JP2004096018A - Manufacturing method for circuit substrate, electrooptical apparatus, and electronic appliance - Google Patents

Manufacturing method for circuit substrate, electrooptical apparatus, and electronic appliance Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To transcribe such transcribed objects as elements and circuits to a single destined transcription substrate while selecting as a unit either of the elements and circuits, without inverting their senses, relatively simply, and inclusive of the objects having different manufacturing processes from each other. <P>SOLUTION: The manufacturing method for circuit substrates has a process (S11) for peeling by a suction either of a plurality of first transcription objects (a) from a first originated transcription substrate (SUBA) having the transcription objects (a), a process (S12) for transcribing the peeled first transcription object (a) to a predetermined position (Pa) of a destined transcription substrate (SUBD), a process (S13) for peeling by a suction either of a plurality of second transcription objects (b) from a second originated transcription substrate (SUBB) having the transcription objects (b), and a process (S14) for transcribing the peeled second transcription object (b) to a predetermined position (Pb) of the destined transcription substrate (SUBD). <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、素子や回路の転写により回路基板を製造する方法に係わり、特に、複数の転写元基板から効率的に素子や回路を転写する回路基板の製造方法の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、薄膜トランジスタ(薄膜トランジスタ)や薄膜ダイオード(TFD)等の薄膜素子を備えた回路基板の製造に関し、素子や回路を含む微小基板を転写先の基板に転写することにより、エッチングにより捨てられている素子構成材料を削減し、製造コストを大幅に低減するための技術が種々検討されている。
【0003】
従来、シリコンウェハ上に製造したLSI回路を別な基板上に配置するための技術として、Alien Technology社によって開発された微小構造体技術と称される方法が知られている(Information DISPLAY, Vol.15, No.11 (November 1999))(非特許文献1)。この微小構造体技術は、シリコンウェハ上に製造したLSI回路を微小チップ(=微小構造体)に分離し、ついで該微小構造体を分散した溶媒を、予め埋め込み用の穴がパターンされている基板上に流し、基板上の所定位置に該微小構造体を配置することを特徴としている。この微小構造体技術によれば、シリコンウェハ上に多数形成しておいた微小構造体を、基板上に分散配置することができる。
【0004】
しかしながら、この微小構造体技術においては、微小構造体を基板上に確実に配置すること、及び正確な位置合わせが困難であるという欠点がある。さらに、微小構造体が配置される方向はランダムであるため、回路を対称にする等、特別の回路を微小構造体に設ける必要があった。
【0005】
また液晶表示装置のカラーフィルタの製造において、転写技術を利用する方法が米国特許第6,057,067号に開示されている(特許文献1)。
【0006】
さらに本出願人は、基板上に形成した薄膜トランジスタ等の薄膜素子を転写体に転写する方法として、基板上に剥離層を介して被転写層を形成し、これを総て転写体に接合してから剥離層に光を照射し剥離を生じさせ、基板を剥離層から離脱させる転写方法を開発し、既に特許出願している(特開平10−125931号公報:特許文献2)。同じく本出願人は、被転写層全体を一次転写体に接合し、これをさらに二次転写体に転写するという転写方法を開発し、既に特許出願している(特開平11−26733号公報:特許文献3)。
【0007】
これらの転写技術によれば、製造に高温プロセスを要求される機能性デバイスを、このような高温に耐えることのできないものも含めて所望の基板上に転写することができる。
【0008】
【非特許文献1】
Information DISPLAY, Vol.15, No.11、1999年11月
【特許文献1】
米国特許第6,057,067号
【特許文献2】
特開平10−125931号公報
【特許文献3】
特開平11−26733号公報
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前述した従来の転写技術には次のような問題があった。
【0009】
すなわち、従来の転写技術では転写元基板に設けられた素子や回路等の被転写体全体を転写先基板に転写するものであったため、素子や回路の一部のみを利用したい場合には、転写後にダイシング等によって転写先基材を所要のチップサイズ(あるいは小型基板サイズ)に切り分けてからバラバラになったチップ等を最終基板上に正確に整列させなければならなかった。このため製造効率が低下し易いという課題があった。また素子や回路等の被転写体全体を剥離させるために、必要な素子や回路の領域以外に広範囲にわたってエネルギーを供給する必要があった。
【0010】
特に、転写元基材に形成した薄膜素子層全体を転写先基材に全面転写する場合、素子や回路が反転して転写先基材に転写されるために、反転して転写された素子や回路を転写先基板の配線等と接続するために、素子や回路に特殊構造を要したり転写先基板における接続のための特別の工程が必要になったりしていた。
【0011】
また一次転写体への転写と二次転写体への再転写とにより素子や回路の表裏を元に戻すことはできるが、転写のための工数が増えることは避けられなかった。
【0012】
さらに従来の転写方法では一枚の転写元基板に形成された素子や回路を転写先基板に転写するものであったため転写元基板に形成されている素子や回路は同一の工程で製造される必要があった。このため同一の製造工程で製造することができない素子や回路を組み合わせた回路基板を従来の転写方法で形成することは困難であった。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記課題に鑑み、本発明は、素子や回路等の被転写体を単位として、向きを反転することなく、比較的簡単に、かつ、製造工程の異なる被転写体を含めて、同一の転写先基板に転写することの可能な回路基板の製造方法を提供することを目的とする。
【0014】
本発明は、被転写体が複数形成されている複数の転写元基板のそれぞれから一以上の当該被転写体を仮固定して剥離する工程と、剥離された被転写体を転写先基板の各々を、予め定められた位置にそれぞれ転写していく工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法である。
【0015】
上記方法によれば、それぞれの転写元基板には互いに独立して形成された素子や回路等の被転写体が集積して形成され、それぞれの転写元基板から仮固定によって被転写体が剥離されそのままの向きで転写先基板の所定位置に転写される。このため被転写体の向きを反転させるための中間的な転写基板を用いることなく、簡単に被転写体の配置が可能である。また複数の転写元基板から必要とされる被転写体を選んで配置していくということが可能であるため、複数種類の素子や回路を集積したアセンブリ基板を簡単に製造することができる。
【0016】
ここで本発明において、「被転写体」とは、薄膜トランジスタ、ダイオード、抵抗、インダクタ、キャパシタ、その他能動素子・受動素子を問わない単体の素子、一定の機能を奏するように素子が集積され配線された集積回路等の回路(チップ)、さらに複数の素子の組み合わせからなる回路の一部、集積回路等の回路を1以上組み合わせて一定の機能を奏するように構成された装置の全部又は一部を意味する。すなわち、「被転写体」の構成や形状、大きさに限定はない。
【0017】
また本発明において「転写元基板」とは、被転写体が複数集積して形成される基板をいい、必ずしも平板であることを要しない。例えば被転写体が球面に形成されるものでもよく、また可撓性を有するフィルムのように一定の剛性を有しないものでもよい。
【0018】
さらに本発明において「転写先基板」とは、最終的に被転写体を配置すべき対象をいい、必ずしも平板であることを要しない。例えば被転写体が球面に形成されるものでもよく、また可撓性を有するフィルムのように一定の剛性を有しないものでもよい。
【0019】
さらにまた本発明において「仮固定」とは、圧力、静電力、磁力、機械的な力によって被転写体をそのままの向きで一定の力でその力を解除可能に固定することをいい、被転写体を一時的に保持できるものであればその手段を問わない。
【0020】
具体的に本発明は、第1被転写体が複数形成された第1転写元基板からいずれかの第1被転写体を仮固定して剥離する工程と、剥離された第1被転写体を転写先基板の予め定められた位置に転写する工程と、第2被転写体が複数形成された第2転写元基板からいずれかの第2被転写体を仮固定して剥離する工程と、剥離された第2被転写体を転写先基板の予め定められた位置に転写する工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法である。
【0021】
上記方法によれば、それぞれの第1転写元基板及び第2転写元基板には互いに独立して形成された第1被転写体及び第2被転写体が集積して形成されている。そして、第1及び第2転写元基板各々から仮固定によって第1被転写体及び第2被転写体が剥離されそのままの向きで転写先基板の所定位置に転写される。このため被転写体の向きを反転させるための中間的な転写基板を用いることなく、簡単に第1及び第2被転写体の配置が可能である。また第1及び第2転写元基板の双方から必要とされる第1及び第2被転写体をそれぞれ選んで配置していくということが可能であるため、複数種類の素子や回路を集積したアセンブリ基板を簡単に製造することができる。
【0022】
また本発明は、同一の製造工程によって形成される複数種類の被転写体が形成されている転写元基板から一種以上の被転写体を仮固定して選択的に剥離する工程と、剥離された一種以上の被転写体のそれぞれを、予め定められた位置にそれぞれ転写していく工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法である。
【0023】
上記方法によれば、同一工程で形成された複数種類の被転写体が転写元基板上に形成されているので、その被転写体の種類を選んで仮固定して剥離してから転写することになる。このため被転写体の向きを反転させるための中間的な転写基板を用いることなく、簡単に任意の種類の被転写体の配置が可能である。また複数種類の被転写体を選んで配置していくということが可能であるため、複数種類の素子や回路を集積したアセンブリ基板を簡単に製造することができる。
【0024】
ここで、上記発明において、互いに異なる製造工程によって形成された転写元基板が複数用意されており、複数の当該転写元基板のそれぞれから一種以上の被転写体を選択的に剥離するようにしてもよい。
【0025】
上記方法によれば、それぞれの転写元基板は異なる製造工程によって同一基板上には形成できないような素子や回路を含んだ被転写体が形成されている。その異なる製法による被転写体がさらにそれぞれ複数種類用意されている。このような多種の被転写体を選択的に仮固定して転写することができるので、製造工程の異なる素子や回路を複数種類集積したアセンブリ基板を簡単に製造することができる。
【0026】
具体的に本発明は、第1の製造工程によって製造される複数種類の被転写体が形成された第1転写元基板から一種以上の被転写体を仮固定して選択的に剥離する工程と、剥離された一種以上の被転写体を転写先基板の予め定められた位置にそれぞれ転写する工程と、第1の製造工程とは異なる第2の製造工程によって製造される複数種類の被転写体が形成された第2転写元基板から一種以上の被転写体を選択的に仮固定して剥離する工程と、剥離された一種以上の被転写体を転写先基板の予め定められた位置にそれぞれ転写する工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法である。
【0027】
上記方法によれば、第1及び第2転写元基板のそれぞれは異なる第1及び第2の製造工程によって、同一基板上には形成できないような素子や回路を含んだ第1及び第2被転写体がそれぞれ形成されている。この異なる製法による第1及び第2被転写体がさらにそれぞれ複数種類用意されている。このような多種の被転写体を選択的に仮固定して転写することができるので、製造工程の異なる素子や回路を複数種類集積したアセンブリ基板を簡単に製造することができる。
【0028】
具体的に、本発明における被転写体の剥離する工程は、仮固定手段を剥離させるべき被転写体に当接させる工程と、仮固定手段により吸引することにより被転写体を仮固定する工程と、被転写体が仮固定された仮固定手段を移動させて当該被転写体を転写元基板から剥離する工程と、を備えている。
【0029】
ここで本発明において、「吸引」とは一部に相対的な低気圧部分を作り出して周りの高気圧によって対象物が低気圧部分に引き寄せられることをいう。例えば真空ピンセットによって、個々の被転写体を「吸引」しその吸引力で剥離することになる。
【0030】
ここで「仮固定手段」は吸引により被転写体を仮固定できる構造であればよく、その構造に特に限定はない。例えば、真空ピンセットは、柔軟性のある樹脂で形成された先端部を備えた管形状をなしており、真空ポンプ等によって先端部の開口から吸引することができるようになっている。この先端部を被転写体の表面に当接させて吸引させれば、被転写体が仮固定される。この仮固定手段は搬送手段によって転写元基板から転写先基板へ相対的に位置を変更し吸引物の搬送ができるようになっている。
【0031】
具体的に、本発明における被転写体を転写する工程は、転写先基板に接着手段を供給する工程と、被転写体が仮固定された仮固定手段を転写先基板の予め定められた位置に搬送し接着手段によって当該被転写体を接着する工程と、接着された被転写体を搬送した仮固定手段の吸引を解除することにより仮固定を解除する工程と、を備えている。
【0032】
ここで「接着手段」は被転写体を転写先基板に固定できればよく、公知の接着剤を種々に適用可能であり、光硬化性樹脂、光可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、または熱可塑性樹脂を製造条件に併せて適用することも可能である。また接着シートを利用することも可能である。さらに「接着手段」はいわゆる接着により機械的に接続する場合の他、半田その他の手段により電気的に被転写基板と転写先基板とを接続するような場合も含む。
【0033】
具体例として、接着手段を液体噴射装置から予め定められた位置に所定量吐出するものであってもよい。「液体噴射装置」とは、接着成分を含む液体材料を液体材料の圧力変化を利用して吐出するように構成された装置をいい、例えば、静電駆動タイプ、ピエゾ駆動タイプ、熱駆動タイプ等のインクジェット式ヘッドが考えられる。静電駆動タイプのヘッドは、圧力室が設けられた圧力室基板の壁面をなす振動板に隣接させて電極を設けた構造をしており、圧力室基板と電極との間に所定電圧を印加する際に生ずる静電力を利用して圧力室の壁面をなす振動板を変形させて圧力室の体積を変化させ圧力室内部の液体を吐出させるものである。ピエゾ駆動タイプのヘッドは、圧力室の壁面をなす振動板に圧電体素子を設けた構造をしており、圧電体素子に所定の電圧を加えることにより振動板を変形させて圧力室の体積を変化させ圧力室内部の液体を吐出させるものである。熱駆動タイプのヘッドは、液体流路の所定箇所に熱印加手段を設けた構造をしており、熱印加手段に所定の電圧を加えることにより熱印加手段を発熱させ液体に気泡を生じさせてその圧力により液体を吐出させるものである。
【0034】
または接着手段を転写先基板の転写すべき位置を含む一部または全部の領域に塗布するようにしてもよい。塗布の方法としては、上記液体噴射装置(吐出装置、インクジェットヘッド)によるものの他、スピンコート法や印刷法等、一面に接着手段による膜を形成するために適する公知の方法を適用可能である。
【0035】
ここで本発明は、転写先基板を供給する工程と、本発明の回路基板の製造方法によって被転写体を転写先基板に転写する工程と、転写後の転写先基板を排出する工程と、を繰り返すことにより、新たな転写先基板を順次供給していくように構成してもよい。
【0036】
上記方法によれば、転写先基板を最終的に製品となる基板として、次々この最終基板上に任意の被転写体を集積させ所定のアセンブリ基板として製造していくことが可能であるため、効率のよい製造が可能である。特に被転写体を複数種類任意に選択することが可能であるため、多種少量生産の回路基板を製造する場合に適する製造方法を提供可能である。
【0037】
ここで本発明において、被転写体の剥離は、剥離させるべき被転写体に対応する転写元基板の一部領域にエネルギーを付与して、当該一部領域に対応する被転写体を剥離させるものとすることができる。例えば、エネルギーとして光を照射するものとすれば、任意の領域へのエネルギー付与が行え、併せて正確な位置合わせが可能であるため、特に被転写体が微少な大きさである場合に有利である。ここでエネルギー源には限定はないが、例えばレーザ光を用いれば、コヒーレント光であるため効率的にエネルギーを付与でき、併せて正確な位置にエネルギーを付与することが可能である。
【0038】
また本発明において、被転写体の剥離は、剥離させるべき複数の被転写体を含む転写元基板の一部または全部の領域にエネルギーを付与して、当該一部または全部の領域に含まれる被転写体を一以上剥離させるものとすることもできる。
【0039】
本発明において、例えば、転写元基板は、当該転写元基板上に剥離層を形成する工程と、剥離層上に被転写体を含む被転写体層を形成する工程と、によって製造される。
【0040】
ここで「剥離層」とは、エネルギーの付与によって転写元基板と被転写体との結合力が弱まるような材料で形成されていればよく、例えばアモルファスシリコン、水素を含有するアモルファスシリコン、窒素を含有するアモルファスシリコン、水素含有合金、窒素含有合金、多層膜、セラミックス、金属、有機高分子材料等を利用可能である。
【0041】
ここで上記被転写体層に対し、被転写体の境界付近に個々の当該被転写体を分離させるための分離構造を設ける工程をさらに備えることは好ましい。ここで「分離構造」とは、被転写体同士の境界を離間させる溝(被転写体の一部または全部、剥離層の一部または全部に形成する)、凹凸構造、当該境界付近で破断しても被転写体本体の機能に影響を与えないように、例えばマージンをとって被転写体が形成されているような場合も含む。
【0042】
本発明は、上記回路基板の製造方法によって製造される回路基板である。このような回路基板の例として、アクティブマトリクス基板が挙げられる。このアクティブマトリクス基板によれば、転写先基材上に間隔をおいて分散配置される多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造し、それらを転写先基材上の所定位置に正確に転写することができるので、基板上に直接素子を形成し製造される従来のアクティブマトリックス基板と比べ、薄膜トランジスタ等の素子製造における面積効率を大幅に向上でき、特に大型のアクティブマトリックス基板を安価に提供することができる。
【0043】
また多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造してから、転写先基材に転写して製造するので、熱等の製造プロセスにおいて一旦製造した素子や回路にダメージを与えることなく最終的に転写先基材に実装させることができ、回路基板の性能向上を図ることができる。さらに素子や回路を転写前に選別、排除することが容易に実行可能となり、その結果製品歩留まりを向上することができる。
【0044】
また、微小な素子や回路を最終的な転写先基材の所定位置に正確に配置することによって基板の曲げに対する追従性が向上し、フレキシブルな転写先基材を用いることによって、しなやかで、軽く、落下の衝撃にも強いアクティブマトリクス型表示装置を提供することができる。さらに曲面ディスプレイ等の曲面を有する回路基板を提供することもできる。
【0045】
また本発明は、上記回路基板の製造方法によって製造される回路基板を備える電気光学装置でもある。
【0046】
ここで、「電気光学装置」とは、電気的作用によって発光するあるいは外部からの光の状態を変化させる電気光学素子を備えた装置一般をいい、自ら光を発するものと外部からの光の通過を制御するもの双方を含む。例えば、電気光学素子として、液晶素子、電気泳動素子、EL(エレクトロルミネッセンス)素子、電界の印加により発生した電子を発光板に当てて発光させる電子放出素子を備えたアクティブマトリクス型の表示装置等をいう。
【0047】
例えば、EL素子を用いた電気光学装置であれば、EL素子の製造工程とこれを駆動する薄膜トランジスタ等の素子の製造工程とが異なる。これらをそれぞれ別の転写元基板上に製造しそれぞれ被転写体として選択的に集積することで、簡単に電気光学装置の編成が可能である。
【0048】
また、転写法を利用することで、EL素子の製造時に、発光層及び反射防止層に熱的ダメージを与えることなくEL素子を転写により実装できるとともに、従来のように基板と発光層の間に素子を形成する場合と比べ素子が表示の邪魔にならないために表示性能が向上するという効果も奏する。
【0049】
また本発明は、上記回路基板の製造方法によって製造される回路基板を備える電子機器でもある。
【0050】
本発明の電子機器によれば、電子機器を構成する複数の素子や回路等の被転写体について、それぞれが同一工程で製造可能であれば一の転写元基板に形成し、他の製造工程が必要であれば他の転写元基板に製造し、それぞれの転写元基板から選択的に被転写体を吸引し、電子機器製造のための回路基板上に集積することができる。このため多種多様な素子や回路を利用する電子機器の製造方法として本発明は簡便な方法を提供することとなる。
【0051】
また、本発明では転写法を利用しているため、基材上に間隔をおいて分散配置される電子機器に用いられる多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造し、それらを転写先基材上の所定位置に正確に転写することができるので、基板上に直接素子を形成し製造される従来の電子機器と比べ、薄膜トランジスタ等の素子製造における面積効率を大幅に向上できる。
【0052】
また多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造してから、転写先基材に転写して製造するので、熱等の製造プロセスにおいて一旦製造した素子や回路にダメージを与えることなく最終的に転写先基材に実装させることができ、電子機器の性能向上を図ることができる。
【0053】
さらに素子や回路を転写前に選別、排除することが容易に実行可能となり、その結果製品歩留まりを向上することができる。
【0054】
また、微小な素子や回路を最終的な転写先基材の所定位置に正確に配置することによって基板の曲げに対する追従性が向上し、フレキシブルな転写先基材を用いることによって、しなやかで、軽く、落下の衝撃にも強い電子機器を提供することができる。さらに曲面ディスプレイ等の曲面を有する電子機器を提供することもできるので、従来品では不可能であるかまたは困難であった形状とすることができ、製品設計の自由度が広げられる。
【0055】
ここで「電子機器」とは、複数の素子または回路の組み合わせにより一定の機能を奏する機器一般をいい、例えば電気光学装置やメモリを備えて構成される。回路基板を一枚または複数備えることが可能である。その構成に特に限定が無いが、例えば、ICカード、携帯電話、ビデオカメラ、パーソナルコンピュータ、ヘッドマウントディスプレイ、リア型またはフロント型のプロジェクター、さらに表示機能付きファックス装置、デジタルカメラのファインダ、携帯型TV、DSP装置、PDA、電子手帳、電光掲示盤、宣伝公告用ディスプレイ等が含まれる。
【0056】
【発明の実施の形態】
次に本発明の好適な実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
<第1の実施の形態>
本発明の第1の実施の形態は、それぞれ異なる種類の被転写体が複数形成されている複数の転写元基板のそれぞれから一以上の当該被転写体を仮固定して剥離し、剥離された被転写体を転写先基板の各々を、予め定められた位置にそれぞれ転写していく回路基板の製造方法である。
【0057】
図1に本第1の実施の形態に係る回路基板の製造方法の概略図を示す。
本第1の実施の形態は、連続的に回路基板を製造する方法に係る。すなわち、図1に示すように、転写先基板SUBDを一枚ずつ供給する工程(S10)と、後述する転写方法によって被転写体の剥離・転写する工程(S11〜S14)と、転写後の転写先基板SUBDを順次排出する工程(S15)と、を繰り返して、転写先基板SUBD1〜nが順次供給・製造されるようになっている。
【0058】
転写方法としては、まず第1被転写体Saが複数形成された第1転写元基板SUBAからいずれかの第1被転写体Saを仮固定して剥離する工程(S11)、剥離された第1被転写体Saを転写先基板SUBDの予め定められた位置Paに転写する工程(S12)、第2被転写体Sbが複数形成された第2転写元基板SUBBからいずれかの第2被転写体Sbを仮固定して剥離する工程(S13)、及び剥離された第2被転写体Sbを転写先基板SUBDの予め定められた位置Pbに転写する工程(S14)を備えている。
【0059】
転写元基板SUBAには、予め、領域Aにおいて同一の被転写体Saが複数集積して形成されている。同様に転写元基板SUBBには、予め領域Bにおいて同一の被転写体Sbが複数集積して形成されている。これらの形成方法は次のステップS101〜S103において詳述する。
【0060】
なお、転写元基板SUBAやSUBBに被転写体SaまたはSbを形成する工程はどちらが先に形成するものでもよいし同時に形成するものでもよい。
【0061】
被転写体SaまたはSbの剥離は、仮固定手段HaまたはHbによる。当該仮固定手段HaまたはHbを被転写体SaまたはSbに当接させ、仮固定手段により吸引することにより被転写体を仮固定し、被転写体SaまたはSbが仮固定された仮固定手段HaまたはHbを移動(図では上昇)させて当該被転写体を転写元基板から剥離して達成される。
【0062】
また被転写体SaまたはSbの転写は、転写先基板SUBAまたはSUBBに図示しない接着手段を供給し、仮固定手段HaまたはHbを転写先基板SUBAまたはSUBBの予め定められた位置PaまたはPbに搬送して当該被転写体を接着し、接着された被転写体SaまたはSbを搬送した仮固定手段HaまたはHbの吸引を解除することにより仮固定を解除して達成される。
【0063】
なお、転写元基板SUBAやSUBBに被転写体SaまたはSbを形成する工程はどちらが先に形成するものでもよいし同時に形成するものでもよい。同様に被転写体SaまたはSbの剥離・転写はどちらが先に行うものでも同時に行うものでもよい。仮固定手段を兼用とし被転写体SaおよびSbを順に剥離・転写するものでもよい。また、転写先基板SUBDには予め所定のパターンP0を設けておいてもよい。
【0064】
次に、図2に示す本第1の実施の形態に係る回路基板の製造方法の製造工程断面図を参照して、詳細な製造方法を説明する。
(剥離層形成工程:ST101)
まず図2:ST101に示すように、転写元基板10上に剥離層11を形成する。
転写元基板10は、光が透過し得る透光性を有するものであることが好ましい。これにより転写元基板を介して剥離層に光を照射することができ、剥離層を光照射によって迅速かつ正確に剥離させることができるからである。光の透過率は10%以上であるのが好ましく、50%以上であるのがより好ましい。この透過率が高い程光の減衰(ロス)がより少なくなり、剥離層11を剥離するのにより小さな光量で済むからである。
【0065】
転写元基板10は、信頼性の高い材料で構成されているのが好ましく、特に、耐熱性に優れた材料で構成されているのが好ましい。その理由は、被転写体層12を形成する際に、その種類や形成方法によってはプロセス温度が高くなる(例えば350〜1000℃程度)ことがあるが、そのとき転写元基板10が耐熱性に優れていれば、転写元基板10上への被転写体層12の形成に際し、その温度条件等の成膜条件の設定の幅が広がるからである。これにより転写元基板上に多数の素子や回路を製造する際、所望の高温処理が可能となり、信頼性が高く高性能の素子や回路を製造することができる。
【0066】
従って、転写元基板10は、被転写体層12の形成の際の最高温度をTmaxとしたとき、歪点がTmax以上の材料で構成されているものが好ましい。具体的には、転写元基板10の構成材料は、歪点が350℃以上のものが好ましく、500℃以上のものがより好ましい。このようなものとしては、例えば、石英ガラス、コーニング7059、日本電気ガラスOA−2等の耐熱性ガラスが挙げられる。
【0067】
また、転写元基板10の厚さは、特に限定されないが、通常は、0.1〜5.0mm程度であるのが好ましく、0.5〜1.5mm程度であるのがより好ましい。転写元基板10の厚さがより厚ければより強度が上昇し、より薄ければ転写元基板10の透過率が低い場合に、光の減衰をより生じにくくなるからである。なお、転写元基板10の光の透過率が高い場合には、その厚さは、前記上限値を超えるものであってもよい。
【0068】
なお、光を均一に照射できるように、転写元基板10の厚さは、均一であるのが好ましい。
【0069】
このように転写元基材である転写元基板には数々の条件があるが、転写元基材は最終製品となる転写先基材とは異なり、繰り返し利用することが可能であるため、比較的高価な材料を用いても繰り返し使用によって製造コストの上昇を少なくすることが可能である。
【0070】
剥離層11は、照射される光を吸収し、その層内および/または界面において剥離(以下、「層内剥離」、「界面剥離」と言う)を生じるような性質を有するものであり、好ましくは、光の照射により、剥離層11を構成する物質の原子間または分子間の結合力が消失または減少すること、すなわち、アブレーションが生じて層内剥離および/または界面剥離に至るものがよい。
【0071】
光の照射により、剥離層11から気体が放出され、分離効果が発現される場合もある。すなわち、剥離層11に含有されていた成分が気体となって放出される場合と、剥離層11が光を吸収して一瞬気体になり、その蒸気が放出され、分離に寄与する場合とがある。このような剥離層11の組成としては、例えば、次の材料A〜Fに記載されるものが挙げられる。
【0072】
材料A.アモルファスシリコン(a−Si)
このアモルファスシリコン中には、水素(H)が含有されていてもよい。この場合、Hの含有量は、2原子%以上程度であるのが好ましく、2〜20原子%程度であるのがより好ましい。このように、水素(H)が所定量含有されていると、光の照射によって水素が放出され、剥離層11に内圧が発生し、それが上下の薄膜を剥離する力となる。アモルファスシリコン中の水素(H)の含有量は、成膜条件、例えばCVDにおけるガス組成、ガス圧、ガス雰囲気、ガス流量、温度、基板温度、投入パワー等の条件を適宜設定することにより調整することができる。アモルファスシリコンは光吸収性がよく、また、成膜も容易であり実用性が高い。したがって、剥離層をアモルファスシリコンで構成することによって、光照射により正確に剥離を生じる剥離層を安価に形成することができる。
【0073】
材料B.酸化ケイ素又はケイ酸化合物、酸化チタンまたはチタン酸化合物、酸化ジルコニウムまたはジルコン酸化合物、酸化ランタンまたはランタン酸化化合物等の各種酸化物セラミックス、透電体(強誘電体)あるいは半導体
酸化ケイ素としては、SiO、SiO、Siが挙げられ、ケイ酸化合物としては、例えばKSiO、LiSiO、CaSiO、ZrSiO、NaSiOが挙げられる。
【0074】
酸化チタンとしては、TiO、Ti、TiOが挙げられ、チタン酸化合物としては、例えば、BaTiO、BaTiO、BaTi 、BaTi11、CaTiO、SrTiO、PbTiO、MgTiO、ZrTiO、SnTiO、AlTiO、FeTiOが挙げられる。
【0075】
酸化ジルコニウムとしては、ZrOが挙げられ、ジルコン酸化合物としては、例えばBaZrO、ZrSiO、PbZrO、MgZrO、KZrOが挙げられる。
【0076】
また窒素を含有するシリコンで構成することは好ましい。剥離層に窒素含有シリコンを用いた場合、光の照射に伴い窒素が放出され、これによって剥離層における剥離が促進されるからである。
【0077】
材料C.PZT、PLZT、PLLZT、PBZT等のセラミックスあるいは誘電体(強誘電体)
【0078】
材料D.窒化珪素、窒化アルミ、窒化チタン等の窒化物セラミックス
【0079】
材料E.有機高分子材料有機高分子材料としては、−CH−、−CO−(ケトン)、−CONH−(アミド)、−NH−(イミド)、−COO−(エステル)、−N=N−(アゾ)、−CH=N−(シッフ)等の結合(光の照射によりこれらの結合が切断される)を有するもの、特に、これらの結合を多く有するものであればいかなるものでもよい。また、有機高分子材料は、構成式中に芳香族炭化水素(1または2以上のベンゼン環またはその縮合環)を有するものであってもよい。
【0080】
このような有機高分子材料の具体例としては、ポリエチレン,ポリプロピレンのようなポリオレフィン,ポリイミド,ポリアミド,ポリエステル,ポリメチルメタクリレート(PMMA),ポリフェニレンサルファイド(PPS),ポリエーテルスルホン(PES),エポキシ樹脂等が挙げられる。
【0081】
材料F.金属
金属としては、例えば、Al,Li,Ti,Mn,In,Sn,Y,La,Ce,Nd,Pr,Gd,Smまたはこれらのうちの少なくとも1種を含む合金が挙げられる。
【0082】
その他、剥離層11を水素含有合金で構成することもできる。剥離層に水素含有合金を用いた場合、光の照射に伴い水素が放出され、これによって剥離層における剥離が促進されるからである。
【0083】
また、剥離層11を窒素含有合金で構成することもできる。剥離層に窒素含有合金を用いた場合、光の照射に伴い窒素が放出され、これによって剥離層における剥離が促進されるからである。
【0084】
さらに、剥離層11を多層膜からなるものとすることもできる。多層膜は、例えばアモルファスシリコン膜とその上に形成された金属膜とからなるものとすることができる。多層膜の材料として、上記したセラミックス,金属,有機高分子材料の少なくとも一種から構成することもできる。このように剥離層を多層膜または異種材料の組み合わせによる膜として構成すれば、アモルファスシリコンの場合と同様に、光の照射に伴う水素ガスや窒素ガスの放出によって、分離層における剥離が促進されるからである。
【0085】
剥離層11の厚さは、剥離目的や剥離層の組成、層構成、形成方法等の諸条件により異なるが、通常は、1nm〜20μm程度であるのが好ましく、10nm〜2μm程度であるのがより好ましく、40nm〜1μm程度であるのがさらに好ましい。剥離層11の膜厚がより大きい程より成膜の均一性を保て剥離にムラを生じにくくなる一方、膜厚がより薄い程剥離層11の良好な剥離性を確保するための光のパワー(光量)が小さくて済むとともに、後に剥離層11を除去する際にその作業にかかる時間がより少なくなるからである。なお、剥離層11の膜厚は、できるだけ均一であるのが好ましい。
【0086】
剥離層11の形成方法は、特に限定されず、膜組成や膜厚等の諸条件に応じて適宜選択される。たとえば、CVD(MOCVD、低圧CVD、ECR−CVDを含む)、蒸着、分子線蒸着(MB)、スパッタリング、イオンプレーティング、PVD等の各種気相成膜法、電気メッキ、浸漬メッキ(ディッピング)、無電解メッキ等の各種メッキ法、ラングミュア・プロジェット(LB)法、スピンコート、スプレーコート、ロールコート等の塗布法、各種印刷法、転写法、インクジェットコーティング法、粉末ジェット法等が挙げられ、これらのうちの2以上を組み合わせて形成することもできる。
【0087】
例えば、剥離層11の組成がアモルファスシリコン(a−Si)の場合には、CVD、特に低圧CVDやプラズマCVDにより成膜するのが好ましい。
【0088】
また、剥離層11をゾル−ゲル法によるセラミックスで構成する場合や、有機高分子材料で構成する場合には、塗布法、特に、スピンコートにより成膜するのが好ましい。
【0089】
なお、図2には示されていないが、転写元基板10と剥離層11の性状に応じて、両者の密着性の向上等を目的とした中間層を転写元基板10と剥離層11の間に設けても良い。この中間層は、例えば製造時または使用時において被転写層を物理的または化学的に保護する保護層、絶縁層、被転写層へのまたは被転写層からの成分の移行(マイグレーション)を阻止するバリア層、反射層としての機能のうち少なくとも一つを発揮するものである。
【0090】
この中間層の組成は、その目的に応じて適宜選択されえる。例えば非晶質シリコンで構成された剥離層と被転写層との間に形成される中間層の場合には、SiO等の酸化珪素が挙げられる。また、他の中間層の組成としては、例えば、Pt、Au、W,Ta,Mo,Al,Cr,Tiまたはこれらを主成分とする合金のような金属が挙げられる。
【0091】
中間層の厚みは、その形成目的に応じて適宜決定される。通常は、10nm〜5μm程度であるのが好ましく、40nm〜1μm程度であるのがより好ましい。中間層の膜厚がより大きい程より成膜の均一性を保て密着性にムラを生じにくくなる一方、膜厚がより薄い程剥離層にまで透過すべき光の減衰がより少なくなるからである。
【0092】
中間層の形成方法としては、前記剥離層で説明した各種の方法が適用可能である。中間層は、一層で形成する他、同一または異なる組成を有する複数の材料を用いて二層以上形成することもできる。
【0093】
(被転写体形成工程:ST102)
次に、図2:ST102に示すように、剥離層11上に複数の被転写体12aからなる転写体層12を形成する。各被転写体12aは、薄膜トランジスタその他の能動素子や受動素子、又はそれらの組み合わせからなる回路である。被転写体12aは、個々の素子であったり集積回路等の独立した機能を有するチップであったり、さらに両者の中間の独立した機能は奏しないが他の素子や回路と組み合わせることにより独立して機能する回路の部分であったりする。したがってその構造やサイズに限定はない。各被転写体12aは、同じ機能の素子又は回路を複数形成する場合の他、異なる機能の素子又は回路を複数形成したり、異なる種類の素子又は回路をそれぞれ複数個ずつ形成したりしてもよい。
【0094】
いずれにせよ、被転写体12aは同一の基板上に形成されるものであるため、同様な製造プロセスで製造可能であるものである。
【0095】
本実施の形態では、特に、被転写体を薄膜素子または薄膜素子で構成される集積回路とする。このような薄膜素子は製造過程においてある程度の高温プロセスが要求され、薄膜素子を形成する基材は転写元基板のように種々の条件を満たす必要がある。一方で製品化する最終基板は例えば可撓性を有するフレキシブル基板であることが考えられる。このように薄膜素子の製造では、転写先基板に求められる要件と薄膜素子を製造する基板に求められる条件が相反する可能性があるが、本発明の製造方法を適用すれば、製造条件を満たす基板で薄膜素子を製造してから、この製造条件を満たさない転写先基板に薄膜素子を転写することが可能である。
【0096】
このような薄膜素子の例として、薄膜トランジスタの他に、例えば、薄膜ダイオードや、シリコンのPIN接合からなる光電変換素子(光センサ、太陽電池)やシリコン抵抗素子、その他の薄膜半導体デバイス、電極(例:ITO、メサ膜のような透明電極)、スイッチング素子、メモリ、圧電素子等のアクチュエータ、マイクロミラー(ピエゾ薄膜セラミックス)、磁気記録薄膜ヘッド、コイル、インダクター、抵抗、キャパシタ、薄膜高透磁材料およびそれらを組み合わせたマイクロ磁気デバイス、フィルター、反射膜、ダイクロイックミラー等がある。
【0097】
図3(a)は、本実施の形態において用いられる被転写体12aの一例である薄膜トランジスタTの断面図である。この薄膜トランジスタTは、剥離層11に中間層13を介して形成されており、ゲート絶縁膜14、ゲート電極16、層間絶縁膜15、及びアルミニウム等からなる電極17、チャネル領域18、及びポリシリコン層にn型不純物を導入して形成されたソース,ドレイン領域19を具備する。薄膜トランジスタTはこのような構成に限定されることなく、シリコンベースのトランジスタやSOI(silicon on insulator)などの種々の構造を適用し得る。
【0098】
中間層13としてはSiO膜を使用する。その他中間層として、Siその他の絶縁膜を使用することもできる。中間層13の厚みは、その形成目的や発揮し得る機能の程度に応じて適宜決定されるが、通常は、10nm〜5μm程度であるのが好ましく、40nm〜1μm程度であるのがより好ましい。中間層は、種々の目的で形成され、例えば、被転写体(薄膜素子)12aを物理的または化学的に保護する保護層,絶縁層,導電層,レーザ光の遮光層,マイグレーション防止用のバリア層,反射層としての機能の内の少なくとも1つの機能を発揮する。
【0099】
なお、場合によっては、中間層13を形成せず、剥離層11上に直接被転写体(薄膜素子)12aを形成してもよい。
【0100】
図3(b)及び図3(c)は、本実施の形態において用いられる被転写体12aの一例として、本発明の転写方法で製造され、薄膜素子を集積して構成される集積回路であるスタティックRAMを示してある。
【0101】
図3(c)に示すように、当該集積回路200は、メモリセルアレー201、アドレスバッファ202、行デコーダ203、ワードドライバ204、アドレスバッファ205、列デコーダ206、列選択スイッチ207、入出力回路208、及び制御回路209の各ブロックを備えている。各ブロックには、薄膜トランジスタを中心とする回路が形成されており、互いのブロック間には金属層をパターニングすることによる配線が形成されている。
【0102】
図3(b)は、図3(c)の3B―3B断面における集積回路200の断面図であり、p型MOSトランジスタTpとn型MOSトランジスタTnとが形成されている付近を示している。当該断面図に示すように、剥離層11の上に被転写体層12が形成されている。被転写体層12は、下地となるシリコン層13、多数の素子や配線の層構造が形成された配線層210、および上面を保護するための保護層217等が形成されている。
【0103】
配線層210には、ウェル領域211、不純物が導入され、ソースまたはドレインを形成する半導体領域212、ゲート絶縁膜214、ゲート配線膜213、層間絶縁膜215、金属配線層216等によって回路が形成されている。保護層217は、配線層210を保護するための膜である。集積回路200の回路構成は種々に考えられるが、このようなメモリ回路に関するものの他、例えば電気光学装置である表示装置用の画素駆動回路等にも適用が考えられる。このように、被転写体12aとしては、個々の素子のみならず素子の組み合わせによって一定の機能を奏するように構成された集積回路も適用可能である。
【0104】
図4に、被転写体12aの製造方法として、図3(a)で説明したような薄膜トランジスタTの製造方法を例示する。
【0105】
まず、ST110に示すように、転写元基板10上にSiO膜を堆積させて中間層13を形成する。SiO膜の形成方法としては、公知の方法、例えば、プラズマ化学気相堆積法(PECVD法)や低圧化学気相堆積法(LPCVD法)、スパッタリング法等の気相堆積法が挙げられる。例えば、PECVD法を利用することにより厚さ1μmの中間層13を形成する。次いで公知の方法、例えばLPCVD法を適用して半導体膜18を形成する。この半導体膜18をパターニングして、薄膜トランジスタの半導体領域の形状に形成する。
【0106】
次に、ST111に示すように、SiO等の絶縁膜14を所定の製造方法、例えば電子サイクロトロン共鳴PECVD法(ECR−CVD法)、平行平板PECVD法、またはLPCVD法にて形成する。この絶縁膜14は薄膜トランジスタのゲート絶縁膜として機能するものである。
【0107】
次に、ST112に示すように、所定のゲート用金属、例えばタンタルまたはアルミニウムの金属薄膜をスパッタリング法により形成した後、パターニングすることによって、ゲート電極16を形成する。そしてこのゲート電極16をマスクとして、ドナーまたはアクセプターとなる不純物イオンを打ち込み、ソース/ドレイン領域19をゲート電極16に対して自己整合的に作製する。例えば、NMOSトランジスタを作製するためには、不純物元素としてリン(P)を所定の濃度、例えば1×1016cm−2の濃度でソース/ドレイン領域に打ち込む。その後、適当なエネルギーの印加、例えばXeClエキシマレーザを照射エネルギー密度200から400mJ/cm程度で照射するか、250℃から450℃程度の温度で熱処理することにより、不純物元素の活性化を行う。
【0108】
次に、ST113に示すように、絶縁膜14およびゲート電極16の上面に、所定の方法、例えばPECVD法により約500nmのSiO膜15を形成する。次に、ソース/ドレイン領域19に至るコンタクトホールをSiO膜14及び15に設けて、これらコンタクトホールおよびコンタクトホールの周縁部に、所定の方法、例えばスパッタリング法でアルミニウム等を堆積してソース/ドレイン電極17を形成する。
【0109】
(被転写体分離工程:ST103)
次に、図2:ST103に示すように、被転写体層12を素子や回路等の被転写体12a単位に分割する。具体的には、被転写体12aの周辺領域をエッチングして被転写体層12及び剥離層11を完全に分離する。エッチングにはウェットエッチングまたはドライエッチングを用いる。エッチングにより被転写体12aの周囲には溝12cが形成されており、各々の被転写体12aが島状に残されている。このような溝を設けることにより、一つの被転写体12aに対応する剥離層11の結合力を弱めれば、その被転写体のみを確実に選択してきれいに剥離することが可能となり、当該被転写体が剥離の際に破壊されることを防止することが可能となる。また剥離に伴う被転写体層12の破断が隣接領域に及ばないようにすることが可能となる。また、膜厚方向にカットを入れておくことによって、特定の被転写体12aを仮固定するための仮固定手段の接合力が弱い場合であっても被転写体12aを剥がすことが可能となる。また、転写対象となる領域の外観が明確であるので基板間の転写の際の位置合わせが容易となる。
【0110】
図5に、被転写層12における各被転写体12aの分離方法の変形例について示す。被転写体の分離工程は、個々の被転写体を選択的に分離するという目的を達成すればよく、その目的を達成できる範囲において変形が可能である。
【0111】
例えば、図5(a)に示すように、完全に被転写体層12と剥離層11とをエッチングで分離する変わりに、被転写体層12のみをエッチングして島状にしておいてもよい。被転写体12aが形成された領域に満遍なくエネルギーを付与できるのならこの領域の剥離層11に確実に剥離を生じさせることができるため、剥離層11自体に亀裂を設けていなくても所望の被転写体のみを剥離させることが可能である。
【0112】
また図5(b)に示すように、剥離層11の途中までエッチングして被転写体12aを島状に残しておくこともできる。このような分離によれば、剥離層の分離がこのエッチングの溝に沿って綺麗に生じさせることができる。
【0113】
また図5(c)に示すように、エッチング、特にウェットエッチングを強めることで、各々の被転写体12aとその直下の剥離層11とを同じ形状で島状に残すようにしてもよい。剥離層11をオーバーエッチングすることによって、剥離層の面積が少なくなるため剥離層11に光を照射して剥離する際に少ない力で確実に剥離できるとともに、剥離層11を縮小することによって剥離の際に必要な光エネルギー量を減らすことができるからである。
【0114】
逆に図5(d)に示すように、被転写体層12の途中までエッチングによりカットしておくことも可能である。被転写体層12が薄く、仮固定による機械的な剥離力によって破断するものであれば、溝12cが比較的浅くても分離が可能である。このような分離では、被転写体12aの周囲にそって破断が生じるため、素子や回路に影響を与えないように、破断線の周囲に沿って素子や回路を設けない禁止領域を形成しておくことが好ましい。
【0115】
または図5(e)に示すように、転写元基板10の表面に転写対象領域の外周に沿って盛り上がった突起10bを形成しておく。このような凸部構造が剥離層11に生じ(11b)さらに被転写体層12にも生ずる(12b)。このような構造により隣接する被転写体間の連続性が弱められ、当該構造によって仕切られる領域にそって被転写体層12を破断させやすくなる。凸部構造の代わりに凹部構造としてもよい。
【0116】
なお、凸部構造をした転写元基板10上に剥離層11を形成してからエッチバック等により剥離層表面を平坦化してから被転写層12を形成してもよい。
【0117】
(剥離工程:ST104)
次に、図2:ST104に示すように、転写させたい被転写体12aに対応する領域の剥離層11に選択的に光Lを照射することによって、転写するべき被転写体12aを支持している剥離層11に剥離(層内剥離および/または界面剥離)を生じさせる。
【0118】
剥離層11の層内剥離および/または界面剥離が生じる原理は、剥離層11の構成材料にアブレーションが生じること、また、剥離層11に含まれているガスの放出、さらには照射直後に生じる溶融、蒸散等の相変化によるものである。
【0119】
ここで、アブレーションとは、照射光を吸収した固定材料(剥離層11の構成材料)が光化学的または熱的に励起され、その表面や内部の原子または分子の結合が切断されて放出することをいい、主に、剥離層11の構成材料の全部または一部が溶融、蒸散(気化)等の相変化を生じる現象として現れる。また、前記相変化によって微小な発泡状態となり、結合力が低下することもある。
【0120】
剥離層11が層内剥離を生じるか、界面剥離を生じるか、またはその両方であるかは、剥離層11の組成や、その他種々の要因に左右され、その要因の1つとして、照射される光の種類、波長、強度、到達深さ等の条件が挙げられる。
【0121】
照射する光Lとしては、剥離層11に層内剥離および/または界面剥離を起こさせるものであればいかなるものでもよく、例えば、X線、紫外線、可視光、赤外線(熱線)、レーザ光、ミリ波、マイクロ波、電子線、放射線(α線、β線、γ線)等が挙げられる。
【0122】
そのなかでも、剥離層11の剥離(アブレーション)を生じさせ易く、かつ高精度の局部照射が可能である点で、レーザ光が好ましい。レーザ光はコヒーレント光であり、転写元基板10を介して剥離層に高出力パルス光を照射して高精度で所望部分に剥離を生じさせるのに好適である。したがって、レーザ光の使用によって、容易にかつ確実に被転写体12aを剥離させることができる。
【0123】
このレーザ光を発生させるレーザ装置としては、各種気体レーザ、固体レーザ(半導体レーザ)等が挙げられるが、エキシマレーザ、Nd−YAGレーザ、Arレーザ、COレーザ、COレーザ、He−Neレーザ等が好適に用いられる。
【0124】
このレーザ光としては、波長100nm〜350nmを有するレーザ光が好ましい。このように短波長レーザ光を用いることにより、光照射精度が高められるとともに、剥離層11における剥離を効果的に行うことができる。
【0125】
上述の条件を満たすレーザ光としては、例えばエキシマレーザを挙げることができる。エキシマレーザは、短波長紫外域の高エネルギーのレーザ光出力が可能なガスレーザであり、レーザ媒質として希ガス(Ar,Kr,Xeなど)とハロゲンガス(F,HClなど)とを組み合わせたものを用いることにより、代表的な4種類の波長のレーザ光を出力することができる(XeF=351nm,XeCl=308nm,KrF=248nm,ArF=193nm)。エキシマレーザは、短波長域で高エネルギーを出力するため、極めて短時間で剥離層11にアブレーションを生じさせることができ、よって転写元基板10に温度上昇をほとんど生じさせることなく、被転写体12a等に劣化、損傷を生じさせることなく、剥離層11を剥離することができる。
【0126】
あるいは、剥離層11に、例えばガス放出、気化、昇華等の相変化を起こさせて分離特性を与える場合、照射されるレーザ光の波長は、350から1200nm程度が好ましい。
【0127】
このような波長のレーザ光は、YAG、ガスレーザなどの一般加工分野で広く使用されるレーザ光源や照射装置を用いることができ、光照射を安価にかつ簡単に行うことができる。また、このような可視光領域の波長のレーザ光を用いることによって、転写元基板10が可視光透光性であればよく、転写元基板10の選択の自由度を広げることができる。
【0128】
また、照射されるレーザ光のエネルギー密度、特に、エキシマレーザの場合のエネルギー密度は、10〜5000mJ/cm程度とするのが好ましく、100〜500mJ/cm程度とするのがより好ましい。また、照射時間は、1〜1000nsec程度とするのが好ましく、10〜100nsec程度とするのがより好ましい。エネルギー密度がより高くまたは照射時間がより長い程アブレーション等が生じ易く、一方で、エネルギー密度がより低くまたは照射時間がより短い程剥離層11を透過した照射光により被転写体12a等に悪影響を及ぼすおそれを低減できるからである。
【0129】
なお、剥離層11を透過した照射光が被転写体12aにまで達して悪影響を及ぼす場合の対策としては、例えば、剥離層11上にタンタル(Ta)等の金属膜を形成する方法がある。これにより、剥離層11を透過したレーザ光は、金属膜の界面で完全に反射され、それよりの上の被転写体12aに悪影響を与えない。
【0130】
レーザ光に代表される照射光は、その強度が均一となるように照射されるのが好ましい。照射光の照射方向は、剥離層11に対し垂直な方向に限らず、剥離層11に対し所定角度傾斜した方向であってもよい。
【0131】
また、剥離層11の面積が照射光の1回の照射面積より大きい場合には、剥離層11の全領域に対し、複数回に分けて照射光を照射することもできる。また、同一箇所に2回以上照射してもよい。また、異なる種類、異なる波長(波長域)の照射光(レーザ光)を同一領域または異なる領域に2回以上照射してもよい。
【0132】
(仮固定工程:ST105)
次に、図2:ST105に示すように、仮固定手段Vによって剥離させるべき被転写体12aを仮固定して転写元基板10から剥離する。具体的には、仮固定手段Vを剥離させるべき被転写体12aに当接させる。そして仮固定手段Vによいり吸引することにより被転写体12aを仮固定してから仮固定手段Vを移動(上昇)させて当該被転写体12aを転写元基板10から剥離する。
【0133】
仮固定手段Vとしては、真空ピンセットを用いる。当該真空ピンセットとは、中空状のピンセットであって、先端部を含めて樹脂で覆われており、真空ポンプによって先端部から吸引することが可能になっているピンセットであり、ウェハ搬送用のピンセットやマニュアル用のピンセットがある。例えば、フロロメカニック(Fluoro Mechanic)社製の真空ピンセットC001−C−X−100−97やC001−D−Y−161−92等を真空ポンプFV−30、FV−60、FV−TP等と組み合わせて利用することが可能である。真空ピンセットには吸引した被転写体を転写先基板まで相対的に搬送する搬送手段が必要である。搬送手段は転写元基板と転写先基板とを動かすものであってもよい。
【0134】
図2:ST105に示すように、被転写体12aが転写された転写元基板10には、剥離層11の剥離残分が付着している場合があり、これを完全に取り除くことが望ましい。残存している剥離層11を除去するための方法は、例えば洗浄、エッチング、アッシング、研磨等の方法、またはこれらを組み合わせた方法の中から適宜選択して採用することができる。
【0135】
同様に、剥離された被転写体12aの底面にも剥離層11の剥離残分が付着している場合には、前記と同様に除去することができる。これによって総ての被転写体12aが剥離された後に、この転写元基板10を再利用(リサイクル)に供することができる。転写元基板10を再利用することにより、製造コストの無駄を省くことができる。これは石英ガラスのような高価な材料、希少な材料からなる転写元基板10を用いる場合に特に有効となる。
【0136】
なお、本実施の形態では、剥離工程(ST104)を仮固定工程(ST105)の先に行っていたが、剥離と仮固定とを逆の順に行ってもまた同時に行ってもよい。
【0137】
(転写工程:ST106)
次に図2:ST106に示すように、仮固定した被転写体12aを転写先基板20に転写する。その前に、転写先基板20に接着層21を予め供給しておく。
【0138】
転写先基板20としては、特に限定されないが、基板(板材)、特に透明基板が挙げられる。なお、このような基板は平板であっても、湾曲板であってもよい。また、転写先基板20は、転写元基板10に比べ、耐熱性・耐食性等の特性が劣るものであってもよい。その理由は、本発明では、転写元基板10側に被転写体12aを形成し、その後、被転写体12aを転写先基板20に転写するため、転写先基板20に要求される特性、特に耐熱性は、被転写体12aの形成の際の温度条件等に依存しないからである。
【0139】
したがって、被転写体12aの形成の際の最高温度をTmaxとしたとき、転写先基板20の構成材料として、ガラス転移点(Tg)または軟化点がTmax以下のものを用いることができる。例えば、転写先基板20は、ガラス転移点(Tg)または軟化点が好ましくは800℃以下、より好ましくは500℃以下、さらに好ましくは320℃以下の材料で構成することができる。
【0140】
また、転写先基板20の機械的特性としては、ある程度の剛性(強度)を有するものが好ましいが、可撓性、弾性を有するものであってもよい。このように可撓性を有する転写先基板に薄膜トランジスタ等の素子を転写すれば、剛性の高いガラス基板では得られないような優れた特性が実現可能である。従って、本発明において、可撓性のある転写先基板を用い、例えば電気光学装置を製造することによって、しなやかで、軽くかつ落下の衝撃にも強い電気光学装置を実現することができる。
【0141】
このような転写先基板20の構成材料としては、各種合成樹脂または各種ガラス材が挙げられ、特に、各種合成樹脂や通常の低融点の安価なガラス材が好ましい。特に、ソーダガラス基板は低価格であり、経済的に有利な基板である。ソーダガラス基板は、薄膜トランジスタ製造時の熱処理によりアルカリ成分が溶出するといった問題があり、従来は、アクティブマトリクス型の液晶表示装置等の電気光学装置への適用が困難であった。しかし、本発明によれば、既に完成した素子を転写先基板に転写するため、前述の熱処理に伴う問題は解消される。よって本発明では、アクティブマトリクス型の電気光学装置の分野において、ソーダガラス基板等の従来使用が困難だった基板も使用可能になる。
【0142】
合成樹脂としては、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂のいずれでもよく、例えば、ポリエチレン、ポロプロピレン、エチレン−プレピレン共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)等のポリオレフィン、環状ポリオレフィン、変性ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネート、ポリ−(4−メチルベンテン−1)、アイオノマー、アクリル系樹脂、ポリメチルメタクリレート、アクリル−スチレン共重合体(AS樹脂)、ブタジエン−スチレン共重合体、ポリオ共重合体(EVOH)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリプチレンテレフタレート(PBT)、ポリシクロヘキサンテレフタレート(PCT)等のポリエステル、ポリエーテル、ポリエーテルケトン(PEK)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルイミド、ポリアセタール(POM)、ポリフェニレンオキシド、変性ポリフェニレンオキシド、ポリアリレート、芳香族ポリエステル(液晶ポリマー)、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、その他フッ素系樹脂、スチレン系、ポリオレフィン系、ポリ塩化ビニル系、ポリウレタン系、フッ素ゴム系、塩素化ポリエチレン系等の各種熱可塑性エラストマー、エボキシ樹脂、フェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル、シリコーン樹脂、ポリウレタン等、またはこれらを主とする共重合体、ブレンド体、ポリマーアロイ等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて(例えば2層以上の積層体として)用いることができる。
【0143】
ガラス材としては、例えば、ケイ酸ガラス(石英ガラス)、ケイ酸アルカリガラス、ソーダ石灰ガラス、カリ石灰ガラス、鉛(アルカリ)ガラス、バリウムガラス、ホウケイ酸ガラス等が挙げられる。このうち、ケイ酸ガラス以外のものは、ケイ酸ガラスに比べて融点が低く、また、成形、加工も比較的容易であり、しかも安価であり、好ましい。
【0144】
転写先基板20として合成樹脂で構成されたものを用いる場合には、大型の転写先基板を一体的に成形することができるとともに、湾曲面や凹凸を有するもの等の複雑な形状であっても容易に製造することができ、また、材料コスト、製造コストも安価であるという種々の利点が享受できる。したがって、合成樹脂の使用は、大型で安価なデバイス(例えば、液晶ディスプレイ)を製造する上で有利である。
【0145】
なお、転写先基板20は、例えば、液晶セルのように、それ自体独立したデバイスを構成するものや、例えばカラーフィルタ、電極層、誘電体層、絶縁層、半導体素子のように、デバイスの一部を構成するものであってもよい。
【0146】
さらに、転写先基板20は、金属、セラミックス、石材、木材紙等の物質であってもよいし、ある品物を構成する任意の面上(時計の面上、エアコンの表面上、プリント基板の上等)、さらには壁、柱、天井、窓ガラス等の構造物の表面上であってもよい。
【0147】
このような転写先基板20上の被転写体12aを転写すべき領域には、予め接着層21が設けられている。接着層21を構成する接着剤の好適な例としては、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤等の光硬化型接着剤、嫌気硬化型接着剤等の各種硬化型接着剤が挙げられる。接着剤の組成としては、例えば、エポキシ系、アクリレート系、シリコーン系等、いかなるものでもよい。また市販の接着剤を用いる場合、使用する接着剤は適当な溶剤を添加することによって、塗布するために好適な粘度に調節してもよい。
【0148】
本実施の形態において、接着層21は、転写するべき被転写体12a上にのみ、あるいは転写するべき被転写体12aに対応する転写先基板20上にのみ形成される。このような接着層15の局部形成は、印刷法やインクジェットコーティング法が利用できる。インクジェットコーティング法を実施するためには液体噴射装置を利用する。液体噴射装置の構造は、静電駆動タイプ、ピエゾ駆動タイプ、熱駆動タイプ等に分けられるが、その中でもピエゾ駆動タイプの液体吐出法は、材料液に熱を加えず吐出させるため接着剤の性質を変化させるおそれがない。従って、このような一部に液体を塗布する工業的目的として好ましい。このピエゾ駆動タイプのヘッドは、圧力室の壁面をなす振動板に圧電体素子を設けた構造をしており、圧電体素子に所定の電圧を加えることにより振動板を変形させて圧力室の体積を変化させ圧力室内部の液体を吐出させるものである。インクジェットコーティング法を利用する場合には、適当な有機溶媒に前記接着剤を溶解し、吐出可能な粘度と表面張力になるように材料液を調整する必要がある。
【0149】
接着層21の形成は、液体噴射装置のノズルを被転写体12aの転写位置に移動させて接着剤を含んだ材料液を吐出する。必要に応じて有機溶媒を蒸発させるための熱処理・乾燥処理をする。なお、被転写体12aの剥離に先立って、接着層21を転写先基板20上に形成しておいてもよい。
【0150】
接着層21が形成できたら、被転写体が仮固定された仮固定手段Vを転写先基板20の接着層21上に搬送し、当該被転写体を接着層21に圧着して接着層21と被転写体12aとの接着力を高める。そして、図2:ST107に示すように、仮固定手段Vの吸引を解除することにより仮固定を解除する。以上の工程により、一の被転写体12aの転写先基板20への転写が完了する。
【0151】
なお、本実施の形態では、接着層21として接着剤の塗布に代わり、接着(熱融着)シートを利用することも可能である。このような接着シートは、例えばフィルムテープ上に多数設けられており、このフィルムテープを装着したテープキャリアから順に供給して用いることが可能である。例えば、この接着シートを転写先基板20の該当箇所に貼ったり搬送中の被転写体12aの底面に貼り付けて用いることが可能である。接着シートは、ポリオレフィン系樹脂(ポリエチレン、ポリプロピレン、EVAなど)、エポキシ系樹脂、フッ素系樹脂、カルボキシル基含有アクリル系樹脂などの熱溶融樹脂ポリエステル系樹脂、アクリレート系樹脂、シリコーン系樹脂等のうちの1種または2種以上を混合して形成されている。接着シートの厚みは0.1〜100μm、好ましくは1〜50μm程度とされる。また接着シートの面積及び形状を被転写体12aの大きさや形状に対応させておくことは好ましい。テープキャリアを利用した接着シートの連続供給によって、生産効率を上げることができる。
【0152】
さて本第1の実施の形態では、同一の転写元基板10から他の被転写体12aを転写する場合には、剥離工程から転写工程まで(ST104〜ST107)を繰り返す。
【0153】
また他の転写元基板(図1における第2転写元基板)においても、上記第1転写元基板10について行った処理と同様の処理を繰り返す。これらの処理により、複数の転写元基板の被転写体が選択的に反転することなく転写先基板に集積される。
【0154】
なお、転写元基板は第1及び第2転写元基板SUBA及びSUBBに限らず、3枚以上の数とすることも可能である。各転写元基板は異なる製造方法で製造されるものであってもよい。本発明によれば、異なる製造工程によって製造された被転写体をそれぞれ任意の数だけ選択して一つの転写元基板に転写していくことができるからである。
【0155】
以上、本第1の実施の形態によれば、同様のまたは異なる製造工程によって製造される素子や回路等の被転写体が集積された転写元基板から任意の数だけ選択的に被転写体を仮固定によってそのままの向きで転写先基板の所定位置に転写することができる。このため被転写体の向きを反転させるための中間的な転写基板を用いることなく、簡単に被転写体を転写させてアセンブリ基板を製造することが可能である。また被転写体の向きが変わらないので、転写後の電極配線や接続が容易である。
【0156】
すなわち、本第1の実施の形態によれば、素子や回路等の被転写体を単位として、向きを反転することなく、比較的簡単に、かつ、製造工程の異なる被転写体を含めて、同一の転写先基板に転写することが可能である。
【0157】
また本第1の実施の形態によれば、転写先基材上に間隔をおいて分散配置される多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造し、それらを転写先基材上の所定位置に正確に転写することができるので、基板上に直接素子を形成し製造される従来の回路基板と比べ、薄膜トランジスタ等の素子製造における面積効率を大幅に向上でき、特に大型の回路基板を安価に提供することができる。
【0158】
さらに多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造してから、転写先基材に転写して製造するので、熱等の製造プロセスにおいて一旦製造した素子や回路にダメージを与えることなく最終的に転写先基材に実装させることができ、回路基板の性能向上を図ることができる。さらに素子や回路を転写前に選別、排除することが容易に実行可能となり、その結果製品歩留まりを向上することができる。
【0159】
さらにまた、微小な素子や回路を最終的な転写先基材の所定位置に正確に配置することによって基板の曲げに対する追従性が向上し、フレキシブルな転写先基材を用いることによって、しなやかで、軽く、落下の衝撃にも強いアクティブマトリクス型表示装置を提供することができる。さらに曲面ディスプレイ等の曲面を有する回路基板を提供することもできる。
【0160】
<第2の実施の形態>
本発明の第2の実施の形態は、同一の製造工程で製造されるが構造の異なる複数種類の被転写体が形成されている転写元基板を製造工程に対応させて複数枚用意し、それぞれの転写元基板から一種以上の被転写体を吸引により選択的に剥離し転写先基板に転写していく回路基板の製造方法である。
【0161】
図6に、本第2の実施の形態に係る回路基板の製造方法の概略図を示す。
本第2の実施の形態は、上記第1の実施の形態と同様に、連続的に回路基板を製造する方法に係る。すなわち、図6に示すように、転写先基板SUBDを一枚ずつ供給する工程(S20)と、後述する転写方法によって被転写体の剥離・転写する工程(S21〜S25)と、転写後の転写先基板SUBDを次々排出する工程(S26)と、を繰り返して、転写先基板SUBD1〜nが順次供給・製造されるようになっている。
【0162】
本第2の実施の形態は、製造工程がそれぞれ異なる第1転写元基板SUBA及び第2転写元基板SUBBを利用する点では、上記第1の実施の形態と同様であるが、それぞれの転写元基板にも複数種類の被転写体が形成されている点で異なる。すなわち、第1転写元基板SUBAには、予め複数の領域A1、A2、A3それぞれに複数の被転写体Sa1、Sa2、Sa3が形成されている。第2転写元基板SUBBには、予め複数の領域B1、B2それぞれに複数の被転写体Sb1、Sb2が形成されている。
【0163】
基本的には、当該第2の実施の形態における転写・剥離は上記第1の実施の形態における転写・剥離と同様に実施される。
【0164】
図6では、各領域から被転写体を一個ずつ集積させたアセンブリ基板を製造する例を示している。そのために、転写先基板SUBDを供給した後、第1転写元基板SUBAの領域A1からいずれか一の第1被転写体Sa1を選択的に仮固定して剥離し転写先基板SUBD上の予め定められた位置Pa1に転写する工程(S21)、第1転写元基板SUBAの領域A2からいずれか一の第1被転写体Sa2を選択的に仮固定して剥離し転写先基板SUBD上の予め定められた位置Pa2に転写する工程(S22)、第1転写元基板SUBAの領域A3からいずれか一の第1被転写体Sa3を選択的に仮固定して剥離し転写先基板SUBD上の予め定められた位置Pa3に転写する工程(S23)により、第1転写元基板から剥離・転写が行われる。
【0165】
また、第2転写元基板SUBBの領域B1からいずれか一の第2被転写体Sb1を選択的に仮固定して剥離し転写先基板SUBD上の予め定められた位置Pb1に転写する工程(S24)、第2転写元基板SUBBの領域B2からいずれか一の第2被転写体Sb2を選択的に仮固定して剥離し転写先基板SUBD上の予め定められた位置Pb2に転写する工程(S25)により、第2転写元基板から剥離・転写が行われる。
【0166】
第1転写元基板SUBA及び第2転写元基板SUBBのそれぞれにおける被転写体の形成方法および剥離・転写工程の詳細は、上記第1の実施の形態と同様なので、説明を省略する。
【0167】
なお、転写元基板SUBAやSUBBに被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2を形成する工程はどちらが先に形成するものでもよいし同時に形成するものでもよい。
【0168】
被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2の剥離は、第1の実施の形態と同様に、仮固定手段HaまたはHbによる。当該仮固定手段HaまたはHbを被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2に当接させ、仮固定手段により吸引することにより被転写体を仮固定し、被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2が仮固定された仮固定手段HaまたはHbを移動(上昇)させて当該被転写体を転写元基板から剥離して達成される。
【0169】
また被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2の転写は、転写先基板SUBAまたはSUBBに図示しない接着手段を供給し、仮固定手段HaまたはHbを転写先基板SUBAまたはSUBBの予め定められた位置Pa1〜Pa3またはPb1・Pb2に搬送して当該被転写体を接着し、接着された被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2を搬送した仮固定手段HaまたはHbの吸引を解除することにより仮固定を解除して達成される。
【0170】
なお、転写元基板SUBAやSUBBに被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2を形成する工程はどちらが先に形成するものでもよいし同時に形成するものでもよい。同様に被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2の剥離・転写はどちらが先に行うものでも同時に行うものでもよい。仮固定手段を兼用とし被転写体Sa1〜Sa3またはSb1・Sb2を順に剥離・転写するものでもよい。また、転写先基板SUBDには予め所定のパターンを設けておいてもよい。
【0171】
また、転写元基板は第1及び第2転写元基板SUBA及びSUBBに限らず、3枚以上の数とすることも可能である。各転写元基板は異なる製造方法で製造されるものであってもよい。本発明によれば、異なる製造工程によって製造された被転写体をそれぞれ任意の数だけ選択して一つの転写元基板に転写していくことができるからである。
【0172】
以上、本第2の実施の形態によれば、基本的に上記第1の実施の形態と同様の作用効果を奏する。
特に、当該第2の実施の形態によれば、同一工程で形成された複数種類の被転写体が転写元基板上に形成されているので、複数種類の被転写体を選んで配置していくということが可能であるため、複数種類の素子や回路を集積したアセンブリ基板を簡単に製造することができる。
【0173】
<第3の実施の形態>
本発明の第3の実施の形態は、剥離させるべき複数の被転写体を含む転写元基板の一部または全部の領域にエネルギーを付与して、当該一部または全部の領域に含まれる被転写体を一以上剥離させる回路基板の製造方法に関する。この点で被転写体毎にエネルギーを供給して剥離していく上記第1の実施の形態と異なる。
【0174】
図7に示す本第3の実施の形態に係る製造工程断面図を参照して、本実施の形態の製造方法を説明する。
剥離層形成工程(S201)、被転写体形成工程(ST202)、および被転写体分離工程(ST203)については、上記第1の実施の形態と同様であり、説明を省略する。
【0175】
(剥離工程:ST204)
本第3の実施の形態に係る剥離工程では、図7:ST204に示すように、転写元基板10の一定の領域に対し全面的に光Lを照射し、剥離層11全体に剥離(層内剥離および/または界面剥離)を生じさせる。
【0176】
照射する光Lとしては、上記第1の実施の形態と同様に、剥離層11に層内剥離および/または界面剥離を起こさせるものであればいかなるものでもよく、例えば、X線、紫外線、可視光、赤外線(熱線)、レーザ光、ミリ波、マイクロ波、電子線、放射線(α線、β線、γ線)等であって、所定のレーザ光が好ましい。
【0177】
特に本実施の形態では、レーザ光の照射面積が広範であるため、複数回に分けてレーザ光を照射してもよいし、異なる種類、異なる波長(波長域)の照射光(レーザ光)を異なる領域に複数回以上照射してもよい。
【0178】
ここでエネルギーを付与して剥離を生じさせる領域は、何個の被転写体をどの領域からどのくらいの期間内に剥離・転写していくかに応じて定める。すなわち、レーザ光等によりエネルギーを付与した直後は剥離層11はアブレーションを生じて剥離し易い状態となっているが、時間の経過とともに再び硬化していく場合がある。本発明によれば、選択的に被転写体を転写していくので、エネルギーを付与した領域から総ての被転写体を剥離・転写していくのには時間がかかる。したがって、エネルギーを一時に付与する領域は、剥離層11の剥離状態が持続している期間内に転写できる被転写体に対応した領域に留めておくことが好ましい。
【0179】
ただし、剥離層11の材料が不可逆的に剥離を生じる性質を有しており、一旦剥離を生じた以後、時間が経過しても剥離状態に大きな変化が無い場合には、一時に広範な面積(例えば転写元基板の全領域)にエネルギーを付与して剥離層に剥離を生じさせてもよい。
【0180】
仮固定手段Vによる仮固定工程(ST205)及び転写工程(ST206・ST207)については、上記第1の実施の形態と同様であり、説明を省略する。
【0181】
以上、本第3の実施の形態によれば、基本的に上記第1の実施の形態と同様の作用効果を奏する。
特に本第3の実施の形態によれば、転写元基板の一部または全部の領域にエネルギーを付与するため、個別にエネルギーを付与する場合に比べ、剥離工程に要する時間を短縮し、製造コストを下げることが可能である。
【0182】
<第4の実施の形態>
本発明の第4の実施の形態は、上記各実施の形態における回路基板の製造方法によって製造される電気光学装置に関する。
図7に、本第4の実施の形態における電気光学装置1の基板平面ブロック図を示す。当該電気光学装置1は、転写先基板20上に、表示領域4、走査線駆動回路2、及びデータ線駆動回路3を配置して構成されている。走査線駆動回路2からは選択信号線Vsnが、データ線駆動回路3からはデータ線Idatamが、それぞれ表示領域4に配線されている。選択信号線Vsnとデータ線Idatamとは交差する位置に対応させて画素領域Pmnが設けられており、アクティブマトリクス基板を構成している。各画素領域Pmnは、例えば電界発光効果により発光可能なEL素子と薄膜トランジスタ等で構成された周辺回路とが設けられている。選択信号線Vsnとデータ線Idatamとを制御することにより、各画素領域に対する電流プログラムが行われ、EL素子による発光が制御される。
【0183】
ここで、本発明の回路基板の製造方法により、各画素領域Pmn、走査線駆動回路2、及びデータ線駆動回路3のそれぞれを、同一または異なる転写元基板上で製造してから個々に剥離して、当該転写先基板20上に配置することが可能である。選択信号線やデータ線だけは予め転写先基板20上に形成しておけばよい。
【0184】
例えば総ての画素領域Pmnは同一の製造工程で形成できるため一の転写元基板に集積して形成しておくことができる。一方、走査線駆動回路2及びデータ線駆動回路3は、薄膜トランジスタを主体的に用いて回路を構成することになるため、同一の転写元基板上に形成することが可能である。ところが画素領域PmnはEL素子の形成工程を含むため、走査線駆動回路2やデータ線駆動回路3とは製造工程が一部異なる。このため、画素領域を第1転写元基板上に形成し、走査線駆動回路2及びデータ線駆動回路3を第2転写元基板上に形成して、それぞれの転写元基板から必要な数だけ転写先基板20にこれら被転写体を転写していくことで、当該電気光学装置1が製造される。
【0185】
以上、本第4の実施の形態によれば、本発明の回路基板の製造方法を適用するので、上記第1の実施の形態と同様の効果を奏する。
特に、本第4の実施の形態によれば、EL素子の製造時に、発光層及び反射防止層に熱的ダメージを与えることなくEL素子を転写により実装できるとともに、従来のように基板と発光層の間に素子を形成する場合と比べ素子が表示の邪魔にならないために表示性能が向上するという効果も奏する。
【0186】
<第5の実施の形態>
本発明の第5の実施の形態は、上記実施の形態によって製造された回路基板を利用した電子機器に関する。図9に、本第5の実施の形態における電子機器の例を挙げる。
図9(a)は本発明の回路基板の製造方法によって製造された回路基板、例えば第4の実施の形態における電気光学装置1が搭載された携帯電話の例であり、当該携帯電話110は、電気光学装置(表示パネル)111、音声出力部112、音声入力部113、操作部114、およびアンテナ部115を備えている。
【0187】
図9(b)は本発明の製造方法によって製造される回路基板(電気光学装置)が搭載されたビデオカメラの例であり、当該ビデオカメラ120は、電気光学装置(表示パネル)121、操作部122、音声入力部123、および受像部124を備えている。
【0188】
図9(b)は本発明の製造方法によって製造される回路基板(電気光学装置)が搭載された携帯型パーソナルコンピュータの例であり、当該コンピュータ130は、電気光学装置(表示パネル)131、操作部132、およびカメラ部133を備えている。 図9(d)は本発明の製造方法によって製造される回路基板(電気光学装置)が搭載されたヘッドマウントディスプレイの例であり、当該ヘッドマウントディスプレイ140は、電気光学装置(表示パネル)141、光学系収納部142およびバンド部143を備えている。
【0189】
図9(e)は本発明の製造方法によって製造される回路基板(電気光学装置)が搭載されたリア型プロジェクターの例であり、当該プロジェクター150は、電気光学装置(光変調器)151、光源152、合成光学系153、ミラー154・155、及びスクリーン157を筐体156内に備えている。
【0190】
図9(f)は本発明の製造方法によって製造される回路基板(電気光学装置)が搭載されたフロント型プロジェクターの例であり、当該プロジェクター160は、電気光学装置(画像表示源)161及び光学系162を筐体163内に備え、画像をスクリーン164に表示可能になっている。
【0191】
上記例に限らず本発明に係る回路基板の製造方法は、あらゆる電子機器の製造に適用可能である。例えば、この他に、表示機能付きファックス装置、デジタルカメラのファインダ、携帯型TV、DSP装置、PDA、電子手帳、電光掲示盤、宣伝公告用ディスプレイ、ICカードなどにも適用することができる。
【0192】
以上、本第5の実施の形態によれば、電子機器を構成する複数の素子や回路等の被転写体について、それぞれが同一工程で製造可能であれば一の転写元基板に形成し、他の製造工程が必要であれば他の転写元基板に製造し、それぞれの転写元基板から選択的に被転写体を吸引し、電子機器製造のための回路基板上に集積することができる。このため多種多様な素子や回路を利用する電子機器の製造方法として本発明は簡便な方法を提供することとなる。
【0193】
また、本発明では転写法を利用しているため、基材上に間隔をおいて分散配置される電子機器に用いられる多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造し、それらを転写先基材上の所定位置に正確に転写することができるので、基板上に直接素子を形成し製造される従来の電子機器と比べ、薄膜トランジスタ等の素子製造における面積効率を大幅に向上できる。
【0194】
また多数の素子や回路を転写元基材上に集中的に製造してから、転写先基材に転写して製造するので、熱等の製造プロセスにおいて一旦製造した素子や回路にダメージを与えることなく最終的に転写先基材に実装させることができ、電子機器の性能向上を図ることができる。
【0195】
さらに素子や回路を転写前に選別、排除することが容易に実行可能となり、その結果製品歩留まりを向上することができる。
【0196】
また、微小な素子や回路を最終的な転写先基材の所定位置に正確に配置することによって基板の曲げに対する追従性が向上し、フレキシブルな転写先基材を用いることによって、しなやかで、軽く、落下の衝撃にも強い電子機器を提供することができる。さらに曲面ディスプレイ等の曲面を有する電子機器を提供することもできるので、従来品では不可能であるかまたは困難であった形状とすることができ、製品設計の自由度が広げられる。
【0197】
<その他の変形例>
上記実施の形態は、本発明の趣旨の範囲で種々に変形して適用することが可能である。
例えば、剥離方法は、簡単に剥離をさせることができるものであれば、剥離層、レーザ光、または/および仮固定手段以外の方法を利用してもよい。例えば、剥離層を用いずに、仮固定手段の吸引力で被転写体を強制的に剥離させてしまってもよい。またレーザ光を用いる代わりに剥離層に熱可塑性樹脂等を用い、転写元基板を部分的または全体的に加熱することで剥離させてもよい。また仮固定手段として真空ピンセットの他に、機械的なピンセット、静電力による吸着装置、磁力を利用した磁石手段を用いることもできる。
【0198】
また転写方法としても、接着層や接着シート以外の方法で接着してもよい。例えば、被転写層が半田等の端子を含んだものであれば、転写先基板に載置後、熱を印加することで半田が溶けてから硬化し転写先基板に電気的に接続されると同時に機械的にも固定される。
【0199】
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態に係る回路基板の製造方法の概略説明図。
【図2】第1の実施の形態に係る回路基板の製造方法の製造工程断面図。
【図3】被転写体の素子及び回路例であり、(a)は薄膜トランジスタの断面図、(b)は集積回路の断面図、(c)は集積回路の断面図。
【図4】被転写体である薄膜トランジスタの製造工程断面図。
【図5】分離構造の具体例。
【図6】第2の実施の形態に係る回路基板の製造方法の概略説明図。
【図7】第3の実施の形態に係る回路基板の製造方法の製造工程断面図。
【図8】第4の実施の形態に係る電気光学装置の平面図。
【図9】変形例に係る電子機器の応用例。
【符号の説明】
SUBA,SUNBB…転写元基板、SUBD…転写先基板、V…吸引手段、a、b…被転写体、1…電気光学装置、10…転写元基板、11…剥離層、12…被転写体層、12a…被転写体、12c…溝、20…転写先基板、21…接着層(接着手段)
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method of manufacturing a circuit board by transferring elements and circuits, and more particularly to an improvement in a method of manufacturing a circuit board that efficiently transfers elements and circuits from a plurality of transfer source substrates.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In recent years, with respect to the manufacture of circuit boards provided with thin film elements such as thin film transistors (thin film transistors) and thin film diodes (TFDs), elements that have been discarded by etching by transferring a small substrate containing the elements and circuits to a transfer destination substrate Various techniques for reducing constituent materials and significantly reducing manufacturing costs have been studied.
[0003]
Conventionally, as a technique for placing an LSI circuit manufactured on a silicon wafer on another substrate, a method called a microstructure technology developed by Alien Technology is known (Information DISPLAY, Vol. 15, No. 11 (November 1999)) (Non-Patent Document 1). This microstructure technology is a substrate in which LSI circuits manufactured on a silicon wafer are separated into microchips (= microstructures), and then a solvent in which the microstructures are dispersed is pre-patterned with holes for embedding. The microstructure is placed on a predetermined position on the substrate. According to this microstructure technology, a large number of microstructures that have been formed on a silicon wafer can be distributed over the substrate.
[0004]
However, this microstructure technology has the disadvantage that it is difficult to reliably arrange the microstructure on the substrate and to perform accurate alignment. Further, since the direction in which the microstructure is arranged is random, it is necessary to provide a special circuit in the microstructure such as making the circuit symmetrical.
[0005]
In addition, a method using a transfer technique in manufacturing a color filter of a liquid crystal display device is disclosed in US Pat. No. 6,057,067 (Patent Document 1).
[0006]
Further, as a method for transferring a thin film element such as a thin film transistor formed on a substrate to a transfer body, the present applicant forms a transfer layer on a substrate via a release layer, and bonds all of the layers to the transfer body. A transfer method for irradiating the release layer with light to cause peeling and releasing the substrate from the release layer has been developed, and a patent application has already been filed (JP-A-10-125931: Patent Document 2). Similarly, the present applicant has developed a transfer method in which the entire transfer target layer is bonded to a primary transfer member and then transferred to a secondary transfer member, and a patent application has already been filed (Japanese Patent Laid-Open No. 11-26733). Patent Document 3).
[0007]
According to these transfer technologies, functional devices that require a high-temperature process for manufacturing can be transferred onto a desired substrate, including those that cannot withstand such high temperatures.
[0008]
[Non-Patent Document 1]
Information DISPLAY, Vol. 15, No. 11, November 1999
[Patent Document 1]
US Pat. No. 6,057,067
[Patent Document 2]
Japanese Patent Laid-Open No. 10-125931
[Patent Document 3]
JP-A-11-26733
[Problems to be solved by the invention]
However, the above-described conventional transfer technique has the following problems.
[0009]
That is, in the conventional transfer technology, the entire transferred object such as the elements and circuits provided on the transfer source substrate is transferred to the transfer destination substrate. Later, after the transfer destination base material was cut into a required chip size (or small substrate size) by dicing or the like, the separated chips and the like had to be accurately aligned on the final substrate. For this reason, the subject that manufacturing efficiency fell easily occurred. In addition, in order to peel off the entire transferred object such as elements and circuits, it is necessary to supply energy over a wide range in addition to the necessary elements and circuits.
[0010]
In particular, when the entire thin film element layer formed on the transfer source substrate is transferred to the transfer destination substrate, the elements and circuits are inverted and transferred to the transfer destination substrate. In order to connect the circuit to the wiring or the like of the transfer destination substrate, a special structure is required for the element or the circuit, or a special process for connection on the transfer destination substrate is required.
[0011]
Moreover, the front and back of the elements and circuits can be restored by transferring to the primary transfer body and retransferring to the secondary transfer body, but it is inevitable that the number of steps for transfer increases.
[0012]
Furthermore, in the conventional transfer method, the elements and circuits formed on one transfer source substrate are transferred to the transfer destination substrate. Therefore, the elements and circuits formed on the transfer source substrate must be manufactured in the same process. was there. For this reason, it has been difficult to form a circuit board in which elements and circuits that cannot be manufactured in the same manufacturing process are combined by a conventional transfer method.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In view of the above-described problems, the present invention can be applied to the same transfer destination in a relatively simple manner and including transfer target bodies having different manufacturing processes without reversing the direction in units of transfer target elements such as elements and circuits. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a circuit board that can be transferred to a substrate.
[0014]
The present invention includes a step of temporarily fixing and peeling one or more of the transfer target bodies from each of a plurality of transfer source substrates on which a plurality of transfer target bodies are formed, and each of the transferred transfer target substrates on each of transfer destination substrates. And a step of transferring each of the circuit board to a predetermined position.
[0015]
According to the above-described method, transferred objects such as elements and circuits formed independently of each other are integrated on each transfer source substrate, and the transferred objects are peeled off from each transfer source substrate by temporary fixing. The image is transferred to a predetermined position on the transfer destination substrate in the same direction. For this reason, it is possible to easily arrange the transfer object without using an intermediate transfer substrate for reversing the direction of the transfer object. In addition, since it is possible to select and arrange the transfer target bodies required from a plurality of transfer source substrates, it is possible to easily manufacture an assembly substrate in which a plurality of types of elements and circuits are integrated.
[0016]
Here, in the present invention, the “transfer object” refers to a thin film transistor, a diode, a resistor, an inductor, a capacitor, a single element regardless of whether it is an active element or a passive element, or an element integrated and wired so as to exhibit a certain function. A circuit (chip) such as an integrated circuit, a part of a circuit composed of a combination of a plurality of elements, or all or a part of a device configured to perform a certain function by combining one or more circuits such as an integrated circuit. means. That is, there is no limitation on the configuration, shape, and size of the “transfer object”.
[0017]
In the present invention, the “transfer source substrate” refers to a substrate on which a plurality of transfer objects are formed, and is not necessarily a flat plate. For example, the transfer target may be formed on a spherical surface, or may not have a certain rigidity like a flexible film.
[0018]
Further, in the present invention, the “transfer destination substrate” refers to an object on which the transfer target is to be finally placed, and is not necessarily a flat plate. For example, the transfer target may be formed on a spherical surface, or may not have a certain rigidity like a flexible film.
[0019]
Furthermore, in the present invention, “temporary fixing” refers to fixing a transfer target in a fixed direction with a constant force in a state as it is by pressure, electrostatic force, magnetic force, or mechanical force. Any means can be used as long as it can temporarily hold the body.
[0020]
Specifically, the present invention relates to a step of temporarily fixing and peeling any one of the first transfer bodies from a first transfer source substrate on which a plurality of first transfer bodies are formed, and the peeled first transfer body. A step of transferring to a predetermined position of the transfer destination substrate, a step of temporarily fixing and peeling any of the second transferred bodies from the second transfer source substrate on which a plurality of second transferred bodies are formed, and peeling And a step of transferring the second transferred object to a predetermined position on the transfer destination substrate.
[0021]
According to the above method, the first transfer source substrate and the second transfer source substrate, which are formed independently of each other, are integrally formed on the first transfer source substrate and the second transfer source substrate. Then, the first transferred body and the second transferred body are separated from each of the first and second transfer source substrates by temporary fixing, and transferred to a predetermined position on the transfer destination substrate in the same direction. Therefore, the first and second transfer bodies can be easily arranged without using an intermediate transfer substrate for reversing the direction of the transfer body. Further, since it is possible to select and arrange the first and second transfer target members required from both the first and second transfer source substrates, an assembly in which a plurality of types of elements and circuits are integrated. The substrate can be easily manufactured.
[0022]
In addition, the present invention includes a step of temporarily fixing one or more transferred objects by temporarily fixing them from a transfer source substrate on which a plurality of transferred objects formed by the same manufacturing process are formed, and the peeling And a step of transferring each of the one or more objects to be transferred to predetermined positions, respectively.
[0023]
According to the above method, since a plurality of types of transferred bodies formed in the same process are formed on the transfer source substrate, the type of the transferred body is selected, temporarily fixed, peeled off, and then transferred. become. For this reason, it is possible to easily arrange any type of transfer object without using an intermediate transfer substrate for reversing the direction of the transfer object. In addition, since it is possible to select and arrange a plurality of types of transferred objects, an assembly substrate on which a plurality of types of elements and circuits are integrated can be easily manufactured.
[0024]
Here, in the above-described invention, a plurality of transfer source substrates formed by different manufacturing processes are prepared, and one or more transferred objects may be selectively peeled from each of the plurality of transfer source substrates. Good.
[0025]
According to the above method, each transfer source substrate is formed with a transfer object including elements and circuits that cannot be formed on the same substrate by different manufacturing processes. Further, a plurality of types of transferred materials are prepared by different manufacturing methods. Since such a variety of transferred objects can be selectively temporarily fixed and transferred, an assembly substrate in which a plurality of types of elements and circuits having different manufacturing processes are integrated can be easily manufactured.
[0026]
Specifically, the present invention includes a step of temporarily fixing one or more transferred objects from a first transfer source substrate on which a plurality of types of transferred objects manufactured by the first manufacturing process are formed, A plurality of types of transferred objects manufactured by a process of transferring the peeled one or more transferred objects to predetermined positions of the transfer destination substrate and a second manufacturing process different from the first manufacturing process. A step of selectively temporarily fixing and peeling one or more transferred objects from the second transfer source substrate on which the substrate is formed, and the one or more transferred objects to be peeled at predetermined positions on the transfer destination substrate, respectively. A circuit board manufacturing method comprising: a transferring step.
[0027]
According to the above method, the first and second transfer target substrates include elements and circuits that cannot be formed on the same substrate by different first and second manufacturing steps. Each body is formed. A plurality of types of first and second objects to be transferred by the different production methods are prepared. Since such a variety of transferred objects can be selectively temporarily fixed and transferred, an assembly substrate in which a plurality of types of elements and circuits having different manufacturing processes are integrated can be easily manufactured.
[0028]
Specifically, the step of peeling off the transfer body in the present invention includes a step of bringing the temporary fixing means into contact with the transfer body to be peeled, and a step of temporarily fixing the transfer body by suctioning with the temporary fixing means. And a step of moving the temporary fixing means on which the transfer target is temporarily fixed to peel the transfer target from the transfer source substrate.
[0029]
Here, in the present invention, “suction” means that a relative low pressure part is created in part and the object is attracted to the low pressure part by the surrounding high atmospheric pressure. For example, each transfer object is “sucked” by vacuum tweezers and peeled off by the suction force.
[0030]
Here, the “temporary fixing means” is not particularly limited as long as it has a structure capable of temporarily fixing the transfer object by suction. For example, the vacuum tweezers have a tube shape having a tip portion formed of a flexible resin, and can be sucked from the opening of the tip portion by a vacuum pump or the like. If the tip is brought into contact with the surface of the transfer object and sucked, the transfer object is temporarily fixed. The temporary fixing means is adapted to change the position of the temporary transfer means from the transfer source substrate to the transfer destination substrate by the transfer means so as to transfer the suction object.
[0031]
Specifically, the step of transferring the transfer target in the present invention includes the step of supplying an adhesion means to the transfer destination substrate, and the temporary fixing means on which the transfer target is temporarily fixed at a predetermined position on the transfer destination substrate. A step of transporting and adhering the member to be transferred by an adhering unit, and a step of releasing the temporary fixing by releasing the suction of the temporary fixing unit that transported the adhered transferred object.
[0032]
Here, the “adhesion means” only needs to be able to fix the transfer target to the transfer destination substrate, and various known adhesives can be applied. A photo-curing resin, a thermoplastic resin, a thermosetting resin, or a thermoplastic resin is used. It is also possible to apply according to manufacturing conditions. It is also possible to use an adhesive sheet. Further, the “adhesion means” includes not only the case of mechanically connecting by so-called adhesion but also the case of electrically connecting the transfer substrate and the transfer destination substrate by solder or other means.
[0033]
As a specific example, a predetermined amount of the adhesive unit may be discharged from a liquid ejecting apparatus to a predetermined position. “Liquid ejecting device” refers to a device configured to eject a liquid material containing an adhesive component by utilizing a pressure change of the liquid material. For example, an electrostatic drive type, a piezo drive type, a heat drive type, etc. Ink-jet heads are conceivable. The electrostatic drive type head has a structure in which an electrode is provided adjacent to the diaphragm that forms the wall surface of the pressure chamber substrate in which the pressure chamber is provided, and a predetermined voltage is applied between the pressure chamber substrate and the electrode. The diaphragm forming the wall surface of the pressure chamber is deformed by using the electrostatic force generated when the pressure is generated, and the volume of the pressure chamber is changed to discharge the liquid in the pressure chamber. A piezo drive type head has a structure in which a piezoelectric element is provided on a diaphragm that forms the wall surface of a pressure chamber. By applying a predetermined voltage to the piezoelectric element, the diaphragm is deformed to reduce the volume of the pressure chamber. The liquid inside the pressure chamber is changed and discharged. The thermal drive type head has a structure in which a heat application means is provided at a predetermined location in the liquid flow path, and by applying a predetermined voltage to the heat application means, the heat application means generates heat and bubbles are generated in the liquid. The liquid is discharged by the pressure.
[0034]
Or you may make it apply | coat an adhesion means to the one part or all area | region containing the position which should transfer on a transfer destination board | substrate. As a coating method, in addition to the above-described liquid ejecting apparatus (ejection apparatus, ink jet head), a known method suitable for forming a film by an adhesive means on one surface such as a spin coating method or a printing method can be applied.
[0035]
Here, the present invention includes a step of supplying a transfer destination substrate, a step of transferring a transfer object to the transfer destination substrate by the circuit board manufacturing method of the present invention, and a step of discharging the transfer destination substrate after transfer. By repeating, a new transfer destination substrate may be sequentially supplied.
[0036]
According to the above method, the transfer destination substrate can be used as a final product substrate, and any transfer target can be integrated on the final substrate and manufactured as a predetermined assembly substrate. Good manufacturing is possible. In particular, since it is possible to arbitrarily select a plurality of types of transfer objects, it is possible to provide a manufacturing method suitable for manufacturing circuit boards for various types of production.
[0037]
Here, in the present invention, the transfer object is peeled off by applying energy to a partial area of the transfer source substrate corresponding to the transfer object to be peeled, and peeling off the transfer object corresponding to the partial area. It can be. For example, if light is irradiated as energy, energy can be applied to an arbitrary region and accurate positioning can be performed at the same time, which is particularly advantageous when the transfer target is a very small size. is there. Here, the energy source is not limited. For example, when laser light is used, energy can be efficiently applied because it is coherent light, and energy can be applied to an accurate position.
[0038]
Further, in the present invention, the transferred object is peeled by applying energy to a part or all of the transfer source substrate including a plurality of transferred objects to be peeled, so that the transferred object included in the part or all of the transferred object is removed. One or more transfer members can be peeled off.
[0039]
In the present invention, for example, the transfer source substrate is manufactured by a step of forming a release layer on the transfer source substrate and a step of forming a transfer target layer including a transfer target on the release layer.
[0040]
Here, the “peeling layer” may be formed of a material that weakens the bonding force between the transfer source substrate and the transfer target body by applying energy. For example, amorphous silicon, amorphous silicon containing hydrogen, or nitrogen may be used. Amorphous silicon, hydrogen-containing alloys, nitrogen-containing alloys, multilayer films, ceramics, metals, organic polymer materials, and the like can be used.
[0041]
Here, it is preferable to further include a step of providing a separation structure for separating the individual transferred objects in the vicinity of the boundary of the transferred objects with respect to the transferred object layer. Here, the “separation structure” means a groove that separates the boundary between the transferred bodies (formed on a part or all of the transferred body or a part or all of the release layer), a concavo-convex structure, and a fracture near the boundary. However, it includes a case where the transfer body is formed with a margin so as not to affect the function of the transfer body.
[0042]
This invention is a circuit board manufactured by the manufacturing method of the said circuit board. An example of such a circuit board is an active matrix substrate. According to this active matrix substrate, a large number of elements and circuits dispersed and arranged on the transfer destination base material are intensively manufactured on the transfer source base material, and these are arranged at predetermined positions on the transfer destination base material. Compared with conventional active matrix substrates that are manufactured by forming elements directly on the substrate, the area efficiency in the manufacture of devices such as thin film transistors can be greatly improved, especially for large active matrix substrates. It can be provided at low cost.
[0043]
In addition, since many elements and circuits are manufactured on the transfer source base material in a concentrated manner and then transferred to the transfer destination base material, the manufactured elements and circuits are damaged in the manufacturing process such as heat. Finally, it can be mounted on the transfer destination base material, and the performance of the circuit board can be improved. Further, it becomes possible to easily select and eliminate elements and circuits before transfer, and as a result, the product yield can be improved.
[0044]
In addition, by accurately placing minute elements and circuits at predetermined positions on the final transfer destination base material, the followability to bending of the substrate is improved, and by using a flexible transfer destination base material, it is flexible and light. In addition, an active matrix display device that is resistant to dropping impact can be provided. Further, a circuit board having a curved surface such as a curved display can be provided.
[0045]
The present invention is also an electro-optical device including a circuit board manufactured by the method for manufacturing a circuit board.
[0046]
Here, the “electro-optical device” means a general device including an electro-optical element that emits light by electrical action or changes the state of light from the outside. The device that emits light by itself and the passage of light from the outside Including those that control For example, as an electro-optic element, a liquid crystal element, an electrophoretic element, an EL (electroluminescence) element, an active matrix display device provided with an electron-emitting element that emits light by applying electrons generated by applying an electric field to a light-emitting plate, and the like Say.
[0047]
For example, in the case of an electro-optical device using an EL element, a manufacturing process of the EL element is different from a manufacturing process of an element such as a thin film transistor that drives the EL element. By manufacturing these on different transfer source substrates and selectively accumulating them as transfer objects, the electro-optical device can be easily knitted.
[0048]
In addition, by using the transfer method, the EL element can be mounted by transfer without causing thermal damage to the light emitting layer and the antireflection layer during the manufacture of the EL element, and between the substrate and the light emitting layer as in the past. Compared with the case where an element is formed, the element does not interfere with display, so that the display performance is improved.
[0049]
Moreover, this invention is also an electronic device provided with the circuit board manufactured by the manufacturing method of the said circuit board.
[0050]
According to the electronic device of the present invention, a plurality of elements such as elements and circuits constituting the electronic device are formed on one transfer source substrate if they can be manufactured in the same process, and other manufacturing processes are performed. If necessary, it can be manufactured on other transfer source substrates, and a transfer target can be selectively sucked from each transfer source substrate and integrated on a circuit board for manufacturing an electronic device. For this reason, the present invention provides a simple method as a method of manufacturing an electronic device using a wide variety of elements and circuits.
[0051]
In addition, since the transfer method is used in the present invention, a large number of elements and circuits used in electronic devices distributed and arranged on the base material at intervals are intensively manufactured on the transfer source base material. Can be accurately transferred to a predetermined position on the transfer destination base material, so that the area efficiency in the manufacture of elements such as thin film transistors can be greatly improved compared to conventional electronic devices that are manufactured by forming elements directly on the substrate. .
[0052]
In addition, since many elements and circuits are manufactured on the transfer source base material in a concentrated manner and then transferred to the transfer destination base material, the manufactured elements and circuits are damaged in the manufacturing process such as heat. Finally, it can be mounted on the transfer destination base material, and the performance of the electronic device can be improved.
[0053]
Further, it becomes possible to easily select and eliminate elements and circuits before transfer, and as a result, the product yield can be improved.
[0054]
In addition, by accurately placing minute elements and circuits at predetermined positions on the final transfer destination base material, the followability to bending of the substrate is improved, and by using a flexible transfer destination base material, it is flexible and light. It is possible to provide an electronic device that is resistant to the impact of dropping. Furthermore, since an electronic device having a curved surface such as a curved display can be provided, the shape can be made impossible or difficult in the conventional product, and the degree of freedom in product design is expanded.
[0055]
Here, the “electronic device” refers to a device in general having a certain function by a combination of a plurality of elements or circuits, and includes, for example, an electro-optical device and a memory. One or more circuit boards can be provided. The configuration is not particularly limited, but for example, an IC card, a mobile phone, a video camera, a personal computer, a head-mounted display, a rear-type or front-type projector, a fax machine with a display function, a digital camera finder, a portable TV , DSP devices, PDAs, electronic notebooks, electrical bulletin boards, advertising announcement displays, and the like.
[0056]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
<First Embodiment>
In the first embodiment of the present invention, one or more transfer objects are temporarily fixed and peeled from each of a plurality of transfer source substrates on which a plurality of different kinds of transfer objects are formed. This is a circuit board manufacturing method in which a transfer target substrate is transferred to a predetermined position on each of transfer destination substrates.
[0057]
FIG. 1 shows a schematic view of a circuit board manufacturing method according to the first embodiment.
The first embodiment relates to a method for continuously manufacturing a circuit board. That is, as shown in FIG. 1, a step (S10) of supplying transfer destination substrates SUBD one by one, a step of peeling / transferring a transfer object by a transfer method described later (S11 to S14), a transfer after transfer By repeating the step (S15) of sequentially discharging the previous substrates SUBD, the transfer target substrates SUBD1 to SUBDn are sequentially supplied and manufactured.
[0058]
As a transfer method, first, a step of temporarily fixing and peeling any of the first transferred bodies Sa from the first transfer source substrate SUBA on which a plurality of first transferred bodies Sa are formed (S11), A step of transferring the transfer object Sa to a predetermined position Pa of the transfer destination substrate SUBD (S12); any second transfer object from the second transfer source substrate SUBB on which a plurality of second transfer objects Sb are formed; A step (S13) of temporarily fixing and peeling Sb and a step (S14) of transferring the peeled second transferred object Sb to a predetermined position Pb of the transfer destination substrate SUBD are provided.
[0059]
In the transfer source substrate SUBA, a plurality of the same transfer target Sa in the region A are previously accumulated. Similarly, in the transfer source substrate SUBB, a plurality of identical transfer objects Sb are preliminarily accumulated in the region B. These forming methods will be described in detail in the following steps S101 to S103.
[0060]
Note that the process of forming the transfer target Sa or Sb on the transfer source substrate SUBA or SUBB may be performed first or simultaneously.
[0061]
The transfer object Sa or Sb is peeled off by the temporary fixing means Ha or Hb. The temporary fixing means Ha or Hb is brought into contact with the transferred body Sa or Sb, and is temporarily fixed by sucking the temporary fixed means, whereby the transferred body Sa or Sb is temporarily fixed. Alternatively, it is achieved by moving Hb (raising in the figure) to peel off the transfer object from the transfer source substrate.
[0062]
In addition, the transfer of the transfer object Sa or Sb is performed by supplying a bonding means (not shown) to the transfer destination substrate SUBA or SUBB and transporting the temporary fixing means Ha or Hb to a predetermined position Pa or Pb of the transfer destination substrate SUBA or SUBB. This is achieved by releasing the temporary fixing by releasing the suction of the temporary fixing means Ha or Hb that has adhered the transferred object and transported the transferred transferred object Sa or Sb.
[0063]
Note that the process of forming the transfer target Sa or Sb on the transfer source substrate SUBA or SUBB may be performed first or simultaneously. Similarly, the material to be transferred Sa or Sb may be peeled off or transferred first or simultaneously. The temporary fixing means may also be used to peel and transfer the transferred objects Sa and Sb in order. In addition, a predetermined pattern P0 may be provided in advance on the transfer destination substrate SUBD.
[0064]
Next, a detailed manufacturing method will be described with reference to a cross-sectional view of a manufacturing process of the circuit board manufacturing method according to the first embodiment shown in FIG.
(Peeling layer forming step: ST101)
First, as shown in FIG. 2: ST101, a release layer 11 is formed on a transfer source substrate.
The transfer source substrate 10 preferably has a light-transmitting property that allows light to pass therethrough. This is because light can be applied to the release layer via the transfer source substrate, and the release layer can be released quickly and accurately by light irradiation. The light transmittance is preferably 10% or more, and more preferably 50% or more. This is because the higher the transmittance, the smaller the light attenuation (loss) and the smaller the amount of light required to peel off the release layer 11.
[0065]
The transfer source substrate 10 is preferably made of a highly reliable material, and particularly preferably made of a material having excellent heat resistance. The reason for this is that when forming the transfer target layer 12, the process temperature may be high (for example, about 350 to 1000 ° C.) depending on the type and forming method. If it is excellent, the range of setting of film forming conditions such as the temperature condition is widened when forming the transfer target layer 12 on the transfer source substrate 10. As a result, when a large number of elements and circuits are manufactured on the transfer source substrate, a desired high-temperature treatment is possible, and a highly reliable element and circuit can be manufactured with high reliability.
[0066]
Therefore, it is preferable that the transfer source substrate 10 is made of a material having a strain point equal to or higher than Tmax, where Tmax is the maximum temperature when forming the transfer target layer 12. Specifically, the constituent material of the transfer source substrate 10 preferably has a strain point of 350 ° C. or higher, and more preferably 500 ° C. or higher. As such a thing, heat resistant glass, such as quartz glass, Corning 7059, Nippon Electric Glass OA-2, is mentioned, for example.
[0067]
Further, the thickness of the transfer source substrate 10 is not particularly limited, but usually, it is preferably about 0.1 to 5.0 mm, and more preferably about 0.5 to 1.5 mm. This is because when the thickness of the transfer source substrate 10 is thicker, the strength increases, and when the thickness is thinner, the light attenuation is less likely to occur when the transmittance of the transfer source substrate 10 is low. When the light transmittance of the transfer source substrate 10 is high, the thickness thereof may exceed the upper limit value.
[0068]
Note that the thickness of the transfer source substrate 10 is preferably uniform so that light can be uniformly irradiated.
[0069]
In this way, there are a number of conditions for the transfer source substrate that is the transfer source base material, but unlike the transfer destination base material that is the final product, the transfer source base material can be used repeatedly. Even if an expensive material is used, it is possible to reduce an increase in manufacturing cost by repeated use.
[0070]
The release layer 11 has such a property that it absorbs irradiated light and causes peeling (hereinafter referred to as “in-layer peeling” or “interfacial peeling”) within the layer and / or at the interface. It is preferable that the bonding force between atoms or molecules of the substance constituting the release layer 11 disappears or decreases due to light irradiation, that is, ablation occurs to cause in-layer peeling and / or interfacial peeling.
[0071]
In some cases, the gas is released from the release layer 11 by light irradiation, and a separation effect is exhibited. That is, there are a case where the component contained in the release layer 11 is released as a gas, and a case where the release layer 11 absorbs light and becomes a gas for a moment, and its vapor is released, contributing to separation. . Examples of the composition of the release layer 11 include those described in the following materials A to F.
[0072]
Material A. Amorphous silicon (a-Si)
This amorphous silicon may contain hydrogen (H). In this case, the content of H is preferably about 2 atomic% or more, and more preferably about 2 to 20 atomic%. Thus, when a predetermined amount of hydrogen (H) is contained, hydrogen is released by light irradiation, and an internal pressure is generated in the release layer 11, which becomes a force for peeling the upper and lower thin films. The content of hydrogen (H) in the amorphous silicon is adjusted by appropriately setting film forming conditions such as gas composition, gas pressure, gas atmosphere, gas flow rate, temperature, substrate temperature, and input power in CVD. be able to. Amorphous silicon has good light absorption, is easy to form, and is highly practical. Therefore, by forming the release layer with amorphous silicon, it is possible to inexpensively form a release layer that is accurately peeled by light irradiation.
[0073]
Material B. Various oxide ceramics such as silicon oxide or silicate compound, titanium oxide or titanate compound, zirconium oxide or zirconate compound, lanthanum oxide or lanthanum oxide compound, electrical conductor (ferroelectric material) or semiconductor
Examples of silicon oxide include SiO and SiO.2, Si3O2Examples of silicic acid compounds include K2SiO3, Li2SiO3, CaSiO3, ZrSiO4, Na2SiO3Is mentioned.
[0074]
As titanium oxide, TiO, Ti2O3TiO2As the titanic acid compound, for example, BaTiO4, BaTiO3, Ba2Ti9O2 0, BaTi5O11, CaTiO3, SrTiO3, PbTiO3, MgTiO3, ZrTiO2, SnTiO4, Al2TiO5, FeTiO3Is mentioned.
[0075]
As zirconium oxide, ZrO2Examples of the zirconate compound include BaZrO.3, ZrSiO4, PbZrO3MgZrO3, K2ZrO3Is mentioned.
[0076]
Further, it is preferable to use silicon containing nitrogen. This is because when nitrogen-containing silicon is used for the peeling layer, nitrogen is released with light irradiation, and this promotes peeling in the peeling layer.
[0077]
Material C.I. Ceramics or dielectrics such as PZT, PLZT, PLLZT, PBZT (ferroelectric)
[0078]
Material D. Nitride ceramics such as silicon nitride, aluminum nitride, titanium nitride
[0079]
Material E. Organic polymer materials Organic polymer materials include -CH-, -CO- (ketone), -CONH- (amide), -NH- (imide), -COO- (ester), -N = N- (azo ), -CH = N- (Schiff) and the like (these bonds are cleaved by light irradiation), in particular, any of those having many of these bonds. The organic polymer material may have an aromatic hydrocarbon (one or more benzene rings or condensed rings thereof) in the structural formula.
[0080]
Specific examples of such organic polymer materials include polyolefins such as polyethylene and polypropylene, polyimide, polyamide, polyester, polymethyl methacrylate (PMMA), polyphenylene sulfide (PPS), polyethersulfone (PES), epoxy resin, and the like. Is mentioned.
[0081]
Material F. metal
Examples of the metal include Al, Li, Ti, Mn, In, Sn, Y, La, Ce, Nd, Pr, Gd, Sm, or an alloy containing at least one of them.
[0082]
In addition, the peeling layer 11 can also be comprised with a hydrogen containing alloy. This is because when a hydrogen-containing alloy is used for the release layer, hydrogen is released with light irradiation, which promotes release in the release layer.
[0083]
Moreover, the peeling layer 11 can also be comprised with a nitrogen-containing alloy. This is because, when a nitrogen-containing alloy is used for the peeling layer, nitrogen is released with light irradiation, and this promotes peeling in the peeling layer.
[0084]
Further, the release layer 11 can be made of a multilayer film. The multilayer film can be made of, for example, an amorphous silicon film and a metal film formed thereon. The material of the multilayer film can be composed of at least one of the ceramics, metals, and organic polymer materials described above. If the release layer is configured as a multilayer film or a film made of a combination of different materials in this way, the release in the separation layer is promoted by the release of hydrogen gas or nitrogen gas upon irradiation with light, as in the case of amorphous silicon. Because.
[0085]
The thickness of the release layer 11 varies depending on various conditions such as the purpose of release, the composition of the release layer, the layer configuration, and the formation method, but it is usually preferably about 1 nm to 20 μm, and preferably about 10 nm to 2 μm. More preferably, it is about 40 nm to 1 μm. The greater the thickness of the release layer 11, the more uniform the film formation and the less the unevenness in the release. On the other hand, the thinner the film thickness, the light power for ensuring good release properties of the release layer 11. This is because the (light quantity) can be small, and the time required for the work when the release layer 11 is removed later becomes smaller. Note that the thickness of the release layer 11 is preferably as uniform as possible.
[0086]
The formation method of the peeling layer 11 is not specifically limited, It selects suitably according to various conditions, such as a film composition and a film thickness. For example, CVD (including MOCVD, low pressure CVD, ECR-CVD), vapor deposition, molecular beam vapor deposition (MB), sputtering, ion plating, PVD and other various vapor deposition methods, electroplating, immersion plating (dipping), Various plating methods such as electroless plating, Langmuir Projet (LB) method, spin coating, spray coating, roll coating and other coating methods, various printing methods, transfer methods, inkjet coating methods, powder jet methods, etc. Two or more of these can also be formed in combination.
[0087]
For example, when the composition of the release layer 11 is amorphous silicon (a-Si), it is preferable to form the film by CVD, particularly low-pressure CVD or plasma CVD.
[0088]
In the case where the release layer 11 is composed of ceramics by a sol-gel method or an organic polymer material, it is preferable to form a film by a coating method, particularly spin coating.
[0089]
Although not shown in FIG. 2, an intermediate layer for the purpose of improving the adhesion between the transfer source substrate 10 and the release layer 11 is provided between the transfer source substrate 10 and the release layer 11 according to the properties of the transfer source substrate 10 and the release layer 11. May be provided. This intermediate layer prevents migration of components to or from the protective layer, insulating layer, transferred layer, or the like, which physically or chemically protect the transferred layer during manufacture or use, for example. It exhibits at least one of the functions as a barrier layer and a reflective layer.
[0090]
The composition of the intermediate layer can be appropriately selected according to the purpose. For example, in the case of an intermediate layer formed between a release layer made of amorphous silicon and a transfer layer, SiO2And the like. Examples of the composition of the other intermediate layer include metals such as Pt, Au, W, Ta, Mo, Al, Cr, Ti, or alloys containing these as main components.
[0091]
The thickness of the intermediate layer is appropriately determined according to the purpose of formation. Usually, the thickness is preferably about 10 nm to 5 μm, and more preferably about 40 nm to 1 μm. The larger the thickness of the intermediate layer, the more uniform the film formation and the less the unevenness in adhesion, while the thinner the film thickness, the less the attenuation of light that should be transmitted to the release layer. is there.
[0092]
As a method for forming the intermediate layer, various methods described in the release layer can be applied. In addition to forming the intermediate layer as a single layer, two or more layers can be formed using a plurality of materials having the same or different compositions.
[0093]
(Transfer to be transferred forming step: ST102)
Next, as shown in FIG. 2: ST102, a transfer body layer 12 including a plurality of transfer bodies 12a is formed on the release layer 11. Each transferred object 12a is a circuit formed of a thin film transistor, other active elements, passive elements, or a combination thereof. The transferred body 12a is an individual element or a chip having an independent function such as an integrated circuit, or does not perform an independent function between the two, but can be independently combined with other elements and circuits. It may be a part of a functioning circuit. Therefore, there is no limitation on the structure and size. In addition to forming a plurality of elements or circuits having the same function, each transferred object 12a may be formed by forming a plurality of elements or circuits having different functions, or by forming a plurality of different types of elements or circuits. Good.
[0094]
In any case, since the transfer object 12a is formed on the same substrate, it can be manufactured by the same manufacturing process.
[0095]
In this embodiment mode, in particular, the transfer target is a thin film element or an integrated circuit including a thin film element. Such a thin film element requires a certain high temperature process in the manufacturing process, and the base material on which the thin film element is formed needs to satisfy various conditions like a transfer source substrate. On the other hand, it is conceivable that the final substrate to be commercialized is, for example, a flexible substrate having flexibility. As described above, in the manufacture of the thin film element, there is a possibility that the requirements required for the transfer destination substrate and the conditions required for the substrate for manufacturing the thin film element may conflict with each other, but if the manufacturing method of the present invention is applied, the manufacturing condition is satisfied. After the thin film element is manufactured with the substrate, the thin film element can be transferred to a transfer destination substrate that does not satisfy the manufacturing conditions.
[0096]
As an example of such a thin film element, in addition to a thin film transistor, for example, a thin film diode, a photoelectric conversion element (photosensor, solar cell) made of a silicon PIN junction, a silicon resistance element, other thin film semiconductor devices, electrodes (examples) : ITO, transparent electrodes such as mesa film), switching elements, memories, actuators such as piezoelectric elements, micromirrors (piezo thin film ceramics), magnetic recording thin film heads, coils, inductors, resistors, capacitors, thin film highly permeable materials and There are micro magnetic devices, filters, reflective films, dichroic mirrors, etc. that combine them.
[0097]
FIG. 3A is a cross-sectional view of a thin film transistor T which is an example of a transfer target 12a used in the present embodiment. The thin film transistor T is formed on the peeling layer 11 with the intermediate layer 13 interposed therebetween, and includes a gate insulating film 14, a gate electrode 16, an interlayer insulating film 15, an electrode 17 made of aluminum or the like, a channel region 18, and a polysilicon layer. Are provided with a source / drain region 19 formed by introducing an n-type impurity. The thin film transistor T is not limited to such a configuration, and various structures such as a silicon-based transistor and SOI (silicon on insulator) can be applied.
[0098]
The intermediate layer 13 is SiO2Use a membrane. Other intermediate layers include Si3N4Other insulating films can also be used. The thickness of the intermediate layer 13 is appropriately determined according to the purpose of formation and the function that can be exhibited, but it is usually preferably about 10 nm to 5 μm, and more preferably about 40 nm to 1 μm. The intermediate layer is formed for various purposes, and includes, for example, a protective layer, an insulating layer, a conductive layer, a laser light shielding layer, and a migration prevention barrier that physically or chemically protect the transfer target (thin film element) 12a. At least one of the functions as a layer and a reflective layer is exhibited.
[0099]
In some cases, the intermediate layer 13 may not be formed, and the transfer target (thin film element) 12a may be formed directly on the release layer 11.
[0100]
FIG. 3B and FIG. 3C are integrated circuits that are manufactured by the transfer method of the present invention and are configured by integrating thin film elements as an example of the transfer target 12a used in the present embodiment. A static RAM is shown.
[0101]
As shown in FIG. 3C, the integrated circuit 200 includes a memory cell array 201, an address buffer 202, a row decoder 203, a word driver 204, an address buffer 205, a column decoder 206, a column selection switch 207, and an input / output circuit 208. And each block of the control circuit 209. In each block, a circuit centering on a thin film transistor is formed, and a wiring is formed between the blocks by patterning a metal layer.
[0102]
FIG. 3B is a cross-sectional view of the integrated circuit 200 in the 3B-3B cross section of FIG. 3C, and shows the vicinity where the p-type MOS transistor Tp and the n-type MOS transistor Tn are formed. As shown in the cross-sectional view, a transfer target layer 12 is formed on the release layer 11. The transferred layer 12 includes a silicon layer 13 as a base, a wiring layer 210 on which a layer structure of a large number of elements and wirings is formed, a protective layer 217 for protecting the upper surface, and the like.
[0103]
A circuit is formed in the wiring layer 210 by a well region 211, a semiconductor region 212 into which impurities are introduced, a source or drain, a gate insulating film 214, a gate wiring film 213, an interlayer insulating film 215, a metal wiring layer 216, and the like. ing. The protective layer 217 is a film for protecting the wiring layer 210. Various circuit configurations of the integrated circuit 200 are conceivable. In addition to those related to such a memory circuit, application to a pixel driving circuit for a display device which is an electro-optical device, for example, is conceivable. As described above, as the transfer target 12a, an integrated circuit configured to exhibit a certain function by a combination of elements as well as individual elements can be applied.
[0104]
FIG. 4 illustrates a method for manufacturing the thin film transistor T as described with reference to FIG. 3A as a method for manufacturing the transfer target 12a.
[0105]
First, as shown in ST110, the transfer source substrate 10 is made of SiO.2A film is deposited to form the intermediate layer 13. SiO2Examples of the film forming method include known methods such as plasma chemical vapor deposition (PECVD), low pressure chemical vapor deposition (LPCVD), and sputtering. For example, the intermediate layer 13 having a thickness of 1 μm is formed by using the PECVD method. Next, a semiconductor film 18 is formed by applying a known method such as LPCVD. The semiconductor film 18 is patterned to form a semiconductor region of the thin film transistor.
[0106]
Next, as shown in ST111, SiO2The insulating film 14 is formed by a predetermined manufacturing method, for example, an electron cyclotron resonance PECVD method (ECR-CVD method), a parallel plate PECVD method, or an LPCVD method. This insulating film 14 functions as a gate insulating film of the thin film transistor.
[0107]
Next, as shown in ST112, after forming a metal thin film of a predetermined gate metal, for example, tantalum or aluminum, by sputtering, the gate electrode 16 is formed by patterning. Then, using the gate electrode 16 as a mask, impurity ions serving as donors or acceptors are implanted, and the source / drain regions 19 are formed in a self-aligned manner with respect to the gate electrode 16. For example, in order to manufacture an NMOS transistor, phosphorus (P) is used as an impurity element at a predetermined concentration, for example, 1 × 10.16cm-2Into the source / drain regions at a concentration of Thereafter, an appropriate energy is applied, for example, an XeCl excimer laser is irradiated with an irradiation energy density of 200 to 400 mJ / cm.2The impurity element is activated by irradiating at a temperature of about 250 ° C. to 450 ° C.
[0108]
Next, as shown in ST113, about 500 nm of SiO2 is deposited on the upper surfaces of the insulating film 14 and the gate electrode 16 by a predetermined method such as PECVD.2A film 15 is formed. Next, a contact hole reaching the source / drain region 19 is formed in SiO.2A source / drain electrode 17 is formed by depositing aluminum or the like on the films 14 and 15 and depositing aluminum or the like on the contact holes and the peripheral portions of the contact holes by a predetermined method such as sputtering.
[0109]
(Transfer to be transferred separation step: ST103)
Next, as shown in FIG. 2: ST103, the transferred object layer 12 is divided into transferred object 12a units such as elements and circuits. Specifically, the transfer object layer 12 and the release layer 11 are completely separated by etching the peripheral region of the transfer object 12a. For the etching, wet etching or dry etching is used. By etching, a groove 12c is formed around the transferred object 12a, and each transferred object 12a is left in an island shape. By providing such a groove, if the bonding force of the release layer 11 corresponding to one transferred object 12a is weakened, it is possible to reliably select only the transferred object and cleanly remove the transferred object. It is possible to prevent the transfer body from being destroyed during peeling. In addition, it is possible to prevent the rupture of the transferred material layer 12 due to peeling from reaching the adjacent region. In addition, by making a cut in the film thickness direction, it is possible to peel off the transferred body 12a even when the bonding force of the temporary fixing means for temporarily fixing the specific transferred body 12a is weak. . In addition, since the appearance of the area to be transferred is clear, alignment between the substrates during transfer is easy.
[0110]
FIG. 5 shows a modification of the method for separating each transferred object 12 a in the transferred layer 12. The separation process of the transferred object only needs to achieve the purpose of selectively separating the individual transferred objects, and can be modified within a range where the objective can be achieved.
[0111]
For example, as shown in FIG. 5A, instead of completely separating the transfer target layer 12 and the release layer 11 by etching, only the transfer target layer 12 may be etched into an island shape. . If energy can be applied evenly to the region where the transfer body 12a is formed, the release layer 11 in this region can be reliably peeled off, so that even if the release layer 11 itself is not cracked, the desired coverage can be obtained. Only the transfer member can be peeled off.
[0112]
Further, as shown in FIG. 5 (b), the transferred body 12a can be left in an island shape by etching halfway through the release layer 11. According to such separation, separation of the release layer can be clearly generated along the etching groove.
[0113]
Further, as shown in FIG. 5 (c), by strengthening etching, particularly wet etching, each transferred object 12a and the release layer 11 immediately below it may be left in the shape of an island. By over-etching the release layer 11, the area of the release layer is reduced, so that when the release layer 11 is irradiated with light and peeled, the release layer 11 can be reliably peeled off with a small force. This is because the amount of light energy required can be reduced.
[0114]
On the other hand, as shown in FIG. 5D, it is possible to cut halfway through the transferred material layer 12 by etching. Separation is possible even if the groove 12c is relatively shallow, as long as the transferred layer 12 is thin and can be broken by a mechanical peeling force due to temporary fixing. In such a separation, a rupture occurs along the periphery of the transfer target 12a. Therefore, in order not to affect the elements and circuits, a forbidden area where no elements or circuits are provided is formed along the periphery of the rupture line. It is preferable to keep.
[0115]
Alternatively, as shown in FIG. 5E, a protrusion 10b that rises along the outer periphery of the transfer target region is formed on the surface of the transfer source substrate 10. Such a convex structure is generated in the release layer 11 (11b) and also generated in the transferred material layer 12 (12b). Such a structure weakens the continuity between adjacent transferred bodies, and makes it easier to break the transferred body layer 12 along the region partitioned by the structure. A concave structure may be used instead of the convex structure.
[0116]
Alternatively, the transfer layer 12 may be formed after the release layer 11 is formed on the transfer source substrate 10 having the convex structure and the surface of the release layer is flattened by etch back or the like.
[0117]
(Peeling process: ST104)
Next, as shown in FIG. 2: ST104, the transfer layer 12a to be transferred is supported by selectively irradiating the light L to the release layer 11 in the region corresponding to the transfer target 12a to be transferred. The peeling layer 11 is peeled (in-layer peeling and / or interface peeling).
[0118]
The principle that peeling within the peeling layer 11 and / or interfacial peeling occurs is that ablation occurs in the constituent material of the peeling layer 11, the gas contained in the peeling layer 11 is released, and further, melting occurs immediately after irradiation. This is due to phase change such as transpiration.
[0119]
Here, the ablation means that the fixing material that absorbs the irradiation light (the constituent material of the release layer 11) is excited photochemically or thermally, and the surface or internal atom or molecule bond is cut and released. In general, all or part of the constituent material of the release layer 11 appears as a phenomenon that causes a phase change such as melting and transpiration (vaporization). In addition, the phase change may result in a fine foamed state, resulting in a decrease in bonding strength.
[0120]
Whether the peeling layer 11 causes in-layer peeling, interfacial peeling, or both depends on the composition of the peeling layer 11 and various other factors, and irradiation is performed as one of the factors. Conditions such as the type of light, wavelength, intensity, and reaching depth are included.
[0121]
The light L to be irradiated may be any as long as it causes the release layer 11 to undergo in-layer peeling and / or interfacial peeling. For example, X-rays, ultraviolet rays, visible light, infrared rays (heat rays), laser light, millimetres Wave, microwave, electron beam, radiation (α ray, β ray, γ ray) and the like.
[0122]
Among these, a laser beam is preferable because it is easy to cause peeling (ablation) of the peeling layer 11 and local irradiation with high accuracy is possible. The laser light is coherent light, and is suitable for causing the peeling portion to be peeled off with high accuracy by irradiating the peeling layer with the high-power pulse light through the transfer source substrate 10. Therefore, the transfer object 12a can be peeled off easily and reliably by using the laser beam.
[0123]
Examples of laser devices that generate this laser beam include various gas lasers, solid-state lasers (semiconductor lasers), and the like. Excimer lasers, Nd-YAG lasers, Ar lasers, CO lasers, etc.2A laser, a CO laser, a He—Ne laser, or the like is preferably used.
[0124]
As this laser beam, a laser beam having a wavelength of 100 nm to 350 nm is preferable. By using the short-wavelength laser light in this way, the light irradiation accuracy can be improved and the peeling in the peeling layer 11 can be effectively performed.
[0125]
An example of laser light that satisfies the above-described conditions is an excimer laser. An excimer laser is a gas laser capable of outputting high-energy laser light in the short wavelength ultraviolet region, and a rare gas (Ar, Kr, Xe, etc.) and a halogen gas (F2, HCl, etc.) can be used to output laser light having four typical wavelengths (XeF = 351 nm, XeCl = 308 nm, KrF = 248 nm, ArF = 193 nm). Since the excimer laser outputs high energy in a short wavelength region, it can cause ablation to occur in the release layer 11 in an extremely short time. The peeling layer 11 can be peeled without causing deterioration or damage to the film.
[0126]
Alternatively, when the separation layer 11 is given separation characteristics by causing a phase change such as outgassing, vaporization, and sublimation, the wavelength of the irradiated laser light is preferably about 350 to 1200 nm.
[0127]
Laser light of such a wavelength can use a laser light source and an irradiation device widely used in general processing fields such as YAG and gas laser, and light irradiation can be performed inexpensively and easily. In addition, by using laser light having a wavelength in such a visible light region, it is sufficient that the transfer source substrate 10 is visible light-transmitting, and the degree of freedom in selecting the transfer source substrate 10 can be expanded.
[0128]
The energy density of the irradiated laser beam, particularly the energy density in the case of an excimer laser, is 10 to 5000 mJ / cm.2It is preferable to be about 100 to 500 mJ / cm.2More preferably, it is about. The irradiation time is preferably about 1 to 1000 nsec, more preferably about 10 to 100 nsec. As the energy density is higher or the irradiation time is longer, ablation or the like is more likely to occur. On the other hand, as the energy density is lower or the irradiation time is shorter, the irradiated light transmitted through the release layer 11 is adversely affected. This is because the risk of influence can be reduced.
[0129]
As a countermeasure when the irradiation light transmitted through the peeling layer 11 reaches the transferred body 12a and has an adverse effect, for example, there is a method of forming a metal film such as tantalum (Ta) on the peeling layer 11. Thereby, the laser light transmitted through the peeling layer 11 is completely reflected at the interface of the metal film, and does not adversely affect the transfer target 12a above it.
[0130]
Irradiation light represented by laser light is preferably irradiated so that its intensity is uniform. The irradiation direction of the irradiation light is not limited to the direction perpendicular to the release layer 11 and may be a direction inclined by a predetermined angle with respect to the release layer 11.
[0131]
Moreover, when the area of the peeling layer 11 is larger than the irradiation area of one irradiation light, the entire area of the peeling layer 11 can be irradiated with irradiation light in a plurality of times. Moreover, you may irradiate the same location twice or more. Further, irradiation light (laser light) of different types and different wavelengths (wavelength regions) may be irradiated twice or more to the same region or different regions.
[0132]
(Temporary fixing step: ST105)
Next, as shown in FIG. 2: ST105, the transfer target 12a to be peeled off by the temporary fixing means V is temporarily fixed and peeled off from the transfer source substrate 10. Specifically, the temporary fixing means V is brought into contact with the transfer body 12a to be peeled off. Then, the transferred body 12a is temporarily fixed by suction or suction to the temporary fixing means V, and then the temporary fixing means V is moved (raised) to peel the transferred body 12a from the transfer source substrate 10.
[0133]
As the temporary fixing means V, vacuum tweezers are used. The vacuum tweezers are hollow tweezers that are covered with resin including the tip and can be sucked from the tip by a vacuum pump. And tweezers for manual use. For example, vacuum tweezers C001-CX-100-97, C001-D-Y-161-92, etc. manufactured by Fluoro Mechanic are combined with vacuum pumps FV-30, FV-60, FV-TP, etc. Can be used. The vacuum tweezers require transport means for relatively transporting the sucked transfer target to the transfer destination substrate. The conveying means may move the transfer source substrate and the transfer destination substrate.
[0134]
As shown in FIG. 2: ST105, the peeling residue of the peeling layer 11 may adhere to the transfer source substrate 10 to which the transfer target 12a has been transferred, and it is desirable to completely remove this. A method for removing the remaining release layer 11 can be selected and employed as appropriate from, for example, methods such as cleaning, etching, ashing, and polishing, or a combination of these methods.
[0135]
Similarly, when the peeling residue of the peeling layer 11 is also attached to the bottom surface of the peeled transfer object 12a, it can be removed in the same manner as described above. As a result, after all the transfer target 12a has been peeled off, the transfer source substrate 10 can be reused (recycled). By reusing the transfer source substrate 10, it is possible to eliminate waste of manufacturing costs. This is particularly effective when the transfer source substrate 10 made of an expensive material such as quartz glass or a rare material is used.
[0136]
In this embodiment, the peeling step (ST104) is performed before the temporary fixing step (ST105). However, the peeling and temporary fixing may be performed in the reverse order or simultaneously.
[0137]
(Transfer process: ST106)
Next, as shown in FIG. 2: ST106, the temporarily fixed transfer target 12a is transferred to the transfer destination substrate 20. Before that, the adhesive layer 21 is supplied in advance to the transfer destination substrate 20.
[0138]
Although it does not specifically limit as the transfer destination board | substrate 20, A board | substrate (plate material), especially a transparent substrate are mentioned. Such a substrate may be a flat plate or a curved plate. Further, the transfer destination substrate 20 may be inferior to the transfer source substrate 10 in characteristics such as heat resistance and corrosion resistance. The reason for this is that in the present invention, the transfer target substrate 12a is formed on the transfer source substrate 10 side, and then the transfer target 12a is transferred to the transfer destination substrate 20. This is because the property does not depend on the temperature condition at the time of forming the transfer target 12a.
[0139]
Therefore, when the maximum temperature during formation of the transfer target 12a is Tmax, a material having a glass transition point (Tg) or a softening point equal to or lower than Tmax can be used as a constituent material of the transfer destination substrate 20. For example, the transfer destination substrate 20 can be made of a material having a glass transition point (Tg) or a softening point of preferably 800 ° C. or lower, more preferably 500 ° C. or lower, and further preferably 320 ° C. or lower.
[0140]
Further, the mechanical properties of the transfer destination substrate 20 are preferably those having a certain degree of rigidity (strength), but may be those having flexibility and elasticity. Thus, if an element such as a thin film transistor is transferred to a flexible transfer destination substrate, excellent characteristics that cannot be obtained with a highly rigid glass substrate can be realized. Accordingly, in the present invention, an electro-optical device that is flexible, light, and resistant to dropping can be realized by using a flexible transfer destination substrate and manufacturing an electro-optical device, for example.
[0141]
Examples of the constituent material of the transfer destination substrate 20 include various synthetic resins or various glass materials. Particularly, various synthetic resins and ordinary low melting point inexpensive glass materials are preferable. In particular, the soda glass substrate is a low cost and economically advantageous substrate. A soda glass substrate has a problem that an alkali component is eluted by a heat treatment at the time of manufacturing a thin film transistor. Conventionally, it has been difficult to apply the soda glass substrate to an electro-optical device such as an active matrix liquid crystal display device. However, according to the present invention, since the already completed element is transferred to the transfer destination substrate, the above-mentioned problems associated with the heat treatment are solved. Therefore, in the present invention, a substrate such as a soda glass substrate that has been difficult to use conventionally can be used in the field of an active matrix type electro-optical device.
[0142]
The synthetic resin may be either a thermoplastic resin or a thermosetting resin. For example, polyolefin such as polyethylene, polypropylene, ethylene-propylene copolymer, ethylene-vinyl acetate copolymer (EVA), cyclic polyolefin, modified Polyolefin, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polystyrene, polyamide, polyimide, polyamideimide, polycarbonate, poly- (4-methylbenten-1), ionomer, acrylic resin, polymethyl methacrylate, acrylic-styrene copolymer (AS Resin), butadiene-styrene copolymer, polio copolymer (EVOH), polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT), polyester such as polycyclohexane terephthalate (PCT), poly Ether, polyetherketone (PEK), polyetheretherketone (PEEK), polyetherimide, polyacetal (POM), polyphenylene oxide, modified polyphenylene oxide, polyarylate, aromatic polyester (liquid crystal polymer), polytetrafluoroethylene, polyfluoride Various types of thermoplastic elastomers such as vinylidene chloride, other fluororesins, styrene, polyolefin, polyvinyl chloride, polyurethane, fluororubber, chlorinated polyethylene, epoxy resin, phenol resin, urea resin, melamine resin, Saturated polyesters, silicone resins, polyurethanes, etc., or copolymers, blends, polymer alloys, etc. mainly composed of these, may be mentioned, and one or more of these may be combined (for example, two layers) As a laminate of the upper) it can be used.
[0143]
Examples of the glass material include silicate glass (quartz glass), alkali silicate glass, soda lime glass, potash lime glass, lead (alkali) glass, barium glass, borosilicate glass, and the like. Of these, glass other than silicate glass is preferable because it has a lower melting point than silicate glass, is relatively easy to mold and process, and is inexpensive.
[0144]
When the transfer destination substrate 20 made of synthetic resin is used, a large transfer destination substrate can be integrally formed, and even if it has a complicated shape such as a curved surface or an uneven surface. It can be easily manufactured, and various advantages such as low material cost and low manufacturing cost can be obtained. Therefore, the use of a synthetic resin is advantageous in manufacturing a large and inexpensive device (for example, a liquid crystal display).
[0145]
The transfer destination substrate 20 is a device that forms an independent device, such as a liquid crystal cell, or a device such as a color filter, an electrode layer, a dielectric layer, an insulating layer, or a semiconductor element. It may constitute a part.
[0146]
Further, the transfer destination substrate 20 may be a substance such as metal, ceramics, stone, or wood paper, or on an arbitrary surface constituting a certain item (on a watch surface, on an air conditioner surface, on a printed circuit board). Etc.), and further on the surface of a structure such as a wall, pillar, ceiling, or window glass.
[0147]
An adhesive layer 21 is provided in advance in such a region on the transfer destination substrate 20 where the transfer target 12a is to be transferred. Preferable examples of the adhesive constituting the adhesive layer 21 include various curable types such as a reactive curable adhesive, a thermosetting adhesive, a photocurable adhesive such as an ultraviolet curable adhesive, and an anaerobic curable adhesive. An adhesive is mentioned. The composition of the adhesive may be any, for example, epoxy, acrylate, or silicone. When a commercially available adhesive is used, the adhesive used may be adjusted to a suitable viscosity for coating by adding an appropriate solvent.
[0148]
In the present embodiment, the adhesive layer 21 is formed only on the transfer target 12a to be transferred or only on the transfer destination substrate 20 corresponding to the transfer target 12a to be transferred. Such local formation of the adhesive layer 15 can utilize a printing method or an inkjet coating method. A liquid ejecting apparatus is used to perform the ink jet coating method. The structure of the liquid ejecting device can be divided into electrostatic drive type, piezo drive type, thermal drive type, etc. Among them, the piezo drive type liquid discharge method is the property of the adhesive because it discharges the material liquid without applying heat. There is no risk of changing. Therefore, it is preferable as an industrial purpose for applying a liquid to such a part. This piezo drive type head has a structure in which a piezoelectric element is provided on a diaphragm that forms the wall surface of the pressure chamber, and the diaphragm is deformed by applying a predetermined voltage to the piezoelectric element, thereby reducing the volume of the pressure chamber. And the liquid in the pressure chamber is discharged. When using the inkjet coating method, it is necessary to dissolve the adhesive in a suitable organic solvent and adjust the material solution so that the viscosity and surface tension can be discharged.
[0149]
The adhesive layer 21 is formed by moving the nozzle of the liquid ejecting apparatus to the transfer position of the transfer target 12a and discharging a material liquid containing an adhesive. If necessary, heat treatment / drying treatment for evaporating the organic solvent is performed. Note that the adhesive layer 21 may be formed on the transfer destination substrate 20 prior to the separation of the transfer target 12a.
[0150]
When the adhesive layer 21 is formed, the temporary fixing means V on which the transfer target is temporarily fixed is conveyed onto the adhesive layer 21 of the transfer destination substrate 20, and the transfer target is pressure-bonded to the adhesive layer 21. The adhesive force with the transfer target 12a is increased. Then, as shown in FIG. 2: ST107, the temporary fixing is released by releasing the suction of the temporary fixing means V. Through the above steps, the transfer of the one transfer target 12a to the transfer destination substrate 20 is completed.
[0151]
In the present embodiment, an adhesive (thermal fusion) sheet can be used as the adhesive layer 21 instead of applying an adhesive. A large number of such adhesive sheets are provided on, for example, a film tape, and can be supplied and used sequentially from a tape carrier on which the film tape is mounted. For example, the adhesive sheet can be attached to a corresponding portion of the transfer destination substrate 20 or attached to the bottom surface of the transferred object 12a being conveyed. The adhesive sheet is made of polyolefin resin (polyethylene, polypropylene, EVA, etc.), epoxy resin, fluorine resin, carboxyl group-containing acrylic resin, etc., hot melt resin polyester resin, acrylate resin, silicone resin, etc. It is formed by mixing one type or two or more types. The thickness of the adhesive sheet is 0.1 to 100 μm, preferably about 1 to 50 μm. Further, it is preferable that the area and shape of the adhesive sheet correspond to the size and shape of the transfer target 12a. Production efficiency can be increased by continuous supply of adhesive sheets using a tape carrier.
[0152]
In the first embodiment, when another transfer target 12a is transferred from the same transfer source substrate 10, the steps from the peeling step to the transfer step (ST104 to ST107) are repeated.
[0153]
In addition, the same process as the process performed on the first transfer source substrate 10 is repeated on other transfer source substrates (second transfer source substrate in FIG. 1). By these processes, the transfer target of the plurality of transfer source substrates is integrated on the transfer destination substrate without being selectively inverted.
[0154]
The transfer source substrates are not limited to the first and second transfer source substrates SUBA and SUBB, but may be three or more. Each transfer source substrate may be manufactured by a different manufacturing method. According to the present invention, it is possible to select an arbitrary number of transferred objects manufactured by different manufacturing processes and transfer them to one transfer source substrate.
[0155]
As described above, according to the first embodiment, an arbitrary number of objects to be transferred are selectively selected from a transfer source substrate on which objects to be transferred such as elements and circuits manufactured by the same or different manufacturing processes are integrated. By temporary fixing, it can be transferred to a predetermined position on the transfer destination substrate in the same direction. For this reason, it is possible to manufacture the assembly substrate by simply transferring the transfer body without using an intermediate transfer substrate for reversing the direction of the transfer body. Further, since the orientation of the transfer object does not change, electrode wiring and connection after transfer are easy.
[0156]
That is, according to the first embodiment, a transfer target such as an element or a circuit is used as a unit, including a transfer target having a different manufacturing process relatively easily without reversing the direction. It is possible to transfer to the same transfer destination substrate.
[0157]
In addition, according to the first embodiment, a large number of elements and circuits dispersed and arranged on the transfer destination base material at intervals are intensively manufactured on the transfer source base material, and these are transferred to the transfer destination base material. Compared with conventional circuit boards that are manufactured by forming elements directly on the substrate, the area efficiency in the manufacture of elements such as thin film transistors can be greatly improved. A substrate can be provided at low cost.
[0158]
In addition, since many elements and circuits are manufactured intensively on the transfer source substrate and then transferred to the transfer destination substrate, the elements and circuits once manufactured in the manufacturing process such as heat are damaged. Finally, it can be mounted on the transfer destination base material, and the performance of the circuit board can be improved. Further, it becomes possible to easily select and eliminate elements and circuits before transfer, and as a result, the product yield can be improved.
[0159]
Furthermore, the followability to the bending of the substrate is improved by accurately arranging minute elements and circuits at predetermined positions of the final transfer destination base material, and by using a flexible transfer destination base material, it is flexible. It is possible to provide an active matrix display device that is light and resistant to dropping. Further, a circuit board having a curved surface such as a curved display can be provided.
[0160]
<Second Embodiment>
In the second embodiment of the present invention, a plurality of transfer source substrates, which are manufactured in the same manufacturing process but are formed with a plurality of types of transferred bodies having different structures, are prepared in correspondence with the manufacturing process. Is a circuit board manufacturing method in which one or more transferred objects are selectively peeled off by suction from the transfer source substrate and transferred to the transfer destination substrate.
[0161]
FIG. 6 shows a schematic diagram of a circuit board manufacturing method according to the second embodiment.
The second embodiment relates to a method for continuously manufacturing a circuit board, as in the first embodiment. That is, as shown in FIG. 6, a step of supplying the transfer destination substrates SUBD one by one (S20), a step of peeling and transferring the transfer object by a transfer method described later (S21 to S25), and a transfer after transfer By repeating the step (S26) of discharging the previous substrates SUBD one after another, the transfer destination substrates SUBD1 to n are sequentially supplied and manufactured.
[0162]
The second embodiment is the same as the first embodiment in that the first transfer source substrate SUBA and the second transfer source substrate SUBB, which have different manufacturing processes, are used. The difference is that a plurality of types of transferred objects are also formed on the substrate. That is, on the first transfer source substrate SUBA, a plurality of transfer bodies Sa1, Sa2, and Sa3 are formed in advance in a plurality of regions A1, A2, and A3, respectively. On the second transfer source substrate SUBB, a plurality of transfer bodies Sb1 and Sb2 are formed in advance in a plurality of regions B1 and B2, respectively.
[0163]
Basically, the transfer / peeling in the second embodiment is performed in the same manner as the transfer / peeling in the first embodiment.
[0164]
FIG. 6 shows an example of manufacturing an assembly substrate in which transferred objects are integrated one by one from each region. For this purpose, after supplying the transfer destination substrate SUBD, any one first transfer target Sa1 is selectively temporarily fixed and peeled off from the area A1 of the first transfer source substrate SUBA and predetermined on the transfer destination substrate SUBD. Step (S21) of transferring to the position Pa1 is performed, and any one first transfer target Sa2 is selectively temporarily fixed and peeled from the area A2 of the first transfer source substrate SUBA, and predetermined on the transfer destination substrate SUBD. Transferring to the position Pa2 (S22), and selectively fixing and peeling off any one first transferred body Sa3 from the area A3 of the first transfer source substrate SUBA, and predetermining on the transfer destination substrate SUBD. In the step of transferring to the position Pa3 (S23), peeling / transfer is performed from the first transfer source substrate.
[0165]
Further, the step of selectively temporarily fixing and peeling off any one second transferred object Sb1 from the region B1 of the second transfer source substrate SUBB and transferring it to a predetermined position Pb1 on the transfer destination substrate SUBD (S24). ) Step of selectively temporarily fixing and peeling off any one second transferred body Sb2 from the region B2 of the second transfer source substrate SUBB and transferring it to a predetermined position Pb2 on the transfer destination substrate SUBD (S25). ) To peel and transfer from the second transfer source substrate.
[0166]
The details of the method for forming the transfer target and the separation / transfer process in each of the first transfer source substrate SUBA and the second transfer source substrate SUBB are the same as those in the first embodiment, and thus the description thereof is omitted.
[0167]
It should be noted that the process of forming the transfer bodies Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2 on the transfer source substrate SUBA or SUBB may be performed first or simultaneously.
[0168]
The transfer members Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2 are peeled off by the temporary fixing means Ha or Hb as in the first embodiment. The temporary fixing means Ha or Hb is brought into contact with the transferred bodies Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2, and sucked by the temporary fixing means to temporarily fix the transferred body, so that the transferred bodies Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2 This is achieved by moving (raising) the temporarily fixed means Ha or Hb that has been temporarily fixed to peel off the transfer target from the transfer source substrate.
[0169]
In addition, the transfer of the transfer bodies Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2 is performed by supplying a bonding means (not shown) to the transfer destination substrate SUBA or SUBB, and temporarily fixing means Ha or Hb to a predetermined position Pa1 of the transfer destination substrate SUBA or SUBB. Temporary fixing is achieved by releasing the suction of the temporary fixing means Ha or Hb transported to Pa3 or Pb1 or Pb2 and bonded to the object to be transferred, and transported the bonded objects Sa1 to Sa3 or Sb1 or Sb2. Achieved by lifting.
[0170]
It should be noted that the process of forming the transfer bodies Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2 on the transfer source substrate SUBA or SUBB may be performed first or simultaneously. Similarly, the material to be transferred Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2 may be peeled off or transferred first or simultaneously. The temporary fixing means may also be used to peel and transfer the transferred objects Sa1 to Sa3 or Sb1 and Sb2 in order. In addition, a predetermined pattern may be provided in advance on the transfer destination substrate SUBD.
[0171]
Further, the number of transfer source substrates is not limited to the first and second transfer source substrates SUBA and SUBB, but may be three or more. Each transfer source substrate may be manufactured by a different manufacturing method. According to the present invention, it is possible to select an arbitrary number of transferred objects manufactured by different manufacturing processes and transfer them to one transfer source substrate.
[0172]
As described above, according to the second embodiment, there are basically the same functions and effects as those of the first embodiment.
In particular, according to the second embodiment, since a plurality of types of transferred objects formed in the same process are formed on the transfer source substrate, a plurality of types of transferred objects are selected and arranged. Therefore, it is possible to easily manufacture an assembly substrate in which a plurality of types of elements and circuits are integrated.
[0173]
<Third Embodiment>
In the third embodiment of the present invention, energy is applied to a part or all of a transfer source substrate including a plurality of transfer target objects to be peeled, and the transfer target included in the part or all of the area is transferred. The present invention relates to a method for manufacturing a circuit board for peeling one or more bodies. This is different from the first embodiment in which energy is supplied to each transferred body and peeling is performed.
[0174]
The manufacturing method of the present embodiment will be described with reference to the manufacturing process sectional view according to the third embodiment shown in FIG.
The peeling layer forming step (S201), the transferred object forming step (ST202), and the transferred object separating step (ST203) are the same as those in the first embodiment, and a description thereof is omitted.
[0175]
(Peeling process: ST204)
In the peeling process according to the third embodiment, as shown in FIG. 7: ST204, a certain region of the transfer source substrate 10 is irradiated with light L over the entire surface, and the entire peeling layer 11 is peeled (inside the layer). Peeling and / or interfacial peeling).
[0176]
The light L to be irradiated may be any light as long as it causes in-layer peeling and / or interfacial peeling in the peeling layer 11 as in the first embodiment, for example, X-rays, ultraviolet rays, visible Light, infrared rays (heat rays), laser beams, millimeter waves, microwaves, electron beams, radiation (α rays, β rays, γ rays) and the like, and predetermined laser beams are preferable.
[0177]
In particular, in this embodiment, since the irradiation area of the laser beam is wide, the laser beam may be irradiated in multiple times, or irradiation light (laser beam) of different types and different wavelengths (wavelength ranges) may be used. Different regions may be irradiated more than once.
[0178]
Here, a region where energy is applied to cause peeling is determined according to how many transfer target materials are peeled and transferred from which region within which period. That is, immediately after energy is applied by laser light or the like, the release layer 11 is ablated and easily peeled off, but may be cured again as time passes. According to the present invention, since the transferred object is selectively transferred, it takes time to peel and transfer all transferred objects from the area to which energy is applied. Therefore, it is preferable that the region to which energy is applied at a time is kept in a region corresponding to a transfer target that can be transferred within a period in which the release state of the release layer 11 is maintained.
[0179]
However, the material of the release layer 11 has a property of causing irreversible peeling, and once the peeling has occurred, if there is no significant change in the peeling state over time, a wide area at a time. Energy may be applied to (for example, the entire region of the transfer source substrate) to cause peeling in the peeling layer.
[0180]
The temporary fixing step (ST205) and the transfer step (ST206 / ST207) by the temporary fixing means V are the same as those in the first embodiment, and a description thereof is omitted.
[0181]
As described above, according to the third embodiment, there are basically the same functions and effects as those of the first embodiment.
In particular, according to the third embodiment, since energy is applied to a part or all of the transfer source substrate, the time required for the peeling process is shortened compared to the case where energy is individually applied, and the manufacturing cost is reduced. Can be lowered.
[0182]
<Fourth embodiment>
The fourth embodiment of the present invention relates to an electro-optical device manufactured by the method for manufacturing a circuit board in each of the above embodiments.
FIG. 7 shows a substrate plan block diagram of the electro-optical device 1 according to the fourth embodiment. The electro-optical device 1 is configured by arranging a display area 4, a scanning line driving circuit 2, and a data line driving circuit 3 on a transfer destination substrate 20. The selection signal line Vsn is wired from the scanning line driving circuit 2 and the data line Idatam is wired from the data line driving circuit 3 to the display area 4 respectively. A pixel region Pmn is provided corresponding to a position where the selection signal line Vsn and the data line Idatam intersect, and constitutes an active matrix substrate. Each pixel region Pmn is provided with, for example, an EL element that can emit light by an electroluminescence effect and a peripheral circuit composed of a thin film transistor and the like. By controlling the selection signal line Vsn and the data line Idata, current programming is performed for each pixel region, and light emission by the EL element is controlled.
[0183]
Here, according to the circuit board manufacturing method of the present invention, each pixel region Pmn, the scanning line driving circuit 2 and the data line driving circuit 3 are manufactured on the same or different transfer source substrates and then individually peeled off. Thus, it can be arranged on the transfer destination substrate 20. Only the selection signal line and the data line may be formed on the transfer destination substrate 20 in advance.
[0184]
For example, since all the pixel regions Pmn can be formed by the same manufacturing process, they can be integrated and formed on one transfer source substrate. On the other hand, since the scanning line driving circuit 2 and the data line driving circuit 3 constitute a circuit mainly using thin film transistors, they can be formed on the same transfer source substrate. However, since the pixel region Pmn includes an EL element forming process, the manufacturing process is partially different from the scanning line driving circuit 2 and the data line driving circuit 3. For this reason, the pixel region is formed on the first transfer source substrate, and the scanning line driving circuit 2 and the data line drive circuit 3 are formed on the second transfer source substrate, and the necessary number of transfer is performed from each transfer source substrate. The electro-optical device 1 is manufactured by transferring these transferred objects onto the front substrate 20.
[0185]
As described above, according to the fourth embodiment, since the method for manufacturing a circuit board according to the present invention is applied, the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
In particular, according to the fourth embodiment, the EL element can be mounted by transfer without causing thermal damage to the light emitting layer and the antireflection layer during manufacture of the EL element, and the substrate and the light emitting layer as in the past. Compared with the case where an element is formed between the elements, the element does not interfere with display, and thus the display performance is improved.
[0186]
<Fifth embodiment>
The fifth embodiment of the present invention relates to an electronic device using the circuit board manufactured by the above embodiment. FIG. 9 shows an example of an electronic device according to the fifth embodiment.
FIG. 9A shows an example of a circuit board manufactured by the method for manufacturing a circuit board of the present invention, for example, a mobile phone on which the electro-optical device 1 according to the fourth embodiment is mounted. An electro-optical device (display panel) 111, an audio output unit 112, an audio input unit 113, an operation unit 114, and an antenna unit 115 are provided.
[0187]
FIG. 9B shows an example of a video camera on which a circuit board (electro-optical device) manufactured by the manufacturing method of the present invention is mounted. The video camera 120 includes an electro-optical device (display panel) 121, an operation unit. 122, an audio input unit 123, and an image receiving unit 124.
[0188]
FIG. 9B is an example of a portable personal computer on which a circuit board (electro-optical device) manufactured by the manufacturing method of the present invention is mounted. The computer 130 includes an electro-optical device (display panel) 131, an operation. Unit 132 and camera unit 133. FIG. 9D shows an example of a head-mounted display on which a circuit board (electro-optical device) manufactured by the manufacturing method of the present invention is mounted. The head-mounted display 140 includes an electro-optical device (display panel) 141, An optical system storage unit 142 and a band unit 143 are provided.
[0189]
FIG. 9E shows an example of a rear projector on which a circuit board (electro-optical device) manufactured by the manufacturing method of the present invention is mounted. The projector 150 includes an electro-optical device (light modulator) 151, a light source. 152, a combining optical system 153, mirrors 154 and 155, and a screen 157 are provided in the housing 156.
[0190]
FIG. 9F shows an example of a front projector on which a circuit board (electro-optical device) manufactured by the manufacturing method of the present invention is mounted. The projector 160 includes an electro-optical device (image display source) 161 and an optical device. A system 162 is provided in the housing 163 so that an image can be displayed on the screen 164.
[0191]
The method for manufacturing a circuit board according to the present invention is not limited to the above example, and can be applied to the manufacture of any electronic device. For example, the present invention can be applied to a fax machine with a display function, a digital camera finder, a portable TV, a DSP device, a PDA, an electronic notebook, an electric bulletin board, an advertisement display, an IC card, and the like.
[0192]
As described above, according to the fifth embodiment, a plurality of elements to be transferred such as elements and circuits constituting an electronic device are formed on one transfer source substrate if they can be manufactured in the same process. If this manufacturing process is required, the substrate can be manufactured on another transfer source substrate, and the transfer target can be selectively sucked from each transfer source substrate and integrated on a circuit substrate for manufacturing an electronic device. For this reason, the present invention provides a simple method as a method of manufacturing an electronic device using a wide variety of elements and circuits.
[0193]
In addition, since the transfer method is used in the present invention, a large number of elements and circuits used in electronic devices distributed and arranged on the base material at intervals are intensively manufactured on the transfer source base material. Can be accurately transferred to a predetermined position on the transfer destination base material, so that the area efficiency in the manufacture of elements such as thin film transistors can be greatly improved compared to conventional electronic devices that are manufactured by forming elements directly on the substrate. .
[0194]
In addition, since many elements and circuits are manufactured on the transfer source base material in a concentrated manner and then transferred to the transfer destination base material, the manufactured elements and circuits are damaged in the manufacturing process such as heat. Finally, it can be mounted on the transfer destination base material, and the performance of the electronic device can be improved.
[0195]
Further, it becomes possible to easily select and eliminate elements and circuits before transfer, and as a result, the product yield can be improved.
[0196]
In addition, by accurately placing minute elements and circuits at predetermined positions on the final transfer destination base material, the followability to bending of the substrate is improved, and by using a flexible transfer destination base material, it is flexible and light. It is possible to provide an electronic device that is resistant to the impact of dropping. Furthermore, since an electronic device having a curved surface such as a curved display can be provided, the shape can be made impossible or difficult in the conventional product, and the degree of freedom in product design is expanded.
[0197]
<Other variations>
The above embodiment can be applied with various modifications within the scope of the present invention.
For example, as the peeling method, any method other than the peeling layer, the laser beam, and / or the temporary fixing means may be used as long as it can be easily peeled off. For example, the transfer target may be forcibly separated by the suction force of the temporary fixing means without using the release layer. Further, instead of using laser light, a thermoplastic resin or the like may be used for the peeling layer, and peeling may be performed by partially or entirely heating the transfer source substrate. In addition to vacuum tweezers, mechanical tweezers, electrostatic attraction devices, and magnet means using magnetic force can be used as temporary fixing means.
[0198]
Further, as a transfer method, bonding may be performed by a method other than an adhesive layer or an adhesive sheet. For example, if the layer to be transferred includes a terminal such as solder, after being placed on the transfer destination substrate, the solder is melted and then electrically connected to the transfer destination substrate by applying heat. At the same time, it is fixed mechanically.
[0199]
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic explanatory view of a circuit board manufacturing method according to a first embodiment.
FIG. 2 is a manufacturing process sectional view of the circuit board manufacturing method according to the first embodiment;
3A and 3B are an example of an element and a circuit of a transfer target, in which FIG. 3A is a cross-sectional view of a thin film transistor, FIG.
4 is a cross-sectional view of a manufacturing process of a thin film transistor which is a transfer target. FIG.
FIG. 5 shows a specific example of a separation structure.
FIG. 6 is a schematic explanatory view of a circuit board manufacturing method according to a second embodiment.
FIG. 7 is a manufacturing process cross-sectional view of a circuit board manufacturing method according to a third embodiment;
FIG. 8 is a plan view of an electro-optical device according to a fourth embodiment.
FIG. 9 shows an application example of an electronic apparatus according to a modification.
[Explanation of symbols]
SUBA, SUNBB ... transfer source substrate, SUBD ... transfer destination substrate, V ... suction means, a, b ... transferred body, 1 ... electro-optical device, 10 ... transfer source substrate, 11 ... release layer, 12 ... transferred body layer , 12a ... transferred object, 12c ... groove, 20 ... transfer destination substrate, 21 ... adhesive layer (adhesive means)

Claims (16)

被転写体が複数形成されている複数の転写元基板のそれぞれから一以上の当該被転写体を仮固定して剥離する工程と、
剥離された前記被転写体を転写先基板の各々を、予め定められた位置にそれぞれ転写していく工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法。
A step of temporarily fixing and peeling one or more of the transferred bodies from each of a plurality of transfer source substrates on which a plurality of transferred bodies are formed;
And a step of transferring each of the transfer-destination substrates to a predetermined position.
第1被転写体が複数形成された第1転写元基板からいずれかの前記第1被転写体を仮固定して剥離する工程と、
剥離された前記第1被転写体を転写先基板の予め定められた位置に転写する工程と、
第2被転写体が複数形成された第2転写元基板からいずれかの前記第2被転写体を仮固定して剥離する工程と、
剥離された前記第2被転写体を前記転写先基板の予め定められた位置に転写する工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法。
Temporarily fixing and peeling off any of the first transferred bodies from a first transfer source substrate on which a plurality of first transferred bodies are formed;
Transferring the peeled first transferred object to a predetermined position on the transfer destination substrate;
Temporarily fixing and peeling any of the second transferred bodies from a second transfer source substrate on which a plurality of second transferred bodies are formed;
Transferring the peeled second transferred object to a predetermined position of the transfer destination substrate. A method for manufacturing a circuit board, comprising:
同一の製造工程によって形成される複数種類の被転写体が形成されている転写元基板から一種以上の前記被転写体を仮固定して選択的に剥離する工程と、
剥離された一種以上の前記被転写体のそれぞれを、予め定められた位置にそれぞれ転写していく工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法。
A step of temporarily fixing and temporarily separating one or more of the transferred bodies from a transfer source substrate on which a plurality of types of transferred bodies formed by the same manufacturing process are formed;
And a step of transferring each of the peeled one or more transferred objects to a predetermined position, respectively.
請求項3に記載の回路基板の製造方法において、
互いに異なる製造工程によって形成された前記転写元基板が複数用意されており、複数の当該転写元基板のそれぞれから一種以上の前記被転写体を選択的に剥離する回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to claim 3,
A method for manufacturing a circuit board, wherein a plurality of transfer source substrates formed by different manufacturing processes are prepared, and one or more of the transferred objects are selectively peeled from each of the plurality of transfer source substrates.
第1の製造工程によって製造される複数種類の被転写体が形成された第1転写元基板から一種以上の前記被転写体を仮固定して選択的に剥離する工程と、
剥離された一種以上の前記被転写体を転写先基板の予め定められた位置にそれぞれ転写する工程と、
前記第1の製造工程とは異なる第2の製造工程によって製造される複数種類の被転写体が形成された第2転写元基板から一種以上の前記被転写体を仮固定して選択的に剥離する工程と、
剥離された一種以上の前記被転写体を前記転写先基板の予め定められた位置にそれぞれ転写する工程と、を備えたことを特徴とする回路基板の製造方法。
A step of temporarily fixing and temporarily separating one or more of the transferred objects from a first transfer source substrate on which a plurality of types of transferred objects manufactured by the first manufacturing process are formed;
Transferring each of the peeled one or more transferred objects to a predetermined position on the transfer destination substrate; and
One or more types of the objects to be transferred are temporarily fixed and selectively peeled from the second transfer source substrate on which a plurality of types of objects to be transferred manufactured by a second manufacturing process different from the first manufacturing process are formed. And a process of
And a step of transferring at least one of the peeled objects to be transferred to a predetermined position of the transfer destination substrate, respectively.
請求項1乃至5のいずか一項に記載の回路基板の製造方法において、
前記被転写体の剥離する工程は、
仮固定手段を剥離させるべき前記被転写体に当接させる工程と、
前記仮固定手段により吸引することにより前記被転写体を仮固定する工程と、前記被転写体が仮固定された前記仮固定手段を移動させて当該被転写体を前記転写元基板から剥離する工程と、を備えている回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board as described in any one of Claims 1 thru | or 5,
The step of peeling off the transfer object includes
A step of bringing the temporary fixing means into contact with the transfer body to be peeled;
A step of temporarily fixing the object to be transferred by suctioning with the temporarily fixing means; and a step of moving the temporary fixing means to which the object to be transferred is temporarily fixed and peeling the object to be transferred from the transfer source substrate. And a method of manufacturing a circuit board.
請求項6に記載の回路基板の製造方法において、
前記被転写体を転写する工程は、
前記転写先基板に接着手段を供給する工程と、
前記被転写体が仮固定された前記仮固定手段を前記転写先基板の予め定められた位置に搬送し前記接着手段によって当該被転写体を接着する工程と、
接着された前記被転写体を搬送した前記仮固定手段の吸引を解除することにより前記仮固定を解除する工程と、を備えている回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to claim 6,
The step of transferring the transfer object includes
Supplying adhesive means to the transfer destination substrate;
Transporting the temporary fixing means on which the transferred body is temporarily fixed to a predetermined position of the transfer destination substrate and bonding the transferred body by the bonding means;
And a step of releasing the temporary fixing by releasing the suction of the temporary fixing means that transports the bonded transfer target body.
請求項7に記載の回路基板の製造方法において、
前記接着手段を供給する工程は、前記接着手段を液体噴射装置から予め定められた位置に所定量吐出するものである回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to claim 7,
The step of supplying the adhering means is a method of manufacturing a circuit board in which the adhering means is discharged from the liquid ejecting apparatus to a predetermined position by a predetermined amount.
請求項7に記載の回路基板の製造方法において、
前記接着手段を供給する工程は、前記接着手段を前記転写先基板の転写すべき位置を含む一部または全部の領域に塗布するものである回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to claim 7,
The step of supplying the bonding means is a circuit board manufacturing method in which the bonding means is applied to a part or all of the region including the position to be transferred of the transfer destination substrate.
請求項1乃至9のいずれか一項に記載の回路基板の製造方法において、
前記転写先基板を供給する工程と、
前記回路基板の製造方法によって前記被転写体を前記転写先基板に転写する工程と、
転写後の前記転写先基板を排出する工程と、を繰り返すことにより、
新たな前記転写先基板を順次供給していく、回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to any one of claims 1 to 9,
Supplying the transfer destination substrate;
Transferring the transferred object to the transfer destination substrate by the method of manufacturing the circuit board;
By repeating the step of discharging the transfer destination substrate after the transfer,
A method for manufacturing a circuit board, in which new transfer destination substrates are sequentially supplied.
請求項1乃至10のいずれか一項に記載の回路基板の製造方法において、
前記被転写体の剥離は、剥離させるべき前記被転写体に対応する前記転写元基板の一部領域にエネルギーを付与して、当該一部領域に対応する前記被転写体を剥離させるものである回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to any one of claims 1 to 10,
In the peeling of the transfer object, energy is applied to a partial area of the transfer source substrate corresponding to the transfer object to be peeled, and the transfer object corresponding to the partial area is peeled off. A method of manufacturing a circuit board.
請求項1乃至11のいずれか一項に記載の回路基板の製造方法において、
前記被転写体の剥離は、剥離させるべき複数の前記被転写体を含む前記転写元基板の一部または全部の領域にエネルギーを付与して、当該一部または全部の領域に含まれる前記被転写体を一以上剥離させるものである回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to any one of claims 1 to 11,
In the peeling of the transferred object, energy is applied to a part or all of the transfer source substrate including the plurality of transferred objects to be peeled, and the transferred object included in the part or all of the area is transferred. A method for producing a circuit board, wherein one or more bodies are peeled off.
請求項1乃至12のいずれか一項に記載の回路基板の製造方法において、
前記転写元基板は、
当該転写元基板上に剥離層を形成する工程と、
前記剥離層上に前記被転写体を含む被転写体層を形成する工程と、によって製造される回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to any one of claims 1 to 12,
The transfer source substrate is
Forming a release layer on the transfer source substrate;
Forming a transferred material layer including the transferred material on the release layer, and a method of manufacturing a circuit board.
請求項13に記載の回路基板の製造方法において、
前記被転写体層に対し、前記被転写体の境界付近に個々の当該被転写体を分離させるための分離構造を設ける工程をさらに備える回路基板の製造方法。
In the manufacturing method of the circuit board according to claim 13,
A method for manufacturing a circuit board, further comprising a step of providing a separation structure for separating each of the transferred objects in the vicinity of a boundary of the transferred object with respect to the transferred object layer.
請求項1乃至14のいずれか一項に記載の回路基板の製造方法によって製造される回路基板を備える電気光学装置。An electro-optical device comprising a circuit board manufactured by the method for manufacturing a circuit board according to claim 1. 請求項1乃至14のいずれか一項に記載の回路基板の製造方法によって製造される回路基板を備える電子機器。An electronic device provided with the circuit board manufactured by the manufacturing method of the circuit board as described in any one of Claims 1 thru | or 14.
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