JP2004154915A - 加工装置の温度制御装置 - Google Patents

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JP2004154915A JP2002325160A JP2002325160A JP2004154915A JP 2004154915 A JP2004154915 A JP 2004154915A JP 2002325160 A JP2002325160 A JP 2002325160A JP 2002325160 A JP2002325160 A JP 2002325160A JP 2004154915 A JP2004154915 A JP 2004154915A
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武臣 福岡
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Abstract

【課題】高額な恒温室に配置することなく各機構の温度変化を少なくすることができる加工装置の温度制御装置を提供する。
【解決手段】加工装置の温度制御装置、加工装置を構成する各機構の温度をそれぞれ検出する温度センサーと、各機構の配置領域にそれぞれ温風を供給する温風供給手段と、温度センサーからの検出温度に基づいて温風供給手段を制御する制御手段とを具備している。制御手段は、各機構の保持すべき常温以上の設定温度を記憶する記憶手段を備えており、温度センサーからの検出温度が記憶手段に記憶された設定温度より低い場合には、温風供給手段を作動して設定温度より低い所定の機構の配置領域に温風を供給する。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を切削するための切削装置等の加工装置の温度制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
当業者には周知の如く、半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリート(切断ライン)によって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等の回路を形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによって回路が形成された領域を分離して個々の半導体チップを製造している。半導体ウエーハのストリートに沿った切断は、通常、ダイサーと称されている切削装置によって行われている。この切削装置は、被加工物を保持するチャックテーブル機構と、該チャックテーブル機構に保持された被加工物の切削すべき領域を切削する切削機構と、該チャックテーブル機構を切削送り方向に作動する切削送り機構と、切削機構を割り出し送り方向に作動する割り出し送り機構と、切削機構を切り込み送り方向に作動する切り込み送り機構、チャックテーブル機構に保持された被加工物の切削すべき領域を検出する撮像機構等によって構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上述した切削装置等の精密加工装置は、各機構に温度変化が生ずると、各機構の構成部材が伸縮して精密加工が不可能になることから、高額な恒温室に配置するとともに、各機構に温度変化が生じないように冷却水等を供給してコントロールしているため、維持費用が高額となる。
【0004】
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、高額な恒温室に配置することなく各機構の温度変化を少なくすることができる加工装置の温度制御装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、加工装置を構成する各機構の温度をそれぞれ検出する温度センサーと、該各機構の配置領域にそれぞれ温風を供給する温風供給手段と、該温度センサーからの検出温度に基づいて該温風供給手段を制御する制御手段とを具備し、
該制御手段は、該各機構の保持すべき常温以上の設定温度を記憶する記憶手段を備えており、該温度センサーからの検出温度が該記憶手段に記憶された設定温度より低い場合には、該温風供給手段を作動して設定温度より低い所定の機構の配置領域に温風を供給する、
ことを特徴とする加工装置の温度制御装置が提供される。
【0006】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に従って構成された加工装置の温度制御装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【0007】
図1には、本発明に従って構成された加工装置としての切削装置の温度制御装置が示されている。
図示の切削装置1は、静止基台2と、該静止基台2に切削送り方向である矢印Xで示す方向に移動可能に配設され被加工物を保持するチャックテーブル機構3と、静止基台2に割り出し送り方向である矢印Yで示す方向(切削送り方向である矢印Xで示す方向に直角な方向)に移動可能に配設されたスピンドル支持機構4と、該スピンドル支持機構4に切り込み送り方向である矢印Zで示す方向(矢印XおよびYで示す方向に直角な方向)に移動可能に配設された切削機構としてのスピンドルユニット5が配設されている。
【0008】
上記チャックテーブル機構3は、静止基台2上に矢印Xで示す方向に沿って平行に配設された2本の案内レール31、32と、該案内レール31、32上に矢印Xで示す方向に移動可能に配設された被加工物保持機構としてのチャックテーブル33と、該チャックテーブル33を支持するチャックテーブル支持機構34を具備している。このチャックテーブル支持機構34は、案内レール31、32上に移動可能に配設されたチャックテーブル支持台341と、該チャックテーブル支持台341上に配設された円筒部材342と、該円筒部材342の上端に装着されチャックテーブル33の上面から所定高さ下方に配設された防水カバー343を具備している。上記チャックテーブル33は、円筒部材342に配設された図示しない回転軸の上端に取り付けられ、その上面に被加工物である例えば円盤状の半導体ウエーハを図示しない吸引手段によって保持するようになっている。
【0009】
図示の実施形態におけるチャックテーブル機構3は、チャックテーブル33を2本の案内レール31、32に沿って矢印Xで示す切削送り方向に移動させるための駆動機構35を具備している。駆動機構35は、上記2本の案内レール31と32の間に平行に配設された雄ネジロッド351と、該雄ネジロッド351を回転駆動するためのサーボモータ352等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド351は、その一端が上記静止基台2に固定された軸受ブロック353に回転自在に支持されており、その他端が上記サーボモータ352の出力軸に図示しない減速装置を介して伝動連結されている。なお、雄ネジロッド351は、チャックテーブル33を構成するチャックテーブル支持台341の中央部下面に突出して設けられた図示しない雌ネジブロックに形成された貫通雌ネジ穴に螺合されている。従って、サーボモータ352によって雄ネジロッド351を正転および逆転駆動することにより、チャックテーブル33は案内レール31、32に沿って矢印Xで示す切削送り方向に移動せしめられる。従って、サーボモータ352、雄ネジロッド351および軸受ブロック353は、チャックテーブルと後述するスピンドルユニットとを切削送り方向である矢印Xで示す方向に相対的に移動する切削送り機構として機能する。
【0010】
上記スピンドル支持機構4は、静止基台2上に矢印Yで示す割り出し送り方向に沿って平行に配設された2本の案内レール41、42と、該案内レール41、42上に矢印Yで示す方向に移動可能に配設された可動支持基台43を具備している。この可動支持基台43は、案内レール41、42上に移動可能に配設された移動支持部431と、該移動支持部431に取り付けられた装着部432とからなっている。装着部432は、一側面に矢印Zで示す方向に延びる2本の案内レール432a、432aが平行に設けられている。図示の実施形態におけるスピンドル支持機構4は、可動支持基台43を2本の案内レール41、42に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動させるための駆動機構44を具備している。駆動機構44は、上記2本の案内レール41、42の間に平行に配設された雄ネジロッド441と、該雄ねじロッド441を回転駆動するためのパルスモータ442等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド441は、その一端が上記静止基台2に固定された図示しない軸受ブロックに回転自在に支持されており、その他端が上記パルスモータ442の出力軸に図示しない減速装置を介して伝動連結されている。なお、雄ネジロッド441は、可動支持基台43を構成する移動支持部431の中央部下面に突出して設けられた図示しない雌ネジブロックに形成された雌ネジ穴に螺合されている。このため、パルスモータ442によって雄ネジロッド441を正転および逆転駆動することにより、可動支持基台43は案内レール41、42に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられる。従って、パルスモータ442および雄ネジロッド441等は、チャックテーブルと後述するスピンドルユニットとを切削送り方向(矢印X方向)と直角な矢印Yで示す割り出し送り方向に相対的に移動する割り出し送り機構として機能する。
【0011】
図示の実施形態のおける切削機構としてのスピンドルユニット5は、ユニットホルダ51と、該ユニットホルダ51に取り付けられたスピンドルハウジング52と、該スピンドルハウジング52に回転可能に支持された回転スピンドル53を具備している。ユニットホルダ51は、上記装着部432に設けられた2本の案内レール432a、432aに摺動可能に嵌合する2本の被案内レール51a、51aが設けられており、この被案内レール51a、51aを上記案内レール432a、432aに嵌合することにより、矢印Zで示す切り込み送り方向に移動可能に支持される。上記回転スピンドル53はスピンドルハウジング52の先端から突出して配設されており、この回転スピンドル53の先端部に切削ブレード54が装着されている。切削ブレード54を装着した回転スピンドル53は、サーボモータ55等の駆動源によって回転駆動せしめられる。
【0012】
図示の実施形態におけるスピンドルユニット5は、ホルダ51を2本の案内レール432a、432aに沿って矢印Zで示す方向に移動させるための駆動手段58を具備している。駆動機構58は、上記駆動機構35および44と同様に案内レール432a、432aの間に配設された雄ネジロッド(図示せず)と、該雄ネジロッドを回転駆動するためのパルスモータ582等の駆動源を含んでおり、パルスモータ582によって図示しない雄ネジロッドを正転および逆転駆動することにより、ユニットホルダ51とスピンドルハウジング52および回転スピンドル53を案内レール432a、432aに沿って矢印Zで示す切り込み送り方向に移動せしめる。なお、スピンドルユニット5を構成するスピンドルハウジング52の前端部には、半導体ウエーハ等の被加工物に形成されたストリート等を撮像するための顕微鏡やCCDカメラ等で構成された撮像機構6が配設されている。
【0013】
上述した切削装置1は、上記各機構の温度変化を少なくするための温度制御装置7を具備している。図示の温度制御装置7は、上記各機構のうち主要な機構にそれぞれ配設された温度センサーTS1、TS2、TS3、TS4、TS5、TS6と、該各温度センサーが配設された機構の配置領域にそれぞれ温風を供給する温風供給手段8と、各温度センサーからの検出温度に基づいて温風供給手段8を制御する制御手段9とからなっている。
【0014】
上記温度センサーTS1、TS2、TS3、TS4、TS5、TS6は、それぞれ配設した機構の温度を検出し、その検出信号を制御手段9に送る。上記温風供給手段8は、温風送風手段81と、該温風送風手段81に一端が接続され他端の吹き出し口が上記温度センサーが配設された各機構(No.1,No.2、No.3、No.4、No.5、No.6)の配置領域にそれぞれ配設された温風ダクト821、822、823、824、825、826と、該各温風ダクトにそれぞれ配設された電磁切替え弁V1、V2、V3、V4、V5、V6とからなっている。制御手段9はマイクロコンピュータによって構成されており、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置(CPU)91と、制御プログラム等を格納するリードオンリメモリ(ROM)92と、演算結果等を格納する読み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)93と、入力インターフェース94および出力インターフェース95とを備えている。なお、上記リードオンリメモリ(ROM)92には、図2に示すように上記主要な機構(No.1,No.2、No.3、No.4、No.5、No.6)の保持すべき設定温度テーブルが格納されている、従って、リードオンリメモリ(ROM)は、各機構の保持すべき設定温度を記憶する記憶手段として機能する。なお、各機構の設定温度は、常温以上に設定されるとともに、各機構に使用している材料の熱膨張率に基づいて相対的に設定されている。このように構成された制御手段9の入力インターフェース94には、上記各温度センサーTS1、TS2、TS3、TS4、TS5、TS6からの検出信号が入力される。そして、制御手段9の出力インターフェース95からは、上記温風供給手段8の温風送風手段81および電磁切替え弁V1、V2、V3、V4、V5、V6に制御信号を出力する。
【0015】
図示の実施形態における加工装置の温度制御装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
上記各温度センサーTS1、TS2、TS3、TS4、TS5、TS6によって検出された温度信号は、所定周期毎に制御手段9に取り込まれ、ランダムアクセスメモリ(RAM)93に一時格納される。そして制御手段9は、各温度センサーによって検出された検出温度とリードオンリメモリ(ROM)に格納された図2のテーブルに示す各温度センサーが配設された機構のNo.に対応する設定温度とを比較し、検出温度が設定温度より低い場合には温風送風手段81を作動するとともに該No.の機構の配置領域に温風を供給する温風ダクトに配設された電磁切替え弁を付勢(ON)して開路する。例えば、温度センサーTS1によって検出された検出温度が図2のテーブルに示すNo.1の機構の設定温度(45°C)より低い場合には、制御手段9は温風送風手段81を作動するとともに電磁切替え弁V1を付勢(ON)して開路する。この結果、温風送風手段81によって送風された温風(例えば、50°C)が電磁切替え弁V1および温風ダクト821を通してNo.1の機構の配置領域に供給され、該機構の温度が上昇せしめられる。そして、温度センサーTS1によって検出される検出温度が図2のテーブルに示すNo.1の機構の設定温度(45°C)に達したら、制御手段9は温風送風手段81の作動を停止するとともに電磁切替え弁V1を除勢(OFF)して閉路する。このような制御を上記各No.の機構に対して実行することにより、各機構を保持すべき所望の設定温度に維持することができる。このように、各機構は保持すべき所望の設定温度に維持されるので、温度変化による構成部材の伸縮が極めて小さくなるため、精密加工が可能となる。なお、各機構の設定温度を常温以上の温度に設定することにより、冷却装置および恒温室が不要となる。
【0016】
以上、本発明を切削装置に適用した例を示したが、本発明は切削装置に限ることなく他の種々の加工装置に適用することが可能である。
【0017】
【発明の効果】
本発明による加工装置は以上のように構成され、加工装置を構成する各機構の温度をそれぞれ検出する温度センサーによって検出された検出温度が常温以上に設定された設定温度より低い場合には、温風供給手段を作動して設定温度より低い所定の機構の配置領域に温風を供給するするようにしたので、温風の供給を調整するのみで各機構を保持すべき所望の設定温度に維持することができる。従って、冷却装置を不要とし温度変化による構成部材の伸縮が極めて小さく制御でき、精密加工が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に従って構成された加工装置の温度制御装置を示す概略構成図。
【図2】図1に示す温度制御装置の制御手段に格納される設定温度テーブル。
【符号の説明】
1:切削装置
2:静止基台
3:チャックテーブル機構
34:チャックテーブル支持機構
4:スピンドル支持機構
5:スピンドルユニット
6:撮像機構
7:温度制御装置
8:温風供給手段
81:温風送風手段
821、822、823、824、825、826:温風ダクト
9:制御手段
TS1、TS2、TS3、TS4、TS5、TS6:温度センサー
V1、V2、V3、V4、V5、V6:電磁切替え弁

Claims (1)

  1. 加工装置を構成する各機構の温度をそれぞれ検出する温度センサーと、該各機構の配置領域にそれぞれ温風を供給する温風供給手段と、該温度センサーからの検出温度に基づいて該温風供給手段を制御する制御手段とを具備し、
    該制御手段は、該各機構の保持すべき常温以上の設定温度を記憶する記憶手段を備えており、該温度センサーからの検出温度が該記憶手段に記憶された設定温度より低い場合には、該温風供給手段を作動して設定温度より低い所定の機構の配置領域に温風を供給する、
    ことを特徴とする加工装置の温度制御装置。
JP2002325160A 2002-11-08 2002-11-08 加工装置の温度制御装置 Withdrawn JP2004154915A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017185600A (ja) * 2016-04-07 2017-10-12 株式会社ディスコ 切削装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017185600A (ja) * 2016-04-07 2017-10-12 株式会社ディスコ 切削装置

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