JP2006286909A - Method of manufacturing electronic circuit board and system thereof - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、プリント基板等の電子回路基板を製造する電子回路基板製造方法及びそのシステムに関する。 The present invention relates to an electronic circuit board manufacturing method and system for manufacturing an electronic circuit board such as a printed circuit board.
近年、小型、軽量化が著しい電子機器に用いる基板の実装方式として、樹脂で封止する前の裸の半導体チップであるベアチップ部品を基板に直接装着する方式が注目されている。従来、この種のベアチップ部品を含む電子部品が実装された基板を製造する方法として、基板の所定の電極上にクリーム半田(導電性の印刷剤)を印刷し、そのクリーム半田が印刷された基板の所定位置に、ベアチップ部品及びそれ以外の表面実装部品である樹脂外装部品を位置決めして装着する方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、上記電子部品を装着した後の電子回路基板の機能を検査する機能検査を実行する方法が知られている(例えば、特許文献2参照)。
2. Description of the Related Art In recent years, attention has been paid to a method of directly mounting a bare chip component, which is a bare semiconductor chip before sealing with a resin, on a substrate as a mounting method of a substrate used in electronic devices that are significantly reduced in size and weight. Conventionally, as a method of manufacturing a substrate on which an electronic component including this kind of bare chip component is mounted, a cream solder (conductive printing agent) is printed on a predetermined electrode of the substrate and the cream solder is printed on the substrate. There is known a method of positioning and mounting a bare chip component and a resin exterior component which is other surface mount component at a predetermined position (see, for example, Patent Document 1).
Further, a method for performing a function test for testing the function of the electronic circuit board after mounting the electronic component is known (see, for example, Patent Document 2).
上記クリーム半田の印刷や電子部品の装着を行う従来の製造方法により、1枚の基板上にそれぞれ独立した回路パターンを形成した多数の個別基板が一括形成される多面取りの基板を製造し、その基板内の多数の個別基板について機能検査を行うことが考えられる。この場合、上記印刷や上記電子部品の装着で不合格になっている個別基板を含む上記基板内のすべての個別基板について機能検査を行おうとすると、最終的に不合格となる可能性が非常に高い個別基板について機能検査を行う分だけ基板製造の効率が低下してしまうという問題があった。 A conventional manufacturing method for printing cream solder or mounting electronic components produces a multi-sided substrate in which a large number of individual substrates each having an independent circuit pattern formed on a single substrate are formed at once. It is conceivable to perform a function test on a large number of individual substrates in the substrate. In this case, if it is attempted to perform a function test on all the individual boards in the board including the individual board that has been rejected by the printing or the mounting of the electronic component, there is a very high possibility that it will eventually be rejected. There is a problem in that the efficiency of substrate manufacture is reduced by the amount of functional inspection for a high individual substrate.
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、多数の個別基板が一括して形成される基板について導電性の印刷剤の印刷から機能検査までの製造効率の向上を図ることができる電子回路基板製造方法及びそのシステムを提供することである。 The present invention has been made in view of the above problems, and is an electronic device capable of improving manufacturing efficiency from printing of a conductive printing agent to functional inspection for a substrate on which a large number of individual substrates are formed in a lump. A circuit board manufacturing method and system thereof are provided.
上記目的を達成するために、請求項1の発明は、それぞれ独立した回路パターンを有する多数の個別基板が一括形成され各個別基板にベアチップ部品を含む電子部品が実装された電子回路基板を製造する電子回路基板製造方法であって、印刷前の基板の各個別基板に付されている印刷前検査情報を読み取って検査する印刷前検査工程と、該基板の各個別基板の所定の電極上に導電性の印刷剤を一括して印刷する印刷工程と、該基板の各個別基板における印刷状態を検査する印刷検査工程と、該印刷剤が印刷された基板の所定位置に電子部品を位置決めして装着する部品装着工程と、該基板の各個別基板における電子部品の装着状態を検査する部品装着検査工程と、該基板に装着された該電子部品のうち該ベアチップ部品と該基板との間に樹脂を充填するアンダーフィル工程と、該基板の各個別基板における回路機能を検査する機能検査工程とを有し、上記機能検査工程以外の複数の検査工程のいずれかで不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、上記回路機能の検査を実行しないようにしたことを特徴とするものである。
また、請求項2の発明は、請求項1の電子回路基板製造方法において、上記機能検査工程以外の複数の検査工程で不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、その不合格の検査結果が得られた検査工程の後における上記印刷検査工程、上記部品装着工程、上記部品装着検査工程及び上記アンダーフィル工程の少なくとも一つを実行しないようにしたことを特徴とするものである。
また、請求項3の発明は、それぞれ独立した回路パターンを有する多数の個別基板が一括形成され各個別基板にベアチップ部品を含む電子部品が実装された電子回路基板を製造する電子回路基板製造システムであって、印刷前の基板の各個別基板に付されている印刷前検査情報を読み取って検査する印刷前検査装置と、該基板の各個別基板の所定の電極上に導電性の印刷剤を一括して印刷する印刷装置と、該基板の各個別基板における印刷状態を検査する印刷検査装置と、該印刷剤が印刷された基板の所定位置に電子部品を位置決めして装着する部品装着装置と、該基板の各個別基板における電子部品の装着状態を検査する部品装着検査装置と、該基板に装着された該電子部品のうち該ベアチップ部品と該基板との間に樹脂を充填するアンダーフィル装置と、該基板の各個別基板における回路機能を検査する機能検査装置とを備え、上記基板の個別基板ごとに上記各検査装置による検査結果情報を通信回線を介して取得する検査情報管理装置を備え、上記機能検査装置は、上記検査情報管理装置で管理されている検査情報に基づいて、上記機能検査以外の上記複数の検査のいずれかで不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については上記回路機能の検査を実行しないことを特徴とするものである。
また、請求項4の発明は、請求項2の電子回路基板製造システムにおいて、上記検査情報管理装置で管理されている検査情報に基づいて、上記機能検査装置以外の複数の検査装置で不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、その不良検査結果が得られた検査装置による検査の後における、上記印刷検査装置による検査、上記部品装着装置による電子部品の装着、上記部品装着検査装置による検査及び上記アンダーフィル装置による樹脂の充填の少なくとも一つを実行しないようにしたことを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, the invention of
Further, the invention of
According to a third aspect of the present invention, there is provided an electronic circuit board manufacturing system for manufacturing an electronic circuit board in which a large number of individual boards each having an independent circuit pattern are formed and electronic parts including bare chip parts are mounted on each individual board. A pre-printing inspection device that reads and inspects pre-printing inspection information attached to each individual substrate of the substrate before printing, and a conductive printing agent on a predetermined electrode of each individual substrate of the substrate at once. A printing apparatus for printing, a printing inspection apparatus for inspecting a printing state of each of the substrates, a component mounting apparatus for positioning and mounting an electronic component at a predetermined position of the substrate on which the printing agent is printed, A component mounting inspection apparatus that inspects the mounting state of electronic components on each individual substrate of the substrate, and an underfill that fills resin between the bare chip component and the substrate among the electronic components mounted on the substrate An inspection information management device comprising: a filling device; and a function inspection device for inspecting a circuit function of each individual substrate of the substrate, and acquiring inspection result information by each inspection device for each individual substrate of the substrate via a communication line And the functional inspection device is based on the inspection information managed by the inspection information management device, and the individual substrate on which an unacceptable inspection result is obtained in any of the plurality of inspections other than the functional inspection. The circuit function inspection is not executed for the portion.
According to a fourth aspect of the present invention, in the electronic circuit board manufacturing system according to the second aspect, the plurality of inspection devices other than the functional inspection device are rejected based on the inspection information managed by the inspection information management device. For the part of the individual substrate from which the inspection result is obtained, after the inspection by the inspection device from which the defect inspection result is obtained, the inspection by the printing inspection device, the mounting of the electronic component by the component mounting device, the component mounting inspection At least one of inspection by the apparatus and filling of the resin by the underfill apparatus is not performed.
請求項1乃至4の発明によれば、多数の個別基板が一括して形成される基板について、印刷前検査工程、印刷工程、印刷検査工程、部品装着工程、部品装着検査工程、アンダーフィル工程及び機能検査工程を行うことにより、電子部品が実装された多数の個別基板が一括して形成される基板基板を製造する。これらの基板製造の工程のうち機能検査工程以外の複数の検査工程のいずれかで不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、回路機能の検査を実行しないことにより、既に不合格になっている個別基板に対する無駄な機能検査を回避することができる。よって、多数の個別基板が一括して形成される基板について導電性の印刷剤の印刷から機能検査までの製造効率の向上を図ることができるという効果がある。 According to the first to fourth aspects of the present invention, a pre-printing inspection process, a printing process, a printing inspection process, a component mounting process, a component mounting inspection process, an underfill process, By performing the function inspection process, a substrate substrate on which a large number of individual substrates on which electronic components are mounted is formed at a time is manufactured. Of these board manufacturing processes, the part of the individual board that has obtained an unsuccessful inspection result in any of a plurality of inspection processes other than the function inspection process is already rejected by not performing the circuit function inspection. It is possible to avoid useless function inspection for individual substrates. Therefore, there is an effect that it is possible to improve the manufacturing efficiency from the printing of the conductive printing agent to the function inspection for the substrate on which a large number of individual substrates are formed at once.
以下、図面を用いて、本発明の実施形態について説明する。
図1は、本実施形態に係る基板製造方法における各処理工程を示す工程図である。また、図2(a)及び(b)はそれぞれ、本実施形態の基板製造方法で製造する電子回路基板1の断面構造の説明図及び平面図である。
上記電子回路基板1は、図2(a)に示すように第1の電子部品としての表面実装用の樹脂外装部品(以下、「樹脂外装チップ」という。)1bと、第2の電子部品としての表面実装用のベアチップ部品(以下、単に「ベアチップ」という。)1cとが実装された基板である。樹脂外装チップ1bは、樹脂で封止された半導体IC、抵抗、コンデンサー等の部品であり、ベアチップ1cは、樹脂で封止する前の裸の半導体ICチップである。基板1とベアチップ1cとの間には、ベアチップ1cが基板1上に安定して固定されるように樹脂が充填されている。一方、基板1と樹脂外装チップ1bとの間には樹脂が充填されていない。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a process diagram showing each processing process in the substrate manufacturing method according to the present embodiment. 2A and 2B are respectively an explanatory view and a plan view of a cross-sectional structure of the
As shown in FIG. 2A, the
また、上記基板1は、図2(b)に示すように所定の機能を有する同じ形状及び回路の仕様を有する個別基板100を多数(例えば数10個〜数100個)並べて一括形成された基板である。この基板1は、上記樹脂外装チップ1bやベアチップ1cが実装され所定の機能検査が行われた後、各個別基板100に分離される。これらの分離された個別基板100の一つ一つが所定の機能を有する回路モジュール部品として用いられる。
Further, as shown in FIG. 2B, the
図1に示す基板製造方法においては、まず、樹脂外装チップ1bやベアチップ1cが実装される前の基板1に、導電性の印刷剤としてのクリーム半田を印刷する半田印刷工程(p1)を実行される。この半田印刷工程の後、同一の1台の部品装着装置により、上記樹脂外装チップ1bを基板1の所定位置に装着する第1のマウント工程(p2)と、上記ベアチップ1cを基板1の所定箇所に装着する第2のマウント工程(p3)とが実行される。なお、第1のマウント工程と第2のマウント工程の順序は逆でもよい。
次に、上記樹脂外装チップ1b及びベアチップ1cのマウント工程の後、リフロー工程(p4)を実行する。このように2つのマウント工程(p2,p3)を実行した後に、リフロー工程を実行することにより、基板1上の電子部品に対する加熱回数を低減することができる。
次に、上記リフロー工程の後、基板1とベアチップ1cとの隙間に、その隙間を埋める充填剤としての樹脂を充填する、アンダーフィル処理工程(p5)を実行する。
以上により、アンダーフィル処理を施さない外装チップ1bとアンダーフィル処理を施すベアチップ1cとを、同一の基板1上に混在実装することができる。
In the substrate manufacturing method shown in FIG. 1, first, a solder printing step (p1) for printing cream solder as a conductive printing agent on the
Next, a reflow process (p4) is performed after the mounting process of the resin exterior chip 1b and the
Next, after the reflow step, an underfill treatment step (p5) is performed in which the gap between the
As described above, the exterior chip 1b not subjected to the underfill process and the
以上、本実施形態の電子回路基板製造方法によれば、基板1上に実装した電子部品に対する加熱回数を低減するので、これら電子部品に与えるヒートショック回数を低減することができる。また、従来では個別に実施されていた樹脂外装部品1bのリフロー工程とベアチップ1cのリフロー工程とを同時に実施するので、処理工程数を低減して作業性を向上させることができる。
As mentioned above, according to the electronic circuit board manufacturing method of this embodiment, since the frequency | count of a heating with respect to the electronic component mounted on the board |
上記電子回路基板製造方法を実現することができる基板製造システムは、基板1の所定の電極上にクリーム半田を印刷する印刷装置と、基板1の所定位置に部品を位置決めして装着する部品装着装置としてのマウント装置と、ベアチップ1c及び樹脂外装チップ1bが装着された基板1を加熱するリフロー装置と、ベアチップ1cと基板1との隙間に樹脂を充填するアンダーフィル装置とを用いて構成することができる。
A substrate manufacturing system capable of realizing the electronic circuit board manufacturing method includes a printing apparatus that prints cream solder on predetermined electrodes of the
次に、上記基板製造方法の各工程について詳しく説明する。
〔半田印刷工程〕
図3は、本実施形態に係る半田印刷工程に用いられる印刷装置の概略構成図である。この印刷装置は、プラスチック材からなる孔版マスクである印刷マスク2を用いて、導電性の印刷剤としてのクリーム半田3を基板1に印刷するものである。この印刷装置は、枠材2bに装着された印刷マスク2が固定部材4で固定されている。基板1は、電極が形成されている電極形成面が上面になるようにステージ5上に保持されている。このステージ5の下面には、ステージ5を駆動する駆動手段が設けられている。この駆動手段は、正逆回転可能なステッピングモータ6と、ボールねじ及びモータ6で回転駆動される図示しないナット等からなる上下動機構7とを用いて構成されている。このステッピングモータ6を回転制御することにより、上記ステージ5を上下方向に駆動し、基板1を、印刷マスク2に接触する印刷位置に移動させたり、印刷マスク2から離間させたりすることができる。
Next, each process of the said board | substrate manufacturing method is demonstrated in detail.
[Solder printing process]
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a printing apparatus used in the solder printing process according to the present embodiment. In this printing apparatus, a cream solder 3 as a conductive printing agent is printed on a
上記印刷位置に移動したステージ5の上方には、印刷マスク2の開口部9にクリーム半田3を充填する充填手段が設けられている。この充填手段は、図4に示すように、印刷マスク2の開口部9にクリーム半田3を刷り込むための充填部材としてのスキージ8、そのスキージ8を駆動ベルト等によって図中左右方向に駆動するための図示しないスキージ駆動機構等により構成されている。印刷用マスク2には、アンダーフィル処理を施す必要がない樹脂外装チップが実装される電極と、アンダーフィル処理を施す第2の電子部品が実装される電極とにそれぞれ対応する開口部9が設けられている。この開口部9は、例えば微小印刷パターンの場合、100〜200μm程度の四角形の開口や、同様な寸法の直径を有する円形の開口である。
Above the
ここで、上記印刷用マスク2の開口部9が四角形の開口の場合、その開口部9の基板表面(上面)に対してほぼ垂直な内壁面のうち、スキージ移動方向(図中A方向)における下流側に位置する下流側側面は、スキージ移動方向Aに対して傾斜する傾斜面9aにするのが好ましい。また、印刷用マスク2の開口部9の内壁面のうち、スキージ移動方向(図中A方向)における上流側に位置する上流側側面も、同様にスキージ移動方向(図中A方向)に対して傾斜する傾斜面9bにするのが好ましい。例えば図4に示すように、印刷用マスク2の傾斜面9a,9bはスキージ移動方向(図中A方向)に対してほぼ45度だけ傾斜させる。
Here, when the
上記微細パターンの印刷用マスク2を用いて印刷するときに用いるクリーム半田としては、例えば半田の平均粒径が10μm以下であり、フラックス成分の含有率が11質量%程度のものが好ましい。
The cream solder used when printing using the fine
上記構成の印刷装置において、まず、印刷マスク2を固定部材4で固定した後、上記モータ6を回転駆動して基板1を保持したステージ5を上昇させ、印刷マスク2に接触させる。そして、印刷マスク2の上面にクリーム半田3をセットし、スキージ8を矢印A方向に移動させることにより、印刷マスク2の開口部9にクリーム半田3を充填して刷り込む(図5(a)参照)。
次に、上記クリーム半田3を充填した印刷マスク2と基板1とを接触させたままの状態で、印刷条件に基づいて予め設定された待ち時間の計時を開始する。そして、所定の待ち時間が経過しクリーム半田3のタッキング力(粘着力)が高まった状態で、上記モータ6を回転駆動してステージ5を図3中の矢印B方向に下降させ、基板1と印刷マスク2とを離間させる(図5(b)参照)。この離間動作により、基板1のパッド電極1a上にクリーム半田3からなる電極が形成される。
In the printing apparatus having the above-described configuration, first, the
Next, in a state where the
また、本実施形態の印刷装置においては、印刷マスク2の開口部9のスキージ移動方向における下流側の内壁面を、そのキージ移動方向に対して傾斜させた傾斜面9aとしている。これにより、スキージ8によって移動してきたクリーム半田3は、傾斜面9aに案内され、開口部9のスキージ移動方向に対して下流側の内壁面が移動の抵抗となることがない。よって、クリーム半田3がスキージ移動方向における下流側の内壁面に必要以上に充填されることがない。
また、印刷マスク2の開口部9のスキージ移動方向における上流側の内壁面も同様にスキージ移動方向に対して傾斜させた傾斜面9bとしている。これにより、スキージ8によって移動してきたクリーム半田3が開口部9の内壁面近傍に落ち込まず、クリーム半田3が開口部9のスキージ移動方向に対して垂直となる内壁面側にクリーム半田3が十分に充填されないという不具合もない。
以上のように、傾斜面9a,9bを有する印刷マスク2を用いることにより、図5(a)に示すように、開口部9に充填されるクリーム半田の充填面(上面)3aをほぼ平坦な面にすることができる。特に、0.1mm以下の微小電極1a上にクリーム半田3を印刷する場合、上述のようにスキージ移動方向に対して垂直となる面をマスク開口部9の内壁面に形成しないようにすると有効である。微小電極の場合、微小電極上に印刷されるクリーム半田量も少なくなる。このようにクリーム半田量が少なくなる結果、微小電極上のクリーム半田量の僅かな誤差でも、電子部品との接合不良に繋がる場合がある。よって、上述のように印刷マスク開口部9の内壁面に、スキージ移動方向に対して直角となる面を形成しないことにより、微小電極上のクリーム半田量を均一にすることができるので、電子部品との接合不良を確実に防止することができる。
Further, in the printing apparatus of the present embodiment, the inner wall surface on the downstream side in the squeegee movement direction of the
Further, the inner wall surface on the upstream side in the squeegee moving direction of the
As described above, by using the
〔マウント工程〕
図6は、樹脂外装チップ1b及びベアチップ1cを基板1に装着するマウント工程で使用する部品装着装置としてのマウント装置10の概略構成の一例を示す斜視図である。このマウント装置10は、樹脂外装チップ1b及びベアチップ1cの両方の電子部品の部品保持部材としてリールカセット12を用いている。リールカセット12はカセット移動台3上に複数連立させて固定されている。このリールカセット12には、梱包容器たる巻軸にキャリアテープを巻き付けたリール15がセットされている。また、上記カセット移動台13は、図示しない駆動機構によって図中X方向に移動されるようになっている。
[Mounting process]
FIG. 6 is a perspective view showing an example of a schematic configuration of a mounting
カセット移動台13の図中前方側には、回転吊柱16を基軸にして回転する回転テーブル17が配設されている。この回転テーブル17の円軌道上に、樹脂外装チップ1bやベアチップ1c等の表面実装用の電子部品を吸着する部品吸着ユニット18が固定されている。この部品吸着ユニット18は、その下端側に電子部品を吸着するための吸着ノズル18aを備えている。吸着ノズル18aは、その底面にノズル孔を備えており、このノズル孔から気体を吸い込むことによって電子部品を吸着する。吸着ノズル18aは、回転テーブル17の回転によって図中Aの位置まで移動した状態で、その直下に位置するリールカセット12の部品供給部12a上に保持された電子部品を吸着する。これにより、吸着ノズル18aの先端に電子部品が吸着されて保持される。カセット移動台13は図中X方向に移動することで、複数のリールカセット12のうち、吸着対象の電子部品に対応するリールカセットを、吸着ノズル18aの吸着位置(図中Aの位置)まで移動させる。
On the front side of the cassette moving table 13 in the figure, a rotating table 17 that rotates around the
上記回転テーブル17の下方には、図示しない駆動機構によって図中X方向及びY方向に移動されるX−Yテーブル19が配設されており、その上面に基板1が固定されている。この基板1は、その表面に所定の電極パターンが形成されており、更にこの電極パターン上には個々のリードに対応する半田ペーストパターンが半田印刷工程によって予め印刷されている。上記吸着ノズル18aに吸着された樹脂外装チップ1bやベアチップ1c等の電子部品は、回転テーブル7の回転や、X−Yテーブル19の移動によって基板1上の所定位置に移動された後、そのリードが対応する半田ペーストパターン上に乗るように、吸着ノズル18aによって位置決めされてマウントされる。なお、プリント基板1、吸着ノズル18aの何れか一方だけを移動させてマウント位置を調整するタイプのマウント装置を用いることもできる。
Below the rotary table 17 is disposed an XY table 19 that is moved in the X and Y directions in the figure by a drive mechanism (not shown), and the
図7は、リール15がセットされた状態のリールカセット12の一例を示す斜視図である。図示のように、リールカセット12は扁平状に形成され、そのベース12b上には、部品供給ユニット12cが設けられている。また、ベース12bの後端側にはリールホルダ12dが設けられており、ここに巻軸とキャリアテープ11とからなるリール15がセットされる。また、部品供給ユニット12cの上方には巻取りリール12eが設けられており、電子部品の供給に伴ってリール15から送り出されるキャリアテープを巻き取るようになっている。なお、リールの巻軸は梱包容器としての性格を有している。
FIG. 7 is a perspective view showing an example of the
なお、図7においては便宜上図示を省略しているが、施設内にある全てのリールカセット12には、それぞれを個別に識別するための搭載器識別情報たるカセットシリアル番号のバーコードを付したラベルが貼付されている。
Although not shown in FIG. 7 for the sake of convenience, all
上記キャリアテープ11は、図8に示すように、電子部品1b,1cを保持する凹部11aが等間隔に設けられており、初期状態で例えば2000個の電子部品を凹部11aに保持している。そして、巻取りリール12eの回転に伴って部品供給ユニット12c内を移動し、部品供給ユニット12cの先端付近に設けられた部品供給部12aに凹部11aが移動する。部品供給部12aに移動した凹部11a内の電子部品は、マウント装置の吸着ノズル18aに吸着される。
As shown in FIG. 8, the
図9は、キャリアテープ11の凹部11aに保持されている電子部品1b,1cを吸着ノズル18aが吸着している様子を示す模式図である。部品供給部12aに凹部11aが位置しているとき、キャリアテープ11の移動を停止する。そして、マウント装置10の吸着ノズル18aが図中下側に移動してキャリアテープ11の凹部周辺の表面11bに当接する。ここで、凹部11aの深さは、電子部品がキャリアテープの開口周辺の表面11bから突出しないように設定されている。また、吸着ノズル18aのノズル孔が設けられた底面をキャリアテープの開口周辺の表面11bに当接させる。これにより、電子部品と吸着ノズル18aとが当接しないようになり、吸着ノズル18aの下降時に吸着ノズル18aが電子部品1bに当接して電子部品が破損することを防止することができる。
上記吸着ノズル18aがキャリアテープ11の表面11bに当接すると、吸着ノズル18aで凹部11aに保持されている電子部品を吸い取り、吸着ノズル18aに吸着させる。吸着ノズル18aは、凹部11aの開口部を全て塞いでおらず、凹部11aとの間に空気孔18bを形成しているので、吸着ノズル18aの吸着動作中に凹部11a内が真空状態になることがない。そして、電子部品1b,1cが吸着ノズル18aに吸着したら、吸着ノズル18aを上昇させて、回転テーブル19上の基板1の所定位置に位置決めして装着する。
FIG. 9 is a schematic diagram showing a state in which the
When the
図10は、他の構成例に係るマウント装置20の概略構成を示す斜視図である。このマウント装置20は、樹脂外装チップ1b及びベアチップ1cそれぞれの部品保持部材としてトレイ22を用いている。トレイ22は、図10に示すようにゴムなどの緩衝材21を介してトレイ台23上に複数連立させて固定されている。トレイ22には、複数の凹部22aが等間隔に形成されており、この凹部22aには電子部品1b,1cがそれぞれ保持されている。このマウント装置20においても、上記第1のマウント装置10と同様に、基板1を保持するX−Yテーブル29、凹部22aに保持されている電子部品1b,1cを吸着して、基板1の所定位置に配置する吸着ノズル28a、吸着ノズル28aを保持する回転テーブル27などを備えている。そして、凹部22aに保持されている電子部品1b,1cを順番に吸着ノズル28aで吸着していき、基板1の所定位置に配置していく。トレイ22に電子部品1b,1cがなくなると、次のトレイに吸着ノズル28aが移動し、吸着ノズル28aに取り付けられている図示しないCCDカメラでトレイ22の一端部とこの端部と対角線上にある端部を検知して、トレイ台23上のトレイ22の位置を検知する。トレイ22の位置を検知したら、再び順番にトレイの凹部22aに保持されている電子部品1b,1cをノズルで吸着して、基板の所定位置に配置する。
FIG. 10 is a perspective view showing a schematic configuration of a mounting
このマウント装置20においても、トレイ22の凹部22aに保持されている電子部品1b,1cを吸着ノズル28aに吸着させる際、図10に示すように、トレイ22の開口面22bと吸着ノズル28aとを当接させて、電子部品1b,1cと吸着ノズル28aとを当接させないようにしている。これにより、このマウント装置20においても電子部品1b,1cが吸着ノズル28aとの当接により破損することが防止される。トレイ22の開口面22bに吸着ノズル28aが当接すると、当接時の衝撃により、トレイ22が振動する。凹部22aに保持されている電子部品1b,1cは、基板1上に所定の向きに配置されるように、向きが揃えられている。しかし、上記トレイ22の振動により凹部22aに保持されている電子部品1b,1cの向きが変わってしまうおそれがある。特に、サイズが小さいベアチップ1cの場合は向きが振動で変化しやすい。このように凹部22aに保持されている電子部品1b,1cの向きが変化すると、電子部品1b,1cを基板1上に正しい向きに配置することができなくなる。そこで、本構成例のマウント装置20は、トレイ22とトレイ台23との間に緩衝材21を備えている。これにより、吸着ノズル28aがトレイ22の表面に当接しても、緩衝材21が当接時の衝撃を吸収するので、トレイ22の振動が緩和される。よって、凹部22aに保持されている電子部品1b,1cの向きが変わることが抑制され、電子部品1b,1cを基板1上に正しい向きに配置されなくなることが抑制される。なお、本構成例においては、トレイ22とトレイ台23との間に緩衝材21を配置しているが、トレイ22の表面上に緩衝材を配置したり、吸着ノズル28aのトレイ当接面に緩衝材を設けたりしても良い。
Also in the mounting
図12は、更に他の構成例に係るマウント装置30の概略構成を示す斜視図である。このマウント装置30は、図11中の右側(奥側)にアンダーフィル処理を施さない樹脂外装チップ1bの部品保持部材としてリールカセット32が配置されている。そして、図11中の左側(手前側)には、アンダーフィル処理を施すベアチップ1cの部品保持部材としてトレイ42が配置されている。
FIG. 12 is a perspective view showing a schematic configuration of a
回転テーブル37には、リールカセット32に保持されている樹脂外装チップ1bを吸着する第1の吸着ノズル38aと、トレイ42に保持されているベアチップ1cを吸着する第2の吸着ノズル48aが設けられている。ベアチップ1cは樹脂外装チップ1bよりも小さいので、ベアチップ1cを吸着するために設計された吸着ノズル48aで樹脂外装チップ1bを吸着しようとした場合、樹脂外装チップ1bを保持するような十分な吸着力を得ることができない場合がある。また、樹脂外装チップ1bを吸着するために設計された吸着ノズル38aでベアチップ1cを吸着しようとした場合、逆に吸着力が強すぎて吸着の際、ベアチップ1cが勢いをもってノズルに当接してしまいベアチップ1cが破損してしまう場合がある。このため、本構成例のマウント装置30においては、樹脂外装チップ用の第1の吸着ノズル38aと、ベアチップ用の第2の吸着ノズル48aをそれぞれ備えている。
ここで、樹脂外装チップ1bをX−Yテーブル39上の基板1に装着する場合は、回転テーブル37を回転させ、第1の吸着ノズル38aを第1の吸着位置(図中Aの位置)まで移動させる。第1の吸着ノズル38aが第1の吸着位置まで移動したら、そのノズルを下降させてキャリアテープ11の開口面に当接させて、第1の吸着ノズル38aの下降時に凹部に保持されている樹脂外装チップ1bと第1の吸着ノズル38aとが当接することがないようにしている。そして、凹部に保持された樹脂外装チップ1bをノズルに吸着させ、基板1の所定の位置に配設する。
一方、ベアチップ1cをX−Yテーブル39上の基板1に装着する場合は、回転テーブル37を回転させ、第2の吸着ノズル48aを第2の吸着位置(図中Bの位置)まで移動させる。そして、そのノズルを下降させてトレイ42の開口面に当接させて、第2の吸着ノズル48aの下降時に凹部に保持されているベアチップ1cと第2の吸着ノズル48aとが当接することがないようにしている。
The rotary table 37 is provided with a
Here, when mounting the resin-coated chip 1b on the
On the other hand, when mounting the
また、本構成例のマウント装置30の場合も、上述のマウント装置20と同様、トレイ42とトレイ台43との間に緩衝材21を設け、トレイ42の開口面に第2の吸着ノズル48aが当接する際の衝撃力を吸収している。そして、凹部に保持されたベアチップ1cを吸着ノズル48aに吸着させ、基板1の所定の位置に装着する。
Also, in the case of the mounting
なお、本構成例のマウント装置30は、樹脂外装チップ1bの部品保持部材としてリールカセット32を用い、ベアチップ1cの部品保持部材としてトレイ42を用いているが、これに限られない。例えば、樹脂外装チップ1bの部品保持部材としてトレイを用い、ベアチップ1cの部品保持部材としてリールカセットを用いてもよい。また、回転テーブル37を2つ設け、一方を第1の吸着ノズル38aを保持する第1の回転テーブルとし、他方を第2の吸着ノズル48aを保持する第2の回転テーブルとしてもよい。このように、回転テーブルを別々に設けることで、配設工程をスピードアップすることができる。
In addition, although the mounting
上記構成のマウント装置10、20、30によれば、樹脂外装チップ1b及びベアチップ1cの両方の電子部品を同一のマウント装置30によって行うことができるので、基板製造の製造時間や製造コスト等を下げることができる。
According to the mounting
なお、上記構成のマウント装置10,20,30において、上記吸着ノズル18a,28a,38a,48aが部品を吸着するときの吸着圧力を切り換えるのが好ましい。具体的に、吸着ノズルがベアチップ1cを吸着するときの吸着圧力を、吸着ノズルが樹脂外装チップ1bを吸着するときの吸着圧力よりも小さくするように、吸着圧力を切り換える。例えば、吸着ノズルがベアチップ1cを吸着するときの吸着圧力を、吸着ノズルが樹脂外装チップ1bを吸着するときの吸着圧力(標準圧力)の80%減(標準圧力の20%)にする。このように吸着圧力を切り換えることにより、吸着ノズルにベアチップ1cが吸い付くときの衝撃によるベアチップの損傷を防止しつつ、樹脂外装チップ1bについては吸着ノズルに吸着させて確実に保持することができる。特に、部品保持部材としてリールカセットを用いたときに効果的である。
上記吸着圧力を切り換える吸着圧力切換手段は、各マウント装置10,20,30のコントローラと、そのコントローラで制御される吸引ポンプなどの吸引装置とを用いて構成することができる。
In the mounting
The adsorption pressure switching means for switching the adsorption pressure can be configured using a controller of each
また、上記構成のマウント装置10,20,30において、吸着ノズルがベアチップ1c及び樹脂外装チップ1bの少なくとも一方を基板に装着するときに発生する衝撃力(動荷重)が一定になるように、各部品を基板に装着するときの吸着ノズルの下死点及び移動速度の少なくとも一方の設定を変更するのが好ましい。特に、ベアチップ1cは基板へ装着するときの衝撃で損傷するおそれが高いので、上記衝撃力(動荷重)が樹脂外装チップ1bの場合よりも低めになるように、ベアチップ1c装着時の吸着ノズルの下死点及び移動速度の少なくとも一方を設定する。ここで、「下死点」は、上記吸着ノズルを基板に一番近づくまで下降した最下点の位置である。
上記吸着ノズルの下死点及び移動速度の設定は、例えば次のように行うことができる。まず、マウント装置における基板がセットされる位置に、力検知手段としての圧力センサが取り付けられたロードセルを有する擬似基板部材をセットする。この擬似基板部材に対して、部品を吸着した吸着ノズルを下降させ、所定の位置で停止させる。この停止時の衝撃力(動荷重)を、上記ロードセルの圧力センサの出力に基づいて算出する。この測定及び算出を、上記吸着ノズルの下死点及び移動速度を変化させて行う。そして、衝撃力(動荷重)が一定の力以下になるように、吸着ノズルの下死点及び移動速度を設定する。ここで、吸着ノズルが下降するときの移動ステップ量の1単位が大きい場合は、吸着ノズルに保持されている部品が接触して上記ロードセルの圧力センサが出力し始めたときの吸着ノズルの位置を下死点としてもよい。
以上のように、上記部品が基板に装着するときに発生する衝撃力(動荷重)を所定の大きさ以下にすることにより、半田の過剰なつぶれを防止したり、部品の加わるストレスを低減して部品の損傷を防止したりすることができる。特に、装着対象の部品が損傷を受けやすいベアチップの場合に効果的である。
なお、上記吸着ノズルの下降時の移動速度が大きいと、吸着ノズルの停止位置のばらつきが大きくなって上記衝撃力(動荷重)のコントロールが難しくなる一方で、下降時の移動速度が遅すぎるとマウント処理時間が長くなってしまう。そこで、基板の近くまでは高めの速度で吸着ノズルを下降させ、そこから下死点までは低めの速度で下降させるように、吸着ノズルの移動を制御するのが好ましい。具体的には、吸着ノズルに保持された部品の底面と基板の表面との距離が予め設定した距離(例えば0.2〜0.4mm程度)になるまでは数10mm/sec程度の標準速度(例えば88mm/sec)で移動させ、その位置から下死点までは数mm/sec(例えば2mm/sec)程度の移動速度で移動させる。このように吸着ノズルの移動速度を2段階制御することにより、マウント処理時間の増加を抑制しつつ、部品が基板に装着するときに発生する衝撃力(動荷重)を所定の大きさ以下にすることが可能になる。ここで、装着対象の部品が損傷を受けにくい樹脂外装部品1bの場合には、マウント速度のほうを優先するように、上記移動速度の2段階制御を行わずに移動開始から下死点まで標準速度(例えば88mm/sec)で移動させるようにしてもよい。
上記吸着ノズルの下死点及び移動速度の少なくとも一方の設定を変更する設定変更手段は、各マウント装置10,20,30のコントローラを用いて構成することができる。
Further, in the mounting
The bottom dead center and the moving speed of the suction nozzle can be set, for example, as follows. First, a pseudo substrate member having a load cell to which a pressure sensor as force detecting means is attached is set at a position where the substrate is set in the mounting apparatus. With respect to the pseudo substrate member, the suction nozzle that sucks the component is lowered and stopped at a predetermined position. The impact force (dynamic load) at the time of stop is calculated based on the output of the pressure sensor of the load cell. This measurement and calculation are performed by changing the bottom dead center and moving speed of the suction nozzle. Then, the bottom dead center and the moving speed of the suction nozzle are set so that the impact force (dynamic load) is below a certain force. Here, when one unit of the moving step amount when the suction nozzle descends is large, the position of the suction nozzle when the component held by the suction nozzle comes into contact and the pressure sensor of the load cell starts to output is determined. It may be the bottom dead center.
As described above, by reducing the impact force (dynamic load) generated when the above parts are mounted on the board to a predetermined level or less, excessive crushing of the solder can be prevented and stress applied to the parts can be reduced. Can prevent the parts from being damaged. In particular, this is effective when the component to be mounted is a bare chip that is easily damaged.
If the moving speed when the suction nozzle is lowered is large, variation in the stop position of the suction nozzle becomes large and it becomes difficult to control the impact force (dynamic load), while the moving speed when the suction nozzle is lowered is too slow. The mount processing time becomes long. Therefore, it is preferable to control the movement of the suction nozzle so that the suction nozzle is lowered at a higher speed to the vicinity of the substrate and lowered at a lower speed from there to the bottom dead center. Specifically, a standard speed of about several tens of mm / sec until the distance between the bottom surface of the component held by the suction nozzle and the surface of the substrate reaches a preset distance (for example, about 0.2 to 0.4 mm) ( For example, it is moved at a moving speed of about several mm / sec (for example, 2 mm / sec) from the position to the bottom dead center. Thus, by controlling the moving speed of the suction nozzle in two steps, the impact force (dynamic load) generated when the component is mounted on the substrate is suppressed to a predetermined magnitude or less while suppressing an increase in the mounting processing time. It becomes possible. Here, in the case of the resin exterior component 1b in which the component to be mounted is not easily damaged, the mounting speed is given priority, without performing the two-stage control of the moving speed, so that the mounting speed is given priority. You may make it move at a speed | rate (for example, 88 mm / sec).
The setting changing means for changing the setting of at least one of the bottom dead center and the moving speed of the suction nozzle can be configured using the controller of each of the mounting
〔アンダーフィル工程〕
図13は、アンダーフィル処理工程の説明図である。このアンダーフィル処理工程では、バンプ1dが介在することによって生じた上記基板1とベアチップ1cとの隙間54に、その隙間54を埋める充填剤としての樹脂55が充填される。図13において、上記樹脂55は、まず、ディスペンサ56によって、上記基板1とベアチップ1cとの隙間54の、少なくとも一辺側の部位に供給(塗布)される。すると、基板1上に塗布された樹脂55は、基板1とベアチップ1cとの隙間54による毛管現象で隙間に浸透していく。これにより、ベアチップ1cと基板1との間に樹脂55が充填され、基板1上にベアチップ1cを確実に固定することができる。なお、アンダーフィル処理は、これに限定されず、種々変更可能である。例えば、超音波印加装置等を用いて、基板1に振動を与えて、基板1とベアチップ1cとの隙間54に樹脂55を充填するようにしてもよい。このように、基板1に振動を与えることで、樹脂55がベアチップ1cと基板1との間に充填するまでの時間を短縮することができる。
[Underfill process]
FIG. 13 is an explanatory diagram of the underfill processing step. In this underfill processing step, a
次に、上記基板の検査工程(検査装置)まで含めた全体の基板製造方法及びそのシステム構成について説明する。
図14は、検査装置を含めた基板製造システムの概略構成を示すブロック図である。なお、図14においてリフロー装置は図示が省略されている。
この基板製造システムは、印刷前検査装置としての不合格マーク読み取り装置210と、印刷装置220と、印刷検査装置230と、マウント装置240(10,20,30,40)と、部品装着検査装置としての外観検査装置250と、アンダーフィル装置260と、アンダーフィル検査装置270と、機能検査装置280とを備えている。これらの各種装置はそれぞれ、マイクロコンピュータやパーソナルコンピュータで構成された専用のコントローラ210a〜280aで制御される。
また、この基板製造システムは、コントローラ210a〜280aと通信回線であるLAN310を介して通信可能な検査情報管理装置としての基板情報管理サーバ300を備えている。この基板情報管理サーバ300は、ハードディスクなどで構成されるデータ記憶手段からなるデータベースを有し、例えば表1に示すようなデータテーブル形式で、各基板を構成している多数の個別基板ごとに各検査結果等の基板関連情報が格納されている。表1中の「0」は合格の結果を示し、「1」は不合格の結果を示している。基板の識別は、基板に付されているバーコードで特定される基板IDで行われる。
FIG. 14 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a substrate manufacturing system including an inspection apparatus. In FIG. 14, the reflow device is not shown.
This board manufacturing system includes a reject
The board manufacturing system also includes a board
上記不合格マーク読み取り装置210は、印刷対象の基板の製造時に実行された印刷前の検査で得られた外観検査結果の表示を読み取る。この外観検査結果は、各個別基板の表面に付されている。この各個別基板に付される外観検査結果としては、例えばメッキ不良や表面の傷などによって不合格の場合にのみ個別基板の表面の空き領域にマーキングされる不合格マークが挙げられる。不合格マーク読み取り装置210は、上記外観検査結果の読み取り結果のデータを、基板に付されているバーコードの読み取り結果のデータとともに、コントローラ210aを介して基板情報管理サーバ300に送信して登録する。
The reject
上記印刷検査装置230は、各基板内の個別基板ごとに、その個別基板に印刷された印刷ポイントの検査結果のデータを、基板に付されているバーコードの読み取り結果のデータとともに、コントローラ230aを介して基板情報管理サーバ300に送信して登録する。
The
上記マウント装置240は、前工程までに得られた基板に含まれている個別基板ごとの検査結果に基づいて、合格の結果が得れている正常な個別基板についてのみ電子部品の装着を行うように制御される。この制御は、基板情報管理サーバ300に格納されている前工程までの検査データに基づいて、コントローラ240aによって実行される。この制御により、無駄な電子部品の装着動作を回避することができ、マウント工程の効率が向上する。なお、上記個別基板ごとの電子部品の装着動作を指示するマウント装置240への指示データは、基板情報管理サーバ300に登録される。
The mounting
上記外観検査装置250は、各基板内の個別基板ごとに、その個別基板の所定位置に正しい電子部品が装着されているか否かを外観検査した検査結果のデータを、基板に付されているバーコードの読み取り結果のデータとともに、コントローラ250aを介して基板情報管理サーバ300に送信して登録する。
なお、この外観検査装置250は、前工程までに得られた基板に含まれている個別基板ごとの検査結果(印刷前検査結果及び印刷検査結果)に基づいて、合格の結果が得れている正常な個別基板についてのみ外観検査するように制御してもよい。この場合は、無駄な外観検査動作を回避することができ、外観検査工程の効率が向上する。
The
The
上記アンダーフィル装置260は、前工程までに得られた基板に含まれている個別基板ごとの検査結果に基づいて、合格の結果が得れている正常な個別基板についてのみベアチップに対するアンダーフィルを行うように制御するのが好ましい。この制御は、基板情報管理サーバ300に格納されている前工程までの検査データに基づいて、コントローラ260aによって実行される。この制御により、無駄なアンダーフィル動作を回避することができ、アンダーフィル工程の効率が向上する。なお、上記個別基板ごとのアンダーフィル動作を指示するアンダーフィル装置260への指示データは、基板情報管理サーバ300に登録される。
The
上記アンダーフィル検査装置270は、各基板内の個別基板ごとに、その個別基板の所定位置に装着されているベアチップと基板との間に樹脂が正しく充填されているか否かを検査した検査結果のデータを、基板に付されているバーコードの読み取り結果のデータとともに、コントローラ270aを介して基板情報管理サーバ300に送信して登録する。
なお、このアンダーフィル検査装置270は、前工程までに得られた基板に含まれている個別基板ごとの検査結果(印刷前検査結果、印刷検査結果、外観検査)に基づいて、合格の結果が得れている正常な個別基板についてのみアンダーフィル検査を行うように制御してもよい。この場合は、無駄なアンダーフィル検査動作を回避することができ、アンダーフィル検査工程の効率が向上する。
The
In addition, this
上記機能検査装置280は、基板情報管理サーバ300で管理されている検査情報に基づいて、上記機能検査以外の複数の検査(印刷前検査、印刷検査、外観検査、アンダーフィル検査)のいずれかで不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については回路機能の検査を実行しないように、コントローラ280aで制御される。
Based on the inspection information managed by the board
以上、本実施形態によれば、電子部品が実装された多数の個別基板が一括して形成される基板基板を製造する工程のうち機能検査工程以外の複数の検査工程のいずれかで不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、回路機能の検査を実行しないことにより、既に不合格になっている個別基板に対する無駄な機能検査を回避することができる。よって、多数の個別基板が一括して形成される基板についてクリーム半田の印刷から各個別基板の機能検査までの製造効率の向上を図ることができる。 As described above, according to the present embodiment, any of a plurality of inspection processes other than the function inspection process among the processes for manufacturing a substrate substrate on which a large number of individual substrates on which electronic components are mounted is formed at one time is rejected. By not performing the inspection of the circuit function for the portion of the individual substrate where the inspection result is obtained, it is possible to avoid useless function inspection for the individual substrate that has already been rejected. Therefore, it is possible to improve the manufacturing efficiency from the cream solder printing to the function inspection of each individual substrate for a substrate on which a large number of individual substrates are formed in a lump.
1 基板
1b 樹脂外装チップ
1c ベアチップ
2 印刷マスク
3 クリーム半田
10,20,30 マウント装置
100 個別基板
210 不合格マーク読み取り装置210
220 印刷装置
230 印刷検査装置
240 マウント装置
250 外観検査装置
260 アンダーフィル装置
270 アンダーフィル検査装置
280 機能検査装置
300 基板情報管理サーバ
310 LAN
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (4)
印刷前の基板の各個別基板に付されている印刷前検査情報を読み取って検査する印刷前検査工程と、
該基板の各個別基板の所定の電極上に導電性の印刷剤を一括して印刷する印刷工程と、
該基板の各個別基板における印刷状態を検査する印刷検査工程と、
該印刷剤が印刷された基板の所定位置に電子部品を位置決めして装着する部品装着工程と、
該基板の各個別基板における電子部品の装着状態を検査する部品装着検査工程と、
該基板に装着された該電子部品のうち該ベアチップ部品と該基板との間に樹脂を充填するアンダーフィル工程と、
該基板の各個別基板における回路機能を検査する機能検査工程とを有し、
上記機能検査工程以外の複数の検査工程のいずれかで不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、上記回路機能の検査を実行しないようにしたことを特徴とする電子回路基板製造方法。 An electronic circuit board manufacturing method for manufacturing an electronic circuit board in which a large number of individual boards each having an independent circuit pattern are collectively formed and electronic components including bare chip parts are mounted on each individual board,
A pre-printing inspection process that reads and inspects pre-printing inspection information attached to each individual substrate of the substrate before printing; and
A printing process in which a conductive printing agent is collectively printed on a predetermined electrode of each individual substrate of the substrate;
A printing inspection process for inspecting the printing state of each individual substrate of the substrate;
A component mounting step of positioning and mounting the electronic component at a predetermined position on the substrate on which the printing agent is printed;
A component mounting inspection process for inspecting the mounting state of electronic components on each individual substrate of the substrate;
An underfill step of filling a resin between the bare chip component and the substrate among the electronic components mounted on the substrate;
A function inspection step of inspecting the circuit function of each individual substrate of the substrate,
Electronic circuit board manufacturing characterized in that the inspection of the circuit function is not performed on the part of the individual board that has obtained a failed inspection result in any of a plurality of inspection processes other than the function inspection process. Method.
上記機能検査工程以外の複数の検査工程で不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、その不合格の検査結果が得られた検査工程の後における上記印刷検査工程、上記部品装着工程、上記部品装着検査工程及び上記アンダーフィル工程の少なくとも一つを実行しないようにしたことを特徴とする電子回路基板製造方法。 In the electronic circuit board manufacturing method according to claim 1,
For the parts of the individual substrate where the failed inspection results were obtained in a plurality of inspection processes other than the functional inspection process, the printing inspection process and the component mounting after the inspection process where the failed inspection results were obtained An electronic circuit board manufacturing method, wherein at least one of a process, the component mounting inspection process and the underfill process is not executed.
印刷前の基板の各個別基板に付されている印刷前検査情報を読み取って検査する印刷前検査装置と、
該基板の各個別基板の所定の電極上に導電性の印刷剤を一括して印刷する印刷装置と、
該基板の各個別基板における印刷状態を検査する印刷検査装置と、
該印刷剤が印刷された基板の所定位置に電子部品を位置決めして装着する部品装着装置と、
該基板の各個別基板における電子部品の装着状態を検査する部品装着検査装置と、
該基板に装着された該電子部品のうち該ベアチップ部品と該基板との間に樹脂を充填するアンダーフィル装置と、
該基板の各個別基板における回路機能を検査する機能検査装置とを備え、
上記基板の個別基板ごとに上記各検査装置による検査結果情報を通信回線を介して取得する検査情報管理装置を備え、
上記機能検査装置は、上記検査情報管理装置で管理されている検査情報に基づいて、上記機能検査以外の上記複数の検査のいずれかで不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については上記回路機能の検査を実行しないことを特徴とする電子回路基板製造システム。 An electronic circuit board manufacturing system for manufacturing an electronic circuit board in which a large number of individual boards each having an independent circuit pattern are collectively formed and electronic parts including bare chip parts are mounted on each individual board,
A pre-printing inspection device that reads and inspects pre-printing inspection information attached to each individual substrate of the substrate before printing; and
A printing apparatus that collectively prints a conductive printing agent on a predetermined electrode of each individual substrate of the substrate;
A printing inspection apparatus for inspecting the printing state of each individual substrate of the substrate;
A component mounting apparatus for positioning and mounting an electronic component at a predetermined position on a substrate on which the printing agent is printed;
A component mounting inspection device that inspects the mounting state of electronic components on each individual substrate of the substrate;
An underfill device for filling a resin between the bare chip component and the substrate among the electronic components mounted on the substrate;
A function inspection device for inspecting the circuit function of each individual substrate of the substrate;
An inspection information management device that acquires inspection result information by each inspection device for each individual substrate of the substrate via a communication line,
The functional inspection apparatus is based on the inspection information managed by the inspection information management apparatus, for the portion of the individual substrate where a failure inspection result is obtained in any of the plurality of inspections other than the functional inspection. An electronic circuit board manufacturing system, wherein the inspection of the circuit function is not executed.
上記検査情報管理装置で管理されている検査情報に基づいて、上記機能検査装置以外の複数の検査装置で不合格の検査結果が得られた個別基板の部分については、その不良検査結果が得られた検査装置による検査の後における、上記印刷検査装置による検査、上記部品装着装置による電子部品の装着、上記部品装着検査装置による検査及び上記アンダーフィル装置による樹脂の充填の少なくとも一つを実行しないようにしたことを特徴とする電子回路基板製造システム。 The electronic circuit board manufacturing system according to claim 2,
Based on the inspection information managed by the inspection information management device, the defect inspection result is obtained for the part of the individual substrate where the inspection results that have been rejected by the plurality of inspection devices other than the functional inspection device are obtained. After the inspection by the inspection device, at least one of inspection by the printing inspection device, mounting of electronic components by the component mounting device, inspection by the component mounting inspection device, and filling of resin by the underfill device is not performed. An electronic circuit board manufacturing system characterized by that.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080324 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100525 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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