JP2005115643A - 偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 作業効率の向上およびコスト削減を実現し、容易に製品などの偽造を防止する偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法を提供する。
【解決手段】 低反射基材層の一方の面に低反射基材層よりも照射光の反射率の高い鱗片顔料含有樹脂層1を設け、他方の面に接着剤を塗布して粘着層を設ける。
さらに、鱗片顔料含有樹脂層1側にレーザを照射して、低反射基材層に達するまで鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させることにより貫通孔4が生成された貫通単位セル10と、低反射基材層に達しない程度に鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させることにより非貫通孔5が生成された非貫通単位セル20とを設ける。
【選択図】 図1
【解決手段】 低反射基材層の一方の面に低反射基材層よりも照射光の反射率の高い鱗片顔料含有樹脂層1を設け、他方の面に接着剤を塗布して粘着層を設ける。
さらに、鱗片顔料含有樹脂層1側にレーザを照射して、低反射基材層に達するまで鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させることにより貫通孔4が生成された貫通単位セル10と、低反射基材層に達しない程度に鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させることにより非貫通孔5が生成された非貫通単位セル20とを設ける。
【選択図】 図1
Description
本発明は、偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法に関し、特に、レーザでコードマークを刻印する偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法に関する。
従来、製品および有価証券などの偽造を防止するために、その製品および有価証券の表面にホログラムなどを加工したり、コードマークを形成したりといった様々な加工処理を施していた。
上記のような従来技術として、特許文献1が開示するところの磁性膜を有する有価証券があった。
特許文献1では、有価証券の墨インキで印刷した記号などの任意の一部分を磁性インキで形成していた。このことにより、有価証券のどの部分が磁性インキで形成されているか肉眼では外観上判別不可能であるとともに、マグネットビュアーで容易に有価証券の真偽のチェックを行うことを可能としていた。
実開昭49−141799号公報
特許文献1では、有価証券の墨インキで印刷した記号などの任意の一部分を磁性インキで形成していた。このことにより、有価証券のどの部分が磁性インキで形成されているか肉眼では外観上判別不可能であるとともに、マグネットビュアーで容易に有価証券の真偽のチェックを行うことを可能としていた。
しかしながら、特許文献1記載では、有価証券の一部を墨インキ、他の部分を磁性インキで印刷しており、互いに異なる材料を予め用意して印刷しなければならないため、煩雑な作業およびコストが生じていた。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、作業効率の向上およびコスト削減を実現し、容易に製品などの偽造を防止する偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法を提供することを特徴とする。
かかる目的を達成するため、本発明は、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は低反射基材層に達する深さで刻印され、コードマークの他の部分は低反射基材層に達しない深さで刻印されたことを特徴とする。
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印されてなる1以上の貫通単位セルと、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印されてなる1以上の非貫通単位セルと、が設けられていることを特徴とする。
また、本発明によれば、コードマークは、CO2レーザにより刻印された、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする。
また、本発明によれば、コードマークは、2次元コードであることを特徴とする。
また、本発明によれば、低反射基材層の他方の面には接着剤層が設けられていることを特徴とする。
また、本発明によれば、高反射基材層は、鱗片顔料含有樹脂層であることを特徴とする。
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、偽造防止部材は、高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は低反射基材層に達する深さで刻印されるとともに、コードマークの他の部分は低反射基材層に達しない深さで刻印され、コードマーク読取装置は、高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、反射光の強度差に基づいて、コードマークを読み取ることを特徴とする。
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、偽造防止部材は、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達する深さでコードマーク刻設されてなる1以上の貫通単位セルと、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達しない深さでコードマーク刻設されてなる1以上の非貫通単位セルと、が設けられ、コードマーク読取装置は、高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、反射光の強度差に基づいて、コードマークを読み取ることを特徴とする。
また、本発明によれば、コードマーク読取装置は、低反射基材層に達する深さで刻印されたコードマークのみを読み取ることを特徴とする。
また、本発明によれば、コードマークは、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする。
また、本発明によれば、コードマーク読取装置は、コードマークの線が形成されている方向に垂直で、かつ高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して20°〜40°の方向から光源の光を照射し、反射光の強度差に基づいて、コードマークを読み取ることを特徴とする。
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、高反射基材層にCO2レーザマーカによりCO2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、高反射基材層の一部を低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印するとともに、他の部分を低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印する刻印工程と、を有することを特徴とする。
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、高反射基材層表面における所定領域に対してCO2レーザマーカによりCO2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、高反射基材層の一部を低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印して貫通単位セルを生成するとともに、高反射基材層表面における他の領域に対して低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印して非貫通単位セルを生成する刻印工程と、を有することを特徴とする。
また、本発明によれば、刻印工程は、CO2レーザおよび偽造防止部材のうちの少なくとも一方を一定方向に移動させながら、高反射基材層上にCO2レーザを照射させて、互いに平行な複数の線状の刻印部分からなるコードマークを刻印することを特徴とする。
本発明によれば、複製が困難なコードマークが刻印された偽造防止部材を容易に形成し、偽造を防止することが可能となる。
本発明の実施の形態では、低反射基材層の一方の面に低反射基材層よりも照射光の反射率の高い高反射基材層(鱗片顔料含有樹脂層またはホログラム層など)を設け、他方の面に接着剤を塗布して粘着層を設ける。
さらに、高反射基材層側にレーザを照射して、低反射基材層に達するまで高反射基材層を昇華させることにより貫通孔が生成された貫通単位セルと、低反射基材層に達しない程度に高反射基材層を昇華させることにより非貫通孔が生成された非貫通単位セルとを設ける。
さらに、高反射基材層側にレーザを照射して、低反射基材層に達するまで高反射基材層を昇華させることにより貫通孔が生成された貫通単位セルと、低反射基材層に達しない程度に高反射基材層を昇華させることにより非貫通孔が生成された非貫通単位セルとを設ける。
図1は、本発明の実施例1における偽造防止部材の正面図である。
また、図2は、本発明の実施例1における偽造防止部材の断面図であって、図1の点線Aの断面を示す。
以下、図1および図2を用いて、本実施例における偽造防止部材について説明する。
また、図2は、本発明の実施例1における偽造防止部材の断面図であって、図1の点線Aの断面を示す。
以下、図1および図2を用いて、本実施例における偽造防止部材について説明する。
図2に示されているように、偽造防止部材は、鱗片顔料含有樹脂層1と、低反射基材層2と、接着剤層3とからなる。粘着層3上には低反射基材層2が積層されている。また、低反射基材層2上には、鱗片顔料含有樹脂層1が積層されている。
鱗片顔料含有樹脂層1は、鱗片顔料を含有する樹脂からなる層であって、光輝性を有する。その鱗片顔料としては、例えば各種雲母、セリサイト(絹雲母)、タルク、カオリン、ムライトなどの天然鉱物、または合成雲母などの鱗片状の合成化合物が用いられるとしてもよい。
低反射基材層2は、鱗片顔料含有樹脂層1よりも著しく反射濃度の低い基材からなる層である。例えば、低反射基材層2は、黒色の紙または樹脂からなるとしてもよい。
粘着層3は、例えば感圧接着剤などからなり、偽造防止の対象の物品に偽造防止部材を接着するための層である。
図1に示されているように、鱗片顔料含有樹脂層1表面には、貫通単位セル10と、非貫通単位セル20とが形成されている。
貫通単位セル10は、所定面積の鱗片顔料含有樹脂層1表面が低反射基材層2に達するまで掘削されてコードマークが刻印されて形成される。
また、非貫通単位セル20は、所定面積の鱗片顔料含有樹脂層1表面が低反射基材層2に達しない程度に掘削されてコードマークが刻印されて形成される。
なお、図1に示される例では、1つの貫通単位セル10の周囲に8つの非貫通単位セル20が設けられているが、各単位セルの数および偽造防止部材上の各単位セルの配置位置は、図1の例に限定されないものとする。
貫通単位セル10は、所定面積の鱗片顔料含有樹脂層1表面が低反射基材層2に達するまで掘削されてコードマークが刻印されて形成される。
また、非貫通単位セル20は、所定面積の鱗片顔料含有樹脂層1表面が低反射基材層2に達しない程度に掘削されてコードマークが刻印されて形成される。
なお、図1に示される例では、1つの貫通単位セル10の周囲に8つの非貫通単位セル20が設けられているが、各単位セルの数および偽造防止部材上の各単位セルの配置位置は、図1の例に限定されないものとする。
貫通単位セル10および非貫通単位セル20に刻印されたコードマークには、例えば偽造防止部材が貼付された製品の識別情報または管理情報(例えばロットナンバー、製造日、製造地など)が含まれるとしてもよい。偽造防止部材上のコードマークを読取装置で読み取ることにより、偽造防止部材が貼付された物品の製造、流通の管理が容易になる。
なお、上記のコードマークは、スタック型2次元コードであってもよいし、マトリックス型2次元コードであってもよい。さらに、偽造防止部材上に刻印されるコードマークは、2次元コードに限らず、バーコード、ロゴまたは文字パターンのような他のコードマークであってもよい。
上記のように、偽造防止部材は、黒色紙などの低反射基材層2上に鱗片顔料含有樹脂層1を積層して作成される。従って、再帰反射基材などを用いた場合に比べて安価な偽造防止部材を生成することが可能となる。
図3は、本発明の実施例1における偽造防止部材を構成する貫通単位セル10をより詳細に示した正面図である。
また、図4は、本発明の実施例1における偽造防止部材を構成する貫通単位セル10の断面図であって、図1の点線Bの断面を示すものである。
以下、図3および図4を用いて、本実施例における貫通単位セル10について説明する。
また、図4は、本発明の実施例1における偽造防止部材を構成する貫通単位セル10の断面図であって、図1の点線Bの断面を示すものである。
以下、図3および図4を用いて、本実施例における貫通単位セル10について説明する。
図4に示されているように、貫通単位セル10は、鱗片顔料含有樹脂層1と、低反射基材層2と、粘着層3とからなる。粘着層3上には低反射基材層2が積層されている。また、低反射基材層2上には、鱗片顔料含有樹脂層1が積層されている。
CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を一定方向に移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層1上にCO2レーザを照射させて、低反射基材層2に達する深さまで鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させることにより、ライン状(溝形状)の貫通孔4が形成される。さらに、その一定方向に平行にCO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層1上へCO2レーザを照射して貫通孔4形成を繰り返してコードマークを刻印することにより、偽造防止部材に貫通単位セル10が形成される。
以下、貫通単位セル10上のコードマークの読み取りについて説明する。この偽造防止部材上に刻印されたコードマークを読取装置により読み取る。読取装置は、自装置に設けられている光源から対象となる物体に光を照射して、その反射光を受光し、その受光した反射光の強度を測定してコードを読み取る装置である。
読取装置は、自装置が保持する光源光を鱗片顔料含有樹脂層1表面に照射し、その反射光の光強度を測定する。そして、読取装置は、その測定された反射光の光強度差に基づいて、偽造防止部材上の画像(コードマーク)を読み取る。
本実施例における貫通単位セル10では、高輝度の鱗片顔料含有樹脂層1と、鱗片顔料含有樹脂層1を貫通するようにマーキングすることにより低反射基材層2表面が露出した貫通孔4表面との間に大きなコントラスト(反射光の光強度差)が生じ、読取装置による読取精度を向上させることが可能となる。
読取装置は、自装置が保持する光源光を鱗片顔料含有樹脂層1表面に照射し、その反射光の光強度を測定する。そして、読取装置は、その測定された反射光の光強度差に基づいて、偽造防止部材上の画像(コードマーク)を読み取る。
本実施例における貫通単位セル10では、高輝度の鱗片顔料含有樹脂層1と、鱗片顔料含有樹脂層1を貫通するようにマーキングすることにより低反射基材層2表面が露出した貫通孔4表面との間に大きなコントラスト(反射光の光強度差)が生じ、読取装置による読取精度を向上させることが可能となる。
読取装置は、鱗片顔料含有樹脂層1表面に対して垂直方向または非垂直方向から、貫通単位セル10に読み取り用の光を照射すると、低反射基材層2表面が露出した貫通孔4では鱗片顔料含有樹脂層1表面に比べて照射光の吸収率が高いため、貫通孔4からの反射光の光強度は鱗片顔料含有樹脂層1表面からの反射光の光強度よりも低い値となり、両反射光の光強度差から偽造防止部材上の画像が読み取られる。
図5は、本発明の実施例1における読取装置による貫通単位セル10の読取画像を示す図である。
図5に示されるように、鱗片顔料含有樹脂層1表面に対して垂直方向からであっても、非垂直方向からであっても、読取装置が鱗片顔料含有樹脂層1へ読み取り用の光を照射すると、貫通孔4の集合により形成される貫通単位セル10上のコードマークを読み取ることができる。
図5に示されるように、鱗片顔料含有樹脂層1表面に対して垂直方向からであっても、非垂直方向からであっても、読取装置が鱗片顔料含有樹脂層1へ読み取り用の光を照射すると、貫通孔4の集合により形成される貫通単位セル10上のコードマークを読み取ることができる。
図6は、本発明の実施例1における偽造防止部材を構成する非貫通単位セル20をより詳細に示した正面図である。
また、図7は、本発明の実施例1における偽造防止部材を構成する非貫通単位セル20の断面図であって、図6の点線Cの断面を示すものである。
以下、図6および図7を用いて、本実施例における非貫通単位セル20について説明する。
また、図7は、本発明の実施例1における偽造防止部材を構成する非貫通単位セル20の断面図であって、図6の点線Cの断面を示すものである。
以下、図6および図7を用いて、本実施例における非貫通単位セル20について説明する。
図7に示されているように、偽造防止部材は、鱗片顔料含有樹脂層1と、低反射基材層2と、粘着層3とからなる。粘着層3上には低反射基材層2が積層されている。また、低反射基材層2上には、鱗片顔料含有樹脂層1が積層されている。
また、CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を一定方向に移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層1上にCO2レーザを照射させて、低反射基材層2に達しない程度に鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させることにより、ライン状(溝形状)の非貫通孔5を形成する。さらに、その一定方向に平行にCO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層1上へCO2レーザを照射して非貫通孔5形成を繰り返すことにより、非貫通単位セル20上にコードマークが形成される。
この非貫通孔5は、例えば鱗片顔料含有樹脂層1の積層方向の厚さの1/2程度の深さであるとしてよい。この複数の非貫通孔5の集合によりコードマークが形成される。
このように、非貫通単位セル20は、貫通単位セル10と比べて、そのコードマークを形成するライン状の孔が鱗片顔料含有樹脂層1を貫通していない点で異なる。なお、他の部分については、非貫通単位セル20は、貫通単位セル10と同様であるとする。
また、CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を一定方向に移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層1上にCO2レーザを照射させて、低反射基材層2に達しない程度に鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させることにより、ライン状(溝形状)の非貫通孔5を形成する。さらに、その一定方向に平行にCO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層1上へCO2レーザを照射して非貫通孔5形成を繰り返すことにより、非貫通単位セル20上にコードマークが形成される。
この非貫通孔5は、例えば鱗片顔料含有樹脂層1の積層方向の厚さの1/2程度の深さであるとしてよい。この複数の非貫通孔5の集合によりコードマークが形成される。
このように、非貫通単位セル20は、貫通単位セル10と比べて、そのコードマークを形成するライン状の孔が鱗片顔料含有樹脂層1を貫通していない点で異なる。なお、他の部分については、非貫通単位セル20は、貫通単位セル10と同様であるとする。
以下、非貫通単位セル20上のコードマークの読み取りについて説明する。読取装置は、自装置に設けられている光源から対象となる物体に光を照射して、その反射光を受光し、その受光した反射光の強度を測定して偽造防止部材上のコードマークを読み取る。
図7に示されるように、読取装置は、照射面(非貫通単位セル20の鱗片顔料含有樹脂層1側の面)に対して垂直方向から光を照射して、その反射光の光強度を測定する場合、貫通単位セル10における貫通孔4と同様に、反射光の光強度差から非貫通孔5をコードマークとして読み取ることができる。
図8は、本発明の実施例1において、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル20上の画像を示す図である。
図8に示されるように、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射すると、非貫通単位セル20上の非貫通孔5から形成されるコードマークを読み取ることができる。
図8は、本発明の実施例1において、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル20上の画像を示す図である。
図8に示されるように、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射すると、非貫通単位セル20上の非貫通孔5から形成されるコードマークを読み取ることができる。
一方、読取装置が、非貫通孔5形成時のCO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材移動方向(非貫通孔5のライン形状が形成されている方向に平行な方向)に略垂直で、かつ照射面(鱗片顔料含有樹脂層1側)に対して所定角度をなす方向から光を照射して、その反射光の光強度を測定する場合、非貫通孔5に入射した光は非貫通孔5の内壁で乱反射を起こし、非貫通孔5が白色に発光する。この場合、読取装置が受光する反射光の強度と、鱗片顔料含有樹脂層1表面からの反射光の強度との差が小さくなる。
図9は、本発明の実施例1において、読取装置が線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル20上の画像を示す図である。
図9に示されるように、鱗片顔料含有樹脂層1と貫通孔5との反射光の光強度差が小さなものとなるため、読取装置は非貫通孔5をコードマークとして読み取らない。
なお、上記の照射面となす所定の角度は、20°〜40°、好ましくは30±2.5°としてよい。
図9は、本発明の実施例1において、読取装置が線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル20上の画像を示す図である。
図9に示されるように、鱗片顔料含有樹脂層1と貫通孔5との反射光の光強度差が小さなものとなるため、読取装置は非貫通孔5をコードマークとして読み取らない。
なお、上記の照射面となす所定の角度は、20°〜40°、好ましくは30±2.5°としてよい。
このように、照射面に対して所定の角度から読み取り用の光を照射した場合においてのみ認識が可能なコードマークを偽造防止部材上にマーキングし、その偽造防止部材を物品の表面に貼付などすることにより、偽造防止部材の複製を著しく困難なものとし、物品の偽造を防止することが可能となる。
以下、本実施形態における偽造防止部材の製造工程について説明する。
まず、透明樹脂に鱗片顔料を練り込んで、20〜100μmの厚さに圧延処理し、シート化して鱗片顔料含有樹脂層1を作成する。このとき、鱗片顔料は、鱗片顔料含有樹脂層1全体に対して10〜50%、好ましくは20〜30%の体積比で混入させるとよい。
次に、低反射基材層2の一方の面上に光輝性を有する鱗片顔料を含有する鱗片顔料含有樹脂層1を貼り合わせ、低反射基材層2上に鱗片顔料含有樹脂層1を積層する。
次に、低反射基材層2の他方の面に接着剤を塗布して粘着層3を設ける。
次に、CO2レーザマーカからCO2レーザを鱗片顔料含有樹脂層1に照射し、CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を一定方向に移動させて、低反射基材層2に達する深さまで鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させ、ライン状の貫通孔4を形成する。この貫通孔4形成部分では、低反射基材層2表面が露出する。
CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を、所定面積内において上記の一定方向と平行な方向へ移動させながらレーザ照射を繰り返し、互いに平行なライン状の貫通孔4を鱗片顔料含有樹脂層1上に複数形成してコードマークを刻印することにより、貫通単位セル10が形成される。上記工程を繰り返して、貫通単位セル10を必要な数だけ偽造防止部材上に形成する。
次に、CO2レーザマーカからCO2レーザを鱗片顔料含有樹脂層1に照射し、CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を一定方向に移動させて、低反射基材層2に達しない深さまで鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させ、ライン状の非貫通孔5を形成する。
CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を、所定面積内において上記の一定方向と平行な方向へ移動させながらレーザ照射を繰り返し、互いに平行なライン状の非貫通孔5を鱗片顔料含有樹脂層1上に複数形成してコードマークを刻印することにより、非貫通単位セル20が形成される。上記工程を繰り返して、非貫通単位セル20を必要な数だけ偽造防止部材上に形成する。
このようにして、偽造防止部材が完成する。
なお、貫通単位セル10形成工程と非貫通単位セル20形成工程とは、その順序が入れ替わってもよい。
また、ここで使用するCO2レーザマーカは、堀内電機製作所製の「12W CO2レーザマーカ LSS−S050VAH」であるとしてもよい。
まず、透明樹脂に鱗片顔料を練り込んで、20〜100μmの厚さに圧延処理し、シート化して鱗片顔料含有樹脂層1を作成する。このとき、鱗片顔料は、鱗片顔料含有樹脂層1全体に対して10〜50%、好ましくは20〜30%の体積比で混入させるとよい。
次に、低反射基材層2の一方の面上に光輝性を有する鱗片顔料を含有する鱗片顔料含有樹脂層1を貼り合わせ、低反射基材層2上に鱗片顔料含有樹脂層1を積層する。
次に、低反射基材層2の他方の面に接着剤を塗布して粘着層3を設ける。
次に、CO2レーザマーカからCO2レーザを鱗片顔料含有樹脂層1に照射し、CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を一定方向に移動させて、低反射基材層2に達する深さまで鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させ、ライン状の貫通孔4を形成する。この貫通孔4形成部分では、低反射基材層2表面が露出する。
CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を、所定面積内において上記の一定方向と平行な方向へ移動させながらレーザ照射を繰り返し、互いに平行なライン状の貫通孔4を鱗片顔料含有樹脂層1上に複数形成してコードマークを刻印することにより、貫通単位セル10が形成される。上記工程を繰り返して、貫通単位セル10を必要な数だけ偽造防止部材上に形成する。
次に、CO2レーザマーカからCO2レーザを鱗片顔料含有樹脂層1に照射し、CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を一定方向に移動させて、低反射基材層2に達しない深さまで鱗片顔料含有樹脂層1を昇華させ、ライン状の非貫通孔5を形成する。
CO2レーザビーム及び/又は偽造防止部材を、所定面積内において上記の一定方向と平行な方向へ移動させながらレーザ照射を繰り返し、互いに平行なライン状の非貫通孔5を鱗片顔料含有樹脂層1上に複数形成してコードマークを刻印することにより、非貫通単位セル20が形成される。上記工程を繰り返して、非貫通単位セル20を必要な数だけ偽造防止部材上に形成する。
このようにして、偽造防止部材が完成する。
なお、貫通単位セル10形成工程と非貫通単位セル20形成工程とは、その順序が入れ替わってもよい。
また、ここで使用するCO2レーザマーカは、堀内電機製作所製の「12W CO2レーザマーカ LSS−S050VAH」であるとしてもよい。
以下、読取装置が、照射面(鱗片顔料含有樹脂層1の上面)に対して垂直に光を照射し、その反射光によりコードマークを読み取る場合について説明する。
図5に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、反射光の光強度差から貫通単位セル10の貫通孔4をコードマークとして読み取ることができる。
また、図8に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、反射光の光強度差から非貫通単位セル20非貫通孔5をコードマークとして読み取ることができる。
また、図8に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、反射光の光強度差から非貫通単位セル20非貫通孔5をコードマークとして読み取ることができる。
図10は、本発明の実施例1において、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合における偽造防止部材上の読み取り画像を示す図である。
上述したことから、図10に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、貫通単位セル10および非貫通単位セル20両方のコードマークを読み取る。
上述したことから、図10に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、貫通単位セル10および非貫通単位セル20両方のコードマークを読み取る。
以下、読取装置が、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面(鱗片顔料含有樹脂層1の上面)に対して所定角度をなす方向から光を照射し、その反射光によりコードマークを読み取る場合について説明する。
図5に示されるように、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面(鱗片顔料含有樹脂層1の上面)に対して所定角度をなす方向(照射面に対して非垂直方向)から読み取り用の光を照射した場合、反射光の光強度差から貫通単位セル10の貫通孔4をコードマークとして読み取ることができる。
一方、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面(鱗片顔料含有樹脂層1の上面)に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合、その照射光が非貫通孔5の内壁で乱反射し、非貫通孔5が白色に発光する。このことから、非貫通孔5からの反射光の強度が増加し、鱗片顔料含有樹脂層1との反射強度の差が小さくなるため、図9に示されるように、読取装置は非貫通孔5の画像をコードマークとして読み取らない。
一方、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面(鱗片顔料含有樹脂層1の上面)に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合、その照射光が非貫通孔5の内壁で乱反射し、非貫通孔5が白色に発光する。このことから、非貫通孔5からの反射光の強度が増加し、鱗片顔料含有樹脂層1との反射強度の差が小さくなるため、図9に示されるように、読取装置は非貫通孔5の画像をコードマークとして読み取らない。
図11は、本発明の実施例1において、読取装置が線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合における偽造防止部材上の読み取り画像を示す図である。
上述したことから、図11に示されるように、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合、非貫通単位セル20上のコードマークを読み取らずに、貫通単位セル10上のコードマークのみを読み取る。
なお、上記の所定角度は20°から40°、好ましくは30°±2.5°である。
上述したことから、図11に示されるように、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合、非貫通単位セル20上のコードマークを読み取らずに、貫通単位セル10上のコードマークのみを読み取る。
なお、上記の所定角度は20°から40°、好ましくは30°±2.5°である。
以上説明したように、読取装置は、偽造防止部材の照射面と所定角度をなす方向から照射光を照射面上に照射した場合においてのみ、貫通単位セル10上のコードマークだけを容易に読み取ることができる。
例えば、読み取られることを目的とするコードマークの部分を貫通単位セル10で形成し、鱗片顔料含有樹脂層1側の面上のその他の部分にはダミーとして非貫通単位セル20を設けるとしてもよい。この偽造防止部材を肉眼で観察した場合、あるいは読取装置により読み取り用の光を垂直に照射して読み取る場合では、一見して貫通単位セル10と非貫通単位セル20(貫通孔4と非貫通孔5)の区別が困難であるため、コードマークを複製することが著しく困難とすることが可能となる。
また、この偽造防止部材を物品に貼付することにより、物品の偽造を防止するとともに、読取装置を用いて斜め方向から照射光を照射してコードマークの有無を確認することにより、真贋判定を容易に行うことが可能となる。
例えば、読み取られることを目的とするコードマークの部分を貫通単位セル10で形成し、鱗片顔料含有樹脂層1側の面上のその他の部分にはダミーとして非貫通単位セル20を設けるとしてもよい。この偽造防止部材を肉眼で観察した場合、あるいは読取装置により読み取り用の光を垂直に照射して読み取る場合では、一見して貫通単位セル10と非貫通単位セル20(貫通孔4と非貫通孔5)の区別が困難であるため、コードマークを複製することが著しく困難とすることが可能となる。
また、この偽造防止部材を物品に貼付することにより、物品の偽造を防止するとともに、読取装置を用いて斜め方向から照射光を照射してコードマークの有無を確認することにより、真贋判定を容易に行うことが可能となる。
なお、上記の実施例1は本発明の好適な実施の一例であり、本発明の実施例は、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形して実施することが可能となる。
1 鱗片顔料含有樹脂層
2 低反射基材層
3 粘着層
4 貫通孔
5 非貫通孔
6 ホログラム層
10 貫通単位セル
20 非貫通単位セル
2 低反射基材層
3 粘着層
4 貫通孔
5 非貫通孔
6 ホログラム層
10 貫通単位セル
20 非貫通単位セル
Claims (14)
- 低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、
前記高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は前記低反射基材層に達する深さで刻印され、前記コードマークの他の部分は前記低反射基材層に達しない深さで刻印されたことを特徴とする偽造防止部材。 - 低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、
前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達する深さで前記コードマークを刻印されてなる1以上の貫通単位セルと、前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達しない深さで前記コードマークを刻印されてなる1以上の非貫通単位セルと、が設けられていることを特徴とする偽造防止部材。 - 前記コードマークは、CO2レーザにより刻印された、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする請求項1または2記載の偽造防止部材。
- 前記コードマークは、2次元コードであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の偽造防止部材。
- 前記低反射基材層の他方の面には接着剤層が設けられていることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の偽造防止部材。
- 前記高反射基材層は、鱗片顔料含有樹脂層であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の偽造防止部材。
- 低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、前記高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、
前記偽造防止部材は、
前記高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は前記低反射基材層に達する深さで刻印されるとともに、前記コードマークの他の部分は前記低反射基材層に達しない深さで刻印され、
前記コードマーク読取装置は、
前記高反射基材層の前記コードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、該反射光の強度差に基づいて、前記コードマークを読み取ることを特徴とするコードマーク読取システム。 - 低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、前記高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、
前記偽造防止部材は、
前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達する深さで前記コードマーク刻設されてなる1以上の貫通単位セルと、前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達しない深さで前記コードマーク刻設されてなる1以上の非貫通単位セルと、が設けられ、
前記コードマーク読取装置は、
前記高反射基材層の前記コードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、該反射光の強度差に基づいて、前記コードマークを読み取ることを特徴とするコードマーク読取システム。 - 前記コードマーク読取装置は、
前記低反射基材層に達する深さで刻印されたコードマークのみを読み取ることを特徴とする請求項7または8記載のコードマーク読取システム。 - 前記コードマークは、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする請求項7から9のいずれか1項に記載のコードマーク読取システム。
- 前記コードマーク読取装置は、
前記コードマークの線が形成されている方向に垂直で、かつ前記高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して20°〜40°の方向から前記光源の光を照射し、該反射光の強度差に基づいて、前記コードマークを読み取ることを特徴とする請求項10記載のコードマーク読取システム。 - 低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、
前記高反射基材層にCO2レーザマーカによりCO2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、前記高反射基材層の一部を前記低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印するとともに、他の部分を前記低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印する刻印工程と、
を有することを特徴とする偽造防止部材の製造方法。 - 低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、
前記高反射基材層表面における所定領域に対してCO2レーザマーカによりCO2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、前記高反射基材層の一部を前記低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印して貫通単位セルを生成するとともに、前記高反射基材層表面における他の領域に対して前記低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印して非貫通単位セルを生成する刻印工程と、
を有することを特徴とする偽造防止部材の製造方法。 - 前記刻印工程は、
前記CO2レーザおよび前記偽造防止部材のうちの少なくとも一方を一定方向に移動させながら、前記高反射基材層上にCO2レーザを照射させて、互いに平行な複数の線状の刻印部分からなる前記コードマークを刻印することを特徴とする請求項13記載の偽造防止部材の製造方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003348768A JP2005115643A (ja) | 2003-10-07 | 2003-10-07 | 偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法 |
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JP2014104492A (ja) * | 2012-11-28 | 2014-06-09 | Trinity Industrial Co Ltd | 車両用加飾部品の製造方法、車両用加飾部品 |
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2003
- 2003-10-07 JP JP2003348768A patent/JP2005115643A/ja not_active Abandoned
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