JP2006102876A - ウェハ封止部材 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ウェハ封止部材10は、熱膨張係数がシリコンウェハ40と略同等の値を持つキャップ基板12と、キャップ基板12の外面と内面とを貫通する複数の貫通孔14と、プリント配線板30とシリコンウェハ40とを電気的に接続するように貫通孔14の内壁に形成された管状導体ビア16と、管状導体ビア16管内に低弾性率材料が充填されてなる応力緩和部18とを備えている。このウェハ封止部材10は、加熱・冷却によって管状導体ビア16がキャップ基板12に比べて大きく膨張・収縮したとしても、応力緩和部18がその膨張時・収縮時の変形を受けるため、管状導体ビア16とキャップ基板12との間に大きな応力が発生しない。
【選択図】 図1
Description
シリコンウェハ上に所定の封止空間が形成されるように該シリコンウェハに固着され該シリコンウェハと略同等の熱膨張係数を持つキャップ基板と、
前記キャップ基板の内面と外面とを貫通する貫通孔と、
前記貫通孔の内壁に形成された軟質金属製の管状導体ビアと、
前記管状導体ビアの管内に低弾性率材料を充填してなる応力緩和部と、
を備えたものである。
Claims (9)
- シリコンウェハ上に所定の封止空間が形成されるように該シリコンウェハに固着され該シリコンウェハと略同等の熱膨張係数を持つキャップ基板と、
前記キャップ基板の内面と外面とを貫通する貫通孔と、
前記貫通孔の内壁に形成された管状導体ビアと、
前記管状導体ビアの管内に低弾性率材料を充填してなる応力緩和部と、
を備えたウェハ封止部材。 - 前記貫通孔はクビレを持つ形状に形成されている、請求項1に記載のウェハ封止部材。
- 前記貫通孔の直径Dに対する前記管状導体ビアの厚さtの比t/Dは1/40≦t/D≦1/3を満たす、請求項1又は2に記載のウェハ封止部材。
- 前記貫通孔の直径Dは50μm≦D≦200μmを満たす、請求項1〜3のいずれかに記載のウェハ封止部材。
- 前記キャップ基板の厚さTcに対する前記応力緩和部の直径dの比d/Tcは1/10≦d/Tc≦1を満たす、請求項1〜4のいずれかに記載のウェハ封止部材。
- 前記キャップ基板は、耐熱性ホウケイ酸ガラスを主成分とする基板であり、周縁部が前記シリコンウェハに陽極接合されている、請求項1〜5のいずれかに記載のウェハ封止部材。
- 前記応力緩和部は30℃におけるヤング率が10MPa〜1GPaの低弾性率材料からなる、請求項1〜6のいずれかに記載のウェハ封止部材。
- −55℃×30分のあと125℃×30分を1サイクルとするヒートサイクル試験を1000サイクル繰り返したあとにクラックが未発生である、請求項1〜7のいずれかに記載のウェハ封止部材。
- 前記キャップ基板の内面側に配置された電子部品と前記キャップ基板の外面側に配置された電子部品とを鉛フリーはんだを介してリフローにより前記管状導体ビアに接続したときにクラックが未発生である、請求項1〜8のいずれかに記載のウェハ封止部材。
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