JP2004325788A - 光学的検査方法及び光学的検査装置、並びに液晶表示装置の製造方法 - Google Patents

光学的検査方法及び光学的検査装置、並びに液晶表示装置の製造方法 Download PDF

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Masataka Nakano
Satoshi Ota
Manabu Ozeki
Tomohiro Wada
政剛 中野
智浩 和田
学 大関
智 太田
博史 掛林
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Sony Corp
ソニー株式会社
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Abstract

【課題】大幅な歩留まりの向上、品質及び生産性の向上を期待することができる液晶表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板1に保護ガラス4を仮止めし、光源11から第1の偏光板12を介して基板及び保護ガラスに照射され、透過した検査光を第2の偏光板13を介して光学系を有する受光部10で受光し、光学的特性の合否判定を行った後、所定の光学的特性を満たす場合には保護ガラスの本止めを行う一方、所定の光学的特性を満たさない場合には保護ガラスの剥離を行う。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は光学的検査方法及び光学的検査装置、並びに液晶表示装置の製造方法に関する。詳しくは、例えば、所定の間隙を介して対面配置された一対の基板を備える液晶表示装置の光学的検査方法及び光学的検査装置、並びに液晶表示装置の製造方法に係るものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、高精細の大型テレビ、ホームシアター及び液晶プロジェクターなどに用いられる投射型液晶表示装置では、液晶パネル面上の埃や傷の発生により、投射時にそれらの埃や傷が拡大投影されてしまうために、仮に保護ガラス上に埃が付着、または傷が発生したとしても、これらの埃や傷がデフォーカスされることで、投影映像に埃や傷が映し出されることを防止すべく液晶パネル上に所定の厚さを有する保護ガラスを貼り合わせている(例えば、特許文献1参照。)。
【0003】
即ち、図5で示す様に、シール剤101によって所定の間隔を介して接着されたガラス等を基材としたTFT(Thin Film Transistor)基板102と対向基板103からなる液晶パネル104に保護ガラス105を液晶パネルのいずれか片面もしくは両面に接着剤106で貼り合わせている。
【0004】
この様に、投射型液晶表示装置においては、埃や傷をデフォーカスし、投影映像に埃や傷が映し出されることを防止する目的で液晶パネル上に保護ガラスを接着剤で貼り合わせているが、保護ガラスを貼り合わせる工程において、貼り合わせ時のダストの混入が問題となっている。なお、ダストの混入は、画像を表示した際に画像ムラ、輝点、滅点不良等の光学特性を悪化させる原因となる。
【0005】
そこで、従来、液晶パネルと保護ガラスを貼り合わせた後に、図6で示す様に、ライト107から被検査面である液晶パネルと保護ガラスの境界領域付近に検査光を照射し、被検査面での反射光をCCDカメラ108で受光して、反射光量に基づいてダストの混入を検出している(例えば、特許文献2参照。)。
【0006】
【特許文献1】
特開平7−209635号公報 (第2−9頁、第2図)
【0007】
【特許文献2】
特開2002−277411号公報 (第2−5頁、第1図)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、被検査面での反射光量に基づいてダストの混入を検出する方法では、光を透過しないダストについては検出ができるものの、例えば、透明系異物等の光を透過するダストについてはダストが検査光を反射しないために、ダストの検出がされ難いという不具合があった。
【0009】
本発明は上記の点に鑑みて創案されたものであって、高精度な光学的検査方法及び光学的検査装置、並びにそれを適用した液晶表示装置の製造方法を提供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明に係る光学的検査方法は、光源から第1の偏光板を介して被照射物に検査光を照射する工程と、光学系を有する受光部によって前記被照射物を透過した前記検査光を第2の偏光板を介して受光し、光学特性の合否判定を行う工程を備える。
【0011】
ここで、光源から第1の偏光板を介して被照射物に検査光を照射することによって、第1の偏光板により偏光された検査光を被照射物に照射することができる。
また、光学系を有する受光部によって被照射物を透過した検査光を第2の偏光板を介して受光することによって、受光部によって第2の偏光板により偏光された被照射物の透過光を受光することができる。
【0012】
また、上記の目的を達成するために、本発明に係る光学的検査装置は、光源と、該光源と被照射物の間に配置された第1の偏光板と、前記被照射物と光学系を有する受光部の間に配置された第2の偏光板を備える。
【0013】
ここで、第1の偏光板によって、被照射物に照射する光を偏光することができる。
また、第2の偏光板によって、受光部によって受光する被照射物の透過光を偏光することができる。
【0014】
また、上記の目的を達成するために、本発明に係る液晶表示装置の製造方法は、所定の間隙を介して対面配置された一対の基板を備え、少なくとも一方の基板に保護ガラスが貼り合わせられた液晶表示装置の製造方法において、透明接着剤によって前記基板に前記保護ガラスを仮止めする工程と、前記基板と前記保護ガラスの境界領域付近に光学系の焦点を合わせる工程と、光源から第1の偏光板を介して前記基板及び保護ガラスに検査光を照射する工程と、前記光学系を有する受光部によって前記基板及び保護ガラスを透過した前記検査光を第2の偏光板を介して受光し、光学特性の合否判定を行う工程と、前記合否判定の結果、所定の光学特性を満たす場合には前記保護ガラスの本止めを行う一方、所定の光学特性を満たさない場合には前記保護ガラスを剥離する工程を備える。
【0015】
ここで、光源から第1の偏光板を介して基板及び保護ガラスに検査光を照射することによって、第1の偏光板により偏光された検査光を基板及び保護ガラスに照射することができる。
また、光学系を有する受光部によって基板及び保護ガラスを透過した検査光を第2の偏光板を介して受光することによって、受光部によって第2の偏光板により偏光された基板及び保護ガラスの透過光を受光することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明し、本発明の理解に供する。
【0017】
図1は本発明を適用した液晶表示装置の製造方法の一例である、透過型液晶表示装置の製造方法を説明するための模式的な断面図であり、本発明を適用した透過型液晶表示装置の製造方法では、先ず、図1(a)で示す様に、シール剤(図示せず)によって所定の間隔を介して接着されたガラス等を基材としたTFT基板1と対向基板2からなる液晶パネル3のTFT基板に保護ガラス4を紫外線硬化型樹脂(以下、UV硬化型樹脂と言う)5を用いて仮止めする。
【0018】
ここで、保護ガラスの仮止め方法の一例としては、図2で示す様に、減圧チャンバー6内において保護ガラスを保持部材7で固定し、液晶パネルのTFT基板表面にUV硬化型樹脂を1ヶ所あるいは数ヶ所に滴下または線状若しくは面状に塗布した後、減圧チャンバーの系内圧を絶対圧50kPa以下にし、減圧下で保護ガラスを0.1〜50mm/sec.の重ね合わせ速度で、加圧機8で500g〜50kgの荷重をかけながら重ね合わせる。
【0019】
なお、加圧機の重ね合わせ速度を0.1〜50mm/sec.に調整することで、比較的高い減圧下で気泡混入がない重ね合わせが可能となり、この様な減圧下の重ね合わせでは大気圧と比べて気泡が膨張することで気泡が抜けやすくなる。また、絶対圧50kPaでは、重ね合わせ速度0.1mm/sec.に調整することで液晶パネルと保護ガラス間に気泡が無い重ね合わせが可能であった。更に、加圧機の重ね合わせ荷重を大きくすることによって、UV硬化型樹脂の広がり速度が大きくなり、重ね合わせ時間の短縮が可能となる。
【0020】
また、減圧チャンバーの系内圧が絶対圧200kPa未満の場合にはUV硬化型樹脂の塗布位置に関係無く気泡が発生することはないが、減圧チャンバーの系内圧が絶対圧200kPa以上の場合には、点塗布において、図3で示す様にUV硬化型樹脂を下向きに塗布した状態で重ね合わせを行った方が気泡の発生率の低減を図ることができ好ましい。これは、UV硬化型樹脂を下向きに塗布した方がUV硬化型樹脂の先端が鋭角になり、接触時に発生する気泡を抑制することができるためである。なお、UV硬化型樹脂の滴下位置は図4で示す様に一点または多点滴下する方法があり、いずれも気泡が発生することはないが、中央部に1点滴下する方法(a)の場合にはUV硬化型樹脂の移動距離が長く、液晶パネル全面へのUV硬化型樹脂の広がり時間がかかるのに対し、多点滴下または面塗布する方法(b)〜(h)では、UV硬化型樹脂の移動距離が短くなり、UV硬化型樹脂の広がり時間を短縮することができる。
【0021】
保護ガラスを重ね合わせた後は、常圧に系内を戻し、UV光発生装置9から照射されたUV光を液晶パネルの有効画素以外の領域に当て、TFT基板と保護ガラスの仮止めを行う。なお、UV照射条件としては10〜100mJ/cmが望ましい。
【0022】
ここで、TFT基板と保護ガラスの仮止めを行うことによって、後述する混入ダストの検査工程までの搬送系においてTFT基板と保護ガラスの位置がずれることを抑制することができる。
なお、TFT基板と保護ガラスの仮止めを行うことができるのであれば、必ずしもUV硬化型樹脂を用いる必要は無く、例えば加熱することで仮止めを行うことができる透明接着剤等であっても良い。同様に、TFT基板と保護ガラスの仮止めを行うことができれば充分であり、必ずしもUV光を液晶パネルの有効画素以外の領域に当てることによって仮止めを行わなければならないというものではないが、UV光はそのエネルギーが強く、半導体素子が破壊されてしまう恐れがあるために、仮止めの際には液晶パネルの有効画素以外の領域に照射する方が好ましい。
【0023】
さて、TFT基板に保護ガラスを重ね合わせ、TFT基板と保護ガラスの仮止めを行った後に、CCDカメラ10の垂直高さを調整することにより被検査面であるTFT基板と保護ガラスの境界領域付近にCCDカメラのレンズのフォーカスを合わせる。続いて、図1(b)で示す様に、ライト11から発せられ、第1の偏光板12、対向基板、TFT基板及びTFT基板に仮止めされた保護ガラス及び第1の偏光板と90°回転させた状態で配置された第2の偏光板13を透過した検査光をCCDカメラで受光し、受光した検査光に基づいてTFT基板と保護ガラスの境界領域付近のダストの混入の有無を検査する。
【0024】
上記したTFT基板と保護ガラスの境界領域付近における混入ダストの検査によって、ダストの混入が検出されなかった場合には、UV光を照射することによりTFT基板に保護ガラスを本止めする。
なお、上記したTFT基板と保護ガラスの境界領域付近における混入ダストの検査によって、ダストの混入が検出された場合には、保護ガラスを剥離し、TFT基板表面及び保護ガラスにクリーニング作業を施した後に、再度、TFT基板と保護ガラスの仮止めを行い、上述の方法でダストの混入の有無の検査を行う。
【0025】
その後、TFT基板に保護ガラスを仮止めしたのと同様にして図1(c)で示す様に、対向基板に保護ガラスを仮止めし、上記したTFT基板と保護ガラスの境界領域付近におけるダストの混入を検査したのと同様にして図1(d)で示す様に、対向基板と保護ガラスの境界領域付近におけるダストの混入を検査する。
【0026】
上記した対向基板と保護ガラスの境界領域付近における混入ダストの検査によって、ダストの混入が検出されなかった場合には、UVを照射することによって対向基板に保護ガラスを本止めする。
なお、上記した対向基板と保護ガラスの境界領域付近における混入ダストの検査によって、ダストの混入が検出された場合には、保護ガラスを剥離し、対向基板表面及び保護ガラスのクリーニング作業を施した後に、再度、対向基板と保護ガラスの仮止めを行い、上述の方法でダストの混入の有無の検査を行う。
【0027】
上記した本発明を適用した液晶表示装置の製造方法における光学的検査方法では、光を透過しないダストのみならず光を透過するダストについても検出を行うことができる。
即ち、ライトからの検査光は第1の偏光板及びこの第1の偏光板と90°回転させた状態で配置された第2の偏光板を通過した後にCCDカメラによって受光されるために、被検査面に偏光の乱れを生じるダストが存在しない場合には、CCDカメラにおいては所定の光量が検出される。一方、検査光を透過しないダストが存在する場合にはダストが存在する領域においてCCDカメラで検出される光量が減少し、また、検査光を透過するダストが存在する場合には偏光の乱れによってダストが存在する周辺領域においてCCDカメラで検出される光量が増加するために、これらCCDカメラで検出される光量の変化を検出することによって、光を透過しないダストのみならず光を透過するダストについても検出を行うことができる。
【0028】
上記した様に、光を透過しないダストのみならず光を透過するダストについても検出を行うことができるために、大幅な歩留まり、品質及び生産性の向上を期待することができる。即ち、従来は検査段階において光を透過するダストの検出を行うことができなかったために、光を透過するダストが混入している場合であっても、液晶パネルからの保護ガラスの剥離・保護ガラス及び液晶パネル表面のクリーニング・保護ガラスの再度の貼り合わせといった再生作業を行うべきであると認識することができなかったが、光を透過するダストの検出を行うことができるために、液晶表示装置の製造過程において光を透過するダストが混入している場合に再生作業を行う必要があると認識することができ、再生作業を通じて大幅な歩留まり、品質及び生産性の向上を期待することができる。
【0029】
また、本発明を適用した液晶表示装置の製造方法では、TFT基板あるいは対向基板と保護ガラスを仮止めした状態で光学的検査を行い、ダストの混入が検出されなかった場合にTFT基板あるいは対向基板と保護ガラスを本止めしているために、大幅な歩留まり及び生産性の向上を期待することができる。即ち、従来はTFT基板あるいは対向基板と保護ガラスを重ね合わせた後に、液晶パネル全体にUV照射を行いUV硬化型樹脂を硬化していたために、検査工程においてダストの混入が検出された場合に、保護ガラスをTFT基板あるいは対向基板から剥離する再生工程において保護ガラスの毀損等が生じたり、保護ガラスの剥離に多くの時間が必要となったりするケースが多かったが、本発明を適用した液晶表示装置の製造方法では、再生工程で再生する段階では仮止めのみが施されている状態であるために、再生工程において保護ガラスの毀損等が生じることは少なく、保護ガラスの剥離に多くの時間は必要とせず、大幅な歩留まり及び生産性の向上を期待することができる。
【0030】
なお、上記では、本発明を適用した液晶表示装置の製造方法として透過型液晶表示装置の製造方法を例に挙げて説明を行っているが、液晶表示装置としては透過型液晶表示装置に限定する必要は無く、半透過型液晶表示装置や反射型液晶表示装置であっても構わない。
【0031】
【発明の効果】
以上述べてきた如く、本発明の光学的検査方法及び光学的検査装置では、精度の高い検査を行うことができる。
【0032】
また、本発明を適用した液晶表示装置の製造方法では、大幅な歩留まりの向上、品質及び生産性の向上を期待することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した液晶表示装置の製造方法の一例を説明するための模式的な断面図である。
【図2】保護ガラスの仮止め方法の一例を説明するための模式的な図である。
【図3】保護ガラスの仮止め方法の変形例を説明するための模式的な図である。
【図4】UV硬化型樹脂の滴下位置を表す図である。
【図5】従来の保護パネルを貼り合わせた液晶パネルを説明するための断面図である。
【図6】従来の光学的検査方法を説明するための図である。
【符号の説明】
1 TFT基板
2 対向基板
3 液晶パネル
4 保護ガラス
5 UV硬化型樹脂
6 減圧チャンバー
7 保持部材
8 加圧機
9 UV光発生装置
10 CCDカメラ
11 ライト
12 第1の偏光板
13 第2の偏光板

Claims (9)

  1. 光源から第1の偏光板を介して被照射物に検査光を照射する工程と、
    光学系を有する受光部によって前記被照射物を透過した前記検査光を第2の偏光板を介して受光し、光学特性の合否判定を行う工程を備える
    ことを特徴とする光学的検査方法。
  2. 前記第2の偏光板は、前記第1の偏光板を90°回転させた状態で配置された
    ことを特徴とする請求項1に記載の光学的検査方法。
  3. 光源と、
    該光源と被照射物の間に配置された第1の偏光板と、
    前記被照射物と光学系を有する受光部の間に配置された第2の偏光板を備える
    ことを特徴とする光学的検査装置。
  4. 前記光学系は垂直方向に可動自在に形成された
    ことを特徴とする請求項3に記載の光学的検査装置。
  5. 前記第2の偏光板は、前記第1の偏光板を90°回転させた状態で配置された
    ことを特徴とする請求項3または請求項4に記載の光学的検査装置。
  6. 所定の間隙を介して対面配置された一対の基板を備え、少なくとも一方の基板に保護ガラスが貼り合わせられた液晶表示装置の製造方法において、
    透明接着剤によって前記基板に前記保護ガラスを仮止めする工程と、
    前記基板と前記保護ガラスの境界領域付近に光学系の焦点を合わせる工程と、
    光源から第1の偏光板を介して前記基板及び保護ガラスに検査光を照射する工程と、
    前記光学系を有する受光部によって前記基板及び保護ガラスを透過した前記検査光を第2の偏光板を介して受光し、光学特性の合否判定を行う工程と、
    前記合否判定の結果、所定の光学特性を満たす場合には前記保護ガラスの本止めを行う一方、所定の光学特性を満たさない場合には前記保護ガラスを剥離する工程を備える
    ことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
  7. 前記第2の偏光板は、前記第1の偏光板を90°回転させた状態で配置された
    ことを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置の製造方法。
  8. 前記透明接着剤は、紫外線が照射されることによって硬化することを特徴とする請求項6または請求項7に記載の液晶表示装置の製造方法。
  9. 前記仮止めは、画素部以外の領域に紫外線を照射することによって行う
    ことを特徴とする請求項8に記載の液晶表示装置の製造方法。
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Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006292993A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 Mitsubishi Electric Corp 貼り合わせ装置
WO2007063818A1 (ja) * 2005-11-30 2007-06-07 Seiko Instruments Inc. 貼り合わせ方法、及び、表示装置の製造方法
JP2008233593A (ja) * 2007-03-22 2008-10-02 Seiko Epson Corp 電気光学装置の製造方法
JP2008299021A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査方法及び装置
WO2009011369A1 (ja) * 2007-07-17 2009-01-22 Sony Chemical & Information Device Corporation 表示装置の製造方法
WO2009011370A1 (ja) * 2007-07-17 2009-01-22 Sony Chemical & Information Device Corporation 表示装置の製造方法
JP2009048214A (ja) * 2005-11-29 2009-03-05 Seiko Instruments Inc 表示装置の製造方法、及び、貼り合わせ方法
JP2009205065A (ja) * 2008-02-29 2009-09-10 Hitachi Displays Ltd 表示装置の製造方法
JP2009237287A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Toshiba Mobile Display Co Ltd 平面表示装置の製造方法及び製造装置
JP2010060815A (ja) * 2008-09-03 2010-03-18 Casio Comput Co Ltd 保護板一体型液晶表示パネル
CN102109702A (zh) * 2009-12-25 2011-06-29 东芝移动显示器有限公司 平板显示设备的制造方法及其粘合性树脂涂覆器械
JP2012058417A (ja) * 2010-09-07 2012-03-22 Hitachi Plant Technologies Ltd タッチパネル付き3d表示パネル装置の組立システム
US8617343B2 (en) 2009-12-25 2013-12-31 Japan Display Central Inc. Manufacturing method of flat-panel display device and bonding press apparatus therefor
KR20150041810A (ko) * 2007-04-10 2015-04-17 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
WO2015197126A1 (de) * 2014-06-26 2015-12-30 Ev Group E. Thallner Gmbh Verfahren zum bonden von substraten mit verteilen eines verbindungsmaterials durch annähern der substrate
US9348062B2 (en) 2007-04-09 2016-05-24 Dexerials Corporation Image display device
US9423638B2 (en) 2006-07-14 2016-08-23 Dexerials Corporation Resin composition and display unit
US9885895B2 (en) 2007-07-17 2018-02-06 Dexerials Corporation Image display device and production method thereof
US10216026B2 (en) 2007-04-09 2019-02-26 Dexerials Corporation Image display device that can display high brightness and high contrast images and includes a cured resin layer

Cited By (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006292993A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 Mitsubishi Electric Corp 貼り合わせ装置
JP2009048214A (ja) * 2005-11-29 2009-03-05 Seiko Instruments Inc 表示装置の製造方法、及び、貼り合わせ方法
WO2007063818A1 (ja) * 2005-11-30 2007-06-07 Seiko Instruments Inc. 貼り合わせ方法、及び、表示装置の製造方法
US7927440B2 (en) * 2005-11-30 2011-04-19 Seiko Instruments Inc. Bonding method and method of manufacturing a display device
JP2009058968A (ja) * 2005-11-30 2009-03-19 Seiko Instruments Inc 表示装置の製造方法
KR101132103B1 (ko) 2005-11-30 2012-04-05 세이코 인스트루 가부시키가이샤 접합 방법, 및, 표시 장치의 제조 방법
US10989943B2 (en) 2006-07-14 2021-04-27 Dexerials Corporation Resin composition and display unit
US10989944B2 (en) 2006-07-14 2021-04-27 Dexerials Corporation Resin composition and display unit
US9423638B2 (en) 2006-07-14 2016-08-23 Dexerials Corporation Resin composition and display unit
US10684498B2 (en) 2006-07-14 2020-06-16 Dexerials Corporation Resin composition and display unit
US9885900B2 (en) 2006-07-14 2018-02-06 Dexerials Corporation Resin composition and display unit
JP2008233593A (ja) * 2007-03-22 2008-10-02 Seiko Epson Corp 電気光学装置の製造方法
US10725329B2 (en) 2007-04-09 2020-07-28 Dexerials Corporation Image display device that can display high brightness and high contrast images and includes a cured resin layer
US10216026B2 (en) 2007-04-09 2019-02-26 Dexerials Corporation Image display device that can display high brightness and high contrast images and includes a cured resin layer
US9348062B2 (en) 2007-04-09 2016-05-24 Dexerials Corporation Image display device
US9354462B2 (en) 2007-04-09 2016-05-31 Dexerials Corporation Image display device
KR101749478B1 (ko) 2007-04-10 2017-06-20 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
KR101698020B1 (ko) 2007-04-10 2017-01-19 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
KR102185076B1 (ko) * 2007-04-10 2020-12-01 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
KR20160084485A (ko) * 2007-04-10 2016-07-13 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
KR101636824B1 (ko) * 2007-04-10 2016-07-07 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
US10876013B2 (en) 2007-04-10 2020-12-29 Dexerials Corporation Method for producing image display apparatus
KR101573699B1 (ko) * 2007-04-10 2015-12-02 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
KR20180079466A (ko) * 2007-04-10 2018-07-10 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
KR20150041810A (ko) * 2007-04-10 2015-04-17 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 화상 표시 장치의 제조 방법, 및 화상 표시 장치
JP2008299021A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査方法及び装置
JP2009186962A (ja) * 2007-07-17 2009-08-20 Sony Chemical & Information Device Corp 表示装置の製造方法
JP2009186961A (ja) * 2007-07-17 2009-08-20 Sony Chemical & Information Device Corp 表示装置の製造方法
US8152945B2 (en) 2007-07-17 2012-04-10 Sony Chemical & Information Device Corporation Method for producing display device
US8152947B2 (en) 2007-07-17 2012-04-10 Sony Chemical & Information Device Corporation Method for producing display device
WO2009011370A1 (ja) * 2007-07-17 2009-01-22 Sony Chemical & Information Device Corporation 表示装置の製造方法
US9885895B2 (en) 2007-07-17 2018-02-06 Dexerials Corporation Image display device and production method thereof
WO2009011369A1 (ja) * 2007-07-17 2009-01-22 Sony Chemical & Information Device Corporation 表示装置の製造方法
JP2009205065A (ja) * 2008-02-29 2009-09-10 Hitachi Displays Ltd 表示装置の製造方法
JP2009237287A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Toshiba Mobile Display Co Ltd 平面表示装置の製造方法及び製造装置
JP2010060815A (ja) * 2008-09-03 2010-03-18 Casio Comput Co Ltd 保護板一体型液晶表示パネル
CN102109702A (zh) * 2009-12-25 2011-06-29 东芝移动显示器有限公司 平板显示设备的制造方法及其粘合性树脂涂覆器械
US8617343B2 (en) 2009-12-25 2013-12-31 Japan Display Central Inc. Manufacturing method of flat-panel display device and bonding press apparatus therefor
US8764930B2 (en) 2009-12-25 2014-07-01 Japan Display Central Inc. Manufacturing method of flat-panel display device and adhesive-resin application apparatus therefor
JP2012058417A (ja) * 2010-09-07 2012-03-22 Hitachi Plant Technologies Ltd タッチパネル付き3d表示パネル装置の組立システム
US9929124B2 (en) 2014-06-26 2018-03-27 Ev Group E. Thallner Gmbh Method for bonding substrates
WO2015197126A1 (de) * 2014-06-26 2015-12-30 Ev Group E. Thallner Gmbh Verfahren zum bonden von substraten mit verteilen eines verbindungsmaterials durch annähern der substrate

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