JP2004525455A5 - - Google Patents

Claims (13)

1. ４−２０ｍＡプロセス制御ループに結合可能な二つの端子を有するフィールド装置であって、
   ４−２０ｍＡプロセス制御ループから供給電流を取り出す電子機器装置と、
   前記電子機器装置により消費される供給電流に関連するパラメータを測定するのに適した供給電流測定回路と、
   複数の測定された供給電流パラメータに関わるデータを受信し蓄積するメモリ構体と、
   前記複数の供給電流パラメータに基づいて電子機器装置の寿命を計算するために、前記メモリ構体に接続された予測エンジンとからなるフィールド装置。
2. 前記フィールド装置がプロセス制御送信機である請求項１に記載のフィールド装置。
3. 前記フィールド装置がバルブである請求項１に記載のフィールド装置。
4. 前記予測エンジンが複数の蓄積供給電流パラメータに近似する線形曲線を適用する請求項１に記載のフィールド装置。
5. 前記予測エンジンが複数の蓄積供給電流パラメータに近似する非線形曲線を適用する請求項１に記載のフィールド装置。
6. 前記メモリ構体がアレーである請求項１に記載のフィールド装置。
7. 前記メモリ構体が複数のアレーからなり、第１アレーは複数の連続する測定供給電流に関わるデータを蓄積し、第２アレーは該第１アレーの測定時間に関わるデータを蓄積する請求項１に記載のフィールド装置。
8. 前記予測エンジンは寿命予測の計算のために、神経回路網分析を使用する請求項１に記載のフィールド装置。
9. 前記予測エンジンは寿命予測の計算のために、ファジー論理を使用する請求項１に記載のフィールド装置。
10. フィールド装置中の電子機器ボードの寿命を予測する方法であって、
    電気機器供給電流に関わる複数のパラメータを連続的に測定し、
    数学モデルを連続的に測定される供給電流パラメータに適用し、
    供給電流がある選択された閾値に到達すると予想される未来時間を計算する方法。
11. 前記未来時間の計算が神経回路網分析を用いて行われる請求項１０の方法。
12. 前記未来時間の計算がファジー論理を用いて行われる請求項１０の方法。
13. ４−２０ｍＡプロセス制御ループに接続されるフィールド装置であって、
    電子機器装置、
    ４−２０ｍＡプロセス制御ループに接続できる供給電流測定回路、
    および、複数の連続する供給電流測定に基づいて、電子機器ボードの残余の寿命を予測する手段とからなるフィールド装置。