JP2004022795A - Device and method for generating multi-bunch laser beam - Google Patents

Device and method for generating multi-bunch laser beam Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device which is suitable for the generation of a multi-bunch laser beam having uniform pulse intensity. <P>SOLUTION: A laser light source emits a pulsed laser beam. The laser beam emitted from the light source is made incident to a pulse intensity modulator. The modulator modulates the pulse intensity of the incident pulsed laser beam. The pulsed laser beam modulated by means of the modulator is made incident to an optical amplifier. The amplifier amplifies the incident pulsed laser beam. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マルチバンチレーザ発生装置及び発生方法に関し、特に、複数のパルスを含むレーザビームを光増幅器で増幅してマルチバンチレーザを発生する装置及び発生方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
複数のレーザパルスを集群させたマルチバンチレーザビームを発生する方法として、下記の2つの方法が知られている。
【0003】
第1の方法は、複数個のレーザパルスを光学的に合成してパルス群を形成する方法である。第2の方法は、モードロックレーザ発振器から出射されたレーザパルス列から一部のパルスを切り出してパルス群を形成し、その後、増幅する方法である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
第1の方法は、1群(バンチ)内のパルス数が少ない場合には簡便な方法であるが、パルス数が増えるに従い、レーザパルスを合成する光学系が複雑になる。また、パルス群内のパルス間隔を一定に保ったり、他の基準周波数に同期させたりすることが困難である。
【0005】
第2の方法によると、容易に1群内のパルス数を多くすることが可能である。さらに、パルス間隔は、モードロックレーザ発振器でフィードバック制御されるために、容易に他の基準周波数に同期させることができる。ただし、光増幅の過程で、前方のパルスが光増幅器の利得(ゲイン)を消費してしまい、後方の増幅率が低下してしまう現象が生じる。このため、パルス群内の後方のパルスの強度が、前方のパルスの強度よりも小さくなってしまう。パルス強度を揃えるために、下記のいずれかの方法が採用される場合がある。
【0006】
第1の方法は、利得媒質における単位体積あたりの増幅率を低下させて、時間軸上でほぼ均一な増幅率を実現する方法である。この方法では、必要な増幅率を達成するために利得媒質の体積を大きくしなければならない。大きな利得媒質を均一に励起するために、高い励起エネルギが必要になり、全体の効率が低下してしまう。
【0007】
第2の方法は、利得媒質を励起させるためのフラッシュランプのパルス波形を制御することにより、高安定なマルチバンチレーザビームを得る方法である。しかし、この方法を採用すると、利得媒質の励起回路が複雑になる。
【0008】
本発明の目的は、パルス強度の揃ったマルチバンチレーザビームを発生するのに適したマルチバンチレーザ発生装置及び発生方法を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の一観点によると、パルスレーザビームを出射するレーザ光源と、前記レーザ光源から出射されたパルスレーザビームが入射し、入射するパルスレーザビームのパルス強度を変調するパルス強度変調器と、前記パルス強度変調器で変調されたパルスレーザビームが入射し、入射するパルスレーザビームを増幅する光増幅器とを有するマルチバンチレーザ発生装置が提供される。
【0010】
本発明の他の観点によると、パルスレーザビームのパルス強度を変調する工程と、パルス強度の変調されたパルスレーザビームを、光増幅器に入射させて増幅する工程とを有するマルチバンチレーザ発生方法が提供される。
【0011】
パルス強度変調によってパルス強度を変調しておくことにより、光増幅器の利得消費による増幅率低下の影響を相殺し、パルス強度の揃ったマルチバンチレーザビームを得ることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
図1に、本発明の実施例によるマルチバンチレーザ発生装置のブロック図を示す。実施例によるマルチバンチレーザ発生装置は、モードロックレーザ発振器1、パルススライサ2、パルス強度変調器(パルスモジュレータ)3、及び光増幅器4を含んで構成される。
【0013】
モードロックレーザ発振器1は、例えばNd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ等で構成され、2856MHzの基準周波数に同期して、パルス周波数119MHzの直線偏光されたパルスレーザビームLB1を出射する。モードロックレーザ発振器1から出射されたパルスレーザビームLB1が、パルススライサ2に入射する。
【0014】
パルススライサ2は、制御装置10から与えられる制御信号に基づいて、パルスレーザビームLB1のレーザパルス列から、所定の通過期間内のパルスのみを通過させ、通過期間以外のパルスを通過させない。これにより、マルチバンチレーザビームLB2が得られる。パルススライサ2を通過したマルチバンチレーザビームLB2が、パルス強度変調器3に入射する。パルス強度変調器3は、制御装置10から与えられる制御信号に基づいて、パルス強度を変調する。これにより、例えば、後方のパルスほど強度の大きなマルチバンチレーザビームLB3が得られる。
【0015】
パルス強度変調器3により変調されたマルチバンチレーザビームLB3が、光増幅器4に入射する。光増幅器4は、Nd:YAG、Nd:YLF等の利得媒質と利得媒質の励起用光源を含んで構成され、入射するマルチバンチレーザビームを増幅する。励起用光源は、制御措置10から制御を受ける。これにより、増幅されたマルチバンチレーザビームLB4が得られる。
【0016】
図2を参照して、パルススライサ2及びパルス強度変調器3の構成及び動作について説明する。
【0017】
図2(A)に、パルススライサ2及びパルス強度変調器3の概略図を示す。パルススライサ2及びパルス強度変調器3は、1/2波長板20、ポッケルスセル21、偏光子22、及び高圧電源23を含んで構成される。パルスレーザビームが1/2波長板20により偏光方向を制御され、ポッケルスセル21に入射する。ポッケルスセル21は、高圧電源23から印加される電圧の大きさに依存してパルスレーザビームの偏光方向を旋回させる。ポッケルスセル21を通過したパルスレーザビームが、偏光子22に入射角45°で入射する。
【0018】
偏光子22は、入射するパルスレーザビームのうち、入射面(図2(A)の紙面に相当)に平行な偏光成分(P成分)を透過させ、入射面に垂直な偏光成分(S成分)を反射する。ポッケルスセル21によって偏光方向が変えられると、P成分とS成分との強度比が変化する。従って、ポッケルスセル21によって偏光方向を制御することによって、偏光子22を透過するパルスの強度を変化させることができる。
【0019】
1/2波長板20を通過したパルスレーザビームがS成分のみになるように、1/2波長板20の光学軸方向が調整されている。このため、ポッケルスセル21に電圧を印加せず、偏光方向の旋回角が0°のとき、パルスレーザビームは偏光子22を透過しない。ポッケルスセル21に電圧を印加して、偏光方向を90°旋回させると、偏光子22に入射するパルスレーザビームがP成分のみになり、偏光子22を透過するパルスレーザビームの強度が最大になる。
【0020】
図2(B)に、1/2波長板20、ポッケルスセル21、及び偏光子22を含む光学装置を、パルススライサ2として動作させる場合の高圧電源23の電圧波形の一例を示す。時刻tからtまでの期間に、一定の電圧が印加され、それ以外の期間には、電圧が印加されない。時刻tからtの期間に印加される電圧は、ポッケルスセル21が偏光方向をちょうど90°旋回させる大きさとする。このとき、時刻tからtの期間(通過期間)のみ、パルスレーザビームが偏光子22を通過する。
【0021】
図2(C)に、1/2波長板20、ポッケルスセル21、及び偏光子22を含む光学装置を、パルス強度変調器3として動作させる場合の高圧電源23の電圧波形の一例を示す。電圧は、時刻tよりも前の時点から線形に増加し始め、時刻tを過ぎた時点で0Vに戻る三角波形状を有する。時刻tの時点における電圧が、偏光方向をほぼ90°旋回させる大きさになるように制御される。
【0022】
時刻tの時点における偏光方向の旋回角が0°よりも大きく90°よりも小さい。時間の経過とともに電圧が大きくなるため、旋回角が徐々に大きくなる。時刻tの時点で旋回角が90°になる。このため、図2(A)に示した光学装置による減衰量が、時間の経過とともに小さくなる。すなわち、偏光子22を通過するパルスレーザビームのパルス強度は、時間の経過とともに徐々に大きくなる。
【0023】
図1に戻って説明を続ける。光増幅器4の利得媒質は、励起光により、例えば200μs程度の周期で励起される。増幅率低下の時定数は約200μsである。パルススライサ2で切り出されたマルチバンチレーザビームLB2の最初のパルスから最後のパルスまでの間隔(バンチ幅)は、約1μsである。このように、マルチバンチレーザビームLB3が光増幅器4を通過する時間は、増幅率低下の時定数に比べて十分短い。
【0024】
光増幅器4の利得媒質は、パルス強度変調器3によって変調されたマルチバンチレーザビームLB3が入射する直前に励起され、マルチバンチレーザビームLB3が通過する期間には、励起されない。このため、マルチバンチレーザビームLB3のパルスが増幅されると、利得媒質の利得が消費され、光増幅器4の増幅率が低下する。
【0025】
上記実施例では、光増幅器4に入射するマルチバンチレーザビームLB3の後方のパルスほど強度が大きい。すなわち、強度の大きなパルスの増幅率が、強度の小さなパルスの増幅率よりも小さくなる。マルチバンチレーザビームLB3のパルス強度の増加の程度を調節することにより、光増幅器4で増幅されたマルチバンチレーザビームLB4のパルスの強度を均一に近づけることができる。
【0026】
パルス数100、パルス幅3〜10ps、パルス周波数119MHz、パルス強度変調前のパルスエネルギ1nJ、増幅後のパルスエネルギ750μJ、増幅後のマルチバンチレーザビームのパルス強度変動幅10%以下となる条件で増幅を行う場合、上記実施例による方法では、光増幅器4の利得媒質の体積を0.3cmとし、励起光強度を0.6Jすればよいとの計算結果を得られた。
【0027】
図3(A)に、増幅前のマルチバンチレーザビームの波形を示し、図3(B)に、増幅後のマルチバンチレーザビームの波形を示す。増幅前のマルチバンチレーザビームのパルス強度は、理想的には、パルス数の増加とともに(時間の経過とともに)指数関数的に大きくなる。
【0028】
これに対し、従来の方法を用いて同じ条件で増幅を行おうとすると、利得媒質の体積を3.6cmとし、励起光の強度を7.2Jとしなければならないとの計算結果を得た。このように、上記実施例による方法で増幅を行うことにより、利得媒質を小さくし、かつ励起光の強度を弱くすることができる。
【0029】
上記実施例では、パルス強度変調器3を構成するポッケルスセル21に印加する電圧を線形に増加させたが、その他の単調に増加する波形としてもよい。光増幅器4をレーザパルスが通過することによる利得の低下の割合に依存して、好適な電圧波形が選択される。例えば、光増幅器4で増幅されたパルスレーザビームLB4のパルス強度の最大値と最小値との差が、パルス強度変調器3によって変調されていないパルスレーザビームを光増幅器4に入射したときの増幅後のパルスレーザビームのパルス強度の最大値と最小値との差よりも小さくなるように、パルス強度を変調すればよい。このような変調を行うために、指数関数的に増加する波形が好ましい場合もあるであろう。
【0030】
上記実施例では、図1に示したように、パルススライサ2とパルス強度変調器3とを1個ずつ配置したが、図2(A)に示したポッケルスセル21に印加する電圧波形を制御することにより、パルススライサ2とパルス強度変調器3との機能を、1つのポッケルスセルを含む光学装置で実現することも可能である。
【0031】
図2(D)に、パルススライサ2とパルス強度変調器3との機能を1つのポッケルスセルで実現する場合の電圧波形の一例を示す。時刻tにおいて電圧が急激に立ち上がり、時刻tからtまでの間は、電圧が単調に、例えば線形に増加する。時刻tにおいて、電圧が急激に立ち下がる。時刻t及びtにおける電圧の立ち上がり及び立ち下りの時間は、モードロックレーザ発振器1から出射されるパルスレーザビームLB1のパルスの周期以下である。
【0032】
このように、時刻tからtの間以外の期間の印加電圧を0Vとし、時刻tからtまでの期間を、電圧が単調に増加する波形に直流成分を重畳させた波形とすることにより、図2(A)に示したポッケルスセル21を含む1つの光学装置により、パルススライサ2とパルス強度変調器3との2つの機能を実現することができる。
【0033】
図4に、上記実施例によるマルチバンチレーザビーム発生装置を用いたX線発生装置のブロック図を示す。上記実施例によるマルチバンチレーザ発生装置30から出射されたマルチバンチレーザビームが波長変換素子31に入射する。波長変換素子31は、入射するマルチバンチレーザビームの4倍高調波を発生する。4倍高調波が、電子銃32のフォトカソードに入射する。フォトカソードから放出された光電子が電子銃32内の加速電界によって加速され、パルス状の電子ビームが出射される。
【0034】
電子銃32から出射されたパルス状の電子ビームが、リニアック33で加速される。リニアック33で加速されたパルス状電子ビームに、パルスレーザ発振器34から出射されたパルスレーザビームが衝突する。この衝突によって、逆コンプトン散乱過程によるX線が発生する。マルチバンチレーザ発生装置30、電子銃32、リニアック33、及びパルスレーザ発振器34は、制御装置35によって同期がとられている。
【0035】
マルチバンチレーザ発生装置30から出射されるマルチバンチレーザのパルス強度が揃っているため、電子銃32から出射されるパルス状電子ビームの各パルスの電子密度を均一化させることができる。
【0036】
また、図4に示したマルチバンチレーザ発生装置30、波長変換素子31、及び電子銃32は、自由電子レーザ発生装置のパルス状電子ビーム発生源として用いることも可能である。
【0037】
また、上記実施例によるマルチバンチレーザ発生装置は、レーザドリル用のレーザ光源として用いることもできる。1群内のパルス数や、パルス強度のピークを結ぶ包絡線の形状を変えることにより、加工される穴の形状等を制御することができる。さらに、上記実施例によるマルチバンチレーザ発生装置を、ポンププローブ法によるレーザ計測用の光源として使用することにより、高い時間分解能を得ることができる。
【0038】
以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
【0039】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光増幅器の利得の低下に対応して、光増幅器に入射するパルスレーザビームのパルス強度を変調しておくことにより、増幅後のパルスレーザビームのパルス強度を、所望の大きさにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例によるマルチバンチレーザ発生装置のブロック図である。
【図2】パルススライサ及びパルス強度変調器の概略図、及びポッケルスセルに印加される電圧波形の一例を示すグラフである。
【図3】実施例によるマルチバンチレーザ発生装置内の増幅前のマルチバンチレーザビーム波形及び増幅後のマルチバンチレーザビーム波形を示すグラフである。
【図4】実施例によるマルチバンチレーザ発生装置を用いたX線発生装置のブロック図である。
【符号の説明】
1 モードロックレーザ発振器
2 パルススライサ
3 パルス強度変調器
4 光増幅器
10 制御装置
20 1/2波長板
21 ポッケルスセル
22 偏光子
23 高圧電源
30 マルチバンチレーザ発生装置
31 波長変換素子
32 電子銃
33 リニアック
34 パルスレーザ発振器
35 制御装置
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an apparatus and a method for generating a multi-bunch laser, and more particularly to an apparatus and a method for generating a multi-bunch laser by amplifying a laser beam including a plurality of pulses with an optical amplifier.
[0002]
[Prior art]
As a method of generating a multi-bunch laser beam in which a plurality of laser pulses are grouped, the following two methods are known.
[0003]
The first method is to form a pulse group by optically combining a plurality of laser pulses. The second method is a method of cutting out a part of pulses from a laser pulse train emitted from a mode-locked laser oscillator to form a pulse group, and then amplifying the pulse group.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
The first method is a simple method when the number of pulses in one group (bunch) is small, but as the number of pulses increases, the optical system for synthesizing laser pulses becomes more complicated. In addition, it is difficult to keep the pulse interval in a pulse group constant or to synchronize with another reference frequency.
[0005]
According to the second method, it is possible to easily increase the number of pulses in one group. Further, since the pulse interval is feedback-controlled by the mode-locked laser oscillator, it can be easily synchronized with another reference frequency. However, in the process of optical amplification, a phenomenon occurs in which the forward pulse consumes the gain (gain) of the optical amplifier, and the backward amplification rate decreases. For this reason, the intensity of the rear pulse in the pulse group is smaller than the intensity of the front pulse. In order to make the pulse intensities uniform, any of the following methods may be employed.
[0006]
The first method is a method of reducing an amplification factor per unit volume in a gain medium to realize a substantially uniform amplification factor on a time axis. In this method, the volume of the gain medium must be increased to achieve the required amplification factor. In order to uniformly excite a large gain medium, a high excitation energy is required, which lowers the overall efficiency.
[0007]
A second method is to obtain a highly stable multi-bunch laser beam by controlling a pulse waveform of a flash lamp for exciting a gain medium. However, if this method is adopted, the excitation circuit of the gain medium becomes complicated.
[0008]
An object of the present invention is to provide a multi-bunch laser generating apparatus and a generating method suitable for generating a multi-bunch laser beam having a uniform pulse intensity.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
According to one aspect of the present invention, a laser light source that emits a pulsed laser beam, a pulsed laser beam emitted from the laser light source is incident, and a pulse intensity modulator that modulates the pulse intensity of the incident pulsed laser beam, There is provided a multi-bunch laser generation device including a pulse laser beam modulated by a pulse intensity modulator, and an optical amplifier that amplifies the incident pulse laser beam.
[0010]
According to another aspect of the present invention, there is provided a multi-bunch laser generation method including a step of modulating a pulse intensity of a pulse laser beam, and a step of causing the pulse laser beam having the modulated pulse intensity to enter an optical amplifier and amplify the pulse laser beam. Provided.
[0011]
By modulating the pulse intensity by the pulse intensity modulation, it is possible to cancel the effect of the decrease in the amplification factor due to the gain consumption of the optical amplifier, and obtain a multi-bunch laser beam with a uniform pulse intensity.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 shows a block diagram of a multi-bunch laser generator according to an embodiment of the present invention. The multi-bunch laser generator according to the embodiment includes a mode-locked laser oscillator 1, a pulse slicer 2, a pulse intensity modulator (pulse modulator) 3, and an optical amplifier 4.
[0013]
The mode-locked laser oscillator 1 is composed of, for example, an Nd: YAG laser, an Nd: YLF laser, and emits a linearly polarized pulse laser beam LB1 having a pulse frequency of 119 MHz in synchronization with a reference frequency of 2856 MHz. The pulse laser beam LB1 emitted from the mode-locked laser oscillator 1 enters the pulse slicer 2.
[0014]
The pulse slicer 2 passes only pulses within a predetermined passage period from the laser pulse train of the pulse laser beam LB1 based on a control signal given from the control device 10, and does not pass pulses other than the passage period. Thus, a multi-bunch laser beam LB2 is obtained. The multi-bunch laser beam LB2 that has passed through the pulse slicer 2 enters the pulse intensity modulator 3. The pulse intensity modulator 3 modulates the pulse intensity based on a control signal provided from the control device 10. Thereby, for example, a multi-bunch laser beam LB3 having a higher intensity as the pulse is more rearward is obtained.
[0015]
The multi-bunch laser beam LB3 modulated by the pulse intensity modulator 3 enters the optical amplifier 4. The optical amplifier 4 includes a gain medium such as Nd: YAG or Nd: YLF and a light source for exciting the gain medium, and amplifies an incident multi-bunch laser beam. The excitation light source is controlled by the control 10. Thus, an amplified multi-bunch laser beam LB4 is obtained.
[0016]
The configuration and operation of the pulse slicer 2 and the pulse intensity modulator 3 will be described with reference to FIG.
[0017]
FIG. 2A is a schematic diagram of the pulse slicer 2 and the pulse intensity modulator 3. The pulse slicer 2 and the pulse intensity modulator 3 include a half-wave plate 20, a Pockels cell 21, a polarizer 22, and a high-voltage power supply 23. The polarization direction of the pulse laser beam is controlled by the half-wave plate 20, and is incident on the Pockels cell 21. The Pockels cell 21 rotates the polarization direction of the pulse laser beam depending on the magnitude of the voltage applied from the high voltage power supply 23. The pulse laser beam that has passed through the Pockels cell 21 enters the polarizer 22 at an incident angle of 45 °.
[0018]
The polarizer 22 transmits a polarized light component (P component) parallel to the incident surface (corresponding to the paper surface in FIG. 2A) of the incident pulse laser beam, and a polarized light component (S component) perpendicular to the incident surface. Is reflected. When the polarization direction is changed by the Pockels cell 21, the intensity ratio between the P component and the S component changes. Therefore, by controlling the polarization direction by the Pockels cell 21, the intensity of the pulse transmitted through the polarizer 22 can be changed.
[0019]
The optical axis direction of the half-wave plate 20 is adjusted so that the pulse laser beam that has passed through the half-wave plate 20 has only the S component. Therefore, when no voltage is applied to the Pockels cell 21 and the rotation angle of the polarization direction is 0 °, the pulse laser beam does not pass through the polarizer 22. When a voltage is applied to the Pockels cell 21 to rotate the polarization direction by 90 °, the pulse laser beam incident on the polarizer 22 has only the P component, and the intensity of the pulse laser beam transmitted through the polarizer 22 is maximized. .
[0020]
FIG. 2B shows an example of the voltage waveform of the high-voltage power supply 23 when the optical device including the half-wave plate 20, the Pockels cell 21, and the polarizer 22 is operated as the pulse slicer 2. During the period from time t 1 to t 2, a constant voltage is applied, the other periods, no voltage is applied. Voltage from the time t 1 is applied to the period t 2 is sized to the Pockels cell 21 is exactly 90 ° turning the polarization direction. At this time, from time t 1 period t 2 only (passing time), the pulse laser beam passes through the polarizer 22.
[0021]
FIG. 2C shows an example of the voltage waveform of the high-voltage power supply 23 when the optical device including the half-wave plate 20, the Pockels cell 21, and the polarizer 22 is operated as the pulse intensity modulator 3. Voltage, than the time t 0 starts to increase from the previous time point linearly, with triangular shape back to 0V at the time when after time t 1. Voltage at the time point of time t 1 is controlled to a magnitude that is approximately 90 ° turning the polarization direction.
[0022]
Turning angle of the polarization direction at at time t 0 is less than 90 ° greater than 0 °. Since the voltage increases with the passage of time, the turning angle gradually increases. Turning angle is 90 ° at time t 1. For this reason, the amount of attenuation by the optical device shown in FIG. That is, the pulse intensity of the pulsed laser beam passing through the polarizer 22 gradually increases with time.
[0023]
Returning to FIG. 1, the description will be continued. The gain medium of the optical amplifier 4 is pumped by the pumping light at a period of, for example, about 200 μs. The time constant of the decrease in the amplification factor is about 200 μs. The interval (bunch width) from the first pulse to the last pulse of the multi-bunch laser beam LB2 cut out by the pulse slicer 2 is about 1 μs. As described above, the time required for the multi-bunch laser beam LB3 to pass through the optical amplifier 4 is sufficiently shorter than the time constant for decreasing the amplification factor.
[0024]
The gain medium of the optical amplifier 4 is excited immediately before the multi-bunch laser beam LB3 modulated by the pulse intensity modulator 3 enters, and is not excited during the period when the multi-bunch laser beam LB3 passes. Therefore, when the pulse of the multi-bunch laser beam LB3 is amplified, the gain of the gain medium is consumed, and the amplification factor of the optical amplifier 4 decreases.
[0025]
In the above embodiment, the intensity of the pulse after the multi-bunch laser beam LB3 incident on the optical amplifier 4 is higher. That is, the amplification factor of a pulse having a high intensity is smaller than the amplification factor of a pulse having a low intensity. By adjusting the degree of increase in the pulse intensity of the multi-bunch laser beam LB3, the pulse intensity of the multi-bunch laser beam LB4 amplified by the optical amplifier 4 can be made uniform.
[0026]
Amplification under conditions that the number of pulses is 100, the pulse width is 3 to 10 ps, the pulse frequency is 119 MHz, the pulse energy is 1 nJ before pulse intensity modulation, the pulse energy is 750 μJ after amplification, and the pulse intensity fluctuation width of the amplified multi-bunch laser beam is 10% or less. In the method according to the above embodiment, a calculation result was obtained that the volume of the gain medium of the optical amplifier 4 should be 0.3 cm 3 and the intensity of the pump light should be 0.6 J.
[0027]
FIG. 3A shows a waveform of the multi-bunch laser beam before amplification, and FIG. 3B shows a waveform of the multi-bunch laser beam after amplification. The pulse intensity of the multi-bunch laser beam before amplification ideally increases exponentially as the number of pulses increases (with time).
[0028]
On the other hand, when trying to amplify under the same conditions using the conventional method, a calculation result was obtained that the volume of the gain medium had to be 3.6 cm 3 and the intensity of the pump light had to be 7.2 J. As described above, by performing amplification by the method according to the above embodiment, the gain medium can be reduced and the intensity of the pump light can be reduced.
[0029]
In the above-described embodiment, the voltage applied to the Pockels cell 21 constituting the pulse intensity modulator 3 is linearly increased. However, the waveform may be other monotonically increasing waveform. A suitable voltage waveform is selected depending on the rate of decrease in gain due to the passage of the laser pulse through the optical amplifier 4. For example, the difference between the maximum value and the minimum value of the pulse intensity of the pulse laser beam LB4 amplified by the optical amplifier 4 is determined when the pulse laser beam not modulated by the pulse intensity modulator 3 enters the optical amplifier 4. The pulse intensity may be modulated so as to be smaller than the difference between the maximum value and the minimum value of the pulse intensity of the subsequent pulsed laser beam. In order to perform such modulation, an exponentially increasing waveform may be preferred.
[0030]
In the above embodiment, one pulse slicer 2 and one pulse intensity modulator 3 are arranged as shown in FIG. 1, but the voltage waveform applied to the Pockels cell 21 shown in FIG. 2A is controlled. Accordingly, the functions of the pulse slicer 2 and the pulse intensity modulator 3 can be realized by an optical device including one Pockels cell.
[0031]
FIG. 2D shows an example of a voltage waveform when the functions of the pulse slicer 2 and the pulse intensity modulator 3 are realized by one Pockels cell. At time t 0 , the voltage rises sharply, and between time t 0 and t 1 , the voltage increases monotonically, for example, linearly. At time t 1, the voltage falls rapidly. The rise and fall times of the voltage at times t 0 and t 1 are shorter than the period of the pulse of the pulse laser beam LB 1 emitted from the mode-locked laser oscillator 1.
[0032]
Thus, the voltage applied to the periods other than between time t 0 of t 1 and 0V, the period from time t 0 to t 1, the waveform obtained by superimposing a DC component in the waveform of the voltage increases monotonously Thereby, two functions of the pulse slicer 2 and the pulse intensity modulator 3 can be realized by one optical device including the Pockels cell 21 shown in FIG.
[0033]
FIG. 4 shows a block diagram of an X-ray generator using the multi-bunch laser beam generator according to the above embodiment. The multi-bunch laser beam emitted from the multi-bunch laser generator 30 according to the above embodiment enters the wavelength conversion element 31. The wavelength conversion element 31 generates a fourth harmonic of the incident multi-bunch laser beam. The fourth harmonic enters the photocathode of the electron gun 32. Photoelectrons emitted from the photocathode are accelerated by the accelerating electric field in the electron gun 32, and a pulsed electron beam is emitted.
[0034]
The pulsed electron beam emitted from the electron gun 32 is accelerated by the linac 33. The pulsed laser beam emitted from the pulsed laser oscillator collides with the pulsed electron beam accelerated by the linac 33. This collision generates X-rays due to the inverse Compton scattering process. The multi-bunch laser generator 30, the electron gun 32, the linac 33, and the pulse laser oscillator 34 are synchronized by a controller 35.
[0035]
Since the pulse intensity of the multi-bunch laser emitted from the multi-bunch laser generator 30 is uniform, the electron density of each pulse of the pulsed electron beam emitted from the electron gun 32 can be made uniform.
[0036]
Further, the multi-bunch laser generator 30, the wavelength conversion element 31, and the electron gun 32 shown in FIG. 4 can also be used as a pulsed electron beam source of the free electron laser generator.
[0037]
Further, the multi-bunch laser generator according to the above embodiment can be used as a laser light source for a laser drill. By changing the number of pulses in one group or the shape of the envelope connecting the peaks of the pulse intensities, the shape of the hole to be machined can be controlled. Furthermore, high temporal resolution can be obtained by using the multi-bunch laser generator according to the above-described embodiment as a light source for laser measurement by the pump probe method.
[0038]
Although the present invention has been described with reference to the embodiments, the present invention is not limited thereto. For example, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications, improvements, combinations, and the like can be made.
[0039]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the pulse intensity of the pulse laser beam after amplification is modulated by modulating the pulse intensity of the pulse laser beam incident on the optical amplifier in response to the decrease in the gain of the optical amplifier. The strength can be as large as desired.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram of a multi-bunch laser generator according to an embodiment.
FIG. 2 is a schematic diagram of a pulse slicer and a pulse intensity modulator, and a graph showing an example of a voltage waveform applied to a Pockels cell.
FIG. 3 is a graph showing a multi-bunch laser beam waveform before amplification and a multi-bunch laser beam waveform after amplification in a multi-bunch laser generator according to an embodiment.
FIG. 4 is a block diagram of an X-ray generator using the multi-bunch laser generator according to the embodiment.
[Explanation of symbols]
REFERENCE SIGNS LIST 1 mode-locked laser oscillator 2 pulse slicer 3 pulse intensity modulator 4 optical amplifier 10 controller 20 波長 wavelength plate 21 Pockels cell 22 polarizer 23 high-voltage power supply 30 multi-bunch laser generator 31 wavelength conversion element 32 electron gun 33 linac 34 Pulse laser oscillator 35 Controller

Claims (8)

パルスレーザビームを出射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたパルスレーザビームが入射し、入射するパルスレーザビームのパルス強度を変調するパルス強度変調器と、
前記パルス強度変調器で変調されたパルスレーザビームが入射し、入射するパルスレーザビームを増幅する光増幅器と
を有するマルチバンチレーザ発生装置。
A laser light source for emitting a pulsed laser beam,
A pulsed laser beam emitted from the laser light source is incident, a pulse intensity modulator that modulates the pulse intensity of the incident pulsed laser beam,
A multi-bunch laser generator comprising: an optical amplifier that receives a pulse laser beam modulated by the pulse intensity modulator and amplifies the incident pulse laser beam.
前記パルス強度変調器は、時間の経過とともにパルス強度の減衰量を少なくする請求項1に記載のマルチバンチレーザ発生装置。2. The multi-bunch laser generator according to claim 1, wherein the pulse intensity modulator reduces an attenuation amount of the pulse intensity over time. 3. さらに、前記レーザ光源と前記パルス強度変調器との間に配置され、該レーザ光源から出射されたパルスレーザビームのうち、ある通過期間のみパルスレーザビームを通過させ、通過したレーザビームを前記パルス強度変調器に入射させるパルススライサを有する請求項1または2に記載のマルチバンチレーザ発生装置。Further, the pulsed laser beam emitted from the laser light source is disposed between the laser light source and the pulse intensity modulator. The multi-bunch laser generator according to claim 1 or 2, further comprising a pulse slicer for entering the modulator. 前記光増幅器で増幅されたパルスレーザビームのパルス強度の最大値と最小値との差が、前記光増幅器に、前記パルス強度変調器によって変調されていないパルスレーザビームを入射したときの増幅後のパルスレーザビームのパルス強度の最大値と最小値との差よりも小さくなるように、前記パルス強度変調器がパルス強度を変調する請求項1〜3のいずれかに記載のマルチバンチレーザ発生装置。The difference between the maximum value and the minimum value of the pulse intensity of the pulsed laser beam amplified by the optical amplifier, after amplification when the pulsed laser beam not modulated by the pulse intensity modulator is incident on the optical amplifier. The multi-bunch laser generator according to claim 1, wherein the pulse intensity modulator modulates the pulse intensity so that the pulse intensity becomes smaller than a difference between a maximum value and a minimum value of the pulse intensity of the pulse laser beam. パルスレーザビームのパルス強度を変調する工程と、
パルス強度の変調されたパルスレーザビームを、光増幅器に入射させて増幅する工程と
を有するマルチバンチレーザ発生方法。
Modulating the pulse intensity of the pulsed laser beam;
Amplifying a pulse laser beam having a modulated pulse intensity by inputting the pulse laser beam into an optical amplifier.
前記パルス強度を変調する工程において、時間の経過とともにパルス強度の減衰量を少なくする請求項5に記載のマルチバンチレーザ発生方法。6. The multi-bunch laser generation method according to claim 5, wherein in the step of modulating the pulse intensity, the amount of attenuation of the pulse intensity is reduced with time. 前記パルスレーザビームのパルス強度を変調する工程の前に、さらに、パルスレーザビームの複数のレーザパルスから、ある通過期間のみの複数のパルスを切り出す工程を有し、前記パルス強度を変調する工程において、切り出された複数のパルスの強度を変調する請求項5または6に記載のマルチバンチレーザ発生方法。Before the step of modulating the pulse intensity of the pulsed laser beam, further, from a plurality of laser pulses of the pulsed laser beam, has a step of cutting out a plurality of pulses only for a certain passing period, in the step of modulating the pulse intensity 7. The multi-bunch laser generation method according to claim 5, wherein the intensity of the plurality of cut out pulses is modulated. 前記光増幅器で増幅されたパルスレーザビームのパルス強度の最大値と最小値との差が、パルス強度を変調されていないパルスレーザビームを入射したときの増幅後のパルスレーザビームのパルス強度の最大値と最小値との差よりも小さくなるように、パルス強度を変調する請求項5〜7のいずれかに記載のマルチバンチレーザ発生方法。The difference between the maximum value and the minimum value of the pulse intensity of the pulse laser beam amplified by the optical amplifier is the maximum of the pulse intensity of the amplified pulse laser beam when a pulse laser beam whose pulse intensity is not modulated is incident. The method according to claim 5, wherein the pulse intensity is modulated so as to be smaller than a difference between the value and the minimum value.
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