JP2005324015A - Radiation image processing method and apparatus thereof - Google Patents

Radiation image processing method and apparatus thereof Download PDF

Info

Publication number
JP2005324015A
JP2005324015A JP2005128339A JP2005128339A JP2005324015A JP 2005324015 A JP2005324015 A JP 2005324015A JP 2005128339 A JP2005128339 A JP 2005128339A JP 2005128339 A JP2005128339 A JP 2005128339A JP 2005324015 A JP2005324015 A JP 2005324015A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
defect
image data
radiation
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005128339A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4059257B2 (en
Inventor
Hiroshi Ohara
弘 大原
Koji Amitani
幸二 網谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP2005128339A priority Critical patent/JP4059257B2/en
Publication of JP2005324015A publication Critical patent/JP2005324015A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4059257B2 publication Critical patent/JP4059257B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a preferable radiation image even when image data has an image defect. <P>SOLUTION: Image data which is developed based on output signals of a plurality of radiation sensing elements two-dimensionally arranged on an imaging panel 11 is written in an image memory part 20. Image data of longitudinal or transverse plural adjacent lines is read out from the image memory part 20 as a first image data, average data of a data level in a direction orthogonal to a reading-out direction is calculated, and a line-shaped defect in an image is detected by a defect detecting part 24. Defect information to indicate a position of the detected defect in the image is generated and memorized in a defect information memory part 26. Radiation transmitted through a subject is radiated on the imaging panel 11, which is developed as a second image data and written in the image memory part 20, and the image data of the position indicated in the defect information memorized in the defect information memory part 26 is corrected to acquire the preferable radiation image. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明は、放射線画像処理方法および放射線画像処理装置に関する。   The present invention relates to a radiation image processing method and a radiation image processing apparatus.

従来、疾病の診断等のため、放射線画像を得ることができる放射線画像読取装置が知られている。この放射線画像読取装置では、例えば放射線エネルギーの一部を蓄積して、その後可視光等の励起光を照射すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す輝尽性蛍光体をシート状とした輝尽性蛍光体シートが用いられる。この輝尽性蛍光体シートを用いる装置では、被写体を透過した放射線を輝尽性蛍光体シートに照射することで被写体の放射線画像情報を記録し、この情報が記録された輝尽性蛍光体シートにレーザ光等を照射して得られる輝尽発光を集光して光電素子で電気信号に変換することにより、この電気信号に基づいて放射線画像の画像データが生成される。さらに、Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ(ＦＰＤ)と呼ばれる、２次元的に配列された複数の検出素子で照射された放射線の線量に応じた電気信号を生成し、この電気信号に基づいて画像データが生成される装置も使用される。   Conventionally, a radiation image reading apparatus capable of obtaining a radiation image is known for diagnosing diseases and the like. In this radiation image reading apparatus, for example, a part of radiation energy is accumulated, and then when irradiated with excitation light such as visible light, a photostimulable phosphor that exhibits stimulated luminescence according to the accumulated energy is formed into a sheet shape. A photostimulable phosphor sheet is used. In the apparatus using the photostimulable phosphor sheet, radiation image information of the subject is recorded by irradiating the photostimulable phosphor sheet with radiation transmitted through the subject, and the photostimulable phosphor sheet on which this information is recorded The stimulated light emission obtained by irradiating the laser beam or the like is condensed and converted into an electric signal by a photoelectric element, whereby image data of a radiographic image is generated based on the electric signal. Furthermore, an electrical signal corresponding to the radiation dose irradiated by a plurality of two-dimensionally arranged detection elements called Flat Panel Detector (FPD) is generated, and image data is generated based on the electrical signal. A device is also used.

ところで、複数の検出素子が２次元的に配列されているＦＰＤでは、照射された放射線の線量に対する電気信号の信号レベル（信号値）が全ての検出素子で均一ではなく、破損した素子や不良な素子など信号レベルが他の検出素子とは異なったレベル、すなわち異常なレベルとなってしまう検出素子（以下「欠陥画素」という）を含む場合がある。このような欠陥画素を含む場合には、撮像パネルから読み出された信号に基づく画像データにおいて画像欠陥が生じてしまうことから、撮影画像から病変等の読影をする際に、その妨げとなってしまう場合が生じてしまう。   By the way, in an FPD in which a plurality of detection elements are two-dimensionally arranged, the signal level (signal value) of an electrical signal with respect to the dose of irradiated radiation is not uniform among all detection elements, and a damaged element or a defective element is not satisfactory. There may be a case where a detection element (hereinafter referred to as “defective pixel”) such as an element that has a signal level different from other detection elements, that is, an abnormal level, may be included. When such a defective pixel is included, an image defect occurs in the image data based on the signal read from the imaging panel, which is an obstacle when reading a lesion or the like from the captured image. Will occur.

そこで、この発明では、画像データに画像欠陥が生じた場合であっても良好な放射線画像を得ることができる放射線画像処理方法および放射線画像処理装置を提供するものである。   Therefore, the present invention provides a radiation image processing method and a radiation image processing apparatus that can obtain a good radiation image even when an image defect occurs in image data.

この発明に係る放射線画像処理方法は、２次元的に配列された複数の放射線検出素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号を得るものとし、出力信号に基づいて作成された第１の画像データから画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成し、被写体を透過した放射線を複数の放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データでの欠陥情報で示された画像欠陥の画像データを補正する放射線画像処理方法であって、第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、該算出されたデータレベルの平均値を予め設定されたしきい値と比較することにより、ライン状の画像欠陥を検出するものである。また、第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を検出するものである。   The radiological image processing method according to the present invention obtains an output signal having each radiation detection element as one pixel from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and a first image created based on the output signal. A defect in the second image data created by detecting the image defect from the image data, generating defect information indicating the position of the detected image defect, and irradiating a plurality of radiation detection elements with radiation transmitted through the subject A radiation image processing method for correcting image data of an image defect indicated by information, wherein a plurality of lines adjacent in a vertical direction or a horizontal direction as first image data when detecting an image defect from the first image data Minute image data is read, the average value of the data levels in the direction orthogonal to the reading direction is calculated, and the average value of the calculated data levels is set to a preset threshold value. By comparison, it detects a line-shaped image defect. Further, when detecting an image defect from the first image data, the image data for a plurality of lines adjacent in the vertical direction or the horizontal direction is read as the first image data, and the average value of the data levels in the direction orthogonal to the reading direction To detect a line-shaped image defect.

また、この発明に係る放射線画像処理装置は、２次元的に配列された複数の放射線検出素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号に基づいて作成された第１の画像データから画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記憶する欠陥情報記憶手段と、欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被写体を透過した放射線を複数の放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データの画像欠陥を補正する欠陥補正手段とを有する放射線画像処理装置であって、第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして少なくとも縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、該算出されたデータレベルの平均値を予め設定されたしきい値と比較することにより、ライン状の画像欠陥を検出するものである。また、第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして少なくとも縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を検出するものである。   Further, the radiation image processing apparatus according to the present invention provides an image defect from first image data created from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally based on an output signal in which each radiation detection element is one pixel. A defect detection means for generating defect information indicating the position of the detected image defect, a defect information storage means for storing the defect information generated by the defect detection means, and a defect stored in the defect information storage means A radiation image processing apparatus comprising: defect correction means for correcting image defects of second image data created by irradiating a plurality of radiation detection elements with radiation transmitted through a subject based on information, wherein the first image When detecting image defects from data, read out the image data of at least a plurality of lines adjacent in the vertical or horizontal direction as the first image data It calculates an average value of the direction of the data level perpendicular to, by comparing the preset threshold value the average value of the calculated out data level, and detects the line-like image defects. In detecting an image defect from the first image data, the image data of at least a plurality of lines adjacent in the vertical direction or the horizontal direction is read as the first image data, and the average of the data levels in the direction orthogonal to the reading direction A value is calculated and a line-shaped image defect is detected.

この発明においては、第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥が検出される。また、算出された平均値を予め設定されたしきい値と比較して、ライン状の画像欠陥が検出される。さらに、第１の画像データとして画素毎の画像データが用いられて、画素毎の画像欠陥も検出される。また、トレンド除去された画像データが第１の画像データとして用いられる。   In the present invention, when detecting an image defect from the first image data, the image data for a plurality of lines adjacent in the vertical direction or the horizontal direction is read as the first image data, and the data level in the direction orthogonal to the reading direction is read. Are calculated, and line-shaped image defects are detected. Further, the calculated average value is compared with a preset threshold value to detect a line-shaped image defect. Further, image data for each pixel is used as the first image data, and an image defect for each pixel is also detected. The trend-removed image data is used as the first image data.

この発明によれば、２次元的に配列された複数の放射線検出素子の出力信号により作成した第１の画像データを用いて画像欠陥が検出されて、この検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報が記憶され、被写体を透過させて放射線を照射して作成した第２の画像データに対して記憶されている欠陥情報で示された位置の画像データが補正される。このため、第２の画像データが画像欠陥を有する場合であっても画像欠陥が補正されるので良好な放射線画像を得ることができる。   According to the present invention, an image defect is detected using the first image data created from the output signals of a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and a defect indicating the position of the detected image defect The information is stored, and the image data at the position indicated by the stored defect information is corrected with respect to the second image data created by transmitting the radiation through the subject. For this reason, even if the second image data has an image defect, the image defect is corrected, so that a good radiation image can be obtained.

次に、この発明の実施の一形態について図を用いて詳細に説明する。被写体の放射線画像を得るために放射線発生器から出力された放射線は、被写体を通じて画像処理装置の撮像パネル１１に照射される。撮像パネル１１の領域は、図１に示すように複数のブロックＡＲ-(0,0)〜ＡＲ-(m,n)に区分されている。１つのブロック、例えばブロックＡＲ-(0,0)では、図２に示すように、照射された放射線の線量に応じて電気信号を出力する検出素子ＤＴ(0,0)〜ＤＴ(j,k)が２次元配置されていると共に、走査線１１４-0〜１１４-kと信号線１１６-0〜１１６-jが例えば直交するように配設される。   Next, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Radiation output from the radiation generator to obtain a radiographic image of the subject is applied to the imaging panel 11 of the image processing apparatus through the subject. The region of the imaging panel 11 is divided into a plurality of blocks AR- (0,0) to AR- (m, n) as shown in FIG. In one block, for example, the block AR- (0,0), as shown in FIG. 2, detection elements DT (0,0) to DT (j, k) that output electrical signals according to the dose of irradiated radiation. ) Are two-dimensionally arranged, and the scanning lines 114-0 to 114-k and the signal lines 116-0 to 116-j are arranged so as to be orthogonal, for example.

走査線１１４-0〜１１４-kは走査駆動部１４と接続されており、走査駆動部１４では後述する制御部４０から供給された制御信号ＣＴＡに基づき読出信号ＲＳを生成して走査線１１４-0〜１１４-kのうちの１つ走査線１１４-p（pは0〜kのいずれかの値）に出力する。この読出信号ＲＳによって、走査線１１４-pに接続された検出素子ＤＴ(0,p)〜ＤＴ(j,p)から、照射された放射線の線量に応じた電気信号ＳＶ-0〜ＳＶ-jが出力されて、信号線１１６-0〜１１６-jを介して画像データ生成部１６-(0,0)に供給される。   The scanning lines 114-0 to 114-k are connected to the scanning driving unit 14, and the scanning driving unit 14 generates a readout signal RS based on a control signal CTA supplied from the control unit 40 described later to scan the scanning line 114-. One of the lines 0 to 114-k is output to the scanning line 114-p (p is any value from 0 to k). By this readout signal RS, electrical signals SV-0 to SV-j corresponding to the radiation dose emitted from the detection elements DT (0, p) to DT (j, p) connected to the scanning line 114-p. Is output and supplied to the image data generation unit 16- (0, 0) via the signal lines 116-0 to 116-j.

他のブロックＡＲ-(0,1)〜ＡＲ-(0,n)，ＡＲ-(1,0)〜ＡＲ-(1,n)，・・・，ＡＲ-(m,n)もブロックＡＲ-(0,0)と同様に、走査駆動回路１４からの読出信号ＲＳによって各ブロック内の（ｊ×ｋ）個の検出素子から、照射された放射線の線量に応じた電気信号ＳＶが出力されて、各ブロックに対応する画像データ生成部１６-(0,1)〜１６-(0,n)，１６-(1,0)〜１６-(1,n)，・・・，１６-(m,n）に供給される。   Other blocks AR- (0,1) to AR- (0, n), AR- (1,0) to AR- (1, n),..., AR- (m, n) are also block AR- Similarly to (0,0), the electric signal SV corresponding to the dose of the irradiated radiation is output from the (j × k) detection elements in each block by the readout signal RS from the scanning drive circuit 14. , Image data generation units 16- (0,1) to 16- (0, n), 16- (1,0) to 16- (1, n),..., 16- (m , n).

なお、ブロックＡＲ-(0,0)で用いた走査線１１４-0〜１１４-kを他の各ブロックでもブロックＡＲ-(0,0)と同様に用いるものとすれば、各ブロックの例えば同じ列番号の検出素子から同じタイミングで電気信号ＳＶを簡単に出力させることができる。   If the scanning lines 114-0 to 114-k used in the block AR- (0,0) are used in the other blocks in the same manner as the block AR- (0,0), for example, the same for each block. The electric signal SV can be easily output from the detection element having the column number at the same timing.

ここで、検出素子ＤＴは、照射された放射線の線量に応じた電気信号を出力するものであれば良い。例えば放射線が照射されたときに電子−正孔対が生成されて抵抗値が変化する光導電層を用いて検出素子が形成されている場合、この光導電層で生成された放射線量に応じた量の電荷が電荷蓄積コンデンサに蓄えられて、この電荷蓄積コンデンサに蓄えられた電荷が電気信号として画像データ生成部１６に供給される。なお、光導電層としては暗抵抗値が高いものが望ましく、アモルファスセレン、酸化鉛、硫化カドミウム、ヨウ化第２水銀、または光導電性を示す有機材料（Ｘ線吸収コンパウンドが添加された光伝導性ポリマを含む）などが用いられ、特にアモルファスセレンが望ましい。   Here, the detection element DT may be any element that outputs an electrical signal corresponding to the dose of irradiated radiation. For example, when a detection element is formed using a photoconductive layer in which electron-hole pairs are generated and change in resistance when irradiated with radiation, the detection element is in accordance with the amount of radiation generated in the photoconductive layer. An amount of charge is stored in the charge storage capacitor, and the charge stored in the charge storage capacitor is supplied to the image data generator 16 as an electrical signal. The photoconductive layer preferably has a high dark resistance value, such as amorphous selenium, lead oxide, cadmium sulfide, mercuric iodide, or a photoconductive organic material (photoconductive with an X-ray absorption compound added). In particular, amorphous selenium is desirable.

また、検出素子ＤＴが、例えば放射線が照射されることにより蛍光を生ずるシンチレータ等を用いて形成されている場合、フォトダイオードにおいて、このシンチレータで生じた蛍光強度に基づく電気信号を生成して画像データ生成部１６に供給するものとしてもよい。なお、シンチレータとしては、Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔｂ、ＭＸ：Ｔｌ（Ｍ＝Ｒｂ、Ｃｓ：Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、ＢａＦＸ：Ｅｕ（Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、ＬａＯＢｒ：Ａ（Ａ＝Ｔｂ、Ｔｍ）、ＹＴａＯ4、〔Ｙ,Ｓｒ〕ＴａＯ4：Ｎｂ、ＣａＷＯ4などが用いられ、特にＧｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔｂ、ＣｓＩ：Ｔｌ、ＢａＦＣｌ：Ｅｕが望ましい。 When the detection element DT is formed using, for example, a scintillator that generates fluorescence when irradiated with radiation, the photodiode generates an electrical signal based on the fluorescence intensity generated by the scintillator to generate image data. It is good also as what supplies to the production | generation part 16. FIG. The scintillators include Gd 2 O 2 S: Tb, MX: Tl (M = Rb, Cs: X = Cl, Br, I), BaFX: Eu (X = Cl, Br, I), LaOBr: A ( A = Tb, Tm), YTaO 4 , [Y, Sr] TaO 4 : Nb, CaWO 4 and the like are used, and Gd 2 O 2 S: Tb, CsI: Tl, and BaFCl: Eu are particularly desirable.

撮像パネル１１の１つの検出素子は１画素とされて、画像データ生成部１６-(0,0)では、制御部４０から供給された制御信号ＣＴＢに基づき、供給された電気信号ＳＶ-0〜ＳＶ-jを順次選択してディジタルの画素データＳＤ-(0,0)に変換する。また画像データ生成部１６-(0,1)〜１６-(0,n)，１６-(1,0)〜１６-(1,n)，・・・，１６-(m,n)でも同様にして、画像データＳＤ-(0,1)〜ＳＤ-(0,n)，ＳＤ-(1,0)〜ＳＤ-(1,n)，・・・，ＳＤ-(m,n)を生成する。画像データ生成部１６−(0,0)〜１６−(m,n)で生成された１画面分（１画像分）の画像データＳＤ-(0,0)〜ＳＤ-(m,n)は、制御部４０からの制御信号ＣＴＣに基づいて画像メモリ部２０に書き込まれる。   One detection element of the imaging panel 11 is one pixel, and the image data generation unit 16- (0, 0) supplies the electric signal SV-0 to the supplied electric signal SV-0 based on the control signal CTB supplied from the control unit 40. SV-j is sequentially selected and converted to digital pixel data SD- (0,0). The same applies to the image data generation units 16- (0,1) to 16- (0, n), 16- (1,0) to 16- (1, n),..., 16- (m, n). To generate image data SD- (0,1) to SD- (0, n), SD- (1,0) to SD- (1, n),..., SD- (m, n) To do. Image data SD- (0,0) to SD- (m, n) for one screen (one image) generated by the image data generators 16- (0,0) to 16- (m, n) Based on the control signal CTC from the control unit 40, it is written in the image memory unit 20.

この画像メモリ部２０には欠陥検出部２４と欠陥補正部２８が接続されており、欠陥検出部２４では、制御部４０からの制御信号ＣＴＤに基づき画像メモリ部２０に書き込まれている画像データＳＤを用いて、電気信号ＳＶの信号レベルが他の検出素子とは異なるレベルとなる検出素子からの画像データの検出、すなわち画像欠陥の検出を行う。ここで、欠陥検出部２４で画像欠陥が検出されたときには、画像欠陥の位置を示す情報ＦＤが生成されて欠陥情報メモリ部２６に記憶される。   A defect detection unit 24 and a defect correction unit 28 are connected to the image memory unit 20. In the defect detection unit 24, image data SD written in the image memory unit 20 based on a control signal CTD from the control unit 40. Is used to detect the image data from the detection element in which the signal level of the electric signal SV is different from the other detection elements, that is, to detect the image defect. Here, when an image defect is detected by the defect detection unit 24, information FD indicating the position of the image defect is generated and stored in the defect information memory unit 26.

また、欠陥補正部２８では、制御部４０からの制御信号ＣＴＥに基づき、放射線を被写体に照射して作成されて画像データＳＤが画像メモリ部２０に書き込まれたときには、欠陥情報メモリ部２６に記憶されている画像欠陥の位置を示す情報ＦＤを用いて、画像メモリ部２０の画像欠陥の画像データを補正する。   Further, in the defect correction unit 28, when the image data SD is created by irradiating the subject with radiation based on the control signal CTE from the control unit 40 and the image data SD is written in the image memory unit 20, the defect correction unit 28 stores it in the defect information memory unit 26. The image data of the image defect in the image memory unit 20 is corrected using the information FD indicating the position of the image defect.

その後、画像メモリ部２０に書き込まれている画像データＳＤに対して、画像欠陥の補正が完了したときには、制御部４０からの制御信号ＣＴＣに基づき、補正が完了した画像データが画像メモリ部２０から読み出されて出力される。   Thereafter, when the correction of the image defect is completed for the image data SD written in the image memory unit 20, the corrected image data is transferred from the image memory unit 20 based on the control signal CTC from the control unit 40. Read and output.

制御部４０では、放射線照射前に撮像パネル１１の電荷蓄積コンデンサから蓄えられている電荷を排出させるための初期化動作や撮像パネル１１に照射された放射線に基づき電荷蓄積コンデンサに蓄えられた電荷を読み出して画像データを画像メモリ部２０に書き込む処理、および画像欠陥の検出や補正を行うための制御信号ＣＴＡ〜ＣＴＥが生成する。   In the control unit 40, the charge stored in the charge storage capacitor based on the initialization operation for discharging the charge stored from the charge storage capacitor of the imaging panel 11 before the radiation irradiation or the radiation irradiated to the imaging panel 11 is stored. Control signals CTA to CTE are generated for reading and writing image data into the image memory unit 20 and for detecting and correcting image defects.

次に、欠陥検出部２４での画像欠陥の検出方法および欠陥補正部２８での画像欠陥の補正方法について説明する。   Next, an image defect detection method in the defect detection unit 24 and an image defect correction method in the defect correction unit 28 will be described.

画像欠陥の検出では、撮像パネル１１の電荷蓄積コンデンサから蓄えられている電荷を排出させるための初期化動作を実施し、放射線未照射状態で生成されて画像メモリ部２０に書き込まれた画像データ（以下「放射線未照射画像データＳＤＡ」という）、初期化動作を実施し放射線を一様に照射してから生成されて画像メモリ部２０に書き込まれた画像データ（以下「放射線一様照射画像データＳＤＢ」という）、あるいは初期化動作を実施し被写体を透過させて放射線を照射してから生成されて画像メモリ部２０に書き込まれた画像データ（以下「放射線被写体照射画像データＳＤＣ」という）を用いて画像欠陥の検出が行われる。   In detection of an image defect, an initialization operation for discharging charges stored in the charge storage capacitor of the image pickup panel 11 is performed, and image data (generated in an unradiated state and written to the image memory unit 20 ( Hereinafter, the image data (hereinafter referred to as “radiation uniform irradiation image data SDB”) generated and written in the image memory unit 20 after performing the initialization operation and uniformly irradiating the radiation is referred to as “radiation non-irradiation image data SDA”. Or the image data (hereinafter referred to as “radiation subject irradiation image data SDC”) generated after the initialization operation is performed and the subject is transmitted and irradiated with radiation and written in the image memory unit 20. Image defect detection is performed.

図３は第１の画像欠陥の検出方法を説明するための図である。図３Ａは、画像メモリ部２０に書き込まれている１画面分の画像データを示しており、この画像メモリ部２０から例えば横方向に画像データを順次読み出し、図３Ｂに示すようにしきい値ＴＡＨ，ＴＡＬと比較されて画像欠陥の検出が行われる。   FIG. 3 is a diagram for explaining a first image defect detection method. FIG. 3A shows image data for one screen written in the image memory unit 20. Image data is sequentially read out from the image memory unit 20, for example, in the horizontal direction, and threshold values TAH, An image defect is detected by comparison with TAL.

しきい値ＴＡＨ，ＴＡＬは例えば図４に示すように画像データのヒストグラムに基づいて設定される。正常な画像データの分布が図４の斜線部で示すような分布となる場合、低レベル側しきい値ＴＡＬは正常な画像データの分布よりも低レベル側に設定されると共に、高レベル側しきい値ＴＡＨは正常な画像データの分布よりも高レベル側に設定される。ここで、画像データのレベルが高レベル側しきい値ＴＡＨよりも大きくなる画素Ｐ(a,ba)や低レベル側しきい値ＴＡＬよりも小さくなる画素Ｐ(a,bb)は、画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別されて、画素Ｐ(a,ba)，Ｐ(a,bb)の位置情報が画像欠陥の位置を示す情報として欠陥情報メモリ部２６に記憶される。   The threshold values TAH and TAL are set based on a histogram of image data, for example, as shown in FIG. When the distribution of normal image data is as shown by the hatched portion in FIG. 4, the low level side threshold value TAL is set to a lower level side than the distribution of normal image data, and the higher level side threshold value TAL is set. The threshold value TAH is set higher than the normal image data distribution. Here, the pixel P (a, ba) in which the level of the image data is larger than the high level side threshold value TAH and the pixel P (a, bb) in which the level of the image data is smaller than the low level side threshold value TAL are image defects. It is determined that the defective pixel is generated, and the position information of the pixels P (a, ba) and P (a, bb) is stored in the defect information memory unit 26 as information indicating the position of the image defect.

図５は画像欠陥の第２の検出方法を説明するための図である。図５Ａは、画像メモリ部２０に書き込まれている１画面分の画像データを示しており、欠陥画素が生ずるか否かの判別が行われる画素Ｐ(c,d)に対して、例えば図５Ｂの斜線で示す周辺の８画素の画像データの平均レベルＭＤ(c,d)を求め、画素Ｐ(c,d)の画像データＳＤ(c,d）が平均レベルＭＤ(c,d)に対して所定範囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）であるか否かの判別が行われる。ここで、画像データＳＤ(c,d）が所定範囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）で無いときには画素Ｐ(c,d)が画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別されて、画像欠陥の位置すなわち、画素Ｐ(c,d)の位置を示す情報が欠陥情報メモリ部２６に記憶される。なお、平均レベルを算出するために用いられる画素の画像データは、図５Ｂの斜線で示す部分の８画素に限られるものでなく、例えばハッチングで示す部分を含めた２４画素の画像データ等を用いても良い。また、「Ｗ」はもともとの画像データがもつレベル変動（ノイズなどに依存する）を検出せずに、画像欠陥を検出する範囲で任意に決めることができる。   FIG. 5 is a diagram for explaining a second image defect detection method. FIG. 5A shows image data for one screen written in the image memory unit 20, and for example, FIG. 5B is used for a pixel P (c, d) for which it is determined whether or not a defective pixel occurs. The average level MD (c, d) of the image data of the surrounding 8 pixels indicated by the oblique lines is obtained, and the image data SD (c, d) of the pixel P (c, d) is compared with the average level MD (c, d). Then, it is determined whether or not it is within a predetermined range (MD (c, d) −W to MD (c, d) + W). Here, when the image data SD (c, d) is not within a predetermined range (MD (c, d) −W to MD (c, d) + W), the defective pixel in which the pixel P (c, d) causes an image defect. And the information indicating the position of the image defect, that is, the position of the pixel P (c, d) is stored in the defect information memory unit 26. Note that the pixel image data used to calculate the average level is not limited to the eight pixels indicated by the hatched lines in FIG. 5B, and for example, image data of 24 pixels including the hatched portions is used. May be. Further, “W” can be arbitrarily determined within a range in which an image defect is detected without detecting a level fluctuation (which depends on noise) of the original image data.

ところで、上述の第１および第２の画像欠陥の検出方法では、１画素毎に画像欠陥であるか否かを判別するものであるが、欠陥画素と正常画素の画像データのレベル差が大きくない場合には、レベル差が正常画素の画像データのレベル変動であるか画像欠陥であるか判別することが困難である。そこで、画像欠陥がライン状であるときには、欠陥画素と正常画素の画像データのレベル差が大きくない場合であっても画像欠陥を検出できる方法を第３の画像欠陥の検出方法として説明する。   By the way, in the first and second image defect detection methods described above, whether or not each pixel is an image defect is determined, but the level difference between the image data of the defective pixel and the normal pixel is not large. In this case, it is difficult to determine whether the level difference is a level fluctuation of image data of normal pixels or an image defect. Therefore, a method for detecting an image defect even when the level difference between the image data of the defective pixel and the normal pixel is not large when the image defect is a line will be described as a third image defect detection method.

図６は第３の画像欠陥の検出方法を説明するための図である。図６Ａは、画像メモリ部２０に書き込まれている１画面分の画像データを示しており、この１画面分の画像データから、縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出して、読み出し方向と直交する方向での平均レベルが求められる。この求められた平均レベルが上述の第１の画像欠陥の検出方法と同様にしきい値と比較されて画像欠陥の検出が行われる。   FIG. 6 is a diagram for explaining a third image defect detection method. FIG. 6A shows image data for one screen written in the image memory unit 20, and image data for a plurality of lines adjacent in the vertical or horizontal direction is read from the image data for one screen. The average level in the direction orthogonal to the reading direction is obtained. The obtained average level is compared with a threshold value in the same manner as the first image defect detection method described above, and image defects are detected.

例えば、図６Ａに示すように横方向のｅラインから（ｅ＋ｆ）ラインまでの（ｆ＋１）ライン分の画像データが画像メモリ部２０から読み出されて、縦方向の画素列毎の平均レベルが算出されて、図６Ｂに示すように（ｆ＋１）ライン分の画像データを平均した１ラインの画像データが算出される。ここで、画像欠陥が縦方向のライン状である場合、欠陥画素と正常画素の画像データのレベル差が大きくない場合であっても、平均レベルを算出することによって正常画素の画像データのレベル信号の変動分を小さくすることができる。このため、図６Ｃに示すように１ライン分の画像データでは検出しにくい画素Ｐ(e+h,g)の画像欠陥も、（ｆ＋１）ライン分の画像データの平均レベルを算出することで、図６Ｂに示すように画素Ｐ(e〜e+f,g)に相当する画像データを正常画素の画像データとは異なるレベルとすることができるので、複数ライン分の画像データの平均レベルに応じて設定された低レベル側しきい値ＴＢＬおよび高レベル側しきい値ＴＢＨと求められた平均レベルを比較し、求められた平均レベルが設定された低レベル側しきい値ＴＢＬから高レベル側しきい値ＴＢＨまでの範囲内であるか否かを判別することによって容易にライン状の画像欠陥を検出することができる。また、求められた平均レベルがｅラインや（ｅ＋ｆ）ラインの周囲の画像データの平均レベルに対して所定範囲内であるか否かによってもライン状の画像欠陥を検出することができる。ここで、画像欠陥と判別されたときには、縦方向に（ｆ＋１）行分の画素すなわち画素Ｐ(e〜e+f,g)が欠陥画素と判別されて、画素Ｐ(e〜e+f,g)の位置を示す情報が欠陥情報メモリ部２６に記憶される。   For example, as shown in FIG. 6A, image data for (f + 1) lines from e line in the horizontal direction to (e + f) line is read from the image memory unit 20, and the average level for each pixel column in the vertical direction is calculated. Then, as shown in FIG. 6B, one line of image data is calculated by averaging the image data for (f + 1) lines. Here, when the image defect has a vertical line shape, the level signal of the normal pixel image data is calculated by calculating the average level even if the level difference between the defective pixel and the normal pixel image data is not large. Can be reduced. For this reason, as shown in FIG. 6C, the image defect of the pixel P (e + h, g) that is difficult to detect with the image data for one line is calculated by calculating the average level of the image data for (f + 1) lines. As shown in FIG. 6B, the image data corresponding to the pixels P (e to e + f, g) can be set to a level different from that of the normal pixel image data. The determined low level side threshold value TBL and the high level side threshold value TBH are compared with the determined average level, and the determined average level is set higher than the set low level side threshold value TBL. By determining whether or not it is within the range up to the threshold value TBH, a line-shaped image defect can be easily detected. Further, it is possible to detect a line-shaped image defect depending on whether or not the obtained average level is within a predetermined range with respect to the average level of the image data around the e line and the (e + f) line. Here, when it is determined as an image defect, the pixels for (f + 1) rows in the vertical direction, that is, the pixels P (e to e + f, g) are determined to be defective pixels, and the pixels P (e to e + f, Information indicating the position of g) is stored in the defect information memory unit 26.

画像メモリ部２０から読み出される画像データのヒストグラムが広い幅をもち、例えば図７Ａに示すように１ラインの画像データＳＤＣの信号レベルが広い範囲にある場合、画像メモリ部２０から読み出された画像データとしきい値ＴＣＬおよびしきい値ＴＣＨを比較しただけでは画素Ｐ(q,r)の画像欠陥を検出することができない。そこで、被写体に応じた画像データから一様な勾配や低周波成分を除去するトレンド除去を行い、上述の第１〜第３の画像欠陥の検出方法を用いることにより、正しく画像欠陥の検出を行うことができる。   When the histogram of the image data read from the image memory unit 20 has a wide width, for example, as shown in FIG. 7A, the signal level of the image data SDC for one line is in a wide range, the image read from the image memory unit 20 The image defect of the pixel P (q, r) cannot be detected only by comparing the data with the threshold value TCL and the threshold value TCH. Therefore, by performing trend removal that removes uniform gradients and low-frequency components from the image data corresponding to the subject, and using the first to third image defect detection methods described above, image defects are correctly detected. be able to.

このトレンド除去の一例としては、１ライン分の画像データからムージングを行って高周波成分を除くものとし、元の画像データからスムージングによって得られた画像データを減算あるいは除算することよって、図７Ｂに示すように低周波成分を除いた高周波成分だけの画像データＨＳＤＣが生成される。   As an example of this trend removal, smoothing is performed from one line of image data to remove high-frequency components, and image data obtained by smoothing is subtracted or divided from the original image data, as shown in FIG. 7B. Thus, the image data HSDC of only the high frequency component excluding the low frequency component is generated.

また、トレンド除去を行った場合には、図４と比較して図８の斜線で示すように正常な画像データのヒストグラムの幅が狭いものとされる。このため、低レベル側しきい値ＴＤＬから高レベル側しきい値ＴＤＨまでの幅も、トレンド除去を行う前よりも狭く設定することができるので、画像欠陥の検出を精度良く行うことができる。また、画像データＨＳＤＣを用いて上述の第２および第３の画像欠陥の検出方法を行うことにより、画像欠陥を検出することができることは勿論である。   In addition, when trend removal is performed, the width of the histogram of normal image data is narrower as shown by the hatched lines in FIG. 8 than in FIG. For this reason, the width from the low-level side threshold value TDL to the high-level side threshold value TDH can also be set narrower than before performing trend removal, so that image defects can be detected with high accuracy. Of course, image defects can be detected by performing the second and third image defect detection methods described above using the image data HSDC.

このようにして、欠陥検出部２４で画像欠陥が検出されたときには、画像欠陥の位置を示す情報ＦＤが欠陥情報メモリ部２６に記憶される。ここで、欠陥情報メモリ部２６には画像欠陥の位置を示す情報ＦＤとして例えば画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶される。また欠陥情報メモリ部２６に、マップ形式で画像欠陥の位置を示す情報ＦＤを記憶するものとしてもよい。すなわち、欠陥情報メモリ部２６に１画面分の画素と対応するメモリ領域を設けるものとし、画像欠陥が検出されたときには、この画像欠陥と生ずる画素の位置と対応するメモリ領域内の位置に所定のデータ値を書き込むものとしてもよい。例えば、正常画素の信号レベルを「１」、欠陥画素の信号レベルを「０」などとすることができる。   In this manner, when an image defect is detected by the defect detection unit 24, information FD indicating the position of the image defect is stored in the defect information memory unit 26. Here, in the defect information memory unit 26, for example, an address of a pixel causing an image defect is stored as information FD indicating the position of the image defect. The defect information memory unit 26 may store information FD indicating the position of the image defect in a map format. That is, the defect information memory unit 26 is provided with a memory area corresponding to the pixels for one screen. When an image defect is detected, a predetermined area is set at a position in the memory area corresponding to the position of the pixel where the image defect occurs. A data value may be written. For example, the signal level of a normal pixel can be “1”, the signal level of a defective pixel can be “0”, and the like.

欠陥補正部２８では、欠陥情報メモリ部２６に記憶されている画像欠陥の情報ＦＤを読み出して欠陥の位置を判別し、この判別された画像欠陥の画像データの補正を行う。ここで、画像欠陥の位置を示す情報として画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶されているときには、記憶されたアドレスを順次読み出すことで画像欠陥の位置が判別される。またマップ形式で画像欠陥の位置を示す情報が欠陥情報メモリ部２６に記憶されているときには、メモリ領域内のデータ値が所定のデータ値であるか否かを順次検出することにより画像欠陥であるか否かを判別することができる。   The defect correction unit 28 reads the image defect information FD stored in the defect information memory unit 26 to determine the position of the defect, and corrects the image data of the determined image defect. Here, when the address of the pixel causing the image defect is stored as information indicating the position of the image defect, the position of the image defect is determined by sequentially reading the stored address. Further, when information indicating the position of the image defect in the map format is stored in the defect information memory unit 26, it is an image defect by sequentially detecting whether or not the data value in the memory area is a predetermined data value. It can be determined whether or not.

この欠陥補正部２８で画像欠陥の位置が判別されると、画像欠陥を生ずる画素の周囲の正常画素の画像データを画像メモリ部２０から読み出し、この読み出した画像データを用いて補正を行う。補正方法の一例として、正常画素の画像データの平均レベルを欠陥画素の画像データとする、というものがある。図９Ａに示すように、画像欠陥を生ずる画素Ｐ(s,t)の周囲が正常画素であるときには、画素Ｐ(s,t)の上下方向と左右方向に隣接する４画素、あるいは斜線で示す斜め方向に隣接する画素を含めた８画素、またはハッチングで示す部分を含めた２４画素の画像データの平均レベルが算出されて、この平均レベルが補正後の画素Ｐ(s,t)の画像データとされる。   When the position of the image defect is determined by the defect correction unit 28, the image data of the normal pixels around the pixel causing the image defect is read from the image memory unit 20, and correction is performed using the read image data. As an example of the correction method, there is a method in which an average level of image data of normal pixels is used as image data of defective pixels. As shown in FIG. 9A, when the periphery of the pixel P (s, t) causing the image defect is a normal pixel, four pixels adjacent to the pixel P (s, t) in the vertical direction and the horizontal direction are indicated by diagonal lines. An average level of image data of 8 pixels including pixels adjacent in the oblique direction or 24 pixels including a portion indicated by hatching is calculated, and this average level is the image data of the corrected pixel P (s, t). It is said.

また、画像欠陥を補正する場合には、画素Ｐ(s,t)からの距離によって画像データの重み付けを行うものとし、重み付けがなされた画像データの平均レベルを補正後の画像データとすることもできる。例えば図９Ｂに示すように、画素Ｐ(s,t)の中心から上下左右の画素の中心までの距離を「１」としたとき斜めの画素の中心までの距離が「√２」であることから、斜めの画素の画像データを（１／√２）倍して重み付けを行い、重み付けがなされた画像データの平均レベルが補正後の画像データとされる。   When correcting an image defect, the image data is weighted according to the distance from the pixel P (s, t), and the average level of the weighted image data may be used as the corrected image data. it can. For example, as shown in FIG. 9B, when the distance from the center of the pixel P (s, t) to the center of the upper, lower, left, and right pixels is “1”, the distance to the center of the diagonal pixel is “√2”. Thus, the image data of the diagonal pixels is multiplied by (1 / √2) and weighted, and the average level of the weighted image data is used as the corrected image data.

なお、欠陥補正部２８は、周囲の画像データの平均レベルを補正後の画像データとして用いるものに限られるものではなく、例えば『「Restoring Spline Interpolation of CT Images」IEEE TRANSACTION ON MEDICAL IMAGING VOL.MI-2,NO3 SEPTEMBER 1983 、「Cubic Convolution for Digital Image Processing IEEE TRANSACTION ON ACOUSTICS AND SIGNAL PROCESSING VOL.ASSP-29」』に記載されているニアレスト・ネイバー補間、ベルースプライン補間、リニア補間、キュービック・コンボリュージョン補間等によって得られた画像データを補正後の画像データとして用いるものとしてもよい。   The defect correction unit 28 is not limited to the one that uses the average level of surrounding image data as corrected image data. For example, “Restoring Spline Interpolation of CT Images” IEEE TRANSACTION ON MEDICAL IMAGING VOL. 2, NO3 SEPTEMBER 1983, `` Cubic Convolution for Digital Image Processing IEEE TRANSACTION ON ACOUSTICS AND SIGNAL PROCESSING VOL.ASSP-29 '' '' The image data obtained by the above may be used as corrected image data.

このようにして得られた補正後の画像データは、画像メモリ部２０に供給されて画像欠陥の位置と対応する画像メモリ部２０の位置に書き込まれるか、または補正した画像データを用い、新たに１つの画像データを作成し画像メモリ部２０に書き込むようにする。   The corrected image data obtained in this way is supplied to the image memory unit 20 and written in the position of the image memory unit 20 corresponding to the position of the image defect, or newly corrected using the corrected image data. One image data is created and written into the image memory unit 20.

次に放射線画像処理装置の動作について説明する。撮像パネル１１を用いて放射線画像の撮影する場合、画像メモリ部２０に放射線未照射画像データＳＤＡや放射線一様照射画像データＳＤＢあるいは放射線被写体照射画像データＳＤＣを画像メモリ部２０に書き込み、この画像メモリ部２０に書き込まれている画像データを用いて、欠陥検出部２４で画像欠陥の検出を行う。   Next, the operation of the radiation image processing apparatus will be described. When radiographic images are captured using the imaging panel 11, non-radiation irradiated image data SDA, radiation uniform irradiation image data SDB, or radiation subject irradiation image data SDC are written in the image memory unit 20 in the image memory unit 20. The defect detection unit 24 detects an image defect using the image data written in the unit 20.

この画像欠陥の検出では、放射線未照射画像データＳＤＡや放射線一様照射画像データＳＤＢあるいは放射線被写体照射画像データＳＤＣのいずれか１種類の画像データを用いて画像欠陥の検出を行っても良く、また複数種類の画像データを用いて画像欠陥の検出を行っても良い。さらに、画像データとして放射線未照射画像データＳＤＡ、放射線一様照射画像データＳＤＢのいずれか１つあるいは両方の画像データを用いることが望ましい。また、上述の第１〜第３の画像欠陥の検出方法のいずれか１つの方法あるいは複数の検出方法を用いて画像欠陥の検出を行っても良いことは勿論である。この欠陥検出部２４で画像欠陥が検出されたときには、この画像欠陥の位置を示す情報ＦＤが欠陥情報メモリ部２６に記憶される。   In the detection of the image defect, the image defect may be detected using any one of the image data of the radiation non-irradiated image data SDA, the radiation uniform irradiation image data SDB, or the radiation subject irradiation image data SDC. Image defects may be detected using a plurality of types of image data. Furthermore, it is desirable to use any one or both of image data of non-radiation image data SDA and uniform radiation image data SDB as image data. Needless to say, the image defect may be detected by using any one or a plurality of detection methods of the first to third image defect detection methods described above. When the defect detection unit 24 detects an image defect, information FD indicating the position of the image defect is stored in the defect information memory unit 26.

欠陥情報メモリ部２６に画像欠陥の位置を示す情報ＦＤが記憶されているときに、画像メモリ部２０に放射線被写体照射画像データＳＤＣが書き込まれると、欠陥情報メモリ部２６に記憶された画像欠陥の位置を示す情報ＦＤに基づき画像メモリ部２０に書き込まれている放射線被写体照射画像データＳＤＣを用いて平均レベル等を算出することにより補正後の画像データが生成される。この生成された画像データが画像欠陥の位置と対応する画像メモリ部２０の位置に書き込まれるか、または補正した画像データを用い、新たに１画面分の画像データを作成し画像メモリ部２０に書き込み画像欠陥の補正が行われる。この補正処理された１画面分の画像データが画像メモリ部２０から読み出されて出力されることにより、画像欠陥が補正された良好な放射線画像を速やかに得ることができる。   When the radiation object irradiation image data SDC is written in the image memory unit 20 when the information FD indicating the position of the image defect is stored in the defect information memory unit 26, the image defect stored in the defect information memory unit 26 is stored. Image data after correction is generated by calculating an average level or the like using radiation subject irradiation image data SDC written in the image memory unit 20 based on the information FD indicating the position. The generated image data is written in the position of the image memory unit 20 corresponding to the position of the image defect, or the image data for one screen is newly created and written in the image memory unit 20 using the corrected image data. Image defect correction is performed. The image data for one screen subjected to the correction processing is read from the image memory unit 20 and output, so that a good radiation image in which the image defect is corrected can be quickly obtained.

また、所定期間経過毎に、あるいは放射線画像の撮影が所定回数行われる毎に欠陥検出部２４で画像欠陥の検出を行うものとすれば、欠陥画素が増加した場合であって良好な放射線画像を速やかに得ることができる。   Further, if the defect detection unit 24 detects an image defect every time a predetermined period elapses or every time a radiographic image is taken, a good radiographic image can be obtained even when the number of defective pixels increases. It can be obtained quickly.

なお、画像欠陥の検出および画像欠陥の補正は、画像データ生成部１６から画像メモリ部２０に書き込まれた画像データを用いて行われる場合に限られるものではなく、既に撮影された画像データを画像メモリ部２０に書き込むものとすれば、上述したように画像欠陥の検出および画像欠陥の補正を行うことで、既に撮影された画像データからも良好な放射線画像を得ることができる。   Note that the detection of image defects and the correction of image defects are not limited to the case where the image data written from the image data generation unit 16 to the image memory unit 20 is used. Assuming that data is written in the memory unit 20, a good radiation image can be obtained from already captured image data by detecting an image defect and correcting the image defect as described above.

さらに、上述の実施の形態では、欠陥検出部２４で自動的に画像欠陥の検出を行い、検出された画像欠陥の位置を示す情報ＦＤを欠陥情報メモリ部２６に記憶するものとしたが、図示しない画像表示装置の画面上に撮影画像を表示させて、ユーザが表示された撮影画像から画像欠陥を検出したときには、この検出された画像欠陥の位置を情報ＦＤとして欠陥情報メモリ部２６に書き込むことができるようにしてもよい。この場合、欠陥検出部２４で検出することができない画像欠陥が生じていても画像欠陥の補正を行うことができるので、更に良好な放射線画像を得ることができる。   Furthermore, in the above-described embodiment, the defect detection unit 24 automatically detects the image defect, and the information FD indicating the position of the detected image defect is stored in the defect information memory unit 26. When the captured image is displayed on the screen of the image display device that is not to be displayed and the user detects an image defect from the displayed captured image, the position of the detected image defect is written in the defect information memory unit 26 as information FD. You may be able to. In this case, since an image defect can be corrected even if an image defect that cannot be detected by the defect detection unit 24 occurs, a better radiation image can be obtained.

なお、上述の実施の形態では、撮像パネル１１の領域を複数のブロックに区分して、それぞれブロックから並列して電気信号ＳＶを出力するものとしたが、撮像パネル１１は領域が複数のブロックに区分されたものに限られるものでないことは勿論である。   In the above-described embodiment, the area of the imaging panel 11 is divided into a plurality of blocks, and the electric signal SV is output in parallel from each block. However, the imaging panel 11 is divided into a plurality of blocks. Of course, it is not limited to what was divided.

この発明に係る放射線画像処理装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the radiographic image processing apparatus which concerns on this invention. ブロックＡＲ-(0,0)を示す図である。It is a figure which shows block AR- (0,0). 第１の欠陥画素検出方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 1st defective pixel detection method. しきい値の設定方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the setting method of a threshold value. 第２の欠陥画素検出方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 2nd defective pixel detection method. ブロックＡＲ-(0,0)を示す図である。It is a figure which shows block AR- (0,0). 照射野出力部の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of an irradiation field output part. 照射野認識装置の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation | movement of an irradiation field recognition apparatus. 輪郭候補点の他の接続方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the other connection method of an outline candidate point.

符号の説明Explanation of symbols

１１ 撮像パネル
１４ 走査駆動部
１６ 画像データ生成部
２０ 画像メモリ部
２４ 欠陥検出部
２６ 欠陥情報メモリ部
２８ 欠陥補正部
４０ 制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Imaging panel 14 Scan drive part 16 Image data generation part 20 Image memory part 24 Defect detection part 26 Defect information memory part 28 Defect correction part 40 Control part

Claims (8)

２次元的に配列された複数の放射線検出素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号を得るものとし、前記出力信号に基づいて作成された第１の画像データから画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成し、被写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データでの前記欠陥情報で示された画像欠陥の画像データを補正する放射線画像処理方法であって、
前記第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、該算出されたデータレベルの平均値を予め設定されたしきい値と比較することにより、ライン状の画像欠陥を検出する
ことを特徴とする放射線画像処理方法。 An output signal having each radiation detection element as one pixel is obtained from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and an image defect is detected from first image data created based on the output signal. The image defect indicated by the defect information in the second image data generated by generating defect information indicating the position of the detected image defect and irradiating the plurality of radiation detection elements with radiation transmitted through the subject A radiation image processing method for correcting the image data of
In detecting an image defect from the first image data, the image data for a plurality of lines adjacent in the vertical direction or the horizontal direction is read as the first image data, and the average value of the data levels in the direction orthogonal to the reading direction is calculated. A radiation image processing method for detecting a line-shaped image defect by calculating and comparing the calculated average value of data levels with a preset threshold value. ２次元的に配列された複数の放射線検出素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号を得るものとし、前記出力信号に基づいて作成された第１の画像データから画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成し、被写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データでの前記欠陥情報で示された画像欠陥の画像データを補正する放射線画像処理方法であって、
前記第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を検出する
ことを特徴とする放射線画像処理方法。 An output signal having each radiation detection element as one pixel is obtained from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and an image defect is detected from first image data created based on the output signal. The image defect indicated by the defect information in the second image data generated by generating defect information indicating the position of the detected image defect and irradiating the plurality of radiation detection elements with radiation transmitted through the subject A radiation image processing method for correcting the image data of
In detecting an image defect from the first image data, the image data for a plurality of lines adjacent in the vertical direction or the horizontal direction is read as the first image data, and the average value of the data levels in the direction orthogonal to the reading direction is calculated. A radiation image processing method characterized by calculating and detecting a line-shaped image defect. 前記第１の画像データとして更に画素毎の画像データを用いる
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の放射線画像処理方法。 The radiographic image processing method according to claim 1, wherein image data for each pixel is further used as the first image data. 前記第１の画像データは、トレンド除去した後の画像データである
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の放射線画像処理方法。 The radiographic image processing method according to claim 1, wherein the first image data is image data after trend removal. ２次元的に配列された複数の放射線検出素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号に基づいて作成された第１の画像データから画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記憶する欠陥情報記憶手段と、前記欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データの画像欠陥を補正する欠陥補正手段とを有する放射線画像処理装置であって、
前記第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして少なくとも縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、該算出されたデータレベルの平均値を予め設定されたしきい値と比較することにより、ライン状の画像欠陥を検出する
ことを特徴とする放射線画像処理装置。 An image defect is detected from first image data created based on an output signal in which each radiation detection element is one pixel from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and the position of the detected image defect A defect detection unit that generates defect information indicating the defect information, a defect information storage unit that stores the defect information generated by the defect detection unit, and radiation transmitted through the subject based on the defect information stored in the defect information storage unit A radiation image processing apparatus having defect correction means for correcting image defects of second image data created by irradiating the plurality of radiation detection elements;
When detecting an image defect from the first image data, at least a plurality of lines of image data adjacent in the vertical direction or the horizontal direction are read as the first image data, and the average value of the data levels in the direction orthogonal to the reading direction A radiation image processing apparatus characterized by detecting a line-shaped image defect by comparing the calculated average value of the data levels with a preset threshold value. ２次元的に配列された複数の放射線検出素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号に基づいて作成された第１の画像データから画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記憶する欠陥情報記憶手段と、前記欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データの画像欠陥を補正する欠陥補正手段とを有する放射線画像処理装置であって、
前記第１の画像データから画像欠陥を検出するにあたって、第１の画像データとして少なくとも縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を検出する
ことを特徴とする放射線画像処理装置。 An image defect is detected from first image data created based on an output signal in which each radiation detection element is one pixel from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and the position of the detected image defect Defect detection means for generating defect information indicating the defect information storage means for storing defect information generated by the defect detection means, and radiation transmitted through the subject based on the defect information stored in the defect information storage means A radiation image processing apparatus having defect correction means for correcting image defects of second image data created by irradiating the plurality of radiation detection elements;
When detecting an image defect from the first image data, at least a plurality of lines of image data adjacent in the vertical direction or the horizontal direction are read as the first image data, and the average value of the data levels in the direction orthogonal to the reading direction A radiation image processing apparatus characterized by calculating a line-like image defect. 前記欠陥検出手段では、前記第１の画像データとして更に画素毎の画像データを用いる
ことを特徴とする請求項５または請求項６に記載の放射線画像処理装置。 The radiographic image processing apparatus according to claim 5, wherein the defect detection unit further uses image data for each pixel as the first image data. 前記欠陥検出手段では、前記第１の画像データとして、トレンド除去した後の画像データを用いる
ことを特徴とする請求項５乃至請求項７のいずれかに記載の放射線画像処理装置。
The radiographic image processing apparatus according to claim 5, wherein the defect detection unit uses image data after trend removal as the first image data.
JP2005128339A 2005-04-26 2005-04-26 Radiation image processing method and radiation image processing apparatus Expired - Lifetime JP4059257B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005128339A JP4059257B2 (en) 2005-04-26 2005-04-26 Radiation image processing method and radiation image processing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005128339A JP4059257B2 (en) 2005-04-26 2005-04-26 Radiation image processing method and radiation image processing apparatus

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25144598A Division JP3719010B2 (en) 1998-09-04 1998-09-04 Radiation image processing method and radiation image processing apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005324015A true JP2005324015A (en) 2005-11-24
JP4059257B2 JP4059257B2 (en) 2008-03-12

Family

ID=35470811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005128339A Expired - Lifetime JP4059257B2 (en) 2005-04-26 2005-04-26 Radiation image processing method and radiation image processing apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4059257B2 (en)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008252564A (en) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp Image processing device, method, and program
JP2009153942A (en) * 2007-12-28 2009-07-16 Shimadzu Corp Detection method of line-shape abnormal image element of radiation detector and radiographic equipment
JP2010074644A (en) * 2008-09-19 2010-04-02 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Abnormal pixel determination method, defective pixel determination method based on abnormal pixel determination, radiograph detector, abnormal pixel determination system and defective pixel determination system
US7986769B2 (en) 2008-10-15 2011-07-26 Fujifilm Corporation Radiographic image detection apparatus and method for controlling the apparatus
JP2013512035A (en) * 2009-11-25 2013-04-11 イメージング・サイエンシィズ・インターナショナル・エルエルシー Marker identification and processing in X-ray images
JP2013200901A (en) * 2013-07-08 2013-10-03 Canon Inc Information processing apparatus, method for controlling information processing apparatus, and program
US9082182B2 (en) 2009-11-25 2015-07-14 Dental Imaging Technologies Corporation Extracting patient motion vectors from marker positions in x-ray images
US9082177B2 (en) 2009-11-25 2015-07-14 Dental Imaging Technologies Corporation Method for tracking X-ray markers in serial CT projection images
US9082036B2 (en) 2009-11-25 2015-07-14 Dental Imaging Technologies Corporation Method for accurate sub-pixel localization of markers on X-ray images
US9826942B2 (en) 2009-11-25 2017-11-28 Dental Imaging Technologies Corporation Correcting and reconstructing x-ray images using patient motion vectors extracted from marker positions in x-ray images
WO2018198916A1 (en) * 2017-04-24 2018-11-01 日本電気株式会社 Image processing device, image processing method and storage medium
JP2019074423A (en) * 2017-10-17 2019-05-16 株式会社リガク Processing device, method, and program
JP7150558B2 (en) 2018-10-22 2022-10-11 富士フイルムヘルスケア株式会社 Radiation image processing system, image processing method, and program

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008252564A (en) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp Image processing device, method, and program
JP2009153942A (en) * 2007-12-28 2009-07-16 Shimadzu Corp Detection method of line-shape abnormal image element of radiation detector and radiographic equipment
JP2010074644A (en) * 2008-09-19 2010-04-02 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Abnormal pixel determination method, defective pixel determination method based on abnormal pixel determination, radiograph detector, abnormal pixel determination system and defective pixel determination system
US7986769B2 (en) 2008-10-15 2011-07-26 Fujifilm Corporation Radiographic image detection apparatus and method for controlling the apparatus
US9082182B2 (en) 2009-11-25 2015-07-14 Dental Imaging Technologies Corporation Extracting patient motion vectors from marker positions in x-ray images
JP2013512035A (en) * 2009-11-25 2013-04-11 イメージング・サイエンシィズ・インターナショナル・エルエルシー Marker identification and processing in X-ray images
US9082177B2 (en) 2009-11-25 2015-07-14 Dental Imaging Technologies Corporation Method for tracking X-ray markers in serial CT projection images
US9082036B2 (en) 2009-11-25 2015-07-14 Dental Imaging Technologies Corporation Method for accurate sub-pixel localization of markers on X-ray images
US9826942B2 (en) 2009-11-25 2017-11-28 Dental Imaging Technologies Corporation Correcting and reconstructing x-ray images using patient motion vectors extracted from marker positions in x-ray images
JP2013200901A (en) * 2013-07-08 2013-10-03 Canon Inc Information processing apparatus, method for controlling information processing apparatus, and program
WO2018198916A1 (en) * 2017-04-24 2018-11-01 日本電気株式会社 Image processing device, image processing method and storage medium
JPWO2018198916A1 (en) * 2017-04-24 2020-02-27 日本電気株式会社 Image processing apparatus, image processing method, and storage medium
US11039096B2 (en) 2017-04-24 2021-06-15 Nec Corporation Image processing device, image processing method and storage medium
JP2019074423A (en) * 2017-10-17 2019-05-16 株式会社リガク Processing device, method, and program
JP7150558B2 (en) 2018-10-22 2022-10-11 富士フイルムヘルスケア株式会社 Radiation image processing system, image processing method, and program

Also Published As

Publication number Publication date
JP4059257B2 (en) 2008-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4059257B2 (en) Radiation image processing method and radiation image processing apparatus
US6529618B1 (en) Radiation image processing apparatus
US9649086B2 (en) Radiation image capture device and radiation image capture system
JP2008018047A (en) Defective area correction apparatus, method and program, and radiation detector
US4564861A (en) Subtraction processing method and apparatus for radiation images
US6415049B1 (en) Apparatus for detecting and processing a radiation image
JP2003299641A (en) Method for identifying and correcting pixel having excess pixel lag in semiconductor x-ray detector
JP2004521721A (en) Method and apparatus for identifying and correcting line artifacts in solid state x-ray detectors
JP3832109B2 (en) Radiation image processing device
JP5199735B2 (en) Radiation image data correction method and apparatus, and radiation image photographing apparatus
JP3700419B2 (en) Radiation image processing device
US20110216959A1 (en) Shading correction device, method and program
JP3719010B2 (en) Radiation image processing method and radiation image processing apparatus
JP2006223891A (en) Radiation image processor
US4683377A (en) Subtraction processing method and apparatus for radiation images
JP2006304849A (en) Radiation image information detection method and radiation image information detector
US8452069B2 (en) Method of eliminating effect of afterglow on radiation image read out of photostimulable phosphor screen
JP2000134539A (en) Radiation image processor and radiation image generating method
JP2001061823A (en) Method and device for processing radiographic image
JP2005028114A (en) Radiation photographing apparatus and radiation photographing method
JP2000030046A (en) Radiation image detecting and processing apparatus
WO2013039054A1 (en) Image processing device
US7262426B2 (en) Method, apparatus and program for image data correction
JP2002072386A (en) Radiation image photographic device and radiation image reader as well as radiation image information recording medium
JP2008131981A (en) Method and apparatus for evaluating and operating image quality and program

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060511

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071127

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071210

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101228

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111228

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121228

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131228

Year of fee payment: 6

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term