JP2007187761A - Self-luminous display, estimated degradation information correction device, input display data correction device, and program - Google Patents

Self-luminous display, estimated degradation information correction device, input display data correction device, and program Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that precision is not guaranteed in suppressing or improving the burn-in of displays. <P>SOLUTION: One detector sensor is provided for each dummy pixel group at outside the effective display area to continuously control the dummy pixel to emit light at the same gradation level for the input display data of the reference pixel. Then, periodically measuring the light emitted by this dummy pixel, the latest accumulated degradation information is obtained for the measured section. The estimation of the accumulated degradation information calculated for the measured section is corrected, based on this measurement. In result, the burn-in correction value is decided following the actual measurements to increase the reliability. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

この明細書で説明する発明は、入力表示データに基づいて算出された劣化情報の見積もり値を、劣化情報の実測値に基づいて修正する技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、見積もり劣化情報修正装置、入力表示データ補正装置及びプログラムとしての側面を有する。
The invention described in this specification relates to a technique for correcting an estimated value of deterioration information calculated based on input display data based on an actual measurement value of deterioration information.
The invention proposed by the inventors has aspects such as a self-luminous display device, an estimated deterioration information correction device, an input display data correction device, and a program.

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機その他の電子機器に広く用いられている。現在のところ、フラットパネルディスプレイには、主に液晶ディスプレイパネルが用いられている。しかし、液晶ディスプレイパネルは、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘されている。   Flat panel displays are widely used in computer displays, portable terminals, television receivers and other electronic devices. At present, liquid crystal display panels are mainly used for flat panel displays. However, it has been pointed out that the liquid crystal display panel still has a narrow viewing angle and a slow response speed.

このため、液晶ディスプレイパネルに代わるフラットパネルディスプレイの登場が期待されている。
その最有力候補が、有機EL素子をマトリクス状に配列した有機ELディスプレイパネルである。有機ELディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。
For this reason, the appearance of a flat panel display replacing the liquid crystal display panel is expected.
The most promising candidate is an organic EL display panel in which organic EL elements are arranged in a matrix. The organic EL display panel not only has a good viewing angle and responsiveness, but also has excellent characteristics such as no backlight, high brightness, and high contrast.

ところで、有機ELディスプレイパネルを構成する自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることが一般的にも知られている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体(有機EL素子)の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。
By the way, it is generally known that the self-luminous elements constituting the organic EL display panel have a characteristic of deteriorating in proportion to the light emission amount and time.
On the other hand, the content of the image displayed on the flat panel display is not uniform. For this reason, deterioration of the light emitter (organic EL element) is likely to partially proceed. For example, the light emitter located in the time display area is more rapidly deteriorated than the light emitters in the other display areas.

劣化の進行した発光体の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は「焼きつき」と呼ばれる。以下、部分的な発光体の劣化を「焼きつき」と表記する。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。
The luminance of the light-emitting body that has deteriorated is relatively lowered as compared with the luminance of other display areas. In general, this phenomenon is called “burn-in”. Hereinafter, partial deterioration of the light emitter is referred to as “burn-in”.
Various methods have been proposed for improving “burn-in”. In order to correct burn-in with high accuracy and high performance, it is necessary to correctly detect the actual deterioration state of the light emitter.

従って、劣化状態を検出せずに行う焼きつきの改善策は全て、焼きつきの発生を単に抑制しているのにすぎない。
特開2003−228329号公報 特開2000−132139号公報 特開2003−509728号公報
Therefore, all the measures for improving the burn-in performed without detecting the deterioration state merely suppress the occurrence of the burn-in.
JP 2003-228329 A JP 2000-132139 A JP 2003-509728 A

このうち特許文献1と特許文献2は、発光体の劣化状態を入力表示データ(階調値)の積算値によって予測し、その予測結果に基づいて入力表示データを補正する技術を開示する。すなわち、これらの特許文献は、劣化特性の予測値に基づいて焼きつきを補正する手法を開示する。このため、予測結果に基づく補正後も、焼きつきが解消されない可能性がある。   Among these, Patent Literature 1 and Patent Literature 2 disclose a technique for predicting a deterioration state of a light emitter by an integrated value of input display data (gradation value) and correcting the input display data based on the prediction result. That is, these patent documents disclose a technique for correcting burn-in based on a predicted value of deterioration characteristics. For this reason, there is a possibility that burn-in will not be eliminated even after correction based on the prediction result.

その大きな要因は、発光体の劣化特性は、入力階調値だけでは一様に決定できないためである。例えば、周囲の環境、駆動方法、輝度条件、発熱条件、劣化の程度など様々な条件が複雑に影響する。しかも、有機ELディスプレイパネル間の個体誤差をも考慮する必要がある。このように、全ての条件を正確に関連付けて発光体の劣化状態を予測することは、事実上ほぼ不可能に近い。   The main factor is that the deterioration characteristics of the light emitter cannot be uniformly determined only by the input gradation value. For example, various conditions such as the surrounding environment, the driving method, the luminance condition, the heat generation condition, and the degree of deterioration have a complicated influence. Moreover, it is necessary to consider individual errors between organic EL display panels. Thus, it is virtually impossible to predict the deterioration state of the light emitter by accurately associating all the conditions.

一方、特許文献3に示す手法では、画素回路内に配置した光検出素子により発光体の劣化特性を精度良く検出することができる。しかし、画素毎に光検出素子を利用した補正回路を配置することにより1画素当たりのトランジスタ数が増加し、生産歩留まりの低下や高解像化に不利になる問題がある。   On the other hand, in the technique disclosed in Patent Document 3, the deterioration characteristics of the light emitter can be detected with high accuracy by the light detection element arranged in the pixel circuit. However, disposing a correction circuit using a photodetection element for each pixel increases the number of transistors per pixel, which is disadvantageous in reducing production yield and increasing resolution.

そこで、発明者らは、有効表示領域の外側に配置されたダミー画素の劣化状態を通じて有効表示領域の劣化状態を実測し、その検出結果に基づいて輝度劣化の測定区間に算出される区間劣化量情報を修正する仕組みと修正後の区間劣化量情報に基づいて各画素に対応する補正値を決定する仕組みとを提案する。   Therefore, the inventors actually measured the deterioration state of the effective display area through the deterioration state of the dummy pixels arranged outside the effective display area, and calculated the section deterioration amount calculated in the luminance deterioration measurement section based on the detection result. A mechanism for correcting information and a mechanism for determining a correction value corresponding to each pixel based on the corrected section deterioration amount information are proposed.

(仕組み1)
まず、区間劣化情報を修正する仕組みとして、以下に示す処理機能を搭載する手法を提案する。
(a)輝度劣化の測定区間には、基準画素と同じ階調値を有効表示領域の外側に配置されたダミー画素に与える一方で、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(b)各測定区間に対応する区間劣化量の見積もり値を、ダミー画素に与えられる階調値に基づいて算出する区間劣化量算出処理
(c)各測定区間に対応する区間劣化量の実測値を、輝度検出センサーの検出輝度に基づいて測定する区間劣化量実測処理
(d)実測値に対する見積もり値の修正係数を決定すると共に、有効表示領域内の各画素について算出された区間劣化量情報を修正係数に基づいて修正する見積もり精度修正処理
(Mechanism 1)
First, as a mechanism for correcting the section deterioration information, a method of mounting the following processing functions is proposed.
(A) In the luminance degradation measurement section, the same gradation value as that of the reference pixel is given to the dummy pixel arranged outside the effective display area, while the measurement gradation value is used for the luminance degradation measurement timing. Dummy pixel data determination process to be given to the dummy pixel (b) Section degradation amount calculation process to calculate an estimated value of the section degradation amount corresponding to each measurement section based on the gradation value given to the dummy pixel (c) Each measurement Section degradation amount actual measurement processing for measuring the actual measurement value of the section degradation amount corresponding to the section based on the detected luminance of the luminance detection sensor (d) A correction coefficient for the estimated value for the actual measurement value is determined, and each of the effective display areas Estimated accuracy correction processing for correcting the section deterioration amount information calculated for the pixel based on the correction coefficient

(仕組み2)
また、修正後の区間劣化量情報に基づいて各画素に対応する補正値を決定する仕組みとして、以下に示す処理機能を搭載する手法を提案する。
(a)輝度劣化の測定区間には基準画素と同じ階調値をダミー画素に与える一方で、輝度劣化の測定タイミングには測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(b)各測定区間に対応する区間劣化量の見積もり値を、ダミー画素に与えられる階調値に基づいて算出する区間劣化量算出処理
(c)各測定区間に対応する区間劣化量の実測値を、輝度検出センサーの検出輝度に基づいて測定する区間劣化量実測処理
(d)実測値に対する見積もり値の修正係数を決定すると共に、有効表示領域内の各画素について算出された区間劣化量情報を修正係数に基づいて修正する見積もり精度修正処理
(e)修正済みの区間劣化量情報に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定処理
(f)決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正処理
(Mechanism 2)
In addition, as a mechanism for determining a correction value corresponding to each pixel based on the corrected section deterioration amount information, a method of mounting a processing function shown below is proposed.
(A) Dummy pixel data determination processing in which the same gradation value as that of the reference pixel is given to the dummy pixel in the luminance degradation measurement section, while the measurement gradation value is given to the dummy pixel at the luminance degradation measurement timing ( b) Section deterioration amount calculation processing for calculating an estimated value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section based on the gradation value given to the dummy pixel. (c) An actual measurement value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section. , Section degradation amount actual measurement processing measured based on the detected brightness of the luminance detection sensor (d) Determines a correction coefficient of the estimated value for the actual measurement value, and corrects the section degradation amount information calculated for each pixel in the effective display area (E) Correction amount determination processing for determining a correction amount corresponding to each pixel based on the corrected section deterioration amount information (f) Based on the determined correction amount There, the video signal correction processing for correcting the input tone value corresponding to the effective display region

発明者らの提案する発明では、有効表示領域の外側に配置されたダミー画素の劣化状態を通じて有効表示領域の劣化状態を実測し、その検出結果に基づいて輝度劣化の測定区間に算出される区間劣化量情報を実際値に追従するように修正する。この結果、入力表示データの補正精度が向上し、焼き付き現象を確実に抑制又は改善することが可能になる。   In the invention proposed by the inventors, the deterioration state of the effective display area is actually measured through the deterioration state of the dummy pixels arranged outside the effective display area, and the section calculated as the measurement section of the luminance deterioration based on the detection result The deterioration amount information is corrected to follow the actual value. As a result, the correction accuracy of the input display data is improved, and the burn-in phenomenon can be reliably suppressed or improved.

以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
Hereinafter, embodiments of the self-luminous display device according to the invention will be described.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not specifically illustrated or described in this specification.
Moreover, the form example demonstrated below is one form example of invention, Comprising: It is not limited to these.

(A)発光特性の変動を劣化量の見積もり時に正確に反映する技術
(A−1)基本的な考え方
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機EL素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。
(A) Technology for accurately reflecting fluctuations in light emission characteristics when estimating the deterioration amount (A-1) Basic concept The gradation value and the deterioration amount are not necessarily in a proportional relationship. This is because the organic EL element has a characteristic that the light emission characteristic changes due to the characteristic error between panels, the environmental temperature, the light emission temperature of the panel surface, and the like.
For this reason, even if the gradation value is cumulatively added for each pixel, the deterioration amount of the corresponding pixel cannot be accurately estimated.

そこで、発明者らは、有機EL素子の発光特性の経時的な変動を実測し、実測結果を劣化量の見積もりに反映する仕組みを提案する。
図1に、発光時点の違いによる劣化速度(率)の変動を示す。図1は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線DAPL は、ある画素(例えば、劣化特性測定用のダミー画素)を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。
In view of this, the inventors propose a mechanism for measuring the temporal variation of the light emission characteristics of the organic EL element and reflecting the measurement result in the estimation of the deterioration amount.
FIG. 1 shows the variation of the deterioration rate (rate) due to the difference in the light emission point. FIG. 1 shows temporal changes in light emission luminance in the case where lighting of a light emitter constituting a certain pixel is controlled with a constant gradation value. A curve D APL represents a deterioration curve when lighting control is performed on a certain pixel (for example, a dummy pixel for measuring deterioration characteristics) with an average gradation value of the entire screen.

図1に示す矢印D100 は、画素に100%信号レベルの階調値を与えた場合の輝度劣化の進行速度(劣化率)を示す。時点t1を基点とする矢印D100の傾きと時点t2を基点とする矢印D100の傾きとを比べて分かるように、同じ階調値によりある画素の発光を制御する場合でも、発光開始時の輝度劣化が異なると劣化速度は同じにならない。
劣化速度が異なれば、発光時間長は同じでも該当期間内に発生する劣化量は異なる値になる。
An arrow D 100 shown in FIG. 1 indicates a progress rate (deterioration rate) of luminance degradation when a gradation value of 100% signal level is given to a pixel. As can be seen by comparing the slope of the arrow D 100 with the time point t1 as the base point and the slope of the arrow D 100 with the time point t2 as the base point, even when the light emission of a certain pixel is controlled by the same gradation value, If the brightness deterioration is different, the deterioration speed is not the same.
If the deterioration rate is different, the amount of deterioration occurring in the corresponding period is different even if the light emission time length is the same.

図2に、一例を示す。図中、期間1(時点t1〜t2)に発生する劣化量をΔR(t1-t2) 、期間2(時点t2〜t3)に発生する劣化量をΔR(t2-t3) と示す。図中に示す期間1と期間2は、いずれも同じ時間長であるが、その大きさは異なっている。
従って、発明者らは、この劣化量の変化を定期的に実測し、階調値より見積もった劣化量を適宜修正する手法を採用する。
An example is shown in FIG. In the figure, the amount of deterioration occurring in period 1 (time points t1 to t2) is denoted as ΔR (t1-t2), and the amount of deterioration occurring in period 2 (time points t2 to t3) is denoted as ΔR (t2-t3). The period 1 and the period 2 shown in the figure are both the same time length, but their sizes are different.
Therefore, the inventors adopt a method of periodically measuring the change in the deterioration amount and appropriately correcting the deterioration amount estimated from the gradation value.

(A−2)表示パネルの構成例
図3に、有機ELパネルモジュールの構成例を示す。図3は、主に画素配置の観点から表した図であり、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
有機ELパネルモジュール1は、有効表示領域31とダミー画素領域33で構成する。
有効表示領域31は、発光が外部から観察できる領域である。一方、ダミー画素領域33は、発光が外部から観察されないように遮光された領域であり、有効表示領域31の外側に配置される。
(A-2) Configuration Example of Display Panel FIG. 3 shows a configuration example of the organic EL panel module. FIG. 3 is a diagram mainly showing from the viewpoint of pixel arrangement, and the drive circuit and other peripheral circuits are omitted.
The organic EL panel module 1 includes an effective display area 31 and a dummy pixel area 33.
The effective display area 31 is an area where light emission can be observed from the outside. On the other hand, the dummy pixel region 33 is a light-shielded region so that light emission is not observed from the outside, and is disposed outside the effective display region 31.

なお、図3の場合、1行目からn行目までが有効表示領域31であり、n+1行目がダミー画素領域33である。この例の場合、各ダミー画素は、ブランキング期間に発光制御する。図3に示すように、発明者らの提案する表示パネルは、一般的な表示パネルに選択線(ゲート駆動線)を1本追加するだけで実現できる。すなわち、ダミー画素領域33は、有効表示領域31内の各画素と同じ構造で良く、既存の駆動回路を流用することができる。すなわち、ダミー画素の駆動に、専用の駆動回路又は大規模な駆動回路を必要としない。   In the case of FIG. 3, the effective display area 31 is from the first line to the n-th line, and the dummy pixel area 33 is the n + 1-th line. In this example, each dummy pixel is controlled to emit light during the blanking period. As shown in FIG. 3, the display panel proposed by the inventors can be realized only by adding one selection line (gate drive line) to a general display panel. That is, the dummy pixel area 33 may have the same structure as each pixel in the effective display area 31, and an existing drive circuit can be used. That is, a dedicated drive circuit or a large-scale drive circuit is not required for driving the dummy pixels.

図4に、ダミー画素領域33を構成するダミー画素の構造例を示す。ダミー画素は、有効表示領域内の表示画素と同一の構造を有し、赤(R)、緑(G)、青(B)のそれぞれに対応する単位ダミー画素で構成される。
これら各単位ダミー画素の発光輝度は、輝度検出センサー7により検出される。図4の場合、1つの輝度検出センサー7を表示画素の全体を覆うように配置されている。もっとも、3つの輝度検出センサー7を構成する各単位ダミー画素と対面するように配置することも可能であるし、各単位ダミー画素内に配置することもできる。
FIG. 4 shows an example of the structure of the dummy pixel that constitutes the dummy pixel region 33. The dummy pixels have the same structure as the display pixels in the effective display area, and are configured by unit dummy pixels corresponding to red (R), green (G), and blue (B).
The light emission luminance of each unit dummy pixel is detected by the luminance detection sensor 7. In the case of FIG. 4, one luminance detection sensor 7 is arranged so as to cover the entire display pixel. However, it can be arranged so as to face each unit dummy pixel constituting the three luminance detection sensors 7, or can be arranged in each unit dummy pixel.

この形態例の場合、輝度検出センサー7を構成する光検出素子には、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーを使用するものとする。輝度検出センサー7は、電流値として検出した光量情報を増幅して電圧値に変換し、光検出信号として出力する。   In the case of this embodiment, a visible light sensor using an amorphous silicon semiconductor is used as the light detection element constituting the luminance detection sensor 7. The luminance detection sensor 7 amplifies light amount information detected as a current value, converts it into a voltage value, and outputs it as a light detection signal.

(B)好適な形態例
以下、前述した劣化特性の更新技術を採用する有機ELディスプレイ装置の形態例を説明する。
(a)システム構成
図5に、この形態例で説明する有機ELディスプレイ装置11のシステム構成例の概要を示す。有機ELディスプレイ装置11は、有機ELパネルモジュール13、入力表示データ補正部15及び見積もり劣化量修正部17で構成する。
(B) Preferred Embodiment Hereinafter, an embodiment of an organic EL display device that employs the above-described degradation characteristic updating technique will be described.
(A) System Configuration FIG. 5 shows an outline of a system configuration example of the organic EL display device 11 described in this embodiment. The organic EL display device 11 includes an organic EL panel module 13, an input display data correction unit 15, and an estimated deterioration amount correction unit 17.

有機ELパネルモジュール13には、図3に示す構成を採用する。
入力表示データ補正部15は、有効表示領域131を構成する各画素の劣化量が基準画素の劣化量に揃うように又は入力階調値が同じ場合に、各画素の発光輝度が基準画素の発光輝度に揃うように入力表示データを個別に補正する処理を実行する。ここでの基準画素には、入力表示データの平均階調値で継続的に発光制御される画素を想定する。
見積もり劣化量修正部17は、ダミー画素データを生成する処理と、ダミー画素についての実測結果に基づいて入力表示データ補正部15の見積もり劣化量を修正する処理とを実行する。
The organic EL panel module 13 employs the configuration shown in FIG.
The input display data correction unit 15 sets the light emission luminance of each pixel to the light emission of the reference pixel when the deterioration amount of each pixel constituting the effective display area 131 is equal to the deterioration amount of the reference pixel or when the input gradation value is the same. A process of individually correcting the input display data so as to match the luminance is executed. Here, the reference pixel is assumed to be a pixel whose light emission is continuously controlled with the average gradation value of the input display data.
The estimated deterioration amount correcting unit 17 executes a process of generating dummy pixel data and a process of correcting the estimated deterioration amount of the input display data correcting unit 15 based on the actual measurement result of the dummy pixels.

(b)入力表示データ補正部の構成
図6に、入力表示データ補正部15の詳細構成例を示す。入力表示データ補正部15は、階調値/劣化量変換テーブル151、劣化量算出部153、劣化量差算出部155、修正前区間劣化量差蓄積部157、累積劣化量差蓄積部159、補正量決定部161及び映像信号補正部163で構成する。
(B) Configuration of Input Display Data Correction Unit FIG. 6 shows a detailed configuration example of the input display data correction unit 15. The input display data correction unit 15 includes a gradation value / deterioration amount conversion table 151, a deterioration amount calculation unit 153, a deterioration amount difference calculation unit 155, a pre-correction interval deterioration amount difference accumulation unit 157, a cumulative deterioration amount difference accumulation unit 159, and a correction. The amount determining unit 161 and the video signal correcting unit 163 are configured.

階調値/劣化量変換テーブル151は、入力表示データ(階調値)を劣化量に変換するテーブルである。変換テーブルを用いるのは、前述したように有機EL素子の劣化の進行が階調値と比例関係にないためである。図7に、階調値/劣化量変換テーブル151の一例を示す。階調値/劣化量変換テーブル151には、入力表示データが採り得る全ての階調値と、これらに対応する劣化量とが対応付けられて記憶されている。劣化量Rは、各階調値に対応する劣化速度(劣化率)と発光期間tとの積として与えられる。発光期間tは、固定でも可変でも良い。   The gradation value / degradation amount conversion table 151 is a table for converting input display data (gradation value) into a deterioration amount. The reason why the conversion table is used is that the progress of the deterioration of the organic EL element is not proportional to the gradation value as described above. FIG. 7 shows an example of the gradation value / degradation amount conversion table 151. In the gradation value / degradation amount conversion table 151, all gradation values that can be taken by the input display data and the corresponding degradation amounts are stored in association with each other. The deterioration amount R is given as the product of the deterioration rate (deterioration rate) corresponding to each gradation value and the light emission period t. The light emission period t may be fixed or variable.

劣化量算出部153は、階調値/劣化量変換テーブル151を参照し、各画素(ダミー画素を含む。)に対応する入力表示データ(階調値)を対応する劣化量に換算する処理を実行する処理デバイスである。劣化量算出部153は、有効表示領域を構成する各画素について算出された劣化量を劣化量差算出部155に出力し、ダミー画素について算出された劣化量をダミー画素区間劣化量算出部177に出力する。   The degradation amount calculation unit 153 refers to the gradation value / degradation amount conversion table 151 and performs processing for converting the input display data (gradation value) corresponding to each pixel (including dummy pixels) into the corresponding degradation amount. The processing device to be executed. The deterioration amount calculation unit 153 outputs the deterioration amount calculated for each pixel constituting the effective display area to the deterioration amount difference calculation unit 155, and outputs the deterioration amount calculated for the dummy pixel to the dummy pixel section deterioration amount calculation unit 177. Output.

劣化量差算出部155は、基準画素について算出された劣化量と各画素について算出された劣化量との差分(劣化量差)を算出する処理デバイスである。この劣化量差算出部155は、劣化量差が新たに算出される度、当該劣化量差を修正前区間劣化量差蓄積部157に保持されている区間劣化量差に加算する。
修正前区間劣化量差蓄積部157は、各測定区間内に発生した劣化量差の累積値を蓄積する記憶デバイスである。なお、蓄積されている劣化量差の累積値は、測定区間の終了時に見積もり精度修正部179より与えられる修正係数で修正され、累積劣化量差蓄積部159に出力される。この出力後、修正前区間劣化量差蓄積部157に蓄積されている劣化量差は次の測定区間用にリセット(クリア)される。
The deterioration amount difference calculation unit 155 is a processing device that calculates a difference (deterioration amount difference) between the deterioration amount calculated for the reference pixel and the deterioration amount calculated for each pixel. The deterioration amount difference calculation unit 155 adds the deterioration amount difference to the section deterioration amount difference held in the pre-correction section deterioration amount difference accumulation unit 157 every time the deterioration amount difference is newly calculated.
The pre-correction interval deterioration amount difference accumulation unit 157 is a storage device that accumulates cumulative values of deterioration amount differences that occur in each measurement interval. The accumulated value of the accumulated deterioration amount difference is corrected by the correction coefficient given from the estimation accuracy correcting unit 179 at the end of the measurement section, and is output to the accumulated deterioration amount difference accumulating unit 159. After this output, the deterioration amount difference accumulated in the pre-correction interval deterioration amount difference accumulation unit 157 is reset (cleared) for the next measurement interval.

累積劣化量差蓄積部159は、発光開始から前測定区間の終了時点までに算出された画素別の累積劣化量差を蓄積する記憶デバイスである。勿論、ここでの記憶値は、基本発光色別に記憶される。
補正量決定部161は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。この形態例の場合、補正量の決定方法には、基準画素の累積劣化量との差が無くなるように補正値を決定する方法又は入力階調値が同じ場合に、各画素の発光輝度が基準画素の発光輝度に揃うように補正値を決定する方法を適用する。
The accumulated deterioration amount difference accumulation unit 159 is a storage device that accumulates the accumulated deterioration amount difference for each pixel calculated from the start of light emission to the end of the previous measurement section. Of course, the stored value here is stored for each basic emission color.
The correction amount determination unit 161 is a processing device that determines a correction value corresponding to each pixel based on a cumulative deterioration amount difference. In the case of this embodiment, the correction amount determination method is a method for determining a correction value so that there is no difference from the cumulative deterioration amount of the reference pixel, or when the input gradation value is the same, the emission luminance of each pixel is the reference. A method of determining a correction value so as to match the light emission luminance of the pixel is applied.

映像信号補正部163は、入力表示データを補正表示データに変換する処理を実行する処理デバイスとして機能する。この形態例の場合、映像信号補正部163は、有効表示領域内の各画素に対応する入力表示データに、各画素に対応する補正値を加減算することにより入力表示データを補正表示データに変換する。なお、補正値は、補正量決定部161より与えられる。変換後の補正表示データは、劣化量算出部153とダミー画素決定部175に与えられる。また、映像信号補正部163は、ダミー画素データ決定部175から与えられるダミー画素用の画素データ(すなわち、ダミー画素データ)を入力表示データの対応位置に多重する処理も実行する。   The video signal correction unit 163 functions as a processing device that executes processing for converting input display data into corrected display data. In the case of this embodiment, the video signal correction unit 163 converts the input display data to the corrected display data by adding / subtracting the correction value corresponding to each pixel to / from the input display data corresponding to each pixel in the effective display area. . The correction value is given from the correction amount determination unit 161. The corrected display data after conversion is provided to the deterioration amount calculation unit 153 and the dummy pixel determination unit 175. The video signal correction unit 163 also executes a process of multiplexing the pixel data for dummy pixels (that is, dummy pixel data) given from the dummy pixel data determination unit 175 at the corresponding position of the input display data.

(c)見積もり劣化量修正部の構成
図6に、見積もり劣化量修正部の詳細構成例を示す。見積もり劣化量修正部17は、ダミー画素発光検出部171、区間劣化量実測部173、ダミー画素データ決定部175、ダミー画素区間劣化量算出部177及び見積もり精度修正部179で構成する。
ダミー画素発光検出部171は、各測定タイミングにダミー画素の発光輝度を検出する処理デバイスである。このダミー画素発光検出部171は、図4に示す輝度検出センサー7に対応する。
(C) Configuration of Estimated Degradation Amount Correction Unit FIG. 6 shows a detailed configuration example of the estimated degradation amount correction unit. The estimated deterioration amount correction unit 17 includes a dummy pixel light emission detection unit 171, a section deterioration amount actual measurement unit 173, a dummy pixel data determination unit 175, a dummy pixel section deterioration amount calculation unit 177, and an estimation accuracy correction unit 179.
The dummy pixel light emission detection unit 171 is a processing device that detects the light emission luminance of the dummy pixel at each measurement timing. The dummy pixel light emission detection unit 171 corresponds to the luminance detection sensor 7 shown in FIG.

区間劣化量実測部173は、直前回の測定タイミングに測定された発光輝度と今回の測定タイミングに測定された発光輝度との差分値により、今回の測定区間に新たに発生した累積劣化量ΔRを測定する処理デバイスである。なお、測定された累積劣化量ΔRは、見積もり精度修正部179に出力される。また、この区間劣化量実測部173が、測定タイミングを管理し、測定用のダミー画素データの出力タイミングをダミー画素データ決定部175に指定する。   The section deterioration amount actual measurement unit 173 calculates a cumulative deterioration amount ΔR newly generated in the current measurement section based on a difference value between the light emission brightness measured at the immediately previous measurement timing and the light emission brightness measured at the current measurement timing. A processing device to measure. The measured cumulative deterioration amount ΔR is output to the estimated accuracy correction unit 179. Further, the section deterioration amount actual measurement unit 173 manages the measurement timing, and designates the dummy pixel data determination unit 175 as the output timing of the dummy pixel data for measurement.

ダミー画素データ決定部175は、ダミー画素データを決定する処理デバイスである。測定区間(測定タイミング以外の区間)では、有効表示領域全体の発光情報を反映する基準階調値を補正表示データに基づいて算出し、これをダミー画素データとして映像信号補正部163に出力する。例えば、全画面の平均階調値を出力する。なお、平均階調値は、基本発光色別に算出する。   The dummy pixel data determination unit 175 is a processing device that determines dummy pixel data. In the measurement section (section other than the measurement timing), a reference gradation value that reflects the light emission information of the entire effective display area is calculated based on the corrected display data, and is output to the video signal correction unit 163 as dummy pixel data. For example, the average gradation value of the entire screen is output. The average gradation value is calculated for each basic emission color.

また、測定タイミングでは、事前に設定した測定用の階調値をダミー画素データとして映像信号補正部163に出力する。例えば、100%輝度値に対応する階調値を出力する。この測定用の階調値は、基本的に同じ値を使用する。もっとも、使用中に異なる値に変更することも可能である。
図8に、ダミー画素データ例の遷移例を示す。
Further, at the measurement timing, a preset gradation value for measurement is output to the video signal correction unit 163 as dummy pixel data. For example, a gradation value corresponding to a 100% luminance value is output. The gradation value for measurement basically uses the same value. However, it is possible to change to a different value during use.
FIG. 8 shows a transition example of the dummy pixel data example.

ダミー画素区間劣化量算出部177は、ダミー画素データについて見積もられた劣化量を劣化量算出部153から入力して累積加算する処理デバイスである。ただし、算出された累積加算値は、測定区間が終了して見積もり精度修正部179に読み出された後にリセット(クリア)される。このため、ダミー画素区間劣化量算出部177には、常に測定区間内に新たに見積もられたダミー画素の累積劣化量のみが保持される。   The dummy pixel section deterioration amount calculation unit 177 is a processing device that inputs the deterioration amount estimated for the dummy pixel data from the deterioration amount calculation unit 153 and performs cumulative addition. However, the calculated cumulative addition value is reset (cleared) after the measurement interval ends and is read by the estimation accuracy correction unit 179. For this reason, the dummy pixel section deterioration amount calculation unit 177 always holds only the cumulative deterioration amount of dummy pixels newly estimated in the measurement section.

見積もり精度修正部179は、測定区間が終了するたびに各測定区間で算出された累積劣化量の見積もり値と実測値を比較し、見積もり値を実測値に一致させるための修正係数を算出する処理を実行する処理デバイスである。算出された修正係数は、修正前区間劣化量差蓄積部157に出力される。このように、見積もり精度修正部179は、測定区間内に算出された全ての画素に発生する見積もり誤差を一律に修正する機能を実現する。   The estimation accuracy correction unit 179 compares the estimated value of the cumulative deterioration amount calculated in each measurement section with the actual measurement every time the measurement section ends, and calculates a correction coefficient for matching the estimated value with the actual measurement value Is a processing device for executing The calculated correction coefficient is output to the pre-correction interval deterioration amount difference accumulation unit 157. In this way, the estimation accuracy correction unit 179 realizes a function for uniformly correcting estimation errors occurring in all the pixels calculated within the measurement section.

(d)累積劣化量差の修正動作
以下、この形態例で採用する累積劣化量差の修正動作例を示す。
図9に示すように、ダミー画素の発光輝度は、有機ELパネルモジュールの使用時間長に伴って非線形に低下する。ダミー画素は、有効表示領域内の平均階調値で発光制御されるため、有効表示領域全体の平均的な輝度劣化を正確に表している。
見積もり精度修正部179は、図9に示す各測定区間毎に累積劣化量ΔRの見積もり値と実測値とを比較し、修正前区間劣化量差蓄積部157に与える修正係数を決定する。
(D) Correction Operation for Cumulative Degradation Amount Difference Hereinafter, an operation example for correcting the cumulative deterioration amount difference employed in this embodiment will be described.
As shown in FIG. 9, the light emission luminance of the dummy pixel decreases nonlinearly with the usage time length of the organic EL panel module. Since the dummy pixels are controlled to emit light at an average gradation value in the effective display area, the dummy pixels accurately represent the average luminance deterioration of the entire effective display area.
The estimation accuracy correction unit 179 compares the estimated value of the accumulated deterioration amount ΔR with the actual measurement value for each measurement section shown in FIG. 9 and determines a correction coefficient to be given to the pre-correction section deterioration amount difference accumulation unit 157.

図10に、累積劣化量の見積もり値が修正係数により逐次修正される様子を示す。図10に示すように、測定区間毎に修正処理が実行されない場合、時点t3の時点で非常に大きな見積もり誤差が発生してしまう。従来技術では、このような見積もり誤差の発生を無視して焼き付き補正用の補正値を決定するため、焼き付き現象の補正精度が低下するのを避け得なかった。   FIG. 10 shows a state in which the estimated value of the accumulated deterioration amount is sequentially corrected by the correction coefficient. As shown in FIG. 10, when the correction process is not executed for each measurement section, a very large estimation error occurs at the time point t3. In the prior art, since the correction value for burn-in correction is determined ignoring the occurrence of such an estimation error, it is inevitable that the correction accuracy of the burn-in phenomenon is lowered.

図11に、修正前後の区間累積劣化量と修正係数との全区間にわたる対応関係を示す。
図12に、最初の測定区間(t1までの区間)に対応する見積もり値と実測値の関係を示す。図12は、累積劣化量の見積もり値がb%の輝度低下として与えられ、累積劣化量の実測値がa%の輝度低下で与えられる場合の例である。この場合、修正係数はa/bとして与えられる。
この修正係数が、修正前の区間劣化量差R1に乗算される。この例の場合、区間劣化量差は、修正前よりも小さい値R1’に修正される。修正後の区間劣化量差は、累積劣化量差蓄積部159に蓄積され、補正量の決定用に参照される。
FIG. 11 shows the correspondence relationship between the section cumulative deterioration amount before and after correction and the correction coefficient over the entire section.
FIG. 12 shows the relationship between the estimated value and the actual measurement value corresponding to the first measurement interval (interval up to t1). FIG. 12 shows an example in which the estimated value of the cumulative deterioration amount is given as a b% luminance drop, and the actual measurement value of the cumulative deterioration amount is given as a% luminance drop. In this case, the correction coefficient is given as a / b.
This correction coefficient is multiplied by the section deterioration amount difference R1 before correction. In this example, the interval deterioration amount difference is corrected to a value R1 ′ smaller than that before the correction. The corrected section deterioration amount difference is stored in the cumulative deterioration amount difference storage unit 159 and is referred to for determining the correction amount.

図13に、次の測定区間(t1〜t2の区間)に対応する見積もり値と実測値の関係を示す。図13は、累積劣化量の見積もり値がd%の輝度低下として与えられ、累積劣化量の実測値がc%の輝度低下で与えられる場合の例である。この場合、修正係数はc/dとして与えられる。
図14に、さらに次の測定区間(t2〜t3の区間)に対応する見積もり値と実測値の関係を示す。図14は、累積劣化量の見積もり値がf%の輝度低下として与えられ、累積劣化量の実測値がe%の輝度低下で与えられる場合の例である。この場合、修正係数はe/fとして与えられる。
FIG. 13 shows the relationship between the estimated value and the actual measurement value corresponding to the next measurement interval (interval between t1 and t2). FIG. 13 shows an example in which the estimated value of the cumulative deterioration amount is given as a d% luminance drop, and the measured value of the cumulative deterioration amount is given as a c% luminance drop. In this case, the correction coefficient is given as c / d.
FIG. 14 shows the relationship between the estimated value and the actually measured value corresponding to the next measurement interval (interval of t2 to t3). FIG. 14 shows an example in which the estimated value of the cumulative deterioration amount is given as a luminance reduction of f% and the actual measurement value of the cumulative deterioration amount is given as a luminance reduction of e%. In this case, the correction coefficient is given as e / f.

いずれの測定区間の場合も、修正係数が、修正前の区間劣化量差R2、R3に乗算される。この例の場合、区間劣化量差は、修正前よりも小さい値R2’、R3’にそれぞれ修正される。そして、修正後の各区間劣化量差は、前測定区間までに累積劣化量差蓄積部159に蓄積されていた累積劣化量差に加算され、後続期間の補正量の決定に参照される。
なお、図12〜図14は、いずれも累積劣化量の実測値が見積もり値よりも小さい場合について表したが、この関係が反対になる場合もある。その場合にも、修正係数は前述した対応関係で算出される。
In any measurement interval, the correction coefficient is multiplied by the interval deterioration amount difference R2 and R3 before correction. In this example, the section deterioration amount difference is corrected to values R2 ′ and R3 ′ that are smaller than those before correction. Then, the corrected difference in each section amount is added to the accumulated deterioration amount difference accumulated in the accumulated deterioration amount difference accumulation unit 159 until the previous measurement section, and is referred to for determining the correction amount in the subsequent period.
12 to 14 all show the case where the actual measurement value of the cumulative deterioration amount is smaller than the estimated value, but this relationship may be reversed. Even in this case, the correction coefficient is calculated based on the correspondence described above.

参考までに、図15及び図16に、前述した修正動作により補正精度がどのように改善されるかを模式的に示す。
図15は、補正量決定部161が、各画素の劣化量が基準画素の劣化量と一致するように補正動作を実行する場合の動作例に対応する。図中の実線は実際の劣化特性を示し、破線は見積もり値を修正しない場合の劣化特性である。
For reference, FIG. 15 and FIG. 16 schematically show how the correction accuracy is improved by the above-described correction operation.
FIG. 15 corresponds to an operation example when the correction amount determination unit 161 performs a correction operation so that the deterioration amount of each pixel matches the deterioration amount of the reference pixel. The solid line in the figure indicates the actual deterioration characteristic, and the broken line indicates the deterioration characteristic when the estimated value is not corrected.

補正対象画素の劣化(破線)が一致させるべき基準画素の劣化(破線)に対して5%進んでいると判定された場合、従来手法では、予定する補正期間について補正対象画素の発光を停止させるような制御動作が実行される。破線で示すように、補正期間の終了時点では補正対象画素の劣化特性は、基準画素の劣化特性と一致しているはずである。   When it is determined that the deterioration of the correction target pixel (broken line) is advanced by 5% with respect to the deterioration of the reference pixel to be matched (broken line), the conventional method stops the light emission of the correction target pixel for the scheduled correction period. Such a control operation is executed. As indicated by the broken line, the deterioration characteristic of the correction target pixel should match the deterioration characteristic of the reference pixel at the end of the correction period.

しかし、劣化特性の見積もり精度が悪く、図15に実線で示すように補正開始時点における補正対象画素と基準画素との劣化量の差が実際は3%の場合、補正対象画素の発光を停止することで補正期間終了時点には、補正開始時点とは反対に基準画素の劣化が進んでしまう。このように、累積劣化量差の見積もり精度に問題があると、補正動作が本来の効果(焼き付きの改善)を発揮することができない。
ところが、発明者らの提案する手法を採用すれば、累積劣化量が実際の累積劣化量に一致するように逐次修正されるため、補正対象画素の劣化量は基準画素の劣化量に対して精度良く合わせ込むことができ、補正終了時点には焼き付きを改善することが可能になる。
However, when the degradation characteristic estimation accuracy is poor and the difference in degradation amount between the correction target pixel and the reference pixel at the start of correction is actually 3% as indicated by the solid line in FIG. 15, the emission of the correction target pixel is stopped. Thus, at the end of the correction period, the deterioration of the reference pixel proceeds in contrast to the correction start time. Thus, if there is a problem in the estimation accuracy of the accumulated deterioration amount difference, the correction operation cannot exhibit the original effect (improving burn-in).
However, if the method proposed by the inventors is adopted, the accumulated deterioration amount is sequentially corrected so as to match the actual accumulated deterioration amount, so that the deterioration amount of the correction target pixel is more accurate than the deterioration amount of the reference pixel. It is possible to match well, and it becomes possible to improve the burn-in at the end of the correction.

図16は、補正量決定部161が、入力階調値が同じ場合に、各画素の発光輝度が基準画素の発光輝度に揃うように補正動作を実行する場合の動作例を表している
図16の場合も、補正対象画素の劣化(破線)が一致させるべき基準画素の劣化(破線)に対して5%進んでいると判定された場合について表している。この場合、従来手法では、補正対象画素の発光輝度を5%上昇させるような制御動作が実行される。破線で示すように、この補正動作の実行により補正対象画素の発光輝度は、基準画素の発光輝度と一致するはずである。
16 illustrates an operation example when the correction amount determination unit 161 executes a correction operation so that the light emission luminance of each pixel is equal to the light emission luminance of the reference pixel when the input gradation values are the same. This also shows a case where it is determined that the deterioration of the correction target pixel (broken line) is advanced by 5% with respect to the deterioration of the reference pixel (broken line) to be matched. In this case, in the conventional method, a control operation that increases the light emission luminance of the correction target pixel by 5% is executed. As indicated by the broken line, the light emission luminance of the correction target pixel should match the light emission luminance of the reference pixel by executing this correction operation.

しかし、劣化特性の見積もり精度が悪く、図16に実線で示すように補正開始時点における補正対象画素と基準画素との劣化量の差が実際は3%の場合、補正対象画素の発光輝度を5%上昇させると、基準画素の発光輝度よりも2%も大きくなってしまう。このように、劣化量の予測精度に問題があると、補正動作が本来の効果(焼き付きの改善)を発揮することができない。
そしてこの場合も、発明者らの提案する手法を採用すれば、累積劣化量が実際の累積劣化量に一致するように逐次修正されるため、補正対象画素の発光輝度は基準画素の発光輝度に対して精度良く合わせ込むことができ、補正終了時点には焼き付きを改善することが可能になる。
However, when the estimation accuracy of the deterioration characteristics is poor and the difference in deterioration amount between the correction target pixel and the reference pixel at the start of correction is actually 3% as indicated by a solid line in FIG. 16, the emission luminance of the correction target pixel is 5%. When it is raised, it becomes 2% larger than the light emission luminance of the reference pixel. Thus, if there is a problem in the prediction accuracy of the deterioration amount, the correction operation cannot exhibit the original effect (improving burn-in).
In this case as well, if the method proposed by the inventors is adopted, the cumulative deterioration amount is sequentially corrected so as to match the actual cumulative deterioration amount, so the light emission luminance of the correction target pixel becomes the light emission luminance of the reference pixel. On the other hand, it is possible to match with high accuracy, and it is possible to improve the burn-in at the end of the correction.

(e)形態例の効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ELディスプレイ装置では、有効表示領域の外側にダミー画素を配置し、その劣化状態を実際に測定して階調値から見積もった累積劣化量を修正する。このため、累積劣化量差蓄積部159には、実際の劣化状態を正確に反映した累積劣化量差のみが蓄積されることになる。結果として、補正量決定部161で決定される補正量についての信頼性の向上が長期間にわたって保証することができる。
(E) Effect of Embodiment As described above, in the organic EL display device according to this embodiment, dummy pixels are arranged outside the effective display area, and the degradation state is actually measured and estimated from the gradation value. Correct the accumulated deterioration amount. Therefore, the cumulative deterioration amount difference accumulation unit 159 stores only the cumulative deterioration amount difference that accurately reflects the actual deterioration state. As a result, an improvement in the reliability of the correction amount determined by the correction amount determination unit 161 can be ensured over a long period of time.

かくして、長時間の使用にも焼き付き現象の発生し難い、又は焼き付き現象の改善が可能な有機ELディスプレイ装置を実現することが可能になる。また、この発明は、実測値に応じて累積劣化量差が修正されるため、表示パネル間の個体誤差についても有効である。   Thus, it becomes possible to realize an organic EL display device in which the image sticking phenomenon hardly occurs even when used for a long time or the image sticking phenomenon can be improved. The present invention is also effective for individual errors between display panels because the accumulated deterioration amount difference is corrected according to the actual measurement value.

勿論、これらの効果は、実測結果を使用した簡単な信号処理だけで実現できるため、従来技術のような、経時変化等の全ての事象を考慮した事前の膨大な実験を不要にできる。このため、製造コストの大幅な削減を実現できる。
また、形態例で説明した処理手法は、制御内容が単純であるので画面サイズが大型化しても低コストで実現できる。
また、ダミー画素は有効表示領域とまったく同じ画素構成で製造でき、ダミー画素専用の複雑な回路構成や特殊な制御動作を必要としない。この点でも、回路規模の削減と生産難易度の低減との点で有利である。
Of course, since these effects can be realized only by simple signal processing using the actual measurement result, it is possible to eliminate the need for an enormous prior experiment in consideration of all events such as changes over time as in the prior art. For this reason, the manufacturing cost can be significantly reduced.
Further, since the processing method described in the embodiment has simple control contents, it can be realized at low cost even when the screen size is increased.
Further, the dummy pixel can be manufactured with exactly the same pixel configuration as the effective display area, and does not require a complicated circuit configuration dedicated to the dummy pixel or a special control operation. This is also advantageous in terms of reduction in circuit scale and production difficulty.

(C)他の形態例
(a)前述の形態例では、基本発光色がRGBの3色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて4色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
(b)前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機EL素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
(C) Other Embodiments (a) In the above embodiment, the case where the basic emission colors are three colors of RGB has been described. However, the basic emission colors can also be applied to the case where there are four or more colors including complementary colors. In this case, as many dummy pixels as the number of the basic emission colors may be prepared.
(B) In the above-described embodiment, the color generation form of the basic light emission color has not been described. However, an organic EL element having a different light emitting element material for each basic light emission color may be prepared. It may be used to generate a basic emission color.

(c)前述の形態例では、表示画素に対応するダミー画素を自発光パネル上に1つ配置する場合について説明した。また、そのダミー画素の駆動用に新たに1本のゲート駆動線を追加する場合について説明した。しかし、配置するダミー画素の数及び位置は任意であり、配置するダミー画素の数や位置に応じてデータ駆動線とゲート駆動線の本数は最適な数を用意すれば良い。 (C) In the above-described embodiment, the case where one dummy pixel corresponding to the display pixel is arranged on the self-luminous panel has been described. Further, the case where one new gate drive line is added for driving the dummy pixel has been described. However, the number and positions of the dummy pixels to be arranged are arbitrary, and an optimum number of data driving lines and gate driving lines may be prepared according to the number and positions of the dummy pixels to be arranged.

(d)前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ELディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、FED(field emission display) 、無機ELディスプレイパネル、LEDパネルその他にも適用できる。 (D) In the above-described embodiment, the organic EL display panel is illustrated as an example of the self-luminous display device, but the present invention can also be applied to other self-luminous display devices. For example, the present invention can be applied to FED (field emission display), inorganic EL display panel, LED panel, and the like.

(e)前述の形態例では、基準画素と各画素の累積劣化量差を修正係数で修正する場合について説明した。
しかし、各画素についての絶対的な累積劣化量を修正係数で修正しても良い。この明細書においては、この累積劣化量と前述した累積劣化量差とを含めて累積劣化量情報という。
(E) In the above-described embodiment, a case has been described in which the accumulated deterioration amount difference between the reference pixel and each pixel is corrected with the correction coefficient.
However, the absolute cumulative deterioration amount for each pixel may be corrected with a correction coefficient. In this specification, the cumulative deterioration amount information and the cumulative deterioration amount difference described above are referred to as cumulative deterioration amount information.

(f)前述の形態例では、階調値のみに基づいて算出された累積劣化量の見積もり値を実測値に基づいて修正する機能を実装する有機ELディスプレイ装置について説明した。
しかし、累積劣化量の修正機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、見積もり精度修正部179の修正機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置(カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。)、情報処理端末(携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等)、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
(F) In the above-described embodiment, the organic EL display device that has a function of correcting the estimated value of the cumulative deterioration amount calculated based only on the gradation value based on the actual measurement value has been described.
However, the function for correcting the accumulated deterioration amount may be implemented as a part of an image processing apparatus equipped with a self-luminous display device. For example, the correction function of the estimated accuracy correction unit 179 includes a video camera, a digital camera, and other imaging devices (including not only a camera unit but also an integrated configuration with a recording device), an information processing terminal (portable type). (Computer, mobile phone, portable game machine, electronic notebook, etc.), game machine, printer device, etc.

(g)前述の形態例では、階調値のみに基づいて算出された累積劣化量の見積もり値を実測値に基づいて修正する機能を実装する有機ELディスプレイ装置について説明した。
しかし、累積劣化量の修正機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
(G) In the above-described embodiment, the organic EL display device that has the function of correcting the estimated value of the cumulative deterioration amount calculated based only on the gradation value based on the actual measurement value has been described.
However, the function for correcting the accumulated deterioration amount may be installed in an image processing apparatus that supplies an input display data signal to a self-luminous display apparatus or an image processing apparatus equipped with the self-luminous display apparatus. In other words, a method may be employed in which the light emission luminance and deterioration information of the dummy pixels are taken into the self device from the self light emitting display device.

(h)前述の形態例では、累積劣化量の修正機能を機能構成の観点から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
(i)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
(H) In the above-described embodiment, the function for correcting the accumulated deterioration amount has been described from the viewpoint of the functional configuration. Needless to say, an equivalent function can be realized as hardware or software.
Further, not only all of these processing functions are realized by hardware or software, but some of them may be realized by using hardware or software. That is, a combination of hardware and software may be used.
(I) Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the gist of the invention. Various modifications and applications created or combined based on the description of the present specification are also conceivable.

劣化率の経時的な変動を説明する図である。It is a figure explaining the fluctuation | variation with time of a deterioration rate. 測定区間単位の劣化量の違いを説明する図である。It is a figure explaining the difference in the amount of degradation of a measurement section unit. 表示パネルの平面構成例を示す図である。It is a figure which shows the plane structural example of a display panel. ダミー画素領域の拡大図である。It is an enlarged view of a dummy pixel area. 有機ELディスプレイ装置のシステム構成例を示す図である。It is a figure which shows the system structural example of an organic electroluminescent display apparatus. 入力表示データ補正部と見積もり劣化量修正部の内部構成例を示す図である。It is a figure which shows the internal structural example of an input display data correction | amendment part and an estimated degradation amount correction | amendment part. 階調値/劣化率変換テーブルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of a gradation value / deterioration rate conversion table. 測定区間と測定タイミングの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between a measurement area and a measurement timing. 測定区間単位の累積劣化量を示す図である。It is a figure which shows the cumulative amount of degradation of a measurement area unit. 修正動作原理を示す図である。It is a figure which shows the correction operation | movement principle. 累積劣化量差の修正動作を説明する図表である。It is a graph explaining the correction operation | movement of a cumulative deterioration amount difference. 修正係数の決定動作を説明する図である。It is a figure explaining the determination operation | movement of a correction coefficient. 修正係数の決定動作を説明する図である。It is a figure explaining the determination operation | movement of a correction coefficient. 修正係数の決定動作を説明する図である。It is a figure explaining the determination operation | movement of a correction coefficient. 補正動作例を示す図である。It is a figure which shows the example of correction | amendment operation | movement. 補正動作例を示す図である。It is a figure which shows the example of correction | amendment operation | movement.

符号の説明Explanation of symbols

15 入力表示データ補正部
17 見積もり劣化量修正部
157 修正前区間劣化量差蓄積部
159 累積劣化量差蓄積部
173 区間劣化量実測部
177 ダミー画素区間劣化量算出部
179 見積もり精度修正部
15 Input display data correction unit 17 Estimated deterioration amount correction unit 157 Pre-correction interval deterioration amount difference accumulation unit 159 Cumulative deterioration amount difference accumulation unit 173 Section deterioration amount actual measurement unit 177 Dummy pixel interval deterioration amount calculation unit 179 Estimation accuracy correction unit

Claims (5)

有効表示領域の外側にダミー画素を配置する表示パネルと、
輝度劣化の実測タイミングに、前記ダミー画素の発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
輝度劣化の測定区間には基準画素と同じ階調値を前記ダミー画素に与える一方で、輝度劣化の測定タイミングには測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
各測定区間に対応する区間劣化量の見積もり値を、前記ダミー画素に与えられる階調値に基づいて算出する区間劣化量算出部と、
各測定区間に対応する区間劣化量の実測値を、前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて測定する区間劣化量実測部と、
前記実測値に対する見積もり値の修正係数を決定すると共に、有効表示領域内の各画素について算出された区間劣化量情報を前記修正係数に基づいて修正する見積もり精度修正部と、
修正済みの区間劣化量情報に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
A display panel in which dummy pixels are arranged outside the effective display area;
A luminance detection sensor for detecting the emission luminance of the dummy pixel at the actual measurement timing of the luminance degradation;
A dummy pixel data determination unit that provides the dummy pixel with the same gradation value as that of the reference pixel in the measurement period of the luminance deterioration, while providing a gradation value for measurement to the dummy pixel at the measurement timing of the luminance deterioration;
A section deterioration amount calculation unit that calculates an estimated value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section based on a gradation value given to the dummy pixel;
A section deterioration amount actual measurement unit that measures an actual measurement value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section based on the detection brightness of the brightness detection sensor;
An estimation accuracy correction unit that determines a correction coefficient of the estimated value with respect to the actual measurement value, and corrects the section deterioration amount information calculated for each pixel in the effective display area based on the correction coefficient;
A correction amount determination unit that determines a correction amount corresponding to each pixel based on the corrected section deterioration amount information;
A self-luminous display device, comprising: a video signal correction unit that corrects an input gradation value corresponding to an effective display area based on the determined correction amount.
入力表示データに基づいて算出される区間劣化量情報の見積もり値を修正する見積もり劣化情報修正装置であって、
輝度劣化の測定区間には、基準画素と同じ階調値を有効表示領域の外側に配置されたダミー画素に与える一方で、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
各測定区間に対応する区間劣化量の見積もり値を、前記ダミー画素に与えられる階調値に基づいて算出する区間劣化量算出部と、
各測定区間に対応する区間劣化量の実測値を、前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて測定する区間劣化量実測部と、
前記実測値に対する見積もり値の修正係数を決定すると共に、有効表示領域内の各画素について算出された区間劣化量情報を前記修正係数に基づいて修正する見積もり精度修正部と
を有することを特徴とする見積もり劣化情報修正装置。
An estimated deterioration information correction apparatus for correcting an estimated value of section deterioration amount information calculated based on input display data,
In the luminance degradation measurement section, the same gradation value as that of the reference pixel is given to the dummy pixel arranged outside the effective display area, while the measurement gradation value is given to the dummy pixel at the luminance degradation measurement timing. A dummy pixel data determination unit to be given to
A section deterioration amount calculation unit that calculates an estimated value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section based on a gradation value given to the dummy pixel;
A section deterioration amount actual measurement unit that measures an actual measurement value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section based on the detection brightness of the brightness detection sensor;
An estimation accuracy correction coefficient for the actual measurement value, and an estimation accuracy correction unit that corrects the section deterioration amount information calculated for each pixel in the effective display area based on the correction coefficient. Estimated deterioration information correction device.
ダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに入力される入力表示データを補正する装置であって、
輝度劣化の測定区間には基準画素と同じ階調値を前記ダミー画素に与える一方で、輝度劣化の測定タイミングには測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
各測定区間に対応する区間劣化量の見積もり値を、前記ダミー画素に与えられる階調値に基づいて算出する区間劣化量算出部と、
各測定区間に対応する区間劣化量の実測値を、前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて測定する区間劣化量実測部と、
前記実測値に対する見積もり値の修正係数を決定すると共に、有効表示領域内の各画素について算出された区間劣化量情報を前記修正係数に基づいて修正する見積もり精度修正部と、
修正済みの区間劣化量情報に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正部と
を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。
An apparatus for correcting input display data input to a display panel in which a dummy pixel and a detection sensor for detecting light emission luminance of the dummy pixel are disposed outside an effective display area,
A dummy pixel data determination unit that provides the dummy pixel with the same gradation value as that of the reference pixel in the measurement period of the luminance deterioration, while providing a gradation value for measurement to the dummy pixel at the measurement timing of the luminance deterioration;
A section deterioration amount calculation unit that calculates an estimated value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section based on a gradation value given to the dummy pixel;
A section deterioration amount actual measurement unit that measures an actual measurement value of the section deterioration amount corresponding to each measurement section based on the detection brightness of the brightness detection sensor;
An estimation accuracy correction unit that determines a correction coefficient of the estimated value with respect to the actual measurement value, and corrects the section deterioration amount information calculated for each pixel in the effective display area based on the correction coefficient;
A correction amount determination unit that determines a correction amount corresponding to each pixel based on the corrected section deterioration amount information;
An input display data correction device comprising: a video signal correction unit that corrects an input gradation value corresponding to an effective display area based on the determined correction amount.
入力表示データに基づいて算出される区間劣化量情報の見積もり値を修正するコンピュータプログラムであって、
輝度劣化の測定区間には、基準画素と同じ階調値を有効表示領域の外側に配置されたダミー画素に与える一方で、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理と、
各測定区間に対応する区間劣化量の見積もり値を、前記ダミー画素に与えられる階調値に基づいて算出する区間劣化量算出処理と、
各測定区間に対応する区間劣化量の実測値を、前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて測定する区間劣化量実測処理と、
前記実測値に対する見積もり値の修正係数を決定すると共に、有効表示領域内の各画素について算出された区間劣化量情報を前記修正係数に基づいて修正する見積もり精度修正処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
A computer program for correcting an estimated value of section deterioration amount information calculated based on input display data,
In the luminance degradation measurement section, the same gradation value as that of the reference pixel is given to the dummy pixel arranged outside the effective display area, while the measurement gradation value is given to the dummy pixel at the luminance degradation measurement timing. Dummy pixel data determination process to be given to
A section deterioration amount calculation process for calculating an estimated value of a section deterioration amount corresponding to each measurement section based on a gradation value given to the dummy pixel;
Section degradation amount actual measurement processing for measuring the actual measurement value of the section degradation amount corresponding to each measurement section based on the detection brightness of the brightness detection sensor;
A computer program for determining a correction coefficient of an estimated value with respect to the actual measurement value and causing the computer to execute an estimation accuracy correction process for correcting the section deterioration amount information calculated for each pixel in the effective display area based on the correction coefficient .
ダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに入力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
輝度劣化の測定区間には基準画素と同じ階調値を前記ダミー画素に与える一方で、輝度劣化の測定タイミングには測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理と、
各測定区間に対応する区間劣化量の見積もり値を、前記ダミー画素に与えられる階調値に基づいて算出する区間劣化量算出処理と、
各測定区間に対応する区間劣化量の実測値を、前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて測定する区間劣化量実測処理と、
前記実測値に対する見積もり値の修正係数を決定すると共に、有効表示領域内の各画素について算出された区間劣化量情報を前記修正係数に基づいて修正する見積もり精度修正処理と、
修正済みの区間劣化量情報に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定処理と、
決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
A computer program for correcting input display data input to a display panel in which a dummy pixel and a detection sensor for detecting light emission luminance of the dummy pixel are arranged outside the effective display area,
A dummy pixel data determination process for providing the dummy pixel with the same gradation value as the reference pixel in the luminance degradation measurement section, while providing a measurement gradation value to the dummy pixel at the luminance degradation measurement timing;
A section deterioration amount calculation process for calculating an estimated value of a section deterioration amount corresponding to each measurement section based on a gradation value given to the dummy pixel;
Section degradation amount actual measurement processing for measuring the actual measurement value of the section degradation amount corresponding to each measurement section based on the detection brightness of the brightness detection sensor;
Estimating accuracy correction processing for determining the correction coefficient of the estimated value with respect to the actual measurement value, and correcting the section deterioration amount information calculated for each pixel in the effective display area based on the correction coefficient;
A correction amount determination process for determining a correction amount corresponding to each pixel based on the corrected section deterioration amount information;
A computer program for causing a computer to execute a video signal correction process for correcting an input gradation value corresponding to an effective display area based on a determined correction amount.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120162285A1 (en) * 2010-12-28 2012-06-28 Sony Corporation Signal processing device, signal processing method, display device, and electronic apparatus
CN103871364A (en) * 2012-12-17 2014-06-18 乐金显示有限公司 Organic light emitting display device and method for driving thereof
WO2014188813A1 (en) * 2013-05-23 2014-11-27 ソニー株式会社 Video image signal processing circuit, method for processing video image signal, and display device
WO2015174077A1 (en) * 2014-05-15 2015-11-19 株式会社Joled Display device and method for driving display device
KR20160055674A (en) 2014-11-10 2016-05-18 삼성디스플레이 주식회사 Display device and method opereation thereof
US9384696B2 (en) 2013-11-29 2016-07-05 Samsung Display Co., Ltd. Display device, method of calculating compensation data thereof, and driving method thereof
CN111937495A (en) * 2018-03-30 2020-11-13 夏普株式会社 Display device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004038210A (en) * 1997-03-12 2004-02-05 Seiko Epson Corp Display device and electronic equipment
JP2004146936A (en) * 2002-10-22 2004-05-20 Mitsubishi Electric Corp Color display apparatus
JP2005017520A (en) * 2003-06-24 2005-01-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd El color display device
JP2007086294A (en) * 2005-09-21 2007-04-05 Pioneer Electronic Corp Plasma display apparatus and driving method for the same
JP2007515062A (en) * 2003-11-25 2007-06-07 イーストマン コダック カンパニー Aging compensation of OLED display
JP2007178837A (en) * 2005-12-28 2007-07-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Organic el display apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004038210A (en) * 1997-03-12 2004-02-05 Seiko Epson Corp Display device and electronic equipment
JP2004146936A (en) * 2002-10-22 2004-05-20 Mitsubishi Electric Corp Color display apparatus
JP2005017520A (en) * 2003-06-24 2005-01-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd El color display device
JP2007515062A (en) * 2003-11-25 2007-06-07 イーストマン コダック カンパニー Aging compensation of OLED display
JP2007086294A (en) * 2005-09-21 2007-04-05 Pioneer Electronic Corp Plasma display apparatus and driving method for the same
JP2007178837A (en) * 2005-12-28 2007-07-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Organic el display apparatus

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120162285A1 (en) * 2010-12-28 2012-06-28 Sony Corporation Signal processing device, signal processing method, display device, and electronic apparatus
US8872867B2 (en) * 2010-12-28 2014-10-28 Sony Corporation Signal processing device, signal processing method, display device, and electronic apparatus
CN103871364A (en) * 2012-12-17 2014-06-18 乐金显示有限公司 Organic light emitting display device and method for driving thereof
JP2014123126A (en) * 2012-12-17 2014-07-03 Lg Display Co Ltd Organic light-emitting display device and method for driving the same
US9715848B2 (en) 2012-12-17 2017-07-25 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting display device and method for driving thereof
CN105144273B (en) * 2013-05-23 2017-06-23 株式会社日本有机雷特显示器 Imaging signal processing circuit, image-signal processing method and display device
CN105144273A (en) * 2013-05-23 2015-12-09 株式会社日本有机雷特显示器 Video image signal processing circuit, method for processing video image signal, and display device
JPWO2014188813A1 (en) * 2013-05-23 2017-02-23 株式会社Joled Video signal processing circuit, video signal processing method, and display device
KR20150114524A (en) 2013-05-23 2015-10-12 가부시키가이샤 제이올레드 Video image signal processing circuit, method for processing video image signal, and display device
WO2014188813A1 (en) * 2013-05-23 2014-11-27 ソニー株式会社 Video image signal processing circuit, method for processing video image signal, and display device
US10354586B2 (en) 2013-05-23 2019-07-16 Joled Inc. Image signal processing circuit, image signal processing method, and display unit with pixel degradation correction
US9384696B2 (en) 2013-11-29 2016-07-05 Samsung Display Co., Ltd. Display device, method of calculating compensation data thereof, and driving method thereof
WO2015174077A1 (en) * 2014-05-15 2015-11-19 株式会社Joled Display device and method for driving display device
JPWO2015174077A1 (en) * 2014-05-15 2017-04-20 株式会社Joled Display device and driving method of display device
KR20160055674A (en) 2014-11-10 2016-05-18 삼성디스플레이 주식회사 Display device and method opereation thereof
CN111937495A (en) * 2018-03-30 2020-11-13 夏普株式会社 Display device
US11574979B2 (en) 2018-03-30 2023-02-07 Sharp Kabushiki Kaisha Display device
CN111937495B (en) * 2018-03-30 2023-08-15 夏普株式会社 Display device

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