JP2007533993A - 扇ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影 - Google Patents

扇ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影 Download PDF

Info

Publication number
JP2007533993A
JP2007533993A JP2007509022A JP2007509022A JP2007533993A JP 2007533993 A JP2007533993 A JP 2007533993A JP 2007509022 A JP2007509022 A JP 2007509022A JP 2007509022 A JP2007509022 A JP 2007509022A JP 2007533993 A JP2007533993 A JP 2007533993A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
detector
collimator
scattered
interest
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007509022A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007533993A5 (ja
Inventor
エンス−ペテル シュロムカ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips NV
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips NV, Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips NV
Publication of JP2007533993A publication Critical patent/JP2007533993A/ja
Publication of JP2007533993A5 publication Critical patent/JP2007533993A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/52Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/5258Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
    • A61B6/5282Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03Computed tomography [CT]
    • A61B6/032Transmission computed tomography [CT]
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4291Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/483Diagnostic techniques involving scattered radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/201Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring small-angle scattering
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V5/00Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/20Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
    • G01V5/22Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
    • G01V5/222Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays measuring scattered radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V5/00Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/20Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
    • G01V5/22Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
    • G01V5/226Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays using tomography

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

既知の干渉性散乱CTスキャナは扇ビームを使用する。しかしながら、これは、追加のコリメート手段を要し、これは検出器に加えられる光子束を減少させる。これにより、より長い測定時間が必要とされうる。更に、幾何学的配置が既知の円錐ビームCTスキャナと互換性がない。本発明の模範的実施例によると、円錐ビームCSCTスキャナは、検出器上に配置されたコリメータを持つエネルギ分解検出器を使用して提供され、散乱関数の空間分解再構成を可能にする。有利には、これは、手荷物検査又は医療応用において向上された走査速度を可能にすることができる。

Description

本発明は、X線のような放射線が関心の対象に加えられる、干渉性散乱(coherent-scatter)コンピュータ断層撮影(CSCT)の分野に関する。特に、本発明は、関心の対象を検査するコンピュータ断層撮影装置、関心の対象を検査する円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置に対する散乱放射ユニット、及び円錐ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影走査を実行する方法に関する。
米国特許第US4751722号は、約100keVのX線エネルギにおけるビームの方向に関連して1°ないし12°の角度内の干渉性散乱放射線の角度分布のレジストレーションの原理に基づくデバイスを記載している。米国特許第US4751722号に記載されたように、弾性散乱放射線の主要部分は、12°より下の角度内に集中しており、前記散乱放射線は、明確な最大値を持つ特徴的な角度依存性を持ち、前記明確な最大値の位置は、照射される物質自体により決定される。小さな角度内の前記干渉性散乱放射線の強度の分布は、前記物質の分子構造に依存するので、(従来の透光性検査又はCTでは区別されることができない)等しい吸収能を持つ異なる物質は、各物質に典型的な干渉性放射線の角度散乱の強度によって区別されることができる。
異なる対象材料を区別するこのようなシステムの改良された性能により、このようなシステムは、医療又は工業分野において更に多くの応用分野を見つける。
低角度散乱の主成分は干渉性散乱である。干渉性散乱は、散乱サンプルの原子配置に依存する干渉効果を示すので、干渉性散乱コンピュータ断層撮影(CSCT)は、原理的には、2次元対象断面を横切る組織の分子構造における空間的変化を撮像する感度の良い手法である。
Harding他の“Energy-dispersive x-ray diffraction tomography”Phys. Med. Biol., 1990, Vol.35, No.1, 33-41は、多色放射線により対象において励起された干渉性X線散乱の固定角度でのエネルギ解析に基づく断層撮影撮像手法である、エネルギ分散型X線回折断層撮影(EXDT)を記載している。
この方法によると、放射線ビームは、適切な開口システムの使用により作られ、これは鉛筆の形状を持ち、したがってペンシルビームとも称される。ペンシルビーム構造とは逆に、エネルギ解析に適した1つの検出器素子は、関心の対象により変更された前記ペンシルビームを検出するように構成される。
1つ又は少数の検出器素子のみと組み合わせた前記ペンシルビームの使用により、放射源により放射された限定された数の光子のみ、ひいては減少された量の情報のみが測定されることができる。EXDTが、例えば手荷物のようなより大きな対象に加えられる場合、EXDTは、走査モードで使用されなければならず、したがって極端に長い測定時間を生じる。
扇ビームの一次扇を印加する干渉性散乱セットアップ及びCTと組み合わせる2次元検出器は、米国特許第US6470067B1号に記載され、したがってEXDT走査モードに伴う長い測定時間を克服する。多色光源と組み合わせる角度分散セットアップの欠点は、例えば、Schneider他“Coherent Scatter Computed Tomography applying a Fan-Beam Geometry”Pro. SPIE, 2001, Vol.4320, 754-763に記載されている不鮮明な散乱関数である。
依然として、速い干渉性散乱CTに対する必要性が存在する。
本発明の課題は、速い干渉性散乱コンピュータ断層撮影装置を提供することである。
請求項1に記載される本発明の模範的実施例によると、関心の対象を検査するコンピュータ断層撮影装置が提供され、前記コンピュータ断層撮影装置は、放射線源、前記関心の対象により散乱された散乱放射線を受ける散乱放射線検出器及び第1のコリメータを有する。前記散乱放射線検出器は、前記関心の対象及び前記放射線源を通って延在する中心面に対してオフセットを持つように前記放射線源の反対に配置される。前記散乱放射線は、複数の領域を持つ。前記領域の各々は、少なくとも1つの第1の検出器素子を有する。前記第1の検出器素子は、エネルギ分解(energy resolving)検出器素子である。前記第1のコリメータは、前記複数の領域の中のそれぞれの領域の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する(impinges)放射線が、実質的に前記関心の対象の所定のセクションから散乱された放射線に制限されるように適合される。前記放射線源は、放射線の円錐ビームを生成するように適合される。
換言すると、本発明のこの模範的実施例の一態様によると、円錐ビームを加えるCSCT装置が提供される。受けた散乱放射線の空間的割り当てを可能にするために、前記第1のコリメータは、前記エネルギ分解散乱放射線と一緒に提供され、前記放射線源に対して及び前記関心の対象に対して所定の角度を持つ散乱放射線のみが、前記散乱放射線検出器の前記それぞれの検出器素子に作用することを保証する。したがって、前記エネルギ分解検出器、即ち前記散乱放射線検出器は、前記関心の対象の前記所定のセクションから散乱された前記散乱放射線のエネルギ分布を測定する。前記所定のセクションは、前記コリメータの配置、即ち前記コリメータの焦点の配置により決定される。このことから、空間分解能を持つ干渉性散乱関数が決定される。
有利には、前記円錐ビームの使用により、必要とされる走査時間は大幅に減少されることができる。
請求項2に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記第1のコリメータは、第2のコリメータ及び第3のコリメータを有する。前記第2のコリメータは、前記放射線源に焦点を合わせられ、前記第3のコリメータは、前記関心の対象の前記セクションに焦点を合わせられる。前記第1及び第2のコリメータを前記散乱放射線検出器の上に層状に配置することにより、又は前記放射線源に対して一方を他方の後に配置することにより、前記散乱放射線検出器の前記それぞれの検出器素子に作用する放射線は、前記関心の対象の所定の小セクション又は領域において散乱された放射線に限定されることができる。換言すると、前記第2及び第3のコリメータを加えることにより、前記第1のコリメータは、前記第1のコリメータに関連した前記散乱放射線検出器の各検出器素子が、前記関心の対象の所定の“視野の線(line of vision)”を持つように実現されることができる。
請求項3に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記第2及び第3のコリメータは、ラメラ(lamellae)を使用することにより実現され、前記ラメラは、前記第2のコリメータに対して前記放射線源に焦点を合わせられ、前記第1のコリメータのそれぞれの部分に関連付けられた前記それぞれの検出器素子の“視野(view)”が所定の視野の線を持つように前記関心の対象の前記セクションに焦点を合わせられる。
請求項4に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記第2及び第3のコリメータは、孔を有するスロットコリメータを用いて実施され、各それぞれの領域に対して、又は前記領域に関連付けられた各それぞれの検出器素子に対して、前記放射線源及び前記関心の対象のセクションにそれぞれ焦点を合わせられる。これは、第1のコリメータが単純かつ強固な構成を持つことを可能にすることができる。
請求項5に記載される本発明の他の模範的実施例によると、一次放射線検出器は、前記関心の対象により減衰された一次放射線を受けるために前記中心面に備えられる。有利には、これは、散乱放射線データ及び減衰データを同時に、即ち同じ走査中に収集し、前記散乱放射線データを補償するために前記減衰データを使用することを可能にすることができる。有利には、これは、非常に正確な走査結果を可能にすることができる。
請求項6に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記エネルギ分解素子は、直接変換半導体セルであり、一次放射線セルはシンチレータセルである。
請求項7に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記散乱放射線検出器及び前記一次放射線検出器は、1つの検出器ユニットに一体化されるか、又は別々の検出器ユニットとして配置されるかのいずれかであり、前記コンピュータ断層撮影装置に独立に取り付けられてもよい。
請求項8に記載される本発明の他の模範的実施例によると、散乱放射線ユニットが提供され、関心の対象を検査する円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置内に配置されることができる。前記散乱放射線ユニットは、散乱放射線検出器及び第1のコリメータを有する。前記散乱放射線検出器は、前記散乱放射線検出器が前記関心の対象により散乱された散乱放射線を受けるように構成されるように前記円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置に対する取り付けに適合される。前記第1のコリメータは、前記散乱放射線検出器を用いる構成に対して適合される。前記散乱放射線検出器は、前記関心の対象及び前記放射線源を通って延在する中心面に対してオフセットを持つ前記円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置の放射線源と反対側の配置に対して適合される。
前記散乱放射線検出器は複数の領域を持ち、前記領域の各々は、少なくとも1つの第1の検出器素子を持つ。前記第1の検出器素子は、エネルギ分解検出器素子である。前記第1のコリメータは、前記複数の領域の中のそれぞれの領域の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する放射線が、前記関心の対象の所定のセクションから散乱された放射線に実質的に限定されるように適合される。前記放射線源は、放射線の円錐ビームを生成するように適合される。
有利には、この散乱放射線ユニットは、既知の円錐ビームCTスキャナ内に配置されることができ、これにより米国特許第US6269141B1号から既知であるような既知の円錐ビームCTスキャナが、円錐ビームCSCTスキャナに有利に変えられることができる。一次放射線開口システムは必要とされない。
これは、非常に単純な構成を可能にすることができ、更に、既知の円錐ビームCTスキャナを円錐ビームCSCTスキャナにアップグレードすることを可能にすることができる。
請求項9に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記第1のコリメータは、第2及び第3のコリメータを有し、前記関心の対象の所定のセクションに対する前記散乱放射線検出器のエネルギ分解セルの視野の線を可能にする。
好ましくは、前記散乱放射線検出器の前記エネルギ分解検出器素子の各々が、関心の領域内で交差しない視野の独自の線又は小さな体積を持つことに注意すべきである。前記視野の線の幅は、前記円錐ビームCSCT装置の空間分解能を決定する。
請求項10に記載の本発明の他の模範的実施例によると、前記第2及び第3のコリメータは、適宜に配置されたラメラを用いて実現される。これは、前記散乱放射線ユニットの単純な配置を可能にすることができる。
請求項11に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記第2及び第3のコリメータは、スロットコリメータを用いて実現されることができる。
請求項12に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記散乱放射線ユニットは、前記円錐ビーム放射線検出器の一次放射線検出器を用いる構成に対して適合される。これに対して、例えば、前記散乱放射線ユニットは、前記一次放射線検出器を有してもよく、これにより、例えば、円錐ビームCTが円錐ビームCSCTに変更される場合に、前記検出器ユニット全体が交換される。しかしながら、前記散乱放射線ユニットは、前記一次放射線検出器を備えなくてもよく、これにより、前記円錐ビームCTを前記円錐ビームCSCTにアップグレードするために、前記散乱放射線ユニットは、前記円錐ビームCT装置内に適宜に配置されるだけである。
請求項13に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記散乱放射線検出器の前記エネルギ分解検出器素子は、直接変換半導体セルである。
請求項14に記載される本発明の他の模範的実施例によると、関心の対象を検査するコンピュータ断層撮影装置を用いて円錐ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影走査を実行する方法が提供される。この方法によると、放射線源が備えられる。散乱放射線検出器は、前記関心の対象により散乱された散乱放射線を受けるように備えられる。また、第1のコリメータが備えられる。前記散乱放射線検出器は、前記関心の対象及び前記放射線源を通って延在する中心面に対してオフセットを持つように前記放射線源の反対側に配置される。前記散乱放射線検出器は複数の領域を持ち、各領域は、好ましくはエネルギ分解検出器素子として構成される少なくとも1つの第1の検出器素子を持つ。前記第1のコリメータは、前記複数の領域の1つの領域に作用する放射線が前記関心の対象の所定のセクションから散乱された放射線に実質的に限定されるように適合される。換言すると、前記第1のコリメータは、領域に関連付けられた前記エネルギ分解検出器素子の各領域が、前記関心の対象に対して視野の線を常に持つように適合されることができ、これにより前記関心の対象のこのようなセクション内のみで散乱された散乱放射線が、これらのエネルギ分解検出器素子に作用する。
この方法のこの模範的実施例によると、前記放射線源は、放射線の円錐ビームを生成するように電圧を印加されている(energized)。したがって、前記散乱放射線検出器からの読み出しが決定される。前記散乱放射線検出器からの前記読み出しは、吸収補正を受ける。この後に、干渉性散乱関数の再構成が、前記補正された読み出しに基づいて実行される。
有利には、非常に速い方法が提供されることができる。
請求項15に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記関心の対象の減衰係数は、前記中心面に配置された一次放射線検出器の読み出しを使用することにより決定される。したがって、前記散乱放射線検出器からの前記読み出しの前記吸収補正に対するパラメータは、前記減衰係数に基づいて決定される。これは、非常に正確な走査結果、例えば再構成された画像の良い画質を可能にすることができる。
請求項16に記載される本発明の他の模範的実施例によると、前記放射線源は、前記一次放射線検出器及び前記散乱放射線検出器が本質的に同時に前記放射線源から放射された円錐ビーム放射線を受けるように動作する。
減衰データ及び散乱データの同時の収集により、速い走査方法が提供されることができる。
円錐ビームCSCTが提供されることは、本発明の模範的実施例の要点と見なされることができる。例えば、2次元エネルギ分解検出器と組み合わせた、例えば、2次元コリメータを使用することにより、前記円錐ビームにより照射される関心の対象の散乱関数の再構成が可能であることができる。有利には、これは、円錐ビームCTとの互換性を可能にすることができ、例えば別の(扇ビーム)一次ビームに対する追加のスリットはもはや必要ではない。代わりに、本発明の模範的実施例によると、円錐ビーム送信CT及び円錐ビームCSCTが同時に測定される。一態様によると、円錐ビームCSCT機能は、本発明による前記コリメータを有する追加のエネルギ分解検出器ユニットを従来の円錐ビームCTスキャナに取り付けることにより従来の円錐ビームCTスキャナに追加されることができる。
本発明のこれら及び他の態様は、以下に記載される実施例を参照して説明され、明らかになる。
本発明の模範的実施例は、以下の図面を参照して以下に記載される。
図1ないし9の以下の説明において、同じ参照符号は、同じ又は対応する要素に対して使用される。
図1は、本発明による円錐ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影装置(円錐ビームCSCT)の模範的実施例を示す。この模範的実施例を参照して、本発明は、手荷物内の爆発物のような危険物を検出する手荷物検査における応用にたいして記載される。しかしながら、本発明が手荷物検査の分野における応用に限定されないが、例えば医療的応用における骨造影又は組織タイプの識別のような医療的応用又は他の工業的応用においても使用されることができることに注意すべきである。また、本発明が、回転ガントリを持つスキャナに限定されないことにも注意すべきである。これは、静止ガントリを持つスキャナに対しても使用されることができる。
図1に描かれたコンピュータ断層撮影装置は、既に上で示されたように、円錐ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影装置(CSCT)であり、エネルギ分解検出器と組み合わせて、及び断層撮影再構成と組み合わせて、多色円錐ビームを用いて良いスペクトル分解能を可能にする。図1に描かれた前記コンピュータ断層撮影装置は、回転軸2の周りで回転可能なガントリ1を有する。ガントリ1は、モータ3を用いて駆動される。参照符号4は、放射線の円錐ビーム6を放射するように適合された、X線源のような放射線源を示す。
円錐ビーム6は、ガントリ1の中心、即ち前記コンピュータ断層撮影装置の検査領域に配置された手荷物7を貫通し、検出器8上に配置されたコリメータ10に作用するような方向に向けられる。図1から理解されることができるように、コリメータ10及び検出器8は、ガントリ1において放射線源4の反対側に配置され、これにより放射線源4及び手荷物7と交差する中心面5は、検出器8の好ましくは中心における行又はラインに交差する。図1に描かれた検出器8は、複数の検出器ラインを持ち、各検出器ラインは、複数の検出器素子を有する。図1における前記検出器内の前記コリメータの配置により、検出器8の表面は、コリメータ10により覆われ、これにより前記検出器の検出器素子の配置は、図1において覆われている。
検出器8は、2つのタイプの放射線検出器ライン、即ちエネルギ分解検出器セルからなる検出器ラインである第1のタイプの検出器ライン30及び34を有する。前記検出器ラインは、円錐ビーム6による直接照射を受ける検出器8の表面の外側になるように配置される。本発明の一態様によると、これらの第1の検出器素子(ライン30及び34)は、エネルギ分解検出器素子である。好ましくは、前記エネルギ分解検出器素子は、直接変換半導体検出器セルである。直接変換半導体検出器セルは、シンチレーション無しで−前記放射線を電荷に直接的に変換する。好ましくは、これらの直接変換半導体検出器は、20%FWHMより良いエネルギ分解能を持ち、即ちΔEが前記検出器のエネルギ分解能の半値全幅(FWHM)であるとして、ΔE/E<0.2である。前記エネルギ分解検出器素子は、順序付けられていない形で、即ち列をなさずに分散されることもできる。
ライン30及び34のこのような検出器セルは、テルル化カドミウム又はCZTベースの検出器セルであってもよく、両方とも円錐ビーム6の中心面6の外側である。換言すると、全てのエネルギ分解ライン30及び34は、回転軸2に平行な方向に中心面5からのオフセットを持つようにX線源4の反対側でガントリ1に配置される。検出器ライン30は、図1に描かれた回転軸2の方向に対して正のオフセットを持つように配置され、ライン34は、図1に描かれた回転軸2の方向に対して前記中心面から負のオフセットを持つように配置される。また、上述のように、前記エネルギ分解検出器素子は、好ましくは、円錐ビーム6による直接照射を受けない検出器8の領域に配置され、これにより前記散乱放射線、即ち関心のアイテム7から散乱された放射線を測定するように適合される。
検出器ライン30及び34は、ガントリ1の回転軸2の正又は負の方向におけるオフセットを持つように中心面5に平行になるようにガントリ1に配置され、これにより前記コンピュータ断層撮影装置の検査領域において手荷物7から散乱された散乱放射線を受ける又は測定する。したがって、以下、ライン30及び34は、散乱放射線検出器とも称される。
中心面5の両側に複数のエネルギ分解ライン30及び34を備える代わりに、中心面5の片側のみに減少された数のラインのみを備えることも効率的であり得ることに注意しなければならない。
したがって、以下、用語“散乱放射線検出器”が使用される場合、これは、手荷物7から散乱された光子を受けるように、円錐ビーム6の中心面5の外に配置されたエネルギ分解検出器素子の2次元配置を持つ検出器を含む。
検出器8に備えられた第2のタイプの検出器は、シンチレータセルである。特に、シンチレータセルのライン15は、円錐ビーム6による直接照射を受ける検出器8の領域に配置される。図1に示されるように、ライン15は、中心面5により交差される前記検出器の中心領域に配置され得る。ライン15は、中心面5に平行であり得る。換言すると、ライン15は、前記検査領域において手荷物7により生じた前記放射線源により放射された放射線の減衰を測定するように配置される。
エネルギ分解ライン30及び34に対して既に示されたように、少数のエネルギ分解ライン30又は34のみの提供が十分である場合、中心面5において円錐ビーム6の一次ビームの手荷物7により生じた減衰を測定する少数のライン15のみの提供が十分であり得る。しかしながら、エネルギ分解ライン30及び34の場合のように、複数のシンチレータセルをそれぞれ有する複数の検出器ライン15の提供は、前記コンピュータ断層撮影装置の測定速度を更に増加することができる。以下、用語“一次放射線検出器”は、円錐ビーム6の一次放射線の減衰を測定する少なくとも1つのシンチレータセル又は同様な検出器セルを含む検出器を称するのに使用される。
好ましくは、検出器8の前記検出器セルは、ライン及び列に配置され、前記列は回転軸2に平行であり、前記ラインは、回転軸2に垂直な面に配置され、円錐ビーム6の中心面5に平行である。
更に、開口システム(図1には図示されない)は、余分な放射線が手荷物7に加えられないように、即ち検出器8に作用しない放射線が切り取られることができるように、円錐ビーム6の寸法を限定するために備えられてもよい。
手荷物7の走査中に、放射線源4及び検出器8は、矢印16で示される方向においてガントリ1に沿って回転される。放射線源4及び検出器8を持つガントリ1の回転のために、モータ3は、計算ユニット18に接続されたモータ制御ユニット17に接続される。
図1において、手荷物7は、コンベヤベルト19上に配置される。ガントリ1が手荷物7の周りを回転する、手荷物7の走査中に、コンベヤベルト19は、手荷物7をガントリ1の回転軸2に平行な方向に沿って移動することができる。これにより、手荷物7は、ヘリカルスキャン経路に沿って走査されることができる。しかしながら、コンベヤベルト19は、前記走査中に停止されてもよく、これにより単一のスライスを測定する。
検出器8は、計算ユニット18に接続される。計算ユニット18は、検出結果、即ち検出器8の前記検出器素子からの読み出しを受け、検出器8からの、即ちエネルギ分解ライン30及び34並びに円錐ビーム6の一次放射線の減衰を測定するライン15からの走査結果に基づいて走査結果を決定する。これに加えて、計算ユニット18は、モータ3および30を持つ、又はコンベヤベルト19を持つガントリ1の運動を調整するためにモータ制御ユニット17と通信する。
計算ユニット18は、前記一次放射線検出器、即ち検出器ライン15及び前記散乱放射線検出器、即ちライン30及び34の読み出しから画像を再構成するように適合されることができる。計算ユニット18により生成された画像は、インターフェース22を介してディスプレイ(図1には示されていない)に出力されてもよい。
更に、計算ユニット18は、ライン30及び34並びに15の読み出しに基づいて手荷物7内の爆発物の検出に適合されてもよい。これは、これらの検出器ラインの読み出しから散乱関数を再構成し、以前の測定中に決定された爆発物の特徴的な測定値を含む表と前記散乱関数を比較することにより自動的に行われてもよい。計算ユニット18は、検出器8から読み出された測定値が爆発物の特徴的測定値と照合する場合、計算ユニット18は、ラウドスピーカ21を介してアラームを自動的に出力してもよい。
上で示されたように、図1における参照符号10はコリメータを示す。前記コリメータは、検出器8の検出器素子の上に配置される。コリメータ10は、各検出器素子が光線の形を持つ手荷物7のセクションからの放射線のみを検出するように構成される。この光線は、手荷物7の照射される体積の断面から、及びそれぞれの検出器素子により見られる手荷物7の前記セクションにより決定される。換言すると、2次元コリメータであってもよい、コリメータ10は、図1に描かれるように、所定の角度を持つ散乱放射線のみが前記検出器により検出されることができることを保証する。換言すると、コリメータ10は、前記エネルギ分解検出器素子の1つの検出器素子に作用する放射線が、手荷物7の所定のセクションから散乱された放射線に実質的に限定されるように適合されることができる。いずれの検出器素子が手荷物7のいずれのセクションを見ているかが既知であるという事実により、前記それぞれのエネルギ分解検出器素子により測定されたエネルギ分布は、手荷物7における所定の座標に割り当てられることができる。したがって、前記エネルギ分解検出器は、所定の視野の線において手荷物7の前記所定のセクションからの散乱放射線のエネルギ分布を測定する。このことから、空間分解能を持つ干渉性散乱関数は、計算ユニット18により決定されることができる。これは、図2、3及び4を参照して更に詳細に記載される。
図2は、図1に描かれたCSCT走査システムの幾何学的配置の単純化された概略的表現を示す。図2から理解されることができるように、X線源4は、この場合、uの直径を持つ手荷物7を含み、検出器8全体を覆うように円錐ビーム6を放射する。前記対象の領域の直径は、例えば、100cmであってもよい。この場合、円錐ビーム6の角度αは80°であることができる。このような構成において、X線源4から前記対象の領域の中心までの距離vは約80cmであり、検出器8、即ちX線源4からの個別の検出器セルの距離は約w=150cmである。
図2は、円錐ビーム6が中心面5からオフセットされるスライスの断面図を示し、図2に描かれた前記スライスは、ライン30の1つのエネルギ分解検出器素子と交差する。参照符号10は、第1のラメラ40及び第2のラメラ11を含むコリメータを示す。
図2から理解されることができるように、本発明の一態様によると、前記検出器セル又はラインは、前記セル又はラインが異なる散乱角度を持つ不所望な放射線を測定することを避けるためにラメラ40(又はコリメータ)を備えることができる。コリメータとも称されることができるラメラ40は、放射線源4に向けて焦点を合わせられることができるブレード(blades)の形を持つこともできる。前記ラメラの間隔は、前記検出器素子の間隔から独立に選択されることができる。
更に、参照符号11により示されるように、ラメラの第2の行は、第1のラメラ40と検出器8との間に備えられることができる。好ましくは、これらの第2のラメラは、手荷物7の所定のセクションに焦点を合わせられるような方向に向けられる。
それぞれのラメラ11及び40の異なる焦点により、固定の所定角度を持つ放射線のみが前記検出器に作用し、各検出器素子が手荷物7の所定の長方形セクションからの散乱放射線のみを検出することが保証されることができる。
これは、図4a及び4bを参照して更に詳細に記載される。
図3は、図1の前記コンピュータ断層撮影装置において使用される検出器の幾何学的配置の他の概略的表現を示す。図1を参照して既に記載されたように、検出器8は、複数のエネルギ分解検出器ライン30及び34と、手荷物7により生じた一次円錐ビームの減衰を測定する複数のライン15とを有することができる。図3から理解されることができるように、好ましくは、検出器8は、ライン15の中心ラインが、円錐ビーム6の中心面5に平行であり、交差されるように配置され、これにより前記一次放射線の減衰を測定する。矢印42に示されるように、X線源4の放射線源及び検出器8は、異なる角度からの投影像(projections)を取得するために手荷物7の周りを一緒に回転される。図3に描かれるように、検出器8は、複数の列tを有する。
図1、2及び3に描かれるような湾曲した検出器8の代わりに、平らな検出器アレイを使用することも可能である。
図4a及び4bは、例えば図1を参照して記載されたコンピュータ断層撮影装置において使用されることができる本発明の模範的実施例による前記放射線源、コリメータ及び検出器の上面図(図4a)及び断面図(図4b)を示す。
図4a及び4bから理解されることができるように、エネルギ分解検出器素子30は、第1のコリメータ部分60及び第2のラメラ部分62を有する二部コリメータ10の後ろに配置される。前記空間分解能の一部は、第2のコリメータ部分62内の焦点を合わせられたラメラ64の提供により達成されることができる。焦点を合わせられたラメラ64は、放射線源4に焦点を合わせられる。更に、焦点を合わせられたラメラ64は、中心面5に本質的に垂直に配置される。これにより、中心面5から散乱された光子のみが検出器ライン30(又は34)の前記エネルギ分解検出器素子により検出されることができる。他の光子、即ち他の方向を持つ光子は、第2のコリメータ部分62の焦点を合わせられたラメラ64により吸収される。
したがって、ライン30及び34の特定の検出器素子により検出された光子は、したがって、プローブの狭い制限されたセクション内で散乱されることのみができる。このような領域又はセクションは、図4a及び4bにおいて参照符号32により示される。
前記空間分解能の他の部分、特に角度分解能は、他のラメラ66を有する第1のコリメータ部分60を用いて達成されることができる。焦点を合わせられるこれら他のラメラ66は、手荷物7へのそれぞれのエネルギ分解検出器素子の固定された視野の線を規定する。これにより、1つの特定の検出器素子において検出された光子の始点は、前記対象の小さな部分、本質的にはラインに限定される。
第1及び第2のコリメータ部分60及び62の提供により、即ち焦点を合わせられたラメラ64及び66の提供により、前記中心面に対して固定の角度Φ0の放射線のみが前記それぞれのエネルギ分解検出器素子に作用することが達成されることができる。更に、ラメラ64及び66の一方を他方の後にする配置により、各検出器素子(又は検出器素子の各グループ)が手荷物7の長方形セクション32からの散乱放射線のみを検出することができることが達成されることができる。長方形セクション32の位置、向き及びサイズは、ラメラ64及び66の一致した配置によりセットされることができる。
第1及び第2のコリメータ部分64及び66のようなラメラの提供の代わりに、前記コリメータは、例えば焦点を合わせられた孔を備える、X線に対する強力な吸収性を持つ中実の物体(solid object)からなる、いわゆるスロットコリメータを用いて実現されることもできる。これらの焦点を合わせられた孔の後ろに、それぞれのエネルギ分解検出器素子が備えられることができる。
中実の物体の代わりに、このようなスロットコリメータは、複数の留められた開口板により実現されることもできる。更に、前記コリメータ(コリメータ部分60及び62も)は、交差するラメラにより実現されることができる。
一般に、本発明の模範的実施例によると、前記コリメータは、各検出器画素が1つの“視野の線”のみを持つように実現されるべきである。前記スロットコリメータが、例えば検出器8のラインに沿って孔を備える場合、前記ラインは、放射線源4に焦点を合わせられることができ、検出器8の列に沿って、全ての孔は互いに平行であることができ、各孔は前記中心面に対する一定の角度Φ0を規定する。
好ましくは、1つの検出器素子のみが各孔に対して備えられる。
図4bから理解されることができるように、例えば、放射線源4に焦点を合わせられることもできる、1次元又は2次元散乱線除去グリッドを備えてもよい従来のCT検出器15も備えられうる。前記エネルギ分解検出器素子は、この一次放射線検出器の両側に備えられてもよく、光子のより高い収率を可能にすることができるが、前記一次放射線検出器の片側に備えられることもでき、これは、減少されたコストを可能にすることができる。
図5は、本発明の模範的実施例による円錐ビームCSCTの他の模範的実施例の他の概略的表現を示す。図4a及び4bに描かれた実施例とは対照的に、図5から理解されることができるように、前記一次放射線検出器(検出器ライン15)と、ラメラ64及び66をそれぞれ備える第1のコリメータ部分60及び第2のコリメータ部分62を有するコリメータを含む前記散乱放射線検出器(検出器ライン30)とは、別々に備えられる。この模範的実施例の一態様によると、たとえば、前期散乱検出器は、図5に描かれるように、円錐ビームCTを円錐ビームCSCTにアップグレードするために既知の円錐ビームCTに追加されることができる。これに対して、例えば、ラメラ62及び66を有する第1のコリメータ部分60及び第2のコリメータ部分62を含む、本発明の模範的実施例によるコリメータを含む、2次元エネルギ分解検出器ユニットは、別々に備えられてもよく、現行のCTスキャナに取り付けられることができる。これに対して、前記散乱放射線検出器は、前記模範的実施例に示される前記放射線源により近くであることができるか、前記線源からより大きな距離だけ離れることもできるかのいずれかである。
図6は、本発明の模範的実施例による散乱事象の位置に依存して散乱角度を計算する方法を更に説明するために本発明の模範的実施例による、前記放射線源及び前記エネルギ分解検出器素子の幾何学的配置の他の概略的表現を示す。参照符号4は放射線源を示し、参照符号70は散乱事象を示し、参照符号72は、例えば検出器ライン70のエネルギ分解検出器素子を示す。概略的に、ラメラはエネルギ分解検出器素子72の前に描かれている。
放射線源4と検出器8の中心面との間の距離は、eにより示される。中心面5からのエネルギ分解検出器素子72の距離は、aにより示される。中心面5に対して、前記検出器の視野の線は、中心スライスに対して角度Φ0である。円錐角度は2γ0である。図6において、手荷物7の体積内の相互作用の点70が意図され、放射線源4と中心面5との間のラインは、角度γを規定する。γは−□0と□0との間の値を持つ。それぞれの散乱角度はΦと見なされる。空間座標x(前記放射線源から散乱事象70までの距離)のこの散乱角度の依存性は、計算されることができる。
前記散乱角度は、前記一次放射線が発散するので、前記散乱事象の位置に依存する。これは、図6から理解されることができる。しかしながら、前記位置からの前記散乱角度の依存性は、描かれた幾何学的配置から既知であるので、これは、再構成中に考慮されることができる。したがって、本発明の模範的実施例によると、以下の式、
q=(E/hc)sin(Φ/2) 式1
を使用することにより、前記それぞれの位置に存在する散乱角度Φは、波数ベクトル遷移(wave vector transfer)qの計算に対して使用され、ここでEは検出された放射線のエネルギであり、hはプランク定数であり、cは光速である。
線源位置と相互作用の点xとの間の距離に対するΦの依存性は以下のように計算されることができる。
図6は、
Φ=Φ0−γ 式2
を示す。ここで、円錐角度に関連して変数γ0が導入される。したがって、
0=a−tan(Φ0)e 式3
である。ここでa、e及びΦ0は図6に記載されたものである。
したがって、γ(x)は以下のように計算されることができる。
γ(x)=tan-1(tan(Φ0)+y0/x) 式4
このことから、q(x)は、所定の幾何学的配置(e、Φ0)から計算されることができる。換言すると、所定の幾何学的配置(e、Φ0)から、前記相互作用の位置(線源からの距離x)と対応する波数ベクトル遷移との間の依存性は、式1ないし4を使用することにより中心面5からの距離aを持つ各それぞれの検出器素子に対して決定されることができる。
再構成アルゴリズムにおいて、この依存性は、順投影(forward projection)及び逆投影(back projection)に対して使用されることができる。
図7は、図6に示されたパラメータが使用される計算例を示す。
詳細には、図7は、前記線源からの前記相互作用の点の距離に依存する前記散乱角度の計算の例を描く線源からの距離に対する散乱角度の図を示す。太線は、2γ0=3°、即ち−1.5°<γ<+1.5°の円錐ビームにより覆われる領域を示す。
以下に、図8及び9を参照して、本発明による円錐ビームCSCT装置を動作する方法が記載される。
図8は、本発明による円錐ビームCSCT装置を動作する方法の模範的実施例の単純化されたフローチャートを示す。
ステップS2において、放射線源4が起動され、即ち電圧を印加され、この結果、放射線16の円錐ビームが放射され、前記円錐ビームは、手荷物7を貫通し、検出器8に作用する。この走査は、回転軸2の周りのガントリ1上の線源検出器配置の特定の回転角度において実行されることができる。特に、円錐ビーム送信CTデータは、前記一次放射線検出器、即ちライン15を用いて測定される。同時に、前記2次元エネルギ分解検出器(即ちライン30及び34を含む散乱放射線検出器)は、前記散乱放射線を検出する。このような投影像に対するこれらの測定、即ち回転角度の取得後に、前記線源検出器配置は、ステップS4において所定の角度だけ回転される。
ステップS6において、前記円錐ビームCSCTスキャナがヘリカルスキャンモードによって動作することが決定される場合、計算ユニット18は、手荷物7が回転軸2に沿って所定の距離だけ平行移動されるようにコンベヤベルト19を作動する。
本発明の前記方法のこの模範的実施例の説明における前記線源検出器配置を参照すると、これは、コリメータ10が回転され、検出器8によって移動されることを含むことに注意すべきである。
この場合、ステップS8においてSFCTにより示されるように、十分な投影像が測定されなければならないかどうかが決定される。ステップS8において、更なる投影像が取得される必要があると決定される場合、前記方法は、ステップS2に続行し、ここで、SCNにより示されるように、放射線源4が電圧を印加され、散乱放射線データ及び一次放射線データが、検出器8を用いて集められる。この場合、次のステップS4において、ROTにより示されるように、前記線源検出器配置は、所定の回転インクリメントで回転される。この場合、次のステップS6において、既に上で示されたように、及びHCL SCN?により示されるように、ヘリカルスキャンが実行されるかどうかが決定され、ヘリカルスキャンモードがセットされる場合、前記関心の対象、即ち手荷物7の平行移動が回転軸2に沿って実行される。この場合、前記方法は、ステップS8に続行する。
ステップS8において、十分な投影像が決定されたと決定される場合、前記方法はステップS12及びS10に続行する。
ステップS10においてCB−RECにより示されるように、前記一次放射線検出器の読み出し、即ち前記減衰データは、例えば、参照によりここに組み込まれる米国特許第US6269141B1号(“Computer tomography apparatus with a conical radiation beam and a helical scanning trajectory”)及びその中の参考文献から既知であるような、既知の円錐ビームCT再構成を受ける。この円錐ビームCT再構成は、減衰係数の画像、即ちCT画像を決定することを可能にし、前記画像はこの場合ステップS14に入力される。
ステップS12において、PB−SDにより示されるように、前記散乱放射線データ、即ち前記散乱放射線検出器の読み出しの補正が実行される。これは、前記散乱放射線データの一次ビーム補正とも称されることができる。本質的に、検出された散乱スペクトルは、一次スペクトルに対して正規化され、したがって特に特徴的放射による一次制動放射スペクトル(primary bremsstrahlung-spectrum)のエネルギ依存強度変化を除去する。
この場合、次のステップS14において、前記散乱放射線検出器からの散乱放射線データは、ステップS10において決定された前記CT画像に基づいて減衰補正を受ける。これは、ステップS14においてABSORBにより示されている。ここで、減衰のスペクトル依存性は補正される。この場合、次のステップS16において、CB−RECにより示されるように、吸収補正された散乱放射線データは、各照射された対象ボクセルに対する干渉性散乱関数の再構成を実行する再構成ルーチンを受ける。これに対して、例えば、参照によりここに組み込まれるG.T. Herman G Tによる書籍“Image Reconstruction from Projections”, Academic Press, New York, 1980からCT応用に対して既知であるように、ART(代数的再構成技術)に基づくルーチン又は方法が使用されることができる。このような再構成ルーチンの模範的実施例は、図9を参照して更に詳細に記載される。
この再構成ルーチン中に、前記散乱事象の位置からの前記散乱角度の依存性が考慮される。
しかしながら、ARTに基づくルーチンの代わりに、フィルタ逆投影法(filtered back projection)が実行されることもできる。このようなフィルタ逆投影法は、例えば、G.T. Hermannによる同じ書籍から既知である。
図9は、図8に描かれた前記方法のステップS16において使用されることができるような再構成ルーチンの図を示す。図9から理解されることができるように、第一に対象マトリクスF(x、y、z、q)=0が初期化される。この場合、n回だけ、以下のループが実行される。
全ての投影像が“未使用”にセットされる。この場合、更なるループが全ての投影像に対して実行される。この第2のループの間に、以下の動作が実行される。第一に、未使用の投影像が検索される。一度このような投影像が見つけられると、これは“使用済み”にセットされる。この場合、この投影像の線源位置が計算される。この場合、前方散乱投影アレイpは0にセットされる。この場合、アクティブな画素アレイは0にセットされる。また、差分マトリクスdも0にセットされる。
この場合、前記対象マトリクスの順投影が実行される。これは、散乱が前記検出器上でシミュレートされることを意味する。これに対して、複数のエネルギ間隔を有する一次スペクトルが仮定される。この一次スペクトルの各エネルギ間隔に対して、及び前記関心の対象内の各位置に対して、前記検出器に到達する、対応するq値が計算される。これは、上で示されたように式1ないし4を使用することにより計算される。この場合、前記検出器上の強度分布は、前記対象マトリクスの干渉性散乱関数F2(x、y、z、q)を使用することにより計算される。
図9から理解されることができるように、この後に、前記検出器上の前記強度分布は、pi’=m1−piにより示されるように、実際に測定されたデータから減算され、この差分pi’は逆投影を受ける。逆投影散乱投影は、順投影の反対の計算である。各検出器素子及び各検出されたエネルギにより決定される値は、前記値が始まりうるラインに沿って均等に分散される。これを行うことにより、前記波数ベクトル遷移は、各エネルギに対して、及び各位置に対して式1ないし4によって決定される。これは、(x、y、z、q)空間におけるいずれのラインに沿って前記逆投影が実行されるかを決定する。
この場合、この後に、緩和係数が計算されることができ、前記緩和係数から形成される前記差分マトリクスが、前記対象マトリクスに加算されることができる。
したがって、本発明によると、円錐ビームCSCT装置及び方法が提供されることができる。上で示されたように、例えば、2次元コリメータが、円錐ビームにより照射された対象から前記散乱関数を再構成するために2次元エネルギ分解検出器と組み合わせて使用されることができる。既に上で示されたように、本発明による前記散乱放射線検出器は、円錐ビームCTと互換性があり、既知の円錐ビームCT装置に一体化されてもよい。有利には、前記散乱放射線検出器が、円錐ビームCTを円錐ビームCSCTにアップグレードするために円錐ビームCT内に配置される場合、前記一次ビームに対する追加のスリットはもはや必要ではない。代わりに、円錐ビーム送信CT及び円錐ビームCSCTは同時に測定されることができる。円形又はヘリカル軌道が実行可能である。全体的に、走査プロセスの高速化が達成されることができる。
本発明による円錐ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影装置の模範的実施例の概略的表現を示す。 干渉性散乱放射線の測定に対する図1のコンピュータ断層撮影装置の幾何学的配置の概略的表現を示す。 図1のコンピュータ断層撮影装置の幾何学的配置の他の概略的表現を示す。 中心面における図1のコンピュータ断層撮影装置の放射線源、コリメータ及び検出器の配置の概略的表現を示す。 本発明の模範的実施例による放射線源、検出器及びコリメータの配置を更に説明する中心面に対する側面図の概略的表現を示す。 本発明の模範的実施例による放射線源、散乱放射線及び一次放射線の配置の中心面の側面図の他の概略的表現を示す。 本発明によるコンピュータ断層撮影装置において使用されることができるような本発明の模範的実施例による測定の幾何学的配置の他の概略的表現を示す。 放射線源からの相互作用の点の距離と独立な散乱角度の計算の例を描く線源からの距離に対する散乱角度の図を示す。 本発明によるコンピュータ断層撮影装置の模範的実施例を動作する方法の単純化されたフローチャートを示す。 図8に描かれた方法のステップS16において使用されることができるような再構成ルーチンの図を示す。

Claims (16)

  1. 関心の対象を検査するコンピュータ断層撮影装置において、前記コンピュータ断層撮影装置が、放射線源と、前記関心の対象により散乱された散乱放射線を受ける散乱放射線検出器と、第1のコリメータとを有し、前記散乱放射線検出器が、中心面に対してオフセットを持つように前記放射線源の反対側に配置され、前記中心面は、前記関心の対象及び前記放射線源を通って延在し、前記散乱放射線検出器が、複数の領域を持ち、前記領域の各々が、少なくとも1つの第1の検出器素子を持ち、前記第1の検出器素子が、エネルギ分解検出器素子であり、前記第1のコリメータは、前記複数の領域のそれぞれの領域の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する放射線が前記関心の対象の所定のセクションから散乱される放射線に実質的に限定されるように適合され、前記放射線源が、放射線の円錐ビームを生成するように適合される、コンピュータ断層撮影装置。
  2. 前記第1のコリメータが、第2のコリメータ及び第3のコリメータを有し、前記第2のコリメータが、前記放射線源に焦点を合わせられ、前記第3のコリメータが、前記関心の対象の前記セクションに焦点を合わせられ、前記第2のコリメータ及び前記第3のコリメータは、前記放射線源に対して一方を他方の後に配置される、請求項1に記載のコンピュータ断層撮影装置。
  3. 前記第2のコリメータが第1のラメラを持ち、前記第1のラメラが、前記放射線源に焦点を合わせられ、前記第1のラメラが、前記中心面に実質的に垂直に配置され、これにより前記第2のコリメータに関連付けられた前記複数の領域の前記領域内の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する放射線が、前記放射線源に対して第1の所定の角度を持つ放射線に限定され、前記第3のコリメータが第2のラメラを持ち、前記第2のラメラが、前記関心の対象の前記セクションに焦点を合わせられ、これにより前記第3のコリメータに関連付けられた前記複数の領域の中の前記領域内の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する放射線が、前記関心の対象の前記セクションに対して第2の所定の角度を持つ放射線に限定される、請求項2に記載のコンピュータ断層撮影装置。
  4. 前記第2のコリメータ及び前記第3のコリメータが、各それぞれの領域に対して、前記放射線源及び前記関心の対象の前記セクションにそれぞれ焦点を合わせられた孔を有するスロットコリメータを用いて一緒に実施される、請求項2に記載のコンピュータ断層撮影装置。
  5. 前記コンピュータ断層撮影装置が、一次放射線検出器を更に有し、前記一次放射線検出器が、前記関心の対象により減衰された一次放射線を受けるように前記中心面において前記放射線源の反対側に配置される、請求項1に記載のコンピュータ断層撮影装置。
  6. 前記エネルギ分解検出器素子が直接変換半導体セルであり、前記一次放射線検出器がシンチレータセルを有する、請求項5に記載のコンピュータ断層撮影装置。
  7. 前記散乱放射線検出器及び前記一次放射線検出器が、1つの検出器ユニットに一体化されているか、別々の検出器ユニットとして分離しているかの一方である、請求項5に記載のコンピュータ断層撮影装置。
  8. 関心の対象を検査する円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置用の散乱放射線ユニットにおいて、前記円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置が放射線源を含み、前記散乱放射線ユニットが、散乱放射線検出器及び第1のコリメータを有し、前記散乱放射線検出器は、前記散乱放射線検出器が前記関心の対象により散乱された散乱放射線を受けるように配置されるように、前記円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置に対する取り付けに適合され、前記第1のコリメータが、前記散乱放射線検出器を用いる構成に対して適合され、前記散乱放射線検出器が、中心面に対してオフセットを持つ前記放射線源の反対側の配置に対して適合され、前記中心面が、前記関心の対象及び前記放射線源を通って延在し、前記散乱放射線検出器が複数の領域を持ち、前記領域の各々が少なくとも1つの第1の検出器素子を持ち、前記第1の検出器素子がエネルギ分解検出器素子であり、前記第1のコリメータは、前記複数の領域のそれぞれの領域の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する放射線が、前記関心の対象の所定のセクションから散乱された放射線に実質的に限定されるように適合され、前記放射線源が放射線の円錐ビームを生成するように適合される、散乱放射線ユニット。
  9. 前記第1のコリメータが第2のコリメータ及び第3のコリメータを有し、前記第2のコリメータは、前記第2のコリメータが前記円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置内に配置される場合に前記放射線源に焦点を合わせられるように適合され、前記第3のコリメータは、前記第3のコリメータが前記円錐ビーム・コンピュータ断層撮影装置内に配置される場合に前記関心の対象の前記セクションに焦点を合わせられるように適合され、前記第2のコリメータ及び前記第3のコリメータが、前記放射線源に対して一方を他方の後に配置可能である、請求項8に記載の散乱放射線ユニット。
  10. 前記第2のコリメータが第1のラメラを持ち、前記第1のラメラが、前記放射線源に焦点を合わせられ、前記第1のラメラが、前記中心面に実質的に垂直に配置され、これにより前記第2のコリメータに関連付けられた前記複数の領域の前記領域内の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する放射線が、前記放射線源に対して第1の所定の角度を持つ放射線に限定され、前記第3のコリメータが第2のラメラを持ち、前記第2のラメラが、前記関心の対象の前記セクションに焦点を合わせられ、これにより前記第3のコリメータに関連付けられた前記複数の領域の中の前記領域内の前記少なくとも1つの第1の検出器素子に作用する放射線が、前記関心の対象の前記セクションに対して第2の所定の角度を持つ放射線に限定される、請求項9に記載の散乱放射線ユニット。
  11. 前記第2のコリメータ及び前記第3のコリメータが、各それぞれの領域に対して、前記放射線源及び前記関心の対象の前記セクションにそれぞれ焦点を合わせられた孔を有するスロットコリメータを用いて一緒に実施される、請求項9に記載の散乱放射線ユニット。
  12. 前記散乱放射線ユニットが、前記円錐ビーム放射線検出器の一次放射線検出器を持つ構成に対して適合され、前記円錐ビーム放射線検出器の前記一次放射線検出器が、前記関心の対象により減衰された一次放射線を受けるように前記中心面において前記放射線源の反対側に配置される、請求項8に記載の散乱放射線ユニット。
  13. 前記エネルギ分解検出器素子が直接変換半導体セルである、請求項8に記載の散乱放射線ユニット。
  14. 関心の対象を検査するコンピュータ断層撮影装置を用いて円錐ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影走査を実行する方法において、前記方法が、放射線源を備えるステップと、前記関心の対象により散乱された散乱放射線を受ける散乱放射線検出器を備えるステップと、第1のコリメータを備えるステップとを有し、前記散乱放射線検出器が、中心面に対してオフセットを持つように前記放射線源の反対側に配置され、前記中心面は、前記関心の対象及び前記放射線源を通って延在し、前記散乱放射線検出器が、複数の領域を持ち、前記領域の各々が、少なくとも1つの第1の検出器素子を持ち、前記第1の検出器素子が、エネルギ分解検出器素子であり、前記第1のコリメータは、前記複数の領域の1つの領域に作用する放射線が前記関心の対象の所定のセクションから散乱される放射線に実質的に限定されるように適合され、前記方法が、放射線の円錐ビームを生成するように前記放射線源に電圧を印加するステップと、前記散乱放射線検出器からの読み出しを決定するステップと、前記散乱放射線検出器からの前記読み出しの吸収補正を実行するステップと、前記補正された読み出しに基づいて干渉性散乱関数の再構成を実行するステップとを有する方法。
  15. 前記中心面内に配置された一次放射線検出器の読み出しを使用することにより前記関心の対象の減衰係数の決定するステップと、前記減衰係数に基づいて前記散乱放射線検出器からの前記読み出しの前記吸収補正に対するパラメータを決定するステップとを更に有する、請求項14に記載の方法。
  16. 前記放射線源は、前記一次放射線検出器及び前記散乱放射線検出器が、本質的に同時に前記放射線源から放射された前記円錐ビーム放射線を受けるように動作される、請求項16に記載の方法。
JP2007509022A 2004-04-21 2005-04-12 扇ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影 Pending JP2007533993A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP04101660 2004-04-21
PCT/IB2005/051192 WO2005102170A1 (en) 2004-04-21 2005-04-12 Cone-beam coherent-scatter computer tomograph

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007533993A true JP2007533993A (ja) 2007-11-22
JP2007533993A5 JP2007533993A5 (ja) 2008-05-29

Family

ID=34964585

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007509022A Pending JP2007533993A (ja) 2004-04-21 2005-04-12 扇ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20090161817A1 (ja)
EP (1) EP1740097A1 (ja)
JP (1) JP2007533993A (ja)
CN (1) CN1946342A (ja)
WO (1) WO2005102170A1 (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010060572A (ja) * 2005-12-16 2010-03-18 Cxr Ltd X線断層撮影検査システム
JP2011145073A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Ishida Co Ltd X線検査装置
US8837669B2 (en) 2003-04-25 2014-09-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US8885794B2 (en) 2003-04-25 2014-11-11 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items
US9020095B2 (en) 2003-04-25 2015-04-28 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US9048061B2 (en) 2005-12-16 2015-06-02 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US9113839B2 (en) 2003-04-25 2015-08-25 Rapiscon Systems, Inc. X-ray inspection system and method
JP2017227541A (ja) * 2016-06-23 2017-12-28 株式会社日立製作所 放射線撮像装置及び放射線撮像方法
JP2018517138A (ja) * 2015-12-18 2018-06-28 チンファ ユニバーシティTsinghua University マルチモーダル検出システムおよび方法
US10591424B2 (en) 2003-04-25 2020-03-17 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items
CN112807006A (zh) * 2019-11-15 2021-05-18 通用电气精准医疗有限责任公司 使用用于计算机断层摄影的分段光子计数检测器进行相干散射成像的系统和方法
WO2023113088A1 (ko) * 2021-12-17 2023-06-22 한국해양과학기술원 컨테이너 위험화물 정밀검색용 후방산란 방사선 영상시스템 및 그의 제어 방법

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2024938A1 (en) * 2006-05-16 2009-02-18 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Extension of the q-range in csct
JP2010507811A (ja) * 2006-10-24 2010-03-11 サーモ ニトン アナライザーズ リミテッド ライアビリティ カンパニー 符号化ビームを使用して物体を検査するための装置
GB2460089A (en) * 2008-05-16 2009-11-18 Elekta Ab Coincident treatment and imaging source
US9121957B2 (en) * 2008-10-14 2015-09-01 Analogic Corporation Radiation modulation in a security examination apparatus
US7835495B2 (en) * 2008-10-31 2010-11-16 Morpho Detection, Inc. System and method for X-ray diffraction imaging
JP5661325B2 (ja) * 2010-04-20 2015-01-28 株式会社東芝 X線ct装置
DE102010020150A1 (de) * 2010-05-11 2011-11-17 Siemens Aktiengesellschaft Steustrahlenkorrektur in der Computertomographie mittels eines mehrfachen BeamHoleArrays
CN101893586B (zh) * 2010-06-24 2011-08-24 西北工业大学 一种简化的锥束ct散射检测方法
CN104198506B (zh) * 2014-08-27 2017-11-07 清华大学 小角度自摆式大型多层螺旋ct设备和检查方法
CN106691485A (zh) * 2016-07-18 2017-05-24 山东省肿瘤防治研究院 一种放射影像引导下诊治肺肿瘤装置
US10779778B2 (en) * 2017-05-08 2020-09-22 General Electric Company Reference detector elements in conjunction with an anti-scatter collimator
CN109975803B (zh) * 2017-12-28 2023-02-03 国网四川省电力公司经济技术研究院 自动选择图像内形变参考点的方法及预处理装置
DE102018215376B4 (de) * 2018-09-11 2021-11-04 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Kollimatorelements, Kollimatorelement, Verfahren zur Herstellung eines Streustrahlkollimators, Streustrahlkollimator, Strahlungsdetektor und CT-Gerät
DE102018216805B3 (de) * 2018-09-28 2020-01-02 Siemens Healthcare Gmbh Streustrahlenraster für eine medizinische Röntgen-Bildgebungsanlage

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001269331A (ja) * 2000-02-28 2001-10-02 Koninkl Philips Electronics Nv 検査域におけるパルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置
JP2002505903A (ja) * 1998-03-12 2002-02-26 クウォンタ ビジョン インコーポレイティド 微小角度x線断層撮影装置
JP2004008460A (ja) * 2002-06-06 2004-01-15 Kawasaki Heavy Ind Ltd X線エネルギー分析イメージング装置
JP2004519309A (ja) * 2001-04-03 2004-07-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ パルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置
JP2005531353A (ja) * 2002-06-28 2005-10-20 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ コンピュータ断層撮影機器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3406905A1 (de) * 1984-02-25 1985-09-05 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Roentgengeraet
DE3534702A1 (de) * 1985-09-28 1987-04-09 Philips Patentverwaltung Verfahren zur bestimmung der fotoschwaechung in einem bereich eines untersuchungskoerpers und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
JPH03120500A (ja) * 1989-10-04 1991-05-22 Toshiba Corp 多孔コリメータ及びその製造方法
BE1007766A3 (nl) * 1993-11-10 1995-10-17 Philips Electronics Nv Werkwijze en inrichting voor computer tomografie.
US6054712A (en) * 1998-01-23 2000-04-25 Quanta Vision, Inc. Inspection equipment using small-angle topography in determining an object's internal structure and composition
US6252938B1 (en) * 1997-06-19 2001-06-26 Creatv Microtech, Inc. Two-dimensional, anti-scatter grid and collimator designs, and its motion, fabrication and assembly
US6175117B1 (en) * 1998-01-23 2001-01-16 Quanta Vision, Inc. Tissue analysis apparatus
DE19835296A1 (de) * 1998-08-05 2000-02-10 Philips Corp Intellectual Pty Computertomograph mit kegelförmigen Strahlenbündel und helixförmiger Abtastbahn
US6175615B1 (en) * 1999-04-12 2001-01-16 General Electric Company Radiation imager collimator
US7072436B2 (en) * 2001-08-24 2006-07-04 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Volumetric computed tomography (VCT)
US6618466B1 (en) * 2002-02-21 2003-09-09 University Of Rochester Apparatus and method for x-ray scatter reduction and correction for fan beam CT and cone beam volume CT
WO2004098649A2 (en) * 2003-05-06 2004-11-18 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Apparatus and method for examining an object by means of elastically scattered x-ray radiation and contrast agent

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002505903A (ja) * 1998-03-12 2002-02-26 クウォンタ ビジョン インコーポレイティド 微小角度x線断層撮影装置
JP2001269331A (ja) * 2000-02-28 2001-10-02 Koninkl Philips Electronics Nv 検査域におけるパルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置
JP2004519309A (ja) * 2001-04-03 2004-07-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ パルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置
JP2004008460A (ja) * 2002-06-06 2004-01-15 Kawasaki Heavy Ind Ltd X線エネルギー分析イメージング装置
JP2005531353A (ja) * 2002-06-28 2005-10-20 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ コンピュータ断層撮影機器

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10175381B2 (en) 2003-04-25 2019-01-08 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners having source points with less than a predefined variation in brightness
US11796711B2 (en) 2003-04-25 2023-10-24 Rapiscan Systems, Inc. Modular CT scanning system
US8837669B2 (en) 2003-04-25 2014-09-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US8885794B2 (en) 2003-04-25 2014-11-11 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items
US9020095B2 (en) 2003-04-25 2015-04-28 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US10901112B2 (en) 2003-04-25 2021-01-26 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system with stationary x-ray sources
US9113839B2 (en) 2003-04-25 2015-08-25 Rapiscon Systems, Inc. X-ray inspection system and method
US9442082B2 (en) 2003-04-25 2016-09-13 Rapiscan Systems, Inc. X-ray inspection system and method
US9618648B2 (en) 2003-04-25 2017-04-11 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US10591424B2 (en) 2003-04-25 2020-03-17 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items
US9675306B2 (en) 2003-04-25 2017-06-13 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US10976271B2 (en) 2005-12-16 2021-04-13 Rapiscan Systems, Inc. Stationary tomographic X-ray imaging systems for automatically sorting objects based on generated tomographic images
US10295483B2 (en) 2005-12-16 2019-05-21 Rapiscan Systems, Inc. Data collection, processing and storage systems for X-ray tomographic images
US9638646B2 (en) 2005-12-16 2017-05-02 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US9048061B2 (en) 2005-12-16 2015-06-02 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
JP2010060572A (ja) * 2005-12-16 2010-03-18 Cxr Ltd X線断層撮影検査システム
JP2011145073A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2018517138A (ja) * 2015-12-18 2018-06-28 チンファ ユニバーシティTsinghua University マルチモーダル検出システムおよび方法
US10338011B2 (en) 2015-12-18 2019-07-02 Tsinghua University Multi-modality detection system and method
JP2017227541A (ja) * 2016-06-23 2017-12-28 株式会社日立製作所 放射線撮像装置及び放射線撮像方法
CN112807006A (zh) * 2019-11-15 2021-05-18 通用电气精准医疗有限责任公司 使用用于计算机断层摄影的分段光子计数检测器进行相干散射成像的系统和方法
JP2021087771A (ja) * 2019-11-15 2021-06-10 ジーイー・プレシジョン・ヘルスケア・エルエルシー コンピュータ断層撮影のためのセグメント化された光子計数検出器を使用するコヒーレント散乱撮像のためのシステムおよび方法
JP7242622B2 (ja) 2019-11-15 2023-03-20 ジーイー・プレシジョン・ヘルスケア・エルエルシー コンピュータ断層撮影のためのセグメント化された光子計数検出器を使用するコヒーレント散乱撮像のためのシステムおよび方法
WO2023113088A1 (ko) * 2021-12-17 2023-06-22 한국해양과학기술원 컨테이너 위험화물 정밀검색용 후방산란 방사선 영상시스템 및 그의 제어 방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN1946342A (zh) 2007-04-11
WO2005102170A1 (en) 2005-11-03
US20090161817A1 (en) 2009-06-25
EP1740097A1 (en) 2007-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7590215B2 (en) Coherent-scatter computer tomograph
JP2007533993A (ja) 扇ビーム干渉性散乱コンピュータ断層撮影
US7551709B2 (en) Fan-beam coherent-scatter computer tomography
US7453974B2 (en) Beam-hardening and attenuation correction for coherent-scatter CT
US7778383B2 (en) Effective dual-energy x-ray attenuation measurement
US6470067B1 (en) Computed tomography apparatus for determining the pulse momentum transfer spectrum in an examination zone
US7502437B2 (en) Focused coherent-scatter computer tomography
US20070127621A1 (en) Asymmetric csct
WO2009129488A1 (en) Method and apparatus for computed imaging backscatter radiography
US20070019782A1 (en) Fan-beam coherent-scatter computed tomography
US7580499B2 (en) Coherent-scatter computed tomography
WO1998033076A1 (en) Radiation imaging using simultaneous emission and transmission
US20090060124A1 (en) Energy resolved computer tomography

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080411

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080411

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101102

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110329