JP2005197660A - 過電流保護素子およびその製造方法 - Google Patents

過電流保護素子およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005197660A
JP2005197660A JP2004274575A JP2004274575A JP2005197660A JP 2005197660 A JP2005197660 A JP 2005197660A JP 2004274575 A JP2004274575 A JP 2004274575A JP 2004274575 A JP2004274575 A JP 2004274575A JP 2005197660 A JP2005197660 A JP 2005197660A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive layer
overcurrent protection
protection element
layer
rough surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004274575A
Other languages
English (en)
Inventor
Fu Hua Chu
フーホア チュー
Shau Chew Wang
シャウチェウ ワン
Yun Ching Ma
ユンチン マー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Polytronics Technology Corp
Original Assignee
Polytronics Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Polytronics Technology Corp filed Critical Polytronics Technology Corp
Publication of JP2005197660A publication Critical patent/JP2005197660A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H7/00Emergency protective circuit arrangements specially adapted for specific types of electric machines or apparatus or for sectionalised protection of cable or line systems, and effecting automatic switching in the event of an undesired change from normal working conditions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/02Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C1/00Details
    • H01C1/14Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
    • H01C1/1406Terminals or electrodes formed on resistive elements having positive temperature coefficient
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/28Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals
    • H01C17/281Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals by thick film techniques
    • H01C17/283Precursor compositions therefor, e.g. pastes, inks, glass frits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)
  • Fuses (AREA)

Abstract

【課題】 過電流保護素子において、PTC層と電極箔との間の接触抵抗を減少させ、アーク放電の可能性を著しく減少させる。
【解決手段】 少なくとも一方が微小粗面を有する二つの電極箔21を提供する。非電着法により、電極箔21の微小粗面上に少なくとも一つの導電層23を成膜する。少なくとも一方が、少なくとも一つの導電層23と物理的に接触しているPTC層22を二つの電極箔21の間に挟んで、過電流保護素子を形成する。導電層23は、スパッタリング、スピンコーティング、溶液コーティングおよび粉末コーティングを含む方法の内の一つにより製造する。
【選択図】 図3

Description

本発明は、過電流保護素子およびその製造方法に関し、より詳しくは、正温度係数(PTC)の過電流保護素子およびその製造方法に関する。
正温度係数(PTC)の導電材料の抵抗は、温度変動に敏感であり、回路が正常に動作できるように、通常の動作では温度変動に対する感度が低いために、非常に低く維持できる。しかしながら、過電流または過熱の事象が生じた場合、抵抗は即座に高い抵抗状態(例えば、104オームより高い)まで上昇する。したがって、過電流は逆に除去され、回路素子を保護する目的が達成できる。
特許文献1および2には、PTC材料を持つ電気素子が開示されている。図1に示すように、電気素子10は、二つの電極箔11およびこれら二つの電極箔11の間に挟まれたPTC層13を有してなる。多数の小さな瘤14が、微小粗面12を形成するように、エッチングまたは電着により電極箔11の表面に形成されている。したがって、PTC層13と電極箔11との間の電気性能および物理的組合せを向上させることができる。
米国特許第4800253号明細書 米国特許第4689475号明細書
PTC層13が押しつけられて電極箔11と結合したときに、小さな瘤14の間の凹部は、PTC層13が不十分にしか変形しないために、PTC層13により満たされず、凹部の底部に空隙15が形成されるであろう。その結果、電気素子10に過電流が流れたときに、空隙15の位置にアーク放電が生じるかもしれない。小さな瘤14の表面はさらに微小瘤を持ち、それゆえ、先端放電が生じて、局部的な短絡の問題が生じるかもしれない。さらに、空隙15により、PTC層13と電極箔11との結合がゆるみ、接触表面の抵抗が高くなり、物理的付着が不十分になる。より悪い場合には、電気素子10の小型化により、各箔11の近くにそれぞれ位置する空隙15が短絡を誘発し、それゆえ、電気素子10を備えた電子製品は、保護されるというよりむしろ、短絡の事象により損傷を受けるであろう。
本発明の目的は、PTC層と電極箔との間の接触抵抗を減少させ、アーク放電の可能性を著しく減少させる過電流保護素子を提供することにある。
上述した目的を達成するために、過電流保護素子を開発した。その過電流保護素子は、二つの電極箔、少なくとも一つの導電層およびPTC層を有してなり、ここで、電極箔の少なくとも一つは微小粗面を有し、電極箔の微小粗面には導電層が被せられている。PTC層は二つの電極箔の間に挟まれており、PTC層の上面および下面うちの一方は、少なくとも一つの導電層と物理的にきつく接触している。したがって、PTC層と電極箔との間に位置する導電層は、それらの間の接触抵抗を効果的に減少でき、アーク放電を避けることができる。
上述した過電流保護素子は、以下の工程にしたがって製造できる。最初に、少なくとも一方が少なくとも一つの微小粗面を持つ二つの電極箔およびPCT層を提供する。次に、少なくとも一つの導電層を、非電着法により、電極箔の少なくとも一つの微小粗面またはPTC層の表面に成膜させる。次いで、少なくとも一つの導電層に結合した二つの電極箔をPTC層に結合させるか、または少なくとも一つの導電層に結合したPTC層を二つの電極箔に結合させ、それによって、上述した過電流保護素子の積重構造が形成される。
導電層は、スパッタリング、スピンコーティング、溶液コーティング、粉末コーティングなどにより製造できる。それらの工程は、より優れたステップ・カバレージ能力を提供でき、それゆえ、後に導電層がPTC層または電極箔に押しつけられたときに、空隙が生じるのを減少させることができる。さらに、より安定な電気性能を得るために、電極箔と導電層との結合を強化するように、電極箔の表面を、事前に、プラズマ、コロナ、エッチングまたは他の表面処理により処理してもよい。
上記に鑑みて、従来技術と比較して、本発明の過電流保護素子および方法には以下の利点がある:(1)電極箔とPTC層との間のアーク放電を防ぐことができる;(2)PTC層と電極箔との間の付着および導電性を増すことができる;(3)単純な製造法のために、費用を減らすことができる;(4)電気性能が増し、歩留りも増加させることができる。
図2に示したように、過電流保護素子20は、二つの電極箔21、二つの導電層23およびPTC層22を備え、各電極箔21は、0.1から100マイクロメートル(μm)の凸部が設けられた微小粗面24を有し、これらの凸部はこの実施の形態においては多数の小さな瘤25である。導電層23は、スパッタリング、スピンコーティング、溶液コーティングまたは粉末コーティングなどの非電着法により微小粗面24上に形成することができ、導電層23の材料は、ニッケル、クロム、亜鉛、銅、それらの合金、銀接着剤(silver glue)またはグラファイトを使用できる。導電層23の厚さは、0.1から1000μm、好ましくは、0.1から300μm、最も好ましくは、0.1から100μmである。PTC層22は二つの導電層23の間に挟まれており、その上面と下面は、導電層23と物理的に接触している。導電層23は、導電性を増すために、PTC層22と電極箔21との間の接触電気抵抗を下げることができる以外に、小さな瘤25に存在する可能性のある微小瘤は、先端放電を著しく低減できるように滑らかにすることができる。
理論的に、導電層23は、公知の電着法、例えば、電気メッキにより製造できる。しかしながら、電着のより悪いステップ・カバレージ能力は、空隙が生成されるような小さな瘤25の間の凹部を満たすのに効果的ではなく、それゆえ、アーク放電の可能性が増すであろう。それゆえ、上述した問題を避けるために、本発明による導電層23を形成するためには、電着法は用いられない。
本発明において提案された過電流保護素子20の製造方法が図3に示されている。最初に、二つの電極箔21上に微小粗面24を形成する。次に、スパッタリング、スピンコーティング、溶液コーティングまたは粉末コーティングなどの非電着法により、電極箔21の対応する微小粗面24上に二つの導電層23をそれぞれ被せる。次いで、過電流保護素子20を形成するように、例えば、ホットプレスにより、二つの導電層23の間にPTC層22を積重し、結合させる。
図4に示したように、実際には、導電層23は、最初に電極箔21の微小粗面24上に成膜することに制限されない。導電層23は、電極箔21によりプレスされる前に、PTC層22の表面に成膜しても差し支えない。さらに、より安定な電気性能を達成するために、PTC層22の表面を事前にプラズマ、コロナ、エッチングまたは他の表面処理により処理して、PTC層22と導電層23との結合を強化しても差し支えない。通常は、電気メッキを行うために、事前に、電着、例えば、電気メッキにより導電膜を形成すべきである。それにもかかわらず、導電膜のない状態で非電着を直接行っても差し支えなく、それゆえ、製造法を単純にすることができる。
さらに、導電層23は、様々な要件に応じて、PTC層22の片側のみに形成してもよい。
本発明の上述した実施の形態は、例証のみを目的としたものである。特許請求の範囲から逸脱せずに、多数の代わりの実施の形態が当業者により考えられるであろう。
公知の過電流保護素子を示す断面図 本発明による過電流保護素子を示す断面図 本発明による過電流保護素子の製造方法を示す断面図 本発明による過電流保護素子の別の製造方法を示す断面図
符号の説明
10、20 過電流保護素子
11、21 電極箔
12、24 微小粗面
13、22 PTC層
14、25 小さな瘤
15 空隙
23 導電層

Claims (11)

  1. 過電流保護素子であって、
    少なくとも一方が微小粗面を有する二つの電極箔、
    非電着法により製造され、前記微小粗面としっかりと接触している少なくとも一つの導電層、および
    前記二つの電極箔の間に挟まれた、少なくとも一方が前記少なくとも一つの導電層としっかりと接触している正温度係数層、
    を有してなり、それによって、前記正温度係数層と前記二つの電極箔との間の接触抵抗を効果的に減少することができ、アーク放電が避けられることを特徴とする過電流保護素子。
  2. 前記導電層が、スパッタリング、スピンコーティング、溶液コーティングおよび粉末コーティングを含む方法の内の一つにより製造されたことを特徴とする請求項1記載の過電流保護素子。
  3. 前記導電層の材料が、グラファイト、銀接着剤、ニッケル、クロム、亜鉛、銅およびそれらの合金からなる群より選択されることを特徴とする請求項1記載の過電流保護素子。
  4. 前記導電層の厚さが0.1から100マイクロメートルであることを特徴とする請求項1記載の過電流保護素子。
  5. 前記微小粗面が0.1から100マイクロメートルの凸部を有することを特徴とする請求項1記載の過電流保護素子。
  6. 過電流保護素子を製造する方法であって、
    少なくとも一方が微小粗面を有する二つの電極箔を提供し、
    非電着法により、前記電極箔の微小粗面上に少なくとも一つの導電層を成膜し、
    少なくとも一方が、前記少なくとも一つの導電層と物理的に接触している正温度係数層を前記二つの電極箔の間に挟む、
    各工程を有してなることを特徴とする方法。
  7. 前記導電層を、スパッタリング、スピンコーティング、溶液コーティングおよび粉末コーティングを含む方法の内の一つにより製造することを特徴とする請求項6記載の方法。
  8. 前記正温度係数層をホットプレスにより前記導電層と結合させることを特徴とする請求項6記載の方法。
  9. 過電流保護素子を製造する方法であって、
    正温度係数層を提供し、
    非電着法により正温度係数層の表面に少なくとも一つの導電層を成膜し、
    少なくとも一方が微小粗面を有する二つの電極箔を提供し、
    前記正温度係数層上に成膜された導電層および前記電極箔の微小粗面を結合させて、積重構造を形成する、
    各工程を有してなることを特徴とする方法。
  10. 前記導電層を、スパッタリング、スピンコーティング、溶液コーティングおよび粉末コーティングを含む方法の内の一つにより製造することを特徴とする請求項9記載の方法。
  11. 前記電極箔をホットプレスにより前記導電層と結合させることを特徴とする請求項9記載の方法。
JP2004274575A 2003-12-31 2004-09-22 過電流保護素子およびその製造方法 Withdrawn JP2005197660A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW092137714A TWI230453B (en) 2003-12-31 2003-12-31 Over-current protection device and manufacturing method thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005197660A true JP2005197660A (ja) 2005-07-21

Family

ID=34699416

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004274575A Withdrawn JP2005197660A (ja) 2003-12-31 2004-09-22 過電流保護素子およびその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (2) US20050140492A1 (ja)
JP (1) JP2005197660A (ja)
KR (1) KR20050071330A (ja)
TW (1) TWI230453B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008041724A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Shin Etsu Polymer Co Ltd 過電流保護素子の製造方法
KR100820588B1 (ko) * 2006-11-24 2008-04-11 신화인터텍 주식회사 단면 도금박으로 이루어진 판상 전극체를 포함하는 도전성시트 및 이를 포함하는 표면 실장형 고분자 ptc 소자
US10083781B2 (en) 2015-10-30 2018-09-25 Vishay Dale Electronics, Llc Surface mount resistors and methods of manufacturing same
US10438729B2 (en) 2017-11-10 2019-10-08 Vishay Dale Electronics, Llc Resistor with upper surface heat dissipation

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8044763B2 (en) * 2005-12-27 2011-10-25 Polytronics Technology Corp. Surface-mounted over-current protection device
USRE44224E1 (en) 2005-12-27 2013-05-21 Polytronics Technology Corp. Surface-mounted over-current protection device
TWI282696B (en) * 2005-12-27 2007-06-11 Polytronics Technology Corp Surface-mounted over-current protection device
US9034210B2 (en) * 2007-12-05 2015-05-19 Epcos Ag Feedstock and method for preparing the feedstock
US20090145977A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Jan Ihle Injection molded nozzle and injector comprising the injection molded nozzle
US20090148657A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Jan Ihle Injection Molded PTC-Ceramics
US7973639B2 (en) * 2007-12-05 2011-07-05 Epcos Ag PTC-resistor
US20090146042A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Jan Ihle Mold comprising a ptc-ceramic
US20090148802A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Jan Ihle Process for heating a fluid and an injection molded molding
KR20140062470A (ko) * 2011-07-29 2014-05-23 타이코 일렉트로닉스 저팬 지.케이. Ptc 디바이스

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4689475A (en) * 1985-10-15 1987-08-25 Raychem Corporation Electrical devices containing conductive polymers
JPH01257304A (ja) * 1988-04-06 1989-10-13 Murata Mfg Co Ltd 有機正特性サーミスタ
DE69533562T2 (de) * 1994-06-08 2005-10-06 Tyco Electronics Corp. Elektrische Vorrichtungen enthaltend leitfähige Polymere
CA2220343A1 (en) * 1995-05-10 1996-11-14 Philip C. Shaw, Jr. Ptc circuit protection device and manufacturing process for same
US6462643B1 (en) * 1998-02-16 2002-10-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. PTC thermistor element and method for producing the same
TW487742B (en) * 1999-05-10 2002-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electrode for PTC thermistor, manufacture thereof, and PTC thermistor
US20030020591A1 (en) * 2000-04-08 2003-01-30 Soo-An Choi Electrical device having ptc conductive polymer
US6965293B2 (en) * 2000-04-08 2005-11-15 Lg Cable, Ltd. Electrical device having PTC conductive polymer

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008041724A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Shin Etsu Polymer Co Ltd 過電流保護素子の製造方法
KR100820588B1 (ko) * 2006-11-24 2008-04-11 신화인터텍 주식회사 단면 도금박으로 이루어진 판상 전극체를 포함하는 도전성시트 및 이를 포함하는 표면 실장형 고분자 ptc 소자
US10083781B2 (en) 2015-10-30 2018-09-25 Vishay Dale Electronics, Llc Surface mount resistors and methods of manufacturing same
US10418157B2 (en) 2015-10-30 2019-09-17 Vishay Dale Electronics, Llc Surface mount resistors and methods of manufacturing same
US10438729B2 (en) 2017-11-10 2019-10-08 Vishay Dale Electronics, Llc Resistor with upper surface heat dissipation

Also Published As

Publication number Publication date
US20060261922A1 (en) 2006-11-23
TW200522333A (en) 2005-07-01
KR20050071330A (ko) 2005-07-07
US20050140492A1 (en) 2005-06-30
TWI230453B (en) 2005-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060261922A1 (en) Over-current protection device and manufacturing method thereof
US6377467B1 (en) Surface mountable over-current protecting device
TWI503850B (zh) 過電流保護元件
JPH11162708A (ja) 多層導電性ポリマ正温度係数デバイス
JP4632358B2 (ja) チップ型ヒューズ
JP2009302494A (ja) チップ抵抗器およびその製造方法
JP2009016338A (ja) チップヒュ−ズ及びその製造方法
TW202032584A (zh) 過電流保護元件
EP1139352B1 (en) Method of manufacturing a ptc chip thermistor
JP2006310277A (ja) チップ型ヒューズ
CN103843079A (zh) Ptc装置
JPH09115418A (ja) 遅延型薄膜ヒューズ
JP2006286224A (ja) チップ型ヒューズ
TW201029285A (en) Over-current protection device and manufacturing method thereof
CN111696738B (zh) 过电流保护元件
TWI493576B (zh) 過電流保護元件及其保護電路板
JP4037248B2 (ja) 回路保護素子とその製造方法
JPH08288606A (ja) 金属コア型のプリント基板およびその製造方法および電気回路基板
WO2018150781A1 (ja) 薄膜デバイスおよび薄膜デバイスの製造方法
JP6954517B2 (ja) 電子部品及びその製造方法
JP4569152B2 (ja) 回路保護素子の製造方法
US6963476B2 (en) Method for manufacturing resettable fuses and the resettable fuse
JPH0622092B2 (ja) 基板型温度ヒューズ及びその製造方法
TWI262513B (en) Over-current protection device and manufacturing method thereof
JP5556196B2 (ja) 回路保護素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20071204