent anode electrode 20 a is connected to the drain 26 d of the switch transistor 26, the source 30 s of the drive transistor 30 and the electrode 32 B of the capacitor 32, and the transparent cathode electrode 20 c is connected to the common wiring 16.

図1乃至図5に示すように、ELディスプレイパネル10全体を平面視した場合、走査線X〜Xと給電配線14とは交互に配列され、また、信号線Y〜Yと共通配線16とは交互に配列されている。 As shown in FIGS. 1 to 5, when the entire EL display panel 10 is viewed in plan, the scanning lines X 1 to X m and the power supply wirings 14 are alternately arranged and are common to the signal lines Y 1 to Y n. The wirings 16 are arranged alternately.

図4及び図5に示すように、画素回路P1,1〜Pm,nのうち任意の画素回路Pi,jに着目した場合、平面視して、信号線Yと共通配線16との間であって、走査線Xと給電配線14との間には、これらによって囲繞された矩形領域が形成され、この矩形領域内に有機EL素子20の透明アノード電極20aが配置されている。従って、ELディスプレイパネル10全体を平面視した場合、複数の透明アノード電極20aがマトリクス状に配列されている。なお、透明アノード電極20aは、平面視した場合に図面上下方向に長尺な矩形状に設けられている。 4 and 5, when attention is paid to an arbitrary pixel circuit P i, j among the pixel circuits P 1,1 to P m, n , the signal line Y j and the common wiring 16 are be between, between the scanning line X i and the feed interconnection 14 is formed a rectangular region surrounded by these, the transparent anode electrode 20a of the organic EL element 20 is arranged in the rectangular region . Accordingly, when the entire EL display panel 10 is viewed in plan, the plurality of transparent anode electrodes 20a are arranged in a matrix. The transparent anode electrode 20a is provided in a rectangular shape that is long in the vertical direction of the drawing when viewed in plan.

平面視して、スイッチトランジスタ26及び保持トランジスタ28が信号線Yに沿うように配置され、それらスイッチトランジスタ26及び保持トランジスタ28が上記透明アノード電極20aの縁部に重なっている。これに対して、平面視して、駆動トランジスタ30が共通配線16に重なるよう配置されている。また、平面視して、キャパシタ32が上記透明アノード電極20aに重なっている。 In plan view, the switch transistor 26 and the holding transistor 28 are disposed along the signal line Yj , and the switch transistor 26 and the holding transistor 28 overlap the edge of the transparent anode electrode 20a. On the other hand, the driving transistor 30 is disposed so as to overlap the common wiring 16 in plan view. Further, in plan view, the capacitor 32 overlaps the transparent anode electrode 20a.

次に、本実施形態におけるELディスプレイパネル10の層構造について説明する。図6(A)は図4及び図5に示した画素回路部分のA−A線の矢視断面図であり、図6(B)は図2に示した端子18Uであるゲート配線端子部のB−B線の矢視断面図、図6(C)は図2に示した端子18L又は端子18Rであるドレイン配線端子部のC−C線の矢視断面図である。また、図7は、図4及び図5に示した画素回路部分のD−D線の矢視断面図である。   Next, the layer structure of the EL display panel 10 in this embodiment will be described. 6A is a cross-sectional view taken along line AA of the pixel circuit portion shown in FIGS. 4 and 5, and FIG. 6B is a diagram of the gate wiring terminal portion which is the terminal 18U shown in FIG. FIG. 6C is a cross-sectional view taken along the line B-B, and FIG. 6C is a cross-sectional view taken along the line C-C of the drain wiring terminal portion which is the terminal 18L or the terminal 18R shown in FIG. FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line DD of the pixel circuit portion shown in FIGS. 4 and 5.

図6(A)に示すように、駆動トランジスタ30は、絶縁基板12上に形成されたゲート電極30gと、ゲート電極30g上に形成されたゲート絶縁膜34と、ゲート絶縁膜34を挟んでゲート電極30gに対向した半導体膜30Aと、半導体膜30Aの中央部上に形成されたチャネル保護膜30Bと、半導体膜30Aの両端部上において互いに離間するよう形成され、チャネル保護膜30Bに一部重なった不純物半導体膜30Cと、不純物半導体膜30C上に形成されたクロム等からなる密着層36と、密着層36上に形成されたドレイン電極30d及びソース電極30sと、から構成されている。平面視した場合、駆動トランジスタ30のソース電極30sがコ字状に設けられていることで、駆動トランジスタ30のチャネル幅が広くなっている。   As shown in FIG. 6A, the driving transistor 30 includes a gate electrode 30g formed on the insulating substrate 12, a gate insulating film 34 formed on the gate electrode 30g, and a gate sandwiching the gate insulating film 34 therebetween. The semiconductor film 30A facing the electrode 30g, the channel protection film 30B formed on the central portion of the semiconductor film 30A, and the both sides of the semiconductor film 30A are formed so as to be separated from each other and partially overlap the channel protection film 30B. The impurity semiconductor film 30C, the adhesion layer 36 made of chromium or the like formed on the impurity semiconductor film 30C, and the drain electrode 30d and the source electrode 30s formed on the adhesion layer 36 are configured. When viewed in plan, the source electrode 30s of the drive transistor 30 is provided in a U shape, so that the channel width of the drive transistor 30 is widened.

なお、他のトランジスタ26,28は、この図6(A)の断面には示されていないが、同様の構造を有している。この場合、トランジスタ26〜30の各ドレイン26d〜30d及びソース26s〜30sはアルミニウム系金属の同じ材料層をパターニングして形成されている。   The other transistors 26 and 28 are not shown in the cross section of FIG. 6A, but have the same structure. In this case, the drains 26d to 30d and the sources 26s to 30s of the transistors 26 to 30 are formed by patterning the same material layer of an aluminum-based metal.

また、キャパシタ32は、図6(A)及び図7に示すように、絶縁基板12上に形成された下層側の電極32Aと、電極32A上に形成されたゲート絶縁膜34と、ゲート絶縁膜34及び密着層36を挟んで電極32Aに対向した上層側の電極32Bと、から構成されている。   As shown in FIGS. 6A and 7, the capacitor 32 includes a lower electrode 32A formed on the insulating substrate 12, a gate insulating film 34 formed on the electrode 32A, and a gate insulating film. 34 and an upper electrode 32B opposed to the electrode 32A with the adhesion layer 36 interposed therebetween.

画素回路P1,1〜Pm,nのスイッチトランジスタ26のゲート26g、保持トランジスタ28のゲート28g、駆動トランジスタ30のゲート30g及びキャパシタ32の電極32A並びに信号線Y〜Yは、絶縁基板12上にべた一面に成膜された同じ導電性膜をフォトリソグラフィー法・エッチング法によってパターニングしたものである。以下では、スイッチトランジスタ26のゲート26g、保持トランジスタ28のゲート28g、駆動トランジスタ30のゲート30g及びキャパシタ32の電極32A並びに信号線Y〜Yの元となる導電性膜をゲート配線層40と称する。 The gate 26g of the switch transistor 26, the gate 28g of the holding transistor 28, the gate 30g of the driving transistor 30, the electrode 32A of the capacitor 32, and the signal lines Y 1 to Y n of the pixel circuits P 1,1 to P m, n are formed on an insulating substrate. 12 is formed by patterning the same conductive film formed on the entire surface 12 by a photolithography method and an etching method. In the following description, the gate wiring layer 40 includes the gate 26g of the switch transistor 26, the gate 28g of the holding transistor 28, the gate 30g of the driving transistor 30, the electrode 32A of the capacitor 32, and the conductive film that is the source of the signal lines Y 1 to Y n. Called.

また、ゲート絶縁膜34は、画素回路P1,1〜Pm,nのスイッチトランジスタ26、保持トランジスタ28、駆動トランジスタ30及びキャパシタ32全てに共通した膜であり、面内にべた一面に成膜されている。従って、ゲート絶縁膜34は、スイッチトランジスタ26のゲート26g、保持トランジスタ28のゲート28g、駆動トランジスタ30のゲート30g及びキャパシタ32の電極32A並びに信号線Y〜Yを被覆している。 Further, the gate insulating film 34, the pixel circuit P 1, 1 to P m, n of the switch transistor 26, holding transistor 28, a common film to the driving transistor 30 and capacitor 32 all deposited Betaichimen in the plane Has been. Therefore, the gate insulating film 34 covers the gate 26g of the switch transistor 26, a gate 28g of the holding transistors 28, the electrodes 32A and the signal lines Y 1 to Y n of the gate 30g and the capacitor 32 of the drive transistor 30.

画素回路P1,1〜Pm,nのスイッチトランジスタ26のドレイン26d及びソース26s、保持トランジスタ28のドレイン28d及びソース28s、駆動トランジスタ30のドレイン30d及びソース30s、及びキャパシタ32の電極32B、並びに、走査線X〜X及び給電配線14は、ゲート絶縁膜34上に密着層36を介してべた一面に成膜された同じ導電性膜をフォトリソグラフィー法・エッチング法によってパターニングしたものである。以下では、これらトランジスタ26〜30の各ドレイン26d〜30d及びソース26s〜30s及びキャパシタ32の電極32B並びに走査線X〜X及び給電配線14の元となる導電性膜をドレイン配線層42と称する。なお、図4に示すように、スイッチトランジスタ26のドレイン26dと駆動トランジスタ30のソース30sとキャパシタ32の電極32Bとは、一体的な形状となるようにパターニングして形成されている。 The drain 26d and source 26s of the switch transistor 26, the drain 28d and source 28s of the holding transistor 28, the drain 30d and source 30s of the driving transistor 30, and the electrode 32B of the capacitor 32, and the pixel circuit P 1,1 to P m, n The scanning lines X 1 to X m and the power supply wiring 14 are obtained by patterning the same conductive film formed on the entire surface of the gate insulating film 34 through the adhesion layer 36 by the photolithography method and the etching method. . Hereinafter, the drains 26 d to 30 d and the sources 26 s to 30 s of the transistors 26 to 30, the electrode 32 B of the capacitor 32, the scanning lines X 1 to X m and the conductive film that is the source of the power supply wiring 14 are referred to as the drain wiring layer 42. Called. As shown in FIG. 4, the drain 26d of the switch transistor 26, the source 30s of the drive transistor 30, and the electrode 32B of the capacitor 32 are formed by patterning so as to be integrated.

また、図4に示すように、走査線Xは、ゲート絶縁膜34に形成されたコンタクトホール38を介してスイッチトランジスタ26のゲート26g及び保持トランジスタ28のゲート28gに導通し、信号線Yは、ゲート絶縁膜34に形成されたコンタクトホール41を介してスイッチトランジスタ26のソース26sに導通し、保持トランジスタ28のソース28sは、ゲート絶縁膜34に形成されたコンタクトホール43を介して駆動トランジスタ30のゲート30gに導通している。 Further, as shown in FIG. 4, the scanning line X i is electrically connected to the gate 26g of the switch transistor 26 and the gate 28g of the holding transistor 28 through the contact hole 38 formed in the gate insulating film 34, and the signal line Y j Is electrically connected to the source 26s of the switch transistor 26 through the contact hole 41 formed in the gate insulating film 34, and the source 28s of the holding transistor 28 is connected to the drive transistor through the contact hole 43 formed in the gate insulating film 34. 30 is electrically connected to the gate 30g.

上記スイッチトランジスタ26、保持トランジスタ28及び駆動トランジスタ30並びに走査線X〜X及び給電配線14は、べた一面に成膜された層間絶縁膜44によって被覆されている。 The switch transistor 26, the holding transistor 28, the driving transistor 30, the scanning lines X 1 to X m, and the power supply wiring 14 are covered with an interlayer insulating film 44 formed on the entire surface.

層間絶縁膜44には有機平坦化膜46が積層されており、スイッチトランジスタ26、保持トランジスタ28及び駆動トランジスタ30並びに走査線X〜X及び給電配線14による凹凸が、この有機平坦化膜46によって解消されている。 An organic planarizing film 46 is laminated on the interlayer insulating film 44, and unevenness due to the switch transistor 26, the holding transistor 28, the driving transistor 30, the scanning lines X 1 to X m and the power supply wiring 14 is formed on the organic planarizing film 46. Has been eliminated.

絶縁基板12から有機平坦化膜46までの積層構造をトランジスタアレイ基板48という。このトランジスタアレイ基板48においては、平面視して、スイッチトランジスタ26、保持トランジスタ28及び駆動トランジスタ30がマトリクス状に配列されている。   A stacked structure from the insulating substrate 12 to the organic planarization film 46 is referred to as a transistor array substrate 48. In the transistor array substrate 48, the switch transistors 26, the holding transistors 28, and the driving transistors 30 are arranged in a matrix in a plan view.

次に、トランジスタアレイ基板48の表面に積層された層構造について説明する。トランジスタアレイ基板48の表面上、即ち、有機平坦化膜46の表面上には、複数の透明アノード電極20aが、導電性且つ可視光反射性の高い反射層50を介して、マトリクス状に配列されている。この反射層50としては、クロムや銀、または銀合金を用いる。また、有機平坦化膜46(及び層間絶縁膜44)には、少なくとも一つの有機平坦化膜開口46’が設けられ、そこにコンタクトホール52が形成されている。このコンタクトホール52内には、上記反射層50及び透明アノード電極20aが延在されている。従って、透明アノード電極20aは、有機平坦化膜46及び層間絶縁膜44に形成されたコンタクトホール52を介して、キャパシタ32の電極32B及び駆動トランジスタ30のソース30s(及びスイッチトランジスタ26のドレイン26d)に導通している。有機平坦化膜46上に形成された層間絶縁膜54によって、コンタクトホール52の内部が、反射層50及び透明アノード電極20aを介して埋められている。   Next, the layer structure laminated on the surface of the transistor array substrate 48 will be described. On the surface of the transistor array substrate 48, that is, on the surface of the organic planarization film 46, a plurality of transparent anode electrodes 20 a are arranged in a matrix via a reflective layer 50 having high conductivity and high visible light reflectivity. ing. As the reflective layer 50, chromium, silver, or a silver alloy is used. The organic planarization film 46 (and the interlayer insulating film 44) is provided with at least one organic planarization film opening 46 ', and a contact hole 52 is formed there. In the contact hole 52, the reflection layer 50 and the transparent anode electrode 20a extend. Therefore, the transparent anode electrode 20a is connected to the electrode 32B of the capacitor 32 and the source 30s of the driving transistor 30 (and the drain 26d of the switch transistor 26) through the contact hole 52 formed in the organic planarization film 46 and the interlayer insulating film 44. Is conducting. The inside of the contact hole 52 is filled with the interlayer insulating film 54 formed on the organic planarizing film 46 via the reflective layer 50 and the transparent anode electrode 20a.

透明アノード電極20aは、有機EL素子20の画素電極である。即ち、透明アノード電極20aの仕事関数が比較的高く、後述する発光層20eへ正孔を効率よく注入するものが好ましい。また、透明アノード電極20aは、可視光に対して透過性を有している。透明アノード電極20aとしては、例えば、ITO、亜鉛ドープ酸化インジウム、酸化インジウム(In)、酸化スズ(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)又はカドミウム−錫酸化物(CTO)を主成分としたものがある。本実施形態では、ITOとする。 The transparent anode electrode 20 a is a pixel electrode of the organic EL element 20. That is, it is preferable that the transparent anode electrode 20a has a relatively high work function and efficiently injects holes into the light emitting layer 20e described later. Further, the transparent anode electrode 20a is transmissive to visible light. As the transparent anode electrode 20a, for example, ITO, zinc-doped indium oxide, indium oxide (In 2 0 3 ), tin oxide (SnO 2 ), zinc oxide (ZnO), or cadmium-tin oxide (CTO) is a main component. There is what I did. In this embodiment, ITO is used.

隣接する透明アノード電極20a間には、クロム(Cr)、チタン(Ti)等からなる密着層56がパターニングされている。具体的には、密着層56は、共通配線16の下地層として列方向に延在する格子状に形成されている。水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間の密着層56の上には、列方向に沿って共通配線16がそれぞれ積層されている。   An adhesion layer 56 made of chromium (Cr), titanium (Ti) or the like is patterned between the adjacent transparent anode electrodes 20a. Specifically, the adhesion layer 56 is formed in a lattice shape extending in the column direction as a base layer of the common wiring 16. On the adhesion layer 56 between the transparent anode electrodes 20a adjacent in the horizontal direction, the common wiring 16 is laminated along the column direction.

共通配線16は、信号線Y〜Y、走査線X〜X及び給電配線14並びにトランジスタ26〜30のゲート電極やソース、ドレイン電極よりも十分に厚い。共通配線16は銅、アルミニウム、金、ニッケルのうちの少なくともいずれかを含む。 Common wiring 16, the signal lines Y 1 to Y n, the scanning lines X 1 to X m and the gate electrode and the source of the feed interconnection 14 and transistors 26 to 30, sufficiently thicker than the drain electrode. The common wiring 16 includes at least one of copper, aluminum, gold, and nickel.

共通配線16の表面には、撥水性・撥油性を有した撥液性導電膜58が成膜されている。撥液性導電膜58は、トリアジルトリチオールのチオール基(−SH)の水素原子(H)が還元離脱し、硫黄原子(S)が共通配線16の表面に酸化吸着したものである。   A liquid repellent conductive film 58 having water and oil repellency is formed on the surface of the common wiring 16. In the liquid repellent conductive film 58, the hydrogen atom (H) of the thiol group (—SH) of triazyltrithiol is reduced and released, and the sulfur atom (S) is oxidized and adsorbed on the surface of the common wiring 16.

撥液性導電膜58はトリアジルトリチオール分子が共通配線16の表面に規則正しく並んだ分子一層からなる膜であるから、撥液性導電膜58が非常に低抵抗であって導電性を有する。なお、撥水性・撥油性を顕著にするためにトリアジルトリチオールに代えて、トリアジルトリチオールの1又は2のチオール基がフツ化アルキル基に置換されたものでも良い。   Since the liquid repellent conductive film 58 is a film composed of a single layer of molecules in which triazyltrithiol molecules are regularly arranged on the surface of the common wiring 16, the liquid repellent conductive film 58 has a very low resistance and is conductive. In addition, in order to make water repellency and oil repellency remarkable, it may replace with triazyl trithiol and the thiol group of 1 or 2 of triazyl trithiol may be substituted by the fluoroalkyl group.

透明アノード電極20a上には、有機EL素子20の有機EL層が成膜されている。有機EL層は広義の発光層であり、有機EL層には、有機化合物である発光材料(蛍光体)が含有されている。有機EL層は、透明アノード電極20aから順に正孔注入層20h、狭義の発光層20eの順に積層した多層構造である。正孔注入層20hは、導電性高分子であるPEDOT(ポリチオフェン)及びドーパントであるPSS(ポリスチレンスルホン酸)からなり、狭義の発光層20eは、ポリフルオレン系発光材料からなる。   The organic EL layer of the organic EL element 20 is formed on the transparent anode electrode 20a. The organic EL layer is a light-emitting layer in a broad sense, and the organic EL layer contains a light-emitting material (phosphor) that is an organic compound. The organic EL layer has a multilayer structure in which a hole injection layer 20h and a narrowly-defined light emitting layer 20e are sequentially stacked from the transparent anode electrode 20a. The hole injection layer 20h is made of PEDOT (polythiophene) which is a conductive polymer and PSS (polystyrene sulfonic acid) which is a dopant, and the light emitting layer 20e in a narrow sense is made of a polyfluorene light emitting material.

有機EL層は、撥液性導電膜58のコーティング後に湿式塗布法(例えば、インクジェット法)によって成膜される。この場合、透明アノード電極20aに有機EL層となる有機化合物を含有する有機化合物含有液を塗布するが、この有機化合物含有液の液面は、層間絶縁膜54の頭頂部よりも高い。水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間に頭頂部が層間絶縁膜54の頭頂部よりも十分高い厚膜の共通配線16が設けられているから、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液が水平方向に隣り合う透明アノード電極20aに漏れることがないように堰き止めている。また、共通配線16には撥水性・撥油性の撥液性導電膜58がコーティングされているから、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液をはじくので、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液が透明アノード電極20aの中央に対して絶縁膜56の角部付近で極端に厚く堆積されなくなるので、有機化合物含有液が乾燥してなる有機EL層を均一な膜厚で成膜することができる。   The organic EL layer is formed by a wet application method (for example, an ink jet method) after coating the liquid repellent conductive film 58. In this case, an organic compound-containing liquid containing an organic compound that becomes an organic EL layer is applied to the transparent anode 20 a, and the liquid level of the organic compound-containing liquid is higher than the top of the interlayer insulating film 54. Since the common wiring 16 having a thick film whose top is sufficiently higher than the top of the interlayer insulating film 54 is provided between the transparent anodes 20a adjacent in the horizontal direction, the organic compound-containing liquid applied to the transparent anode 20a. Is dammed so as not to leak into the transparent anode electrode 20a adjacent in the horizontal direction. Further, since the common wiring 16 is coated with a water-repellent / oil-repellent liquid-repellent conductive film 58, it repels the organic compound-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a, so that it is applied to the transparent anode electrode 20a. Since the organic compound-containing liquid is not deposited extremely thick near the corner of the insulating film 56 with respect to the center of the transparent anode electrode 20a, an organic EL layer formed by drying the organic compound-containing liquid is formed with a uniform film thickness. can do.

このように共通配線16間に有機EL層を成膜することによって、赤色に発光する有機EL層が成膜された領域、緑色に発光する有機EL層が成膜された領域、青色に発光する有機EL層が成膜された領域がこの順に配列したストライプ構造を構成し、同列の複数の画素は同色に発光する。   By forming an organic EL layer between the common wirings 16 in this way, a region where an organic EL layer emitting red light is formed, a region where an organic EL layer emitting green light is formed, and blue light emission. A region where the organic EL layer is formed forms a stripe structure arranged in this order, and a plurality of pixels in the same column emit light of the same color.

平面視した場合、塗布された有機化合物含有液は、水平方向の左右側をそれぞれ共通配線16のいずれかに仕切られているため垂直方向に各列毎に一様に分布するので、垂直方向に配列された複数の有機EL層は何れも同じ層構造であり、同じ色に発光する。なお、透明アノード電極20a及び有機EL層は図面上下方向に沿って帯状に長尺であるとしたが、図面左右方向に長尺であってもよい。   When viewed in a plan view, the applied organic compound-containing liquid is uniformly distributed in each column in the vertical direction because the left and right sides in the horizontal direction are each partitioned into one of the common wirings 16, so that the vertical direction The plurality of arranged organic EL layers all have the same layer structure and emit light in the same color. Although the transparent anode electrode 20a and the organic EL layer are elongated in the shape of a band along the vertical direction of the drawing, they may be long in the horizontal direction of the drawing.

なお、有機EL層は、上記層構造の他に、透明アノード電極20aから順に正孔注入層20h、狭義の発光層20e、電子注入層となる三層構造であっても良いし、狭義の発光層20eからなる一層構造であっても良いし、これらの層構造において更に電子或いは正孔の輸送層が介在した積層構造であっても良いし、電子或いは正孔の注入層に代えて電子或いは正孔の輸送層を介在しても良いし、その他の積層構造であっても良い。   In addition to the above layer structure, the organic EL layer may have a three-layer structure that becomes a hole injection layer 20h, a light emitting layer 20e in a narrow sense, and an electron injection layer in order from the transparent anode electrode 20a, or light emission in a narrow sense. A single layer structure composed of the layer 20e may be used, or a laminated structure in which an electron or hole transport layer is further interposed in these layer structures, or an electron or hole injection layer may be used instead of the electron or hole injection layer. A hole transport layer may be interposed, or another laminated structure may be used.

有機EL層上には、有機EL素子20の対向電極である透明カソード電極20cが成膜されている。透明カソード電極20cは、全ての画素に共通して形成された共通電極であり、べた一面に成膜されている。透明カソード電極20cがべた一面に成膜されることで、透明カソード電極20cが撥液性導電膜58を挟んで共通配線16を被覆している。そのため、図3の回路図に示すように、透明カソード電極20cは共通配線16に対して導通している。   On the organic EL layer, a transparent cathode electrode 20c that is a counter electrode of the organic EL element 20 is formed. The transparent cathode electrode 20c is a common electrode formed in common for all pixels, and is formed on the entire surface. The transparent cathode electrode 20c is formed on the entire surface, so that the transparent cathode electrode 20c covers the common wiring 16 with the liquid repellent conductive film 58 interposed therebetween. Therefore, as shown in the circuit diagram of FIG. 3, the transparent cathode electrode 20 c is electrically connected to the common wiring 16.

透明カソード電極20cは、透明アノード電極20aよりも仕事関数の低い材料で形成されており、例えば、マグネシウム、カルシウム、リチウム、バリウム、インジウム、希土類金属の少なくとも一種を含む単体又は合金で形成されていることが好ましい。また、透明カソード電極20cは、上記各種材料の層が積層された積層構造となっていても良いし、以上の各種材料の層に加えてシート抵抗を低くするために酸化されにくい金属層が堆積した積層構造となっていても良く、具体的には、有機EL層と接する界面側に設けられた低仕事関数の高純度のバリウム層と、バリウム層を被覆するように設けられたアルミニウム層との積層構造や、下層にリチウム層、上層にアルミニウム層が設けられた積層構造が挙げられる。また、透明カソード電極20cを上述のような低仕事関数の薄膜とその上にITO等の透明導電膜を積層した透明電極としてもよい。   The transparent cathode electrode 20c is formed of a material having a work function lower than that of the transparent anode electrode 20a. For example, the transparent cathode electrode 20c is formed of a simple substance or an alloy containing at least one of magnesium, calcium, lithium, barium, indium, and a rare earth metal. It is preferable. In addition, the transparent cathode electrode 20c may have a laminated structure in which layers of the above various materials are laminated. In addition to the above layers of various materials, a metal layer that is not easily oxidized is deposited in order to reduce sheet resistance. Specifically, a low-work function high-purity barium layer provided on the interface side in contact with the organic EL layer, and an aluminum layer provided so as to cover the barium layer, And a laminated structure in which a lower layer is provided with a lithium layer and an upper layer is provided with an aluminum layer. The transparent cathode electrode 20c may be a transparent electrode in which a thin film having a low work function as described above and a transparent conductive film such as ITO are laminated thereon.

透明カソード電極20c上には、封止絶縁薄膜60が成膜されている。この封止絶縁薄膜60は、透明カソード電極20c全体を被覆し、透明カソード電極20cの劣化を防止するために設けられている透明な無機膜又は有機膜である。   A sealing insulating thin film 60 is formed on the transparent cathode electrode 20c. The sealing insulating thin film 60 is a transparent inorganic film or organic film that covers the entire transparent cathode electrode 20c and is provided to prevent deterioration of the transparent cathode electrode 20c.

なお、従来、トップエミッション型構造のELディスプレイパネルでは、透明カソード電極20cの少なくとも一部に金属酸化物のように抵抗値が比較的高い透明電極が用いられていた。このような材料は十分に厚くしなければシート抵抗が十分に低くならないが、厚くすることによって必然的に有機EL素子の透過率が下がってしまい、大画面になるほど面内で均一の電位になりにくく表示特性が低くなってしまっていた。しかしながら、本実施形態では、垂直方向に十分に厚くして低抵抗とした複数の共通配線16を設けているので、透明カソード電極20cと合わせて有機EL素子20のカソード電極全体の抵抗値を下げ、十分且つ面内で均一に大電流を流すことが可能となる。さらにこのような構造では、共通配線16がカソード電極の抵抗を下げているので、透明カソード電極20cを薄膜にして透過率を向上させることが可能である。   Conventionally, in an EL display panel having a top emission type structure, a transparent electrode having a relatively high resistance value such as a metal oxide has been used for at least a part of the transparent cathode electrode 20c. If such a material is not thick enough, the sheet resistance will not be sufficiently low. However, by increasing the thickness, the transmittance of the organic EL element will inevitably decrease, and the larger the screen, the more uniform the potential in the plane. It was difficult to display the display characteristics. However, in this embodiment, since the plurality of common wirings 16 that are sufficiently thick in the vertical direction and have a low resistance are provided, the resistance value of the entire cathode electrode of the organic EL element 20 is lowered together with the transparent cathode electrode 20c. It is possible to flow a large current sufficiently and uniformly in a plane. Further, in such a structure, since the common wiring 16 reduces the resistance of the cathode electrode, it is possible to improve the transmittance by making the transparent cathode electrode 20c a thin film.

また、従来のELディスプレイパネルでは透明アノード電極20aをドレイン配線層42上に成膜していたが、本実施形態では、透明アノード電極20aを、クロムや銀または銀合金でなる反射層50を完全に覆う形で形成し、その反射層50は、コンタクトホール52の部分においてドレイン配線層42が露出している領域を完全に覆う形で形成されている。従って、従来は、コンタクトホール52の部分において透明アノード電極20aにピンホールが開いていると、透明アノード電極20a(例えばITO)とドレイン配線層42(例えばアルミニウム系金属)との組み合わせにより、レジスト剥離液中での電池反応によってドレイン配線層42が断線してしまうことがあったが、本実施形態では、そのようなピンホールが開いていても、透明アノード電極20a(例えばITO)と反射層50(例えばクロム)の組み合わせは、従来の組み合わせに比べ、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く接触部を形成できる。更に、反射層50の材料として銀や銀合金を選択すれば、同様にレジスト剥離液中での電池反応は抑えられ、かつ、クロムに比べて反射率も高いので、良好な反射層を形成できる。   Further, in the conventional EL display panel, the transparent anode electrode 20a is formed on the drain wiring layer 42. However, in this embodiment, the transparent anode electrode 20a is completely formed of the reflective layer 50 made of chromium, silver, or a silver alloy. The reflective layer 50 is formed so as to completely cover the region where the drain wiring layer 42 is exposed in the contact hole 52 portion. Therefore, conventionally, when a pin hole is opened in the transparent anode electrode 20a in the contact hole 52, the resist is peeled off by a combination of the transparent anode electrode 20a (for example, ITO) and the drain wiring layer 42 (for example, aluminum-based metal). Although the drain wiring layer 42 may be disconnected due to the battery reaction in the liquid, in this embodiment, even if such a pinhole is opened, the transparent anode electrode 20a (for example, ITO) and the reflective layer 50 are formed. Since the combination of (for example, chromium) does not proceed with the battery reaction in the resist stripping solution as compared with the conventional combination, the contact portion can be formed with high yield. Furthermore, if silver or a silver alloy is selected as the material of the reflective layer 50, the battery reaction in the resist stripping solution can be similarly suppressed, and the reflectance is higher than that of chromium, so that a favorable reflective layer can be formed. .

一方、信号線Y〜Yを該有機ELディスプレイパネル10の外部回路に接続するための端子18Uであるゲート配線端子部については、図6(B)に示すように、信号線Y〜Yの元となる導電性膜であるゲート配線層40上に、密着層36を介して、ドレイン配線層42が成膜されている。このドレイン配線層42は、上述したように、トランジスタ26〜30の各ドレイン26d〜30d及びソース26s〜30s及びキャパシタ32の電極32B並びに走査線X〜X及び給電配線14を形成する際に形成される。そして、このドレイン配線層42の上に、上記コンタクトホール52の部分と同様に、ドレイン配線層42が露出している領域を完全に覆う形で反射層50を形成し、更に、透明アノード電極20aを、その反射層50を完全に覆う形で形成している。従って、このゲート配線端子部においても、上記コンタクトホール52の部分と同様に、透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く端子部を形成できる。 On the other hand, for the gate wiring terminal portion is a terminal 18U for connecting the signal line Y 1 to Y n in the external circuit of the organic EL display panel 10, as shown in FIG. 6 (B), the signal lines Y 1 ~ on the gate wiring layer 40 is the underlying conductive film of Y n, via an adhesion layer 36, drain wiring layer 42 is deposited. The drain wiring layer 42, as described above, when forming the electrode 32B and the scanning lines X 1 to X m and the feed interconnection 14 of each drain 26d~30d and source 26s~30s and capacitor 32 of the transistor 26 to 30 It is formed. Then, a reflective layer 50 is formed on the drain wiring layer 42 so as to completely cover the region where the drain wiring layer 42 is exposed, like the contact hole 52, and further, the transparent anode 20a. Are formed so as to completely cover the reflective layer 50. Therefore, in this gate wiring terminal portion as well, as in the contact hole 52 portion, even if a pin hole is opened in the transparent anode electrode 20a, the battery reaction in the resist stripping solution does not proceed. Can be formed.

また、走査線X〜Xや給電配線14を該有機ELディスプレイパネル10の外部回路に接続するための端子18L,18Rであるドレイン配線端子部については、図6(C)に示すように、走査線X〜Xや給電配線14の元となる導電性膜であるドレイン配線層42上に、上記コンタクトホール52の部分と同様に、このドレイン配線層42が露出している領域を完全に覆う形で反射層50を形成し、更に、透明アノード電極20aを、その反射層50を完全に覆う形で形成している。従って、このドレイン配線端子部においても、上記コンタクトホール52の部分と同様に、透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く端子部を形成できる。 The terminal 18L for connecting the scanning lines X 1 to X m and the power supply wiring 14 to an external circuit of the organic EL display panel 10, the drain wiring terminal portion is 18R, as shown in FIG. 6 (C) is the underlying conductive film of the scanning lines X 1 to X m and the power supply wiring 14 on the drain wiring layer 42, similarly to the portion of the contact hole 52, the area where the drain wiring layer 42 is exposed The reflective layer 50 is formed so as to be completely covered, and the transparent anode electrode 20a is further formed so as to completely cover the reflective layer 50. Accordingly, in this drain wiring terminal portion as well, as with the contact hole 52 portion, even if a pin hole is opened in the transparent anode electrode 20a, the battery reaction in the resist stripping solution does not proceed, so the terminal portion has high yield. Can be formed.

次に、本実施形態におけるELディスプレイパネル10の製造方法について説明する。図8(A)乃至図22(A)は、図6(A)に示したような画素回路部分における各工程での断面図を示しており、同じく、図8(B)乃至図22(B)は図6(B)に示したようなゲート配線端子部、図8(C)乃至図22(C)は図6(C)に示したようなドレイン配線端子部における各工程での断面図を示している。   Next, a method for manufacturing the EL display panel 10 in the present embodiment will be described. FIGS. 8A to 22A are cross-sectional views at each step in the pixel circuit portion as shown in FIG. 6A. Similarly, FIGS. 8B to 22B are shown. ) Is a gate wiring terminal portion as shown in FIG. 6B, and FIGS. 8C to 22C are cross-sectional views at each step in the drain wiring terminal portion as shown in FIG. 6C. Is shown.

まず、第1の工程としてゲート形成工程を実施する。即ち、このゲート形成工程においては、まず、絶縁基板12上に、CVD、PVD、スパッタリングといった気相成長法によってゲート配線層40をべた一面に成膜する。次に、そのゲート配線層40に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、各画素回路P1,1〜Pm,nのゲート26g,28g,30g及び電極32A並びに信号線Y〜Yをパターニングする。この工程の終了時点においては、画素回路部分及びゲート配線端子部では、図8(A)及び(B)に示すように、絶縁基板12上にゲート配線層40のパターンが残され、ドレイン配線端子部では、図8(C)に示すように絶縁基板12上からはゲート配線層40が除去されることとなる。 First, a gate formation step is performed as a first step. That is, in this gate formation step, first, the gate wiring layer 40 is formed on the entire surface of the insulating substrate 12 by vapor deposition such as CVD, PVD, or sputtering. Next, by applying a photolithography etching method in order for the gate wiring layer 40, the pixel circuits P 1, 1 to P m, n of the gate 26 g, 28 g, 30 g and the electrodes 32A and the signal lines Y 1 patterning the ~Y n. At the end of this step, the pattern of the gate wiring layer 40 is left on the insulating substrate 12 in the pixel circuit portion and the gate wiring terminal portion as shown in FIGS. In the portion, the gate wiring layer 40 is removed from the insulating substrate 12 as shown in FIG.

次に、第2の工程としてチャネル保護膜形成工程を実施する。即ち、このチャネル保護膜形成工程においては、まず、気相成長法によってゲート絶縁膜34をべた一面に成膜する。更にその上に、気相成長法によって半導体膜30Aをべた一面に成膜する。次に、気相成長法・フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、各画素回路P1,1〜Pm,nのチャネル保護膜30Bをパターニングする。この工程の終了時点においては、画素回路部分では、図9(A)に示すように、半導体膜30A上にチャネル保護膜30Bのパターンが残され、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部では、図9(B)及び(C)に示すように、半導体膜30A上からはチャネル保護膜30Bが除去されることとなる。 Next, a channel protective film forming step is performed as a second step. That is, in this channel protective film forming step, first, the gate insulating film 34 is formed on the entire surface by vapor deposition. Further thereon, a semiconductor film 30A is formed on the entire surface by vapor deposition. Next, the channel protective film 30B of each of the pixel circuits P 1,1 to P m, n is patterned by sequentially performing a vapor deposition method, a photolithography method, and an etching method. At the end of this step, in the pixel circuit portion, as shown in FIG. 9A, the pattern of the channel protective film 30B is left on the semiconductor film 30A, and in the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion, FIG. As shown in FIGS. 9B and 9C, the channel protective film 30B is removed from the semiconductor film 30A.

次に、第3の工程としてソース・ドレイン形成工程を実施する。即ち、このソース・ドレイン形成工程においては、まず、気相成長法・フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって各画素回路P1,1〜Pm,nのドレイン26d,28d,30d及びソース26s,28s,30sをパターニングする。そして更に、フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって半導体膜30Aをパターニングする。この工程の終了時点においては、画素回路部分では、図10(A)に示すように、ゲート絶縁膜34上に、各画素回路P1,1〜Pm,nのドレイン26d,28d,30d及びソース26s,28s,30sのパターンが半導体膜30A及びチャネル保護膜30Bを介して残され、それら半導体膜30A及びチャネル保護膜30Bは、上記ドレイン26d,28d,30d及びソース26s,28s,30sのパターン部を除いては除去される。また、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部では、図10(B)及び(C)に示すように、ゲート絶縁膜34上から半導体膜30Aが除去されることとなる。 Next, a source / drain formation step is performed as a third step. That is, in this source / drain formation step, first, the vapor deposition method, the photolithographic method, and the etching method are sequentially performed, so that the drains 26d, 28d, and 30d of the pixel circuits P 1,1 to P m, n and the source are formed. 26s, 28s, and 30s are patterned. Further, the semiconductor film 30A is patterned by sequentially performing a photolithography method and an etching method. At the end of this process, in the pixel circuit portion, as shown in FIG. 10A , the drains 26d, 28d, 30d of the pixel circuits P 1,1 to P m, n and The patterns of the sources 26s, 28s, and 30s are left through the semiconductor film 30A and the channel protective film 30B, and the semiconductor films 30A and the channel protective film 30B are the patterns of the drains 26d, 28d, and 30d and the sources 26s, 28s, and 30s. It is removed except for the part. Further, in the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion, as shown in FIGS. 10B and 10C, the semiconductor film 30A is removed from the gate insulating film 34.

次に、第4の工程としてゲート絶縁膜コンタクト形成工程を実施する。即ち、このゲート絶縁膜コンタクト形成工程においては、フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図11(B)に示すように、ゲート配線端子部からゲート絶縁膜34を除去してコンタクト部を形成する。なお、この工程の終了時点において、画素回路部分及びドレイン配線端子部については、図11(A)及び(C)に示すように、先の第3の工程終了時の上記図10(A)及び(C)に示す状態と変化はない。   Next, a gate insulating film contact formation step is performed as a fourth step. That is, in this gate insulating film contact formation step, by performing photolithography and etching in order, the gate insulating film 34 is removed from the gate wiring terminal portion as shown in FIG. Form. At the end of this step, the pixel circuit portion and the drain wiring terminal portion, as shown in FIGS. 11 (A) and (C), are shown in FIG. 10 (A) and FIG. There is no change from the state shown in (C).

次に、第5の工程としてドレイン配線層形成工程を実施する。即ち、このドレイン配線層形成工程においては、まず、気相成長法によってクロム等の密着層36をゲート絶縁膜34上にべた一面に成膜する。次に、その密着層36に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、各画素回路P1,1〜Pm,nのドレイン26d,28d,30d、ソース26s,28s,30s上、及び電極32B並びに走査線X〜X及び給電配線14となる部分をパターニングする。そして更に、その上に、気相成長法によってドレイン配線層42をべた一面に成膜する。次に、そのドレイン配線層42に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、各画素回路P1,1〜Pm,nのドレイン26d,28d,30d、ソース26s,28s,30s上、及び電極32B並びに走査線X〜X及び給電配線14となる部分をパターニングする。この工程の終了時点においては、図12(A)乃至(C)に示すように、密着層36及びドレイン配線層42の層構造がパターニングされることとなる。 Next, a drain wiring layer forming step is performed as a fifth step. That is, in this drain wiring layer forming step, first, an adhesion layer 36 of chromium or the like is formed on the entire surface of the gate insulating film 34 by vapor deposition. Next, a photolithography method and an etching method are sequentially performed on the adhesion layer 36, whereby the drains 26d, 28d, and 30d, and the sources 26s, 28s, and 30s of the pixel circuits P 1,1 to P m, n are obtained. and patterning the electrode 32B and to become partial scan lines X 1 to X m and the feed interconnection 14. Further, the drain wiring layer 42 is formed on the entire surface by vapor deposition. Next, a photolithography method and an etching method are sequentially performed on the drain wiring layer 42, whereby the drains 26d, 28d, and 30d and the sources 26s, 28s, and 30s of the pixel circuits P 1,1 to P m, n are formed. and patterning the electrode 32B and to become partial scan lines X 1 to X m and the feed interconnection 14. At the end of this step, as shown in FIGS. 12A to 12C, the layer structure of the adhesion layer 36 and the drain wiring layer 42 is patterned.

次に、第6の工程として層間絶縁膜形成工程を実施する。即ち、この層間絶縁膜形成工程においては、まず、気相成長法によって層間絶縁膜44をべた一面に成膜する。その後、その層間絶縁膜44に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図13(A)乃至(C)に示すように、各画素回路P1,1〜Pm,nのコンタクトホール52となる部分、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部から、その層間絶縁膜44を除去する。 Next, an interlayer insulating film forming step is performed as a sixth step. That is, in this interlayer insulating film forming step, first, the interlayer insulating film 44 is formed on the entire surface by vapor deposition. Thereafter, the interlayer insulating film 44 is sequentially subjected to a photolithography method and an etching method, so that the contact of each pixel circuit P 1,1 to P m, n is obtained as shown in FIGS. The interlayer insulating film 44 is removed from the portion to be the hole 52 and the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第7の工程として有機平坦化膜形成工程を実施する。即ち、この有機平坦化膜形成工程においては、まず、層間絶縁膜44全体に樹脂を塗布し、その樹脂を乾燥させることで、2μm程度の有機平坦化膜46をべた一面に成膜する。勿論、この膜厚は一例であり、有機ELディスプレイパネル10のサイズが大きいものであれば厚く、小さいものであれば薄く形成する。そして、図14(A)乃至(C)に示すように、露光現像法により各画素回路P1,1〜Pm,nのコンタクトホール52となる部分、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部から、その有機平坦化膜46に溝状の開口部(有機平坦化膜開口46')をそれぞれ形成した後、ポストベーク(熱処理)法により有機平坦化膜46を硬化させる。 Next, an organic planarizing film forming step is performed as a seventh step. That is, in this organic planarization film forming step, first, a resin is applied to the entire interlayer insulating film 44, and the resin is dried to form an organic planarization film 46 of about 2 μm on the entire surface. Of course, this film thickness is an example, and if the size of the organic EL display panel 10 is large, it is thick, and if it is small, it is thin. Then, as shown in FIGS. 14A to 14C, from the portions that become the contact holes 52, the gate wiring terminal portions, and the drain wiring terminal portions of the pixel circuits P 1,1 to P m, n by the exposure development method. Then, after forming a groove-like opening (organic planarization film opening 46 ′) in the organic planarization film 46, the organic planarization film 46 is cured by a post-bake (heat treatment) method.

以上によってトランジスタアレイ基板48が完成する。   Thus, the transistor array substrate 48 is completed.

次に、第8の工程として反射層形成工程を実施する。即ち、この反射層形成工程においては、まず、気相成長法によってクロムや銀合金等の金属層を成膜する。そして、その金属層に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図15(A)乃至(C)に示すように、各画素回路P1,1〜Pm,nの有機EL素子20の位置及びコンタクトホール52の内部、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部に、反射層50を積層させる。 Next, a reflective layer forming step is performed as an eighth step. That is, in this reflective layer forming step, first, a metal layer such as chromium or silver alloy is formed by vapor phase growth. Then, by subjecting the metal layer to photolithography and etching in order, as shown in FIGS. 15A to 15C , the organic EL elements of the pixel circuits P 1,1 to P m, n The reflective layer 50 is laminated at the position of 20 and the inside of the contact hole 52, and at the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第9の工程として透明アノード電極形成工程を実施する。即ち、この透明アノード電極形成工程においては、まず、スパッタリング等の気相成長法によって、ITO等の透明導電性膜をトランジスタアレイ基板48の表面べた一面に成膜する。そして、その透明導電性膜に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図16(A)乃至(C)に示すように、各画素回路P1,1〜Pm,nの有機EL素子20の位置及びコンタクトホール52の内部、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部に形成された反射層50上に、透明アノード電極20aを積層させる。この場合、透明アノード電極20aは、それら反射層50よりも広い範囲にはみ出して形成される。 Next, a transparent anode electrode forming step is performed as a ninth step. That is, in this transparent anode electrode forming step, first, a transparent conductive film such as ITO is formed on the entire surface of the transistor array substrate 48 by a vapor phase growth method such as sputtering. Then, by applying a photolithography method and an etching method to the transparent conductive film in order, as shown in FIGS. 16A to 16C , the organic circuits of the pixel circuits P 1,1 to P m, n The transparent anode electrode 20a is laminated on the reflective layer 50 formed in the position of the EL element 20, the inside of the contact hole 52, and the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion. In this case, the transparent anode electrode 20 a is formed so as to protrude beyond the reflective layer 50.

なお、透明アノード電極20aは例えば500Å以下の非常に薄い膜厚となっているため、ピンホールが生じ易い。アルミニウム系金属を用いたドレイン配線層42上に透明アノード電極20aを成膜してしまうと、そのようなピンホールによって、透明アノード電極20aのパターニング時のエッチング工程で電池反応が起こって、ドレイン配線層42の断線を引き起こす虞がある。しかしながら、本実施形態では、反射層50を透明アノード電極20aとドレイン配線層42との間に介在させているため、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良くコンタクトホール52における接触部やゲート配線端子部及びドレイン配線端子部を形成できる。   Since the transparent anode electrode 20a has a very thin film thickness of, for example, 500 mm or less, pinholes are easily generated. If the transparent anode electrode 20a is formed on the drain wiring layer 42 using an aluminum-based metal, a battery reaction occurs in the etching process during patterning of the transparent anode electrode 20a due to such pinholes, and the drain wiring. There is a risk of causing disconnection of the layer 42. However, in this embodiment, since the reflective layer 50 is interposed between the transparent anode electrode 20a and the drain wiring layer 42, the battery reaction in the resist stripping solution does not proceed, so that the contact in the contact hole 52 with a high yield is achieved. And gate wiring terminal portions and drain wiring terminal portions can be formed.

次に、第10の工程として層間絶縁膜形成工程を実施する。即ち、この層間絶縁膜形成工程においては、まず、気相成長法によって層間絶縁膜54をべた一面に成膜する。これにより、コンタクトホール52の内部は、層間絶縁膜54によって埋められる。そして、その層間絶縁膜54に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図17(A)乃至(C)に示すように、各画素回路P1,1〜Pm,nの有機EL素子20の位置、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部から、その層間絶縁膜54を除去する。これにより、各画素の発光部が規定される。 Next, an interlayer insulating film forming step is performed as a tenth step. That is, in this interlayer insulating film forming step, first, the interlayer insulating film 54 is formed on the entire surface by vapor deposition. Thereby, the inside of the contact hole 52 is filled with the interlayer insulating film 54. Then, by subjecting the interlayer insulating film 54 to photolithography and etching in order, as shown in FIGS. 17A to 17C , the organic circuits of the pixel circuits P 1,1 to P m, n The interlayer insulating film 54 is removed from the position of the EL element 20 and the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion. Thereby, the light emission part of each pixel is prescribed | regulated.

次に、第11の工程として共通配線形成工程を実施する。即ち、この共通配線形成工程においては、まず、気相成長法によって密着層56を成膜する。そして、その密着層56に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、水平方向に隣り合う透明アノード電極20aの間であって、層間絶縁膜54の上に密着層56がパターニングされる。次に、その上に、共通配線16をメッキ法によって成長させる。その後、その共通配線16に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図18(A)に示すように、上記密着層56上に共通配線16をパターニングする。また、図18(B)及び(C)に示すように、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部からは、それら密着層56及び共通配線16は除去される。   Next, a common wiring forming step is performed as an eleventh step. That is, in this common wiring forming step, first, the adhesion layer 56 is formed by vapor deposition. Then, the adhesion layer 56 is patterned between the transparent anode electrodes 20a adjacent to each other in the horizontal direction and on the interlayer insulating film 54 by sequentially performing photolithography and etching on the adhesion layer 56. . Next, the common wiring 16 is grown thereon by a plating method. Thereafter, the common wiring 16 is patterned on the adhesion layer 56 by sequentially performing a photolithography method and an etching method on the common wiring 16 as shown in FIG. Further, as shown in FIGS. 18B and 18C, the adhesion layer 56 and the common wiring 16 are removed from the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第12の工程として親撥水化工程を実施する。即ち、この親撥水化形成工程においては、まず、共通配線16の表面全体にトリアジルトリチオール溶液を塗布することによって、或いは、このパネルをトリアジルトリチオール溶液に浸漬することによって、共通配線16の表面を選択的に撥液化、即ち、選択的に撥液性導電膜58を形成する。なお、トリアジルトリチオールの性質により、共通配線16や透明アノード電極20aの表面には撥液性導電膜58が形成されるが、層間絶縁膜54の表面には撥液性導電膜が形成されない。そして、透明アノード電極20aの表面の撥液化を相殺するために、透明アノード電極20a上に親水化処理を施す。これにより、図19(A)乃至(C)に示すように、共通配線16の表面にのみ撥液性導電膜58が残る。   Next, a hydrophilic / hydrophobic process is performed as a twelfth process. That is, in this hydrophilic / hydrophobic forming step, first, the common wiring 16 is coated with the triazyltrithiol solution on the entire surface of the common wiring 16, or the panel is immersed in the triazyltrithiol solution. The surface of 16 is selectively made liquid-repellent, that is, a liquid-repellent conductive film 58 is selectively formed. Although the liquid repellent conductive film 58 is formed on the surface of the common wiring 16 and the transparent anode electrode 20a due to the nature of triazyltrithiol, the liquid repellent conductive film is not formed on the surface of the interlayer insulating film 54. . Then, in order to cancel the liquid repellency on the surface of the transparent anode electrode 20a, a hydrophilic treatment is performed on the transparent anode electrode 20a. As a result, as shown in FIGS. 19A to 19C, the liquid repellent conductive film 58 remains only on the surface of the common wiring 16.

次に、第13の工程として正孔注入層形成工程を実施する。即ち、この正孔注入層形成工程においては、図20(A)に示すように、PEDOTを塗布し乾燥させる湿式塗布法によって正孔注入層20hとしてパターニングする。水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間に厚膜の共通配線16が設けられているから、更には共通配線16には撥水性・撥油性の撥液性導電膜58がコーティングされているから、透明アノード電極20aに塗布されたPEDOT含有液が隣の透明アノード電極20aに漏れることがない。なお、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部については、図20(B)及び(C)に示すように、正孔注入層20hは形成されない。   Next, a hole injection layer forming step is performed as a thirteenth step. That is, in this hole injection layer forming step, as shown in FIG. 20A, the hole injection layer 20h is patterned by a wet coating method in which PEDOT is applied and dried. Since the thick common wiring 16 is provided between the transparent anode electrodes 20a adjacent to each other in the horizontal direction, and further, the common wiring 16 is coated with a water- and oil-repellent liquid-repellent conductive film 58. The PEDOT-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a does not leak to the adjacent transparent anode electrode 20a. As shown in FIGS. 20B and 20C, the hole injection layer 20h is not formed for the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第14の工程として発光層形成工程を実施する。即ち、この発光層形成工程においては、必要に応じて湿式塗布法によってインターレイヤーを塗布・乾燥させた後、図21(A)に示すように、ポリフルオレン系発光材の有機化合物を塗布し乾燥させる湿式塗布法によって発光層20eをパターニングする。上述したように、水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間に厚膜の共通配線16が設けられているから、更には共通配線16には撥水性・撥油性の撥液性導電膜58がコーティングされているから、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液が隣の透明アノード電極20aに漏れることがない。更に、撥液性導電膜58の撥水性・撥油性によって、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液が透明アノード電極20aの周囲で厚くならないので、発光層20eを均一な膜厚で成膜することができる。ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部については、図21(B)及び(C)に示すように、発光層20eは形成されない。   Next, a light emitting layer forming step is performed as a fourteenth step. That is, in this light emitting layer forming step, the interlayer is applied and dried by a wet coating method as necessary, and then an organic compound of a polyfluorene-based luminescent material is applied and dried as shown in FIG. The light emitting layer 20e is patterned by a wet coating method. As described above, since the thick common wiring 16 is provided between the transparent anode electrodes 20a adjacent to each other in the horizontal direction, the common wiring 16 is further coated with a water- and oil-repellent liquid-repellent conductive film 58. Therefore, the organic compound-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a does not leak to the adjacent transparent anode electrode 20a. Further, since the organic compound-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a does not thicken around the transparent anode electrode 20a due to the water and oil repellency of the liquid repellent conductive film 58, the light emitting layer 20e is formed with a uniform film thickness. Can be membrane. As shown in FIGS. 21B and 21C, the light emitting layer 20e is not formed for the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第15の工程としてカソード電極形成工程を実施する。即ち、このカソード電極形成工程においては、必要に応じてバリウムやカルシウム等の電子注入層を上記発光層20e上に蒸着した後、図22(A)に示すように、スパッタリングによって透明カソード電極20cをメタルマスクを介し一面に成膜する。なお、発光層20eは温度に非常に敏感であるため、上記電子注入層の蒸着や透明カソード電極20cのスパッタリングは、発光層20eにダメージを与えないような温度の上がらない(100℃程度)方法で実施することが必要である。そして、こうして成膜された透明カソード電極20cに対してメタルマスクを用いてパターニングすることで、図22(B)及び(C)に示すように、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部から透明カソード電極20cは除去される。   Next, a cathode electrode forming step is performed as a fifteenth step. That is, in this cathode electrode forming step, an electron injection layer such as barium or calcium is vapor-deposited on the light emitting layer 20e as necessary, and then the transparent cathode electrode 20c is formed by sputtering as shown in FIG. A film is formed on one surface through a metal mask. Since the light emitting layer 20e is very sensitive to temperature, the deposition of the electron injection layer and the sputtering of the transparent cathode electrode 20c do not increase the temperature so as not to damage the light emitting layer 20e (about 100 ° C.). It is necessary to carry out with. Then, by patterning the transparent cathode electrode 20c thus formed using a metal mask, as shown in FIGS. 22 (B) and 22 (C), the transparent cathode electrode 20c is turned from the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion to the transparent cathode. The electrode 20c is removed.

次に、第16の工程として封止絶縁膜形成工程を実施する。即ち、この封止絶縁膜形成工程においては、まず、気相成長法によって封止絶縁薄膜60をメタルマスクを介し一面に成膜することによって、図6(A)乃至(C)に示すように、封止絶縁薄膜60をパターニングする。   Next, a sealing insulating film forming step is performed as a sixteenth step. That is, in this sealing insulating film forming step, first, a sealing insulating thin film 60 is formed on one surface through a metal mask by vapor deposition, as shown in FIGS. 6A to 6C. Then, the sealing insulating thin film 60 is patterned.

以上の工程により、有機ELディスプレイパネル10が完成する。   The organic EL display panel 10 is completed through the above steps.

このような本第1実施形態によれば、発光素子として有機EL素子を使用したトップエミッション型の有機ELディスプレイパネル10において、透明アノード電極20aを、クロムや銀または銀合金でなる反射層50を完全に覆う形で形成し、その反射層50は、コンタクトホール52の部分においてドレイン配線層42が露出している領域を完全に覆う形で形成しているので、コンタクトホール52の部分において透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、透明アノード電極20a(例えばITO)と反射層50(例えばクロム)の組み合わせは、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く接触部を形成できる。更に、反射層50の材料として銀や銀合金を選択すれば、同様にレジスト剥離液中での電池反応は抑えられ、かつ、クロムに比べて反射率も高いので、良好な反射層を形成できる。   According to the first embodiment as described above, in the top emission type organic EL display panel 10 using the organic EL element as the light emitting element, the transparent anode electrode 20a is provided with the reflective layer 50 made of chromium, silver, or a silver alloy. The reflective layer 50 is formed so as to completely cover the region where the drain wiring layer 42 is exposed in the contact hole 52, so that the transparent anode is formed in the contact hole 52. Even if pinholes are opened in the electrode 20a, the combination of the transparent anode electrode 20a (for example, ITO) and the reflective layer 50 (for example, chromium) does not advance the battery reaction in the resist stripping solution, so a contact portion is formed with high yield. it can. Furthermore, if silver or a silver alloy is selected as the material of the reflective layer 50, the battery reaction in the resist stripping solution can be similarly suppressed, and the reflectance is higher than that of chromium, so that a favorable reflective layer can be formed. .

また、信号線Y〜Yを該有機ELディスプレイパネル10の外部回路に接続するための端子であるゲート配線端子部では、信号線Y〜Yの元となる導電性膜であるゲート配線層40上に、密着層36を介して、ドレイン配線層42が成膜され、このドレイン配線層42の上に、該ドレイン配線層42が露出している領域を完全に覆う形で反射層50を形成し、更に、透明アノード電極20aを、その反射層50を完全に覆う形で形成しているので、このゲート配線端子部においても、上記コンタクトホール52の部分と同様に、透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く端子部を形成できる。 Further, in the gate wiring terminal portion which is a terminal for connecting the signal lines Y 1 to Y n to the external circuit of the organic EL display panel 10, a gate which is a conductive film which is the source of the signal lines Y 1 to Y n A drain wiring layer 42 is formed on the wiring layer 40 via an adhesion layer 36, and a reflective layer is formed on the drain wiring layer 42 so as to completely cover a region where the drain wiring layer 42 is exposed. 50, and further, the transparent anode electrode 20a is formed so as to completely cover the reflective layer 50. Therefore, in the gate wiring terminal portion as well as the contact hole 52, the transparent anode electrode 20a is formed. Even if a pinhole is opened at 20a, the battery reaction does not proceed in the resist stripping solution, so that the terminal portion can be formed with a high yield.

同様に、走査線X〜Xや給電配線14を該有機ELディスプレイパネル10の外部回路に接続するための端子であるドレイン配線端子部に関しても、走査線X〜Xや給電配線14の元となる導電性膜であるドレイン配線層42上に、このドレイン配線層42が露出している領域を完全に覆う形で反射層50を形成し、更に、透明アノード電極20aを、その反射層50を完全に覆う形で形成しているので、このドレイン配線端子部においても、透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く端子部を形成できる。 Similarly, with regard drain wiring terminal portion is a terminal for connecting the scan lines X 1 to X m and the power supply wiring 14 to an external circuit of the organic EL display panel 10, scan lines X 1 to X m and the feed interconnection 14 A reflective layer 50 is formed on the drain wiring layer 42, which is a conductive film serving as a base of the film, so as to completely cover the region where the drain wiring layer 42 is exposed. Since the layer 50 is formed so as to completely cover the drain wiring terminal portion, even if a pinhole is opened in the transparent anode electrode 20a, the battery reaction in the resist stripping solution does not proceed, so the yield is high. A terminal part can be formed.

また、画素回路P1,1〜Pm,nの反射層50形成、該反射層50上へのITO等の透明アノード電極20a形成後に、SiN膜等の層間絶縁膜54形成、共通配線16形成の工程を経て、有機EL層(正孔注入層20h及び発光層20e)成膜工程がある。ここで、反射層50上に透明アノード電極20aによる保護層が無い場合、層間絶縁膜54のエッチングの際に、ドライエッチングでもウェットエッチングでも、反射層50がダメージ(エッチングされる)を受けてしまう。即ち、ドライエッチングの場合には、Oプラズマで酸化される。また、ウェットエッチングの場合には、フッ酸系のエッチング液を使用することになるため、このエッチング液で反射層50がエッチングされてしまう。しかしながら、本第1実施形態では、反射層50上に透明アノード電極20aによる保護層を設けているので、そのようなダメージを防止することができる。 Further, after forming the reflective layer 50 of the pixel circuits P 1,1 to P m, n and forming the transparent anode electrode 20a such as ITO on the reflective layer 50, the interlayer insulating film 54 such as SiN film and the common wiring 16 are formed. Through this process, there is a process for forming an organic EL layer (hole injection layer 20h and light emitting layer 20e). Here, when there is no protective layer by the transparent anode electrode 20a on the reflective layer 50, the reflective layer 50 is damaged (etched) by the dry etching or the wet etching when the interlayer insulating film 54 is etched. . That is, in the case of dry etching, it is oxidized with O 2 plasma. Further, in the case of wet etching, a hydrofluoric acid-based etching solution is used, so that the reflective layer 50 is etched by this etching solution. However, in the first embodiment, since the protective layer by the transparent anode electrode 20a is provided on the reflective layer 50, such damage can be prevented.

更に、隔壁を兼ねた共通配線16を形成するときにも、エッチングの際に、反射層50がエッチングされる可能性があるが、本実施形態では、これを防止することができる。また、有機EL層(正孔注入層20h及び発光層20e)を形成する際も、一般的な正孔注入層20は強酸なので、反射層50がエッチングされるが、本実施形態によれば、これを防止することができる。   Further, when forming the common wiring 16 also serving as the partition wall, the reflective layer 50 may be etched during the etching, but this embodiment can prevent this. Also, when forming the organic EL layer (the hole injection layer 20h and the light emitting layer 20e), since the general hole injection layer 20 is a strong acid, the reflective layer 50 is etched, but according to the present embodiment, This can be prevented.

また、端子18L,18R,18U部も、画素回路P1,1〜Pm,n部と同様に、透明アノード電極20a(ITO)で保護しているので、同様である。 Similarly, the terminals 18L, 18R, and 18U are also protected by the transparent anode electrode 20a (ITO) in the same manner as the pixel circuits P1,1 to Pm , n .

コンタクトホール52部についても、絶縁膜50に覆われる構造になっているので、上記のようなエッチングの影響は受けない。   Since the contact hole 52 is also covered with the insulating film 50, it is not affected by the etching described above.

また、本実施形態では、反射層50の端面を透明アノード電極20a(ITO)で全面カバーする構成にしている。反射層50上に透明アノード電極20aを形成し、透明アノード電極20aをウェットエッチングする際、仮に反射層50の端面が露出していると、反射層50の端面がサイドエッチされ、反射層50が後退し、透明アノード電極20a端面下部に空洞が生じる可能性があり、この空洞部に液の乾燥不良等が発生し、素子の信頼性に影響を与える可能性がある。本実施形態では、反射層50端面を透明アノード電極20aで全面カバーすることにより、透明アノード電極20aのウェットエッチング時に反射層50のサイドエッチが生じることを防止することができる。   In the present embodiment, the end surface of the reflective layer 50 is entirely covered with the transparent anode electrode 20a (ITO). When the transparent anode electrode 20a is formed on the reflective layer 50 and the transparent anode electrode 20a is wet-etched, if the end surface of the reflective layer 50 is exposed, the end surface of the reflective layer 50 is side-etched and the reflective layer 50 is The cavity may recede, and a cavity may be formed below the end face of the transparent anode electrode 20a. A liquid may be poorly dried in the cavity, which may affect the reliability of the device. In the present embodiment, the end surface of the reflective layer 50 is entirely covered with the transparent anode electrode 20a, so that side etching of the reflective layer 50 can be prevented during wet etching of the transparent anode electrode 20a.

また、層間絶縁膜開口54’の部分のように、層間絶縁膜54のエッチングは透明アノード電極20a上でしか行わないので、反射層50端面が透明アノード電極20aで覆われていても、覆われていなくても、層間絶縁膜54のエッチングの影響は無い。但し、層間絶縁膜54成膜時のダメージは、反射層50端面が透明アノード電極20aで覆われているか否かに関係する。即ち、反射層50端面が透明アノード電極20aで覆われていない場合、層間絶縁膜54成膜時の成膜温度やプラズマ粒子により、反射層50にダメージが発生する場合がある。反射層50端面が透明アノード電極20aで覆われている場合、このようなダメージが生じることを防ぐことができる。   Further, since the etching of the interlayer insulating film 54 is performed only on the transparent anode electrode 20a as in the portion of the interlayer insulating film opening 54 ', even if the end surface of the reflective layer 50 is covered with the transparent anode electrode 20a, it is covered. Even if not, there is no influence of the etching of the interlayer insulating film 54. However, the damage during the formation of the interlayer insulating film 54 is related to whether or not the end face of the reflective layer 50 is covered with the transparent anode electrode 20a. That is, if the end face of the reflective layer 50 is not covered with the transparent anode electrode 20a, the reflective layer 50 may be damaged by the deposition temperature or plasma particles when the interlayer insulating film 54 is formed. When the end face of the reflective layer 50 is covered with the transparent anode electrode 20a, such damage can be prevented from occurring.

[第2実施形態]
次に、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの第2実施形態を説明する。なお、本実施形態における有機ELディスプレイパネル10も、上記第1実施形態と同様に、発光素子として有機EL素子を使用したトップエミッション型のディスプレイパネルである。ここで、上記第1実施形態と同様の部分については、同じ参照番号を付すことで、その説明は省略する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of a display panel using the light emitting device of the present invention will be described. In addition, the organic EL display panel 10 in this embodiment is also a top emission type display panel using an organic EL element as a light emitting element, as in the first embodiment. Here, portions similar to those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図23及び図24は、本実施形態に係るアクティブマトリクス駆動方式の有機ELディスプレイパネル10における主に画素回路Pi,jの電極を示した平面図である。なお、図面を見やすくするために、図23においては画素回路Pi,jの透明アノード電極20aの図示を省略し、図24においては画素回路Pi,jの下層側の電極の図示を省略する。また、図25(A)は図23及び図24に示した画素回路部分のA−A線の矢視断面図であり、図25(B)は端子18Uであるゲート配線端子部の断面図、図25(C)は端子18L又は端子18Rであるドレイン配線端子部の断面図である。また、図26は、図23及び図24に示した画素回路部分のD−D線の矢視断面図である。 23 and 24 are plan views mainly showing electrodes of the pixel circuits P i, j in the active matrix driving type organic EL display panel 10 according to the present embodiment. In order to make the drawing easy to see , the transparent anode electrode 20a of the pixel circuit P i, j is not shown in FIG. 23, and the lower layer side electrode of the pixel circuit P i, j is not shown in FIG. . 25A is a cross-sectional view taken along line AA of the pixel circuit portion shown in FIGS. 23 and 24, and FIG. 25B is a cross-sectional view of a gate wiring terminal portion which is a terminal 18U. FIG. 25C is a cross-sectional view of the drain wiring terminal portion which is the terminal 18L or the terminal 18R. FIG. 26 is a cross-sectional view taken along line DD of the pixel circuit portion shown in FIGS.

即ち、本実施形態では、図23、図24及び図26に示すように、走査線X〜X及び給電配線14上に、それら走査線X〜X及び給電配線14に沿って、密着層62を介してそれら走査線X〜X及び給電配線14と電気的に接続しているアノード給電配線63がパターニングされている。また、図25(A)乃至(C)に示すように、コンタクトホール52の部分において、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部において、ドレイン配線層42と反射層50との間に、密着層62を介してアノード補助層64を形成している。 That is, in this embodiment, as shown in FIG. 23, FIGS. 24 and 26, on scan lines X 1 to X m and the feed interconnection 14, along their scanning lines X 1 to X m and the feed interconnection 14, contact them scan line layer 62 via the X 1 to X m and the feed interconnection 14 and the anode power supply wiring 63 are electrically connected it is patterned. In addition, as shown in FIGS. 25A to 25C, the contact hole 52 and the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion are in close contact with each other between the drain wiring layer 42 and the reflective layer 50. An anode auxiliary layer 64 is formed through the layer 62.

これらアノード給電配線63及びアノード補助層64は、バスラインの電圧降下を防ぐ目的で、バスラインの抵抗を下げるため、走査線X、給電配線14及びドレイン30dとして同時に形成されるドレイン配線層42上に積層するものである。このアノード給電配線63及びアノード補助層64の材料としてはアルミニウムやアルミニウム系合金等が使用され、密着層62の材料としてはクロム等が使用される。 The anode power supply wiring 63 and the anode auxiliary layer 64 are formed at the same time as the scanning line X i , the power supply wiring 14, and the drain 30 d in order to reduce the resistance of the bus line in order to prevent the voltage drop of the bus line. Laminate on top. As the material of the anode power supply wiring 63 and the anode auxiliary layer 64, aluminum, an aluminum-based alloy or the like is used, and as the material of the adhesion layer 62, chromium or the like is used.

そして、透明アノード電極20aは、反射層50を完全に覆う形で形成され、反射層50は、コンタクトホール52の部分でアノード補助層64が露出している部分、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部で透明アノード電極20aが露出している部分を完全に覆う形で形成されている。   The transparent anode electrode 20a is formed so as to completely cover the reflective layer 50. The reflective layer 50 includes the contact hole 52 portion where the anode auxiliary layer 64 is exposed, the gate wiring terminal portion, and the drain. The wiring terminal portion is formed so as to completely cover the portion where the transparent anode electrode 20a is exposed.

次に、本実施形態におけるELディスプレイパネル10の製造方法について説明する。図27(A)乃至図36(A)は、図25(A)に示したような画素回路部分における各工程での断面図を示しており、同じく、図27(B)乃至図36(B)は図25(B)に示したようなゲート配線端子部、図27(C)乃至図36(C)は図25(C)に示したようなドレイン配線端子部における各工程での断面図を示している。   Next, a method for manufacturing the EL display panel 10 in the present embodiment will be described. FIGS. 27A to 36A are cross-sectional views in each step in the pixel circuit portion as shown in FIG. 25A. Similarly, FIGS. 27B to 36B are shown. ) Is a gate wiring terminal portion as shown in FIG. 25B, and FIGS. 27C to 36C are cross-sectional views at each step in the drain wiring terminal portion as shown in FIG. Is shown.

本実施形態においては、上記第1実施形態において図8(A),(B),(C)乃至図13(A),(B),(C)を参照して説明したような第1の工程(ゲート形成工程)乃至第6の工程(層間絶縁膜形成工程)を実施する。但し、第6の工程においては、層間絶縁膜44の除去を、走査線X〜X及び給電配線14の部分についても行うものである。 In the present embodiment, the first embodiment as described with reference to FIGS. 8A, 8B, and 13C to 13A, 13B, and 13C in the first embodiment. Steps (gate formation step) to sixth step (interlayer insulating film formation step) are performed. However, in the sixth step, the interlayer insulating film 44 is also removed from the scanning lines X 1 to X m and the power supply wiring 14.

その後、本実施の形態では、第7の工程としてアノード補助層形成工程を実施する。即ち、このアノード補助層形成工程においては、まず、気相成長法によってクロム等の密着層62を層間絶縁膜44上にべた一面に成膜する。次に、その密着層62に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、各画素回路P1,1〜Pm,nのコンタクトホール52の部分、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部の部分(及び走査線X〜X及び給電配線14の部分)をパターニングする。そして更に、その上に、気相成長法によってアルミニウムやアルミニウム系合金等のアノード補助層64(及びアノード給電配線63)をべた一面に成膜する。次に、そのアノード補助層64(及びアノード給電配線63)に対してフォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、各画素回路P1,1〜Pm,nのコンタクトホール52の部分、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部の部分(及び走査線X〜X及び給電配線14の部分)をパターニングする。この工程の終了時点においては、図27(A)乃至(C)に示すように、密着層62及びアノード補助層64(及びアノード給電配線63)の層構造がパターニングされることとなる。 Thereafter, in the present embodiment, an anode auxiliary layer forming step is performed as a seventh step. That is, in this anode auxiliary layer forming step, first, an adhesion layer 62 such as chromium is formed on the entire surface of the interlayer insulating film 44 by vapor phase growth. Next, a photolithography method and an etching method are sequentially performed on the adhesion layer 62, so that the contact hole 52 portion of each of the pixel circuits P1,1 to Pm , n , the gate wiring terminal portion, and the drain wiring patterning the portion of the terminal portion (and the portion of the scanning lines X 1 to X m and the power supply wiring 14). Furthermore, an anode auxiliary layer 64 (and anode power supply wiring 63) such as aluminum or an aluminum alloy is formed on the entire surface by vapor deposition. Next, a photolithography method and an etching method are sequentially performed on the anode auxiliary layer 64 (and the anode power supply wiring 63), thereby the contact hole 52 portion of each of the pixel circuits P 1,1 to P m, n and The portions of the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion (and the scanning lines X 1 to X m and the power supply wiring 14 portions) are patterned. At the end of this step, as shown in FIGS. 27A to 27C, the layer structure of the adhesion layer 62 and the anode auxiliary layer 64 (and the anode power supply wiring 63) is patterned.

次に、第8の工程として、上記第1実施形態における第7の工程に相当する有機平坦化膜形成工程を実施する。即ち、この有機平坦化膜形成工程においては、まず、層間絶縁膜44全体に樹脂を塗布し、その樹脂を乾燥させることで、有機平坦化膜46をべた一面に成膜する。そして、図28(A)乃至(C)に示すように、露光現像法により各画素回路P1,1〜Pm,nのコンタクトホール52となる部分、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部から、その有機平坦化膜46に溝状の開口部をそれぞれ形成した後、ポストベーク(熱処理)法により有機平坦化膜46を硬化させる。 Next, as an eighth step, an organic planarization film forming step corresponding to the seventh step in the first embodiment is performed. That is, in this organic planarization film forming process, first, a resin is applied to the entire interlayer insulating film 44, and the resin is dried to form the organic planarization film 46 on the entire surface. Then, as shown in FIGS. 28A to 28C , from the portions that become the contact holes 52 of the pixel circuits P 1,1 to P m, n by the exposure development method, the gate wiring terminal portions and the drain wiring terminal portions. Then, after each of the organic planarizing film 46 is formed with a groove-like opening, the organic planarizing film 46 is cured by a post-bake (heat treatment) method.

以上によってトランジスタアレイ基板48が完成する。   Thus, the transistor array substrate 48 is completed.

次に、第9の工程として、上記第1実施形態における第8の工程に相当する反射層形成工程を実施する。即ち、この反射層形成工程においては、気相成長法・フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図29(A)乃至(C)に示すように、各画素回路P1,1〜Pm,nの有機EL素子20の位置及びコンタクトホール52の内部、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部に、クロムや銀合金等の反射層50を積層させる。即ち、アノード補助層64の露出部分を完全に覆うように反射層50を形成する。 Next, as a ninth step, a reflective layer forming step corresponding to the eighth step in the first embodiment is performed. That is, in this reflective layer forming step, each of the pixel circuits P 1,1 to P is performed by sequentially performing a vapor phase growth method, a photolithography method, and an etching method, as shown in FIGS. A reflective layer 50 such as chromium or silver alloy is laminated on the position of the m and n organic EL elements 20, the inside of the contact hole 52, and the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion. That is, the reflective layer 50 is formed so as to completely cover the exposed portion of the anode auxiliary layer 64.

次に、第10の工程として、上記第1実施形態における第9の工程に相当する透明アノード電極形成工程を実施する。即ち、この透明アノード電極形成工程においては、スパッタリング等の気相成長法・フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図30(A)乃至(C)に示すように、各画素回路P1,1〜Pm,nの有機EL素子20の位置及びコンタクトホール52の内部、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部に形成された反射層50上に、ITO等の透明導電性膜である透明アノード電極20aを積層させる。この場合、透明アノード電極20aは、それら反射層50よりも広い範囲にはみ出して形成される。 Next, as a tenth step, a transparent anode electrode forming step corresponding to the ninth step in the first embodiment is performed. That is, in this transparent anode electrode formation step, each pixel circuit P 1 is subjected to a vapor phase growth method such as sputtering, a photolithography method, and an etching method in order, as shown in FIGS. , 1 to Pm , n on the reflective layer 50 formed in the position of the organic EL element 20 and in the contact hole 52 and in the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion with a transparent conductive film such as ITO. A certain transparent anode electrode 20a is laminated. In this case, the transparent anode electrode 20 a is formed so as to protrude beyond the reflective layer 50.

このように、反射層50を透明アノード電極20aとアノード補助層64との間に介在させているため、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良くコンタクトホール52における接触部やゲート配線端子部及びドレイン配線端子部を形成できる。   Thus, since the reflective layer 50 is interposed between the transparent anode electrode 20a and the anode auxiliary layer 64, the battery reaction in the resist stripping solution does not proceed. A wiring terminal portion and a drain wiring terminal portion can be formed.

次に、第11の工程として、上記第1実施形態における第10の工程に相当する層間絶縁膜形成工程を実施する。即ち、この層間絶縁膜形成工程においては、気相成長法・フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図31(A)乃至(C)に示すように、各画素回路P1,1〜Pm,nの有機EL素子20の位置、並びに、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部を除いて、層間絶縁膜54を形成する。これにより、各画素の発光部が規定される。また、コンタクトホール52の内部は、層間絶縁膜54によって埋められる。 Next, as an eleventh step, an interlayer insulating film forming step corresponding to the tenth step in the first embodiment is performed. That is, in this interlayer insulating film forming process, by performing vapor phase growth, photolithography, and etching in order, as shown in FIGS. 31A to 31C , each pixel circuit P 1,1 . An interlayer insulating film 54 is formed except for the position of the Pm , n organic EL element 20 and the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion. Thereby, the light emission part of each pixel is prescribed | regulated. Further, the inside of the contact hole 52 is filled with an interlayer insulating film 54.

次に、第12の工程として、上記第1実施形態における第11の工程に相当する共通配線形成工程を実施する。即ち、この共通配線形成工程においては、まず、気相成長法・フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、水平方向に隣り合う透明アノード電極20aの間であって、層間絶縁膜54の上に密着層56がパターニングされる。更に、その密着層56上に、メッキ法・フォトリソグラフィー法・エッチング法を順に施すことによって、図32(A)に示すように、共通配線16をパターニングする。また、図32(B)及び(C)に示すように、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部からは、それら絶縁膜56及び共通配線16は除去される。   Next, as a twelfth step, a common wiring forming step corresponding to the eleventh step in the first embodiment is performed. That is, in this common wiring formation step, first, vapor deposition, photolithography, and etching are performed in order, so that the transparent anode electrodes 20a adjacent to each other in the horizontal direction are formed on the interlayer insulating film 54. The adhesion layer 56 is patterned. Further, the common wiring 16 is patterned on the adhesion layer 56 by sequentially performing a plating method, a photolithography method, and an etching method, as shown in FIG. Further, as shown in FIGS. 32B and 32C, the insulating film 56 and the common wiring 16 are removed from the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第13の工程として、上記第1実施形態における第12の工程に相当する親撥水化工程を実施する。即ち、この親撥水化工程においては、まず、共通配線16の表面を選択的に撥液化、即ち、選択的に撥液性導電膜58を形成する。そして、透明アノード電極20aの表面の撥液化を相殺するために、透明アノード電極20a上に親水化処理を施す。これにより、図33(A)乃至(C)に示すように、共通配線16の表面にのみ撥液性導電膜58が残る。   Next, as a thirteenth step, a hydrophilic / hydrophobic step corresponding to the twelfth step in the first embodiment is performed. That is, in this hydrophilic / water-repellent process, first, the surface of the common wiring 16 is selectively liquid-repellent, that is, the liquid-repellent conductive film 58 is selectively formed. Then, in order to cancel the liquid repellency on the surface of the transparent anode electrode 20a, a hydrophilic treatment is performed on the transparent anode electrode 20a. As a result, as shown in FIGS. 33A to 33C, the liquid repellent conductive film 58 remains only on the surface of the common wiring 16.

次に、第14の工程として、上記第1実施形態における第13の工程に相当する正孔注入層形成工程を実施する。即ち、この正孔注入層形成工程においては、図34(A)に示すように、PEDOTを塗布し乾燥させる湿式塗布法によって正孔注入層20hとしてパターニングする。水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間に厚膜の共通配線16が設けられているから、更には共通配線16には撥水性・撥油性の撥液性導電膜58がコーティングされているから、透明アノード電極20aに塗布されたPEDOT含有液が隣の透明アノード電極20aに漏れることがない。なお、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部については、図34(B)及び(C)に示すように、正孔注入層20hは形成されない。   Next, as a fourteenth step, a hole injection layer forming step corresponding to the thirteenth step in the first embodiment is performed. That is, in this hole injection layer forming step, as shown in FIG. 34A, the hole injection layer 20h is patterned by a wet coating method in which PEDOT is applied and dried. Since the thick common wiring 16 is provided between the transparent anode electrodes 20a adjacent to each other in the horizontal direction, and further, the common wiring 16 is coated with a water- and oil-repellent liquid-repellent conductive film 58. The PEDOT-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a does not leak to the adjacent transparent anode electrode 20a. As shown in FIGS. 34B and 34C, the hole injection layer 20h is not formed for the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第15の工程として、上記第1実施形態における第14の工程に相当する発光層形成工程を実施する。即ち、この発光層形成工程においては、必要に応じて湿式塗布法によってインターレイヤーを塗布・乾燥させた後、図35(A)に示すように、ポリフルオレン系発光材の有機化合物を塗布し乾燥させる湿式塗布法によって発光層20eをパターニングする。上述したように、水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間に厚膜の共通配線16が設けられているから、更には共通配線16には撥水性・撥油性の撥液性導電膜58がコーティングされているから、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液が隣の透明アノード電極20aに漏れることがない。更に、撥液性導電膜58の撥水性・撥油性によって、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液が透明アノード電極20aの周囲で厚くならないので、発光層20eを均一な膜厚で成膜することができる。ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部については、図35(B)及び(C)に示すように、発光層20eは形成されない。   Next, as a fifteenth step, a light emitting layer forming step corresponding to the fourteenth step in the first embodiment is performed. That is, in this light emitting layer forming step, an interlayer is applied and dried by a wet coating method as necessary, and then an organic compound of a polyfluorene-based light emitting material is applied and dried as shown in FIG. The light emitting layer 20e is patterned by a wet coating method. As described above, since the thick common wiring 16 is provided between the transparent anode electrodes 20a adjacent to each other in the horizontal direction, the common wiring 16 is further coated with a water- and oil-repellent liquid-repellent conductive film 58. Therefore, the organic compound-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a does not leak to the adjacent transparent anode electrode 20a. Further, since the organic compound-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a does not thicken around the transparent anode electrode 20a due to the water and oil repellency of the liquid repellent conductive film 58, the light emitting layer 20e is formed with a uniform film thickness. Can be membrane. As for the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion, as shown in FIGS. 35B and 35C, the light emitting layer 20e is not formed.

次に、第16の工程として、上記第1実施形態における第15の工程に相当するカソード電極形成工程を実施する。即ち、このカソード電極形成工程においては、必要に応じてバリウムやカルシウム等の電子注入層を上記発光層20e上に蒸着した後、図36(A)に示すように、スパッタリングによって透明カソード電極20cをメタルマスクを介し一面に成膜する。なお、発光層20eは温度に非常に敏感であるため、上記電子注入層の蒸着や透明カソード電極20cのスパッタリングは、発光層20eにダメージを与えないような温度の上がらない(100度程度)方法で実施することが必要である。そして、こうして成膜された透明カソード電極20cに対してメタルマスクを用いてパターニングすることで、図36(B)及び(C)に示すように、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部から透明カソード電極20cは除去される。   Next, as a sixteenth step, a cathode electrode forming step corresponding to the fifteenth step in the first embodiment is performed. That is, in this cathode electrode forming step, an electron injection layer such as barium or calcium is deposited on the light emitting layer 20e as necessary, and then the transparent cathode electrode 20c is formed by sputtering as shown in FIG. A film is formed on one surface through a metal mask. Since the light emitting layer 20e is very sensitive to temperature, the deposition of the electron injection layer and the sputtering of the transparent cathode electrode 20c do not increase the temperature so as not to damage the light emitting layer 20e (about 100 degrees). It is necessary to carry out with. Then, by patterning the transparent cathode electrode 20c thus formed using a metal mask, as shown in FIGS. 36 (B) and 36 (C), the transparent cathode electrode 20c is turned from the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion to the transparent cathode. The electrode 20c is removed.

次に、第17の工程として、上記第1実施形態における第16の工程に相当する封止絶縁膜形成工程を実施する。即ち、この封止絶縁膜形成工程においては、気相成長法によって封止絶縁薄膜60をメタルマスクを介して一面に形成することによって、図25(A)乃至(C)に示すように、封止絶縁薄膜60をパターニングする。   Next, as a seventeenth process, a sealing insulating film forming process corresponding to the sixteenth process in the first embodiment is performed. That is, in this sealing insulating film forming step, the sealing insulating thin film 60 is formed on one surface through a metal mask by vapor deposition, as shown in FIGS. 25A to 25C. The stop insulating thin film 60 is patterned.

以上の工程により、有機ELディスプレイパネル10が完成する。   The organic EL display panel 10 is completed through the above steps.

このような本第2実施形態によれば、発光素子として有機EL素子を使用したトップエミッション型の有機ELディスプレイパネル10において、透明アノード電極20aを、クロムや銀または銀合金でなる反射層50を完全に覆う形で形成し、その反射層50は、コンタクトホール52の部分においてアノード補助層64が露出している領域を完全に覆う形で形成しているので、コンタクトホール52の部分において透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、透明アノード電極20a(例えばITO)と反射層50(例えばクロム)の組み合わせは、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く接触部を形成できる。更に、反射層50の材料として銀や銀合金を選択すれば、同様にレジスト剥離液中での電池反応は抑えられ、かつ、クロムに比べて反射率も高いので、良好な反射層を形成できる。   According to the second embodiment as described above, in the top emission type organic EL display panel 10 using the organic EL element as the light emitting element, the transparent anode electrode 20a is provided with the reflective layer 50 made of chromium, silver, or a silver alloy. The reflective layer 50 is formed so as to completely cover the region where the anode auxiliary layer 64 is exposed in the contact hole 52 portion, so that the transparent anode is formed in the contact hole 52 portion. Even if pinholes are opened in the electrode 20a, the combination of the transparent anode electrode 20a (for example, ITO) and the reflective layer 50 (for example, chromium) does not advance the battery reaction in the resist stripping solution, so a contact portion is formed with high yield. it can. Furthermore, if silver or a silver alloy is selected as the material of the reflective layer 50, the battery reaction in the resist stripping solution can be similarly suppressed, and the reflectance is higher than that of chromium, so that a favorable reflective layer can be formed. .

また、信号線Y〜Yを該有機ELディスプレイパネル10の外部回路に接続するための端子であるゲート配線端子部では、信号線Y〜Yの元となる導電性膜であるゲート配線層40上に、密着層36を介してドレイン配線層42が成膜され、このドレイン配線層42の上に、密着層62を介してアノード補助層64が成膜されて、該アノード補助層64が露出している領域を完全に覆う形で反射層50を形成し、更に、透明アノード電極20aを、その反射層50を完全に覆う形で形成しているので、このゲート配線端子部においても、上記コンタクトホール52の部分と同様に、透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く端子部を形成できる。 Further, in the gate wiring terminal portion which is a terminal for connecting the signal lines Y 1 to Y n to the external circuit of the organic EL display panel 10, a gate which is a conductive film which is the source of the signal lines Y 1 to Y n A drain wiring layer 42 is formed on the wiring layer 40 via the adhesion layer 36, and an anode auxiliary layer 64 is formed on the drain wiring layer 42 via the adhesion layer 62. The reflective layer 50 is formed so as to completely cover the region where the 64 is exposed, and the transparent anode electrode 20a is formed so as to completely cover the reflective layer 50. However, similarly to the contact hole 52, even if a pinhole is opened in the transparent anode electrode 20a, the battery reaction does not proceed in the resist stripping solution, so that the terminal portion can be formed with high yield.

同様に、走査線X〜Xや給電配線14を該有機ELディスプレイパネル10の外部回路に接続するための端子であるドレイン配線端子部に関しても、走査線X〜Xや給電配線14の元となる導電性膜であるドレイン配線層42上に、密着層62を介してアノード補助層64が成膜されて、該アノード補助層64が露出している領域を完全に覆う形で反射層50を形成し、更に、透明アノード電極20aを、その反射層50を完全に覆う形で形成しているので、このドレイン配線端子部においても、透明アノード電極20aにピンホールが開いていても、レジスト剥離液中での電池反応は進まないので、歩留まり良く端子部を形成できる。 Similarly, with regard drain wiring terminal portion is a terminal for connecting the scan lines X 1 to X m and the power supply wiring 14 to an external circuit of the organic EL display panel 10, scan lines X 1 to X m and the feed interconnection 14 An anode auxiliary layer 64 is formed on the drain wiring layer 42, which is a conductive film serving as a base of the film, via the adhesion layer 62, and is reflected so as to completely cover the region where the anode auxiliary layer 64 is exposed. Since the layer 50 is formed and the transparent anode electrode 20a is formed so as to completely cover the reflective layer 50, even in the drain wiring terminal portion, even if a pinhole is opened in the transparent anode electrode 20a. Since the battery reaction does not proceed in the resist stripping solution, the terminal portion can be formed with high yield.

また、反射層50上に透明アノード電極20aによる保護層を設けているので、上記第1実施形態と同様の効果を奏することができる。更に、反射層50の端面をITO等の透明アノード電極20aで全面カバーする構成による効果も、上記第1実施形態と同様である。   Moreover, since the protective layer by the transparent anode electrode 20a is provided on the reflective layer 50, there can exist an effect similar to the said 1st Embodiment. Furthermore, the effect of the configuration in which the end surface of the reflective layer 50 is entirely covered with the transparent anode electrode 20a such as ITO is the same as that in the first embodiment.

[第3実施形態]
次に、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの第3実施形態を説明する。なお、本実施形態における有機ELディスプレイパネル10も、上記第2実施形態と同様に、発光素子として有機EL素子を使用したトップエミッション型のディスプレイパネルである。ここで、上記第2実施形態と同様の部分については、同じ参照番号を付すことで、その説明は省略する。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of a display panel using the light emitting device of the present invention will be described. In addition, the organic EL display panel 10 in this embodiment is also a top emission type display panel using an organic EL element as a light emitting element, as in the second embodiment. Here, parts similar to those of the second embodiment are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.

図37は、本実施形態に係るアクティブマトリクス駆動方式の有機ELディスプレイパネル10における主に画素回路Pi,jの電極を示した平面図である。なお、図面を見やすくするために、図37においては画素回路Pi,jの下層側の電極の図示を省略する。また、図38(A)は図37に示した画素回路部分のA−A線の矢視断面図であり、図38(B)は端子18Uであるゲート配線端子部の断面図、図38(C)は端子18L,18Rであるドレイン配線端子部の断面図である。なお、図37に示した画素回路部分のD−D線の矢視断面図は図26と同一である。 FIG. 37 is a plan view mainly showing electrodes of the pixel circuits Pi, j in the organic EL display panel 10 of the active matrix driving system according to the present embodiment. In order to make the drawing easier to see, in FIG. 37, illustration of electrodes on the lower layer side of the pixel circuit Pi, j is omitted. 38A is a cross-sectional view taken along the line AA of the pixel circuit portion shown in FIG. 37, and FIG. 38B is a cross-sectional view of the gate wiring terminal portion which is the terminal 18U. C) is a cross-sectional view of the drain wiring terminal portion which is the terminals 18L and 18R. Note that the cross-sectional view taken along the line DD of the pixel circuit portion shown in FIG. 37 is the same as FIG.

即ち、本実施形態では、図37及び図38(A)乃至(C)に示すように、有機EL素子20を仕切る隔壁としても機能している共通配線16の代わりに、単なる隔壁66を形成するようにしたものである。この場合、層間絶縁膜54の上に直接、隔壁66が形成され、該隔壁66の表面に透明カソード電極20cが形成される。   That is, in the present embodiment, as shown in FIGS. 37 and 38A to 38C, a simple partition 66 is formed instead of the common wiring 16 that also functions as a partition that partitions the organic EL element 20. It is what I did. In this case, the partition 66 is formed directly on the interlayer insulating film 54, and the transparent cathode electrode 20 c is formed on the surface of the partition 66.

次に、本実施形態におけるELディスプレイパネル10の製造方法について説明する。図39(A)乃至図42(A)は、図38(A)に示したような画素回路部分における各工程での断面図を示しており、同じく、図39(B)乃至図42(B)は図38(B)に示したようなゲート配線端子部、図39(C)乃至図42(C)は図38(C)に示したようなドレイン配線端子部における各工程での断面図を示している。   Next, a method for manufacturing the EL display panel 10 in the present embodiment will be described. FIGS. 39A to 42A are cross-sectional views at each step in the pixel circuit portion as shown in FIG. 38A. Similarly, FIGS. 39B to 42B are shown. ) Is a gate wiring terminal portion as shown in FIG. 38B, and FIGS. 39C to 42C are cross-sectional views at each step in the drain wiring terminal portion as shown in FIG. 38C. Is shown.

本実施形態においては、上記第1実施形態における図8(A),(B),(C)乃至図13(A),(B),(C)を参照して説明したような第1の工程(ゲート形成工程)乃至第6の工程(層間絶縁膜形成工程)、及び、その後の、上記第2実施形態における図27(A),(B),(C)乃至図31(A),(B),(C)を参照して説明したような第7の工程(アノード補助層形成工程)乃至第11の工程(層間絶縁膜形成工程)を実施する。   In the present embodiment, the first embodiment described with reference to FIGS. 8A, 8B, and 13C to 13A, 13B, and 13C in the first embodiment is used. Steps (gate formation step) to sixth step (interlayer insulating film formation step), and the subsequent steps shown in FIGS. 27A, 27B, 27C to 31A in the second embodiment. The seventh step (anode auxiliary layer forming step) to the eleventh step (interlayer insulating film forming step) as described with reference to (B) and (C) are performed.

その後、本実施の形態では、第12の工程として、隔壁形成工程を実施する。即ち、この隔壁形成工程においては、まず、隔壁材料を塗布し、その隔壁材料を乾燥させることで、隔壁材料をべた一面に成膜する。そして、図39(A)乃至(C)に示すように、露光現像法により水平方向に隣り合う透明アノード電極20aの間にのみ該隔壁材料を残した後、ポストベーク(熱処理)法により該隔壁材料を硬化させて、隔壁66を形成する。   Thereafter, in the present embodiment, a partition wall forming step is performed as a twelfth step. That is, in this partition wall forming step, first, a partition wall material is applied, and the partition wall material is dried to form a partition wall material on the entire surface. Then, as shown in FIGS. 39A to 39C, after the partition wall material is left only between the transparent anode electrodes 20a adjacent to each other in the horizontal direction by an exposure development method, the partition wall is formed by a post-bake (heat treatment) method. The material is cured to form the partition 66.

次に、第13の工程として、親水化工程を実施する。即ち、本実施形態においては、透明アノード電極20a上に親水化処理を施す。   Next, a hydrophilization process is implemented as a 13th process. That is, in the present embodiment, a hydrophilic treatment is performed on the transparent anode electrode 20a.

その後、第14の工程として、上記第2実施形態における第14の工程に相当する正孔注入層形成工程を実施する。即ち、この正孔注入層形成工程においては、図40(A)に示すように、PEDOTを塗布し乾燥させる湿式塗布法によって正孔注入層20hとしてパターニングする。水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間に厚膜の隔壁66が設けられているので、透明アノード電極20aに塗布されたPEDOT含有液が隣の透明アノード電極20aに漏れることがない。なお、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部については、図40(B)及び(C)に示すように、正孔注入層20hは形成されない。   Thereafter, as a fourteenth step, a hole injection layer forming step corresponding to the fourteenth step in the second embodiment is performed. That is, in this hole injection layer forming step, as shown in FIG. 40A, the hole injection layer 20h is patterned by a wet coating method in which PEDOT is applied and dried. Since the thick partition wall 66 is provided between the transparent anode electrodes 20a adjacent in the horizontal direction, the PEDOT-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a does not leak to the adjacent transparent anode electrode 20a. Note that as shown in FIGS. 40B and 40C, the hole injection layer 20h is not formed in the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

次に、第15の工程として、上記第2実施形態における第15の工程に相当する発光層形成工程を実施する。即ち、この発光層形成工程においては、必要に応じて湿式塗布法によってインターレイヤーを塗布・乾燥させた後、図41(A)に示すように、ポリフルオレン系発光材の有機化合物を塗布し乾燥させる湿式塗布法によって発光層20eをパターニングする。上述したように、水平方向に隣り合う透明アノード電極20a間に厚膜の隔壁66が設けられているので、透明アノード電極20aに塗布された有機化合物含有液が隣の透明アノード電極20aに漏れることがない。ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部については、図41(B)及び(C)に示すように、発光層20eは形成されない。   Next, as a fifteenth step, a light emitting layer forming step corresponding to the fifteenth step in the second embodiment is performed. That is, in this light emitting layer forming step, the interlayer is applied and dried by a wet coating method as necessary, and then an organic compound of a polyfluorene-based light emitting material is applied and dried as shown in FIG. The light emitting layer 20e is patterned by a wet coating method. As described above, since the thick partition wall 66 is provided between the transparent anode electrodes 20a adjacent in the horizontal direction, the organic compound-containing liquid applied to the transparent anode electrode 20a leaks to the adjacent transparent anode electrode 20a. There is no. As for the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion, as shown in FIGS. 41B and 41C, the light emitting layer 20e is not formed.

次に、第16の工程として、上記第2実施形態における第16の工程に相当するカソード電極形成工程を実施する。即ち、このカソード電極形成工程においては、まず、必要に応じてバリウムやカルシウム等の電子注入層を上記発光層20e上に蒸着した後、図42(A)に示すように、スパッタリングによって透明カソード電極20cをメタルマスクを介し一面に成膜する。なお、発光層20eは温度に非常に敏感であるため、上記電子注入層の蒸着や透明カソード電極20cのスパッタリングは、発光層20eにダメージを与えないような温度の上がらない(100度程度)方法で実施することが必要である。そして、こうして成膜された透明カソード電極20cに対してメタルマスクを用いてパターニングすることで、図42(B)及び(C)に示すように、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部から透明カソード電極20cは除去される。   Next, as a sixteenth step, a cathode electrode forming step corresponding to the sixteenth step in the second embodiment is performed. That is, in this cathode electrode formation step, first, if necessary, an electron injection layer such as barium or calcium is deposited on the light emitting layer 20e, and then the transparent cathode electrode is formed by sputtering as shown in FIG. 20c is formed on one surface through a metal mask. Since the light emitting layer 20e is very sensitive to temperature, the deposition of the electron injection layer and the sputtering of the transparent cathode electrode 20c do not increase the temperature so as not to damage the light emitting layer 20e (about 100 degrees). It is necessary to carry out with. Then, by patterning the transparent cathode electrode 20c thus formed using a metal mask, as shown in FIGS. 42B and 42C, the transparent cathode electrode 20c is formed from the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion. The electrode 20c is removed.

次に、第17の工程として、上記第2実施形態における第17の工程に相当する封止絶縁膜形成工程を実施する。即ち、この封止絶縁膜形成工程においては、気相成長法によってメタルマスクを介して封止絶縁薄膜60を一面に形成することによって、図38(A)乃至(C)に示すように、封止絶縁薄膜60をパターニングする。   Next, as a seventeenth step, a sealing insulating film forming step corresponding to the seventeenth step in the second embodiment is performed. That is, in this sealing insulating film forming step, the sealing insulating thin film 60 is formed on one surface through a metal mask by vapor deposition, as shown in FIGS. 38 (A) to (C). The stop insulating thin film 60 is patterned.

以上の工程により、有機ELディスプレイパネル10が完成する。   The organic EL display panel 10 is completed through the above steps.

このような本第3実施形態によっても、上記第2実施形態と同様の効果を得ることができる。   According to the third embodiment, the same effect as that of the second embodiment can be obtained.

なお、上記第1実施形態においても、本第3実施形態のように共通配線16の代わりに隔壁66を形成することも可能である。   In the first embodiment as well, the partition 66 can be formed instead of the common wiring 16 as in the third embodiment.

以上、実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。   The present invention has been described above based on the embodiments. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and applications are possible within the scope of the gist of the present invention. .

例えば、上記実施形態では、発光素子として有機EL素子を例に説明したが、その他の発光素子を用いても構わない。   For example, in the above embodiment, the organic EL element is described as an example of the light emitting element, but other light emitting elements may be used.

また、画素回路の回路構成は、図3に示した例に限定されるものではない。   Further, the circuit configuration of the pixel circuit is not limited to the example shown in FIG.

更に、ゲート配線端子部及びドレイン配線端子部の周辺は、有機平坦化膜46が無くても良い。   Further, the organic planarization film 46 may not be provided around the gate wiring terminal portion and the drain wiring terminal portion.

また、コンタクトホール52は穴が開いているため、画素部と同一平面とはならない。そのため、コンタクトホール52が、平面視して、共通配線16又は隔壁66の外に出ている場合、有機EL層(正孔注入層20h及び発光層20e)を均一に形成し難い。よって、コンタクトホール52は、平面視して、共通配線16又は隔壁66の下に隠すように形成する方がより有効である。   Further, since the contact hole 52 has a hole, it is not flush with the pixel portion. Therefore, when the contact hole 52 is out of the common wiring 16 or the partition wall 66 in plan view, it is difficult to form the organic EL layers (the hole injection layer 20h and the light emitting layer 20e) uniformly. Therefore, it is more effective to form the contact hole 52 so as to be hidden under the common wiring 16 or the partition wall 66 in plan view.

図1は、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの第1実施形態に係るアクティブマトリクス駆動方式の有機ELディスプレイパネルの概略図である。FIG. 1 is a schematic view of an active matrix driving type organic EL display panel according to a first embodiment of a display panel using a light emitting element of the present invention. 図2は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの平面図である。FIG. 2 is a plan view of the organic EL display panel according to the first embodiment. 図3は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルにおける画素回路の等価回路図である。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of a pixel circuit in the organic EL display panel according to the first embodiment. 図4は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの画素回路の電極を示した平面図である。FIG. 4 is a plan view showing electrodes of the pixel circuit of the organic EL display panel according to the first embodiment. 図5は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの画素回路の電極を示した平面図である。FIG. 5 is a plan view showing electrodes of the pixel circuit of the organic EL display panel according to the first embodiment. 図6(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルにおける図4及び図5に示された画素回路部分のA−A線の矢視断面図、図6(B)は、同じく図2に示されたゲート配線端子部のB−B線の矢視断面図であり、図6(C)は、同じく図2に示されたドレイン配線端子部のC−C線の矢視断面図である。6A is a cross-sectional view taken along line AA of the pixel circuit portion shown in FIGS. 4 and 5 in the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. 6B is the same figure. 6 is a cross-sectional view taken along the line BB of the gate wiring terminal portion shown in FIG. 2, and FIG. 6C is a cross-sectional view taken along the line CC of the drain wiring terminal portion shown in FIG. It is. 図7は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルにおける図4及び図5に示された画素回路部分のD−D線の矢視断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line DD of the pixel circuit portion illustrated in FIGS. 4 and 5 in the organic EL display panel according to the first embodiment. 図8(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第1の工程としてのゲート形成工程での画素回路部分の断面図、図8(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図8(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 8A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the gate forming step as the first step in the method for manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. FIG. 8C is a cross-sectional view of the drain wiring terminal portion. 図9(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第2の工程としてのチャネル保護膜形成工程での画素回路部分の断面図、図9(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図9(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 9A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the channel protective film forming step as the second step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.9 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図10(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第3の工程としてのソース・ドレイン形成工程での画素回路部分の断面図、図10(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図10(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 10A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the source / drain forming step as the third step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.10 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図11(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第4の工程としてのゲート絶縁膜コンタクト形成工程での画素回路部分の断面図、図11(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図11(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 11A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the gate insulating film contact forming step as the fourth step in the method for manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a gate wiring terminal part, FIG.11 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図12(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第5の工程としてのドレイン配線層形成工程での画素回路部分の断面図、図12(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図12(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 12A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the drain wiring layer forming step as the fifth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.12 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図13(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第6の工程としての層間絶縁膜形成工程での画素回路部分の断面図、図13(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図13(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 13A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the interlayer insulating film forming step as the sixth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.13 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図14(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第7の工程としての有機平坦化膜形成工程での画素回路部分の断面図、図14(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図14(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 14A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the organic planarization film forming step as the seventh step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a gate wiring terminal part, FIG.14 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図15(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第8の工程としての反射層形成工程での画素回路部分の断面図、図15(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図15(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 15A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the reflective layer forming step as the eighth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.15 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図16(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第9の工程としての透明アノード電極形成工程での画素回路部分の断面図、図16(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図16(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 16A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the transparent anode electrode forming step as the ninth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.16 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図17(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第10の工程としての層間絶縁膜形成工程での画素回路部分の断面図、図17(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図17(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。17A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the interlayer insulating film forming step as the tenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.17 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図18(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第11の工程としての共通配線形成工程での画素回路部分の断面図、図18(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図18(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 18A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the common wiring forming step as the eleventh step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.18 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図19(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第12の工程としての親撥水化工程での画素回路部分の断面図、図19(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図19(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 19A is a cross-sectional view of a pixel circuit portion in a hydrophilic / water-repellent step as a twelfth step in the method of manufacturing an organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.19 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図20(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第13の工程としての正孔注入層形成工程での画素回路部分の断面図、図20(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図20(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 20A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the hole injection layer forming step as the thirteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a gate wiring terminal part, FIG.20 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図21(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第14の工程としての発光層形成工程での画素回路部分の断面図、図21(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図21(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 21A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the light emitting layer forming step as the fourteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.21 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図22(A)は、第1実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第15の工程としてのカソード電極形成工程での画素回路部分の断面図、図22(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図22(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 22A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the cathode electrode forming step as the fifteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the first embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.22 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図23は、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの画素回路の電極を示した平面図である。FIG. 23 is a plan view showing electrodes of a pixel circuit of an organic EL display panel according to a second embodiment of the display panel using the light emitting element of the present invention. 図24は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの画素回路の電極を示した平面図である。FIG. 24 is a plan view showing electrodes of a pixel circuit of the organic EL display panel according to the second embodiment. 図25(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルにおける図23及び図24に示された画素回路部分のA−A線の矢視断面図、図25(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図25(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 25A is a cross-sectional view taken along the line AA of the pixel circuit portion shown in FIGS. 23 and 24 in the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.25 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図26は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルにおける図23及び図24に示された画素回路部分のD−D線の矢視断面図である。FIG. 26 is a cross-sectional view taken along the line DD of the pixel circuit portion shown in FIGS. 23 and 24 in the organic EL display panel according to the second embodiment. 図27(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第7の工程としてのアノード補助層形成工程での画素回路部分の断面図、図27(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図27(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 27A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the anode auxiliary layer forming step as the seventh step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.27 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図28(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第8の工程としての有機平坦化膜形成工程での画素回路部分の断面図、図28(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図28(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 28A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the organic planarization film forming step as the eighth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a gate wiring terminal part, FIG.28 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図29(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第9の工程としての反射層形成工程での画素回路部分の断面図、図29(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図29(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 29A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the reflective layer forming step as the ninth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.29 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図30(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第10の工程としての透明アノード電極形成工程での画素回路部分の断面図、図30(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図30(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 30A is a cross-sectional view of the pixel circuit part in the transparent anode electrode forming step as the tenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.30 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図31(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第11の工程としての層間絶縁膜形成工程での画素回路部分の断面図、図31(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図31(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 31A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the interlayer insulating film forming step as the eleventh step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.31 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図32(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第12の工程としての共通配線形成工程での画素回路部分の断面図、図32(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図32(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 32A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the common wiring forming step as the twelfth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.32 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図33(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第13の工程としての親撥水化工程での画素回路部分の断面図、図33(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図33(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 33A is a cross-sectional view of a pixel circuit portion in a hydrophilic / water-repellent step as a thirteenth step in the method for manufacturing an organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a wiring terminal part, FIG.33 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図34(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第14の工程としての正孔注入層形成工程での画素回路部分の断面図、図34(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図34(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。34A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the hole injection layer forming step as the fourteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a gate wiring terminal part, FIG.34 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図35(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第15の工程としての発光層形成工程での画素回路部分の断面図、図35(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図35(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 35A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the light emitting layer forming step as the fifteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.35 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図36(A)は、第2実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第16の工程としてのカソード電極形成工程での画素回路部分の断面図、図36(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図36(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 36A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the cathode electrode forming step as the sixteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the second embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.36 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図37は、本発明の発光素子を用いたディスプレイパネルの第3実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの画素回路の電極を示した平面図である。FIG. 37 is a plan view showing electrodes of a pixel circuit of an organic EL display panel according to a third embodiment of a display panel using the light emitting element of the present invention. 図38(A)は、第3実施形態に係る有機ELディスプレイパネルにおける図37に示された画素回路部分のA−A線の矢視断面図、図38(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図38(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。38A is a cross-sectional view taken along line AA of the pixel circuit portion shown in FIG. 37 in the organic EL display panel according to the third embodiment, and FIG. 38B is a gate wiring terminal portion. FIG. 38C is a sectional view of the drain wiring terminal portion. 図39(A)は、第3実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第12の工程としての隔壁形成工程での画素回路部分の断面図、図39(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図39(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 39A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the partition forming step as the twelfth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the third embodiment, and FIG. FIG. 39C is a cross-sectional view of the drain wiring terminal portion. 図40(A)は、第3実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第14の工程としての正孔注入層形成工程での画素回路部分の断面図、図40(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図40(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 40A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the hole injection layer forming step as the fourteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the third embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a gate wiring terminal part, FIG.40 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図41(A)は、第3実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第15の工程としての発光層形成工程での画素回路部分の断面図、図41(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図41(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 41A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the light emitting layer forming step as the fifteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the third embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.41 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図42(A)は、第3実施形態に係る有機ELディスプレイパネルの製造方法における第16の工程としてのカソード電極形成工程での画素回路部分の断面図、図42(B)は、同じくゲート配線端子部の断面図であり、図42(C)は、同じくドレイン配線端子部の断面図である。FIG. 42A is a cross-sectional view of the pixel circuit portion in the cathode electrode forming step as the sixteenth step in the method of manufacturing the organic EL display panel according to the third embodiment, and FIG. It is sectional drawing of a terminal part, FIG.42 (C) is sectional drawing of a drain wiring terminal part similarly. 図43は、絶縁下地層上に形成されたアルミニウム系電極にITO電極が積層されていて、ITO電極にピンホールが開いている状態で、レジスト剥離液に接触している場合を示す図である。FIG. 43 is a diagram showing a case where an ITO electrode is laminated on an aluminum-based electrode formed on an insulating underlayer, and the ITO electrode is in contact with a resist stripping solution in a state where a pinhole is opened. . 図44(A)は、ピンホール箇所における電池反応を説明する図であり、図44(B)は、電池反応の結果としてアルミニウム系電極が断線した状態を示す図である。FIG. 44A is a diagram for explaining a battery reaction at a pinhole portion, and FIG. 44B is a diagram showing a state in which an aluminum-based electrode is disconnected as a result of the battery reaction.

符号の説明Explanation of symbols

10…ELディスプレイパネル、 12…絶縁基板、 14…給電配線、 16…共通配線、 18L,18R,18U…端子、 20…EL素子、 20a…透明アノード電極、 20c…透明カソード電極、 20e…発光層、 20h…正孔注入層、 22F,22B…引き回し配線、 24…配線端子、 26…スイッチトランジスタ、 28…保持トランジスタ、 30…駆動トランジスタ、 30s…ソース、 30g…ゲート、 30d…ドレイン、 30A…半導体膜、 30B…チャネル保護膜、 30C…不純物半導体膜、 32…キャパシタ、 32A…電極、 32B…電極、 34…ゲート絶縁膜、 36,62…密着層、 38,41,43,52…コンタクトホール、 40…ゲート配線層、 42…ドレイン配線層、 44,46…有機平坦化膜、 46’…有機平坦化膜開口、 48…トランジスタアレイ基板、 50…反射層、 54…層間絶縁膜、 54’…絶縁膜開口、 56…密着層、 58…撥液性導電膜、 60…封止絶縁薄膜、 63…アノード給電配線、 64…アノード補助層、 66…隔壁。     DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... EL display panel, 12 ... Insulating substrate, 14 ... Power supply wiring, 16 ... Common wiring, 18L, 18R, 18U ... Terminal, 20 ... EL element, 20a ... Transparent anode electrode, 20c ... Transparent cathode electrode, 20e ... Light emitting layer 20h ... hole injection layer, 22F, 22B ... routing wiring, 24 ... wiring terminal, 26 ... switch transistor, 28 ... holding transistor, 30 ... drive transistor, 30s ... source, 30g ... gate, 30d ... drain, 30A ... semiconductor Film, 30B ... channel protective film, 30C ... impurity semiconductor film, 32 ... capacitor, 32A ... electrode, 32B ... electrode, 34 ... gate insulating film, 36, 62 ... adhesion layer, 38, 41, 43, 52 ... contact hole, 40 ... Gate wiring layer, 42 ... Drain wiring layer, 44, 4 6 ... Organic planarization film, 46 '... Organic planarization film opening, 48 ... Transistor array substrate, 50 ... Reflective layer, 54 ... Interlayer insulation film, 54' ... Insulation film opening, 56 ... Adhesion layer, 58 ... Liquid repellency Conductive film, 60: sealing insulating thin film, 63: anode power supply wiring, 64: anode auxiliary layer, 66: partition.

Claims (12)

透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルであって、
基板と、
前記基板上において、前記発光素子毎に設けられた、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタと、
前記基板上において、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層と、
前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆するように形成された絶縁膜と、
前記発光素子の配列に対応して前記絶縁膜上に形成された導電性の反射層と、
前記反射層上に形成された前記発光素子の画素電極と、
前記配線層を外部と接続するための、前記配線層に達するまで前記絶縁膜に開口部が形成された配線端子部と、
を具備し、
前記配線端子部では、前記画素電極及び前記反射層の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部の内部にまで延在形成されて、前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされることを特徴とする発光素子を用いたディスプレイパネル。
A display panel in which light emitting elements having a laminated structure of a transparent pixel electrode, a light emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix,
A substrate,
On the substrate, a plurality of transistors provided for each of the light emitting elements, for driving the light emitting elements,
A wiring layer for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors on the substrate;
An insulating film formed to cover the plurality of transistors and the wiring layer;
A conductive reflective layer formed on the insulating film corresponding to the arrangement of the light emitting elements;
A pixel electrode of the light emitting element formed on the reflective layer;
A wiring terminal portion having an opening formed in the insulating film until reaching the wiring layer, for connecting the wiring layer to the outside;
Comprising
In the wiring terminal portion, a laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer is formed to extend to the inside of the opening formed in the insulating film, and externally through the laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer. A display panel using a light emitting element characterized in that it is electrically connected to the display.
前記反射層は、前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部の内部での前記画素電極と前記配線層との間の電池反応を防止する電池反応防止層としても機能することを特徴とする請求項1に記載のディスプレイパネル。 The reflective layer also functions as a battery reaction preventing layer that prevents a battery reaction between the pixel electrode and the wiring layer inside the opening formed in the insulating film of the wiring terminal portion. The display panel according to claim 1, wherein the display panel is a display panel. 前記反射層は、クロム、銀、銀合金の少なくともいずれかの材料で構成されることを特徴とする請求項2に記載のディスプレイパネル。 The display panel according to claim 2, wherein the reflective layer is made of at least one of chromium, silver, and a silver alloy. 前記画素電極は、前記反射層の全面を覆い、且つ、前記反射層は前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部内部で露出している前記配線層の全面を覆っていることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイパネル。 The pixel electrode covers the entire surface of the reflective layer, and the reflective layer covers the entire surface of the wiring layer exposed inside the opening formed in the insulating film of the wiring terminal portion. The display panel according to claim 1. 透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルであって、
基板と、
前記基板上において、前記発光素子毎に設けられた、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタと、
前記基板上において、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層と、
前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆するように形成された絶縁膜と、
前記発光素子の配列に対応して前記絶縁膜上に形成された導電性の反射層と、
前記反射膜上に形成された前記発光素子の画素電極と、
前記配線層を外部と接続するための、前記配線層に達するまで前記絶縁膜に開口部が形成された配線端子部と、
前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部の内部で露出している前記配線層の全面を覆って形成された導電性の補助層と、
を具備し、
前記配線端子部では、前記画素電極及び前記反射層の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部内の前記補助層上まで延在形成されて、前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされることを特徴とする発光素子を用いたディスプレイパネル。
A display panel in which light emitting elements having a laminated structure of a transparent pixel electrode, a light emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix,
A substrate,
On the substrate, a plurality of transistors provided for each of the light emitting elements, for driving the light emitting elements,
A wiring layer for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors on the substrate;
An insulating film formed to cover the plurality of transistors and the wiring layer;
A conductive reflective layer formed on the insulating film corresponding to the arrangement of the light emitting elements;
A pixel electrode of the light emitting element formed on the reflective film;
A wiring terminal portion having an opening formed in the insulating film until reaching the wiring layer, for connecting the wiring layer to the outside;
A conductive auxiliary layer formed so as to cover the entire surface of the wiring layer exposed inside the opening formed in the insulating film of the wiring terminal portion;
Comprising
In the wiring terminal portion, a laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer is formed to extend over the auxiliary layer in the opening formed in the insulating film, and the laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer is interposed therebetween. A display panel using a light-emitting element characterized by being electrically connected to the outside.
前記反射層は、前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部の内部での前記画素電極と前記配線層との間の電池反応を防止する電池反応防止層としても機能することを特徴とする請求項5に記載のディスプレイパネル。 The reflective layer also functions as a battery reaction preventing layer that prevents a battery reaction between the pixel electrode and the wiring layer inside the opening formed in the insulating film of the wiring terminal portion. The display panel according to claim 5, wherein the display panel is a display panel. 前記反射層は、クロム、銀、銀合金の少なくともいずれかの材料で構成されることを特徴とする請求項6に記載のディスプレイパネル。 The display panel according to claim 6, wherein the reflective layer is made of at least one of chromium, silver, and a silver alloy. 前記画素電極は、前記反射層の全面を覆い、且つ、前記反射層は前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部内部で露出している前記補助層の全面を覆っていることを特徴とする請求項5に記載のディスプレイパネル。 The pixel electrode covers the entire surface of the reflective layer, and the reflective layer covers the entire surface of the auxiliary layer exposed inside the opening formed in the insulating film of the wiring terminal portion. The display panel according to claim 5. 前記発光素子は有機EL素子であることを特徴とする請求項1乃至8の何れかに記載のディスプレイパネル。 The display panel according to claim 1, wherein the light emitting element is an organic EL element. 透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルの製造方法であって、
基板上に、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタを形成する工程と、
前記基板上に、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層を形成する工程と、
前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆する絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜に、前記配線層を外部と接続するための配線端子部において、前記配線層に達するまでの開口部を形成する工程と、
前記発光素子の配列に対応して、前記絶縁膜上に、導電性の反射層を形成する工程と、
前記反射膜上に、前記発光素子の画素電極を形成する工程と、
前記発光素子の画素電極上に、前記発光素子の発光層を形成する工程と、
前記発光素子の発光層上に、前記発光素子の対向電極を形成する工程と、
を具備し、
前記反射層を形成する工程及び前記画素電極を形成する工程は、前記配線端子部において、前記反射層と前記画素電極の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部の内部にまで延在して前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされるように、前記反射層及び前記画素電極を形成することを特徴とする発光素子を用いたディスプレイパネルの製造方法。
A method of manufacturing a display panel in which light emitting elements having a laminated structure of a transparent pixel electrode, a light emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix,
Forming a plurality of transistors for driving the light emitting element on a substrate;
Forming a wiring layer on the substrate for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors;
Forming an insulating film covering the plurality of transistors and the wiring layer;
A step of forming an opening to reach the wiring layer in a wiring terminal portion for connecting the wiring layer to the outside in the insulating film;
Corresponding to the arrangement of the light emitting elements, forming a conductive reflective layer on the insulating film;
Forming a pixel electrode of the light emitting element on the reflective film;
Forming a light emitting layer of the light emitting element on the pixel electrode of the light emitting element;
Forming a counter electrode of the light emitting element on the light emitting layer of the light emitting element;
Comprising
In the wiring terminal portion, the step of forming the reflective layer and the step of forming the pixel electrode are such that the laminated structure of the reflective layer and the pixel electrode extends into the opening formed in the insulating film. A method of manufacturing a display panel using a light emitting element, wherein the reflective layer and the pixel electrode are formed so as to be electrically connected to the outside through a laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer.
透明な画素電極と発光層と透明な対向電極との積層構造からなる発光素子をマトリクス状に配列したディスプレイパネルの製造方法であって、
基板上に、前記発光素子を駆動するための複数のトランジスタを形成する工程と、
前記基板上に、前記複数のトランジスタに信号又は電源電圧を供給するための配線層を形成する工程と、
前記複数のトランジスタ及び前記配線層を被覆する絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜に、前記配線層を外部と接続するための配線端子部において、前記配線層に達するまでの開口部を形成する工程と、
前記配線端子部の前記絶縁膜に形成された前記開口部の内部で露出している前記配線層の全面を覆うように導電性の補助層を形成する工程と、
前記発光素子の配列に対応して、前記絶縁膜上に、導電性の反射層を形成する工程と、
前記反射膜上に、前記発光素子の画素電極を形成する工程と、
前記発光素子の画素電極上に、前記発光素子の発光層を形成する工程と、
前記発光素子の発光層上に、前記発光素子の対向電極を形成する工程と、
を具備し、
前記反射層を形成する工程及び前記画素電極を形成する工程は、前記配線端子部において、前記反射層と前記画素電極の積層構造が前記絶縁膜に形成された開口部内の前記補助層上まで延在して前記画素電極及び前記反射層の積層構造を介して外部との導通がなされるように、前記反射層及び前記画素電極を形成することを特徴とする発光素子を用いたディスプレイパネルの製造方法。
A method of manufacturing a display panel in which light emitting elements having a laminated structure of a transparent pixel electrode, a light emitting layer, and a transparent counter electrode are arranged in a matrix,
Forming a plurality of transistors for driving the light emitting element on a substrate;
Forming a wiring layer on the substrate for supplying a signal or a power supply voltage to the plurality of transistors;
Forming an insulating film covering the plurality of transistors and the wiring layer;
A step of forming an opening to reach the wiring layer in a wiring terminal portion for connecting the wiring layer to the outside in the insulating film;
Forming a conductive auxiliary layer so as to cover the entire surface of the wiring layer exposed inside the opening formed in the insulating film of the wiring terminal portion;
Corresponding to the arrangement of the light emitting elements, forming a conductive reflective layer on the insulating film;
Forming a pixel electrode of the light emitting element on the reflective film;
Forming a light emitting layer of the light emitting element on the pixel electrode of the light emitting element;
Forming a counter electrode of the light emitting element on the light emitting layer of the light emitting element;
Comprising
In the wiring terminal portion, the step of forming the reflective layer and the step of forming the pixel electrode extend over the auxiliary layer in the opening formed in the insulating film in the laminated structure of the reflective layer and the pixel electrode. Manufacturing of a display panel using a light emitting element, wherein the reflective layer and the pixel electrode are formed so as to be electrically connected to the outside through a laminated structure of the pixel electrode and the reflective layer Method.
前記発光素子は有機EL素子であることを特徴とする請求項10又は11に記載のディスプレイパネルの製造方法。 The method for manufacturing a display panel according to claim 10, wherein the light emitting element is an organic EL element.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009231090A (en) * 2008-03-24 2009-10-08 Casio Comput Co Ltd El panel and method for manufacturing el panel
JP2010003668A (en) * 2008-06-23 2010-01-07 Samsung Electronics Co Ltd Organic light emitting display, and method of manufacturing the same
WO2015166651A1 (en) * 2014-05-02 2015-11-05 株式会社Joled Thin-film transistor device and display device using same
WO2015166652A1 (en) * 2014-05-02 2015-11-05 株式会社Joled Thin-film transistor device and display device using same
CN105742314A (en) * 2014-12-25 2016-07-06 精工爱普生株式会社 Electro-optical apparatus, manufacturing method thereof, and electronic device
JP2016122614A (en) * 2014-12-25 2016-07-07 セイコーエプソン株式会社 Electrooptic device and electronic equipment
CN107994059A (en) * 2017-11-27 2018-05-04 京东方科技集团股份有限公司 Array base palte and its manufacture method
EP3993039A1 (en) * 2020-11-02 2022-05-04 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
CN115210793A (en) * 2020-03-02 2022-10-18 夏普株式会社 Display device and method for manufacturing the same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005268200A (en) * 2004-03-20 2005-09-29 Samsung Sdi Co Ltd Electroluminescent display apparatus and its manufacturing method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005268200A (en) * 2004-03-20 2005-09-29 Samsung Sdi Co Ltd Electroluminescent display apparatus and its manufacturing method

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009231090A (en) * 2008-03-24 2009-10-08 Casio Comput Co Ltd El panel and method for manufacturing el panel
JP2010003668A (en) * 2008-06-23 2010-01-07 Samsung Electronics Co Ltd Organic light emitting display, and method of manufacturing the same
JPWO2015166652A1 (en) * 2014-05-02 2017-04-20 株式会社Joled THIN FILM TRANSISTOR DEVICE AND DISPLAY DEVICE USING THE SAME
WO2015166651A1 (en) * 2014-05-02 2015-11-05 株式会社Joled Thin-film transistor device and display device using same
WO2015166652A1 (en) * 2014-05-02 2015-11-05 株式会社Joled Thin-film transistor device and display device using same
US10032802B2 (en) 2014-05-02 2018-07-24 Joled Inc. Thin-film transistor device and display device using same
US10020323B2 (en) 2014-05-02 2018-07-10 Joled Inc. Thin-film transistor device and display device using same
US10490776B2 (en) 2014-12-25 2019-11-26 Seiko Epson Corporation Electro-optical apparatus, manufacturing method thereof, and electronic device
US9991472B2 (en) 2014-12-25 2018-06-05 Seiko Epson Corporation Electro-optical apparatus, manufacturing method thereof, and electronic device
JP2016122614A (en) * 2014-12-25 2016-07-07 セイコーエプソン株式会社 Electrooptic device and electronic equipment
JP2016122612A (en) * 2014-12-25 2016-07-07 セイコーエプソン株式会社 Electrooptic device, manufacturing method for the same and electronic equipment
CN105742314A (en) * 2014-12-25 2016-07-06 精工爱普生株式会社 Electro-optical apparatus, manufacturing method thereof, and electronic device
CN107994059A (en) * 2017-11-27 2018-05-04 京东方科技集团股份有限公司 Array base palte and its manufacture method
CN107994059B (en) * 2017-11-27 2020-05-26 京东方科技集团股份有限公司 Array substrate and manufacturing method thereof
CN115210793A (en) * 2020-03-02 2022-10-18 夏普株式会社 Display device and method for manufacturing the same
CN115210793B (en) * 2020-03-02 2023-08-18 夏普株式会社 Display device and method for manufacturing the same
EP3993039A1 (en) * 2020-11-02 2022-05-04 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus

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