JP2007319393A - 網膜機能計測装置 - Google Patents

網膜機能計測装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007319393A
JP2007319393A JP2006152569A JP2006152569A JP2007319393A JP 2007319393 A JP2007319393 A JP 2007319393A JP 2006152569 A JP2006152569 A JP 2006152569A JP 2006152569 A JP2006152569 A JP 2006152569A JP 2007319393 A JP2007319393 A JP 2007319393A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
fundus
stimulation
irradiation
subject
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006152569A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuguo Kusushiro
紹生 楠城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidek Co Ltd filed Critical Nidek Co Ltd
Priority to JP2006152569A priority Critical patent/JP2007319393A/ja
Publication of JP2007319393A publication Critical patent/JP2007319393A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】 精度よく詳細な網膜機能の計測を行うことができる網膜機能計測装置を提供する。
【解決手段】 低コヒーレント長の光の一部をスリット状の測定光として被検者眼眼底に照射するとともに低コヒーレント長の光の一部を参照光とし,参照光と測定光の反射光との合成により得られる干渉光を周波数成分に分光して受光する干渉光学系を有し、干渉光学系にて受光される干渉光に基づいて被検者眼の眼底断層画像を得る眼底断層情報取得手段と、被検者眼眼底に刺激光を照射する刺激光照射手段と、眼底断層情報取得手段を用いて刺激光照射手段による刺激光の照射前及び照射後における眼底断層情報を取得し,前記刺激光の照射前及び照射後の眼底断層情報に基づいて網膜機能の変化情報を取得する演算処理手段と、演算処理手段により得られた網膜機能の変化情報を表示する表示手段と、を有する。
【選択図】 図3

Description

本発明は、眼底を撮影して網膜の機能を計測する装置に関する。
従来、網膜機能を非侵襲的に画像化する装置が知られている。この装置は網膜を照明する照明手段と、網膜の機能応答を誘導する刺激光を照射する網膜刺激照明手段とを有し、刺激光を網膜に照射する前後の網膜画像の状態に基づいて網膜機能を計測し、画像化して評価しようとするものである(特許文献1参照)。
特表2002−521115号
上述したような網膜の機能を計測する装置は、刺激光を照射する前の網膜画像の明るさに対する照射後の網膜画像の明るさの変化を読み取るものであるが、刺激光に対する網膜の変化(刺激光による神経組織の活動変化)は微小であるため、その変化を精度よく検出することが重要となる。また、より詳細な網膜機能の計測を行うためには、網膜の深さ方向に渡って計測を行うことが必要となる。
本発明は、上記問題点に鑑み、精度よく詳細な網膜機能の計測を行うことができる網膜機能計測装置を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 低コヒーレント長の光の一部をスリット状の測定光として被検者眼眼底に照射するとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光とし,該参照光と前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を周波数成分に分光して受光する干渉光学系を有し、該干渉光学系にて受光される干渉光に基づいて前記被検者眼の眼底断層画像を得る眼底断層情報取得手段と、被検者眼眼底に刺激光を照射する刺激光照射手段と、前記眼底断層情報取得手段を用いて前記刺激光照射手段による刺激光の照射前及び照射後における前記眼底断層情報を取得し,前記刺激光の照射前及び照射後の前記眼底断層情報に基づいて網膜機能の変化情報を取得する演算処理手段と、該演算処理手段により得られた前記網膜機能の変化情報を表示する表示手段と、を有することを特徴とする。
(2) (1)の網膜機能計測装置において、前記干渉光学系は回折格子を有し、前記参照光と測定光の合成光を該回折格子により周波数成分に分光させることを特徴とする。
(3) (2)の網膜機能計測装置は、被検者眼を所定方向に固視させるための固視手段を有し、前記刺激光照射手段は前記刺激光を照射しないときは前記固視手段として用いられることを特徴とする。
本発明によれば、高速な測定が可能であり、精度よく詳細な網膜機能の計測を行うことができる。
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は本実施形態の網膜機能計測装置の光学系を示す概略構成図、図2は制御系を示すブロック図である。なお、本実施形態においては、被検者眼の奥行き方向をZ方向(図1の光軸L1方向)、奥行き方向に垂直(被検者の顔面と同一平面)な平面上の水平方向成分をX方向、鉛直方向成分をY方向として説明する。
図1において、その光学系は、被検者眼眼底の断層画像を干渉計と分光計の技術を用いて非侵襲、非走査で得るための干渉光学系(以下、OCT光学系とする)100と、赤外光を用いて被検者眼の眼底を照明し、観察するための眼底画像を取得する観察光学系200と、網膜を刺激するための刺激光を被検者眼の眼底に向けて照射するための刺激光照射光学系300に大別される。
次にOCT光学系100について説明する。1はOCT光学系100の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するOCT光源であり、例えばSLD光源等が用いられる。OCT光源1には、例えば、中心波長840nmで50nm程度の帯域を持つ低コヒーレント光を発する光源が用いられる。2はコリメートレンズ、3はシリンドリカルレンズ、4はビームスプリッタ(ハーフミラー)である。ビームスプリッタ4は、光源1から出射する低コヒーレント光を測定光と参照光に分けるとともに、眼底からの反射光(測定光)と参照光とを合成させる役目を有する。5は集光レンズ、6はビームスプリッタ4により反射された参照光を折り返すための参照ミラー(平面ミラー)である。なお、参照ミラーは、参照光の光路長と測定光の光路長とが略一致する位置に置かれている。ここで略一致とは、参照光と測定光との合成により干渉が得られる範囲であって、後述するスペクトル干渉縞の信号をフーリエ変換した際に得られる被検物の奥行方向の情報(相関信号)に混信の少ない光路差を有している状態をいう。また、7は投光レンズ、8はダイクロイックミラー、9は中心に開口を有するホールミラー、10は対物レンズである。なお、ダイクロイックミラー8はOCT光源1からの測定光を反射し、後述する観察用光源からの照明光を透過する特性を持つ。
また、ビームスプリッタ4による参照光の透過方向(眼底にて反射した測定光がビームスプリッタ4を反射して向う方向)には、回折格子11、結像レンズ12、2次元CCDからなる受光素子13が配置される。なお、受光素子13は、結像レンズ12、投光レンズ7、対物レンズ10を介して被検者眼Eの眼底と共役な位置に配置されている。このような光学部材によってOCT光学系が形成される。なお、シリンドリカルレンズ3は、その光学的なパワーを持つ方向が回折格子11の分光方向に一致した状態で配置されている。
OCT光源1から出射した低コヒーレント光は、コリメートレンズ2によって平行光束とされた後、シリンドリカルレンズ3を経て、ビームスプリッタ4によって分割され、その一方(透過光)が測定光として投光レンズ7に向う。投光レンズ7を経た測定光は、ダイクロイックミラー8にて反射し光軸L1と同軸とされ、ホールミラー9の開口を通過して一旦集光した後、対物レンズ10を介して被検者眼Eの眼底に集光する。なお、測定光はシリンドリカルレンズ3によってスリット状に照射され、被検者眼Eの眼底に集光する。眼底で反射した測定光は、対物レンズ10、ホールミラー9の開口部を通った後、再びダイクロイックミラー8にて反射され、投光レンズ7を経てビームスプリッタ4に向う。
一方、OCT光源1から出射し、ビームスプリッタ4を反射した一部の低コヒーレント光は、参照光として集光レンズ5を経て、参照ミラー6に向う。参照光は参照ミラー6の参照面にて反射して折り返され、再びビームスプリッタ4に向かい、眼底で反射した測定光と干渉する。
ここで、測定光は被検者眼Eの網膜の各層で反射し、それぞれの分光分布に伴う異なる強度を持つ反射測定光となって、OCT光学系100内に戻るので、ビームスプリッタ4で発生した干渉光は、回折格子11にて所定の周波数成分(スペクトル)に分光された状態で結像レンズを経て、受光素子13上でスペクトル干渉縞を形成する。このときの光強度を受光素子13により検出し、フーリエ変換することにより参照光と測定光の相関信号を得ることができる。この相関信号の強度は、奥行方向(z方向)の反射散乱特性となっているため、得られた相関信号に基づいて被検者眼Eの奥行方向の断層画像が得られることとなる。なお、回折格子11の格子間隔および入射角、集光レンズ12、受光素子13は、被検者眼Eの光軸方向の測定範囲と分解能を考慮して最適化されている。
なお、また、本実施形態では、図1に示すようにシリンドリカルレンズ3を用いて被検者眼Eの眼底にスリット状の測定光を照射し、眼底にて反射した測定光を受光素子13にて受光している。図5は図1に示す受光光学系をさらに概略化し、眼底からの反射光(測定光)を回折格子11を介して受光素子13に受光させる例を示した模式図である。図中、Sは眼底に投影されたスリット光を表し、a,b,cはスリット光S上の各一点を、a′,b′,c′は点a〜cに対応する受光素子13上の受光位置(Y軸方向における位置)を概略的に表したものである。図示するように、シリンドリカルレンズ3の影響を受けない方向では、測定光は、回折格子13の刻線方向と一致するために回折格子11によって分光されず、その空間情報のみが受光素子13に形成される。また、シリンドリカルレンズ3の影響を受ける方向では、測定光は線集光(スリット光S)されるので、集光点の並び(例えば、点a,点b,点c)とすれば、それぞれの回折格子11による分光情が受光素子13に受光されるので、眼底の奥行情報(例えば、点a′,点b′,点c′の分光情報)が形成されることとなる。したがって、2次元CCDである受光素子13の受光面の一方向(X方向)には回折格子11によって所定の周波数成分(λ1〜λn)に分光されたスペクトル情報が、他方向(Y方向)には空間情報が形成されることとなる。したがって、被検者眼Eの2次元的な断面画像を機械的な走査を用いることなく得ることができる。
次に、観察光学系200について説明する。観察光学系は光源20、ダイクロイックミラー21、集光レンズ22、リングスリット23、投光レンズ24、ホールミラー9、対物レンズ10、結像レンズ25、受光素子26からなる。観察用光源20は、OCT光源と異なる波長の赤外光(例えば、900nm以上の波長の赤外光)を出射するLEDを用いている。また、ダイクロイックミラー21は、観察用光源20からの赤外光を反射し、後述する可視の刺激光を透過する特性を持つ。
観察用光源20から出射される光束は、ダイクロイックミラー21により反射した後、集光レンズ22を経てリングスリット23を照明する。リングスリット23の光束は、投光レンズ24を経た後、ホールミラー6の周辺面で反射される。ホールミラー6で反射したリングスリット光束は、対物レンズ7により被検者眼Eの瞳孔付近で一旦収束した後、拡散して被検者眼眼底部を一様に照明する。眼底からの反射光束は、対物レンズ7、ホールミラー6の開口部、ダイクロイックミラー5、結像レンズ25を介して受光素子26に入射し、その撮像素子面上に眼底像を結像させる。
刺激光照射光学系300は、LCD(Liquid Crystal Display)27、リレーレンズ28を有し、観察光学系200にて用いるダイクロイックミラー21〜対物レンズ10までを共用する。本実施形態では、LCD27を刺激光用光源として用いており、各光学部材を介して被検者眼Eの眼底と共役な位置に置かれ、被検者眼Eに対して可視の刺激光を照射する。また、本実施形態では、このLCD27を用いて、その画面上に形成される光源の位置や形状、大きさ等を変化させることにより、刺激光の照射条件を変更したり、刺激光を照射しないときは被検者眼Eに対する固視用の光源とすることもできる。LCD27から出射された光束は、リレーレンズ28、ダイクロイックミラー21、集光レンズ22、リングスリット23、投光レンズ24を経て、ホールミラー9にて反射された後、対物レンズ10を介して被検者眼Eの眼底に結像する。
図2は本実施形態の装置の制御系を示したブロック図である。
30は装置全体の制御を行うための制御部である。制御部30には光源1,20、LCD27、受光素子13,26、メモリ31、種々の操作を行うためのスイッチ類が設けられたコントロール部32、画像処理部33が接続される。画像処理部33は、受光素子10や受光素子26にて受光した信号を基に被検者眼眼底の画像形成や網膜機能を画像化する役目を持つ。34は画像処理部33に接続されるモニタであり、画像処理部33にて形成した眼底画像や網膜機能情報が表示される。なお、コントロール部32には、OCT画像を取得するための撮影ボタン32a、刺激光照射ボタン32b、刺激光照射条件を設定する照射条件設定ボタン群32c、固視標の点灯位置設定や点灯のON/OFFを行うための固視設定用ボタン群32d、刺激光照射前と照射後における網膜の状態変化を解析するための解析用のボタン32e等が用意される。
以上のような構成を備える装置において、その動作を説明する。検者は照射条件設定ボタン群32cを用いて、刺激光の照射条件(光量、照射形状等)を予め設定しておく。次に図示なきジョイスティック等の操作手段を用いて装置を駆動させ、モニタ34に被検者眼Eの眼底画像が表示されるような位置関係に合わせておく。光源20からは観察用の照明光が前述した観察光学系200を介して被検者眼Eに照射されており、眼底からの反射光は観察光学系200によって受光されている。画像処理部33は受光素子26にて得られた受光信号に基づいて眼底観察画像をモニタ34の画面上にリアルタイムで表示する。なお、画像処理部33は、モニタ34に表示されている眼底観察画像に対する眼底断層画像の取得範囲(光切断範囲)を検者が容易に把握できるように、その光切断範囲を示す指標40を電子的に形成し、モニタ34に表示される眼底観察画像上に合成して表示させる(図3参照)。なお、図3に示す指標40は、測定光軸を中心として水平方向(x方向)に所定範囲(シリンドリカルレンズ4によって形成されるスリット範囲)だけ延びるように表示されている。
検者は、モニタ34に表示される被検者眼Eの眼底の観察画像に基づいて、より明確に眼底像が得られるように装置を駆動させて眼底にフォーカスを合わせておく。また、図4に示すように、検者はコントロール部32の固視設定用ボタン群32dを用い、LCD27の画面の所定位置に固視標50を点灯(形成)させ、被検者眼Eを固視させておく。図示するように、LCD27の画面は固視標50以外の部分が遮光され、固視標50のみが明るく映し出されるように形成される。
被検者眼Eと装置とのアライメントが完了したら、次に検者は撮影ボタン32aを使用し、刺激光照射前のOCT画像の撮影を行う。撮影ボタン32aが使用されると、制御部30は、図1に示すOCT光源1から低コヒーレント光を出射させる。なお、被検者眼Eに向けて測定光を照射する際に、観察光を同時照射することによって、被検者眼Eに対する照射光量オーバーや眼底断層画像取得等に弊害がでるようであれば、眼底断層画像取得の間(OCT光源から測定光を出射している間)は、観察用光源20からの照明光を出射させないように制御してもよい。
OCT光源1から出射した低コヒーレント光は、図1に示すシリンドリカルレンズ3を経た後、ビームスプリッタ4にて測定光と参照光に分けられる。測定光は投光レンズ7、ダイクロイックミラー8を経た後、ホールミラー9の開口部を通り、対物レンズ10を経て被検者眼Eの眼底にスリット状に照射される。被検者眼Eの眼底からの反射測定光は、OCT光学系100を戻り、受光素子ビームスプリッタ4にて反射し、参照光と合成された後、回折格子11にて周波数成分に分光され、集光レンズ12を経て受光素子13に受光される。受光素子13では、参照光と測定光との合成による干渉光が逐次検出される。画像処理部33は前述したように、受光素子13にて得られた干渉信号をフーリエ変換し、眼底断層画像を得る。得られた眼底断層画像は、固視設定用ボタン群32dにて設定した固視条件とともにメモリ31に記憶される。また、画像処理部33は、得られた眼底断層画像をモニタ34に表示させる。なお、眼底上の別の位置における眼底断層画像を得たい場合には、前述した固視設定用ボタン群32dを用いて、モニタ34に形成されている指標40に断面像を取得したい部分が位置するようにLCD27の固視標形成位置を変えておき、前述同様に撮影を行えばよい。
次に検者は、刺激光照射ボタン32bを使用して、被検者眼Eの眼底に刺激光を照射させる。刺激光照射ボタン32bが押されると、制御部30はLCD27の固視標表示を止め、予め設定された条件にて刺激光が照射されるように、画面表示を制御してフラッシュ光を発し、被検者眼Eの網膜を刺激する。被検者眼Eの眼底に刺激光が照射されることより、網膜を構成する細胞が刺激され、これに基づく神経細胞の活動が起こる。なお、刺激光は単発のフラッシュ光に限らず、フリッカ状に刺激光を点灯制御するようにしてもよい。また、刺激光の出射範囲をLCD27の画面全体とせず、眼底上の所定部分だけを限定して刺激できるようにLCD27の画面に形成される刺激光の形状及び形成位置を任意に設定することもできる。
刺激光の照射後、制御部30は、メモリ31に記憶した刺激光照射前の固視条件を取り出し、刺激光照射前の被検者眼Eの固視位置が得られるようにLCD27の画面に固視標50を形成させる。制御部30はOCT光学系100及び画像処理部33を用いて、刺激光の照射後の眼底断層画像を前述同様に続けて取得し、固視条件とともにメモリ31に記憶させる。刺激光照射後に行う撮影は1回だけでなく、網膜機能の変化が判るように、刺激光照射後、所定の間隔(例えば照射1秒後、2秒後…)にて経時的に眼底画像を撮影、記憶させて行ってもよい。
被検者眼Eの同一箇所における刺激光照射前後の眼底断層画像をメモリ31に各々記憶した後、コントロール部32の解析スイッチ32eを押す。解析スイッチ32fが押されると、画像処理部33は、メモリ31に記憶された刺激光照射前の眼底断層画像情報と照射後の眼底断層画像情報とに基づいて、その輝度の差から網膜機能を計測し、その結果をモニタ34に表示する。被検者眼Eの眼底に網膜を刺激する刺激光が照射され、網膜を構成する細胞が刺激を受けると、この刺激に伴って神経細胞の活動に変化が起こり、この神経活動が起こった部位の反射光の強度(反射率)が変化する。このため、刺激光照射前後における眼底断層画像の明るさの変化を読み取ることにより、この神経細胞の活動の変化に起因する内因性の信号変化が得られることとなり、これによって網膜機能が奥行方向に渡って計測できることとなる。
画像処理部33は、照射前の眼底断層画像に対する照射後の眼底断層画像の明るさの変化を各画素毎に求める。明るさの変化は差分や比等を求めることによって得られる。画像処理部33は、得られた明るさの変化情報を各画素に対応させてモニタ34に表示する。明るさの変化情報としては、濃淡の画像として表示する方法や、差分や比の数値情報、この数値情報を網膜機能を評価するための所定の解析プログラムにより演算処理した情報等によってグラフィックや数値情報として表すことができる。
このように本実施形態では、非走査によって被検者眼の網膜の断層画像を得ることができるため、高速測定が可能であり、生体の微動による撮影ズレを極力抑制しつつ、精密な機能計測を行うことができる。
なお、本実施形態では刺激光の照射光源としてLCDを用いているが、これに限るものではなく、眼底に対する刺激光の照射領域や照射位置を変更したり、固視標として使用できる手段であればよい。例えば、LCDに換えてLED等の光源を複数個、同一平面に並べておき、眼底に対する刺激光の照射領域や照射位置を変更したり、被検者眼Eの固視用光源として使用することも可能である。
本実施形態における光学系を示した図である。 本実施形態における制御系を示したブロック図である。 モニタ34に表示される眼底観察画像と指標とを示した模式図である。 本実施形態におけるLCDを用いて固視標を形成させた状態を示す図である。 眼底に照射したスリット光を回折格子を介して受光素子に受光させた状態を示した概略図である。
符号の説明
1 OCT光源
3 シリンドリカルレンズ
6 参照ミラー
11 回折格子
13 受光素子
20 光源
26 受光素子
27 LCD
30 制御部
31 メモリ
32 コントロール部
33 画像処理部
34 モニタ


Claims (3)

  1. 低コヒーレント長の光の一部をスリット状の測定光として被検者眼眼底に照射するとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光とし,該参照光と前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を周波数成分に分光して受光する干渉光学系を有し、該干渉光学系にて受光される干渉光に基づいて前記被検者眼の眼底断層画像を得る眼底断層情報取得手段と、被検者眼眼底に刺激光を照射する刺激光照射手段と、前記眼底断層情報取得手段を用いて前記刺激光照射手段による刺激光の照射前及び照射後における前記眼底断層情報を取得し,前記刺激光の照射前及び照射後の前記眼底断層情報に基づいて網膜機能の変化情報を取得する演算処理手段と、該演算処理手段により得られた前記網膜機能の変化情報を表示する表示手段と、を有することを特徴とする網膜機能計測装置。
  2. 請求項1の網膜機能計測装置において、前記干渉光学系は回折格子を有し、前記参照光と測定光の合成光を該回折格子により周波数成分に分光させることを特徴とする網膜機能計測装置。
  3. 請求項2の網膜機能計測装置は、被検者眼を所定方向に固視させるための固視手段を有し、前記刺激光照射手段は前記刺激光を照射しないときは前記固視手段として用いられることを特徴とする網膜機能計測装置。




JP2006152569A 2006-05-31 2006-05-31 網膜機能計測装置 Withdrawn JP2007319393A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006152569A JP2007319393A (ja) 2006-05-31 2006-05-31 網膜機能計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006152569A JP2007319393A (ja) 2006-05-31 2006-05-31 網膜機能計測装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007319393A true JP2007319393A (ja) 2007-12-13

Family

ID=38852676

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006152569A Withdrawn JP2007319393A (ja) 2006-05-31 2006-05-31 網膜機能計測装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007319393A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009219516A (ja) * 2008-03-13 2009-10-01 Kowa Co 眼光刺激装置
JP2015163862A (ja) * 2014-01-31 2015-09-10 富士フイルム株式会社 光断層画像撮像装置および光断層画像撮像装置を用いたヒト肌の計測方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11113851A (ja) * 1997-10-09 1999-04-27 Topcon Corp 眼底カメラ
JP2002521115A (ja) * 1998-07-31 2002-07-16 グリンヴァルド,アミラム 網膜機能を非侵襲的に画像化するシステムおよび方法
JP2006116028A (ja) * 2004-10-20 2006-05-11 Univ Of Tsukuba 線集光型フーリエドメイン干渉形状計測装置
JP2007202952A (ja) * 2006-02-06 2007-08-16 Nidek Co Ltd 網膜機能計測装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11113851A (ja) * 1997-10-09 1999-04-27 Topcon Corp 眼底カメラ
JP2002521115A (ja) * 1998-07-31 2002-07-16 グリンヴァルド,アミラム 網膜機能を非侵襲的に画像化するシステムおよび方法
JP2006116028A (ja) * 2004-10-20 2006-05-11 Univ Of Tsukuba 線集光型フーリエドメイン干渉形状計測装置
JP2007202952A (ja) * 2006-02-06 2007-08-16 Nidek Co Ltd 網膜機能計測装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009219516A (ja) * 2008-03-13 2009-10-01 Kowa Co 眼光刺激装置
JP2015163862A (ja) * 2014-01-31 2015-09-10 富士フイルム株式会社 光断層画像撮像装置および光断層画像撮像装置を用いたヒト肌の計測方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5079240B2 (ja) 網膜機能計測装置
JP6080128B2 (ja) 眼科撮影装置およびこれに装着可能な光学ユニット
US10016124B2 (en) Data processing method and OCT apparatus
JP6469413B2 (ja) データ処理方法及びoct装置
JP2011135933A (ja) 網膜機能計測装置
JP2012161382A (ja) 眼科装置
JP5570195B2 (ja) Oct装置
JP5242716B2 (ja) 眼底画像処理装置
WO2016031630A1 (ja) 眼科装置
JP2011095005A (ja) 光画像計測装置
JP5378157B2 (ja) 眼科観察装置
JP5513101B2 (ja) 光画像計測装置
JP2014045869A (ja) 撮影装置、画像処理装置、及び画像処理方法
JP6624641B2 (ja) 眼科装置
JP4646027B2 (ja) 網膜機能計測装置
JP2022176282A (ja) 眼科装置、及びその制御方法
WO2013085042A1 (ja) 眼底観察装置
JP6946696B2 (ja) 眼底解析装置及び眼底解析プログラム
JP5587014B2 (ja) 眼科装置
JP2007319393A (ja) 網膜機能計測装置
JP6809926B2 (ja) 眼科装置
JP6934747B2 (ja) 眼科装置、及びその制御方法
JP5919175B2 (ja) 光画像計測装置
JP6779674B2 (ja) Oct装置
JP5421412B2 (ja) 眼科撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090522

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100622

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110912

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111101

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20111228