JP2003508837A - 電子デバイスを保護するための回路および方法 - Google Patents

電子デバイスを保護するための回路および方法

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Abstract

(57)【要約】 例えばチップ等、電子デバイスを使用するためのアクセス時間は、それぞれの認定されないアクセスの試みの後に延長される。アクセス時間は、２つのフローティングゲートセルのターンオン電圧を近似化するための時間によって決定される。アクセスを試みる前に、１つのセルのターンオン電圧は所与の初期値に設定され、別のセルのターンオン電圧はそれとは逆により高い値に設定され、この値はそれぞれの認定されないアクセスの後に高められる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 本発明は、電子デバイスを保護するための、特にチップ機能のイネーブルを保
護するための電子回路およびその保護方法に関する。
【０００２】 例えば、チップカード等、電子回路の特定の形態は、回路内に含まれる情報ま
たは格納されたデータ（例えば、暗号作成方法のためのキー等）の秘密厳守を高
度に要求する。これらの安全に関する情報は、第３者による分析および操作に対
して保護されなければならない。特に回避されなければならないのは、認定され
ないアクセスが安全関する情報の分析または当該の電子デバイスに対して、アク
セスが可能になるまで繰り返し試みられることによって、認定されない者が情報
へアクセスするということである。これは、例えば、複数回の試みによってＰＩ
Ｎが発見され得る場合等である。チップまたはチップカードは、それゆえ、認定
されないアクセスが特定回数試みられた後、あらゆるさらなるアクセスの試み、
およびこれによって認定されたアクセスも一般に禁止されるようにして保護され
る。例えば、アクセス認定された者でも不注意に誤った試みを２度しただけで、
もはやアクセスが許されないので、場合によって安全措置は厳しすぎる。端子に
おいて故障が生じた場合にもこのようなことが起こり得、これは端子のアクセス
認定が正しく認識されないということにつながる。
【０００３】 本発明の課題は、乱用に対して十分な保護を提供し、同時に誤用を防ぐ電子デ
バイスの機能のエネイブルを保護するための技術的教示を述べ、同時に操作エラ
ーまたは機能不全に基づいて使用認定が尚早に拒否されることを防ぐということ
である。
【０００４】 本課題は、請求項１に記載の特徴を有する回路と、請求項５に記載の特徴を有
する方法によって解決される。改良点は、それぞれの従属請求項から明らかにな
る。
【０００５】 発明による回路、およびこれに関連する発明による方法は、アクセス時間、す
なわちアクセスの試みの開始と、例えばチップ等、電子デバイスの機能のイネー
ブルまたは実行との間の時間を長くする。これによって、その分析のために必要
な時間が、その分析が実際それ以上実効不可能になるまで延長されるので、ＤＰ
分析（ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ ｐｏｗｅｒ ａｎａｌｙｓｉｓ）は効果的に
防止される。認定されたアクセスのために提供される手段が規則に従ってに用い
られる場合、電子デバイスへのアクセスの数および周波数は制限されない。同時
に、回路の方式または使用は、不注意に誤った操作または装置の故障に基づいて
失敗したアクセスの試みに対しては、はるかに寛容である。
【０００６】 発明による回路は、例えば、電圧または電荷等、共通の電気的変化量によって
特徴付けられる２つの成分を含む。一方の成分の場合、この電気的変化量は、特
定のタイムインターバルの経過において基準値に近似化され得、基準値とは異な
った値に基づき、以下においては基本値と称される。もう一方の成分の場合、電
気的変化量は、好適には、様々な値に設定され得るか、またはプログラミングさ
れ得るので、そのようにして変更され得る基準値がそれぞれ与えられている。上
述の成分の上述の電気的変化量の値を比較するための第３の成分が提供される。
【０００７】 第３の成分が電圧を比較するために提供されたコンパレータである場合、成分
は、例えば、２つのフローティングゲートセルまたは２つのキャパシタ、または
それに類似のものによって形成され得る。フローティングテートセルを用いた好
適な実施形態において、ターンオン電圧が電気的変化量として選択される。第１
のフローティングゲートセルのターンオン電圧は、時間とともに変化し、コンパ
レータを用いて第２のフローティングゲートセルの基準値を形成するターンオン
電圧と比較される。電子デバイスを使用するために行なわれるアクセスの試みが
、例えば、チップカードをカードリーダに挿入する場合、およびＰＩＮを入力す
る場合、基準値とは異なった値、すなわち基本値を基準とする第１のフローティ
ングゲートセルは、コンパレータがセルのターンオン電圧との一致を確認するま
で電荷される。
【０００８】 認定されないアクセスの試みが確認された後、基準値が変更されるか、または
値が相互に近似化されるのに用いられる速度が低減されることによって所与のア
クセス時間が延長される。したがって、認定されないアクセスが試みられること
によって、次に続くアクセスの際に機能がイネーブルされるか、または例えば、
チップカードの場合、暗号アルゴリズムがキーをチェックするために終了するま
で待ち時間が延長される。これは、認定されないアクセスの試みがわずかな回数
であった後でも、機能の使用が可能になるまでの時間は著しく長くなるのでＤＰ
分析を極めて困難にする。アクセス時間は、あらゆる認定されないアクセスの試
みの後に延長され得るか、または、追加的に決定された所与の条件が満たされて
いる場合のみ延長され得る。
【０００９】 次に、添付の３つの図において示されたプログラムフローチャートを用いて、
本発明の実施例のより正確な説明が続く。説明をより簡単にするために、回路の
電子成分として、それぞれ２つのフローティングゲートセル、およびこの例にお
ける電気的変化量として、セルのターンオン電圧を相互に比較する１つのコンパ
レータが想定される。
【００１０】 図１のプログラムフローチャートに従って示される本発明の実施例の場合、電
子デバイスを使用するための権限が与えられているかどうかという第１の確認の
前に、すなわち、例えば、チップカードをチップカードリーダに最初に挿入する
前に、第１の成分（フローティングゲートセルの１つ、以下においてはセルＡと
称される）の電気的変化量の値は、特定の基本値（特定のターンオン電圧ＵA0）
に設定され、かつ第２の成分（他のフローティングゲートセル、以下においては
セルＢと称される）の電気的変化量の値は、前述のようにそれとは異なった基準
値（他のターンオン電圧ＵB0、好ましくは、ＵAOよりも高い）に設定される。こ
のように成分は、その基本状態にある。アクセスの試みは、チップカードの場合
、通常、カードがカードリーダに挿入されることによって（ＩＮＳ→ＳＴＡＲＴ
）、およびＰＩＮまたは比較可能なデータが入力されることによって初期化され
る。その後、最初に、第１の成分（セルＡ）が基本状態（ターンオン電圧が基本
値ＵA0）にあるかどうかがチェックされる。第１の成分が基本状態にある場合、
【００１１】
【数７】 最初に第１の成分の電気的変化量の値（セルＡのターンオン電圧ＵA0）がゆっく
りと基準値（セルＢのターンオン電圧ＵB0）に設定され
【００１２】
【数８】 セルＡを例えば短パルスのシーケンスを介して、または一般的な動作と比較して
、低減されたプログラミング電圧が電荷される）ことによって、アクセス認定の
チェックが開始される。認定されたアクセスの場合、例においてコンパレータに
よって確認される、アクセス認定
【００１３】
【数９】 のチェックの後、両方の成分が電気的変数の同一の値（基準値、特に同一のター
ンオン電圧）を有するか、または絶対値間の差異の数値が所与の低い値よりも下
にあって、ようやく電子デバイスの利用されるべき機能のイネーブルが行なわれ
る。
【００１４】 ユーザが電子デバイスの機能を使用した後（ＵＳＥ）、すなわち、例えば実行
された（カード）機能の最後に、第１の成分（セルＡ）は再び基本状態（ターン
オン電圧は基準値ＵA0）に戻される（Ａ↓＿）。このようにして、回路は、例え
ばチップの機能等への次回のアクセスの試みのために初期化（Ａ＝＿）されてい
る。使用は、通常のように（チップカードの場合、カードの取りだし）終了され
る（ＳＴＯＰ→ＥＪ）。使用が尚早に中断された場合、次のアクセスの試みが始
まると、第１の成分（セルＡ）は、基本値とは異なる電気的変数のさらなる値（
Ａ≠＿、ＵA0とは異なるセルＡのターンオン電圧）を有する。
【００１５】 元の状態において、例えば、発明による回路によって保護されるチップが購入
者に引き渡される際に、成分の基本状態は、第１の成分の値が時間とともに変化
する場合（第１のセルＡの荷電）、相対的に短時間で基準値（セルＢのターンオ
ン電圧）に到達されるように成分の基本状態が設定されているので、電子デバイ
スの機能（ここではチップ機能）のエネイブルは目に付くほどには遅滞しない。
【００１６】 認定されないアクセスの試み
【００１７】
【数１０】 の後、電子回路のそれ自体が既知の適切な手段によって、成分（セルのターンオ
ン電圧）の値の近似化に前回よりも長く時間がかかる。これは、好適には、使用
に認定されたアクセスが尚早に異常終了された場合にも起こる。フローティング
ゲートセルと、基本値より低いセルＡのターンオン電圧および基準値より高いセ
ルＢのターンオン電圧の実施形態の場合、第２のセルＢのターンオン電圧は、（ _Ｂ↑￣ 例えば短いプログラミングパルスによって）新しく、より高い基準値にいく分高
められ得る、第１のセルＡが基本状態から両方のセルのターンオン電圧が一致す
るまで充電されるまでの時間がかかる。その結果、アクセス時間は長くなる。ア
クセスの試みの開始時に、セルＡが基本状態にないと判定される場合、
【００１８】
【数１１】 例えば、前回のアクセスの異常終了）、この実施例においてセルＡのターンオン
電圧は基本値ＵA0に設定され（Ａ↓＿）、かつセルＢのターンオン電圧は、新し
い基準値とは異なり、基本値と前のセルＢのターンオン電圧と非常に異なる値に
変更される（例えば、さらに上昇させられる、Ｂ↑￣ ）。その後ようやく、タ
ーンオン電圧の近似化が行なわれる。
【００１９】 好適には、関連条件は、安全に関わる局面を考慮して容認された、失敗したア
クセスの試みの数（応用によって、例えば数百にまで）まで、延長されたアクセ
ス時間は、例えばチップ等、実用における電子デバイスの利点を認識するほどに
は制限しないように設定される。好適には、本発明による回路は、所与の数の認
定されないアクセスの試みより多いと、セルのターンオン電圧の近似化のための
時間は極めて長くなるので、ＤＰ分析は実際、もはや、実質的に実行できないよ
うに構成されている。
【００２０】 回路は、好適には、安全のために異常終了されたアクセスの試みの場合もアク
セス時間が延長されるように条件付けられている。これは、第１の成分（セルＡ
）が基本状態にあるか（Ａ＝＿？）どうかということを呼び掛けによって判定さ
れる。アクセスの試みが異常終了される場合、成分の電気的変動の値（例えば、
フローティングゲートセルのターンオン電圧）の近似化が開始された後、第１の
成分（セルＡ）は基本状態にないので、好適には第１の成分の値は、次回のアク
セスの試みの開始時に、基本値（セルＡのターンオン電圧をＵA0）にリセットさ
れ、基準値（セルＢのターンオン電圧）は、念のために、先のアクセスの試みに
おいて使用認定またはアクセス認定がないと判定されたかのように変更される（
この例において上昇させられた）。したがって、先に限定的に認定されたアクセ
スが行なわれ、良好に終了された場合にのみ、発明による回路が極めて短いアク
セス時間の状態であることが確実にされる。フローティングゲートセルＡの電圧
レベルは、このセルのターンオン電圧が、認定され、かつ、終了されたアクセス
の後に基本値にリセットされたかどうかを判定するには十分でない場合、この評
価のためにさらなるセルが用いられ得る（例えば、デジタルフラッグセル）。
【００２１】 先行する多くの認定されないアクセスの試みのアクセス時間の依存性を最適化
するために、例えば、その失敗するかまたは異常終了されたアクセスの試みにお
けるターンオン電圧を漸進的に大きくするセルＢのプログラミング等、１つの成
分に格納された基準値の変更は、これらの成分のそれぞれの状態の関数として制
御され得る（例えば、プログラミング電圧またはプログラミング期間のダイナミ
ックな適応によって）。フローティングゲートセルを使用する場合、失敗したか
、または異常終了されたアクセスのそれぞれの後に、セルＢのターンオン電圧を
変更するかわりに、近似のターンオン電圧にセルＡを充電するのをますます遅延
することによって、例えば、セルＡのターンオン電圧の基本値の変更によってか
、または充電プロセスの速度低下によって、延長されたアクセス時間をもたらす
ことができる。しかしながら、これは、上述の好適な実施例と異なり、良好には
、終わらなかったアクセスの試みを登録するために、さらなる回路成分を必要と
する。
【００２２】 図２のプログラムフローチャートに対応する手順が適合されるさらなる実施例
は、初期化および近似化すべき成分（フローティングゲートセルＡ）が基本状態
に存在するかどうか（Ａ＝_？）という、好適にも実施される呼び掛けの後、最
初にアクセス認定が適用するかどうか（ＡＣＣ？）を判定するための呼び掛けが
実行されることを提供する。アクセス認定がある場合、
【００２３】
【数１２】 成分の電気的変数の値（基本値および基準値）が近似化され、例えば、セルＡの
ターンオン電圧は、セルＢのターンオン電圧に調整される。
【００２４】
【数１３】 この工程の間、電子デバイスの機能（例えば、チップカードのチップ機能）の使
用（ＵＳＥ）はすでにイネーブルされ得るので、ユーザは近似化工程全体を待つ
必要はない。複数回の誤ったアクセスの試みが原因で、第２の成分（セルＢ）の
設定が複数回変更された場合のみ、アクセス時間があきらかに長くなる。
【００２５】 アクセスの試みの開始時に、第１の成分（セルＡ）が基本状態にないと
【００２６】
【数１４】 判定される場合、好適には本実施例においても、アクセス時間の遅滞が提供され
る。このためには、まず第１の成分が基本状態に調整され（セルＡのターンオン
電圧を基本値ＵA0にセットする）、基準値が変更される（セルＢのターンオン電
圧が変更される、すなわち例においてさらに大きくされる（Ａ↓_Ｂ↑￣ ）。
引き続き行なわれる、成分
【００２７】
【数１５】 の電気的変数の値の近似化の後、アクセス認定（ＡＣＣ？）のチェックが行なわ
れる。暗号アルゴリズムの分析を防止するために、アクセス時間は好適には、ア
クセスの試みがアクセス認定のチェックに続いて異常終了された場合に増加する
。これは、第１の成分（セルＡ）の電気的変数の値がアクセス認定（ＡＣＣ？）
のチェックの後に常に基本状態における値と異なるようにされることによって簡
単に起こり得る。 成分
【００２８】
【数１６】 の電気的変数の値の近似化がすでに行なわれたならば、これはどんな場合でも起
こり得る。近似化すべき成分（セルＡ）が基本状態にあるか否か（Ａ＝＿？）と
いうチェックが肯定的結果を供給する場合、第１の成分の電気的変数の値は、例
えば基本状態とは異なるが、第２の成分の電気的変数の値と近似化するための十
分な期間を保証する値（例えば、基本状態の値よりもいくらか低いか、またはわ
ずかだけ高い）（Ａ≠＿）に設定され得る。
【００２９】 アクセス認定の欠如が判定された場合、
【００３０】
【数１７】 同様に基準値が変更され（セルＢのターンオン電圧が変更される、Ｂ↑￣ ）る
ので、次に続くアクセスの試みの場合にアクセス時間は延長される。この実施例
においても、使用（ＵＳＥ）が終了した後、第１の成分は基本状態にリセットさ
れる（セルＡのターンオン電圧をＵA0、Ａ↓＿に）。近似化工程の間の、アクセ
スの尚早の異常終了の後、これらの成分はもはや基本状態（Ａ≠＿）にない。こ
れは、再びアクセスの試みをする場合、第２の成分の状態の上述の変化を引き起
こす（セルＢ、Ａ↓_Ｂ↑￣） この実施例は、この工程の間、すでに電子デバイス（チップ機能）の使用がイ
ネーブルされる場合、アクセス時間が２つの成分の基本値および基準値の近似化
の工程によって遅滞されるという利点を有する。回路を限定的に規則に従って使
用する場合、結果として、複数回の誤ったアクセスの後、延長されたアクセス時
間が現れる。
【００３１】 図３のプログラムフローチャートに対応する手順が適合されるさらなる実施例
は、開始時に回路が良好に使用される場合、この成分と比較すべき電気的変数は
、同一の値を有し（Ａ＝Ｂ）、つまり成分の基本状態においては、この実施例の
場合、両方の値は基準値と同じであることを提供する。両方の値が基準値と同じ
でない場合
【００３２】
【数１８】 到達されるべき基準値が前（Ｂ↑￣ ）とは異なる時間の遅滞が第１の成分の基
本値から始まる長いタイムインターバルを要求し、続いて成分
【００３３】
【数１９】 の電気的変数の値の近似化をもたらすように第２の成分の値（基準値）は変化さ
れる。その後、基本値は第１の成分のそれぞれに設定される（Ａ↓＿）。場合に
よっては、この第１の呼び掛けの後にアクセス認定のチェックのために必要とさ
れるデータ（ＰＩＮまたはそれに類似のもの）が入力される。しかしながら、上
述の実施例におけるように、これも開始時に（例えば、チップカードを挿入した
直後に ＩＮＳ→ＳＴＡＲＴ）起こり得る。
【００３４】 アクセス認定のチェック（ＡＣＣ？）の前または後に、電気的変数の値は、基
本値を特定のタイムインターバルの間に変更し、徐々に基準値に近似化させる
【００３５】
【数２０】 ことによって相互に近似化される。アクセス認定がすでに判定された場合、この
工程が経過する間、使用はすでにイネーブルされ（ＵＳＥ）得る。値（Ａ＝Ｂ、
場合によっては不可避の許容差内）の近似化が行なわれた後、両方の成分は、ア
クセス時間を延長することなく新たなアクセスを可能にし、この実施例に特徴的
である基本状態にある。アクセスが拒否される
【００３６】
【数２１】 か、またはアクセスが尚早に異常終了される場合（不完全な近似化）、２つの成
分における電気的変数の値は相互に異なる（Ａ≠Ｂ）ので、次回のアクセスの試
みの開始時に２つの成分の値（基準値）の変更（Ｂ↑￣ ）が自動的になされ、
上述の近似化のプロセス
【００３７】
【数２２】 によって時間の遅滞が引き起こされる。
【００３８】 異なった基本状態（基本値は基準値と同じでない）を有するフローティングゲ
ートセルを用いる実施例において、操作を紫外線によって不可能にできるように
するために、ターンオン電圧は失敗したアクセスの試みの後、逐次的に上昇され
るセルＢに加えて、さらにセルＣを回路に提供することは可能である。ここで、
セルＣはそれぞれセルＢに対して逆状態に置かれる。これはいくつかの実施形態
において、さらなるセルＣが、セルＢと、高さおよび持続時間が同じであるが、
極性が反転しているパルスを供給することによって実行され得る。両方のセルＢ
およびＣは、好適には、相互に隣接して構成され、回路を最初に使用する前に、
ターンオン電圧の差が提供される。両方のセルが後から、なんらかの動作状態に
おいて、同一のターンオン電圧を示した場合、これは、回路を紫外線によって操
作しようとしたことの表れとみなされ得る。その場合、適切な対抗手段が取られ
得る。
【００３９】 ターンオン電圧が逐次的に変更されるセルＢのソースドレイン端子の適切な実
施形態によって、失敗されたアクセスの試みの後、このターンオン電圧が電気的
にその初期値に戻されるということが回避され得る。電子的方法によるターンオ
ン電圧の近似化、およびそれによる回路の保護機能の迂回は不可能になり得る。
【００４０】 アクセス認定は、提示される安全要求に応じて、成分（１つのセルの電荷）の
値の近似化工程の間、または近似化（ターンオン電圧）が完全に行なわれた後よ
うやくチェックされ得る。アクセス認定の呼び掛け（ＡＣＣ？）が、電子デバイ
スの使用のための認定が与えられるという結果になった場合、この使用はイネー
ブルされて、アクセスが行われ得る。アクセスの規則的な終了の後、回路はリセ
ットを引き起こし、このリセットによって、近似化工程において値が変化する（
セルＡ）少なくとも回路のコンポーネントは所与の基本状態に戻される。他方で
は、これに対してアクセス認定の呼び掛けが、認定が欠如するか、認定をチェッ
クする電子デバイス（端子）において欠陥があるために認定されたアクセスの試
みがない場合、第１の成分の基本値と、第２の成分の基準値との間の差（例えば
、セルのターンオン電圧の差）が拡大されることによって、アクセス時間が変更
される。新たなアクセスの試みの場合、この現時点においてより大きい差に調整
された値の近似化によってアクセス時間が確定される。呼び掛けの結果が認定さ
れているとされるか認定されていないとされるかによって、電子デバイスの使用
へのアクセスはエネイブルされるか、またはアクセス時間の新たな変更が指示さ
れる。
【００４１】 発明による回路の場合、第１の成分がそれぞれ規則どおり終了したアクセスの
後、基本状態へ戻されることのみが必要とされる。しかしながら、これは回路の
使用時間全体の間（例えば、チップカードの寿命）、それぞれの規則に従ってに
実行されないアクセスは、アクセス時間の延長を引き起こすので、回路の使用は
場合によっては数時間後、著しい悪影響を受けるという結果になる。したがって
、安全要求が相対的に低い場合、それぞれの認定されたアクセスが規則どおりに
終了（ＳＴＯＰ）される場合、両方の成分（セルＡおよびセルＢ）は、それぞれ
の基本状態に戻されるということが提供され得る。あるいは、このような完全な
リセットは、認定されたアクセスが行なわれている間のユーザの明示的命令（対
応するデータ入力）に対してのみ行なわれるということが提供され得る。回路の
ユーザは、この場合、不完全に実行されたアクセスの数に従って、アクセス時間
を低い初期値へ戻し得る。
【００４２】 認定された者によるアクセスの試みの際に、多くともわずかに増加する短いア
クセス時間に基づいて、この方法はあらゆる応用に、無接触で使用されるチップ
またはチップカードに適切である。アクセスの試みの数は、規則に従って使用さ
れる場合の特定の期間において低減されないので、この方法は、高いアクセス頻
度を有するあらゆる応用に適切である。端子に障害があり、その結果アクセスの
試みが拒絶された場合でさえ、チップまたは他の保護された電子デバイスの動作
能力は保たれる。これは、従来のアクセスの誤試行カウンタによるチップの遮断
に対しての利点である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クックス， アンドレアス ドイツ国 85540 ハー， グロンスドル ファー シュトラーセ 14 Ｆターム(参考） 5B035 AA13 BB09 CA11

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 電子デバイスを保護するための電子回路であって、 それぞれ同じ電気的変数を有する第１の成分および第２の成分が存在し、 該第１の成分と該第２の成分の該電気的変数の値を相互に比較するために提供
    される第３の成分が存在し、 該第１の成分と該第２の成分の該電気的大きさの値を設定する第１の手段が存
    在し、 該第１の成分の該電気的大きさの値が、基本値を基準として特定の時間を要す
    るという方法で、該第２の成分の該電気的変数の値に近似化される第２の手段が
    存在し、 該電子デバイスの認定された使用が規則に従って開始され、実行され、そして
    終了されているかどうかがチェックされ、認定されない使用か、または規則に従
    っての使用でない場合、該第２の成分の該電気的変数の値の変更、または該第２
    の手段の変更が、該第１の成分の該電気的変数の値を、該第２の手段によって該
    第２の成分の該電気的変数の値に近似するのに必要な時間が延長されるように行
    なわれるように引き起こされる第３の手段を有する、電子回路。
  2. 【請求項２】 前記第１の成分の前記電気的大きさの値は、該第１の成分の
    該電気的大きさが、前記電子デバイスの規則に従って終了された使用の後に有す
    る値と等しいかどうかが前記第３の手段を用いてチェックされる、請求項１に記
    載の回路。
  3. 【請求項３】 前記第１の成分および前記第２の成分は、第１のフローティ
    ングゲートセルと第２のフローティングゲートセルである、請求項１または２に
    記載の回路。
  4. 【請求項４】 前記成分の前記電気的大きさはターンオン電圧であり、 認定されない使用または規則に従ってでない使用の場合、前記第２のフローテ
    ィングゲートセルの該ターンオン電圧の値は変更される、請求項３に記載の回路
    。
  5. 【請求項５】 電子デバイスを保護するための方法であって、 同じ電気的大きさを有する第１の成分と第２の成分を有する電子回路を使用し
    、 両方の成分の該電気的大きさの値の設定を可能にする手段によって、 該電子デバイスの使用が、少なくとも、第１の成分の該電気的大きさの所与の
    基本値を、特定の時間を要する電気的プロセスを用いて、該第２の成分の該電気
    的大きさの該基準値として機能するそれぞれの値に近似化するために必要とされ
    る間続き、 使用するための認定されないアクセスか、または規則に従って実行されなかっ
    た使用の結果として、該電気的プロセスによって要求される時間が、該基準値の
    変更によって、または近似化の速度の変更によって延長されることを確実にする
    方法。
  6. 【請求項６】 設定可能なターンオン電圧を有する２つのフローティングゲ
    ートセルが回路の成分として使用され、かつ前記電気的プロセスは前記１つのセ
    ルの遅滞した電荷である、請求項５に記載の方法。
  7. 【請求項７】 前記第１の成分の前記電気的変数の値は所与の前記基本値に
    対応するかどうかが第１の工程においてチェック（Ａ＝＿？）され、 第２の工程において、このチェックの結果が肯定的であった場合、システムは
    、次の第３の工程に移られ、否定的であった場合、該第１の成分の該電気的変数
    の値は、該基本値に設定され、そして前記第２の成分の該電気的変数の値は新し
    い基準値に設定され（Ａ↓_Ｂ↑￣ ）、前記電気的プロセスによって要求され
    る時間が延長され、 第３の工程において、該電気的プロセスは、該２つの成分の該電気的変数の値
    が対応するまで実行され 【数１】 第４の工程において、前記電子デバイスを使用するための認定が存在するかど
    うかがチェックされ（ＡＣＣ？）、 第５の工程において、このチェックの結果が肯定的であった場合、該電子デバ
    イスの使用（ＵＳＥ）が可能になり、否定的な結果であった場合、該第２の成分
    の該電気的変数の値は、新しい該基準値に設定される（Ｂ↑￣ ）ので、該電気
    的プロセスによって要求された時間は延長され、 第６の工程において、該第一の成分の該電気的変数の値は該基本値に設定され
    る（Ａ↓＿）、請求項５または６に記載の方法。
  8. 【請求項８】 第１の工程において、前記第１の成分の前記電気的変数の値
    が所与の前記基本値と対応するかどうかがチェックされ（Ａ＝＿？）、 第２の工程において、チェックの結果が肯定的であった場合、システムは次の
    第３の工程に移られ、結果が否定的であった場合、該第１の成分の該電気的変数
    の値は該基本値に設定され、該第２の成分の該電気的変数の値は新しい基準値に
    設定され（Ａ↓_Ｂ↑￣）、前記電気的プロセスによって要求される時間は延長
    され、そして該電気的プロセスは、該２つの成分の該電気的変数の値が対応する
    まで実行され、 【数２】 第３の工程において、前記電子デバイスを使用するための認定が存在するかど
    うかがチェックされ（ＡＣＣ？）、 第４の工程において、このチェックの結果が肯定的であった場合、該電気的プ
    ロセスは、該２つの成分の該電気的変数の値が対応するまで実行され、 【数３】 該電子デバイスの使用（ＵＳＥ）が可能にされ、結果が否定的であった場合、該
    第２の成分の該電気的変数の値は、新しい基準値に設定される（Ｂ↑￣ ）ので
    該電気的プロセスによって要求される時間は延長され、 第５の工程において、該第１の成分の該電気的変数の値は該基本値に設定され
    る（Ａ↓＿）、請求項５または６に記載の方法。
  9. 【請求項９】 第１の工程において、前記第１の成分の前記電気的変数の値
    が前記第２の成分の前記電気的変数の値と同一であるかどうかがチェックされ（
    Ａ＝Ｂ？）、 第２の工程において、このチェックの結果が肯定的であった場合、システムは
    次の第３の工程に移られ、結果が否定的であった場合、該第２の成分の該電気的
    変数の値は新しい基準値に設定され（Ｂ↑￣ ）、前記電気的プロセスによって
    要求される時間は延長され、 該第３の工程において、該第１の成分の該電気的変数の値は該基準値とは異な
    る、予め決められた基本値に設定され（Ａ↓＿）、 第４の工程において、該電気的プロセスは、該２つの成分の該電気的変数の値
    が対応するまで実行され、 【数４】 第５の工程において、該電子デバイスを使用するための認定が存在するかどう
    かがチェックされ（ＡＣＣ？）、 第６の工程において、このチェックの結果が肯定的であった場合、該電子デバ
    イスの使用（ＵＳＥ）は可能にされ、結果が否定的であった場合、第２の成分の
    該電気的変数の値は新しい基準値に設定され （Ｂ↑￣ ） るので、該電気的プロセスによって要求される時間は延長される、請求項５また
    は６に記載の方法。
  10. 【請求項１０】 第１の工程において、前記第１の成分の前記電気的大きさ
    の値は前記第２の成分の該電気的大きさの値と同じであるかどうかがチェックさ
    れ（Ａ＝Ｂ？）、 第２の工程において、このチェックの結果が肯定的であった場合、システムは
    次の第３の工程に移行され、結果が否定的であった場合、該第２の成分の該電気
    的変数の値は新しい基準値に設定され（Ｂ↑￣ ）るので、前記電気的プロセス
    によって要求される時間は延長され、該電気的プロセスは、該２つの成分の該電
    気的変数の値が対応するまで実行され、 【数５】 該第３の工程において、該第１の成分の該電気的変数の値は、該基準値とは異
    なる予め決められた基準値に設定され（Ａ↓＿）、 第４の工程において、該電子デバイスを使用するための認定が存在するかどう
    かがチェックされ（ＡＣＣ？）、 第５の工程において、このチェックの結果が肯定的であった場合、該電気的プ
    ロセスは、該２つの電気的変数の値が対応するまで実行され、 【数６】 該電子デバイスの使用（ＵＳＥ）が可能にされ、結果が否定的であった場合、異
    常終了が起こる（ＳＴＯＰ）、請求項５または６に記載の方法。
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