JP2005266782A - Anti reflection film, polarizer using it, picture display device using them, and manufacturing method of anti reflection film - Google Patents

Anti reflection film, polarizer using it, picture display device using them, and manufacturing method of anti reflection film Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an anti reflection film whose reflectivity is low and excellent in anti-scratching property, antifouling property and durability, and to provide a polarizer and a picture display device using the anti reflection film. <P>SOLUTION: In an anti reflection film containing a low refractive index layer formed by applying at least a component for forming the low refractive index layer on a transparent support, the component for forming the low refractive index layer contains at least either of the hydrolyzate of organic Cyril compound shown by the following general formula (1) and its partial condensate, and the center line surface roughness Ra of the outermost surface of the anti-reflection film is 0.005 to 0.30 μm. In general formula (1):R<SP>11</SP><SB>m</SB>Si(X<SP>11</SP>)<SB>n</SB>, X<SP>11</SP>expresses -OH, halogen atom, -OR<SP>12</SP>group or -OCOR<SP>12</SP>. R<SP>11</SP>expresses an alkyl group, an alkenyl group or an aryl group, R<SP>12</SP>expresses an alkyl group. m+n is 4, and m and n are respectively positive integers. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、反射率が低く、耐擦傷性・防汚性・耐久性に優れた反射防止フィルム、それを用いた偏光板、並びにそれらを用いた画像表示装置に関する。更には、ギラツキが抑えられ視野角が拡大された反射防止フィルム、それを用いた偏光板、並びにそれらを用いた画像表示装置に関する。   The present invention relates to an antireflection film having a low reflectance and excellent scratch resistance, antifouling properties and durability, a polarizing plate using the same, and an image display device using them. Furthermore, the present invention relates to an antireflection film with reduced glare and an increased viewing angle, a polarizing plate using the same, and an image display device using them.

反射防止フィルムは、一般に陰極管表示装置(CRT)、プラズマディスプレイ(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や液晶表示装置(LCD)のような画像表示装置において、外光の反射によるコントラスト低下や像の写りこみを防止するために、光学干渉の原理を用いて反射率を低減する目的で使用される。またギラツキの少ない表示性能を得るために、表面を凹凸にして反射光を散乱させる防眩層を付与したり、またバインダーと屈折率の異なる粒子を導入することで画像表示装置内部からの光を拡散させて視野角の向上を計るなどの検討がなされている。   In general, an antireflection film is used for an image display device such as a cathode ray tube display (CRT), a plasma display (PDP), an electroluminescence display (ELD), and a liquid crystal display (LCD). Is used for the purpose of reducing reflectivity using the principle of optical interference. In addition, in order to obtain display performance with less glare, an anti-glare layer that scatters the reflected light with an uneven surface is introduced, or light from the inside of the image display device is introduced by introducing particles having a refractive index different from that of the binder. Consideration has been made to improve the viewing angle by diffusing.

画像表示装置は様々な環境で長期間に渡り使用されるため、耐久性が求められる。特に、光学干渉を用いて反射率を低下させている場合には、光学干渉層が劣化することにより反射率の抑制効果が失われる。また光学薄膜が不均一に劣化するとムラの発生が起こり目立ち易い欠陥となる。さらに反射防止フィルムは最表面に用いられることから、画像表示装置の保護膜としての機能が期待され、汚れやほこりが付着しにくいことや、耐擦傷性が強いことが求められる。   Since the image display device is used for a long period of time in various environments, durability is required. In particular, when the reflectance is lowered using optical interference, the effect of suppressing the reflectance is lost due to deterioration of the optical interference layer. Further, when the optical thin film deteriorates unevenly, unevenness occurs and becomes a conspicuous defect. Furthermore, since the antireflection film is used on the outermost surface, it is expected to have a function as a protective film of an image display device, and it is required that dirt and dust are difficult to adhere and that scratch resistance is strong.

耐擦傷性の高い保護膜として、アルコキシシランの加水分解縮合物のゾルゲル膜を用いることが知られている。例えば特許文献1にはゾルゲル膜を用いた3層光干渉型の反射防止フィルム、特許文献2にはプラスチック基板上にゾルゲル膜を塗設して反射率を低下させる方法、特許文献3にはアルコキシシランと低屈折率無機微粒子を含有するゾルゲル膜、特許文献4には含エチレン性不飽和基含有有機シリル化合物のゾルゲル膜、特許文献5にはゾルゲル膜と防汚層とを組み合わせること、特許文献6にはフッ素含オルガノシランからなる低屈折率コーティング剤、の記載がある。   As a protective film having high scratch resistance, it is known to use a sol-gel film of a hydrolytic condensate of alkoxysilane. For example, Patent Document 1 discloses a three-layer optical interference type antireflection film using a sol-gel film, Patent Document 2 discloses a method of reducing the reflectance by applying a sol-gel film on a plastic substrate, and Patent Document 3 discloses an alkoxy film. Sol-gel film containing silane and low refractive index inorganic fine particles, Patent Document 4 is a sol-gel film of an ethylenically unsaturated group-containing organic silyl compound, Patent Document 5 is a combination of a sol-gel film and an antifouling layer, Patent Document 6 describes a low refractive index coating agent comprising a fluorine-containing organosilane.

しかしながら、一般にゾルゲル膜は、初期強度は強いものの、膜が脆く、汚れがつきやすいという欠点があった。また、特に高湿度下や温度変化の激しい保存条件や含オゾン大気下での耐久性の点で不十分であり、改良が求められていた。また、フッ素系の有機シリル化合物を併用すると防汚性は改良されるものの膜強度が低下したり、帯電性が大きくなってほこりの付着が増加してしまったりするなどの問題を有していた。
特開平10−728号公報 特開昭63−21601号公報 特開平8−211202号公報 特開2002−275403号公報 特開2002−277604号公報 特開2002−265866号公報
However, in general, although the sol-gel film has a high initial strength, it has a drawback that the film is fragile and easily soiled. In particular, it is insufficient in terms of storage conditions under high humidity, severe temperature changes, and durability under an ozone-containing atmosphere, and improvement has been demanded. In addition, when combined with a fluorine-based organic silyl compound, the antifouling property is improved, but the film strength is lowered, or the charging property is increased and the adhesion of dust is increased. .
JP-A-10-728 Japanese Patent Laid-Open No. 63-21601 JP-A-8-211202 JP 2002-275403 A JP 2002-277604 A JP 2002-265866 A

以上述べたように、従来提案されている反射防止フィルムは、反射率の低い優れた表示性能と、耐擦傷性、防汚性や耐久性との両立の点で不十分であり、それらの両者を十分に
満足させることができる反射防止フィルムの開発が要望されている。
As described above, the conventionally proposed antireflection films are insufficient in terms of both excellent display performance with low reflectivity and scratch resistance, antifouling properties and durability. Development of an antireflection film capable of satisfying the above has been demanded.

本発明の目的は、反射率が低く、耐擦傷性・防汚性・耐久性に優れた反射防止フィルムを提供することにある。更には、ギラツキが抑えられ視野角が拡大された反射防止フィルムを提供することにある。また、そのような反射防止フィルムを用いた偏光板、並びにそれらを用いた画像表示装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an antireflection film having a low reflectance and excellent scratch resistance, antifouling properties and durability. Furthermore, it is providing the antireflection film with which the glare was suppressed and the viewing angle was expanded. Moreover, it is providing the polarizing plate using such an antireflection film, and an image display apparatus using them.

本発明者らは、鋭意検討の結果、特定の有機シリル化合物の加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかを用いて低屈折率層を構成し、更に、その際の最表面の中心線表面粗さを特定の範囲に制御することで、上記目的を達成しうることを知見した。
すなわち、本発明は、以下の構成により上記目的を達成したものである。
As a result of intensive studies, the inventors of the present invention constituted a low refractive index layer using at least one of a hydrolyzate of a specific organic silyl compound and a partial condensate thereof, and the center line of the outermost surface at that time. It has been found that the above object can be achieved by controlling the surface roughness within a specific range.
That is, the present invention achieves the above object by the following configuration.

(1)透明支持体上に少なくとも低屈折率層形成用組成物の塗設により形成された低屈折率層を含む反射防止層が設けられた反射防止フィルムにおいて、該低屈折率層形成用組成物が、下記一般式(1)で示される有機シリル化合物の加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかを含有し、且つ反射防止フィルムの最表面の中心線表面粗さRaが0.005〜0.30μmであることを特徴とする反射防止フィルム。
一般式(1):R11 mSi(X11n
(式中、X11は−OH、ハロゲン原子、−OR12基、又は−OCOR12基を表す。R11はアルキル基、アルケニル基又はアリール基を表し、R12はアルキル基を表す。m+nは4であり、m及びnはそれぞれ正の整数である。)
(1) In an antireflection film provided with an antireflection layer including a low refractive index layer formed by coating at least a composition for forming a low refractive index layer on a transparent support, the composition for forming a low refractive index layer The product contains at least one of a hydrolyzate of an organic silyl compound represented by the following general formula (1) and a partial condensate thereof, and the centerline surface roughness Ra of the outermost surface of the antireflection film is 0.005. An antireflection film having a thickness of ˜0.30 μm.
General formula (1): R 11 m Si (X 11 ) n
(In the formula, X 11 represents —OH, a halogen atom, —OR 12 group, or —OCOR 12 group. R 11 represents an alkyl group, an alkenyl group, or an aryl group, and R 12 represents an alkyl group. M + n represents 4 and m and n are each a positive integer.)

(2)低屈折率層が、平均粒径が該低屈折率層の厚みの30%以上120%以下で且つ中空構造からなる、屈折率が1.17〜1.40の無機微粒子を含有する上記(1)に記載の反射防止フィルム。
(3)最表面の表面自由エネルギーが26mJ/m2以下である上記(1)又は(2)に記載の反射防止フィルム。
(2) The low refractive index layer contains inorganic fine particles having an average particle size of 30% to 120% of the thickness of the low refractive index layer and having a hollow structure and a refractive index of 1.17 to 1.40. The antireflection film according to (1) above.
(3) The antireflection film as described in (1) or (2) above, wherein the surface free energy on the outermost surface is 26 mJ / m 2 or less.

(4)反射防止フィルムが、更に、ハードコート層を具備する多層構造フィルムであり、反射防止層の構成層の少なくとも1層が、平均粒子径0.1〜5μmの透光性粒子を少なくとも1種、透光性樹脂に分散してなる光拡散層であり、該透光性粒子と該透光性樹脂との屈折率の差が0.02〜0.2であり、該透光性粒子が光拡散層全固形分中に3〜30質量%含有されている上記(1)〜(3)に記載の反射防止フィルム。 (4) The antireflection film is a multilayer structure film further comprising a hard coat layer, and at least one of the constituent layers of the antireflection layer contains at least one translucent particle having an average particle diameter of 0.1 to 5 μm. A light diffusing layer dispersed in a seed, a translucent resin, and the difference in refractive index between the translucent particle and the translucent resin is 0.02 to 0.2, and the translucent particle Is an antireflection film as described in (1) to (3) above, wherein 3 to 30% by mass is contained in the total solid content of the light diffusion layer.

(5)反射防止フィルムが、更に、導電材料を有する透明帯電防止層を有し、該反射防止フィルムの表面抵抗値logSRが12以下である上記(1)〜(4)に記載の反射防止フィルム。
(6)ハードコート層が、前記一般式(1)で示される有機シリル化合物、その加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかを含有するハードコート層形成用組成物を塗設して形成された上記(4)に記載の反射防止フィルム。
(5) The antireflection film according to any one of (1) to (4), wherein the antireflection film further comprises a transparent antistatic layer having a conductive material, and the surface resistance value logSR of the antireflection film is 12 or less. .
(6) The hard coat layer is formed by coating a composition for forming a hard coat layer containing at least one of the organic silyl compound represented by the general formula (1), a hydrolyzate thereof, and a partial condensate thereof. The antireflection film as described in (4) above.

(7)ハードコート層形成用組成物が、多官能のイソシアネート化合物を含有する上記(4)又は(6)に記載の反射防止フィルム。
(8)ハードコート層の中心線表面粗さRaが0.005〜0.20μmである上記(4)、(6)又は(7)に記載の反射防止フィルム。
(7) The antireflection film as described in (4) or (6) above, wherein the composition for forming a hard coat layer contains a polyfunctional isocyanate compound.
(8) The antireflection film as described in (4), (6) or (7) above, wherein the center line surface roughness Ra of the hard coat layer is 0.005 to 0.20 μm.

(9)反射防止フィルムの構成層のうち少なくとも1層がチキソトロピー剤を含有する上記(1)〜(8)のいずれかに記載の反射防止フィルム。
(10)低屈折率層の上層に防汚層を有する上記(1)〜(9)に記載の反射防止フィル
ム。
(11)低屈折率層がアルカリ処理された面に設けられている上記(1)〜(9)に記載の反射防止フィルム。
(9) The antireflection film according to any one of (1) to (8), wherein at least one of the constituent layers of the antireflection film contains a thixotropic agent.
(10) The antireflection film as described in (1) to (9) above, which has an antifouling layer on the upper layer of the low refractive index layer.
(11) The antireflection film as described in (1) to (9) above, wherein the low refractive index layer is provided on the surface treated with alkali.

(12)10ppmのオゾンに192時間暴露後の反射防止フィルム表面の水綿棒擦り試験での限界荷重が400g以上であることを特徴とする上記(1)〜(11)の何れかに記載の反射防止フィルム。 (12) The reflection according to any one of (1) to (11) above, wherein a limit load in a water swab rubbing test on the surface of the antireflection film after exposure to 10 ppm ozone for 192 hours is 400 g or more. Prevention film.

(13)上記(1)〜(11)のいずれか1項に記載の反射防止フィルムを有することを特徴とする偏光板。
(14)偏光板を構成する少なくとも1つのフィルムのReレターデーション値が、20以上70nm以下であり、且つRthレターデーション値が70以上400nm以下である上記(13)に記載の偏光板。
(13) A polarizing plate comprising the antireflection film according to any one of (1) to (11) above.
(14) The polarizing plate according to (13), wherein the Re retardation value of at least one film constituting the polarizing plate is 20 to 70 nm and the Rth retardation value is 70 to 400 nm.

(15)10ppmのオゾンに192時間暴露後の反射防止フィルム表面の水綿棒擦り試験での限界荷重が400g以上であることを特徴とする上記(13)又は(14)に記載の偏光板。 (15) The polarizing plate as described in (13) or (14) above, wherein a limit load in a water swab rubbing test on the surface of the antireflection film after exposure to 10 ppm ozone for 192 hours is 400 g or more.

(16)上記(1)〜(12)のいずれか1項に記載の反射防止フィルム、又は上記(13)〜(15)のいずれかに記載の偏光板を有することを特徴とする表示装置。 (16) A display device comprising the antireflection film according to any one of (1) to (12) above or the polarizing plate according to any one of (13) to (15) above.

(17)10ppmのオゾンに192時間暴露後の反射防止フィルム表面の水綿棒擦り試験での限界荷重が400g以上であることを特徴とする上記(16)に記載の表示装置。 (17) The display device according to (16) above, wherein a limit load in a water swab rubbing test on the surface of the antireflection film after exposure to 10 ppm ozone for 192 hours is 400 g or more.

本発明の反射防止フィルムは、十分な反射防止性を有し、耐擦傷性、防汚性、耐久性に優れている。更に、本発明の反射防止フィルムを備えた画像表示装置及び本発明の反射防止フィルムを用いた偏光板を備えた画像表示装置は、外光や背景の映りこみやギラツキが少なく、かつ視野角が広く、極めて視認性が高い。   The antireflection film of the present invention has sufficient antireflection properties and is excellent in scratch resistance, antifouling properties and durability. Furthermore, the image display device provided with the antireflection film of the present invention and the image display device provided with the polarizing plate using the antireflection film of the present invention have little external light and background reflection and glare, and have a viewing angle. Wide and extremely high visibility.

以下、本発明について更に詳細に説明する。
なお、本願明細書において、特性値、物性値等を表す「(数値A)〜(数値B)」という記載は「(数値A)以上(数値B)以下」の意味を表す。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail.
In the specification of the present application, the description “(numerical value A) to (numerical value B)” representing a characteristic value, a physical property value, etc. means “(numerical value A) or more and (numerical value B) or less”.

本発明の反射防止フィルムは、透明支持体上に少なくとも低屈折率層形成用組成物の塗設により形成された低屈折率層を含む反射防止層が設けられてなるものであり、該低屈折率層形成用組成物が、特定の有機シリル化合物の加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかを含有し、反射防止フィルムの最表面の中心線表面粗さRaが特定範囲であることを特徴とする。
以下、まず、低屈折率層について説明した後、他の層や支持体について説明する。
The antireflective film of the present invention comprises an antireflective layer including a low refractive index layer formed by coating at least a composition for forming a low refractive index layer on a transparent support. The composition for forming the rate layer contains at least one of a hydrolyzate of a specific organic silyl compound and a partial condensate thereof, and the center line surface roughness Ra of the outermost surface of the antireflection film is in a specific range. Features.
Hereinafter, the low refractive index layer will be described first, and then the other layers and the support will be described.

<反射防止フィルム>
〔低屈折率層〕
本発明の反射防止フィルムの反射防止層を構成する上記低屈折率層形成用組成物は、特定の有機シリル化合物の加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかを含有する。
<Antireflection film>
(Low refractive index layer)
The composition for forming a low refractive index layer constituting the antireflection layer of the antireflection film of the present invention contains at least one of a hydrolyzate of a specific organic silyl compound and a partial condensate thereof.

[有機シリル化合物]
本発明における低屈折率層形成用組成物に用いられる特定の有機シリル化合物は、下記
一般式(1)で表される化合物である。
一般式(1):R11 mSi(X11n
(式中、X11は−OH、ハロゲン原子、−OR12基、又は−OCOR12基を表す。R11はアルキル基、アルケニル基又はアリール基を表し、R12はアルキル基を表す。m+nは4であり、m及びnはそれぞれ正の整数である。)
[Organic silyl compounds]
The specific organic silyl compound used in the composition for forming a low refractive index layer in the present invention is a compound represented by the following general formula (1).
General formula (1): R 11 m Si (X 11 ) n
(In the formula, X 11 represents —OH, a halogen atom, —OR 12 group, or —OCOR 12 group. R 11 represents an alkyl group, an alkenyl group, or an aryl group, and R 12 represents an alkyl group. M + n represents 4 and m and n are each a positive integer.)

詳しくは、R11は炭素数1〜10の、置換もしくは無置換のアルキル基(例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、i−プロピル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル基)、炭素数2〜10の、置換もしくは無置換のアルケニル基(例えば、ビニル基、アリル基、2−ブテン−1−イル基)、又は炭素数6〜10の、置換もしくは無置換のアリール基(例えば、フェニル基、ナフチル基)を表し、R12はR11で表されるアルキル基と同じ意味の基を表す。R11又はR12で表される基が置換基を有する場合の好ましい置換基は、ハロゲン(例えば、フッ素、塩素、臭素等)、水酸基、メルカプト基、カルボキシル基、エポキシ基、アルキル基(例えば、メチル基、エチル基、i−プロピル基、プロピル基、t−ブチル基等)、アリール基(例えば、フェニル基、ナフチル基等)、芳香族ヘテロ環基(例えば、フリル基、ピラゾリル基、ピリジル基等)、アルコキシ基(例えば、メトキシ基、エトキシ基、i−プロポキシ基、ヘキシルオキシ基等)、アリールオキシ基(例えば、フェノキシ基等)、アルキルチオ基(例えば、メチルチオ基、エチルチオ基等)、アリールチオ基(例えば、フェニルチオ基等)、アルケニル基(例えば、ビニル基、アリル基等)、アシルオキシ基(例えば、アセトキシ基、アクリロイルオキシ基、メタクリロイルオキシ基等)、アルコキシカルボニル基(例えば、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基等)、アリールオキシカルボニル基(例えば、フェノキシカルボニル基等)、カルバモイル基(例えば、カルバモイル基、N−メチルカルバモイル基、N,N−ジメチルカルバモイル基、N−メチル−N−オクチルカルバモイル基等)、アシルアミノ基(例えば、アセチルアミノ基、ベンゾイルアミノ基、アクリルアミノ基、メタクリルアミノ基等)等が挙げられる。 Specifically, R 11 is a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 10 carbon atoms (for example, methyl group, ethyl group, propyl group, i-propyl group, butyl group, hexyl group, octyl group), carbon number 2 -10 substituted or unsubstituted alkenyl group (for example, vinyl group, allyl group, 2-buten-1-yl group), or substituted or unsubstituted aryl group having 6 to 10 carbon atoms (for example, phenyl group) R 12 represents a group having the same meaning as the alkyl group represented by R 11 . When the group represented by R 11 or R 12 has a substituent, preferred substituents are halogen (for example, fluorine, chlorine, bromine, etc.), hydroxyl group, mercapto group, carboxyl group, epoxy group, alkyl group (for example, Methyl group, ethyl group, i-propyl group, propyl group, t-butyl group, etc.), aryl group (for example, phenyl group, naphthyl group, etc.), aromatic heterocyclic group (for example, furyl group, pyrazolyl group, pyridyl group) Etc.), alkoxy groups (eg methoxy group, ethoxy group, i-propoxy group, hexyloxy group etc.), aryloxy groups (eg phenoxy group etc.), alkylthio groups (eg methylthio group, ethylthio group etc.), arylthio Group (for example, phenylthio group), alkenyl group (for example, vinyl group, allyl group, etc.), acyloxy group (for example, acetoxy group) , Acryloyloxy group, methacryloyloxy group, etc.), alkoxycarbonyl group (eg, methoxycarbonyl group, ethoxycarbonyl group, etc.), aryloxycarbonyl group (eg, phenoxycarbonyl group, etc.), carbamoyl group (eg, carbamoyl group, N- Methylcarbamoyl group, N, N-dimethylcarbamoyl group, N-methyl-N-octylcarbamoyl group, etc.), acylamino group (for example, acetylamino group, benzoylamino group, acrylamino group, methacrylamino group, etc.) and the like. .

前記一般式(1)の化合物は、加水分解し相互に縮合する、所謂ゾル−ゲル法によってマトリックスを形成する。一般式(1)の化合物は、以下の4つの一般式で表される。
一般式(1a):Si(X114
一般式(1b):R11Si(X113
一般式(1c):R11 2Si(X112
一般式(1d):R11 3SiX11
The compound of the general formula (1) forms a matrix by a so-called sol-gel method in which it is hydrolyzed and condensed with each other. The compound of general formula (1) is represented by the following four general formulas.
General formula (1a): Si (X 11 ) 4
General formula (1b): R 11 Si (X 11 ) 3
Formula (1c): R 11 2 Si (X 11 ) 2
Formula (1d): R 11 3 SiX 11

先ず、一般式(1a)の成分について具体的に説明する。
一般式(1a)で表される具体的化合物としては、例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−i−プロポキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−n−ブトキシシラン、テトラ−s−ブトキシシラン、テトラ−t−ブトキシシラン等が挙げられる。特にテトラメトキシシラン又はテトラエトキシシランが好ましい。
First, the component of General formula (1a) is demonstrated concretely.
Specific examples of the compound represented by the general formula (1a) include tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetra-i-propoxysilane, tetra-n-propoxysilane, tetra-n-butoxysilane, and tetra-s-. Examples include butoxysilane and tetra-t-butoxysilane. Tetramethoxysilane or tetraethoxysilane is particularly preferable.

次に一般式(1b)の成分について説明する。一般式(1b)の成分において、R11は一般式(1)におけるR11と同じ意味の基を表し、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基などのアルキル基、そのほかγ−クロロプロピル基、ビニル基、CF3CH2CH2CH2−、C25CH2CH2CH2−、C37CH2CH2CH2−、C25CH2CH2−、CF3OCH2CH2CH2−、C25OCH2CH2CH2−、C37OCH2CH2CH2−、(CF32CHOCH2CH2CH2−、C49CH2OCH2CH2CH2−、3−(ペルフルオロシクロヘキシルオキシ)プロピル基、H(CF24CH2OCH2CH2CH2−、H(CF24CH2CH2CH2−、3−グリシドキシプロピル基、3−アクリルオキシプロピル基、3−メタクリルオキシプロピル基、3−メルカプトプロピル基、フェニル基、3,4−エポキシシクロヘキシルエチル基などが挙げられる。 Next, the component of general formula (1b) is demonstrated. In the component of the general formula (1b), R 11 represents a group having the same meaning as R 11 in the general formula (1), for example, an alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, In addition, γ-chloropropyl group, vinyl group, CF 3 CH 2 CH 2 CH 2 —, C 2 F 5 CH 2 CH 2 CH 2 —, C 3 F 7 CH 2 CH 2 CH 2 —, C 2 F 5 CH 2 CH 2 -, CF 3 OCH 2 CH 2 CH 2 -, C 2 F 5 OCH 2 CH 2 CH 2 -, C 3 F 7 OCH 2 CH 2 CH 2 -, (CF 3) 2 CHOCH 2 CH 2 CH 2 - , C 4 F 9 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 —, 3- (perfluorocyclohexyloxy) propyl group, H (CF 2 ) 4 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 —, H (CF 2 ) 4 CH 2 CH 2 CH 2 -, 3-glycidoxypropyl group, 3-acryloxy propyl Group, 3-methacryloxypropyl group, 3-mercaptopropyl group, a phenyl group, a 3,4-epoxycyclohexylethyl group.

また、X11は、−OH、ハロゲン原子、−OR12基、又は−OCOR12基を表す。R12は、一般式(1)におけるR12と同じ意味の基を表す。好ましくは、炭素数1〜5のアルコキシ基又は炭素数1〜4のアシルオキシ基であり、例えば、塩素原子、メトキシ基、エトキシ基、n−プロピルオキシ基、i−プロピルオキシ基、n−ブチルオキシ基、s−ブチルオキシ基、t−ブチルオキシ基、アセチルオキシ基などが挙げられる。 X 11 represents —OH, a halogen atom, —OR 12 group, or —OCOR 12 group. R 12 represents a group having the same meaning as R 12 in the general formula (1). Preferably, it is a C1-C5 alkoxy group or a C1-C4 acyloxy group, for example, a chlorine atom, a methoxy group, an ethoxy group, n-propyloxy group, i-propyloxy group, n-butyloxy group , S-butyloxy group, t-butyloxy group, acetyloxy group and the like.

これらの一般式(1b)の成分の具体例としては、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、i−プロピルトリメトキシシラン、i−プロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−アクリルオキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピルトリエトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、3,4−エポキシシクロヘキシルエチルトリメトキシシラン、3,4−エポキシシクロヘキシルエチルトリエトキシシラン、CF3CH2CH2CH2Si(OCH33−、C25CH2CH2CH2Si(OCH33−、C25CH2CH2Si(OCH33−、C37CH2CH2CH2Si(OCH33−、C25OCH2CH2CH2Si(OCH33−、C37OCH2CH2CH2Si(OC253−、(CF32CHOCH2CH2CH2Si(OCH33−、C49CH2OCH2CH2CH2Si(OCH33−、H(CF24CH2OCH2CH2CH2Si(OCH33−、3−(ペルフルオロシクロヘキシルオキシ)プロピルシラン等を挙げることができる。 Specific examples of these components of the general formula (1b) include methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, n-propyltrimethoxysilane, n-propyltriethoxysilane, i -Propyltrimethoxysilane, i-propyltriethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane, 3-chloropropyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3 -Glycidoxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, 3-acryloxypropyltriethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltri Toxisilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltriethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, 3,4-epoxycyclohexylethyltrimethoxysilane, 3,4-epoxycyclohexylethyltriethoxysilane, CF 3 CH 2 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 -, C 2 F 5 CH 2 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 -, C 2 F 5 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 -, C 3 F 7 CH 2 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 -, C 2 F 5 OCH 2 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 -, C 3 F 7 OCH 2 CH 2 CH 2 Si (OC 2 H 5) 3 -, (CF 3) 2 CHOCH 2 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 -, C 4 F 9 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 - H (CF 2) 4 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2 Si (OCH 3) 3 -, 3- can be mentioned (perfluorocyclohexyl) propyl silane.

このうち、フッ素原子を有する有機シリル化合物が好ましい。また、R11としてフッ素原子を有さない有機シリル化合物を用いる場合、メチルトリメトキシシラン又はメチルトリエトキシシランを用いることが好ましい。上記の有機シリル化合物は1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用することもできる。 Among these, an organic silyl compound having a fluorine atom is preferable. In the case of using an organic silyl compound having no fluorine atom as R 11, it is preferable to use methyltrimethoxysilane or methyltriethoxysilane. Said organic silyl compound may be used individually by 1 type, and can also use 2 or more types together.

次に一般式(1c)の成分について説明する。一般式(1c)の成分は、一般式R11 2Si(X112{式中、R11及びX11は前記一般式(1b)の成分に使用される有機シリル化合物で定義された、R11及びX11と同じである}で表される有機シリル化合物である。ただし、複数あるR11は、お互いに同じ基でなくてもよい。本発明の組成物中では加水分解、縮合して得られる加水分解物及び/又は部分縮合物となり、組成物中における結合剤としての働きをするとともに、塗膜を柔軟化し耐アルカリ性を向上させるものである。 Next, the component of general formula (1c) is demonstrated. The component of the general formula (1c) has the general formula R 11 2 Si (X 11 ) 2 {wherein R 11 and X 11 are defined as the organic silyl compound used for the component of the general formula (1b), It is the same as R 11 and X 11 }. However, the plurality of R 11 may not be the same group. In the composition of the present invention, it becomes a hydrolyzate and / or a partial condensate obtained by hydrolysis and condensation, which acts as a binder in the composition and softens the coating film to improve alkali resistance. It is.

これらの有機シリル化合物の具体例は、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジ−n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プピルジエトキシシラン、ジ−i−プロピルジメトキシシラン、ジ−i−プロピルジエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、(CF3CH2CH22Si(OCH32、(CF3CH2CH2CH22Si(OCH32、(C37OCH2CH2CH22Si(OCH32、[H(CF26CH2OCH2CH2CH22Si(OCH32、(C25OCH2CH22Si(OCH32などを挙げることができ、好ましくはフッ素原子を有する有機シリル化合物である。またR11としてフッ素原子を有さない有機シリル化合物を用いる場合には、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシランが好ましい。また一般式(1c)の成分で表される有機シリル化合物は、1種単独で用いてもよいし、又は2種以上を併用することもできる。 Specific examples of these organic silyl compounds are dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, diethyldimethoxysilane, diethyldiethoxysilane, di-n-propyldimethoxysilane, di-n-propyldiethoxysilane, di-i-propyl. dimethoxysilane, di -i- propyl diethoxy silane, diphenyl dimethoxy silane, diphenyl diethoxy silane, (CF 3 CH 2 CH 2 ) 2 Si (OCH 3) 2, (CF 3 CH 2 CH 2 CH 2) 2 Si ( OCH 3) 2, (C 3 F 7 OCH 2 CH 2 CH 2) 2 Si (OCH 3) 2, [H (CF 2) 6 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2] 2 Si (OCH 3) 2, ( C 2 F 5 OCH 2 CH 2 ) 2 Si (OCH 3 ) 2 and the like can be mentioned, and an organic silyl compound having a fluorine atom is preferred. In the case of using an organic silyl compound having no fluorine atom as R 11 is, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane are preferred. Moreover, the organic silyl compound represented by the component of general formula (1c) may be used individually by 1 type, or can also use 2 or more types together.

次に一般式(1d)の成分について説明する。一般式(1d)の成分は、一般式R11 3SiX11{式中、R11及びX11は前記一般式(1b)の成分に使用される有機シリル化合物で定義されたR11及びX11と同じである}で表される有機シリル化合物である。ただし、複数あるR11はお互いに同じ基でなくてもよい。本発明の組成物中では膜を疎水的にする働きをするとともに、塗膜の耐アルカリ性を向上させるものである。 Next, the component of general formula (1d) is demonstrated. The components of the general formula (1d), the general formula R 11 3 SiX 11 {wherein, R 11 and X 11 R 11 as defined in the organosilyl compound used in component of the general formula (1b) is and X 11 It is an organic silyl compound represented by However, the plurality of R 11 may not be the same group. In the composition of this invention, while functioning to make a film | membrane hydrophobic, it improves the alkali resistance of a coating film.

これらの有機シリル化合物の具体例は、トリメチルメトキシシラン、トリメチルエトキシシラン、トリエチルメトキシシラン、トリエチルエトキシシラン、トリ−n−プロピルメトキシシラン、トリ−n−プピルエトキシシラン、トリ−i−プロピルメトキシシラン、トリ−i−プロピルエトキシシラン、トリフェニルメトキシシラン、トリフェニルエトキシシランなどが挙げられる。   Specific examples of these organic silyl compounds are trimethylmethoxysilane, trimethylethoxysilane, triethylmethoxysilane, triethylethoxysilane, tri-n-propylmethoxysilane, tri-n-propylethoxysilane, tri-i-propylmethoxysilane. , Tri-i-propylethoxysilane, triphenylmethoxysilane, triphenylethoxysilane and the like.

本発明において、前記一般式(1a)〜(1d)の各成分は、それぞれ単独で用いることもできるが、混合して用いてもよく、その際の配合割合は、(1a)成分を100質量部とした場合、(1b)成分は0〜100質量部、好ましくは1〜60質量部、さらに好ましくは1〜40質量部である。(1c)成分は(1a)成分を100質量部とした場合、好ましくは0〜10質量部、より好ましくは0.1〜5質量部、さらに好ましくは0.5〜3質量部である。(1d)成分は(1a)成分を100質量部とした場合に、好ましくは0〜10質量部、より好ましくは0.1〜5質量部、さらに好ましくは0.5〜3質量部である。(1a)〜(1d)の各成分のうち、(1a)成分の割合は全有機シリル化合物100質量%中30質量%以上とするのが好ましい。(1a)成分の割合が30質量%以上であれば、得られる塗膜の密着性、硬化性が低下するなどの不具合が生じないので好ましい。   In the present invention, the components of the general formulas (1a) to (1d) can be used alone, but may be used in combination. The mixing ratio in that case is that the component (1a) is 100 masses. When it is made into a part, (1b) component is 0-100 mass parts, Preferably it is 1-60 mass parts, More preferably, it is 1-40 mass parts. The component (1c) is preferably 0 to 10 parts by mass, more preferably 0.1 to 5 parts by mass, and still more preferably 0.5 to 3 parts by mass when the component (1a) is 100 parts by mass. The component (1d) is preferably 0 to 10 parts by mass, more preferably 0.1 to 5 parts by mass, and further preferably 0.5 to 3 parts by mass when the component (1a) is 100 parts by mass. Among the components (1a) to (1d), the proportion of the component (1a) is preferably 30% by mass or more in 100% by mass of the total organic silyl compound. If the ratio of the component (1a) is 30% by mass or more, it is preferable because problems such as a decrease in adhesion and curability of the obtained coating film do not occur.

[重合性モノマー]
本発明においては、前記有機シリル化合物に加えて、重合性のモノマーを併用することが好ましい。特に、フッ素原子を含むモノマー(以下、含フッ素モノマーということがある)は、得られる低屈折率層皮膜の屈折率を低くすることができるという点から好ましく用いられる。含フッ素モノマーは、モノマーがフッ素原子を含有しているものであれば特に制限はないが、フッ素原子をペルフルオロアルキル基として有するものがフッ素含量の点で特に好ましい。
[Polymerizable monomer]
In the present invention, it is preferable to use a polymerizable monomer in combination with the organic silyl compound. In particular, a monomer containing a fluorine atom (hereinafter sometimes referred to as a fluorine-containing monomer) is preferably used from the viewpoint that the refractive index of the resulting low refractive index layer film can be lowered. The fluorine-containing monomer is not particularly limited as long as the monomer contains a fluorine atom, but those having a fluorine atom as a perfluoroalkyl group are particularly preferred from the viewpoint of fluorine content.

重合性モノマーの具体例としては、例えばアクリル酸又はメタクリル酸の部分又は完全フッ素化アルキル、アルケニル、アリールエステル類、完全又は部分フッ素化ビニルエーテル類、完全又は部分フッ素化ビニルエステル類、完全又は部分フッ素化ビニルケトン類等である。重合性モノマーの配合量は、低屈折率層の全固形分中1〜50質量%とするのが好ましい。   Specific examples of polymerizable monomers include, for example, partially or fully fluorinated alkyl, alkenyl, aryl esters, fully or partially fluorinated vinyl ethers, fully or partially fluorinated vinyl esters, fully or partially fluorine of acrylic acid or methacrylic acid. Vinyl chlorides and the like. It is preferable that the compounding quantity of a polymerizable monomer shall be 1-50 mass% in the total solid of a low refractive index layer.

[無機微粒子]
また、低屈折率層には、無機微粒子を用いるのが好ましい。
無機微粒子の塗設量は、1〜100mg/m2が好ましく、より好ましくは5〜80mg/m2、更に好ましくは10〜60mg/m2である。無機微粒子の量が該下限値以上であれば、耐擦傷性の改良効果が減少するなどの不具合が生じないので好ましく、該上限値以下であれば、低屈折率層表面に微細な凹凸ができて、黒の締まりなどの外観や積分反射率が悪化するなどの不具合が生じないので好ましい。該無機微粒子は、低屈折率層に含有させることから、低屈折率であることが望ましい。例えば、フッ化マグネシウムやシリカの微粒子が挙げられる。特に、屈折率、分散安定性、コストの点で、シリカ微粒子が好ましい。
[Inorganic fine particles]
In addition, it is preferable to use inorganic fine particles for the low refractive index layer.
The coating amount of the inorganic fine particles is preferably 1 to 100 mg / m 2, more preferably 5-80 mg / m 2, more preferably from 10~60mg / m 2. If the amount of the inorganic fine particles is not less than the lower limit value, it is preferable because defects such as a reduction in the effect of improving the scratch resistance are not caused. If the amount is not more than the upper limit value, fine irregularities can be formed on the surface of the low refractive index layer. In view of this, it is preferable that the appearance such as black tightening and the integrated reflectance are not deteriorated. Since the inorganic fine particles are contained in the low refractive index layer, it is desirable that the inorganic fine particles have a low refractive index. Examples thereof include fine particles of magnesium fluoride and silica. In particular, silica fine particles are preferable in terms of refractive index, dispersion stability, and cost.

(シリカ微粒子)
以下、無機微粒子を代表してシリカ微粒子について詳述する。
シリカ微粒子の平均粒径は、低屈折率層の厚みの30%以上150%以下が好ましく、より好ましくは35%以上80%以下、更に好ましくは40%以上60%以下である。すなわち、低屈折率層の厚みが100nmであれば、シリカ微粒子の粒径は30nm以上150nm以下が好ましく、より好ましくは35nm以上80nm以下、更に好ましくは、40nm以上60nm以下である。
(Silica fine particles)
Hereinafter, the silica fine particles will be described in detail on behalf of the inorganic fine particles.
The average particle diameter of the silica fine particles is preferably 30% or more and 150% or less of the thickness of the low refractive index layer, more preferably 35% or more and 80% or less, and further preferably 40% or more and 60% or less. That is, when the thickness of the low refractive index layer is 100 nm, the particle diameter of the silica fine particles is preferably 30 nm to 150 nm, more preferably 35 nm to 80 nm, and still more preferably 40 nm to 60 nm.

シリカ微粒子の粒径が小さすぎると、耐擦傷性の改良効果が少なくなる場合があり、大きすぎると低屈折率層表面に微細な凹凸ができ、黒の締まりといった外観、積分反射率が悪化する場合があるので上記範囲内の粒径のシリカ微粒子を用いることが好ましい。シリカ微粒子は、結晶質又は非晶質のいずれでもよく、また単分散粒子でも、所定の粒径を満たすならば凝集粒子でも構わない。形状は、球径が最も好ましいが、不定形であっても問題ない。ここで、無機微粒子の平均粒径はコールターカウンターにより測定される。   If the particle size of the silica fine particles is too small, the effect of improving the scratch resistance may be reduced. If it is too large, fine irregularities are formed on the surface of the low refractive index layer, and the appearance such as black tightening and the integrated reflectance are deteriorated. In some cases, it is preferable to use silica fine particles having a particle size within the above range. The silica fine particles may be either crystalline or amorphous, and may be monodispersed particles or aggregated particles as long as a predetermined particle size is satisfied. The shape is most preferably a spherical diameter, but there is no problem even if the shape is indefinite. Here, the average particle diameter of the inorganic fine particles is measured by a Coulter counter.

低屈折率層の屈折率上昇をより一層少なくするためには、中空のシリカ微粒子(以下、中空粒子ということがある)を用いることが好ましく、このような中空粒子は、屈折率が好ましくは1.17〜1.40、より好ましくは1.17〜1.35、さらに好ましくは1.17〜1.30であるのがよい。ここでの屈折率は粒子全体としての屈折率を表し、中空粒子を形成している外殻のシリカのみの屈折率を表すものではない。この時、粒子内の空腔の半径をri、粒子外殻の半径をroとすると、空隙率xは下記数式(1)で表される。
数式(1):x=(ri/ro3×100(%)
In order to further reduce the increase in the refractive index of the low refractive index layer, it is preferable to use hollow silica fine particles (hereinafter sometimes referred to as hollow particles), and such hollow particles preferably have a refractive index of 1. .17 to 1.40, more preferably 1.17 to 1.35, and even more preferably 1.17 to 1.30. The refractive index here represents the refractive index of the entire particle, and does not represent the refractive index of only the outer shell silica forming the hollow particles. At this time, if the radius of the cavity in the particle is r i and the radius of the particle outer shell is r o , the porosity x is expressed by the following formula (1).
Formula (1): x = (r i / r o ) 3 × 100 (%)

上記中空粒子の空隙率は、好ましくは10〜60%、さらに好ましくは20〜60%、最も好ましくは30〜60%である。中空粒子を上述の範囲より低屈折率に、空隙率を上述の範囲より大きくしようとすると、外殻の厚みが薄くなるため、中空シリカ粒子の強度及び低屈折率層の耐擦傷性の観点から、中空粒子の屈折率は1.17以上であることが好ましい。
なお、これら中空粒子の屈折率はアッベ屈折率計(アタゴ(株)製)にて測定をおこなった。
The porosity of the hollow particles is preferably 10 to 60%, more preferably 20 to 60%, and most preferably 30 to 60%. From the viewpoint of the strength of the hollow silica particles and the scratch resistance of the low refractive index layer, the hollow particles are made to have a lower refractive index than the above range and the porosity is made larger than the above range, so that the thickness of the outer shell becomes thin. The refractive index of the hollow particles is preferably 1.17 or more.
The refractive index of these hollow particles was measured with an Abbe refractometer (manufactured by Atago Co., Ltd.).

また低屈折率層には、平均粒径が低屈折率層の厚みの25%未満であるシリカ微粒子(以下、小サイズ微粒子ということがある)の少なくとも1種を、上記の好ましい平均粒径の範囲内のシリカ微粒子(以下、大サイズ微粒子ということがある)と併用することが好ましい。   In the low refractive index layer, at least one kind of silica fine particles (hereinafter sometimes referred to as small size fine particles) having an average particle size of less than 25% of the thickness of the low refractive index layer is added to the above preferable average particle size. It is preferable to use in combination with silica fine particles within the range (hereinafter sometimes referred to as large size fine particles).

シリカ微粒子は、分散液中又は低屈折率層形成用組成物中で、分散安定化を図るために、あるいはマトリックス成分との親和性、結合性を高めるために、プラズマ放電処理やコロナ放電処理のような物理的表面処理、界面活性剤やカップリング剤等による化学的表面処理がなされていてもよい。カップリング剤の使用が特に好ましい。カップリング剤としては、アルコキシメタル化合物(例えば、チタンカップリング剤、シランカップリング剤)が好ましく用いられる。なかでも、シランカップリング処理が特に有効である。   Silica fine particles are used in plasma discharge treatment and corona discharge treatment in order to stabilize dispersion in a dispersion or a composition for forming a low refractive index layer, or to increase affinity and binding properties with a matrix component. Such physical surface treatment, chemical surface treatment with a surfactant, a coupling agent, or the like may be performed. The use of a coupling agent is particularly preferred. As the coupling agent, an alkoxy metal compound (for example, a titanium coupling agent or a silane coupling agent) is preferably used. Of these, silane coupling treatment is particularly effective.

上記カップリング剤は、低屈折率層の無機微粒子の表面処理剤として、低屈折率層形成用組成物調製以前に予め表面処理を施すために用いられるが、低屈折率層形成用組成物調製時に、さらに添加剤として添加して該低屈折率層に含有させることが好ましい。シリカ微粒子は、表面処理前に、媒体中に予め分散されていることが、表面処理の負荷軽減のために好ましい。   The above-mentioned coupling agent is used as a surface treatment agent for the inorganic fine particles of the low refractive index layer in order to perform surface treatment in advance before preparing the composition for forming the low refractive index layer. Sometimes, it is preferable to add it as an additive to be contained in the low refractive index layer. The silica fine particles are preferably dispersed in the medium in advance before the surface treatment in order to reduce the load of the surface treatment.

以上、シリカ微粒子について述べたことは、他の無機粒子についても適用される。すな
わち、前記低屈折率層は、平均粒径が該低屈折率層の厚みの30%以上120%以下で且つ中空構造からなる、屈折率が1.17〜1.40である無機微粒子を含有するのが好ましい。本発明に好ましく用いることのできる粒子としては、例えば特開2001−233611や特開2002−79616等に記載の技術に準じて作製した粒子を挙げることができる。
What has been described above for the silica fine particles is also applicable to other inorganic particles. That is, the low refractive index layer contains inorganic fine particles having an average particle diameter of 30% to 120% of the thickness of the low refractive index layer and having a hollow structure and a refractive index of 1.17 to 1.40. It is preferable to do this. Examples of the particles that can be preferably used in the present invention include particles produced according to the techniques described in JP-A Nos. 2001-233611 and 2002-79616.

本発明における低屈折率層に好ましく用いることのできる無機微粒子は、予め分散されていることが好ましい。分散媒体は、沸点が60〜170℃の液体を用いることが好ましい。分散媒体の例には、水、アルコール(例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ベンジルアルコール)、ケトン(例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン)、エステル(例えば、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、蟻酸メチル、蟻酸エチル、蟻酸プロピル、蟻酸ブチル)、脂肪族炭化水素(例えば、ヘキサン、シクロヘキサン)、ハロゲン化炭化水素(例えば、メチレンクロリド、クロロホルム、四塩化炭素)、芳香族炭化水素(例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン)、アミド(例えば、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、n−メチルピロリドン)、エーテル(例えば、ジエチルエーテル、ジオキサン、テトラハイドロフラン)、エーテルアルコール(例えば、1−メトキシ−2−プロパノール)が含まれる。特に水、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコールが好ましい。   The inorganic fine particles that can be preferably used in the low refractive index layer in the invention are preferably dispersed in advance. As the dispersion medium, a liquid having a boiling point of 60 to 170 ° C. is preferably used. Examples of dispersion media include water, alcohols (eg, methanol, ethanol, isopropanol, butanol, benzyl alcohol), ketones (eg, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone), esters (eg, methyl acetate, ethyl acetate, Propyl acetate, butyl acetate, methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyl formate), aliphatic hydrocarbons (eg, hexane, cyclohexane), halogenated hydrocarbons (eg, methylene chloride, chloroform, carbon tetrachloride), aromatic Hydrocarbons (eg, benzene, toluene, xylene), amides (eg, dimethylformamide, dimethylacetamide, n-methylpyrrolidone), ethers (eg, diethyl ether, dioxane, tetrahydrofurane), Chromatography ether alcohols (e.g., 1-methoxy-2-propanol) are included. In particular, water, methanol, ethanol, and isopropyl alcohol are preferable.

無機微粒子の分散物における無機微粒子の濃度は、3〜300g/Lとするのが好ましい。   The concentration of the inorganic fine particles in the dispersion of inorganic fine particles is preferably 3 to 300 g / L.

[触媒]
本発明における低屈折率層形成用組成物には、前記一般式(1)で表される有機シリル化合物の加水分解/部分縮合反応を促進する目的で、種々の触媒化合物を好ましく用いることができる。用いられる触媒は特に制限はなく、使用されるゾル液の構成成分に応じて、適量を使用すればよい。一般に有効である触媒は、下記(c1)〜(c5)の化合物であり、これらの中から好ましい化合物を必要量添加することができる。また、これらの群の中2種以上をお互いの促進効果が阻害されない範囲内で適宜選択して併用することができる。
[catalyst]
In the composition for forming a low refractive index layer in the present invention, various catalyst compounds can be preferably used for the purpose of promoting the hydrolysis / partial condensation reaction of the organic silyl compound represented by the general formula (1). . The catalyst used is not particularly limited, and an appropriate amount may be used according to the constituent components of the sol liquid used. Generally effective catalysts are the following compounds (c 1 ) to (c 5 ), and a necessary amount of a preferable compound can be added from these compounds. Further, two or more of these groups can be appropriately selected and used in combination as long as the mutual promoting effects are not inhibited.

(c1)有機又は無機の酸
無機酸としては、塩酸、臭化水素、ヨウ化水素、硫酸、亜硫酸、硝酸、亜硝酸、燐酸、亜燐酸、ヘテロポリ酸(例えば、燐モリブデン酸、燐タングステン酸など)など;有機酸化合物としてはカルボン酸類(例えば、蟻酸、蓚酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、コハク酸、シクロヘキサンカルボン酸、オクタン酸、マレイン酸、2−クロロプロピオン酸、シアノ酢酸、トリフルオロ酢酸、ペルフルオロオクタン酸、安息香酸、ペンタフルオロ安息香酸、フタル酸など)、スルホン酸類(例えば、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、p−トルエンスルホン酸、ペンタフルオロベンゼンスルホン酸など)、燐酸部分エステル・ホスホン酸類(例えば、燐酸ジメチルエステル、フェニルホスホン酸など)、ルイス酸類(例えば、三フッ化ホウ素エーテラート、スカンジウムトリフレート、アルキルチタン酸、アルミン酸など)を挙げることができる。
(C 1 ) Organic or inorganic acid Examples of the inorganic acid include hydrochloric acid, hydrogen bromide, hydrogen iodide, sulfuric acid, sulfurous acid, nitric acid, nitrous acid, phosphoric acid, phosphorous acid, heteropolyacid (for example, phosphomolybdic acid, phosphotungstic acid) Organic acid compounds include carboxylic acids (eg, formic acid, succinic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, succinic acid, cyclohexanecarboxylic acid, octanoic acid, maleic acid, 2-chloropropionic acid, cyanoacetic acid, trifluoroacetic acid) Perfluorooctanoic acid, benzoic acid, pentafluorobenzoic acid, phthalic acid, etc.), sulfonic acids (e.g. methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, trifluoromethanesulfonic acid, p-toluenesulfonic acid, pentafluorobenzenesulfonic acid, etc.), Phosphoric acid partial esters and phosphonic acids (eg phosphoric acid dimethyl ester, phenyl Phosphonic acid, etc.) and Lewis acids (for example, boron trifluoride etherate, scandium triflate, alkyl titanic acid, aluminate, etc.).

(c2)有機又は無機の塩基
無機塩基としては水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシウム、水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、アンモニアなど;有機塩基化合物としてはアミン類(例えば、エチレンジアミン、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、テトラエチレンペンタミン、トリエチルアミン、ジブチルアミン、テトラメチルエチレンジアミン、ピペリジン、ピペラジン、モルホリン、エタノールアミン、ジアザビシクロウンデセン、
キヌクリジン、アニリン、ピリジンなど)、ホスフィン類(例えば、トリフェニルホスフィン、トリメチルホスフィンなど)、金属アルコキシド(例えば、ナトリウムメチラート、カリウムエチラートなど)を挙げることができる。
(C 2 ) Organic or inorganic base As the inorganic base, sodium hydroxide, potassium hydroxide, calcium hydroxide, magnesium hydroxide, aluminum hydroxide, ammonia and the like; As the organic base compound, amines (for example, ethylenediamine, diethylenetriamine, Triethylenetetramine, tetraethylenepentamine, triethylamine, dibutylamine, tetramethylethylenediamine, piperidine, piperazine, morpholine, ethanolamine, diazabicycloundecene,
Quinuclidine, aniline, pyridine, etc.), phosphines (eg, triphenylphosphine, trimethylphosphine, etc.), metal alkoxides (eg, sodium methylate, potassium ethylate, etc.).

(c3)金属キレート化合物
一般式R01OH(式中、R01は炭素数1〜6のアルキル基を示す)で表されるアルコールと、R02COCH2COR03(式中、R02は炭素数1〜6のアルキル基、R03は炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数1〜16のアルコキシ基を示す)で表されるジケトンを配位子とした、金属を中心金属とするものであれば特に制限なく好適に用いることができる。この範疇であれば、2種以上の金属キレート化合物を併用してもよい。本発明の金属キレート化合物として特に好ましいものは、中心金属にAl、Ti、Zrを有するものであり、下記一般式:
Zr(R01p1(R02COCHCOR03p2
Ti(OR01q1(R02COCHCOR03q2、及び
Al(OR01r1(R02COCHCOR03r2
で表される化合物群から選ばれるものが好ましく、前記(1a)〜(1d)成分の縮合反応を促進する作用をなす。
(C 3 ) Metal chelate compound An alcohol represented by the general formula R 01 OH (wherein R 01 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms) and R 02 COCH 2 COR 03 (where R 02 represents alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, R 03 is a diketone represented by an alkyl group or an alkoxy group having 1 to 16 carbon atoms having 1 to 5 carbon atoms) as a ligand, a central metal of the metal Any material can be suitably used without particular limitation. Within this category, two or more metal chelate compounds may be used in combination. Particularly preferred as the metal chelate compound of the present invention is one having Al, Ti, Zr as the central metal, and the following general formula:
Zr (R 01 ) p1 (R 02 COCHCOR 03 ) p2
Ti (OR 01 ) q1 (R 02 COCHCOR 03 ) q2 and Al (OR 01 ) r1 (R 02 COCHCOR 03 ) r2
Are preferably selected from the group of compounds represented by the formula (1a) to (1d), which promote the condensation reaction of the components (1a) to (1d).

金属キレート化合物中のR01及びR02は、同一又は異なってもよく、炭素数1〜6のアルキル基、具体的にはエチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、s−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、フェニル基などである。また、R03は、R01及びR02と同様の炭素数1〜6のアルキル基のほか、炭素数1〜16のアルコキシ基、例えばメトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、i−プロポキシ基、n−ブトキシ基、s−ブトキシ基、t−ブトキシ基、ラウリル基、ステアリル基などである。また、金属キレート化合物中のp1,p2,q1,q2,r1,r2は、4又は6座配位となる様に決定される整数を表す。 R 01 and R 02 in the metal chelate compound may be the same or different, and an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, specifically, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, an n-butyl group, Examples thereof include s-butyl group, t-butyl group, n-pentyl group, and phenyl group. R 03 is an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms as in R 01 and R 02 , or an alkoxy group having 1 to 16 carbon atoms, such as a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, or an i-propoxy group. N-butoxy group, s-butoxy group, t-butoxy group, lauryl group, stearyl group and the like. In addition, p1, p2, q1, q2, r1, and r2 in the metal chelate compound represent integers determined so as to be tetradentate or hexadentate.

これらの金属キレート化合物の具体例としては、トリ−n−ブトキシエチルアセトアセテートジルコニウム、ジ−n−ブトキシビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、n−ブトキシトリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(n−プロピルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(アセチルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(エチルアセトアセテート)ジルコニウムなどのジルコニウムキレート化合物;ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセテート)チタニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトン)チタニウムなどのチタニウムキレート化合物;ジイソプロポキシエチルアセトアセテートアルミニウム、ジイソプロポキシアセチルアセトナートアルミニウム、イソプロポキシビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、イソプロポキシビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノアセチルアセトナート・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウムなどのアルミニウムキレート化合物などが挙げられる。これらの金属キレート化合物のうち好ましいものは、トリ−n−ブトキシエチルアセトアセテートジルコニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタニウム、ジイソプロポキシエチルアセトアセテートアルミニウム、トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウムである。これらの金属キレート化合物は、1種単独で又は2種以上混合して使用することができる。また、これらの金属キレート化合物の部分加水分解物を使用することもできる。   Specific examples of these metal chelate compounds include tri-n-butoxyethylacetoacetate zirconium, di-n-butoxybis (ethylacetoacetate) zirconium, n-butoxytris (ethylacetoacetate) zirconium, tetrakis (n-propylacetate). Zirconium chelate compounds such as acetate) zirconium, tetrakis (acetylacetoacetate) zirconium, tetrakis (ethylacetoacetate) zirconium; diisopropoxy bis (ethylacetoacetate) titanium, diisopropoxy bis (acetylacetate) titanium, diiso Titanium chelate compounds such as propoxy bis (acetylacetone) titanium; diisopropoxyethyl acetoacetate aluminum, diisopropyl Poxyacetylacetonate aluminum, isopropoxybis (ethylacetoacetate) aluminum, isopropoxybis (acetylacetonate) aluminum, tris (ethylacetoacetate) aluminum, tris (acetylacetonato) aluminum, monoacetylacetonate bis (ethyl) An aluminum chelate compound such as acetoacetate) aluminum. Among these metal chelate compounds, tri-n-butoxyethyl acetoacetate zirconium, diisopropoxy bis (acetylacetonate) titanium, diisopropoxyethyl acetoacetate aluminum, and tris (ethyl acetoacetate) aluminum are preferable. . These metal chelate compounds can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types. Moreover, the partial hydrolyzate of these metal chelate compounds can also be used.

(c4)有機金属化合物
好ましい有機金属化合物としては、特に制限はないが、有機遷移金属が活性が高く、好ましい。中でもスズの化合物は安定性と活性がよく特に好ましい。これらの具体的化合物
例としては、(C492Sn(OCOC11232、(C492Sn(OCOCH=CHCOOCH32、(C492Sn(OCOCH=CHCOOC492、(C8172Sn(OCOC11232、(C8172Sn(OCOCH=CHCOOCH32、(C8172Sn(OCOCH=CHCOOC492、(C8172Sn(OCOCH=CHCOOC8172 などのカルボン酸型有機スズ化合物;(C492Sn(SCH2COOC8172、(C8172Sn(SCH2COOC8172、(C8172Sn(SCH2CH2COOC8172、(C8172Sn(SCH2COOC872、(C8172Sn(SCH2COOC12252などのメルカプチド型有機スズ化合物;又は(C492SnO、(C8172SnOなどの有機スズオキシドと、珪酸エチル、マレイン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル、フタル酸ジオクチルなどのエステル化合物との反応生成物などの有機スズ化合物などを挙げることができる。
(C 4 ) Organometallic compound The preferred organometallic compound is not particularly limited, but an organic transition metal is preferred because of its high activity. Of these, tin compounds are particularly preferred because of their good stability and activity. Specific examples of these compounds include (C 4 H 9 ) 2 Sn (OCOC 11 H 23 ) 2 , (C 4 H 9 ) 2 Sn (OCOCH = CHCOOCH 3 ) 2 , (C 4 H 9 ) 2 Sn ( OCOCH = CHCOOC 4 H 9 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn (OCOC 11 H 23 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn (OCOCH═CHCOOCH 3 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn ( Carboxylic acid type organotin compounds such as OCOCH = CHCOOC 4 H 9 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn (OCOCH═CHCOOC 8 H 17 ) 2 ; (C 4 H 9 ) 2 Sn (SCH 2 COOC 8 H 17 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn (SCH 2 COOC 8 H 17 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn (SCH 2 CH 2 COOC 8 H 17 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn ( SCH 2 COOC 8 H 7 ) 2 , (C 8 H 17 ) 2 Sn (SCH 2 COOC 12 Mercaptide-type organotin compounds such as H 25 ) 2 ; or organotin oxides such as (C 4 H 9 ) 2 SnO, (C 8 H 17 ) 2 SnO, and ethyl silicate, dimethyl maleate, diethyl maleate, dioctyl phthalate And organotin compounds such as reaction products with ester compounds.

(c5)金属塩類
金属塩類としては、有機酸のアルカリ金属塩(例えばナフテン酸ナトリウム、ナフテン酸カリウム、オクタン酸ナトリウム、2−エチルヘキサン酸ナトリウム、ラウリル酸カリウムなど)が好ましく用いられる。
The (c 5) metal salts metal salts, alkali metal salts (e.g., sodium naphthenate, potassium naphthenate, sodium octanoate, sodium 2-ethylhexanoate, and potassium laurate) of organic acids are preferably used.

これら触媒の、低屈折率層形成用組成物中の割合は、前記有機シリル化合物100質量部に対し、好ましくは0.01〜50質量部、より好ましくは0.1〜50質量部、さらに好ましくは0.5〜10質量部である。   The ratio of these catalysts in the composition for forming a low refractive index layer is preferably 0.01 to 50 parts by mass, more preferably 0.1 to 50 parts by mass, and further preferably 100 parts by mass of the organic silyl compound. Is 0.5 to 10 parts by mass.

[キレート配位化合物]
触媒として前記の金属キレート化合物を用いる場合、硬化反応速度の調節や液安定性向上の観点で、キレート配位能のある化合物を用いることも好ましい。好ましく用いられるものとしては、一般式R01COCH2COR02で表されるβ−ジケトン類及び/又はβ−ケトエステル類であり、低屈折率層形成用組成物の安定性向上剤として作用するものである。すなわち、該低屈折率層形成用組成物中に存在する金属キレート化合物(好ましくはジルコニウム、チタニウム及び/又はアルミニウム化合物)中の金属原子に配位することにより、これらの金属キレート化合物による(1a)〜(1d)成分の縮合反応を促進する作用を抑制し、得られる膜の硬化速度をコントロールするものと考えられる。R01及びR02は、前記金属キレート化合物を構成するR01及びR02と同義であるが、使用に際して同一構造である必要はない。
[Chelate coordination compounds]
When the metal chelate compound is used as a catalyst, it is also preferable to use a compound having a chelate coordination ability from the viewpoint of adjusting the curing reaction rate and improving the liquid stability. Preferably used are β-diketones and / or β-ketoesters represented by the general formula R 01 COCH 2 COR 02, which act as stability improvers for the composition for forming a low refractive index layer It is. That is, by coordinating with metal atoms in metal chelate compounds (preferably zirconium, titanium and / or aluminum compounds) present in the composition for forming a low refractive index layer, these metal chelate compounds (1a) It is considered that the action of promoting the condensation reaction of the component (1d) is suppressed and the curing rate of the resulting film is controlled. R 01 and R 02 are synonymous with R 01 and R 02 constituting the metal chelate compound, but need not have the same structure when used.

このβ−ジケトン類及び/又はβ−ケトエステル類の具体例としては、アセチルアセトン、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、アセト酢酸−n−プロピル、アセト酢酸−i−プロピル、アセト酢酸−n−ブチル、アセト酢酸−s−ブチル、アセト酢酸−t−ブチル、2,4−ヘキサンジオン、2,4−ヘプタンジオン、3,5−ヘプタンジオン、2,4−オクタンジオン、2,4−ノナンジオン、5−メチルヘキサン−ジオンなどを挙げることができる。これらのうち、アセト酢酸エチル及びアセチルアセトンが好ましく、特にアセチルアセトンが好ましい。これらのβ−ジケトン類及び/又はβ−ケトエステル類は、1種単独で又は2種以上を混合して使用することもできる。かかるβ−ジケトン類及び/又はβ−ケトエステル類の使用量は、金属キレート化合物1モルに対し2モル以上、好ましくは3〜20モルである。2モル以上用いることにより、組成物の保存安定性が向上する。   Specific examples of the β-diketone and / or β-ketoester include acetylacetone, methyl acetoacetate, ethyl acetoacetate, acetoacetate-n-propyl, acetoacetate-i-propyl, acetoacetate-n-butyl, acetoacetate Acetic acid-s-butyl, acetoacetic acid-t-butyl, 2,4-hexanedione, 2,4-heptanedione, 3,5-heptanedione, 2,4-octanedione, 2,4-nonanedione, 5-methyl Examples include hexane-dione. Of these, ethyl acetoacetate and acetylacetone are preferred, and acetylacetone is particularly preferred. These β-diketones and / or β-ketoesters may be used alone or in combination of two or more. The amount of such β-diketone and / or β-ketoester used is 2 mol or more, preferably 3 to 20 mol, per 1 mol of the metal chelate compound. By using 2 mol or more, the storage stability of the composition is improved.

[低屈折率層形成用組成物の調製]
低屈折率層形成用組成物は、低屈折率層を形成するためのものであり、塗設可能な液状物である。
すなわち、本発明で用いられる低屈折率層形成用組成物は、前記有機シリル化合物の加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかと、溶媒、更に必要に応じて前記重合
性モノマー、前記無機微粒子、後述する含フッ素化合物やポリシロキサンを有していればよい。
[Preparation of composition for forming low refractive index layer]
The composition for forming a low refractive index layer is for forming a low refractive index layer, and is a liquid material that can be applied.
That is, the composition for forming a low refractive index layer used in the present invention comprises at least one of a hydrolyzate of the organic silyl compound and a partial condensate thereof, a solvent, and optionally the polymerizable monomer and the inorganic fine particles. It is only necessary to have a fluorine-containing compound or polysiloxane described later.

この際用いることができる溶媒としては、例えば、アルコール(メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、ブタノール、2−ブタノール等)、ケトン(アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等)が挙げられる。   Examples of the solvent that can be used at this time include alcohols (methanol, ethanol, isopropyl alcohol, butanol, 2-butanol, etc.) and ketones (acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, etc.).

また、本発明においては、低屈折率層用組成物に、前記一般式(1a)〜(1d)の成分である有機シリル化合物の加水分解・縮合反応用として水を添加することが好ましい。水の使用量は、(1a)〜(1d)成分1モルに対し、通常、1.2〜3.0モル、好ましくは1.3〜2.0モル程度である。   In the present invention, it is preferable to add water to the composition for a low refractive index layer for hydrolysis / condensation reaction of the organic silyl compound which is a component of the general formulas (1a) to (1d). The usage-amount of water is 1.2-3.0 mol normally with respect to 1 mol of (1a)-(1d) components, Preferably it is about 1.3-2.0 mol.

さらに前記低屈折率層形成用組成物の全固形分濃度は、好ましくは0.1〜50質量%、更に好ましくは1〜40質量%である。全固形分濃度が50質量%以下であれば、組成物の保存安定性が悪化するなどの不具合が生じないので好ましい。   Furthermore, the total solid content concentration of the composition for forming a low refractive index layer is preferably 0.1 to 50% by mass, more preferably 1 to 40% by mass. A total solid content concentration of 50% by mass or less is preferable because problems such as deterioration in storage stability of the composition do not occur.

低屈折率層形成用組成物を調製する際には、予め有機シリル化合物を水と触媒の存在下で反応させ、部分的に加水分解後縮重合させることが好ましい。シロキサンオリゴマーのGPCによるエチレングリコール/ポリエチレンオキサイド換算の相対分子量は700〜1500が好ましく、更に好ましくは900〜1000である。反応温度は5〜50℃が好ましく、更に好ましくは10〜40℃、最も好ましくは15〜30℃である。   When preparing the composition for forming a low refractive index layer, it is preferable that an organic silyl compound is reacted in advance in the presence of water and a catalyst, and partially subjected to condensation polymerization after hydrolysis. The relative molecular weight in terms of ethylene glycol / polyethylene oxide calculated by GPC of the siloxane oligomer is preferably 700 to 1500, and more preferably 900 to 1000. The reaction temperature is preferably 5 to 50 ° C, more preferably 10 to 40 ° C, and most preferably 15 to 30 ° C.

[低屈折率層の膜厚]
本発明における低屈折率層の膜厚は、50〜200nmが好ましく、更に好ましくは60〜150nm、最も好ましくは70〜120nmである。膜厚が該上限値以下であれば優れた強度と共に、層が脆くなるような不具合を生じることがなく、また膜厚が該下限値以上であれば膜強度が低下するなどの問題も生じないので、低屈折率層の膜厚は上述の範囲とするのが好ましい。
[Thickness of low refractive index layer]
The thickness of the low refractive index layer in the present invention is preferably 50 to 200 nm, more preferably 60 to 150 nm, and most preferably 70 to 120 nm. If the film thickness is less than or equal to the upper limit value, it will not cause a problem that the layer becomes brittle with excellent strength, and if the film thickness is greater than or equal to the lower limit value, there will be no problem such as a decrease in film strength. Therefore, the film thickness of the low refractive index layer is preferably in the above range.

[表面自由エネルギー]
本発明においては、防汚性向上の観点から、反射防止フィルム表面の表面自由エネルギーを下げることが好ましい。具体的には、含フッ素化合物やポリシロキサン構造を有する化合物などの、表面自由エネルギー低下用化合物を最表面に存在させることにより達成できる。表面自由エネルギーは、26mJ/m2以下が好ましく、更に好ましくは24mJ/m2以下であり、最も好ましくは22mJ/m2以下である。
[Surface free energy]
In the present invention, from the viewpoint of improving antifouling properties, it is preferable to reduce the surface free energy of the antireflection film surface. Specifically, this can be achieved by allowing a surface free energy reducing compound such as a fluorine-containing compound or a compound having a polysiloxane structure to be present on the outermost surface. The surface free energy is preferably 26 mJ / m 2 or less, still more preferably not more than 24 mJ / m 2, and most preferably 22 mJ / m 2 or less.

含フッ素化合物は、例えば、前記一般式(1)の有機シリル化合物のなかで、フッ素原子を有する化合物が好ましく挙げられる。   Preferred examples of the fluorine-containing compound include compounds having a fluorine atom among the organic silyl compounds represented by the general formula (1).

ポリシロキサン構造を有する添加剤としては、反応性基含有ポリシロキサン(例えば、"KF−100T","X−22−169AS","KF−102","X−22−3701IE","X−22−164B","X−22−5002","X−22−173B","X−22−174D","X−22−1667B","X−22−161AS"{以上、信越化学工業(株)製};"AK−5","AK−30","AK−32"{以上、東亜合成(株)製};「サイラプレーンFM0725」、「サイラプレーンFM0721」{以上、チッソ(株)製}等を添加するのも好ましい。また、特開2003−112383号公報の表2、表3に記載のシリコーン系化合物も好ましく使用できる。   Examples of the additive having a polysiloxane structure include reactive group-containing polysiloxanes (for example, “KF-100T”, “X-22-169AS”, “KF-102”, “X-22-3701IE”, “X-”). 22-164B "," X-22-5002 "," X-22-173B "," X-22-174D "," X-22-1667B "," X-22-161AS "{Since, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "AK-5", "AK-30", "AK-32" {above, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.}; "Silaplane FM0725", "Silaplane FM0721" {above, Chisso ( Co., Ltd.} etc. It is also preferable to use silicone compounds described in Tables 2 and 3 of JP-A No. 2003-112383.

低屈折率層が本発明の反射防止フィルムの最外表面の層である場合には、これらの表面自由エネルギー低下用化合物は、低屈折率層形成用組成物全固形分の0.1〜10質量%
の範囲で添加されることが好ましく、特に好ましくは1〜5質量%の場合である。
When the low refractive index layer is the outermost surface layer of the antireflective film of the present invention, these surface free energy reducing compounds are used in an amount of 0.1 to 10 based on the total solid content of the low refractive index layer forming composition. mass%
It is preferable to add in the range of 1-5 mass%.

〔防汚層〕
前記の表面自由エネルギー低下用化合物は、低屈折率層が最外表面の層である場合には、前記有機シリル化合物と予め混合して縮合させておいてもよく、また乾燥硬化時に縮合させることもできる。さらに低屈折率層を形成した後その層の上に、前記表面自由エネルギー低下用化合物を含む組成物を塗設して防汚層を形成することにより、上述の好ましい表面自由エネルギーの範囲とすることもできる。
[Anti-fouling layer]
When the low refractive index layer is the outermost surface layer, the surface free energy reducing compound may be premixed with the organic silyl compound and condensed, or condensed at the time of drying and curing. You can also. Further, after forming a low refractive index layer, a composition containing the compound for reducing surface free energy is applied on the layer to form an antifouling layer, whereby the above-mentioned preferable surface free energy range is obtained. You can also.

防汚層を形成する場合に好ましく用いることのできる化合物は、以下の一般式(2)で表されるペルフルオロポリエーテル基含有シランカップリング剤である。   A compound that can be preferably used in forming the antifouling layer is a perfluoropolyether group-containing silane coupling agent represented by the following general formula (2).

一般式(2):Rf−(OC36s1−O−(CF2s2−(CH2s3−O−(CH2s4−Si(OR213 Formula (2): R f - ( OC 3 F 6) s1 -O- (CF 2) s2 - (CH 2) s3 -O- (CH 2) s4 -Si (OR 21) 3

上記一般式(2)において、Rfは炭素数1〜16の直鎖状又は分岐状ペルフルオロアルキル基であり、特に、CF3−、C25−、C37−が好ましい。R21は炭素数1〜5の直鎖状又は分岐状アルキル基であり、特に、−CH3、−C25が好ましい。また、s1は1〜50の整数、s2は0〜3の整数、s3は0〜3の整数、s4は0〜6の整数、但し、6≧s2+s3>0である。 In the general formula (2), R f represents a linear or branched perfluoroalkyl group having 1 to 16 carbon atoms, in particular, CF 3 -, C 2 F 5 -, C 3 F 7 - is preferred. R 21 is a linear or branched alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and —CH 3 and —C 2 H 5 are particularly preferable. Moreover, s1 is an integer of 1-50, s2 is an integer of 0-3, s3 is an integer of 0-3, s4 is an integer of 0-6, provided that 6 ≧ s2 + s3> 0.

塗布方法は、均一に塗布される方法であればいかなる方法でも構わない。例えば各種のウェットコーティング法(ディップコーティング法、スピンコーティング法、フローコーティング法、スプレーコーティング法、ロールコーティング法、グラビアコーティング法、エアードクターコーティング法、ブレードコーティング法、ワイヤードクターコーティング法、ナイフコーティング法、リバースコーティング法、トランスファーロールコーティング法、マイクログラビアコーティング法、キスコーティング法、キャストコーティング法、スロットオリフィスコーティング法、カレンダーコーティング法、ダイコーティング法等)又は真空蒸着法、反応性蒸着法、イオンビームアシスト法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等のPVD(Physical Vapor Deposition)法あるいはCVD(Chemical Vapor Deposition)法等の公知の方法がある。   Any coating method may be used as long as it is a uniform coating method. For example, various wet coating methods (dip coating method, spin coating method, flow coating method, spray coating method, roll coating method, gravure coating method, air doctor coating method, blade coating method, wire doctor coating method, knife coating method, reverse Coating method, transfer roll coating method, micro gravure coating method, kiss coating method, cast coating method, slot orifice coating method, calendar coating method, die coating method, etc.) or vacuum deposition method, reactive deposition method, ion beam assist method, PVD (Physical Vapor Deposition) methods such as sputtering and ion plating, or There are known methods such as CVD (Chemical Vapor Deposition).

防汚層の成膜後必要ならば、加熱、加湿、紫外線照射、電子線照射等を行ってもよい。   If necessary after film formation of the antifouling layer, heating, humidification, ultraviolet irradiation, electron beam irradiation, or the like may be performed.

防汚層の膜厚は特に限定されるものではないが、防汚性、耐擦傷性、及び光学部材の光学性能の点から1〜50nmが好ましい。   Although the film thickness of an antifouling layer is not specifically limited, 1-50 nm is preferable from the point of antifouling property, abrasion resistance, and the optical performance of an optical member.

〔反射防止フィルムの層構成〕
本発明の反射防止フィルムは、透明支持体と低屈折率層とを必須の層とし、更に必要に応じて、後述のハードコート層や、光学干渉によって反射率が減少するように、屈折率、膜厚、層の数、層順等を考慮して種々の層を積層することができる。最も単純な構成は、透明支持体上に低屈折率層のみを塗設した構成である。更に反射率を低下させるには、反射防止膜を、透明支持体よりも屈折率の高い高屈折率層と、透明支持体よりも屈折率の低い低屈折率層とを組み合わせて構成することが好ましい。構成例としては、透明支持体側から高屈折率層/低屈折率層の2層のものや、屈折率の異なる3層を、中屈折率層(透明支持体又はハードコート層よりも屈折率が高く、高屈折率層よりも屈折率の低い層)/高屈折率層/低屈折率層の順に積層されているもの等があり、更に多くの層を積層した反射防止膜も提案されている。中でも、耐久性、光学特性、コストや生産性等から、透明支持体上にハードコート層を設置し、その上に中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層の順に塗
布された反射防止フィルムが好ましい。
[Layer structure of antireflection film]
The antireflection film of the present invention comprises a transparent support and a low refractive index layer as essential layers, and further, if necessary, a refractive index, so that the reflectance decreases due to a hard coat layer described later and optical interference, Various layers can be stacked in consideration of the film thickness, the number of layers, the layer order, and the like. The simplest configuration is a configuration in which only a low refractive index layer is coated on a transparent support. In order to further reduce the reflectance, the antireflection film may be composed of a combination of a high refractive index layer having a higher refractive index than that of the transparent support and a low refractive index layer having a lower refractive index than that of the transparent support. preferable. Examples of configurations include two layers of a high refractive index layer / low refractive index layer from the transparent support side, and three layers having different refractive indices, and a medium refractive index layer (with a refractive index higher than that of the transparent support or hard coat layer). And a layer having a lower refractive index than a high refractive index layer) / a high refractive index layer / a low refractive index layer are laminated in this order, and an antireflection film in which more layers are laminated is also proposed. . Above all, from the viewpoint of durability, optical properties, cost, productivity, etc., a hard coat layer is placed on a transparent support, and a reflective layer coated in the order of medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer thereon. A prevention film is preferred.

本発明の反射防止フィルムの好ましい層構成の例を下記に示す。なお、以下の例示においては、防汚層を設ける場合の記載を省略する。
透明支持体/低屈折率層、
透明支持体/防眩層/低屈折率層、
透明支持体/防眩層/帯電防止層/低屈折率層、
透明支持体/帯電防止層/防眩層/低屈折率層、
透明支持体/ハードコート層/帯電防止層/低屈折率層、
透明支持体/帯電防止層/ハードコート層/低屈折率層、
透明支持体/ハードコート層/高屈折率層/低屈折率層、
透明支持体/ハードコート層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
透明支持体/防眩層/高屈折率層/低屈折率層、
透明支持体/防眩層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
透明支持体/帯電防止層/ハードコート層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
帯電防止層/透明支持体/ハードコート層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
透明支持体/帯電防止層/防眩層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
帯電防止層/透明支持体/防眩層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
帯電防止層/透明支持体/防眩層/高屈折率層/低屈折率層/高屈折率層/低屈折率層
反射率を低下させる観点からは、例えば特開2003−262702号等に記載の中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層の構成を含む反射防止層が好ましい。
The example of the preferable layer structure of the antireflection film of this invention is shown below. In addition, in the following illustration, the description in the case of providing an antifouling layer is omitted.
Transparent support / low refractive index layer,
Transparent support / antiglare layer / low refractive index layer,
Transparent support / antiglare layer / antistatic layer / low refractive index layer,
Transparent support / antistatic layer / antiglare layer / low refractive index layer,
Transparent support / hard coat layer / antistatic layer / low refractive index layer,
Transparent support / antistatic layer / hard coat layer / low refractive index layer,
Transparent support / hard coat layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Transparent support / hard coat layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Transparent support / antiglare layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Transparent support / antiglare layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Transparent support / antistatic layer / hard coat layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Antistatic layer / transparent support / hard coat layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Transparent support / antistatic layer / antiglare layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Antistatic layer / transparent support / antiglare layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Antistatic layer / transparent support / antiglare layer / high refractive index layer / low refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer From the viewpoint of reducing the reflectance, for example, described in JP-A No. 2003-262702 An antireflection layer including a structure of medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer is preferable.

本発明の反射防止フィルムの層構成としては、光学干渉により反射率を低減できるものであれば、特にこれらの層構成のみに限定されるものではない。
また、帯電防止層は導電性ポリマー粒子又は金属酸化物微粒子(例えば、SnO2、ITO)を含む層であることが好ましく、塗布又は大気圧プラズマ処理等によって設けることができる。
以下、本発明において採用することができる各層や透明支持体について説明する。
The layer configuration of the antireflection film of the present invention is not particularly limited to these layer configurations as long as the reflectance can be reduced by optical interference.
The antistatic layer is preferably a layer containing conductive polymer particles or metal oxide fine particles (for example, SnO 2 , ITO), and can be provided by coating or atmospheric pressure plasma treatment.
Hereinafter, each layer and transparent support that can be employed in the present invention will be described.

〔ハードコート層〕
本発明において用いられるハードコート層について以下に説明する。
ハードコート層は、バインダー、防眩性又は内部散乱性を付与するためのマット粒子、及び屈折率調節、架橋収縮防止、高強度化のための無機フィラー、から選ばれる構成要素を任意に組み合わせて形成することができる。
[Hard coat layer]
The hard coat layer used in the present invention will be described below.
The hard coat layer is an arbitrary combination of components selected from binders, matte particles for imparting antiglare properties or internal scattering properties, and inorganic fillers for adjusting the refractive index, preventing crosslinking shrinkage, and increasing strength. Can be formed.

本発明においては、バインダーとして透光性樹脂を用い、マット粒子として透光性粒子を用いてなる、光拡散層として機能するハードコート層が好ましく採用される。すなわち、本発明におけるハードコート層とは、膜の硬度を上昇させる機能を有する層という狭義のハードコート層ではなく、上記の構成要素を任意に組み合わせて機能を発現できる層を指す。従って組み合わせる構成要素によっては、狭義のハードコート層、高屈折率層、中屈折率層、防眩層、光拡散層、内部散乱層、帯電防止層となり得る。   In the present invention, a hard coat layer functioning as a light diffusion layer, which uses a light-transmitting resin as a binder and light-transmitting particles as matte particles, is preferably employed. In other words, the hard coat layer in the present invention is not a hard coat layer in a narrow sense as a layer having a function of increasing the hardness of the film, but a layer capable of exhibiting a function by arbitrarily combining the above constituent elements. Therefore, depending on the component to be combined, it can be a hard coat layer in a narrow sense, a high refractive index layer, a medium refractive index layer, an antiglare layer, a light diffusion layer, an internal scattering layer, or an antistatic layer.

[バインダー]
ハードコート層のバインダーとして用いられる上記透光性樹脂としては、飽和炭化水素鎖又はポリエーテル鎖を主鎖として有するバインダーポリマーが好ましく、飽和炭化水素鎖を主鎖として有するバインダーポリマーがさらに好ましい。また、バインダーポリマーは架橋構造を有することが好ましい。
[binder]
The translucent resin used as the binder of the hard coat layer is preferably a binder polymer having a saturated hydrocarbon chain or a polyether chain as a main chain, and more preferably a binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain. The binder polymer preferably has a crosslinked structure.

飽和炭化水素鎖を主鎖として有するバインダーポリマーとしては、エチレン性不飽和モノマーの重合体が好ましい。飽和炭化水素鎖を主鎖として有し、かつ架橋構造を有するバ
インダーポリマーとしては、2個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの(共)重合体が好ましい。高屈折率にするには、これらのモノマーの構造中に芳香族環や、フッ素以外のハロゲン原子、硫黄原子、リン原子、及び窒素原子から選ばれた少なくとも1種の原子を含む高屈折率モノマーを用いることが好ましい。
As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain, a polymer of an ethylenically unsaturated monomer is preferable. As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as the main chain and having a crosslinked structure, a (co) polymer of monomers having two or more ethylenically unsaturated groups is preferred. In order to achieve a high refractive index, the monomer structure contains at least one atom selected from an aromatic ring, a halogen atom other than fluorine, a sulfur atom, a phosphorus atom, and a nitrogen atom in the structure of these monomers. Is preferably used.

2個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーとしては、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル{例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート)、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,2,3−シクロヘキサンテトラメタクリレート、ポリウレタンポリアクリレート、ポリエステルポリアクリレート}、ジビニルベンゼン及びその誘導体(例えば、1,4−ジビニルベンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチルエステル、1,4−ジビニルシクロヘキサノン)、ビニルスルホン(例えば、ジビニルスルホン)及び(メタ)アクリルアミドの誘導体{例えば、メチレンビス(メタ)アクリルアミド)などが挙げられる。上記モノマーは2種以上併用してもよい。   Examples of the monomer having two or more ethylenically unsaturated groups include esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid {for example, ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-cyclohexanediacrylate, pentaerythritol tetra ( (Meth) acrylate), pentaerythritol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, di Pentaerythritol hexa (meth) acrylate, pentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,2,3-cyclohexanetetramethacrylate, polyurethane polyacrylate, polyester Polyacrylate}, divinylbenzene and its derivatives (eg, 1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoic acid-2-acryloylethyl ester, 1,4-divinylcyclohexanone), vinyl sulfone (eg, divinyl sulfone) and (meta ) Derivatives of acrylamide (for example, methylenebis (meth) acrylamide). Two or more of these monomers may be used in combination.

高屈折率モノマーの具体例としては、ビス(4−メタクリロイルチオフェニル)スルフィド、ビニルナフタレン、ビニルフェニルスルフィド、4−メタクリロキシフェニル−4'−メトキシフェニルチオエーテル等が挙げられる。これらのモノマーも2種以上併用してもよい。   Specific examples of the high refractive index monomer include bis (4-methacryloylthiophenyl) sulfide, vinyl naphthalene, vinyl phenyl sulfide, 4-methacryloxyphenyl-4′-methoxyphenyl thioether, and the like. Two or more of these monomers may be used in combination.

これらのエチレン性不飽和基を有するモノマーの重合は、光ラジカル開始剤又は熱ラジカル開始剤の存在下、電離放射線の照射又は加熱により行うことができる。従って、エチレン性不飽和基を有するモノマー、光ラジカル開始剤又は熱ラジカル開始剤、透光性粒子及び無機フィラーを含有するハードコート層形成用組成物の塗液を調製し、該塗液を、ハードコート層を設置しようとする面に塗布後、電離放射線又は熱による重合反応により硬化してハードコート層を形成することができる。   Polymerization of these monomers having an ethylenically unsaturated group can be performed by irradiation with ionizing radiation or heating in the presence of a photo radical initiator or a thermal radical initiator. Therefore, a coating liquid of a composition for forming a hard coat layer containing a monomer having an ethylenically unsaturated group, a photo radical initiator or a thermal radical initiator, translucent particles and an inorganic filler is prepared, and the coating liquid is After coating on the surface on which the hard coat layer is to be placed, it can be cured by a polymerization reaction with ionizing radiation or heat to form a hard coat layer.

光ラジカル重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類や芳香族スルホニウム類が挙げられる。   As radical photopolymerization initiators, acetophenones, benzoins, benzophenones, phosphine oxides, ketals, anthraquinones, thioxanthones, azo compounds, peroxides, 2,3-dialkyldione compounds, disulfide compounds And fluoroamine compounds and aromatic sulfoniums.

アセトフェノン類の例には、2,2−ジエトキシアセトフェノン、p−ジメチルアセトフェノン、1−ヒドロキシジメチルフェニルケトン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−4−メチルチオ−2−モルフォリノプロピオフェノン及び2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノンが含まれる。   Examples of acetophenones include 2,2-diethoxyacetophenone, p-dimethylacetophenone, 1-hydroxydimethylphenyl ketone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-4-methylthio-2-morpholinopropiophenone and 2 -Benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone is included.

ベンゾイン類の例には、ベンゾインベンゼンスルホン酸エステル、ベンゾイントルエンスルホン酸エステル、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル及びベンゾインイソプロピルエーテルが含まれる。   Examples of benzoins include benzoin benzene sulfonate, benzoin toluene sulfonate, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether and benzoin isopropyl ether.

ベンゾフェノン類の例には、ベンゾフェノン、2,4−ジクロロベンゾフェノン、4,4−ジクロロベンゾフェノン及びp−クロロベンゾフェノンが含まれる。ホスフィンオキシド類の例には、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシドが含まれる。   Examples of benzophenones include benzophenone, 2,4-dichlorobenzophenone, 4,4-dichlorobenzophenone and p-chlorobenzophenone. Examples of phosphine oxides include 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide.

「最新UV硬化技術」{159頁、発行人;高薄一弘,発行所;(株)技術情報協会,1991年発行}にも種々の例が記載されており本発明に有用である。市販の光開裂型の光ラジカル重合開始剤としては、日本チバガイギー(株)製の「イルガキュア」(651,184,907)等が好ましい例として挙げられる。   Various examples are also described in “Latest UV Curing Technology” {page 159, publisher: Kazuhiro Takasato, publisher; Technical Information Association, Inc., published in 1991}, which is useful for the present invention. Preferable examples of commercially available photocleavable photoradical polymerization initiators include “Irgacure” (651, 184, 907) manufactured by Ciba Geigy Japan.

光重合開始剤は、上述したモノマーの総量100質量部に対して、0.1〜15質量部の範囲で使用することが好ましく、より好ましくは1〜10質量部の範囲である。   It is preferable to use a photoinitiator in the range of 0.1-15 mass parts with respect to 100 mass parts of total amounts of the monomer mentioned above, More preferably, it is the range of 1-10 mass parts.

光重合開始剤に加えて、光増感剤を用いてもよい。光増感剤の具体例として、n−ブチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン、ミヒラーのケトン及びチオキサントンを挙げることができる。   In addition to the photopolymerization initiator, a photosensitizer may be used. Specific examples of the photosensitizer include n-butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine, Michler's ketone and thioxanthone.

熱ラジカル開始剤としては、有機又は無機過酸化物、有機アゾ及びジアゾ化合物等を用いることができる。
具体的には、有機過酸化物として、過酸化ベンゾイル、過酸化ハロゲンベンゾイル、過酸化ラウロイル、過酸化アセチル、過酸化ジブチル、クメンヒドロぺルオキシド、ブチルヒドロぺルオキシド;無機過酸化物として、過酸化水素、過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム等;アゾ化合物として2−アゾビスイソブチロニトリル、2−アゾビスプロピオニトリル、2−アゾビスシクロヘキサンジニトリル等;ジアゾ化合物としてジアゾアミノベンゼン、p−ニトロベンゼンジアゾニウム等を挙げることができる。
As the thermal radical initiator, organic or inorganic peroxides, organic azo, diazo compounds, and the like can be used.
Specifically, organic peroxides include benzoyl peroxide, halogen benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, acetyl peroxide, dibutyl peroxide, cumene hydroperoxide, butyl hydroperoxide; inorganic peroxides such as hydrogen peroxide, Ammonium persulfate, potassium persulfate, etc .; 2-azobisisobutyronitrile, 2-azobispropionitrile, 2-azobiscyclohexanedinitrile, etc. as azo compounds; diazoaminobenzene, p-nitrobenzenediazonium, etc. as diazo compounds Can be mentioned.

ポリエーテル鎖を主鎖として有するバインダーポリマーは、多官能エポシキシ化合物の開環重合体が好ましい。多官能エポシキ化合物の開環重合は、光酸発生剤又は熱酸発生剤の存在下、電離放射線の照射又は加熱により行うことができる。従って、多官能エポシキシ化合物、光酸発生剤又は熱酸発生剤、透光性粒子及び無機フィラーを含有するハードコート層形成用組成物の塗液を調製し、該塗液を、ハードコート層を設置しようとする面に塗布後、電離放射線又は熱による重合反応により硬化してハードコート層を形成することができる。   The binder polymer having a polyether chain as the main chain is preferably a ring-opening polymer of a polyfunctional epoxy compound. The ring-opening polymerization of the polyfunctional epoxy compound can be performed by irradiation with ionizing radiation or heating in the presence of a photoacid generator or a thermal acid generator. Therefore, a coating liquid of a composition for forming a hard coat layer containing a polyfunctional epoxy compound, a photoacid generator or a thermal acid generator, translucent particles and an inorganic filler is prepared, and the coating liquid is applied to the hardcoat layer. After coating on the surface to be installed, it can be cured by a polymerization reaction with ionizing radiation or heat to form a hard coat layer.

2個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの代わりに、又はそれに加えて、架橋性官能基を有するモノマーを用いてポリマー中に架橋性官能基を導入し、この架橋性官能基の反応により、架橋構造をバインダーポリマーに導入してもよい。   Instead of or in addition to a monomer having two or more ethylenically unsaturated groups, a monomer having a crosslinkable functional group is used to introduce a crosslinkable functional group into the polymer, and this crosslinkable functional group reacts. A crosslinked structure may be introduced into the binder polymer.

架橋性官能基の例には、イソシアナート基、エポキシ基、アジリジン基、オキサゾリン基、アルデヒド基、カルボニル基、ヒドラジン基、カルボキシル基、メチロール基及び活性メチレン基が含まれる。ビニルスルホン酸、酸無水物、シアノアクリレート誘導体、メラミン、エーテル化メチロール、エステル及びウレタン、テトラメトキシシランのような金属アルコキシドも、架橋構造を導入するためのモノマーとして利用できる。ブロックイソシアナート基のように、分解反応の結果として架橋性を示す官能基を用いてもよい。すなわち、本発明において架橋性官能基は、すぐには反応を示すものではなくとも、分解した結果反応性を示すものであってもよい。   Examples of the crosslinkable functional group include an isocyanate group, an epoxy group, an aziridine group, an oxazoline group, an aldehyde group, a carbonyl group, a hydrazine group, a carboxyl group, a methylol group, and an active methylene group. Vinylsulfonic acid, acid anhydride, cyanoacrylate derivative, melamine, etherified methylol, ester and urethane, and metal alkoxide such as tetramethoxysilane can also be used as a monomer for introducing a crosslinked structure. A functional group that exhibits crosslinkability as a result of the decomposition reaction, such as a block isocyanate group, may be used. That is, in the present invention, the crosslinkable functional group may not react immediately but may exhibit reactivity as a result of decomposition.

これら架橋性官能基を有するバインダーポリマーは塗布後、加熱することによって架橋構造を形成することができる。   These binder polymers having a crosslinkable functional group can form a crosslinked structure by heating after coating.

本発明において、反射防止フィルム、偏光板、及び表示装置の耐久性向上のためには、ハードコート層は、前記一般式(1)で示される有機シリル化合物、その加水分解物およびその部分縮合物の少なくともいずれか、或いは多官能のイソシアネート化合物を含有するハードコート層形成用組成物を塗設して形成されたものであることが好ましい。   In the present invention, in order to improve the durability of the antireflection film, the polarizing plate, and the display device, the hard coat layer includes an organic silyl compound represented by the general formula (1), a hydrolyzate thereof, and a partial condensate thereof. It is preferably formed by coating a composition for forming a hard coat layer containing at least one of the above or a polyfunctional isocyanate compound.

有機シリル系化合物を使用する場合には、有機シリル系化合物の添加量は、ハードコート層の該化合物を除く固形分(バインダーや粒子等)に対して、0.1質量%以上120質量%以下が好ましく、0.5質量%以上60%以下が更に好ましく、最も好ましくは1.0質量%以上40質量%以下である。該有機シリル系化合物は、加水分解されていない状態でハードコート層形成用組成物の塗布液に添加してもよいし、部分的又は完全に加水分解して添加してもよい。また、特に温度変化の激しい保存条件や含オゾン大気下での耐久性向上の観点で、該有機シリル系化合物は2量体から15量体程度の縮合体で該ハードコート層に添加することが好ましい。縮合度はガスパーミエーションクロマトグラフィーにより算出することができる。また、該ハードコート層が無機フィラーを含有する場合においては、該有機シリル化合物は、無機フィラーの表面に水素結合及び/又は共有結合させた状態で用いることも好ましい。無機フィラーとしては、特に後述の導電性を有する酸化スズ、酸化インジウムに使用することが好ましい。   When an organic silyl compound is used, the addition amount of the organic silyl compound is 0.1% by mass or more and 120% by mass or less based on the solid content (binder, particles, etc.) excluding the compound in the hard coat layer. Is preferably 0.5% by mass or more and 60% or less, and most preferably 1.0% by mass or more and 40% by mass or less. The organic silyl compound may be added to the coating solution of the composition for forming a hard coat layer in an unhydrolyzed state, or may be added after partially or completely hydrolyzed. The organosilyl compound may be added to the hard coat layer in the form of a dimer to 15-mer condensate, particularly from the viewpoint of improving storage conditions under severe temperature changes and durability under an ozone-containing atmosphere. preferable. The degree of condensation can be calculated by gas permeation chromatography. In the case where the hard coat layer contains an inorganic filler, the organic silyl compound is also preferably used in a state of being hydrogen bonded and / or covalently bonded to the surface of the inorganic filler. As an inorganic filler, it is preferable to use especially for the tin oxide and indium oxide which have the below-mentioned electroconductivity.

好ましい有機シリル系化合物としては、以下のものが挙げられるがこれらに限定されるものではない。テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−i−プロポキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、メチルトリメトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−アクリルオキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピルトリエトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3,4−エポキシシクロヘキシルエチルトリエトキシシラン。   Preferred organic silyl compounds include, but are not limited to, the following: Tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetra-i-propoxysilane, tetra-n-propoxysilane, methyltrimethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycyl Sidoxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, 3-acryloxypropyltriethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane 3,4-epoxycyclohexylethyltriethoxysilane.

また、縮合物として好ましい有機シリル系化合物は、テトラエトキシシランと3−アクリルオキシプロピルトリメトキシシランの1対9(質量比)縮合物(5〜10量体)、3−アクリルオキシプロピルトリメトキシシランの2〜10量体、テトラエトキシシランと3−メタクリルオキシプロピルトリメトキシシランの1対9(質量比)縮合物(5〜10量体)、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシランの2〜10量体、等を挙げることができる。   Further, preferred organic silyl compounds as condensates are 1 to 9 (mass ratio) condensates (5 to 10-mer) of tetraethoxysilane and 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, and 3-acryloxypropyltrimethoxysilane. 2 to 10-mer, 1 to 9 (mass ratio) condensate (5 to 10-mer) of tetraethoxysilane and 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 2 to 10 of 3-glycidoxypropyltriethoxysilane And the like.

ハードコート層に使用することのできる多官能のイソシアネート化合物としては、下記一般式(3)で表される化合物が好ましい。
一般式(3):R31−(NCO)m
一般式(3)中、R31はm価の任意の基を表し、mは2以上の整数を表す。
As the polyfunctional isocyanate compound that can be used in the hard coat layer, a compound represented by the following general formula (3) is preferable.
Formula (3): R 31 - ( NCO) m
In the general formula (3), R 31 represents an m-valent arbitrary group, and m represents an integer of 2 or more.

上記一般式(3)で表わされる化合物としては、公知の化合物を使用することができる。これらは、2官能、3官能又はそれ以上の多官能イソシアネート化合物である。一般式(3)において、R31は、特に限定されるものではないが、炭素数2〜30の脂肪族基、炭素数6〜30の芳香族基、又は炭素数3〜30の飽和もしくは不飽和のヘテロ環基、及びこれらの基を組み合わせて得られるm価の基を表す。mは2〜5が好ましく、2又は3が特に好ましい。 A known compound can be used as the compound represented by the general formula (3). These are bifunctional, trifunctional or higher polyfunctional isocyanate compounds. In the general formula (3), R 31 is not particularly limited, but is an aliphatic group having 2 to 30 carbon atoms, an aromatic group having 6 to 30 carbon atoms, or a saturated or unsaturated group having 3 to 30 carbon atoms. A saturated heterocyclic group and an m-valent group obtained by combining these groups are represented. m is preferably 2 to 5, and 2 or 3 is particularly preferable.

一般式(3)で表される化合物は、常法により製造することができる。一般式(3)で表される化合物としては、芳香族イソシアネート化合物、脂肪族イソシアネート化合物などが挙げられる。   The compound represented by the general formula (3) can be produced by a conventional method. Examples of the compound represented by the general formula (3) include aromatic isocyanate compounds and aliphatic isocyanate compounds.

前記一般式(3)で表される2官能イソシアネートとしては、例えば2,4−トリレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート、m−フェニレンジイソシアネート、p−フェニレンジイソシアネート、m−キシリレンジイソシアネート、p−キシリレ
ンジイソシアネート、4−クロロキシリレン−1,3−ジイソシアネート、2−メチルキシリレンジイソシアネート、4,4'−ジフェニルメタンジイソシアネート、4,4'−ジフェニルプロパンジイソシアネート、4,4'−ジフェニルヘキサフルオロプロパンジイソシアネート、1,4−ナフタレンジイソシアネート、3,3'−ジメトキシビフェニルジイソシアネート、3,3'−ジメチルジフェニルメタン−4,4'−ジイソシアネート等の芳香族2官能イソシアネート;1,3−トリメチレンジイソシアネート、プロピレン−1,2−ジイソシアネート、ブチレン−1,2−ジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネート、シクロヘキシレン−1,2−ジイソシアネート、シクロヘキシレン−1,3−ジイソシアネート、シクロヘキシレン−1,4−ジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、水添m−キシリレンジイソシアネート、水添p−キシリレンジイソシアネート、水添4,4'−ジフェニルメタンジイソシアネート、2,5−ジ(イソシアナトメチル)ノルボルナン等の脂肪族2官能イソシアネート;又はこれら2官能イソシアネートとエチレングリコール、ビスフェノール類等の2官能アルコール、フェノールとの付加反応物が挙げられる。
Examples of the bifunctional isocyanate represented by the general formula (3) include 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, m-phenylene diisocyanate, p-phenylene diisocyanate, m-xylylene diisocyanate, p. -Xylylene diisocyanate, 4-chloroxylylene-1,3-diisocyanate, 2-methylxylylene diisocyanate, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 4,4'-diphenylpropane diisocyanate, 4,4'-diphenylhexafluoropropane Aromatic difunctional isocyanates such as diisocyanate, 1,4-naphthalene diisocyanate, 3,3′-dimethoxybiphenyl diisocyanate, 3,3′-dimethyldiphenylmethane-4,4′-diisocyanate; 1 3-trimethylene diisocyanate, propylene-1,2-diisocyanate, butylene-1,2-diisocyanate, 1,6-hexamethylene diisocyanate, cyclohexylene-1,2-diisocyanate, cyclohexylene-1,3-diisocyanate, cyclohexylene Fats such as 1,4-diisocyanate, isophorone diisocyanate, hydrogenated m-xylylene diisocyanate, hydrogenated p-xylylene diisocyanate, hydrogenated 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, 2,5-di (isocyanatomethyl) norbornane Group bifunctional isocyanates; or bifunctional alcohols such as ethylene glycol and bisphenols, and addition reaction products of phenols.

前記一般式(3)で表される3官能以上のイソシアネートとしては、例えば前述の2官能イソシアネートを主原料とし、これらの3量体(ビウレットもしくはイソシアヌレート)、トリメチロールプロパン等の3官能アルコールとの付加物、フロログリシン等の3官能フェノールとの付加物、又はベンゼンイソシアネートのホルマリン縮合物(例えばポリメチレンポリフェニレンポリイソシアネート)、メタクリロイルオキシエチルイソシアネート等の重合性基を有するイソシアネート化合物の重合体、リジントリイソシアネート等が挙げられる。   As the trifunctional or higher functional isocyanate represented by the general formula (3), for example, the aforementioned bifunctional isocyanate is used as a main raw material, and these trimers (biuret or isocyanurate), trifunctional alcohols such as trimethylolpropane, and the like Adducts with trifunctional phenols such as phloroglycine, formalin condensates of benzene isocyanate (for example, polymethylene polyphenylene polyisocyanate), polymers of isocyanate compounds having polymerizable groups such as methacryloyloxyethyl isocyanate, lysine A triisocyanate etc. are mentioned.

前記一般式(3)で表わされる化合物として、特に好ましくは、2,4−トリレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート、m−キシリレンジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネート、2,5−ジ(イソシアナトメチル)ノルボルナン、4,4'−ジフェニルメタンジイソシアネート、水添m−キシリレンジイソシアネート、水添4,4'−ジフェニルメタンジイソシアネートから選ばれる少なくとも1種の化合物及びこれらの混合物が挙げられる。   As the compound represented by the general formula (3), 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, m-xylylene diisocyanate, 1,6-hexamethylene diisocyanate, 2,5- Examples thereof include at least one compound selected from di (isocyanatomethyl) norbornane, 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, hydrogenated m-xylylene diisocyanate, hydrogenated 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, and mixtures thereof.

[透光性粒子]
ハードコート層には、防眩性及び/又は内部散乱性付与の目的で、無機フィラーより大きく、平均粒径が好ましくは0.1〜5.0μm、好ましくは1.5〜3.5μmの透光性粒子、例えば無機化合物の粒子又は樹脂粒子が含有されることが好ましい。透光性粒子と透光性樹脂間の屈折率の差は、0.02〜0.20の範囲であることが好ましく、0.04〜0.10の範囲であることが特に好ましい。屈折率の差が該上限値以下であれば、フィルムが白濁するなどの不都合が生じないので好ましく、該下限値以上であれば、十分な光拡散効果を与えることができるので好ましい。
[Translucent particles]
For the purpose of imparting antiglare properties and / or internal scattering properties, the hard coat layer is larger than the inorganic filler and preferably has a mean particle size of 0.1 to 5.0 μm, preferably 1.5 to 3.5 μm. It is preferable that optical particles, for example, inorganic compound particles or resin particles are contained. The difference in refractive index between the translucent particles and the translucent resin is preferably in the range of 0.02 to 0.20, and particularly preferably in the range of 0.04 to 0.10. If the difference in refractive index is less than or equal to the upper limit value, it is preferable because inconveniences such as clouding of the film do not occur, and if the difference is greater than or equal to the lower limit value, a sufficient light diffusion effect can be provided.

透光性粒子の添加量は、ハードコート層の全固形分中3〜30質量%含有されていることが好ましく、5〜20質量%含有されていることが特に好ましい。透光性粒子の添加量が該上限値以下であれば、フィルムが白濁するなどの不都合が生じないので好ましく、該下限値以上であれば、十分な光拡散効果を与えることができるので好ましい。透光性粒子の添加量を、形成された光拡散層としてのハードコート層中の透光性粒子量で表すと、好ましくは10〜3000mg/m2、より好ましくは90〜2000mg/m2となる。 The addition amount of the translucent particles is preferably 3 to 30% by mass and particularly preferably 5 to 20% by mass in the total solid content of the hard coat layer. If the addition amount of the translucent particles is less than or equal to the upper limit value, it is preferable because inconveniences such as clouding of the film do not occur, and if it is equal to or more than the lower limit value, a sufficient light diffusion effect can be provided. When the addition amount of the translucent particles is expressed by the translucent particle amount in the hard coat layer as the formed light diffusion layer, it is preferably 10 to 3000 mg / m 2 , more preferably 90 to 2000 mg / m 2 . Become.

上記透光性粒子の具体例としては、例えばシリカ粒子、TiO2粒子等の無機化合物の粒子;アクリル粒子、架橋アクリル粒子、ポリスチレン粒子、架橋スチレン粒子、メラミン樹脂粒子、ベンゾグアナミン樹脂粒子等の樹脂粒子が好ましく挙げられる。なかでも架橋スチレン粒子、架橋アクリル粒子、シリカ粒子が好ましい。
透光性粒子の形状は、真球、不定形のいずれも使用できる。
Specific examples of the translucent particles include inorganic compound particles such as silica particles and TiO 2 particles; resin particles such as acrylic particles, crosslinked acrylic particles, polystyrene particles, crosslinked styrene particles, melamine resin particles, and benzoguanamine resin particles. Is preferred. Of these, crosslinked styrene particles, crosslinked acrylic particles, and silica particles are preferred.
As the shape of the translucent particle, either a true sphere or an indefinite shape can be used.

本発明におけるハードコート層では、異なる2種以上の透光性粒子を併用して用いてもよい。2種類以上の透光性粒子を用いる場合には、両者の混合による屈折率制御を効果的に発揮するために、最も屈折率の高い粒子と最も屈折率の低い粒子との屈折率の差が0.02以上、0.10以下であることが好ましく、0.03以上、0.07以下であることが特に好ましい。またより大きな粒子径の透光性粒子で防眩性を付与し、より小さな粒子径の透光性粒子で別の光学特性を付与することも可能である。例えば、133ppi以上の高精細画像表示装置に反射防止フィルムを貼り付けた場合に、ギラツキと呼ばれる光学性能上の不具合のないことが要求される。ギラツキは、フィルム表面に存在する凹凸(防眩性に寄与)により、画素が拡大もしくは縮小され、輝度の均一性を失うことに由来するが、防眩性を付与する透光性粒子より小さな粒子径で、バインダーの屈折率と異なる透光性粒子を併用することにより大きく改善することができる。   In the hard coat layer in the invention, two or more different kinds of translucent particles may be used in combination. When two or more kinds of translucent particles are used, in order to effectively exert the refractive index control by mixing them, the difference in refractive index between the highest refractive index particle and the lowest refractive index particle is It is preferably 0.02 or more and 0.10 or less, and particularly preferably 0.03 or more and 0.07 or less. It is also possible to impart anti-glare properties with translucent particles having a larger particle size and to impart other optical characteristics with translucent particles having a smaller particle size. For example, when an antireflection film is attached to a high-definition image display device of 133 ppi or more, it is required that there is no problem in optical performance called glare. Glare is derived from the fact that the unevenness of the film surface (which contributes to antiglare properties) causes the pixels to be enlarged or reduced and loses brightness uniformity, but is smaller than the light-transmitting particles that impart antiglare properties. The diameter can be greatly improved by using translucent particles different from the refractive index of the binder.

さらに、上記透光性粒子の粒子径分布としては、単分散であることが最も好ましく、各粒子の粒子径は、それぞれ同一に近ければ近いほどよい。例えば、平均粒子径よりも20%以上粒子径が大きな粒子を粗大粒子と規定した場合、この粗大粒子の割合は全粒子数の1%以下であることが好ましく、より好ましくは0.1%以下であり、さらに好ましくは0.01%以下である。このような粒子径分布を持つ透光性粒子は、通常の合成反応後に、分級によって得られ、分級の回数を上げることやその程度を強くすることにより、より好ましい分布の粒子を得ることができる。   Furthermore, the particle size distribution of the translucent particles is most preferably monodisperse, and the particle size of each particle is preferably as close as possible. For example, when particles having a particle size of 20% or more than the average particle size are defined as coarse particles, the proportion of coarse particles is preferably 1% or less, more preferably 0.1% or less of the total number of particles. More preferably, it is 0.01% or less. Translucent particles having such a particle size distribution are obtained by classification after a normal synthesis reaction, and particles having a more preferable distribution can be obtained by increasing the number of classifications or increasing the degree of classification. .

透光性粒子の粒度分布はコールターカウンター法により測定し、測定された分布を粒子数分布に換算する。   The particle size distribution of the translucent particles is measured by a Coulter counter method, and the measured distribution is converted into a particle number distribution.

[無機フィラー]
ハードコート層には、層の屈折率を高めるため、及び硬化収縮を低減するために、上記の透光性粒子に加えて、チタン、ジルコニウム、アルミニウム、インジウム、亜鉛、錫、アンチモンのうちより選ばれる少なくとも1種の金属の酸化物からなり、平均粒径が0.2μm以下、好ましくは0.1μm以下、より好ましくは0.06μm以下である無機フィラーが含有されることが好ましい。
[Inorganic filler]
The hard coat layer is selected from titanium, zirconium, aluminum, indium, zinc, tin, and antimony in addition to the above light-transmitting particles in order to increase the refractive index of the layer and to reduce curing shrinkage. It is preferable that an inorganic filler having an average particle size of 0.2 μm or less, preferably 0.1 μm or less, and more preferably 0.06 μm or less is contained.

また、ハードコート層と透光性粒子との屈折率差を大きくするために、高屈折率透光性粒子を用いたハードコート層では、層としての屈折率を低目に保つために珪素の酸化物を用いることも好ましい。好ましい粒径は前述の無機フィラーと同じである。   In addition, in order to increase the refractive index difference between the hard coat layer and the translucent particles, in the hard coat layer using the high refractive index translucent particles, in order to keep the refractive index as a layer low, It is also preferable to use an oxide. The preferred particle size is the same as that of the aforementioned inorganic filler.

ハードコート層に用いられる無機フィラーの具体例としては、TiO2、ZrO2、Al23、In23、ZnO、SnO2、Sb23、ITO、SiO2等が挙げられる。TiO2及びZrO2が高屈折率化の点で特に好ましい。該無機フィラーは表面をシランカップリング処理又はチタンカップリング処理されることも好ましく、フィラー表面にバインダー種と反応できる官能基を有する表面処理剤が好ましく用いられる。 Specific examples of the inorganic filler used in the hard coat layer include TiO 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , In 2 O 3 , ZnO, SnO 2 , Sb 2 O 3 , ITO, SiO 2 and the like. TiO 2 and ZrO 2 are particularly preferable in terms of increasing the refractive index. The surface of the inorganic filler is preferably subjected to a silane coupling treatment or a titanium coupling treatment, and a surface treatment agent having a functional group capable of reacting with a binder species on the filler surface is preferably used.

これらの無機フィラーの添加量は、ハードコート層の全質量の10〜90%であることが好ましく、より好ましくは20〜80%であり、特に好ましくは30〜70%である。   The amount of these inorganic fillers added is preferably 10 to 90% of the total mass of the hard coat layer, more preferably 20 to 80%, and particularly preferably 30 to 70%.

なお、このような無機フィラーは、粒径が光の波長よりも十分小さいために散乱が生じず、バインダーポリマーに該フィラーが分散した分散体は光学的に均一な物質として振舞う。   Such an inorganic filler does not scatter because its particle size is sufficiently smaller than the wavelength of light, and a dispersion in which the filler is dispersed in a binder polymer behaves as an optically uniform substance.

本発明におけるハードコート層の、バインダー及び無機フィラーの混合物のバルクの屈
折率は、1.48〜2.00であることが好ましく、より好ましくは1.50〜1.80である。屈折率を該範囲とするには、バインダー及び無機フィラーの種類及び量割合を適宜選択すればよい。どのように選択するかは、予め実験的に容易に知ることができる。
The bulk refractive index of the mixture of binder and inorganic filler in the hard coat layer in the present invention is preferably 1.48 to 2.00, more preferably 1.50 to 1.80. In order to make the refractive index within this range, the type and amount ratio of the binder and the inorganic filler may be appropriately selected. How to select it can be easily known experimentally in advance.

透光性粒子及び無機フィラーは、分散物の状態でハードコート層に添加するのが好ましい。分散媒体は、沸点が60〜170℃の液体を用いることが好ましい。分散媒体の例には、水、アルコール(例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ベンジルアルコール)、ケトン(例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン)、エステル(例えば、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、蟻酸メチル、蟻酸エチル、蟻酸プロピル、蟻酸ブチル)、脂肪族炭化水素(例えば、ヘキサン、シクロヘキサン)、ハロゲン化炭化水素(例えば、メチレンクロライド、クロロホルム、四塩化炭素)、芳香族炭化水素(例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン)、アミド(例えば、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、n−メチルピロリドン)、エーテル(例えば、ジエチルエーテル、ジオキサン、テトラハイドロフラン)、エーテルアルコール(例えば、1−メトキシ−2−プロパノール)が含まれる。トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン及びブタノールが特に好ましい。   The translucent particles and the inorganic filler are preferably added to the hard coat layer in a dispersion state. As the dispersion medium, a liquid having a boiling point of 60 to 170 ° C. is preferably used. Examples of dispersion media include water, alcohols (eg, methanol, ethanol, isopropanol, butanol, benzyl alcohol), ketones (eg, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone), esters (eg, methyl acetate, ethyl acetate, Propyl acetate, butyl acetate, methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyl formate), aliphatic hydrocarbons (eg hexane, cyclohexane), halogenated hydrocarbons (eg methylene chloride, chloroform, carbon tetrachloride), aromatic Hydrocarbon (eg, benzene, toluene, xylene), amide (eg, dimethylformamide, dimethylacetamide, n-methylpyrrolidone), ether (eg, diethyl ether, dioxane, tetrahydrofuran) Ether alcohols (e.g., 1-methoxy-2-propanol) are included. Toluene, xylene, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone and butanol are particularly preferred.

透光性粒子及び無機フィラーなどの粒子は、分散機を用いて媒体中に分散できる。分散機の例には、サンドグラインダーミル(例えば、ピン付きビーズミル)、高速インペラーミル、ペッブルミル、ローラーミル、アトライター及びコロイドミルが含まれる。サンドグラインダーミル及び高速インペラーミルが特に好ましい。また、予備分散処理を実施してもよい。予備分散処理に用いる分散機の例には、ボールミル、三本ロールミル、ニーダー及びエクストルーダーが含まれる。   Particles such as translucent particles and inorganic filler can be dispersed in the medium using a disperser. Examples of dispersers include sand grinder mills (eg, bead mill with pins), high speed impeller mills, pebble mills, roller mills, attritors and colloid mills. A sand grinder mill and a high-speed impeller mill are particularly preferred. Further, preliminary dispersion processing may be performed. Examples of the disperser used for the preliminary dispersion treatment include a ball mill, a three-roll mill, a kneader, and an extruder.

ハードコート層の厚さは、0.05〜10μmが好ましく、0.10〜7μmがより好ましく、更に好ましくは3μm〜5μmである。   The thickness of the hard coat layer is preferably 0.05 to 10 μm, more preferably 0.10 to 7 μm, and still more preferably 3 μm to 5 μm.

[チキソトロピー剤]
また、本発明の反射防止フィルムにおいては、いずれかの層にチキソトロピー剤が含有されるのが好ましい。特に、ハードコート層の樹脂皮膜の形成に際して、前記の粒子と共にチキソトロピー剤が併用されることが好ましい。チキソトロピー剤は、分散液を薄膜展開する際、高剪断力が作用するときには低い粘度特性を示して良好な塗工性を示し、薄膜展開後の静止状態では高い粘度特性を示して微粒子が沈降しにくい特性を付与することを目的とする。これにより、前記塗工層を硬化処理するまでの間における含有粒子の沈降を抑制でき、表面部に多数の粒子が残存して高密度に分布し、微細性に優れて小画素からの表示光に対し充分に小さい凹凸構造を形成することができる。
[Thixotropic agent]
Moreover, in the antireflection film of the present invention, it is preferable that any layer contains a thixotropic agent. In particular, it is preferable that a thixotropic agent is used in combination with the above particles when forming the resin film of the hard coat layer. A thixotropic agent exhibits a low viscosity characteristic when a high shear force is applied when a dispersion is applied to a thin film, exhibits good coating properties, and exhibits a high viscosity characteristic in a stationary state after the thin film is developed, whereby fine particles settle. The purpose is to give difficult characteristics. As a result, it is possible to suppress sedimentation of the contained particles until the coating layer is cured, and a large number of particles remain on the surface portion and are distributed with high density, and display light from small pixels with excellent fineness. In contrast, a sufficiently small uneven structure can be formed.

従ってチキソトロピー剤としては、透明で塗布液の増粘等により含有粒子の沈降を抑制しうるものを適宜用いることができ、公知のチキソトロピー剤のいずれも用いうる。因みにその例としては、エアロジルや層状有機粘土、ポリアクリル酸やエチルセルロースなどがあげられる。   Accordingly, as the thixotropic agent, one that is transparent and can suppress sedimentation of the contained particles by increasing the viscosity of the coating solution can be used as appropriate, and any known thixotropic agent can be used. Examples thereof include aerosil, layered organic clay, polyacrylic acid and ethyl cellulose.

チキソトロピー剤の配合量は、分散液の粘度特性などに応じて適宜に決定しうるが、一般には塗工性と微粒子沈降の抑制性の両立性などの点より、前記バインダー100質量部に対して、好ましくは0.01〜10質量部、更に好ましくは0.05〜8質量部、特に好ましくは0.1〜5質量部である。   The amount of the thixotropic agent can be appropriately determined according to the viscosity characteristics of the dispersion, etc., but generally, from the viewpoint of compatibility between coating properties and fine particle settling, etc., with respect to 100 parts by mass of the binder. Preferably, it is 0.01-10 mass parts, More preferably, it is 0.05-8 mass parts, Most preferably, it is 0.1-5 mass parts.

[帯電防止層]
本発明においては、帯電防止層を設けることがフィルム表面での静電気防止の点で好ま
しい。帯電防止層を形成する方法は、例えば、導電性微粒子と反応性硬化樹脂を含む導電性層形成用組成物の塗布液を塗工する方法、又は透明膜を形成する金属や金属酸化物等を蒸着やスパッタリングして導電性薄膜を形成する方法等の従来公知の方法を挙げることができる。
[Antistatic layer]
In the present invention, it is preferable to provide an antistatic layer from the viewpoint of preventing static electricity on the film surface. The method for forming the antistatic layer is, for example, a method of applying a coating solution of a composition for forming a conductive layer containing conductive fine particles and a reactive curable resin, or a metal or metal oxide that forms a transparent film. A conventionally known method such as a method of forming a conductive thin film by vapor deposition or sputtering can be used.

帯電防止層は、透明支持体に直接又は透明支持体との接着を強固にするプライマー層を介して形成することができる。また、帯電防止層を反射防止フィルムの構成の中で、最表層から近い層で使用する場合には、膜の厚さが薄くても十分に帯電防止性を得ることができる。塗工方法は、特に限定されず、塗布液の特性や塗布量に応じて、例えば、ロールコート、グラビアコート、バーコート、押出しコート等の公知の方法より最適な方法を選択して行えばよい。帯電防止層の屈折率を調節して、中屈折率層や高屈折率層を兼ねる層として用いることも好ましい。   The antistatic layer can be formed directly on the transparent support or via a primer layer that strengthens adhesion to the transparent support. Further, when the antistatic layer is used as a layer close to the outermost layer in the structure of the antireflection film, sufficient antistatic properties can be obtained even if the film is thin. The coating method is not particularly limited, and an optimum method may be selected from known methods such as roll coating, gravure coating, bar coating, extrusion coating, etc., depending on the characteristics and coating amount of the coating solution. . It is also preferable to adjust the refractive index of the antistatic layer so as to serve as a medium refractive index layer and a high refractive index layer.

帯電防止層の厚さは、0.01〜10μmが好ましく、0.03〜7μmであることがより好ましく、0.05〜5μmであることがさらに好ましい。   The thickness of the antistatic layer is preferably from 0.01 to 10 μm, more preferably from 0.03 to 7 μm, and even more preferably from 0.05 to 5 μm.

帯電防止層の表面抵抗は、105〜1012Ω/□であることが好ましく、105〜109Ω/□であることがさらに好ましく、105〜108Ω/□であることが最も好ましい。また、帯電防止層を設けることにより、反射防止フィルムの表面抵抗値logSRは12以下となることが、反射防止フィルム表面への埃付着防止の点で好ましく、logSRが10以下となるのが更に好ましい。帯電防止層の表面抵抗は、25℃、湿度60%RH下で、超絶縁抵抗/微小電流計"TR8601"{(株)アドバンテスト製}を用いて測定することができる。 The surface resistance of the antistatic layer is preferably from 10 5 to 10 is 12 Omega / □, more preferably 10 5 to 10 9 Omega / □ is the most be 10 5 to 10 8 Omega / □ is preferable. In addition, by providing an antistatic layer, the surface resistance value logSR of the antireflection film is preferably 12 or less from the viewpoint of preventing dust adhesion to the surface of the antireflection film, and logSR is more preferably 10 or less. . The surface resistance of the antistatic layer can be measured using a super insulation resistance / microammeter “TR8601” {manufactured by Advantest Co., Ltd.) at 25 ° C. and a humidity of 60% RH.

帯電防止層は、実質的に透明であることが好ましい。具体的には、帯電防止層のヘイズは10%以下であることが好ましく、5%以下であることがより好ましく、3%以下であることがさらに好ましく、1%以下であることが最も好ましい。また波長550nmの光の透過率は50%以上であることが好ましく、60%以上であることがより好ましく、65%以上であることがさらに好ましく、70%以上であることが最も好ましい。   The antistatic layer is preferably substantially transparent. Specifically, the haze of the antistatic layer is preferably 10% or less, more preferably 5% or less, further preferably 3% or less, and most preferably 1% or less. Further, the transmittance of light having a wavelength of 550 nm is preferably 50% or more, more preferably 60% or more, further preferably 65% or more, and most preferably 70% or more.

帯電防止層はまた、硬度が高いことが好ましく、具体的な帯電防止層の硬度は、1kg荷重の鉛筆硬度(JIS K−5400の規定)で、H以上であることが好ましく、2H以上であることがより好ましく、3H以上であることがさらに好ましく、4H以上であることが最も好ましい。   The antistatic layer also preferably has a high hardness, and the specific antistatic layer has a pencil hardness of 1 kg (as defined in JIS K-5400), preferably H or higher, and preferably 2H or higher. Is more preferably 3H or more, and most preferably 4H or more.

[帯電防止層の導電性微粒子]
導電性微粒子は、金属の酸化物又は窒化物から形成される無機粒子であることが好ましい。金属の酸化物又は窒化物の例には、酸化錫、酸化インジウム、酸化亜鉛及び窒化チタンが含まれる。酸化錫及び酸化インジウムが特に好ましい。
[Conductive fine particles of antistatic layer]
The conductive fine particles are preferably inorganic particles formed from a metal oxide or nitride. Examples of metal oxides or nitrides include tin oxide, indium oxide, zinc oxide and titanium nitride. Tin oxide and indium oxide are particularly preferred.

導電性微粒子は、これらの金属の酸化物又は窒化物を主成分とし、さらに他の元素を含むことができる。主成分とは、粒子を構成する成分の中で最も含有量(質量%)が多い成分を意味する。他の元素の例には、Ti、Zr、Sn、Sb、Cu、Fe、Mn、Pb、Cd、As、Cr、Hg、Zn、Al、Mg、Si、P、S、B、Nb、In、V及びハロゲン原子が含まれる。酸化錫及び酸化インジウムの導電性を高めるために、Sb、P、B、Nb、In、V及びハロゲン原子を添加することが好ましい。Sbを含有する酸化錫(ATO)及びSnを含有する酸化インジウム(ITO)が特に好ましい。ATO中のSbの割合は、3〜20質量%であることが好ましい。ITO中のSnの割合は、5〜20質量%であることが好ましい。   The conductive fine particles are mainly composed of oxides or nitrides of these metals, and may further contain other elements. The main component means a component having the largest content (mass%) among the components constituting the particles. Examples of other elements include Ti, Zr, Sn, Sb, Cu, Fe, Mn, Pb, Cd, As, Cr, Hg, Zn, Al, Mg, Si, P, S, B, Nb, In, V and halogen atoms are included. In order to increase the conductivity of tin oxide and indium oxide, it is preferable to add Sb, P, B, Nb, In, V and a halogen atom. Particularly preferred are tin oxide (ATO) containing Sb and indium oxide (ITO) containing Sn. The ratio of Sb in ATO is preferably 3 to 20% by mass. The ratio of Sn in ITO is preferably 5 to 20% by mass.

帯電防止層に用いられる導電性微粒子の一次粒子の平均粒子径は、1〜150nmであることが好ましく、5〜100nmであることがさらに好ましく、5〜70nmであることが最も好ましい。形成される帯電防止層中の導電性微粒子の平均粒子径は、1〜200nmであり、5〜150nmであることが好ましく、10〜100nmであることがさらに好ましく、10〜80nmであることが最も好ましい。導電性微粒子の平均粒子径は、粒子の質量を重みとした平均径であり、光散乱法や電子顕微鏡写真により測定できる。   The average particle diameter of the primary particles of the conductive fine particles used for the antistatic layer is preferably 1 to 150 nm, more preferably 5 to 100 nm, and most preferably 5 to 70 nm. The average particle diameter of the conductive fine particles in the antistatic layer to be formed is 1 to 200 nm, preferably 5 to 150 nm, more preferably 10 to 100 nm, and most preferably 10 to 80 nm. preferable. The average particle diameter of the conductive fine particles is an average diameter weighted by the mass of the particles, and can be measured by a light scattering method or an electron micrograph.

導電性無機微粒子の比表面積は、10〜400m2/gであることが好ましく、20〜200m2/gであることがさらに好ましく、30〜150m2/gであることが最も好ましい。 The specific surface area of the conductive inorganic fine particles is preferably from 10 to 400 m 2 / g, more preferably from 20 to 200 m 2 / g, and most preferably from 30 to 150 m 2 / g.

導電性微粒子は表面処理されていてもよい。表面処理は、無機化合物又は有機化合物を用いて実施する。表面処理に用いる無機化合物の例には、アルミナ及びシリカが含まれる。シリカ処理が特に好ましい。表面処理に用いる有機化合物の例には、ポリオール、アルカノールアミン、ステアリン酸、シランカップリング剤及びチタネートカップリング剤が含まれる。シランカップリング剤が最も好ましい。2種類以上の表面処理を組み合わせて実施してもよい。   The conductive fine particles may be surface-treated. The surface treatment is performed using an inorganic compound or an organic compound. Examples of inorganic compounds used for the surface treatment include alumina and silica. Silica treatment is particularly preferred. Examples of the organic compound used for the surface treatment include polyols, alkanolamines, stearic acid, silane coupling agents, and titanate coupling agents. Silane coupling agents are most preferred. Two or more types of surface treatments may be combined.

導電性微粒子の形状は、米粒状、球形状、立方体状、紡錘形状あるいは不定形状であることが好ましい。二種類以上の導電性微粒子を帯電防止層内で併用してもよい。   The shape of the conductive fine particles is preferably a rice grain shape, a spherical shape, a cubic shape, a spindle shape or an indefinite shape. Two or more kinds of conductive fine particles may be used in combination in the antistatic layer.

帯電防止層中の導電性微粒子の割合は、20〜90質量%であることが好ましく、25〜85質量%であることが好ましく、30〜80質量%であることがさらに好ましい。   The proportion of the conductive fine particles in the antistatic layer is preferably 20 to 90% by mass, preferably 25 to 85% by mass, and more preferably 30 to 80% by mass.

導電性微粒子は、分散物の状態で帯電防止層の形成に使用する。好ましい分散媒体は、前述の[無機フィラー]の記載において分散媒体として挙げたものを用いることができる。   The conductive fine particles are used for forming an antistatic layer in the form of a dispersion. As the preferred dispersion medium, those mentioned as the dispersion medium in the above description of [Inorganic filler] can be used.

[反射防止フィルムの製造]
本発明の反射防止フィルムの各層は、各層形成用組成物を後述の塗布用分散媒に溶解して塗布液として、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ダイコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法やエクストルージョンコート法(米国特許2681294号明細書記載)等の塗布方法により形成することができる。二層以上を同時に塗布してもよい。同時塗布の方法については、米国特許2761791号、同2941898号、同3508947号、同3526528号の各明細書および原崎勇次著、コーティング工学、253頁、朝倉書店(1973)に記載の方法を特に制限無く用いて行うことができる。
[Production of antireflection film]
Each layer of the antireflection film of the present invention is prepared by dissolving each layer-forming composition in a coating dispersion medium described later as a coating solution, a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a roller coating method, a die coating method, It can be formed by a coating method such as a wire bar coating method, a gravure coating method or an extrusion coating method (described in US Pat. No. 2,681,294). Two or more layers may be applied simultaneously. Regarding the method of simultaneous application, the methods described in the specifications of US Pat. Nos. 2,761,789, 2,941,898, 3,508,947, and 3,526,528 and Yuji Harasaki, Coating Engineering, page 253, Asakura Shoten (1973) are particularly limited. It can be done without using it.

本発明の反射防止フィルムにおいては、少なくとも低屈折率層を積層するので、ゴミ、ほこり等の異物が存在したとき、輝点欠陥が目立ちやすい。本発明における輝点欠陥とは、目視により、塗膜上の反射で見える欠陥のことで、塗布後の反射防止フィルムの裏面を黒塗りする等の操作により目視で検出できる。目視により見える輝点欠陥は、一般的に50μm以上である。
本発明の反射防止フィルムは、輝点欠陥の数が1平方メートル当たり好ましくは20個以下、より好ましくは10個以下、さらに好ましくは5個以下、特に好ましくは1個以下である。上記の範囲内であれば、製造時の得率の観点から好ましく、大面積の反射防止フィルムの製造にも問題なく使用することができ、好ましい。
In the antireflection film of the present invention, at least the low refractive index layer is laminated, so that a bright spot defect is easily noticeable when foreign matter such as dust or dust is present. The bright spot defect in the present invention is a defect that can be visually observed by reflection on the coating film, and can be detected by an operation such as black coating on the back surface of the antireflection film after coating. The bright spot defects that can be visually observed are generally 50 μm or more.
In the antireflection film of the present invention, the number of bright spot defects is preferably 20 or less per square meter, more preferably 10 or less, still more preferably 5 or less, and particularly preferably 1 or less. If it is in said range, it is preferable from a viewpoint of the yield at the time of manufacture, and it can be used without a problem also in manufacture of a large area antireflection film, and is preferable.

本発明の反射防止フィルムを連続的に製造するために、ロール状の透明支持体フィルムを連続的に送り出す工程、塗布液を塗布する工程、乾燥する工程、塗膜を硬化する工程、
硬化した層を有する支持体フィルムを巻き取る工程が行われる。
ロール状の支持体フィルムから、支持体フィルムがクリーン室に連続的に送り出され、クリーン室内で、支持体フィルムに帯電している静電気を静電除電装置により除電し、引き続き支持体フィルム上に付着している異物を、除塵装置により除去する。引き続きクリーン室内に設置されている塗布部で塗布液が支持体フィルム上に塗布され、塗布された支持体フィルムは乾燥室に送られて乾燥される。
乾燥した塗布層を有する支持体フィルムは乾燥室から放射線硬化室へ送り出され、放射線が照射されて塗布層に含有される硬化型樹脂が重合して硬化する。さらに、放射線により硬化した層を有する支持体フィルムは熱硬化部へ送られ、加熱されて硬化を完結させ、硬化が完結した層を有する支持体フィルムは巻き取られてロール状となる。
In order to continuously produce the antireflection film of the present invention, a step of continuously feeding a roll-shaped transparent support film, a step of applying a coating liquid, a step of drying, a step of curing a coating film,
A step of winding up the support film having the cured layer is performed.
From the roll-shaped support film, the support film is continuously sent out to the clean room. In the clean room, the static electricity charged in the support film is removed by an electrostatic charge-removing device, and then attached to the support film. Remove foreign matter using a dust remover. Subsequently, the coating liquid is applied onto the support film in the application section installed in the clean room, and the applied support film is sent to the drying room and dried.
The support film having the dried coating layer is fed from the drying chamber to the radiation curing chamber, and irradiated with radiation, the curable resin contained in the coating layer is polymerized and cured. Furthermore, the support film having a layer cured by radiation is sent to the thermosetting portion and heated to complete the curing, and the support film having the layer having been completely cured is wound up into a roll shape.

上記各工程は、各層の形成毎に行ってもよいし、塗布部−乾燥室−放射線硬化部−熱硬化室を複数設けて、各層の形成を連続的に行うことも可能であるが、生産性の観点から各層の形成を連続的に行う事が好ましい。
図1に示す本発明において好ましく用いられる製造装置の1実施形態を参照して具体的に説明する。
ここで、図1は本発明において用いられる製造装置の1実施形態を示す概略図である。
図1に示す製造装置は、上記の連続的に送り出す工程を行うためのウェブWおよびそのロール1並びに複数設けられたガイドローラー(図示せず)と、上記の巻き取る工程を行うための巻き取りロール2と、上記の塗布する工程、乾燥する工程及び塗膜を硬化する工程を行うための、製膜ユニット100,200,300,400を適宜必要な数だけ設置したものである。本実施形態においては、製膜ユニット100は、ハードコート層形成用であり、製膜ユニット200は、中屈折率層形成用であり、製膜ユニット300は、高屈折率層形成用であり、製膜ユニット400は、低屈折率層形成用である。
各製膜ユニットは、同様の構造であるので、製膜ユニット100について説明する。製膜ユニット100は、上記の塗布液を塗布する工程を行うための塗布部101、及び上記の塗布された液を乾燥する工程を行うための乾燥部102と、上記の乾燥された塗布液を硬化する工程を行うための硬化装置103とからなる。
なお、図1で示される装置は4層を巻き取ることなく連続的に塗布する際の構成の一例だが、層構成に合わせて製膜ユニット数を変化させることはもちろん可能である。
製膜ユニットが3つ設置された装置を用いて、前記ハードコート層を塗設したロール状の支持体フィルムを連続的に送り出し、ハードコート層、高屈折率層、低屈折率層を各製膜ユニットで順次塗設した後に巻き取る事がより好ましく、製膜ユニットが4つ設置された、図1に示す装置を用いて、ロール状の支持体フィルムを連続的に送り出し、ハードコート層、中屈折率層、高屈折率層、低屈折率層を各製膜ユニットで順次塗設した後に巻き取る事が更に好ましい。
Each of the above steps may be performed every time each layer is formed, or a plurality of coating units-drying chambers-radiation curing units-thermosetting chambers may be provided to form each layer continuously. From the viewpoint of property, it is preferable to form each layer continuously.
A specific description will be given with reference to an embodiment of a manufacturing apparatus preferably used in the present invention shown in FIG.
Here, FIG. 1 is a schematic view showing one embodiment of a manufacturing apparatus used in the present invention.
The manufacturing apparatus shown in FIG. 1 includes a web W for performing the above-described continuous feeding process, a roll 1 thereof, a plurality of guide rollers (not shown), and a winding process for performing the above-described winding process. A roll 2 and a necessary number of film forming units 100, 200, 300, and 400 for performing the coating step, the drying step, and the step of curing the coating film are appropriately installed. In the present embodiment, the film forming unit 100 is for forming a hard coat layer, the film forming unit 200 is for forming a medium refractive index layer, and the film forming unit 300 is for forming a high refractive index layer, The film forming unit 400 is for forming a low refractive index layer.
Since each film forming unit has the same structure, the film forming unit 100 will be described. The film forming unit 100 includes a coating unit 101 for performing the process of applying the coating liquid, a drying unit 102 for performing the process of drying the coated liquid, and the dried coating liquid. And a curing device 103 for performing a curing process.
The apparatus shown in FIG. 1 is an example of a configuration in which four layers are continuously applied without winding up, but it is of course possible to change the number of film forming units according to the layer configuration.
Using an apparatus in which three film forming units are installed, the roll-shaped support film coated with the hard coat layer is continuously sent out, and a hard coat layer, a high refractive index layer, and a low refractive index layer are produced. It is more preferable to wind up after sequentially coating with a membrane unit, using the apparatus shown in FIG. 1 in which four film-forming units are installed, continuously feeding a roll-shaped support film, a hard coat layer, More preferably, the intermediate refractive index layer, the high refractive index layer, and the low refractive index layer are sequentially coated on each film forming unit and then wound.

上記の塗布方法の中でも、マイクログラビア法が一般的に好ましく用いられる。本発明の高屈折率層や低屈折率層もマイクログラビア法で製造することができる。幅方向の塗布量分布や各種の面状故障に対しても良好な面状が得られ、長手方向の塗布量分布も掻き落しに用いる金属ブレードの素材、形状等の最適化により、満足な性能が得られる。   Among the above coating methods, the microgravure method is generally preferably used. The high refractive index layer and the low refractive index layer of the present invention can also be produced by the microgravure method. A satisfactory surface shape can be obtained against the coating amount distribution in the width direction and various surface failures, and satisfactory performance is achieved by optimizing the material and shape of the metal blade used for scraping the coating amount distribution in the longitudinal direction. Is obtained.

輝点欠陥が上述の範囲である輝点欠陥の少ない反射防止フィルムを作成するためには、低屈折率層形成用塗布物中の無機微粒子の分散を精密に制御すること、および塗布液の精密濾過操作を行えばよい。これと同時に、反射防止層を形成する各層は上記の塗布部における塗布工程および乾燥室で行われる乾燥工程が高い清浄度の空気雰囲気下で行われ、かつ塗布が行われる前に、フィルム上のゴミ、ほこりが充分に除かれていることが好ましい。塗布工程および乾燥工程の空気清浄度は、米国連邦規格209Eにおける空気清浄度の規格に基づき、クラス10(0.5μm以上の粒子が353個/(立方メートル)以下)以上であることが望ましく、更に好ましくはクラス1(0.5μm以上の粒子が35.5個/(立方メートル)以下)以上であることが望ましい。また、空気清浄度は、塗布−乾燥工程以外の送り出し、巻き取り部等においても高いことがより好ましい。   In order to produce an antireflection film with a small number of bright spot defects within the above-mentioned range, the dispersion of inorganic fine particles in the coating for forming a low refractive index layer must be precisely controlled, and the precision of the coating solution A filtration operation may be performed. At the same time, each layer forming the antireflection layer is formed on the film before the application process in the application unit and the drying process performed in the drying chamber are performed in a high clean air atmosphere and the application is performed. It is preferable that dust and dust are sufficiently removed. The air cleanliness of the coating process and the drying process is desirably class 10 (353 particles / 0.5 m or more / (cubic meter) or less) based on the standard of air cleanliness in the US Federal Standard 209E. Preferably it is class 1 (35.5 particles / (cubic meter) or less) having a particle size of 0.5 μm or more. Moreover, it is more preferable that the degree of air cleanliness is high also in the feeding and winding parts other than the coating-drying process.

塗布が行われる前工程としての除塵工程に用いられる除塵方法として、特開昭59−150571号公報に記載のフィルム表面に不織布や、ブレード等を押しつける方法、特開平10−309553号公報に記載の清浄度の高い空気を高速で吹き付けて付着物をフィルム表面から剥離させ、近接した吸い込み口で吸引する方法、特開平7−333613号公報に記載される超音波振動する圧縮空気を吹き付けて付着物を剥離させ、吸引する方法(伸興社製、ニューウルトラクリーナー等)等の乾式除塵法が挙げられる。
また、洗浄槽中にフィルムを導入し、超音波振動子により付着物を剥離させる方法、特公昭49−13020号公報に記載されているフィルムに洗浄液を供給したあと、高速空気の吹き付け、吸い込みを行なう方法、特開2001−38306号公報に記載のように、ウェブを液体でぬらしたロールで連続的に擦った後、擦った面に液体を噴射して洗浄する方法等の湿式除塵法を用いることができる。このような除塵方法の内、超音波除塵による方法もしくは湿式除塵による方法が、除塵効果の点で特に好ましい。
As a dust removal method used in a dust removal step as a pre-process for coating, a method of pressing a nonwoven fabric, a blade or the like against the film surface described in JP-A-59-150571, described in JP-A-10-309553 Highly clean air is blown at a high speed to peel off the deposit from the film surface, and suction is performed at a suction port adjacent to the film. Ultrasonic-vibrated compressed air described in JP-A-7-333613 is sprayed onto the deposit. And a dry dust removal method such as a method of peeling and suctioning (manufactured by Shinkosha, New Ultra Cleaner, etc.).
In addition, a method of introducing a film into a cleaning tank and peeling off deposits with an ultrasonic vibrator, supplying a cleaning liquid to the film described in Japanese Patent Publication No. 49-13020, and then blowing and sucking high-speed air As described in JP-A-2001-38306, a wet dust removal method such as a method in which a web is continuously rubbed with a roll wetted with a liquid and then the liquid is sprayed onto the rubbed surface for cleaning. be able to. Among such dust removal methods, a method using ultrasonic dust removal or a method using wet dust removal is particularly preferable from the viewpoint of dust removal effect.

また、このような除塵工程を行う前に、支持体フィルム上の静電気を除電しておくことは、除塵効率を上げ、ゴミの付着を抑える点で特に好ましい。このような除電方法としては、コロナ放電式のイオナイザ、UV、軟X線等の光照射式のイオナイザ等を用いることができる。除塵、塗布前後の支持体フィルムの帯電圧は、1000V以下が望ましく、好ましくは300V以下、特に好ましくは、100V以下である。   In addition, it is particularly preferable to remove static electricity on the support film before performing such a dust removal step from the viewpoint of increasing dust removal efficiency and suppressing adhesion of dust. As such a static elimination method, a corona discharge ionizer, a light irradiation ionizer such as UV or soft X-ray, or the like can be used. The charged voltage of the support film before and after dust removal and coating is desirably 1000 V or less, preferably 300 V or less, and particularly preferably 100 V or less.

[塗布用分散媒]
上記塗布液に用いられる塗布用分散媒としては、特に限定されず、単独でも2種以上を混合して使用してもよい。好ましい分散媒体は、トルエン、キシレン、スチレン等の芳香族炭化水素類、クロルベンゼン、オルトージクロルベンゼン等の塩化芳香族炭化水素類、モノクロルメタン等のメタン誘導体、モノクロルエタン等のエタン誘導体等を含む塩化脂肪族炭化水素類、メタノール、イソプロピルアルコール、イソブチルアルコール等のアルコール類、酢酸メチル、酢酸エチル等のエステル類、エチルエーテル、1,4-ジオキサン等のエーテル類、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、エチレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル類、シクロヘキサン等の脂環式炭化水素類、ノルマルヘキサン等の脂肪族炭化水素類、脂肪族または芳香族炭化水素の混合物等が該当する。これら溶媒の中でもケトン類の単独あるいは2種以上の混合により作成される塗布用分散媒が特に好ましい。
[Dispersion medium for coating]
It does not specifically limit as a dispersion medium for a coating used for the said coating liquid, You may use it individually or in mixture of 2 or more types. Preferred dispersion media include aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and styrene, chlorinated aromatic hydrocarbons such as chlorobenzene and orthodichlorobenzene, methane derivatives such as monochloromethane, ethane derivatives such as monochloroethane, and the like. Chlorinated aliphatic hydrocarbons, alcohols such as methanol, isopropyl alcohol and isobutyl alcohol, esters such as methyl acetate and ethyl acetate, ethers such as ethyl ether and 1,4-dioxane, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, Examples include ketones such as cyclohexanone, glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether, alicyclic hydrocarbons such as cyclohexane, aliphatic hydrocarbons such as normal hexane, and mixtures of aliphatic or aromatic hydrocarbons. Among these solvents, a dispersion medium for coating prepared by alone or mixing two or more ketones is particularly preferable.

[塗布液の表面張力]
塗布液の表面張力は、15〜36[mN/m]の範囲にあることが好ましい。この範囲であれば、乾燥時のムラが抑止されるため好ましい。さらに好ましくは17[mN/m]〜32[mN/m]の範囲であり、19[mN/m]〜26[mN/m]の範囲が特に好ましい。この範囲であれば、塗布可能な上限の速度を落とすことがなく好ましい。表面張力はレベリング剤を添加するなどして制御することができる。
[Surface tension of coating solution]
The surface tension of the coating solution is preferably in the range of 15 to 36 [mN / m]. If it is this range, since the nonuniformity at the time of drying is suppressed, it is preferable. More preferably, it is the range of 17 [mN / m]-32 [mN / m], and the range of 19 [mN / m]-26 [mN / m] is especially preferable. If it is this range, the upper limit speed | rate which can be apply | coated is not dropped, and it is preferable. The surface tension can be controlled by adding a leveling agent.

[濾過]
塗布に用いる塗布液は、塗布前に濾過することが好ましい。濾過のフィルターは、塗布液中の成分が除去されない範囲でできるだけ孔径の小さいものを使うことが好ましい。濾過には絶対濾過精度が0.1〜10μmのフィルターを用いることが好ましく、さらには絶対濾過精度が0.1〜5μmであるフィルタを用いることが好ましい。フィルターの厚さは、0.1〜10mmが好ましく、更には0.2〜2mmが好ましい。その場合、ろ過圧力は好ましくは1.5MPa以下、より好ましくは1.0MPa以下、更には0.2MPa以下で濾過することが好ましい。
ろ過フィルター部材は、塗布液に影響を及ぼさなければ特に限定されない。具体的には、前記した無機化合物の湿式分散物のろ過部材と同様のものが挙げられる。
また、濾過した塗布液を、塗布直前に超音波分散して、脱泡、分散物の分散保持を補助することも好ましい。
[filtration]
The coating solution used for coating is preferably filtered before coating. As a filter for filtration, it is preferable to use a filter having a pore diameter as small as possible within a range in which components in the coating solution are not removed. For the filtration, it is preferable to use a filter having an absolute filtration accuracy of 0.1 to 10 μm, and it is more preferable to use a filter having an absolute filtration accuracy of 0.1 to 5 μm. The thickness of the filter is preferably 0.1 to 10 mm, and more preferably 0.2 to 2 mm. In that case, the filtration pressure is preferably 1.5 MPa or less, more preferably 1.0 MPa or less, and further preferably 0.2 MPa or less.
The filtration filter member is not particularly limited as long as it does not affect the coating solution. Specifically, the same thing as the filtration member of the wet dispersion of an inorganic compound mentioned above is mentioned.
It is also preferable to ultrasonically disperse the filtered coating solution immediately before coating to assist defoaming and dispersion holding of the dispersion.

乾燥、硬化条件は特には制限がないが、50℃〜150℃、好ましくは70〜120℃の低温において、100時間以下、更には0.5時間〜10時間で行うことができる。   The drying and curing conditions are not particularly limited, but can be performed at a low temperature of 50 ° C. to 150 ° C., preferably 70 to 120 ° C., for 100 hours or less, and further for 0.5 hours to 10 hours.

〔反射防止フィルム全体の物性〕
[ヘイズ値及び平均反射率]
このようにして形成された本発明の反射防止フィルムは、ヘイズ値が好ましくは0.3〜70%、より好ましくは0.5〜60%の範囲にあり、そして450nmから650nmの平均反射率が好ましくは3.0%以下、より好ましくは2.5%以下である。本発明の反射防止フィルムが上記範囲のヘイズ値及び平均反射率であることにより、透過画像の劣化を伴わずに良好な防眩性又は内部散乱性及び反射防止性が得られ、好ましい。
[Physical properties of the entire antireflection film]
[Haze value and average reflectance]
The antireflection film of the present invention thus formed has a haze value of preferably 0.3 to 70%, more preferably 0.5 to 60%, and an average reflectance of 450 nm to 650 nm. Preferably it is 3.0% or less, More preferably, it is 2.5% or less. When the antireflection film of the present invention has a haze value and an average reflectance in the above range, good antiglare property or internal scattering property and antireflection property can be obtained without causing deterioration of the transmitted image, which is preferable.

[反射防止フィルムの中心線平均粗さ(Ra)]
本発明において、視認性を向上させる観点及び、膜の強度を向上させる観点から、本発明に係る反射防止フィルムの最表面は、制御された微細な凹凸を有する必要がある。このような最表面の凹凸の範囲は、JIS B−0601で規定される中心線平均表面粗さRaが0.005〜0.30μmの範囲であることが必要であり、好ましくは0.05〜0.30μm、更に好ましくは0.10〜0.30μmの範囲である。Raがこの範囲内にあれば、反射防止フィルムの膜強度が低下せず、また耐久性も低くならない。またRaが0.30μm以下であれば、反射防止フィルムの表面での光散乱が大きくなることによるコントラストの低下やフィルムの白味の増加による画質の低下が起こらない。
[Center line average roughness (Ra) of antireflection film]
In the present invention, from the viewpoint of improving the visibility and the viewpoint of improving the strength of the film, the outermost surface of the antireflection film according to the present invention needs to have controlled fine irregularities. The range of the unevenness on the outermost surface is such that the center line average surface roughness Ra specified by JIS B-0601 is in the range of 0.005 to 0.30 μm, preferably 0.05 to The range is 0.30 μm, more preferably 0.10 to 0.30 μm. If Ra is within this range, the film strength of the antireflection film does not decrease, and the durability does not decrease. On the other hand, when Ra is 0.30 μm or less, there is no reduction in contrast due to an increase in light scattering on the surface of the antireflection film and no deterioration in image quality due to an increase in whiteness of the film.

反射防止フィルムの中心線平均粗さ(Ra)をこの範囲に調整するためには、大別して2つの手段がある。一つは、前述の透光性粒子の種類、粒子サイズ、量、ハードコート層の膜厚を制御することで調節することである。別の方法は、塗布液の乾燥速度や粘度、塗布液の温度を制御することで調整する方法であり、ゲル化剤(ポリアクリルアミド類、セルロース誘導体、多糖類等)やチキソトロピー剤を添加することも好ましい。この方法では、ハードコート層に透光性粒子を含有してもしなくてもよい。   In order to adjust the centerline average roughness (Ra) of the antireflection film within this range, there are roughly two means. One is to adjust by controlling the kind, particle size, amount, and film thickness of the above-mentioned translucent particles. Another method is a method of adjusting by controlling the drying speed and viscosity of the coating liquid and the temperature of the coating liquid, and adding a gelling agent (polyacrylamides, cellulose derivatives, polysaccharides, etc.) or a thixotropic agent. Is also preferable. In this method, the hard coat layer may or may not contain translucent particles.

[反射防止フィルムの10点平均粗さ(Rz)、輪郭曲線要素の平均長さ(RSm)] 本発明において、さらなる膜の強度の向上や耐久性改良の観点から、本発明に係る反射防止フィルムの最表面のRzおよびRSmは、以下の範囲にあることが好ましい。ここで、RzとはJIS B−0601で規定される10点平均粗さを表し、RSmとはJIS B−0601で規定される輪郭曲線要素の平均長さを表す。Rzは0.02〜3.0μmが好ましく、更に好ましくは0.10〜2.5μm、最も好ましくは0.20〜2.0μmの範囲である。RSmは10〜200μmが好ましく、更に好ましくは15〜150μm、最も好ましくは20〜100μmの範囲である。 [10-point average roughness (Rz) of antireflection film, average length (RSm) of contour curve element] In the present invention, from the viewpoint of further improving the strength and durability of the film, the antireflection film according to the present invention. It is preferable that Rz and RSm of the outermost surface are in the following ranges. Here, Rz represents the 10-point average roughness defined by JIS B-0601, and RSm represents the average length of the contour curve elements defined by JIS B-0601. Rz is preferably 0.02 to 3.0 μm, more preferably 0.10 to 2.5 μm, and most preferably 0.20 to 2.0 μm. RSm is preferably 10 to 200 μm, more preferably 15 to 150 μm, and most preferably 20 to 100 μm.

[ハードコート層の中心線平均粗さ(Ra)]
本発明において、得られる反射防止フィルムの耐久性を向上させる観点及び膜の強度を向上させる観点から、低屈折率層が塗設されるハードコート層の表面は、微細な凹凸を有することが好ましい。
[Center line average roughness of hard coat layer (Ra)]
In the present invention, from the viewpoint of improving the durability of the resulting antireflection film and improving the strength of the film, the surface of the hard coat layer on which the low refractive index layer is coated preferably has fine irregularities. .

高湿下や温度変化の激しい条件で保存した後の耐久性向上の点からは、好ましい凹凸としては、JIS B−0601で規定される中心線平均表面粗さRaが0.005〜0.30μmの範囲であり、更に好ましくは、0.05〜0.30μmの範囲であり、最も好ましくは0.10〜0.30μmである。   From the viewpoint of improving durability after storage under conditions of high humidity and severe temperature changes, as preferable irregularities, the centerline average surface roughness Ra defined by JIS B-0601 is 0.005 to 0.30 μm. More preferably, it is the range of 0.05-0.30 micrometers, Most preferably, it is 0.10-0.30 micrometers.

また、含オゾン大気下で保存した後の耐久性向上の点からは、好ましい中心線平均表面粗さRaは0.007〜0.20μmの範囲である。この範囲に調整するためには上記の様に主として2つの手段があり、どの方法でも効果があるが、帯電防止無機微粒子を含有するハードコート層は表面の凹凸の制御が容易で特に好ましい。   Moreover, from the point of the durability improvement after preserve | saving in ozone-containing air | atmosphere, preferable centerline average surface roughness Ra is the range of 0.007-0.20 micrometers. In order to adjust to this range, there are mainly two means as described above, and any method is effective. However, the hard coat layer containing the antistatic inorganic fine particles is particularly preferable because the surface unevenness can be easily controlled.

[反射防止フィルムの耐擦傷性]
本発明の反射防止フィルムは、10ppmのオゾンに192時間暴露後の反射防止フィルム表面の水綿棒擦り試験での限界荷重が400g以上であることが好ましい。より好ましくは500g以上、更に好ましくは600g以上である。
水綿棒擦り試験での限界荷重は以下のようにして求める。
各試料を偏光板に加工後、オゾン10ppm、30℃、60%RHの環境下に192時間(8日)保管した後に、大気中に取り出す。ラビングテスターのこすり先端部に綿棒((株)トーヨー衛材株式会社製 ヘルスリフレ(商品名))を固定し、平滑皿中で試料の上下をクリップで固定し、室温25℃で、試料と綿棒を25℃の水に浸し、綿棒に荷重をかけて20往復擦り試験を行う。こすり距離(片道):1cm、こすり速度:約2往復/秒擦り後の試料の表面の水を乾燥させた後に、膜がはがれているかを目視で観察する。同じ試料で10回試験を行い、5回以上膜はがれが起きるまで、初期荷重100gからスタートし荷重を50gずつ上げて試験を行う。膜はがれが10回の試験中5回未満であった荷重を限界荷重と定義する。膜はがれは、目視で表面の反射状態が変わっているかで判断を行う。反射状態が変わっている膜は、その切片を電子顕微鏡で観察すると、最上層の膜厚が5%以上薄くなっているか、または最上層やその他構成層が剥離していることが観察される。
[Abrasion resistance of antireflection film]
The antireflection film of the present invention preferably has a limit load of 400 g or more in a water swab rubbing test on the surface of the antireflection film after exposure to 10 ppm of ozone for 192 hours. More preferably, it is 500 g or more, More preferably, it is 600 g or more.
The limit load in the water swab rubbing test is obtained as follows.
Each sample is processed into a polarizing plate, stored in an environment of ozone 10 ppm, 30 ° C., 60% RH for 192 hours (8 days), and then taken out into the atmosphere. A cotton swab (Health Refre (trade name) manufactured by Toyo Sanyo Co., Ltd.) is fixed to the rubbing tip of a rubbing tester, and the sample is fixed with clips on the top and bottom of a smooth dish. Is immersed in water at 25 ° C., a load is applied to a cotton swab, and a 20 reciprocating rubbing test is performed. Rubbing distance (one way): 1 cm, rubbing speed: about 2 reciprocations / second After the water on the surface of the sample after rubbing is dried, it is visually observed whether the film is peeled off. The test is performed 10 times on the same sample, and the test is started by starting with an initial load of 100 g and increasing the load by 50 g until film peeling occurs 5 times or more. The load at which film peeling is less than 5 times in 10 tests is defined as the critical load. The film peeling is judged based on whether the reflection state of the surface is visually changed. When the section of the film in which the reflection state is changed is observed with an electron microscope, it is observed that the film thickness of the uppermost layer is 5% or more thinner, or the uppermost layer and other constituent layers are peeled off.

〔透明支持体〕
本発明の反射防止フィルムの透明支持体としては、プラスチックフィルムを用いることが好ましい。プラスチックフィルムを形成するポリマーとしては、セルロースエステル{例えば、トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース、代表的には富士写真フィルム(株)製「フジタックTAC−TD80U」、「フジタックTD80UF」など)、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリエステル(例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート)、ポリスチレン、ポリオレフィン、ノルボルネン系樹脂{「アートン」、JSR(株)製}、非晶質ポリオレフィン{「ゼオネックス」、日本ゼオン(株)製}などが挙げられる。このうちトリアセチルセルロース、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、が好ましく、特にトリアセチルセルロースが好ましい。
(Transparent support)
As the transparent support of the antireflection film of the present invention, a plastic film is preferably used. Examples of the polymer forming the plastic film include cellulose esters (for example, triacetyl cellulose, diacetyl cellulose, typically “Fujitac TAC-TD80U”, “Fujitac TD80UF”, etc., manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.), polyamide, polycarbonate, Polyester (for example, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate), polystyrene, polyolefin, norbornene resin {"Arton", manufactured by JSR Corporation}, amorphous polyolefin {"Zeonex", manufactured by Nippon Zeon Corporation}, etc. It is done. Of these, triacetyl cellulose, polyethylene terephthalate, and polyethylene naphthalate are preferable, and triacetyl cellulose is particularly preferable.

トリアセチルセルロースなどのセルロースアシレートは、単層又は複数の層からなる。単層のセルロースアシレートは、特開平7−11055号公報等で開示されている、ドラム流延又はバンド流延等により作製され、後者の複数の層からなるセルロースアシレートは、公開特許公報の特開昭61−94725号公報、特公昭62−43846号公報等で開示されている、いわゆる共流延法により作製することがきる。すなわち、原料フレークをハロゲン化炭化水素類(ジクロロメタン等)、アルコール類(メタノール、エタノール、ブタノール等)、エステル類(蟻酸メチル、酢酸メチル等)、エーテル類(ジオキサン、ジオキソラン、ジエチルエーテル等)等の溶媒にて溶解し、これに必要に応じて可塑剤、紫外線吸収剤、劣化防止剤、滑り剤、剥離促進剤等の各種の添加剤を加えた溶液(以下ドープと称することがある)を、水平式のエンドレスの金属ベルト又は回転するドラムからなる支持体の上に、ドープ供給手段(以下ダイと称することがある)により流延する際、単層ならば単一のドープを単層流延し、複数の層ならば高濃度のセルロースエステルドープの両側に低濃度ドープを共流延し、支持体上である程度乾燥して剛性が付与されたフィルムを支持体から剥離し、次いで各種の搬送手段により乾燥部を通過させて溶剤を除去することからなる方法である。   Cellulose acylate such as triacetyl cellulose is composed of a single layer or a plurality of layers. A single-layer cellulose acylate is produced by drum casting or band casting disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-11055, etc. The cellulose acylate comprising the latter plurality of layers is disclosed in It can be produced by the so-called co-casting method disclosed in JP-A-61-94725 and JP-B-62-43846. That is, raw material flakes such as halogenated hydrocarbons (dichloromethane, etc.), alcohols (methanol, ethanol, butanol, etc.), esters (methyl formate, methyl acetate, etc.), ethers (dioxane, dioxolane, diethyl ether, etc.), etc. A solution obtained by dissolving in a solvent and adding various additives such as a plasticizer, an ultraviolet absorber, a deterioration preventing agent, a slipping agent, a peeling accelerator as necessary (hereinafter sometimes referred to as a dope), When cast by a dope supply means (hereinafter sometimes referred to as a die) on a support composed of a horizontal endless metal belt or a rotating drum, a single dope is cast as a single layer. In the case of multiple layers, a low-concentration dope is co-cast on both sides of a high-concentration cellulose ester dope and dried to some extent on the support to give a rigid film. It was detached from the support and then a process comprising the removal of various solvents and passed through a drying section by the conveying means.

上記のような、セルロースアシレートを溶解するための溶媒としては、ジクロロメタンが代表的である。しかし地球環境や作業環境の観点から、溶媒はジクロロメタン等のハロゲン化炭化水素を実質的に含まないことが好ましい。「実質的に含まない」とは、有機溶媒中のハロゲン化炭化水素の割合が5質量%未満(好ましくは2質量%未満)であることを意味する。
ジクロロメタン等を実質的に含まない溶媒を用いてセルロースアシレートのドープを調製する場合には、後述するような特殊な溶解法が必須となる。
A typical solvent for dissolving cellulose acylate as described above is dichloromethane. However, from the viewpoint of the global environment and working environment, the solvent preferably does not substantially contain a halogenated hydrocarbon such as dichloromethane. “Substantially free” means that the proportion of halogenated hydrocarbon in the organic solvent is less than 5% by mass (preferably less than 2% by mass).
When preparing a cellulose acylate dope using a solvent substantially free of dichloromethane or the like, a special dissolution method as described later is essential.

第一の溶解法は、冷却溶解法と称され、以下に説明する。
まず室温近辺の温度(−10〜40℃)で溶媒中にセルロースアシレートを撹拌しながら徐々に添加する。次に、混合物は−100〜−10℃(好ましくは−80〜−10℃、さらに好ましくは−50〜−20℃、最も好ましくは−50〜−30℃)に冷却する。冷却は、例えば、ドライアイス・メタノール浴(−75℃)や冷却したジエチレングリコール溶液(−30〜−20℃)中で実施できる。このように冷却すると、セルロースアシレートと溶媒の混合物は固化する。さらに、これを0〜200℃(好ましくは0〜150℃、さらに好ましくは0〜120℃、最も好ましくは0〜50℃)に加温すると、溶媒中にセルロースアシレートが流動する溶液となる。昇温は、室温中に放置するだけでもよいし、温浴中で加温してもよい。
The first dissolution method is called a cooling dissolution method and will be described below.
First, cellulose acylate is gradually added to a solvent at a temperature around room temperature (−10 to 40 ° C.) while stirring. The mixture is then cooled to -100 to -10 ° C (preferably -80 to -10 ° C, more preferably -50 to -20 ° C, most preferably -50 to -30 ° C). The cooling can be performed, for example, in a dry ice / methanol bath (−75 ° C.) or a cooled diethylene glycol solution (−30 to −20 ° C.). When cooled in this way, the mixture of cellulose acylate and solvent solidifies. Further, when this is heated to 0 to 200 ° C. (preferably 0 to 150 ° C., more preferably 0 to 120 ° C., most preferably 0 to 50 ° C.), a solution in which cellulose acylate flows in the solvent is obtained. The temperature may be increased by simply leaving it at room temperature or in a warm bath.

第二の方法は、高温溶解法と称され、以下に説明する。
まず室温近辺の温度(−10〜40℃)で溶媒中にセルロースアシレートを撹拌しながら徐々に添加する。本発明のセルロースアシレート溶液は、各種溶媒を含有する混合溶媒中にセルロースアシレートを添加し、予め膨潤させることが好ましい。本法において、セルロースアシレートの溶解濃度は30質量%以下が好ましいが、フィルム製膜時の乾燥効率の点から、なるべく高濃度であることが好ましい。次に有機溶媒混合液は、0.2MPa〜30MPaの加圧下で70〜240℃に加熱される(好ましくは80〜220℃、更に好ましく100〜200℃、最も好ましくは100〜190℃)。次にこれらの加熱溶液はそのままでは塗布できないため、使用された溶媒の最も低い沸点以下に冷却する必要がある。その場合、−10〜50℃に冷却して常圧に戻すことが一般的である。冷却はセルロースアシレート溶液が内蔵されている高圧高温容器やラインを、室温に放置するだけでもよく、更に好ましくは冷却水などの冷媒を用いて該装置を冷却してもよい。ジクロロメタン等のハロゲン化炭化水素を実質的に含まないセルロースアシレートフィルム及びその製造法については発明協会公開技報公技番号2001−1745号(2001年3月15日発行、以下公開技報2001−1745号と略す。)に記載されている方法が挙げられる。
The second method is called a high temperature melting method and will be described below.
First, cellulose acylate is gradually added to a solvent at a temperature around room temperature (−10 to 40 ° C.) while stirring. The cellulose acylate solution of the present invention is preferably swelled in advance by adding cellulose acylate to a mixed solvent containing various solvents. In this method, the dissolution concentration of cellulose acylate is preferably 30% by mass or less, but is preferably as high as possible from the viewpoint of drying efficiency during film formation. Next, the organic solvent mixed solution is heated to 70 to 240 ° C. under a pressure of 0.2 MPa to 30 MPa (preferably 80 to 220 ° C., more preferably 100 to 200 ° C., most preferably 100 to 190 ° C.). Next, since these heated solutions cannot be applied as they are, it is necessary to cool them below the lowest boiling point of the solvent used. In that case, it is common to cool to -10-50 degreeC and to return to a normal pressure. For cooling, the high-pressure and high-temperature vessel or line containing the cellulose acylate solution may be left at room temperature, and more preferably, the apparatus may be cooled using a coolant such as cooling water. A cellulose acylate film substantially free of halogenated hydrocarbons such as dichloromethane and a method for producing the same are disclosed in JIII Journal of Technical Disclosure No. 2001-1745 (issued on March 15, 2001, hereinafter published Technical Report 2001- Abbreviated to No. 1745).

〔反射防止フィルムの液晶表示装置での利用〕
本発明の反射防止フィルムを液晶表示装置に用いる場合、片面に粘着層を設ける等して画像表示装置の最表面に配置する。該透明支持体がトリアセチルセルロースの場合は、偏光板の偏光膜を保護する保護フィルムとしてトリアセチルセルロースが用いられるため、本発明の反射防止フィルムをそのまま保護フィルムとして用いることがコストの上でも好ましい。
[Use of antireflection film in liquid crystal display devices]
When the antireflection film of the present invention is used in a liquid crystal display device, it is disposed on the outermost surface of the image display device by providing an adhesive layer on one side. When the transparent support is triacetyl cellulose, triacetyl cellulose is used as a protective film for protecting the polarizing film of the polarizing plate. Therefore, it is preferable from the viewpoint of cost to use the antireflection film of the present invention as it is as a protective film. .

[鹸化処理]
本発明の反射防止フィルムを画像表示装置の最表面に配置したり、そのまま偏光板用の保護フィルムとして使用したりする場合には、接着性を向上させるために、該反射防止フィルムの反射防止層が設けられた側とは反対側の表面(以下、反射防止フィルムの背面ということがある)をアルカリ処理により親水化することが好ましい。鹸化処理は、公知の手法、例えば、アルカリ液の中に該フィルムを適切な時間浸漬することにより実施される。アルカリ液に浸漬した後は、該フィルムの中にアルカリ成分が残留しないように、水で十分に水洗したり、希薄な酸に浸漬してアルカリ成分を中和したりすることが好ましい。
[Saponification]
When the antireflection film of the present invention is disposed on the outermost surface of the image display device or used as it is as a protective film for a polarizing plate, the antireflection layer of the antireflection film is used to improve the adhesion. It is preferable to hydrophilize the surface on the side opposite to the side provided with (hereinafter sometimes referred to as the back surface of the antireflection film) by alkali treatment. The saponification treatment is carried out by a known method, for example, by immersing the film in an alkaline solution for an appropriate time. After being immersed in the alkali solution, it is preferable to wash the substrate sufficiently with water or neutralize the alkali component by immersing in a dilute acid so that the alkali component does not remain in the film.

反射防止フィルムの背面の透明支持体の親水化された表面は、ポリビニルアルコールを主成分とする偏向膜との接着性を改良するのに特に有効である。また、親水化された表面は、空気中の塵埃が付着しにくくなるため、偏向膜と接着させる際に偏向膜と反射防止フィルムの間に塵埃が入りにくく、塵埃による点欠陥を防止するのに有効である。   The hydrophilized surface of the transparent support on the back surface of the antireflection film is particularly effective for improving the adhesion with a polarizing film containing polyvinyl alcohol as a main component. In addition, the hydrophilic surface makes it difficult for dust in the air to adhere to it, so it is difficult for dust to enter between the deflection film and the antireflection film when bonded to the deflection film, thus preventing point defects due to dust. It is valid.

鹸化処理は、反射防止フィルムの背面の透明支持体表面の、水に対する接触角が40゜以下になるように実施することが好ましい。更に好ましくは30゜以下、特に好ましくは20゜以下である。   The saponification treatment is preferably carried out so that the contact angle with water on the transparent support surface on the back surface of the antireflection film is 40 ° or less. More preferably, it is 30 ° or less, particularly preferably 20 ° or less.

アルカリ鹸化処理の具体的手段としては、以下の(1)〜(4)の4つの手段から選択することができる。これらのうち、汎用のセルロースアシレートフィルムと同一の工程で処理できる点で(1)が優れているが、反射防止層表面まで鹸化処理されるため、表面がアルカリ加水分解されて膜が劣化する点、鹸化処理液が残ると汚れになる点が問題になり得る。これに対し、(2)の方法では、本発明の反射防止フィルムにおける低屈折率層と下層との密着性をも向上させることができ、好ましい。   Specific means for the alkali saponification treatment can be selected from the following four means (1) to (4). Among these, (1) is excellent in that it can be processed in the same process as a general-purpose cellulose acylate film. On the other hand, if the saponification solution remains, it may become a problem. On the other hand, the method (2) is preferable because it can improve the adhesion between the low refractive index layer and the lower layer in the antireflection film of the present invention.

(1)透明支持体上に反射防止層の低屈折率層まで形成した後に、アルカリ液中に少なくとも1回浸漬することで、反射防止フィルムの表面及び裏面を鹸化処理する。
(2)透明支持体上に低屈折率層が形成される前に、アルカリ液中に少なくとも1回浸漬することで、低屈折率層形成前に形成された層を有する透明支持体の表面及び裏面を鹸化処理する。この方法では、低屈折率層が設けられる面もアルカリ処理される。
(3)透明支持体上に反射防止層の低屈折率層まで形成した後に、低屈折率層側の面をラミネートで保護し、アルカリ液中に少なくとも1回浸漬することで、反射防止フィルムの裏面を鹸化処理する。
(4)透明支持体上に反射防止層を構成する層を形成する前又は後に、アルカリ液を、該透明支持体の反射防止層を形成する面とは反対側の面に塗布し、加熱、水洗及び/又は中和することで、反射防止フィルムの裏面だけを鹸化処理する。
(1) After forming the low refractive index layer of the antireflection layer on the transparent support, the surface and the back surface of the antireflection film are saponified by immersing in an alkaline solution at least once.
(2) Before the low refractive index layer is formed on the transparent support, the surface of the transparent support having a layer formed before the low refractive index layer is formed by immersing in an alkaline solution at least once. Saponify the back side. In this method, the surface on which the low refractive index layer is provided is also subjected to alkali treatment.
(3) After forming up to the low refractive index layer of the antireflection layer on the transparent support, the surface on the low refractive index layer side is protected with a laminate, and immersed in an alkaline solution at least once, Saponify the back side.
(4) Before or after forming the layer constituting the antireflection layer on the transparent support, an alkaline solution is applied to the surface of the transparent support opposite to the surface on which the antireflection layer is formed, and heated. Only the back surface of the antireflection film is saponified by washing with water and / or neutralizing.

すなわち、本発明の反射防止フィルムは、低屈折率層が設けられる面が予めアルカリ処理されていることが好ましい。   That is, in the antireflection film of the present invention, the surface on which the low refractive index layer is provided is preferably subjected to alkali treatment in advance.

そして、前記透明支持体に上述のように各層を形成することにより、本発明の反射防止フィルムが得られる。   And the antireflection film of this invention is obtained by forming each layer as mentioned above in the said transparent support body.

[偏光板]
本発明の偏光板は、上述の本発明の反射防止フィルムを有することを特徴とするものである。
[Polarizer]
The polarizing plate of the present invention has the above-described antireflection film of the present invention.

また本発明の偏光板は、偏光板を構成するフィルムの、少なくとも1つのフィルムのReレターデーション値が20以上70nm以下であり、Rthレターデーション値が70以上400nm以下であるのが好ましい。   In the polarizing plate of the present invention, the Re retardation value of at least one of the films constituting the polarizing plate is preferably 20 or more and 70 nm or less, and the Rth retardation value is preferably 70 or more and 400 nm or less.

本明細書において、Reレターデーション値及びRthレターデーション値は、それぞれ、下記数式(2)及び(3)で定義される。
数式(2):Re=(nx−ny)×d
数式(3):Rth={(nx+ny)/2−nz}×d
In this specification, the Re retardation value and the Rth retardation value are defined by the following mathematical formulas (2) and (3), respectively.
Equation (2): Re = (n x -n y) × d
Equation (3): Rth = {( n x + n y) / 2-n z} × d

数式(2)及び(3)において、nxは、フィルム面内の遅相軸方向(屈折率が最大となる方向)の屈折率である。nyは、フィルム面内の進相軸方向(屈折率が最小となる方向)の屈折率である。nzは、フィルムの厚み方向の屈折率である。dは、単位をnmとするフィルムの厚さである。 In Equation (2) and (3), n x is a slow axis direction in the film plane is the refractive index of the (refractive index direction of maximum). ny is the refractive index in the fast axis direction (the direction in which the refractive index is minimized) in the film plane. nz is the refractive index in the thickness direction of the film. d is the thickness of the film whose unit is nm.

偏光板は、偏光膜を両面から挟む2枚の保護フィルムで主に構成される。本発明の反射防止フィルムは、偏光膜を両面から挟む2枚の保護フィルムのうち少なくとも1枚に用いることが好ましい。本発明の反射防止フィルムが保護フィルムを兼ねることで、偏光板の製造コストを低減できる。また、本発明の反射防止フィルムを最表層に使用することにより、外光の映り込み等が防止され、耐傷性、防汚性等も優れた偏光板とすることができる。   The polarizing plate is mainly composed of two protective films that sandwich the polarizing film from both sides. The antireflection film of the present invention is preferably used for at least one of the two protective films sandwiching the polarizing film from both sides. Since the antireflection film of the present invention also serves as a protective film, the production cost of the polarizing plate can be reduced. Further, by using the antireflection film of the present invention as the outermost layer, reflection of external light and the like can be prevented, and a polarizing plate having excellent scratch resistance, antifouling property and the like can be obtained.

偏光膜としては、公知の偏光膜や、偏光膜の吸収軸が長手方向に平行でも垂直でもない長尺の偏光膜から切り出された偏光膜を用いてもよい。偏光膜の吸収軸が長手方向に平行でも垂直でもない長尺の偏光膜は以下の方法により作成される。   As the polarizing film, a known polarizing film or a polarizing film cut out from a long polarizing film whose absorption axis is neither parallel nor perpendicular to the longitudinal direction may be used. A long polarizing film whose absorption axis is neither parallel nor perpendicular to the longitudinal direction is produced by the following method.

すなわち、連続的に供給されるポリビニルアルコールなどのポリマーフィルムの両端を、保持手段により保持しつつ張力を付与して延伸した偏光膜で、少なくともフィルム幅方向に1.1〜20.0倍に延伸し、フィルム両端の保持装置の長手方向進行速度差が3%以内であり、フィルム両端を保持する工程の出口におけるフィルムの進行方向と、フィルムの実質延伸方向のなす角が、20〜70゜傾斜するように、フィルムの進行方向を、フィルム両端を保持した状態で屈曲させてなる延伸方法によって製造することができる。特に45°傾斜させたものが生産性の観点から好ましく用いられる。   That is, a polarizing film stretched by applying tension while holding both ends of a polymer film such as polyvinyl alcohol continuously supplied by a holding means, and stretched at least 1.1 to 20.0 times in the film width direction. The difference in the longitudinal direction traveling speed of the holding devices at both ends of the film is within 3%, and the angle formed by the film traveling direction at the exit of the step of holding both ends of the film and the substantial stretching direction of the film is inclined by 20 to 70 °. As described above, the film can be produced by a stretching method in which the traveling direction of the film is bent while holding both ends of the film. In particular, those inclined by 45 ° are preferably used from the viewpoint of productivity.

ポリマーフィルムの延伸方法については、特開2002−86554号公報の段落[0020]〜[0030]に詳しい記載がある。   The method for stretching the polymer film is described in detail in paragraphs [0020] to [0030] of JP-A-2002-86554.

[表示装置、液晶モード]
本発明の表示装置は、上述の本発明の反射防止フィルムを有することを特徴とする。
すなわち、本発明の反射防止フィルムは、液晶表示装置(LCD)、プラズマディスプレイパネル(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や陰極管表示装置(CRT)のような画像表示装置に適用することができる。本発明の反射防止フィルムは透明支持体を有しているので、透明支持体側を画像表示装置の画像表示面に接着して用いられる。
[Display device, liquid crystal mode]
The display device of the present invention has the above-described antireflection film of the present invention.
That is, the antireflection film of the present invention can be applied to an image display device such as a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel (PDP), an electroluminescence display (ELD), or a cathode ray tube display device (CRT). . Since the antireflection film of the present invention has a transparent support, the transparent support side is adhered to the image display surface of the image display device.

本発明の反射防止フィルムは、偏光膜の表面保護フィルムの片側として用いた場合、ツイステットネマチック(TN)、スーパーツイステットネマチック(STN)、バーティカルアライメント(VA)、インプレインスイッチング(IPS)、オプティカリーコンペンセイテットベンドセル(OCB)等のモードの透過型、反射型、又は半透過型の液晶表示装置に好ましく用いることができる。   The antireflection film of the present invention, when used as one side of the surface protective film of the polarizing film, is twisted nematic (TN), super twisted nematic (STN), vertical alignment (VA), in-plane switching (IPS), optical It can be preferably used for a transmissive, reflective, or transflective liquid crystal display device of a mode such as a curry compensate bend cell (OCB).

VAモードの液晶セルには、
(1)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直に配向させ、電圧印加時に実質的に水平に配向させる狭義のVAモードの液晶セル(特開平2−176625号公報記載)に加えて、
(2)視野角拡大のため、VAモードをマルチドメイン化した(MVAモードの)液晶セル{"SID97, Digest of Tech. Papers"(予稿集)28集(1997年)845頁記載)、
(3)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直配向させ、電圧印加時にねじれマル
チドメイン配向させるモード(n−ASMモード)の液晶セル{「日本液晶討論会」の予稿集58〜59頁(1998年)記載}及び、
(4)SURVAIVALモードの液晶セル(「LCDインターナショナル98」で発表)
が含まれる。
In VA mode liquid crystal cell,
(1) In addition to a narrowly-defined VA mode liquid crystal cell (described in JP-A-2-176625) in which rod-like liquid crystalline molecules are aligned substantially vertically when no voltage is applied, and substantially horizontally when a voltage is applied. ,
(2) VA mode multi-domain (MVA mode) liquid crystal cell ("SID97, Digest of Tech. Papers" (Preliminary Collection) Vol. 28 (1997), page 845)
(3) A liquid crystal cell in a mode (n-ASM mode) in which rod-like liquid crystalline molecules are substantially vertically aligned when no voltage is applied and twisted multi-domain alignment is applied when a voltage is applied. Page (1998)}, and
(4) SURVAVAL mode liquid crystal cell (announced at LCD International 98)
Is included.

VAモードの液晶セル用には、2軸延伸したトリアセチルセルロースフィルムを、本発明の反射防止フィルムと組み合わせて作製した偏光板が好ましく用いられる。2軸延伸したトリアセチルセルロースフィルムの作製方法については、例えば特開2001−249223号公報、特開2003−170492号公報などに記載の方法を用いることが好ましい。   For a VA mode liquid crystal cell, a polarizing plate prepared by combining a biaxially stretched triacetyl cellulose film with the antireflection film of the present invention is preferably used. As for the method for producing a biaxially stretched triacetyl cellulose film, for example, the methods described in JP-A Nos. 2001-249223 and 2003-170492 are preferably used.

OCBモードの液晶セルは、棒状液晶性分子を液晶セルの上部と下部とで、実質的に逆の方向に(対称的に)配向させるベンド配向モードの液晶セルを用いた液晶表示装置であり、米国特許4,583,825号、同5,410,422号の各明細書に開示されている。棒状液晶性分子が液晶セルの上部と下部とで対称的に配向しているため、ベンド配向モードの液晶セルは、自己光学補償機能を有する。そのため、この液晶モードは、OCB(Optically Compensatory Bend)液晶モードとも呼ばれる。ベンド配向モードの液晶表示装置は、応答速度が速いとの利点がある。   The OCB mode liquid crystal cell is a liquid crystal display device using a bend alignment mode liquid crystal cell in which rod-like liquid crystal molecules are aligned in a substantially opposite direction (symmetrically) between the upper part and the lower part of the liquid crystal cell. U.S. Pat. Nos. 4,583,825 and 5,410,422. Since the rod-like liquid crystal molecules are symmetrically aligned at the upper and lower portions of the liquid crystal cell, the bend alignment mode liquid crystal cell has a self-optical compensation function. For this reason, this liquid crystal mode is also called an OCB (Optically Compensatory Bend) liquid crystal mode. The bend alignment mode liquid crystal display device has an advantage of high response speed.

ECBモードの液晶セルでは、電圧無印加時に棒状液晶性分子が実質的に水平配向しており、カラーTFT液晶表示装置として最も多く利用されており、多数の文献に記載がある。例えば「EL、PDP、LCDディスプレイ」{東レリサーチセンター発行(2001年)}などに記載されている。   In an ECB mode liquid crystal cell, rod-like liquid crystal molecules are substantially horizontally aligned when no voltage is applied, and is most frequently used as a color TFT liquid crystal display device, and is described in many documents. For example, it is described in “EL, PDP, LCD display” {issued by Toray Research Center (2001)}.

特にTNモードやIPSモードの液晶表示装置に対しては、特開2001−100043号公報等に記載されているように、視野角拡大効果を有する光学補償フィルムを、偏光膜の裏表2枚の保護フィルムのうちの、本発明の反射防止フィルムとは反対側の面に用いることにより、1枚の偏光板の厚みで反射防止効果と視野角拡大効果を有する偏光板を得ることができ、特に好ましい。   In particular, for a TN mode or IPS mode liquid crystal display device, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-100043, an optical compensation film having an effect of widening the viewing angle is protected on the two sides of the polarizing film. By using the film on the side opposite to the antireflection film of the present invention, a polarizing plate having an antireflection effect and a viewing angle expansion effect can be obtained with the thickness of one polarizing plate, which is particularly preferable. .

以下、実施例により本発明を説明するが、本発明はこれらに限定されない。なお、特別の断りのない限り「部」及び「%」は質量基準である。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention, this invention is not limited to these. Unless otherwise specified, “part” and “%” are based on mass.

[各層形成用組成物塗布液の調製]
{ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)の調製}
ペンタエリトリトールトリアクリレート、ペンタエリトリトールテトラアクリレートの混合物"KAYARAD PET−30"{日本化薬(株)製}45g、ジペンタエリトリトールペンタアクリレート、ジペンタエリトリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}5gを、トルエン23.5g、シクロヘキサノン15.0gで希釈した。更に、重合開始剤「イルガキュア184」と「イルガキュア907」{共にチバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}の1:1質量比混合物を2g添加し、混合攪拌した。この溶液を塗布、紫外線硬化して得られた塗膜の屈折率は1.51であった。
得られた混合液を孔径30μmのポリプロピレン製フィルターでろ過してハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)を調製した。
[Preparation of composition coating solution for forming each layer]
{Preparation of hard coat layer-forming composition coating solution (A-1)}
Mixture of pentaerythritol triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate “KAYARAD PET-30” {manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.} 45 g, mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate “DPHA” {Nippon Kayaku Co., Ltd. 5) was diluted with 23.5 g of toluene and 15.0 g of cyclohexanone. Further, 2 g of a 1: 1 mass ratio mixture of polymerization initiators “Irgacure 184” and “Irgacure 907” (both manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) was added and mixed and stirred. The refractive index of the coating film obtained by applying this solution and curing with ultraviolet rays was 1.51.
The obtained mixed liquid was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 30 μm to prepare a hard coat layer forming composition coating liquid (A-1).

{ハードコート層形成用組成物塗布液(A−2)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)に対して、さらにポリトロン分散機にて10000rpmで20分間分散した平均粒径3.5μmの架橋ポリスチレン粒子"
SX−350"{屈折率1.61、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液1.7g、及び平均粒径3.5μmの架橋アクリル−スチレン粒子{屈折率1.55、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液13.3gを加え、最後に、下記化学式(4)で表されるフッ素系表面改質剤(FP−1)0.75g、シランカップリング剤"KBM−5103"{信越化学工業(株)製}10gを加えた。
得られた混合液を孔径30μmのポリプロピレン製フィルターで濾過してハードコート層形成用組成物塗布液(A−2)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (A-2)}
Cross-linked polystyrene particles having an average particle diameter of 3.5 μm, further dispersed for 20 minutes at 10,000 rpm in a polytron disperser with the hard coat layer-forming composition coating liquid (A-1) ”
SX-350 "{refractive index 1.61, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.} 30% toluene dispersion 1.7 g, and crosslinked acrylic-styrene particles having an average particle size of 3.5 μm {refractive index 1.55, Soken Chemical 13.3 g of a 30% toluene dispersion manufactured by Co., Ltd., and finally, 0.75 g of a fluorine-based surface modifier (FP-1) represented by the following chemical formula (4), silane coupling agent “KBM” -5103 "{Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 10 g was added.
The obtained mixed liquid was filtered through a polypropylene filter having a pore diameter of 30 μm to prepare a hard coat layer forming composition coating liquid (A-2).

Figure 2005266782
Figure 2005266782

{ハードコート層形成用組成物塗布液(A−3)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)に対して、更に平均粒径3.0μmの分級強化架橋ポリメチルメタクリレート(PMMA)粒子"MXS−300"{架橋剤エチレングリコールジメタクリレート、架橋剤量30%、屈折率1.49、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液を、ポリトロン分散機にて10000rpmで20分間分散した分散液35gを加え、次いで、平均粒径1.5μmのシリカ粒子「シーホスターKE−P150」{屈折率1.46、日本触媒(株)製}の30%トルエン分散液をポリトロン分散機にて10000rpmで30分間分散した分散液90gを加えて混合攪拌した。
得られた混合液を孔径30μmのポリプロピレン製フィルターで濾過してハードコート層形成用組成物塗布液(A−3)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (A-3)}
For the hard coat layer-forming composition coating liquid (A-1), classification-strengthened crosslinked polymethyl methacrylate (PMMA) particles “MXS-300” having an average particle size of 3.0 μm {crosslinking agent ethylene glycol dimethacrylate, 35% of a 30% toluene dispersion of a cross-linking agent amount of 30%, a refractive index of 1.49, manufactured by Soken Chemicals Co., Ltd.} was added to 35 g of a dispersion liquid at 10,000 rpm for 20 minutes using a Polytron disperser, and then an average particle size of 1 Add 90 g of a 30% toluene dispersion of 5 μm silica particles “Seahoster KE-P150” {refractive index 1.46, manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd.} for 30 minutes at 10,000 rpm with a Polytron disperser and mix. Stir.
The obtained mixed liquid was filtered through a polypropylene filter having a pore diameter of 30 μm to prepare a hard coat layer forming composition coating liquid (A-3).

{ハードコート層形成用組成物塗布液(A−4)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(A−3)において、平均粒径1.5μmのシリカ粒子の代わりに、平均粒径1.5μmの分級強化高架橋PMMA粒子"MXS−150H"{架橋剤エチレングリコールジメタクリレート、架橋剤量30%、屈折率1.49、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液130gを用いた以外は、添加量も含め上記塗布液(A−3)と同様にして、ハードコート形成用組成物塗布液(A−4)を作成した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (A-4)}
In the composition coating liquid for forming a hard coat layer (A-3), instead of silica particles having an average particle diameter of 1.5 μm, classified strengthening highly crosslinked PMMA particles “MXS-150H” {crosslinking agent having an average particle diameter of 1.5 μm Except for using 130 g of 30% toluene dispersion of ethylene glycol dimethacrylate, cross-linking agent amount 30%, refractive index 1.49, manufactured by Soken Chemicals Co., Ltd. Similarly, a hard coat forming composition coating solution (A-4) was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(A−5)の調製}
上記ハードコート層用塗布液(A−2)において、平均粒径3.5μmのポリスチレン粒子の代わりに、平均粒径3.0μmの分級強化高架橋PMMA粒子"MXS−300"{架橋剤エチレングリコールジメタクリレート、架橋剤量30%、屈折率1.49、綜研化学(株)製}の30%メチルイソブチルケトン分散液20gを用いた以外は、添加量も含め上記塗布液(A−2)と同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(A−5)を作成した。
{Preparation of composition coating liquid for hard coat layer formation (A-5)}
In the coating liquid for hard coat layer (A-2), instead of polystyrene particles having an average particle diameter of 3.5 μm, classified highly-crosslinked PMMA particles “MXS-300” having an average particle diameter of 3.0 μm {crosslinking agent ethylene glycol di Except for using 20 g of 30% methyl isobutyl ketone dispersion of methacrylate, cross-linking agent amount 30%, refractive index 1.49, manufactured by Soken Chemicals Co., Ltd. Thus, a hard coat layer forming composition coating solution (A-5) was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(B−1)の調製}
市販のジルコニア含有UV硬化型ハードコート液「デソライトZ7404」{JSR(株)製、固形分濃度約61%、固形分中ZrO2含率約70%、重合性モノマー及び重合開始剤含有}285g、ジペンタエリトリトールペンタアクリレートとジペンタエリトリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}85gを混合し、更に、メチルイソブチルケトン60g、メチルエチルケトン17gで希釈した。更に、シランカップリング剤"KBM−5103"{信越化学工業(株)製}28gを混合攪拌した。この溶液を塗布、紫外線硬化して得られた塗膜の屈折率は1.61であった。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (B-1)}
285 g of a commercially available zirconia-containing UV curable hard coat solution “Desolite Z7404” {manufactured by JSR Corporation, solid content concentration of about 61%, solid content of ZrO 2 of about 70%, polymerizable monomer and polymerization initiator contained} A mixture “DPHA” of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 85 g was mixed, and further diluted with 60 g of methyl isobutyl ketone and 17 g of methyl ethyl ketone. Furthermore, 28 g of silane coupling agent “KBM-5103” {manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} was mixed and stirred. The refractive index of the coating film obtained by applying this solution and curing with ultraviolet rays was 1.61.

さらにこの溶液に、ポリトロン分散機にて10000rpmで20分間分散した平均粒径3.5μmの架橋ポリスチレン粒子"SX−350"{屈折率1.61、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液1.7g及び、平均粒径3.5μmの架橋アクリル−スチレン粒子{屈折率1.55、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液13.3gを加え
、最後に、前記化学式(4)のフッ素系表面改質剤(FP−1)0.75g及びシランカップリング剤"KBM−5103"{信越化学工業(株)製}10gを加えた。
得られた混合液を、孔径30μmのポリプロピレン製フィルターでろ過してハードコート層形成用組成物塗布液(B−1)を調製した。
Further, 30% toluene dispersion of a crosslinked polystyrene particle “SX-350” {refractive index 1.61, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.} having an average particle size of 3.5 μm dispersed in this solution for 20 minutes at 10,000 rpm with a polytron disperser. 1.7 g of a liquid and 13.3 g of a 30% toluene dispersion of crosslinked acrylic-styrene particles {refractive index 1.55, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.} having an average particle size of 3.5 μm are added. 4) Fluorine-based surface modifier (FP-1) 0.75 g and silane coupling agent “KBM-5103” {Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 10 g were added.
The obtained mixed liquid was filtered through a polypropylene filter having a pore diameter of 30 μm to prepare a hard coat layer forming composition coating liquid (B-1).

{ハードコート層形成用組成物塗布液(C−1)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(A−2)において、塗布液(A−2)の固形分100部に対して、有機粘土を1部添加した以外は全く同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(C−1)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (C-1)}
In the hard coat layer forming composition coating liquid (A-2), the hard coat layer was exactly the same except that 1 part of the organic clay was added to 100 parts of the solid content of the coating liquid (A-2). A forming composition coating liquid (C-1) was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(C−2)の調製}
上記ハードコート形成用組成物塗布液(A−3)において、塗布液(A−3)の固形分100部に対して、微粒子シリカ"AEROSIL 200"{平均一次粒子12nm、屈折率1.46、日本アエロジル(株)製}を0.5部添加した以外は全く同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(C−2)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (C-2)}
In the hard coat forming composition coating liquid (A-3), fine-particle silica “AEROSIL 200” {average primary particle 12 nm, refractive index 1.46, with respect to 100 parts of the solid content of the coating liquid (A-3). A hard coat layer forming composition coating solution (C-2) was prepared in exactly the same manner except that 0.5 part of Nippon Aerosil Co., Ltd.} was added.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(C−3)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(A−3)において、塗布液(A−3)の固形分100部に対して、微粒子シリカ"AEROSIL 200"{平均一次粒子12nm、屈折率1.46、日本アエロジル(株)製}を0.5部添加し、更に「ブライト20GNR4.6−EH」{ベンゾグアナミン・メラミン・ホルムアルデヒド縮合物球状粉体にニッケル及び金をメッキしたもの、日本化学工業(株)製}を0.1部添加した以外は全く同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(C−3)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (C-3)}
In the hard coat layer-forming composition coating liquid (A-3), fine-particle silica “AEROSIL 200” {average primary particle 12 nm, refractive index 1.46 with respect to 100 parts of the solid content of the coating liquid (A-3). , Nippon Aerosil Co., Ltd.} and 0.5 parts of Bright 20GNR4.6-EH {benzoguanamine / melamine / formaldehyde condensate spherical powder plated with nickel and gold, Nippon Chemical Industry Co., Ltd. A hard coat layer forming composition coating solution (C-3) was prepared in exactly the same manner except that 0.1 part of) made} was added.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(D−1)の調製}
屈折率1.43の熱架橋性含フッ素ポリマー"JTA113"{固形分濃度6%、主溶媒メチルエチルケトン、JSR(株)製}18gに、メチルエチルケトン2g、シクロヘキサノン0.6gを添加、攪拌の後、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して、比較例用の低屈折率層形成用組成物塗布液(D−1)を調製した。
{Preparation of composition coating solution (D-1) for forming a low refractive index layer}
Thermally crosslinkable fluorine-containing polymer "JTA113" with a refractive index of 1.43 {solid content concentration 6%, main solvent methyl ethyl ketone, manufactured by JSR Corporation} 18g, methyl ethyl ketone 2g and cyclohexanone 0.6g were added, and after stirring, pore size The mixture was filtered through a 1 μm polypropylene filter to prepare a low refractive index layer-forming composition coating solution (D-1) for a comparative example.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(D−2)の調製}
トリフルオロプロピルトリメトキシシラン100g、トリデカフルオロオクチルトリメトキシシラン200g、テトラエトキシシラン1700g、イソブタノール200g、アルミニウムアセチルアセトナート6gをフラスコに仕込み、撹拌した。次に0.25モル/Lの酢酸水500gを少量ずつ滴下した。滴下終了後、室温で3時間撹拌した。その後、ジアセトンアルコール600gを添加して、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して低屈折率層形成用組成物塗布液(D−2)を調製した。
{Preparation of low refractive index layer forming composition coating solution (D-2)}
A flask was charged with 100 g of trifluoropropyltrimethoxysilane, 200 g of tridecafluorooctyltrimethoxysilane, 1700 g of tetraethoxysilane, 200 g of isobutanol, and 6 g of aluminum acetylacetonate and stirred. Next, 500 g of 0.25 mol / L acetic acid water was added dropwise little by little. After completion of dropping, the mixture was stirred at room temperature for 3 hours. Thereafter, 600 g of diacetone alcohol was added, and the mixture was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 1 μm to prepare a composition coating solution (D-2) for forming a low refractive index layer.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(D−3)の調製}
上記の低屈折率層形成用組成物塗布液(D−2)調製工程において、最終段階でシリコーン系レベリング剤"L−9000(CS100)"{直鎖ジメチルシリコーン−EOブロックコポリマー、日本ユニカー(株)製}30gを添加したこと以外は全く同様にして、低屈折率層形成用組成物塗布液(D−3)を調製した。
{Preparation of composition coating solution for forming a low refractive index layer (D-3)}
In the preparation step of the low refractive index layer-forming composition coating liquid (D-2), the silicone leveling agent “L-9000 (CS100)” {linear dimethyl silicone-EO block copolymer, Nippon Unicar Co., Ltd. ) Made} A composition coating solution for forming a low refractive index layer (D-3) was prepared in the same manner except that 30 g was added.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(D−4)の調製}
上記の低屈折率層形成用組成物塗布液(D−3)調製工程において、0.25モル/Lの酢酸水を滴下する前に、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}50gを加えたこと以外は全く同様にして、低屈折率層形成用組成物塗布液(D−4)を調製した。
{Preparation of composition coating solution (D-4) for forming a low refractive index layer}
In the preparation step of the composition for forming a low refractive index layer (D-3), before adding 0.25 mol / L of acetic acid water dropwise, the silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxy A low refractive index layer-forming composition coating solution (D-4) was prepared in exactly the same manner except that 50 g of propyltrimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. was added.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(D−5)の調製}
3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン100g、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン1000g、ヘプタデカフルオロデシルトリメトキシシラン400g、テトラエトキシシラン500g、イソブタノール200gをフラスコに仕込み、撹拌した。次に0.25mol/Lの酢酸水419gを少量ずつ滴下した。滴下終了後、室温で3時間撹拌した。次にアルミニウムアセチルアセトナート6gを加え、更に撹拌を3時間行った。その後、ジアセトンアルコール600gを添加して、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して低屈折率層形成用組成物塗布液(D−5)を調製した。
{Preparation of low refractive index layer-forming composition coating solution (D-5)}
A flask was charged with 100 g of 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 1000 g of trifluoropropyltrimethoxysilane, 400 g of heptadecafluorodecyltrimethoxysilane, 500 g of tetraethoxysilane, and 200 g of isobutanol. Next, 419 g of 0.25 mol / L acetic acid water was added dropwise little by little. After completion of dropping, the mixture was stirred at room temperature for 3 hours. Next, 6 g of aluminum acetylacetonate was added, and stirring was further performed for 3 hours. Thereafter, 600 g of diacetone alcohol was added, and the mixture was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 1 μm to prepare a composition coating solution for forming a low refractive index layer (D-5).

{低屈折率層形成用組成物塗布液(D−6)の調製}
上記の低屈折率層形成用組成物塗布液(D−5)調製工程において、最終段階でシリコーン系レベリング剤"X−22−163C"{末端エポキシ変性シリコーン、信越シリコーン社製}30gを添加したこと以外は全く同様にして、低屈折率層形成用組成物塗布液(D−6)を調製した。
{Preparation of low refractive index layer-forming composition coating solution (D-6)}
In the preparation step of the composition for forming a low refractive index layer (D-5), 30 g of a silicone leveling agent “X-22-163C” {terminal epoxy-modified silicone, manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd.} was added at the final stage. Except for this, a composition coating solution for forming a low refractive index layer (D-6) was prepared in the same manner.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(D−7)の調製}
上記の低屈折率層形成用組成物塗布液(D−6)調製工程において、0.25Nの酢酸水を滴下する前に、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}50gを加えたこと以外は全く同様にして、低屈折率層形成用組成物塗布液(D−7)を調製した。
{Preparation of low refractive index layer-forming composition coating solution (D-7)}
In the step of preparing the composition for forming a low refractive index layer (D-6), before adding 0.25N aqueous acetic acid dropwise, silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxy A composition coating solution for forming a low refractive index layer (D-7) was prepared in exactly the same manner except that 50 g of Silane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. was added.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(E−1)の調製}
上記低屈折率層形成用組成物塗布液(D−4)の100gに対して、中空シリカ分散物{粒子サイズ約40〜50nm、シエル厚6〜8nm、屈折率1.31、固形分濃度20%、主溶媒イソプロピルアルコール、特開2002−79616の調製例4に準じて粒子サイズを変更して作製}を97g添加し、攪拌の後、孔径30μm、10μm、1μmのポリプロピレン製フィルターで多段濾過して、低屈折率層形成用組成物塗布液(E−1)を調製した。
{Preparation of composition coating solution (E-1) for forming a low refractive index layer}
Hollow silica dispersion {particle size: about 40-50 nm, shell thickness: 6-8 nm, refractive index: 1.31, solid content concentration: 20 with respect to 100 g of the above composition for forming a low refractive index layer (D-4) %, The main solvent isopropyl alcohol, and 97 g of the particle size changed according to Preparation Example 4 of JP-A-2002-79616} are added, and after stirring, the mixture is filtered through a polypropylene filter having a pore size of 30 μm, 10 μm, and 1 μm. Thus, a composition coating solution (E-1) for forming a low refractive index layer was prepared.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(E−2)の調製}
上記低屈折率層形成用組成物塗布液(D−4)の100gに対して、更に、中空シリカ分散物{粒子サイズ約40〜50nm、シエル厚6〜8nm、屈折率1.31、固形分濃度20%、主溶媒イソプロピルアルコール、特開2002−79616の調製例4に準じて粒子サイズを変更して作製}を147g添加し、攪拌の後、孔径30μm、10μm、1μmのポリプロピレン製フィルターで多段濾過して、低屈折率層形成用組成物塗布液(E−2)を調製した。
{Preparation of composition coating liquid for low refractive index layer formation (E-2)}
In addition to 100 g of the composition for forming a low refractive index layer (D-4), a hollow silica dispersion {particle size of about 40 to 50 nm, shell thickness of 6 to 8 nm, refractive index of 1.31, solid content 147 g of 20% concentration, main solvent isopropyl alcohol, prepared by changing the particle size according to Preparation Example 4 of JP-A-2002-79616}, and after stirring, multistage with a polypropylene filter having a pore size of 30 μm, 10 μm, 1 μm Filtration was performed to prepare a composition coating solution (E-2) for forming a low refractive index layer.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(E−3)の調製}
上記低屈折率層形成用組成物塗布液(D−7)の100gに対して、更に、中空シリカ分散物{粒子サイズ約40〜50nm、シエル厚6〜8nm、屈折率1.31、固形分濃度20%、主溶媒イソプロピルアルコール、特開2002−79616の調製例4に準じて粒子サイズを変更して作製}を97g添加し、攪拌の後、孔径30μm、10μm、1μmのポリプロピレン製フィルターで多段濾過して、低屈折率層形成用組成物塗布液(E−3)を調製した。
{Preparation of composition coating liquid for low refractive index layer formation (E-3)}
In addition to 100 g of the composition for forming a low refractive index layer (D-7), a hollow silica dispersion {particle size of about 40 to 50 nm, shell thickness of 6 to 8 nm, refractive index of 1.31, solid content 97 g of 20% concentration, main solvent isopropyl alcohol, prepared by changing the particle size in accordance with Preparation Example 4 of JP-A-2002-79616}, and after stirring, multistage with a polypropylene filter having a pore size of 30 μm, 10 μm, 1 μm Filtration was performed to prepare a composition coating solution (E-3) for forming a low refractive index layer.

{帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−1)の調製}
日本ペルノックス(株)製のATO分散ハードコート剤「ペルトロンC−4456−S7」(固形分45%)の100gにシクロヘキサノン30g、メチルエチルケトン10g、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}1.5gを添加し、攪拌の後、孔径10μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して、帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−1)を調製した。
{Preparation of antistatic layer forming composition coating solution (AS-1)}
100 g of ATO-dispersed hard coating agent “Pertron C-4456-S7” (solid content: 45%) manufactured by Nippon Pernox Co., Ltd., 30 g of cyclohexanone, 10 g of methyl ethyl ketone, silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyl Add 1.5 g of trimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and after stirring, filter through a polypropylene filter having a pore size of 10 μm to prepare a composition coating solution (AS-1) for forming an antistatic layer did.

{帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−2)の調製}
JSR(株)の「デソライトKZ6805」(固形分5%ハードコート剤、固形分中無機含率80%、アクリレート系バインダー使用、無機物の主成分は1次粒子サイズ径約15nmのアンチモンドープ酸化スズ粒子)の固形分あたり、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}1%を添加し、攪拌の後、孔径10μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して、帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−2)を調製した。
{Preparation of antistatic layer forming composition coating solution (AS-2)}
“Desolite KZ6805” from JSR Co., Ltd. (solid content 5% hard coating agent, inorganic content 80% in solid content, acrylate binder used, the main component of inorganic substance is antimony-doped tin oxide particles with primary particle size of about 15 nm ) 1% of silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} per solid content, and after stirring, with a polypropylene filter having a pore size of 10 μm Filtration was performed to prepare an antistatic layer-forming composition coating liquid (AS-2).

実施例1
〔反射防止フィルムの作製〕
比較例1−1
[反射防止フィルム試料101の作製]
(1)ハードコート層の塗設
80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム「フジタックTAC−TD80U」{富士写真フィルム(株)製}をロール形態で巻き出して、前記ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)を線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する、直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、グラビアロール回転数30rpm、搬送速度35m/分の条件で塗布し、60℃で150秒乾燥の後、さらに窒素パージ下で160W/cmの空冷メタルハライドランプ{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm2、照射量250mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させ、厚さ4.6μmのハードコート層を形成し、巻き取った。
Example 1
[Preparation of antireflection film]
Comparative Example 1-1
[Preparation of Antireflection Film Sample 101]
(1) Coating of hard coat layer A triacetyl cellulose film “Fujitac TAC-TD80U” {manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.} having a thickness of 80 μm is unwound in a roll form, and the composition for forming a hard coat layer is applied. Liquid (A-1) was applied under the conditions of a gravure roll rotation speed of 30 rpm and a conveyance speed of 35 m / min using a micro gravure roll having a diameter of 180 lines / inch and a gravure pattern of 40 μm in depth and a doctor blade. Then, after drying at 60 ° C. for 150 seconds, using an air-cooled metal halide lamp {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge, an ultraviolet ray with an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 250 mJ / cm 2 Was applied to cure the coating layer to form a 4.6 μm thick hard coat layer and wound up.

(2)低屈折率層の塗設
前記低屈折率層形成用組成物塗布液(D−1)の固形分(揮発性有機溶媒が蒸発した後の残分)に対して、1質量%のイソホロンジイソシアネートを、該塗布液(D−1)に塗布直前に混合し、バーコーターで、上記で形成したハードコート層の上に塗布した。80℃で5分間乾燥の後、更に120℃で20分硬化させた。その後、窒素パージ下で240W/cmの空冷メタルハライドランプ{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm2、照射量200mJ/cm2の紫外線を照射し、厚さ100nmの低屈折率層を形成させ巻き取った。このようにして、得られた反射防止フィルム試料を試料101とする。なお試料101以外の反射防止フィルムの作製においても、各低屈折率層形成用組成物塗布液の固形分に対して1質量%のイソホロンジイソシアネートを添加した。
(2) Coating of low refractive index layer 1% by mass with respect to the solid content (residue after evaporation of the volatile organic solvent) of the low refractive index layer forming composition coating liquid (D-1) Isophorone diisocyanate was mixed with the coating solution (D-1) immediately before coating, and coated on the hard coat layer formed above with a bar coater. After drying at 80 ° C. for 5 minutes, it was further cured at 120 ° C. for 20 minutes. Then, using a 240 W / cm air-cooled metal halide lamp {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.} under a nitrogen purge, ultraviolet rays having an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 200 mJ / cm 2 were irradiated, and a low refraction of 100 nm thickness was achieved. A rate layer was formed and wound up. The antireflection film sample thus obtained is designated as sample 101. In preparation of the antireflection film other than the sample 101, 1% by mass of isophorone diisocyanate was added to the solid content of each composition for forming a low refractive index layer.

〔反射防止フィルムの評価〕
得られた反射防止フィルムについて、以下の項目の評価を行った。
[Evaluation of antireflection film]
About the obtained antireflection film, the following items were evaluated.

(1)試料の保存・強制劣化条件
(1−1)基準条件
上記工程にて作製した反射防止フィルム試料を25℃、60%RHのもとで7日保存する。
(1) Sample Storage / Forced Degradation Conditions (1-1) Standard Conditions The antireflection film sample prepared in the above step is stored for 7 days at 25 ° C. and 60% RH.

(1−2)高湿度保存条件
各試料を60℃、90%RHのもとに2日又は7日保存した。
(1-2) High-humidity storage conditions Each sample was stored at 60 ° C. and 90% RH for 2 or 7 days.

(2)碁盤目密着性評価
上記条件で保存した各試料について、JIS K−5400に準拠した碁盤目試験を行った。具体的には、各試料の反射防止層側の面に1mm間隔で縦、横に11本の切れ目を入れ、1mm角の碁盤目を100個作り、この上にセロハン粘着テープを貼り付け、90
°で素早く剥がし、剥がれずに残った碁盤目の数をカウントした。この数が90以上のものが実用可である。
(2) Cross-cut adhesion evaluation A cross-cut test based on JIS K-5400 was performed for each sample stored under the above conditions. Specifically, the surface of each sample on the side of the antireflection layer is provided with 11 cuts at 1 mm intervals in the vertical and horizontal directions to make 100 1 mm square grids, on which cellophane adhesive tape is applied, 90
Peel off quickly at ° and count the number of grids remaining without peeling. Those having this number of 90 or more are practical.

(3)表面粗さ
上記基準条件で保存した各試料について、JIS B−0601規定の方法により表面の中心線平均表面粗さRaを求めた。
(3) Surface roughness About each sample preserve | saved on the said reference conditions, the centerline average surface roughness Ra of the surface was calculated | required by the method of JISB-0601.

(4)表面自由エネルギーの測定
各試料を25℃60%RHで2時間調湿した後に、水とヨウ化メチレンに対する接触角を測定し、それらの値より表面自由エネルギー(mJ/m2)を算出した。
(4) Measurement of surface free energy After each sample was conditioned at 25 ° C and 60% RH for 2 hours, the contact angle with water and methylene iodide was measured, and the surface free energy (mJ / m 2 ) was calculated from these values. Calculated.

(5)平均反射率
分光光度計{日本分光(株)製}を用いて、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における分光反射率を測定した。結果には450〜650nmの平均反射率を用いた。
(5) Average reflectance Using a spectrophotometer {manufactured by JASCO Corp.}, a spectral reflectance at an incident angle of 5 ° was measured in a wavelength region of 380 to 780 nm. The average reflectance of 450-650 nm was used for the result.

実施例1−1〜1−10及び比較例1−2
[反射防止フィルム試料102〜112の作製]
比較例1−1の反射防止フィルム試料101の作製において、ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)及び低屈折率層形成用組成物塗布液(D−1)を用いる代わりに、表1に記載のハードコート層形成用組成物塗布液及び低屈折率層形成用組成物塗布液を用いた以外は比較例1−1と同様にして、反射防止フィルム試料102〜112を作製した。
Examples 1-1 to 1-10 and Comparative Example 1-2
[Preparation of antireflection film samples 102 to 112]
In preparation of the antireflection film sample 101 of Comparative Example 1-1, instead of using the hard coat layer forming composition coating liquid (A-1) and the low refractive index layer forming composition coating liquid (D-1), Antireflection film samples 102 to 112 were produced in the same manner as Comparative Example 1-1 except that the hard coat layer forming composition coating solution and the low refractive index layer forming composition coating solution shown in Table 1 were used. .

実施例1−11〜1−13及び比較例1−3
[反射防止フィルム試料113〜116の作製]
比較例1−1の反射防止フィルム試料101の作製において、ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)及び低屈折率層形成用組成物塗布液(D−1)を用いる代わりに、表1に記載のハードコート層形成用組成物塗布液及び低屈折率層形成用組成物塗布液を用い、試料113、114、115はハードコート層の厚みを3.8μmに、試料116はハードコート層の厚みを3.5μmに変更した以外は比較例1−1と同様にして、反射防止フィルム試料113〜116を作製した。
Examples 1-1-1 to 1-13 and Comparative Example 1-3
[Preparation of antireflection film samples 113 to 116]
In preparation of the antireflection film sample 101 of Comparative Example 1-1, instead of using the hard coat layer forming composition coating liquid (A-1) and the low refractive index layer forming composition coating liquid (D-1), Using the hard coat layer forming composition coating solution and the low refractive index layer forming composition coating solution shown in Table 1, samples 113, 114, and 115 have a hard coat layer thickness of 3.8 μm, and sample 116 has a hard coating. Antireflection film samples 113 to 116 were produced in the same manner as in Comparative Example 1-1 except that the thickness of the coat layer was changed to 3.5 μm.

使用したハードコート層形成用組成物塗布液及び低屈折率層形成用組成物塗布液、並びに得られた反射防止フィルム試料101〜116の評価結果を表1に合わせて示す。   Table 1 shows the evaluation results of the used hard coat layer forming composition coating liquid and low refractive index layer forming composition coating liquid, and the obtained antireflection film samples 101 to 116.

Figure 2005266782
Figure 2005266782

表1に示される結果より、以下のことが明らかである。
本発明の要件を満たす低屈折率層を用い、ハードコート層に特定の粒子を用いることで本発明の表面粗さを満たす反射防止フィルム試料は、高湿条件での保管の後にも碁盤目密着性に優れている{試料101,102,116(比較例1−1,1−2,1−3)と103,113(実施例1−1,1−11)の比較等}。
From the results shown in Table 1, the following is clear.
The antireflective film sample satisfying the surface roughness of the present invention by using specific particles in the hard coat layer using a low refractive index layer that satisfies the requirements of the present invention is a cross-cut adhesion even after storage under high humidity conditions {Comparison between Samples 101, 102, 116 (Comparative Examples 1-1, 1-2, 1-3) and 103, 113 (Examples 1-1, 1-11), etc.}}.

低屈折率層に、シリコーン系化合物などを使用し表面自由エネルギーを本発明の好ましい範囲にした反射防止フィルム試料は、高湿条件で保管の後の碁盤密着が改良される{試料110(実施例1−8)(表面自由エネルギー範囲外)と103(実施例1−1)(範囲内)、試料112(実施例1−10)(範囲外)と111(実施例1−9)(範囲内)の比較}。   An antireflection film sample using a silicone compound or the like for the low refractive index layer and having a surface free energy within the preferred range of the present invention improves the adhesion of the board after storage under high humidity conditions {Sample 110 (Example 1-8) (Outside surface free energy range) and 103 (Example 1-1) (within range), Sample 112 (Example 1-10) (outside range) and 111 (Example 1-9) (within range) )comparison}.

またハードコート層に、チキソトロピー剤を添加した反射防止フィルム試料は、高湿条件で保管の後の碁盤密着が改良される{試料103(実施例1−1)(添加なし)と108(実施例1−6)(添加)、試料104(実施例1−2)(添加なし)と109(実施例1−7)(添加)の比較}。   Moreover, the antireflection film sample in which the thixotropic agent is added to the hard coat layer improves the adhesion of the board after storage under high humidity conditions {Sample 103 (Example 1-1) (without addition) and 108 (Example) 1-6) (addition), comparison of sample 104 (Example 1-2) (no addition) and 109 (Example 1-7) (addition)}.

実施例2
〔反射防止フィルムの作製〕
比較例2−1
[反射防止フィルム試料201の作製]
(1)帯電性防止層の塗設
80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム「フジタックTAC−TD80U」{富士写真フィルム(株)製}をロール形態で巻き出して、上記の帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−1)を線数360本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する、直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、グラビアロール回転数30rpm、搬送速度35m/分の条件で塗布し、80℃で120秒乾燥の後、さらに窒素パージ下で160W/cmの空冷メタルハライドランプ{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度200mW/cm2、照射量250mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させ、厚さ1.0μmの帯電防止層を形成し、巻き取った。
Example 2
[Preparation of antireflection film]
Comparative Example 2-1
[Preparation of Antireflection Film Sample 201]
(1) Coating of antistatic layer 80 μm thick triacetyl cellulose film “Fujitac TAC-TD80U” (manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) is unrolled in the form of a roll to form the above antistatic layer forming composition Using a microgravure roll having a diameter of 360 lines / inch and a gravure pattern with a depth of 40 μm, and a doctor blade, an object coating solution (AS-1), a gravure roll rotation speed of 30 rpm, a conveyance speed of 35 m / min After coating at 80 ° C. for 120 seconds and using a 160 W / cm air-cooled metal halide lamp {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.> under a nitrogen purge, the illuminance is 200 mW / cm 2 and the irradiation amount is 250 mJ / cm 2. The ultraviolet ray was irradiated to cure the coating layer, and an antistatic layer having a thickness of 1.0 μm was formed and wound up.

上記帯電防止層の上に、実施例1に準じて、ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)及び低屈折率層形成用組成物{(D−1)の固形分に対して1質量%のイソホロンジイソシアネートを添加}を順次塗設・光硬化させて反射防止フィルム試料201を作製した。光硬化後のハードコート層の厚みは4.3μm、低屈折率層の厚みは95nmになるよう調整した。なお試料201以外の反射防止フィルム試料の作製においても、各低屈折率層用塗布液の固形分に対して1質量%のイソホロンジイソシアネートを添加した。   On the antistatic layer, according to Example 1, the hard coating layer forming composition coating liquid (A-1) and the low refractive index layer forming composition {with respect to the solid content of (D-1) 1 mass% isophorone diisocyanate added} was sequentially applied and photocured to prepare an antireflection film sample 201. The thickness of the hard coat layer after photocuring was adjusted to 4.3 μm, and the thickness of the low refractive index layer was adjusted to 95 nm. In preparation of the antireflection film sample other than the sample 201, 1% by mass of isophorone diisocyanate was added to the solid content of each coating solution for the low refractive index layer.

実施例2−1〜2−20及び比較例2−2〜4
[反射防止フィルム試料202〜224の作製]
比較例2−1の反射防止フィルム試料201の作製において、帯電防止層形成用組成物塗布液、ハードコート層形成用組成物塗布液及び低屈折率層形成用組成物塗布液を表2記載のように変更した以外は試料201と同様にして、反射防止フィルム試料201〜224を作製した。
Examples 2-1 to 2-20 and Comparative Examples 2-2 to 4
[Preparation of antireflection film samples 202 to 224]
In the preparation of the antireflection film sample 201 of Comparative Example 2-1, the antistatic layer forming composition coating solution, the hard coat layer forming composition coating solution and the low refractive index layer forming composition coating solution are listed in Table 2. The antireflection film samples 201 to 224 were produced in the same manner as the sample 201 except that the above changes were made.

反射防止フィルム試料216〜224は、80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム「フジタックTAC−TD80U」{富士写真フィルム(株)製}に帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−1)を塗布することなく、ハードコート層形成用組成物塗布液の塗布以降の工程を実施した。試料215は、塗設順序を支持体側から順番にハードコート層、帯電防止層、低屈折率層にし、帯電防止層の厚さを100nmになるよう調製した。   Antireflective film samples 216 to 224 were coated with an antistatic layer-forming composition coating solution (AS-1) on a 80 μm-thick triacetylcellulose film “Fujitac TAC-TD80U” (manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.). Without performing, the process after application | coating of the composition coating liquid for hard-coat layer formation was implemented. Sample 215 was prepared such that the coating order was a hard coat layer, an antistatic layer, and a low refractive index layer in order from the support side, and the thickness of the antistatic layer was 100 nm.

得られた反射防止フィルムについて、表面粗さを実施例1と同様に測定した。また、以下の試験を行った。使用した各層形成用組成物塗布液、及び得られた反射防止フィルム試料201〜224の評価結果を表2に合わせて示す。   About the obtained antireflection film, the surface roughness was measured in the same manner as in Example 1. In addition, the following tests were conducted. Table 2 shows the evaluation results of each layer-forming composition coating solution used and the obtained antireflection film samples 201 to 224.

(1)試料の保存・強制劣化条件
(1−1)基準条件
実施例1及び比較例1と同じ条件とした。
(1) Sample Storage / Forced Degradation Conditions (1-1) Standard Conditions The same conditions as in Example 1 and Comparative Example 1 were used.

(1−3)ヒートサイクル条件
各試料について、−40℃と+90℃の間での昇温降温のサイクルを、1サイクル30
分の条件で100回又は200回繰り返した。
(1-3) Heat cycle conditions For each sample, a cycle of temperature increase / decrease between −40 ° C. and + 90 ° C. is 1 cycle 30
Repeated 100 times or 200 times under the condition of minutes.

(6)スチールウール耐傷性評価
ラビングテスターを用いて、以下の条件でこすりテストをおこなった。
評価環境条件:25℃、60%RH
こすり材:試料と接触するテスターのこすり先端部(1cm×1cm)にスチールウール"No.0000"{(株)日本スチールウール製}を巻いて、動かないようバンド固定した。
移動距離(片道):13cm、こすり速度:13cm/秒、荷重:500g/cm2、先端部接触面積:1cm×1cm、こすり回数:10往復。
(6) Steel wool scratch resistance evaluation A rubbing test was performed using a rubbing tester under the following conditions.
Evaluation environmental conditions: 25 ° C., 60% RH
Rubbing material: Steel wool “No. 0000” {manufactured by Nippon Steel Wool Co., Ltd.} was wound around the tip (1 cm × 1 cm) of the rubbing of a tester in contact with the sample, and the band was fixed so as not to move.
Moving distance (one way): 13 cm, rubbing speed: 13 cm / sec, load: 500 g / cm 2 , tip contact area: 1 cm × 1 cm, rubbing frequency: 10 reciprocations.

こすり終えた試料の裏側に油性黒インキを塗り、反射光で目視観察して、こすり部分の傷を、以下の基準で評価した。
○:非常に注意深く見ても、全く傷が見えない。
○△:非常に注意深く見ると僅かに弱い傷が見える。
△:弱い傷が見える。
△×:中程度の傷が見える。
×:一目見ただけで分かる傷がある。
An oil-based black ink was applied to the back side of the rubbed sample and visually observed with reflected light, and scratches on the rubbed portion were evaluated according to the following criteria.
○: Even when viewed very carefully, no scratches are visible.
○ △: Slightly weak scratches are visible when viewed very carefully.
Δ: A weak scratch is visible.
Δ ×: moderate scratches are visible.
X: There are scratches that can be seen at first glance.

(7)logSR(表面抵抗)の測定
25℃、60%RHで2時間調湿した後に、表面抵抗値(SR)を円電極法で測定した。SRの常用対数をとりlogSRを算出した。
(7) Measurement of log SR (surface resistance) After adjusting the humidity at 25 ° C. and 60% RH for 2 hours, the surface resistance value (SR) was measured by the circular electrode method. The log SR was calculated by taking the common logarithm of SR.

Figure 2005266782
Figure 2005266782

表2に示される結果より、以下のことが明らかである。
本発明の反射防止フィルムにおける低屈折率層を用い、ハードコート層に特定の粒子を用いることで本発明の表面粗さを満たす試料は、ヒートサイクル後も含めスチールウール擦り耐性に優れている{試料201、202(比較例2−1〜2−2)と203〜209(実施例2−1〜2−7)の比較、216、217(比較例2−3〜2−4)と218〜224(実施例2−14〜2−20)の比較}。
From the results shown in Table 2, the following is clear.
The sample satisfying the surface roughness of the present invention by using specific particles in the hard coat layer using the low refractive index layer in the antireflection film of the present invention is excellent in steel wool rubbing resistance including after heat cycle { Comparison of Samples 201 and 202 (Comparative Examples 2-1 to 2-2) and 203 to 209 (Examples 2-1 to 2-7), 216, 217 (Comparative Examples 2-3 to 2-4) and 218 to 224 (Comparison of Examples 2-14 to 2-20)}.

特に、低屈折率層に中空構造の粒子を含む試料は、ヒートサイクル後のスチールウール擦り耐性に優れている{試料219(実施例2−15)(中空構造粒子なし)と220,221(実施例2−16〜2−17)(中空構造粒子含有)の比較、223(実施例2−19)(なし)と224(実施例2−20)(含有)の比較、204(実施例2−2)(なし)と205,206(実施例2−3〜2−4)(含有)の比較、208(実施例2−6)と209(実施例2−7)の比較}。   In particular, a sample containing hollow structure particles in the low refractive index layer is excellent in steel wool scuff resistance after heat cycle {Sample 219 (Example 2-15) (no hollow structure particles) and 220, 221 (implementation). Example 2-16 to 2-17) Comparison of (containing hollow structure particles) 223 (Example 2-19) (none) and 224 (Example 2-20) (containing) comparison, 204 (Example 2- 2) (None) and 205, 206 (Examples 2-3 to 2-4) (containing), 208 (Example 2-6) and 209 (Example 2-7) compared}.

また、帯電防止層を塗設した試料はフイルムの表面抵抗が低下しており、帯電性に優れることが分かる。特に、ハードコート層に金ニッケルメッキ粒子を含有する試料214(実施例2−12)及び、低屈折率層の直下に帯電防止層を有する試料215(実施例2−13)は表面抵抗の低下が大きい。   Further, it can be seen that the sample coated with the antistatic layer has a reduced surface resistance of the film and is excellent in chargeability. In particular, the sample 214 (Example 2-12) containing gold-nickel plating particles in the hard coat layer and the sample 215 (Example 2-13) having an antistatic layer directly under the low refractive index layer have reduced surface resistance. Is big.

実施例3
{低屈折率層形成用組成物塗布液(F−1)の調製}
テトラエトキシシラン2000g、イソブタノール200g、アルミニウムアセチルアセトナート6gをフラスコに仕込み、撹拌した。次に0.25モル/Lの酢酸水500gを少量ずつ滴下した。滴下終了後、室温で3時間撹拌した。その後、ジアセトンアルコール600gを添加して、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して低屈折率層
形成用組成物塗布液(F−1)を調製した。
Example 3
{Preparation of composition coating solution (F-1) for forming a low refractive index layer}
A flask was charged with 2000 g of tetraethoxysilane, 200 g of isobutanol, and 6 g of aluminum acetylacetonate and stirred. Next, 500 g of 0.25 mol / L acetic acid water was added dropwise little by little. After completion of dropping, the mixture was stirred at room temperature for 3 hours. Thereafter, 600 g of diacetone alcohol was added, and the mixture was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 1 μm to prepare a composition solution (F-1) for forming a low refractive index layer.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(F−2)の調製}
37−(OC3624−O−(CF22−C24−O−CH2Si(OCH33からなるペルフルオロポリエーテル基含有シラン化合物160g、テトラエトキシシラン1840g、イソブタノール200g、アルミニウムアセチルアセトナート6gをフラスコに仕込み、撹拌した。次に0.25モル/Lの酢酸水500gを少量ずつ滴下した。滴下終了後、室温で3時間撹拌した。その後、ジアセトンアルコール600gを添加して、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して低屈折率層形成用組成物塗布液(F−2)を調製した。
{Preparation of composition coating solution for low refractive index layer formation (F-2)}
C 3 F 7 - (OC 3 F 6) 24 -O- (CF 2) 2 -C 2 H 4 -O-CH 2 Si (OCH 3) perfluoropolyether group-containing silane compound consisting of 3 160 g, tetraethoxysilane 1840 g, isobutanol 200 g, and aluminum acetylacetonate 6 g were charged into a flask and stirred. Next, 500 g of 0.25 mol / L acetic acid water was added dropwise little by little. After completion of dropping, the mixture was stirred at room temperature for 3 hours. Thereafter, 600 g of diacetone alcohol was added, and the mixture was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 1 μm to prepare a composition coating liquid for low refractive index layer formation (F-2).

{防汚層形成用組成物塗布液(G−1)の調製}
37−(OC3624−O−(CF22−C24−O−CH2Si(OCH33からなるペルフルオロポリエーテル基含有シラン化合物を、ペルフルオロヘキサンで9.5質量%に希釈した塗布液を調製した。
{Preparation of antifouling layer forming composition coating solution (G-1)}
A perfluoropolyether group-containing silane compound composed of C 3 F 7 — (OC 3 F 6 ) 24 —O— (CF 2 ) 2 —C 2 H 4 —O—CH 2 Si (OCH 3 ) 3 is obtained with perfluorohexane. A coating solution diluted to 9.5% by mass was prepared.

{防汚層形成用組成物塗布液(G−2)の調製}
トリデカフルオロオクチルトリメトキシシランをイソプロピルアルコールで6.0%に希釈した塗布液を調製した。
{Preparation of antifouling layer forming composition coating solution (G-2)}
A coating solution was prepared by diluting tridecafluorooctyltrimethoxysilane to 6.0% with isopropyl alcohol.

実施例3−1
[反射防止フィルム試料301の作製]
前記比較例1−1の反射防止フィルム試料101の作製において、ハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)及び低屈折率層形成用組成物塗布液(D−1)を用いる代わりに、ハードコート層形成用組成物塗布液(A−3)及び低屈折率層形成用組成物塗布液(F−1)を用いた以外はまったく同様にして、試料301を作製した。
Example 3-1.
[Preparation of Antireflection Film Sample 301]
In preparation of the antireflection film sample 101 of Comparative Example 1-1, instead of using the hard coat layer forming composition coating liquid (A-1) and the low refractive index layer forming composition coating liquid (D-1). Sample 301 was produced in exactly the same manner except that the hard coat layer forming composition coating solution (A-3) and the low refractive index layer forming composition coating solution (F-1) were used.

実施例3−2
[反射防止フィルム試料302の作製]
上記で作製された反射防止フィルム試料301の低屈折率層の上に、防汚層形成用組成物塗布液(G−1)を塗布し、120℃で1分乾燥して、厚さ8nmの防汚層を作製し、反射防止フィルム試料302を作製した。
Example 3-2
[Preparation of Antireflection Film Sample 302]
On the low refractive index layer of the antireflection film sample 301 produced above, the antifouling layer-forming composition coating liquid (G-1) was applied, dried at 120 ° C. for 1 minute, and a thickness of 8 nm. An antifouling layer was prepared, and an antireflection film sample 302 was prepared.

実施例3−3
[反射防止フィルム試料303の作製]
また反射防止フィルム試料302において、防汚層形成用組成物塗布液(G−1)を用いる代わりに、防汚層形成用組成物塗布液(G−2)を用いる以外は試料302と同様にして、反射防止フィルム試料303を作製した。
Example 3-3
[Preparation of Antireflection Film Sample 303]
Further, in the antireflection film sample 302, in the same manner as the sample 302 except that the antifouling layer forming composition coating solution (G-1) was used instead of using the antifouling layer forming composition coating solution (G-1). Thus, an antireflection film sample 303 was produced.

実施例3−4
[反射防止フィルム試料304の作製]
さらに反射防止フィルム試料301において、低屈折率層形成用組成物塗布液(F−1)を用いる代わりに、低屈折率層形成用組成物塗布液(F−2)を用いる以外は同様にして、試料304を作製した。
Example 3-4
[Preparation of Antireflection Film Sample 304]
Further, in the antireflection film sample 301, the same procedure was performed except that the low refractive index layer forming composition coating solution (F-2) was used instead of using the low refractive index layer forming composition coating solution (F-1). Sample 304 was prepared.

得られた反射防止フィルム試料301〜304について、高湿保管前後での碁盤目密着テストを評価した。結果を表3に示す。   For the obtained antireflection film samples 301 to 304, a cross-cut adhesion test before and after storage at high humidity was evaluated. The results are shown in Table 3.

Figure 2005266782
Figure 2005266782

本発明の実施例3の反射防止フィルムにおいて、防汚層を塗設した試料は膜強度の耐久性に更に優れていることが分かる。   In the antireflection film of Example 3 of the present invention, it can be seen that the sample coated with the antifouling layer is further excellent in durability of the film strength.

実施例4
実施例1の反射防止フィルム試料108と同じハードコート層形成用組成物塗布液(C−1)と低屈折率層形成用組成物の塗布液(D−4)を用いて、以下の反射防止フィルム試料401から403を作製した。
Example 4
Using the same hard coat layer-forming composition coating liquid (C-1) and low-refractive index layer-forming composition coating liquid (D-4) as in the antireflection film sample 108 of Example 1, the following antireflection Film samples 401 to 403 were prepared.

実施例4−1
[反射防止フィルム試料401の作製]
ハードコート層及び低屈折率層を共に塗布し光硬化終了した試料を、以下の(1)に従って鹸化処理を行った。
(1)1.5モル/LのNaOH水溶液中に、55℃で120秒浸漬した後に、0.05モル/LのH2SO4水溶液に30℃で20秒浸漬して中和し、次いで水洗を20秒行った後120℃で2分乾燥した。
Example 4-1
[Preparation of Antireflection Film Sample 401]
A sample that was coated with both the hard coat layer and the low refractive index layer and was photocured was saponified according to the following (1).
(1) After immersing in a 1.5 mol / L NaOH aqueous solution at 55 ° C. for 120 seconds, neutralize by immersing in a 0.05 mol / L H 2 SO 4 aqueous solution at 30 ° C. for 20 seconds, After washing with water for 20 seconds, it was dried at 120 ° C. for 2 minutes.

実施例4−2
[反射防止フィルム試料402の作製]
ハードコート層を形成した試料について、以下の(2)の鹸化処理を行った後、低屈折率層形成用組成物の塗布を行った。
(2)1.5モル/LのNaOH水溶液中に55℃で120秒浸漬した後に、0.05モル/LのH2SO4水溶液に30℃で20秒浸漬して中和し、次いで水洗20秒行い120℃で2分乾燥した。その後、低屈折率層を塗設した。
Example 4-2
[Preparation of Antireflection Film Sample 402]
About the sample in which the hard-coat layer was formed, after performing the saponification process of the following (2), the composition for low refractive index layer formation was apply | coated.
(2) After immersing in a 1.5 mol / L NaOH aqueous solution at 55 ° C. for 120 seconds, neutralize by immersing in a 0.05 mol / L H 2 SO 4 aqueous solution at 30 ° C. for 20 seconds, and then washing with water It was performed for 20 seconds and dried at 120 ° C. for 2 minutes. Thereafter, a low refractive index layer was applied.

実施例4−3
[反射防止フィルム試料403の作製]
ハードコート層、低屈折率層ともに塗布し光硬化終了した試料について、以下の(3)の鹸化処理を行った。
(3)試料の低屈折率層が塗設されている側を、保護用マスキングフィルム(微粘着層つきPET)でラミネートし、上記(1)と同様の条件で鹸化処理を行った。鹸化後、ラミネートしたフィルムをはがして下記評価を行った。
Example 4-3
[Preparation of Antireflection Film Sample 403]
The following (3) saponification treatment was performed on the sample which was applied with both the hard coat layer and the low refractive index layer and was photocured.
(3) The side of the sample on which the low refractive index layer was coated was laminated with a protective masking film (PET with a slightly adhesive layer), and saponified under the same conditions as in (1) above. After saponification, the laminated film was peeled off and evaluated as follows.

実施例1に準じて、ヒートサイクル後での碁盤目密着評価を行った結果を表4に示す。   Table 4 shows the results of cross-cut adhesion evaluation after the heat cycle according to Example 1.

Figure 2005266782
Figure 2005266782

表4によれば、低屈折率層を塗設する前にアルカリ鹸化処理することで、膜の層間密着がさらに改良されていることが分かる。アルカリ鹸化処理で層間の密着が改良される理由については、必ずしも明確ではないが、鹸化処理によりハードコート層の表面の極性が上がることにより、本発明の低屈折材料との密着性が改良されたものと推定している。   According to Table 4, it can be seen that the interlayer adhesion of the film is further improved by performing the alkali saponification treatment before coating the low refractive index layer. The reason why the adhesion between the layers is improved by the alkali saponification treatment is not necessarily clear, but the adhesion with the low refractive material of the present invention is improved by increasing the polarity of the surface of the hard coat layer by the saponification treatment. Estimated.

実施例5
〔偏光板の作製〕
80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム「フジタックTAC−TD80U」{富士写真フィルム(株)製}を、1.5モル/L、55℃のNaOH水溶液中に2分間浸漬した後、中和、水洗して得たフィルムと、実施例1及び2の反射防止フィルム試料の裏面鹸化済みトリアセチルセルロースフィルムとを、ポリビニルアルコールにヨウ素を吸着させ、延伸して作製した偏光膜の両面に接着し、保護して偏光板を作製した。
Example 5
[Preparation of polarizing plate]
An 80 μm-thick triacetyl cellulose film “Fujitac TAC-TD80U” (manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) was immersed in a 1.5 mol / L, 55 ° C. NaOH aqueous solution for 2 minutes, and then neutralized and washed with water. The film obtained in this manner and the back-saponified triacetyl cellulose film of the antireflection film samples of Examples 1 and 2 were adhered to both sides of a polarizing film prepared by adsorbing iodine to polyvinyl alcohol and stretching, thereby protecting the film. Thus, a polarizing plate was produced.

〔液晶表示装置〕
このようにして作製した偏光板を、反射防止フィルム側が最表面となるように透過型TN液晶表示装置搭載のノートパソコンの液晶表示装置{偏光選択層を有する偏光分離フィルムである住友3M(株)製"D−BEF"をバックライトと液晶セルとの間に有する)の視認側の偏光板と貼り代えたところ、背景の映りこみが極めて少なく、表示品位の非常に高い表示装置が得られた。
[Liquid Crystal Display]
The thus-prepared polarizing plate is a liquid crystal display device of a notebook personal computer equipped with a transmission type TN liquid crystal display device so that the antireflection film side becomes the outermost surface {Sumitomo 3M Co., Ltd., which is a polarization separation film having a polarization selection layer] When the polarizing plate on the viewing side of “D-BEF” (made between the backlight and the liquid crystal cell) was attached, a very high display quality display device was obtained with very little background reflection. .

実施例6
〔偏光板の作製〕
[トリアセチルセルロースフィルムの作製]
以下の支持体を使用して偏光板を作製した。
支持体1:特開2001−249223号公報の実施例1に準じて作製したトリアセチルセルロースフィルム。
支持体2:特開2001−249223号公報の実施例2に準じて作製したトリアセチルセルロースフィルム。
支持体3:特開2003−170492号公報の実施例2に準じて作製したトリアセチルセルロースフィルム。
支持体4:80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム「フジタックTD−80U」{富士写真フィルム(株)製}。
Example 6
[Preparation of polarizing plate]
[Production of triacetyl cellulose film]
A polarizing plate was prepared using the following support.
Support 1: A triacetylcellulose film produced according to Example 1 of JP-A-2001-249223.
Support 2: A triacetylcellulose film produced according to Example 2 of JP-A-2001-249223.
Support 3: A triacetylcellulose film produced according to Example 2 of JP-A-2003-170492.
Support 4: Triacetyl cellulose film “Fujitac TD-80U” having a thickness of 80 μm {manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.}.

それぞれのレターデーション値を以下に示す。
支持体1:Re=40nm,Rth=130nm。
支持体2:Re=50nm,Rth=240nm。
支持体3:Re=64nm,Rth=120nm。
支持体4:Re=4nm,Rth=45nm。
Each retardation value is shown below.
Support 1: Re = 40 nm, Rth = 130 nm.
Support 2: Re = 50 nm, Rth = 240 nm.
Support 3: Re = 64 nm, Rth = 120 nm.
Support 4: Re = 4 nm, Rth = 45 nm.

実施例6−1〜6−8
[偏光板(P−1)の作製]
延伸したポリビニルアルコールフィルムに、ヨウ素を吸着させて偏光膜(PF−1)を作製した。まず市販のトリアセチルセルロース(支持体4)にケン化処理を行い、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて、偏光膜(PF−1)の片側に貼り付けた。次いで上記支持体1にケン化処理を行い、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて、偏光膜(PF−1)の反対側に貼り付けた。その際に、偏光膜(PF−1)の透過軸と支持体1の遅相軸とは平行になるように配置し、偏光膜(PF−1)の透過軸と市販のトリアセチルセルロースフィルム(支持体4)の遅相軸とは、直交するように配置して偏光板を作製した。このようにして得られた偏光板をP−1とした。
Examples 6-1 to 6-8
[Preparation of Polarizing Plate (P-1)]
Iodine was adsorbed on the stretched polyvinyl alcohol film to produce a polarizing film (PF-1). First, a commercially available triacetyl cellulose (support 4) was saponified and attached to one side of the polarizing film (PF-1) using a polyvinyl alcohol-based adhesive. Next, the support 1 was subjected to saponification treatment and attached to the opposite side of the polarizing film (PF-1) using a polyvinyl alcohol-based adhesive. At that time, the transmission axis of the polarizing film (PF-1) and the slow axis of the support 1 are arranged in parallel, and the transmission axis of the polarizing film (PF-1) and a commercially available triacetyl cellulose film ( A polarizing plate was produced by placing the support 4) so as to be orthogonal to the slow axis of the support 4). The polarizing plate thus obtained was designated as P-1.

[偏光板(P−2)の作製]
偏光板(P−1)において、支持体1の代わりに、支持体2を用いた以外は全く同様にして偏光板(P−2)を作製した。
[Preparation of Polarizing Plate (P-2)]
A polarizing plate (P-2) was produced in the same manner as in the polarizing plate (P-1) except that the support 2 was used instead of the support 1.

[偏光板(P−3)の作製]
偏光板(P−1)において、支持体1の代わりに、支持体3を用いた以外は全く同様にして偏光板(P−3)を作製した。
[Preparation of Polarizing Plate (P-3)]
A polarizing plate (P-3) was produced in the same manner as in the polarizing plate (P-1) except that the support 3 was used instead of the support 1.

[偏光板(P−4)の作製]
偏光板(P−1)において、支持体1の代わりに、支持体4を用いた以外は全く同様にして偏光板(P−3)を作製した。
[Preparation of Polarizing Plate (P-4)]
A polarizing plate (P-3) was produced in the same manner as in the polarizing plate (P-1) except that the support 4 was used instead of the support 1.

[偏光板(P−1A)の作製]
偏光板(P−1)において、支持体4の代わりに、実施例2の反射防止フィルム試料2
14を用いた以外は全く同様にして偏光板(P−1A)を作製した。
[Preparation of Polarizing Plate (P-1A)]
Instead of the support 4 in the polarizing plate (P-1), the antireflection film sample 2 of Example 2
A polarizing plate (P-1A) was produced in the same manner except that 14 was used.

[偏光板(P−2A)の作製]
偏光板(P−2)において、支持体4の代わりに、実施例2の反射防止フィルム試料214を用いた以外は全く同様にして偏光板(P−2A)を作製した。
[Preparation of Polarizing Plate (P-2A)]
A polarizing plate (P-2A) was produced in the same manner as in the polarizing plate (P-2) except that the antireflection film sample 214 of Example 2 was used instead of the support 4.

[偏光板(P−3A)の作製]
偏光板(P−3)において、支持体4の代わりに、実施例2の反射防止フィルム試料214を用いた以外は全く同様にして偏光板(P−1A)を作製した。
[Preparation of Polarizing Plate (P-3A)]
A polarizing plate (P-1A) was produced in exactly the same manner as in the polarizing plate (P-3) except that the antireflection film sample 214 of Example 2 was used instead of the support 4.

[偏光板(P−4A)の作製]
偏光板(P−1A)において、支持体1の代わりに支持体4を用いた以外は全く同様にして偏光板(P−4A)を作製した。
[Preparation of Polarizing Plate (P-4A)]
A polarizing plate (P-4A) was produced in the same manner as in the polarizing plate (P-1A) except that the support 4 was used instead of the support 1.

実施例7
〔液晶表示装置〕
垂直配向型液晶セルを使用した液晶表示装置"VL−1530S"{富士通(株)製}に設けられている、一対の偏光板及び一対の光学補償シートを剥がし、代わりに実施例6で作製した偏光板を、粘着剤を介して、表5に示すように、観察者側及びバックライト側に1枚ずつ貼り付けた。観察者側の偏光板の透過軸が上下方向に、そして、バックライト側の偏光板の透過軸が左右方向になるように、クロスニコル配置とした。その構成を表5に示す。作製した液晶表示装置について、画像を表示し、外光や背景の写りこみ、視野角、ギラツキの官能評価を行った。
Example 7
[Liquid Crystal Display]
A pair of polarizing plates and a pair of optical compensation sheets provided in a liquid crystal display device “VL-1530S” {manufactured by Fujitsu Ltd.} using a vertical alignment type liquid crystal cell were peeled off, and instead produced in Example 6. As shown in Table 5, one polarizing plate was attached to each of the observer side and the backlight side via an adhesive. The crossed Nicols were arranged so that the transmission axis of the polarizing plate on the viewer side was in the vertical direction and the transmission axis of the polarizing plate on the backlight side was in the horizontal direction. The configuration is shown in Table 5. Images of the manufactured liquid crystal display device were displayed, and sensory evaluation of external light and background reflection, viewing angle, and glare was performed.

Figure 2005266782
Figure 2005266782

表5中、本発明の反射防止フィルムを有する装置は、装置B(実施例7−1),装置D(実施例7−2)、装置F(実施例7−3),装置H(実施例7−4)である。
また、本発明の反射防止フィルムを有し、かつ偏光板を構成する保護フィルムの少なくとも1つのレターデーション値が本発明における好適範囲(Reレターデーション値が20以上70nm以下であると共に、Rthレターデーション値が70以上400nm以下)にある装置は、装置B、装置Dおよび装置Fであり、「偏光板組合せ型」の欄にY型と表示した。それ以外をZ型と表示した。
In Table 5, apparatuses having the antireflection film of the present invention are apparatus B (Example 7-1), apparatus D (Example 7-2), apparatus F (Example 7-3), apparatus H (Example). 7-4).
In addition, at least one retardation value of the protective film having the antireflection film of the present invention and constituting the polarizing plate is in a preferred range in the present invention (Re retardation value is 20 to 70 nm and Rth retardation is used. The devices having a value of 70 or more and 400 nm or less were devices B, D, and F, and indicated as Y type in the “Polarizing plate combination type” column. The others were indicated as Z type.

その結果、本発明の反射防止フィルムを有する装置B、D、FおよびH(実施例7−1〜7−4)は、これらの装置に対応する、本発明の反射防止フィルムを有さない装置A、C、EおよびG(比較例7−1〜7−4)に比べ、反射率が低下し外光や背景の写りこみが少なく、またギラツキの発生なく視野角が拡大することが認められた。
更に、本発明の反射防止フィルムを有し、かつ偏光板を構成する保護フィルムの少なくとも1つのレターデーション値が本発明における好適範囲にある装置B、DおよびFは、特に視野角が広くなり、極めて視認性が高いことが分かった。
As a result, the apparatuses B, D, F and H (Examples 7-1 to 7-4) having the antireflection film of the present invention correspond to these apparatuses and do not have the antireflection film of the present invention. Compared to A, C, E, and G (Comparative Examples 7-1 to 7-4), it is recognized that the reflectance is reduced, the external light and background are less reflected, and the viewing angle is expanded without causing glare. It was.
Further, the devices B, D and F having the antireflection film of the present invention and having at least one retardation value of the protective film constituting the polarizing plate within the preferred range of the present invention have a particularly wide viewing angle, It was found that the visibility was extremely high.

実施例8
〔有機EL表示装置〕
実施例1及び2の反射防止フィルム試料を、有機EL表示装置の表面のガラス板に粘着剤を介して貼り合わせたところ、ガラス表面での反射が抑えられ、視認性の高い表示装置が得られた。
Example 8
[Organic EL display device]
When the antireflection film samples of Examples 1 and 2 were bonded to the glass plate on the surface of the organic EL display device via an adhesive, reflection on the glass surface was suppressed, and a display device with high visibility was obtained. It was.

実施例9
〔反射防止フィルムの作製〕
{低屈折率層形成用組成物塗布液(H−1)の調製}
上記低屈折率層形成用組成物(D−2)の100gに対して、更に、中空シリカ分散物"CS60−IPA"{粒子サイズ60nm、シエル厚10nm、屈折率1.31、固形分濃度20%、主溶媒イソプロピルアルコール、触媒化成工業(株)製)}を147g添加し、攪拌し低屈折率層形成用組成物塗布液(H−1)を調製した。
Example 9
[Preparation of antireflection film]
{Preparation of low refractive index layer-forming composition coating solution (H-1)}
For 100 g of the above low refractive index layer forming composition (D-2), hollow silica dispersion “CS60-IPA” {particle size 60 nm, shell thickness 10 nm, refractive index 1.31, solid content concentration 20 %, Main solvent isopropyl alcohol, manufactured by Catalyst Kasei Kogyo Co., Ltd.)} and stirred to prepare a low refractive index layer-forming composition coating solution (H-1).

{低屈折率層形成用組成物塗布液(H−2)の調製}
上記低屈折率層形成用組成物塗布液(H−1)に対して、さらに該塗布液(H−1)の固形分質量当たり1.5質量%のイソホロンジイソシアネートを添加して低屈折率層形成用組成物塗布液(H−2)を調製した。
{Preparation of low refractive index layer-forming composition coating solution (H-2)}
The low refractive index layer is obtained by further adding 1.5% by mass of isophorone diisocyanate to the solid content mass of the coating liquid (H-1) to the low refractive index layer forming composition coating liquid (H-1). A forming composition coating solution (H-2) was prepared.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(H−3)の調製}
上記の低屈折率層形成用組成物塗布液(H−1)において、更にシランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}5gを加えたこと以外は全く同様にして、低屈折率層形成用組成物塗布液(H−3)を調製した。
{Preparation of composition coating liquid for forming a low refractive index layer (H-3)}
In the above-described composition for forming a low refractive index layer (H-1), 5 g of a silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} is added. Except that, a composition coating solution (H-3) for forming a low refractive index layer was prepared in the same manner.

{低屈折率層形成用組成物塗布液(H−4)の調製}
実施例3の低屈折率層形成用組成物塗布液(F−1)の100gに対して、更に、中空シリカ分散物"CS60−IPA"{粒子サイズ60nm、シエル厚10nm、屈折率1.31、固形分濃度20%、主溶媒イソプロピルアルコール、触媒化成工業(株)製}を147g添加し、更にシランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}5gを加え低屈折率層形成用組成物(H−4)を調製した。
{Preparation of low refractive index layer-forming composition coating solution (H-4)}
For 100 g of the low refractive index layer-forming composition coating solution (F-1) of Example 3, hollow silica dispersion “CS60-IPA” {particle size 60 nm, shell thickness 10 nm, refractive index 1.31. 147 g of a solid content concentration of 20%, main solvent isopropyl alcohol, manufactured by Catalyst Kasei Kogyo Co., Ltd.}, and a silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. )} 5 g was added to prepare a composition for forming a low refractive index layer (H-4).

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)の調製}
実施例1のハードコート層形成用組成物塗布液(A−1)95.5gに対して、平均粒径1.5μmのシリカ粒子「シーホスターKE−P150」{屈折率1.46、日本触媒(株)製}の30%トルエン分散液90gを、ポリトロン分散機にて10000rpmで30分間分散した後に加え、混合攪拌して、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)を得た。
{Preparation of composition coating liquid for hard coat layer formation (J-1)}
The silica particle “Seahoster KE-P150” having an average particle diameter of 1.5 μm {refractive index of 1.46, Nippon Shokubai (Nippon Catalyst) with respect to 95.5 g of the hard coat layer forming composition coating liquid (A-1) of Example 1 Co., Ltd.} 30% toluene dispersion was dispersed in a Polytron disperser at 10,000 rpm for 30 minutes, mixed and stirred to obtain a hard coat layer forming composition coating liquid (J-1).

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−2)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固形分100質量部に対して、有機粘土を1質量部添加した以外は全く同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−2)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-2)}
In the hard coat layer forming composition coating liquid (J-1), except that 1 part by mass of organic clay was added to 100 parts by mass of the solid content of the coating liquid (J-1), A hard coat layer forming composition coating solution (J-2) was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−3)の調製}
上記ハードコート形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固形分100質量部に対して、微粒子シリカ"AEROSIL 200"{平均1次粒子12nm、屈折率1.46、日本アエロジル(株)製}を1.0質量部添加した以外は全く同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−3)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-3)}
In the hard coat forming composition coating liquid (J-1), the fine particle silica “AEROSIL 200” {average primary particle 12 nm, refractive index 1 with respect to 100 parts by mass of the solid content of the coating liquid (J-1). .46, Nippon Aerosil Co., Ltd.} was added in the same manner as described above, except that 1.0 part by mass of a hard coat layer forming composition coating solution (J-3) was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−4)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固形分100質量部に対して、アセチルプロピオニルセルロースを1.5質量部添加した以外は同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−4)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-4)}
In the said hard-coat layer formation composition coating liquid (J-1), it is the same except having added 1.5 mass parts of acetyl propionyl cellulose with respect to 100 mass parts of solid content of this coating liquid (J-1). Then, a hard coat layer forming composition coating solution (J-4) was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−5)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固
形分100質量部に対して、アセチルプロピオニルセルロースを2.5質量部添加した以外は同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−5)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-5)}
In the hard coat layer-forming composition coating liquid (J-1), the same procedure except that 2.5 parts by mass of acetylpropionylcellulose was added to 100 parts by mass of the solid content of the coating liquid (J-1). Thus, a composition coating liquid (J-5) for forming a hard coat layer was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−6)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固形分100質量部に対して、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}15質量部を加えた以外は同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−6)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-6)}
In the hard coat layer forming composition coating liquid (J-1), the silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyl is used with respect to 100 parts by mass of the solid content of the coating liquid (J-1). A hard coat layer-forming composition coating solution (J-6) was prepared in the same manner except that 15 parts by mass of trimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. was added.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−7)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固形分100質量部に対して、下記のゾル液aを35質量部加えた以外は同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−6)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-7)}
In the hard coat layer-forming composition coating liquid (J-1), except that 35 parts by mass of the following sol liquid a was added to 100 parts by mass of the solid content of the coating liquid (J-1). Thus, a hard coat layer forming composition coating solution (J-6) was prepared.

(ゾル液aの調製)
攪拌機、還流冷却器を備えた反応器に、メチルエチルケトン120質量部、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}100質量部、ジイソプロポキシアルミニウムエチルアセトアセテート{「ケロープEP−12」ホープ製薬(株)製」3質量部を加えて混合し、次いでイオン交換水30質量部を加え、60℃で4時間反応させた後、室温まで冷却してゾル液aを得た。質量平均分子量は1600であり、オリゴマー成分以上の成分のうち、分子量1000〜20000の成分が100%であった。また、ガスクロマトグラフィー分析から、原料のアクリロイルオキシプロピルトリメトキシシランは全く残存していなかった。
(Preparation of sol solution a)
In a reactor equipped with a stirrer and a reflux condenser, methyl ethyl ketone 120 parts by mass, silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 100 parts by mass, diiso 3 parts by mass of propoxyaluminum ethyl acetoacetate {“Kelope EP-12” manufactured by Hope Pharmaceutical Co., Ltd.] is added and mixed, and then 30 parts by mass of ion-exchanged water is added and reacted at 60 ° C. for 4 hours. Sol was obtained by cooling. The mass average molecular weight was 1600, and among the components higher than the oligomer component, the component having a molecular weight of 1000 to 20000 was 100%. Further, from the gas chromatography analysis, the raw material acryloyloxypropyltrimethoxysilane did not remain at all.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−8)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固形分100gに対して、実施例3の低屈折率層形成用組成物塗布液(F−1)を20g加えた以外は同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−8)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-8)}
In the hard coat layer forming composition coating liquid (J-1), the low refractive index layer forming composition coating liquid (F-) of Example 3 is used with respect to 100 g of the solid content of the coating liquid (J-1). A hard coat layer forming composition coating solution (J-8) was prepared in the same manner except that 20 g of 1) was added.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−9)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)において、該塗布液(J−1)の固形分100gに対して、シランカップリング剤"KBM−403"{3−グリシドキシキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}15gを加えた以外は同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−9)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-9)}
In the hard coat layer-forming composition coating liquid (J-1), the silane coupling agent “KBM-403” {3-glycidoxyxypropyltrimethyl is added to 100 g of the solid content of the coating liquid (J-1). A composition coating liquid for forming a hard coat layer (J-9) was prepared in the same manner except that 15 g of methoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. was added.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−10)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−4)において、該塗布液(J−4)の固形分100gに対して、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}15gを加えた以外は同様にして、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−10)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-10)}
In the hard coat layer forming composition coating solution (J-4), the silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxy is used with respect to 100 g of the solid content of the coating solution (J-4). A composition coating liquid for forming a hard coat layer (J-10) was prepared in the same manner except that 15 g of Silane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. was added.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−11)の調製}
上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−4)において、該塗布液(J−4)の固形分100gに対して、1.5質量%のイソホロンジイソシアネートを添加してハードコート層形成用組成物塗布液(J−11)を調製した。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-11)}
In the hard coat layer forming composition coating liquid (J-4), 1.5% by mass of isophorone diisocyanate is added to 100 g of the solid content of the coating liquid (J-4) to form a hard coat layer. A composition coating liquid (J-11) was prepared.

{ハードコート層形成用組成物塗布液(J−12)の調製}
市販ジルコニア含有UV硬化型ハードコート液「デソライトZ7404」{JSR(株)製、固形分濃度約61%、固形分中ZrO2含率約70%、重合性モノマー、重合開始剤含有}285g、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}85gを混合し、更に、メチルイソブチルケトン60g、メチルエチルケトン17gで希釈した。更に、シランカップリング剤"KBM−5103"{信越化学(株)製}28gを混合攪拌した。この溶液を塗布、紫外線硬化して得られた塗膜の屈折率は1.61であった。
{Preparation of hard coat layer forming composition coating solution (J-12)}
Commercially available zirconia-containing UV curable hard coat liquid “Desolite Z7404” {manufactured by JSR Corporation, solid content concentration of about 61%, solid content of ZrO 2 content of about 70%, polymerizable monomer, polymerization initiator contained} 285 g, di 85 g of a mixture of pentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate “DPHA” {manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.} was mixed, and further diluted with 60 g of methyl isobutyl ketone and 17 g of methyl ethyl ketone. Furthermore, 28 g of a silane coupling agent “KBM-5103” {manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} was mixed and stirred. The refractive index of the coating film obtained by applying this solution and curing with ultraviolet rays was 1.61.

この液に対して、平均粒径1.5μmのシリカ粒子「シーホスターKE−P150」{屈折率1.46、日本触媒(株)製}の30%メチルエチルケトン分散液90gを、ポリトロン分散機にて10000rpmで30分間分散した後に加え、混合攪拌し、最後に、前記のフッ素系表面改質剤(FP−1)0.75g加えた。得られた混合液を孔径30μmのポリプロピレン製フィルターで濾過してハードコート層形成用組成物塗布液(J−12)を調製した。   To this liquid, 90 g of 30% methyl ethyl ketone dispersion of silica particles “Seahoster KE-P150” {refractive index 1.46, manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd.} having an average particle diameter of 1.5 μm was 10000 rpm with a Polytron disperser. Was added after being dispersed for 30 minutes, and mixed and stirred. Finally, 0.75 g of the fluorine-based surface modifier (FP-1) was added. The obtained mixed liquid was filtered through a polypropylene filter having a pore diameter of 30 μm to prepare a hard coat layer forming composition coating liquid (J-12).

{帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−3)の調製}
石原産業(株)製の"SNS−10M"(ATO 19.7質量%、分散剤10.7%、溶媒メチルエチルケトン)100質量部に対して、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}を15.0質量部、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}1.5質量部、光ラジカル発生剤「イルガキュア907」{チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}1.0質量部、メトキシプロパノールを30質量部加えて混合し、メチルエチルケトンで固形分濃度が10質量%となるように希釈し帯電防止層用塗布液(AS−3)とした。
{Preparation of antistatic layer forming composition coating solution (AS-3)}
A mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate with respect to 100 parts by weight of “SNS-10M” (ATO 19.7% by mass, dispersant 10.7%, solvent methyl ethyl ketone) manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd. "DPHA" {Nippon Kayaku Co., Ltd.} 15.0 parts by mass, silane coupling agent "KBM-5103" {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 1.5 mass Part, photo radical generator “Irgacure 907” {manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) 1.0 part by mass, 30 parts by mass of methoxypropanol are added and mixed, and the solid content concentration becomes 10% by mass with methyl ethyl ketone. To obtain an antistatic layer coating solution (AS-3).

{帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−4)の調製}
石原産業(株)製の"SNS−10M"(ATO 19.7質量%、分散剤10.7%、溶媒メチルエチルケトン)100質量部に対して、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}を10.0質量部、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}1.5質量部、光ラジカル発生剤「イルガキュア907」{チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}1.0質量部、メトキシプロパノールを30質量部加えて混合し、メチルエチルケトンで固形分濃度が10質量%となるように希釈し帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−4)とした。
{Preparation of antistatic layer forming composition coating solution (AS-4)}
A mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate with respect to 100 parts by weight of “SNS-10M” (ATO 19.7% by mass, dispersant 10.7%, solvent methyl ethyl ketone) manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd. 10.0 parts by mass of “DPHA” {Nippon Kayaku Co., Ltd.}, silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 1.5 mass Part, photo radical generator “Irgacure 907” {manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) 1.0 part by mass, 30 parts by mass of methoxypropanol are added and mixed, and the solid content concentration becomes 10% by mass with methyl ethyl ketone. To obtain a composition coating solution (AS-4) for forming an antistatic layer.

{帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−5)の調製}
石原産業(株)製の"SNS−10M"(ATO 19.7質量%、分散剤10.7%、溶媒メチルエチルケトン)100質量部に対して、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}を5.0質量部、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}1.5質量部、光ラジカル発生剤「イルガキュア907」{チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}0.7質量部、メトキシプロパノールを30質量部加えて混合し、メチルエチルケトンで固形分濃度が10質量%となるように希釈し帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−5)とした。
{Preparation of antistatic layer forming composition coating solution (AS-5)}
A mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate with respect to 100 parts by weight of “SNS-10M” (ATO 19.7% by mass, dispersant 10.7%, solvent methyl ethyl ketone) manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd. 5.0 parts by mass of “DPHA” {Nippon Kayaku Co., Ltd.}, silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 1.5 mass Parts, photo radical generator “Irgacure 907” {manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) 0.7 parts by mass, 30 parts by mass of methoxypropanol are added and mixed so that the solid content concentration becomes 10% by mass with methyl ethyl ketone. To obtain a composition coating solution (AS-5) for forming an antistatic layer.

{帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−6)の調製}
石原産業(株)製の"SNS−10M"(ATO 19.7質量%、分散剤10.7%、溶媒メチルエチルケトン)100質量部に対して、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}を2.0質量部、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}1.5質量部、光ラジカル発生剤「イルガキュア907」{チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}0.4質量部、メトキシプロパノールを30質量部加えて混合し、メチルエチルケトンで固形分濃度が10質量%となるように希釈し帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−6)とした。
{Preparation of antistatic layer forming composition coating solution (AS-6)}
A mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate with respect to 100 parts by weight of “SNS-10M” (ATO 19.7% by mass, dispersant 10.7%, solvent methyl ethyl ketone) manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd. 2.0 parts by mass of "DPHA" {Nippon Kayaku Co., Ltd.}, silane coupling agent "KBM-5103" {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 1.5 mass Part, photo radical generator “Irgacure 907” {manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.} 0.4 parts by mass, 30 parts by mass of methoxypropanol are added and mixed, so that the solid content concentration becomes 10% by mass with methyl ethyl ketone. To obtain a composition coating solution (AS-6) for forming an antistatic layer.

{帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−7)の調製}
石原産業(株)製の"SNS−10M"(ATO 19.7質量%、分散剤10.7%、溶媒メチルエチルケトン)100質量部に対して、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物"DPHA"{日本化薬(株)製}を1.0質量部、シランカップリング剤"KBM−5103"{3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業(株)製}1.5質量部、光ラジカル発生剤「イルガキュア907」{チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}0.4質量部、メトキシプロパノールを30質量部加えて混合し、メチルエチルケトンで固形分濃度が10質量%となるように希釈し帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−7)とした。
{Preparation of antistatic layer forming composition coating solution (AS-7)}
A mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate with respect to 100 parts by weight of “SNS-10M” (ATO 19.7% by mass, dispersant 10.7%, solvent methyl ethyl ketone) manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd. 1.0 parts by mass of “DPHA” {Nippon Kayaku Co., Ltd.}, silane coupling agent “KBM-5103” {3-acryloxypropyltrimethoxysilane, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.} 1.5 mass Part, photo radical generator “Irgacure 907” {manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.} 0.4 parts by mass, 30 parts by mass of methoxypropanol are added and mixed, so that the solid content concentration becomes 10% by mass with methyl ethyl ketone. To obtain a composition coating solution for forming an antistatic layer (AS-7).

比較例9−1
[反射防止フィルム試料901の作製]
(1)ハードコート層の塗設
80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム「フジタックTAC−TD80U」{富士写真フィルム(株)製}をロール形態で巻き出して、上記ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)を、線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する、直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、グラビアロール回転数30rpm、搬送速度35m/分の条件で塗布し、60℃で150秒乾燥の後、さらに窒素パージ下で160W/cmの空冷メタルハライドランプ{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm2、照射量120mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させ、厚さ5.6μmのハードコート層を形成し、巻き取った。
Comparative Example 9-1
[Preparation of Antireflection Film Sample 901]
(1) Coating of hard coat layer A triacetyl cellulose film “Fujitac TAC-TD80U” {manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.} having a thickness of 80 μm is unwound in a roll form, and the hard coat layer forming composition is applied. Using a micro gravure roll with a diameter of 180 mm / inch and a gravure pattern with a depth of 40 μm and a doctor blade, the liquid (J-1) was subjected to a gravure roll rotation speed of 30 rpm and a conveyance speed of 35 m / min. After applying and drying at 60 ° C. for 150 seconds, using an air-cooled metal halide lamp {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge, an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 120 mJ / cm 2 The coating layer was cured by irradiating with ultraviolet rays to form a 5.6 μm thick hard coat layer and wound up.

(2)低屈折率層の塗設
前記低屈折率層形成用組成物塗布液(H−1)をバーコーターで、上記で塗設されたハードコート層上に塗布した。80℃で5分間乾燥の後、更に120℃で20分硬化させた。次ぎに、窒素パージ下で240W/cmの空冷メタルハライドランプ{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm2、照射量200mJ/cm2の紫外線を照射し、厚さ100nmの低屈折率層を形成させ巻き取った。このようにして、得られた試料を反射防止フィルム試料901とする。
(2) Coating of low refractive index layer The said low refractive index layer formation composition coating liquid (H-1) was apply | coated on the hard-coat layer coated above with the bar coater. After drying at 80 ° C. for 5 minutes, it was further cured at 120 ° C. for 20 minutes. Next, using a 240 W / cm air-cooled metal halide lamp {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.} under a nitrogen purge, ultraviolet rays having an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 200 mJ / cm 2 were irradiated, and the thickness was reduced to 100 nm. A refractive index layer was formed and wound up. Thus, the obtained sample is used as an antireflection film sample 901.

実施例9−1〜14
[反射防止フィルム試料902〜915の作製]
比較例9−1の反射防止フィルム試料901の作製において、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)及び低屈折率層形成用組成物塗布液(H−1)を用いる代わりに、表6に示すように、前記ハードコート層形成用組成物塗布液と低屈折率層形成用組成物塗布液を、第6表に示すように組み合わせて用いた以外は比較例9−1の試料901と同様にして、反射防止フィルム試料902〜915を作製した。
Examples 9-1 to 14
[Preparation of antireflection film samples 902 to 915]
In preparation of the antireflection film sample 901 of Comparative Example 9-1, instead of using the hard coat layer forming composition coating liquid (J-1) and the low refractive index layer forming composition coating liquid (H-1), As shown in Table 6, the sample of Comparative Example 9-1 except that the hard coat layer forming composition coating solution and the low refractive index layer forming composition coating solution were used in combination as shown in Table 6. In the same manner as 901, antireflection film samples 902 to 915 were produced.

実施例9−15
[反射防止フィルム試料916の作製]
比較例9−1の反射防止フィルム試料901の作製において、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)用いる代わりに、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−12)を用いた以外は比較例9−1の試料901と同様にして、ハードコート層を作製した。得られたハードコート層の上に、前記低屈折率層形成用組成物塗布液(H−4)を、バーコーターで塗布した。80℃で5分間乾燥の後、更に120℃で20分硬化させた。次ぎに、窒素パージ下で240W/cmの空冷メタルハライドランプ{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm2、照射量200mJ/cm2の紫外線を照射し、厚さ100nmの低屈折率層を形成させ巻き取った。
Examples 9-15
[Preparation of Antireflection Film Sample 916]
In preparation of the antireflection film sample 901 of Comparative Example 9-1, instead of using the hard coat layer forming composition coating liquid (J-1), the hard coat layer forming composition coating liquid (J-12) was used. A hard coat layer was produced in the same manner as the sample 901 of Comparative Example 9-1 except for the above. On the obtained hard coat layer, the low refractive index layer-forming composition coating liquid (H-4) was coated with a bar coater. After drying at 80 ° C. for 5 minutes, it was further cured at 120 ° C. for 20 minutes. Next, using a 240 W / cm air-cooled metal halide lamp {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.} under a nitrogen purge, ultraviolet rays having an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 200 mJ / cm 2 were irradiated, and the thickness was reduced to 100 nm. A refractive index layer was formed and wound up.

次ぎに、上記の低屈折率層の上に、実施例3で使用した防汚層形成用組成物塗布液(G−1)を塗布し、120℃で1分乾燥して、厚さ8nmの防汚層を作製し、反射防止フィルム試料916を作製した。   Next, the antifouling layer forming composition coating solution (G-1) used in Example 3 was applied on the low refractive index layer, dried at 120 ° C. for 1 minute, and a thickness of 8 nm. An antifouling layer was prepared, and an antireflection film sample 916 was prepared.

実施例9−16
[反射防止フィルム試料917の作製]
比較例9−1の反射防止フィルム試料901の作製において、ハードコート層形成用組成物塗布液(J−1)用いる代わりに、ハードコート層形成用組成物塗布液に(J−12)を用いた以外は比較例9−1の試料901と同様にして、ハードコート層を作製した。得られたハードコート層の上に、前記帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−3)を硬化後の膜厚が150nmになるように塗布し、窒素パージ下で240W/cmの空冷メタルハライドランプ{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm2、照射量120mJ/cm2の紫外線を照射して硬化させた。得られた帯電防止層の上に、比較例9−1の試料901に準じて、低屈折率層形成用組成物塗布液(H−1)を塗設硬化させ試料917を作製した。
Examples 9-16
[Preparation of Antireflection Film Sample 917]
In the production of the antireflection film sample 901 of Comparative Example 9-1, instead of using the hard coat layer forming composition coating liquid (J-1), (J-12) was used as the hard coat layer forming composition coating liquid. A hard coat layer was produced in the same manner as the sample 901 of Comparative Example 9-1 except that. On the obtained hard coat layer, the antistatic layer forming composition coating solution (AS-3) was applied so that the film thickness after curing was 150 nm, and an air-cooled metal halide of 240 W / cm under a nitrogen purge. Using a lamp {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.}, ultraviolet rays having an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 120 mJ / cm 2 were irradiated for curing. On the obtained antistatic layer, according to the sample 901 of Comparative Example 9-1, a low refractive index layer-forming composition coating liquid (H-1) was applied and cured to prepare a sample 917.

実施例9−17〜19、比較例9−2
[反射防止フィルム試料918〜921の作製]
実施例9−16の反射防止フィルム試料917の作製において、帯電防止層形成用組成物塗布液(AS−3)を用いる代わりに、帯電防止層形成用組成物塗布液を表6に示す様に変更する以外は実施例9−16の試料917の作製と同様にして、反射防止フィルム試料918〜921を作製した。
Examples 9-17 to 19, Comparative Example 9-2
[Preparation of antireflection film samples 918 to 921]
Instead of using the antistatic layer-forming composition coating liquid (AS-3) in the production of the antireflection film sample 917 of Examples 9-16, as shown in Table 6, the antistatic layer-forming composition coating liquid is used. Except changing, it carried out similarly to preparation of the sample 917 of Example 9-16, and produced the anti-reflective film samples 918-921.

〔反射防止フィルムの評価〕
得られたフィルムについて、以下の項目の評価を行った。
[Evaluation of antireflection film]
About the obtained film, the following items were evaluated.

(1)ハードコート層の表面粗さ
低屈折率層を塗設する前のハードコート層のRaを、JIS B−0601に規定する方法により求めた。反射防止フィルム試料917〜921においては、帯電防止層は帯電防止能を有したハードコート層として扱った。
(1) Surface roughness of hard coat layer Ra of the hard coat layer before coating the low refractive index layer was determined by the method defined in JIS B-0601. In the antireflection film samples 917 to 921, the antistatic layer was handled as a hard coat layer having antistatic ability.

(2)オゾン暴露後の水綿棒擦りでの限界荷重
各試料を偏光板に加工後、オゾン10ppm、30℃、60%RHの環境下に192時間(8日)保管した後に、大気中に取り出した。ラビングテスターのこすり先端部に綿棒((株)トーヨー衛材株式会社製 ヘルスリフレ(商品名))を固定し、平滑皿中で試料の上下をクリップで固定し、室温25℃で、試料と綿棒を25℃の水に浸し、綿棒に荷重をかけて20往復擦り試験を行った。
こすり距離(片道):1cm、こすり速度:約2往復/秒
擦り後の試料の表面の水を乾燥させた後に、膜がはがれているかを目視で観察した。同じ試料で10回試験を行い、5回以上膜はがれが起きるまで、初期荷重100gからスタートし荷重を50gずつ上げて試験を行った。膜はがれが10回の試験中5回未満であった荷重を限界荷重と定義した。膜はがれは、目視で表面の反射状態が変わっているかで判断を行った。限界荷重が大きい方が耐擦傷性に優れることに対応する。
(2) Limit load by rubbing with a cotton swab after ozone exposure After each sample was processed into a polarizing plate, it was stored in an environment of ozone 10 ppm, 30 ° C., 60% RH for 192 hours (8 days), and then taken out into the atmosphere. It was. A cotton swab (Health Refre (trade name) manufactured by Toyo Sanyo Co., Ltd.) is fixed to the rubbing tip of a rubbing tester, and the sample is fixed with clips on the top and bottom of a smooth dish. Was immersed in water at 25 ° C., a load was applied to a cotton swab, and a 20 reciprocating rubbing test was conducted.
Rubbing distance (one way): 1 cm, rubbing speed: about 2 reciprocations / second After drying the water on the surface of the sample after rubbing, it was visually observed whether the film was peeled off. The test was performed 10 times on the same sample, and the test was performed starting from an initial load of 100 g and increasing the load by 50 g until film peeling occurred 5 times or more. The load at which film peeling was less than 5 times during 10 tests was defined as the critical load. The film peeling was judged based on whether the reflection state of the surface was visually changed. A larger limit load corresponds to better scratch resistance.

反射防止フィルム試料901〜921について、それら試料の各層の形成に使用された各層形成用組成物塗布液、及び得られた反射防止フィルム試料の評価結果を第6表に合わせて示す。   About antireflection film samples 901-921, the composition coating liquid for each layer formation used for formation of each layer of those samples and the evaluation result of the obtained antireflection film sample are shown according to Table 6.

Figure 2005266782
Figure 2005266782

表6に示される結果より、以下のことが明らかである。
本発明において、低屈折率層が塗設されるハードコート層の表面粗さを902〜904のように大きくすることで、オゾン暴露後の耐擦傷性が改良されることが分かる{試料901(比較例9−1)と902〜904(実施例9−1〜9−3)の比較}。また、特に低屈折率層の直下に帯電防止粒子を含有する帯電防止層を有している試料で、本発明の範囲で表面粗さが大きくなるに従い、オゾン暴露後の耐擦傷性が顕著に改良される{試料917〜921(実施例9−16〜9−19)}。
From the results shown in Table 6, the following is clear.
In the present invention, it can be seen that the scratch resistance after ozone exposure is improved by increasing the surface roughness of the hard coat layer on which the low refractive index layer is coated as in 902 to 904 {Sample 901 ( Comparison of Comparative Example 9-1) and 902-904 (Examples 9-1 to 9-3)}. In particular, the sample having an antistatic layer containing antistatic particles immediately below the low refractive index layer, the scratch resistance after exposure to ozone becomes remarkable as the surface roughness increases within the scope of the present invention. Improved {Samples 917 to 921 (Examples 9-16 to 9-19)}.

またハードコート層が有機シリル化合物及びその誘導体、又は多官能のイソシアネートを含む試料は、表面粗さを大きくすることなく、耐オゾン性の改良効果が著しいことが分かる{試料901(比較例9−1)と906〜916(実施例9−5〜9−15)}。   In addition, it can be seen that the sample in which the hard coat layer contains an organic silyl compound and a derivative thereof, or a polyfunctional isocyanate has a remarkable effect of improving ozone resistance without increasing the surface roughness {Sample 901 (Comparative Example 9- 1) and 906 to 916 (Examples 9-5 to 9-15)}.

実施例10及び比較例10
試料901〜911において、ハードコート層から平均粒径1.5μmのシリカ粒子「シーホスターKE−P150」を除去した以外は同様にして、試料1001〜1011を作製した。
実施例9に準じた評価を行った結果、反射率、低屈折率層直下ハードコート層の表面粗さ(Ra)及びオゾン暴露後の水綿棒擦りの限界荷重は、実施例9及び比較例9の対応する試料とほぼ同様の結果となることが分かった。
Example 10 and Comparative Example 10
Samples 1001 to 911 were prepared in the same manner except that the silica particles “Seahoster KE-P150” having an average particle diameter of 1.5 μm were removed from the hard coat layer.
As a result of evaluation according to Example 9, the reflectivity, the surface roughness (Ra) of the hard coat layer immediately below the low refractive index layer, and the limit load of rubbing the swab after exposure to ozone are shown in Example 9 and Comparative Example 9 It was found that the results were almost the same as the corresponding samples.

本発明において用いられる塗布装置の1実施形態を示す概略図である。It is the schematic which shows one Embodiment of the coating device used in this invention.

符号の説明Explanation of symbols

W ウェブ
1 支持体フィルムのロール
2 巻き取りロール
100,200,300,400 製膜ユニット
101 塗布部
102 乾燥部
103 硬化装置
W web 1 support film roll 2 take-up roll 100, 200, 300, 400 film forming unit 101 coating unit 102 drying unit 103 curing device

Claims (17)

透明支持体上に少なくとも低屈折率層形成用組成物の塗設により形成された低屈折率層を含む反射防止層が設けられた反射防止フィルムにおいて、該低屈折率層形成用組成物が、下記一般式(1)で示される有機シリル化合物の加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかを含有し、且つ反射防止フィルムの最表面の中心線表面粗さRaが0.005〜0.30μmであることを特徴とする反射防止フィルム。
一般式(1):R11 mSi(X11n
(式中、X11は−OH、ハロゲン原子、−OR12基、又は−OCOR12基を表す。R11はアルキル基、アルケニル基又はアリール基を表し、R12はアルキル基を表す。m+nは4であり、m及びnはそれぞれ正の整数である。)
In an antireflection film provided with an antireflection layer comprising a low refractive index layer formed by coating at least a low refractive index layer forming composition on a transparent support, the low refractive index layer forming composition comprises: It contains at least one of a hydrolyzate of an organic silyl compound represented by the following general formula (1) and a partial condensate thereof, and the center line surface roughness Ra of the outermost surface of the antireflection film is 0.005 to 0.005. An antireflection film characterized by being 30 μm.
General formula (1): R 11 m Si (X 11 ) n
(In the formula, X 11 represents —OH, a halogen atom, —OR 12 group, or —OCOR 12 group. R 11 represents an alkyl group, an alkenyl group, or an aryl group, and R 12 represents an alkyl group. M + n represents 4 and m and n are each a positive integer.)
低屈折率層が、平均粒径が該低屈折率層の厚みの30%以上120%以下で且つ中空構造からなる、屈折率が1.17〜1.40の無機微粒子を含有する請求項1に記載の反射防止フィルム。   The low refractive index layer contains inorganic fine particles having an average particle diameter of 30% to 120% of the thickness of the low refractive index layer and having a hollow structure and a refractive index of 1.17 to 1.40. The antireflection film as described in 1. 最表面の表面自由エネルギーが26mJ/m2以下である請求項1又は2に記載の反射防止フィルム。 The antireflection film according to claim 1, wherein the surface free energy of the outermost surface is 26 mJ / m 2 or less. 反射防止フィルムが、更に、ハードコート層を具備する多層構造フィルムであり、反射防止層の構成層の少なくとも1層が、平均粒子径0.1〜5μmの透光性粒子を少なくとも1種、透光性樹脂に分散してなる光拡散層であり、該透光性粒子と該透光性樹脂との屈折率の差が0.02〜0.2であり、該透光性粒子が光拡散層全固形分中に3〜30質量%含有されている請求項1〜3に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film is a multilayer structure film further comprising a hard coat layer, and at least one of the constituent layers of the antireflection layer contains at least one kind of translucent particles having an average particle diameter of 0.1 to 5 μm. A light diffusing layer dispersed in a light-transmitting resin, wherein a difference in refractive index between the light-transmitting particles and the light-transmitting resin is 0.02 to 0.2, and the light-transmitting particles are light-diffusing The antireflection film according to claim 1, wherein 3 to 30% by mass is contained in the total solid content of the layer. 反射防止フィルムが、更に、導電材料を有する透明帯電防止層を有し、該反射防止フィルムの表面抵抗値logSRが12以下である請求項1〜4記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to claim 1, wherein the antireflection film further comprises a transparent antistatic layer having a conductive material, and the antireflection film has a surface resistance value logSR of 12 or less. ハードコート層が、前記一般式(1)で示される有機シリル化合物、その加水分解物及びその部分縮合物の少なくともいずれかを含有するハードコート層形成用組成物を塗設して形成された請求項4に記載の反射防止フィルム。   The hard coat layer is formed by coating a composition for forming a hard coat layer containing at least one of the organic silyl compound represented by the general formula (1), a hydrolyzate thereof, and a partial condensate thereof. Item 5. The antireflection film according to Item 4. ハードコート層形成用組成物が、多官能のイソシアネート化合物を含有する請求項4又は6に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to claim 4 or 6, wherein the composition for forming a hard coat layer contains a polyfunctional isocyanate compound. ハードコート層の中心線表面粗さRaが0.005〜0.20μmである請求項4、6又は7に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to claim 4, 6 or 7, wherein the center line surface roughness Ra of the hard coat layer is 0.005 to 0.20 µm. 反射防止フィルムの構成層のうち少なくとも1層がチキソトロピー剤を含有する請求項1〜8のいずれかに記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to any one of claims 1 to 8, wherein at least one of the constituent layers of the antireflection film contains a thixotropic agent. 低屈折率層の上層に防汚層を有する請求項1〜9に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to claim 1, further comprising an antifouling layer as an upper layer of the low refractive index layer. 低屈折率層がアルカリ処理された面に設けられている請求項1〜9に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to claim 1, wherein the low refractive index layer is provided on the surface subjected to alkali treatment. 10ppmのオゾンに192時間暴露後の反射防止フィルム表面の水綿棒擦り試験での限界荷重が400g以上であることを特徴とする請求項1〜11の何れかに記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to any one of claims 1 to 11, wherein a limit load in a water swab rubbing test on the surface of the antireflection film after exposure to 10 ppm of ozone for 192 hours is 400 g or more. 請求項1〜11のいずれか1項に記載の反射防止フィルムを有することを特徴とする偏光板。   A polarizing plate comprising the antireflection film according to claim 1. 偏光板を構成する少なくとも1つのフィルムのReレターデーション値が、20以上70nm以下であり、且つRthレターデーション値が70以上400nm以下である請求項13に記載の偏光板。   The polarizing plate according to claim 13, wherein the Re retardation value of at least one film constituting the polarizing plate is 20 or more and 70 nm or less, and the Rth retardation value is 70 or more and 400 nm or less. 10ppmのオゾンに192時間暴露後の反射防止フィルム表面の水綿棒擦り試験での限界荷重が400g以上であることを特徴とする請求項13又は14に記載の偏光板。   The polarizing plate according to claim 13 or 14, wherein a limit load in a water swab rubbing test on the surface of the antireflection film after exposure to 10 ppm of ozone for 192 hours is 400 g or more. 請求項1〜12のいずれか1項に記載の反射防止フィルム、又は請求項13〜15の何れかに記載の偏光板を有することを特徴とする表示装置。   A display device comprising the antireflection film according to any one of claims 1 to 12, or the polarizing plate according to any one of claims 13 to 15. 10ppmのオゾンに192時間暴露後の反射防止フィルム表面の水綿棒擦り試験での限界荷重が400g以上であることを特徴とする請求項16に記載の表示装置。   The display device according to claim 16, wherein a limit load in a water swab rubbing test on the surface of the antireflection film after exposure to 10 ppm of ozone for 192 hours is 400 g or more.
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