JP2005265414A - 電子方位計及び記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】傾斜した環境下においては、従来の手法では正確なオフセットを取得することができず、よって方位を正確に算出することができないという問題があった。特に、携帯機器用の電子方位計の利用者は、様々な使用方法、持ち方をすることが想定され、電子方位計が水平面に対して傾斜した状態で使用することも十分に考えられ、より正確に方位を測定できる構成が望まれていた。
【解決手段】本発明の電子方位計は、xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力であるxyz3次元座標値を取得する機能を有する磁気センサ、相異なる4組のxyz3次元座標値のデータを利用してxyzオフセット値を取得する機能を有するオフセット取得装置と、方位演算装置、方位演算装置で得られた方位を表示する機能を有する方位表示装置とを備えたことを特徴とする。
【選択図】 図1
【解決手段】本発明の電子方位計は、xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力であるxyz3次元座標値を取得する機能を有する磁気センサ、相異なる4組のxyz3次元座標値のデータを利用してxyzオフセット値を取得する機能を有するオフセット取得装置と、方位演算装置、方位演算装置で得られた方位を表示する機能を有する方位表示装置とを備えたことを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
本発明は、磁気センサを用いて方位を測定する電子方位計及びその記録媒体に関するものである。特に、任意の傾斜環境下において周辺機器の着磁の影響によって地磁気以外のオフセット(xyzオフセット値)が発生する場合のオフセット補正に関する電子方位計及びその記録媒体を提供するものである。
電子方位計は、センサなどを用いて電気的に方位を表示できるという特徴を有する。一般的には、複数の磁気センサを配置して電子方位計を構成する。磁気センサは、センサと平行(あるいは垂直)な磁界に対して線形な出力を示す。よって、直交配置された複数の磁気センサの出力から得られたデータを演算することで、基準に決めた方向から方位角を算出することができる。この方位角から得られた方位は、アナログ、デジタルの電気信号として処理できるため、携帯電話、PDAといった携帯情報端末や腕時計、車両用方位計であるカーナビゲーション装置、航空機の姿勢検出、視覚障害者向け、ゲーム機といった様々な電子機器への応用が期待されている。
特に近年、GPS等を利用した携帯情報端末向けの位置情報提供サービスが始まっている。このサービスによれば、利用者は現在の位置情報を端末上の画面を見ながらにして判るようになっている。この端末に電子方位計を組み合わせることで、利用者が今どの方位を向いているのか、或いは歩行中であるならばどこに向かおうとしているのかが判る。この位置情報と電子方位計に関する情報提供サービスは、今後多くの産業界に新しいビジネスを生み出すものと考えられ、また利用者に有益な情報をもたらす。そのようなサービスが進展していく中で、電子方位計に要求される課題としては、より質、精度の高いものが求められていくことは必然である。
上記の質と精度の向上とは、より正確に方位を測定するということを示しているが、磁気センサの周辺機器の着磁の影響で、正確に方位を算出されないことがある。磁気センサが、地磁気に相当する出力のみを発生する場合には方位は計算上正確に求まる。しかし、磁気センサの周辺の部品や機械などが着磁していると、磁気センサの出力電圧にオフセットが加わり、地磁気量に相当する出力を得ることができなくなる。なお、このオフセットがxyzオフセット値であり、磁気センサが3軸に配置されていれば、それぞれの軸にそれぞれのオフセットが発生することを意味している。よって、その着磁量に相当する補正を行わないと、地磁気に相当する出力を得ることができなくなり、正しい方位を取得することが出来なくなることは容易に理解できよう。
この様な問題を解決するための従来の着磁補正の方法としては、磁気センサを含む機器を1周回させ、その出力の最大値と最小値の平均を算出することでオフセットを得る方法が知られている。しかし、この方法では、機器を一回転させなければならないという煩雑さがあり、特に車両などに搭載した電子方位計で正確な方位を得たい場合では、一回転するのに必要な場所を見つけるのにも時間と労力がかかるという問題があった。更に着磁の状態は、周辺機器含めて測定をする環境によって変化し易く、この着磁量は経時的にも変化するため、一度行ったとしても着磁の状態が変わる度に車両を一周回させて新たに補正を行わなければならないという問題があった。
上記の問題点に対して、車両を一周回させるという煩わしい事をせずとも、地磁気センサの方位誤差の補正を行うことができる方法と装置が開示されている(例えば、特許文献1参照。)。
これは、周辺機器の着磁量に応じたオフセットを得て補正する方法であり、具体的には着磁後(着磁状態が変化した後)であっても、その後着磁状態が変化しない間にサンプリングされた相異なる3組の2次元座標値が定める3点を用いてオフセットを得る。つまり、この方法及び装置は、本来磁気センサの周辺機器の着磁の影響がないときの出力を原点とした場合、その原点に対して3点が所定の距離にある2次元座標値(3円の交点)を得る。これが、オフセット(xyオフセット値)に相当して、このオフセットを用いて正しい方位を得ようとするものである。
これは、周辺機器の着磁量に応じたオフセットを得て補正する方法であり、具体的には着磁後(着磁状態が変化した後)であっても、その後着磁状態が変化しない間にサンプリングされた相異なる3組の2次元座標値が定める3点を用いてオフセットを得る。つまり、この方法及び装置は、本来磁気センサの周辺機器の着磁の影響がないときの出力を原点とした場合、その原点に対して3点が所定の距離にある2次元座標値(3円の交点)を得る。これが、オフセット(xyオフセット値)に相当して、このオフセットを用いて正しい方位を得ようとするものである。
この方法について、更に詳細に図を用いて説明を行う。図13は、電子方位計を含む機器を水平状態下で一周回させたときのx、y軸磁気センサの出力の関係を示したものである。本図面における水平状態下とは、x軸と水平面のなすピッチ角βgが0度、y軸と水平面のなすロール角αgが0度の状態を示し、一周回とは方位角0度から360度まで回転させることを示している。
この図13から、水平状態下でのxy出力グラフ101は円形状となっていることが判る。また、この円の半径102は地磁気の水平成分に相当する出力を表しており、円の中心座標103はx磁気センサ出力とy磁気センサ出力の原点(0,0)に対するxyオフセット値を示すこととなる。ここで、この出力円上の3点のxy2次元座標、例えば方位角θが40度、90度、310度でのxy出力座標104、105、106が判ると、それぞれの座標から所定の同じ距離にある座標が中心座標を示すことから、それぞれの座標で所定の円を描きその3円の交点を利用することにより、目的のオフセットを求めることができる。
この方法によれば、周辺機器の着磁量が経時的に変化した場合であっても、その都度、着磁に係るオフセットを取得できるため、特に水平状態下で利用されることの多い車両に設置した場合においては、正確な方位を得る手段となり得る。
上述した機能を有する電子方位計を傾けた状態(傾斜環境下)で利用者が方位を得ようとした場合、つまり、携帯機器用の電子方位計の利用者は、様々な使用方法や、持ち方をすることが想定され、その際の電子方位計に内蔵された磁気センサが、水平面に対して傾斜した状態で使用する場合がある。しかしながら、この様な環境下においては上記の手法では正確なオフセットを取得することができず、よって方位を正確に算出することができないという問題があった。
上述した傾斜環境下では、正確なオフセットを取得することができない理由について更に詳細に図を用いて説明を行う。図14は、y軸と水平面のなすロール角αgを0度で一定とし、x軸と水平面のなすピッチ角βgが0度、20度、40度、60度として、磁気センサを含む電子方位計を一周回させたときのx、y軸磁気センサの出力の関係を示したものであり、符号201は0度の時の出力、符号202は20度の時の出力、符号203は40度の時の出力、符号204は60度の時の出力を表している。
この図から、ピッチ角βgが大きくなるに従って、出力グラフが円形状から楕円形状になってゆき、またその中心座標が順にシフトしていくことが判る。すなわち、水平状態下でのxyオフセット値に相当する出力グラフ201の中心座標はx軸で−30mV、y軸で−110mVであったが、傾斜角が大きくなるに従って、本来のxyオフセット値からズレを発生してしまうことが判る。したがって、傾いた状態でこの楕円上の3点のxy出
力座標を用いて中心座標を求めようとしても、出力グラフが楕円になってしまうことと、真のオフセットから中心座標が傾斜角に応じてシフトしてしまうという2つの現象があるため、正確なオフセットを取得することができないのである。この様に、正確なオフセットが得られなければ、傾斜環境下では周辺機器の着磁量に応じた正確なオフセットを取得できず、正確な方位を得ることは不可能であることは容易に理解できよう。
力座標を用いて中心座標を求めようとしても、出力グラフが楕円になってしまうことと、真のオフセットから中心座標が傾斜角に応じてシフトしてしまうという2つの現象があるため、正確なオフセットを取得することができないのである。この様に、正確なオフセットが得られなければ、傾斜環境下では周辺機器の着磁量に応じた正確なオフセットを取得できず、正確な方位を得ることは不可能であることは容易に理解できよう。
したがって、実際の携帯機器の利用形態においては、携帯機器をある程度傾けた状態で利用するケースが多いので、この様な携帯用電子機器では、その都度オフセットを取得することは、現実的に不可能となる。よって、正確な方位を得るためには、水平状態下でオフセット取得のための煩わしいキャリブレーション操作を、傾斜環境下から水平に戻して再度行うことが必要となってしまう。
そこで本発明の目的は、あらゆる傾斜環境下においてもオフセットを取得でき、着磁状態の変化によりオフセットが変化した場合においても、その都度一周回させたキャリブレーションを行うことなく、ユーザーが意識せずとも自動でオフセットを取得して真の方位を得ることができる電子方位計及び記録媒体を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明の電子方位計及びその電子方位計に用いる記録媒体は基本的には下記記載の形態を採用する。
請求項1の発明にかかる電子方位計は、xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力値であるxyz3次元座標値を取得する機能を有するxyz軸に配置された磁気センサと、磁気センサの測定環境の外的な影響が変化する前に、xyz軸に配置された各磁気センサの方位と傾斜を変えた際の相異なる4組のxyz3次元座標値のデータを利用して、外的な影響がない状態での原点位置からのずれ量に相当するxyzオフセット値を取得する機能を有するオフセット取得装置と、xyz3次元座標値とxyzオフセット値を用いて方位を演算する方位演算装置とを備え、周辺機器の着磁などの影響によって発生するセンサのxyzオフセット値を取得して、真の方位を得ることができるようにしたことを特徴とする。
請求項2の発明にかかる電子方位計は、少なくとも4組以上のxyz3次元座標値を記憶する機能を有するデータ記憶装置と、データ記憶装置に記憶された複数個の前記xyz3次元座標値から相異なる4組のxyz3次元座標値を取得する機能を有するデータ取得装置とを更に備えたことを特徴とする。
請求項3の発明にかかる電子方位計は、x軸と水平面のなすピッチ角βgと、y軸と水平面のなすロール角αgに相当する傾斜角の出力を取得する機能を有する傾斜センサを更に備え、方位演算装置はxyz3次元座標値と、xyzオフセット値と、ピッチ角と、ロール角に基づいて方位を演算する機能を更に有することを特徴とする。
請求項4の発明にかかる電子方位計は、少なくとも4組以上のxyz3次元座標値に相関させて傾斜角を記憶する機能を有するデータ記憶装置と、データ記憶装置に記憶された相異なる4組のxyz3次元座標値を取得する機能を有するデータ取得装置とを更に備えたことを特徴とする。
請求項5の発明にかかる電子方位計は、オフセット取得装置で取得されたxyzオフセットを記憶するオフセット記憶装置を更に備えたことを特徴とする。
請求項6の発明にかかる電子方位計は、xyz3次元座標値とオフセット記憶装置に記
憶されたxyzオフセット値を用いて、地磁気ベクトルに相当する出力を演算する機能を有するベクトル量演算装置を更に備えたことを特徴とする。
憶されたxyzオフセット値を用いて、地磁気ベクトルに相当する出力を演算する機能を有するベクトル量演算装置を更に備えたことを特徴とする。
請求項7の発明にかかる電子方位計は、方位演算装置で得られた方位を表示する機能を有する方位表示装置を更に備えたことを特徴とする。
請求項8の発明にかかる記録媒体は、xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力値であるxyz3次元座標値を磁気センサから取得する磁気ベクトル取得手段と、磁気センサの測定環境の外的な影響が変化する前に、xyz軸に配置された各磁気センサの方位と傾斜を変えた際の相異なる4組のxyz3次元座標値を用いて外的な影響がない状態での原点位置からのずれ量に相当するxyzオフセット値を取得するオフセット取得手段と、xyz3次元座標値とxyzオフセット値を用いて方位を演算する方位演算手段とを備え、周辺機器の着磁などの影響によって発生する方位センサのxyzオフセット値を取得して、真の方位を得られるように機能させるためのプログラムを記録したことを特徴とする。
請求項9の発明にかかる記録媒体は、少なくとも4組のxyz3次元座標値を記憶するデータ記憶手段と、データ記憶手段で取得された複数個のxyz3次元座標値から相異なる4組のxyz3次元座標値を取得するデータ取得手段とを更に有することを特徴とする。
請求項10の発明にかかる記録媒体は、x軸と水平面のなすピッチ角βgと、y軸と水平面のなすロール角αgに相当する各傾斜角の出力を取得する傾斜角取得手段を更に備え、方位演算手段が、xyz3次元座標値と、xyzオフセット値と、ロール角と、ピッチ角に基づいて方位を演算する手段であることを特徴とする。
請求項11の発明にかかる記録媒体は、少なくとも4組以上のxyz3次元座標値に相関させて傾斜角を記憶するデータ記憶手段と、データ記憶手段で記憶された相異なる4組のxyz3次元座標値を取得するデータ取得手段とを更に有することを特徴とする。
請求項12の発明にかかる記録媒体は、相異なる4組のxyz3次元座標値は、ロール角、ピッチ角のいずれかが異なる際に得られる座標値であることを特徴とする。
請求項13の発明にかかる記録媒体は、データ取得手段が、相異なる4組のxyz3次元座標値から選ばれる少なくとも2組のxyz3次元座標値(xsi、ysi、zsi)とxyz3次元座標値(xsj、ysj、zsj)が、予め設定された許容値δx、δy、δzに対して、
で表される座標値であり、上記の式で表される関係を少なくとも1つ満たす様に4組のxyz3次元座標値を取得する手段であることを特徴とする。
請求項14の発明にかかる記録媒体は、データ取得手段が、4組のxyz3次元座標値
に相関させて記憶されたピッチ角とロール角の少なくとも2組のピッチ角、ロール角(αgi、βgi)と(αgj、βgj)の関係が、予め設定された許容値λα、λβに対して、
で表される関係を有し、上記の式で表される関係を少なくとも1つ満たす様に4組のxyz3次元座標値を取得する手段であることを特徴とする。
に相関させて記憶されたピッチ角とロール角の少なくとも2組のピッチ角、ロール角(αgi、βgi)と(αgj、βgj)の関係が、予め設定された許容値λα、λβに対して、
請求項15の発明にかかる記録媒体は、xyz3次元座標値とxyzオフセット値を用いて、地磁気に相当する磁気ベクトル量を演算し、ここで得られた前記磁気ベクトル量と、過去に演算した磁気ベクトル量とを比較する磁気ベクトル量演算比較手段と、その比較した結果が許容値を超えていると判断された場合に、xyzオフセット値を再演算して二次xyzオフセット値を取得するオフセット再取得手段と、二次xyzオフセット値を記憶するオフセット記憶手段とを有することを特徴とする。
請求項18の発明にかかる記録媒体は、方位演算手段で得られた方位を表示する機能を有する方位表示手段を更に有することを特徴とする。
上記の通り、本発明では磁気センサで取得した4組のxyz3次元座標値を用いてオフセットを演算する。xyz3次元座標値とは、磁気ベクトルに相当する磁気センサの出力を表している。磁気センサの出力(磁気ベクトルに相当)とは、地磁気による地磁気出力(地磁気出力ベクトルに相当)と電子方位計の中の磁気センサと一緒に設置された周辺機器の着磁状態など地磁気以外の要因による出力と磁気センサ駆動回路による出力(オフセットベクトルに相当)を合成したものを表している。
本発明によれば、任意の傾斜環境下でオフセットを取得することができる。更には、着磁状態が変化した後でも、そのまま利用することで、利用者が意識することなく、オフセットを自動的に取得することが可能となる。すなわち、電子方位計を任意の傾斜環境で利用しても正しいオフセットを自動で取得して、利用者は常に正しい方位を得ることができるようになる。
本発明は、磁気センサと、そのデータを記憶するためのデータ記憶装置と、オフセットを演算するためのデータを選択するデータ取得装置、オフセットを演算するためのオフセット取得装置、磁気センサ出力とオフセット出力から方位を演算するための方位算出装置、その演算された方位を表示するための方位表示装置によって基本的に構成される。
そして、このセンサ及び装置構成を利用して、オフセットを取得して方位を取得するが、その方位を取得するまでのステップとしては、基本的に以下の様に構成される。
まず、磁気ベクトル取得手段により、xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力を磁気センサから取得する。次にデータ記憶手段により、そのx、y、z軸方向の磁気ベクトルをそれぞれデータ記憶装置に記憶する。この記憶されたx、y、zそれぞれの磁気セン
サの出力データは、地磁気によって発生する出力と周辺の磁気或いは回路の影響を含んでいる。そして、さらにオフセット取得手段により、その記憶されたデータの中から4組の相異なるデータを取り出し、オフセット取得装置に転送する。オフセット取得装置では、転送された4組のデータを用いてx、y、zそれぞれに対する周辺の磁気或いは回路の影響によるxyzオフセット値を演算する。そして、方位算出手段で、これらにより得られたx、y、zのxyzオフセット値と磁気センサから得られたxs、ys、zsの出力データを用いて方位を演算する手段を採用する。
サの出力データは、地磁気によって発生する出力と周辺の磁気或いは回路の影響を含んでいる。そして、さらにオフセット取得手段により、その記憶されたデータの中から4組の相異なるデータを取り出し、オフセット取得装置に転送する。オフセット取得装置では、転送された4組のデータを用いてx、y、zそれぞれに対する周辺の磁気或いは回路の影響によるxyzオフセット値を演算する。そして、方位算出手段で、これらにより得られたx、y、zのxyzオフセット値と磁気センサから得られたxs、ys、zsの出力データを用いて方位を演算する手段を採用する。
xyz軸方向の地磁気出力を合成した大きさ、すなわち地磁気による地磁気出力の大きさは測定場所が変わらなければ大きくは変わらない。しかし、xyzオフセット値は測定環境に影響され、経時的に容易に変化する。例えば、センサ検出回路などの電気的な要因であれば、環境温度の影響を受けやすく、また周辺の磁気の影響という要因であれば、磁界の強い所に置いた前後など、利用方法による履歴も影響する。これらの要因がxyzオフセット値の変動の原因であるが、その経時的なxyzオフセット値の変動は必ずしも早いものではなく、ある時間範囲では一定の値を示すものである。
そこである時間範囲内で、xyzそれぞれのxyzオフセット値が一定で地磁気の大きさも一定であったと仮定し、任意の傾斜環境下でxyz3次元座標値を取得した場合について考える。このときの、xyz3次元系における磁気センサのxyz出力であるxyz3次元座標値は、オフセット出力を中心座標とした球面上の座標で表すことができる。すなわち、その球体の半径が、地磁気出力に相当する大きさを表しており、その球体の中心座標がオフセットを示すことになる。周辺の着磁状態があまり変わらない状態にあり、かつ地磁気の大きさがあまり変わらない状態では、任意の傾斜環境下においてもxyz3次元座標値は球面上の座標として表すことができ、オフセットはその中心座標として表すことができるのである。
上記の内容について更に詳細に図9を用いて説明を行う。図9は、磁気ベクトル301、オフセットベクトル302、地磁気出力ベクトル303の関係を示した図であり、座標軸はそれぞれの磁気センサの出力を示している。
磁気ベクトル301は、x、y、z軸の磁気センサの出力(xs1,ys1,zs1)を表しており、これが本発明のxyz3次元座標値304に相当する。オフセットベクトル302は、周辺機器の着磁、回路の影響によるx、y、zそれぞれのオフセット(xoffs,yoffs,zoffs)を表しており、本発明のxyzオフセット値305に相当する。地磁気出力ベクトル303は、地磁気の影響によって磁気センサが発生する出力に由来する出力ベクトルを示している。なお、この地磁気出力ベクトル303は、地磁気に相当するセンサの出力の大きさを有するベクトルを、各磁気センサのx、y、z軸の方向に射影したときの大きさとなるため、(xH,yH,zH)としても同様に表現できる。
以上の関係から分かる通り、磁気ベクトル301はオフセットベクトル302と地磁気ベクトル303の合成として表現でき、そのxyz3次元座標値304は、地磁気出力(xH,yH,zH)とxyzオフセット値305を用いて、下記の関係式(6)で表すことができる。
ここで、xyz3次元座標値の取りうる出力が球体であると説明したが、これは以下に示す通り、xyz軸方向のそれぞれの磁気センサの感度が同じ値となる条件が必要となる。まず、磁気センサの出力は、磁界の大きさに比例した出力を発生する。x、y、z軸それぞれの感度(例えばmV/mGauss)をSx、Sy、Szとして、地磁気の磁界量Fに対するx、y、z各軸方向の大きさをFx、Fy、Fzとすると、下記の関係式が得られる。
すなわち、xH、yH、zHから構成される地磁気出力ベクトルの大きさは、磁気センサの感度が同じである条件においては変化することがなく、図9中の球体の半径として表現することが可能となる。
以上、上記の説明が本発明の基本的な考え方のひとつであり、地磁気の大きさが一定であり、更に利用している磁気センサの感度がx、y、z軸で同じである条件下においては、xyz3次元座標値で表される磁気センサ出力(磁気ベクトル301)は、xyzオフセット値305を中心とした球面上の点で表わされることが判る。更に、その条件下で図10の通り、相異なる4組のxyz3次元座標値401〜404(xs1〜xs4、ys1〜ys4、zs1〜zs4)が磁気センサから取得されると、その4組から球体の中心であるxyzオフセット値405を取得することが可能となる。
以上の通り、本発明はオフセットとxyz3次元座標値の関係を上記のような球体を想定して取り扱うことに着眼して見い出されたものである。3次元系にある任意の球体は、球面上の相異なる4点が分かると、図10の通り球体の中心座標と半径を演算することができる。すなわち、任意の傾斜環境下において測定された4組のxyz3次元座標値からxyzオフセット値が取得できることを意味している。そしてこの正確なxyzオフセット値を用いることによって、精度良く地磁気出力を求めることができ、真の方位角を得ることが可能となる。
本発明の第1の実施の形態を図面を用いて説明する。図1は本発明の電子方位計のブロック構成を示した図であり、図2は図1における電子方位計を用いて方位を得るまでのフローチャートを示した図である。
図1に示す様に、電子方位計2は、磁気センサ部4、データ記憶装置8、データ取得装置10、オフセット取得装置12、方位算出装置14、方位表示装置16から構成される。磁気センサ部4は、x、y、z軸の磁気センサで構成され、各軸方向の出力を取り出して磁気ベクトルを得ることができる。データ記憶装置8は、磁気ベクトルに相当する出力であるxyz3次元座標値を記憶する機能を有する装置であり、データ取得装置10は、データ記憶装置8に記憶された4組のxyz3次元座標値を取得する機能を有する装置であり、オフセット取得装置12は、4組のxyz3次元座標値を利用してxyzオフセット値を取得する機能を有する装置である。そして、方位算出装置14は、xyzオフセット値とxyz3次元座標値を用いて方位を算出する装置であり、方位表示装置16は、その方位を表示するための装置である。
次に、図2を用いてより具体的な本発明の電子方位計に用いる記録媒体についての説明を行う。
まず、磁気ベクトル取得手段(S2)は、xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力値であるxyz3次元座標値を磁気センサから取得する手段である。このxyz3次元座標値(xs、ys、zs)は、先に示した通り周辺の磁気や回路などに影響されたxyzオフセット値に相当する出力と地磁気に相当する出力が合成されたものになる。なお、磁気センサの出力は、ノイズなどが含まれて誤差を含んでいることがあるため、データとしてはいくつか取り込んだものを平均化するような処理を加えることにより安定した出力を得ることが好ましい。
そして、データ記憶手段(S12)では、上記で得られたxyz3次元座標値をデータ記憶装置8(図1参照)に記憶する。データ記憶装置8には、書き換え可能なRAMを用いると良く、時間の経過とともに逐次データを書き込んでいく。RAM容量一杯にデータが入れば、逐次時間の古いものから順に書き換えされてゆき、常に最新のデータがRAM内に残されている様にする。データ容量が少なすぎると、最新のデータの数が少なくなり、オフセット演算に有効なデータが得られないことがあるため、ある程度の容量を有することが望ましい。
次に、データ取得手段(S14)では、上記のデータ記憶手段(S12)で記憶されたデータから4組のデータ(xSi、ySi、zSi)(i=1〜4)を取り出す。4組のデータは、相異なる値である様に選択する必要がある。また、更に好ましくは、先に示したxyzオフセット値を中心とした球体の球面上において、なるべく離れた所にあるものを選ぶことにより、ここで求めるxyzオフセット値の精度を高くすることができるようになる。
より具体的には、基準となる1組目のデータ(xsi,ysi,zsi)に対して、次の2組目からのデータとなる(xsj,ysj,zsj)の差分を演算し、その値がある許容値を越えている場合にデータを選択する様にする。例えば、x、y、zの出力がそれぞれδx、δy、δz(mV)離れているデータを選択設定したい場合には、下記の式(1)(2)(3)の様に基準を設け、この条件を満たす4組の磁気センサ出力を取得する。
この許容値が小さすぎると、xyzオフセット値が正確に得られないことがある。逆にこの許容値が大きすぎると、データ取得に時間を要することとなる。電子方位計2を使用する用途に応じてこの許容値を適当な値に設定することが望ましい。また、式(1)(2)(3)全てを満たしている必要は必ずしもなく、そのうちのひとつでも満たしていれば良い。
この様にして、磁気センサの測定環境の外的な影響が変化する前に、xyz軸に配置された各磁気センサの方位と傾斜を変えた際の相異なる4組の3次元座標値を得ることができるようになる。
オフセット取得手段(S6)は、xyzオフセット値を演算して取得する手段を示している。以下に具体的に数式を用いて説明を行う。まず、4組のデータは、地磁気Fに相当する出力Shとxyzオフセット値(xoffs、yoffs、zoffs)が同じ条件で取得されたものであるとすると、データ番号数をiとして添え字に付けると、それぞれ下記の関係式で表すことができる。
上式(19)における右辺は、全て磁気センサで得られた出力値によって決定する演算であり、磁気センサで得られた相異なる4組のxyz3次元座標値を上式(19)に代入することによって、x、y、zそれぞれのxyzオフセット値xoffs、yoffs、zoffsを取得することが可能となる。また一般的に知られているCramerの公式などを利用することで、式(18)を用いてxyzオフセット値を得ることが可能となる。
次に方位算出手段(S8)について説明を行う。以下の説明では、xyz軸方向の磁気センサの出力と地磁気の関係について、地磁気によるセンサ出力(オフセットを差し引いたもの)のみを考慮して考える。また、この実施例では、3軸の磁気センサを用いており、傾斜補正としては、観測軸であるx軸のみ傾斜した状態を考慮して、水平に変換して計算する手段を採用した。方位算出手段(S8)は、磁気ベクトル取得手段(S2)で取得された3次元座標値xs、ys、zsと、オフセット取得手段(S6)で得られたxyzオフセット値xoffs、yoffs、zoffsを用いて方位を演算する手段を示している。
3軸磁気センサを用いて、観測軸であるx軸の傾斜角に相当するピッチ角βgを算出するためには、磁気センサから得られた出力とピッチ角βgの関係式を導く必要がある。その方法について図11を用いて説明を行う。図11は絶対座標系XYZ軸501〜503に対して、電子方位計を含む機器本体500がどのような位置にあるかを表しており、地磁気の方位ベクトル504はX軸と伏角505をなす方向にあるものとする。観測座標系のxyz軸511〜513は絶対座標系XYZ軸501〜503をY軸502周り反時計方向にβ回転して、Z軸503周りの反時計方向にθ回転させた軸に相当していると考える。
すると、x軸511が観測軸であり、βが傾斜角であるピッチ角βg506に相当し、絶対座標系のX軸501と観測軸のx軸を水平面に射影したベクトル507とのなす角が方位角508を表し、その方位角はθに相当していることが判る。また、そのときの観測座標系のxyz軸511〜513の各成分は、絶対座標系において下記の回転行列式を掛け合わせた式(23)(24)(25)で表される。
なおここで、(xX,xY,xZ)は観測軸x軸を絶対座標XYZ系で表したときの座標を示しており、y軸、z軸も同様である。また、式(23)〜(25)ではそれぞれピッチ角βg、方位角θ周りの回転角に単位ベクトルを掛け合わせているが、この段階では観測座標xyz軸のそれぞれの方位の関係が判れば良く、また後の処理を容易にするために単位ベクトルを用いている。
その磁気センサの出力xH、yH、zHは、地磁気の方位ベクトルとの内積により与えられ、特にx軸が地磁気方向にある場合、x軸の磁気センサの出力値は最大値Shを示す(Shは地磁気全体の大きさに相当するセンサの出力)とすると、その出力は下記の関係式(26)(27)(28)で表すことができる。
なお、ここで地磁気の方位ベクトル504が水平面となす角である伏角505をIとし、水平面より上側を正の角度とした。よって、日本においては、水平面より下側に向いているために負の角度を示すこととなる。
この式(26)(27)(28)におけるxH、yH、zHは、地磁気に関係する出力(地磁気出力)を示しており、上記の式(26)(27)(28)をまとめると、下記の式(29)である地磁気出力と方位角及びピッチ角との基本関係式が得られる。
更に、ピッチ角βgを磁気センサの出力を用いて演算する方法について説明する。
ここで、伏角IはGPSの位置情報などを利用して取得することもできる。具体的には、測定位置の緯度φと経度λを取得し、その場所における伏角値Iを算出して出力する。日本国内各地での伏角値Iは、下記の2次式(35)で近似できる。
なお、ここで算出されるIは、正の値となるため、式(33)などに代入する際には負の値とする。以上、これらの手段により、ピッチ角βg(=回転角β)に相当する角度を磁気センサ出力から取得することができる。
以上、3軸の磁気センサを用いて、観測軸であるx軸のみが傾斜したときの傾斜補正の計算方法について説明した。具体的には、上式(40)のβgに式(33)で求めたピッチ角βgを、またxH、yH、zHを代入することによって、方位を算出することが可能となる。なお、上記にも示したが、xH、yH、zHは、xyz3次元座標値であるセンサ出力xS、yS、zSから、xyzオフセット値xoffs、yoffs、zoffsを差分することが必要であり、正確なxH、yH、zHを算出するためには、正確なxyzオフセット値が必要となる。正確なxyzオフセット値を得るためには、本実施例のオフセット取得の方法が有効となる。
以上本実施例の構成によれば、周辺機器の着磁状態が変化した場合でも、その後着磁状態と傾斜角が変化しない間に取得された4組の磁気センサ出力を用いれば、xyzオフセット値を取得することができる。よって、この場合にはユーザーがその都度キャリブレーションのための特別な操作を行うことなく、自動でキャリブレーションを行い、現状の正確なxyzオフセット値を取得できる。更に3軸の磁気センサを用いて傾斜補正による方位計算を行うことで、傾斜環境下での正確な方位を得ることが可能となる。
本発明の第2の実施例について説明を行う。図3は本発明の実施例2における電子方位計のブロック構成を示した図であり、図4は図3に示したブロック構成を用いて方位を得るまでの各ステップを説明するためのフローチャートである。
本実施例における電子方位計のブロック構成は基本的に図1と同じであるが、新たに傾斜センサ部6が加えられている点のみが、先の実施例とは異なる。また、この実施例におけるデータ記憶装置8は、磁気センサの出力だけでなく、傾斜センサの出力も併せて記憶する機能を有する。そして、データ取得装置10は、その記憶された傾斜センサの出力と磁気センサの出力が相異なる4組のデータを、データ記憶装置8から取得する機能を有する装置である。
図4のフローチャートを用いて本発明の実施例2の説明を行う。本フローチャートに示す磁気ベクトル取得手段(S2)は先の実施例1と同様に行う。次の傾斜角取得手段(S4)は、x軸と水平面のなすピッチ角βg及びy軸と水平面の成すロール角αgを、傾斜センサから取得する手段である。この傾斜センサに加速度センサを用いた場合、各軸方向の重力加速度の大きさに比例した出力を得ることができる。これらセンサの出力は、ノイズなどが含まれて誤差を含んでいることがあるため、予め複数個のデータを記憶しておき、これらデータを平均化するような処理を加えるとより、安定した出力を得ることができるようになる。
次に行うデータ記憶手段(S12)は、上記の磁気ベクトル取得手段(S2)及び傾斜角取得手段(S4)で得られた磁気センサ出力と傾斜角を対応させて記憶する手段である。データ記憶装置8には、書き換え可能なRAMを用いると良く、時間の経過とともに逐次データが書き込まれるようにする。
このデータ記憶装置8であるRAMは、容量一杯にデータが入れば、時間の古いものから順に書き換えられていき、常に最新のデータがRAM内に残されている様にする。RAMのデータ容量が少なすぎると、最新のデータの数が少なくなり、オフセット演算に有効なデータが得られないことから、ある程度の容量を有することが望ましい。
また、データ取得手段(S14)は、データ記憶手段(S12)で記憶されたデータの中から相異なる4組の磁気センサ出力のデータを取得する手段を示している。しかし、どのような値でも構わずに取得するのではなく、磁気センサ出力と同時に記憶されている傾
斜角が、相異なるものを選択した後に、必要なデータのみを取得することが好ましい。
斜角が、相異なるものを選択した後に、必要なデータのみを取得することが好ましい。
具体的には、基準となる1組目のデータに対して、αgとβgそれぞれの差分を演算し、その値がある許容値を越えている場合にデータを選択する様にする。例えば、αgとβgの出力がそれぞれλα、λβ(deg)離れているデータを選択設定したい場合には、下記の式(4)(5)の様に基準を設け、この条件を満たす傾斜角αgとβgとを有する4組の磁気センサ出力を取得する。
この許容値が小さすぎると、正確なxyzオフセット値を得ることができない場合がある。しかし、逆にこの許容値が大きすぎると、データ取得に時間を要することとなる。そのため、電子方位計を使用する用途に応じてこの許容値を適当な値に設定することが望ましい。
ここで取得されたデータは、オフセット取得手段(S6)で演算され、x、y、zそれぞれのオフセットであるxoffs、yoffs、zoffsを取得する。具体的な方法は先の実施例1と同様であり、ここでは割愛する。
方位算出手段(S8)は、磁気ベクトル取得手段(S2)で取得されたxs、ys、zs、オフセット取得手段(S6)で得られたオフセットxoffs、yoffs、zoffs、また傾斜角取得手段(S4)で得られたαg、βgを用いて方位を演算する手段を示している。この実施例では、3軸の磁気センサと2軸の傾斜センサを用いており、傾斜補正して計算する手段を採用した。
具体的には、先の実施例1と同様、図12を用いながら説明を行う。図12は絶対座標系XYZ軸601〜603に対して、電子方位計を含む機器600がどのような位置にあるかを表しており、観測座標系のxyz軸611〜613は、絶対座標系のXYZ軸601〜603をX軸601周り反時計方向にα回転して、Y軸602周り反時計方向にβ回転して、Z軸603周りの反時計方向にθ回転させた軸に相当していると考える。すると、βは傾斜角であるピッチ角βg606に相当し、x軸611が観測軸であることは先の実施例1と同様であるが、ロール角αg609は回転角αとは異なる値となる。
観測軸のx軸611を水平面に射影したベクトルと、絶対座標系のX軸601とのなす角が方位角608を表し、その方位角はθに相当していることは先の実施例1と同様である。そのときの観測座標系のxyz軸611〜613の各成分は絶対座標系において、先の実施例と同様、各単位ベクトルに下記の回転行列式(41)を掛け合わせた式で表される。
以上、より精度良くxyzオフセット値を取得し、更に3軸磁気センサと傾斜センサを用いて、任意の傾斜状態における傾斜補正の計算方法について説明した。具体的には、上式(43)に回転角βとα、とxH、yH、zHを代入することによって、方位を算出することが可能となる。なお、xH、yH、zHは、xyz3次元座標値であるセンサ出力xS、yS、zSから、xyzオフセット値xoffs、yoffs、zoffsを差分することが必要であり、正確なxH、yH、zHを算出するためには、正確なxyzオフセット値が必要となる。正確なオフセット値を得るためには、本実施例のxyz3次元座標値が異なる4組のデータを取得する際に、実施例1に示した条件に加え、傾斜角が異なる条件を付加することで、より精度良くxyzオフセット値を取得できることが判る。
上記で傾斜角が異なる条件を付加したのは、先のxyz3次元系で考えると、球体と任意の平面の交線で形成される円上に4組のデータが存在している場合に相当する。その状態は、通常の利用形態で考えると、ロールαg角とピッチ角βgの傾斜角が同じ状態で取得された場合に相当している。よって、本実施例の様に傾斜角が異なる条件下で相異なる4組のデータを取得することによって、精度の良いxyzオフセット値を取得することが可能となる。
よって、この場合にもユーザーがその都度キャリブレーションのための操作を行うことなく、自動でキャリブレーションを行い、現状のxyzオフセット値を取得し、このxyzオフセット値を用いて正確な方位を得ることが可能となる。
本発明の第3の実施例について説明を行う。図5は本発明の実施例3の電子方位計のブ
ロック構成を示した図であり、図6はフローチャートを示した図である。
ロック構成を示した図であり、図6はフローチャートを示した図である。
構成は図4と同様であるが、ベクトル量演算装置18とオフセットSh’記憶装置20が加えられている。ベクトル量演算装置18は、地磁気ベクトル量に相当する出力を演算し、以前のベクトル量との比較を行う装置である。また、地磁気ベクトル量演算比較手段(S20)は、地磁気に相当する磁気ベクトル量を演算して以前の磁気ベクトル量のデータと比較する手段を示している。さきの実施例1と2では、常にデータの更新を行う様に記載を行ったが、この方法によれば必要なデータのみを記憶させ、必要に応じてそのデータを基に演算してオフセットを取得するということが可能となる。
図6のフローチャートを用いて本発明の実施例3の説明を更に詳細に行う。
まず、さきの実施例2と同様に、磁気ベクトル取得手段(S2)、傾斜角取得手段(S4)で傾斜角及びxyz3次元座標値を取得する。そして、オフセット・Sh’取得手段(S6)では、オフセットSh’記憶装置20に記憶されている以前のxyzオフセット値を読み込む。
次に、地磁気ベクトル量演算比較手段(S20)では、得られたxyz3次元座標値xs、ys、zsと読み込んだxyzオフセット値xoffs、yoffs、zoffsを用いて演算を行う。具体的には下記の式(46)によって演算を行う。
そして、上式(46)で演算されたShと以前に記憶されていたSh’の比較を行い、以前のSh’の数値と演算された最新のShを比較して許容値より大きいか小さいかを比較判断する。この許容値を比較する具体的な方法としては、例えば下記の様な式(47)を満たすかどうかで判断することができる。
上記式(47)により、演算された値が許容値の範囲内であれば、先に取得したxyzオフセット値をそのまま用いれば良く、その後に方位算出手段(S8)と方位表示手段(S10)を引き続き行う。
逆に、上記式(47)により、以前のShと演算されたShを比較して許容値を越えている場合には、オフセット再取得手段(S16)の工程に移行し、傾斜角とxyz3次元座標値の記憶をデータ記憶手段(S12)で開始する。そして、オフセット取得に必要な4組のデータが揃った時点で、データ取得手段(S14)によりデータを取り出し、オフセットSh’再取得手段(S16)でオフセットの再取得を行う。再取得を行った場合には、そのxyzオフセット値の書き換えを行う必要があり、オフセットSh’記憶手段(S18)はオフセット記憶装置20にデータを書き換える手段を示している。また、新しく取得したxyzオフセット値と、オフセット取得に利用した4組のデータの中のひとつを利用して、Sh’を演算してオフセットと併せて保存する。
上記のオフセット取得に必要なデータが揃う間は、以前のxyzオフセット値を用いて方位算出手段(S8)、方位表示手段(S10)を行う。場合によっては、方位表示手段(S10)において、キャリブレーションが進行中である旨の情報を表示しても良い。その間の方位データは誤差を生じることとなるが、4組のデータを取得するまでの時間は、
さほど多くの時間を必要としないため、実用上大きな問題とはならない。
さほど多くの時間を必要としないため、実用上大きな問題とはならない。
以上の構成により、常にデータの更新を行う必要がなく、必要なデータのみを記憶させ、そのデータを基に演算してxyzオフセット値を取得するということが可能となる。そして、周辺機器の着磁状態が変化した場合、その後着磁状態が変わらない間に取得された4組のxyz3次元座標値を用いて、正確なxyzオフセット値を取得することができ、このxyzオフセット値を用いて、真の方位角を得ることができる。
本発明の第4の実施例について説明を行う。図7は第4の本発明の電子方位計のブロック構成を示した図であり、図8は本発明の第4の記録媒体のフローチャートを示した図である。オフセット取得に関する基本的な構成はさきの実施例1〜3と同様であるが、磁気センサが2軸となっており、新たに第3軸地磁気出力取得装置22が設けられている。本実施例によれば、2軸磁気センサと2軸傾斜センサを用いたより少ない部品構成で、オフセットを自動で取得する効果を得ることができる。
図8のフローチャートを用いて説明を行う。まず、磁気ベクトル取得手段(S2)では、2軸の磁気センサを用いているので、xyz軸から選ばれる2つの磁気センサからの出力を取得する。ここでは、x軸とy軸に構成した場合について説明すると、xsi、ysiと2つの磁気センサの出力を取得する。次に傾斜角取得手段(S4)に移行し、傾斜センサからαgとβgそれぞれの傾斜角を取得する。
データ記憶手段(S12)は、上記で得られたxsi、ysi、αg、βgをセットにして記憶する手段を示している。データ記憶手段(S12)は、連続的にデータを記憶するのではなく、αgとβgが共に0度、すなわち水平になったときのデータを取得する様にする。
先の実施例1〜3においては、任意の傾斜角度におけるデータの中で相異なる角度となるようにデータを取得し、αgとβgとがどのような角度でも良かったが、本実施例においては2軸磁気センサとなっているため、この場合は任意の傾斜角度で方位を算出するが、オフセット取得のために用いるデータとしては、水平のデータを利用する。このようにして得られたデータからxsiとysiを取得して、その中心座標を取得する。この場合には、円の中心座標を求める形になるため、取得するデータは3組で良く、具体的には下記式(48)(49)(50)を用いてオフセットを取得する。
次に行うSh’入手手段(S22)では、その測定位置での緯度φと経度λを入手して測定位置に対応する地磁気の磁界量である全地磁気量Fを出力し、更にそれに相当する出力値Sh’を入手する手段を示している。具体的には、日本国内各地の全地磁気量Fは、下記の2次式(数9)で近似することができ、緯度φと経度λを代入して、その場所での全地磁気量Fを取得する。
上記で得られた全地磁気量Fに相当する出力値Sh’が出力され、第3軸地磁気出力算出手段では、磁気ベクトル取得手段(S2)で得られたxsi、ysi、オフセット取得手段(S6)で得られたxoffs、yoffsと上記Sh’入手手段で得られたSh’を用いて第3軸の地磁気に相当する出力値zHを取得する。具体的には、下記の式(54)を用いて演算を行う。
上記で得られた第3軸地磁気出力値及び先に取得したxsi、ysi、αg、βg、更にはxoffsとyoffsを用いて、方位算出手段(S8)と方位表示手段(S10)を行い、方位を取得する。
以上、磁気センサと傾斜センサがx、y、z軸から選ばれるそれぞれ2軸で構成され、2軸方向の各地磁気量に相当する出力値を磁気センサから取得する地磁気出力取得手段(S18)と、全地磁気量に相当する磁気センサ出力値Sh’入手手段(S16)及びSh’と、2軸方向の磁気センサの出力から残りの第3軸方向の地磁気量に相当する出力値を取得する第3軸地磁気量取得手段(S20)を有する構成を基本構成に加えることにより、方位角θを測定することが可能となる。よって、2軸磁気センサと2軸傾斜センサを用いたより少ない部品構成で、任意の傾斜環境で測定されたデータからオフセットに必要なデータのみを取得することで、オフセットを自動で取得する効果を得ることが可能となる。
本発明の実施例1において、データ取得手段(S14)で取得する4組のデータは、許容値を設けてそれを越える様な値を選択するように説明を行ったが、更に、そのとき測定した方位角θが離れているものを選択する方法にしても良い。この場合には、算出した方位角θの値を、再度データ記憶装置8にフィードバックして、相異なる4組の磁気センサ出力を選択する際に、なるべく方位角θが離れているものを選択する機能を更に備えれば、より正確な方位を得ることができる様になる。
また、本発明の実施例1と2において、常にデータを記憶してその都度xyzオフセット値を取得を行う様に説明を行ったが、それに限定されるものではない。本発明の実施例3の様に、ベクトル量演算装置18を配置して、xyzオフセット値が変化したことを検知した場合にオフセット取得手段を実行する様にしても良い。更には、その都度データ記憶をして、xyzオフセット値を自動的に取得する方法ではなく、ユーザーがオフセットを選択して、必要な時に行える様な構成にしても当然良い。
また、本発明の実施例におけるデータ取得装置10は、データを取得する際にデータ記憶装置8から4組だけ取得する様に説明を行ったが、4組に限定される訳ではなく、4組以上の複数のデータを取得しても良い。オフセット取得手段(S6)では、4組のデータでオフセットを取得するが、4組のデータを選定するには4組以上のデータを取り込んだ上で、上記に示した様な許容値演算を行う方法を用いても良い。
また、本発明の第1から第4の実施の形態に示した電子方位計は、ICモジュールを用いた例を挙げて説明を行ったが、それに限定されるものではなく、表示装置、電源を備えて単体で動作する電子方位計でもよい。また、各種電子機器への組み込み用などとしての電子方位計に用いる記録媒体では、磁気センサ4、傾斜センサ6、データ取得装置10、オフセット取得装置12、方位算出装置14、方位表示装置の全てを一つのパッケージにまとめて構成されていることに限定されず、例えばデータ取得、オフセット取得、方位演算の機能は、各種機器側のCPUやマイコンで行っても良い。
2 電子方位計
4 磁気センサ部
6 傾斜センサ部
8 データ記憶装置
10 データ取得装置
12 オフセット取得装置
14 方位算出装置
16 方位表示装置
18 ベクトル量演算装置
20 オフセットSh’記憶装置
22 第3軸地磁気出力取得装置
4 磁気センサ部
6 傾斜センサ部
8 データ記憶装置
10 データ取得装置
12 オフセット取得装置
14 方位算出装置
16 方位表示装置
18 ベクトル量演算装置
20 オフセットSh’記憶装置
22 第3軸地磁気出力取得装置
Claims (16)
- xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力値であるxyz3次元座標値を取得する機能を有するxyz軸に配置された磁気センサと、
前記磁気センサの測定環境の外的な影響が変化する前に、前記xyz軸に配置された各磁気センサの方位と傾斜を変えた際の相異なる4組のxyz3次元座標値のデータを利用して、前記外的な影響がない状態での原点位置からのずれ量に相当するxyzオフセット値を取得する機能を有するオフセット取得装置と、
前記xyz3次元座標値と前記xyzオフセット値を用いて方位を演算する方位演算装置とを備え、
周辺機器の着磁などの影響によって発生するセンサの前記xyzオフセット値を取得して、真の方位を得ることができるようにしたことを特徴とする電子方位計。 - 少なくとも4組以上の前記xyz3次元座標値を記憶する機能を有するデータ記憶装置と、
前記データ記憶装置に記憶された複数個の前記xyz3次元座標値から相異なる4組の前記xyz3次元座標値を取得する機能を有するデータ取得装置とを更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の電子方位計。 - x軸と水平面のなすピッチ角βgと、y軸と水平面のなすロール角αgに相当する傾斜角の出力を取得する機能を有する傾斜センサを更に備え、
前記方位演算装置は、前記xyz3次元座標値と、前記xyzオフセット値と、前記ピッチ角と、前記ロール角に基づいて方位を演算する機能を有することを特徴とする請求項1に記載の電子方位計。 - 前記少なくとも4組以上のxyz3次元座標値に相関させて前記傾斜角を記憶する機能を有するデータ記憶装置と、
前記データ記憶装置に記憶された相異なる4組の前記xyz3次元座標値を取得する機能を有するデータ取得装置とを更に備えたことを特徴とする請求項3に記載の電子方位計。 - 前記オフセット取得装置で取得された前記xyzオフセット値を記憶するオフセット記憶装置を更に備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の電子方位計。
- 前記xyz3次元座標値と前記オフセット記憶装置に記憶された前記xyzオフセット値を用いて、地磁気ベクトルに相当する出力を演算する機能を有するベクトル量演算装置を更に備えたことを特徴とする請求項5に記載の電子方位計。
- 前記方位演算装置で得られた方位を表示する機能を有する方位表示装置を更に備えたことを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の電子方位計。
- xyz軸方向の磁気ベクトルに相当する出力値であるxyz3次元座標値を磁気センサから取得する磁気ベクトル取得手段と、
前記磁気センサの測定環境の外的な影響が変化する前に、前記xyz軸に配置された各磁気センサの方位と傾斜を変えた際の相異なる4組の前記xyz3次元座標値を用いて前記外的な影響がない状態での原点位置からのずれ量に相当するxyzオフセット値を取得するオフセット取得手段と、
前記xyz3次元座標値と前記xyzオフセット値を用いて方位を演算する方位演算手段とを備え、
周辺機器の着磁などの影響によって発生する方位センサの前記xyzオフセット値を取
得して、真の方位を得られるように機能させるためのプログラムを記録したことを特徴とする記録媒体。 - 少なくとも4組の前記xyz3次元座標値を記憶するデータ記憶手段と、
前記データ記憶手段で取得された複数個の前記xyz3次元座標値から前記相異なる4組のxyz3次元座標値を取得するデータ取得手段と、
を有することを特徴とする請求項8に記載の記録媒体。 - x軸と水平面のなすピッチ角βgと、y軸と水平面のなすロール角αgに相当する各傾斜角の出力を取得する傾斜角取得手段を更に備え、
前記方位演算手段は、前記xyz3次元座標値と、前記xyzオフセット値と、前記ロール角と、前記ピッチ角に基づいて方位を演算する手段であることを特徴とする請求項8に記載の記録媒体。 - 前記少なくとも4組以上のxyz3次元座標値に相関させて前記傾斜角を記憶するデータ記憶手段と、
前記データ記憶手段で記憶された相異なる4組の前記xyz3次元座標値を取得するデータ取得手段と、
を有することを特徴とする請求項10に記載の記録媒体。 - 前記相異なる4組のxyz3次元座標値は、前記ロール角、前記ピッチ角のいずれかが異なる際に得られる座標値であることを特徴とする請求項11に記載の記録媒体。
- 前記xyz3次元座標値と前記xyzオフセット値を用いて、地磁気に相当する磁気ベクトル量を演算し、ここで得られた前記磁気ベクトル量と、過去に演算した磁気ベクトル量とを比較する磁気ベクトル量演算比較手段と、
その比較した結果が許容値を超えていると判断された場合に、前記xyzオフセット値を再演算して二次xyzオフセット値を取得するオフセット再取得手段と、
前記二次xyzオフセット値を記憶するオフセット記憶手段と、
を有することを特徴とする請求項8から14のいずれか一項に記載の記録媒体。 - 前記方位演算手段で得られた方位を表示する機能を有する方位表示手段を更に有することを特徴とする請求項8から15のいずれか一項に記載の記録媒体。
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