JP2006351710A - Regulation circuit for electrical resistance value - Google Patents

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新 佐々木
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久生 田中
Masahiko Nakanowatari
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To regulate electrical resistance value over a wide range and in fine regulation steps. <P>SOLUTION: This electrical resistance value regulating circuit 1 is connected to a regulating object 5 which is required to regulate an electric resistance value among first and second terminals PC1, PC2. Furthermore, the electric resistance value regulating circuit 1 contains a plurality of resistance elements R1 to R6 which are parallel-connected to each other. The resistance elements R2 to R4 of the plurality of resistance elements R1 to R6 are series-connected to short pins 2A to 2D. The desired short pin is short-circuited by soldering or the like, whereby the resistance element is selected which is series-connected to the short-circuited short pin. Thus, since the selected resistance element, the resistance element R1 and the resistance element R6 are parallel-connected to each other, the combined resistance value becomes the combined resistance value of the electrical resistance value regulating circuit 1. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えば、電気、電子回路において、電気抵抗値を調整することに関する。   The present invention relates to adjusting an electric resistance value in, for example, an electric or electronic circuit.

可変抵抗器は、電気回路や電子回路において、電流や電圧の微調整等に用いられる。特許文献1には、可変抵抗器を用いて、光ディスク装置に用いられる光ピックアップのレーザーダイオードを駆動する電流を微調整して、前記レーザーダイオードから所望の発光強度を得る技術が開示されている。   Variable resistors are used for fine adjustment of current and voltage in electric circuits and electronic circuits. Patent Document 1 discloses a technique for obtaining a desired light emission intensity from a laser diode by finely adjusting a current for driving a laser diode of an optical pickup used in an optical disk device using a variable resistor.

特開2001−244555号公報JP 2001-244555 A

ところで、可変抵抗器は、広い範囲で抵抗値を調整する場合には、調整ステップが大きくなるため、微調整が難しい。一方、抵抗値の調整ステップを細かくすると、抵抗値を調整できる範囲が狭くなる。   By the way, when the resistance value of the variable resistor is adjusted in a wide range, the adjustment step becomes large, so that fine adjustment is difficult. On the other hand, if the resistance value adjustment step is made fine, the range in which the resistance value can be adjusted becomes narrow.

そこで、本発明は、上述した課題をその一例として解決するものであって、広い範囲で、かつ細かい調整ステップで電気抵抗値を調整できる電気抵抗値調整回路を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention solves the above-described problem as an example, and an object thereof is to provide an electric resistance value adjustment circuit capable of adjusting an electric resistance value in a wide range and with fine adjustment steps.

請求項1に記載の発明は、調整対象へ接続される接続部と、複数の抵抗素子と、短絡されることによって、前記接続部と複数の前記抵抗素子のうち少なくとも一つの前記抵抗素子とを導通する1又は複数の短絡手段と、を含んで構成されることを特徴とする。   According to the first aspect of the present invention, the connection portion connected to the adjustment target, the plurality of resistance elements, and the connection portion and at least one of the plurality of resistance elements are short-circuited. And one or a plurality of short-circuit means that conduct.

以下、この発明につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、この発明を実施するための最良の形態(以下実施形態という)によりこの発明が限定されるものではない。また、以下に説明する実施の形態における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。なお、本発明は、電気抵抗値の調整を要する場合全般に適用できる。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited by the best mode for carrying out the invention (hereinafter referred to as an embodiment). In addition, constituent elements in the embodiments described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art or those that are substantially the same. The present invention can be applied to all cases where adjustment of the electric resistance value is required.

(実施形態)
この実施形態は、電気抵抗値調整回路が備える短絡手段を短絡させることにより、並列又は直列に配列される複数の抵抗素子から特定の抵抗素子を選択することにより、電気抵抗値調整回路の合成抵抗値を変更する点に特徴がある。次に、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路について説明する。
(Embodiment)
In this embodiment, by short-circuiting the short-circuit means included in the electric resistance value adjusting circuit, by selecting a specific resistance element from a plurality of resistance elements arranged in parallel or in series, the combined resistance of the electric resistance value adjusting circuit It is characterized by changing the value. Next, an electrical resistance value adjusting circuit according to this embodiment will be described.

図1は、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路を含む電気回路を示す概念図である。図1に示す電気回路には、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1の構成が示してある。この電気抵抗値調整回路1は、電気抵抗値を調整する必要がある調整対象5へ接続される。調整対象5は、電気抵抗値調整回路1の電気抵抗値を調整することにより、電気抵抗値調整回路1に接続される調整対象5の端子間における電圧値又は前記端子間を流れる電流値を変化させることができる。これによって、例えば、調整対象5の周波数や電機出力その他の特性等が調整される。このような特性調整対象5としては、例えば、光ディスク装置に用いられるレーザーダイオードの駆動装置や、増幅回路のゲイン調整回路等のようなものがあげられる。   FIG. 1 is a conceptual diagram showing an electric circuit including an electric resistance value adjusting circuit according to this embodiment. The electric circuit shown in FIG. 1 shows the configuration of the electric resistance adjustment circuit 1 according to this embodiment. The electric resistance value adjusting circuit 1 is connected to an adjustment target 5 that needs to adjust the electric resistance value. The adjustment target 5 changes the voltage value between the terminals of the adjustment target 5 connected to the electric resistance value adjustment circuit 1 or the current value flowing between the terminals by adjusting the electric resistance value of the electric resistance value adjustment circuit 1. Can be made. Thereby, for example, the frequency of the adjustment target 5, the electric machine output, and other characteristics are adjusted. Examples of the characteristic adjustment target 5 include a drive device for a laser diode used in an optical disk device, a gain adjustment circuit for an amplifier circuit, and the like.

電気抵抗値調整回路1の接続部は、第1端子PC1と第2端子PC2で構成されており、第1端子PC1と第2端子PC2とは、調整対象5に接続されている。電気抵抗値調整回路1により電気抵抗値(以下抵抗値)を調整すると、第1端子PC1と第2端子PC2との間の電気抵抗値が変化するので、調整対象5が所望する抵抗値に調整することができる。   The connection part of the electrical resistance value adjusting circuit 1 is composed of a first terminal PC1 and a second terminal PC2, and the first terminal PC1 and the second terminal PC2 are connected to the adjustment target 5. When the electric resistance value (hereinafter referred to as resistance value) is adjusted by the electric resistance value adjusting circuit 1, the electric resistance value between the first terminal PC1 and the second terminal PC2 changes, so that the adjustment target 5 is adjusted to a desired resistance value. can do.

この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、複数の抵抗素子R1〜R6が、第1導電通路3と、第2導電通路4とに接続される。ここで、第1導電通路3は第1端子PC1に接続され、第2導電通路4は第2端子PC2に接続される。図1に示す例においては、複数の抵抗素子R1〜R6が、それぞれ並列に接続される。この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1では、抵抗素子R1〜R6は、それぞれ異なる抵抗値であるが、抵抗素子R1〜R6は同じ抵抗値としてもよい。また、抵抗素子R1〜R6のうち2以上の抵抗素子を同じ抵抗値としてもよい。抵抗素子R1〜R6の抵抗値は、電気抵抗値調整回路1の仕様に応じて適宜設定される。   In the electrical resistance adjustment circuit 1 according to this embodiment, a plurality of resistance elements R1 to R6 are connected to the first conductive path 3 and the second conductive path 4. Here, the first conductive passage 3 is connected to the first terminal PC1, and the second conductive passage 4 is connected to the second terminal PC2. In the example shown in FIG. 1, a plurality of resistance elements R1 to R6 are connected in parallel. In the electrical resistance adjustment circuit 1 according to this embodiment, the resistance elements R1 to R6 have different resistance values, but the resistance elements R1 to R6 may have the same resistance value. Two or more resistance elements among the resistance elements R1 to R6 may have the same resistance value. The resistance values of the resistance elements R1 to R6 are appropriately set according to the specifications of the electrical resistance value adjustment circuit 1.

抵抗素子R1〜R6のうち、抵抗素子R2、R3、R4、R5には、それぞれ直列に短絡手段が接続される。この実施形態において、短絡手段は、抵抗素子R2、R3、R4、R5と、接続部を構成する第2端子PC2との間に設けられている。そして、抵抗素子R2、R3、R4、R5と、接続部を構成する第2端子PC2とは、導電体により電気的に接続されている。なお、短絡手段は、第2導電通路4を介して第2端子PC2と接続される。   Among the resistance elements R1 to R6, short-circuit means are connected in series to the resistance elements R2, R3, R4, and R5, respectively. In this embodiment, the short-circuit means is provided between the resistance elements R2, R3, R4, and R5 and the second terminal PC2 constituting the connection portion. And resistance element R2, R3, R4, R5 and 2nd terminal PC2 which comprises a connection part are electrically connected by the conductor. The short-circuit means is connected to the second terminal PC2 via the second conductive passage 4.

短絡手段は、通常は非導通の状態であるが、ハンダ付けやロウ付け、導電性接着剤の塗布その他の手段によって電気を導通させることができる。この実施形態において、短絡手段は、抵抗素子R2、R3、R4、R5に接続される第1導電体2Rと、第2導電通路4を介して第2端子PC2に接続される第2導電体2Sとで構成されるショートピン2A〜2Bである。   The short-circuit means is normally non-conductive, but electricity can be conducted by soldering or brazing, application of a conductive adhesive, or other means. In this embodiment, the short-circuit means includes a first conductor 2R connected to the resistance elements R2, R3, R4, and R5, and a second conductor 2S connected to the second terminal PC2 via the second conductive path 4. Are short pins 2A to 2B.

そして、ショートピン2A〜2Dを、ハンダやロウ付け等によって短絡させると、短絡させたショートピンに接続される抵抗素子を選択することができる。これによって、複数の抵抗素子R2、R3、R4、R5から所望の抵抗素子を選択することができる。そして、選択された抵抗素子により、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値が決定される。   When the short pins 2A to 2D are short-circuited by soldering or brazing, a resistance element connected to the short-circuited short pin can be selected. Thereby, a desired resistance element can be selected from the plurality of resistance elements R2, R3, R4, and R5. Then, the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 is determined by the selected resistance element.

例えば、ショートピン2Aの第1及び第2導電体2R、2Sをハンダ付けすることによって短絡させ、他のショートピン2B〜2Dは非導通のままとする。この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、抵抗素子R1〜R6が並列に接続されているので、ショートピン2Aを短絡させると、抵抗素子R1、R2及びR6が並列に接続されることになる。この場合の合成抵抗値Rの逆数1/Rは、式(1)で求めることができる。
1/R=1/R1+1/R2+1/R6・・・(1)
For example, the first and second conductors 2R and 2S of the short pin 2A are short-circuited by soldering, and the other short pins 2B to 2D are kept non-conductive. In the electrical resistance value adjusting circuit 1 according to this embodiment, since the resistance elements R1 to R6 are connected in parallel, when the short pin 2A is short-circuited, the resistance elements R1, R2, and R6 are connected in parallel. Become. In this case, the reciprocal 1 / R of the combined resistance value R can be obtained by Expression (1).
1 / R = 1 / R1 + 1 / R2 + 1 / R6 (1)

また、ショートピン2Bの第1及び第2導電体2R、2Sをハンダ付けすることによって短絡させ、他のショートピン2A、2C、2Dは非導通のままとすると、この場合の合成抵抗値Rの逆数1/Rは、式(2)で求めることができる。
1/R=1/R1+1/R3+1/R6・・・(2)
Also, if the first and second conductors 2R, 2S of the short pin 2B are short-circuited by soldering and the other short pins 2A, 2C, 2D are left non-conductive, the combined resistance value R in this case The reciprocal 1 / R can be obtained by equation (2).
1 / R = 1 / R1 + 1 / R3 + 1 / R6 (2)

一般に、n個(nは自然数)抵抗素子を並列に接続した場合の合成抵抗値Rの逆数は、式(3)で表される。
1/R=1/R1+1/R2+・・・1/Rn・・・(3)
この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、短絡させるショートピンに対応する抵抗素子を選択できる。したがって、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値、すなわち接続部を構成する第1端子PC1と第2端子PC2との間の抵抗値は、選択した抵抗素子の抵抗値を式(3)に代入することで求めることができる。
In general, the reciprocal of the combined resistance value R when n (n is a natural number) resistance elements are connected in parallel is expressed by Expression (3).
1 / R = 1 / R1 + 1 / R2 +... 1 / Rn (3)
The electric resistance adjustment circuit 1 according to this embodiment can select a resistance element corresponding to a short pin to be short-circuited. Therefore, the combined resistance value of the electrical resistance value adjusting circuit 1, that is, the resistance value between the first terminal PC1 and the second terminal PC2 constituting the connection portion, substitutes the resistance value of the selected resistance element into the equation (3). You can ask for it.

なお、上記説明のように、ショートピン2A〜2Dのうち一つを短絡させて、複数の抵抗素子R2〜R5のうち一つを選択することもできるが、ショートピン2A〜2Dのうち2以上を短絡させて、複数の抵抗素子R2〜R4から2以上の抵抗素子を選択してもよい。このようにすることで、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を、より細かく調整することができる。次に、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1の構成例を説明する。   As described above, one of the short pins 2A to 2D can be short-circuited to select one of the plurality of resistance elements R2 to R5, but two or more of the short pins 2A to 2D can be selected. May be short-circuited to select two or more resistance elements from the plurality of resistance elements R2 to R4. By doing in this way, the synthetic | combination resistance value of the electrical resistance value adjustment circuit 1 can be adjusted more finely. Next, a configuration example of the electric resistance value adjusting circuit 1 according to this embodiment will be described.

図2は、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路の構成例を示す平面図である。図3は、図2のX−X断面図である。この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、プリント基板に抵抗素子のチップ部品を実装したものである。なお、図1に示す電気抵抗値調整回路1においては、6個の抵抗素子R1〜R6を示しているが、図2においてはそのうちの一部を示している。   FIG. 2 is a plan view showing a configuration example of the electrical resistance value adjusting circuit according to this embodiment. 3 is a cross-sectional view taken along the line XX of FIG. The electric resistance adjustment circuit 1 according to this embodiment is obtained by mounting a chip component of a resistance element on a printed board. In addition, in the electrical resistance value adjustment circuit 1 shown in FIG. 1, six resistance elements R1 to R6 are shown, but some of them are shown in FIG.

第1導電通路3と、第2導電通路4と、短絡手段であるショートピン2A、2B等を構成する第1導電体2Rとは、プリント基板の基材8(図3)上にランド部としてパターンニングされている。なお、この例において、短絡手段であるショートピン2A、2B等を構成する第2導電体2Rは、第2導電通路4と一体としてパターンニングされている。   The first conductive path 3, the second conductive path 4, and the first conductor 2 </ b> R constituting the short pins 2 </ b> A, 2 </ b> B, which are short-circuit means, are land portions on the substrate 8 (FIG. 3) of the printed circuit board. Patterned. In this example, the second conductor 2R constituting the short pins 2A, 2B, etc., which are short-circuit means, is patterned integrally with the second conductive path 4.

図2、図3に示すように、第1導電通路3と、ショートピン2A、2B等を構成する第1導電体2Rとの間には、チップ部品として抵抗チップ61〜63が実装される。なお、抵抗チップ61〜63は、図1の抵抗素子R2〜R3に相当する。抵抗チップ61〜63は、第1導電通路3と第1導電体2Rとにハンダ9によって取り付けられる。 Figure 2, as shown in FIG. 3, the first conductive path 3, between the first conductor 2R constituting short pin 2A, and 2B, etc., resistor chips 61 through 3 is mounted as a chip component The The resistor chips 6 1 to 6 3 correspond to the resistor elements R2 to R3 in FIG. The resistor chips 6 1 to 6 3 are attached to the first conductive path 3 and the first conductor 2R by solder 9.

図2、図3に示すように、ショートピン2A、2B等を構成する第1導電体2Rと第2導電体2Sとは、所定の間隔をもって設けられている。これにより、短絡手段であるショートピン2A、2B等は、ハンダ等で短絡しない限り、通常は非導通の状態となる。第1導電体2R上には、抵抗チップ61等を実装したときのハンダ9がのっている。電気抵抗値調整回路1の製造工程において、第2導電体2S上にもハンダ9をのせる。これは、第1導電体2Rと第2導電体2Sとを短絡するときに、ハンダ付けしやすいようにするためである。なお、第1導電体2Rや第2導電体2S上にのせるハンダ9は、部品を実装する際のリフローハンダとしてもよい。 As shown in FIGS. 2 and 3, the first conductor 2R and the second conductor 2S constituting the short pins 2A, 2B and the like are provided at a predetermined interval. As a result, the short pins 2A, 2B, etc., which are short-circuit means, are normally non-conductive unless short-circuited with solder or the like. On first conductor 2R, solder 9 is riding when mounting the resistor chip 61 and the like. In the manufacturing process of the electric resistance adjustment circuit 1, the solder 9 is also placed on the second conductor 2S. This is to facilitate soldering when the first conductor 2R and the second conductor 2S are short-circuited. Note that the solder 9 placed on the first conductor 2R or the second conductor 2S may be a reflow solder when mounting components.

電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を調整する際には、ショートピン2A、2B等を構成する第1導電体2Rと第2導電体2Sとの間をハンダ付けにより短絡させることにより、所望の抵抗チップ(抵抗素子)を選択する。すなわち、図3に示すように、ハンダ鏝11を用いて第1導電体2Rと第2導電体2Sとの間にハンダ10をのせて、両者をハンダ付けする。   When adjusting the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1, the first conductor 2R and the second conductor 2S that constitute the short pins 2A, 2B, etc. are short-circuited by soldering to obtain a desired value. The resistor chip (resistive element) is selected. That is, as shown in FIG. 3, the solder 10 is placed between the first conductor 2 </ b> R and the second conductor 2 </ b> S using the soldering iron 11, and both are soldered.

この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1では、第2導電通路4に設けられる第2導電体2S間に、平面視でくびれ部7を設ける。これによって、導電体である第2導電通路4は、短絡手段を構成する第2導電体2S同士の間における断面積が、短絡手段を構成する第2導電体2Sの断面積よりも小さくなる。その結果、第1導電体2Rと第2導電体2Sとの間をハンダ付けする際に、隣接する抵抗チップへ伝わる熱を低減できるので、ハンダ付け時における熱の影響を低減できる。   In the electric resistance adjustment circuit 1 according to this embodiment, the constricted portion 7 is provided between the second conductors 2 </ b> S provided in the second conductive passage 4 in a plan view. Thereby, in the second conductive passage 4 which is a conductor, the cross-sectional area between the second conductors 2S constituting the short-circuit means is smaller than the cross-sectional area of the second conductor 2S constituting the short-circuit means. As a result, when soldering between the first conductor 2R and the second conductor 2S, the heat transmitted to the adjacent resistor chip can be reduced, so that the influence of heat during soldering can be reduced.

ここで、断面積とは、電流の流れる断面積をいい、この例では、プリント基板の基材8に直交する平面内における断面積をいう。また、平面視とは、複数の短絡手段が配列される面に対して直交する方向から見た状態をいう。例えば、この実施形態においては、プリント基板の基材8の表面に複数の短絡手段が配列されるので、前記基材8の表面に対して直交する方向から見た状態が、平面視に相当する。   Here, the cross-sectional area refers to a cross-sectional area through which current flows. In this example, the cross-sectional area refers to a cross-sectional area in a plane orthogonal to the base material 8 of the printed board. Moreover, planar view means the state seen from the direction orthogonal to the surface where a several short circuit means is arranged. For example, in this embodiment, since a plurality of short-circuit means are arranged on the surface of the base material 8 of the printed board, the state viewed from the direction orthogonal to the surface of the base material 8 corresponds to a plan view. .

この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、短絡手段をハンダ付けやロウ付けその他の手段によって短絡させることにより、並列に接続される複数の抵抗素子R2〜R5から所望の抵抗素子を選択して、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を変更する。これにより、電気抵抗値調整回路1では、確実に所望の合成抵抗値を得ることができる。また、短絡手段であるショートピン2A〜2Dによって選択可能とする抵抗素子R2〜R5を並列に接続するので、選択する抵抗素子の組み合わせのバリエーションを多くすることができる。その結果、細かいステップで、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を変更することができる。   The electrical resistance adjustment circuit 1 according to this embodiment selects a desired resistance element from a plurality of resistance elements R2 to R5 connected in parallel by short-circuiting the short-circuit means by soldering, brazing, or other means. Thus, the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 is changed. Thereby, the electrical resistance value adjusting circuit 1 can surely obtain a desired combined resistance value. In addition, since the resistance elements R2 to R5 that can be selected by the short pins 2A to 2D that are short-circuiting means are connected in parallel, variations of combinations of resistance elements to be selected can be increased. As a result, the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 can be changed in fine steps.

また、特に、可変抵抗器によって抵抗値を調整する場合には、機械的なずれによって、調整後の抵抗値がずれる場合がある。しかし、この電気抵抗値調整回路1では、機械的なずれは発生しないため、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値の調整後においては、合成抵抗値がずれることはほとんどない。これによって、合成抵抗値を調整した後の検査を省略することもできる。また、この電気抵抗値調整回路1は、可動部を備えないので、信頼性も向上する。   In particular, when the resistance value is adjusted by a variable resistor, the adjusted resistance value may be shifted due to a mechanical shift. However, the electrical resistance value adjusting circuit 1 does not cause a mechanical shift, so that the combined resistance value hardly shifts after the combined resistance value of the electrical resistance value adjusting circuit 1 is adjusted. Thereby, the inspection after adjusting the combined resistance value can be omitted. In addition, since the electric resistance adjustment circuit 1 does not include a movable part, the reliability is also improved.

可変抵抗器を用いる場合、抵抗値の調整幅を大きくすると抵抗値を細かく調整できず、抵抗値を細かく調整しようとすると抵抗値の調整幅を大きくできない。すなわち、可変抵抗器では、抵抗値の調整幅と抵抗値の調整ステップとを両立させることはほとんど不可能である。この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、短絡手段によって複数の抵抗素子から所望の抵抗素子を選択することにより、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を変更する。このため、電気抵抗値調整回路1を構成する抵抗素子の組み合わせによって、合成抵抗値の調整幅を大きくしつつ、合成抵抗値の調整ステップを細かく設定することができる。この場合、抵抗素子の抵抗値や数の選択、あるいは選択する抵抗素子の組み合わせによって、より大きい調整幅とより細かい調整ステップとで、電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を調整することができる。   When a variable resistor is used, the resistance value cannot be finely adjusted if the resistance value adjustment range is increased, and the resistance value adjustment range cannot be increased if the resistance value is finely adjusted. That is, in the variable resistor, it is almost impossible to achieve both the adjustment range of the resistance value and the adjustment step of the resistance value. The electrical resistance value adjustment circuit 1 according to this embodiment changes a combined resistance value of the electrical resistance value adjustment circuit 1 by selecting a desired resistance element from a plurality of resistance elements by a short-circuit means. For this reason, the combined resistance value adjustment step can be finely set while increasing the combined resistance value adjustment range by the combination of the resistance elements constituting the electrical resistance value adjusting circuit 1. In this case, the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 can be adjusted with a larger adjustment range and a finer adjustment step by selecting the resistance value and number of the resistance elements, or by selecting a combination of the resistance elements to be selected. .

さらに、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、短絡手段を短絡させるだけで合成抵抗値を調整できる。このため、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路1は、抵抗素子を付け替えることによって抵抗値を調整する場合と比較して、抵抗素子の付け替えの手間を大幅に軽減できるため、作業性が向上する。また、抵抗素子の付け替えに伴う基板等の耐久性低下も極めて軽微に抑えることができる。さらに、抵抗素子は抵抗チップで構成することができるので、抵抗素子の付け替えや可変抵抗器を用いる場合と比較して、省スペース化を図ることができる。また、抵抗チップの部品単価は、可変抵抗器と比較して安価であるので、電気抵抗値調整回路1の製造コストを低減することができる。   Furthermore, the electrical resistance value adjusting circuit 1 according to this embodiment can adjust the combined resistance value only by short-circuiting the short-circuit means. For this reason, the electrical resistance value adjusting circuit 1 according to this embodiment can greatly reduce the labor of changing the resistance element compared to the case where the resistance value is adjusted by changing the resistance element, thereby improving workability. To do. In addition, a decrease in the durability of the substrate or the like accompanying the replacement of the resistance element can be suppressed very slightly. Furthermore, since the resistance element can be constituted by a resistance chip, space can be saved as compared with the case where the resistance element is replaced or a variable resistor is used. In addition, since the unit price of the resistor chip is lower than that of the variable resistor, the manufacturing cost of the electrical resistance value adjusting circuit 1 can be reduced.

(第1変形例)
変形例1に係る電気抵抗値調整回路は、上記実施形態に係る電気抵抗値調整回路と略同様の構成であるが、少なくとも前記短絡手段が、平面視で非平行に配列される点が異なる。他の構成は、上記実施形態と同様である。図4−1、図4−2は、この実施形態の第1変形例に係る電気抵抗値調整回路を示す平面図である。
(First modification)
The electrical resistance value adjustment circuit according to Modification 1 has substantially the same configuration as the electrical resistance value adjustment circuit according to the above embodiment, except that at least the short-circuiting means are arranged non-parallel in plan view. Other configurations are the same as in the above embodiment. FIGS. 4-1 and FIGS. 4-2 are top views which show the electrical resistance value adjustment circuit which concerns on the 1st modification of this embodiment.

図4−1に示す電気抵抗値調整回路1bは、平面視において、抵抗素子R2〜R4がそれぞれ平行に配置されるとともに、これらに対して直列に接続されるショートピン(短絡手段である)2A〜2Cは、平面視においてそれぞれ非平行に配置される。すなわち、平面視において、ショートピン2Aは、ショートピン2Bに対して傾斜して配置され(傾斜角度β)、ショートピン2Cは、ショートピン2Bに対して傾斜して配置される(傾斜角度α)。そして、ショートピン2Aは、ショートピン2Cに対して傾斜角度(α+β)をもって配置される。   The electric resistance value adjusting circuit 1b shown in FIG. 4A includes a short pin (which is a short-circuit means) 2A in which the resistance elements R2 to R4 are arranged in parallel and connected in series to each other in plan view. ˜2C are arranged non-parallel in plan view. That is, in the plan view, the short pin 2A is disposed to be inclined with respect to the short pin 2B (inclination angle β), and the short pin 2C is disposed to be inclined with respect to the short pin 2B (inclination angle α). . The short pin 2A is arranged with an inclination angle (α + β) with respect to the short pin 2C.

図4−2に示す電気抵抗値調整回路1cは、平面視において、ショートピン2A〜2Cとともに、これらに対して直列に接続される抵抗素子R2〜R4も非平行に配置される。すなわち、平面視において、ショートピン2A及び抵抗素子R2は、ショートピン2B及び抵抗素子R3に対して傾斜して配置され(傾斜角度β)、ショートピン2C及び抵抗素子R4は、ショートピン2B及び抵抗素子R3に対して傾斜して配置される(傾斜角度α)。そして、ショートピン2A及び抵抗素子R2は、ショートピン2C及び抵抗素子R4に対して傾斜角度(α+β)をもって配置される。   In the electric resistance value adjusting circuit 1c shown in FIG. 4B, the resistance elements R2 to R4 connected in series with the short pins 2A to 2C are also arranged non-parallel in plan view. That is, in a plan view, the short pin 2A and the resistance element R2 are arranged to be inclined with respect to the short pin 2B and the resistance element R3 (inclination angle β), and the short pin 2C and the resistance element R4 are the short pin 2B and the resistance element R4. Inclined with respect to the element R3 (inclination angle α). The short pin 2A and the resistance element R2 are arranged with an inclination angle (α + β) with respect to the short pin 2C and the resistance element R4.

このように構成することにより、抵抗素子R2〜R4を接近させて配置した場合でも、短絡手段であるショートピン2A〜2Cの間隔を大きくとることができるので、ショートピン2A〜2Cを短絡させるためのハンダ付け作業が容易になる。その結果、作業効率が向上するとともに、より確実に短絡できる。   By configuring in this way, even when the resistance elements R2 to R4 are arranged close to each other, the distance between the short pins 2A to 2C as the short-circuit means can be increased, so that the short pins 2A to 2C are short-circuited. The soldering work becomes easier. As a result, the working efficiency is improved and a short circuit can be more reliably performed.

(第2変形例)
この実施形態の第2変形例は、上記実施形態と略同様の構成であるが、複数の抵抗素子が直列に接続される点が異なる。他の構成は、上記実施形態と同様である。図5は、この実施形態に係る電気抵抗値調整回路を含む電気回路を示す概念図である。図5に示す電気回路には、この変形例に係る電気抵抗値調整回路1aの構成が示してある。この電気抵抗値調整回路1aは、電気抵抗値を調整する必要がある調整対象5へ接続される。
(Second modification)
The second modification of this embodiment has substantially the same configuration as that of the above embodiment, except that a plurality of resistance elements are connected in series. Other configurations are the same as in the above embodiment. FIG. 5 is a conceptual diagram showing an electric circuit including the electric resistance value adjusting circuit according to this embodiment. The electric circuit shown in FIG. 5 shows the configuration of an electric resistance value adjusting circuit 1a according to this modification. The electrical resistance value adjusting circuit 1a is connected to an adjustment target 5 that needs to adjust the electrical resistance value.

電気抵抗値調整回路1aの接続部は、第1端子PC1と第2端子PC2で構成されており、第1端子PC1と第2端子PC2とは、調整対象5に接続されている。この変形例に係る電気抵抗値調整回路1aは、複数の抵抗素子R1〜R5が直列に接続される。抵抗素子R1は、第1導電通路3を介して第1端子PC1に接続され、抵抗素子R5は、第2導電通路4を介して第2端子PC2に接続される。   The connection part of the electrical resistance adjustment circuit 1a is composed of a first terminal PC1 and a second terminal PC2, and the first terminal PC1 and the second terminal PC2 are connected to the adjustment target 5. In the electrical resistance value adjusting circuit 1a according to this modification, a plurality of resistance elements R1 to R5 are connected in series. The resistive element R1 is connected to the first terminal PC1 via the first conductive path 3, and the resistive element R5 is connected to the second terminal PC2 via the second conductive path 4.

なお、この変形例に係る電気抵抗値調整回路1aでは、抵抗素子R1〜R5は、それぞれ異なる抵抗値であるが、抵抗素子R1〜R5は同じ抵抗値としてもよい。また、抵抗素子R1〜R5のうち2以上の抵抗素子を同じ抵抗値としてもよい。抵抗素子R1〜R5の抵抗値は、電気抵抗値調整回路1aの仕様に応じて適宜設定される。   In the electrical resistance value adjusting circuit 1a according to this modification, the resistance elements R1 to R5 have different resistance values, but the resistance elements R1 to R5 may have the same resistance value. Two or more resistance elements among the resistance elements R1 to R5 may have the same resistance value. The resistance values of the resistance elements R1 to R5 are appropriately set according to the specifications of the electric resistance value adjusting circuit 1a.

この変形例に係る電気抵抗値調整回路1aは、抵抗素子間と第2導電通路4との間に、短絡手段であるショートピン2A〜2Dが設けられる。この変形例では、抵抗素子R1−R2間と第2導電通路4との間、抵抗素子R2−R3間と第2導電通路4との間、抵抗素子R3−R4間と第2導電通路4との間、抵抗素子R4−R5間と第2導電通路4との間に、それぞれ短絡手段であるショートピン2A〜2Dが設けられる。   In the electrical resistance value adjusting circuit 1 a according to this modification, short pins 2 </ b> A to 2 </ b> D, which are short-circuiting means, are provided between the resistance elements and the second conductive path 4. In this modification, between the resistance elements R1 and R2 and the second conductive path 4, between the resistance elements R2 and R3 and the second conductive path 4, between the resistance elements R3 and R4, and the second conductive path 4 In the meantime, short pins 2 </ b> A to 2 </ b> D, which are short-circuit means, are provided between the resistance elements R <b> 4 to R <b> 5 and the second conductive path 4.

短絡手段であるショートピン2A〜2Dを短絡させる前は、すべてのショートピン2A〜2Dは非導通なので、電気抵抗値調整回路1aを流れる電流は、第1端子PC1から第1導電通路3、抵抗素子R1〜R5、第2導電通路4を通って第2端子PC2へ流れる。ハンダやロウ付け等によってショートピン2A〜2Dを短絡させると、電気抵抗値調整回路1aを流れる電流は、短絡させたショートピンを通る。このため、短絡させたショートピンよりも接続部、すなわち第1及び第2端子PC1、PC2側の抵抗素子が選択されて、これらの抵抗素子が直列に接続される抵抗回路を構成する。   Prior to short-circuiting the short pins 2A to 2D, which are short-circuiting means, all the short pins 2A to 2D are non-conductive, so that the current flowing through the electric resistance adjustment circuit 1a flows from the first terminal PC1 to the first conductive path 3, resistance It flows to the second terminal PC2 through the elements R1 to R5 and the second conductive path 4. When the short pins 2A to 2D are short-circuited by soldering or brazing, the current flowing through the electric resistance adjustment circuit 1a passes through the short-circuited short pins. For this reason, a connecting portion, that is, a resistance element on the first and second terminals PC1 and PC2 side is selected from the shorted short pin, and a resistance circuit is configured in which these resistance elements are connected in series.

例えば、ショートピン2Aの第1及び第2導電体2R、2Sをハンダ付けすることによって短絡させ、他のショートピン2B〜2Dは非導通のままとする。この状態では、抵抗素子R1が選択される。このときの電気抵抗値調整回路1aの合成抵抗値Rは、式(4)で求めることができる。
R=R1・・・(4)
For example, the first and second conductors 2R and 2S of the short pin 2A are short-circuited by soldering, and the other short pins 2B to 2D are kept non-conductive. In this state, the resistance element R1 is selected. The combined resistance value R of the electric resistance value adjusting circuit 1a at this time can be obtained by Expression (4).
R = R1 (4)

また、ショートピン2Bの第1及び第2導電体2R、2Sをハンダ付けすることによって短絡させ、他のショートピン2A、2C、2Dは非導通のままとすると、抵抗素子R1、R2が選択される。抵抗素子R1、R2は直列に接続されているので、このときの電気抵抗値調整回路1aの合成抵抗値Rは、式(5)で求めることができる。
R=R1+R2・・・(5)
If the first and second conductors 2R, 2S of the short pin 2B are short-circuited by soldering and the other short pins 2A, 2C, 2D are left non-conductive, the resistance elements R1, R2 are selected. The Since the resistance elements R1 and R2 are connected in series, the combined resistance value R of the electrical resistance value adjusting circuit 1a at this time can be obtained by Expression (5).
R = R1 + R2 (5)

また、すべてのショートピン2A〜2Dを短絡させない場合には、この電気抵抗値調整回路1aが備えるすべての抵抗素子R1〜R5が選択される。すべての抵抗素子R1〜R5は直列に接続されているので、このときの電気抵抗値調整回路1aの合成抵抗値Rは、式(6)で求めることができる。
R=R1+R2+R3+R4+R5・・・(6)
Moreover, when not short-circuiting all the short pins 2A-2D, all the resistance elements R1-R5 with which this electrical resistance value adjustment circuit 1a is provided are selected. Since all the resistance elements R1 to R5 are connected in series, the combined resistance value R of the electrical resistance value adjusting circuit 1a at this time can be obtained by Expression (6).
R = R1 + R2 + R3 + R4 + R5 (6)

このように、この変形例に係る電気抵抗値調整回路1aは、ショートピンを短絡させることによって、抵抗素子が直列に接続される抵抗回路を構成し、当該抵抗回路が備える抵抗素子によって、電気抵抗値調整回路1aの合成抵抗値が決定される。そして、短絡させるショートピンを選択することにより、電気抵抗値調整回路1aの合成抵抗値を調整することができる。   Thus, the electrical resistance value adjusting circuit 1a according to this modification forms a resistance circuit in which the resistance elements are connected in series by short-circuiting the short pin, and the electrical resistance is provided by the resistance element included in the resistance circuit. The combined resistance value of the value adjustment circuit 1a is determined. Then, by selecting a short pin to be short-circuited, the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1a can be adjusted.

以上、この実施形態及びその変形例では、電気抵抗値を調整する必要がある調整対象5へ接続される接続部(第1及び第2端子PC1、PC2)と、導電体により前記接続部へ電気的に接続される複数の抵抗素子R2〜R5と、前記接続部と前記抵抗素子との間に設けられ、かつ、前記接続部及び前記抵抗素子とは導電体により電気的に接続されており、短絡させることにより複数の前記抵抗素子から所望の抵抗素子を選択する、複数の短絡手段(ショートピン2A〜2D)と、を含んで構成される。これにより、広い範囲で、かつ細かい調整ステップで電気抵抗値を調整できる。   As described above, in this embodiment and the modification thereof, the connection portion (first and second terminals PC1, PC2) connected to the adjustment target 5 whose electric resistance value needs to be adjusted, and the connection portion are electrically connected by the conductor. A plurality of resistive elements R2 to R5 connected to each other, provided between the connecting portion and the resistive element, and the connecting portion and the resistive element are electrically connected by a conductor, And a plurality of short-circuit means (short pins 2A to 2D) for selecting a desired resistance element from the plurality of resistance elements by short-circuiting. Thereby, an electrical resistance value can be adjusted with a fine adjustment step in a wide range.

次に、実施例として、光ディスク装置が備える光ピックアップのLDドライバの特性を調整する場合について説明する。なお、半導体レーザーダイオードの発光強度の調整等に適用してもよい。図6は、光ディスクドライブの光ピックアップ駆動装置の構成例を示すブロック図である。図6に示す光ピックアップ駆動装置は、光源を備える光ピックアップと、光源駆動手段であるドライバとを含む。光ピックアップ20は、CD(Compact Disc)プレーヤやDVD(Digital Video Disk又はDigital Versatile Disk)プレーヤ(光ディスク装置)に備えられて、CDやDVD(光ディスク)から情報を読み取ったり、あるいはCDやDVDに情報を記録したりする。   Next, as an example, the case of adjusting the characteristics of the LD driver of the optical pickup provided in the optical disc apparatus will be described. In addition, you may apply to adjustment of the emitted light intensity of a semiconductor laser diode, etc. FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration example of an optical pickup driving device of an optical disk drive. The optical pickup driving device shown in FIG. 6 includes an optical pickup that includes a light source and a driver that is a light source driving unit. The optical pickup 20 is provided in a CD (Compact Disc) player or a DVD (Digital Video Disk or Digital Versatile Disk) player (optical disk device), reads information from a CD or DVD (optical disk), or reads information from a CD or DVD. Or record.

光ピックアップ20は、光源である半導体レーザーダイオード(以下LD)21と、光検出素子としてのフォトダイオード(以下PD)22がパッケージ内に一体的に設けられた構造の光源が備えられている。そして、LD21から射出される光をCDやDVDに照射することで、これらに情報を書き込んだり、これらから情報を読み取ったりする。   The optical pickup 20 includes a light source having a structure in which a semiconductor laser diode (hereinafter referred to as LD) 21 as a light source and a photodiode (hereinafter referred to as PD) 22 as a light detection element are integrally provided in a package. Then, by irradiating light emitted from the LD 21 to the CD or DVD, information is written to or read from these.

LD21は、LDドライバ30に接続されている。LDドライバ30は、コントローラ14から送られるLD駆動信号に基づいて、LD21を駆動する。コントローラ14は、例えばマイクロコンピュータで構成されている。コントローラ14にはメモリ15が接続されている。そして、メモリ15には、LDドライバ30の制御に必要な制御プログラムや、読み取った情報の処理、あるいは情報の記録に必要な制御プログラム等が格納されている。   The LD 21 is connected to the LD driver 30. The LD driver 30 drives the LD 21 based on the LD drive signal sent from the controller 14. The controller 14 is composed of, for example, a microcomputer. A memory 15 is connected to the controller 14. The memory 15 stores a control program necessary for controlling the LD driver 30, a control program necessary for processing the read information or recording information, and the like.

この光ピックアップ20には、温度検出器23が設けられており、LD21の使用環境温度をモニタする。温度検出器23の出力は、A/D(Analog/Digital)コンバータ13によりディジタル信号に変換され、コントローラ14に取り込まれる。また、PD22の出力は、インバータ(I/V)11で処理された後、A/Dコンバータ12によってディジタル信号に変換され、コントローラ14に取り込まれる。   The optical pickup 20 is provided with a temperature detector 23 for monitoring the operating environment temperature of the LD 21. The output of the temperature detector 23 is converted into a digital signal by an A / D (Analog / Digital) converter 13 and taken into the controller 14. The output of the PD 22 is processed by the inverter (I / V) 11, converted into a digital signal by the A / D converter 12, and taken into the controller 14.

PD22は、LD21から射出される光の一部を検出する。コントローラ14は、これによって生じる光電流の値を取り込み、前記光電流と基準電流値との電流差分値を算出する。パワー校正部17は、この電流差分値が常に一定値以下となるように、LD21の直流バイアス電流(駆動電流)をフィードバック制御することで、LD21の発光強度を一定に保つ。コントローラ14に接続されるディスク判別部16は、コントローラ14を介して、光ピックアップ20からの出力値を取得し、光ディスクの有無や光ディスクの種類等を判別する。   The PD 22 detects part of the light emitted from the LD 21. The controller 14 takes in the value of the photocurrent generated thereby, and calculates a current difference value between the photocurrent and the reference current value. The power calibration unit 17 keeps the light emission intensity of the LD 21 constant by performing feedback control of the DC bias current (drive current) of the LD 21 so that the current difference value is always equal to or less than a certain value. The disc discriminating unit 16 connected to the controller 14 acquires the output value from the optical pickup 20 via the controller 14 and discriminates the presence / absence of the optical disc, the type of the optical disc, and the like.

図6に示す光ピックアップ駆動装置が備えるLDドライバ30は、所定の駆動周波数でLD21を駆動する。このため、駆動周波数の大きさに応じて輻射が発生する。この輻射は、LD21の駆動においては、できる限り小さい方が好ましく、理想的には発生しない方がよい。この実施例においては、光ピックアップ駆動装置のLDドライバ30が発生する前記輻射(以下不要輻射という)を所定値よりも小さい値に抑えるため、上記実施形態で説明した電気抵抗値調整回路1(図1)を用いる(図6参照)。なお、この実施例では電気抵抗値調整回路1を用いるが、その変形例に係る電気抵抗値調整回路1a、1b等を用いてもよい。   The LD driver 30 provided in the optical pickup driving device shown in FIG. 6 drives the LD 21 at a predetermined driving frequency. For this reason, radiation is generated according to the magnitude of the drive frequency. This radiation is preferably as small as possible in driving the LD 21, and ideally it should not occur. In this example, in order to suppress the radiation (hereinafter referred to as unnecessary radiation) generated by the LD driver 30 of the optical pickup driving device to a value smaller than a predetermined value, the electric resistance value adjusting circuit 1 (FIG. 1) is used (see FIG. 6). In this embodiment, the electric resistance value adjusting circuit 1 is used, but electric resistance value adjusting circuits 1a, 1b and the like according to the modification may be used.

図7は、LDドライバに電気抵抗値調整回路を接続した状態を示す説明図である。図7に示すように、LDドライバ30と電気抵抗値調整回路1とは、電気抵抗値調整回路1の接続部(第1及び第2端子PCa、PCb)によって電気的に接続される。次に、LDドライバ30の不要輻射を調整する手順を説明する。   FIG. 7 is an explanatory diagram showing a state in which an electric resistance value adjusting circuit is connected to the LD driver. As shown in FIG. 7, the LD driver 30 and the electrical resistance value adjustment circuit 1 are electrically connected by connection portions (first and second terminals PCa and PCb) of the electrical resistance value adjustment circuit 1. Next, a procedure for adjusting unnecessary radiation of the LD driver 30 will be described.

図8は、LDドライバの不要輻射を調整する手順を示すフローチャートである。図9は、LDドライバの不要輻射を調整する際に用いる短絡させるショートピンを記述したテーブルの一例を示す説明図である。LDドライバ30の不要輻射を調整するにあたって、まず、光ピックアップ駆動装置に部品を実装する(ステップS11)。   FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for adjusting unnecessary radiation of the LD driver. FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of a table describing a short pin to be short-circuited used when adjusting unnecessary radiation of the LD driver. In adjusting the unwanted radiation of the LD driver 30, first, components are mounted on the optical pickup driving device (step S11).

次に、部品を実装した光ピックアップ駆動装置を簡易駆動し(ステップS12)、LDドライバ30の駆動周波数(LDD駆動周波数)を測定する(ステップS13)。そして、測定したLDD駆動周波数が許容範囲内であれば、不要輻射の調整工程を終了して、後工程へ進む(ステップS14:Yes)。測定したLDD駆動周波数が許容範囲外である場合(ステップS14:No)、電気抵抗値調整回路1が備えるショートピン2A〜2Dのうち所望のものをハンダ付けによって短絡する(ステップS15)。これによって電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を調整して、LDドライバ30の不要輻射を許容範囲内に収める。   Next, the optical pickup driving device on which the component is mounted is simply driven (step S12), and the driving frequency (LDD driving frequency) of the LD driver 30 is measured (step S13). If the measured LDD driving frequency is within the allowable range, the unnecessary radiation adjustment process is terminated and the process proceeds to a subsequent process (step S14: Yes). When the measured LDD drive frequency is outside the allowable range (step S14: No), a desired one of the short pins 2A to 2D provided in the electric resistance adjustment circuit 1 is short-circuited by soldering (step S15). As a result, the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 is adjusted so that the unnecessary radiation of the LD driver 30 falls within an allowable range.

ここで、LDD駆動周波数と不要輻射とは相関があるので、LDD駆動周波数を測定することにより、どの程度不要輻射が発生しているかを推定することができる。そして、不要輻射の値に応じてLDドライバ30に接続された電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値を調整することにより、不要輻射を許容範囲内に収めることができる。不要輻射の値、すなわちLDD駆動周波数と電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値の調整量との関係は、予め求めることができる。この関係を予め求めておき、LDD駆動周波数に対する電気抵抗値調整回路1の合成抵抗値の調整量、すなわち電気抵抗値調整回路1の短絡させるショートピンを記述したテーブルの一例が、図9に示したテーブルである。なお、このテーブルにおいて、LDD駆動周波数は、無次元化した相対値で示してある。   Here, since there is a correlation between the LDD driving frequency and unnecessary radiation, it is possible to estimate how much unnecessary radiation is generated by measuring the LDD driving frequency. Then, by adjusting the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 connected to the LD driver 30 according to the value of unnecessary radiation, unnecessary radiation can be kept within an allowable range. The relationship between the value of unnecessary radiation, that is, the LDD driving frequency and the adjustment amount of the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 can be obtained in advance. FIG. 9 shows an example of a table in which this relationship is obtained in advance and the adjustment amount of the combined resistance value of the electric resistance value adjusting circuit 1 with respect to the LDD driving frequency, that is, a short pin that short-circuits the electric resistance value adjusting circuit 1 is described. It is a table. In this table, the LDD drive frequency is shown as a non-dimensional relative value.

図9に示すように、例えば、LDD駆動周波数を測定した結果、LDD駆動周波数が1〜2の範囲にある場合には、ショートピン2A(A)をハンダ付けすることにより短絡する。また、LDD駆動周波数が3.1〜12の範囲にある場合には、ショートピン2C(C)をハンダ付けすることにより短絡する。これによって、不要輻射を許容範囲内に収めることができる。   As shown in FIG. 9, for example, when the LDD drive frequency is in the range of 1 to 2 as a result of measuring the LDD drive frequency, the short pin 2A (A) is short-circuited by soldering. When the LDD drive frequency is in the range of 3.1 to 12, the short pin 2C (C) is short-circuited by soldering. Thereby, unnecessary radiation can be kept within an allowable range.

電気抵抗値調整回路1のショートピンをハンダ付けにより短絡する作業は、抵抗素子を交換する作業と比較して容易であり、また、何度も抵抗素子を取り外し、付け直す必要はないので、端子部分の耐久性低下はほとんどない。また、可変抵抗器と異なり、この電気抵抗値調整回路1では、広い調整幅、かつ細かい調整ステップで合成抵抗値を調整できるので、抵抗調整作業は容易である。このように、この電気抵抗値調整回路1は、LDドライバ30の不要輻射を調整する際に有効である。   The operation of short-circuiting the short pin of the electric resistance adjustment circuit 1 by soldering is easier than the operation of replacing the resistance element, and it is not necessary to remove and re-install the resistance element many times. There is almost no decrease in durability of the part. In addition, unlike the variable resistor, the electrical resistance value adjustment circuit 1 can adjust the combined resistance value with a wide adjustment range and fine adjustment steps, so that the resistance adjustment work is easy. As described above, the electric resistance value adjusting circuit 1 is effective in adjusting unnecessary radiation of the LD driver 30.

さらに、可変抵抗器は、複数の抵抗体からなるものが一般的であるため、抵抗値の温度依存性が比較的大きいが、この電気抵抗値調整回路1は抵抗素子で構成されるので、抵抗値の温度依存性は可変抵抗器よりも小さい。特に、LDドライバ30やLD21は温度変化の大きい環境で使用されるため、この電気抵抗値調整回路1は有利である。   Furthermore, since the variable resistor is generally composed of a plurality of resistors, the temperature dependence of the resistance value is relatively large. However, since the electric resistance value adjusting circuit 1 is composed of a resistor element, The temperature dependence of the value is smaller than the variable resistor. In particular, since the LD driver 30 and the LD 21 are used in an environment having a large temperature change, the electric resistance value adjusting circuit 1 is advantageous.

また、電気抵抗値調整回路1は、可動部分を持たないので、振動等の外乱によって抵抗値は変化しない。この点で、この電気抵抗値調整回路1は、可変抵抗器と比較して有利である。特に、LDドライバ30は、回転する光ディスクを取り扱う光ディスク装置で用いられる。すなわち、LDドライバ30は、振動源を有する装置において用いられる。この電気抵抗値調整回路1は、振動等によって電気抵抗値は影響を受けないため、振動源を有する装置においても、好ましく使用することができる。   Further, since the electric resistance value adjusting circuit 1 has no movable part, the resistance value does not change due to disturbance such as vibration. In this respect, the electric resistance value adjusting circuit 1 is advantageous as compared with the variable resistor. In particular, the LD driver 30 is used in an optical disc apparatus that handles a rotating optical disc. That is, the LD driver 30 is used in an apparatus having a vibration source. The electrical resistance value adjusting circuit 1 is preferably used even in an apparatus having a vibration source because the electrical resistance value is not affected by vibration or the like.

この実施形態に係る電気抵抗値調整回路を含む電気回路を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the electric circuit containing the electrical resistance value adjustment circuit which concerns on this embodiment. この実施形態に係る電気抵抗値調整回路の構成例を示す平面図である。It is a top view which shows the structural example of the electrical resistance value adjustment circuit which concerns on this embodiment. 図2のX−X断面図である。It is XX sectional drawing of FIG. この実施形態の第1変形例に係る電気抵抗値調整回路を示す平面図である。It is a top view which shows the electrical resistance value adjustment circuit which concerns on the 1st modification of this embodiment. この実施形態の第1変形例に係る電気抵抗値調整回路を示す平面図である。It is a top view which shows the electrical resistance value adjustment circuit which concerns on the 1st modification of this embodiment. この実施形態に係る電気抵抗値調整回路を含む電気回路を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the electric circuit containing the electrical resistance value adjustment circuit which concerns on this embodiment. 光ディスクドライブの光ピックアップ駆動装置の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the optical pick-up drive apparatus of an optical disk drive. LDドライバに電気抵抗値調整回路を接続した状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state which connected the electrical resistance value adjustment circuit to LD driver. LDドライバの不要輻射を調整する手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure which adjusts the unnecessary radiation of LD driver. LDドライバの不要輻射を調整する際に用いる短絡させるショートピンを記述したテーブルの一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the table which described the short pin used to short-circuit used when adjusting the unnecessary radiation of LD driver.

符号の説明Explanation of symbols

1、1a、1b、1c 電気抵抗値調整回路
2A、2B、2C、2D ショートピン
2R 第1導電体
2S 第2導電体
3 第1導電通路
4 第2導電通路
5 調整対象
1、62、63、64 抵抗チップ
7 くびれ部
9、10 ハンダ
20 光ピックアップ
30 LDドライバ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1a, 1b, 1c Electrical resistance value adjustment circuit 2A, 2B, 2C, 2D Short pin 2R 1st conductor 2S 2nd conductor 3 1st conductive path 4 2nd conductive path 5 Adjustment object 6 1 , 6 2 , 6 3 , 6 4 Resistive chip 7 Constriction 9, 10 Solder 20 Optical pickup 30 LD driver

Claims (4)

調整対象へ接続される接続部と、
複数の抵抗素子と、
短絡されることによって、前記接続部と複数の前記抵抗素子のうち少なくとも一つの前記抵抗素子とを導通する1又は複数の短絡手段と、
を含んで構成されることを特徴とする電気抵抗値調整回路。
A connection to be connected to the adjustment target;
A plurality of resistance elements;
One or a plurality of short-circuit means for conducting the connection portion and at least one of the plurality of resistance elements by being short-circuited;
An electric resistance value adjusting circuit comprising:
前記短絡手段と前記接続部とは導電体で接続され、
前記導電体は、
前記短絡手段同士の間における断面積が、前記短絡手段における断面積よりも小さいことを特徴とする請求項1に記載の電気抵抗値調整回路。
The short-circuit means and the connection portion are connected by a conductor,
The conductor is
The electrical resistance value adjusting circuit according to claim 1, wherein a cross-sectional area between the short-circuit means is smaller than a cross-sectional area of the short-circuit means.
少なくとも複数の前記短絡手段は、非平行に配列されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の電気抵抗値調整回路。   The electrical resistance value adjusting circuit according to claim 1, wherein at least the plurality of short-circuiting means are arranged non-parallel. 前記短絡手段は、前記接続部と前記抵抗素子との間に設けられていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の電気抵抗値調整回路。   4. The electrical resistance value adjusting circuit according to claim 1, wherein the short-circuit unit is provided between the connection portion and the resistance element. 5.
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