JP2005057289A - リソグラフィ装置及びデバイスの製造方法 - Google Patents

リソグラフィ装置及びデバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005057289A
JP2005057289A JP2004226806A JP2004226806A JP2005057289A JP 2005057289 A JP2005057289 A JP 2005057289A JP 2004226806 A JP2004226806 A JP 2004226806A JP 2004226806 A JP2004226806 A JP 2004226806A JP 2005057289 A JP2005057289 A JP 2005057289A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
drive unit
lithographic apparatus
wall
substrate
positioning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004226806A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4484621B2 (ja
Inventor
Weerdt Robrecht Emiel Maria Leonia De
エミール マリア レオニア デ ヴェールト ロブレヒト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ASML Netherlands BV
Original Assignee
ASML Netherlands BV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ASML Netherlands BV filed Critical ASML Netherlands BV
Publication of JP2005057289A publication Critical patent/JP2005057289A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4484621B2 publication Critical patent/JP4484621B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70758Drive means, e.g. actuators, motors for long- or short-stroke modules or fine or coarse driving
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece
    • G03F7/70875Temperature, e.g. temperature control of masks or workpieces via control of stage temperature
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70908Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
    • G03F7/70916Pollution mitigation, i.e. mitigating effect of contamination or debris, e.g. foil traps

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Linear Motors (AREA)

Abstract

【課題】リソグラフィ装置及びデバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】リソグラフィ装置内で対象物テーブルを位置決めする第1駆動ユニット及び第2駆動ユニットの組合せを説明する。第1駆動ユニットは、対象物テーブルに連結された第1部分と、第2駆動ユニットの第1部分に連結された第2部分とを有する。第1駆動ユニットの第1及び第2部分は、壁によって互いに分離される。それによって、対象物を取り囲む調節された環境の維持が容易になる。
【選択図】図4a

Description

本発明は、
放射投影ビームを提供する照明装置と、
投影ビームの横断面にパターンを付与する働きをするパターン化手段を保持する保持構造体と、
基板を保持する基板テーブルと、
基板の目標部分にパターン化されたビームを投影する投影装置と、
前記保持構造体又は基板テーブルの少なくとも1つを位置決めする位置決め装置とを含むリソグラフィ装置であって、前記位置決め装置が、
第1部分及び第2部分を含み、第1部分が、前記保持構造体又は基板テーブルに連結され、かつ第2部分に対して相対的に移動可能な第1駆動ユニットと、
第1駆動ユニットの第2部分に連結され、少なくとも1方向に前記第1駆動ユニットを移動させる第2駆動ユニットとを含むリソグラフィ装置に関するものである。
さらに本発明は、デバイスの製造方法に関するものである。
リソグラフィ装置は、基板の目標部分に所望のパターンを投影する機械である。リソグラフィ装置は、例えばIC(集積回路)の製造に使用できる。この場合、ICの個々の層に対応する回路パターンを生成するために、マスクなどのパターン化手段を用いることができる。このパターンは、放射感受性材料(レジスト)の層を有する基板(例えばシリコン・ウェハ)上の(例えば、ダイの一部或いは1つ又は複数のダイを含む)目標部分に結像させることができる。一般に、1枚の基板は、次々に露光される隣接した目標部分のネットワークを含む。周知のリソグラフィ装置の例には、1回で目標部分にパターン全体を露光することによって各目標部分が照射される、いわゆるステッパと、所与の方向(「走査」方向)にパターンを走査し、この方向と平行又は逆平行に基板を同期走査することによって、各目標部分が投影ビームによって照射される、いわゆるスキャナとが含まれる。
請求項1の前提部分に記載されたリソグラフィ装置は、米国特許第6271606号から周知のものである。米国特許第6271606号は、少なくとも1方向に対象物を移動させるリニア・モータを備え、対象物テーブルがチャンバに取り囲まれたステージ組立体を記載している。
リソグラフィ装置では、対象物テーブルを、短ストロークで正確に位置決めし、かつ長ストロークで移動させることが必要とされる。一般に、パターン化手段を備えるステージは1方向に大きく移動する必要があり、基板を備えるステージは平面内で大きく移動する必要がある。一般に、パターン化手段又は基板を備える対象物テーブルは、複数のアクチュエータ又はリニア・モータを含む第1駆動ユニットに連結される。これらのアクチュエータ又はモータは、対象物を短い範囲にわたって正確に移動させることができる。通常、第1駆動ユニットは、少なくとも1方向に大きく移動することができる第2駆動ユニット上に装架される。この第2駆動ユニットは、一例として、リニア・モータ又は平面(planar)モータからなる。リソグラフィ装置内では、投影処理工程は、浄化され調節された雰囲気又は真空中で行われることが多い。こうした状態を維持するために、閉鎖チャンバ内に対象物テーブルを配置することがある。米国特許第6271606号で提案されている解決策の欠点は、この閉鎖チャンバが依然として長距離移動用整流子モータの少なくとも一部を含むことである。一般に、このようなモータは極めて大きくかつ重いので、調節された隔室内にこうしたモータが存在することは望ましくない。閉鎖チャンバ内部に配置された整流子モータの部品のために軸受けが要求されるため、状況がさらに複雑になる。さらに、調節された雰囲気が必要とされる隔室をできるだけ小さく保つことは明らかに有利である。
以上から、本発明の目的は、前記の欠点の1つを少なくとも部分的に克服し、調節された雰囲気又は真空がより容易に維持されるリソグラフィ装置を提供することである。
本発明によれば、前記その他の目的は、第2駆動ユニット、及び第1駆動ユニットの第2部分が、壁によって第1駆動ユニットの第1部分から分離されることを特徴とする冒頭の段落で規定したリソグラフィ装置において達成される。
本発明で説明する駆動部の配置においては、対象物テーブルに連結される第1駆動ユニットの第1部分が、壁によって第2駆動ユニットから遮蔽される。したがって、第2駆動ユニットに適用される汚染又は材料の使用に関する条件を緩和することができる。このような構成部材又は装置の例は、マスク・テーブル又は基板テーブルなどのステップ・アンド・スキャン工程を実施するモータを含む位置決め装置である。調節された雰囲気でマスク又は基板を取り囲むという要件により多くの制約が生じ、それらの制約に対しこれらの構成部材又は装置の設計時に対処しなければならない。例えば、装置内で必要とされる温度を維持するために、モータが生成する熱を制限し、適切な冷却によってそれを取り除かなければならない。汚染に関する厳しい要件によっても、使用できる材料に制約が生じる。例えば、ガスの放出を避けるために、永久磁石などの部材を遮蔽しなければならないことがある。対象物テーブルから第2駆動ユニットを分離する壁が存在するので、第2駆動部の軸受けに適用する条件も緩和することができるはずである。すなわち、空気軸受けの代わりにころがり軸受けを用いることができる。この壁により、粒子による汚染の危険性をある程度減らすこともできる。
本発明の具体例では、第1駆動ユニットの第1部分をその第2部分から分離する壁は、隔室の一部である。この隔室は、第1駆動ユニットの第2部分及び第2駆動ユニットを取り囲むように構成することもできるし、第1駆動ユニットの第1部分及び対象物テーブルを取り囲むように構成することもできる。後者の場合、この閉鎖隔室は、例えば、浄化された雰囲気を含むか、或いは真空隔室とすることができる。
本発明の具体例では、第1駆動ユニットの第1部分は磁石装置を含み、第2部分は電気コイル装置を含む。こうすると、マスク・テーブル又は基板テーブルを駆動するために必要とされる通電部材と、マスク又は基板テーブルとが、それぞれ壁の反対側に配置される。このようにして、電磁アクチュエータからの放散によって生じる「熱」汚染が対象物テーブルから遮蔽される。したがって、より効果的な方法で電気コイル装置の冷却を行うことができる。例えば、水冷と強制空冷を組み合わせてコイルを冷却することができる。
本発明の具体例では、第1駆動ユニットは、第1駆動ユニットの第1部分に連結された第1磁石組立体と、第1駆動ユニットの第2部分に連結された第2磁石組立体とを有する磁気支持装置をさらに含む。基板テーブル又はマスク・テーブルの重量を実質的に補償する磁気支持装置を使用することによって、第1駆動ユニットをより効率的に作動させることができる。対象物テーブルを所定の垂直位置で維持するには、対象物テーブルに垂直力を加えなければならない。この力は、連続的に、すなわち100%の負荷時間率(デューティー・サイクル)で加えなければならず、そのために、かなり大きな放散源が生じる。受動的な磁気支持装置によって対象物テーブルの重量のかなりの部分を補償することができれば、電力消費及び放散が低減される。
本発明の具体例では、駆動ユニットの少なくとも1つは平面モータである。第1駆動ユニットが平面モータである場合、このモータは、第2駆動ユニットの移動範囲に比べて短い作動範囲しかない精密調整用ステージとして使用される。したがって、この実施例における平面モータの磁石板のサイズは、平面モータのコイル・ユニットのサイズにほぼ相当する。
本発明の具体例では、リソグラフィ装置は、下部架台(ベース・フレーム)及び前記下部架台に移動可能に連結されたバランス・マス(釣合い質量)をさらに含み、第2駆動ユニットの第2部分は前記バランス・マスに連結される。このような実施例では、位置決め装置の反力は、下部架台又はリソグラフィ装置の他の支持架台ではなく、バランス・マスに作用する。こうすると、基板上に所望のパターンをより正確に投影することができる。
本発明の具体例では、調節された隔室は、下部架台から動的に分離された別の架台上に装架されるか、或いはこの別の架台の一部とされる。調節された隔室を動的に分離し、調節された隔室及びそれに取り付けられたすべての構成部材の振動を減少させることによって、リソグラフィ装置の性能を向上させることができる。例えば、この調節された隔室は、マスク又は基板に対して相対的に正確に位置決めされる必要のあるレンズ又はミラーなどの光学素子を含む。
本発明の具体例では、第1駆動ユニットの第1部分を第1駆動ユニットの第2部分から分離する壁は、実質的に非磁性材料でできている。磁性材料では、第1駆動ユニットの第1部分と第2部分との間の磁気的結合が減少することになろう。
本発明の具体例では、第1駆動ユニットの第1部分を第1駆動ユニットの第2部分から分離する壁は、実質的に非導電材料でできている。導電材料では、第1駆動ユニットが壁に対して相対的に移動するときに、壁の中に渦電流が生じることになる。この渦電流は、機械内部でさらなる熱源になる。さらに、渦電流は、駆動ユニットの動的な性能を低減させる。
第1駆動ユニットの第1部分を第1駆動ユニットの第2部分から分離する壁が水平面内にある場合、処置を施さなければ、この壁の重量により、壁が下向きに曲がることになる。これを克服する可能な対策は、壁によって分離された隔室間で、壁の重量を補償する圧力差を設けることである。代替方法は、第1駆動ユニットの第2部分と壁との間に空気軸受けを設けて、第1駆動ユニットの第2部分に対して所定の位置で壁を保つことである。
本発明の特定の観点によれば、組立・分解を容易に行うことのできる駆動部の配置及び位置決め装置が提示される。ここで説明する特定の駆動部の配置は、第1部分及び第2部分を有し、前記第1及び第2部分の一方を取り外す必要なしに、前記第1及び第2部分を互いに重ねて装架することができる。添付の図では、例として、このような特性を有する様々な実施例を説明する。これらの図に示す実施例のXZ断面図のいずれにも、第1部分と第2部分を分離する壁があるが、この壁は、駆動部自体を正しく作動させるための要件ではないことが当業者には明らかであろう。
本発明の別の観点によれば、デバイスを製造する方法が提供される。この方法は、
放射感受性材料の層により少なくとも部分的に覆われた基板を提供する段階と、
放射装置を使用して放射投影ビームを提供する段階と、
パターン化手段を使用して投影ビームの横断面にパターンを付与する段階と、
放射感受性材料の層の目標部分にパターン化された放射ビームを投影する段階と、
位置決め装置によって前記パターン化手段又は基板の少なくとも1つを位置決めする段階であって、この位置決め装置が、
第1部分が、前記対象物に直接又は間接的に連結されかつ第2部分に対して相対的に移動可能な第1部分及び第2部分を含む第1駆動ユニットと、
第1駆動ユニットの第2部分に連結され、少なくとも1方向に前記第1駆動ユニットを移動させる第2駆動ユニットとを含む、位置決めする段階と、
壁によって第1駆動ユニットの第1部分を第1駆動ユニットの第2部分から分離する段階とを含む。
本明細書では、IC製造におけるリソグラフィ装置の使用を具体的に参照するが、本明細書で説明するリソグラフィ装置は、例えば、集積光学系、磁気ドメイン・メモリ(ドメイン・チップ・メモリ)用の誘導/検出パターン、LCD(液晶ディスプレイ)、薄膜磁気ヘッドの製造など、他の応用が可能であることを理解されたい。このような代替応用例では、本明細書で用いる「ウェハ」又は「ダイ」という用語は、それぞれ、より一般的な用語である「基板」又は「目標部分」と同義とみなし得ることが当業者には理解されよう。本明細書で言及する基板は、例えば、トラック(一般に、基板にレジスト層を塗布し、露光されたレジストを現像する装置)内、或いは計測又は検査装置内で露光前又は露光後に処理することができる。本明細書の開示は、該当する場合には、前記その他の基板処理装置に適用することができる。さらに、基板は、例えば多層ICを生成するために2回以上処理することができる。そのため、本明細書で用いる基板という用語は、複数回処理した層をすでに含む基板を指すこともある。
本明細書で用いる「放射」及び「ビーム」という用語は、(例えば、365、248、193、157又は126nmの波長を有する)UV(紫外)放射、及び(例えば、5〜20nmの範囲の波長を有する)EUV(極紫外)放射、並びにイオン・ビーム又は電子ビームなどの粒子ビームを含めて、あらゆる種類の電磁放射を包含する。
本明細書で用いる「パターン化手段」という用語は、投影ビームの横断面にパターンを付与して、基板の目標部分にパターンを生成するために用いることができる手段を指すものと広く解釈すべきである。投影ビームに付与されるパターンは、基板の目標部分の所望のパターンに厳密に対応しないことがあることに留意されたい。一般に、投影ビームに付与されるパターンは、目標部分に生成されるデバイス、例えば集積回路の特定の機能層に相当する。
パターン化手段は、透過型又は反射型とすることができる。パターン化手段の例には、マスク、プログラム制御可能なミラー・アレイ(配列)及びプログラム制御可能なLCDパネルが含まれる。マスクは、リソグラフィにおいて周知のものであり、バイナリ型、交互配置位相シフト型、ハーフトーン位相シフト型、並びに様々なハイブリッド型などのマスクの種類の例が含まれる。プログラム制御可能なミラー・アレイの例では、入射する放射ビームが様々な方向に反射されるように、それぞれ個別に傾けることができる小ミラーのマトリックス配置を利用する。こうすると、反射ビームがパターン化される。パターン化手段のそれぞれの例では、保持構造体は、例えば架台又はテーブルとすることができ、それらは、必要に応じて固定又は移動可能とし、例えば投影装置に対してパターン化手段を所望の位置にできる。本明細書で用いる「レチクル」又は「マスク」という用語は、「パターン化手段」という、より一般的な用語と同義とみなし得る。
本明細書で用いる「投影装置」という用語は、例えば、用いられる露光放射、或いは浸漬液の使用又は真空の使用など他の要因に応じて適宜、屈折光学装置、反射光学装置及び反射屈折型光学装置を含めて様々な種類の投影装置を包含すると広く解釈すべきである。本明細書で用いる「レンズ」という用語は、「投影装置」という、より一般的な用語と同義とみなし得る。
照明装置も、放射投影ビームを方向づけ、整形し、また制御する屈折型、反射型、及び反射屈折型光学構成部材を含めて様々な種類の光学部材を含み得る。このような構成部材も、以下では総称して或いは単独で「レンズ」と称することがある。
リソグラフィ装置は、2つ(デュアル・ステージ)以上の基板テーブル(及び/又は2つ以上のマスク・テーブル)を有する種類のものとすることができる。このような「複数ステージ」型の機械では、追加のテーブルを並列で使用し、すなわち準備段階を1つ又は複数のテーブル上で実施しながら、1つ又は複数の他のテーブルを使用して露光を行うことができる。
リソグラフィ装置は、水などの比較的高屈折率の液体中に基板を浸して、投影装置の最終要素と基板との間の空間を満たす種類のものとすることもできる。浸漬液は、マスクと投影装置の第1要素の間など、リソグラフィ装置内の他の空間に用いることもできる。投影装置の開口数を大きくする液浸技術は、当技術分野では周知のものである。
次に、添付の概略図面を参照して、単なる例として本発明の実施例を説明する。図面では、対応する参照記号はそれに対応する部分を示す。
図1に、本発明の特定の実施例によるリソグラフィ装置を概略的に示す。この装置は、
放射投影ビーム(例えば、UV放射又はEUV放射)PBを提供する照明装置(照明器)ILと、
パターン化手段(例えばマスク)MAを支持し、部品PLに対してパターン化手段を正確に位置決めする第1位置決め手段PMに連結された第1保持構造体(例えばマスク・テーブル)MTと、
基板(例えば、レジストを被覆したウェハ)Wを保持し、部品PLに対して基板を正確に位置決めする第2位置決め手段PWに連結された基板テーブル(例えばウェハ・テーブル)WTと、
基板Wの目標部分C(例えば、1つ又は複数のダイを含む)に、パターン化手段MAによって投影ビームPBに付与されたパターンを結像する投影装置(例えば屈折型投影レンズ)PLとを含む。
ここで示すように、この機器は、(例えば、透過型マスクを用いる)透過型のものである。或いは、この機器は、(例えば、前記で言及した種類のプログラム制御可能なミラー・アレイを用いる)反射型のものとすることができる。
照明器ILは、放射源SOから放射ビームを受け取る。この放射源及びリソグラフィ装置は、例えば放射源がエキシマ・レーザのときは別々の構成要素となり得る。このような場合には、放射源はリソグラフィ装置の一部を形成するとはみなさず、放射ビームは、放射源SOから、例えば適当な方向づけミラー及び/又はビーム・エキスパンダを含むビーム送達装置BDを用いて照明器ILに至る。他の場合には、例えば放射源が水銀ランプのとき、放射源は機器に一体化された部分となり得る。放射源SO及び照明器ILは、必要な場合にはビーム送達装置BDとともに、放射装置と称することがある。
照明器ILは、ビームの角度強度分布を調節する調節装置AMを含み得る。一般に、照明器の瞳面内の強度分布の少なくとも外側及び/又は内側半径方向範囲(一般に、それぞれ外側σ及び内側σと称する)を調節することができる。一般に、照明器ILは、積分器IN及びコンデンサCOなど他の様々な構成部材をさらに含む。この照明器は、ビーム断面において所望の均一性及び強度分布を有する調節された放射ビームを提供する。この調節された放射ビームを投影ビームPBと称する。
投影ビームPBは、マスク・テーブルMTに保持されたマスクMAに入射する。マスクMAを横切った後で、投影ビームPBは、レンズPLを通過し、レンズPLによって基板Wの目標部分Cに結像する。第2位置決め手段PW及び位置センサIF(例えば、干渉計装置)を用いて、基板テーブルWTを正確に移動させ、例えば、ビームPBの経路内に異なる目標部分Cを位置決めすることができる。同様に、第1位置決め手段PM及び(図1には明示的に示さない)別の位置センサを用いて、例えば、マスク・ライブラリからマスクMAを機械的に取り出した後で、或いは走査中に、ビームPBの経路に対してマスクMAを正確に位置決めすることができる。一般に、対象物テーブルMT及びWTの移動は、位置決め手段PM及びPWの一部を形成する(粗い位置決め用の)長ストローク・モジュール及び(精密位置決め用の)短ストローク・モジュールを用いて実現される。ただし、(スキャナと異なり)ステッパの場合には、マスク・テーブルMTを短ストローク・アクチュエータだけに連結するか、或いは固定することができる。マスクMA及び基板Wは、マスク位置合わせマークM1、M2及び基板位置合わせマークP1、P2を用いて位置合わせすることができる。
図に示す機器は、下記の好ましいモードで使用することができる。
1.ステップ・モードでは、マスク・テーブルMT及び基板テーブルWTは本質的に固定したまま、目標部分Cに、投影ビームに付与されたパターン全体を1回で(すなわち1回の静止露光で)投影する。次いで、基板テーブルWTをX方向及び/又はY方向に移動して、異なる目標部分Cを露光することができる。ステップ・モードでは、露光領域の最大サイズが、1回の静止露光で画像形成される目標部分Cのサイズを制限する。
2.スキャン・モードでは、マスク・テーブルMT及び基板テーブルWTが同期して走査され、投影ビームに付与されたパターンが目標部分Cに投影される(すなわち、1回の動的な露光)。マスク・テーブルMTに対する相対的な基板テーブルWTの速度及び方向は、投影装置PLの倍率(縮小率)及び像の反転特性によって決まる。スキャン・モードでは、露光領域の最大サイズが、1回の動的な露光における目標部分の(非走査方向の)幅を制限し、走査移動長により、目標部分の(走査方向の)高さが決まる。
3.別のモードでは、プログラム制御可能なパターン化手段を保持するマスク・テーブルMTが本質的に固定され、基板テーブルWTが移動すなわち走査され、目標部分Cに、投影ビームに付与されたパターンが投影される。一般に、このモードでは、パルス化された放射源を用い、基板テーブルWTの各移動動作後に、又は走査中に連続放射パルス間で、プログラム制御可能なパターン化手段が必要に応じて更新される。この作動モードは、前記で言及した種類のプログラム制御可能なミラー・アレイなどのプログラム制御可能なパターン化手段を利用するマスクのないリソグラフィに容易に適用することができる。
前記で説明した使用モードの組合せ及び/又は変形、或いは全く異なる使用モードを用いることもできる。
図2に、第2駆動ユニット2上に装架された第1駆動ユニット1を概略的に示す。第1駆動ユニットは、(図示しない)対象物テーブルに取り付けられた第1部分10と、第2駆動ユニットの第1部分12に取り付けられた第2部分11とを含む。第1駆動ユニットの第1部分は、壁15によって第1駆動ユニットの第2部分から分離される。第2駆動ユニットは、例えば、下部架台又はバランス・マス14に取り付けることができる第2部分13をさらに含む。第2駆動ユニットの第1及び第2部分は、少なくとも1方向の比較的長い距離にわたって相互に位置決めすることができる。一般に、500mmより大きい変位がマイクロメータの精度をもって得られる。例えば、第2駆動ユニットは、平面モータ、H型駆動部又はリニア・モータ構造体を含み得る。このような駆動部の配置は、図1に示すリソグラフィ装置内で、対象物テーブルMT及びWTを移動させるために用いることができる。第1駆動ユニットの第2部分は、第2駆動ユニットの第1部分に取り付けられているので、この部分は、第2駆動ユニットの第1部分とともに移動する。第1駆動ユニットは、精密調整用駆動部として用いられる。第1駆動ユニットは、ナノメートルの精度で比較的短い距離(〜1mm)にわたって対象物テーブルを位置決めするために用いられる。第1駆動部は、第2駆動部とともに移動するので、第1及び第2駆動ユニットを組み合わせたものは、(第1駆動ユニットから得られる)高精度で(第2駆動ユニットから得られる)長距離移動が可能であるという利点を併せもつことができる。このリソグラフィ装置は、第1駆動ユニットの第1部分と第2部分との間に位置する壁15をさらに含む。この壁は、下部架台又はリソグラフィ装置の任意の他の架台に固定することができる。第1及び第2駆動ユニットを合わせた利点を維持するには、この壁は、実質的に平坦であり、かつ少なくとも第2駆動ユニットの作動範囲にわたって前記少なくとも1つの方向に延びるべきであることが当業者には明らかである。図4〜図16に、第1駆動ユニットの第1部分と第2部分との間にこのような壁を配置することのできる特定の実施例を示す。
図4〜図14により、対象物テーブルを比較的長い距離にわたって面内で移動すべき場合に用いることができる特定の実施例を説明する。図15〜図16では、対象物テーブルを比較的長い距離にわたって1方向にのみ移動すべき場合に用いることができる特定の実施例を説明する。図3〜図16では、水平面内で直交する2つの方向をX方向及びY方向とし、前記面に直交する向きをZ方向とする。
図3aに、リソグラフィ装置内で精密位置決めに用いられる従来型のローレンツ型のリニア・モータを示す。このリニア・モータは、2つの磁石板16、17を含む第1部分と、これらの磁石板間に位置するコイル18を含む第2部分からなる。この構成では、両方のモータ部分を比較的長い距離にわたって2次元的に移動させることができる壁を第1部分と第2部分との間に設けることができないことは明らかである。図3bに、第1部分と第2部分とを分離する壁19を伴う同じアクチュエータを示す。この壁によっては、図3bの紙面に直交する方向にしか長い距離にわたって第1及び第2部分を移動させることができないことが明らかである。
図4に、両方のモータ部分を比較的長い距離にわたって2次元的に移動させることができる壁を第1部分と第2部分との間に設けることのできるリニア・モータの構成を示す。図4aに示すリニア・モータは、背板(バック・プレート)20及び2つの磁石21、22を含む磁石板を1つだけ有する第1部分と、コイル25を含む第2部分とを含む。背板20は、磁性材料又は非磁性材料で作られる。非磁性材料を用いる場合、磁束密度が比較的低くなり、それによってモータの効率が悪くなり得るが、第1部分の重量を軽くすることができる。第1部分と第2部分との間に、壁の形状をした壁29を配置できる。図4に示す配置では、コイルに電流が与えられた場合にリニア・モータが生成する力は、実質的にX方向に向けられる。これは、磁束線がコイルを実質的にZ方向に横切るためである。図4bに、図4aに示す配置についての磁束線を示す。代替配置では、これらの磁石及びコイルを、生成される力が実質的にZ方向に向けられるように配置することができる。これは、磁石の向きを変更する(図5)か、或いは、コイルの位置を変更する(図6)ことによって行うことができる。
図5に、背板30及びX軸に沿って反対の磁化極性を有する2つの磁石31、32を含む1つの磁石板を含むリニア・モータを示す。この構成では、磁束は、コイルを実質的にX方向に横切り、したがって、コイルに電流が与えられた場合にリニア・モータが生成する力は、実質的にZ方向に向けられる。壁39は、リニア・モータの第1部分と第2部分との間に配置される。
図6に、Z方向の力を生成するリニア・モータの代替配置を示す。この配置では、モータの第1部分は背板40及び3つの磁石41、42、43を含む磁石板を含み、第2部分はコイル45を含む。壁49は、リニア・モータの両方の部分の間に配置される。また、この構成では、磁束はコイルを実質的にX方向に横切り、したがって、コイルに電流が与えられた場合にリニア・モータが生成する力は、実質的にZ方向に向けられる。
図7に、X方向及びZ方向の力が得られるように磁石板に対して配置された3つのコイルを備えたリニア・モータを示す。このモータの第1部分は、背板50及び3つの磁石51、52、53を含む磁石板を含み、第2部分は3つのコイル55、56、57を含む。コイル55と磁石板との相互作用により、実質的にZ方向に向かう力が得られ、コイル56及び57と磁石板との相互作用により、実質的にX方向に向かう力が得られる。壁59は、リニア・モータの両方の部分の間に配置される。図7に示すコイルの配置では、コイル56及び57がコイル55上に積み重ねられる。これらのコイルは、それらの活動部分が同じ面内になるように配置することもできることが当業者には理解されよう。例えば、これは、コイル55にいわゆるベッドステッド(bedstead)コイルを用いることによって行い得る。ベッドステッド・コイルは、コイルの活動部分が配置される面に直交する面内に、その終端巻線部を有する。こうすると、図7のコイル55を、このコイルの活動部分がコイル56及び57と同じ面で終端するように配置することができる。この応用例では、終端巻線部が、コイルの活動部分が配置される面に直交する面内にある必要はなく、コイル55の終端巻線部を、(図7によればZの負方向に)コイル55の活動部分がコイル56及び57と同じZ位置に位置し得るまで曲げれば十分である。
図8に、磁石の向きが図7に示すものとは異なる代替配置を示す。この場合には、コイル66と67との相互作用によりZ方向の力が得られ、コイル65と磁石板との相互作用により実質的にX方向の力が得られる。壁69は、リニア・モータの第1部分と第2部分との間に配置される。
他の代替配置は、図9に示す配置を用いることである。この配置では、第1駆動ユニットの第1部分は、背板70及び4つの磁石71、72、73、74を含む磁石板を含み、第1駆動ユニットの第2部分は、従来型の3相電流源から電力供給を受けることのできる3つのコイル75、76、77を含むコイル装置を含む。異なるコイル75、76、77の電流の振幅によっては、XZ面内で力が生成され得る。壁79は、リニア・モータの第1部分と第2部分との間に配置される。
図7、図8及び図9に示す配置では、磁石板を2自由度でコイル装置に対して相対的に位置決めすることができる。少なくとも3つのこのような配置を組み合わせることによって、6自由度で位置決めを行うことができることが当業者には明らかであろう。図10a及び図10bに、6自由度を得るための可能な磁石配置のXY平面図を示す。図10aに、図8に示す3つの磁石配置81、82、83を示す。これらの磁石配置はそれぞれの(図示しない)コイル装置とともに、(矢印84、85、86で示す)XY面内の力及びZ方向の力を生成し得る。磁石配置81、82、83は、それぞれ、それら自体の背板を含むこともできるし、共通の背板に取り付けることもできる。図10bに、図9の磁石配置を4つ組み合わせた配置を示す。それぞれの4つの磁石配置87、88、89、90は、それぞれの(図示しない)コイル組立体とともに、Z方向成分、及びX又はY方向成分を含む力を提供し得る。図10bに示す配置では、磁石組立体87及び90によりX方向の力が得られ、88及び89によりY方向の力が得られる。
図4〜図10に示すリニア・モータ及びモータ配置は、図3aに示すアクチュエータに比べて組立・分解に関して特定の利点を有することに留意されたい。図3aのコイル18は、XY面内で移動させることによって、磁石板に対して相対的に適切な位置に挿入しなければならない。複数のアクチュエータを使用して、例えば6自由度で位置決めを行う場合、完全なコイル・ユニット及び磁石組立体を互いに独立に組み立てることのできる図10a及び図10bに示す駆動部の配置に比べて、これは難しくかつ時間のかかる操作になる。2つではなく1つの磁石板を有するリニア・モータの別の利点は、磁石組立体の重量が軽くなることである。多くの応用例では、対象物テーブルが磁石組立体に取り付けられ、コイル組立体が第2駆動ユニットに装架されるので、これは有利である。このようにする理由の1つは、コイル・ユニットでの放散による対象物テーブルの熱汚染を低減するためである。したがって、磁石組立体の重量を軽くすると加速すべき質量が減り、そのため、駆動部の必要とされる力が低減されることができる。図4〜図10に示すリニア・モータ及びモータ配置の別の利点は、2枚の磁石板でコイルを取り囲まないので、コイルの冷却がより容易になり、より効果的になり得ることである。
第1駆動ユニットの磁石組立体が対象物テーブルに取り付けられ、コイル組立体が第2駆動ユニットに装架される場合、第1駆動ユニットに電力を供給する際に別の利点を見出し得る。このような配置では、コイル組立体は分離壁によって対象物テーブルから分離される。したがって、コイルの配線は調節された隔室の外側に保たれる。対象物テーブルに磁石組立体を取り付けることによって、対象物テーブルと隔室の外側との間で配線などの機械的な接触が不要になる。対象物テーブルにコイル組立体を取り付ける場合、コイルの配線により、対象物テーブルと隔室の外側との間で、機械的なショートカット(shortcut)が生じることになる。このような機械的なショートカットにより、対象物テーブルの正確な位置決めが妨げられることがある。対象物テーブルを取り囲む隔室の外側に第1駆動ユニットのコイル組立体を配置することによって、対象物テーブルの正確な位置決めを行うことができる。このような配置は汚染に関しても有利になり得る。調節された環境(例えば、不活性ガスの雰囲気又は真空)内に対象物テーブルを設ける場合、従来型のコイル組立体に用いる材料(例えば絶縁材料)により、(例えば、ガスの放出によって)対象物の周囲が汚染されることがある。第1駆動ユニットのコイル組立体及び第2駆動ユニット全体がともに調節された隔室の外側にあると、材料の選択に関して適用される条件がより緩和される。
受動的な磁気支持装置を含めることによって、第1駆動ユニットはより効率的になり得る。このような受動的な磁気支持装置は、第1駆動ユニットの第1部分に取り付けられた第1磁石組立体と、第2駆動ユニットに取り付けられた第2磁石組立体とを含む。第1及び第2磁石組立体は、両方の磁石組立体間で反発力が生じるように相互に配置される。これらの磁石組立体の磁石の設計及び材料の選択は、この反発力により、第1駆動ユニットの第1部分とともに対象物テーブルの重量が実質的に補償されるように行う。さらに、調節された隔室の壁を両方の磁石組立体間に配置し、それによって両方の組立体がX及びY方向に比較的大きく移動することができるように両方の磁石組立体を配置しなければならない。図11に、調節された隔室の壁を含めて、可能な磁石の配置を示す。この磁気支持装置は、第1駆動ユニットの第1部分の一部である背板93に取り付けられた1つの磁石91を有する第1磁石組立体と、第1駆動ユニットの第2部分の一部である背板94に取り付けられ、かつ第1駆動部の第1部分の磁石91に対応する1つの磁石92を有する第2磁石組立体を含む。磁石91、92は、例えば円筒又は矩形形状のものとすることができる。壁99は、この磁気支持装置の2つの部分の間に配置される。X軸又はY軸の周りで傾くことに対する安定性を向上させるには、駆動ユニットの第1部分と第2部分の間で、複数のこのような組立体を用いるべきであることが当業者には明らかであろう。好ましい配置では、3つのこのような組立体を三角形で配置したものを用いる。図12に、図10から採用した第1駆動ユニットの磁石板と組み合わせた可能な配置を示す。図12では、Z方向に磁化された3つの円盤形状の磁石101、102、103を、対象物テーブルを6DOF(6自由度)で位置決めするために必要とされる磁石とともに配置する。図には、磁気支持装置の対応する磁石及び第1駆動ユニットの第2部分のコイルは示していない。
他の実施例では、この磁気支持装置にコイル装置をさらに設けて、磁気支持装置によって生成される付勢力を変化させることができる。図13に、可能な配置を示す。図13に示す配置は、第1駆動ユニットの第1部分の一部である背板111に取り付けられた円盤形状の磁石110を有する第1磁石組立体と、円筒形磁石115及びこの磁石を取り囲むコイル116を有する第2磁石組立体とを含む。このコイルは、円筒形磁石の内部に配置することもできるし、或いは、2つのコイルを用いることもできる。これら1つ又は複数のコイルを励磁すると、これら1つ又は複数のコイルによって生成される磁界が、円筒形磁石115によって生成される磁界に平行又は逆平行のいずれに向けられるかに応じて、両方の磁石組立体間に働く力が増減することになる。壁119は、組合せられたリニア・モータ−磁気支持装置の2つの部分の間に配置される。このような装置を3つ使用する配置を用いると、対象物テーブルをZ方向に位置決めし、かつ対象物テーブルをX軸及びY軸の周りで傾けることができる。この場合には、図7、図8又は図9で説明した第1駆動ユニットの磁石装置及びコイル装置は簡略化することができる。このような配置と図4に示す配置をそれぞれ3つ組み合わせて用いると、対象物テーブルを6自由度で正確に位置決めすることができる。図14に、図13による3つの磁気支持装置125、126、127と、図4による3つのリニア・モータ120、121、122とを組み合わせた、可能な配置(X−Y平面図)を示す。この配置では、Z方向の力を与えるアクチュエータ(又はモータ)と、XY面内の力を与えるモータとがはっきりと分離される。このように分離することにより、個々のモータ間のクロストーク(漏話)を減少させることができる。例えば、図7に示すリニア・モータでは、いくらかのクロストークがあり得る、すなわち、コイル55の電流が、コイル56及び57によって生成される磁石板へのX方向の力に影響を及ぼし得ることが当業者には明らかであろう。これらのモータを分離することによって、このクロストークを減少させることができる。図14に示す配置では、すべてのモータ及び磁気支持装置に共通の背板を用いることができる。
対象物テーブルを長い距離にわたって1方向に移動させるだけでよい場合、第1駆動ユニットの第1部分と第2部分とを分離する壁は、前記1方向に実質的に平坦であるだけでよい。こうすると、以下の図に示すように、アクチュエータ及び磁気支持装置の設計において追加の自由度が得られる。図15に、1方向に大きく移動することのできる対象物テーブルに取り付けられた可能なアクチュエータの配置の断面図を示す。この断面図には、対象物テーブルに取り付けることもでき、対象物テーブルの一部とすることもできる3つの磁石組立体を含むステージ組立体150を示す。3つのコイル・ユニットが、各磁石組立体に隣接し、かつこれらの磁石組立体と協働するように配置される。これらのコイル・ユニットは、それぞれの磁石組立体とともに3つのアクチュエータ・ユニット151、152、153を形成する。これらのアクチュエータ・ユニットのコイル・ユニットは、(図示しない)第2駆動ユニット上に装架することのできるステージ部材155に連結される。これらのアクチュエータを用いて、ステージ組立体150を正確に位置決めすることができる。これらのアクチュエータは、ステージ部材155に対して組立体150を相対的に小さく移動させることしかできない。しかし、Y方向に大きく移動させることができる第2駆動ユニット上にこのステージ部材を装架することによって、このステージ組立体を(アクチュエータ151、152、153によって)正確に位置決めし、かつY方向の長い距離にわたって移動させることができる。図15に示す壁159は、XY面又はYZ面に平行な表面からなり、したがって、ステージ組立体150及びステージ部材155をともに、前記のようにY方向に大きく移動させることができる。
アクチュエータ151及び152を用いて、ステージ組立体150をZ方向に位置決めし、またこの組立体をY軸の周りで回転させることができる。アクチュエータ153は、図7又は図8に示すアクチュエータ組立体とすることができるが、Y方向及びZ方向に力を提供する向きで配置される。図11〜図14で説明した実施例の場合と同様に、この駆動ユニット内に磁気支持装置を含めることによって、この駆動ユニットの効率を向上させることができる。図16に、可能な構成のXZ断面を示す。図16には、3つの磁石組立体を含むステージ組立体160を示す。この図には、それぞれ2つの磁石組立体を有する2つの磁気支持装置161及び162を示す。これらの磁気支持部により、ステージ組立体160とステージ部材165との間でZ方向に作用する力が得られる。さらに、この配置は、図7に示すアクチュエータ組立体を含む。このアクチュエータ組立体は、部分165と160との間にX方向及びZ方向の力をかけることのできる向きに配置する。図5〜図10に示すアクチュエータ組立体及び図11〜図13に示す磁気支持組立体は、図15及び図16に示す実施例のXY面及びYZ面でも用いることができるはずであることが当業者には理解されよう。
磁石組立体内でいわゆるハルバッチ配列(Halbach array)を用いることによって、これらの実施例に示すリニア・モータ又はアクチュエータの効率を向上させることができることが当業者には理解されよう。
以上、本発明の特定の実施例を説明してきたが、前記以外の方法で本発明を実施できることを理解されたい。この説明は本発明を限定するためのものではない。
本発明の実施例によるリソグラフィ装置を示す図。 第1駆動ユニットの第1及び第2部分が壁によって分離される、第1及び第2駆動ユニットの配置を示す概略図。 現況技術で周知のリニア・モータを示す概略図。 現況技術で周知のリニア・モータを示す概略図。 本発明の第1実施例によるリニア・モータを示す概略図。 図4aのリニア・モータの磁束線を示す概略図。 本発明の第2実施例によるリニア・モータを示す概略図。 本発明の第3実施例によるリニア・モータを示す概略図。 本発明の第4実施例によるリニア・モータを示す概略図。 本発明の第5実施例によるリニア・モータを示す概略図。 本発明の第6実施例によるリニア・モータを示す概略図。 本発明の実施例によるリニア・モータの配置を示す概略図。 本発明の他の実施例によるリニア・モータの配置を示す概略図。 本発明の実施例による磁気支持装置を示す概略図。 本発明の実施例による、リニア・モータ及び磁気支持装置の配置を示す概略図。 本発明の実施例による、リニア・モータと組み合わせた磁気支持装置を示す概略図。 本発明の実施例による、リニア・モータ及び磁気支持装置の配置を示す概略図。 本発明の実施例による、リニア・モータ及び磁気支持装置の配置を示す概略図。 本発明の実施例による、リニア・モータ及び磁気支持装置の配置を示す概略図。

Claims (13)

  1. 放射投影ビームを提供する照明装置と、
    前記投影ビームの横断面にパターンを付与する働きをするパターン化手段を保持する保持構造体と、
    基板を保持する基板テーブルと、
    前記基板の目標部分にパターン化されたビームを投影する投影装置と、
    前記保持構造体又は基板テーブルの少なくとも1つを位置決めする位置決め装置とを含むリソグラフィ装置であって、前記位置決め装置が、
    第1部分及び第2部分を含む第1駆動ユニットであって、該第1部分が、前記保持構造体又は前記基板テーブルに連結されかつ前記第2部分に対して相対的に移動可能な第1駆動ユニットと、
    前記第1駆動ユニットの前記第2部分に連結され、少なくとも1方向に前記第1駆動ユニットを移動させる第2駆動ユニットとを含むリソグラフィ装置において、
    前記第2駆動ユニット及び前記第1駆動ユニットの前記第2部分が、壁によって前記第1駆動ユニットの前記第1部分から分離されていることを特徴とするリソグラフィ装置。
  2. 前記壁が、前記第1駆動ユニットの前記第1部分及び前記保持構造体又は前記基板テーブルを取り囲む隔室の一部である請求項1に記載されたリソグラフィ装置。
  3. 前記壁が、前記第1駆動ユニットの前記第2部分及び前記第2駆動ユニットを取り囲む隔室の一部である請求項1に記載されたリソグラフィ装置。
  4. 前記第1駆動ユニットの前記第1部分が磁石装置を含み、前記第2部分が電気コイル装置を含む請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置。
  5. 前記第1駆動ユニットが、前記第1駆動ユニットの前記第1部分に連結された第1磁石組立体と、前記第1駆動ユニットの前記第2部分に連結された第2磁石組立体とを含む磁気支持装置をさらに含む請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置。
  6. 前記第2駆動ユニットが平面モータである請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置。
  7. 前記保持構造体又は前記基板テーブルが、前記第1駆動ユニットによって6自由度で位置決めされる請求項1から請求項6までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置。
  8. 実質的に平坦な前記壁が、実質的に非磁性材料でできている請求項1から請求項7までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置。
  9. 実質的に平坦な前記壁が、実質的に非導電材料でできている請求項1から請求項8までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置。
  10. 前記第1駆動ユニットが、調節された隔室の壁を前記第1駆動ユニットの前記第2部分に対して相対的に所定の距離で維持する空気軸受けをさらに含む請求項1から請求項9までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置。
  11. 第1部分及び第2部分を含む第1駆動ユニットであって、前記第1部分が、対象物テーブルに連結されかつ前記第2部分に対して相対的に移動可能な第1駆動ユニットと、
    前記第1駆動ユニットの前記第2部分に連結された第2駆動ユニットであって、前記第2駆動ユニットによって前記第1駆動ユニットを少なくとも1方向に移動させることができる第2駆動ユニットとを含む対象物テーブルを位置決めする位置決め装置において、
    前記第2駆動ユニット及び前記第1駆動ユニットの前記第2部分が、壁によって前記第1駆動ユニットの前記第1部分から分離されていることを特徴とする位置決め装置。
  12. デバイスを製造する方法において、
    放射感受性材料の層により少なくとも部分的に覆われた基板を提供する段階と、
    放射装置を使用して放射投影ビームを提供する段階と、
    パターン化手段を使用して前記投影ビームの横断面にパターンを付与する段階と、
    前記放射感受性材料の層の目標部分に前記パターン化された放射ビームを投影する段階と、
    位置決め装置によって前記パターン化手段又は基板の少なくとも1つを位置決めする段階であって、前記位置決め装置が、
    第1部分が、対象物に直接又は間接的に連結されかつ第2部分に対して相対的に移動可能な、第1部分及び第2部分を含む第1駆動ユニットと、
    前記第1駆動ユニットの前記第2部分に連結され、少なくとも1方向に前記第1駆動ユニットを移動させる第2駆動ユニットとを含む、位置決めする段階と、
    壁によって前記第1駆動ユニットの前記第1部分を前記第1駆動ユニットの前記第2部分から分離する段階を含む、デバイスを製造する方法。
  13. 請求項1から請求項11までのいずれか1項に記載されたリソグラフィ装置を使用することによって、LCD又は半導体デバイスを製造する、デバイスを製造する方法。
JP2004226806A 2003-08-04 2004-08-03 リソグラフィ装置 Expired - Fee Related JP4484621B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP03077439 2003-08-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005057289A true JP2005057289A (ja) 2005-03-03
JP4484621B2 JP4484621B2 (ja) 2010-06-16

Family

ID=34112466

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004226806A Expired - Fee Related JP4484621B2 (ja) 2003-08-04 2004-08-03 リソグラフィ装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7161657B2 (ja)
JP (1) JP4484621B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008091892A (ja) * 2006-09-11 2008-04-17 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
WO2009128321A1 (ja) * 2008-04-18 2009-10-22 株式会社安川電機 多自由度アクチュエータおよびステージ装置
JP2010246334A (ja) * 2009-04-09 2010-10-28 Yaskawa Electric Corp 多自由度アクチュエータ
JP2013207966A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Mitsubishi Electric Corp アクチュエータ

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7557470B2 (en) * 2005-01-18 2009-07-07 Massachusetts Institute Of Technology 6-axis electromagnetically-actuated meso-scale nanopositioner
US7459808B2 (en) * 2005-11-15 2008-12-02 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and motor
JP2009038204A (ja) * 2007-08-01 2009-02-19 Canon Inc 駆動装置及びそれを用いた露光装置、デバイス製造方法
JP2009136136A (ja) * 2007-09-26 2009-06-18 Asml Netherlands Bv 合成キャリヤを有するローレンツアクチュエータを有するリソグラフィ装置
US8432072B2 (en) * 2008-04-17 2013-04-30 Nikon Corporation Three axis linear actuator
US20100171375A1 (en) * 2009-01-08 2010-07-08 Chih-Mao Shiao Protected Magnetic Displacement Device
NL2005062A (en) * 2009-08-12 2011-02-15 Asml Netherlands Bv A positioning system and a method for positioning a substage with respect to a frame.
DE102012207082A1 (de) * 2012-04-27 2013-10-31 Physik Instrumente (Pi) Gmbh & Co. Kg Hochauflösende Positioniereinrichtung
EP2672321B1 (en) * 2012-06-04 2015-03-18 MI-Partners BV Device for positioning a waferchuck
NL2008935C2 (nl) * 2012-06-04 2013-12-05 Mi Partners B V Positioneerinrichting voor een waferchuck.
NL2008934C2 (nl) * 2012-06-04 2013-12-05 Mi Partners B V Positioneerinrichting voor een waferchuck.
CN104651781B (zh) * 2015-03-10 2020-03-03 合肥京东方光电科技有限公司 一种有机蒸汽材料的增压喷射沉积装置及方法
KR102415944B1 (ko) 2015-06-23 2022-07-04 삼성전자주식회사 지지 유닛 및 기판 처리 장치

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4952858A (en) 1988-05-18 1990-08-28 Galburt Daniel N Microlithographic apparatus
EP0529157A1 (en) 1991-08-22 1993-03-03 Mitsubishi Jukogyo Kabushiki Kaisha Alternating current magnetic levitation transport system
US5925956A (en) * 1995-06-30 1999-07-20 Nikon Corporation Stage construction incorporating magnetically levitated movable stage
US6151100A (en) 1996-12-12 2000-11-21 Canon Kabushiki Kaisha Positioning system
JP3155936B2 (ja) * 1997-06-26 2001-04-16 キヤノン株式会社 リニアモータとステージ装置及びこれを用いた走査型露光装置やデバイス製造方法
US6271606B1 (en) * 1999-12-23 2001-08-07 Nikon Corporation Driving motors attached to a stage that are magnetically coupled through a chamber
US6437463B1 (en) 2000-04-24 2002-08-20 Nikon Corporation Wafer positioner with planar motor and mag-lev fine stage
US6864601B2 (en) * 2001-03-01 2005-03-08 Nikon Corporation Electric motors with reduced stray magnetic fields
JP4110504B2 (ja) 2001-03-13 2008-07-02 株式会社安川電機 真空用モータ
TWI307526B (en) * 2002-08-06 2009-03-11 Nikon Corp Supporting device and the mamufacturing method thereof, stage device and exposure device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008091892A (ja) * 2006-09-11 2008-04-17 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
JP4704403B2 (ja) * 2006-09-11 2011-06-15 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 位置決めデバイス、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
WO2009128321A1 (ja) * 2008-04-18 2009-10-22 株式会社安川電機 多自由度アクチュエータおよびステージ装置
US8044541B2 (en) 2008-04-18 2011-10-25 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Multi-degree-of-freedom actuator and stage device
JP5387570B2 (ja) * 2008-04-18 2014-01-15 株式会社安川電機 多自由度アクチュエータおよびステージ装置
JP2010246334A (ja) * 2009-04-09 2010-10-28 Yaskawa Electric Corp 多自由度アクチュエータ
JP2013207966A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Mitsubishi Electric Corp アクチュエータ

Also Published As

Publication number Publication date
US7161657B2 (en) 2007-01-09
JP4484621B2 (ja) 2010-06-16
US20050030503A1 (en) 2005-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4368238B2 (ja) リソグラフィ装置、デバイス製造方法、及びそれによって製造されたデバイス
JP4167213B2 (ja) リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
US10114300B2 (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method
JP4484621B2 (ja) リソグラフィ装置
US7292317B2 (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing substrate stage compensating
KR100902644B1 (ko) 평면 모터 구동 지지체를 갖는 리소그래피 장치
JP4425256B2 (ja) リソグラフィ装置およびモータ
KR101142376B1 (ko) 리소그래피 장치 및 디바이스 제조방법
JP5192064B2 (ja) 変位デバイス、リソグラフィ装置および位置決め方法
JP2000201471A (ja) アクチュエ―タおよび変換器
JP2005317926A (ja) リソグラフィ位置決めデバイス及びデバイス製造方法
JP4188895B2 (ja) リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
JP5726794B2 (ja) 平面モータおよび平面モータを備えるリソグラフィ装置
JP4030512B2 (ja) リソグラフィ機器およびデバイスの製造方法
KR100666742B1 (ko) 리소그래피 장치 및 디바이스 제조방법
US9753381B2 (en) Substrate table system, lithographic apparatus and substrate table swapping method
NL2018129A (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20190258181A1 (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20060904

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070608

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070612

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20070614

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070906

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071002

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080124

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20080205

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20080509

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090629

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100208

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100323

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140402

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees