JP2004134789A

JP2004134789A - 光増幅器の偏光依存利得を測定するためのシステム及び方法

Info

Publication number: JP2004134789A
Application number: JP2003327198A
Authority: JP
Inventors: David A Beal; デイビッド・エイ・ビール; Patricia S Miller; パトリシア・エス・ミラー
Original assignee: Agilent Technologies Inc
Current assignee: Agilent Technologies Inc
Priority date: 2002-10-09
Filing date: 2003-09-19
Publication date: 2004-04-30
Anticipated expiration: 2023-09-19
Also published as: US20040070749A1; US6904238B2; JP3756498B2

Abstract

【課題】大きな誤差を導入することなく、光増幅器の偏光依存利得を効果的に測定するシステム及び方法を提供する。
【解決手段】飽和光信号源(110)は、光増幅器(1)を飽和させることが可能な光信号を生成する。次に、低速飽和スクランブラ(150)が、その光信号をランダムに偏光させて、偏光した光信号を生成する。この偏光した光信号は光増幅器(1)の入力信号として使用される。次に、光増幅器(1)の出力信号が、高速偏光スクランブラ(120)に送られ、PDG測定信号が生成される。次に、このPDG測定信号が、PDG測定信号の各チャンネルの強度レベルを測定する光信号アナライザ(140)に送られる。代替的には、波長分割多重（WDM）偏光ミクサ(130)を使用して、低速偏光スクランブラ(150)からの偏光した光信号のWDMチャンネルの偏光状態を互いにミックスして、測定対象の光増幅器(1)への入力信号を生成する。
【選択図】図５

Description

　本発明は、光増幅器の偏光依存利得を測定するためのシステム及び方法に関する。

　光ファイバ・ネットワークは、高速通信ネットワークにおいてますます重要な役割を果たすようになっている。これらのネットワークに期待されるデータ・レートの高速化及び帯域幅の拡大に対処するため、光通信テクノロジは、速いペースで進歩を続けている。改良の続く光ファイバ・ネットワークの重要なコンポーネントの１つは、最初に、光ファイバに沿った光信号の伝送を行うか、あるいは、後でその光信号にブーストを施すタスクが課せられる、光増幅器である。こうした光信号は、単一チャネルまたは複数チャネル信号であると特徴付けることができる。複数チャネル信号は、通常、波長分割多重（ＷＤＭ）を介して実施され、それによって、光信号の波長スペクトルは、複数波長セグメントに割り当てられ、そのそれぞれが、独立した通信チャネルを確立することによって、通信帯域幅全体が拡大する。これらの光ネットワーク用光増幅器が、より高性能になるにつれて、増幅器の開発者及びメーカに対して、その製品の完全な特性解明に必要となるパラメータ情報を提供するため、光増幅器の性能測定に用いられるテスト・システムも必然的に改良しなければならない。

　光増幅器の特に重要な特性は、その偏光依存利得（ＰＤＧ）である。光増幅器の設計者及びメーカは、通常、入射光信号の偏光が状態を変化させる場合、これらの装置の出力信号の強度レベル変化を最小限に抑えようとする。概して云えば、光増幅器の測定ＰＤＧは、ほぼ全ての偏光状態について、その最大出力信号からその最小出力信号を引いたものである。

　現在、変化する入力条件下において、光増幅器の出力信号の強度レベルを解析するための異なる方法がいくつか存在する。図１には、光増幅器１をテストするための第１の光増幅器テスト・システム１００が示されている。飽和光信号源１１０は、光増幅器１の入力を飽和させることが可能な光信号を発生する。飽和光信号源１１０は、単一チャネルまたは複数チャネルＷＤＭ源とすることが可能である。入力信号の強度レベルが、飽和レベルに関して変動する場合、飽和レベルにおいて、光増幅器１の出力信号の強度レベル変化は最小限に抑えられる。従って、飽和光信号源１１０を利用すると、光増幅器１の出力信号の強度レベルを測定する際に、出力信号レベルを変化させる潜在的可能性のある原因が除去される。光増幅器の通常動作条件は、こうした飽和モードを想定している。

　飽和光信号源１１０によって発生する光信号は、さらに、高速偏光スクランブラ１２０によってランダムに迅速（または高速）に偏光される。「高速」及び「迅速」といった用語は、（光信号の偏光状態が、光増幅器１が偏光状態の変化に実質的に反応することを可能とする）光増幅器１の回復／緩和速度よりも速く周期的動作を行うという事実を指している。換言すれば、偏光状態は変化しているが、光増幅器１の出力信号の強度レベルは、ほぼ一定のままということである。通常、高速偏光スクランブラは、ポアンカレ球によって表わされる、可能性のある状態全体に十分に分布した、可能性のある偏光状態ウェル(polarization states well。または偏光状態)のいくつかの小さなサブセットをランダムに周期的に繰り返す。

　高速偏光スクランブラ１２０から結果生じる偏光信号は、さらに、入力信号として、光増幅器１に送られる。さらに、飽和状態で動作する光増幅器１の結果生じる出力信号は、一般に、出力信号の強度レベル及び波長を測定することが可能な、光信号解析器（光信号アナライザ）１４０によって解析される。高速偏光スクランブラ１２０の作用のため、単一チャネル・テスト（または、複数チャネルＷＤＭ光信号源の場合、各ＷＤＭチャネル）に関する出力信号の強度レベルは、全偏光状態にわたってほぼ一定になり、従って、テストを受けるチャネルの平均出力値を表す。

　複数チャネル光増幅器テストの場合、各ＷＤＭチャネルの強度レベルは、個別に測定される場合が多い。あいにく、各ＷＤＭチャネルが、高速偏光スクランブラ１２０からの偏光信号の場合と同じ偏光状態を示す場合には、光増幅器１は、「偏光ホール・バーニング」現象を示す恐れがある。この現象の結果として、光増幅器１の各ＷＤＭチャネルに関する光増幅器１の出力信号が通常より低くなる。多くの（ただし、全てではないが）増幅器設計者及びメーカは、偏光ホール・バーニングが各チャネルの強度レベル測定に影響しないことを必要とする。従って、図２に示す第２の光増幅器テスト・システム２００では、高速偏光スクランブラ１２０の偏光信号にＷＤＭ偏光ミクサ１３０を用いて、ＷＤＭチャネルの偏光を互いに混合することによって、偏光ホール・バーニングを回避することが可能である。従って、ＷＤＭ偏光ミクサ１３０によって、各ＷＤＭチャネルの強度レベル測定から可能性のある偏光ホール・バーニングの影響が実質的に排除される。ＷＤＭ偏光ミクサ１３０から結果得られる信号は、テストを受ける光増幅器１の入力信号として用いられる。

　こうした測定は有効ではあるが、高速偏光スクランブラ１２０が偏光状態をサイクル動作させる速度のために、このやり方では、さまざまな偏光状態に対して最小及び最大出力信号レベルの検出を必要とするチャネルの偏光依存利得を効率的（または有効）に決定することができない。

　この問題に対処するため、図３には、図１の高速偏光スクランブラ１２０の代わりに、低速偏光スクランブラ１５０を用いる、第３の光増幅器テスト・システム３００が示されている。低速偏光スクランブラ１５０は、光増幅器１の緩和／回復速度によって、光増幅器１の出力信号が入力信号の偏光状態の変化に実質的に完全に反応することが可能になるような速度で、偏光状態を循環動作させる。こうした低速偏光スクランブラの１つが、一連の光ファイバ・ループを利用して、任意の可能な偏光状態を実現するアジレント・テクノロジ社製の１１８９６Ａ偏光コントローラである。一般に、第３の光増幅器テスト・システム３００において、テストされる各チャネルに関して光増幅器１の最小及び最大出力信号レベルを有効に検出するために、低速偏光スクランブラ１５０に必要とされるのは、少数の可能性のある楕円偏光状態のみをランダムに取り扱うことである。一般に、低速偏光スクランブラ１５０は、約５秒で、使用される偏光状態をサイクル動作させる一方で、依然として、光増幅器１の十分なテストに必要な偏光状態をカバーすることが可能である。また、低速偏光スクランブラ１５０は、通常、楕円偏光状態のランダムなサイクル動作を利用するが、その一方で、前述の偏光ホール・バーニングを生じさせる可能性のある、純粋な直線または円偏光状態を回避する。前述のように、こうした現象は、光増幅器１の真のＰＤＧの決定に悪影響を与えることになる。

　また、第２の光増幅器テスト・システム２００に関連して前述したように、第４の光増幅器テスト・システム４００（図４）に示すように、低速偏光スクランブラ１５０の出力にＷＤＭ偏光ミクサ１３０を追加すると、複数ＷＤＭチャネルのＰＤＧ測定からその現象の影響が実質的に排除される。

　あいにく、第３及び第４の光増幅器テスト・システム３００、４００は、通常、光増幅器１のＰＤＧ測定に別のタイプのエラー（誤差）を導入する。このエラーは、光増幅器１の出力と光スペクトル・アナライザ１４０との間の光路部分の偏光依存損失（ＰＤＬ）の形をとる。多くの最近の光増幅器は、各ＷＤＭチャネル毎に独立した光路を設ける導波路として機能する。この増幅器アーキテクチャによれば、光増幅器１の各チャネルのＰＤＧは、潜在的にチャネル毎に大幅に変動することになる。こうした増幅器の各独立チャネルは、通常、０．３ｄＢ以下の範囲の主観的に許容し得るＰＤＧを示すことが要求される可能性がある。しかし、約０．１２ｄＢの通常の先行技術によるテスト・システムのＰＤＬの場合、光信号解析器１４０によって測定される、光増幅器のいくつかのチャネルのＰＤＧ測定には、上／下に大きなスキューが生じ、おそらく、光増幅器１の１つ以上のチャネルに許容できないほど不正確なＰＤＧの測定結果が得られることになる可能性がある。

　従って、本発明の目的は、テスト・システムの偏光依存損失を大幅に低減し、それによって、光増幅器の偏光依存利得測定のエラー量を減少させる、新規の光増幅器テスト・システム及び方法を提供することにある。

　以下で詳述する本発明のいくつかの実施態様は、測定に大きな（または重大な）エラーを導入することなく、光増幅器の偏光依存利得を有効に測定するシステム及び方法に関するものである。従来なされてきたように、飽和光信号源が、光増幅器を飽和させることが可能な光信号を発生する。その光信号は、次に、低速偏光スクランブラによってランダムに偏光され、結果として、テストを受ける光増幅器の入力信号として用いられる偏光（または偏波）された光信号（以下、偏光信号）が生じることになる。ただし、従来のテスト・システムとは異なり、光増幅器の出力信号は、次に、高速偏光スクランブラに転送され、結果として、さらに、信号の各チャネルに関するその信号の強度レベルを測定する光信号解析器に送られる、ＰＤＧ測定信号が生じることになる。

　オプションにより、飽和光信号源がＷＤＭ源である場合には、低速偏光スクランブラからの偏光信号の各ＷＤＭチャネルの偏光状態を混合し、結果として、テストを受ける光増幅器の入力として用いられる信号が得られるようにするため、ＷＤＭ偏光ミクサ（ＷＤＭ偏光ミキサ）も用いられる。

　一般に、高速偏光スクランブラを用いると、光増幅器の偏光利得測定に対する、こうしたテスト・システムに通常関連した偏光依存損失の影響が大幅に低減する。このＰＤＬの低減が生じるのは、高速偏光スクランブラが、通常、増幅器のＰＤＧ測定に対してかなりのＰＤＬをもたらす、テスト・システムの一部によって生じる光増幅器の出力信号の変動を有効に平均化するためである。

　本発明の他の態様及び利点については、本発明の原理を例示する添付図面並びに下記の詳細な説明から明らかになるであろう。

　本発明によれば、光増幅器の利得を測定するためのシステムにおいて、偏光に起因する誤差を低減する手段が得られる。

　図５及び図６には、本発明の実施態様である、第１及び第２の改良された光増幅器テスト・システム５００及び６００が示されている。これらの改良型光増幅器テスト・システム５００、６００は、図３及び４の第３及び第４の光増幅器テスト・システム３００、４００と本質的に同じコンポーネントを利用しているが、後述する少なくとも１つの大きな改善が施されている。まず、飽和信号源１１０は、光増幅器１を飽和させる光信号を発生する。飽和は（飽和により、入力信号の強度レベルは、十分に高いので、光増幅器１の入力信号がわずかに変化しても、出力信号の強度レベルは実質的に変化しない）、光増幅器の通常の動作条件である。単一チャネル・テストと複数チャネル・テストのいずれが所望されるかに応じて、飽和信号源１１０は、単一チャネルになることもあれば、ＷＤＭ源になることもある。

　図３及び図４に関して前述したように、低速偏光スクランブラ１５０は、次に、光増幅器１の出力信号の強度レベルが入力信号の偏光状態の変化に実質的に完全に反応するように、光増幅器１の緩和／回復速度に対して十分に緩やかに、飽和信号源１１０からの光信号を、さまざまな偏光状態にわたってランダムにサイクル動作させる。また、前述のように、低速偏光スクランブラ１５０に必要とされるのは、テストを受ける各チャネル毎に、光増幅器１の最小及び最大出力信号レベルを有効に検出するため、少数の可能性のある楕円偏光状態をランダムに取り扱う（カバーする）ことだけである。これらの状態をサイクル動作させるのにわずか５秒しかかからない可能性があるが、それでも、光増幅器１の有効なテストに必要な偏光状態をカバーすることが可能である。また、低速偏光スクランブラ１５０は、楕円偏光状態のランダムなサイクル動作を利用することが可能であり、その一方で、偏光ホール・バーニングを生じる可能性のある純粋な直線または円偏光状態を回避することが可能である。

　オプションにより、複数チャネルＷＤＭテストの場合、低速偏光スクランブラ１５０から結果生じる偏光信号は、次に、偏光信号が利用しているチャネルのそれぞれの偏光状態を互いに混合する、図６に示すＷＤＭ偏光ミクサ１３０に送られる。前述のように、ＷＤＭ偏光ミクサ１３０によって、複数ＷＤＭチャネルの光増幅器のＰＤＧ測定に悪影響を及ぼす偏光ホール・バーニングが生じるのが抑えられる。結果得られる信号は、さらに、光増幅器１の入力信号として利用される。単一チャネル・テストのように、偏光ホール・バーニングが問題にならない場合、図５に示すように、ＷＤＭ偏光ミクサを省略して、低速偏光スクランブラ１５０からの偏光信号が、修正を加えずに、テストを受ける光増幅器１の入力信号として利用されるようにすることが可能である。

　第３及び第４の光増幅器テスト・システム３００、４００（図３及び図４）とは異なり、光増幅器１の出力信号は、図５及び図６に示す高速偏光スクランブラ１２０に送られ、高速偏光スクランブラ１２０は、その信号の各チャネルのＰＤＧ測定に関して、光信号解析器１４０に供給されるＰＤＧ測定信号を発生する。高速偏光スクランブラ１２０は、光信号解析器１４０がＰＤＧ測定信号の強度レベルの変化に反応しないほど十分に速く、複数の偏光状態にわたって、出力信号をランダムにサイクル動作させる。これらの強度レベルの変化は、通常、テストを受ける光増幅器１と光信号解析器１４０の間の光路部分によって導入される偏光依存損失（ＰＤＬ）に起因するものである。結果として、第３及び第４の光増幅器テスト・システム３００、４００とは異なり、改良されたシステム５００、６００の光信号解析器１４０によって測定される信号は、その信号の偏光状態によって決まる時間にわたって信号強度が実質的に変動しないことになる。従って、光増幅器１と光信号解析器１４０との間のその光路部分による被測定ＰＤＧのエラーに対するＰＤＬの影響は、大幅に低減される。

　概して云えば、テストを受ける光増幅器１の出力と高速偏光スクランブラ１２０に対する入力との間の光路が短くなるほど、改良型テスト・システムによって生じるＰＤＬが大きく減少する。従って、改良型テスト・システムの高速偏光スクランブラ１２０を、テストを受ける光増幅器１の出力に直接配置するのがおそらく最適であり、これによって、高速偏光スクランブラ１２０と光増幅器１との物理的間隔が最小限に抑えられる。予備テストにおいて、テストを受ける光増幅器１の出力に直接接続された高速偏光スクランブラ１２０は、テスト・システムの光路における光増幅器１の出力部分によって生じるＰＤＬを約＋／−０．１２ｄＢ（代表値）から約＋／−０．０２ｄＢまで低減した。この差は、テスト・システムによって光増幅器のＰＤＧ測定に導入されるエラー量の劇的な減少を意味する。

　本発明の実施態様は、図７に示すように、光増幅器の偏光依存利得を測定する改良された方法７００の形をとることも可能である。まず、テストを受ける光増幅器を飽和させることが可能な光信号を発生させる（ステップ７１０）。次に、上述したように、光信号をゆっくりとランダムに偏光させて（ステップ７２０）、偏光信号が得られるようにする。オプションにより（主として複数チャネル・テストのため）、上述のように、偏光信号の各ＷＤＭチャネルの偏光状態を互いに混合させ、光増幅器の入力信号として使用する（ステップ７３０）。そうでなければ、低速ランダム偏光ステップによる偏光信号（低速でランダムに偏光された偏光信号）が、光増幅器の入力信号として直接用いられる。次に、上述したところに従って、テストを受ける光増幅器の結果得られる出力信号に対して高速にランダムな偏光を施し（ステップ７４０）、結果生じるＰＤＧ測定信号の各チャネルの強度レベルを測定する（ステップ７５０）。

　本発明は、測定に大きな誤差を導入することなく、光増幅器(1)の偏光依存利得を効果的に測定するシステム及び方法に関する。飽和光信号源(110)は、光増幅器(1)を飽和させることが可能な光信号を生成する。次に、低速飽和スクランブラ(150)が、その光信号をランダムに偏光させて、偏光した光信号を生成する。この偏光した光信号は光増幅器(1)の入力信号として使用される。次に、光増幅器(1)の出力信号が、高速偏光スクランブラ(120)に送られ、PDG測定信号が生成される。次に、このPDG測定信号が、PDG測定信号の各チャンネルの強度レベルを測定する光信号アナライザ(140)に送られる。代替的には、波長分割多重（WDM）偏光ミクサ(130)を使用して、低速偏光スクランブラ(150)からの偏光した光信号のWDMチャンネルの偏光状態を互いにミックスして、測定対象の光増幅器(1)への入力信号を生成する。

　以下においては、本発明の種々の構成要件の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。
１．入力信号及び出力信号を有する光増幅器（１）の偏光依存利得（ＰＤＧ）を決定するためのテスト・システム（５００）であって、
　前記光増幅器（１）を飽和させることが可能であり、少なくとも１つのチャネルを有する光信号を発生するように構成された光信号源（１１０）と、
　前記光信号をランダムにゆっくりと偏光させて、前記光増幅器（１）の入力信号である偏光信号を生じさせるように構成された低速偏光スクランブラ（１５０）と、
　前記光増幅器（１）の出力信号をランダムに高速に偏光させて、ＰＤＧ測定信号を生じさせるように構成された高速偏光スクランブラ（１２０）と、
　前記ＰＤＧ測定信号の前記少なくとも１つのチャネルの強度レベルを測定するように構成された光信号解析器（１４０）
とを備える、テスト・システム。
２．前記光信号源（１１０）が単一チャネル光信号源である、上項１に記載のテスト・システム。
３．前記光信号源（１１０）が複数チャネル波長分割多重化（ＷＤＭ）光信号源である、上項１に記載のテスト・システム。
４．前記偏光信号のＷＤＭチャネルの偏光状態を互いに混合して、前記光増幅器（１）の入力信号を生じさせるように構成されたＷＤＭ偏光ミクサ（１３０）をさらに備える、上項３に記載のテスト・システム。
５．前記低速偏光スクランブラ（１５０）が楕円偏光状態だけを利用することからなる、上項１に記載のテスト・システム
６．前記光増幅器（１）と前記高速偏光スクランブラ（１２０）との物理的間隔が最小限に抑えられる、上項１に記載のテスト・システム。
７．入力信号と出力信号を有する光増幅器の偏光依存利得（ＰＤＧ）を決定する方法（７００）であって、
　前記光増幅器を飽和させることが可能であり、少なくとも１つのチャネルを有する光信号を発生させるステップ（７１０）と、
　前記光信号をランダムにゆっくりと偏光させて（７２０）、前記光増幅器の入力信号である偏光信号が生じるようにするステップと、
　前記光増幅器の出力信号をランダムに高速に偏光させて（７４０）、ＰＤＧ測定信号が生じるようにするステップと、
　前記ＰＤＧ測定信号の前記少なくとも１つのチャネルの強度レベルを測定するステップ（７５０）
を含む、方法。
８．光信号を発生させる前記ステップ（７１０）によって、単一チャネル光信号が発生する、上項７に記載の方法。
９．光信号を発生させる前記ステップ（７１０）によって、複数チャネル波長分割多重化（ＷＤＭ）光信号が発生する、上項７に記載の方法。
１０．前記偏光信号のＷＤＭチャネルの偏光状態を互いに混合して（７３０）、前記光増幅器の入力信号が生じるようにするステップをさらに含む、上項９に記載の方法。
１１．光信号をランダムにゆっくりと偏光させる前記ステップ（７２０）が、楕円偏光状態だけを利用する、上項７に記載の方法。

　以上の説明から、上述の本発明の実施態様では、従来利用可能なものに比べて、光増幅器の偏光依存利得測定が改善されることが明らかになった。さらに、本発明を具現化する他の特定のシステム及び方法も可能である。従って、本発明は、説明し図示した特定の形態に制限されるべきものではなく、特許請求の範囲による制限だけしか受けない。

複数の偏光状態にわたって光増幅器の平均出力信号レベルを測定する、先行技術による第１の光増幅器テスト・システムのブロック図である。複数の偏光状態にわたって光増幅器の平均出力信号レベルを測定し、その一方で、偏光ホール・バーニングを低減する、先行技術による第２の光増幅器テスト・システムのブロック図である。光増幅器の偏光依存利得を測定する、先行技術による第３の光増幅器テスト・システムのブロック図である。光増幅器の偏光依存利得を測定し、その一方で、偏光ホール・バーニングを抑える、先行技術による第４の光増幅器テスト・システムのブロック図である。光増幅器の偏光依存利得を測定する、本発明の１実施態様による第１の改良型光増幅器テスト・システムのブロック図である。光増幅器の偏光依存利得を測定し、その一方で、偏光ホール・バーニングを抑える、本発明の１実施態様による第２の改良型光増幅器テスト・システムのブロック図である。本発明の１実施態様による、光増幅器の偏光依存利得を測定する方法のフローチャートである。

符号の説明

　１　光増幅器
　１１０　光増幅器
　１２０　高速偏光スクランブラ
　１３０　ＷＤＭ偏光ミクサ
　１４０　光信号解析器
　１５０　低速偏光スクランブラ
　５００　テスト・システム

Claims

　入力信号及び出力信号を有する光増幅器（１）の偏光依存利得（ＰＤＧ）を決定するためのテスト・システム（５００）であって、
　前記光増幅器（１）を飽和させることが可能であり、少なくとも１つのチャネルを有する光信号を発生するように構成された光信号源（１１０）と、
　前記光信号をランダムにゆっくりと偏光させて、前記光増幅器（１）の入力信号である偏光信号を生じさせるように構成された低速偏光スクランブラ（１５０）と、
　前記光増幅器（１）の出力信号をランダムに高速に偏光させて、ＰＤＧ測定信号を生じさせるように構成された高速偏光スクランブラ（１２０）と、
　前記ＰＤＧ測定信号の前記少なくとも１つのチャネルの強度レベルを測定するように構成された光信号解析器（１４０）
とを備える、テスト・システム。
　前記光信号源（１１０）が単一チャネル光信号源である、請求項１に記載のテスト・システム。
　前記光信号源（１１０）が複数チャネル波長分割多重化（ＷＤＭ）光信号源である、請求項１に記載のテスト・システム。
　前記偏光信号のＷＤＭチャネルの偏光状態を互いに混合して、前記光増幅器（１）の入力信号を生じさせるように構成されたＷＤＭ偏光ミクサ（１３０）をさらに備える、請求項３に記載のテスト・システム。
　前記低速偏光スクランブラ（１５０）が楕円偏光状態だけを利用することからなる、請求項１に記載のテスト・システム
　前記光増幅器（１）と前記高速偏光スクランブラ（１２０）との物理的間隔が最小限に抑えられる、請求項１に記載のテスト・システム。
　入力信号と出力信号を有する光増幅器の偏光依存利得（ＰＤＧ）を決定する方法（７００）であって、
　前記光増幅器を飽和させることが可能であり、少なくとも１つのチャネルを有する光信号を発生させるステップ（７１０）と、
　前記光信号をランダムにゆっくりと偏光させて（７２０）、前記光増幅器の入力信号である偏光信号が生じるようにするステップと、
　前記光増幅器の出力信号をランダムに高速に偏光させて（７４０）、ＰＤＧ測定信号が生じるようにするステップと、
　前記ＰＤＧ測定信号の前記少なくとも１つのチャネルの強度レベルを測定するステップ（７５０）
を含む、方法。
　光信号を発生させる前記ステップ（７１０）によって、単一チャネル光信号が発生する、請求項７に記載の方法。
　光信号を発生させる前記ステップ（７１０）によって、複数チャネル波長分割多重化（ＷＤＭ）光信号が発生する、請求項７に記載の方法。
　前記偏光信号のＷＤＭチャネルの偏光状態を互いに混合して（７３０）、前記光増幅器の入力信号が生じるようにするステップをさらに含む、請求項９に記載の方法。
　光信号をランダムにゆっくりと偏光させる前記ステップ（７２０）が、楕円偏光状態だけを利用する、請求項７に記載の方法。